JP6854709B2 - 磁気センサ検出ユニット、カード処理装置、および磁気センサ検出方法 - Google Patents

Description

本発明は、磁気センサ検出ユニット、カード処理装置、および磁気センサ検出方法に関する。

キャッシュカード（以下、磁気カードと表記する）に記録されている磁気情報を読み取るためのカード処理装置は、現金自動預け払い機（ＡＴＭ：Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｔｅｌｌｅｒ Ｍａｃｈｉｎｅ）や現金自動支払い機（ＣＤ：Ｃａｓｈ Ｄｉｓｐｅｎｓｅｒ）などの自動取引装置に搭載され、広く普及している。
この種のカード処理装置では、カード挿入口から挿入された磁気カードを搬送しつつ、当該磁気カードに記録された磁気情報を磁気センサで読み取るようになっている。

近年、カード処理装置におけるカード挿入口の前面側に、偽カード挿入口および偽磁気センサを有する不正なカード処理装置（スキマー）を後から取り付けて、偽カード挿入口に挿入された磁気カードの磁気情報を、偽磁気センサで読み取る不正行為（スキミング）が行われることがある。

このようなスキミングを防止するため、カード処理装置におけるカード挿入口の近傍に、電磁界を発生させるコイル装置を後から取り付けて、当該コイル装置から発生させた電磁界により、偽磁気センサによる磁気カード（磁気情報）の読み取りを阻害する技術が開示されている（特許文献１）。

特開２００５−２６６９９９号公報

しかしながら、特許文献１の技術では、コイル装置をカード挿入口の近傍に取り付ける構造であるため、カード挿入口の近傍にしか電磁界を発生させることができない。
このため、例えば、カード処理装置内の磁気カードの搬送路に薄型の偽磁気センサが取り付けられた場合、カード挿入口の近傍に発生した電磁界が偽磁気センサに届かず、偽磁気センサによる磁気カードの不正な読み取りを阻害できないという問題がある。
このように、搬送路に取り付けられた偽磁気センサまで電磁界を及ぼすためには、カード処理装置自体を交換しなければならず、スキミングの対策コストが高くなってしまうという問題がある。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、搬送路に取り付けられた偽磁気センサを検出すると共に、偽磁気センサによる磁気カードの不正な読み取りを阻害することを目的とする。また、カード処理装置自体の交換が必要なく、スキミングの対策コストを低く抑えることを目的とする。

上記の目的のため、カード処理装置における磁気カードの搬送路内に取り付けられた偽磁気センサを検出する磁気センサ検出ユニットであって、磁気センサ検出ユニットは、基部と、当該基部に形成されて、加えられた交流電圧に基づく電磁界を発生させるコイル部と、を有し、基部は、可撓性を有する薄板形状に形成された磁気センサ検出ユニットとした。

本発明によれば、搬送路に取り付けられた偽磁気ヘッドなどの磁気センサを検出すると共に、偽磁気センサによる磁気カードの不正な読み取りを阻害することができる。また、可撓性を有する磁気センサ検出ユニットを、搬送路に後から取り付けられるので、カード処理装置自体の交換が必要なく、スキミングの対策コストを低く抑えることができる。

第１の実施の形態にかかるカード処理装置を説明する断面図である。 第１の実施の形態にかかる磁気センサ検出ユニットを説明する図である。 第１の実施の形態にかかるカード処理装置の制御部を説明するブロック図である。 第１の実施の形態にかかる偽磁気センサの検出処理のフローチャートである。 第１の実施の形態にかかる磁気センサ検出ユニットを取り付けたカード処理装置の動作を説明する図である。 第２の実施の形態にかかる磁気センサ検出ユニットを説明する図である。

［カード処理装置］
以下、図面に基づいて、本発明の第１の実施の形態を説明する。第１の実施の形態では、磁気センサ検出ユニットを、現金自動預け払い機（ＡＴＭ：Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｔｅｌｌｅｒ Ｍａｃｈｉｎｅ）や現金自動支払い機（ＣＤ：Ｃａｓｈ Ｄｉｓｐｅｎｓｅｒ）などの自動取引装置に搭載されたカード処理装置に取り付ける場合を説明する。
図１は、本発明の第１の実施の形態にかかるカード処理装置１を説明する断面図であり、上図は、カード処理装置１に挿入された磁気カード９００の平面側から見た断面図であり、下図は、上図におけるＸ−Ｘ断面図である。
以下、カード処理装置１において、磁気カード９００の挿入側（図１の右側）を前面側、磁気カード９００の排出側（図１の左側）を後面側とする。また、図１の下図において、同図の上側をカード処理装置１の上側、同図の下側をカード処理装置１の下側とする。

図１に示すように、カード処理装置１は、処理装置本体１０と、カード挿入部２０とを有しており、カード挿入部２０は、処理装置本体１０の前面側に設けられている。カード挿入部２０の前面側には、カード挿入口２１が開口しており、このカード挿入口２１に搬送路２２が繋がっている。

搬送路２２の上側と下側には、樹脂製のガイド２３、２３が設けられている。
このガイド２３、２３は、搬送路２２の内部に突出すると共に、搬送路２２の上下方向の幅を狭くする向きで設けられており、カード挿入口２１から挿入された磁気カード９００が搬送される際のガイドとなる。

搬送路２２において、磁気カード９００の磁気情報９０１が記録された磁気ストライプ（図１の上図における磁気情報９０１）の移動ライン上には、プリヘッド２４が設けられている。プリヘッド２４は、磁気情報９０１が記録された磁気ストライプを読み取ることで、磁気カード９００がカード挿入口２１から挿入されたことを検知する。
カード処理装置１では、プリヘッド２４による磁気カード９００の検知に基づいて、後記する処理装置本体１０の第１搬送ローラ１２、第２搬送ローラ１３、ヘッドプラテンローラ１４を回転駆動するようになっている。

カード挿入部２０の後面側は、処理装置本体１０の前面側に連結されている。
処理装置本体１０は、搬送路１１と、一対の第１搬送ローラ１２、１２と、一対の第２搬送ローラ１３、１３と、ヘッドプラテンローラ１４と、リードライト用の磁気ヘッド１５とを有している。

搬送路１１は、当該処理装置本体１０の前面側から後面側に沿って設けられており、搬送路１１の前面側は、カード挿入部２０の搬送路２２と連通している。

搬送路１１の前面側の上側と下側には、一対の第１搬送ローラ１２、１２が回転可能に設けられている。この第１搬送ローラ１２、１２は、エンコーダ付きモータ４１（図３参照）の回転により回転軸回りに回転するようになっており、第１搬送ローラ１２、１２の回転数および回転速度は、エンコーダ付きモータ４１に設けられたエンコーダ（図示せず）により検出されるようになっている。

第１搬送ローラ１２、１２の上下方向の間隔は、磁気カード９００の厚みよりも僅かに小さい間隔に設定されており、第１搬送ローラ１２、１２の間に挟まれた磁気カード９００は、第１搬送ローラ１２、１２の回転軸回りの回転により、搬送路１１に沿って後面側に搬送される。

搬送路１１の後面側の上側と下側には、一対の第２搬送ローラ１３、１３が回転可能に設けられている。この第２搬送ローラ１３、１３もまた、エンコーダ付きモータ４１（図３参照）の回転により回転軸回りに回転するようになっており、第２搬送ローラ１３、１３の回転数および回転速度は、エンコーダ付きモータ４１に設けられたエンコーダ（図示せず）により検出されるようになっている。

第２搬送ローラ１３、１３の上下方向の間隔は、磁気カード９００の厚みよりも僅かに小さい間隔に設定されており、第２搬送ローラ１３、１３の間に挟まれた磁気カード９００は、第２搬送ローラ１３、１３の回転軸回りの回転により、搬送路１１に沿って後面側に搬送される。

搬送路１１における第１搬送ローラ１２、１２と第２搬送ローラ１３、１３のほぼ中間位置の上側には、ヘッドプラテンローラ１４が回転可能に設けられている。このヘッドプラテンローラ１４もまた、エンコーダ付きモータ４１（図３参照）の回転により回転軸回りに回転するようになっており、ヘッドプラテンローラ１４の回転数および回転速度は、エンコーダ付きモータ４１に設けられたエンコーダ（図示せず）により検出されるようになっている。

搬送路１１において、ヘッドプラテンローラ１４の下側には、リードライト用の磁気ヘッド１５が設けられている。磁気ヘッド１５は、磁気カード９００に記録された磁気情報９０１の磁気を読み取ることができる構成を有している。

搬送路１１において、第１搬送ローラ１２、１２とヘッドプラテンローラ１４との間には、一対の樹脂製のガイド１６、１６が設けられている。
このガイド１６、１６は、搬送路１１の内部に突出すると共に、搬送路１１の上下方向の幅を狭くする向きで設けられており、カード挿入部２０から挿入された磁気カード９００が前面側から搬送される際のガイドとなる。

搬送路１１において、ヘッドプラテンローラ１４と第２搬送ローラ１３、１３との間にもまた、一対の樹脂製のガイド１７、１７が設けられている。
このガイド１７、１７もまた、搬送路１１の内部に突出すると共に、搬送路１１の上下方向の幅を狭くする向きで設けられており、磁気カード９００が後面側に搬送される際のガイドとなる。

前記したガイド１６、１７の各々は側面から見て台形形状となっており、端部近傍は、搬送路１１の上下方向の幅が端部に向けて狭くなるようにテーパ形状となっている。
これにより、ガイド１６、１７は、磁気カード９００に割れや変形があっても、磁気カード９００がガイド１６、１７の端部に引っかかることを防止し、磁気カード９００をガイド１６、１７に沿って適切に搬送できるようになっている。

ここで、搬送路１１において、当該搬送路１１の上側に設けられたガイド１６、１７の基部に磁気センサ検出ユニット１００、１００がそれぞれ設けられている。

［磁気センサ検出ユニット］
次に、偽磁気センサを検出するための磁気センサ検出ユニット１００を説明する。
図２は、磁気センサ検出ユニット１００を説明する図である。
図２に示すように、磁気センサ検出ユニット１００は、基部１０１と、コイル部１０２と、コネクタ１０３とを有している。

基部１０１は、可撓性を有する薄板形状を成しており、実施の形態では、基部１０１は、可撓性を有するＦＰＣ（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ Ｐｒｉｎｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔｓ）材料を用いて形成されている。

基部１０１の長手方向の長さＬ１は、第１搬送ローラ１２（第２搬送ローラ１３）とヘッドプラテンローラ１４との間の搬送方向の間隔よりも短い長さに設定されており、実施の形態では、５０ｍｍ〜８０ｍｍの長さに設定されている。
また、基部１０１の幅Ｗ１は、磁気カード９００の磁気ストライプの幅よりも大きい幅に設定されている。

この基部１０１には、コイル部１０２が形成されている。
コイル部１０２は、銅箔などの導電性の材料で形成された環状コイルである。実施の形態では、コイル部１０２は、一本の銅製のコイル線を一巻きする度に徐々に小径にして３巻きして形成されており、それぞれ径の異なる３つの環状コイル１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃが同心円状に配置されているように見える。

コイル部１０２の両端部（巻き始め端部と、巻き終わり端部）は、コネクタ１０３に接続されている。コネクタ１０３は、ケーブル１１０およびコネクタ４６を介して制御部３０の汎用Ｉ／Ｏ４５（図３参照）に接続されている。

図２の側面図に示すように、磁気センサ検出ユニット１００では、汎用Ｉ／Ｏ４５を介して交流電圧発生装置４３（図３参照）により交流電圧がコイル部１０２にかけられると、コイル部１０２を直交する向きに、電磁界Ａ（図２の点線矢印参照）が発生する。
ここで、コイル部１０２には、電磁界Ａの変化に起因するインダクタンスＨが発生し、このインダクタンスＨを測定することで、電磁界Ａを測定することができる。

例えば、コイル部１０２に発生する電磁界Ａの値は、コイル部１０２の周辺にある金属の影響を受け、コイル部１０２の周辺に金属（例えば、磁気センサ）がある場合の方が、金属（例えば、磁気センサ）がない場合よりも、電磁界Ａが強くなると共に、インダクタンスＨの値も大きくなる。
よって、カード処理装置の部品のバラつきを含め、偽磁気センサがない場合のインダクタンスの正常な範囲（例えば、α≦Ｈ≦β）を設定しておくことで、時間が経った後のインダクタンスＨを測定することで、偽磁気センサが後から取り付けられたか否かを判定することができる。
本発明の実施の形態では、このように交流電圧をかけた場合のコイル部１０２のインダクタンスＨの値を利用して、偽磁気センサの検出を行えるようになっている。

実施の形態では、磁気センサ検出ユニット１００は、カード挿入部２０のカード挿入口２１から、搬送路２２（搬送路１１）に挿入されるため、磁気センサ検出ユニット１００の厚みＴ１は、カード挿入部２０のカード挿入口２１よりも小さい厚みに設定されている。実施の形態では、磁気センサ検出ユニット１００の厚みは０．５ｍｍ〜３ｍｍの範囲となるように設定されている。

前記した磁気センサ検出ユニット１００において、基部１０１のコイル部１０２と反対側の面には、両面テープ（図示せず）が設けられており、磁気センサ検出ユニット１００は、両面テープにより相手側部材に固定されるようになっている。

［制御部］
次に、カード処理装置１に搭載される制御部３０を説明する。
図３は、カード処理装置１の制御部３０を説明するブロック部である。
図３に示すように、制御部３０は、カード処理装置１の全体制御を行うＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）３１と、カード処理装置１の制御プログラムなどを記憶するＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）３２と、ＣＰＵ３１の作業領域となるＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）３３と、外部機器との情報の入出力に使用されるＩ／Ｏ（Ｉｎｐｕｔ/Ｏｕｔｐｕｔ Ｐｏｒｔ）３４と、を有する。

Ｉ／Ｏ３４には、フォトセンサ４０、プリヘッド２４、エンコーダ付きモータ４１、リードライト用の磁気ヘッド１５、Ｉ／Ｆ（Ｉｎｔｅｒｆａｃe）４２、交流電圧発生装置４３、インダクタンス測定装置４４、汎用Ｉ／Ｏ４５が接続されている。

フォトセンサ４０は、処理装置本体１０の搬送路１１またはカード挿入部２０の搬送路２２に設けられており、磁気カード９００の挿入の有無を検出する。制御部３０では、フォトセンサ４０による磁気カード９００の検出結果に基づいて、処理装置本体１０のシャッタ（図示せず）を開閉するようになっている。
カード処理装置１では、磁気カード９００が挿入されると、搬送路１１のシャッタ（図示せず）が開き、搬送路１１における磁気カード９００の搬送が可能となる。

エンコーダ付きモータ４１は、カード処理装置１に複数設けられており、これらのモータ４１が、第１搬送ローラ１２、１２、第２搬送ローラ１３，１３、およびヘッドプラテンローラ１４にそれぞれ接続されている。これらのモータ４１の回転によりこれらの対応するローラ１２、１３、１４が回転軸回りに回転するようになっている。

モータ４１は、Ｉ／Ｏ３４を介してＣＰＵ３１に接続されており、ＣＰＵ３１は、各ローラの回転数を対応するモータ４１のエンコーダ（図示せず）により検出し、各ローラ（モータ４１）の回転数と回転速度を制御するようになっている。

リードライト用の磁気ヘッド１５は、磁気カード９００に記録された磁気情報９０１を非接触で読み取る装置（磁気センサ）であり、搬送路１１に沿って搬送された磁気カード９００の磁気情報９０１を読み取る。
磁気ヘッド１５で読み取られた磁気情報９０１は、ＣＰＵ３１の制御により、Ｉ／Ｏ３４を介してＲＡＭ３３に一時的に記憶される。

Ｉ／Ｆ４２は、例えば、現金自動預け払い機（ＡＴＭ）のＡＴＭ制御部４７に接続されており、ＡＴＭ制御部４７と制御部３０との間の情報通信に使用される。

交流電圧発生装置４３は、交流電圧を発生する電源装置である。この交流電圧発生装置４３は、後記する汎用Ｉ／Ｏ４５を介して磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２に交流電圧を供給する。

インダクタンス測定装置４４は、磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２のインダクタンスを測定する装置である。インダクタンス測定装置４４で測定されたコイル部１０２のインダクタンスの値は、ＣＰＵ３１の制御により、Ｉ／Ｏ３４を介してＲＡＭ３３に一時的に記憶される。

汎用Ｉ／Ｏ４５は、コネクタ４６を介して磁気センサ検出ユニット１００のコネクタ１０３に接続されおり、この汎用Ｉ／Ｏ４５を介して交流電圧発生装置４３の交流電圧が磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２に供給される。

［磁気センサ検出方法］
次に、磁気センサの検出方法を説明する。
図４は、磁気センサの検出方法を説明するフローチャートである。
図５は、磁気センサ検出ユニット１００を取り付けたカード処理装置１の動作を説明する図である。図５では、磁気センサ検出ユニット１００を、カード処理装置１（もしくは自動取引装置）の搬送路１１の前面側と後面側の両方に取り付けた場合について説明する。

初めに、ステップ１０１において、偽磁気センサの検出を行う作業者は、磁気センサ検出ユニット１００を、カード挿入部２０のカード挿入口２１から搬送路１１内に挿入し、両面テープなどで搬送路１１の所定の位置に固定する。

ステップ１０２において、作業者はカード処理装置１の搬送路１１に偽磁気センサ（図５に示す偽磁気センサ３００）が取り付けられていないことを目視等で確認する。
作業者は、搬送路１１に偽磁気センサ（図５に示す偽磁気センサ３００）が取り付けられていないことを確認した場合、ステップ１０３にて、磁気センサ検出ユニット１００による偽磁気センサ３００の検出処理を開始する。

ここで作業者は、例えば、搬送路１１におけるガイド１６、１７の両端部付近に偽磁気センサ３００が取り付けられていることを確認した場合（図５参照）、磁気センサ検出ユニット１００による偽磁気センサ３００の検出を開始する前に、偽磁気センサ３００を取り除く作業を行う。
ここまでは、磁気センサ検出ユニット１００により偽磁気センサの検出を開始する前に、作業者が事前に行う準備段階である。

ステップ１０４において、制御部３０のＣＰＵ３１は、交流電圧発生装置４３に交流電圧を発生させる制御を行い、磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２に電磁界Ａを発生させる（図５参照）。ＣＰＵ３１は、磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２から電磁界Ａが発生したことに起因するコイル部１０２の初期インダクタンスＨ１を、インダクタンス測定装置４４により測定すると共に、測定した初期インダクタンスＨ１の値をＲＡＭ３３に記憶する処理を行う。

ステップ１０５において、ＣＰＵ３１は、初期インダクタンスＨ１を測定した後、所定時間経過したか否かを判定し、所定時間経過していると判定した場合（ステップ１０５：Ｙｅｓ）、ステップ１０６に進み、所定時間経過していないと判定した場合（ステップ１０５：Ｎｏ）、所定時間経過したと判定するまでステップ１０５の時間待ち処理を繰り返す。

ステップ１０６において、ＣＰＵ３１は、交流電圧発生装置４３に交流電圧を発生させる制御を行い、磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２に電磁界Ａを発生させる（図５参照）。ＣＰＵ３１は、磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２から電磁界Ａが発生したことに起因するコイル部１０２の経時インダクタンスＨ２を、インダクタンス測定装置４４により測定すると共に、測定した経時インダクタンスｈ２の値をＲＡＭ３３に記憶する処理を行う。

ステップ１０７において、ＣＰＵ３１は、ＲＡＭ３３に記憶された経時インダクタンスＨ２と初期インダクタンスＨ１の差分（Ｈ２−Ｈ１）が、所定の範囲（α以上であり、かつβ以下）に入っているか否かを判定する。

ステップ１０７において、経時インダクタンスＨ２と初期インダクタンスＨ１の差分（Ｈ２−Ｈ１）が、所定の範囲（α以上であり、かつβ以下）に入っていない場合（ステップ１０７：Ｙｅｓ）、ステップ１０８において、制御部３０のＣＰＵ３１は、自動取引装置のＡＴＭ制御部４７に対して、偽磁気センサ３００を検出したことを示す不正信号を送信して磁気センサの検出処理を終了する。

また、ステップ１０７において、経時インダクタンスＨ２と初期インダクタンスＨ１の差分（Ｈ２−Ｈ１）が、所定の範囲（α以上であり、かつβ以下）に入っている場合（ステップ１０６：Ｎｏ）、ステップ１０９において、制御部３０のＣＰＵ３１は、磁気カード９００の正常取引を行い、磁気ヘッド１５により磁気カード９００の磁気情報９０１を読み込む。

そして、ステップ１１０において、制御部３０のＣＰＵ３１は、カード取引が正常に終了したか否かを判定し、正常に行われたと判定した場合（ステップ１１０：Ｙｅｓ）、ステップ１０６の処理に戻って、磁気センサ検出ユニット１００による経時インダクタンスＨ２の測定し、測定したインダクタンスの値をＲＡＭ３３へ記憶する処理を行う。

一方、ステップ１１０において、制御部３０のＣＰＵ３１は、カード取引が正常に行われなかったと判定した場合（ステップ１１０：Ｎｏ）、ステップ１１１において、制御部３０のＣＰＵ３１は、自動取引装置のＡＴＭ制御部４７に対して、異常終了したことを報知する異常終了信号を送信して磁気センサの検出処理を終了する。

このように、制御部３０による磁気センサ検出処理により、カード処理装置１の搬送路１１の何れかの位置（ガイド１６、１７の基部）に偽磁気センサ３００が取り付けられた場合、偽磁気センサ３００が取り付けられていない状態の磁気センサ検出ユニット１００（コイル部１０２）の初期インダクタンスＨ１を事前に測定しておくことで、その後、磁気センサ検出ユニット１００（コイル部１０２）の経時インダクタンスＨ２の変動により、ガイド１６、１７の基部に偽磁気センサ３００が取り付けられたことを検出できる。

前記した、磁気センサ検出ユニット１００を搬送路１１に取り付けたカード処理装置１を、自動取引装置に搭載することで、自動取引装置の磁気カードの搬送路に取り付けられた偽磁気センサ３００を適切に検出し、偽磁気センサ３００による磁気カードの不正な読み取りを防止することができる。

なお、前記した実施の形態では、初期インダクタンスＨ１を、カード処理装置１（自動取引装置）の稼働始めに１回測定する場合を例示して説明したが、初期インダクタンスＨ１は、カード処理装置１（自動取引装置）の稼働開始から所定時間間隔で定期的に再測定および再設定するようにしても良い。

カード処理装置１の長時間の稼働により、カード処理装置１の搬送路１１が汚れたり摩耗すると経時インダクタンスが変化する場合がある。このような場合、カード処理装置１の稼働始めに取得した初期インダクタンスと、変化した後の経時インダクタンスの差分に基づいて偽磁気センサ３００の検出の判定を行うと、正確に検出できない恐れがある。
このように構成すると、カード処理装置１の長時間の稼働により経時インダクタンスが変化した場合でも、定期的に初期インダクタンスＨ１を測定し直してＲＡＭ３３に記憶させておくことで、経時変化後の初期インダクタンスと経時インダクタンスとの差分に基づいて偽磁気センサ３００の検出を判定することができるので、偽磁気センサ３００の検知ミスの可能性を防ぐことができる。

また、前記した実施の形態では、磁気センサ検出ユニット１００の基部１０１をＦＰＣ材料で形成する場合を例示して説明したが、可撓性を有する材料であればこれに限定されるものではない。例えば、基部を、可撓性を有する樹脂製や金属製のシート状部材としても良い。

なお、前記した実施の形態では、磁気センサ検出ユニット１００を、リードライト用の磁気ヘッド１５よりも、カード処理装置１の前面側となるガイド１６と、後面側となるガイド１７にそれぞれ１個取り付ける場合を例示して説明したが、磁気センサ検出ユニット１００は、少なくともカード処理装置１の前面側と後面側のうち、何れか一方側に取り付けられていればよい。
リードライト用の磁気ヘッド１５よりも後面側（ガイド１７）への取り付けは、磁気ヘッド１５やヘッドプラテンローラ１４を乗り越えて取り付けなければならず、取り付け作業が煩雑となるので、取り付けの作業性を向上させるために、カード処理装置１の前面側（ガイド１６）に取り付けるのが好ましい。

＜第２の実施の形態＞
次に、本発明の第２の実施の形態にかかる磁気センサ検出ユニット２００を説明する。
図６は、第２の実施の形態にかかる磁気センサ検出ユニット２００を説明する図であり、上図は２個の磁気センサ検出ユニット２００を直列に繋いだ状態を示す平面図であり、下図は、磁気センサ検出ユニット２００を直列に繋いだ状態を示す側面図である。
図６に示すように、磁気センサ検出ユニット２００は、基部２０１と、コイル部２０２と、コネクタ２０３とを有している。
第２の実施の形態にかかる磁気センサ検出ユニット２００は、１個の磁気センサ検出ユニット２００の長手方向の長さＬ２が、第１の実施の形態にかかる磁気センサ検出ユニット１００の長手方向の長さＬ１の１／２以下（Ｌ２≦Ｌ１×１／２）となっている点が主な相違点である。
これにより、取り付けの相手側部材が、複雑な形状を成している場合であっても、磁気センサ検出ユニット２００を相手側部材に容易に取り付けることができる。
第２の実施の形態にかかる磁気センサ検出ユニット２００の基部２０１、コイル部２０２、コネクタ２０３は、第１の実施の形態の磁気センサ検出ユニット１００の基部１０１、コイル部１０２、コネクタ１０３と外形以外は同じであるので詳細な説明は省略する。

磁気センサ検出ユニット２００は、コイル部２０２に接続された第２コネクタ２０４を有している。１の磁気センサ検出ユニット２００の第２コネクタ２０４と、他の磁気センサ検出ユニット２００のコネクタ２０３とを、可撓性のあるケーブル１１０で接続することで、複数の磁気センサ検出ユニット２００、２００を直列に接続することができる。

なお、互いに直列に接続された複数の磁気センサ検出ユニット２００のうち、最終端の磁気センサ検出ユニット２００（図６の右側の磁気センサ検出ユニット２００）の第２コネクタ２０４には、内部を短絡させた終端用コネクタ１２０を接続してコイルを結線させている。

このように、磁気センサ検出ユニット２００は、長手方向の長さＬ２が、磁気センサ検出ユニット１００の長さＬ１の約半分の３０ｍｍ〜４０ｍｍの長さに設定されている。
よって、長手方向の長さの短い複数の磁気センサ検出ユニット２００を可撓性のあるケーブル１１０で直列に接続することで、例えば、湾曲面や、段違い（凹凸）面など複雑な形状の面にも容易に取り付けることができ、磁気センサ検出ユニット２００の取り付け性を向上できる。

以上の通り、実施の形態では、
（１）カード処理装置１における磁気カード９００の搬送路１１内に取り付けられた偽磁気センサ３００を検出する磁気センサ検出ユニット１００であって、磁気センサ検出ユニット１００は、基部１０１と、当該基部１０１に形成されて、加えられた交流電圧に基づく電磁界Ａを発生させるコイル部１０２と、を有し、基部１０１は、可撓性を有する薄板形状に形成されている構成とした。

このように構成すると、磁気センサ検出ユニット１００の基部１０１は薄板形状に形成されているので、磁気センサ検出ユニット１００を、カード処理装置１の磁気カード９００の搬送路１１内に後から取り付けることができる。
そのため、磁気センサ検出ユニット１００から発生した電磁界Ａを、搬送路１１に取り付けられた偽磁気センサ３００に及ぼすことができるため、搬送路１１に取り付けられた偽磁気センサ３００の検出を行うことができると共に、偽磁気センサ３００による磁気カード９００の読み取りを阻止することができる。
また、磁気センサ検出ユニット１００を、搬送路１１に後から取り付ける構造であるため、カード処理装置１自体の交換が必要なく、スキミングの対策コストを低く抑えることができる。

（２）磁気センサ検出ユニット１００は、磁気カード９００が挿入されるカード処理装置１のカード挿入口２１の厚み方向の幅よりも小さい厚みに設定されている構成とした。

このように構成すると、磁気センサ検出ユニット１００を、既存のカード処理装置のカード挿入口から挿入し、当該カード挿入口に繋がる搬送路内に後から取り付けることができる。
よって、搬送路内に取り付けられた偽磁気センサを検出するために、カード処理装置自体の交換が必要なく、スキミングの対策コストを低く抑えることができる。

（３）磁気センサ検出ユニット１００の厚みは０．５ｍｍ以上、かつ３．０ｍｍ未満に設定されている構成とした。

このように構成すると、既存のカード処理装置のカード挿入口の厚み方向の幅は、一般的に４．０ｍｍ以下、磁気カード９００の厚みは０．８ｍｍ程度である。
よって、磁気センサ検出ユニット１００を搬送路１１に取り付けた場合でも、磁気センサ検出ユニット１００が、磁気カード９００の搬送の邪魔にならず、磁気センサ検出ユニット１００による搬送路１１に取り付けられた偽磁気センサ３００の検出および偽磁気センサ３００による磁気カード９００の読み取り防止を行うことができる。

（４）磁気センサ検出ユニット２００は、コイル部２０２に接続されたコネクタ２０３、第２コネクタ２０４を有し、複数の磁気センサ検出ユニット２００、２００は、当該複数の磁気センサ検出ユニット２００、２００のコネクタ２０３、２０４同士が可撓性を有するケーブル１１０で連結される構成とした。

このように構成すると、取り付け対象部材が湾曲している場合や、段差（凹凸）がある場合であっても、複数に分割された磁気センサ検出ユニット２００、２００を短いピッチで取り付けることができるので、磁気センサ検出ユニット１００が一つの場合と比べて、磁気センサ検出ユニット２００、２００の取り付け位置の自由度が向上する。
また、複数の磁気センサ検出ユニット２００、２００が可撓性を有するケーブル１１０で接続されているので、取り付け相手側部材の大きな湾曲や段差（凹凸）にも対応することができ、磁気センサ検出ユニット２００、２００の取り付けの自由度がより向上する。

（５）（１）から（４）の何れか一に記載の磁気センサ検出ユニット１００、２００が取り付けられるカード処理装置１であって、カード処理装置１は、磁気カード９００が挿入されるカード挿入口２１と、カード挿入口２１から挿入された磁気カード９００が搬送される搬送路１１と、磁気カード９００に記録された磁気情報９０１を読み取る磁気ヘッド１５と、を有し、磁気センサ検出ユニット１００、２００は、磁気カード９００が搬送される搬送路１１に取り付けられる構成とした。

このように構成すると、カード処理装置１では、磁気センサ検出ユニット１００、２００が、カード処理装置１の搬送路１１に取り付けられているので、搬送路１１に取り付けられた偽磁気センサ３００の検出や偽磁気センサ３００による磁気カード９００の磁気情報９０１の読み取りをより確実に阻害できる。

（６）カード処理装置１は、コイル部１０２にかける交流電圧を発生させる交流電圧発生装置４３（交流電圧発生部）と、コイル部１０２での電磁界Ａの発生に起因するインダクタンスＨ（Ｈ１、Ｈ２）を測定するインダクタンス測定装置４４（インダクタンス測定部）と、インダクタンス測定装置４４で測定したインダクタンスＨ（Ｈ１、Ｈ２）が、所定の範囲（α以上、かつβ未満）であるか否かを判定するインダクタンス判定部（制御部３０のＣＰＵ３１によるステップ１０７の処理）と、インダクタンス判定部により、測定したインダクタンスＨ（Ｈ１、Ｈ２）が所定の範囲（α以上、かつβ未満）を超えている場合には、カード処理装置１の磁気カード９００の搬送路１１に偽磁気センサ３００が取り付けられていると判断する偽磁気センサ検出部（制御部３０のＣＰＵ３１によるステップ１０７、１０８の処理）と、を有する構成とした。

このように構成すると、カード処理装置１は、搬送路１１に取り付けられた磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２の電磁界Ａに起因するインダクタンスＨに基づいて、偽磁気センサ３００の有無を検出することができる。そのため、偽磁気センサ３００の検出と同時に、電磁界Ａを偽磁気センサ３００に及ぼすことができ、偽磁気センサ３００による磁気カード９００の磁気情報９０１の読み取り防止も同時に行うことができる。

（７）（６）に記載のカード処理装置１を搭載する自動取引装置とした。

このように構成すると、自動取引装置に搭載したカード処理装置１により、自動取引装置のカードの搬送路１１に取り付けられた偽磁気センサ３００の検出と偽磁気センサ３００による磁気カード９００の読み取り防止を適切に行うことができる。

（８）カード処理装置における磁気カードの搬送路内に取り付けられた偽磁気センサ３００を検出する磁気センサ検出方法（図４のフローチャート）であって、偽磁気センサ３００が取り付けられる前の初期状態（図４のステップ１０２の状態）において、磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２に交流電圧をかけて、当該コイル部１０２に発生した電磁界Ａに起因する初期インダクタンスＨ１（第１インダクタンス）を測定する第１インダクタンス測定ステップ（図４のステップ１０４）と、第１インダクタンス測定ステップ（ステップ１０４）の後の所定時間経過後（図４のステップ１０５）に、磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２に交流電圧をかけて、当該コイル部１０２に発生した電磁界Ａに起因する経時インダクタンスＨ２（第２インダクタンス）を測定する第２インダクタンス測定ステップ（図４のステップ１０６）と、初期インダクタンスＨ１と経時インダクタンスＨ２との差分（Ｈ２−Ｈ１）をとり、当該差分（Ｈ２−Ｈ１）が所定の範囲（α以上、かつβ未満）に入っているか否かを判定する判定ステップ（図４のステップ１０７）と、判定ステップ（ステップ１０７）において、差分が所定の範囲に入っていないと判定した場合（Ｈ２−Ｈ１＜α、またはＨ２−Ｈ１＞β）に、偽磁気センサ３００を検出したことを報知する偽磁気センサ報知ステップ（図４のステップ１０８）と、を有する構成とした。

このように構成すると、カード処理装置１の個体差や、カード処理装置１の違いにより部品寸法や内部の部品の材質が異なる場合であっても、それぞれのカード処理装置１に対して初期インダクタンスＨ１を測定して設定するので、磁気センサ検出ユニット１００のコイル部１０２の仕様を変える必要がない。

（９）初期インダクタンス測定ステップは、所定時間間隔で定期的に実行される構成とした。

このように構成すると、カード処理装置１（自動取引装置）の稼働により、搬送路１１の汚れや摩耗によって、インダクタンスが経時的に変化する可能性があるが、初期インダクタンスＨ１を定期的に測定して再設定することで、インダクタンスが経時的に変化しても、偽磁気センサ３００の検出ミスを防止できる。

１：カード処理装置、１０：処理装置本体、１１：搬送路、１２：第１ローラ、１３：第２ローラ、１４：ヘッドプラテンローラ、１５：リードライト用の磁気ヘッド、１６：ガイド、１７：ガイド、２０：カード挿入部、２１：カード挿入口、２２：搬送路、２３：ガイド、２４：プリヘッド、３０：制御部、３１：ＣＰＵ、３２：ＲＯＭ、３３：ＲＡＭ、３４：Ｉ／Ｏ、４０：フォトセンサ、４１：エンコーダ付きモータ、４２：Ｉ／Ｆ、４３：交流電圧発生装置、４４：インダクタンス測定装置、４５：汎用Ｉ／Ｏ、４６：コネクタ、４７：ＡＴＭ制御部、１００：磁気センサ検出ユニット、１０１：基部、１０２（１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ）：コイル部、１０３：コネクタ、１１０：ケーブル、１２０：終端用コネクタ、２００：磁気センサ検出ユニット、２０１：基部、２０２：コイル部、２０３：コネクタ、２０４：第２コネクタ、３００：偽磁気センサ、９００：磁気カード、９０１：磁気情報、Ａ：電磁界、Ｈ１：インダクタンス、Ｈ２：インダクタンス

Claims (5)

1. カード処理装置における磁気カードの搬送路内に取り付けられた偽磁気センサを検出する磁気センサ検出ユニットであって、基部と、前記基部に形成されて、加えられた交流電圧に基づく電磁界を発生させるコイル部と、有し、前記基部は、可撓性を有する薄板形状に形成された磁気センサ検出ユニットが前記搬送路内に取り付けられるカード処理装置であって、
   前記コイル部に加える交流電圧を発生させる交流電圧発生部と、
   定期的に、前記交流電圧発生部により前記磁気センサ検出ユニットのコイル部に交流電圧をかけて、当該コイル部に発生した電磁界に起因する第１インダクタンスを測定し、その所定時間経過後に、前記交流電圧発生部により前記磁気センサ検出ユニットの前記コイル部に交流電圧をかけて、当該コイル部に発生した電磁界に起因する第２インダクタンスを測定するインダクタンス測定部と、
   前記第１インダクタンスと前記第２インダクタンスとの差分をとり、当該差分が所定の範囲に入っているか否かを判定するインダクタンス判定部と、
   前記差分が所定の範囲に入っていないと判定した場合に、偽磁気センサが取り付けられていると判断する偽磁気センサ検出部と、を有するカード処理装置。
2. 前記磁気センサ検出ユニットは、前記磁気カードが挿入される前記カード処理装置のカード挿入口の厚み方向の幅よりも小さい厚みに設定された請求項１に記載のカード処理装置。
3. 前記磁気センサ検出ユニットの厚みは０．５ｍｍ以上、かつ３．０ｍｍ未満に設定された請求項１または請求項２に記載のカード処理装置。
4. 前記磁気センサ検出ユニットは、前記コイル部に接続されたコネクタを有し、
   複数の磁気センサ検出ユニットは、当該複数の磁気センサ検出ユニットの前記コネクタ同士が可撓性を有するケーブルで連結された請求項１から請求項３の何れか一項に記載のカード処理装置。
5. カード処理装置における磁気カードの搬送路内に取り付けられた偽磁気センサを検出する磁気センサ検出ユニットであって、基部と、前記基部に形成されて、加えられた交流電圧に基づく電磁界を発生させるコイル部と、有し、前記基部は、可撓性を有する薄板形状に形成された磁気センサ検出ユニットが前記搬送路内に取り付けられるカード処理装置が行う磁気センサ検出方法であって、
   定期的に、前記磁気センサ検出ユニットのコイル部に交流電圧をかけて、当該コイル部に発生した電磁界に起因する第１インダクタンスを測定する第１インダクタンス測定ステップと、
   前記第１インダクタンス測定ステップの後の所定時間経過後に、前記磁気センサ検出ユニットの前記コイル部に交流電圧をかけて、当該コイル部に発生した電磁界に起因する第２インダクタンスを測定する第２インダクタンス測定ステップと、
   前記第１インダクタンスと前記第２インダクタンスとの差分をとり、当該差分が所定の範囲に入っているか否かを判定する判定ステップと、
   前記判定ステップにおいて、前記差分が所定の範囲に入っていないと判定した場合に、偽磁気センサを検出したことを報知する偽磁気センサ報知ステップと、を有する磁気センサ検出方法。
   

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