JP6931610B2 - Cvdコーティングされた切削工具 - Google Patents

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Description

本発明は、化学蒸着(CVD)コーティングでコーティングされた表面を有する基材を備えた、金属の切屑形成機械加工用のコーティングされた切削工具に関する。本発明によるコーティングされた切削工具は、耐アブレシブ摩耗性に対する需要の高い用途、例えば合金鋼、炭素鋼又は靱性の硬化鋼といった金属材料の旋削加工、フライス加工又はドリル加工において特に有用である。
超硬合金の切削工具に対する耐摩耗コーティングの化学蒸着(CVD)は、長年の産業慣行である。TiCN及びAlのようなコーティングは、多くの異なる材料の切削において切削インサートの耐摩耗性を向上させることが示されている。TiCNの内層とα−Alの外層との組み合わせは、例えば鋼の旋削加工を目的とする、多くの市販の切削インサートに見出すことができる。
本発明の目的は、切削作業の性能が改善された、アルミナコーティングされた切削工具インサートを提供することである。本発明のさらなる目的は、耐摩耗性が改善された、例えばクレータ摩耗に対する耐性及び切れ刃のフランク摩耗に対する耐性を高めた、コーティングされた切削工具を提供することである。本発明の別の目的は、合金鋼、炭素鋼及び靱性の硬化鋼といった鋼の旋削加工に高い性能を有する切削工具を提供することである。
上記目的は、請求項1に記載の切削工具により達成される。好ましい実施態様は、従属請求項に開示される。
本発明による切削工具は、α−Alの層を含むコーティングでコーティングされた基材を備え、前記α−Al層は、20℃の室温において100mV、10kHzのACで測定した場合に10−6≦tan δ≦25×10−4の誘電損失を呈する。このα−Al層は、予測できないほど高いその耐クレータ摩耗性及び耐フランク摩耗性により、切削工具上の層として有利であることが示された。
誘電損失は、誘電物質に固有の、電磁エネルギーの例えば熱への消散を定量化するものである。誘電損失は、損失正接、即ちtan δ(δは損失角)に関してパラメータ化することができる。誘電物質上に適用された振動電場は、誘電物質内の電荷を二つの代替的な構成の間で前後に駆動する。このような電荷の動きは、損失が無ければ電圧と位相が90度ずれているであろう電流に相当する。損失角δは、誘電損失により生じる、この理論的な90度という値からの位相ずれに相当する。したがって、損失正接は、物質の誘電損失を特徴づける指標である。損失正接は、tan δ又は消散係数(D)ということもできる。
α−Alのような誘電物質のコーティングの誘電損失は、不純物、空隙及び表面状態といったコーティング内部の欠陥の存在に関連しており、緻密(孔がない)且つ純粋(不純物がない)で高い粒界凝集により低いtan δの値がもたらされる。切削工具上のα−Al層における不純物及び孔の存在は共に、切削作業中のコーティングの耐摩耗性を低下させる。α−Al層のtan δの値が低い程、層の特性がサファイアの特性に近いということが示される。8×10−8の単一の結晶性サファイア(α−Al)の理論値は文献に提示されている。
切削工具上のα−Al層の誘電損失は、コーティングの他の特性、例えばコーティングの残留応力にも関連しうる。高温において堆積後のコーティングの収縮から生じる残留応力は、例えばXRD及びsinψ法により測定した場合、典型的には約100〜500MPa(張力)のレベルである。
切削工具上のα−Al層の誘電損失は、コーティングの粒界の粒度及び種類にも関連しうる。不純物は、粒界に位置している可能性が最も高い。本発明のα−Al層の平均粒度は、例えば走査型電子顕微鏡において、コーティングの研磨した断面内でコーティングの成長方向に直交する方向に測定した場合、典型的には幅約0.2〜2μmである。
α−Al層は、好ましくは熱CVDで堆積される。代替的に、他のCVD堆積方法を使用することができる。これは、後述のコーティングの任意のさらなる層にも当てはまる。
α−Al層は、少なくとも切削作業において切削に関与する切削工具のエリアを覆い、少なくともクレータ摩耗及び/又はフランク摩耗に曝されたエリアを覆う。別法では、切削工具全体を、α−Al層及び/又は任意のさらなるコーティング層でコーティングすることができる。
本発明の一実施態様では、α−Al層の厚さは2〜20μm、好ましくは2〜10μm、最も好ましくは3−7μmである。
本発明の一実施態様では、α−Al層の誘電損失(tan δ)は、10−5以上、好ましくは10−4以上、最も好ましくは5×10−4以上である。誘電損失が低すぎる場合、切削作業においてコーティングが脆く見えることがある。
本発明の一実施態様では、α−Al層の誘電損失(tan δ)は、20×10−4以下、好ましくは15×10−4以下、さらに好ましくは10×10−4以下、最も好ましくは7×10−4以下である。このような低い値は、α−Al層が極めて純粋且つ緻密であり、したがって切削作業を要するクレータ及びフランク摩耗において際立った性能を発揮することを示す。
α−Al層の誘電損失(tan δ)は、14の別々の測定値の平均値として測定される。α−Al層の誘電損失(tan δ)の測定値は、好ましく切削工具のフランク面の上で測定される。誘電損失の測定は、好ましくは、例えばブラスチング又はブラッシングにより後処理されない切削工具の表面上において実施される。
本発明の一実施態様では、α−Al層は、CuKα照射及びθ−2θスキャンを用いるX線回折により測定した場合、ハリスの式(Harris formula)
Figure 0006931610
[式中、I(hkl)は、(hkl)反射の測定された強度(集積エリア)であり、
(hkl)は、ICDDのPDFカード番号00−010−0173による標準の強度であり、nは計算に用いられる反射の数であって、使用される(hkl)反射は、(1 0 4)、(1 1 0)、(1 1 3)、(0 2 4)、(1 1 6)、(2 1 4)、(3 0 0)及び(0 0 12)である]に従って定義されるテクスチャ係数TC(hkl)を呈し、TC(hkl)は、6、好ましくは7より高い。一実施態様では、α−Al層のTC(0 0 12)は、6、好ましくは7より高い。
本発明の一実施態様では、コーティングは、基材とα−Al層の間に位置する、TiCN、TiN、TiC、ZrN、ZrCN、ZrC、HfN、HfC、HfCN又はこれらの組み合わせの群より選択される材料、好ましくはTiCNを含む耐火層をさらに含む。本発明の一実施態様では、耐火層はTiCN層からなる。TiCN層の粒子は好ましくは円柱状である。本発明の一実施態様では、前記耐火層の厚さは、4〜20μm、好ましくは4〜15μm、最も好ましくは5〜12μmである。
本発明の一実施態様では、コーティングは、耐火層の最も外側に位置してα−Al層に隣接する微細粒径のTiN、TiCN、TiCNO、TiCO又はTiCを含む結合層をさらに含む。結合層は、好ましくはHTCVDにより堆積される。結合層は、耐火層とα−Al層の接着を強めるためのものである。結合層は、好ましくはα−Al層の堆積に先立ち酸化される。結合層は、非円柱状粒子、例えば等分割粒子を含む。
本発明の一実施態様では、基材は、超硬合金、サーメット又はセラミックである。これら基材は、本発明のコーティングに適した硬度と靱性を有する。
本発明の一実施態様では、コーティングされた切削工具の基材は、4〜12wt%のCoと、任意選択的に0.3〜10wt%の、周期表のIVb族、Vb族及びVIb族の立方晶炭化物、窒化物又は炭窒化物、好ましくはTi、Nb、Ta又はこれらの組み合わせと、残部のWCとを含む超硬合金からなる。
本発明の一実施態様では、基材は、結合相富化表面ゾーンを含む超硬合金からなる。結合相富化表面ゾーンの厚さは、基材の表面から基材の芯に向かって測定した場合に、好ましくは5〜35μmである。結合相富化ゾーンは、基材の芯の結合相より少なくとも50%高い結合相含有量を有する。結合相富化表面ゾーンは、基材の靱性を高める。高い靱性を有する基材は、鋼の旋削加工といった切削作業において好ましい。
本発明の一実施態様では、基材は、実質的に立方晶炭化物を有さない表面ゾーンを含む超硬合金からなる。実質的に立方晶炭化物を有さない表面ゾーンの厚さは、基材の表面から基材の芯に向かって測定した場合に、好ましくは5〜35μmである。「実質的に有さない」とは、光学顕微鏡での断面の目視分析において、目に見える立方晶炭化物がないことを意味する。
本発明の一実施態様では、基材は、上記に開示されたような結合相富化表面ゾーンと、上記に開示されたような実質的に立方晶炭化物を有さない表面ゾーンとの組み合わせを含む超硬合金からなる。
本発明の一実施態様では、α−Al層は、コーティングの最も外側の層である。別法では、一又は複数のさらなる層を、α−Al層、例えばTiN、TiC、Al及び/又はこれらの組み合わせの層、好ましくはTiNの層の上に堆積させることができる。本発明の一実施態様では、α−Al層の上に堆積された一又は複数のさらなる層は、フランク面から又はスクイ面から又は切れ刃から又はこれらの組み合わせから除去される。α−Al層の上に堆積される最も外側の層の厚さは、好ましくは1〜3μmである。
本発明の一実施態様では、コーティングは、CVDコーティングされた層の引張応力を解放し、表面粗さを低減するために、ブラスチング又はブラッシングにより後処理される。
α−Al層3の誘電損失測定のために準備された切削インサートの一部の断面の模式図である。 α−Al層3の誘電損失測定のために準備された切削インサートの表面の一部の模式上面図である。
方法
CVDコーティングの堆積
後述の実施例におけるCVDコーティングは、ハーフインチサイズの切削インサートを10000個収容できる大きさのラジアルイオン結合型CVD装置530で堆積された。
誘電損失の測定
後述の実施例に開示されるコーティングされた切削工具の実施例に基づき、誘電損失特性の測定が本明細書に開示される。TiN層及びTiCN層は、他の導電層により置き換えることができ、対応する測定を実施することができる。代替的に、測定において導電基材(例えば超硬合金)でTiCNを置き換えることができ、TiCNの代わりに基材が露出して接続される。
α−Al層上の導電TiNの単離エリア8が上部コンタクト(上側プレート)として機能する平行プレート型コンデンサ構造を定義するために、堆積されたα−Al層の誘電損失特性を、レーザーアブレーションを用いて分析した。α−Al層の下には、下部コンタクト(下側プレート)である導電TiCN層が存在する。下側プレートへの接触は、上部コンタクト8に隣接するTiCNエリア6を露出させるレーザーアブレーションにより得られる。二つのプレート間に位置するα−Al層の体積はコンデンサの誘電体であって分析対象であり、得られる誘電損失の値tan δに影響するのは、単離されたTiNエリア8の投影面積と考えられる。
レーザーは、インサートのコーティング表面上において、誘電損失特性が測定できるように構造を定義するために使用された。レーザーは、コーティングの部分を選択的に除去するために使用された。
図1は、基材1、内部TiCN層2、及びα−Al層3、一番上のTiN層4、露出したTiCN6の一エリア5、露出したα−Alのトレンチ7、単離されたTiNエリア8及び周囲のTiNエリア9を示す、コーティングされた切削工具(切削インサート)の一部の模式的断面図である。
図2は、図1に示すように定義された構造を用いて準備された、コーティングされた切削工具の表面の模式的上面図であり、二つの単離TiNエリア8と一つの露出TiCN6のエリアが示されている。
準備された試験対象の各インサートは、インサートのフランク面上に均等に分配された、14の単離エリア8と、3の露出TiCN6の個別エリアを有していた。単離TiNエリア8の中心から放射方向に測定した場合に、円形の単離TiNエリアの直径は1.288mmであり、単離TiNエリア8を囲む露出したα−Alのトレンチ7の幅は10μmであった。露出TiCN6のエリアは、1mm×1mmの正方形であった。
誘電損失の測定は、室温(20℃)において10kHz、100mVでtan δを測定するように調節されたHP 4284A Precision LCR Meter(20Hz−1MHz)を用いて実施される。本測定では、平行回路モード(CPモード)が使用された。キャパシタンスが小さく且つコンデンサのインピーダンスが>10kohmである場合、このCPモードを使用するために経験則が使用される。本実施例では、各コンデンサは約30pFのキャパシタンス(C)を有し、周波数(f)は10kHzである。これにより、コンデンサのインピーダンス(Z)[Z=1/(2πfC)
Figure 0006931610
0.5MOhm>>10kOhm]が与えられる。
一方のプローブを単離TiNエリア8に接続し、他方のプローブを露出TiCNエリア6に接続した。一回の測定の長さは約180msであった。
(後述される)本実施例のすべての測定が、外側のTiN層とα−Al層と接続する内側のTiCNに基づく場合も、適切な導電特性を有する他の層を、α−Al層の誘電特性の分析のために使用することができることに注意されたい。
X線回折の測定
(一又は複数の)層のテクスチャを調べるために、フランク面において、PIXcel検出器を備えるPANalytical CubiX3回折計を用いてX線回折の測定を行った。確実に試料のフランク面が試料保持器の基準面と平行になり、且つフランク面が適切な高さとなるように、コーティングされた切削工具を試料保持器にマウントした。電圧45kV及び電流40mAでの測定に、Cu−Kα照射を使用した。1/2度の散乱除去スリット及び1/4度の発散スリットを使用した。コーティングされた切削工具からの回折強度を、20°から140°2θの範囲で、即ち10から70°の入射角θの範囲で測定した。
データのバックグラウンド除去、Cu−Kα2ストリッピング、及びプロファイルフィッティングを含むデータ分析を、PANalyticalのX’Pert HighScore Plusソフトウエアを用いて行った。次いでこのプログラムからの出力(プロファイルフィッティング曲線の集積ピーク面積)を使用し、上記に開示したハリスの式(1)を用いて、特定層(例えばα−Al)のPDFカードに従い、基準集積データに対して測定集積データの比を比較することにより、層のテクスチャ係数を計算した。層は有限の厚さを有する膜であったため、異なる2θの角度における一対のピークの相対強度は、層を通る経路長の差により、バルク試料の場合とは異なる。したがって、TCの値を計算するとき、プロファイルフィッティング曲線の抽出された集積ピーク面積強度に薄膜修正を適用し、さらには層の線形吸収係数も考慮した。例えばα−Al層の上に置くことが可能なさらなる層は、α−Al層に入り、コーティング全体から出てゆくX線の強度に影響すると思われるので、これらの修正も必要であり、層に含まれる各化合物の線形吸収係数も考慮される。代替的に、アルミナ層の上のさらなる層、例えばTiNは、XRD測定結果に実質的に影響しない方法、例えば化学エッチングにより除去することができる。
α−Al層のテクスチャを調べるために、CuKα照射を用いてX線回折を実施し、α−Al層の円柱状粒子の異なる成長方向のテクスチャ係数TC(hkl)を、上記に開示したハリスの式(1)に従って計算した。ここで、I(hkl)=(hkl)反射の測定された(集積面積)強度であり、I(hkl)=ICDDのPDFカード番号00−010−0173による基準強度であり、n=計算に用いた反射の数である。この場合、使用される(hkl)反射は(1 0 4)、(1 1 0)、(1 1 3)、(0 2 4)、(1 1 6)、(2 1 4)、(3 0 0)及び(0 0 12)である。
ピークの重複は、例えば複数の結晶層を含む及び/又は結晶相を含む基材上に堆積されるコーティングのX線回折分析で起こりうる現象であること、並びにこれは当業者によって考慮及び補償されなければならないことに注意されたい。α−Al層のピークと例えばTiCN層のピークとのピークの重複は、測定に影響を与えることがあり、考慮する必要がある。また、基材中の例えばWCは、本発明の関連ピークに近い回折ピークを有しうることに注意されたい。
本発明の例示的実施態様を、以下にさらに詳細に開示し、基準実施態様と比較する。コーティングされた切削工具(インサート)を、切削試験において、製造、分析、及び評価した。
実施例1(本発明)
旋削加工用のISO型CNMG120408の超硬合金基材(試料E23C−1及びE23C−2)を、7.2wt−%のCo、2.7wt%のTa、1.8wt%のTi、0.4wt%のNb、0.1wt%のN及び残部のWCから製造した。これは、基材表面から、実質的に立方晶炭化物を有さない本体の深部まで約25μmのCo富化表面ゾーンを含んでいた。
インサートを、まず薄い約0.4μmのTiN層で、次いで約7μmのTiCN層で、885℃でTiCl、CHCN、N、HCl及びHを用いる周知のMTCVD技術を採用することによりコーティングした。TiCN層のMTCVD堆積の最初の部分ではTiCl/CHCNの体積比は6.6であり、続く期間ではTiCl/CHCN比3.7を使用した。
Figure 0006931610
MTCVD TiCN層の上に、三つの個別の反応工程からなる方法により、1〜2μmの厚さの結合層が1000℃で堆積された。TiCl、CH、N、HCl及びHを400mbarで用いる第1のTiCN工程、次いでTiCl、CHCN、CO、N、HCl及びHを70mbarで用いる第2の工程、及び最後にTiCl、CHCN、CO、N及びHを70mbarで用いる第3の工程により、TiCNO結合層を生成した。第2及び第3のTiCNO堆積工程の間に、表の第1及び第2の行に示すようにガスのいくつかを連続的に変更した。その後のAl核形成の開始に先立ち、結合層を、4分間、CO、CO、N及びHの混合物中において酸化させた。
Figure 0006931610
結合層の上に、α−Al層を堆積させた。α−Al層は、1000℃及び55mbarにおいて二工程で堆積された。1.2vol−%のAlCl、4.7vol−%のCO、1.8vol−%のHCl及び残部のHを使用し、約0.1μmのα−Alを生じさせる第1の工程、及び約5μmの総α−Al層厚をもたらす後述の第2の工程。第2のα−Al堆積工程は、1.2%のAlCl、4.7%のCO、2.9%のHCl、0.58%のHS及び残部Hを用いて実施された。
約1μmのTiNの最も外側の層を、α−Al層を覆うように堆積させ、それにより試料E23C−1及びE23C−2を形成した。
実施例2(参照)
旋削加工用のISO型CNMG120408の超硬合金基材を、7.2wt−%のCo、2.7wt%のTa、1.8wt%のTi、0.4wt%のNb、0.1wt%のN及び残部のWCから製造した。これは、基材表面から、実質的に立方晶炭化物を有さない本体の深部まで約25μmのCo富化表面ゾーンを含んでいた。
インサートを、まず薄い約0.4μmのTiN層で、次いで約8μmのTiCN層で、885℃でTiCl、CHCN、N、HCl及びHを用いる周知のMTCVD技術を採用することによりコーティングした。コーティングR25の場合、TiCN層のMTCVD堆積の最初の部分ではTiCl/CHCNの体積比は3.7であり、続く期間ではTiCl/CHCN比2.2が使用された。
MTCVD TiCN層の上に、三つの個別の反応工程からなる方法により、1− 2μmの厚さの結合層が1000℃で堆積された。まず、TiCl、CH、N、HCl及びHを400mbarで用いるTiCN工程、次いでTiCl、CHCN、CO、N、HCl及びHを70mbarで用いる第2の工程、及び最後にTiCl、CHCN、CO、N及びHを70mbarで用いる第3の工程により、TiCNO結合層を生成した。α−Al核形成の開始に先立ち、結合層を、4分間、CO、CO、N及びHの混合物中において酸化させた。
その後α−Al層を、1000℃及び55mbarにおいて二工程で堆積させた。1.2vol−%のAlCl、4.7vol−%のCO、1.8vol−%のHCl及び残部Hを用いて約0.1μmのα−Alをもたらす第1の工程、並びに1.16%のAlCl、4.7%のCO、2.9%のHCl、0.58%のHS及び残部Hを用いて約5μmの総α−Al層厚をもたらす第2の工程。
形成された試料、R25C−1、R25C−2は、約1μm厚のTiNの最も外側の層も含む。
実施例2b(参照)
旋削加工用のISO型CNMG120408の超硬合金基材を、7.2wt−%のCo、2.7wt%のTa、1.8wt%のTi、0.4wt%のNb、0.1wt%のN及び残部のWCから製造した。これは、基材表面から、実質的に立方晶炭化物を有さない本体の深部まで約25μmのCo富化表面ゾーンを含んでいた。
インサートを、まず薄い約0.3μmのTiN層で、次いで約8μmのTiCN層で、885℃でTiCl、CHCN、N、HCl及びHを用いる周知のMTCVD技術を採用することによりコーティングした。TiCN層のMTCVD堆積の間のTiCl/CHCNの体積比は2.2であった。
MTCVD TiCN層の上に、二つの反応工程からなる方法により、約1μmの厚さの結合層が1000℃で(HTCVD)堆積された。TiCl、CH、N、HCl及びHを55mbarで用いる第1のTiCN工程、次いでTiCl及びCOを55mbarで用いる第2の工程。α−Alの核形成の開始に先立ち、結合層を、4分間、COとHClの混合物中において酸化させた。
その後α−Al層を、1000℃及び55mbarにおいて二工程で堆積させた。2.3vol−%のAlCl、4.6vol−%のCO、1.7vol−%のHCl及び残部Hを用いて約0.1μmのα−Alをもたらす第1の工程、並びに2.2%のAlCl、4.4%のCO、5.5%のHCl、0.33%のHS及び残部Hを用いて約5μmの総α−Al層厚をもたらす第2の工程。
形成された試料、R225C−1、R225C−2は、約1μm厚のTiNの最も外側の層も含む。
実施例3(テクスチャ分析)
X線回折測定を用いて、上記に開示した方法により、α−Al及びTiCNのTC値を分析した。コーティングされたCNMG120408基材の二つの試料それぞれを、テクスチャ分析し、その後摩耗試験した。層厚を、各コーティングの断面を調べることにより、光学顕微鏡で分析した。結合層は、表2に示すTiCN層の厚さに含めている。結果を表2に示す。
誘電損失特性を、上記に開示した方法においてtan δを測定することにより分析した。下記に示す値は、別々の構造で各切削工具のフランク面に得られた14の測定値の平均値である。
Figure 0006931610
実施例4(切削試験)
切削摩耗試験に先立ち、水中においてアルミナのスラリーを用いるウェットブラスチング装置において、インサートのスクイ面にブラスチングした。切削インサートのスクイ面とブラスタスラリーの方向との間の角度は約90°であった。ブラスチングの目的は、コーティングの残留応力と表面粗さに影響を与え、それによりその後の旋削試験においてインサートの特性を改善することである。
ブラスチングされたISO型CNMG120408のコーティングされた切削工具を、以下の切削データを用いて、ボールベアリング鋼(100CrMo7−3)の長手方向旋削加工において試験した;
Figure 0006931610
水混和性金属作動流体が使用された。
一つの切削工具につき一つの切れ刃を評価した。
クレータ摩耗の分析において、光学顕微鏡を用いて露出した基材の面積を測定した。露出した基材の表面積が0.2mmを超えるとき、工具の寿命が尽きると考えた。各切削工具の摩耗は2分の切削後に光学顕微鏡において評価した。次いで切削過程を継続し、工具の標準寿命に達するまで2分毎に測定を行った。クレータの大きさが0.2mmを超えたとき、工具の標準寿命が満たされるまでの時間を、直近の二つの測定値間の一定の過程摩耗率に基づいて推定した。クレータ摩耗以外に、フランク摩耗も観察したが、この試験においては工具の寿命に影響しなかった。二つの平行試験を各種コーティングに実行し、例えば試料E23C−1を摩耗試験1において、試料E23C−2を摩耗試験2において、それぞれ試験した。結果を表3に示す。
Figure 0006931610
本発明について、様々な例示的実施態様に関して記載したが、本発明は開示された例示的実施態様に限定されるものではなく、反対に、特許請求の範囲に含まれる様々な修正例及び等価な構成も含むことを理解されたい。

Claims (11)

  1. α−Alの層と、TiCNからなる耐火層と、を含むコーティングでコーティングされた基材を含み、前記耐火層が、前記基材と前記α−Alの層との間に位置し、20℃において10kHzのAC及び100mVで測定した場合に前記α−Al層が10−6≦tan δ≦25×10−4の誘電損失を呈する、コーティングされた切削工具。
  2. α−Al層の厚さが2〜20μm、好ましくは2〜10μmである、請求項1に記載のコーティングされた切削工具。
  3. α−Al層の誘電損失tan δが、10−5以上、好ましくは10−4以上、最も好ましくは5×10−4以上である、請求項1又は2に記載のコーティングされた切削工具。
  4. α−Al層の誘電損失tan δが、20×10−4以下、好ましくは15×10−4以下、さらに好ましくは10×10−4以下、最も好ましくは7×10−4 以下である、請求項1から3のいずれか一項に記載のコーティングされた切削工具。
  5. α−Al層の誘電損失tan δが、切削工具のフランク面の上で測定される、請求項1から4のいずれか一項に記載のコーティングされた切削工具。
  6. α−Al層が、CuKα照射及びθ−2θスキャンを用いるX線回折により測定した場合、ハリスの式(Harris formula)
    Figure 0006931610
    [式中、I(hkl)は、(hkl)反射の測定された強度(集積エリア)であり、
    (hkl)は、ICDDのPDF−カード番号00−010−0173による標準の強度であり、nは計算に用いられる反射の数であって、使用される(hkl)反射は、(1 0 4)、(1 1 0)、(1 1 3)、(0 2 4)、(1 1 6)、(2 1 4)、(3 0 0)及び(0 0 12)である。]に従って定義されるテクスチャ係数TC(hkl)を呈し、7より高いTC(hkl)の値を特徴とする、
    請求項1から5のいずれか一項に記載のコーティングされた切削工具。
  7. α−Al層のTC(0 0 12)が、7より高い、請求項6に記載のコーティングされた切削工具。
  8. α−Al層が100〜500MPa(張力)の残留応力レベルを呈する、請求項1から7のいずれか一項に記載のコーティングされた切削工具。
  9. 前記耐火層の厚さが4〜20μmである、請求項8に記載のコーティングされた切削工具。
  10. 前記コーティングが、厚さ1〜3μmの、最も外側のTiN層をさらに含む、請求項1から9のいずれか一項に記載のコーティングされた切削工具。
  11. 基材が、超硬合金、サーメット、セラミックである、請求項1から10のいずれか一項に記載のコーティングされた切削工具。
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