JP6908838B2 - 記憶回路及び半導体装置 - Google Patents
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Description
また、1つの側面では、本発明は、工程数の増加を抑えて製造できる不可逆性の記憶回路を有する半導体装置を提供することを目的とする。
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態の記憶回路及び半導体装置の一例を示す図である。
FeRAM11に含まれる構成要素については図示を省略しているが、FeRAMには、たとえば、1T(Transistor)/1C(Capacitor)型または2T/2C型のメモリセルが複数含まれる。その他、FeRAM11には、各メモリセルにデータを書き込むための書き込み回路や、各メモリセルからデータを読み出すためのセンスアンプなどが含まれる。
メモリセル11aは、nチャネル型MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)であるトランジスタ11a1と強誘電体キャパシタ11a2を有する。トランジスタ11a1のドレインまたはソースの一方は、ビット線11bに接続されており、他方は強誘電体キャパシタ11a2の一方の電極に接続されている。トランジスタ11a1のゲートは、ワード線11cに接続されている。強誘電体キャパシタ11a2の他方の電力は、プレート線11dに接続されている。
FeRAM11のメモリセル11aでは、DRAM(Dynamic Random Access Memory)のメモリセルと異なり、トランジスタ11a1をオン状態にするだけでは電荷の移動が生じないため、強誘電体膜の分極状態を検知するための動作が行われる。すなわち、ワード線11cの電位をVDDにした状態で、プレート線11dの電位をVDDにする動作が行われる。これにより、強誘電体キャパシタ11a2からビット線11bに電荷が移動し、ビット線11bの電位が上昇する。
図3では図1に示したトランジスタ11a1やワード線11cの図示が省略されている。また、ビット線11bも図示が省略されており、その代わりに、ビット線11bの寄生容量であるビット線容量11bcが示されている。また、読み出し動作に用いられるセンスアンプ11gが示されている。センスアンプ11gは、ビット線容量11bcに印加される電圧Vblと、閾値電圧Vrefとの比較結果に基づいた値を出力する。
図4は、データ“0”読み出し時の強誘電体キャパシタとビット線容量にかかる電圧の一例を示す図である。横軸は電圧V、縦軸は分極電荷量(分極量と呼ばれる場合もある)Qを表している。直線20aは、データ“0”読み出し時の、強誘電体キャパシタ11a2に印加される電圧と、ビット線容量11bcの分極電荷量の一例の関係を示している。
記憶回路12は、強誘電体キャパシタ12a、制御回路12b、判定回路12c、保持回路12d、キャパシタ12eを有する。
キャパシタ12eは、前述したFeRAM11のビット線容量11bcと同様の機能を有する。キャパシタ12eのキャパシタンスを適宜設定することで、ノードN1の電圧Vn1の大きさを調整できる。キャパシタ12eの一端はノードN1と判定回路12cの入力端子との間に接続されており、他端は接地され、電位がVSS(たとえば、0V)となっている。
直線20cは、データ“1”読み出し時の、強誘電体キャパシタ12aに印加される電圧と、キャパシタ12eの電荷量の一例の関係を示している。
制御回路12bは、正の電圧Vplのパルス信号Vinが強誘電体キャパシタ12aに最初に供給されている間に、ノードN1の電圧Vn1をVSSに下げることで、図6の矢印24のように、分極電荷量を電荷量Q1よりも大きい値である電荷量Q0に変化させる。つまり、強誘電体キャパシタ12aは、データ“0”保持状態となる。
図7は、2回目に正の電圧のパルス電圧が供給されたときのノードN1の電圧の一例を示す図である。
図1の例では、電圧Vn1(0)は、閾値Vthより小さい。そのため、判定回路12cは、値“0”を出力し、保持回路12dは値“0”を保持し、出力する。
図8は、第2の実施の形態の記憶回路の一例を示す図である。図8において、図1に示した要素と同じ要素については同一符号が付されている。
遅延回路31aは、パルス信号Vinを遅延した遅延パルス信号を出力する。遅延回路31aは、たとえば、バッファ回路などにより実現できる。
図9は、記憶回路の動作の一例を示すタイミングチャートである。図9には、パルス信号Vin、ノードN1の電圧Vn1、ノードN2の電圧Vn2、ノードN3(図8のトランジスタ31bのゲート端子)の電圧Vn3、クロック信号CK、ラッチ回路33の出力値OUTの時間変化の一例が示されている。なお、強誘電体キャパシタ12aは、初期状態では、前述の方法により、予めデータ“1”が書き込まれている状態(データ“1”保持状態)である。
パルス信号Vinが遅延回路31aにて遅延されることによって、ノードN3の電圧Vn3がVDDに立ち上がると(タイミングt3)、トランジスタ31bがオンし、ノードN1の電圧Vn1がVSSに下がる(ディスチャージされる)。これにより、トランジスタ32cがオフし、ノードN2の電圧Vn2はVSSになる。なお、このとき、強誘電体キャパシタ12aの第1の電極はVDD、第2の電極はVSSになるため、強誘電体キャパシタ12aの分極状態が反転し、図6に示したように、電荷量Q0となり、データ“0”の保持状態となる。
次に、パルス信号VinがVDDに立ち上がると(タイミングt7)、ノードN1の電圧Vn1は、図7に示したような電圧Vn1(0)に上昇する。電圧Vn1(0)は、キャパシタ12eによって、トランジスタ32cがオンする閾値Vthよりも小さくなるように調整されている。そのため、ノードN2の電圧Vn2はVSSになり、ラッチ回路33の出力値OUTもVSSのままとなる。
図10は、第3の実施の形態の半導体装置の一例を示す図である。
図10に示す半導体装置40は、記憶回路41,42,43と、端子40a,40b,40c,40d,40e,40f,40gを有する。なお、図10において、図1に示したFeRAM11については図示が省略されている。
機能チェックの際には、端子40bに正の電圧であるパルス信号Vinaが入力されるか、端子40cに正の電圧であるパルス信号Vinbが入力される。端子40bにパルス信号Vinaが供給される場合には、記憶回路42が前述の記憶回路12,30と同様の動作を行い、出力値OUTaを出力する。端子40cにパルス信号Vinbが供給される場合には、記憶回路43が前述の記憶回路12,30と同様の動作を行い、出力値OUTbを出力する。そして、出力値OUTa,OUTbを、たとえば、図示しないテスタにより検出することで、記憶回路42,43が正しく動作していると確認することができる。そして、記憶回路42,43についての機能チェック結果に基づいて、記憶回路42,43と同じ回路である記憶回路41が正しく動作したか否かについて推測することができる。 なお、機能チェック用の記憶回路42,43は2つに限定されず、1つでもよいし、3つ以上であってもよい。
10a,10b 端子
11 FeRAM
12 記憶回路
12a 強誘電体キャパシタ
12b 制御回路
12c 判定回路
12d 保持回路
12e キャパシタ
N1 ノード
Vin パルス信号
Vn1,Vn1(1),Vn1(0) 電圧
Vth 閾値
Claims (8)
- 第1の電極と第2の電極とを有し、分極電荷量の初期値が第1の値であり、正の電圧であるパルス信号が前記第1の電極に最初に供給されるとき、前記第2の電極の電圧が前記第1の値に応じた第1の電圧になり、前記分極電荷量の値が前記第1の値よりも大きい第2の値になり、前記パルス信号が2回目に、前記第1の電極に供給されるとき、前記電圧が、前記第2の値に応じた第2の電圧になり、前記分極電荷量の値が前記第2の値のままになる強誘電体キャパシタと、
前記パルス信号が前記第1の電極に最初に供給されている間に、前記電圧を前記第1の電圧及び前記第2の電圧よりも小さい第3の電圧にすることで、前記分極電荷量を前記第1の値から前記第2の値に変化させる制御回路と、
前記パルス信号が前記第1の電極に最初に供給されるとき、前記第1の電圧に基づいた第3の値を保持して出力し、前記パルス信号が2回目以降、前記第1の電極に供給されるとき、前記第2の電圧に基づいた第4の値を保持して出力する保持回路と、
を有する記憶回路。 - 閾値よりも前記電圧が大きい場合に、前記第3の値を出力し、前記閾値よりも前記電圧が小さい場合に、前記第4の値を出力する判定回路を、更に有する、
請求項1に記載の記憶回路。 - 前記第1の電圧が前記閾値よりも高くなり、前記第2の電圧が前記閾値よりも低くなるように前記電圧を調整するキャパシタを、更に有する請求項2に記載の記憶回路。
- 前記判定回路は、インバータ回路を有し、前記閾値は前記インバータ回路の出力値が変化する入力閾値電圧である、請求項2または3に記載の記憶回路。
- 前記制御回路は、前記パルス信号を遅延した遅延パルス信号を出力する遅延回路と、前記遅延パルス信号に基づいて、前記パルス信号が前記第1の電極に供給されている間に、前記電圧を前記第3の電圧にするトランジスタと、を有する請求項1乃至4の何れか一項に記載の記憶回路。
- FeRAMを含む半導体装置であって、
第1の電極と第2の電極とを有し、分極電荷量の初期値が第1の値であり、正の電圧であるパルス信号が前記第1の電極に最初に供給されるとき、前記第2の電極の電圧が前記第1の値に応じた第1の電圧になり、前記分極電荷量の値が前記第1の値よりも大きい第2の値になり、前記パルス信号が2回目に、前記第1の電極に供給されるとき、前記電圧が、前記第2の値に応じた第2の電圧になり、前記分極電荷量の値が前記第2の値のままになる強誘電体キャパシタと、
前記パルス信号が前記第1の電極に最初に供給されている間に、前記電圧を前記第1の電圧及び前記第2の電圧よりも小さい第3の電圧にすることで、前記分極電荷量を前記第1の値から前記第2の値に変化させる制御回路と、
前記パルス信号が前記第1の電極に最初に供給されるとき、前記第1の電圧に基づいた第3の値を保持して出力し、前記パルス信号が2回目以降、前記第1の電極に供給されるとき、前記第2の電圧に基づいた第4の値を保持して出力する保持回路と、
を有する半導体装置。 - それぞれが前記強誘電体キャパシタと前記制御回路と前記保持回路とを含む、複数の記憶回路を有し、
前記複数の記憶回路のそれぞれに独立に、前記パルス信号が供給される第1の端子と、前記保持回路の出力値が出力される第2の端子とが接続されている、
請求項6に記載の半導体装置。 - それぞれが前記強誘電体キャパシタと前記制御回路と前記保持回路とを含む、複数の記憶回路を有し、
前記複数の記憶回路は、ウェハ上の異なる位置に配置されており、前記複数の記憶回路には共通の前記パルス信号が供給される、
請求項6に記載の半導体装置。
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