JP2019002869A - 電磁的情報漏洩評価装置、電磁的情報漏洩評価方法、および電磁的情報漏洩評価プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】 電子機器から放射される漏洩電磁波から、画面情報が再現される電磁的盗視に対するリスクを、少ない計算コストで効率的かつ自動的に評価すること。【解決手段】 電子機器から放射される漏洩電磁波Ｌから、電子機器７０において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価する電磁的情報漏洩評価装置１０であって、電子機器７０から放射される漏洩電磁波Ｌを計測し、かつ漏洩電磁波Ｌが計測された環境と同一環境において、電子機器７０から漏洩電磁波Ｌが放射されていない場合に取得される背景雑音を計測する計測部２０と、漏洩電磁波Ｌと背景雑音との間でｔ検定を行う検定部３０と、ｔ検定によって得られるｔ値に基づいて、漏洩電磁波Ｌから画面情報が再現されるリスクを評価する評価部５０とを備える。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、電磁的情報漏洩評価装置、電磁的情報漏洩評価方法、および電磁的情報漏洩評価プログラムに関する。

従来、パーソナルコンピュータやテレビジョン受信機等のように、ディスプレイを含む電子機器から放射される微弱な漏洩電磁波から、ディスプレイに表示される画面情報を盗視する電磁的盗視の脅威が指摘されている。この種の電磁的盗視の脅威は、ＣＲＴディスプレイ（ブラウン管型ディスプレイ）の時代にも存在していた。

ＣＲＴでは、画面情報をディスプレイに描画するため、輝度情報を含むアナログ電圧値の系列として画面情報を伝送する。このとき、画面上の色に変化や濃淡があるときアナログ電圧値が変化するため、生じる電磁界も変化する。このような電圧値の変化で生じる電磁波の高調波成分は、電子機器から遠方まで放射されるため、それをアンテナで受信、検波、復調することで、元の画面情報を含むアナログ電圧値の系列を得ることができる。この系列を、同じアナログインタフェースに対応したモニタに入力し、盗視対象ディスプレイの固有の垂直同期信号と水平同期信号を入力することで、表示画面内容を再現することができる。

最近主流のＬＣＤディスプレイ（液晶ディスプレイ）においても、インタフェースの互換性維持の観点から、上記アナログインタフェースを備えているディスプレイは多い。また、デジタルインタフェースのＬＣＤディスプレイにおいても、液晶ドライバの集積回路内でのＤ／Ａ変換により、ビット数に応じた電圧値にて液晶を駆動し、そのデータ系列をシリアルに処理し、伝送する部分が電子機器内に存在する。このとき、液晶駆動部から画面情報を含む電磁波が漏洩する（以下、「漏洩電磁波」とも称する）可能性が高い。

そのため、ＬＣＤディスプレイにおいても画面盗視の脅威が懸念されており、 実際、ＬＣＤディスプレイの画面情報が漏洩電磁波を介して遠方で復元できることが文献等で指摘されている。

一方、近年では、スマートフォンやタブレットといったタッチスクリーンを備えるタブレット型の携帯端末が普及しており、これら携帯端末から放射される漏洩電磁波からも画面情報が復元されることが開示されている（例えば非特許文献１を参照）。

例えば、タブレット型の携帯端末は、ソフトウェアキーボード機能により、入力情報とその出力先が同時に画面に表示されるため電磁的盗視による脅威の度合いが大きい。また、スマートフォンやタブレットは、従来の据え置き型のパーソナルコンピュータ等と異なり、公共の場で使用されることも多いため、攻撃者が微弱な漏洩電磁波を計測できるほど接近する可能性も否定できない。

以上の背景から、スマートフォンやタブレットといったディスプレイを有する携帯端末の電磁的盗視に対する安全性評価は重要な課題となっている。

この種の電磁的盗視に対する従来の安全性評価や対策は、ゾーニングと呼ばれる攻撃者と攻撃対象までの距離で考えられることが多かった。しかし、その前提は据え置き型のパーソナルコンピュータでは成り立つが、携帯端末のように近傍（例えば１ｍ未満）まで接近されての攻撃は想定されていなかった。

このように、携帯端末に対する電磁的盗視を考える場合、数１０ｃｍから高々数ｍの範囲で、漏洩電磁波にどの程度の情報が含まれているかを評価する必要がある。また、製造技術の発達や機種の寡占化に伴い、垂直同期信号と水平同期信号も事前のプロファイリングにより入手可能という前提で脅威を評価する必要がある。

こうした携帯端末の電磁的盗視に対する安全性評価としては、計測された漏洩電磁波から、画面情報を含む信号（Signal）と背景雑音（Noise）とのＳ／Ｎ比を把握し、このＳ／Ｎ比から危険性を判定する手法が提案されている。具体的には、非特許文献２、３では、計測された漏洩電磁波の周波数スペクトルに注目し、その強度から信号と雑音領域を分離することでＳ／Ｎ比を計算し、その値の大きさにより情報の有無が判定されている。

Hayashi et al., "A Threat for Tablet PCs in Public Space: Remote Visualization of Screen Images Using EM Emanation," 21st ACM Conference on Computer and Communications Security (CCS), pp. 954 - 965, Nov. 2014. 電子情報通信学会総合大会講演論文集 ２０１６年 通信（１）、３８０、２０１６−０３−０１ ２０１６年電子情報通信学会ソサエティ大会講演論文集 Ｂ−４−５２

しかしながら、このような従来の手法では、以下のような問題がある。

すなわち、前述した従来の手法では、Ｓ／Ｎ比により漏洩電磁波に含まれる画面情報の有無を決定する必要があるが、計測される漏洩電磁波によっては、明確にそれらを分離できない場合がある。その場合、評価者の経験によって安全性の基準が変化する恐れがある。

また、そもそも信号か否かを決定するための閾値の決定自体が困難な場合もあった。

あるいは、従来の手法では、元信号と計測された信号との比較を前提とするため、それぞれの計測の時間ずれ（ジッタ）の影響を無視できず、必ず周波数領域に変換してから評価を行わざるを得なかった。これは、長大な信号を扱う場合、計算コストの著しい増大につながる。

さらに、電磁的盗視の脅威を検討する場合、利用者の操作方法や時間によって現実性が異なるが、そうした利用条件も評価時に考慮する必要があった。

以上の理由から、携帯端末に対して電磁的盗視の安全性評価を安定的かつ容易に行うためには、このような従来の手法を補完もしくは置換する自動化が可能な技術の開発が望まれている。

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、スマートフォンやタブレットといったディスプレイを有する携帯端末を含む電子機器から放射される漏洩電磁波から、画面情報が再現される電磁的盗視に対するリスクを、少ない計算コストで効率的かつ自動的に評価することを可能にした電磁的情報漏洩評価装置、電磁的情報漏洩評価方法、および電磁的情報漏洩評価プログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するためのこの発明の第１の観点は、電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価する電磁的情報漏洩評価装置であって、前記電子機器から放射される前記漏洩電磁波を計測し、かつ前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に取得される背景雑音を計測する計測部と、前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間でｔ検定を行う検定部と、前記ｔ検定によって得られるｔ値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する評価部とを備える。

この発明の第２の観点は、請求項1に記載の電磁的情報漏洩評価装置において、前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間に時間ずれが存在しない場合、前記検定部は、時間領域における前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間で前記ｔ検定を行う。

この発明の第３の観点は、請求項１に記載の電磁的情報漏洩評価装置において、前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間に時間ずれが存在する場合、前記検定部は、前記計測された漏洩電磁波および背景雑音をそれぞれ周波数領域へ変換し、前記周波数領域に変換された前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間で前記ｔ検定を行う。

この発明の第４の観点は、請求項１乃至３のうち何れか１項に記載の電磁的情報漏洩評価装置において、前記計測部は、前記電子機器に電源が投入されていない状態において前記背景雑音を計測する。

この発明の第５の観点は、請求項１乃至３のうち何れか１項に記載の電磁的情報漏洩評価装置において、前記計測部は、前記電子機器からランダムな画面が表示されている状態において前記背景雑音を計測する。

この発明の第６の観点は、電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価する装置が行う電磁的情報漏洩評価方法であって、前記電子機器から放射される前記漏洩電磁波を計測する工程と、前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に取得される背景雑音を計測する工程と、前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間でｔ検定を行う工程と、前記ｔ検定によって得られるｔ値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する工程とを含む。

この発明の第７の観点は、電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価するための電磁的情報漏洩評価プログラムであって、前記電子機器から放射され、計測手段によって計測された前記漏洩電磁波と、前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に、前記計測手段によって計測された背景雑音との間でｔ検定を行う機能と、前記ｔ検定によって得られるｔ値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する機能とを、コンピュータに実現させるための電磁的情報漏洩評価プログラムである。

本発明の電磁的情報漏洩評価装置、電磁的情報漏洩評価方法、および電磁的情報漏洩評価プログラムによれば、電子機器から放射される漏洩電磁波から、画面情報が再現される電磁的盗視に対するリスクを、少ない計算コストで効率的かつ自動的に評価することが可能となる。

本発明の実施形態に係る電磁的情報漏洩評価方法が適用された電磁的情報漏洩評価装置の構成例を示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る電磁的情報漏洩評価装置の動作例を示すフローチャートである。 評価用画像の一例を示す図である。 漏洩電磁波Ｌから再現される画面情報の一例を示す図である。 図４（ａ）〜（ｅ）に対応するｔ値を示すグラフである。

以下に、本発明を実施するための最良の形態を、図面を参照しながら説明する。

なお、図面では、同一部分については同一符号を付し、同一部分に関する説明を省略する。

図１は、本発明の実施形態に係る電磁的情報漏洩評価方法が適用された電磁的情報漏洩評価装置１０の構成例を示すブロック図である。

電磁的情報漏洩評価装置１０は、スマートフォンやタブレットといったディスプレイを有する携帯端末を含む電子機器７０から放射される漏洩電磁波Ｌに基づいて、画面情報の電磁的盗視に対するリスクを統計処理により評価する装置であって、アンテナ２０と、検定部３０と、評価部５０とを備える。アンテナ２０は一例として、近磁界プローブ２２と、低雑音の増幅器（アンプ）２４とを備え、検定部３０は一例として、検波部３２と、ＡＭ復調器３４と、Ａ／Ｄ変換器３６と、記憶部３８と、デジタル処理部４０と、ｔ検定部４２とを備える。なお、ＡＭ復調器３４とＡ／Ｄ変換器３６とは個別のユニットに限定されず、一体化されたユニットであってもよい。

このように構成された電磁的情報漏洩評価装置１０によって、画面情報の電磁的盗視に対するリスクを評価する場合、まず、評価対象とされる電子機器７０から、評価用の画像（例えば、キーボードが表示された画像）を表示する。次に、電子機器７０から放出される放射されている漏洩電磁波Ｌを、アンテナ２０を計測部として使用することによって計測するために、近磁界プローブ２２を、電子機器７０から所定の距離および角度に配置する。このとき、計測周波数はあらかじめ同定しておく。なお同定の手法は周知の従来技術を使用する。これによって、漏洩電磁波Ｌに含まれる画面情報の周波数を同定することを不要としている。

近磁界プローブ２２は、漏洩電磁波Ｌを受信すると、その受信アナログ信号をアンプ２４へ出力する。アンプ２４は、上記漏洩電磁波Ｌの受信アナログ信号を増幅し、検波部３２へ出力する。

検波部３２は、例えば帯域通過フィルタであり、電子機器７０毎の漏洩電磁波Ｌの周波数成分（例えば、４０ＭＨｚ）のみを通過させ、ＡＭ復調器３４へ出力する。

ＡＭ復調器は、検波部３２から出力された漏洩電磁波Ｌの周波数成分をＡＭ復調し、復調結果を、Ａ／Ｄ変換器３６へ出力する。

Ａ／Ｄ変換器３６は、ＡＭ復調器３４から出力された復調結果をＡ／Ｄ変換して漏洩電磁波Ｌのデジタルデータ（Target）を生成し、記憶部３８に記憶させる。記憶部３８は、記憶媒体として例えばハードディスク、ＳＳＤ（Solid State Drive）、またはＤＲＡＭなどのメモリを用いる。

一方、背景雑音を計測する場合には、電子機器７０のディスプレイを非動作状態（例えば、電子機器７０の電源が投入されていない状態）とするか、もしくはランダムな画面情報（乱数列）を表示させる等、Targetに含まれる情報量を評価する上で最も精度が得られる状態とするとともに、近磁界プローブ２２を電子機器７０から漏洩電磁波Ｌの計測時と同一の距離および角度に配置する。なお、乱数列とは、例えば、放送波を受信できないときのアナログテレビの画面のような、白色雑音を想定している。

近磁界プローブ２２は、上記した状態で背景雑音を受信し、その受信アナログ信号をアンプ２４へ出力する。アンプ２４は、背景雑音の受信アナログ信号を増幅し、検波部３２へ出力する。

検波部３２は、背景雑音の周波数成分（例えば、４０ＭＨｚ）のみを通過させ、ＡＭ復調器３４へ出力する。

ＡＭ復調器は、検波部３２から出力された背景雑音の周波数成分をＡＭ復調し、復調結果を、Ａ／Ｄ変換器３６へ出力する。

Ａ／Ｄ変換器３６は、ＡＭ復調器３４から出力された復調結果をＡ／Ｄ変換し、背景雑音のデジタルデータ（Reference）を生成し、記憶部３８に記憶させる。

なお、Referenceは、Targetが記憶部３８に記憶された後に取得されることには限定されず、Targetの計測が行われる前に、既に計測され、記憶部３８に記憶されていても良い。

デジタル処理部４０は、記憶部３８に記憶されたTargetおよびReferenceに対して、必要に応じて例えばフーリエ変換のような時間領域から周波数領域に変換するデジタル処理を行う。例えば、TargetとReferenceとの間に時間ずれが存在する場合には、TargetとReferenceを、離散フーリエ変換によって周波数スペクトルデータへ変換し、ｔ検定部４２へ出力する。一方、TargetとReferenceとの間の時間ずれを無視できる場合には、TargetとReferenceをそのまま時間領域データとして、ｔ検定部４２へ出力する。

ｔ検定部４２は、デジタル処理部４０によって出力された周波数スペクトルデータまたは時間領域データを用いて、計測された周波数帯において周波数毎にTargetとReferenceとの平均の差が偶然誤差の範囲内であるかどうかを調べる、いわゆるｔ検定を行い、ｔ値を算出する。

なお、従来は、この種のｔ検定を行う場合、あらかじめどの周波数に情報が含まれるかを事前に同定する必要があるが、本実施形態では最終的に背景雑音間の検定となるため、必ずしもそのような同定は必要としない。

また、従来は、信号成分と雑音成分とを求めた上でＲ値により情報量を評価していたが、本実施形態ではTargetとReferenceのデータに含まれる値を無作為に同数抽出し、その平均値の有意差をｔ値により評価する。このときの点数は統計的な有意差を評価するのに十分な数とする。

具体的には、TargetとReferenceのデータ間でウェルチのｔ検定を実施し、その結果であるｔ値から、含まれる情報量を評価する。ここで、ウェルチのｔ検定は、２組のデータ（標本）の間に統計的な有意差が存在するか否かを判定するために用いられ、標本１と標本２に対する計算式は次式で表される。
ここで、
は標本平均であり、ｓは標本の標準偏差である。Ｎ１およびＮ２はそれぞれの標本サイズである。ここでは、標本１がTargetに、標本２がReferenceに相当する。

評価部５０は、上記ｔ値に基づいて、想定する利用環境（例えばボタンの押下時間）から決定される観測可能な条件により、画面情報が再現されるリスクを評価する。例えば、ｔ値が０付近となるほどTargetとReferenceの区別がつかず、観測された漏洩電磁波Ｌは、背景雑音と区別がつかないので、画面情報が再現されるリスクは低いと判定する。

このような一連の処理を、電子機器７０から近磁界プローブ２２までの距離や角度等を変えて行う。理想的な測定環境を想定する場合は、最近傍でのみ測定し、信号伝搬の減衰率から他の距離でのｔ値を推定してもよい。

このように、本実施形態では、Referenceを測定環境に応じて変更できるため、様々な利用環境に応じた評価を可能としている。また、評価のために画像を復元する必要がなく、漏洩電磁波Ｌの周波数を同定する必要もないため、効率的かつ自動的な評価を可能としている。さらに、背景雑音との比較になるため、周波数領域に必ずしも変換する必要がなく、計算コストを低減することも可能としている。

次に、以上のように構成した本実施形態に係る電磁的情報漏洩評価装置１０の動作について図２に示すフローチャートを用いて説明する。

図２は、本実施形態に係る電磁的情報漏洩評価装置の動作例を示すフローチャートである。

評価対象とされる電子機器７０は、市販のタブレットＰＣとした。

また、電磁的情報漏洩評価装置１０では、アンテナ２０に、市販の近磁界プローブ２２およびアンプ２４を使用し、ＡＭ復調器３４およびＡ／Ｄ変換器３６ｓｄｗ、これらの機能が一体化されたＵＳＲＰ２１０を使用した。

まず、電子機器７０のディスプレイに、評価用の画像が表示される（Ｓ１）。

図３は、評価用画像の一例を示す図である。

次に、アンテナ２０が、電子機器７０から２ｃｍの距離に配置され、電子機器７０からの漏洩電磁波Ｌが、近磁界プローブ２２によって計測される（Ｓ２）。計測周波数は、例えば従来技術によって、あらかじめ同定されている。よって、漏洩電磁波Ｌに含まれる画面情報の周波数を同定することは不要である。

近磁界プローブ２２によって受信された漏洩電磁波Ｌは、アンプ２４へ出力され、アンプ２４によって増幅された後、例えば帯域通過フィルタである検波部３２へ出力される。検波部３２では、電子機器７０毎の漏洩電磁波Ｌの周波数成分のみが通過し、ＵＳＲＰ２１０へ出力される。ＵＳＲＰ２１０では、検波部３２から出力された漏洩電磁波Ｌの周波数成分がＡＭ復調され、さらに復調結果がＡ／Ｄ変換されて、漏洩電磁波Ｌのデジタルデータ（Target）が生成され、記憶部３８に記憶される（Ｓ３）。

次に、漏洩電磁波Ｌが計測されたときと同じように、アンテナ２０が、電子機器７０から２ｃｍの距離に配置され、電子機器７０のディスプレイを非動作（例えば、電子機器７０の電源をオフにする）状態、あるいはランダムな画面情報（乱数列）が表示された状態で、近電磁プローブ２２によって背景雑音が受信される（Ｓ４）。

近磁界プローブ２２によって受信された背景雑音は、アンプ２４へ出力され、アンプ２４によって増幅された後、例えば帯域通過フィルタである検波部３２へ出力される。検波部３２では、電子機器７０毎の背景雑音の周波数成分のみが通過し、ＵＳＲＰ２１０へ出力される。ＵＳＲＰ２１０では、検波部３２から出力された背景雑音の周波数成分がＡＭ復調され、さらに復調結果がＡ／Ｄ変換されて、背景雑音のデジタルデータ（Reference）が生成され、記憶部３８に記憶される（Ｓ５）。

このようにして記憶部３８にTargetおよびReferenceの各データが記憶されると、デジタル処理部４０では、記憶部３８に記憶されたTargetおよびReferenceの各データに対して、必要に応じてフーリエ変換のようなデジタル処理が行われる。例えば、TargetとReferenceとのデータ間に時間ずれが存在する場合には、デジタル処理部４０において、TargetとReferenceの各データが、離散フーリエ変換によって周波数スペクトルデータへ変換された後に、ｔ検定部４２へ出力される。一方、TargetとReferenceの各データ間の時間ずれを無視できる場合には、デジタル処理部４０において、TargetとReferenceの各データは周波数領域への変換処理はなされずに、時間領域データとして、ｔ検定部４２へ出力される。

ｔ検定部４２では、このように出力された周波数スペクトルデータまたは時間領域データを用いて、計測された周波数帯において周波数毎にTargetとReferenceとの間のｔ検定が行われる（Ｓ６）。

なお、従来は、この種のｔ検定を行う場合、あらかじめどの周波数に情報が含まれるかを事前に同定する必要があるが、本実施形態では最終的に背景雑音間の検定となるため、必ずしもそのような同定は必要としない。また、従来は、信号成分と雑音成分とを求めた上でＲ値により情報量を評価していたが、本実施形態ではTargetとReferenceに含まれる値が無作為に同数抽出され、その平均値の有意差がｔ値により評価される。このときの点数は統計的な有意差を評価するのに十分な数である。

具体的には、TargetとReferenceのデータ間でウェルチのｔ検定が実施され、その結果であるｔ値から、含まれる情報量が評価される。

図４は、漏洩電磁波Ｌから再現される表示画面の一例を示す図である。これら表示画面を再現するための漏洩電磁波Ｌの周波数は、最も信号強度が強かった６５３ＭＨｚを採用した。図４（ａ）がTargetによって再現された表示画面であり、図４（ｆ）がReferenceによって再現された表示画面である。さらに、距離による信号の減衰を表すため、Targetを１／１０、１／２０、１／３０、１／４０とし、Referenceとは別のタイミングで取得した雑音を付加した上で正規化することによって再現される表示画面がそれぞれ図４（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）、（ｅ）である。

また、図５は、図４（ａ）〜（ｅ）に対応するｔ値を示すグラフであり、横軸が点数を示し、縦軸がｔ値を示す。

図５より（ａ）Targetのｔ値が最も大きくなり、（ｂ）〜（ｅ）のように、Target信号が減衰するにしたがってｔ値も減衰することが確認できる。これはｔ値によって安全性の閾値を決めることができることを表している。例えば、あるソフトウェアキーが押下されたことを判定できるかどうかは、押下中に得られる点数分の信号と同点数の背景雑音が区別できるかどうかであるため、その点数では有意に識別ができない範囲にｔ値が含まれていればその脅威は低いと判断される。

本実施形態では、信号が含まれていない周波数は、そもそも背景雑音と区別できないことから、あらかじめ信号が含まれている周波数を抽出する必要はないと考えられる。そのため、電子機器７０の形状等からある程度周波数帯を限定すれば、あとは全ての周波数帯に対して同様にｔ値を求めればよい。もし信号が含まれていれば信号の含まれる周波数から高いｔ値が得られる。このように、あらかじめ周波数を人手により判定する必要がないことから、処理の自動化が達成される。

評価部５０では、ｔ値に基づいて、想定する利用環境（例えばボタンの押下時間）から決定される観測可能な条件により、画面情報が再現されるリスクが評価される。例えば、ｔ値が０付近となるほどTargetとReferenceの区別がつかず、観測された漏洩電磁波Ｌは、背景雑音と区別がつかないので、画面情報が再現されるリスクは低いと判定される（Ｓ７）。

このような一連の処理が、電子機器７０から近磁界プローブ２２までの距離や角度等を変えて実行される（Ｓ８）が、理想的な測定環境を想定する場合は、最近傍でのみ測定し、信号伝搬の減衰率から他の距離でのｔ値を推定してもよい。

このように、本実施形態では、Referenceを測定環境に応じて変更できるため、様々な利用環境に応じた評価が可能となる。また、評価のために画像を復元する必要がなく、漏洩電磁波Ｌの周波数を同定する必要もないため、効率的かつ自動的な評価が可能となる。さらに、背景雑音との比較になるため、周波数領域に必ずしも変換する必要がなく、計算コストを低減することも可能となる。

本実施形態によれば、スマートフォンやタブレットといったディスプレイを有する携帯端末を含む電子機器から放射される漏洩電磁波から画面情報が再現される電磁的盗視に対するリスクを、統計処理により評価することが可能となる。

なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。

また、上記実施形態に記載した手法は、計算機（コンピュータ）に実行させることができるプログラム（ソフトウェア手段）として、例えば磁気ディスク（フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク等）、光ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＭＯ等）、半導体メモリ（ＲＯＭ、ＲＡＭ、フラッシュメモリ等）等の記録媒体に格納し、また通信媒体により伝送して頒布することもできる。なお、媒体側に格納されるプログラムには、計算機に実行させるソフトウェア手段（実行プログラムのみならずテーブルやデータ構造も含む）を計算機内に構成させる設定プログラムをも含む。本装置を実現する計算機は、記録媒体に記録されたプログラムを読み込み、また場合により設定プログラムによりソフトウェア手段を構築し、このソフトウェア手段によって動作が制御されることにより上述した処理を実行する。なお、本明細書でいう記録媒体は、頒布用に限らず、計算機内部あるいはネットワークを介して接続される機器に設けられた磁気ディスクや半導体メモリ等の記憶媒体を含むものである。

１０・・・電磁的情報漏洩評価装置、２０・・・アンテナ、２２・・・近磁界プローブ、２４・・・アンプ、３０・・・検定部、３２・・・検波部、３４・・・ＡＭ復調部、３６・・・Ａ／Ｄ変換器、３８・・・記憶部、４０・・・デジタル処理部、４２・・・ｔ検定部、５０・・・評価部、７０・・・電子機器。

Claims (7)

1. 電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価する電磁的情報漏洩評価装置であって、
   前記電子機器から放射される前記漏洩電磁波を計測し、かつ前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に取得される背景雑音を計測する計測部と、
   前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間でｔ検定を行う検定部と、
   前記ｔ検定によって得られるｔ値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する評価部と、
   を備える電磁的情報漏洩評価装置。
2. 前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間に時間ずれが存在しない場合、前記検定部は、時間領域における前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間で前記ｔ検定を行う、請求項1に記載の電磁的情報漏洩評価装置。
3. 前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間に時間ずれが存在する場合、前記検定部は、前記計測された漏洩電磁波および背景雑音をそれぞれ周波数領域へ変換し、前記周波数領域に変換された前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間で前記ｔ検定を行う、請求項１に記載の電磁的情報漏洩評価装置。
4. 前記計測部は、前記電子機器に電源が投入されていない状態において前記背景雑音を計測する、請求項１乃至３のうち何れか１項に記載の電磁的情報漏洩評価装置。
5. 前記計測部は、前記電子機器からランダムな画面が表示されている状態において前記背景雑音を計測する、請求項１乃至３のうち何れか１項に記載の電磁的情報漏洩評価装置。
6. 電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価する装置が行う電磁的情報漏洩評価方法であって、
   前記電子機器から放射される前記漏洩電磁波を計測する工程と、
   前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に取得される背景雑音を計測する工程と、
   前記漏洩電磁波と前記背景雑音との間でｔ検定を行う工程と、
   前記ｔ検定によって得られるｔ値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する工程と、
   を含む電磁的情報漏洩評価方法。
7. 電子機器から放射される漏洩電磁波から、前記電子機器において表示されている画面情報が再現されるリスクを評価するための電磁的情報漏洩評価プログラムであって、
   前記電子機器から放射され、計測手段によって計測された前記漏洩電磁波と、前記漏洩電磁波が計測された環境と同一環境において、前記電子機器から前記漏洩電磁波が放射されていない場合に、前記計測手段によって計測された背景雑音との間でｔ検定を行う機能と、
   前記ｔ検定によって得られるｔ値に基づいて、前記漏洩電磁波から前記画面情報が再現されるリスクを評価する機能とを、コンピュータに実現させるための電磁的情報漏洩評価プログラム。