JP6844175B2 - 放射線検出装置 - Google Patents

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Description

本発明は、放射線検出装置に関する。特に、放射線検出装置を構成するピクセル電極の構造に関する。
ピクセル型電極によるガス電子増幅型放射線検出器の研究が進められている。ガス電子増幅型放射線検出器は、従来の検出器による放射線検出では不十分であった、特に、検出領域の画像イメージングにおいて、大面積かつリアルタイムイメージングができるという特徴がある。
ガス電子増幅型放射線検出器の構造に関しては、例えば、特許文献1〜3を参照することができる。
特許文献2の製法で製造したピクセル電極ユニットは、アノードおよびカソード電極が、各々両端に接続端子を有する。すなわちピクセル電極ユニットが4辺すべてに接続端子を有する。特許文献4には、このピクセル電極ユニットを複数連結させて大面積化する構造が開示されている。この場合、外部回路との接続端子がピクセル電極ユニットの外周4辺に配置され、隣接しているピクセル電極ユニットの接続端子間をワイヤーボンディングで接続している。
特許第3354551号公報 特許第4391391号公報 特許第3535045号公報 特開2012−168170号公報
しかし、上記構造では隣接するピクセル電極ユニット間の接続部に放射線を検出できないデッドスペースが存在し、途切れのない高精細画像を得ることは難しかった。
本発明は、上記実情に鑑み、均一で途切れのない高精細画像が取得できる放射線検出装置を提供することを目的とする。
本発明の一実施形態によると、絶縁部材と、絶縁部材の第1面に配置された複数の開口部を有する複数の第1電極と、絶縁部材の第1面の反対側の第2面上に配置され絶縁部材を貫通し複数の第1電極の複数の開口部のそれぞれにおいて先端が露出する複数の第2電極と、複数の第1電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、複数の第2電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、を有するピクセル電極を備える放射線検出装置であって、複数の第1電極の複数の接続端子を絶縁部材の第1面の1辺に配置し、複数の第2電極の複数の接続端子を絶縁部材の1辺に隣り合う他辺に配置することを特徴とする放射線検出装置が提供される。
また、絶縁部材の第1面に配置される複数の第2電極間の長さをPとするとき、複数の第1電極は、複数の接続端子とは反対の端部が、複数の接続端子から他端の方向へ最端の開口部中心からさらに0.5P以上引き延ばされてもよい。
また、複数の第2電極は、複数の接続端子とは反対の端部が、複数の接続端子から他端の方向へ絶縁部材の第1面に配置される複数の第1電極の最端からさらに引き延ばされてもよい。
また、複数の第2電極の他端は、円弧で形成されてもよい。
また、複数の第1電極の他端は、円弧で形成されてもよい。
また、複数の第1電極の他端は、多角形で形成されてもよい。
また、複数の第1電極の他端は、半円で形成されてもよい。
また、絶縁部材の第2面に配置される複数の第2電極間の長さをPとするとき、複数の第2電極は複数の接続端子とは反対の端部が、複数の接続端子から他端の方向へ最端の絶縁部材の第1面での露出部中心からさらにP引き延ばされ、複数の第2電極の他端は半円で形成されてもよい。
また、絶縁部材の第1面に対向して配置された第3電極を備えていてもよい。
また、前記放射線検出装置は、ガスが存在するチャンバー内に配置されてもよい。
本発明におけるピクセル電極を有する放射線検出装置は、デッドスペースが生じず均一に放射線を検出することができる。これにより、放射線の検出データに欠陥箇所がなくなる。
本発明の一実施形態に係る放射線検出装置の一例を示す模式図である。 本発明の一実施形態に係るピクセル電極を示す断面図(A)と平面図(B)である。 本発明の一実施形態に係る放射線検出装置の放射線検出原理を示す模式図である。 本発明の実施形態1に係るピクセル電極を用いた放射線検出装置の一例を示す平面図である。 不良ピクセル電極の一例を示す平面図である。 本発明の実施形態2に係るピクセル電極を用いた放射線検出装置の一例を示す平面図である。 本発明の実施形態3に係るピクセル電極を用いた放射線検出装置の一例を示す平面図である。 本発明の実施形態4に係るピクセル電極を用いた放射線検出装置の一例を示す平面図である。 本発明の実施形態5に係るピクセル電極を用いた放射線検出装置の一例を示す平面図である。 実施形態6に係る本発明の放射線検出装置の断面斜視図である。
以下、図面を参照して、本発明の放射線検出装置について詳細に説明する。なお、本発明の放射線検出装置は以下の実施形態に限定されることはなく、種々の変形を行ない実施することが可能である。全ての実施形態においては、同じ構成要素には同一符号を付して説明する。また、図面の寸法比率は説明の都合上実際の比率とは異なったり、構成の一部が図面から省略されたりする場合がある。
[放射線検出装置の概要]
図1および図2を用いて、本発明の一実施形態に係る放射線検出装置100の構造の概要を説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る放射線検出装置100の一例を示す概略構成図である。図1に示すように、本実施形態に係る放射線検出装置100は、ドリフト電極110、複数の各ピクセル電極1を含むピクセル電極部101と接続端子部109a及び109bとを有するピクセル電極10、及びチャンバー111を備えている。ドリフト電極110と、ピクセル電極10は、一定のスペースを介して上下に向かい合って配置される。ピクセル電極10は、ピクセル電極基板ともいう。また、放射線検出装置100は、容器モジュールとも呼ばれる。
図1では1個のピクセル電極10に、6個の各ピクセル電極1を有するピクセル電極部101を示したが、これに限定されない。
本発明の一実施形態に係る放射線検出装置100におけるピクセル電極10のピクセル電極部101は、絶縁部材102、カソード電極104、アノード電極106、及びアノード電極パターン108を有している。
本実施形態に係るピクセル電極10は、ピクセル電極部101において、アノード電極106がマトリクス状に配置された構成を有する。本実施形態に係る放射線検出装置100は、アノード電極106とカソード電極104の一部とを含む各ピクセル電極1が複数配置されている。
カソード電極104はGNDに接続されており、ドリフト電極110とカソード電極104との間には、電圧が印加され、電場が形成される。
チャンバー111は、ピクセル電極部101および接続端子部109a、109bを有するピクセル電極10と、ドリフト電極110とを囲い、その内部にアルゴンやキセノンなどの希ガスと、エタン、メタンなどの常温でガスのアルカンもしくは二酸化炭素を含む消光作用を有するガス(クエンチングガス)との混合ガスが封入されている。どちらか単体のガスでも良く、かつ二種以上の混合ガスでも良い。
図2は本発明の一実施形態に係るピクセル電極部101を示す断面図(A)と平面図(B)である。図2(B)には、ピクセル電極部101の平面図を示し、図2(A)には図2(B)のA−A’線における断面図を示している。図2に示すように、カソード電極104は、絶縁部材102の第1面上に複数配置されている。カソード電極104は、複数の開口部105を有している。カソード電極104は、ストリップ状に形成されているので、カソードストリップ電極ともいう。
図2に示すように、本実施形態においては、アノード電極106は、カソード電極104の複数の開口部105のそれぞれにおいて中心に先端が露出するよう配置される。本実施形態においては、アノード電極106は、開口部105のそれぞれにおいて先端が露出している形状を有しているが、開口部105のそれぞれにおいて先端が露出しないような形状(先端が絶縁部材102の上面と概略一致する形状、又は先端が絶縁部材102の内部に位置する形状を含む。)でもよい。アノード電極106は、絶縁部材102の第1面から反対側の第2面まで絶縁部材102を貫通し、カソード電極104と反対側の第2面上に配置されるアノード電極パターン108と接続する。カソード電極104が延在する方向と、アノード電極106が接続するアノード電極パターン108が延在する方向とは、概略垂直である。
さらに、絶縁部材102表面にはリード配線124が設けられており、アノード電極106はアノード電極パターン108と層間接続部126を介して、このリード配線124に接続される。すなわちアノード電極106、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124は、一つの導電体であり、リード配線124はアノード電極106の接続端子として機能する。なお、本実施形態においては、アノード電極106、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124は別に設けられ、それぞれが電気的に接続されている形態について説明しているが、これに限定されるわけではなく、一体形成されていてもよい。アノード電極パターン108は、ストリップ状に形成されているので、アノードストリップパターンともいう。
図1に示すように、本発明の一実施形態に係る放射線検出装置100のピクセル電極10において、絶縁部材102の第1面に配置された複数の開口部105を有するカソード電極104は、その一端に接続端子104aを有する。複数のカソード電極104のそれぞれの接続端子104aは、絶縁部材102の1辺にまとめて配置される。複数のカソード電極104のそれぞれの接続端子104aは、ピクセル電極部101の一辺に隣接する接続端子部109bに配置される。複数のアノード電極106のそれぞれの接続端子106aは、ピクセル電極部101の一辺に隣接する接続端子部109aに配置される。すなわち、接続端子部109aは接続端子部109bが位置するピクセル電極部101の1辺と隣り合う他辺に位置する。
カソード電極104を第1電極、アノード電極106を第2電極、ドリフト電極110を第3電極という場合がある。
複数のカソード電極104と、複数のアノード電極106の、絶縁部材102の第1面上の高さは均一で、突起形状がないことから、高電圧を印加して電気力線をアノード電極106に集中させても放電が発生しない。
本発明の一実施形態に係る絶縁部材102の材料はポリイミドであるが、絶縁性を備えた材料ならこれに限定しない。本実施形態に係る、カソード電極104、アノード電極106、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124の材料は銅であるが、導電性を備えた金属材料ならこれに限定しない。
一般的なピクセル電極は10cm×10cmの検出面積があり、このようなピクセル電極部101を備えるピクセル電極10を含む放射線検出装置におけるカソード電極104およびアノード電極106の幅、ピッチ等は、次の通りである。
カソード電極の幅:350μm
カソード電極のピッチ:400μm
アノード電極のピッチ:縦方向及び横方向に400μm
アノード電極の個数:およそ60000個
カソード電極とアノード電極との間隔:およそ100μm
本発明の一実施形態に係る放射線検出装置100は、上述したような構成をとることにより、ピクセル電極10において、アノード電極106がマトリクス状に配置された構成を有することになる。本実施形態に係る本発明の放射線検出装置100は、アノード電極106とカソード電極104の一部とを含む各ピクセル電極1が複数配置されていることになる。
[放射線検出の原理]
図3を用いて、本発明の一実施形態に係る放射線検出装置の動作原理を説明する。図1および図2で示した放射線検出装置100の構成をアルゴンやキセノンなどの希ガスと、エタン、メタンなどの常温でガスのアルカンもしくは二酸化炭素を含む消光作用を有するガス(クエンチングガス)との混合ガスで封入されたチャンバー111内に配置する。どちらか単体のガスでも良く、また二種以上の混合ガスでも良い。それぞれのカソード電極104とアノード電極106の間に高電圧を印加することで、電場が形成される。カソード電極104はGNDに接続されており、ドリフト電極110とカソード電極104との間にも電圧が印加され、電場が形成される。
放射線が入射した時、ドリフト電極110とカソード電極104との間に発生させた電場の影響により、入射する放射線が存在する気体との相互作用により発生させた電子は電子雲を形成し、アノード電極106とカソード電極104からなる各ピクセル電極1の方向へ引き寄せられる。このとき、引き寄せられた電子は気体原子と衝突し、気体原子を電離させる。さらに電離された電子は雪崩的に増殖し、アノード電極106で収集された電子群は、電気信号として読み出すことができる程度にまで達する。そして、この電気信号をアノード電極パターン108を通して接続端子であるリード配線124から外部に読み出すことができる。一方、カソード電極104には電子群に誘導された正電荷が生じ、ここから得られる電気信号をカソード電極の接続端子104aから外部に読みだすことができる。これらの電気信号を時系列に計測することにより、荷電粒子の飛跡を測定することができる。
[実施形態1]
図4は、本発明の実施形態1に係るピクセル電極20を用いた放射線検出装置200の一例を示す平面図である。なおピクセル電極20の構造がわかりやすいよう、ドリフト電極110とチャンバー111は省略する。
図4に示すように、本発明の実施形態1に係るピクセル電極20は絶縁部材102、カソード電極104およびアノード電極106を有する。絶縁部材102の第1面に配置された複数の開口部105を有するカソード電極104は、その一端に接続端子104aを有する。複数のカソード電極104のそれぞれの接続端子104aは、絶縁部材102の1辺にまとめて配置される。
アノード電極106は、絶縁部材102の第1面に配置されるカソード電極104とは反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材102を貫通し、カソード電極104の開口部105のそれぞれにおいて先端が露出するよう配置される。アノード電極106は、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124と接続する。アノード電極106、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124は一つの導電体であり、その一端に配置されるリード配線124はアノード電極106の接続端子106aとして機能する。複数のアノード電極106のそれぞれの接続端子106aは、絶縁部材102の複数のカソード電極104の接続端子104aが配置された1辺と隣り合う他辺にまとめて配置される。
2辺に外部回路との接続端子を配置することで、カソード電極104とアノード電極106の2つにまとめることができ、外部回路とピクセル電極から構成される装置サイズの小型化が可能になり、スペースが限られた機器への組み込みが可能となった。
図4では1個のピクセル電極20に6個の各ピクセル電極1を示したが、これに限定されない。
図5は、不良ピクセル電極の一例を示す平面図である。本発明の実施形態1に係るピクセル電極20を製造するにあたり、しばしば図5に示したような不良ピクセル電極20’が生じた。
図5で示した不良ピクセル電極20’は、1つのカソード電極104の接続端子104aとは反対側の端部のピクセル電極が浸食され、突起部aおよびa’を形成している。さらに1つのアノード電極106が接続するアノード電極パターン108の接続端子106a(リード配線124)とは反対側の端部が浸食され、突起部bおよびb’を形成している。
突起部の形成は、ピクセル電極20の製造過程で、過度にエッチングされることに起因する。パターンが断線して突起物が存在すると、高電圧を印加した時、放電が発生したり、電場がゆがむ一因となる。
カソード電極104の突起部aおよびa’は、そのピクセル電極のアノード電極106との間で放電が発生し、測定が行えない不具合が生じた。アノード電極106が接続するアノード電極パターン108の突起部bおよびb’は、カソード電極104との間に電場が集中し、均一電場が形成できない箇所が生じた。
このような経緯を踏まえ、本発明者らは、さらに本発明の一実施形態に係るピクセル電極のカソード電極104、およびアノード電極106の接続するアノード電極パターン108の長さおよび形状を検討した。
[実施形態2]
図6を用いて本発明の実施形態2にかかるピクセル電極について説明する。なおピクセル電極のカソード電極104、およびアノード電極106の接続するアノード電極パターン108の長さおよび形状以外は本発明の実施形態1と同じであり、その繰り返しの説明は省略する。
図6は、本発明の実施形態2に係るピクセル電極30からなる放射線検出装置300の一例を示す平面図である。なおピクセル電極30の構造がわかりやすいよう、ドリフト電極110とチャンバー111は省略する。
図6に示すように、本発明の実施形態2に係るピクセル電極30は絶縁部材102、カソード電極104およびアノード電極106を有する。絶縁部材102の第1面に配置された複数の開口部105を有するカソード電極104は、その一端に接続端子104aを有する。複数のカソード電極104のそれぞれの接続端子104aは、絶縁部材102の1辺にまとめて配置される。
複数のカソード電極104は、接続端子104aとは他端の方向へ引き延ばされる。具体的には、絶縁部材102の第1面に配置される複数のアノード電極106間の長さをPとするとき、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上、カソード電極全長が引き延ばされる。すなわち、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上離れている。さらに、その先端部は円弧で形成されてもよい。
アノード電極106は、絶縁部材102の第1面に配置されるカソード電極104とは反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材102を貫通し、カソード電極104の開口部105のそれぞれにおいて先端が露出するよう配置される。アノード電極106は、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124と接続する。アノード電極106、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124は一つの導電体であり、その一端に配置されるリード配線124はアノード電極106の接続端子106aとして機能する。複数のアノード電極106のそれぞれの接続端子106aは、絶縁部材102の複数のカソード電極104の接続端子104aが配置された1辺と隣り合う他辺にまとめて配置される。
複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、複数の接続端子106a(リード配線124)とは他端の方向へ引き延ばされる。具体的には、絶縁部材102の第1面に配置される複数のカソード電極104の幅の最端からさらに引き延ばされればよい。すなわち、複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、絶縁部材102の第1面に配置される複数のカソード電極104の幅の最端から離れている。さらに、その先端部は円弧で形成されてもよい。
2辺に外部回路との接続端子を配置することで、カソード電極104とアノード電極106の2つにまとめることができ、外部回路とピクセル電極から構成される装置サイズの小型化が可能になり、スペースが限られた機器への組み込みが可能となった。
図6では1個のピクセル電極30に6個の各ピクセル電極1を示したが、これに限定されない。
本実施形態に係るピクセル電極において、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上離れている。さらに、その先端部は円弧で形成されてもよい。これによってカソード電極104の突起部a、a’、およびアノード電極106が接続するアノード電極パターン108の突起部b、b’が形成されなくなった。この結果、突起部に起因する放電と電場のゆがみが抑制できる。さらに、放射線検出装置300の感度が均一になる効果も得られる。
[実施形態3]
図7を用いて本発明の実施形態3にかかるピクセル電極について説明する。なおピクセル電極のカソード電極104、およびアノード電極106の接続するアノード電極パターン108の長さおよび形状以外は本発明の実施形態1または2と同じであり、その繰り返しの説明は省略する。
図7は、本発明の実施形態3に係るピクセル電極40を用いた放射線検出装置400の一例を示す平面図である。なおピクセル電極40の構造がわかりやすいよう、ドリフト電極110とチャンバー111は省略する。
図7に示すように、本発明の実施形態3に係るピクセル電極40は絶縁部材102、カソード電極104およびアノード電極106を有する。絶縁部材102の第1面に配置された複数の開口部105を有するカソード電極104は、その一端に接続端子104aを有する。複数のカソード電極104のそれぞれの接続端子104aは、絶縁部材102の1辺にまとめて配置される。
複数のカソード電極104は、接続端子104aとは他端の方向へ引き延ばされる。具体的には、絶縁部材102の第1面に配置される複数のアノード電極106間の長さをPとするとき、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上、カソード電極全長が引き延ばされる。すなわち、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上離れている。さらに、その先端部は多角形で形成されてもよい。
アノード電極106は、絶縁部材102の第1面に配置されるカソード電極104とは反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材102を貫通し、カソード電極104の開口部105のそれぞれにおいて先端が露出するよう配置される。アノード電極106は、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124と接続する。アノード電極106、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124は一つの導電体であり、その一端に配置されるリード配線124はアノード電極106の接続端子106aとして機能する。複数のアノード電極106のそれぞれの接続端子106aは、絶縁部材102の複数のカソード電極104の接続端子104aが配置された1辺と隣り合う他辺にまとめて配置される。
複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、複数の接続端子106a(リード配線124)とは他端の方向へ引き延ばされる。具体的には、絶縁部材102の第1面に配置される複数のカソード電極104の幅の最端からさらに引き延ばされればよい。すなわち、複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、絶縁部材102の第1面に配置される複数のカソード電極104の幅の最端から離れている。さらに、その先端部は円弧で形成されてもよい。
2辺に外部回路との接続端子を配置することで、カソード電極104とアノード電極106の2つにまとめることができ、外部回路とピクセル電極から構成される装置サイズの小型化が可能になり、スペースが限られた機器への組み込みが可能となった。
図7では1個のピクセル電極40に6個の各ピクセル電極1を示したが、これに限定されない。
本実施形態に係るピクセル電極において、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上離れている。さらに、その先端部は多角形で形成されてもよい。これによってカソード電極104の突起部a、a’、およびアノード電極106が接続するアノード電極パターン108の突起部b、b’がより形成されなくなった。この結果、突起部に起因する放電と電場のゆがみが抑制できる。さらに、放射線検出装置400の感度が均一になる効果も得られる。
[実施形態4]
図8を用いて本発明の実施形態4にかかるピクセル電極について説明する。なおピクセル電極のカソード電極104、およびアノード電極106の接続するアノード電極パターン108の長さおよび形状以外は本発明の実施形態1乃至3と同じであり、その繰り返しの説明は省略する。
図8は、本発明の実施形態4に係るピクセル電極50を用いた放射線検出装置500の一例を示す平面図である。なおピクセル電極50の構造がわかりやすいよう、ドリフト電極110とチャンバー111は省略する。
図8に示すように、本発明の実施形態4に係るピクセル電極50は絶縁部材102、カソード電極104およびアノード電極106を有する。絶縁部材102の第1面に配置された複数の開口部105を有するカソード電極104は、その一端に接続端子104aを有する。複数のカソード電極104のそれぞれの接続端子104aは、絶縁部材102の1辺にまとめて配置される。
複数のカソード電極104は、接続端子104aとは他端の方向へ引き延ばされる。具体的には、絶縁部材102の第1面に配置される複数のアノード電極106間の長さをPとするとき、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上、カソード電極全長が引き延ばされる。すなわち、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上離れている。さらに、その先端部は半円で形成されてもよい。より詳しくは、直径の長さがカソード電極104の幅と同じ長さの半円でもよい。
アノード電極106は、絶縁部材102の第1面に配置されるカソード電極104とは反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材102を貫通し、カソード電極104の開口部105のそれぞれにおいて先端が露出するよう配置される。アノード電極106は、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124と接続する。アノード電極106、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124は一つの導電体であり、その一端に配置されるリード配線124はアノード電極106の接続端子106aとして機能する。複数のアノード電極106のそれぞれの接続端子106aは、絶縁部材102の複数のカソード電極104の接続端子104aが配置された1辺と隣り合う他辺にまとめて配置される。
複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、複数の接続端子106a(リード配線124)とは他端の方向へ引き延ばされる。具体的には、絶縁部材102の第1面に配置される複数のカソード電極104の幅の最端からさらに引き延ばされればよい。すなわち、複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、絶縁部材102の第1面に配置される複数のカソード電極104の幅の最端から離れている。さらに、その先端部は円弧で形成されてもよい。
2辺に外部回路との接続端子を配置することで、カソード電極104とアノード電極106の2つにまとめることができ、外部回路とピクセル電極から構成される装置サイズの小型化が可能になり、スペースが限られた機器への組み込みが可能となった。
図8では1個のピクセル電極50に6個の各ピクセル電極1を示したが、これに限定されない。
本実施形態に係るピクセル電極において、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上離れている。さらに、その先端部は半円で形成されてもよい。本発明の実施形態3と同様に、これによってカソード電極104の突起部a、a’、およびアノード電極106が接続するアノード電極パターン108の突起部b、b’がより形成されなくなった。この結果、突起部に起因する放電と電場のゆがみが抑制できる。さらに、放射線検出装置500の感度がより均一になる効果も得られる。
[実施形態5]
図9を用いて本発明の実施形態5にかかるピクセル電極について説明する。なおピクセル電極のカソード電極104、およびアノード電極106の接続するアノード電極パターン108の長さおよび形状以外は本発明の実施形態1乃至4と同じであり、その繰り返しの説明は省略する。
図9は、本発明の実施形態5に係るピクセル電極60を用いた放射線検出装置600の一例を示す平面図である。なおピクセル電極60の構造がわかりやすいよう、ドリフト電極110とチャンバー111は省略する。
図9に示すように、本発明の実施形態5に係るピクセル電極60は絶縁部材102、カソード電極104およびアノード電極106を有する。絶縁部材102の第1面に配置された複数の開口部105を有するカソード電極104は、その一端に接続端子104aを有する。複数のカソード電極104のそれぞれの接続端子104aは、絶縁部材102の1辺にまとめて配置される。
複数のカソード電極104は、接続端子104aとは他端の方向へ引き延ばされる。具体的には、絶縁部材102の第1面に配置される複数のアノード電極106間の長さをPとするとき、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上、カソード電極全長が引き延ばされる。すなわち、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上離れている。さらに、その先端部は半円で形成されてもよい。より詳しくは、直径の長さがカソード電極104の幅と同じ長さの半円でもよい。
アノード電極106は、絶縁部材102の第1面に配置されるカソード電極104とは反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材102を貫通し、カソード電極104の開口部105のそれぞれにおいて先端が露出するよう配置される。アノード電極106は、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124と接続する。アノード電極106、アノード電極パターン108、層間接続部126、およびリード配線124は一つの導電体であり、その一端に配置されるリード配線124はアノード電極106の接続端子106aとして機能する。複数のアノード電極106のそれぞれの接続端子106aは、絶縁部材102の複数のカソード電極104の接続端子104aが配置された1辺と隣り合う他辺にまとめて配置される。
複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、接続端子106a(リード配線124)とは他端の方向へ引き延ばされる。具体的には、絶縁部材102の第1面に配置される複数のアノード電極106間の長さをPとするとき、複数のアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、複数の接続端子106a(リード端子124)から他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくともP以上、アノード電極パターン全長が引き延ばされる。すなわち、複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、複数の接続端子106aから他端の方向へ最端の開口部105に露出するアノード電極106中心から少なくともP以上離れている。さらに、その先端部は半円で形成されてもよい。より詳しくは、直径の長さがカソード電極104の幅と同じ長さの半円でもよい。
2辺に外部回路との接続端子を配置することで、カソード電極104とアノード電極106の2つにまとめることができ、外部回路とピクセル電極から構成される装置サイズの小型化が可能になり、スペースが限られた機器への組み込みが可能となった。
図9では1個のピクセル電極60に6個の各ピクセル電極1を示したが、これに限定されない。
本実施形態に係るピクセル電極において、複数のカソード電極104は、複数の接続端子104aとは反対の端部が、複数の接続端子104aから他端の方向へ最端の開口部105中心から少なくとも0.5P以上離れている。さらに、その先端部は半円で形成されてもよい。また、複数のアノード電極106が接続するアノード電極パターン108は、複数の接続端子106aとは反対の端部が、複数の接続端子106aから他端の方向へ最端の開口部105に露出するアノード電極106中心から少なくともP以上離れている。さらに、その先端部は半円で形成されてもよい。本発明の実施形態3および4と同様に、これによってカソード電極104の突起部a、a’、およびアノード電極106が接続するアノード電極パターン108の突起部b、b’が形成されなくなった。この結果、突起部に起因する放電と電場のゆがみが抑制できる。さらに、放射線検出装置600の感度がより均一になる効果が得られる。
以上の構造とすることにより、本実施形態に係る本発明のピクセル電極を用いた放射線検出装置は、放射線検出部にデットスペースのない均一の電場が形成できることにより、途切れのない高精細画像を得ることが可能となる。
[実施形態6]
本実施形態においては、本発明の放射線検出装置の別の例について説明する。実施形態1乃至5と同様の構成を有しているので、同様の構成については改めて説明はしない。
図10に、本実施形態に係る本発明の放射線検出装置150の断面斜視図を示す。本実施形態に係る本発明の放射線検出装置150は、実施形態1乃至5と同様、ピクセル電極10、接続端子104a及び106a、ドリフト電極110及びチャンバー111を有している。また、本実施形態に係る本発明の放射線検出装置150においては、ドリフトケージ152a及び152bが設けられている。ドリフトケージ152a及び152bは、ドリフト電極110とピクセル電極10との間の電界分布を均一化するために設けられている。
本実施形態に係る本発明の放射線検出装置を容器モジュールという。
1:各ピクセル電極
10、20、30、40、50、60:ピクセル電極
100、200、300、400、500、600:放射線検出装置
101:ピクセル電極部
102:絶縁部材
104:カソード電極
104a:カソード電極104の接続端子
105:開口部
106:アノード電極(=124:リード配線+126:層間接続部+108:アノード電極パターン)
106a:アノード電極106の接続端子
108:アノード電極パターン
109a、109b:接続端子部
110:ドリフト電極
111:チャンバー
124:リード配線(=106a:アノード電極106の接続端子)
126:層間接続部
150:容器モジュール
152a、b:ドリフトケージ
1000:コンプトンカメラ
1002:シンチレータと光電子増倍管からなる検出モジュール

Claims (16)

  1. 絶縁部材と、
    前記絶縁部材の第1面に配置された、複数の開口部を有する複数の第1電極と、
    前記絶縁部材の前記第1面の反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材を貫通し、前記複数の第1電極の前記複数の開口部のそれぞれにおいて先端が露出する複数の第2電極と、
    前記複数の第1電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    前記複数の第2電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    を有するピクセル電極を備える放射線検出装置であって、
    前記複数の第1電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記第1面の1辺に配置し、前記複数の第2電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記1辺に隣り合う他辺に配置し、
    前記絶縁部材の第1面に配置される前記複数の第2電極間の長さをPとするとき、前記複数の第1電極は、前記複数の接続端子とは反対の端部が、前記複数の接続端子から他端の方向へ最端の前記開口部の中心から少なくとも0.5P以上引き延ばされることを特徴とする放射線検出装置。
  2. 絶縁部材と、
    前記絶縁部材の第1面に配置された、複数の開口部を有する複数の第1電極と、
    前記絶縁部材の前記第1面の反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材を貫通し、前記複数の第1電極の前記複数の開口部のそれぞれにおいて先端が露出する複数の第2電極と、
    前記複数の第1電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    前記複数の第2電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    を有するピクセル電極を備える放射線検出装置であって、
    前記複数の第1電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記第1面の1辺に配置し、前記複数の第2電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記1辺に隣り合う他辺に配置し、
    前記絶縁部材の第1面に配置される前記複数の第2電極間の長さをPとするとき、前記複数の第2電極は、前記複数の接続端子とは反対の端部が、前記複数の接続端子から他端の方向へ最端の前記絶縁部材の第1面での露出部中心から少なくともP以上引き延ばされることと、
    前記複数の第2電極の他端は、半円で形成されることを特徴とする放射線検出装置。
  3. 絶縁部材と、
    前記絶縁部材の第1面に配置された、複数の開口部を有する複数の第1電極と、
    前記絶縁部材の前記第1面の反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材を貫通し、前記複数の第1電極の前記複数の開口部のそれぞれにおいて先端が露出する複数の第2電極と、
    前記複数の第1電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    前記複数の第2電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    を有するピクセル電極を備える放射線検出装置であって、
    前記複数の第1電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記第1面の1辺に配置し、前記複数の第2電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記1辺に隣り合う他辺に配置し、
    前記複数の第2電極は、前記複数の接続端子とは反対の端部が、前記複数の接続端子から他端の方向へ前記絶縁部材の第1面に配置される複数の第1電極の最端からさらに引き延ばされることを特徴とする放射線検出装置。
  4. 絶縁部材と、
    前記絶縁部材の第1面に配置された、複数の開口部を有する複数の第1電極と、
    前記絶縁部材の前記第1面の反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材を貫通し、前記複数の第1電極の前記複数の開口部のそれぞれにおいて先端が露出する複数の第2電極と、
    前記複数の第1電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    前記複数の第2電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    を有するピクセル電極を備える放射線検出装置であって、
    前記複数の第1電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記第1面の1辺に配置し、前記複数の第2電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記1辺に隣り合う他辺に配置し、
    前記複数の第2電極の他端は、円弧で形成されることを特徴とする放射線検出装置。
  5. 絶縁部材と、
    前記絶縁部材の第1面に配置された、複数の開口部を有する複数の第1電極と、
    前記絶縁部材の前記第1面の反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材を貫通し、前記複数の第1電極の前記複数の開口部のそれぞれにおいて先端が露出する複数の第2電極と、
    前記複数の第1電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    前記複数の第2電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    を有するピクセル電極を備える放射線検出装置であって、
    前記複数の第1電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記第1面の1辺に配置し、前記複数の第2電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記1辺に隣り合う他辺に配置し、
    前記複数の第1電極の他端は、円弧で形成されることを特徴とする放射線検出装置。
  6. 絶縁部材と、
    前記絶縁部材の第1面に配置された、複数の開口部を有する複数の第1電極と、
    前記絶縁部材の前記第1面の反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材を貫通し、前記複数の第1電極の前記複数の開口部のそれぞれにおいて先端が露出する複数の第2電極と、
    前記複数の第1電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    前記複数の第2電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    を有するピクセル電極を備える放射線検出装置であって、
    前記複数の第1電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記第1面の1辺に配置し、前記複数の第2電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記1辺に隣り合う他辺に配置し、
    前記複数の第1電極の他端は、多角形で形成されることを特徴とする放射線検出装置。
  7. 絶縁部材と、
    前記絶縁部材の第1面に配置された、複数の開口部を有する複数の第1電極と、
    前記絶縁部材の前記第1面の反対側の第2面上に配置され、前記絶縁部材を貫通し、前記複数の第1電極の前記複数の開口部のそれぞれにおいて先端が露出する複数の第2電極と、
    前記複数の第1電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    前記複数の第2電極のそれぞれがその一端に有する複数の接続端子と、
    を有するピクセル電極を備える放射線検出装置であって、
    前記複数の第1電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記第1面の1辺に配置し、前記複数の第2電極の前記複数の接続端子を前記絶縁部材の前記1辺に隣り合う他辺に配置し、
    前記複数の第1電極の他端は、半円で形成されることを特徴とする放射線検出装置。
  8. 前記絶縁部材の第2面に配置される前記複数の第2電極間の長さをPとするとき、前記複数の第2電極は、前記複数の接続端子とは反対の端部が、前記複数の接続端子から他端の方向へ最端の前記絶縁部材の第1面での露出部中心から少なくともP以上引き延ばされることと、
    前記複数の第2電極の他端は、半円で形成されることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置。
  9. 前記複数の第2電極は、前記複数の接続端子とは反対の端部が、前記複数の接続端子から他端の方向へ前記絶縁部材の第1面に配置される複数の第1電極の最端からさらに引き延ばされることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出装置。
  10. 前記複数の第2電極の他端は、円弧で形成されることを特徴とする請求項1、3、及び9の何れか一に記載の放射線検出装置。
  11. 前記複数の第1電極の他端は、円弧で形成されることを特徴とする請求項1乃至4および8乃至10の何れか一に記載の放射線検出装置。
  12. 前記複数の第1電極の他端は、多角形で形成されることを特徴とする請求項1乃至4および8乃至10の何れか一に記載の放射線検出装置。
  13. 前記複数の第1電極の他端は、半円で形成されることを特徴とする請求項1乃至4および8乃至10の何れか一に記載の放射線検出装置。
  14. 前記絶縁部材の前記第1面に対向して配置された第3電極を備えることを特徴とする請求項1乃至13の何れか一に記載の放射線検出装置。
  15. チャンバーを備えることを特徴とする請求項1乃至14の何れか一に記載の放射線検出装置。
  16. 前記チャンバー内にガスが存在することを特徴とする請求項15に記載の放射線検出装置。
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JP2008232971A (ja) * 2007-03-23 2008-10-02 Hitachi Medical Corp 核医学診断装置、及び光子測定装置
JP5515881B2 (ja) * 2010-03-11 2014-06-11 大日本印刷株式会社 放射線検出センサ、放射線検出センサの製造方法
JP5604751B2 (ja) * 2010-05-23 2014-10-15 国立大学法人神戸大学 高抵抗電極を用いたピクセル型電極による粒子線画像検出器
JP2012168170A (ja) * 2011-01-25 2012-09-06 Dainippon Printing Co Ltd ガス増幅を用いた放射線検出器
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