JP6928896B2 - Mounting board and manufacturing method of mounting board - Google Patents

Mounting board and manufacturing method of mounting board Download PDF

Info

Publication number
JP6928896B2
JP6928896B2 JP2017132166A JP2017132166A JP6928896B2 JP 6928896 B2 JP6928896 B2 JP 6928896B2 JP 2017132166 A JP2017132166 A JP 2017132166A JP 2017132166 A JP2017132166 A JP 2017132166A JP 6928896 B2 JP6928896 B2 JP 6928896B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
electronic component
layer
metal member
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017132166A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2019016672A (en
Inventor
持 悟 倉
持 悟 倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2017132166A priority Critical patent/JP6928896B2/en
Publication of JP2019016672A publication Critical patent/JP2019016672A/en
Priority to JP2021127724A priority patent/JP7245452B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6928896B2 publication Critical patent/JP6928896B2/en
Priority to JP2023039105A priority patent/JP7569516B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/18High density interconnect [HDI] connectors; Manufacturing methods related thereto

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Description

本開示の実施形態は、実装基板に関する。また、本開示の実施形態は、実装基板の製造方法に関する。 Embodiments of the present disclosure relate to mounting boards. Moreover, the embodiment of this disclosure relates to the manufacturing method of the mounting substrate.

従来から、半導体チップなどの電子部品が搭載された実装基板に関する種々の技術が提案されている。例えば特許文献1には、回路面を下に向けたフェイスダウンの状態で半導体チップを基板上に実装したフリップチップボンディング方式の半導体装置が開示されている。特許文献1に記載の半導体装置においては、半導体チップで生じた熱を効率的に外部に放出するため、半導体チップの背面に、冷媒路が形成された冷媒路部材が取り付けられている。 Conventionally, various techniques related to a mounting substrate on which electronic components such as semiconductor chips are mounted have been proposed. For example, Patent Document 1 discloses a flip-chip bonding type semiconductor device in which a semiconductor chip is mounted on a substrate in a face-down state with the circuit surface facing downward. In the semiconductor device described in Patent Document 1, in order to efficiently release the heat generated by the semiconductor chip to the outside, a refrigerant path member having a refrigerant path formed is attached to the back surface of the semiconductor chip.

特開2010−73866号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-73866

特許文献1のように半導体チップの背面に放熱用の部材を取り付けると、部材の分だけ半導体装置全体の厚みが増加してしまう。 When a member for heat dissipation is attached to the back surface of the semiconductor chip as in Patent Document 1, the thickness of the entire semiconductor device increases by the amount of the member.

本開示の実施形態は、このような課題を効果的に解決し得る実装基板を提供することを目的とする。 It is an object of the present disclosure embodiment to provide a mounting board capable of effectively solving such a problem.

本開示の一実施形態は、第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面を有する基板と、前記基板の前記第1面側に位置し、前記基板とは反対の側に露出した電極を有する電子部品と、前記電子部品に対して前記基板の前記第1面と平行な方向に位置し、且つ10μm以上の厚さを有する金属部材と、前記電子部品及び前記金属部材を少なくとも部分的に覆う絶縁層と、前記絶縁層上に位置する第1部分と、前記絶縁層を貫通し、前記第1部分と前記電子部品の前記電極とを電気的に接続する第2部分と、を有する導電層と、を備える、実装基板である。 One embodiment of the present disclosure includes a substrate having a first surface and a second surface located on the opposite side of the first surface, and a substrate located on the first surface side of the substrate and on the side opposite to the substrate. An electronic component having an exposed electrode, a metal member located in a direction parallel to the first surface of the substrate with respect to the electronic component and having a thickness of 10 μm or more, the electronic component and the metal member. An insulating layer that covers at least a part, a first portion located on the insulating layer, and a second portion that penetrates the insulating layer and electrically connects the first portion and the electrode of the electronic component. It is a mounting substrate including a conductive layer having.

本開示の一実施形態による実装基板において、前記基板には、前記基板の前記第1面の法線方向に沿って見た場合に前記金属部材に重なる第1貫通孔が設けられており、前記実装基板は、前記第1貫通孔内に位置する第1金属層を更に備えてもよい。 In the mounting substrate according to the embodiment of the present disclosure, the substrate is provided with a first through hole that overlaps with the metal member when viewed along the normal direction of the first surface of the substrate. The mounting substrate may further include a first metal layer located in the first through hole.

本開示の一実施形態による実装基板において、前記基板には、前記基板の前記第1面の法線方向に沿って見た場合に前記電子部品に重なる第2貫通孔が設けられており、前記実装基板は、前記第2貫通孔内に位置する第2金属層を更に備えてもよい。 In the mounting substrate according to the embodiment of the present disclosure, the substrate is provided with a second through hole that overlaps with the electronic component when viewed along the normal direction of the first surface of the substrate. The mounting substrate may further include a second metal layer located in the second through hole.

本開示の一実施形態による実装基板において、前記第1面から前記第2面まで前記基板を貫通する貫通電極と、前記絶縁層を貫通し、前記導電層の前記第1部分と前記貫通電極とを電気的に接続する接続部材と、を更に備えてもよい。 In the mounting substrate according to the embodiment of the present disclosure, a through electrode penetrating the substrate from the first surface to the second surface, the first portion of the conductive layer, and the through electrode penetrating the insulating layer. May further be provided with a connecting member for electrically connecting the above.

本開示の一実施形態による実装基板において、前記貫通電極は、導電性粒子とバインダとを含む導電性部材を介して、前記接続部材に電気的に接続していてもよい。 In the mounting substrate according to the embodiment of the present disclosure, the through electrode may be electrically connected to the connecting member via a conductive member including conductive particles and a binder.

本開示の一実施形態による実装基板において、前記貫通電極は、インダクタの一部であってもよい。 In the mounting substrate according to the embodiment of the present disclosure, the through electrode may be a part of an inductor.

本開示の一実施形態による実装基板において、前記貫通電極に電気的に接続するキャパシタを更に備えていてもよい。 The mounting substrate according to the embodiment of the present disclosure may further include a capacitor that is electrically connected to the through electrode.

本開示の一実施形態による実装基板において、前記基板は、ガラスを含有してもよい。 In the mounting substrate according to the embodiment of the present disclosure, the substrate may contain glass.

本開示の一実施形態は、第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面を有する基板を準備する工程と、前記基板の前記第1面側に、前記基板とは反対の側に露出した電極を有する電子部品、及び10μm以上の厚さを有する金属部材を配置する工程と、前記電子部品及び前記金属部材を少なくとも部分的に覆う絶縁層を形成する工程と、前記絶縁層上に位置する第1部分と、前記絶縁層を貫通し、前記第1部分と前記電子部品の前記電極とを電気的に接続する第2部分と、を有する導電層を形成する工程と、を備える、実装基板の製造方法である。 One embodiment of the present disclosure includes a step of preparing a substrate having a first surface and a second surface located on the opposite side of the first surface, and a step of preparing the substrate on the first surface side of the substrate, which is opposite to the substrate. A step of arranging an electronic component having an electrode exposed on the side and a metal member having a thickness of 10 μm or more, a step of forming an insulating layer that covers the electronic component and the metal member at least partially, and the insulating layer. A step of forming a conductive layer having a first portion located above and a second portion penetrating the insulating layer and electrically connecting the first portion and the electrode of the electronic component. This is a method for manufacturing a mounting board.

本開示の一実施形態による実装基板の製造方法において、前記基板は、前記第1面から前記第2面まで前記基板を貫通する貫通電極を備え、前記導電層を形成する工程は、前記絶縁層を貫通し、前記導電層の前記第1部分と前記貫通電極とを電気的に接続する接続部材を形成する工程を含んでもよい。 In the method for manufacturing a mounting substrate according to an embodiment of the present disclosure, the substrate includes through electrodes that penetrate the substrate from the first surface to the second surface, and the step of forming the conductive layer is the insulating layer. May include a step of forming a connecting member that electrically connects the first portion of the conductive layer and the through electrode.

本開示の一実施形態は、支持面を有する支持基板を準備する工程と、前記支持基板の前記支持面側に、前記支持基板の側に露出した電極を有する電子部品、及び10μm以上の厚さを有する金属部材を少なくとも含む構造部を配置する工程と、前記構造部に、第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面を有する基板を接合する工程と、前記支持基板を前記構造部から分離する工程と、前記電子部品及び前記金属部材を少なくとも部分的に覆う絶縁層を形成する工程と、前記絶縁層上に位置する第1部分と、前記絶縁層を貫通し、前記第1部分と前記電子部品の前記電極とを電気的に接続する第2部分と、を有する導電層を形成する工程と、を備える、実装基板の製造方法である。 One embodiment of the present disclosure includes a step of preparing a support substrate having a support surface, an electronic component having an electrode exposed on the support surface side of the support substrate, and a thickness of 10 μm or more. A step of arranging a structural portion including at least a metal member having the above, a step of joining a substrate having a first surface and a substrate having a second surface located on the opposite side of the first surface to the structural portion, and the support substrate. The step of separating from the structural portion, the step of forming an insulating layer that covers the electronic component and the metal member at least partially, the first portion located on the insulating layer, and the insulating layer are penetrated and described. A method for manufacturing a mounting substrate, comprising a step of forming a conductive layer having a first portion and a second portion for electrically connecting the electrodes of the electronic component.

本開示の一実施形態による実装基板の製造方法において、前記基板は、前記第1面から前記第2面まで前記基板を貫通する貫通電極を備え、前記絶縁層を貫通し、前記貫通電極と電気的に接続する接続部材を形成する工程を更に備え、前記導電層を形成する工程は、前記接続部材と前記導電層の前記第1部分とを電気的に接続する工程を含んでもよい。 In the method for manufacturing a mounting substrate according to an embodiment of the present disclosure, the substrate includes a penetrating electrode that penetrates the substrate from the first surface to the second surface, penetrates the insulating layer, and is electrically connected to the penetrating electrode. The step of forming the conductive layer may further include a step of forming a connecting member to be specifically connected, and the step of forming the conductive layer may include a step of electrically connecting the connecting member and the first portion of the conductive layer.

本開示の一実施形態による実装基板の製造方法において、前記基板を接合する工程は、導電性粒子とバインダとを含む導電性ペーストを介して前記貫通電極と前記接続部材とを接合する工程を含んでもよい。 In the method for manufacturing a mounting substrate according to an embodiment of the present disclosure, the step of joining the substrate includes a step of joining the through electrode and the connecting member via a conductive paste containing conductive particles and a binder. It may be.

本開示の一実施形態による実装基板の製造方法において、前記金属部材の配置は、前記金属部材を接着材で接着することを含んでもよい。 In the method of manufacturing a mounting substrate according to an embodiment of the present disclosure, the arrangement of the metal members may include adhering the metal members with an adhesive.

本開示の一実施形態による実装基板の製造方法において、前記金属部材の配置は、めっき処理により前記金属部材を形成することを含んでもよい。 In the method for manufacturing a mounting substrate according to an embodiment of the present disclosure, the arrangement of the metal member may include forming the metal member by a plating process.

本開示の一実施形態による実装基板の製造方法において、前記電子部品の配置は、前記電子部品を接着材で接着することを含んでもよい。 In the method of manufacturing a mounting substrate according to an embodiment of the present disclosure, the arrangement of the electronic components may include bonding the electronic components with an adhesive.

本開示の実施形態によれば、より放熱性に優れた実装基板を提供することができる。 According to the embodiment of the present disclosure, it is possible to provide a mounting substrate having more excellent heat dissipation.

一実施形態による実装基板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the mounting board by one Embodiment. 一実施形態の第1の変形例に係る実装基板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the mounting board which concerns on 1st modification of one Embodiment. 一実施形態の第2の変形例に係る実装基板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the mounting board which concerns on the 2nd modification of one Embodiment. 一実施形態の第3の変形例に係る実装基板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the mounting board which concerns on the 3rd modification of one Embodiment. 一実施形態の第4の変形例に係る実装基板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the mounting board which concerns on the 4th modification of one Embodiment. 第1の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 1st Embodiment. 第2の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 2nd Embodiment. 第2の実施の形態に係る実装基板の製造工程を示す図である。It is a figure which shows the manufacturing process of the mounting board which concerns on 2nd Embodiment.

以下、一実施形態に係る実装基板の構成及びその製造方法について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以下に示す実施形態は本開示の実施形態の一例であって、本開示はこれらの実施形態に限定して解釈されるものではない。また、本明細書において、「基板」、「基材」、「シート」や「フィルム」など用語は、呼称の違いのみに基づいて、互いから区別されるものではない。例えば、「基板」や「基材」は、シートやフィルムと呼ばれ得るような部材も含む概念である。更に、本明細書において用いる、形状や幾何学的条件並びにそれらの程度を特定する、例えば、「平行」や「直交」等の用語や長さや角度の値等については、厳密な意味に縛られることなく、同様の機能を期待し得る程度の範囲を含めて解釈することとする。また、本実施形態で参照する図面において、同一部分または同様な機能を有する部分には同一の符号または類似の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する場合がある。また、図面の寸法比率は説明の都合上実際の比率とは異なる場合や、構成の一部が図面から省略される場合がある。 Hereinafter, the configuration of the mounting substrate and the manufacturing method thereof according to the embodiment will be described in detail with reference to the drawings. The embodiments shown below are examples of the embodiments of the present disclosure, and the present disclosure is not construed as being limited to these embodiments. Further, in the present specification, terms such as "base material", "base material", "sheet" and "film" are not distinguished from each other based only on the difference in designation. For example, "base material" and "base material" are concepts including members that can be called sheets or films. Furthermore, as used herein, terms such as "parallel" and "orthogonal" and values of length and angle that specify the shape and geometric conditions and their degrees are bound by strict meaning. Instead, the interpretation will include the range in which similar functions can be expected. Further, in the drawings referred to in the present embodiment, the same parts or parts having similar functions are designated by the same reference numerals or similar reference numerals, and the repeated description thereof may be omitted. Further, the dimensional ratio of the drawing may differ from the actual ratio for convenience of explanation, or a part of the configuration may be omitted from the drawing.

実装基板
まず、図1を参照して、一実施形態に係る実装基板10の構成について説明する。図1は、本実施形態による実装基板10を示す断面図である。
Mounting Board First, the configuration of the mounting board 10 according to the embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a cross-sectional view showing a mounting substrate 10 according to the present embodiment.

図1に示すように、実装基板10は、基板12、電子部品50、絶縁層34、導電層31及び金属部材61を備える。以下、実装基板10の各構成要素について説明する。 As shown in FIG. 1, the mounting substrate 10 includes a substrate 12, an electronic component 50, an insulating layer 34, a conductive layer 31, and a metal member 61. Hereinafter, each component of the mounting board 10 will be described.

(基板)
基板12は、当該基板の厚み方向Dにおける上側D1の第1面13、及び、第1面13の反対側すなわち下側に位置する第2面14を有する。上側D1の第1面13は、上述の電子部品50が実装される面である。なお「上側」及び「下側」という表現は、第1面13と第2面14との間の相対的な位置関係に基づく表現に過ぎず、製造時や使用時の実装基板10の姿勢などを限定するものではない。
(substrate)
The substrate 12 has a first surface 13 of the upper side D1 in the thickness direction D of the substrate, and a second surface 14 located on the opposite side, that is, the lower side of the first surface 13. The first surface 13 of the upper D1 is a surface on which the above-mentioned electronic component 50 is mounted. The expressions "upper side" and "lower side" are merely expressions based on the relative positional relationship between the first surface 13 and the second surface 14, and include the posture of the mounting substrate 10 during manufacturing and use. Is not limited to.

基板12は、一定の絶縁性を有する限り、有機基板であっても無機基板であってもよいが、一定の絶縁性を有する無機材料を含有することが好ましい。例えば、基板12は、ガラス基板、石英基板、サファイア基板、樹脂基板、シリコン基板、炭化シリコン基板、アルミナ(Al2O3)基板、窒化アルミ(AlN)基板、酸化ジリコニア(ZrO2)基板など、又は、これらの基板が積層されたものである。基板12は、アルミニウム基板、ステンレス基板など、導電性を有する材料から構成された基板を部分的に含んでいてもよい。 The substrate 12 may be an organic substrate or an inorganic substrate as long as it has a certain insulating property, but preferably contains an inorganic material having a certain insulating property. For example, the substrate 12 includes a glass substrate, a quartz substrate, a sapphire substrate, a resin substrate, a silicon substrate, a silicon carbide substrate, an alumina (Al 2 O 3 ) substrate, an aluminum nitride (AlN) substrate, a diriconia oxide (ZrO 2 ) substrate, and the like. Alternatively, these substrates are laminated. The substrate 12 may partially include a substrate made of a conductive material such as an aluminum substrate or a stainless steel substrate.

基板12は、ガラスを含有することがより好ましく、ガラス基板であることがさらに好ましい。当該ガラスの例としては、無アルカリガラスなどのガラスを挙げることができる。無アルカリガラスとは、ナトリウムやカリウムなどのアルカリ成分を含まないガラスである。無アルカリガラスは、例えば、アルカリ成分の代わりにホウ酸を含む。また、無アルカリガラスは、例えば、酸化カルシウムや酸化バリウムなどのアルカリ土類金属酸化物を含む。無アルカリガラスの例としては、旭硝子製のEN−A1や、コーニング製のイーグルXGなどを挙げることができる。基板12がガラスを含有することにより、基板の絶縁性及び熱への安定性が向上する。 The substrate 12 more preferably contains glass, and is even more preferably a glass substrate. Examples of the glass include glass such as non-alkali glass. Non-alkali glass is glass that does not contain alkaline components such as sodium and potassium. Non-alkali glass contains, for example, boric acid instead of the alkaline component. The non-alkali glass also contains, for example, alkaline earth metal oxides such as calcium oxide and barium oxide. Examples of non-alkali glass include EN-A1 manufactured by Asahi Glass and Eagle XG manufactured by Corning. Since the substrate 12 contains glass, the insulating property and heat stability of the substrate are improved.

基板12の厚さは特に制限はないが、例えば、100μm以上且つ800μm以下の厚さの基板12を使用することが好ましい。より好ましくは、基板12は、200μm以上且つ600μm以下の厚さを有する。基板12の厚さを100μm以上とすることにより、基板12のたわみが大きくなることを抑制できる。このため、実装基板10の製造時における基板12のハンドリングが困難になることを抑制できる。また、基板12の厚さを800μm以下とすることにより、基板12に後述の第1貫通孔20等を形成する場合において、第1貫通孔20等の形成に要する時間が長くなって実装基板10の製造コストが上昇してしまうことを抑制できる。なお「厚さ」とは、対象となる構成要素の、基板12の第1面13の法線方向における寸法を意味する。 The thickness of the substrate 12 is not particularly limited, but for example, it is preferable to use the substrate 12 having a thickness of 100 μm or more and 800 μm or less. More preferably, the substrate 12 has a thickness of 200 μm or more and 600 μm or less. By setting the thickness of the substrate 12 to 100 μm or more, it is possible to suppress an increase in the deflection of the substrate 12. Therefore, it is possible to prevent the substrate 12 from becoming difficult to handle at the time of manufacturing the mounting substrate 10. Further, by setting the thickness of the substrate 12 to 800 μm or less, when the first through hole 20 or the like described later is formed in the substrate 12, the time required for forming the first through hole 20 or the like becomes long and the mounting substrate 10 is formed. It is possible to suppress an increase in the manufacturing cost of the product. The "thickness" means the dimension of the target component in the normal direction of the first surface 13 of the substrate 12.

(電子部品)
電子部品50は、第1面13上に位置し、導電層31を通じて電気信号を送信または受信する。電子部品50は、本体部51と、本体部51の上側D1に位置する電極52と、を有する。
(Electronic components)
The electronic component 50 is located on the first surface 13 and transmits or receives an electric signal through the conductive layer 31. The electronic component 50 has a main body 51 and an electrode 52 located on the upper side D1 of the main body 51.

本体部51は、例えば、LSI(Large-Scale Integration)、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)およびディスクリート部品などのデバイスチップである。MEMSとは、機械要素部品、センサ、アクチュエータ、電子回路などが1つの基板上に集積化された電子デバイスである。本体部51は、シリコンなどから構成された基材を少なくとも含む。 The main body 51 is, for example, a device chip such as an LSI (Large-Scale Integration), a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), and a discrete component. MEMS is an electronic device in which mechanical element parts, sensors, actuators, electronic circuits, etc. are integrated on one substrate. The main body 51 includes at least a base material made of silicon or the like.

電極52は、電子部品50の上側D1に露出している。このため、電極52は、電子部品50を他の構成要素に電気的に接続するための端子として機能することができる。 The electrode 52 is exposed on the upper side D1 of the electronic component 50. Therefore, the electrode 52 can function as a terminal for electrically connecting the electronic component 50 to another component.

図1に示すように、電子部品50は、電子部品50の下側D2の端面(以下、「電子部品50の下端面」とも記す。)において第1面13と接していてもよい。若しくは、図示はしないが、電子部品50の下端面と第1面13との間に絶縁層などのその他の構成要素が存在していてもよい。電子部品50の下端面を第1面13に接着する場合には、例えば、ダイアタッチメント材などの図示しない接着材を介して第1面13に接着されている。 As shown in FIG. 1, the electronic component 50 may be in contact with the first surface 13 on the end surface of the lower D2 of the electronic component 50 (hereinafter, also referred to as “lower end surface of the electronic component 50”). Alternatively, although not shown, other components such as an insulating layer may be present between the lower end surface of the electronic component 50 and the first surface 13. When the lower end surface of the electronic component 50 is adhered to the first surface 13, it is adhered to the first surface 13 via, for example, an adhesive material (not shown) such as a diaphragm material.

電子部品50の厚さは、特に限定されないが、例えば50μm以上100μm以下である。 The thickness of the electronic component 50 is not particularly limited, but is, for example, 50 μm or more and 100 μm or less.

(絶縁層)
絶縁層34は、電子部品50及び金属部材61を少なくとも部分的に覆い、且つ絶縁性を有する層である。絶縁層34の材料としては、絶縁性を有する限りにおいて特に限定されないが、ポリイミド、エポキシ、アクリル樹脂、ポリベンゾオキサゾール(PBO)などの有機材料を用いることができる。
(Insulation layer)
The insulating layer 34 is a layer that at least partially covers the electronic component 50 and the metal member 61 and has an insulating property. The material of the insulating layer 34 is not particularly limited as long as it has insulating properties, but organic materials such as polyimide, epoxy, acrylic resin, and polybenzoxazole (PBO) can be used.

(導電層)
導電層31は、絶縁層34又は電子部品50の上側D1に少なくとも部分的に位置する、導電性を有する層である。導電層31は、例えば、電子部品50などによって送信又は受信される電気信号を伝達するための配線として機能する。
(Conductive layer)
The conductive layer 31 is a conductive layer located at least partially on the upper D1 of the insulating layer 34 or the electronic component 50. The conductive layer 31 functions as wiring for transmitting an electric signal transmitted or received by, for example, an electronic component 50 or the like.

導電層31は、絶縁層34の上側D1に位置する第1部分311と、電子部品50の電極52まで絶縁層34を貫通する第2部分312とを有する。厚み方向Dにおける第2部分312の一端は第1部分311に接続されており、他端は電極52に接続されている。 The conductive layer 31 has a first portion 311 located on the upper side D1 of the insulating layer 34, and a second portion 312 penetrating the insulating layer 34 up to the electrode 52 of the electronic component 50. One end of the second portion 312 in the thickness direction D is connected to the first portion 311 and the other end is connected to the electrode 52.

導電層31の構成は、導電層31が導電性を有する限りにおいて特に限定されないが、例えば、導電層31は、導電性を有する単一の層から構成されていてもよく、若しくは、導電性を有する複数の層を含んでいてもよい。例えば、導電層31は、絶縁層34上に位置するシード層と、シード層上に位置するめっき層とを有していてもよい。シード層は、電解めっき処理によってめっき層を形成する電解めっき工程の際に、めっき液中の金属イオンを析出させてめっき層を成長させるための土台となる、導電性を有する層である。シード層の材料としては、銅などの導電性を有する材料を用いることができる。シード層の材料は、めっき層の材料と同一であってもよく、異なっていてもよい。例えば、シード層は、チタンと銅を順に積層した積層膜や、クロムなどであってもよい。シード層は、例えば、スパッタリング法、蒸着法、無電解めっき法などによって形成してもよい。めっき層は、電解めっき処理によって形成される、導電性を有する層である。めっき層は、銅を含有する。めっき層は、銅と、銅以外の金属、例えば、金、銀、白金、ロジウム、スズ、アルミニウム、ニッケル、クロムとの合金を含有していてもよく、または、銅と銅以外の金属とを積層したものであってもよい。 The configuration of the conductive layer 31 is not particularly limited as long as the conductive layer 31 has conductivity. For example, the conductive layer 31 may be composed of a single conductive layer, or may be conductive. It may contain a plurality of layers having. For example, the conductive layer 31 may have a seed layer located on the insulating layer 34 and a plating layer located on the seed layer. The seed layer is a conductive layer that serves as a base for growing the plating layer by precipitating metal ions in the plating solution during the electrolytic plating step of forming the plating layer by the electrolytic plating treatment. As the material of the seed layer, a conductive material such as copper can be used. The material of the seed layer may be the same as or different from the material of the plating layer. For example, the seed layer may be a laminated film in which titanium and copper are laminated in this order, chromium, or the like. The seed layer may be formed by, for example, a sputtering method, a vapor deposition method, an electroless plating method, or the like. The plating layer is a conductive layer formed by electroplating. The plating layer contains copper. The plating layer may contain an alloy of copper and a metal other than copper, for example, gold, silver, platinum, rhodium, tin, aluminum, nickel, chromium, or copper and a metal other than copper. It may be laminated.

(金属部材)
本実施の形態に係る実装基板10を基板12の第1面13の法線方向に沿って見た場合、第1面13の面内方向における実装基板10の端部10eと電子部品50の端部50eとの間には、上述の導電層31などの配線が存在する。導電層31などの配線は、半導体のウェハプロセスを用いて形成され得る配線である。このため、ワイヤボンディングやバンプなどを用いて電子部品50と他の構成要素との間の電気的な接続を実現する場合に比べて、配線の厚さや長さを低減することができる。これにより、配線の密度を高めることができる。
(Metal member)
When the mounting board 10 according to the present embodiment is viewed along the normal direction of the first surface 13 of the board 12, the end portion 10e of the mounting board 10 and the end of the electronic component 50 in the in-plane direction of the first surface 13 Wiring such as the above-mentioned conductive layer 31 exists between the portion 50e and the portion 50e. The wiring such as the conductive layer 31 is a wiring that can be formed by using a semiconductor wafer process. Therefore, the thickness and length of the wiring can be reduced as compared with the case where the electronic component 50 and other components are electrically connected by wire bonding or bumps. As a result, the wiring density can be increased.

一方、電子部品50の端部50eよりも外側に配線が存在することは、電子部品50の端部50eから実装基板10の端部10eまでの間に領域が存在することを意味する。このため、電子部品50の端部50eが実装基板10の端部10eに近接している場合に比べて、電子部品50で生じた熱が実装基板10の端部10eから放出されにくくなる。また、本実施の形態において、基板12は、好ましくはガラスを含む。一方、ガラスの熱伝導率は、半導体ウェハで一般に用いられるシリコンの熱伝導率よりも低い。このため、第1面13の面内方向における熱伝導への基板12の寄与は小さい。この点でも、電子部品50で生じた熱が実装基板10の端部10eから放出されにくくなっている。 On the other hand, the presence of the wiring outside the end 50e of the electronic component 50 means that a region exists between the end 50e of the electronic component 50 and the end 10e of the mounting board 10. Therefore, the heat generated by the electronic component 50 is less likely to be released from the end 10e of the mounting board 10 as compared with the case where the end 50e of the electronic component 50 is closer to the end 10e of the mounting board 10. Further, in the present embodiment, the substrate 12 preferably contains glass. On the other hand, the thermal conductivity of glass is lower than that of silicon commonly used in semiconductor wafers. Therefore, the contribution of the substrate 12 to the heat conduction in the in-plane direction of the first surface 13 is small. Also in this respect, the heat generated by the electronic component 50 is less likely to be released from the end portion 10e of the mounting substrate 10.

このような課題に鑑みて、本実施の形態においては、実装基板10に金属部材61を設けることを提案する。金属部材61は、電子部品50に対して基板12の第1面13と平行な方向に位置する。ここで、「平行な方向に位置する」とは、基板12の第1面13の面内方向に沿って見た場合に金属部材61が少なくとも部分的に電子部品50と重なっていることを意味する。 In view of such a problem, in the present embodiment, it is proposed to provide the metal member 61 on the mounting substrate 10. The metal member 61 is located in a direction parallel to the first surface 13 of the substrate 12 with respect to the electronic component 50. Here, "positioned in a parallel direction" means that the metal member 61 at least partially overlaps with the electronic component 50 when viewed along the in-plane direction of the first surface 13 of the substrate 12. do.

金属部材61を配置することにより、実装基板10における金属部材61を配置した部分の熱伝導性が高くなり、電子部品50の発する熱が第1面13の面内方向に逃げ易くなる。従って、実装基板の放熱性を向上させることができる。また、金属部材61を、電子部品50に対して基板12の第1面13と平行な方向に配置することにより、実装基板10の厚さが金属部材61の厚さの分だけ増加することを抑制することができる。以上より、実装基板10の全体の厚さを抑えつつ、実装基板10の放熱性を向上させることができる。 By arranging the metal member 61, the thermal conductivity of the portion of the mounting substrate 10 on which the metal member 61 is arranged becomes high, and the heat generated by the electronic component 50 can easily escape in the in-plane direction of the first surface 13. Therefore, the heat dissipation of the mounting substrate can be improved. Further, by arranging the metal member 61 in a direction parallel to the first surface 13 of the substrate 12 with respect to the electronic component 50, the thickness of the mounting substrate 10 is increased by the thickness of the metal member 61. It can be suppressed. From the above, it is possible to improve the heat dissipation of the mounting board 10 while suppressing the overall thickness of the mounting board 10.

図1に示すように、金属部材61は、金属部材61の下側D2の端面(以下、「金属部材61の下端面」とも記す。)において第1面13と接していてもよい。若しくは、図示はしないが、金属部材61の下端面と第1面13との間に絶縁層などのその他の構成要素が存在していてもよい。金属部材61の下端面を第1面13に接着する場合には、例えば、ダイアタッチメント材などの図示しない接着材を介して第1面13に接着されている。 As shown in FIG. 1, the metal member 61 may be in contact with the first surface 13 on the end surface of the lower D2 of the metal member 61 (hereinafter, also referred to as “lower end surface of the metal member 61”). Alternatively, although not shown, other components such as an insulating layer may be present between the lower end surface of the metal member 61 and the first surface 13. When the lower end surface of the metal member 61 is adhered to the first surface 13, it is adhered to the first surface 13 via, for example, an adhesive material (not shown) such as a diaphragm material.

金属部材61の材料としては、絶縁層34よりも高い熱伝導率を有する材料が用いられる。例えば金属部材61は、銅、アルミニウム、銀又は鉄の少なくともいずれか一つを含むことができる。金属部材61の熱伝導率をより高めるため、金属部材61としてアルマイト処理が施されたアルミニウム箔を用いてもよい。また、例えば金属部材61は、ニッケルを含む鉄合金であってもよい。ニッケルを含む鉄合金の具体例としては、34質量%以上38質量%以下のニッケルを含む鉄合金、いわゆるインバー材や、約42質量%のニッケルを含む鉄合金、いわゆる42合金等を挙げることができる。 As the material of the metal member 61, a material having a higher thermal conductivity than that of the insulating layer 34 is used. For example, the metal member 61 can include at least one of copper, aluminum, silver and iron. In order to further increase the thermal conductivity of the metal member 61, an alumite-treated aluminum foil may be used as the metal member 61. Further, for example, the metal member 61 may be an iron alloy containing nickel. Specific examples of the nickel-containing iron alloy include iron alloys containing nickel of 34% by mass or more and 38% by mass or less, so-called Invar materials, iron alloys containing about 42% by mass of nickel, so-called 42 alloys, and the like. can.

基板12の第1面13の面内方向における金属部材61と電子部品50との間の最短距離は、好ましくは10μm以上30μm以下である。これにより、電子部品50で生じた熱を効率的に金属部材61に伝達することができる。 The shortest distance between the metal member 61 and the electronic component 50 in the in-plane direction of the first surface 13 of the substrate 12 is preferably 10 μm or more and 30 μm or less. As a result, the heat generated by the electronic component 50 can be efficiently transferred to the metal member 61.

金属部材61は、配線を構成する導電層の厚さよりも大きな厚さを有し、例えば10μm以上の厚さを有する。より好ましくは、金属部材61は、50μm以上の厚さを有する。金属部材61が上記の厚さを有することにより、金属部材61の断面積を配線に比べて顕著に大きくすることができる。これにより、基板12の第1面13の面内方向における金属部材61の熱抵抗を低くすることができる。従って、電子部品50で生じた熱を第1面13の面内方向において効率的に伝達して熱を外部へ放出することができる。 The metal member 61 has a thickness larger than the thickness of the conductive layer constituting the wiring, and has a thickness of, for example, 10 μm or more. More preferably, the metal member 61 has a thickness of 50 μm or more. Since the metal member 61 has the above thickness, the cross-sectional area of the metal member 61 can be remarkably increased as compared with the wiring. As a result, the thermal resistance of the metal member 61 in the in-plane direction of the first surface 13 of the substrate 12 can be reduced. Therefore, the heat generated by the electronic component 50 can be efficiently transferred in the in-plane direction of the first surface 13 to release the heat to the outside.

金属部材61の厚さは、電子部品50の厚さを大きく超えないことが好ましい。金属部材61の厚さは、例えば150μm以下であり、100μm以下であってもよい。また、好ましくは、金属部材61の厚さは、電子部品50の厚さ以下である。これにより、金属部材61を設けることに起因して実装基板10全体の厚さが増大してしまうことを抑制することができる。 It is preferable that the thickness of the metal member 61 does not greatly exceed the thickness of the electronic component 50. The thickness of the metal member 61 is, for example, 150 μm or less, and may be 100 μm or less. Further, preferably, the thickness of the metal member 61 is equal to or less than the thickness of the electronic component 50. As a result, it is possible to prevent the thickness of the entire mounting substrate 10 from increasing due to the provision of the metal member 61.

(第1貫通孔及び第1金属層)
基板12には、基板12の第1面13の法線方向に沿って見た場合に金属部材61に重なる第1貫通孔20が設けられていてもよい。この場合、好ましくは、第1貫通孔20内に、基板12よりも高い熱伝導率を有する部材が設けられる。例えば、第1貫通孔20内に第1金属層62が位置していてもよい。これにより、例えば基板12がガラスを含む場合等、基板12の熱伝導率が低い場合であっても、電子部品50から金属部材61に伝わった熱を、第1金属層62を介して基板12の厚み方向Dに逃がすことができる。このため、実装基板10の放熱性をより向上させることができる。
(1st through hole and 1st metal layer)
The substrate 12 may be provided with a first through hole 20 that overlaps the metal member 61 when viewed along the normal direction of the first surface 13 of the substrate 12. In this case, preferably, a member having a higher thermal conductivity than that of the substrate 12 is provided in the first through hole 20. For example, the first metal layer 62 may be located in the first through hole 20. As a result, even when the thermal conductivity of the substrate 12 is low, for example, when the substrate 12 contains glass, the heat transferred from the electronic component 50 to the metal member 61 is transferred to the substrate 12 via the first metal layer 62. Can be released in the thickness direction D of. Therefore, the heat dissipation of the mounting substrate 10 can be further improved.

第1貫通孔20の形状について説明する。第1貫通孔20の側壁は、基板12の第1面13の法線方向に沿って広がっていてもよい。若しくは、側壁が、基板12の第1面13の法線方向からずれた方向で広がっていてもよく、また、側壁の一部が湾曲していてもよい。 The shape of the first through hole 20 will be described. The side wall of the first through hole 20 may extend along the normal direction of the first surface 13 of the substrate 12. Alternatively, the side wall may be widened in a direction deviated from the normal direction of the first surface 13 of the substrate 12, or a part of the side wall may be curved.

次に、第1貫通孔20の寸法について説明する。第1貫通孔20の長さ、すなわち第1面13の法線方向における第1貫通孔20の寸法は、基板12の厚みに等しい。第1貫通孔20の幅、すなわち第1面13と平行な方向における第1貫通孔20の寸法は、例えば40μm以上且つ150μm以下である。また、第1貫通孔20の幅に対する長さの比、すなわち第1貫通孔20のアスペクト比は、例えば4以上且つ10以下である。 Next, the dimensions of the first through hole 20 will be described. The length of the first through hole 20, that is, the dimension of the first through hole 20 in the normal direction of the first surface 13, is equal to the thickness of the substrate 12. The width of the first through hole 20, that is, the dimension of the first through hole 20 in the direction parallel to the first surface 13, is, for example, 40 μm or more and 150 μm or less. Further, the ratio of the length to the width of the first through hole 20, that is, the aspect ratio of the first through hole 20, is, for example, 4 or more and 10 or less.

金属部材61と重なるよう配置される第1貫通孔20の個数は、実装基板10が適切な放熱性を有することができるよう決定される。例えば、基板12の第1面13のうち金属部材61と重なる領域において、第1貫通孔20の密度が9個/mm2以上であることが好ましい。また、基板12の強度を確保し、かつ実装基板10の製造にかかる時間及びコストを抑えるためには、基板12の第1面13のうち金属部材61と重なる領域において、第1貫通孔20の密度が50個/mm2以下であることが好ましい。 The number of the first through holes 20 arranged so as to overlap the metal member 61 is determined so that the mounting substrate 10 can have appropriate heat dissipation. For example, in the region of the first surface 13 of the substrate 12 that overlaps with the metal member 61, the density of the first through holes 20 is preferably 9 pieces / mm 2 or more. Further, in order to secure the strength of the substrate 12 and reduce the time and cost required for manufacturing the mounting substrate 10, the first through hole 20 is formed in the region of the first surface 13 of the substrate 12 that overlaps with the metal member 61. The density is preferably 50 pieces / mm 2 or less.

第1金属層62の形状は、実装基板10が適切な放熱性を有することができる限りにおいて特に限定されない。例えば、図1に示すように、第1貫通孔20内に第1金属層62が充填されていてもよい。すなわち、第1金属層62がいわゆるフィルドビアを構成していてもよい。また、第1金属層62の厚みが第1貫通孔20の幅よりも小さく、このため、第1貫通孔20の内部には第1金属層62が存在しない空間があってもよい。すなわち、第1金属層62は、いわゆるコンフォーマルビアを構成していてもよい。また、第1金属層62の形状をコンフォーマルビアとする場合においては、第1貫通孔20の内部の空間は、空洞であってもよいし、有機層等により充填されていてもよい。第1貫通孔20の内部の空間が有機層により充填される場合においては、絶縁層34を構成するのに用いる有機材料と同じものにより充填されていてもよい。 The shape of the first metal layer 62 is not particularly limited as long as the mounting substrate 10 can have appropriate heat dissipation. For example, as shown in FIG. 1, the first metal layer 62 may be filled in the first through hole 20. That is, the first metal layer 62 may form a so-called filled via. Further, the thickness of the first metal layer 62 is smaller than the width of the first through hole 20, and therefore, there may be a space inside the first through hole 20 in which the first metal layer 62 does not exist. That is, the first metal layer 62 may form a so-called conformal via. When the shape of the first metal layer 62 is a conformal via, the space inside the first through hole 20 may be hollow or may be filled with an organic layer or the like. When the space inside the first through hole 20 is filled with an organic layer, it may be filled with the same organic material used to form the insulating layer 34.

なお、図1に示してはいないが、第1金属層62は、第1貫通孔20の側壁から基板12の第1面13上又は第2面14上にまで広がっていてもよい。 Although not shown in FIG. 1, the first metal layer 62 may extend from the side wall of the first through hole 20 to the first surface 13 or the second surface 14 of the substrate 12.

第1金属層62は、導電層31と同様に、第1貫通孔20の側壁側から順に積層されたシード層及びめっき層を含んでいてもよい。第1金属層62を構成する材料は、導電層31の材料と同様であってもよい。 Similar to the conductive layer 31, the first metal layer 62 may include a seed layer and a plating layer that are laminated in order from the side wall side of the first through hole 20. The material constituting the first metal layer 62 may be the same as the material of the conductive layer 31.

(本実施の形態の効果)
本実施の形態に係る実装基板10においては、電子部品50の端部50eから実装基板10の端部10eまでの間に、導電層や絶縁層などの構成要素が位置することができる領域が存在する。このため、電子部品50の電極52に電気的に接続された配線などを、上述の導電層31などを用いて、電子部品50の端部50eから実装基板10の端部10eまでの間の領域に設けることができる。この場合、半導体のウェハプロセスを用いて導電層31を形成することにより、配線を微細化することができる。これにより、ワイヤボンディングなどを用いて電子部品50と他の構成要素との間の電気的な接続を実現する場合に比べて、配線の密度を高めることができる。
(Effect of this embodiment)
In the mounting substrate 10 according to the present embodiment, there is a region between the end portion 50e of the electronic component 50 and the end portion 10e of the mounting substrate 10 where components such as a conductive layer and an insulating layer can be located. do. Therefore, the wiring or the like electrically connected to the electrode 52 of the electronic component 50 is connected to the region between the end portion 50e of the electronic component 50 and the end portion 10e of the mounting substrate 10 by using the above-mentioned conductive layer 31 or the like. Can be provided in. In this case, the wiring can be miniaturized by forming the conductive layer 31 using the semiconductor wafer process. As a result, the density of wiring can be increased as compared with the case where an electrical connection between the electronic component 50 and other components is realized by using wire bonding or the like.

また、本実施の形態に係る実装基板10においては、電子部品50の電極52が、電子部品50の上側D1に露出している。このため、バンプを用いることなく電子部品50の電極52を導電層31に電気的に接続することができる。このことにより、電子部品50を基板12上に簡便に搭載することができる。 Further, in the mounting substrate 10 according to the present embodiment, the electrode 52 of the electronic component 50 is exposed on the upper side D1 of the electronic component 50. Therefore, the electrode 52 of the electronic component 50 can be electrically connected to the conductive layer 31 without using bumps. As a result, the electronic component 50 can be easily mounted on the substrate 12.

また、本実施の形態に係る実装基板10は、電子部品50に対して基板12の第1面13と平行な方向に位置する金属部材61を備える。これにより、実装基板10の全体の厚さを抑えつつ、電子部品50の発する熱が第1面13の面内方向に逃げ易くすることができる。これにより、実装基板10の放熱性を向上させることができる。 Further, the mounting substrate 10 according to the present embodiment includes a metal member 61 located in a direction parallel to the first surface 13 of the substrate 12 with respect to the electronic component 50. As a result, the heat generated by the electronic component 50 can be easily dissipated in the in-plane direction of the first surface 13 while suppressing the overall thickness of the mounting substrate 10. As a result, the heat dissipation of the mounting substrate 10 can be improved.

また、本実施の形態に係る実装基板10によれば、金属部材61を通じて逃げる熱を、さらに第1金属層62を介して基板12の厚み方向Dにも逃がすことができる。これにより、実装基板10の放熱性をより向上させることができる。 Further, according to the mounting substrate 10 according to the present embodiment, the heat released through the metal member 61 can be further released to the thickness direction D of the substrate 12 via the first metal layer 62. As a result, the heat dissipation of the mounting substrate 10 can be further improved.

(実装基板の第1の変形例)
次に、上述の実施の形態の第1の変形例について説明する。図2は、第1の変形例による実装基板10を示す断面図である。
(First modification of the mounting board)
Next, a first modification of the above-described embodiment will be described. FIG. 2 is a cross-sectional view showing the mounting substrate 10 according to the first modification.

図2に示すように、第1の変形例の実装基板10においては、基板12には、第1面13の法線方向に沿って見た場合に電子部品50に重なる第2貫通孔21が設けられている。第2貫通孔21内には第2金属層63が位置する。 As shown in FIG. 2, in the mounting substrate 10 of the first modification, the substrate 12 has a second through hole 21 that overlaps with the electronic component 50 when viewed along the normal direction of the first surface 13. It is provided. The second metal layer 63 is located in the second through hole 21.

第2貫通孔21の形状、寸法及び個数、並びに第2金属層63の形状は、それぞれ第1貫通孔20及び第1金属層62と同様であってもよい。 The shape, size and number of the second through holes 21 and the shape of the second metal layer 63 may be the same as those of the first through holes 20 and the first metal layer 62, respectively.

第2金属層63は、導電層31と同様に、第2貫通孔21の側壁側から順に積層されたシード層及びめっき層を含んでいてもよい。第2金属層63を構成する材料は、導電層31に用いることができる材料と同様であってもよい。 Similar to the conductive layer 31, the second metal layer 63 may include a seed layer and a plating layer that are laminated in order from the side wall side of the second through hole 21. The material constituting the second metal layer 63 may be the same as the material that can be used for the conductive layer 31.

第1の変形例によれば、例えば基板12がガラスを含む場合等、基板12の熱伝導率が低い場合であっても、電子部品50から発された熱を、第2金属層63を介して基板12の厚み方向Dに逃がすことができる。このため、実装基板10の放熱性をより向上させることができる。 According to the first modification, even when the thermal conductivity of the substrate 12 is low, for example, when the substrate 12 contains glass, the heat generated from the electronic component 50 is transferred through the second metal layer 63. It can be released in the thickness direction D of the substrate 12. Therefore, the heat dissipation of the mounting substrate 10 can be further improved.

(実装基板の第2の変形例)
次に、上述の実施の形態の第2の変形例について説明する。図3は、第2の変形例による実装基板10を示す断面図である。
(Second modification of the mounting board)
Next, a second modification of the above-described embodiment will be described. FIG. 3 is a cross-sectional view showing the mounting substrate 10 according to the second modification.

図3に示すように、第2の変形例の実装基板10は、基板12を貫通する貫通電極23と、絶縁層34を貫通し、導電層31の第1部分311と貫通電極23とを電気的に接続する接続部材32とを備える。 As shown in FIG. 3, in the mounting substrate 10 of the second modification, the through electrode 23 penetrating the substrate 12 and the through electrode 23 penetrating the insulating layer 34 and the first portion 311 of the conductive layer 31 and the through electrode 23 are electrically connected. It is provided with a connecting member 32 to be specifically connected.

第3貫通孔22の形状及び寸法、並びに貫通電極23の形状及び材料は、貫通電極23が導電性を有する限りにおいて、特には限定されない。例えば、第3貫通孔22及び貫通電極23は、それぞれ第1貫通孔20及び第1金属層62と同様の形状及び材料を有していてもよい。 The shape and dimensions of the third through hole 22 and the shape and material of the through electrode 23 are not particularly limited as long as the through electrode 23 has conductivity. For example, the third through hole 22 and the through electrode 23 may have the same shape and material as the first through hole 20 and the first metal layer 62, respectively.

貫通電極23は、導電層31と同様に、第3貫通孔22の側壁側から順に積層されたシード層及びめっき層を含んでいてもよい。貫通電極23を構成する材料は、導電層31の材料と同様であってもよい。 Similar to the conductive layer 31, the through electrode 23 may include a seed layer and a plating layer that are laminated in order from the side wall side of the third through hole 22. The material constituting the through electrode 23 may be the same as the material of the conductive layer 31.

接続部材32は、導電層31と同様に、絶縁層34の上側D1に順に積層されたシード層及びめっき層を含んでいてもよい。第2金属層63を構成する材料は、導電層31の材料と同様であってもよい。 Similar to the conductive layer 31, the connecting member 32 may include a seed layer and a plating layer that are sequentially laminated on the upper D1 of the insulating layer 34. The material constituting the second metal layer 63 may be the same as the material of the conductive layer 31.

貫通電極23は、図3には示していない導電性粒子とバインダとを少なくとも含む導電性部材を介して、接続部材32に電気的に接続されていてもよい。導電性部材は、後述する導電性ペーストが固化することにより形成される部材である。 The through silicon via 23 may be electrically connected to the connecting member 32 via a conductive member containing at least conductive particles and a binder (not shown in FIG. 3). The conductive member is a member formed by solidifying the conductive paste described later.

(実装基板の第3の変形例)
次に、上述の実施の形態の第3の変形例として、第2の変形例において示した貫通電極23が、インダクタの一部を構成する例について説明する。図4は、第3の変形例による実装基板10を示す断面図である。図4は、図3のA−A断面に対応する断面図である。
(Third modification example of mounting board)
Next, as a third modification of the above-described embodiment, an example in which the through silicon via 23 shown in the second modification constitutes a part of the inductor will be described. FIG. 4 is a cross-sectional view showing the mounting substrate 10 according to the third modification. FIG. 4 is a cross-sectional view corresponding to the AA cross section of FIG.

図4に示すように、第3の変形例の実装基板10においては、導電層31、貫通電極23および基板12の第2面14側に位置する第2面第1導電層41が、らせん状の構造体を構成するように接続されている。すなわち、貫通電極23は、導電層31および基板12の第2面14側に位置する第2面第1導電層41とともに、インダクタ17を構成している。 As shown in FIG. 4, in the mounting substrate 10 of the third modification, the conductive layer 31, the through silicon via 23, and the second surface first conductive layer 41 located on the second surface 14 side of the substrate 12 have a spiral shape. It is connected so as to form the structure of. That is, the through electrode 23 constitutes the inductor 17 together with the conductive layer 31 and the second surface first conductive layer 41 located on the second surface 14 side of the substrate 12.

第2面第1導電層41は、基板12の第2面14側に位置する、導電性を有する層である。第2面第1導電層41の少なくとも一部は、貫通電極23と電気的に接続している。第2面第1導電層41は、貫通電極23と電気的に接続していない部分を有していてもよい。 The second surface first conductive layer 41 is a layer having conductivity located on the second surface 14 side of the substrate 12. At least a part of the first conductive layer 41 on the second surface is electrically connected to the through electrode 23. The second surface first conductive layer 41 may have a portion that is not electrically connected to the through electrode 23.

第2面第1導電層41は、導電層31と同様に、基板12の第2面14上に順に積層されたシード層及びめっき層を含んでいてもよい。第2面第1導電層41を構成する材料は、導電層31の材料と同様であってもよい。 The second surface first conductive layer 41 may include a seed layer and a plating layer sequentially laminated on the second surface 14 of the substrate 12, similarly to the conductive layer 31. The material constituting the second surface first conductive layer 41 may be the same as the material of the conductive layer 31.

第3の変形例において、金属部材61は、図4の通り、第1面13においてインダクタ17を構成する貫通電極23が位置する第3貫通孔22が並ぶ方向D5及び方向D5に直交する方向D6のそれぞれにおいて広がることが好ましい。これにより、インダクタ17の発する熱が逃げ易くなり、実装基板10の放熱性を向上させることができるためである。 In the third modification, as shown in FIG. 4, the metal member 61 has a direction D5 in which the third through holes 22 in which the through electrodes 23 constituting the inductor 17 are located on the first surface 13 are arranged and a direction D6 orthogonal to the direction D5. It is preferable to spread in each of the above. This makes it easier for the heat generated by the inductor 17 to escape, and the heat dissipation of the mounting substrate 10 can be improved.

第3の変形例によれば、インダクタ17と電子部品50とを導電層31を介して電気的に接続することができるため、インダクタ17を有する基板12に電子部品50を簡便に搭載することができる。また、金属部材61を備えることにより、電子部品50やインダクタ17の発する熱を第1面13の面内方向に逃げ易くすることができ、実装基板10の放熱性を向上させることができる。 According to the third modification, since the inductor 17 and the electronic component 50 can be electrically connected via the conductive layer 31, the electronic component 50 can be easily mounted on the substrate 12 having the inductor 17. can. Further, by providing the metal member 61, the heat generated by the electronic component 50 and the inductor 17 can be easily dissipated in the in-plane direction of the first surface 13, and the heat dissipation of the mounting substrate 10 can be improved.

(実装基板の第4の変形例)
次に、上述の実施の形態の第4の変形例について説明する。図5は、第4の変形例による実装基板10を示す断面図である。
(Fourth modification of the mounting board)
Next, a fourth modification of the above-described embodiment will be described. FIG. 5 is a cross-sectional view showing the mounting substrate 10 according to the fourth modification.

図5に示すように、第4の変形例において、実装基板10は、貫通電極23に電気的に接続されたキャパシタ15を備える。 As shown in FIG. 5, in the fourth modification, the mounting substrate 10 includes a capacitor 15 electrically connected to the through electrode 23.

キャパシタ15は、基板12の第2面14側に位置している。キャパシタ15は、例えば、MIM (Metal-Insulator-Metal) 構造を有するキャパシタである。図5の例において、キャパシタ15は、基板12に対して電子部品50とほぼ正反対の位置に配置されている。キャパシタ15の位置は、図5の態様に限定されず、例えば、電子部品50の正反対の第2面14の下側D2の位置から第2面14に沿った面方向にずれた位置であってもよい。また、キャパシタ15は、基板12の第1面13側に位置していてもよい。 The capacitor 15 is located on the second surface 14 side of the substrate 12. The capacitor 15 is, for example, a capacitor having a MIM (Metal-Insulator-Metal) structure. In the example of FIG. 5, the capacitor 15 is arranged at a position substantially opposite to that of the electronic component 50 with respect to the substrate 12. The position of the capacitor 15 is not limited to the aspect of FIG. 5, and is, for example, a position deviated from the position of the lower D2 of the second surface 14 opposite to the electronic component 50 in the surface direction along the second surface 14. May be good. Further, the capacitor 15 may be located on the first surface 13 side of the substrate 12.

キャパシタ15は、例えば、貫通電極23に電気的に接続され、基板12側に位置する電極を構成する第2面第1導電層41と、絶縁体を構成する第2面無機層42と、下部電極よりも基板12から離れて位置する電極を構成する第2面第2導電層43とを有するものとすることができる。 The capacitor 15 is, for example, electrically connected to the through electrode 23, has a second surface first conductive layer 41 forming an electrode located on the substrate 12 side, a second surface inorganic layer 42 forming an insulator, and a lower portion. It may have a second surface and a second conductive layer 43 that form an electrode located farther from the substrate 12 than the electrode.

第2面無機層42は、第2面第1導電層41に対して下側D2に位置し、無機材料を含み、且つ絶縁性を有する層である。第2面無機層42は、キャパシタ15の絶縁体以外の部分を有していてもよい。 The second surface inorganic layer 42 is located on the lower side D2 with respect to the second surface first conductive layer 41, contains an inorganic material, and has an insulating property. The second surface inorganic layer 42 may have a portion other than the insulator of the capacitor 15.

第2面無機層42の無機材料としては、SiNなどの珪素窒化物を用いることができる。その他にも、第2面無機層42の無機材料の例として、酸化シリコン、酸化アルミ、五酸化タンタル等を挙げることができる。第2面無機層42は、単一の層から構成されていてもよく、複数の層から構成されていてもよい。 As the inorganic material of the second surface inorganic layer 42, a silicon nitride such as SiN can be used. In addition, as an example of the inorganic material of the second surface inorganic layer 42, silicon oxide, aluminum oxide, tantalum pentoxide and the like can be mentioned. The second surface inorganic layer 42 may be composed of a single layer or may be composed of a plurality of layers.

第2面無機層42は、例えば、プラズマCVDやスパッタリング等の方法によって形成してもよい。また、第2面無機層42は、例えば、反応性イオンエッチングによってキャパシタ15に適した大きさ及び形状に加工してもよい。 The second surface inorganic layer 42 may be formed by, for example, a method such as plasma CVD or sputtering. Further, the second surface inorganic layer 42 may be processed into a size and shape suitable for the capacitor 15 by, for example, reactive ion etching.

第2面第2導電層43は、第2面無機層42に対して下側D2に位置する、導電性を有する層である。第2面第2導電層43は、キャパシタ15の電極以外の部分を有していてもよい。 The second surface second conductive layer 43 is a layer having conductivity located on the lower side D2 with respect to the second surface inorganic layer 42. The second surface second conductive layer 43 may have a portion other than the electrodes of the capacitor 15.

第2面第2導電層43は、導電層31と同様に、第2面無機層42の下側D2に順に積層されたシード層及びめっき層を含んでいてもよい。第2面第2導電層43を構成する材料は、導電層31の材料と同様であってもよい。 The second surface second conductive layer 43 may include a seed layer and a plating layer sequentially laminated on the lower D2 of the second surface inorganic layer 42, similarly to the conductive layer 31. The material constituting the second surface second conductive layer 43 may be the same as the material of the conductive layer 31.

第4の変形例によれば、キャパシタ15と電子部品50とを貫通電極23や導電層31を介して電気的に接続することができるため、キャパシタ15を有する基板12に電子部品50を簡便に搭載することができる。また、金属部材61を備えることにより、電子部品50やキャパシタ15の発する熱を第1面13の面内方向に逃げ易くすることができ、実装基板10の放熱性を向上させることができる。 According to the fourth modification, since the capacitor 15 and the electronic component 50 can be electrically connected via the through electrode 23 and the conductive layer 31, the electronic component 50 can be easily attached to the substrate 12 having the capacitor 15. Can be installed. Further, by providing the metal member 61, the heat generated by the electronic component 50 and the capacitor 15 can be easily dissipated in the in-plane direction of the first surface 13, and the heat dissipation of the mounting substrate 10 can be improved.

実装基板の製造方法
以下、実装基板10の製造方法について説明する。
Manufacturing Method of Mounting Board The manufacturing method of the mounting board 10 will be described below.

第1の実施の形態に係る実装基板の製造方法
まず、図6乃至図8を参照して、第1の実施の形態に係る実装基板の製造方法について説明する。ここでは、図1に示された実装基板10を製造する例について説明する。
Method for Manufacturing a Mounting Board According to the First Embodiment First, a method for manufacturing a mounting board according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. 6 to 8. Here, an example of manufacturing the mounting substrate 10 shown in FIG. 1 will be described.

(基板の準備工程)
図6は、本実施形態による実装基板10の製造方法を示す断面図である。まず、基板12を準備する。ここでは、図6に示す通り、第1貫通孔20及び第1金属層62を備える基板12を準備する。第1貫通孔20及び第1金属層62は、例えば以下の方法により形成することができる。
(Board preparation process)
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a method of manufacturing the mounting substrate 10 according to the present embodiment. First, the substrate 12 is prepared. Here, as shown in FIG. 6, the substrate 12 provided with the first through hole 20 and the first metal layer 62 is prepared. The first through hole 20 and the first metal layer 62 can be formed by, for example, the following method.

まず、第1面13及び第2面14の少なくともいずれか一方にレジスト層を設ける。その後、レジスト層のうち第1貫通孔20に対応する位置に開口を設ける。 First, a resist layer is provided on at least one of the first surface 13 and the second surface 14. After that, an opening is provided in the resist layer at a position corresponding to the first through hole 20.

次に、レジスト層の開口において基板12を加工することにより、図6に示すように、基板12に第1貫通孔20を形成することができる。基板12を加工する方法としては、反応性イオンエッチング法、深掘り反応性イオンエッチング法などのドライエッチング法や、ウェットエッチング法等を用いることができる。 Next, by processing the substrate 12 at the opening of the resist layer, the first through hole 20 can be formed in the substrate 12 as shown in FIG. As a method for processing the substrate 12, a dry etching method such as a reactive ion etching method or a deep digging reactive ion etching method, a wet etching method, or the like can be used.

なお、基板12にレーザを照射することによって、基板12に第1貫通孔20を形成してもよい。この場合、レジスト層は設けられていなくてもよい。レーザ加工のためのレーザとしては、エキシマレーザ、Nd:YAGレーザ、フェムト秒レーザ等を用いることができる。Nd:YAGレーザを採用する場合、波長が1064nmの基本波、波長が532nmの第2高調波、波長が355nmの第3高調波等を用いることができる。 The first through hole 20 may be formed in the substrate 12 by irradiating the substrate 12 with a laser. In this case, the resist layer may not be provided. As the laser for laser processing, an excimer laser, an Nd: YAG laser, a femtosecond laser, or the like can be used. When the Nd: YAG laser is adopted, a fundamental wave having a wavelength of 1064 nm, a second harmonic having a wavelength of 532 nm, a third harmonic having a wavelength of 355 nm, and the like can be used.

また、レーザ照射とウェットエッチングを適宜組み合わせることもできる。具体的には、まず、レーザ照射によって基板12のうち第1貫通孔20が形成されるべき領域に変質層を形成する。続いて、基板12をフッ化水素などに浸漬して、変質層をエッチングする。これによって、基板12に第1貫通孔20を形成することができる。その他にも、基板12に研磨材を吹き付けるブラスト処理によって基板12に第1貫通孔20を形成してもよい。 Further, laser irradiation and wet etching can be appropriately combined. Specifically, first, a alteration layer is formed in a region of the substrate 12 where the first through hole 20 should be formed by laser irradiation. Subsequently, the substrate 12 is immersed in hydrogen fluoride or the like to etch the altered layer. As a result, the first through hole 20 can be formed in the substrate 12. In addition, the first through hole 20 may be formed in the substrate 12 by a blast treatment of spraying an abrasive on the substrate 12.

第1貫通孔20を形成した後、図6に示すように、第1貫通孔20の側壁に第1金属層62を形成する。具体的には、スパッタリング法、蒸着法、無電解めっき法等によって、側壁上にシード層を形成する。シード層を形成した後、第1金属層62を設けないことを意図する領域があれば、当該領域のシード層上にレジスト層を形成する。レジスト層を形成した後、電解めっきにより、レジスト層によって覆われていないシード層上にめっき層を形成する。次に、レジスト層を除去する。その後、シード層のうちレジスト層が形成されていた部分を、ウェットエッチングにより除去する。これにより、シード層及びめっき層を含む第1金属層62を、第1貫通孔20の内部などに形成することができる。なお、電解めっき工程の後、めっき層をアニールする工程を実施してもよい。 After forming the first through hole 20, as shown in FIG. 6, a first metal layer 62 is formed on the side wall of the first through hole 20. Specifically, a seed layer is formed on the side wall by a sputtering method, a vapor deposition method, an electroless plating method, or the like. After forming the seed layer, if there is a region intended not to provide the first metal layer 62, a resist layer is formed on the seed layer in the region. After forming the resist layer, the plating layer is formed on the seed layer not covered by the resist layer by electrolytic plating. Next, the resist layer is removed. Then, the portion of the seed layer on which the resist layer was formed is removed by wet etching. As a result, the first metal layer 62 including the seed layer and the plating layer can be formed inside the first through hole 20 and the like. After the electrolytic plating step, a step of annealing the plating layer may be carried out.

また、図6に示してはいないが、第1金属層62は、第1貫通孔20の側壁から基板12の第1面13上又は第2面14上にまで広がっていてもよい。 Further, although not shown in FIG. 6, the first metal layer 62 may extend from the side wall of the first through hole 20 to the first surface 13 or the second surface 14 of the substrate 12.

また、図6に示してはいないが、第1金属層62の形状がコンフォーマルビアであってもよい。すなわち、第1貫通孔20の内部に、第1金属層62が存在しない空間があってもよい。この場合、第1貫通孔20の内部に有機層が形成されていてもよい。当該有機層は、例えば以下の工程にて形成することができる。 Further, although not shown in FIG. 6, the shape of the first metal layer 62 may be a conformal via. That is, there may be a space inside the first through hole 20 in which the first metal layer 62 does not exist. In this case, an organic layer may be formed inside the first through hole 20. The organic layer can be formed, for example, by the following steps.

第1金属層62を形成した後、有機層を構成するための樹脂層を含むフィルムを、基板12の第1面13側及び第2面14側に配置する。次いで、フィルムを加圧することにより、樹脂層を第1貫通孔20の内部に押し込む。その後、第1貫通孔20の内部に押し込まれた樹脂層を、樹脂層に光を照射することなどによって硬化させる。さらに、樹脂層の不要部分を除去する。このようにして、第1貫通孔20の内部に有機層を形成することができる。なお、第1貫通孔20の内部に有機層を形成する工程は、後述する、電子部品50及び金属部材61を配置する工程の後に実施されてもよい。この場合、第1貫通孔20の内部の有機層と、電子部品50及び金属部材61を少なくとも部分的に覆う絶縁層34とを、同一の材料を用いて同時に形成してもよい。 After forming the first metal layer 62, a film containing a resin layer for forming the organic layer is arranged on the first surface 13 side and the second surface 14 side of the substrate 12. Next, the resin layer is pushed into the first through hole 20 by pressurizing the film. After that, the resin layer pushed into the first through hole 20 is cured by irradiating the resin layer with light or the like. Further, the unnecessary portion of the resin layer is removed. In this way, an organic layer can be formed inside the first through hole 20. The step of forming the organic layer inside the first through hole 20 may be carried out after the step of arranging the electronic component 50 and the metal member 61, which will be described later. In this case, the organic layer inside the first through hole 20 and the insulating layer 34 that at least partially covers the electronic component 50 and the metal member 61 may be formed at the same time using the same material.

なお、図6においては、図1に示す実装基板10の基板12を準備する例を示したが、これに限られることはなく、図2又は図3に示す実装基板10の基板12を準備してもよい。図2に示す実装基板10の第2貫通孔21及び第2金属層63、並びに図3に示す第3貫通孔22及び貫通電極23は、第1貫通孔20及び第1金属層62を形成する方法と同様の方法によって形成され得る。 Although FIG. 6 shows an example in which the substrate 12 of the mounting substrate 10 shown in FIG. 1 is prepared, the present invention is not limited to this, and the substrate 12 of the mounting substrate 10 shown in FIG. 2 or FIG. 3 is prepared. You may. The second through hole 21 and the second metal layer 63 of the mounting substrate 10 shown in FIG. 2, and the third through hole 22 and the through electrode 23 shown in FIG. 3 form the first through hole 20 and the first metal layer 62. It can be formed by a method similar to the method.

(電子部品及び金属部材の配置工程)
図7は、図6に続く本実施形態による実装基板10の製造方法を示す断面図である。第1金属層62を形成した後、図7に示すように、基板12の第1面13上に電子部品50及び金属部材61を配置する。
(Placement process of electronic parts and metal parts)
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a method of manufacturing the mounting substrate 10 according to the present embodiment following FIG. After forming the first metal layer 62, as shown in FIG. 7, the electronic component 50 and the metal member 61 are arranged on the first surface 13 of the substrate 12.

〔電子部品の配置〕
電子部品50の配置の方法は、特に限定されないが、電子部品50を接着材で接着する工程を含んでいてもよい。
[Arrangement of electronic components]
The method of arranging the electronic component 50 is not particularly limited, but may include a step of adhering the electronic component 50 with an adhesive.

例えば、まず、電子部品50の配置位置に、接着剤として、例えばフィルム状のダイアタッチメント材を配置する。次に、電子部品50を、その電極52を含む回路面を上側D1に向けたフェイスアップの状態で、配置位置に載置する。これにより、ダイアタッチメント材の粘着力によって電子部品50を第1面13上に仮止めすることができる。 For example, first, for example, a film-shaped diaphragm material is arranged as an adhesive at the arrangement position of the electronic component 50. Next, the electronic component 50 is placed at the arrangement position with the circuit surface including the electrode 52 facing up toward the upper side D1. As a result, the electronic component 50 can be temporarily fixed on the first surface 13 by the adhesive force of the diaphragm material.

〔金属部材の配置〕
金属部材61の配置の方法は、特に限定されないが、金属部材61を接着材で接着する工程を含んでいてもよく、めっき処理により金属部材61を形成する工程を含んでいてもよい。
[Arrangement of metal members]
The method of arranging the metal member 61 is not particularly limited, but may include a step of adhering the metal member 61 with an adhesive, or may include a step of forming the metal member 61 by a plating process.

金属部材61を接着材で基板12に接着する場合、あらかじめ厚さを調整した金属部材を用いることができるので、金属部材の厚さが設計からずれることを抑制することができる。 When the metal member 61 is adhered to the substrate 12 with an adhesive, the metal member whose thickness has been adjusted in advance can be used, so that it is possible to prevent the thickness of the metal member from deviating from the design.

めっき処理により金属部材61を形成する場合、金属部材61と同時に第1面13上に配線などの別部材を形成してもよい。 When the metal member 61 is formed by the plating process, another member such as wiring may be formed on the first surface 13 at the same time as the metal member 61.

(絶縁層の形成工程)
電子部品50及び金属部材61を配置した後、図8に示すように、第1面13上、電子部品50上又は金属部材61上に、絶縁層34を形成する。また、電子部品50の電極52まで厚み方向Dに絶縁層34を貫通する第1絶縁層貫通孔34aを形成する。
(Insulation layer forming process)
After arranging the electronic component 50 and the metal member 61, the insulating layer 34 is formed on the first surface 13, the electronic component 50, or the metal member 61, as shown in FIG. Further, a first insulating layer through hole 34a is formed so as to penetrate the insulating layer 34 in the thickness direction D up to the electrode 52 of the electronic component 50.

絶縁層34及び第1絶縁層貫通孔34aは、例えば以下の方法によって形成することができる。まず、有機材料を含む感光層と、基材とを有するフィルムを、基板12の第1面13側に貼り付ける。次いで、フィルムに露光処理及び現像処理を施す。これによって、フィルムの感光層からなり、第1絶縁層貫通孔34aが形成された絶縁層34を、基板12の第1面13側に形成することができる。 The insulating layer 34 and the first insulating layer through hole 34a can be formed by, for example, the following method. First, a film having a photosensitive layer containing an organic material and a base material is attached to the first surface 13 side of the substrate 12. Next, the film is exposed and developed. As a result, the insulating layer 34 composed of the photosensitive layer of the film and having the first insulating layer through hole 34a formed can be formed on the first surface 13 side of the substrate 12.

(導電層の形成工程)
絶縁層34を形成した後、図1に示すように、絶縁層34上に位置する第1部分311及び絶縁層34を貫通する第2部分312を含む導電層31を形成する。導電層31は、第1金属層62の形成に用いられる方法と同様の方法でシード層及びめっき層を積層することによって形成してもよい。
(Process of forming conductive layer)
After forming the insulating layer 34, as shown in FIG. 1, a conductive layer 31 including a first portion 311 located on the insulating layer 34 and a second portion 312 penetrating the insulating layer 34 is formed. The conductive layer 31 may be formed by laminating the seed layer and the plating layer in the same manner as the method used for forming the first metal layer 62.

なお、図3に示すように基板12が貫通電極を備える場合は、絶縁層34を貫通し、導電層31の第1部分311と貫通電極とを電気的に接続する接続部材を、導電層31の一部として第1部分311及び第2部分312と同時に形成してもよい。 As shown in FIG. 3, when the substrate 12 includes a through electrode, the conductive layer 31 is a connecting member that penetrates the insulating layer 34 and electrically connects the first portion 311 of the conductive layer 31 and the through electrode. It may be formed at the same time as the first portion 311 and the second portion 312 as a part of.

以上の工程により、図1に示した実装基板10が得られる。本実施形態の実装基板の製造方法によれば、金属部材61を設けることにより、電子部品50の発する熱が第1面13の面内方向に逃げ易くなり、より放熱性に優れた実装基板10を提供することができる。 By the above steps, the mounting substrate 10 shown in FIG. 1 is obtained. According to the mounting substrate manufacturing method of the present embodiment, by providing the metal member 61, the heat generated by the electronic component 50 can easily escape in the in-plane direction of the first surface 13, and the mounting substrate 10 having more excellent heat dissipation. Can be provided.

第2の実施の形態に係る実装基板の製造方法
上述の第1の実施の形態に係る実装基板の製造方法としては、基板12の第1面13上に、電子部品50及び金属部材61、絶縁層34、並びに導電層31を順に配置していく例を示した。第2の実施の形態に係る実装基板の製造方法においては、まず、電子部品50及び金属部材61を支持基板71の支持面73上に形成し、続いて、電子部品50及び金属部材61を支持基板71から基板12に転移させることで、基板12、電子部品50及び金属部材61を備えた実装基板10を得る。以下、本実施の形態に係る実装基板の製造方法について、図9乃至図14を参照して説明する。ここでは、図3に示された実装基板10を製造する例について説明する。
Method for manufacturing a mounting board according to a second embodiment As a method for manufacturing a mounting board according to the first embodiment described above, an electronic component 50, a metal member 61, and insulation are provided on a first surface 13 of a board 12. An example in which the layer 34 and the conductive layer 31 are arranged in order is shown. In the method for manufacturing a mounting substrate according to the second embodiment, first, the electronic component 50 and the metal member 61 are formed on the support surface 73 of the support substrate 71, and then the electronic component 50 and the metal member 61 are supported. By transferring from the substrate 71 to the substrate 12, a mounting substrate 10 including the substrate 12, the electronic component 50, and the metal member 61 is obtained. Hereinafter, a method for manufacturing a mounting substrate according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 9 to 14. Here, an example of manufacturing the mounting substrate 10 shown in FIG. 3 will be described.

(支持基板の準備工程)
図9は、本実施形態による実装基板10の製造方法を示す断面図である。まず、支持面73を有する支持基板71を準備する。電子部品50及び金属部材61を適切に支持することができる限りにおいて、支持基板71の材料は任意である。例えば、支持基板71の材料は、基板12の材料と同様であってもよい。
(Preparation process of support substrate)
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a method of manufacturing the mounting substrate 10 according to the present embodiment. First, a support substrate 71 having a support surface 73 is prepared. The material of the support substrate 71 is arbitrary as long as the electronic component 50 and the metal member 61 can be appropriately supported. For example, the material of the support substrate 71 may be the same as the material of the substrate 12.

(構造部の形成工程)
支持基板71を準備した後、図9に示すように、支持基板71の支持面73側に、支持基板71の側に露出した電極52を有する電子部品50及び金属部材61を配置する。
(Structural part forming process)
After preparing the support substrate 71, as shown in FIG. 9, an electronic component 50 and a metal member 61 having an electrode 52 exposed on the support substrate 71 side are arranged on the support surface 73 side of the support substrate 71.

支持基板71の支持面73側に、電子部品50及び金属部材61以外の構成要素を更に設けてもよい。例えば、電子部品50及び金属部材61を少なくとも部分的に覆う絶縁層34の一部を支持基板71の支持面73側に形成してもよい。また、図10に示すように、電子部品50と金属部材61との間隙を充填するように絶縁層34を形成してもよい。以下の説明において、支持基板71の支持面73側に設けられる、少なくとも電子部品50及び金属部材61を含む複数の構成要素であって、後に支持基板71側から基板12側へ転移する複数の構成要素のことを、構造部60とも称する。 Components other than the electronic component 50 and the metal member 61 may be further provided on the support surface 73 side of the support substrate 71. For example, a part of the insulating layer 34 that partially covers the electronic component 50 and the metal member 61 may be formed on the support surface 73 side of the support substrate 71. Further, as shown in FIG. 10, the insulating layer 34 may be formed so as to fill the gap between the electronic component 50 and the metal member 61. In the following description, a plurality of components provided on the support surface 73 side of the support substrate 71, including at least the electronic component 50 and the metal member 61, which are later transferred from the support substrate 71 side to the substrate 12 side. The element is also referred to as a structural unit 60.

構造部60が、電子部品50と金属部材61との間隙に位置する絶縁層34を含む場合、構造部60を基板12に接合する後述する工程において、構造部60と基板12との接合面が広くなるので、構造部60に対して基板12をより強固に接合することができる。また、図示はしないが、電子部品50と金属部材61との厚さが異なる場合であっても、電子部品50又は金属部材61に対して上側D3に絶縁層34を形成することにより、構造部60の上側D3の面を平面化することができ、基板12を接合する工程において、構造部60に対して基板12をより強固に接合することができる。 When the structural portion 60 includes an insulating layer 34 located in the gap between the electronic component 50 and the metal member 61, the bonding surface between the structural portion 60 and the substrate 12 is formed in a step described later in which the structural portion 60 is bonded to the substrate 12. Since it becomes wider, the substrate 12 can be joined more firmly to the structural portion 60. Further, although not shown, even if the thickness of the electronic component 50 and the metal member 61 are different, the structural portion is formed by forming the insulating layer 34 on the upper D3 with respect to the electronic component 50 or the metal member 61. The surface of the upper D3 of the 60 can be flattened, and the substrate 12 can be more firmly bonded to the structural portion 60 in the step of joining the substrate 12.

絶縁層34の一部を支持基板71の支持面73側に形成する方法としては、第1の実施の形態に係る実装基板の製造方法における、絶縁層34を基板12の第1面13上、電子部品50上又は金属部材61上に形成する方法と同様の方法を用いることができる。 As a method of forming a part of the insulating layer 34 on the support surface 73 side of the support substrate 71, the insulating layer 34 is formed on the first surface 13 of the substrate 12 in the mounting substrate manufacturing method according to the first embodiment. A method similar to the method of forming on the electronic component 50 or the metal member 61 can be used.

(接続部材の形成工程)
また、電子部品50及び金属部材61を配置する工程の前後において、または当該工程と同時に、図9に示すように接続部材32を形成する。例えば、第1の実施の形態に係る実装基板の製造方法における、第1金属層62を第1貫通孔20の側壁に形成する方法と同様の方法によって、接続部材32を支持基板71の支持面73上に形成することができる。
(Forming process of connecting member)
Further, the connecting member 32 is formed as shown in FIG. 9 before and after the step of arranging the electronic component 50 and the metal member 61, or at the same time as the step. For example, the connecting member 32 is attached to the support surface of the support substrate 71 by the same method as the method of forming the first metal layer 62 on the side wall of the first through hole 20 in the method of manufacturing the mounting substrate according to the first embodiment. It can be formed on 73.

(基板の準備工程)
また、図10に示すような、第1面13及び前記第1面の反対側に位置する第2面14を有する基板12を準備する。基板12は、基板12の第1面13の法線方向に沿って見た場合に金属部材61に重なるよう、第1貫通孔20及び第1金属層62を備えていてもよい。また、基板12は、第3貫通孔22及び第1面13から第2面14まで基板12を貫通する貫通電極23を備えていてもよい。
(Board preparation process)
Further, as shown in FIG. 10, a substrate 12 having a first surface 13 and a second surface 14 located on the opposite side of the first surface is prepared. The substrate 12 may be provided with a first through hole 20 and a first metal layer 62 so as to overlap the metal member 61 when viewed along the normal direction of the first surface 13 of the substrate 12. Further, the substrate 12 may include a third through hole 22 and a through electrode 23 that penetrates the substrate 12 from the first surface 13 to the second surface 14.

(基板の接合工程)
基板12を準備した後、図11及び図12に示すように、構造部60に基板12を接合する接合工程を実施する。
(Substrate joining process)
After preparing the substrate 12, as shown in FIGS. 11 and 12, a joining step of joining the substrate 12 to the structural portion 60 is performed.

接合工程は、図11に示す通り、導電性粒子とバインダとを含む導電性ペースト81を介して貫通電極23と接続部材32とを接合する工程を含んでもよい。当該工程を含むことにより、構造部60に基板12を接合しつつ、導電性ペースト81により導電性部材を形成し、当該導電性部材を介して貫通電極23を接続部材32に電気的に接続することができる。 As shown in FIG. 11, the joining step may include a step of joining the through electrode 23 and the connecting member 32 via the conductive paste 81 containing the conductive particles and the binder. By including this step, the substrate 12 is bonded to the structural portion 60, the conductive member is formed by the conductive paste 81, and the through electrode 23 is electrically connected to the connecting member 32 via the conductive member. be able to.

導電性ペーストは、導電性粒子及びバインダを少なくとも含み、必要に応じて溶媒、添加剤等を含んでもよい。導電性粒子は、導電性を有していればよく、具体的には、金属粒子を使用することができる。金属粒子に用いられる金属としては、銅、銀、またはこれらを用いた合金等を挙げることができる。導電性粒子は、複数種類の金属粒子を組み合わせて使用してもよい。また、バインダには、樹脂を用いることができる。バインダに用いられる樹脂としては、エポキシ樹脂等を挙げることができる。 The conductive paste contains at least conductive particles and a binder, and may contain a solvent, additives and the like, if necessary. The conductive particles need only have conductivity, and specifically, metal particles can be used. Examples of the metal used for the metal particles include copper, silver, and alloys using these. As the conductive particles, a plurality of types of metal particles may be used in combination. Further, a resin can be used for the binder. Examples of the resin used for the binder include an epoxy resin and the like.

(支持基板の分離工程)
基板12の接合工程の後、図13に示すように、支持基板71を構造部60から分離する。ここで、図13以降の図については、図12とは図の上下を逆転させて表示する。支持基板71を分離する具体的な方法については特に限定されないが、例えば、構造部60と支持基板71との接着力を、構造部60と基板12との接着力よりも低くした上で、支持基板71を引き剥がすことにより、分離することができる。具体的には、支持基板71上に構造部60を形成する工程において、支持基板71と構造部60との間に熱剥離性の仮粘着シートを介在させておき、分離工程において仮粘着シートを剥離温度まで加熱し、構造部60と支持基板71との接着力を低下させた上で、支持基板71を引き剥がすことにより、分離することができる。この場合において、剥離温度は、接続部材32等の構造部60の構成要素が損傷しないように設定される。
(Separation process of support substrate)
After the joining step of the substrate 12, the support substrate 71 is separated from the structural portion 60 as shown in FIG. Here, the figures after FIG. 13 are displayed by reversing the drawings from those in FIG. 12. The specific method for separating the support substrate 71 is not particularly limited, but for example, the adhesive strength between the structural portion 60 and the support substrate 71 is made lower than the adhesive strength between the structural portion 60 and the substrate 12, and then the support is supported. It can be separated by peeling off the substrate 71. Specifically, in the step of forming the structural portion 60 on the support substrate 71, a heat-removable temporary adhesive sheet is interposed between the support substrate 71 and the structural portion 60, and the temporary adhesive sheet is placed in the separation step. It can be separated by heating to the peeling temperature to reduce the adhesive force between the structural portion 60 and the support substrate 71, and then peeling off the support substrate 71. In this case, the peeling temperature is set so that the components of the structural portion 60 such as the connecting member 32 are not damaged.

(絶縁層の形成工程)
支持基板71の分離工程の後、図14に示すように、電子部品50及び金属部材61を少なくとも部分的に覆う絶縁層34を形成する。例えば、第1の実施の形態に係る実装基板の製造方法における、絶縁層34を形成する方法と同様の方法により、絶縁層34を形成することができる。
(Insulation layer forming process)
After the separation step of the support substrate 71, as shown in FIG. 14, an insulating layer 34 that at least partially covers the electronic component 50 and the metal member 61 is formed. For example, the insulating layer 34 can be formed by the same method as the method for forming the insulating layer 34 in the method for manufacturing the mounting substrate according to the first embodiment.

なお、図13に示すように、構造部60が絶縁層34の一部を含んでいる場合は、図14に示すように、構造部60の絶縁層34、電子部品50及び金属部材61の上側D1に、さらに絶縁層34を形成する。 As shown in FIG. 13, when the structural portion 60 includes a part of the insulating layer 34, as shown in FIG. 14, the upper side of the insulating layer 34, the electronic component 50, and the metal member 61 of the structural portion 60. An insulating layer 34 is further formed on D1.

(導電層の形成工程)
絶縁層34を形成した後、図3に示すように、絶縁層34上に位置する第1部分311及び絶縁層34を貫通する第2部分312を含む導電層31を形成する。導電層31は、第1の実施の形態に係る実装基板の製造方法における第1金属層62を形成する方法と同様の方法でシード層及びめっき層を積層することによって形成してもよい。
(Process of forming conductive layer)
After forming the insulating layer 34, as shown in FIG. 3, a conductive layer 31 including a first portion 311 located on the insulating layer 34 and a second portion 312 penetrating the insulating layer 34 is formed. The conductive layer 31 may be formed by laminating the seed layer and the plating layer in the same manner as the method for forming the first metal layer 62 in the method for manufacturing the mounting substrate according to the first embodiment.

以上の工程により、図3に示した実装基板10が得られる。本実施形態の実装基板の製造方法においても、金属部材61を設けることにより、電子部品50の発する熱が第1面13の面内方向に逃げ易くなり、より放熱性に優れた実装基板10を提供することができる。 By the above steps, the mounting substrate 10 shown in FIG. 3 is obtained. Also in the mounting substrate manufacturing method of the present embodiment, by providing the metal member 61, the heat generated by the electronic component 50 can easily escape in the in-plane direction of the first surface 13, and the mounting substrate 10 having more excellent heat dissipation can be obtained. Can be provided.

なお、上述した実施の形態に対するいくつかの変形例を説明してきたが、当然に、複数の変形例を適宜組み合わせて適用することも可能である。 Although some modifications to the above-described embodiments have been described, it is naturally possible to apply a plurality of modifications in combination as appropriate.

10 実装基板
12 基板
13 第1面
14 第2面
15 キャパシタ
17 インダクタ
20 第1貫通孔
21 第2貫通孔
22 第3貫通孔
23 貫通電極
31 導電層
311 第1部分
312 第2部分
32 接続部材
34 絶縁層
34a 第1絶縁層貫通孔
34b 第2絶縁層貫通孔
41 第2面第1導電層
42 第2面無機層
43 第2面第2導電層
50 電子部品
51 本体部
52 電極
60 構造部
61 金属部材
62 第1金属層
63 第2金属層
71 支持基板
73 支持面
81 導電性ペースト
10 Mounting board 12 Board 13 First surface 14 Second surface 15 Capacitor 17 Inductor 20 First through hole 21 Second through hole 22 Third through hole 23 Through electrode 31 Conductive layer 311 First part 312 Second part 32 Connection member 34 Insulation layer 34a First insulation layer through hole 34b Second insulation layer through hole 41 Second surface First conductive layer 42 Second surface Inorganic layer 43 Second surface Second conductive layer 50 Electronic component 51 Main body 52 Electrode 60 Structural part 61 Metal member 62 First metal layer 63 Second metal layer 71 Support substrate 73 Support surface 81 Conductive paste

Claims (14)

第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面を有する基板と、
前記基板の前記第1面側に位置し、前記基板とは反対の側に露出した電極を有する電子部品と、
前記電子部品に対して前記基板の前記第1面と平行な方向に位置し、且つ10μm以上の厚さを有する金属部材と、
前記電子部品及び前記金属部材を少なくとも部分的に覆う絶縁層と、
前記絶縁層上に位置する第1部分と、前記絶縁層を貫通し、前記第1部分と前記電子部品の前記電極とを電気的に接続する第2部分と、を有する導電層と、
前記第1面から前記第2面まで前記基板を貫通する貫通電極と、
前記基板の前記第1面の法線方向に沿って見た場合に前記金属部材と前記電子部品との間に位置する前記絶縁層を貫通し、前記導電層の前記第1部分と前記貫通電極とを電気的に接続する接続部材と、を備える、実装基板。
A substrate having a first surface and a second surface located on the opposite side of the first surface,
An electronic component located on the first surface side of the substrate and having an electrode exposed on the side opposite to the substrate.
A metal member located in a direction parallel to the first surface of the substrate with respect to the electronic component and having a thickness of 10 μm or more.
An insulating layer that at least partially covers the electronic component and the metal member,
A conductive layer having a first portion located on the insulating layer and a second portion penetrating the insulating layer and electrically connecting the first portion and the electrode of the electronic component.
Through electrodes that penetrate the substrate from the first surface to the second surface,
When viewed along the normal direction of the first surface of the substrate, it penetrates the insulating layer located between the metal member and the electronic component, and the first portion of the conductive layer and the through electrode. A mounting board comprising a connecting member for electrically connecting and.
前記基板には、前記基板の前記第1面の法線方向に沿って見た場合に前記金属部材に重なる第1貫通孔が設けられており、
前記実装基板は、前記第1貫通孔内に位置する第1金属層を更に備える、請求項1に記載の実装基板。
The substrate is provided with a first through hole that overlaps the metal member when viewed along the normal direction of the first surface of the substrate.
The mounting substrate according to claim 1, wherein the mounting substrate further includes a first metal layer located in the first through hole.
前記基板には、前記基板の前記第1面の法線方向に沿って見た場合に前記電子部品に重なる第2貫通孔が設けられており、
前記実装基板は、前記第2貫通孔内に位置する第2金属層を更に備える、請求項1又は2に記載の実装基板。
The substrate is provided with a second through hole that overlaps with the electronic component when viewed along the normal direction of the first surface of the substrate.
The mounting substrate according to claim 1 or 2, wherein the mounting substrate further includes a second metal layer located in the second through hole.
前記貫通電極は、導電性粒子とバインダとを含む導電性部材を介して、前記接続部材に電気的に接続する、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の実装基板。 The mounting substrate according to any one of claims 1 to 3, wherein the through electrode is electrically connected to the connecting member via a conductive member including conductive particles and a binder. 前記貫通電極は、インダクタの一部である、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の実装基板。 The mounting substrate according to any one of claims 1 to 4, wherein the through electrode is a part of an inductor. 前記貫通電極に電気的に接続するキャパシタを更に備える、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の実装基板。 The mounting substrate according to any one of claims 1 to 5, further comprising a capacitor electrically connected to the through electrode. 前記基板は、ガラスを含有する、請求項1乃至のいずれか一項に記載の実装基板。 The mounting substrate according to any one of claims 1 to 6 , wherein the substrate contains glass. 実装基板の製造方法であって、
第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面を有する基板を準備する工程と、
前記基板の前記第1面側に、前記基板とは反対の側に露出した電極を有する電子部品、及び10μm以上の厚さを有する金属部材を配置する工程と、
前記電子部品及び前記金属部材を少なくとも部分的に覆う絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層上に位置する第1部分と、前記絶縁層を貫通し、前記第1部分と前記電子部品の前記電極とを電気的に接続する第2部分と、を有する導電層を形成する工程と、を備え
前記基板は、前記第1面から前記第2面まで前記基板を貫通する貫通電極を備え、
前記導電層を形成する工程は、前記基板の前記第1面の法線方向に沿って見た場合に前記金属部材と前記電子部品との間に位置する前記絶縁層を貫通し、前記導電層の前記第1部分と前記貫通電極とを電気的に接続する接続部材を形成する工程を含む、実装基板の製造方法。
It is a method of manufacturing a mounting board.
A step of preparing a substrate having a first surface and a second surface located on the opposite side of the first surface, and
A step of arranging an electronic component having an electrode exposed on the side opposite to the substrate and a metal member having a thickness of 10 μm or more on the first surface side of the substrate.
A step of forming an insulating layer that at least partially covers the electronic component and the metal member,
A step of forming a conductive layer having a first portion located on the insulating layer and a second portion penetrating the insulating layer and electrically connecting the first portion and the electrode of the electronic component. and, with a,
The substrate includes through electrodes that penetrate the substrate from the first surface to the second surface.
The step of forming the conductive layer penetrates the insulating layer located between the metal member and the electronic component when viewed along the normal direction of the first surface of the substrate, and the conductive layer is formed. A method for manufacturing a mounting substrate, which comprises a step of forming a connecting member for electrically connecting the first portion and the through electrode.
支持面を有する支持基板を準備する工程と、
前記支持基板の前記支持面側に、前記支持基板の側に露出した電極を有する電子部品、及び10μm以上の厚さを有する金属部材を少なくとも含む構造部を配置する工程と、
前記構造部に、第1面及び前記第1面の反対側に位置する第2面を有する基板を接合する工程と、
前記支持基板を前記構造部から分離する工程と、
前記電子部品及び前記金属部材を少なくとも部分的に覆う絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層上に位置する第1部分と、前記絶縁層を貫通し、前記第1部分と前記電子部品の前記電極とを電気的に接続する第2部分と、を有する導電層を形成する工程と、を備える、実装基板の製造方法。
The process of preparing a support substrate with a support surface and
A step of arranging an electronic component having an electrode exposed on the side of the support substrate and a structural portion including at least a metal member having a thickness of 10 μm or more on the support surface side of the support substrate.
A step of joining a substrate having a first surface and a second surface located on the opposite side of the first surface to the structural portion.
The step of separating the support substrate from the structural part and
A step of forming an insulating layer that at least partially covers the electronic component and the metal member,
A step of forming a conductive layer having a first portion located on the insulating layer and a second portion penetrating the insulating layer and electrically connecting the first portion and the electrode of the electronic component. And, a method of manufacturing a mounting board.
前記基板は、前記第1面から前記第2面まで前記基板を貫通する貫通電極を備え、
前記絶縁層を貫通し、前記貫通電極と電気的に接続する接続部材を形成する工程を更に備え、
前記導電層を形成する工程は、前記接続部材と前記導電層の前記第1部分とを電気的に接続する工程を含む、請求項に記載の実装基板の製造方法。
The substrate includes through electrodes that penetrate the substrate from the first surface to the second surface.
A step of forming a connecting member that penetrates the insulating layer and electrically connects to the through electrode is further provided.
The method for manufacturing a mounting substrate according to claim 9 , wherein the step of forming the conductive layer includes a step of electrically connecting the connecting member and the first portion of the conductive layer.
前記基板を接合する工程は、導電性粒子とバインダとを含む導電性ペーストを介して前記貫通電極と前記接続部材とを接合する工程を含む、請求項10に記載の実装基板の製造方法。 The method for manufacturing a mounting substrate according to claim 10 , wherein the step of joining the substrates includes a step of joining the through electrode and the connecting member via a conductive paste containing conductive particles and a binder. 前記金属部材の配置は、前記金属部材を接着材で接着することを含む、請求項乃至11のいずれか一項に記載の実装基板の製造方法。 The method for manufacturing a mounting substrate according to any one of claims 8 to 11 , wherein the arrangement of the metal member includes adhering the metal member with an adhesive. 前記金属部材の配置は、めっき処理により前記金属部材を形成することを含む、請求項乃至12のいずれか一項に記載の実装基板の製造方法。 The method for manufacturing a mounting substrate according to any one of claims 8 to 12 , wherein the arrangement of the metal member includes forming the metal member by a plating process. 前記電子部品の配置は、前記電子部品を接着材で接着することを含む、請求項乃至13のいずれか一項に記載の実装基板の製造方法。 The method for manufacturing a mounting substrate according to any one of claims 8 to 13 , wherein the arrangement of the electronic components includes adhering the electronic components with an adhesive.
JP2017132166A 2017-07-05 2017-07-05 Mounting board and manufacturing method of mounting board Active JP6928896B2 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017132166A JP6928896B2 (en) 2017-07-05 2017-07-05 Mounting board and manufacturing method of mounting board
JP2021127724A JP7245452B2 (en) 2017-07-05 2021-08-03 Mounting substrate and mounting substrate manufacturing method
JP2023039105A JP7569516B2 (en) 2017-07-05 2023-03-13 Structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017132166A JP6928896B2 (en) 2017-07-05 2017-07-05 Mounting board and manufacturing method of mounting board

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021127724A Division JP7245452B2 (en) 2017-07-05 2021-08-03 Mounting substrate and mounting substrate manufacturing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019016672A JP2019016672A (en) 2019-01-31
JP6928896B2 true JP6928896B2 (en) 2021-09-01

Family

ID=65359413

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017132166A Active JP6928896B2 (en) 2017-07-05 2017-07-05 Mounting board and manufacturing method of mounting board
JP2021127724A Active JP7245452B2 (en) 2017-07-05 2021-08-03 Mounting substrate and mounting substrate manufacturing method
JP2023039105A Active JP7569516B2 (en) 2017-07-05 2023-03-13 Structure

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021127724A Active JP7245452B2 (en) 2017-07-05 2021-08-03 Mounting substrate and mounting substrate manufacturing method
JP2023039105A Active JP7569516B2 (en) 2017-07-05 2023-03-13 Structure

Country Status (1)

Country Link
JP (3) JP6928896B2 (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113366628B (en) 2019-03-12 2022-09-30 爱玻索立克公司 Package substrate and semiconductor device including the same
CN113424304B (en) 2019-03-12 2024-04-12 爱玻索立克公司 Loading box and loading method of object substrate
EP3916772A4 (en) 2019-03-12 2023-04-05 Absolics Inc. Packaging substrate, and semiconductor device comprising same
CN114678344A (en) 2019-03-29 2022-06-28 爱玻索立克公司 Glass substrate for semiconductor package, and semiconductor device
JP7104245B2 (en) 2019-08-23 2022-07-20 アブソリックス インコーポレイテッド Packaging substrate and semiconductor devices including it
CN114038760A (en) * 2021-09-17 2022-02-11 珠海越亚半导体股份有限公司 Package substrate based on molding process and manufacturing method thereof

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4967946U (en) * 1972-09-25 1974-06-13
JP2002170921A (en) 2000-12-01 2002-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device and its manufacturing method
JP3547423B2 (en) 2000-12-27 2004-07-28 松下電器産業株式会社 Component built-in module and manufacturing method thereof
JP4052955B2 (en) * 2003-02-06 2008-02-27 Necエレクトロニクス株式会社 Manufacturing method of semiconductor device
CN102646628B (en) * 2006-11-06 2014-08-06 瑞萨电子株式会社 Method for manufacturing semiconductor device
JP5286072B2 (en) 2008-12-25 2013-09-11 日本特殊陶業株式会社 Wiring board and manufacturing method thereof
JP5493660B2 (en) * 2009-09-30 2014-05-14 日本電気株式会社 Functional element built-in substrate, manufacturing method thereof, and electronic device
JP2013038374A (en) * 2011-01-20 2013-02-21 Ibiden Co Ltd Wiring board and manufacturing method of the same
JP5729290B2 (en) 2011-12-16 2015-06-03 富士通株式会社 Semiconductor device manufacturing method, electronic device manufacturing method, and substrate
JP5462404B1 (en) * 2013-09-12 2014-04-02 太陽誘電株式会社 Component embedded substrate and core substrate for component embedded substrate
JP2016086082A (en) 2014-10-27 2016-05-19 パナソニックIpマネジメント株式会社 Electronic component package and manufacturing method for the same
JP6620989B2 (en) 2015-05-25 2019-12-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Electronic component package

Also Published As

Publication number Publication date
JP7245452B2 (en) 2023-03-24
JP2019016672A (en) 2019-01-31
JP2023072028A (en) 2023-05-23
JP2021184487A (en) 2021-12-02
JP7569516B2 (en) 2024-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6928896B2 (en) Mounting board and manufacturing method of mounting board
CN107112297B (en) Printed circuit board, semiconductor device, method for manufacturing printed circuit board, and method for manufacturing semiconductor device
JP7363972B2 (en) Through electrode board, method for manufacturing the same, and mounting board
JP5808586B2 (en) Manufacturing method of interposer
JP5248084B2 (en) Silicon interposer, package for semiconductor device using the same, and semiconductor device
US10157753B2 (en) Wiring board, electronic device, and electronic module
WO2019111966A1 (en) Wiring board, semiconductor device, and wiring board production method
US8777638B2 (en) Wiring board and method of manufacturing the same
CN107567651B (en) Wiring substrate having through electrode and method for manufacturing the same
JP2012248754A (en) Method of manufacturing semiconductor device and semiconductor device
CN111162047A (en) Wiring substrate and electronic device
JP2023040125A (en) Electronic component mounting substrate and manufacturing method thereof
JP7437627B2 (en) Through electrode substrate and its manufacturing method
JP2015225963A (en) Wiring board, electronic device, and electronic module
JP2016092018A (en) Wiring board, electronic device and electronic module
JP7405183B2 (en) Wiring board, mounting board including wiring board, and method for manufacturing wiring board
KR101101432B1 (en) Fabrication method of semiconductor device and semiconductor device using the same
TWI816267B (en) Embedded packaging structure
JP2019029541A (en) Electronic component mounting substrate and manufacturing method thereof
KR101011931B1 (en) Semiconductor device and fabricating?method thereof
JP2004266146A (en) Method of forming solder bump, semiconductor device, and method of mounting the same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200526

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210302

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210426

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210709

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210722

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6928896

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150