JP6888872B2 - マグネシウムイオン測定用流体分析装置及びその中の電位差式マグネシウムイオンセンサの較正方法 - Google Patents

Description

本出願は、米国特許法第１１９条（ｅ）に基づき２０１５年９月３０日出願の米国仮出願番号第６２／２３５，００６号の利益を主張するものである。上記の特許出願の全内容は明示的に参照により本明細書に組み込まれる。

病院及び臨床研究施設においてマグネシウムアッセイの需要が高まってきている。イオン化されたマグネシウムの生物学的活性部分を検出することができる堅牢なマグネシウムイオンセンサが、患者の臨床診断の助けとなる場合がある。

既存の商業的及び実験的マグネシウムイオン（Ｍｇ^２＋）センサはイオン化されたマグネシウムの選択性及び／又は特異性に関する問題を有する。一般に、これらのセンサは中性イオノフォアに基づく電位差測定法による検出に基づいている。そのため、これらのセンサの多くは、ｐＨ調整、及び／又は、例えばカルシウムイオン（Ｃａ^２＋）、ナトリウムイオン（Ｎａ^＋）及びカリウムイオン（Ｋ^＋）のような、他の干渉種に起因する選択性の調整を考慮するために、（例えば、アルゴリズム的較正を介した）較正を必要とする場合がある。

各種のイオンに対して、電位差式センサを構成するイオン選択性電極（ＩＳＥ）は異なる応答速度論的パターンを有し、このため、イオン類の異なる選択性及び／又はいずれかの必要なｐＨ調整を考慮するためにＩＳＥを較正しなければ、そのデータは大きく歪曲される。現在、イオン化マグネシウムを測定するための電位差式ＩＳＥ（「ＭｇＩＳＥ」）の較正は、一般に、傾き、切片、及びカルシウムイオンに対するマグネシウムイオンの選択性を特性化する３つの較正試薬を用いたＭｇＩＳＥの較正を包含する。例えば、非特許文献１を参照のこと。

選択係数は、理論上、特定の電極に対して一定のパラメータであり、それに対応して、干渉（即ち「二次」）イオンを凌ぐ一次イオンに対するセンサの優先度を反映することが知られている。選択係数は、また、主に特定のセンサの、これらに限られないが、センサに使用されるイオノフォア、可塑剤及び／又はポリマーマトリクスを始めとする、特徴に依存することも知られている。

ネルンストの式（Ｉ）を使用して一次イオンの濃度を計算することができる。

Ｅは試料（即ち、較正試薬及び／又は品質管理試薬）中の電極の測定起電力（ＥＭＦ）であり、Ｅ^０は一定の電位の寄与であり、ａ_ｉは「Ｉ」（一次イオン）の活量であり、ｚ_ｉは一次イオンＩの電荷であり、及びＲ、Ｔ及びｎは、それぞれ、気体定数、絶対温度（Ｋ）及びその種１モル当たりの電荷キャリアのモル数である。ネルンストの式（Ｉ）を使用する場合、イオン選択性電極は、最大許容誤差１％で、共存する干渉イオンに対して一次イオンの十分な選択性パターンを達成しなければならない。

干渉イオンに対する一次イオンの選択係数は、周知の半実験的なニコルスキ−アイゼンマン（Ｎｉｃｏｌｓｋｙ−Ｅｉｓｅｎｍａｎ）の式（ＩＩ）により誘導することができる。

Ｅは試料（即ち、較正試薬及び／又は品質管理試薬）中の電極の測定起電力（ＥＭＦ）であり、Ｅ^０は一定な電位の寄与であり、Ｋ_ｉｊ ^ｐｏｔは選択係数であり、ｚ_ｉ及びｚ_ｊは一次イオンＩ及び干渉イオンＪの電荷であり、ａ_ｉ及びａ_ｊはＩ及びＪの活量であり、Ｒ、Ｔ及びｎは、それぞれ、気体定数、絶対温度（Ｋ）及びその種１モル当たりの電荷キャリアのモル数である。Ｋ、Ｒ、Ｔ及びｎは、それぞれ、気体定数、絶対温度（Ｋ）及びその種１モル当たりの電荷キャリアのモル数である。

当該分野で周知のように、ＲＴ／ｎｚ_ｉは、ネルンストの式及びニコルスキ−アイゼンマンの式の双方について、しばしば「傾き」と呼ばれる。また、Ｅ^０は、ネルンストの式及びニコルスキ−アイゼンマンの式の双方についてしばしば「オフセット」又は切片と呼ばれる。これらの値は、単一のデータセットについては２つの式の間で交換可能であり、それによって、イオン選択性電極について、少なくとも３つの較正試薬に対する電位測定値並びに各較正試薬内での一次及び干渉イオンに関する既知の値を用いて、２つの特定のイオン（即ち、一次イオン及び干渉イオン）間における選択係数Ｋ^ｐｏｔ _ｉｊを決定することが可能となる。これについては、本明細書で、後に、より詳細に議論する。

Ｅｕｇｓｔｅｒら、「Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ Ｐｒｏｃｅｄｕｒｅ ｆｏｒ Ｉｏｎ−Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ Ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ Ａｓｓａｙｓ ｏｆ Ｍａｇｎｅｓｉｕｍ Ａｃｔｉｖｉｔｙ ｉｎ Ａｑｕｅｏｕｓ Ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ ｏｆ ＰｈｙｓｉｏｌｏｇｉＣａｌ Ｃｏｍｐｏｓｉｔｉｏｎ（生理学的組成物の水溶液におけるマグネシウム活量のイオン選択性電極アッセイのための特性化の手順）」，Ｃｌｉｎ．Ｃｈｅｍ．，３９，８５５−８５９（１９９３）

前述したように、イオン選択性電極が一次イオンに対して干渉イオンを凌ぐ十分な選択性を有する場合、バックグラウンドにおける干渉イオンの変化からの寄与は、１％の許容誤差まで無視することができる。しかしながら、例えば血中のマグネシウムイオン濃度の試験において、マグネシウムイオン選択性電極を適用することは簡単ではない。

現在利用可能な電位差式マグネシウムイオンセンサでは、マグネシウムイオンに対して競合イオンを凌ぐ十分な選択性を有するイオノフォアがないことに起因して、主な二次イオン（即ち、カルシウムイオン）を凌ぐ十分に高い選択性を得ることができない。即ち、血中のマグネシウムイオン濃度を計算するための選択係数Ｋ_{Ｍｇ，Ｃａ} ^ｐｏｔは不安定であり、固体マグネシウムイオンセンサの使用寿命中、変化する。使用寿命は、一般に初期ウェットアップ期間、ウェットアップ後の期間、及び使用寿命終了に近づいた期間を含む。実際、固体マグネシウムイオンセンサの使用寿命の各期間は、例えば内部電解質層の水和、イオン流出プロセス、膜組成物の浸出、及び／又は試料マトリクスの接着の状態を始めとする多くの要因に起因する、それ自体の見かけの選択性パターンを有する。

電位差式マグネシウムイオンセンサの較正のための先行技術に開示された方法は、カルシウムイオンが存在する場合にマグネシウムイオンの濃度を計算するための、この選択係数の不安定な性質を考慮しておらず、そのため、１％の許容誤差範囲を外れた結果を生じ始めるまでの有効期間が３日間程度しかない。このことは、当然、固体マグネシウムイオンセンサの長い使用寿命（約２８日間）の効果を失わせることになる。

従って、電位差式マグネシウムイオンセンサの使用寿命の間中、正確な測定（即ち、１％の誤差範囲）を維持することのできる、使用寿命が延長された電位差式マグネシウムイオンセンサを有する流体分析装置が必要とされている。

当業者が本明細書の主題を作製し及び使用する場合の手助けをするために添付の図面を参照するが、これらの図面は縮尺通りに描くことは意図されていない。また一貫性を保つために、図中で同様の参照番号は同様の要素を指すものとする。明確化のため、各図面において全ての構成要素に符号を付していない場合もある。

本開示による電位差式センサと較正カートリッジとを含有する流体分析装置の代表的な実施形態の概略図を示す。 複数の電位差式センサの代表的な実施形態の、図１の直線２−２に沿った、部分断面図であり、カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極を示している。 図１に示した流体分析装置中で使用される制御システムのブロック図を示す。 電位差式マグネシウムイオンセンサを較正するための代表的なインライン法のフローチャートを示す。 ３つの較正試薬を用いて５０回反復コースに亘って決定された選択係数をグラフで示す。 フル較正法（３つの較正試薬を使用）及び２点較正法（２つの較正試薬及び「ｎ」回反復後のフル較正法により得られる選択係数を使用）によって決定される傾きの収束をグラフで示す。 本明細書に開示され及び／又は特許請求される流体分析装置較正方法を用いて４週間に亘り計算された、固体マグネシウムイオンセンサのオフセットをグラフで示す。 本明細書に開示され及び／又は特許請求される流体分析装置較正方法を用いて４週間に亘り計算された、固体マグネシウムイオンセンサの選択係数及び傾きをグラフで示す。 本明細書に開示され及び／又は特許請求される流体分析装置較正方法を用いて４週間に亘り測定された、３つのマグネシウムイオン濃度を有する３種の品質管理試薬のマグネシウムイオンの量をグラフで示す。 マグネシウムイオン選択性電極について、本明細書に開示され及び／又は特許請求される流体分析装置較正方法を用いて４週間に亘り測定された、未変性血液中のマグネシウムイオン及びカルシウムイオンの量をグラフで示す。

本開示の少なくとも１つの実施形態を詳細に説明する前に、本開示は、特に指定の無い限り、その適用において、以下の説明において記載され又は図面中に例示された構成、実験、例示的データ及び／又は構成要素の配置の詳細に限定されないということを理解されたい。

本開示は、他の実施形態が可能であり、種々の様式で実施され又は実行され得る。本明細書で採用される文節及び用語は、説明を目的としており、限定とみなすべきではないことも、また、理解されたい。

以下の詳細説明は、添付の図面を参照している。異なる図面における同一の参照番号は、同一又は類似の要素を特定し得る。本明細書で特に定義しない限り、本明細書に開示され及び／又は特許請求された発明の概念に関連して使用される科学的及び技術的用語は、当業者によって一般に理解される意味を有するものとする。更に、文脈により特に要求されない限り、単数形の用語は複数形を含み、また、複数形の用語は単数形を含むものとする。本明細書に記述する分析化学、合成有機化学、並びに医学的及び薬学的化学と関連して使用される命名法、及びそれらの化学の実験手順及び技法は、当該技術分野で周知であり通常使用されているものである。

本明細書において言及される全ての特許、公開特許出願及び非特許刊行物は、本明細書に開示され及び／又は特許請求された発明の概念が関係する技術分野の当業者の技術水準を示すものである。本出願のいかなる部分であれ、参照される特許、公開特許出願及び非特許刊行物も、全て、各個々の特許又は刊行物が参照によって組み込まれることが具体的に且つ個々に示されているのと同じ程度において、その全体が参照によって本明細書に明示的に組み込まれる。

本明細書に開示され及び／又は特許請求される流体分析装置及び／又は方法の全ては、本開示に照らして必要以上の実験作業なしに実施及び実行することができる。本明細書に開示され及び／又は特許請求された発明の概念の流体分析装置及び方法を好ましい実施形態に関連して記載したが、流体分析装置及び／又は方法に対し、更に、本明細書に記述される方法の工程又は一連の工程において、本明細書に開示され及び／又は特許請求された発明の概念の概念、精神及び範囲から逸脱することなく、変形形態が適用できることは当業者には明らかであろう。当業者には明らかなこうした同様の置換物及び変形物の全ては、添付の特許請求の範囲に定義される発明の概念の精神、範囲及び概念の範囲内に含まれるとみなされる。

本開示に従って使用される場合、以下の用語は、特に指定の無い限り、以下の意味を有するものと理解すべきである。

単語「ａ」又は「ａｎ」の使用は、特許請求の範囲及び／又は明細書において用語「含有する（ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ）」との組み合わせにおいて使用される場合、「１」を意味するが、「１以上」「少なくとも１」及び「１又は２以上」の意味とも両立する。単数形「ａ」、「ａｎ」及び「ｔｈｅ」は、文脈が明確に指定しない限り複数形の指示対象を含む。従って、例えば、「化合物（ａ ｃｏｍｐｏｕｎｄ）」に対する言及は１以上、２以上、３以上、４以上、又はそれより大きな数の化合物を指す場合もある。用語「複数」は「２以上」を指す。特許請求の範囲における用語「ｏｒ」の使用は、代替物のみである又は代替物が互いに排他的であるということが明確に指示されていない限り、「及び／又は」を意味するために使用されるが、本明細書においては、「代替物のみ」並びに「及び／又は」を指す。本出願に亘り、用語「約」は、ある値が、装置の誤差の固有変動、その数値を決定するために使用される方法、又は研究主題間に存在する変動を含むことを示すために使用される。用語「約」が採用される場合、表示された値は、指定された値から、これに限定されないが例えば±２０％、又は±１０％、又は±５％、又は±１％、又は±０．１％だけ変動する場合があり、こうした変動は開示された方法を行なうのに適切であり、当業者によって理解される。用語「少なくとも１」の使用は、１、並びに、これらに限定されないが、２、３、４、５、１０、１５、２０、３０、４０、５０、１００等を始めとする１よりも大きい任意の量をも含むものと理解される。用語「少なくとも１」はそれが付されている用語によっては１００又は１０００以上に拡張されることもある。また、１００／１，０００の量は限定とみなすべきではなく、より高い限界も良好な結果を生む場合がある。加えて、用語「Ｘ、Ｙ及びＺのうちの少なくとも１つ」の使用はＸのみ、Ｙのみ、及びＺのみ、並びにＸ、Ｙ及びＺのあらゆる組み合わせを含むものと理解されよう。序数詞（即ち、「第１」「第２」「第３」「第４」等）の使用は単に２つ以上の項目を区別する目的でのみ使用され、１つの項目に他の項目を超える何らの順列又は順序又は重要性を付与することを意味せず、例えば何らの添加の順序を意味するものでもない。

本明細書において使用される場合、用語「ｃｏｍｐｒｉｓｅｓ」、「ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ」、「ｉｎｃｌｕｄｅｓ」、「ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ」、「ｈａｓ」、「ｈａｖｉｎｇ」又はそれらのあらゆる他の変形形態は、非排他的包含をカバーすることが意図されている。例えば、特に指定しない限り、要素の列挙を含有する（ｃｏｍｐｒｉｓｅｓ）プロセス、方法、物品又は装置は、必ずしもそれらの要素のみに限定されず、明確に列挙されていない或いはそうしたプロセス、方法、物品又は装置に固有の他の要素を含んで（ｉｎｃｌｕｄｅ）いてもよい。

更に、それに反するように明確に記述されていない限り、「又は」は、包含的論理和を意味し、排他的論理和を意味しない。例えば、条件「Ａ又はＢ」は、以下のうちの１つによって満足される：Ａは真であり（又は存在し）Ｂは偽である（又は存在しない）、Ａは偽であり（又は存在せず）Ｂは真である（又は存在する）、及びＡ及びＢの双方が真である（又は存在する）。

加えて、「ａ」又は「ａｎ」の使用は、本明細書中の実施形態の要素及び構成成分を記述するために採用される。これは、単に便宜上であり発明の概念の一般的な意味を与えるためにのみ行なわれる。この記述は、１以上を含むと読まれるべきであり、それ以外を意味することが自明でない限り、単数形は複数をも含む。更に、用語「複数（ｐｌｕｒａｌｉｔｙ）」の使用は、逆のことが明確に記述されていない限り、「１より大きい」の意味を伝えることを意図する。

本明細書で使用される場合、「一実施形態」「実施形態」「一部の実施形態」「一例」「例えば」又は「例」へのあらゆる言及は、その実施形態に関連して記載される特定の要素、特徴、構造又は特性が少なくとも１つの実施形態に含まれるということを意味する。例えば、本明細書の種々の場所における語句「一部の実施形態では」又は「一例」の出現は、必ずしも全てが、例えば同じ実施形態を指すものではない。

用語「又はそれらの組み合わせ」は、本明細書で使用する場合、その用語に先行して列挙された項目の全ての並べ替え及び組み合わせを指す。例えば、「Ａ、Ｂ、Ｃ、又はそれらの組み合わせ」はＡ、Ｂ、Ｃ、ＡＢ、ＡＣ、ＢＣ、又はＡＢＣの少なくとも１つを含み、及び特定の文脈において順序が重要である場合には、ＢＡ、ＣＡ、ＣＢ、ＣＢＡ、ＢＣＡ、ＡＣＢ、ＢＡＣ、又はＣＡＢもまた含むことが意図される。この例に加えて、ＢＢ、ＡＡＡ、ＡＡＢ、ＢＢＣ、ＡＡＡＢＣＣＣＣ、ＣＢＢＡＡＡ、ＣＡＢＡＢＢ等の１以上の項目又は用語の繰り返しを含有する組み合わせが明らかに含まれる。そうでないことが文脈から明らかでない限り、典型的には、いずれの組み合わせにおいても項目又は用語の数に制限がないことを当業者は理解するであろう。

本明細書で使用する場合、用語「実質的に」は、続けて記載される事象又は状況が完全に起こるか又は続けて記載される事象又は状況が大きな範囲又は程度まで起こると言うことを意味する。例えば、用語「実質的に」は、続けて記載される事象又は状況が少なくとも９０％の時間、又は少なくとも９５％の時間、又は少なくとも９８％の時間起こることを意味する。

本明細書で使用する場合、語句「と関連する」は２つの部位が互いに直接に関連すること及び２つの部位が互いに対して間接的に関連することの両方を含む。関連の例には、これらに限定されないが、直接結合又はスペーサ基を介した結合のいずれかによる１つの部位の他の部位への共有結合、１つの部位の他の部位への直接の又はそれらの部位に結合された特異的な結合対メンバーのいずれかによる非共有結合、１つの部位の他の部位中への溶解、合成、及び１つの部位上へのの他の部位への塗布などによる１つの部位の他の部位への組み込みが含まれる。

用語「試料」は、本明細書で使用する場合、本明細書で開示され及び／又は特許請求される発明の概念に従って利用され得るあらゆる種類の生物学的試料を包含するものと理解されよう。即ち、試料は、如何なる流動的試料及び／又は流動的となり得る試料（例えば、流動的物質と混合された生物学的試料）であってもよい。利用され得る生物学的試料の例としては、全血又はそれらの任意の部分（即ち、血漿又は血清）、唾液、痰、脳脊髄液（ＣＳＦ）、外科的排膿液、皮膚、間質液、涙液、粘液、尿、拭取り検体、組み合わせ等が挙げられるが、それらに限定されない。なお、本開示は生物学的試料を対象にしているが、本明細書に開示される概念は、マグネシウム濃度が決定され得るいずれの試料に適用されてもよく、従って、本開示は生物学的試料に限定されないということを当業者は理解するであろう。

用語「ウェットアップ」は本明細書で使用する場合、流体分析装置中へのセンサの導入から、較正試薬から安定した信号が得られる点までの水和プロセスを指すことが理解されよう。

用語「回収」は、本明細書において単独で又は他の用語と結合して使用される場合（例えば、これらに限定されないが、「品質管理回収」「回収期間」及び「回収率上昇」が挙げられる。）、帰属値又は基準値と比較した分析プロセスの収率を意味するものと理解される。

回路とは、本明細書で使用する場合、アナログ及び／又はデジタル構成要素、又は１つ以上の適切にプログラムされたプロセッサ（例えば、マイクロプロセッサ）及び関連のハードウェア及びソフトウェア、又は配線論理であってよい。また、「構成要素」は１つ以上の機能を実施し得る。用語「構成要素」は、プロセッサ（例えば、マイクロプロセッサ）、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）等のハードウェア、ハードウェアとソフトウェアとの組み合わせ等を含み得る。

ソフトウェアは、１つ以上の構成要素によって実行された場合には、その構成要素に、指定された機能を行なわせる１つ以上のコンピュータ読み取り可能な支持を含み得る。本明細書で記載されるアルゴリズムは１つ以上の非一時的メモリ上に保存され得ることを理解すべきである。例示的な非一時的メモリには、ランダムアクセスメモリ、リードオンリーメモリ、フラッシュメモリ等が含まれ得る。こうした非一時的メモリは、電気系、光学系等であってよい。

本明細書で使用する場合、用語「ユーザ」は、人間に限定されず、例えば、コンピュータ、サーバ、ウェブサイト、プロセッサ、ネットワークインターフェース、ヒト、ユーザ端末、バーチャルコンピュータ、これらの組み合わせ等を含み得ることを更に理解されたい。

用語「較正情報」は、本明細書で使用する場合、初期３点較正（即ち「フル較正」）において決定される、ネルンストの式又はニコルスキ−アイゼンマンの式の傾き、オフセット及び／又は選択係数のうちの１以上を指し得る。

用語「較正論理」は、本明細書で使用する場合、１つ以上のイオン選択性電極によって測定されたデータを解釈するために制御システム内のプロセッサによって使用されるプログラム論理を指す。特に、用語「較正論理」は、初期３点較正（即ち「フル較正」）のためにマグネシウムイオン選択性電極からのデータを解釈するためにプロセッサによって使用される制御システムのプログラム論理を対象とする。

用語「再較正」情報とは、本明細書で使用する場合、初期３点較正の後に続く３点較正、２点較正又は１点較正のいずれかから誘導される情報を使用してネルンストの式又はニコルスキ−アイゼンマンの式を用いて決定される傾き、オフセット及び／又は選択係数のうちの１以上を指し得る。

用語「再較正論理」もまた、本明細書で使用する場合、１つ以上のイオン選択性電極によって測定されたデータを解釈するために制御システム内のプロセッサによって使用されるプログラム論理を指す。特に、用語「再較正論理」は、初期３点較正の後の追加の３点較正、１点較正及び２点較正（本明細書中で更に定義する。）のためにマグネシウムイオン選択性電極からのデータを解釈するためにプロセッサによって使用される制御システムのプログラム論理を対象とする。

ここで図面、特に図１を参照すると、較正カートリッジ１２と組み合わされた流体分析装置１０の代表的な実施形態の実例がそこに示されている。流体分析装置１０は、一般に、複数の電位差式センサ１４を含有する。複数の電位差式センサ１４は、複数の電位差式センサ１４の少なくとも一部を支持し及び／又は包含するハウジング１６を具備してよい。

前記複数の電位差式センサ１４は、一般に、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２を含有する。一実施形態では、干渉イオン選択性電極１８は、試料溶液、品質管理試薬及び／又は較正試薬内のイオン化カルシウム種の濃度を定量的に測定することができる膜系のカルシウムセンサを一般に含有する、カルシウムイオン選択性電極であり、一次イオン選択性電極２０は、試料溶液、品質管理試薬及び／又は較正試薬内のイオン化マグネシウム種の濃度を定量的に測定することができる膜系のマグネシウムセンサを一般に含有する、マグネシウムイオン選択性電極である。

加えて、前記複数の電位差式センサ１４は、試料溶液、品質管理試薬及び／又は較正試薬内の他の種を感知するための１つ以上の追加の電極（図示せず）を具備してよい。前記複数の電位差式センサ１４の例としては、これらに限定されないが、カリウムイオン（Ｋ^＋）、ナトリウムイオン（Ｎａ^＋）、重炭酸イオン（ＨＣＯ_３ ⁻）及び／又はｐＨレベルを始めとする他の種を感知するためのイオン選択性電極が挙げられる。一実施形態では、１つ以上の参照電極２２は、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び／又は追加の電極（図示せず）の下流に位置する。

図１を参照すると、流体分析装置１０は、流体流路２４を含有し、それによって、試料、品質管理試薬及び／又は較正試薬等の流体が流体流路２４を通って複数の電位差式センサ１４と接触することができる。ここで図１及び２を参照すると、一実施形態では、試料、品質管理試薬及び／又は較正試薬は、流体流路２４を通って、電位差式センサ１４を支持し及び／又は包含するハウジング１６によって画定される１つ以上のウェル２６に流入してよい。一部の実施形態では、１つ以上の参照電極２２は１つ以上の流体流路２４及び／又はハウジング１６の１つ以上のウェル２６中に位置してよい。一部の実施形態では、１つ以上の参照電極２２は、１つ以上の流体流路２４中に位置してもよいが、いずれのウェル２６内にも配置されていなくてもよい。

試料、品質管理試薬及び／又は較正試薬は、駆動装置２８によって得られる駆動力によって流体流路２４を流れてもよい。駆動力２８としては、これらに限定されないが、毛管力、圧力、重力、真空、電気運動等が挙られる。駆動力は、特に限定されないが、例えばポンプによって与えられてもよい。

一部の実施形態では、流体流路２４を介して試料を電位差式センサ１４に送達するための溶液として、溶媒を使用してもよい。一部の実施形態では、溶媒が流体流路２４を介して試料を電位差式センサ１４に送達してもよく、その後、溶媒は蒸発してもよい。溶媒の蒸発によって、特定の電極、例えば、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０、及び１つ以上の参照電極２２、の表面上で１以上の膜が硬化されてもよい。試料は、試料注入口３０を介して流体流路２４に導入されてもよい。試料注入口３０は、手動で又は機械的に開閉して試料の流体流路２４への流入を許容し及び／又は防止することができる３２と連通されてよい。試料は、手動又は機械により試料注入口３０に注入され得る。

一部の実施形態では、流体流路２４は中空の流路であってよい。或いは、流体流路２４の一部及び／又は全体に、キャリア材料が充填されていてもよい。例えば、一部の実施形態では、流体流路２４の一部及び／又は全体にろ紙、ゲル及び／又はビーズが充填されていてもよい。流体流路２４は、また、試料、較正試薬、及び／又は品質管理試薬が、複数の電位差式センサ１４の少なくとも１つ、好ましくは全てと接触した後、流体流路２４を出るための、廃液出口３４を含有していてもよい。

図２を参照すると、一実施形態では、流体流路２４は、試料を１つ以上のウェル２６（そのうち３つが２６−１、２６−２及び２６−３と符号付けされている。）に送達してもよい。ウェル２６の各々は、例えば、これらに限定されないが、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２を始めとする電位差式センサ１４の１つと交差してもよい。一部の実施形態では、ウェル２６のうちの１つが、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２から成る群から選択される２つ、３つ又はそれ以上の電極と交差してもよい。例えば、図２には示していないが、単一のウェル２６内に２つ以上の電位差式センサ１４が位置していてもよい。一部の実施形態では、１つ以上の電位差式センサ１４が、流体流路２４内のみに位置し、ウェル２６内には位置していなくてもよい。

一部の実施形態では、ウェル２６の各々は、例えば、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２を始めとする少なくとも１種の電極を囲うような形状となされていてよい。一部の実施形態では、ウェル２６の各々の大きさ及び／又は形状は、各導電性電極のための電気活性面積の影響、膜分配のための付着容積の影響及び／又は膜構成要素の封じ込めに基づいて形成されてよい。例えば、ウェル２６の大きさ及び形状は、本明細書で論じられる膜構成要素の移動及び／又は干渉が最小化され得るように、決定されてよい。

一部の実施形態では、ウェル２６は中空の流路である。或いは、ウェル２６の一部及び／又は全体にキャリア材料が充填されていてもよい。例えば、一部の実施形態では、ウェル２６の一部及び／又は全体に、ろ紙、ゲル及び／又はビーズが充填されていてもよい。一部の実施形態では、ウェル２６及び流体流路２４に充填するために同じ材料を使用してよい。或いは、ウェル２６及び流体流路２４を充填するのに異なる材料を使用してもよい。

一部の実施形態では、ハウジング１６は、積層体３６を含んでよい。１つ以上のウェル２６は、積層体３６内に形成されてもよい。積層体３６は、これらに限定されないが、プラスチック、セラミック、ガラス等を始めとする誘電材料で形成されてよい。一部の実施形態では、積層体３６がパターン化されて１つ以上の参照電極２２と交差するウェル２６の一部を形成してもよく、また、ウェル２６は、積層体３６を部分的に除去することによって形成されてもよい。或いは、ウェル２６は、その中に各ウェル２６が賦形された鋳型を介して形成されても、また、各ウェル２６の周りの基材に材料を堆積することによって形成されてもよい。

ハウジング１６は、また、基材３８を含有していてもよく、基材３８は、その表面上に、例えば、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２を始めとする電極を受容するように物理的に構成されていてもよい。一部の実施形態では、基材３８は剛性の材料で形成されてよい。或いは、基材３８又は基材３８の一部は、可撓性の材料で形成されてもよい。

基材３８は、これらに限定されないが、プラスチック、セラミック、ガラス及び／又は任意の材料を含む電極を収容できる材料で形成されてよい。例えば、一部の実施形態では、基材３８はポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）で形成されてもよい。

例えば、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２を始めとする複数の電位差式センサ１４のための電極は、導電層４０を含んでいてよい。導電層４０は、これらに限定されないが、炭素、銀、塩化銀、金、白金、パラジウム等を始めとする任意の好適な導電性材料で形成されてよい。導電層４０は、電位差式センサ１４の作製に関連してハウジング１６に対し、スパッタリング、電気メッキ、スクリーン印刷、インクジェット印刷され、及び／又は導電性材料を適用可能ないずれかの他の手法で堆積されてよい。

一部の実施形態では、導電層４０は、例えば干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２が追加の電極とともに載置されることになる１つ以上のウェル２６を画定する積層体３６を有する裏打ち材上に、金スパッタリングされた金属フィルムをレーザーアブレーションすることによって形成されてもよい。或いは、一部の実施形態では、導電層４０は、ハウジング１６内の炭素を局在化させることにより形成されてもよい。図１及び図２に図示されるように、これらに限定されないが、例えば干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２を始めとする電極は、メータ４４に接続するためのリード４２を有していてよい。

一般に、メータ４４は、試料、品質管理試薬及び／又は較正試薬等の１つ以上の被検体を含む流体と接触している干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２によって生成される信号を受信し、その信号を前記流体中の前記１つ以上の被検体の電位を示す情報へと変換する。被検体の例としては、限定するものではないが、例えばマグネシウムイオン、カルシウムイオン、カリウムイオン及び／又はナトリウムイオンのような生物試料中に一般に見られるイオン、酸素分圧（ｐＯ _２ ）、グルコース及び／又はラクテートが挙げられる。一実施形態では、干渉イオン選択性電極１８がカルシウムイオン選択性電極であり、一次イオン選択性電極２０がマグネシウムイオン選択性電極である場合、メータ４４は、参照電極２２のうちの１つと干渉イオン（例えば、カルシウムイオン）選択性電極１８との間の電位及び参照電極２２のうちの１つと一次イオン（例えば、マグネシウムイオン）選択性電極２０との間の電位を読み取ることのできるＥＭＦメータとなる。

別の実施形態では、電位差式センサ１４のうちの１つ以上によって測定される被検体がマグネシウムイオン及び／又はカルシウムイオンでない場合、メータ４４は、当業者には既知であろういずれかの適切なリーダ（読み取り装置）とすることができる。例えば、ナトリウムイオン選択性電極及び参照電極２２のうちの１つのためのメータ４４は、電圧メータ及び／又はｐＨメータのうちの少なくとも１つとすることができる。

一部の実施形態では、流体分析装置１０は、これらに限定されないが、例えば、酸素分圧（ｐ０２）、グルコース及び／又はラクテートを始めとする追加の被検体のための測定値を得るために、流体流路２４と連通する両性センサ（図１に図示せず）を具備してもよい。前記両性センサは、メータ４４への接続のためのリード４２を具備してもよい。

一部の実施形態では、流体分析装置１０は、流体流路２４と流体連通していてよい１つ以上の較正試薬注入口４６−１、４６−２及び４６−３を更に含んでよい。較正試薬注入口４６は、また、手動で又は機械的に開閉して、１つ以上の較正試薬の流体流路２４への流入を許容し及び／又防止することができるバルブ４８−１、４８−２及び４８−３と連通していてもよい。バルブ４８−１、４８−２及び４８−３は、好適な制御信号の受信に応じて開閉することができる自動バルブとすることができる。

一部の実施形態では、１つ以上の較正試薬注入口４６−１、４６−２及び４６−３は、１つ以上の較正試薬を含有する較正カートリッジ１２と流体連通することができる。

一実施形態では、較正カートリッジ１２は、これらに限定されないが、例えばマグネシウムイオン（Ｍｇ^２＋）、カルシウムイオン（Ｃａ^２＋）及び場合によっては、ナトリウムイオン（Ｎａ^＋）及び／又はカリウムイオン（Ｋ^＋）を始めとする異なる既知の量のイオンを有する少なくとも３つの較正試薬を含む少なくとも３つのリザーバ５０−１、５０−２及び５０−３を含有する。３つのリザーバ５０−１、５０−２及び５０−３は、一実施形態では、１つ以上の較正試薬注入口４６−１、４６−２及び４６−３に対応する少なくとも３つのポートを有する較正カートリッジ１２内に収容された３つの個別の袋であってよい。

非限定的な一実施形態では、較正カートリッジ１２は、３つの較正試薬を含み、各較正試薬が、３つのリザーバ５０−１、５０−２及び５０−３のうちの１つに収容される。一実施形態では、少なくとも３つの較正試薬の各々が、（ａ）マグネシウムイオンを約０．１ｍＭ〜約１．５ｍＭの範囲の濃度で、及び（ｂ）カルシウムイオンを約０．２ｍＭ〜約２．０ｍＭの範囲の濃度で、含む。一実施形態では、少なくとも３つの較正試薬の各々についてのマグネシウムイオン及びカルシウムイオンは、マグネシウムイオンについては約０．１〜約１．５ｍＭの範囲内で、カルシウムイオンについては約０．２〜約２．０ｍＭの範囲内で、互いに異なる濃度で存在する。

再び図１を参照すると、メータ４４、駆動装置２８並びにバルブ３２、４８−１、４８−２及び４８−３は、信号経路５４を経由して制御システム５２と通信してよい。図１に示すように、信号経路５４は、特に限定されないが、例えば、メータ４４によって生成されるデータを制御システム５２へ、並びに／又は、制御システム５２からの情報、信号、コマンドをバルブ３２、４８−１、４８−２及び４８−３へ、電子的形態で及び／又は本明細書で詳述するようなネットワークを介して輸送する１つ以上のケーブルであってよい。制御システム５２は、本明細書で記述されるプロセスの論理を具現化し及び／又は実行することができる１つ以上のシステムであってよい。ソフトウェアコマンド及び／又はファームウェアの形態で具現化される論理は、いずれかの適切なハードウェア上で実行されてよい。例えば、ソフトウェアコマンド及び／又はファームウェアの形態で具現化される論理は、専用の１つ以上のシステム上、パソコンシステム上、分散処理コンピュータシステム上等で実行されてよい。一部の実施形態では、論理は単一のコンピュータシステム上で作動するスタンドアローン環境において実施されてよく、及び／又は、論理は、複数のコンピュータ及び／又はプロセッサを用いる分散システムのようなネットワーク環境中で実施されてもよい。

一実施形態では、１つ以上の品質管理試薬（図示せず）を含有するカートリッジは、流体流路２４と流体連通している１つ以上の品質管理試薬注入口（図示せず）と流体連通できる。一実施形態では、前記品質管理試薬注入口（図示せず）は、１つ以上の品質管理試薬バルブ（図示せず）と流体連通でき、それによって前記品質管理試薬バルブ（図示せず）は手動で又は機械的に開閉して、品質管理試薬の流体流路２４への流入を許容し及び／又は防止することができる。前記品質管理試薬バルブ（図示せず）は、好適な制御信号を受信して開閉することができる自動バルブとすることができる。

図３には、制御システム５２のブロック図が示されており、このブロック図は、共働して又は独立に作動してプロセッサ実行可能コードを実行する１つ以上のプロセッサ５６（以下「プロセッサ５６」という。）、プロセッサ実行可能コードを格納できる１つ以上のメモリ５８（以下「メモリ５８」）、１つ以上の入力装置６０（以下「入力装置６０」という。）、及び１つ以上の出力装置６２（以下「出力装置６２」という。）を含んでよい。

制御システム５２の各要素は、部分的に又は完全にネットワーク系であるか又はクラウド系であってよく、また、単一の物理的な位置に位置していても位置していなくてもよい。一部の実施形態では、プロセッサ５６は、ネットワークを介してメータ４４、駆動装置２８、並びに／又は、１つ以上のバルブ３２、４８−１、４８−２及び４８−３と通信してよい。本明細書で使用する場合、用語「ネットワーク系」、「クラウド系」及びそれらの任意の変形形態は、オンデマンドで構成可能な計算資源に、コンピュータ及び／又はコンピュータネットワークとの相互作用を介して、少なくとも部分的に前記コンピュータ及び／又はコンピュータネットワーク上に位置するソフトウェア及び／又はデータを提供することを含むことが意図されている。ネットワークは、プロセッサ５６と の間の情報及び／又はデータの双方向通信を可能にし得る。前記ネットワークは、プロセッサ５６やメータ４４、駆動装置２８、並びに／又は、１つ以上のバルブ３２、４８−１、４８−２及び４８−３と様々な態様で相互作用し得る。ネットワークは、これらに限られないが、例えば、光学及び／又は電子インターフェースによって相互作用してもよく、及び／又は、イーサネット（登録商標）、ＴＣＰ／ＩＰ、回路交換パス、これらの組み合わせ等を始めとする複数のネットワークトポグラフィ又はプロトコルを用いてもよい。例えば、一部の実施形態では、前記ネットワークは、ワールドワイドウェブ（即ちインターネット）、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、広域ネットワーク（ＷＡＮ）、メトロポリタンネットワーク、無線ネットワーク、セルラネットワーク、ＧＳＭ（登録商標）ネットワーク、ＣＤＭＡネットワーク、３Ｇネットワーク、４Ｇネットワーク、衛星ネットワーク、ラジオネットワーク、光学ネットワーク、ケーブルネットワーク、公衆交換電話ネットワーク、イーサネットネットワーク、これらの組み合わせ等として実装されてよい。加えて、前記ネットワークは、種々のプロトコルを用いて、プロセッサ５６とメータ４４、駆動装置２８、及び／又は１つ以上のバルブ３２、４８−１、４８−２及び４８−３との間のデータ及び／又は情報の双方向相互作用及び／又は通信を可能にしてよい。

一部の実施形態では、前記ネットワークはインターネット及び／又は他のネットワークであってよい。例えば、ネットワークがインターネットである場合、制御システム５２の一次ユーザインターフェースが一連のウェブページ（例えば、ｐＨ及び／又はＭｇ^２＋濃度決定ウェブページ）を通して送達されてもよい。なお、制御システム５２の一次ユーザインターフェースは、また、これに限らないが、ウィンドウズ（登録商標）系アプリケーションを始めとする他のタイプのインターフェースであってもよい。

プロセッサ５６は、共同して又は独立して作動して本明細書に記述されるような論理を実行する単一のプロセッサ又は複数のプロセッサとして実装されてよい。或る実施形態では、２つ以上のプロセッサ５６を用いる場合、プロセッサ５６は、互いに離れて位置していても、同じ場所に位置していても、又はユニタリーマルチコアプロセッサを含んでいてもよいということを理解すべきである。プロセッサ５６は、プロセッサ実行可能コードを読み取り及び／又は実行することが可能であってよく、及び／又はデータ構造を、作製し、操作し、復旧し、変更し及び／又はメモリ５８に格納することが可能であってよい。

プロセッサ５６の代表的な実施形態の例としては、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）、中央処理装置（ＣＰＵ）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、マイクロプロセッサ、マルチコアプロセッサ、これらの組み合わせ等を挙げてよいがこれらに限定されない。一部の実施形態では、追加のプロセッサ５６として、例えばパソコン、携帯電話、スマートフォン、ネットワーク対応テレビセット、テレビセットトップボックス、タブレット、電子書籍リーダ、ラップトップコンピュータ、デスクトップコンピュータ、ネットワーク対応携帯型デバイス、ビデオゲーム機、サーバ、デジタルビデオレコーダ、ＤＶＤプレーヤ、ブルーレイプレーヤ、及び／又はこれらの組み合わせとしての実装を挙げてよいがこれらに限定されない。

プロセッサ５６は、パス（例えば、データバス）を介してメモリ５８と通信可能であってよい。プロセッサ５６は、また、入力装置６０及び／又は出力装置６２を通信可能であってよい。

プロセッサ５６は、メータ４４、駆動装置２８、及び／又は１つ以上のバルブ３２、４８−１、４８−２及び４８−３と相互作用及び／又は通信可能であってよい。例えば、プロセッサ５６は、ネットワークプロトコルを用いて信号（例えば、アナログ、デジタル、光学等）を交換することによって通信可能であってよい。

メモリ５８は、プロセッサ実行可能コードを格納可能であってよい。加えて、メモリ５８は、例えば、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ハードドライブ、ソリッドステートドライブ、フラッシュドライブ、メモリカード、ＤＶＤ−ＲＯＭ、フロッピディスク、光学ドライブ、これらの組み合わせ等の従来の非一時的メモリとして実装されてよい。

一部の実施形態では、メモリ５８は、プロセッサ５６と同じ物理的な場所に位置してもよく、及び／又はメモリ５８はプロセッサ５６から離れて位置していてもよい。例えば、メモリ５８は、プロセッサ５６から離れて位置し、且つネットワークを介して他のプロセッサと通信してもよい。加えて、２つ以上のメモリ５８が使用される場合、第１のメモリがプロセッサ５６と同じ物理的な場所に位置し、追加のメモリ５８がプロセッサ５６から離れた物理的場所に位置していてもよい。加えて、メモリ５８は、「クラウドメモリ」として実施されてもよい（即ち、１つ以上のメモリ５８が部分的に又は完全にネットワークに基づいているかネットワークを使用してアクセスされてよい）。

入力装置６０は、ユーザ及び／又はプロセッサ５６からの情報入力を受信可能であってよく、そうした情報をプロセッサ５６、ネットワーク、及び／又はメータ４４、駆動装置２８、及び／又は１つ以上のバルブ３２、４８−１、４８−２、４８−３に送信可能であってもよい。入力装置６０としては、例えば、キーボード、タッチスクリーン、マウス、トラックボール、マイクロフォン、指紋リーダ、赤外線ポート、スライドアウトキーボード、フリップアウトキーボード、携帯電話、ＰＤＡ、ビデオゲームコントローラ、リモコン、ファックス機、ネットワークインターフェース、これらの組み合わせ等としての実装を挙げてよいがこれらに限定されない。

出力装置６２は、ユーザ及び／又はプロセッサ５６によって認知できる形態で情報を出力可能であってよい。例えば、出力装置６２としては、例えば、コンピュータモニタ、スクリーン、タッチスクリーン、スピーカ、ウェブサイト、テレビセット、スマートフォン、ＰＤＡ、携帯電話、ファックス機、プリンタ、ラップトップコンピュータ、これらの組み合わせ等としての実装を挙げてよいがこれらに限定されない。幾つかの代表的な実施形態では、入力装置６０及び出力装置６２は、例えば、タッチスクリーン又はタブレット等の単一装置として実装されてよいということを理解すべきである。本明細書で使用する場合、用語ユーザは人間に限定されず、例えば、コンピュータ、サーバ、ウェブサイト、プロセッサ、ネットワークインターフェース、ヒト、ユーザ端末、バーチャルコンピュータ、これらの組み合わせ等を含んでよいということを更に理解すべきである。

メモリ５８は、１つ以上のデータベース及び／又はデータテーブル６４を含むプロセッサ実行可能コード及び／又は情報、並びにプログラム論理６６（本明細書では「較正論理」ともいう。）を格納してよい。一部の実施形態では、プロセッサ実行可能コードは、例えばデータベース及び／又はデータテーブル６４等のデータ構造として、格納されてよい。一部の実施形態では、メータ４４、駆動装置２８、及び／又は１つ以上のバルブ３２、４８−１、４８−２、４８−３の出力は、メモリ５８内の１つ以上のデータベース及び／又はデータテーブル６４に格納されてよい。図４は、プロセッサ５６を較正して、流体分析装置１０中の一次イオン選択性電極２０からの信号を、これに限られないが２８日超を始めとする時間間隔内の時点において、適切に解釈する代表的な方法のフローチャート６８を示している。本明細書に含まれる１つ以上の実施例に示したように較正工程を実施する順序について、他の方法が想定されてもよい。較正は時間管理基準で行なうことができる。特に、フローチャート６８は、時間管理基準で流体分析装置１０のマグネシウムイオン選択性電極を較正するための代表的な方法を示しており、この方法では、図１に示されているようにマグネシウムイオン選択性電極が一次イオン選択性電極２０であり、干渉イオン選択性電極１８がカルシウムイオン選択性電極であり、流体分析装置１０のプロセッサ５６は、固体マグネシウムイオンセンサの使用寿命（即ち、少なくともおよそ２８日間）に亘り、例えば血液試料中の、マグネシウムイオン濃度を正確及び精密に測定することができる。

工程７０では、第１の期間において、第１の較正試薬（「Ｃａｌ Ａ」）、第２の較正試薬（「Ｃａｌ Ｂ」）及び第３の較正試薬（「Ｃａｌ Ｃ」）を含む少なくとも３つの較正試薬が１つ以上の較正試薬注入口４６−１、４６−２及び４６−３を介して流体分析装置１０に順次、に提供されてよい。一実施形態では、第１の期間は、固体マグネシウムイオンセンサのウェットアップ期間の開始であり得る時間＝０に始まる。

一実施形態では、第１の較正試薬（「Ｃａｌ Ａ」）は較正試薬注入口４６−１と流体連通し、第２の較正試薬（「Ｃａｌ Ｂ」）は較正試薬注入口４６−２と流体連通し、第３の較正試薬（「Ｃａｌ Ｃ」）は較正試薬注入口４６−３と流体連通する。上述したように、３つの較正試薬は、較正試薬注入口４６−１、４６−２及び４６−３に対応する少なくとも３つのポートを有する３つのリザーバ５０−１、５０−２、５０−３を含有する較正カートリッジ１２内に収容され得る。

少なくとも３つの較正試薬、Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃは、また、バルブ４８−１、４８−２及び４８−３によって流体分析装置１０に制御可能に導入されてよい。これらのバルブは、プロセッサ５６によって手動で開閉又は自動で開閉されてよい。一実施形態では、バルブ４８−１、４８−２及び４８−３は、１つ以上の信号経路５４に沿って制御システム５２から適切なバルブ４８−１、４８−２及び４８−３へと送信されるコマンドを示す一時的又は非一時的信号を介して、自動で開閉される。制御システム５２のプロセッサ５６は、メモリ５８を有してよく、メモリ５８には、バルブ４８−１、４８−２及び４８−３を自動で開き及び／又は閉じるための制御システム５２からのコマンドを示す一時的又は非一時的信号を送るための時間管理基準に関するプロセッサ実行可能コードが格納されてよい。

３つの較正試薬注入口４６−１、４６−２及び４６−３全ては、バルブ４８−１、４８−２及び４８−３によって流体流路２４と流体連通し得る。

流体分析装置１０中に順次、導入されるＣａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬は、駆動装置２８によって提供される駆動力によって、流体流路２４を通って流れてよい。駆動力２８としては、これらに限定されないが、毛管力、圧力、重力、真空、電気運動等を挙げることができる。駆動力２８は、これに限定されないが、例えばポンプによって提供されてよい。Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬は、流体流路２４を通って流れてよく、それにより、各較正試薬は、干渉イオン選択性電極１８、一次イオン選択性電極２０及び１つ以上の参照電極２２を含む複数の電位差式センサ１４と接触する。一実施形態では、干渉イオン選択性電極１８は、カルシウムイオン選択性電極であり、及び一次イオン選択性電極２０は、マグネシウムイオン選択性電極である。

一実施形態では、駆動装置２８は、１つ以上の信号経路５４に沿って制御システム５２から駆動装置２８に送信されるコマンドを示す一時的又は非一時的信号を介して１つ以上のバルブ４８−１、４８−２及び４８−３が開放されるのに先立ち又はそれと同時に、自動係合（即ち、電源投入）されてよい。制御システム５２のプロセッサ５６は、メモリ５８を有してよく、メモリ５８には、バルブ４８−１、４８−２及び４８−３が開かれるのに先立ち又はそれと同時に駆動装置２８を自動的に係合させるための制御システム５２からのコマンドを示す一時的又は非一時的信号を送るための時間管理基準に関するプロセッサ実行可能コードが格納されてよい。

工程７２において、Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬によって順次、接触される複数の電位差式センサ１４は、該センサ中のイオン選択性電極１８及び２０と１つ以上の参照電極２２との間に、前記少なくとも３つの較正試薬の各々に対して電位を生成し、これらの電位は、メータ４４によって検出し測定することが可能である。メータ４４によって測定される電位は、一時的又は非一時的信号を介して、メータ４４から１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へ送信され得る。

一実施形態では、複数の電位差式センサ１４は、Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬によって順次、接触されるカルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び１つ以上の参照電極２２を含む。各較正試薬について、（ｉ）カルシウムイオン選択性電極と１つ以上の参照電極２２との間の電位差及び（ｉｉ）マグネシウムイオン選択性電極と１つ以上の参照電極２２との間の電位差は、メータ４４、特に１つ以上のＥＭＦメータ、によって、個々に検出し測定することができる。ＥＭＦメータによって測定される電位は、一時的又は非一時的信号を介して、そこから１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へと送信され得る。

メータ４４によって測定され、一時的又は非一時的信号として１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へと送信された電位は、制御システム５２内のメモリ５８に格納され得る。

［３点較正（「フル較正」）］
工程７４では、制御システム５２のプログラム論理６６を用いて、プロセッサ５６（本明細書では、第１の３点較正については「較正論理」、及びそれに続く任意の３点較正については「再較正論理」ともいう。）は、プロセッサ５６がマグネシウムイオン選択性電極からのデータを１つ以上の参照電極２２からのデータに対比して解釈する方法を較正してよく（本明細書では「マグネシウムイオン選択性電極を較正する」ともいう。）、この較正は、例えば、制御システム５２内のメモリ５８に格納されていてよい較正試薬の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度に照らして、Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬についてメータ４４によって測定された電位を用いることによって行なわれる。少なくとも３つの較正試薬についての前記既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度は、１つ以上の入力装置６０を介して制御システム５２に入力され、及びメモリ５８に格納されてよい。

一実施形態では、制御システム５２のプログラム論理６６を用いて、プロセッサ５６は、以下の（ｉ）〜（ｉｉｉ）を用いて（ここで、（ｉ）〜（ｉｉｉ）の全ては、例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納されていてよい。）マグネシウムイオン選択性電極の傾き、オフセット及び選択係数を計算することによって、マグネシウムイオン選択性電極を較正する。（ｉ）Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬についてメータ４４によって測定された電位、（ｉｉ）較正試薬中の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度、（ｉｉｉ）ネルンストの式及びニコルスキ−アイゼンマンの式。本明細書で使用する場合、用語「較正情報」とは、ネルンストの式又はニコルスキ−アイゼンマンの式の傾き、オフセット及び／又は選択係数のうちの１以上を指してよい。

以下の（ｉ）〜（ｉｉｉ）を用いてマグネシウムイオン選択性電極を較正するプログラム論理６６の１つの非限定例を以下に示す：（ｉ）Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬についてメータ４４によって測定された電位、（ｉｉ）較正試薬中の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度、（ｉｉｉ）ネルンストの式及びニコルスキ−アイゼンマンの式。ここで、（ｉ）〜（ｉｉｉ）の全ては、例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納されていてよい。

先ず、ネルンストの式の傾き（Ｓｌｏｐｅ １）は、以下のように計算され得る。

「Ｅ_{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されたＣａｌ Ａ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｅ_{Ｃａｌ Ｃ}」は、Ｃａｌ Ｃがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ｃ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａ１ Ａ}」はＣａｌ Ａ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ｃ}」はＣａｌ Ｃ中の既知のマグネシウムイオン濃度である。傾き（即ち、「傾き１」）は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

第２に、算出された傾き（Ｓｌｏｐｅ １（「傾き１」））を用いて、ネルンストの式のオフセット（Ｏｆｆｓｅｔ １）が以下のように計算され得る。

「Ｅ_{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ａ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、及び「傾き１」は第１工程で算出されたネルンストの式の傾きである。オフセット（即ち、「オフセット１」）は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

第３に、第１の２工程から算出されたネルンストの式の傾き（「傾き１」）及びオフセット（「オフセット１」）を用いて、ニコルスキ−アイゼンマンの式の選択係数（「Ｓｅｌ １」）が「反復＃１」を介して以下のように計算され得る。

「Ｅ_{Ｃａｌ Ｂ}」は、Ｃａｌ Ｂがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ｂ中のマグネシウムイオンの電位であり、「オフセット１」及び「傾き１」は第１の２工程で算出されたネルンストの式のオフセット及び傾きの値であり、「Ｅ_{Ｃａｌ Ｃ}」は、Ｃａｌ Ｃがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ｃ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ｂ}」はＣａｌ Ｂ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ｃ}」はＣａｌ Ｃ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｃａ^２＋ _{Ｃａｌ Ｂ}」はＣａｌ Ｂ中の既知のカルシウムイオン濃度であり、「Ｃａ^２＋ _{Ｃａｌ Ｃ}」はＣａｌ Ｃ中の既知のカルシウムイオン濃度である。選択係数（即ち、「Ｓｅｌ １」）は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

次に、傾き、オフセット及び選択性の値が、第ｎ番目の選択係数（「Ｓｅｌ Ｎ」）が得られるまで、「反復＃２」において下記に例示したようにして「ｎ」回に亘り反復計算され得る。制御システム５２のプログラム論理６６を行なうプロセッサ５６によって行なわれる反復計算の一例を下記に示すが、この例では、予め決定された傾き１、オフセット１、及びＳｅｌ １とともに、（ｉ）Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬についてメータ４４によって測定された電位、（ｉｉ）較正試薬中の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度、及び（ｉｉｉ）ネルンストの式及びニコルスキ−アイゼンマンの式を用いており、それらの全ては例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納され得る。

反復＃２

第２の傾き値（「傾き２」）はニコルスキ−アイゼンマンの式と第１の計算セットから算出された選択係数、即ち「Ｓｅｌ １」とを用いて計算され得る。詳細には、傾き２（Ｓｌｏｐｅ ２）は、以下のように計算され得る。

「Ｅ_{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ａ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｅ_{Ｃａｌ Ｃ}」は、Ｃａｌ Ｃがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ｃ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ｂ}」はＣａｌ Ｂ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｓｅｌ １」は上記で算出された選択係数であり、「Ｃａ^２＋ _{Ｃａｌ Ａ}」はＣａｌ Ａ中の既知のカルシウムイオン濃度であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ｃ}」はＣａｌ Ｃ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｃａ^２＋ _{Ｃａｌ Ｃ}」はＣａｌ Ｃ中の既知のカルシウムイオン濃度である。傾き（即ち、「傾き２」）は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

第２のオフセット値（「オフセット２」）は、ニコルスキ−アイゼンマンの式並びに「傾き２」及び「Ｓｅｌ ｌ」を用いて計算され得る。詳細には、オフセット２（Ｏｆｆｓｅｔ ２）は、以下のように計算され得る

「Ｅ_{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ａ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ｂ}」はＣａｌ Ｂ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｃａ^２＋ _{Ｃａｌ Ａ}」はＣａｌ Ａ中の既知のカルシウムイオン濃度であり、「Ｓｅｌ １」は上記で算出された選択係数であり、「Ｓｌｏｐｅ ２」は上記で算出された傾きである。オフセット（即ち、「オフセット２」）は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

第２の選択係数（「Ｓｅｌ ２」）は、上記で算出された傾き２及びオフセット２を用いニコルスキ−アイゼンマンの式を用いて計算され得る。詳細には、Ｓｅｌ ２は以下のように計算される。

「Ｅ_{Ｃａｌ Ｂ}」は、Ｃａｌ Ｂがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ｂ中のマグネシウムイオンの電位であり、「オフセット２（Ｏｆｆｓｅｔ ２）」及び「傾き２（Ｓｌｏｐｅ ２）」は上記で算出されたオフセット及び傾きの値であり、「Ｅ_{Ｃａｌ Ｃ}」は、Ｃａｌ Ｃがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ｃ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ｂ}」はＣａｌ Ｂ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｍｇ^２＋ _{Ｃａｌ Ｃ}」はＣａｌ Ｃ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｃａ^２＋ _{Ｃａｌ Ｂ}」はＣａｌ Ｂ中の既知のカルシウムイオン濃度であり、及び「Ｃａ^２＋ _{Ｃａｌ Ｃ}」はＣａｌ Ｃ中の既知のカルシウムイオン濃度である。選択係数（即ち「Ｓｅｌ ２」）は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

前述したように、傾き、オフセット及び選択性の値の反復計算は、「反復＃２」に例示したのと同様にして（例えば「傾き３」を導くために「Ｓｅｌ １」を「Ｓｅｌ ２」で置き換える等）第ｎ番目の選択係数（「Ｓｅｌ Ｎ」）が算出されるまでｎ回に亘り反復され得る。各反復について、（１）傾き（例えば、傾きＮ（Ｓｌｏｐｅ Ｎ））は、それ以前の反復から得られた選択性（例えば、傾きＮ−１（Ｓｌｏｐｅ Ｎ−１））を用いて計算してよく、（２）オフセット（例えば、オフセットＮ（Ｏｆｆｓｅｔ Ｎ））は対応する傾き（例えば、傾きＮ）を用いて計算してよく、（３）選択性（例えば、Ｓｅｌ Ｎ）はオフセットＮ及び傾きＮの対応する値を用いて計算してよい。かかる計算を「反復＃Ｎ」として以下に示す。

選択係数が安定するまで反復を行なってよい。一実施形態では、選択係数は、直前の計算からの変動が±１％未満、又は約０．７５％未満、又は約０．５％未満又は約０．２５％未満である場合に安定であると、判定されてよい。一実施形態では、反復回数「ｎ」は２０より大きく、又は２１より大きく、又は２２より大きく、又は２３より大きく、又は２４より大きく、又は２５より大きく、又は２６より大きく、又は２７より大きく、又は２８より大きく、又は２９より大きく、又は３０より大きい。選択係数（即ち「Ｓｅｌ Ｎ」）は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

工程７０、７２、７４は、本明細書では、また、「３点較正」、「フル較正方法」又は単に「フル較正」と言われる場合もある。

工程７６では、第１の期間よりも長い第２の期間において、Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む前記少なくとも３つの較正試薬のうちの１つ（例えば、Ｃａｌ Ａ）が、少なくとも３つの較正試薬について前述したのと同様にして（もちろん較正試薬のうちの１つだけという点は除いて）、流体分析装置１０中に提供される。即ち、工程７６では、第１の期間よりも長い第２の期間において、例えばＣａｌ Ａが１つ以上の較正試薬注入口４６−１、４６−２及び４６−３を介して流体分析装置１０中に提供される。一実施形態では、Ｃａｌ Ａは較正試薬注入口４６−１と流体連通する。

制御システム５２のプロセッサ５６のメモリ５８は、Ｃａｌ Ａと流体連通する駆動装置２８、及び／又は、１つ以上のバルブ４８−１、４８−２及び／又は４８−３を自動的に係合させて、Ｃａｌ Ａが流体分析装置１０に自動的に導入されて、所与の第２の期間、複数の電位差式センサ１４と接触されるようにするという制御システム５２からのコマンドを示す一時的又は非一時的信号を送るための時間管理基準に関するプロセッサ実行可能コードを格納してよい。

第２の期間は、第１の期間後、約５分以下、又は約１０分以下、又は約１５分以下、又は約２０分以下、又は約２５分以下、又は約３０分以下とすることができる。一実施形態では、第２の期間は、第１の期間後約３０分以下である。別の実施形態では、第２の期間は第１の期間後約３０分である。

工程７８では、少なくとも３つの較正試薬のうちの１つだけ、例えば、Ｃａｌ Ａ、によって接触される複数の電位差式センサ１４は、該センサ中のイオン選択性電極１８及び２０と１つ以上の参照電極２２との間に電位を生成する。これらの電位は、メータ４４によって検出し及び測定することが可能である。メータ４４によって測定された電位は、一時的又は非一時的信号を介して、メータ４４から１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へと送信され得る。

上述したように、複数の電位差式センサ１４は、較正試薬、例えばＣａｌ Ａ、によって接触されるカルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び１つ以上の参照電極２２を含有してよい。（ｉ）カルシウムイオン選択性電極と１つ以上の参照電極２２との間の電位差、及び（ｉｉ）マグネシウムイオン選択性電極と１つ以上の参照電極との間の電位差は、メータ４４、特に１つ以上のＥＭＦメータ、によって個々に検出され、測定され得る。前記ＥＭＦメータによって測定された電位は、一時的又は非一時的信号を介して、１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へと送信され得る。

メータ４４によって測定され、一時的又は非一時的信号として１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へと送信された電位は、制御システム５２内のメモリ５８に格納され得る。

［１点較正］
工程８０では、制御システム５２のプログラム論理６６（本明細書では「再較正論理」ともいう。）を用いて、プロセッサ５６は、プロセッサ５６がマグネシウムイオン選択性電極からのデータを解釈する方法を、工程７６で使用された較正試薬の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度（これらの全ては、例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納されてよい。）に照らして、工程７６で使用された較正試薬についてメータ４４によって測定された電位を用いることによって、較正してよい。工程７６で使用された較正試薬についての既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度は、１つ以上の入力装置６０を介して制御システム５２に入力され、メモリ５８に格納されてよい。

一実施形態では、工程８０において、プロセッサ５６は、制御システム５２のプログラム論理６６を、以下の（ｉ）〜（ｉｖ）と組み合わせて用いて、マグネシウムイオン選択性電極のオフセットを計算することによって、マグネシウムイオン選択性電極を較正する。（ｉ）工程７６で使用された較正試薬についてメータ４４によって測定された電位、（ｉｉ）工程７６で使用された較正試薬における既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度、（ｉｉｉ）工程７４で算出された傾き（即ち、「傾きＮ」）、及び（ｉｖ）ニコルスキ−アイゼンマンの式。ここで、（ｉ）〜（ｉｖ）の全ては、例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納され得る。工程８０で計算されるオフセットは、それが初期３点較正からの情報を使用してマグネシウムイオンセンサを較正するので、本明細書では「再較正情報」ともいう。

以下の（ｉ）〜（ｉｖ）を用いて、マグネシウムイオン選択性電極を較正可能なプログラム論理６６の１つの非限定例を下記に示す。（ｉ）工程７６で使用された較正試薬についてメータ４４によって測定された電位、（ｉｉ）工程７６で使用された較正試薬中の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度、（ｉｉｉ）工程７４で算出された傾き（即ち「傾きＮ」）、及び（ｉｖ）ニコルスキ−アイゼンマンの式。ここで、（ｉ）〜（ｉｖ）の全てが例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納され得る。

「Ｅ_{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されたＣａｌ Ａ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^＋２ _{Ｃａｌ Ａ}」はＣａｌ Ａ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「傾きＮ」は工程７４において「ｎ」回反復後に決定された傾きである。オフセット値は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

工程７６、７８及び８０は本明細書では「１点較正方法」又は単に「１点較正」と呼ばれる場合もある。

工程８２において、工程７６、７８及び８０がｘ回繰り返される。毎回、オフセットが前述したようにして計算されてメモリ５８に格納され、及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信される。工程８２における繰り返しの回数ｘは、２又は３又は４又は５又は６又は７又は８又は９又は１０とすることができる。一実施形態では、繰り返し回数は２であり、オフセットを計算する一連の工程７６、７８及び８０が、工程８４に移動する前に全部で３回行なわれる。各繰り返しは、一連の工程７６、７８及び８０の終了後、５分以内、又は１０分以内、又は１５分以内、又は２０分以内、又は２５分以内、又は３０分以内に行なわれてよい。一実施形態では、各繰り返しは先行する一連の工程７６、７８、８０の終了後３０分以内に行なわれる。一実施形態では、各繰り返しは先行する一連の工程７６、７８及び８０の終了の約３０分後に行なわれる。

制御システム５２のプロセッサ５６のメモリ５８は、少なくとも３つの較正試薬のうちの１つ、例えば、Ｃａｌ Ａ、と流体連通する駆動装置２８、及び／又は、バルブ４８−１、４８−２及び／又は４８−３を自動的に係合させて較正試薬が流体分析装置１０に自動的に導入されて、所定の繰り返し回数に亘って、所望の期間、複数の電位差式センサ１４と接触されるようにするという、制御システム５２からのコマンドを示す一時的又は非一時的信号を送るための時間管理基準に関するプロセッサ実行可能コードを格納してよい。

工程８４においては、第１の期間及び第２の期間のどちらよりも長い第３の期間に亘って、Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを含む少なくとも３つの較正試薬のうちの２つ（例えばＣａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂ）が、少なくとも３つの較正試薬について前述したのと同様にして（もちろん較正試薬のうちの２つだけという点は除き）流体分析装置１０中に提供される。即ち、工程８４において、第１の期間及び第２の期間よりも長い第３の期間に亘って、例えばＣａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂは、順次、１つ以上の較正試薬注入口４６−１、４６−２及び４６−３を介して流体分析装置１０中に提供される。一実施形態では、Ｃａｌ Ａは較正試薬注入口４６−１と流体連通し、Ｃａｌ Ｂは較正試薬注入口４６−２と流体連通する。

制御システム５２のプロセッサ５６のメモリ５８は、Ｃａｌ Ａ及び／又はＣａｌ Ｂと流体連通する駆動装置２８、及び／又は、バルブ４８−１、４８−２及び／又は４８−３を自動的に係合させてＣａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂが順次、流体分析装置１０に導入されて順次、複数の電位差式センサ１４と第１の期間及び第２の期間よりも長い所与の第３の期間に亘って接触されるようにするという、制御システム５２からのコマンドを示す一時的又は非一時的信号を送るための時間管理基準に関するプロセッサ実行可能コードを格納してよい。

前記第３の期間は、第１の期間後約５分以下、又は約１０分以下、又は約１５分以下、又は約２０分以下、又は約２５分以下、又は約３０分以下、又は約１時間以下、又は約２時間以下、又は約３時間以下、又は約４時間以下、又は約５時間以下、又は約６時間以下、又は約７時間以下、又は約８時間以下であることができる。一実施形態では、第３の期間は第１の期間後、約２時間以下である。別の実施形態では、第３の期間は第１の期間後約２時間である。

工程８６では、複数の電位差式センサ１４が少なくとも３つの較正試薬のうちの２つ、例えば、Ｃａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂ、によって順次、接触され、該センサ中のイオン選択性電極１８及び２０と１つ以上の参照電極２２との間に電位を生成する。これらの電位は、メータ４４によって検出し及び測定することができる。メータ４４によって測定された前記電位は、一時的又は非一時的信号を介して、メータ４４から１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へと送信され得る。

上述したように、複数の電位差式センサ１４は、前記２つの較正試薬、例えばＣａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂ、によって接触されるカルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び１つ以上の参照電極２２を含む。（ｉ）カルシウムイオン選択性電極と１つ以上の参照電極２２との間の電位差及び（ｉｉ）マグネシウムイオン選択性電極と１つ以上の参照電極との間の電位差は、個々に、メータ４４、特に１つ以上のＥＭＦメータ、によって検出され、測定され得る。ＥＭＦメータによって測定された電位は、一時的又は非一時的信号を介して、そこから１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へと送信され得る。

メータ４４によって測定され一時的又は非一時的信号として１つ以上の信号経路５４を経由して制御システム５２へ送信された電位は、制御システム５２内のメモリ５８に格納され得る。

工程８８では、制御システム５２のプログラム論理６６を用いて、プロセッサ５６は、プロセッサ５６がマグネシウムイオン選択性電極からのデータを解釈する方法を、工程８４で使用された２つの較正試薬の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度（これらの濃度は、例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納されていてよい。）に照らして、工程８６において２つの較正試薬、例えばＣａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂ、についてメータ４４によって測定された電位を用いることによって、較正してよい。工程８４及び８６で使用された較正試薬についての既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度は、１つ以上の入力装置６０を介して制御システム５２に入力されてよい。

［２点較正］
一実施形態では、工程８８において、プロセッサ５６は、１つ以上の制御システム５２のプログラム論理６６を、以下の（ｉ）〜（ｉｖ）と組み合わせて用いてマグネシウムイオン選択性電極の傾き及びオフセットを計算することによって、マグネシウムイオン選択性電極を較正する。（ｉ）工程８６において較正試薬についてメータ４４によって測定された電位、（ｉｉ）工程８４及び８６で使用された較正試薬中の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度、（ｉｉｉ）工程７４で算出された選択係数（即ち、「Ｓｅｌ Ｎ」）、（ｉｖ）ニコルスキ−アイゼンマンの式。ここで、（ｉ）〜（ｉｖ）の全ては、例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納され得る。工程８６で算出されたオフセット及び傾きは、マグネシウムイオンセンサを較正するために初期３点較正から誘導された情報を用いているため、本明細書では「再較正情報」ともいう。

以下の（ｉ）〜（ｉｖ）を用いて追加の傾き（「傾き２ＰＴ」）及びオフセット（「オフセット２ＰＴ」）を導き出すことによって、マグネシウムイオン選択性電極を較正する、プログラム論理６６（本明細書では「再較正論理」ともいう。）の１つの非限定例を下記に示す。（ｉ）工程８６において２つの較正試薬（例えば、Ｃａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂ）についてメータ４４によって測定された電位、（ｉｉ）工程８４及び８６において使用された２つの較正試薬（例えば、Ｃａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂ）中の既知のマグネシウムイオン濃度及びカルシウムイオン濃度、（ｉｉｉ）工程７４において算出された選択係数（即ち、「Ｓｅｌ Ｎ」）、（ｉｖ）ニコルスキ−アイゼンマンの式。ここで、（ｉ）〜（ｉｖ）の全ては、例えば制御システム５２内のメモリ５８に格納され得る。

最初に、２点傾き（又は「傾き２ＰＴ」：Ｓｌｏｐｅ ２ＰＴ）が、以下のように計算されてよい。

「Ｅ_{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ａ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｅ_{Ｃａｌ Ｂ}」は、Ｃａｌ Ｂがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ｂ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^＋２ _{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｓｅｌ Ｎ」は、工程７４で算出された選択係数であり、「Ｃａ^＋２ _{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａ中の既知のカルシウムイオン濃度であり、「Ｍｇ^＋２ _{Ｃａｌ Ｂ}」は、Ｃａｌ Ｂ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「Ｃａ^＋２ _{Ｃａｌ Ｂ}」は、Ｃａｌ Ｂ中の既知のカルシウムイオン濃度である。傾き（即ち、「傾き２ＰＴ」）は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

次に、算出された傾き２ＰＴ（Ｓｌｏｐｅ ２ＰＴ）を用いて、以下のようにオフセット（Ｏｆｆｓｅｔ ２ＰＴ）を計算することができる。

「Ｅ_{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａがマグネシウムイオン選択性電極と接触しているときにマグネシウムイオン選択性電極と通信するメータ４４によって測定されるＣａｌ Ａ中のマグネシウムイオンの電位であり、「Ｍｇ^＋２ _{Ｃａｌ Ａ}」は、Ｃａｌ Ａ中の既知のマグネシウムイオン濃度であり、「傾き２ＰＴ」は、上述した傾きである。オフセット値は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

工程８４、８６及び８８は本明細書では、「２点較正方法」又は単に「２点較正」と呼ばれる場合もある。

工程９０において、本方法は、工程７６に戻り、それによって工程７６、７８及び８０が再度行なわれて、傾きＮの代わりに工程８８からの「傾き２ＰＴ」値を用いてオフセットが計算される。工程８２も、また、再度行なわれて、これによって工程７６、７８及び８０がｘ回繰り返される。毎回、オフセットが前述したように計算され、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信される。前述したように、工程８２における繰り返しの回数ｘは、２又は３又は４又は５又は６又は７又は８又は９又は１０とすることができる。一実施形態では、繰り返し回数は２であり、一連の工程７６、７８及び８０は。各繰り返しは、一連の工程７６、７８及び８０の終了後５分以内、又は１０分以内、又は１５分以内、又は２０分以内、又は２５分以内、又は３０分以内に行なわれてよい。一実施形態では、各繰り返しは、先行する一連の工程７６、７８及び８０の終了後３０分以内に行なわれる。一実施形態では、各繰り返しは、先行する一連の工程７６、７８及び８０の終了の約３０分後に行なわれる。

加えて、工程８２がｘ回行なわれた後、工程８４、８６及び８８が再度行われ、工程７４で算出された選択係数（「Ｓｅｌ Ｎ」）に基づき傾き（「傾き２ＰＴ」）及びオフセット（「オフセット２ＰＴ」）が計算される。傾き及びオフセットの値は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

工程９０は、「ｙ」回繰り返すことができる。工程９０の繰り返し回数ｙは、２又は３又は４又は５又は６又は７又は８又は９又は１０とすることができる。一実施形態では、繰り返しの回数ｙは２であって、工程９２に移動する前に一連の工程７６、７８、８０、８２、８４、８６及び８８全体が合計３回行なわれる。各繰り返しは、回数ｙに達するまで、工程７６、８０、８２、８４、８６及び８８の終了後、５分以内、又は１０分以内、又は１５分以内、又は２０分以内、又は２５分以内、又は３０分以内に、行なわれてよい。一実施形態では、工程９０は、工程７０の後、繰り返し回数ｙに達するまで、約５分毎、又は約１０分毎、又は約１５分毎、又は約２０分毎、又は約３０分毎、又は約１時間毎、又は約２時間毎、又は約３時間毎、又は約４時間毎、又は約５時間毎、又は約６時間毎、又は約７時間毎、又は約８時間毎に起こる。一実施形態では、工程９０は、工程７０の後、繰り返し回数ｙに達するまで、約２時間毎に起こる。

制御システム５２のプロセッサ５６のメモリ５８は、少なくとも較正試薬のうちの２つ、例えばＣａｌ Ａ及びＣａｌ Ｂ、と流体連通する駆動装置２８及び／又はバルブ４８−１、４８−２及び／又は４８−３を自動的に係合させ、工程８２及び９０の所与の繰り返し回数について、所望の時間に、較正試薬が流体分析装置１０に自動的に導入されて複数の電位差式センサ１４と接触されるようにするという、制御システム５２からのコマンドを示す一時的又は非一時的信号を送るための時間管理基準に関するプロセッサ実行可能コードを格納してよい。

工程９２において、本方法は、再度工程７６に戻り、これによって工程７６、７８及び８０が行なわれて、工程８８の前回の繰り返しからの「傾き２ＰＴ」値を用いてオフセットが計算される。工程８２も、また、再度行なわれて、それによって工程７６、７８及び８０がｘ回繰り返される。毎回、前述したようにオフセットが計算され、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信される。工程８２における繰り返し回数ｘは、２又は３又は４又は５又は６又は７又は８又は９又は１０とすることができる。一実施形態では、繰り返し回数は２であり、オフセットを計算する一連の工程７６、７８及び８０が、工程９４へ再度移動する前に合計３回行なわれる。各繰り返しは、一連の工程７６、７８及び８０の終了後、５分以内、又は１０分以内、又は１５分以内、又は２０分以内、又は２５分以内、又は３０分以内に行なわれてよい。一実施形態では、各繰り返しは、先行する一連の工程７６、７８、８０の終了後、３０分以内に行なわれる。一実施形態では、各繰り返しは、先行する一連の工程７６、７８及び８０の終了の約３０分後に行なわれる。オフセット値は、メモリ５８に格納され及び／又は１つ以上の信号経路５４を経由して出力装置６２に送信されてよい。

工程９４では、工程７６、７８及び８０がｘ回行なわれた後、本方法は工程７０に戻り、工程７０、７２、７４、７６、８０、８２、８４、８６、８８、９０及び９２が再度前述と同様に行なわれる。別の実施形態では、工程９４は、およそ２８日間又は固体マグネシウムイオンセンサの使用寿命が終了するまで、約５分毎、又は約１０分毎、又は約１５分毎、又は約２０分毎、又は約３０分毎、又は約１時間毎、又は約２時間毎、又は約３時間毎、又は約４時間毎、又は約５時間毎、又は約６時間毎、又は約７時間毎、又は約８時間毎に繰り返され得る。一実施形態では、工程９４は、固体マグネシウムイオンセンサの使用寿命の間、８時間毎に繰り返される。一実施形態では、工程９４は、およそ２８日間又は固体マグネシウムイオンセンサの使用寿命が終了するまで８時間毎に繰り返される。

一実施形態では、工程９４が本方法を工程７０に戻した後、工程８８の直近の繰り返しにおいて算出された「傾き２ＰＴ」を、工程７４における傾き、オフセット及び選択係数の計算のための反復終了点基準を確立するために使用することができる。一実施形態では、工程７４における反復は、本明細書で前述したように、ｎ回目の反復についての傾きが安定すると終了される。一実施形態では、工程７４における反復は、ｎ回目の反復の傾きが、工程８８の直近の繰り返しにおいて決定された「傾き２ＰＴ」の１％、又は０．５％、又は０．１％、又は０．０５％、又は０．０１％以内となったとき、終了される。一実施形態では、反復の回数「ｎ」は、２０よりも大きく、又は２１よりも大きく、又は２２よりも大きく、又は２３よりも大きく、又は２４よりも大きく、又は２５よりも大きく、又は２６よりも大きく、又は２７よりも大きく、又は２８よりも大きく、又は２９よりも大きく、又は３０よりも大きい。

別の実施形態では、前述の２点較正は、前述の１点較正に先行して行なわれることができる。更に別の実施形態では、前記３点較正が時間ｔ＝０に開始され、その後は、固体マグネシウムイオンセンサの使用寿命の間、少なくとも１つの較正方法が３０分毎に行われ、少なくとも１つの３点較正が８時間毎に行なわれる限り、１点較正、２点較正及び３点較正のうちの少なくとも１つを任意の順序で行なうことができる。加えて、ここに含まれる１つ以上の実施例に例示されるように、較正工程が行なわれる順序に関しては、他の方法が想定されてもよい。

以下、実施例を示す。しかしながら、本明細書に開示され及び／又は特許請求される発明の概念が、その適用において以下に開示される特定の実験、結果及び手順に限定されるものと解釈されるべきではない。むしろ、実施例は様々な実施形態として提供されており、例示であって網羅的ではないことを意図している。

（実施例１）
流体分析装置のためのマグネシウムイオン選択性電極を本明細書に概説した手順を用いて較正し、（ｉ）初期選択性、即ち、３つの較正試薬、Ｃａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃを用いた「ｎ」回反復後の「選択性Ｎ」、及び（ｉｉ）２点較正の傾き、即ち「ｎ」回反復後の「選択性Ｎ」値、を用いた「傾き２ＰＴ」を決定した。

時間ｔ＝０に、３つの較正試薬を、それらが個々にマグネシウムイオン選択性電極及び参照電極と接触するように、順次、流体分析装置内に導入した。これは、また、「フル較正」とも呼ばれる。本明細書で記述された式ＩＩＩ〜ＸＩ及びそれらに関連付けられた手順を用いて、複数回の反復を行なって安定な選択係数を算出した。本実施例では、表１及び図５に示すようにｎ＝５０とした（即ち、５０回の反復が行なわれた）。更に、図５に示したように、１％の安定な選択係数に到達するのに必要な反復は、たったの約１５回であった。

時間ｔ＝２時間において、３つの較正試薬のうちの２つを、それらがマグネシウムイオン選択性電極及び参照電極と接触するように、順次、流体分析装置内に導入した。これは、また、「２点較正」とも呼ばれる。フル較正から算出された選択係数に加え式ＸＩＩＩ及びそれに関連付けられた手順を用いて、傾き、即ち「傾き２ＰＴ」、を算出することができる。図６に示すように、フル較正における反復回数が多いほど、フル較正から得られる傾きが２点傾きに近づき、最終的には。それらは同一となる。このことが、その後のフル較正で傾き、オフセット及び選択係数を算出するために「傾き２ＰＴ」を終点基準として利用できることの根拠となる。

表２に、実施例１で使用した３つの較正試薬中の主電解質の組成を示す。血液中の電解質の正常な濃度と最も似ている較正試薬は、Ｃａｌ Ａである。表３に、各較正試薬中のマグネシウムイオン及びカルシウムイオンの既知の濃度、並びに各イオン選択性電極により検出され１つ以上のＥＭＦセンサにより測定された各ｍＶ信号を示す。

（実施例２）
較正方法の有効性を試験するために、フル較正法、２点較正法及び１点較正法の後に、２つの正常な血液試料を試験した。各較正方法において、フル較正に対し表３に示したようなマグネシウムイオン及びカルシウムイオンについてのｍＶ信号を示す３つの較正試薬を用いた。フル較正のための反復回数は、本実施例ではｎ＝５０とした。また、フル較正、２較正及び１点較正、並びに試験の時点で、固体マグネシウムイオンセンサは、その使用寿命まで１５日程度であった。

フル較正、２点較正及び１点較正後に、各血液試料につき３回の試験を行った。血液中のマグネシウムイオンの回収は、以下の式により算出した。

ここで、ｍＶ（ｓａｍｐｌｅ）：ｍＶ（試料）、ｍＶ（ｏｆｆｓｅｔ）：ｍＶ（オフセット）、ｓｌｏｐｅ：傾き

結果がＦＤＡに認可されているｉＭｇシステムに匹敵することを保証するために、市販のマグネシウムイオン選択性電極分析装置の測定も含める。この市販のマグネシウムイオン選択性電極分析装置は、ＮＯＶＡ Ｂｉｏｍｅｄｉｃａｌ（マサチューセッツ州、ウォルサム）から市販されているＦＤＡで認可されたｉＭｇセンサである。結果を表４に示す。

表４から分かるように、本明細書に開示され及び／又は特許請求される較正方法により血液試料について得られたマグネシウムイオン測定値は、少なくともＮＯＶＡ Ｂｉｏｍｅｄｉｃａｌから市販されているＦＤＡ認可ｉＭｇシステムと同等である。なお、表４に反映されている２点較正は、初期フル較正後に行なわれた３回目の２点較正とした。血液試料を測定する直前に取られた傾き及びオフセット較正測定値を明確に強調するために、表４に記された２点及び１点較正よりも前に行なわれた追加の２点及び１点較正測定値は、表に記載しなかった。

（実施例４）
本明細書に記述された較正アプローチを４週間、即ち、センサのおおよその使用寿命に亘り、固体マグネシウムイオンセンサに適用した。上記の表２及び表３に示したＣａｌ Ａ、Ｃａｌ Ｂ及びＣａｌ Ｃに相当する３つの較正試薬を使用した。較正スケジュールを表５に示す。

次いで、このスケジュールを、ｔ＝８時間におけるフル較正がｔ＝０におけるフル較正と同一であるようにして４週間に亘って繰り返した。但し、ｔ＝８時間からの各フル較正では、最後の２点較正から得られた傾きを、傾き、オフセット及び選択係数の算出のための終点基準として使用できる。

傾き、オフセット及び選択係数の較正パラメータを４週間に亘りプロットし、図７及び８に示す。マグネシウムイオン選択性電極の変動傾向は、これらの３つのパラメータにより良好に追跡される。図７及び８は、「ウェットアップ期間」とも呼ばれる最大８時間続く初期化期間において、最初は不安定な値を示しているが、品質管理試薬及び／又は血液試料中のＭｇ^２＋回収、即ち、測定されたマグネシウムイオン濃度は、図９に例示されるように、本明細書に開示され及び／又は特許請求された較正方法のおかげで、この期間の間安定であった。このことは、本明細書に開示され及び／又は特許請求された較正方法によれば、初期のウェットアップ期間の間であっても、ｉＭｇセンサを適切に較正可能である、ということを示している。

図９に示すように、３つのマグネシウムイオン濃度（１．０ｍＭ、０．６ｍＭ及び０．３ｍＭ）のコントロール水溶液を４週間に亘り試験した。未変性血液試料もまた４週間に亘り試験した。本明細書に記述され及び／又は特許請求された較正方法を用いて得られた未変性血液試料のマグネシウムイオン回収を図１０に示す。現行の市販のカルシウムイオン選択性電極（Ｓｉｅｍｅｎｓ ＲＡＰＩＤ Ｐｏｉｎｔ ５００ ｂｌｏｏｄ ｇａｓ ａｎａｌｙｚｅｒのカルシウムイオンセンサ）を用いて分析された、未変性血液試料のカルシウムイオン回収も一緒に示している。図１０に示されているように、本明細書に開示され及び／又は特許請求された較正方法を用いたマグネシウムイオン回収の高い精度は、現行の市販カルシウムイオン選択性電極により分析されたカルシウムイオン回収の精度に匹敵する。

従って、本明細書に開示され及び／又は特許請求された発明の概念により、マグネシウムイオンを測定するための流体分析装置及び該分析装置中のマグネシウムイオン選択性電極を較正する方法が提供された。本明細書に開示され及び／又は特許請求された発明の概念が本明細書で上述した特定の図面、実験、結果、及び言語と組み合わせて説明されたが、当然、当業者には、多くの代替、変更及び変形形態が明らかとなるであろう。従って、本明細書に開示され及び／又は特許請求された発明の概念の精神及び広い範囲に含まれる限り、全てのこうした代替、変更、及び変形形態を包含することが意図されている。

１０ 流体分析装置
１２ 較正カートリッジ
１４ 電位差式センサ
１６ ハウジング
１８ 干渉イオン選択性電極
２０ 一次イオン選択性電極
２２ 参照電極
２４ 流体流路
２６−１、２６−２、２６−３ ウェル
２８ 駆動装置
３０ 試料注入口
３２ バルブ
３４ 廃液出口
３６ 積層体
３８ 基材
４０ 導電層
４２ リード
４４ メータ
４６−１、４６−２、４６−３ 較正試薬注入口
４８−１、４８−２、４８−３ バルブ
５０−１、５０−２、５０−３ リザーバ
５２ 制御システム
５４ 信号経路
６０ 入力装置
６２ 出力装置
６４ データベース及び／又はデータテーブル
６６ プログラム論理

Claims (20)

1. １つ以上の被検体を含有する流体試料を分析するための流体分析装置であって、
   流体流路；
   前記流体流路と流体連通するカルシウムイオン選択性電極；
   前記流体流路と流体連通するマグネシウムイオン選択性電極；
   前記流体流路と流体連通する参照電極；
   前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極によって生成される信号を受信し、前記信号を前記１つ以上の被検体の電位を示す情報に変換するメータ；
   前記流体流路と流体連通する少なくとも１つの較正試薬注入口であって、少なくとも１つの予め定められた較正試薬を受け入れるようになされた、少なくとも１つの較正試薬注入口；
   前記少なくとも１つの較正試薬注入口と前記マグネシウムイオン選択性電極との間に位置決めされた少なくとも１つの自動バルブであって、前記少なくとも１つの予め定められた較正試薬の１つ以上の試料を流体流路に提供するように開閉可能である、少なくとも１つの自動バルブ；及び
   制御システムであって、プロセッサに、
   少なくとも３つの較正試薬を前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極、及び参照電極まで前記流体流路内に通すように前記少なくとも１つの自動バルブを制御し、前記メータにより生成される信号から、初期３点較正のためにマグネシウムイオン選択性電極からのデータを解釈するためにプロセッサによって使用される制御システムのプログラム論理である較正論理を用いて、較正情報を決定することと、
   前記少なくとも３つの較正試薬とは異なる少なくとも３つの較正試薬のサブセットを前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極まで流体流路内に選択的に通すように前記少なくとも１つの自動バルブを制御し、前記メータにより生成される信号と、前記較正情報及び初期３点較正の後の追加の較正のためにマグネシウムイオン選択性電極からのデータを解釈するためにプロセッサによって使用される制御システムのプログラム論理である再較正論理のうちの少なくとも１つとを、用いて再較正情報を決定することと、
   をさせるプロセッサ実行可能コードを実行するプロセッサを有する制御システム；
   を含有する、流体分析装置。
2. 試料注入口であって、これによって予め定められた時間に試料が前記流体流路に注入される試料注入口を、更に含有する請求項１に記載の流体分析装置。
3. 前記試料は前記流体流路に手動で注入される、請求項２に記載の流体分析装置。
4. 前記試料注入口と前記マグネシウムイオン選択性電極との間に位置決めされた少なくとも１つの自動バルブであって、前記試料のうちの１つ以上の試料を前記流体流路に提供するように開閉可能である少なくとも１つの自動バルブを更に含有する、請求項２に記載の流体分析装置。
5. 前記制御システムの前記プロセッサは、前記プロセッサに、前記試料注入口と前記マグネシウムイオン選択性電極との間に位置決めされた前記少なくとも１つの自動バルブを制御して前記試料を前記流体流路に注入することをさせる、プロセッサ実行可能コードを実行する、請求項４に記載の流体分析装置。
6. 前記少なくとも３つの較正試薬の前記サブセットは、（ｉ）前記少なくとも３つの較正試薬のうちの１つ、（ｉｉ）前記少なくとも３つの較正試薬のうちの２つ、及び（ｉｉｉ）前記少なくとも３つの較正試薬の全て、から成る群から選択されてよい、請求項１〜５のいずれか一項に記載の流体分析装置。
7. 前記少なくとも３つの較正試薬は、それぞれ、異なる量のマグネシウムイオン及びカルシウムイオンを含む、請求項１〜６のいずれか一項に記載の流体分析装置。
8. 前記少なくとも３つの較正試薬を含むカートリッジを更に含有し、前記カートリッジは前記少なくとも１つの較正試薬注入口と流体連通する、請求項１に記載の流体分析装置。
9. 前記流体流路と流体連通する少なくとも１つの品質管理試薬注入口であって、少なくとも１つの予め定められたマグネシウム水溶液からなる品質管理試薬を受け入れるようになされた、少なくとも１つの品質管理試薬注入口；及び
   前記少なくとも１つの品質管理試薬注入口と前記マグネシウムイオン選択性電極との間に位置決めされた少なくとも１つの品質管理試薬自動バルブであって、前記少なくとも１つの予め定められたマグネシウム水溶液からなる品質管理試薬の１つ以上の試料を提供するように開閉可能である、少なくとも１つの品質管理試薬自動バルブ；
   を更に含有し、
   前記制御システムは、前記プロセッサに、前記少なくとも１つの予め定められたマグネシウム水溶液からなる品質管理試薬を前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極まで前記流体流路内に通すように、前記少なくとも１つの品質管理試薬注入口と前記マグネシウムイオン選択性電極との間に位置決めされた前記少なくとも１つの品質管理試薬自動バルブを制御させるプロセッサ実行可能コードを含有する、請求項１〜８のいずれか一項に記載の流体分析装置。
10. 流体分析装置を較正する方法であって、
    （Ａ）第１の期間において
    （ｉ）少なくとも３つの較正試薬を、カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極と接触させ、その結果、前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極が、メータによって受信可能であり、前記少なくとも３つの較正試薬の電位を示す第１の情報へと変換可能である信号を生成する、工程、及び
    （ｉｉ）プロセッサ実行可能コードを実行するプロセッサを有する制御システムの較正論理を使用し、前記第１の情報を用いて較正情報を決定する工程、
    （Ｂ）前記第１の期間後の第２の期間において
    （ｉ）前記少なくとも３つの較正試薬のうちの１つを前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極と接触させて、その結果、前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極が、前記メータによって受信可能であり且つ前記１つの較正試薬の電位を示す第２の情報へと変換可能である信号を生成する工程、及び、
    （ｉｉ）前記制御システムの再較正論理を使用して、（ａ）前記第２の情報と（ｂ）工程（Ａ）からの前記較正情報の少なくとも一部とを用いて第１の再較正情報を決定する工程、
    並びに
    （Ｃ）前記第１の期間後の第３の期間において
    （ｉ）前記少なくとも３つの較正試薬のうちの２つを前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極と接触させ、その結果、前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極が、前記メータによって受信可能であり且つ前記２つの較正試薬の電位を示す第３の情報へと変換可能な信号を生成する工程、及び
    （ｉｉ）前記制御システムの前記再較正論理を使用して、（ａ）前記第３の情報と（ｂ）工程（Ａ）からの前記較正情報の少なくとも一部とを用いて第２の再較正情報を決定する工程、
    を含有する方法。
11. 工程（Ｂ）は工程（Ｃ）の前に起こり、工程（Ｂ）は工程（Ｃ）の前に少なくとも更に２回繰り返される、請求項１０に記載の方法。
12. 工程（Ｂ）の前記繰り返し間の時間は、３０分の時間間隔で起こる、請求項１１に記載の方法。
13. 前記方法は、工程（Ｃ）の後、工程（Ａ）を再実施する前に少なくとも更に２回一連の工程（Ｂ）及び（Ｃ）を再実施し、及び前記制御システムの前記再較正論理は、前記プロセッサに、（ａ）メータによって生成された信号によって前記制御システムに送られた前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極の電位を示す情報と（ｂ）前記直前の工程（Ｃ）において得られた前記再較正情報の少なくとも一部とを用いて工程（Ｂ）の各繰り返しのための再較正情報を決定させる、請求項１１〜１２のいずれか一項に記載の方法。
14. 前記第１の期間と続いて行なわれる工程（Ａ）との間の時間は８時間である、請求項１３に記載の方法。
15. 工程（Ａ）、（Ｂ）及び（Ｃ）は少なくとも２８日間繰り返される、請求項１０〜１４のいずれか一項に記載の方法。
16. 前記第２の期間は前記第１の期間後の３０分間である、請求項１０〜１５のいずれか一項に記載の方法。
17. 前記第３の期間は前記第１の期間後の２時間である、請求項１０〜１６のいずれか一項に記載の方法。
18. 流体分析装置を較正する方法であって、
    （Ａ）第１の期間において
    （ｉ）少なくとも３つの較正試薬をカルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極と接触させて、その結果、前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極が、メータによって受信可能であり且つ前記少なくとも３つの較正試薬の電位を示す第１の情報へと変換可能な信号を生成する工程、及び、
    （ｉｉ）プロセッサ実行可能コードを実行するプロセッサを有する制御システムの較正論理を使用して、前記第１の情報を用いて較正情報を決定する工程、
    （Ｂ）前記第１の期間後の第２の期間において、
    （ｉ）前記少なくとも３つの較正試薬のうちの２つを前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極、及び参照電極と接触させて、その結果、前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極、及び参照電極が、前記メータによって受信可能且つ前記２つの較正試薬の電位を示す第２の情報へと変換可能な信号を生成する、工程と、
    （ｉｉ）前記制御システムの再較正論理を使用して、（ａ）前記第２の情報と、（ｂ）工程（Ａ）からの前記較正情報の少なくとも一部と、を用いて第１の再較正情報を決定する工程、並びに
    （Ｃ）第３の期間において
    （ｉ）前記少なくとも３つの較正試薬のうちの１つを前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極と接触させて、その結果、前記カルシウムイオン選択性電極、マグネシウムイオン選択性電極及び参照電極が、前記メータによって受信可能であり且つ前記１つの較正試薬の電位を示す第３の情報へと変換可能な信号を生成する工程、及び
    （ｉｉ）前記制御システムの前記再較正論理を使用して、（ａ）前記第３の情報と（ｂ）前記第１の再較正情報の少なくとも一部とを用いて第２の再較正情報を決定する工程、
    を含有する方法。
19. 工程（Ｃ）は少なくとも更に２回繰り返される、請求項１８に記載の方法。
20. 前記方法が、工程（Ｃ）の後、工程（Ａ）を再実施する前に一連の工程（Ｂ）及び（Ｃ）を少なくとも２回再実施する、請求項１９に記載の方法。

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