JP6900702B2 - 計測装置および計測方法 - Google Patents

Description

本発明は、計測装置および計測方法に関する。

塗装の一種として、自動車等の外装のように光輝材を含んだ塗料を用いたメタリック塗装が知られている。
特に車両の外装においては、光輝材の種類、塗装手法の多様化により、見え方の評価が欠かせないが、見え方を定量的に判断することは目視では難しい。
そこで、塗装の見え方の評価を可能とする計測装置あるいは計測方法が提案されている（例えば特許文献１、２等参照）。しかしながら、従来の評価方法では、塗装の広がり方向における反射率等を評価しているに過ぎず、光輝材による色味の違いなどの定量的な評価は難しかった。

本発明は以上のような課題に基づきなされたものであり、メタリック塗装の光輝材の位置分布を数値化することで、見え方の定量的な評価を行うことを目的とする。

本願発明にかかる計測装置は、複数の光輝材を含む塗装層に可視光領域の波長の光を照射して反射光を測定する測定部と、前記測定部によって測定された前記反射光を用いて前記複数の光輝材のうち最も上層にあるものを基準位置として、前記複数の光輝材の前記塗装層の深さ方向の位置分布を算出する位置情報算出部と、を有している。

本発明の計測装置によれば、メタリック塗装の光輝材の位置分布を数値化して、見え方を定量的に評価する。

本発明の実施形態としての計測装置の一例を示す図である。 本発明の計測に用いるサンプルの層構造の一例を示す図である。 図１に示した計測装置の機能構成の一例を示す図である。 光の透過とサンプルの層構造との関係性を模擬した図である。 光の透過と図４とは異なるサンプルの層構造との関係性を模擬した図である。 図１に示した計測装置の計測方法の動作例を示すフロー図である。 図３に示した計測方法によって得られる位置分布の一例を示す図である。 本発明の計測装置を用いて光輝材の角度配向方向を測定する動作を示す図である。 図８に示した方法によって光輝材の角度配向方向を測定する原理を示す図である。 本発明の計測装置を用いて光輝材の角度配向方向を測定した結果を示す図である。 光輝材の傾斜による光の見え方の関係性を示した図である。 入射光と塗装の色との関係性を示す図である。 塗装の色による測定方法への影響の一例を示す図である。

以下、本発明の実施形態として、計測装置たる粒子感評価装置１００を用いて説明する。
粒子感評価装置１００は、塗装された検査対象物たるサンプル１０にレーザ光Ｌを照射して反射光を測定する共焦点レーザ顕微鏡２０と、共焦点レーザ顕微鏡２０を用いてサンプル１０の塗装の見え方を評価する評価値算出部９０と、を有している。

サンプル１０は、図２に示すように、金属層などの下地である基材層１１と、光輝材たるアルミフレーク１２を含有する塗装層たるカラー層１３と、カラー層１３の上層に形成され、光を透過するクリア層１４と、を有する塗装物である。
アルミフレーク１２は、カラー層１３内に複数配置され、外部からの光を反射することで、サンプル１０の粒子感や色合いといった見た目の印象を変化させる。
クリア層１４は、カラー層１３の上部に形成されており、一般に光を透過するとともに、カラー層１３が直接外気に接触してしまうことを防ぐ保護層としての機能を有している。

共焦点レーザ顕微鏡２０は、レーザ光Ｌを射出する光源２１と、レーザ光Ｌを透過するとともに、反射光Ｌ’を反射するハーフミラー２２と、検出器２３と、集光光学系を構成する対物レンズたるレンズ２４と、を有している。
光源２１は、レーザ光Ｌの波長をサンプル１０の色合いに合わせて所定の範囲内で変更する波長変更手段としての機能を有している。
なお、かかる波長変更手段は、例えば光源２１自体が波長変更可能な光源であっても良いし、別途波長を変更するための素子等を設けても良い。

評価値算出部９０は、図３に示すように、レーザ光Ｌの入射方向Ｚに沿ったカラー層１３内のアルミフレーク１２の位置分布を算出する位置情報算出部９１と、アルミフレーク１２の傾斜角度たる角度配向分布を算出する角度算出部９２と、を有している。
なお、本実施形態では、レーザ光Ｌの入射方向Ｚは、サンプル１０の深さ方向と一致するが、かかる構成に限定されるものではない。また、本実施形態では、サンプル１０の塗装の広がり方向を、入射方向Ｚに対して垂直なＸＹ平面としているが、かかる構成に限定されるものではない。

粒子感評価装置１００の動作について説明する前に、共焦点レーザ顕微鏡２０の基本的な原理について説明する。
まず、光源２１から照射されたレーザ光Ｌが、ハーフミラー２２とレンズ２４とを透過してサンプル１０に向けて照射される。

サンプル１０に向けて照射されたレーザ光Ｌは、サンプル１０に入射して、図３に示すように、複数のアルミフレーク１２に反射してそれぞれの光が反射光Ｌ’として反射される。
反射光Ｌ’は、再度レンズ２４を透過してハーフミラー２２によって経路を曲げられて検出器２３へと入射される。

検出器２３には、結像位置にピンホール２３１が取り付けられており、散乱光が排除されている。
さて、サンプル１０において、レーザ光Ｌがレンズ２４によって照射点Ｐに集光されるとすると、照射点Ｐにおける反射光Ｌ’は検出器２３に入射して像を結ぶが、照射点Ｐ以外の位置における反射光Ｌ’は、ピンホール２３１によって除外される。
すなわち、光源２１とレンズ２４とを移動させ、各位置における反射光Ｌ’の光量を計測することで、反射率の高い物体の位置を特定することができる。

サンプル１０においては、特にクリア層１４は透明であり、カラー層１３のアルミフレーク１２の位置に焦点が合致した時に反射光Ｌ’の光量が大きくなるから、光源２１とレンズ２４との位置関係と焦点距離から、入射方向Ｚにおける位置がわかる。
このようにして、共焦点レーザ顕微鏡２０は、反射光Ｌ’の強弱からアルミフレーク１２の入射方向Ｚにおける高さデータを表１に示すように算出することができる。
言い換えると、共焦点レーザ顕微鏡２０は、サンプル１０の深さ方向におけるアルミフレーク１２の位置を高さデータとして算出する高さ情報算出手段としての機能を有している。

さて、塗料の見え方が、一般には塗装の広がり方向における測定領域内の光輝材の位置と量（≒測定面積に占める光輝材の密度）とによって異なるということが知られている。
そこで従来の共焦点方式のレーザ顕微鏡は、サンプルのカラー層表面に焦点を合わせたときの反射光量を測定することで、見え方の評価を行うものが知られている。
しかしながら、発明者の検証によれば、光輝材が占める面積が略同一であったとしても、図４に示すようにアルミフレーク１２がカラー層１３の中程に多く分布しているような場合と、図５に示すようにカラー層１３の表面に多く分布する場合とでは見え方が異なる。
これは、カラー層１３に入射した光が、カラー層１３内を透過する距離に応じて特定の波長が吸収・反射されることで、反射光Ｌ’の色合いが変化するためであると考えられる。すなわち、単にアルミフレーク１２がサンプル１０の入射面に占める面積を求めるだけでは、見え方の評価手法として評価しきれていない部分があった。

そこで、本発明では、以下に述べる方法により、カラー層１３内のアルミフレーク１２の深さ方向の位置を特定し、数値化することで、塗装の見え方のより定量的な評価を可能とする。

粒子感評価装置１００の動作について図６に沿って具体的に説明する。
まず、測定部たる共焦点レーザ顕微鏡２０が、サンプル１０の所定領域にレーザ光Ｌを照射して、反射光Ｌ’の光量データと、高さデータとを取得する（ステップＳ１０１）。このときの『所定領域』たる計測範囲は、２５０μｍ×２５０μｍ以上であることが望ましい。かかる計測範囲が狭いと、カラー層１３内のアルミフレーク１２がカラー層１３の最表面に１つも露出していない虞があり、後述する基準位置Ｚ_０がカラー層１３の表面と正しく一致しない場合があるためである。
ステップＳ１０１において取得された反射光Ｌ’の光量データ、高さデータについて、ノイズ除去、平滑化を行う（ステップＳ１０２）。具体的には７×７ｐｉｘｅｌのメディアンフィルタをかける。
位置情報算出部９１は、ステップＳ１０２において反射光量が閾値以上であって、かつ高さデータが閾値の範囲内である領域を、抽出領域Ｑとして決定する（ステップＳ１０３）。なお、抽出領域Ｑは、例えば図２に２点鎖線で囲んだように、カラー層１３を含むように設定されることが最も望ましい。

このとき、例えば反射光量が閾値以下であることは、その照射点Ｐにおいて反射するようなアルミフレーク１２が検知されていないことを表している。
また、高さデータが閾値の範囲内であることは、カラー層１３の成膜領域から著しく外れてはいないことを示している。
かかる操作は、具体的にはカラー層１３とクリア層１４とが何れも膜厚２０μｍで設計されたときに、サンプル１０表面付近の１μｍの所で反射光Ｌ’が増大していたとしても、クリア層１４に混入された異物と判断して後述する位置分布を抽出する抽出領域から外すことを意味している。なお、ここで言う高さデータの閾値は、成膜条件の範囲でわかる程度の極端な値ではないことを意味しているが、予め指定された範囲内のみの計測を行うために閾値を定めたとしても良い。
すなわち、粒子感評価装置１００は、「計測範囲」として定めたＸＹ平面内の各点を、Ｚ方向に掘り下げた３次元の抽出領域内に配置されたアルミフレーク１２の相対的な位置関係を把握することができる。

位置情報算出部９１は、共焦点レーザ顕微鏡２０によって得られた反射光Ｌ’の光量データのうち、最も上層にある、言い換えると−Ｚ方向側にあるアルミフレーク１２を、基準位置Ｚ_０として定める（ステップＳ１０４）。
かかる基準位置Ｚ_０は、抽出領域Ｑ内において測定された複数のアルミフレーク１２のうち最も上層にあるアルミフレーク１２の位置である。
すでに述べたように、塗装の色味は、カラー層１３に入射した光のカラー層１３内を通る際の経路においてどれだけ吸収・発散が生じるかによるところが大きい。
しかしながら、通常カラー層１３とクリア層１４との境界面は、非破壊検査によって知ることが難しい。さらに、カラー層１３内においてアルミフレーク１２の位置は分散されているために、アルミフレーク１２の位置のみからカラー層１３を透過する距離を知ることは非常に困難である。

そこで本実施形態では、位置情報算出部９１は、かかる基準位置Ｚ_０を基準となるカラー層１３表面として設定する。
なお、実際のアルミフレーク１２は非常に小さく、計測範囲として定めたＸＹ平面上の大きさが十分に大きければ、抽出領域Ｑ内において１つ以上、カラー層１３とクリア層１４との境界面に配置されたアルミフレーク１２が存在する。
したがって、かかる基準位置Ｚ_０を基準に、各アルミフレーク１２の位置を評価し、統計的な分布情報たる位置分布を算出することにより、カラー層１３内を透過する距離に応じたパラメータを抽出できる。

位置情報算出部９１は、高さデータが０の領域を、アルミフレーク１２が存在しない領域として除外する（ステップＳ１０５）。
すなわち、表１に示したように、高さデータが０の点とは、照射点Ｐの位置を基材層１１まで透過してもアルミフレーク１２に当たらなかったことを示している。
位置情報算出部９１は、抽出領域内において高さデータが検知された点において、基準位置Ｚ_０からの深さを算出する（ステップＳ１０６）。

共焦点レーザ顕微鏡２０は、レーザ光Ｌの入射位置を、Ｚ方向に対して垂直なＸＹ平面上で移動させながら、ステップＳ１０１〜Ｓ１０６の動作を繰り返す（ステップＳ１０７）。
かかるステップＳ１０１〜Ｓ１０６の動作を、測定したい面積内のすべての点について実行することで、位置情報算出部９１は、アルミフレーク１２の基準位置Ｚ_０に対する相対的な位置を三次元的に把握することができる。
位置情報算出部９１は、かかる相対的な位置を、検出されたアルミフレーク１２の頻度を縦軸、Ｚ方向の深さを横軸にとったヒストグラム化することで、図７（ａ）に示すようなアルミフレーク１２の位置分布を算出する（ステップＳ１０８）。

図７（ａ）、（ｂ）に例として示されたアルミフレーク１２のＺ方向についての位置分布は、カラー層１３の見え方を評価するための評価パラメータである。
例えば図７（ａ）に示すように、基準位置Ｚ_０からのＺ方向の距離が５μｍから１０μｍの位置にアルミフレーク１２が集中して配置されているようなカラー層１３ａと、図７（ｂ）に示すような８μｍ付近と２２μｍ付近との２山に分散して配置されているようなカラー層１３ｂとでは、見え方の傾向が異なる。
なお、図７（ａ）のように基準位置Ｚ_０の付近にアルミフレーク１２が多数分布するような場合には、レーザ光Ｌの大部分は上層付近にあるアルミフレーク１２によって反射されてしまうため、アルミフレーク１２の密度が非常に大きい場合と、上層のみに分布している場合の見え方の傾向は近しいものと推測される。
粒子感評価装置１００は、かかる位置分布を用いて、サンプル１０の光沢の見た目を評価する。

すなわち本実施形態では、位置情報算出部９１が反射光Ｌ’を用いてアルミフレーク１２のうち最も上層にあるものを基準位置Ｚ_０として、アルミフレーク１２の深さ方向Ｚの位置分布を算出する。
かかる構成により、アルミフレーク１２の占める面積のみならず、深さ方向におけるアルミフレーク１２の位置分布を数値化して、見え方を定量的に評価する。

次に、本実施形態における角度配向分布を算出する方法について図８を用いて説明する。
角度算出部９２は、図６のステップＳ１０１〜ステップＳ１０６を用いて取得されたアルミフレーク１２の位置を元に、例えば図９に示すように隣接する３点Ａ〜Ｃ間における高さデータの変化を用いて、アルミフレーク１２の傾斜角度θを算出する（ステップＳ２０１）。
具体的には、図９に示した３点が形成する平面に平行なベクトルと、カラー層１３の塗装が広がる方向であるＸＹ平面に平行なベクトルと、のなす角を傾斜角度とする。
角度算出部９２は、ステップＳ１０３で決定した抽出領域における各測定点について、それぞれの角度配向を計算することで、複数のアルミフレーク１２について、カラー層１３内部でどの程度傾斜して配置されているかの統計データを角度配向分布として算出する（ステップＳ２０２）。
すなわち、角度算出部９２は、カラー層１３内におけるアルミフレーク１２の位置分布に基づいて、角度配向分布を算出する角度算出手段としての機能を有している。
なお、角度の算出に用いるために隣接する３点の高さデータを用いたが、かかる構成に限定されるものではなく、離れた３点の高さデータを用いても良い。
ただし、一般には単一のアルミフレーク１２上における複数点の高さデータから角度配向を算出することが望ましい。
また、最小二乗法を用いて計算された近似平面の角度を用いて、角度配向としても良い。

ステップＳ２０２において算出された角度配向分布についてヒストグラム化した図を図１０に示す。
ところで一般に、アルミフレーク１２の形状は、板状であることが多い。流体中において、板状の部材を複数配置すると、塗装内で方向が揃いやすい性質があることが知られている。
そのため、図１０においては０°に近い状態を取るアルミフレーク１２の比率が最も多く、極端に傾斜した角度をとるアルミフレーク１２はほぼない。

しかし一方で、このような角度の比率は、塗装の見え方という観点からは比較的大きい影響を与えると考えられる。
例えば、塗装の粒子感、キラキラ感というのは、既に述べた条件の他、ある観察点Ａから見たときに感じる明るさと、異なる観察点Ｂから見たときに感じる明るさの差によっても生じる。
カラー層１３内にある大部分のアルミフレーク１２の角度傾斜が塗装面に対して平行なときには、図１１（ａ）に示すように、反射光Ｌ’の角度が一定になるため、サンプル１０は正反射角近傍での反射光量Ｌ_Ｈ（以下ハイライトという）が大きくなる。同時に、正反射角から離れた角度における反射光量Ｌ_Ｓ（以下シェードという）は小さくなる。すなわち、ハイライトとシェードの差が増大して、観察点による明度の差が大きくなる。
他方、アルミフレーク１２の角度傾斜がバラバラで、塗装内で揃っていないような場合には、図１１（ｂ）に示すように、反射光Ｌ’の反射角もバラバラになりやすく、したがってハイライトとシェードの差は比較的小さくなる。すなわち、観察点Ａと観察点Ｂとでの明度の差も小さくなる。
このように、全体的な見え方の傾向は、アルミフレーク１２の角度配向分布によっても大きく異なる。なおここでいう角度配向分布とは、カラー層１３内にある複数のアルミフレーク１２の、それぞれの傾斜角度がどのような分布をしているかの頻度を示すパラメータである。
そこで、本実施形態では、粒子感評価装置１００がアルミフレーク１２の深さ方向における位置とともに、角度配向分布についても算出し数値化する。かかる構成により、さらに精度よく塗装の見え方を定量的に評価する。

ところで、カラー層１３の層厚が厚い場合には特に、カラー層１３の色味によってレーザ光Ｌの散乱・吸収が生じて、基材層１１近傍にあるアルミフレーク１２までレーザ光Ｌが十分に届かない虞がある。
例えば、図１２（ａ）に示すように、カラー層１３が青い色材を含むカラーメタリック層のときには、波長６５８ｎｍの赤色レーザ光では、カラー層１３内の吸収により十分な反射光量を得ることが難しい。
しかしながら、カラー層１３内における散乱や吸収の度合いは、当然のことながらレーザ光Ｌの波長とカラー層１３の色合いによって顕著に変化する。

そこで本実施形態においては、光源２１は、照射するレーザ光Ｌの波長を変更する波長変更手段としての機能を有している。
かかる構成により、光源２１はサンプル１０に照射するレーザ光Ｌについて、カラー層１３に吸収あるいは散乱され難い波長を選択することで、カラー層１３の基材層１１側にあるアルミフレーク１２についても、精度よく検知可能となる。

具体的には、光源２１は、サンプル１０の色合いの情報に基づいて、照射するレーザ光Ｌの波長を変更する。なお、ここでサンプル１０の色合いの情報すなわち色情報は、粒子感評価装置１００の使用者が別途入力するとしても良いし、ステップＳ１０１〜Ｓ１０６の何れかのタイミングで、画像解析により取得するとしても良い。
あるいは、ステップＳ１０６において、予め予想されるカラー層１３の層厚とステップＳ１０６で検知された高さデータの最大・最小値とを比較することで基材層１１まで到達したかどうかを診断する診断ステップを追加しても良い。

光源２１がレーザ光Ｌの波長を６５８ｎｍの赤色レーザ光から４０８ｎｍの紫色レーザ光に変更すると、図１２（ｂ）に示すように、カラー層１３における吸収が抑制されて、基材層１１側近くにおける反射光Ｌ’も十分な強度が確保される。
具体的には、赤色レーザ光を用いた場合には、図１３（ａ）に示すように、左側の顕微鏡写真に対して右側の反射光Ｌ’の計測結果を示す画像では、観測しきれていないアルミフレーク１２が多数生じてしまうことがわかる。
一方、図１２（ｂ）に示したように紫色レーザ光を用いたときには、図１３（ｂ）に示すように、左側の顕微鏡写真に対して右側の反射光Ｌ’の計測結果を示す画像の方がより精彩にアルミフレーク１２を捉えることができていることがわかる。
また、ここでは可視光領域の波長のレーザについてのみ述べたが、かかる構成に限定されるものではなく、カラー層１３の吸収の傾向に合わせて、赤外領域や紫外領域のレーザ光を用いても良い。

このように、本実施形態では、光源２１は、カラー層１３の色情報に基づいて照射するレーザ光Ｌの波長を変更する。かかる構成により、カラー層１３内部におけるレーザ光Ｌの吸収・散乱を抑制して、十分な反射光量を確保できる。
すなわち、光源２１はサンプル１０に照射するレーザ光Ｌについて、カラー層１３に吸収あるいは散乱され難い波長を選択することで、カラー層１３の基材層１１側にあるアルミフレーク１２についても、さらに精度よく検知可能となる。

本実施形態では、粒子感評価装置１００は、複数のアルミフレーク１２を含むカラー層１３のＸＹ方向における所定領域にレーザ光Ｌを照射して反射光Ｌ’を測定する共焦点レーザ顕微鏡２０を有している。
また、粒子感評価装置１００は、反射光Ｌ’を用いて所定領域における複数のアルミフレーク１２のうち最も上層にあるものを基準位置Ｚ_０として、所定領域における複数のアルミフレーク１２の深さ方向Ｚの位置分布を算出する位置情報算出部９１と、を有している。
かかる構成により、カラー層１３内のアルミフレーク１２の深さ方向の位置を特定し、数値化することで、塗装の見え方の定量的な評価を可能とする。

また本実施形態では、位置情報算出部９１は、基準位置Ｚ_０からの深さ方向Ｚの位置分布に基づいて所定の抽出領域を設定し、当該抽出領域内における反射光Ｌ’を用いて位置分布を算出するとともに、当該抽出領域外における反射光Ｌ’を位置分布の算出条件から除外する。
かかる構成により、カラー層１３を除く領域にある異物が位置分布の算出から除外されるから、より精度よく塗装の見え方の定量的な評価を可能とする。

また本実施形態では、共焦点レーザ顕微鏡２０は、共焦点方式の計測によって複数のアルミフレーク１２の基準位置Ｚ_０からの距離を高さデータとして算出する高さ情報算出手段としての機能を有している。
かかる構成により、アルミフレーク１２のカラー層１３内部における分布を、基準位置Ｚ_０からの距離に応じて相対的に評価することが可能となる。

また本実施形態では、位置情報算出部９１は、位置分布を、反射光Ｌ’の反射光量分布データと、共焦点レーザ顕微鏡２０が測定した高さデータと、を用いて算出する。
すなわち、反射光量とＺ方向における位置とにより、粒子感評価装置１００は、アルミフレーク１２のカラー層１３内部における分布を、基準位置Ｚ_０からの距離に応じて相対的に評価する。
かかる構成により、塗装の見え方を定量的に評価する。

以上本発明の好ましい実施の形態について説明したが、本発明はかかる特定の実施形態に限定されるものではなく、上述の説明で特に限定していない限り、特許請求の範囲に記載された本発明の趣旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
例えば、本実施形態では、高さデータを共焦点レーザ顕微鏡を用いて取得するとしたが、その他、塗装の深さ方向において三次元計測可能な手段であれば良く、かかる構成に限定されるものではない。
また、本実施形態では、照射する光の入射方向を塗装面と直交する上下方向すなわちＺ方向として説明したが、斜入射による計測方法であっても良い。

本発明の実施の形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、本発明の実施の形態に記載されたものに限定されるものではない。

１０…サンプル
１１…基材層
１２…光輝材（アルミフレーク）
１３…塗装層（カラー層）
１４…クリア層
２０…測定部（共焦点レーザ顕微鏡）
２１…波長変更手段（光源）
２２…ハーフミラー
２３…検出器
２４…レンズ（集光光学系）
９１…位置情報算出部（位置情報算出手段）
９２…角度算出部（角度算出手段）
１００…粒子感評価装置（計測装置）
Ｚ_０…基準位置

特開２００８−２４６３４７号公報 特許第５２５７１７０号公報

Claims (9)

1. 複数の光輝材を含む塗装層に可視光領域の波長の光を照射して反射光を測定する測定部と、
   前記測定部によって測定された前記反射光を用いて前記複数の光輝材のうち最も上層にあるものを基準位置として、前記複数の光輝材の前記塗装層の深さ方向の位置分布を算出する位置情報算出部と、
   を有する計測装置。
2. 請求項１に記載の計測装置において、
   前記塗装層内における前記光輝材の前記位置分布に基づいて、前記光輝材の角度配向分布を算出する角度算出部を有することを特徴とする計測装置。
3. 請求項１または２に記載の計測装置において、
   前記光の波長を変えるための波長変更手段を有することを特徴とする計測装置。
4. 請求項３に記載の計測装置において、
   前記波長変更手段は、前記塗装層の色情報を元に前記波長を変更することを特徴とする計測装置。
5. 請求項１乃至４の何れか１つに記載の計測装置において、
   前記位置情報算出部は、前記基準位置からの前記深さ方向の位置分布に基づいて所定の範囲を設定し、当該範囲内における前記反射光を用いて前記位置分布を算出するとともに、当該範囲外における前記反射光を前記位置分布の算出条件から除外することを特徴とする計測装置。
6. 請求項１乃至５の何れか１つに記載の計測装置において、
   前記測定部は、共焦点方式の計測によって前記複数の光輝材の前記基準位置からの距離を高さデータとして算出する高さ情報算出手段を有することを特徴とする計測装置。
7. 請求項６に記載の計測装置において、
   前記位置情報算出部は、前記位置分布を、前記反射光の反射光量分布データと、前記高さデータとを用いて算出することを特徴とする計測装置。
8. 複数の光輝材を含む塗装層に光を照射して反射光を測定する測定手段と、
   前記測定手段によって測定された前記反射光を用いて前記光輝材のうち最も上層にあると検出された当該光輝材の位置を基準として、前記光輝材の前記光の入射方向に沿った深さ方向の位置分布を算出する位置情報算出手段と、
   を用いる計測方法。
9. 請求項８に記載の計測方法において、
   前記位置情報算出手段は、前記光輝材の前記基準位置からの距離と、当該光輝材の前記反射光の反射光量とを用いて前記位置分布を算出することを特徴とする計測方法。

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