JP6872054B1 - 基板対基板コネクタ - Google Patents

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Abstract

【課題】基板対基板コネクタの位置決め精度を向上する技術を提供する。
【解決手段】コネクタ202は、第1位置決め孔209及び第2位置決め孔210を有する絶縁樹脂製の平板状のハウジング250と、ハウジング250に保持された複数のコンタクト300と、第1位置決め孔260及び第2位置決め孔261に対応してそれぞれ配置された金属製の第1ホールドダウン252及び第2ホールドダウン253と、を備える。ハウジング250は、CPUボード201と対向可能なCPUボード対向面250Aを有する。第1ホールドダウン252は、対応する第1位置決め孔260の周囲においてCPUボード対向面250Aを覆う補強板部252Aを含む。第2ホールドダウン253は、対応する第2位置決め孔261の周囲においてCPUボード対向面250Aを覆う補強板部253Aを含む。
【選択図】図8

Description

本発明は、基板対基板コネクタに関する。
特許文献1(特開2010−182551号公報)は、本願の図20に示すように、複数の電極を有する第1プリント基板と、複数の電極を有する第2プリント基板と、の間に配置され、第1プリント基板の複数の電極と第2プリント基板の複数の電極をそれぞれ電気的に接続するコネクタ100を開示している。
コネクタ100は、絶縁板101と、絶縁板101に保持される複数の弾性導電体102を備える。絶縁板101には、2つの位置決め孔103が形成されている。
特許文献1のコネクタ100は、位置決め精度の面で改善の余地が残されていた。
本発明の目的は、基板対基板コネクタの位置決め精度を向上する技術を提供することにある。
本願発明の観点によれば、第1基板に実装され、前記第1基板と第2基板の間に挟まれることで、前記第1基板の複数のパッドと前記第2基板の複数のパッドをそれぞれ電気的に接続する基板対基板コネクタであって、複数の位置決め孔を有する絶縁樹脂製の平板状のハウジングと、前記ハウジングに保持された複数のコンタクトと、前記複数の位置決め孔に対応して配置された複数の金属製の補強部材と、を備え、前記ハウジングは、前記第2基板と対向可能な第2基板対向面を有し、各補強部材は、対応する前記位置決め孔の周囲において前記第2基板対向面を覆う補強板部を含み、各補強部材は、前記ハウジングの板厚方向で見たとき、各補強部材の前記補強板部が、対応する前記位置決め孔の内周縁を覆わないように配置されている、基板対基板コネクタが提供される。
好ましくは、各コンタクトは、前記第2基板対向面から突出する電気接触バネ片を含み、前記ハウジングの前記第2基板対向面には、前記複数の補強部材にそれぞれ対応する複数の収容窪みが形成されており、各収容窪みは、対応する前記補強部材の前記補強板部を収容する。
好ましくは、前記複数の位置決め孔は、第1位置決め孔を含み、前記複数の補強部材は、前記第1位置決め孔に対応する第1補強部材を含み、前記第1位置決め孔は、丸孔であり、前記第1補強部材の前記補強板部には、前記第1位置決め孔よりも大きい丸孔が形成されており、前記第1補強部材は、前記ハウジングの板厚方向で見たとき、前記第1補強部材の前記補強板部の前記丸孔の内周縁の径方向内方に、前記第1位置決め孔の内周縁が位置するように配置されている。
好ましくは、前記複数の位置決め孔は、第2位置決め孔を含み、前記複数の補強部材は、前記第2位置決め孔に対応する第2補強部材を含み、前記第2位置決め孔は、互いに平行となる2つの直線縁部を含む内周縁を有し、前記第2補強部材の前記補強板部には、互いに平行となる2つの直線縁部を含む内周縁を有する孔が形成されており、前記第2補強部材の前記補強板部の前記2つの直線縁部の間の距離は、前記第2位置決め孔の前記2つの直線縁部の間の距離よりも長く、前記第2補強部材は、前記ハウジングの板厚方向で見たとき、前記第2補強部材の前記補強板部の前記2つの直線縁部の間に前記第2位置決め孔の前記2つの直線縁部が位置するように配置されている。
好ましくは、各補強部材は、各補強部材の前記補強板部から前記第1基板に向かって突出し、前記第1基板のパッドに半田接続可能な半田付け部を更に含む。
好ましくは、前記複数の補強部材は、互いに連なるように一体的に形成されている。
本発明によれば、基板対基板コネクタの位置決め精度が向上する。
情報処理装置の分解斜視図である。(第1実施形態) 情報処理装置の別の角度から見た分解斜視図である。(第1実施形態) コネクタの斜視図である。(第1実施形態) コネクタの分解斜視図である。(第1実施形態) ハウジングの斜視図である。(第1実施形態) ホールドダウンを省略したコネクタの平面図である。(第1実施形態) コネクタの平面図である。(第1実施形態) 図7のA部拡大図である。(第1実施形態) 図7のB部拡大図である。(第1実施形態) コンタクトが取り付けられたハウジングの一部切り欠き斜視図である。(第1実施形態) ハウジングの一部切り欠き斜視図である。(第1実施形態) コンタクトが取り付けられたハウジングの部分断面図である。(第1実施形態) コンタクトの斜視図である。(第1実施形態) 吸着カバー付きコネクタの分解斜視図である。(第1実施形態) 吸着カバー付きコネクタの部分斜視図である。(第1実施形態) 吸着カバー付きコネクタの部分斜視図である。(第2実施形態) コンタクトが取り付けられたハウジングの部分断面図である。(第3実施形態) コネクタの分解斜視図である。(第4実施形態) コネクタの分解斜視図である。(第5実施形態) 特許文献1の図2を簡略化した図である。
(第1実施形態)
以下、図1から図15を参照して、第1実施形態を説明する。
図1及び図2には、情報処理装置200の分解斜視図を示している。図1及び図2に示すように、情報処理装置200は、CPUボード201、コネクタ202、入出力ボード203、サポートボード204を含む。コネクタ202は、CPUボード201と入出力ボード203の間に配置される。
CPUボード201及び入出力ボード203は、例えば紙フェノール基板やガラスエポキシ基板などのリジット基板である。
図2に示すように、CPUボード201は、コネクタ202に対向するコネクタ対向面201Aを有する。コネクタ対向面201Aには、複数のパッド列205が形成されている。本実施形態では、6つのパッド列205が形成されている。複数のパッド列205は互いに平行に延びている。各パッド列205は、複数のパッド206を含む。
CPUボード201には、第1ボルト締結孔207と、第2ボルト締結孔208と、第1位置決め孔209と、第2位置決め孔210と、が形成されている。第1ボルト締結孔207及び第2ボルト締結孔208は、各パッド列205の長手方向において第1ボルト締結孔207及び第2ボルト締結孔208の間に複数のパッド列205が位置するように形成されている。第1位置決め孔209及び第2位置決め孔210は、各パッド列205の長手方向と直交する方向において第1ボルト締結孔207と隣り合うように形成されている。第1位置決め孔209及び第2位置決め孔210は、各パッド列205の長手方向と直交する方向において第1位置決め孔209及び第2位置決め孔210の間に第1ボルト締結孔207が位置するように形成されている。
図1に示すように、入出力ボード203は、コネクタ202に対向するコネクタ対向面203Aを有する。コネクタ対向面203Aには、複数のパッド列214が形成されている。本実施形態では、6つのパッド列214が形成されている。複数のパッド列214は互いに平行に延びている。各パッド列214は、複数のパッド215を含む。コネクタ対向面203Aには、更に、ホールドダウン用の複数のパッド216が形成されている。
入出力ボード203には、第1ボルト締結孔217と、第2ボルト締結孔218と、第1貫通孔219と、第2貫通孔220と、が形成されている。第1ボルト締結孔217及び第2ボルト締結孔218は、各パッド列214の長手方向において第1ボルト締結孔217及び第2ボルト締結孔218の間に複数のパッド列214が位置するように形成されている。第1貫通孔219及び第2貫通孔220は、各パッド列214の長手方向と直交する方向において第1ボルト締結孔217と隣り合うように形成されている。第1貫通孔219及び第2貫通孔220は、各パッド列214の長手方向と直交する方向において第1貫通孔219及び第2貫通孔220の間に第1ボルト締結孔217が位置するように形成されている。
サポートボード204は、典型的には、CPUボード201、コネクタ202、入出力ボード203を収容する筐体の一部であって、例えばアルミニウム又はアルミニウム合金製である。サポートボード204は、平板状のボード本体230と、第1ナット231、第2ナット232、円柱状の第1位置決めピン233、円柱状の第2位置決めピン234を含む。
第1ナット231は、入出力ボード203の第1ボルト締結孔217と対応するように配置されている。
第2ナット232は、入出力ボード203の第2ボルト締結孔218と対応するように配置されている。
第1位置決めピン233は、入出力ボード203の第1貫通孔219と対応するように配置されている。
第2位置決めピン234は、入出力ボード203の第2貫通孔220と対応するように配置されている。
コネクタ202は、入出力ボード203のコネクタ対向面203Aに半田接続により表面実装可能に構成されている。図3及び図4に示すように、コネクタ202は、絶縁樹脂製の矩形平板状のハウジング250と、複数のコンタクト列251と、第1ホールドダウン252と、第2ホールドダウン253と、第3ホールドダウン254と、第4ホールドダウン255と、を含む。複数のコンタクト列251と、第1ホールドダウン252と、第2ホールドダウン253と、第3ホールドダウン254と、第4ホールドダウン255は、ハウジング250に保持されている。
図3及び図4に示すように、複数のコンタクト列251は、互いに平行に延びている。図4に示すように、複数のコンタクト列251は、6つのコンタクト列251を含む。6つのコンタクト列251は、コンタクト列251A、コンタクト列251B、コンタクト列251C、コンタクト列251D、コンタクト列251E、コンタクト列251Fを含む。各コンタクト列251は、金属製の複数のコンタクト300を含む。
各コンタクト300は、例えば銅又は銅合金をメッキした金属板を打ち抜いて曲げることで形成されている。同様に、第1ホールドダウン252と、第2ホールドダウン253と、第3ホールドダウン254と、第4ホールドダウン255は、例えばステンレス鋼板などの金属板を打ち抜いて曲げることで形成されている。
ここで、図1を参照して、上下方向、ピッチ方向、幅方向を定義する。上下方向、ピッチ方向、幅方向は、互いに直交する方向である。
図1に示すように、上下方向は、ハウジング250の板厚方向である。上下方向は、上方と下方を含む。上方は、ハウジング250からCPUボード201を見る方向である。下方は、ハウジング250から入出力ボード203を見る方向である。上下方向は、説明の便宜上定義した方向に過ぎず、コネクタ202の実際の使用状態における姿勢を示唆するものではない。
ピッチ方向は、各コンタクト列251の長手方向である。
幅方向は、上下方向とピッチ方向に対して直交する方向である。複数のコンタクト列251は、幅方向において互いに離れるように配置されている。
図5には、ハウジング250を示している。図5に示すように、ハウジング250は、上方を向くことでCPUボード201と対向可能なCPUボード対向面250Aと、下方を向くことで入出力ボード203と対向可能な入出力ボード対向面250Bと、を有する。そして、ハウジング250には、第1位置決め孔260と第2位置決め孔261が形成されている。第1位置決め孔260及び第2位置決め孔261は、ハウジング250を上下方向に貫通するように形成されている。
ここで、図1に戻り、情報処理装置200の組立手順を概説する。
まず、入出力ボード203にコネクタ202を表面実装する。具体的には、複数のコンタクト列251を複数のパッド列214に半田接続すると共に、第1ホールドダウン252等を対応するパッド216に半田接続する。
次に、コネクタ202が搭載された入出力ボード203をサポートボード204に取り付ける。このとき、第1ナット231が第1ボルト締結孔217を貫通し、第2ナット232が第2ボルト締結孔218を貫通する。同様に、第1位置決めピン233が第1貫通孔219及び第1位置決め孔260をこの記載順に貫通し、第2位置決めピン234が第2貫通孔220及び第2位置決め孔261をこの記載順に貫通する。
そして、CPUボード201をコネクタ202に重ね合わせるように、CPUボード201をサポートボード204に取り付ける。このとき、第1位置決めピン233が第1位置決め孔209を貫通し、第2位置決めピン234が第2位置決め孔210を貫通する。この状態で、第1ボルト211を第1ボルト締結孔207を介して第1ナット231に締結させると共に、第2ボルト212を第2ボルト締結孔208を介して第2ナット232に締結させる。このようにコネクタ202がCPUボード201と入出力ボード203の間に挟まれることで、入出力ボード203の複数のパッド215とCPUボード201の複数のパッド206が複数のコンタクト300を介してそれぞれ電気的に接続される。
また、第1位置決めピン233がコネクタ202の第1位置決め孔260とCPUボード201の第1位置決め孔209に挿入されると共に、第2位置決めピン234がコネクタ202の第2位置決め孔261とCPUボード201の第2位置決め孔210に挿入されることで、コネクタ202に対するCPUボード201の高精度な位置決めが実現されている。
以下、コネクタ202について更に詳細に説明する。
図5に示すように、ハウジング250は、矩形平板状に構成されている。即ち、ハウジング250は、第1ピッチ側面262、第2ピッチ側面263、第1幅側面264、第2幅側面265を有する。第1ピッチ側面262及び第2ピッチ側面263は、ピッチ方向に対して直交する側面である。第1ピッチ側面262と第2ピッチ側面263は、互いに反対の面である。第1幅側面264及び第2幅側面265は、幅方向に対して直交する面である。第1幅側面264と第2幅側面265は、互いに反対の面である。
ハウジング250は、更に、第1角部266、第2角部267、第3角部268、第4角部269を有する。第1角部266は、第1ピッチ側面262と第1幅側面264が交わる角部である。第2角部267は、第1ピッチ側面262と第2幅側面265が交わる角部である。第3角部268は、第2ピッチ側面263と第1幅側面264が交わる角部である。第4角部269は、第2ピッチ側面263と第2幅側面265が交わる角部である。従って、第1角部266と第4角部269は、平面視で矩形状のハウジング250の対角位置に位置している。同様に、第2角部267と第3角部268は、平面視で矩形状のハウジング250の対角位置に位置している。そして、前述の第1位置決め孔260は、第1角部266に形成されている。第2位置決め孔261は、第2角部267に形成されている。ハウジング250は、位置決め孔を2つのみ有している。
第1ピッチ側面262には、第1ホールドダウン圧入溝270、第1ナット切り欠き271、第2ホールドダウン圧入溝272が第1幅側面264から第2幅側面265に向かってこの記載順で形成されている。
第2ピッチ側面263には、第3ホールドダウン圧入溝273、第2ナット切り欠き274、第4ホールドダウン圧入溝275が第1幅側面264から第2幅側面265に向かってこの記載順で形成されている。
CPUボード対向面250Aには、第1ホールドダウン収容窪み280、第2ホールドダウン収容窪み281、第3ホールドダウン収容窪み282、第4ホールドダウン収容窪み283が形成されている。
ハウジング250には、更に、複数のコンタクト収容部284が形成されている。
第1ホールドダウン圧入溝270は、第1ホールドダウン252を圧入により保持するための溝である。
第2ホールドダウン圧入溝272は、第2ホールドダウン253を圧入により保持するための溝である。
第3ホールドダウン圧入溝273は、第3ホールドダウン254を圧入により保持するための溝である。
第4ホールドダウン圧入溝275は、第4ホールドダウン255を圧入により保持するための溝である。
第1ナット切り欠き271は、図1に示す第1ナット231とハウジング250との物理的干渉を回避するための切り欠きである。図1に示す第1ナット231とハウジング250との物理的干渉を回避するために、ハウジング250に第1ナット切り欠き271を形成することに代えて、ハウジング250に第1ナット231が貫通可能な孔を形成してもよい。
第2ナット切り欠き274は、図1に示す第2ナット232とハウジング250との物理的干渉を回避するための切り欠きである。図1に示す第2ナット232とハウジング250との物理的干渉を回避するために、ハウジング250に第2ナット切り欠き274を形成することに代えて、ハウジング250に第2ナット232が貫通可能な孔を形成してもよい。
図5に戻り、第1ホールドダウン収容窪み280は、ハウジング250に取り付けた第1ホールドダウン252がCPUボード対向面250AよりもCPUボード201に近づかないように第1ホールドダウン252を収容するために形成されている。第1ホールドダウン収容窪み280は、第1角部266に形成されている。第1ホールドダウン収容窪み280は、平面視で第1位置決め孔260を取り囲むように形成されている。第1ホールドダウン収容窪み280の深さ寸法は、第1ホールドダウン252の板厚寸法よりも大きい。
第2ホールドダウン収容窪み281は、ハウジング250に取り付けた第2ホールドダウン253がCPUボード対向面250AよりもCPUボード201に近づかないように第2ホールドダウン253を収容するために形成されている。第2ホールドダウン収容窪み281は、第2角部267に形成されている。第2ホールドダウン収容窪み281は、平面視で第2位置決め孔261を取り囲むように形成されている。第2ホールドダウン収容窪み281の深さ寸法は、第2ホールドダウン253の板厚寸法よりも大きい。
第3ホールドダウン収容窪み282は、ハウジング250に取り付けた第3ホールドダウン254がCPUボード対向面250AよりもCPUボード201に近づかないように第3ホールドダウン254を収容するために形成されている。第3ホールドダウン収容窪み282は、第3角部268に形成されている。第3ホールドダウン収容窪み282の深さ寸法は、第3ホールドダウン254の板厚寸法よりも大きい。
第4ホールドダウン収容窪み283は、ハウジング250に取り付けた第4ホールドダウン255がCPUボード対向面250AよりもCPUボード201に近づかないように第4ホールドダウン255を収容するために形成されている。第4ホールドダウン収容窪み283は、第4角部269に形成されている。第4ホールドダウン収容窪み283の深さ寸法は、第4ホールドダウン255の板厚寸法よりも大きい。
各コンタクト収容部284は、各コンタクト300を収容する部分である。各コンタクト収容部284は、ハウジング250を上下方向に貫通するように形成されている。
図6には、コネクタ202を平面視で示している。ただし、説明の便宜上、第1ホールドダウン252、第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255は図示していない。
図6に示すように、第1ピッチ側面262には、第1ホールドダウン圧入溝270等が形成される。このため、第1ピッチ側面262は、幅方向において不連続に存在している。以降の説明のために、第1ピッチ側面262のうち第1ホールドダウン圧入溝270等を形成したことで欠落した部分には二点鎖線を描き、この二点鎖線から第1ピッチ側面262の引出線を描くことで、第1ピッチ側面262を特定している。
同様に、第2ピッチ側面263には、第3ホールドダウン圧入溝273等が形成される。このため、第2ピッチ側面263は、幅方向において不連続に存在している。以降の説明のために、第2ピッチ側面263のうち第3ホールドダウン圧入溝273等を形成したことで欠落した部分に沿って二点鎖線を描き、この二点鎖線から第2ピッチ側面263の引出線を描くことで、第2ピッチ側面263を特定している。
図6に示すように、複数のコンタクト列251は、ハウジング250を幅方向で二分する二分線250Cに対して線対称となるように配置されている。以下、複数のコンタクト列251のうち、コンタクト列251A、コンタクト列251D、コンタクト列251Fに特に着目する。
コンタクト列251A及びコンタクト列251D、コンタクト列251Fは、第1ピッチ側面262から第2ピッチ側面263に向かって延びている。
第1位置決め孔260は、ピッチ方向においてコンタクト列251Aと隣り合っている。第1位置決め孔260は、二点鎖線で示した第1ピッチ側面262とコンタクト列251Aの間に配置されている。
同様に、第2位置決め孔261は、ピッチ方向においてコンタクト列251Fと隣り合っている。第2位置決め孔261は、二点鎖線で示した第1ピッチ側面262とコンタクト列251Fの間に配置されている。
ピッチ方向における、コンタクト列251Aと第1ピッチ側面262との間の距離を距離D1と定義する。詳しくは、距離D1は、コンタクト列251Aを構成する複数のコンタクト300のうち最も第1ピッチ側面262に近いコンタクト300と第1ピッチ側面262との間のピッチ方向における距離である。
同様に、ピッチ方向における、コンタクト列251Fと第1ピッチ側面262との間の距離を距離D2と定義する。詳しくは、距離D2は、コンタクト列251Fを構成する複数のコンタクト300のうち最も第1ピッチ側面262に近いコンタクト300と第1ピッチ側面262との間のピッチ方向における距離である。
同様に、ピッチ方向における、コンタクト列251Dと第1ピッチ側面262との間の距離を距離D3と定義する。詳しくは、距離D3は、コンタクト列251Dを構成する複数のコンタクト300のうち最も第1ピッチ側面262に近いコンタクト300と第1ピッチ側面262との間のピッチ方向における距離である。
本実施形態では、D1=D2の関係が成立している。また、本実施形態では、D3<D1及びD3<D2の関係が成立している。端的に言えば、コンタクト列251Dは、コンタクト列251Aよりも第1ピッチ側面262に近く、コンタクト列251Fよりも第1ピッチ側面262に近い。
第1ナット切り欠き271は、二点鎖線で示した第1ピッチ側面262に開口すると共に、二点鎖線で示した第1ピッチ側面262とコンタクト列251Dの間に形成されている。
ピッチ方向における、コンタクト列251Aと第2ピッチ側面263との間の距離を距離E1と定義する。詳しくは、距離E1は、コンタクト列251Aを構成する複数のコンタクト300のうち最も第2ピッチ側面263に近いコンタクト300と第2ピッチ側面263との間のピッチ方向における距離である。
同様に、ピッチ方向における、コンタクト列251Fと第2ピッチ側面263との間の距離を距離E2と定義する。詳しくは、距離E2は、コンタクト列251Fを構成する複数のコンタクト300のうち最も第2ピッチ側面263に近いコンタクト300と第2ピッチ側面263との間のピッチ方向における距離である。
同様に、ピッチ方向における、コンタクト列251Dと第2ピッチ側面263との間の距離を距離E3と定義する。詳しくは、距離E3は、コンタクト列251Dを構成する複数のコンタクト300のうち最も第2ピッチ側面263に近いコンタクト300と第2ピッチ側面263との間のピッチ方向における距離である。
本実施形態では、E1=E2の関係が成立している。また、本実施形態では、E3>E1及びE3>E2の関係が成立している。端的に言えば、コンタクト列251Dは、コンタクト列251Aよりも第2ピッチ側面263から遠く、コンタクト列251Fよりも第2ピッチ側面263から遠い。
第2ナット切り欠き274は、二点鎖線で示した第2ピッチ側面263に開口すると共に、二点鎖線で示した第2ピッチ側面263とコンタクト列251Dの間に形成されている。
次に、図7から図9を参照して、第1位置決め孔260、第2位置決め孔261、第1ホールドダウン252、第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255を更に詳細に説明する。図8には、図7のA部拡大図を示している。図9には、図7のB部拡大図を示している。
図8に示すように、第1位置決め孔260は、ハウジング250を上下方向に貫通する丸孔であって、内周縁260Aを有する。
第1ホールドダウン252は、補強板部252Aと、2つの半田付け部252Bと、を有する。
補強板部252Aは、第1位置決め孔260の周囲においてCPUボード対向面250Aを覆うように配置される。補強板部252Aは、CPUボード対向面250Aに形成された第1ホールドダウン収容窪み280に収容される。従って、補強板部252Aは、CPUボード対向面250Aを覆いながらも、CPUボード対向面250Aのうち第1ホールドダウン収容窪み280が形成されていない部分250DよりもCPUボード201から遠ざけられている。これにより、CPUボード201をコネクタ202に押し付けた際の各コンタクト300の弾性変形を阻害することがない。
各半田付け部252Bは、補強板部252Aから入出力ボード203に向かって突出し、入出力ボード203の対応するパッド216に半田接続可能に構成されている。2つの半田付け部252Bの一方が第1ピッチ側面262に形成された第1ホールドダウン圧入溝270に圧入され、これにより、第1ホールドダウン252はハウジング250に保持される。各半田付け部252Bは、図5に示すハウジング250の入出力ボード対向面250Bよりも下方に突出している。
図8に戻り、補強板部252Aには、貫通孔252Cが形成されている。貫通孔252Cは、補強板部252Aを上下方向に貫通する丸孔であって、内周縁252Dを有する。
貫通孔252Cは、第1位置決め孔260よりも大きい。詳しくは、貫通孔252Cの内径252Eは、第1位置決め孔260の内径260Bよりも大きい。
そして、第1ホールドダウン252は、平面視で、補強板部252Aが第1位置決め孔260の内周縁260Aを覆わないように配置されている。即ち、第1ホールドダウン252は、平面視で、第1位置決め孔260の内周縁260Aが貫通孔252Cの内周縁252Dの径方向内方に位置するように配置されている。
これにより、金属製の補強板部252Aは、第1位置決め孔260の内周縁260Aと第1位置決めピン233との位置決め機能を邪魔することがない。また、金属製の補強板部252Aは、第1位置決め孔260が第1位置決めピン233との接触により径方向外方へ変形したときの変形量を抑制するので、上記位置決め機能による位置決め精度の大幅な低下を回避することができる。
続いて、図9に示すように、第2位置決め孔261は、ハウジング250を上下方向に貫通する長孔(Slotted hole)である。第2位置決め孔261は、第1位置決め孔260に近づくように延びている。第2位置決め孔261は、幅方向に細長く延びている。第2位置決め孔261は、内周縁261Aを有する。
第2ホールドダウン253は、補強板部253Aと、2つの半田付け部253Bと、を有する。
補強板部253Aは、第2位置決め孔261の周囲においてCPUボード対向面250Aを覆うように配置される。補強板部253Aは、CPUボード対向面250Aに形成された第2ホールドダウン収容窪み281に収容される。従って、補強板部253Aは、CPUボード対向面250Aを覆いながらも、CPUボード対向面250Aのうち第2ホールドダウン収容窪み281が形成されていない部分250DよりもCPUボード201から遠ざけられている。これにより、CPUボード201をコネクタ202に押し付けた際の各コンタクト300の弾性変形を阻害することがない。
各半田付け部253Bは、補強板部253Aから入出力ボード203に向かって突出し、入出力ボード203の対応するパッド216に半田接続可能に構成されている。2つの半田付け部253Bの一方が第1ピッチ側面262に形成された第2ホールドダウン圧入溝272に圧入され、これにより、第2ホールドダウン253はハウジング250に保持される。各半田付け部253Bは、図5に示すハウジング250の入出力ボード対向面250Bよりも下方に突出している。
図9に戻り、補強板部253Aには、貫通孔253Cが形成されている。貫通孔253Cは、補強板部253Aを上下方向に貫通する長孔(Slotted hole)であって、内周縁253Dを有する。
貫通孔253Cは、第2位置決め孔261よりも大きい。詳しくは、貫通孔253Cの内周縁253Dは、ピッチ方向で互いに対向する2つの直線縁部253Eを含む。第2位置決め孔261の内周縁261Aは、ピッチ方向で互いに対向する2つの直線縁部261Bを含む。2つの直線縁部253Eの間の距離253Fは、2つの直線縁部261Bの間の距離261Cよりも長い。
そして、第2ホールドダウン253は、平面視で、補強板部253Aが第2位置決め孔261の内周縁261Aを覆わないように配置されている。即ち、第2ホールドダウン253は、平面視で、第2位置決め孔261の内周縁261Aが貫通孔253Cの内周縁253Dの内方に位置するように配置されている。詳しくは、第2ホールドダウン253は、平面視で、2つの直線縁部261Bが2つの直線縁部253Eの間に位置するように配置されている。
これにより、金属製の補強板部253Aは、第2位置決め孔261の内周縁261Aと第2位置決めピン234との位置決め機能を邪魔することがない。また、金属製の補強板部253Aは、第2位置決め孔261が第2位置決めピン234との接触により外方へ変形したときの変形量を抑制するので、上記位置決め機能による位置決め精度の大幅な低下を回避することができる。
図4に示すように、本実施形態は、ハウジング250は一体形成されるのに対し、第1ホールドダウン252と第2ホールドダウン253は別部品とされている。従って、図7から図9を参照して、ハウジング250に形成される第1位置決め孔260と第2位置決め孔261との相対的な位置関係は、第1ホールドダウン252の貫通孔252Cと第2ホールドダウン253の貫通孔253Cとの相対的な位置関係よりも管理し易い。従って、図8に示すように第1ホールドダウン252の補強板部252Aが第1位置決め孔260の内周縁260Aを平面視で覆わないこと、及び、図9に示すように第2ホールドダウン253の補強板部253Aが第2位置決め孔261の内周縁261Aを平面視で覆わないことにより、第1位置決め孔260及び第2位置決め孔261による位置決め機能が確実に発揮され、もって、コネクタ202に対するCPUボード201の高い位置決め精度が実現される。
図7に戻り、第3ホールドダウン254は、カバー板部254Aと、2つの半田付け部254Bと、を有する。
カバー板部254Aは、CPUボード対向面250Aに形成された第3ホールドダウン収容窪み282に収容される。従って、カバー板部254Aは、CPUボード対向面250Aを覆いながらも、CPUボード対向面250Aのうち第3ホールドダウン収容窪み282が形成されていない部分250DよりもCPUボード201から遠ざけられている。これにより、CPUボード201をコネクタ202に押し付けた際の各コンタクト300の弾性変形を阻害することがない。
各半田付け部254Bは、カバー板部254Aから入出力ボード203に向かって突出し、入出力ボード203の対応するパッド216に半田接続可能に構成されている。2つの半田付け部254Bの一方が第2ピッチ側面263に形成された第3ホールドダウン圧入溝273に圧入され、これにより、第3ホールドダウン254はハウジング250に保持される。各半田付け部254Bは、図5に示すハウジング250の入出力ボード対向面250Bよりも下方に突出している。
図7に戻り、第4ホールドダウン255は、カバー板部255Aと、2つの半田付け部255Bと、を有する。
カバー板部255Aは、CPUボード対向面250Aに形成された第4ホールドダウン収容窪み283に収容される。従って、カバー板部255Aは、CPUボード対向面250Aを覆いながらも、CPUボード対向面250Aのうち第4ホールドダウン収容窪み283が形成されていない部分250DよりもCPUボード201から遠ざけられている。これにより、CPUボード201をコネクタ202に押し付けた際の各コンタクト300の弾性変形を阻害することがない。
各半田付け部255Bは、カバー板部255Aから入出力ボード203に向かって突出し、入出力ボード203の対応するパッド216に半田接続可能に構成されている。2つの半田付け部255Bの一方が第2ピッチ側面263に形成された第4ホールドダウン圧入溝275に圧入され、これにより、第4ホールドダウン255はハウジング250に保持される。各半田付け部255Bは、図5に示すハウジング250の入出力ボード対向面250Bよりも下方に突出している。
次に、図10から図13を参照して、各コンタクト300及び各コンタクト収容部284を詳細に説明する。
図10及び図11に示すように、各コンタクト収容部284は、各コンタクト300をハウジング250に取り付けるために形成されている。図11に示すように、各コンタクト収容部284は、圧入空間301と半田接続確認孔302、仕切壁303によって構成されている。圧入空間301と半田接続確認孔302は、幅方向で互いに離れて形成されている。仕切壁303は、圧入空間301と半田接続確認孔302を幅方向で仕切る壁である。
圧入空間301は、ハウジング250を上下方向に貫通する貫通孔として形成されている。即ち、圧入空間301は、CPUボード対向面250A及び入出力ボード対向面250Bに開口している。ハウジング250は、圧入空間301毎に、圧入空間301をピッチ方向で区画する2つのピッチ区画面304を有する。図11には、2つのピッチ区画面304のうち一方のみが描かれている。図12には、圧入空間301及び半田接続確認孔302の断面形状を二点鎖線で特定している。図12に示すように、各ピッチ区画面304には、上下方向に延びる圧入溝305が形成されている。各ピッチ区画面304は、圧入溝305をピッチ方向で区画する圧入面305Aを有する。
図11に戻り、半田接続確認孔302は、ハウジング250を上下方向に貫通する貫通孔である。即ち、半田接続確認孔302は、CPUボード対向面250A及び入出力ボード対向面250Bに開口している。
仕切壁303は、前述したように圧入空間301と半田接続確認孔302を空間的に仕切る壁であって、圧入空間301と半田接続確認孔302の間に形成されている。図12に示すように、仕切壁303は、幅方向において圧入空間301を区画する第1仕切り面306と、幅方向において半田接続確認孔302を区画する第2仕切り面307と、を有する。第1仕切り面306及び第2仕切り面307は、何れも幅方向に対して直交する面である。図11及び図12に示すように、仕切壁303には、圧入空間301及び半田接続確認孔302に開口すると共に入出力ボード対向面250Bに開口する切り欠き308が形成されている。切り欠き308は、仕切壁303の下端に形成されている。
図13には、各コンタクト300の斜視図を示している。図13に示すように、各コンタクト300は、圧入部320と半田付け部321、電気接触バネ片322を含む。
圧入部320は、図12に示す圧入空間301に圧入される部分である。即ち、圧入部320を圧入空間301に圧入することにより、各コンタクト300はハウジング250に保持される。図13に戻り、圧入部320は、幅方向に対して直交する板体であって、圧入部本体323と、2つの圧入爪324と、を含む。2つの圧入爪324は、圧入部本体323のピッチ方向における両端部からそれぞれピッチ方向に突出して形成されている。
半田付け部321は、図1に示す入出力ボード203の対応するパッド215に半田接続可能な部分である。図13に示すように、半田付け部321は、圧入部320の下端から幅方向に延びる水平延長部321Aと、水平延長部321Aから上方に湾曲する湾曲部321Bと、を含む。
電気接触バネ片322は、図2に示すCPUボード201の対応するパッド206との電気的接点として機能する部分である。図13に示すように、電気接触バネ片322は、バネ片連結部325と弾性変形容易部326、接触部327を含む。バネ片連結部325、弾性変形容易部326、接触部327は、この記載順に連なっている。
バネ片連結部325は、圧入部320の上端から下方に向かって延びている。
弾性変形容易部326は、バネ片連結部325の下端から延びると共に、幅方向に凸となるU字状に形成されている。即ち、弾性変形容易部326は、下直線部326Aと湾曲部326B、上直線部326Cを含む。下直線部326Aと湾曲部326B、上直線部326Cは、この記載順で連なっている。下直線部326Aと上直線部326Cは、上下方向で対向している。下直線部326Aと上直線部326Cは、湾曲部326Bを介して連結されている。
接触部327は、図2に示すCPUボード201の対応するパッド206と電気的に接触可能な部分である。接触部327は、弾性変形容易部326の上直線部326Cの先端に設けられており、上方に向かって凸となるように湾曲して形成されている。
図12には、各コンタクト収容部284に各コンタクト300を取り付けた様子を示している。各コンタクト収容部284に各コンタクト300を取り付けるには、各コンタクト300を入出力ボード対向面250B側から各コンタクト収容部284の圧入空間301に圧入する。このとき、図13に示す圧入部320の2つの圧入爪324が2つのピッチ区画面304にそれぞれ食いつくことになる。詳しくは、図13に示す圧入部320の2つの圧入爪324が2つのピッチ区画面304に形成された圧入溝305の圧入面305Aにそれぞれ食いつくことになる。
各コンタクト収容部284に各コンタクト300を取り付けると、弾性変形容易部326は圧入空間301に収容され、接触部327はCPUボード対向面250Aから上方に突出した状態となる。また、半田付け部321は、切り欠き308を通って半田接続確認孔302に至っている。詳しくは、半田付け部321の水平延長部321Aが切り欠き308内で幅方向に延びると共に、湾曲部321Bが半田接続確認孔302内に位置している。この状態で、圧入部320はハウジング250の仕切壁303に接触するものの、半田付け部321と電気接触バネ片322はハウジング250に接触しない。
図12には、半田付け部321を入出力ボード203の対応するパッド215に半田接続した様子を示している。図12に示すように、半田付け部321をパッド215に半田接続すると、半田付け部321の湾曲部321Bとパッド215の間には半田フィレット330が形成される。一般的に、半田フィレット330が形成されたことをもって半田付け部321がパッド215に正常に半田接続されたものと見做される。そこで、本実施形態では、ハウジング250に半田接続確認孔302が形成されており、半田フィレット330を半田接続確認孔302を介して上方から確認できるように形成されている。これにより、コネクタ202を入出力ボード203に表面実装した後に、各コンタクト300の半田接続の成否を確認できる。
そして、本実施形態では、前述したように圧入空間301と半田接続確認孔302を仕切る仕切壁303が形成されている。仕切壁303が存在することにより、圧入空間301に圧入部320を圧入したときに発生し得るハウジング250の削りカスが半田接続確認孔302内に移動することが阻止される。従って、半田フィレット330を半田接続確認孔302を介して上方から問題なく確認できるようになっている。
次に、図14及び図15を参照して、吸着カバー付きコネクタ202Aを説明する。吸着カバー付きコネクタ202Aは、コネクタ202と、コネクタ202に対して着脱可能な吸着カバー340と、を含む。図14及び図15に示すように、吸着カバー340は、コネクタ202を入出力ボード203に表面実装するに際し、コネクタ202を図示しない吸着ノズルで保持するために、コネクタ202に一時的に取り付けられるものである。
図14に示すように、吸着カバー340は、吸着板部341と複数の取り付けバネ片342、複数の主変形抑制部343、2つの抜去フック344を含む。吸着カバー340は、例えばステンレス鋼板などの金属板を打ち抜いて曲げることで形成されている。
吸着板部341は、各コンタクト300の電気接触バネ片322を覆って保護すると共に図示しない吸着ノズルによって吸着可能な平板である。吸着板部341の板厚方向は、コネクタ202に取り付けられた状態で上下方向に平行となる。
複数の取り付けバネ片342は、吸着板部341がコネクタ202に対して着脱自在となるように、コネクタ202に引っ掛かることができるように構成されている。複数の取り付けバネ片342は、第1取り付けバネ片345、第2取り付けバネ片346、第3取り付けバネ片347、第4取り付けバネ片348を含む。
第1取り付けバネ片345は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第1角部266に対応する。
同様に、第2取り付けバネ片346は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第2角部267に対応する。
同様に、第3取り付けバネ片347は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第3角部268に対応する。
同様に、第4取り付けバネ片348は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第4角部269に対応する。
図15に示すように、ハウジング250の第1ピッチ側面262には、窪み285及び窪み286が形成されている。窪み285は、第1角部266に対応するように配置されている。窪み286は、第2角部267に対応するように配置されている。
そして、第1取り付けバネ片345は、突部345Aと、突部345Aがピッチ方向で弾性変位可能となるように突部345Aを支持するバネ片345Bと、を含む。第2取り付けバネ片346、第3取り付けバネ片347、第4取り付けバネ片348も同様の構成を有する。
図14に戻り、複数の主変形抑制部343は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形することを抑制するために、吸着板部341からCPUボード対向面250Aに向かって突出する。複数の主変形抑制部343は、第1主変形抑制部350、第2主変形抑制部351、第3主変形抑制部352、第4主変形抑制部353を含む。
第1主変形抑制部350は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第1角部266に対応する。
同様に、第2主変形抑制部351は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第2角部267に対応する。
同様に、第3主変形抑制部352は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第3角部268に対応する。
同様に、第4主変形抑制部353は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第4角部269に対応する。
第1主変形抑制部350及び第2主変形抑制部351は、第1取り付けバネ片345と第2取り付けバネ片346の間に配置されている。
第3主変形抑制部352及び第4主変形抑制部353は、第3取り付けバネ片347と第4取り付けバネ片348の間に配置されている。
図15に示すように、第1主変形抑制部350は、吸着板部341の一部を下方に曲げることで形成されている。換言すれば、第1主変形抑制部350は、吸着板部341から下方に突出して形成されている。第1主変形抑制部350は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第1主変形抑制部350の下端部350Aが上下方向で第1ホールドダウン252の補強板部252Aと対向するように配置されている。
同様に、第2主変形抑制部351は、吸着板部341の一部を下方に曲げることで形成されている。換言すれば、第2主変形抑制部351は、吸着板部341から下方に突出して形成されている。第2主変形抑制部351は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第2主変形抑制部351の下端部351Aが上下方向で第2ホールドダウン253の補強板部253Aと対向するように配置されている。
図14に示すように、第3主変形抑制部352は、吸着板部341の一部を下方に曲げることで形成されている。換言すれば、第3主変形抑制部352は、吸着板部341から下方に突出して形成されている。第3主変形抑制部352は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第3主変形抑制部352の下端部が上下方向で第3ホールドダウン254のカバー板部254Aと対向するように配置されている。
同様に、第4主変形抑制部353は、吸着板部341の一部を下方に曲げることで形成されている。換言すれば、第4主変形抑制部353は、吸着板部341から下方に突出して形成されている。第4主変形抑制部353は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第4主変形抑制部353の下端部が上下方向で第4ホールドダウン255のカバー板部255Aと対向するように配置されている。
従って、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときに、第1主変形抑制部350及び第2主変形抑制部351が第1ホールドダウン252及び第2ホールドダウン253にそれぞれ接触し、第3主変形抑制部352及び第4主変形抑制部353が第3ホールドダウン254及び第4ホールドダウン255にそれぞれ接触するので、吸着板部341のそれ以上の変形が抑制される。これにより、吸着板部341が複数のコンタクト300の電気接触バネ片322に接触するなどして複数のコンタクト300を破損させることがない。
また、第1主変形抑制部350及び第2主変形抑制部351は、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときに、第1ホールドダウン252及び第2ホールドダウン253で受け止められるように構成されている。同様に、第3主変形抑制部352及び第4主変形抑制部353は、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときに、第3ホールドダウン254及び第4ホールドダウン255で受け止められるように構成されている。従って、第1主変形抑制部350及び第2主変形抑制部351、第3主変形抑制部352、第4主変形抑制部353は、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときに、ハウジング250のCPUボード対向面250Aに直接接触することがない。これにより、第1主変形抑制部350及び第2主変形抑制部351、第3主変形抑制部352、第4主変形抑制部353がハウジング250と衝突してハウジング250を損傷させたり、接続不良の原因となる削りカスが発生したりするのを効果的に抑制することができる。
なお、本実施形態において吸着カバー340は、複数の主変形抑制部343を含むとしたが、これに代えて、主変形抑制部343を1つだけ含むように構成してもよい。
図14に示すように、2つの抜去フック344は、吸着板部341から幅方向にそれぞれ突出している。そして、2つの抜去フック344は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、平面視で、コネクタ202の外周縁354よりも外方に突出するように配置されている。従って、例えば親指と人差し指を2つの抜去フック344のそれぞれに容易に引っ掛けられるので、吸着カバー340をコネクタ202から取り外し易い。
なお、図1及び図2を参照して、前述したように第1ボルト211及び第2ボルト212を用いてCPUボード201をコネクタ202に押し付けると、図12に示す各コンタクト300の電気接触バネ片322の接触部327が下方に向かって弾性変位し、やがて、図2に示すCPUボード201のコネクタ対向面201Aが図3に示すコネクタ202のハウジング250のCPUボード対向面250Aと面接触する。このとき、CPUボード201のコネクタ対向面201Aは、第1ホールドダウン252等とは接触していない。
その後、更に、第1ボルト211及び第2ボルト212を用いてCPUボード201をコネクタ202に押し付けると、図8に示す半田付け部252Bの第1ホールドダウン圧入溝270に対する滑りを伴いながら、ハウジング250が第1ホールドダウン252等に対して相対的に下方に移動する。そして、最終的には、CPUボード201のコネクタ対向面201Aは、入出力ボード203に半田接続された第1ホールドダウン252等によって受け止められる。これにより、ハウジング250が第1ホールドダウン252等に対して相対的に下方に移動することが規制されることになる。
以上に、第1実施形態を説明したが、上記第1実施形態は以下の特徴を有する。
(第1の技術思想、No.0170)
即ち、図1及び図2に示すように、コネクタ202(基板対基板コネクタ)は、入出力ボード203(第1基板)に実装される。コネクタ202は、入出力ボード203とCPUボード201(第2基板)の間に挟まれることで、入出力ボード203の複数のパッド215とCPUボード201の複数のパッド206をそれぞれ電気的に接続する。図6に示すように、コネクタ202は、第1位置決め孔209及び第2位置決め孔210を有する矩形平板状のハウジング250と、ハウジング250に保持されたコンタクト列251A(第1コンタクト列)及びコンタクト列251F(第2コンタクト列)と、を備える。ハウジング250は、第1ピッチ側面262(第1側面)と、第1ピッチ側面262の反対側の面である第2ピッチ側面263(第2側面)と、を有する。コンタクト列251A及びコンタクト列251Fは、第1ピッチ側面262から第2ピッチ側面263に向かって延びている。そして、第1位置決め孔260は、第1ピッチ側面262とコンタクト列251Aの間に配置されており、第2位置決め孔261は、第1ピッチ側面262とコンタクト列251Fの間に配置されている。以上の構成によれば、第1位置決め孔260及び第2位置決め孔261が第1ピッチ側面262側に集約されることで、コネクタ202の小型化に寄与する。
また、図6に示すように、コネクタ202は、コンタクト列251Aとコンタクト列251Fの間に配置され、第1ピッチ側面262から第2ピッチ側面263に向かって延びるコンタクト列251D(第3コンタクト列)を更に備える。コンタクト列251Aと第1ピッチ側面262との間の距離D1、コンタクト列251Fと第1ピッチ側面262との間の距離D2、コンタクト列251Dと第1ピッチ側面262との間の距離D3は、D3<D1及びD3<D2の関係を満たす。以上の構成によれば、第1位置決め孔260と第2位置決め孔261の間のスペースを活用することで、コンタクト300の芯数を増やすことができる。
また、図6に示すように、第1位置決め孔260と第2位置決め孔261の間には、第1ピッチ側面262に開口する第1ナット切り欠き271(切り欠き)が形成されている。以上の構成によれば、第1位置決め孔260と第2位置決め孔261の間のスペースを活用して、第1ナット切り欠き271を形成することができるので、コネクタ202の小型化に寄与する。
また、図6に示すように、コンタクト列251Aと第2ピッチ側面263との間の距離E1、コンタクト列251Fと第2ピッチ側面263との間の距離E2、コンタクト列251Dと第2ピッチ側面263との間の距離E3は、E3>E1及びE3>E2の関係を満たす。以上の構成によれば、第2ピッチ側面263の近傍で、コンタクト列251Aとコンタクト列251Fの間にスペースを確保することができる。このスペースは、例えば、第2ナット切り欠き274を形成するのに活用できる。
また、図7及び図8に示すように、コネクタ202は、金属製の第1ホールドダウン252(補強部材)を更に備える。ハウジング250は、CPUボード201と対向可能なCPUボード対向面250A(第2基板対向面)を有する。第1ホールドダウン252は、第1位置決め孔260の周囲においてCPUボード対向面250Aを覆う補強板部252Aを含む。以上の構成によれば、第1位置決め孔260の拡径変形が第1ホールドダウン252によって抑制されるので、第1位置決め孔260による位置決め精度の極端な悪化を防止できる。第2ホールドダウン253についても同様である。
また、図8に示すように、第1ホールドダウン252は、平面視で、第1ホールドダウン252の補強板部252Aが、第1位置決め孔260の内周縁260Aを覆わないように配置されている。以上の構成によれば、第1位置決め孔260によって発揮される位置決め機能を第1ホールドダウン252が阻害することがない。第2ホールドダウン253についても同様である。
また、図4に示すように、各コンタクト列251は、複数のコンタクト300を含む。図12に示すように、各コンタクト300は、CPUボード対向面250Aから上方に突出する電気接触バネ片322を含む。図5に示すように、ハウジング250のCPUボード対向面250Aには、第1ホールドダウン252の補強板部252Aを収容する第1ホールドダウン収容窪み280(収容窪み)が形成されている。以上の構成によれば、第1ホールドダウン252の補強板部252AがCPUボード対向面250Aよりも上方に突出することがないので、電気接触バネ片322の下方への弾性変形を阻害することがない。第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255についても同様である。
また、図8に示すように、第1ホールドダウン252は、第1ホールドダウン252の補強板部252Aから入出力ボード203に向かって突出し、入出力ボード203のパッド215に半田接続可能な半田付け部252Bを更に含む。以上の構成によれば、CPUボード201がコネクタ202に押し付けられたことでハウジング250が第1ホールドダウン252に対して相対的に下方に移動した際、第1ホールドダウン252がCPUボード201を受け止めることで、CPUボード201のそれ以上の移動を規制することができる。第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255についても同様である。
(第2の技術思想、No.0174)
即ち、図1及び図2に示すように、コネクタ202(基板対基板コネクタ)は、入出力ボード203(第1基板)に実装される。コネクタ202は、入出力ボード203とCPUボード201(第2基板)の間に挟まれることで、入出力ボード203の複数のパッド215とCPUボード201の複数のパッド206をそれぞれ電気的に接続する。図3から図5に示すように、コネクタ202は、第1位置決め孔209及び第2位置決め孔210を有する絶縁樹脂製の平板状のハウジング250と、ハウジング250に保持された複数のコンタクト300と、第1位置決め孔260及び第2位置決め孔261に対応してそれぞれ配置された金属製の第1ホールドダウン252及び第2ホールドダウン253と、を備える。ハウジング250は、CPUボード201と対向可能なCPUボード対向面250A(第2基板対向面)を有する。図8に示すように、第1ホールドダウン252は、対応する第1位置決め孔260の周囲においてCPUボード対向面250Aを覆う補強板部252Aを含む。同様に、図9に示すように、第2ホールドダウン253は、対応する第2位置決め孔261の周囲においてCPUボード対向面250Aを覆う補強板部253Aを含む。以上の構成によれば、第1位置決め孔260の拡径変形が第1ホールドダウン252によって抑制されるので、第1位置決め孔260による位置決め精度の極端な悪化を防止できる。第2ホールドダウン253についても同様である。また、図8に示すように、第1ホールドダウン252は、平面視で、第1ホールドダウン252の補強板部252Aが、対応する第1位置決め孔260の内周縁260Aを覆わないように配置されている。以上の構成によれば、第1位置決め孔260によって発揮される位置決め機能を第1ホールドダウン252が阻害することがない。第2ホールドダウン253についても同様である。
また、図12に示すように、各コンタクト300は、CPUボード対向面250Aから上方に突出する電気接触バネ片322を含む。図5に示すように、ハウジング250のCPUボード対向面250Aには、第1ホールドダウン252の補強板部252Aを収容する第1ホールドダウン収容窪み280(収容窪み)が形成されている。以上の構成によれば、第1ホールドダウン252の補強板部252AがCPUボード対向面250Aよりも上方に突出することがないので、電気接触バネ片322の下方への弾性変形を阻害することがない。第2ホールドダウン253についても同様である。
また、図8に示すように、第1位置決め孔260は、丸孔である。第1ホールドダウン252の補強板部252Aには、第1位置決め孔260よりも大きい貫通孔252C(丸孔)が形成されている。第1ホールドダウン252は、平面視で、第1ホールドダウン252の補強板部252Aの貫通孔252Cの内周縁252Dの径方向内方に、第1位置決め孔260の内周縁260Aが位置するように配置されている。以上の構成によれば、第1ホールドダウン252の補強板部252Aが、対応する第1位置決め孔260の内周縁260Aを覆わない構成が合理的に実現される。
また、図9に示すように、第2位置決め孔261は、互いに平行となる2つの直線縁部261Bを含む内周縁261Aを有する。第2ホールドダウン253の補強板部253Aには、互いに平行となる2つの直線縁部253Eを含む内周縁253Dを有する貫通孔253C(孔)が形成されている。第2ホールドダウン253の補強板部253Aの2つの直線縁部253Eの間の距離253Fは、第2位置決め孔261の2つの直線縁部261Bの間の距離261Cよりも長い。そして、第2ホールドダウン253は、平面視で、第2ホールドダウン253の補強板部253Aの2つの直線縁部253Eの間に第2位置決め孔261の2つの直線縁部261Bが位置するように配置されている。以上の構成によれば、第2ホールドダウン253の補強板部253Aが、対応する第2位置決め孔261の内周縁261Aを覆わない構成が合理的に実現される。
また、図8に示すように、第1ホールドダウン252は、第1ホールドダウン252の補強板部252Aから入出力ボード203に向かって突出し、入出力ボード203のパッド215に半田接続可能な半田付け部252Bを更に含む。以上の構成によれば、CPUボード201がコネクタ202に押し付けられたことでハウジング250が第1ホールドダウン252に対して相対的に下方に移動した際、第1ホールドダウン252がCPUボード201を受け止めることで、CPUボード201のそれ以上の移動を規制することができる。第2ホールドダウン253についても同様である。
(第3の技術思想、No.0167)
即ち、図1及び図2、図14に示すように、吸着カバー付きコネクタ202Aは、コネクタ202(基板対基板コネクタ)と、コネクタ202に対して着脱可能な吸着カバー340と、を含む。コネクタ202は、入出力ボード203(第1基板)に実装される。コネクタ202は、入出力ボード203とCPUボード201(第2基板)の間に挟まれることで、入出力ボード203の複数のパッド215とCPUボード201の複数のパッド206をそれぞれ電気的に接続する。図3から図5に示すように、コネクタ202は、絶縁樹脂製のハウジング250と、ハウジング250に保持された複数のコンタクト300と、金属製の第1ホールドダウン252と、を備える。ハウジング250は、CPUボード201に対向可能なCPUボード対向面250A(第2基板対向面)を有する。図8に示すように、第1ホールドダウン252は、CPUボード対向面250Aを覆う補強板部252Aを含む。図12に示すように、各コンタクト300は、CPUボード対向面250Aから突出する電気接触バネ片322を含む。図14及び図15に示すように、吸着カバー340は、各コンタクト300の電気接触バネ片322を覆うことで吸着ノズルによって吸着可能な平板状の吸着板部341と、吸着板部341がコネクタ202に対して着脱自在となるように、コネクタ202に引っ掛かることが可能な複数の取り付けバネ片342と、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形することを抑制するために、吸着板部341からCPUボード対向面250Aに向かって突出する第1主変形抑制部350(第1変形抑制部)と、を含む。第1主変形抑制部350は、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときに補強板部252Aに接触するように配置されている。以上の構成によれば、吸着カバー340の第1主変形抑制部350によってハウジング250が破損するのを防止することができる。第2主変形抑制部351及び第3主変形抑制部352、第4主変形抑制部353についても同様である。
また、図15に示すように、第1主変形抑制部350は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、上下方向で補強板部252Aと対向している。以上の構成によれば、吸着カバー340の第1主変形抑制部350によってハウジング250が破損するのを効果的に防止することができる。
また、図14に示すように、吸着カバー340は、2つの抜去フック344を更に含む。2つの抜去フック344は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態でコネクタ202の外周縁354よりも外方に突出している。以上の構成によれば、抜去フック344に容易に指を掛けられるので、吸着カバー340をコネクタ202から外し易い。なお、2つの抜去フック344のうち何れか一方を省略できる。
(第4の技術思想、No.0166)
即ち、図1及び図2に示すように、コネクタ202は、入出力ボード203(第1基板)に実装される。コネクタ202は、絶縁樹脂製の平板状のハウジング250と、ハウジング250に圧入により保持されるコンタクト300と、を備える。図12に示すように、ハウジング250は、圧入空間301と半田接続確認孔302を有する。コンタクト300は、圧入空間301に圧入される圧入部320と、圧入部320から延びて入出力ボード203のパッド215に半田接続される半田付け部321と、を含む。半田接続確認孔302は、上下方向でハウジング250を貫通すると共に、半田付け部321を入出力ボード203のパッド215に半田接続したときに形成される半田フィレット330を半田接続確認孔302を介して確認できるように形成されている。ハウジング250は、圧入空間301と半田接続確認孔302を仕切る仕切壁303を有する。以上の構成によれば、仕切壁303が存在することにより、圧入空間301に圧入部320を圧入したときに発生し得るハウジング250の削りカスが半田接続確認孔302内に移動することが阻止される。従って、半田フィレット330を半田接続確認孔302を介して上方から問題なく確認できるようになっている。
また、図12に示すように、圧入部320は、圧入空間301の内面であって、仕切壁303を構成する第1仕切り面306(面)と異なるピッチ区画面304(面)に食い付くように構成されている。以上の構成によれば、圧入部320を圧入空間301に圧入した際に、仕切壁303に負荷を与えない。従って、仕切壁303の強度設計上の制約が緩和される。
また、図12に示すように、半田付け部321の湾曲部321Bが半田接続確認孔302の内部に位置している。以上の構成によれば、半田フィレット330とコンタクト300との境界を半田接続確認孔302を介して確認できるので、半田付け部321における半田接続の成否をより高精度に確認することができる。
なお、図12において半田接続確認孔302にプローブ針を挿入してプローブ針を半田付け部321の湾曲部321Bに接触させ、他のプローブ針を入出力ボード203の回路パターンであってパッド215と導通するものに接触させることにより、コンタクト300とパッド215との導通を確認してもよい。この場合でも、前述したように圧入空間301に圧入部320を圧入したときに発生し得るハウジング250の削りカスが半田接続確認孔302内に移動することが阻止されるので、プローブ針を半田付け部321の湾曲部321Bに接触させ易いと言及できる。
(第2実施形態)
次に、図16を参照して、第2実施形態を説明する。以下、本実施形態が上記第1実施形態と相違する点を中心に説明し、重複する説明は省略する。
図16に示すように、本実施形態の吸着カバー340は、更に、2つの従変形抑制部360(第2変形抑制部)を含む。2つの従変形抑制部360は、吸着板部341のピッチ方向における両端部にそれぞれ形成されている。即ち、2つの従変形抑制部360は、第1ピッチ側面262側に配置される第1従変形抑制部361と、第2ピッチ側面263側に配置される図示しない第2従変形抑制部と、を含む。
第1従変形抑制部361は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形することを抑制するために、吸着板部341からCPUボード対向面250Aに向かって突出する。
第1従変形抑制部361は、第1主変形抑制部350と第2主変形抑制部351の間に配置されている。第1従変形抑制部361は、平面視で第1ナット切り欠き271を避けるように配置されている。第1従変形抑制部361は、吸着板部341の一部を下方に曲げることで形成されている。換言すれば、第1従変形抑制部361は、吸着板部341から下方に突出して形成されている。第1従変形抑制部361は、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第1従変形抑制部361の下端部361Aが上下方向でCPUボード対向面250Aと対向するように配置されている。
従って、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときに、第1主変形抑制部350及び第2主変形抑制部351が第1ホールドダウン252及び第2ホールドダウン253に接触することに加えて、第1従変形抑制部361がハウジング250のCPUボード対向面250Aに接触することで、吸着板部341のそれ以上の変形が抑制される。これにより、吸着板部341が複数のコンタクト300に接触するなどして複数のコンタクト300を破損させることがない。
なお、吸着カバー340がコネクタ202に取り付けられた状態で、第1主変形抑制部350と補強板部252Aとの間の上下方向における隙間は、第1従変形抑制部361とCPUボード対向面250Aとの上下方向における隙間よりも小さい。従って、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときに、第1従変形抑制部361がハウジング250のCPUボード対向面250Aに接触するよりも先に、第1主変形抑制部350が第1ホールドダウン252に接触することになる。従って、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときの変形量が小さい場合は、第1従変形抑制部361がCPUボード対向面250Aに接触することがないので削りカスが発生するのを抑制することができる。一方で、吸着板部341がCPUボード対向面250Aに向かって変形したときの変形量が大きい場合は、第1主変形抑制部350が第1ホールドダウン252に接触することに加えて、第1従変形抑制部361がハウジング250のCPUボード対向面250Aに接触することで、吸着板部341のそれ以上の変形が確実に抑制され、吸着板部341が複数のコンタクト300に接触するなどして複数のコンタクト300を破損させることがない。
第2ピッチ側面263側に配置される図示しない第2従変形抑制部についても同様である。また、2つの従変形抑制部360の何れか一方を省略することができる。
(第3実施形態)
以下、図17を参照して、第3実施形態を説明する。以下、本実施形態が上記第1実施形態と相違する点を中心に説明し、重複する説明は省略する。
図17に示すように、コンタクト300は、半田接続確認孔302の中に配置されると共に仕切壁303の第2仕切り面307に対して弾性的に接触する支持バネ片370を更に有する。支持バネ片370は、コンタクト300の弾性復元力により仕切壁303の第2仕切り面307に対して弾性的に接触している。これにより、各コンタクト収容部284における各コンタクト300の姿勢が安定する効果が得られる。
支持バネ片370は、半田付け部321の湾曲部321Bから上方に突出するように配置されている。支持バネ片370は、半田付け部321の湾曲部321Bから上方に向かうにつれて仕切壁303に近づくように傾斜している。
圧入部320は、仕切壁303の第1仕切り面306に接触している。そして、支持バネ片370は、圧入部320に向かって仕切壁303の第2仕切り面307を押圧するように仕切壁303の第2仕切り面307に対して弾性的に接触している。これにより、圧入部320と支持バネ片370が仕切壁303を弾性的に挟み込むことになるので、各コンタクト収容部284において各コンタクト300の姿勢が更に安定する。
圧入部320を圧入空間301に圧入する際、支持バネ片370は仕切壁303の第2仕切り面307に接触しながら上方に移動することになる。そこで、本実施形態において、支持バネ片370は、圧入部320に向かって凸となる湾曲面370Aを有する。そして、湾曲面370Aが仕切壁303の第2仕切り面307に対して弾性的に接触するように構成されている。これによれば、圧入部320を圧入空間301に圧入する際、支持バネ片370が仕切壁303の第2仕切り面307に接触しながら上方に移動しても、第2仕切り面307が支持バネ片370によって削られ難くなるので、半田接続確認孔302に仕切壁303の削りカスが発生することを抑制できる。
(第4実施形態)
以下、図18を参照して、第4実施形態を説明する。以下、本実施形態が上記第1実施形態と相違する点を中心に説明し、重複する説明は省略する。
上記第1実施形態では、図1及び図5に示すように、ハウジング250には、第1ナット231とハウジング250との物理的干渉を回避するための第1ナット切り欠き271が形成されている。同様に、ハウジング250には、第2ナット232とハウジング250との物理的干渉を回避するための第2ナット切り欠き274が形成されている。
これに対し、本実施形態では、図18に示すように、ハウジング250には、上記の第1ナット切り欠き271に代えて、第1ナット231とハウジング250との物理的干渉を回避するための第1ナット貫通孔380が形成されている。同様に、ハウジング250には、上記の第2ナット切り欠き274に代えて、第2ナット232とハウジング250との物理的干渉を回避するための第2ナット貫通孔381が形成されている。
また、上記第1実施形態では、図4に示すように、コネクタ202は、第1ホールドダウン252、第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255を含む。そして、第1ホールドダウン252、第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255は、別部品とされている。
これに対し、本実施形態では、図18に示すように、第1ホールドダウン252、第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255は、互いに連なるように一体的に形成されている。このように、第1ホールドダウン252、第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255を一部品で構成することで高い電磁シールド効果が得られる。
詳しくは、コネクタ202は、全体ホールドダウン382を含む。全体ホールドダウン382は、第1ホールドダウン252、第2ホールドダウン253、第3ホールドダウン254、第4ホールドダウン255を含む。全体ホールドダウン382は、平面視で複数のコンタクト300を取り囲むように環状に形成されている。全体ホールドダウン382は、補強板部383と、複数の半田付け部384を含む。
補強板部383は、ハウジング250のCPUボード対向面250Aを覆う部分である。補強板部383は、例えば、第1ホールドダウン252の補強板部252A及び第2ホールドダウン253の補強板部253Aを含む。
複数の半田付け部384は、入出力ボード203の対応するパッドに半田接続可能に構成されている。複数の半田付け部384は、第1半田付け部385、第2半田付け部386、第3半田付け部387、第4半田付け部388を含む。
第1半田付け部385は、ハウジング250の第1ピッチ側面262に対応している。
第2半田付け部386は、ハウジング250の第2ピッチ側面263に対応している。
第3半田付け部387は、ハウジング250の第1幅側面264に対応している。
第4半田付け部388は、ハウジング250の第2幅側面265に対応している。
(第5実施形態)
以下、図19を参照して、第5実施形態を説明する。以下、本実施形態が上記第4実施形態と相違する点を中心に説明し、重複する説明は省略する。
本実施形態の第1半田付け部385には、第1半田付け部385を幅方向で分割する複数のスリット385Aが形成されている。
同様に、第2半田付け部386には、第2半田付け部386を幅方向で分割する複数のスリット386Aが形成されている。
同様に、第3半田付け部387には、第3半田付け部387をピッチ方向で分割する複数のスリット387Aが形成されている。
同様に、第4半田付け部388には、第4半田付け部388をピッチ方向で分割する複数のスリット388Aが形成されている。
このように各半田付け部384の長手方向において各半田付け部384を分割するような複数のスリットを形成することで、例えば入出力ボード203の反りを吸収できたり、コネクタ202の軽量化に寄与する。
200 情報処理装置
201 CPUボード(第2基板)
201A コネクタ対向面
202 コネクタ(基板対基板コネクタ)
202A 吸着カバー付きコネクタ
203 入出力ボード(第1基板)
203A コネクタ対向面
204 サポートボード
205 パッド列
206 パッド
207 第1ボルト締結孔
208 第2ボルト締結孔
209 第1位置決め孔
210 第2位置決め孔
211 第1ボルト
212 第2ボルト
214 パッド列
215 パッド
216 パッド
217 第1ボルト締結孔
218 第2ボルト締結孔
219 第1貫通孔
220 第2貫通孔
230 ボード本体
231 第1ナット
232 第2ナット
233 第1位置決めピン
234 第2位置決めピン
250 ハウジング
250A CPUボード対向面(第2基板対向面)
250B 入出力ボード対向面
250C 二分線
250D 部分
251 コンタクト列
251A コンタクト列(第1コンタクト列)
251B コンタクト列
251C コンタクト列
251D コンタクト列(第3コンタクト列)
251E コンタクト列
251F コンタクト列(第2コンタクト列)
252 第1ホールドダウン(補強部材、第1補強部材)
252A 補強板部
252B 半田付け部
252C 貫通孔(丸孔)
252D 内周縁
252E 内径
253 第2ホールドダウン(補強部材、第2補強部材)
253A 補強板部
253B 半田付け部
253C 貫通孔(孔)
253D 内周縁
253E 直線縁部
253F 距離
254 第3ホールドダウン(補強部材)
254A カバー板部
254B 半田付け部
255 第4ホールドダウン(補強部材)
255A カバー板部
255B 半田付け部
260 第1位置決め孔
260A 内周縁
260B 内径
261 第2位置決め孔
261A 内周縁
261B 直線縁部
261C 距離
262 第1ピッチ側面(第1側面)
263 第2ピッチ側面(第2側面)
264 第1幅側面
265 第2幅側面
266 第1角部
267 第2角部
268 第3角部
269 第4角部
270 第1ホールドダウン圧入溝
271 第1ナット切り欠き(切り欠き)
272 第2ホールドダウン圧入溝
273 第3ホールドダウン圧入溝
274 第2ナット切り欠き(切り欠き)
275 第4ホールドダウン圧入溝
280 第1ホールドダウン収容窪み(収容窪み)
281 第2ホールドダウン収容窪み(収容窪み)
282 第3ホールドダウン収容窪み(収容窪み)
283 第4ホールドダウン収容窪み(収容窪み)
284 コンタクト収容部
285 窪み
286 窪み
300 コンタクト
301 圧入空間
302 半田接続確認孔
303 仕切壁
304 ピッチ区画面(面)
305 圧入溝
305A 圧入面(面)
306 第1仕切り面(面)
307 第2仕切り面
308 切り欠き
320 圧入部
321 半田付け部
321A 水平延長部
321B 湾曲部(一部)
322 電気接触バネ片
323 圧入部本体
324 圧入爪
325 バネ片連結部
326 弾性変形容易部
326A 下直線部
326B 湾曲部
326C 上直線部
327 接触部
330 半田フィレット
340 吸着カバー
341 吸着板部
342 取り付けバネ片
343 主変形抑制部(第1変形抑制部)
344 抜去フック
345 第1取り付けバネ片
345A 突部
345B バネ片
346 第2取り付けバネ片
347 第3取り付けバネ片
348 第4取り付けバネ片
350 第1主変形抑制部(第1変形抑制部)
350A 下端部
351 第2主変形抑制部(第1変形抑制部)
351A 下端部
352 第3主変形抑制部(第1変形抑制部)
353 第4主変形抑制部(第1変形抑制部)
354 外周縁
360 従変形抑制部(第2変形抑制部)
361 第1従変形抑制部(第2変形抑制部)
361A 下端部
370 支持バネ片
370A 湾曲面
380 第1ナット貫通孔(孔)
381 第2ナット貫通孔(孔)
382 全体ホールドダウン
383 補強板部
384 半田付け部
385 第1半田付け部
385A スリット
386 第2半田付け部
386A スリット
387 第3半田付け部
387A スリット
388 第4半田付け部
388A スリット
D1 距離
D2 距離
D3 距離
E1 距離
E2 距離
E3 距離

Claims (6)

  1. 第1基板に実装され、前記第1基板と第2基板の間に挟まれることで、前記第1基板の複数のパッドと前記第2基板の複数のパッドをそれぞれ電気的に接続する基板対基板コネクタであって、
    複数の位置決め孔を有する絶縁樹脂製の平板状のハウジングと、
    前記ハウジングに保持された複数のコンタクトと、
    前記複数の位置決め孔に対応して配置された複数の金属製の補強部材と、
    を備え、
    前記ハウジングは、前記第2基板と対向可能な第2基板対向面を有し、
    各補強部材は、対応する前記位置決め孔の周囲において前記第2基板対向面を覆う補強板部を含み、
    各補強部材は、前記ハウジングの板厚方向で見たとき、各補強部材の前記補強板部が、対応する前記位置決め孔の内周縁を覆わないように配置されている、
    基板対基板コネクタ。
  2. 請求項1に記載の基板対基板コネクタであって、
    各コンタクトは、前記第2基板対向面から突出する電気接触バネ片を含み、
    前記ハウジングの前記第2基板対向面には、前記複数の補強部材にそれぞれ対応する複数の収容窪みが形成されており、
    各収容窪みは、対応する前記補強部材の前記補強板部を収容する、
    基板対基板コネクタ。
  3. 請求項1又は2に記載の基板対基板コネクタであって、
    前記複数の位置決め孔は、第1位置決め孔を含み、
    前記複数の補強部材は、前記第1位置決め孔に対応する第1補強部材を含み、
    前記第1位置決め孔は、丸孔であり、
    前記第1補強部材の前記補強板部には、前記第1位置決め孔よりも大きい丸孔が形成されており、
    前記第1補強部材は、前記ハウジングの板厚方向で見たとき、前記第1補強部材の前記補強板部の前記丸孔の内周縁の径方向内方に、前記第1位置決め孔の内周縁が位置するように配置されている、
    基板対基板コネクタ。
  4. 請求項1から3までの何れか1項に記載の基板対基板コネクタであって、
    前記複数の位置決め孔は、第2位置決め孔を含み、
    前記複数の補強部材は、前記第2位置決め孔に対応する第2補強部材を含み、
    前記第2位置決め孔は、互いに平行となる2つの直線縁部を含む内周縁を有し、
    前記第2補強部材の前記補強板部には、互いに平行となる2つの直線縁部を含む内周縁を有する孔が形成されており、
    前記第2補強部材の前記補強板部の前記2つの直線縁部の間の距離は、前記第2位置決め孔の前記2つの直線縁部の間の距離よりも長く、
    前記第2補強部材は、前記ハウジングの板厚方向で見たとき、前記第2補強部材の前記補強板部の前記2つの直線縁部の間に前記第2位置決め孔の前記2つの直線縁部が位置するように配置されている、
    基板対基板コネクタ。
  5. 請求項1から4までの何れか1項に記載の基板対基板コネクタであって、
    各補強部材は、各補強部材の前記補強板部から前記第1基板に向かって突出し、前記第1基板のパッドに半田接続可能な半田付け部を更に含む、
    基板対基板コネクタ。
  6. 請求項1から5までの何れか1項に記載の基板対基板コネクタであって、
    前記複数の補強部材は、互いに連なるように一体的に形成されている、
    基板対基板コネクタ。
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