JP6829767B2 - SiC結晶成長用SiC原料の製造方法及び製造装置 - Google Patents

SiC結晶成長用SiC原料の製造方法及び製造装置 Download PDF

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Description

本発明は、SiC結晶における不純物含有量を有意に低減させ、SiC結晶にけるミクロ被覆物を減少し、SiC結晶の転位密度を低減させ、結晶成長速度及び収率を向上させることができるSiC結晶成長用SiC原料の製造方法及び製造装置に関し、結晶成長の分野に関する。
炭化ケイ素(SiC)、窒化ガリウム(GaN)を代表とするワイドバンドギャップ半導体材料は、シリコン(Si)、ガリウムヒ素(GaAs)に続く第3世代の半導体材料である。Si及びGaAsのような従来の半導体材料に比べて、SiCは、高熱導率、高破壊電界強度、高飽和電子ドリフト速度及び高い結合エネルギーなどの良好な特性を有し、高温、高周波、高電力及び耐放射デバイスにおいて将来性が期待できる。また、SiCはGaNに近い格子定数及び熱膨張係数を有するため、光電子デバイスの分野にも極めて有望とされる。
SiC結晶成長方法は主に、物理的気相移送成長法(Physical Vapor Transport Method)であり、その成長室の構造が図1に示される。坩堝内の温度を2100〜2400℃に上昇し、SiC粉末を昇華させ、昇華により気相物質SiC、SiC及びSiを生成し、SiC粉末の温度よりわずかに低い坩堝の上部にSiC種結晶を投入して、昇華により生じた気相物質が温度勾配の作用でSiC粉末の表面から温度が比較的低いSiC種結晶に移送され、且つSiC種結晶において結晶化してブロック状のSiC結晶を形成する。
現在、このような方法を用いたSiC結晶成長には以下の技術的問題がある。先ず、SiC粉末に一定量の不純物が存在し、且つSiC粉末内部にあるこれらの不純物は従来の酸洗方式で除去できないため、SiC粉末を用いて成長されるSiC結晶における不純物の含有量が比較的高く、その結果、SiC結晶の品質に深刻に影響し、成長されたSiC結晶は高圧・ハイパワーデバイスによるSiC単結晶基板の品質への要求を満たすことができない。
また、物理的気相移送成長法でSiC結晶を成長させる過程において、SiC粉末が高温で蒸発して発生する基本的な反応は、以下を含む。
SiC(s)→Si(g)+C(s)
2SiC(s)→Si(g)+SiC(g)
2SiC(s)→SiC(g)+C(s)
式中、s及びgはそれぞれ固相及び気相を表す。
上記反応式から分かるように、成長室内に形成される気相物質は主にSi、SiC及びSiCである。結晶成長に必要な2100℃〜2400℃温度範囲内において、3種類の気相物質(Si、SiC及びSiC)のうち、Si蒸気の分圧がC蒸気の分圧よりずっと高い。SiC粉末自体の高温蒸発特性、すなわち系に要求される気相分圧割合のため、SiC粉末は必然的に黒鉛化し、これによりSiC粉末には黒鉛粒子が残留される。物理的気相移送成長法でSiC結晶を成長させる過程には、使用されるSiC粉末の粒径が一般的に数ミクロン−数ミリメートルであり、且つSiC粉末の粒子同士が互いに孤立している。SiC結晶が徐々に厚くなることに伴い、黒鉛坩堝の壁に接近するSiC粉末の温度が最も高いため、黒鉛化の程度が最も深刻であり、それにより大量の黒鉛粒子が残留される。これらの黒鉛粒子はSiC粉末の黒鉛化により形成されるもので、粒子の粒径が小さく、密度が小さく、且つこれらの黒鉛粒子同士が互いに孤立しており、したがって、これらの微細な黒鉛粒子は、SiC粉末の昇華で形成される気相物質によってSiC結晶の表面に移送され、SiC結晶内に取り込まれて、被覆物の欠陥を形成し、SiC結晶の品質及び収率に悪影響を与えることが発生しやすい。
また、物理的気相移送成長法でSiC結晶を成長させる過程において、温度場の設定の要因により、SiC粉末内部に軸方向と半径方向の温度勾配が存在し、且つSiC粉末の間に非常に大きい隙間が存在する。統計の結果、SiC粉末の密度がSiC結晶密度の60%程度、すなわち約1.9グラム/立方センチしかない。SiC結晶の成長初期に、黒鉛坩堝の内壁に接近するSiC粉末が昇華し、生じた気相物質が坩堝壁とSiC粉末の周囲の間から結晶の成長面に輸送されるとともに、SiC粉末の内部と上部に輸送される。SiC粉末に輸送される気相物質は、粉末間の隙間を通じて結晶の成長面に輸送され続ける一方、温度が比較的低い粉末の内部及び上部で既存のSiC粒子を結晶核として結晶成長し、SiC粉末の昇華により生じた気相物質を絶えず消費し、それによりSiC粉末における結晶成長部のSiC粉末の粒径が増大し、密度が増加し、隙間が減少していく。結晶成長の続きに伴って、SiC粉末の内部と上部の隙間が徐々になくなり、密度がSiC結晶に近い密度である約3.2グラム/立方センチに達する。このように、SiC粉末の昇華により生じた気相物質が深刻に消費されて、SiC結晶の中後期の成長速度及び収率を低減させる。
現在、上記技術的問題に対して、有効な解決策はまだ提案されていない。
従来の物理的気相移送成長法によるSiC結晶成長に存在する技術的問題に対して、本発明は、SiC結晶における不純物含有量を有意的に低減させ、SiC結晶にけるミクロ被覆物を減少し、SiC結晶の転位密度を低減させ、SiC結晶の中後期の成長速度及び収率を向上させることができるSiC原料の製造方法及びSiC原料の製造装置を提供することを目的とする。
本発明の一局面によれば、SiC粉末を第1黒鉛坩堝に入れ、前記第1黒鉛坩堝に第2黒鉛坩堝を反転して取り付けるステップと、前記第1黒鉛坩堝が加熱装置内の相対的高温領域に位置し、前記第2黒鉛坩堝が前記加熱装置内の相対的低温領域に位置するように、取り付けられた2つの黒鉛坩堝を前記加熱装置にセットし、前記加熱装置を真空引きし且つ前記加熱装置内の温度を所定温度まで上昇し、前記SiC粉末を昇華させ且つ相対的低温領域に位置する前記第2黒鉛坩堝に移送して結晶化させ、結晶化されたSiC原料を得るステップとを含む、SiC結晶成長用SiC原料の製造方法を提供する。
好ましくは、該方法はさらに、第2黒鉛坩堝の側壁と所定距離離れたスペーサを、第2黒鉛坩堝内に底部から上に設置するステップを含む。
好ましくは、スペーサは第2黒鉛坩堝内の中心位置に位置する。
好ましくは、スペーサは黒鉛を含む。
好ましくは、スペーサは中実又は中空構造である。
好ましくは、スペーサの第2黒鉛坩堝の底部からの上方の高さを、少なくとも結晶化対象となるSiC原料の高さ以上に設定する。
好ましくは、第1黒鉛坩堝に第2黒鉛坩堝を反転して取り付けることは、ネジ式シール、係止リング式のシール、係止スリーブ式シールのうちの少なくとも1種を含むシール方式によって、第2黒鉛坩堝を第1黒鉛坩堝に反転して取り付けるステップを含む。
好ましくは、加熱装置を真空引きすることは、加熱装置を排気しその内部圧力を10Pa未満にした後、所定圧力の不活性ガスを導入し第1所定期間維持するステップと、第1所定期間後、その内部圧力を1Pa未満にするまで加熱装置を排気するステップと、加熱装置内の温度を所定温度の半分である第1温度に上昇し、第1温度を維持したまま加熱装置を第2所定期間まで連続的に排気するステップと、第2所定期間後、加熱装置内に所定圧力の不活性ガスを導入し第3所定期間維持した後、その内部圧力を10−1Pa未満にするまで加熱装置を排気するステップとを含む。
好ましくは、加熱装置内の温度を所定温度まで上昇することは、誘導加熱又は抵抗加熱によって加熱装置内の温度を所定温度まで上昇するステップを含む。
好ましくは、該方法はさらに、加熱装置内の温度勾配を5℃/cm〜100℃/cmとして設定し、昇華されたSiC粉末を温度勾配に起因する作用の下で第2黒鉛坩堝に移送して結晶化させる。
好ましくは、温度勾配の範囲は10℃/cm〜50℃/cmである。
本発明の別の局面によれば、SiC結晶成長用SiC原料の製造装置を提供し、第1黒鉛坩堝と、その側壁と所定距離離れたスペーサが底部から上に設置される第2黒鉛坩堝と、内部に相対的高温領域と相対的低温領域を有する加熱装置とを備え、前記SiC原料を製造する際に、第2黒鉛坩堝は、SiC粉末が充填された第1黒鉛坩堝に反転して取り付けられ、且つ第1黒鉛坩堝は加熱装置内の相対的高温領域に位置し、第2黒鉛坩堝は加熱装置内の相対的低温領域に位置する。
好ましくは、スペーサは第2黒鉛坩堝内の中心位置に位置する。
好ましくは、スペーサは黒鉛を含む。
好ましくは、スペーサは中実又は中空構造である。
好ましくは、スペーサの第2黒鉛坩堝の底部からの上方の高さは、少なくとも結晶化対象となるSiC原料の高さ以上である。
本発明の顕著な効果は主に3つである。
1.本発明では、SiC粉末の昇華結晶化過程において、不純物含有量が大幅に低減するため、SiC原料中の不純物含有量をSiC粉末よりも大幅に低減させる。本発明により製造されるSiC原料を用いて結晶成長を行うと、得られるSiC結晶中の鉄、アルミニウム不純物の含有量がそれぞれ0.1ppm未満であり、このため、SiC結晶中の不純物による結晶品質の低下が抑制される。
2.本発明では、SiC原料はSiC粉末の高温昇華により得られるものであって、緻密に結晶化されて密度が3.2グラム/立方センチに近いSiC多結晶ブロックである。従来の物理的気相移送成長法でSiC結晶を成長するときに用いられるSiC粉末に比べて、SiC多結晶ブロックが緻密に結晶化し、SiC粒界間の相互作用が強い。該SiC原料を用いてSiC結晶を成長させる過程において、SiC多結晶ブロックの表面も、成長過程が続くのに伴って黒鉛化されるが、SiC多結晶ブロックの表面の黒鉛間に強い相互作用が存在するため、昇華により生じた気相物質によって結晶成長界面に運ばれにくく、それによりSiC結晶成長過程におけるミクロ黒鉛被覆物の発生が回避される。
3.本発明では、SiC原料を結晶化させる坩堝にスペーサが設置されているため、最後に形成されるSiC原料が中空環形構造となる。該構造を有するSiC原料を用いてSiC結晶を成長させる場合、SiC原料が環形中空構造であるため、SiC原料の中央部位にはSiC原料の昇華で得られた気相物質の移送の妨げや消費がなく、気相物質を結晶成長面に直移送送でき、これにより、SiC原料の利用率を有意的に向上させる。さらに、SiC原料の中央部位にはSiC原料の昇華で得られた気相物質の移送の妨げや消費がないため、SiC結晶の成長速度が生産過程にわたってほぼ変化しないので、収率を向上させる。
は物理的気相移送成長法でSiC結晶を成長させる成長室の構造模式図である。 はSiC原料の製造方法のフローチャートである。 はSiC原料製造装置の部分断面図である。
以下、実施形態を用いて本発明を更に説明するが、実施可能なプロセスはこれらの具体的な実施形態に限定されない。
本発明の実施例によれば、SiC結晶成長用SiC原料の製造方法の実施例を提供する。
図2はSiC原料の製造方法のフローチャートを示す。図2に示すように、該方法は、ステップS101とステップS102とを含む。
ステップS101:SiC粉末を第1黒鉛坩堝に入れ、第1黒鉛坩堝に第2黒鉛坩堝を反転して取り付ける。
通常、上記SiC粉末は所定量の不純物を含有し、第1黒鉛坩堝と第2黒鉛坩堝の灰分が所定値未満である。
ステップS102:第1黒鉛坩堝が加熱装置内の相対的高温領域に位置し、第2黒鉛坩堝が加熱装置内の相対的低温領域に位置するように、取り付けられた2つの黒鉛坩堝を加熱装置にセットし、加熱装置を真空引きし且つ加熱装置内の温度を所定温度まで上昇し、SiC粉末を昇華させ且つ相対的低温領域に位置する第2黒鉛坩堝に移送して結晶化させ、結晶化されたSiC原料を得る。
具体的には、加熱装置は、加熱炉を含むが、それに限定されない。加熱装置内の温度場が制御可能であるので、加熱装置には相対的高温領域と相対的低温領域が存在し、様々な方式、たとえば機械ポンプによって加熱装置を真空引きすることができるが、本発明では、これに限定されない。
そして、加熱装置を真空引きする過程において、加熱装置内の圧力が所望の真空に達するように、排気時間、加熱装置内の温度、温度保持時間等を設定することができる。
SiC粉末が充填された第1黒鉛坩堝は、通常、加熱装置内の相対的高温領域に位置し、それに対向して設置された第2黒鉛坩堝は、通常、加熱装置内の相対的低温領域に位置し、このように、第1黒鉛坩堝と第2黒鉛坩堝の間に温度差を形成して、第1黒鉛坩堝内で昇華させたSiC粉末を第2黒鉛坩堝に結晶化させる。
上記実施例によれば、SiC原料はSiC粉末の高温昇華により得られるものであり、SiC粉末の昇華結晶化過程において、不純物含有量が大幅に低減されるため、SiC原料中の不純物含有量がSiC粉末よりも大幅に低減され、これによりSiC原料を用いて成長させるSiC結晶の品質を顕著に向上させる。
好ましくは、本発明の実施例によれば、SiC結晶成長用SiC原料の製造方法はさらに、第2黒鉛坩堝の側壁と所定距離離れたスペーサを、第2黒鉛坩堝内に底部から上に設置するステップを含む。
具体的には、スペーサは、第1黒鉛坩堝で昇華させたSiC粉末が第2黒鉛坩堝の中部位置にて結晶化することを阻止し、最後に形成されるSiC原料を中空構造にするための部材である。
スペーサは、昇華されたSiC粉末が第2黒鉛坩堝の中部位置にて結晶化することを阻止できる限り、任意の形状であってもよい。
第2黒鉛坩堝にスペーサを設置することにより、SiC原料が中空構造に形成され、これは、SiC原料を用いてSiC結晶を成長させる過程においてSiC原料の利用率を向上させ、SiC結晶の成長速度を維持し、かつSiC結晶の収率を向上させる点で、大きな利点を有する。
好ましくは、本発明の実施例によれば、スペーサは第2黒鉛坩堝内の中心位置に位置する。
好ましくは、本発明の実施例によれば、スペーサは黒鉛を含む。
好ましくは、本発明の実施例によれば、スペーサは中実又は中空構造である。
好ましくは、本発明の実施例によれば、スペーサの第2黒鉛坩堝の底部からの上方の高さを、少なくとも結晶化対象となるSiC原料の高さより高いように設定する。
なお、スペーサの第2黒鉛坩堝の底部からの上方の高さとは、第2黒鉛坩堝の底部を下、開口部を上にして配置するとき、スペーサの縦方向での高さである。
SiC原料はスペーサの周りに形成される。最後に形成されるSiC原料を中空構造にするために、スペーサの高さは、少なくとも最後に形成されるSiC原料の高さ以上にする必要がある。
好ましくは、本発明の実施例によれば、ステップS101において、第1黒鉛坩堝に第2黒鉛坩堝を反転して取り付けることは、ネジ式シール、係止リング式のシール、係止スリーブ式シールのうちの少なくとも1種を含むシール方式によって、第2黒鉛坩堝を第1黒鉛坩堝に反転して取り付けるステップを含む。
対向して設置された2つの黒鉛坩堝において昇華させたSiC粉末が黒鉛坩堝から溢れることを防止するために、2つの黒鉛坩堝の接合部をシールする必要がある。たとえば、2つの黒鉛坩堝のうちの一方の開口部の外部をナットのように形成し、他方の開口部の内部をボルトのように形成し、2つの開口部を締め付けてネジ式で2つの黒鉛坩堝をシールすることができる。しかし、本発明は、これに限定されず、係止リング、係止スリーブなどを設置して2つの黒鉛坩堝をシールしてもよい。
好ましくは、本発明の実施例によれば、ステップS102において、加熱装置を真空引きすることは、加熱装置を排気しその内部圧力を10Pa未満にした後、所定圧力の不活性ガスを導入し第1所定期間維持するステップと、第1所定期間後、その内部圧力を1Pa未満にするまで加熱装置を排気するステップと、加熱装置内の温度を所定温度の半分である第1温度に上昇し、第1温度を維持したまま加熱装置を第2所定期間まで連続的に排気するステップと、第2所定期間後、加熱装置内に所定圧力の不活性ガスを導入し第3所定期間維持した後、その内部圧力を10−1Pa未満にするまで加熱装置を排気するステップとを含む。
具体的には、加熱装置に導入される不活性ガスは、アルゴンガス、ヘリウムガスを含む。第1所定期間は5分間〜180分間、第1温度範囲が1000℃〜1250℃、第2所定期間は5分間〜300分間、所定温度範囲は2000℃〜2500℃、所定圧力の範囲は1000Pa〜90000Pa、第3所定期間は5分間〜300分間であってもよい。
好ましくは、本発明の実施例によれば、加熱装置内の温度を所定温度まで上昇することは、誘導加熱又は抵抗加熱によって加熱装置内の温度を所定温度まで上昇するステップを含む。
ここで、所定温度の範囲は2000℃〜2500℃であってもよい。
好ましくは、本発明の実施例によれば、SiC結晶成長用SiC原料の製造方法はさらに、加熱装置内の温度勾配を5℃/cm〜100℃/cmとして設定し、昇華させたSiC粉末を温度勾配に起因する作用の下で第2黒鉛坩堝に移送して結晶化させるステップを含む。
加熱装置内に5℃/cm〜100℃/cmの温度勾配を設定することにより、第2黒鉛坩堝において、緻密に結晶化されて品質が比較的均一であるSiC原料を得ることができる。
好ましくは、本発明の実施例によれば、温度勾配の範囲は10℃/cm〜50℃/cmである。
以下、図2及び図3を参照しながら、発明の好ましいSiC結晶成長用SiC原料の製造方法を詳細に説明する。図3はSiC結晶成長用SiC原料の製造装置を示す。
2つの黒鉛坩堝2、7を用意する。
SiC粉末3を黒鉛坩堝2に充填し、黒鉛坩堝7の底部の中央に接近する位置にスペーサ9を設置する。
SiC粉末3の不純物総含有量が10ppm未満であり、好ましくは1ppm未満であり、SiC粉末3の粒径が10mm未満であり、好ましくは5mm未満である。
黒鉛坩堝2と黒鉛坩堝7の灰分が50ppm未満であり、好ましくは1ppm未満である。
スペーサ9は、第1端が黒鉛坩堝7の底部に接続されて第2端が第2坩堝7の開口部へ伸びている中実柱状体、たとえば、円柱体、四角柱形、三角柱形、多角柱形等であるが、本発明は、これに限定されない。
たとえば、スペーサ9は中空柱状体であってもよい。柱状体以外、黒鉛坩堝7の中央に接近する位置にSiC原料を形成することを防止できる限り、スペーサ9は、円錐台形、円錐体形などの他の任意の形状であってもよい。
スペーサ9の第1端が物理的又は化学的方式によって黒鉛坩堝7の底部に接続され、又はスペーサ9と黒鉛坩堝7が一体形成されて黒鉛坩堝7内の底部に固定される。
スペーサ9の外壁と黒鉛坩堝7の内壁とが所定間隔離れており、好ましくは、スペーサ9は黒鉛坩堝7の中心位置に位置する。
スペーサ9の黒鉛坩堝7の底部からの上方の高さは、少なくとも結晶することが期待されるSiC原料8の高さより高い。
黒鉛坩堝7を黒鉛坩堝2に反転して取り付け、黒鉛坩堝7と黒鉛坩堝2の開口部を対向させる。ネジ式シール、係止リング式のシール、係止スリーブ式シール等の方式によって、黒鉛坩堝2と7をシールすることができる。
対向設置される黒鉛坩堝2と黒鉛坩堝7を加熱炉に入れ、機械ポンプで加熱炉を排気し内部を真空状態にする。該真空状態とは加熱炉内の圧力が10−1Pa未満であることを意味する。
具体的には、その内部圧力を10Pa未満にするまで加熱炉を排気した後、不活性ガスアルゴンガスを導入しその内部圧力を50000Paにし、15分間維持し、15分間後、その内部圧力を1Pa未満にするまで加熱炉を排気し、加熱炉内の温度を1000℃に上昇し、1000℃を維持したまま加熱炉を60分間連続的に排気し、60分間後、加熱炉内に50000Paのアルゴンガスを導入し、60分間維持した後、その内部圧力を10.Pa未満にするまで加熱炉を排気する。
その内部温度がたとえば、2200℃となるように、加熱炉を加熱する。
加熱炉内に、温度場を設置することにより、相対的高温領域と相対的低温領域が存在し、通常、相対的高温領域の温度が2000〜2500℃の範囲にあり、相対的低温領域の温度が1900〜2400℃の範囲にある。
黒鉛坩堝2を相対的高温領域、黒鉛坩堝7を相対的低温領域にセットして、黒鉛坩堝2中のSiC粉末を高温作用下で昇華させ、温度勾配に起因する作用の下で相対的低温領域に位置する黒鉛坩堝7内に移送して結晶化させ、結晶化されたSiC原料を得る。
本発明の実施例によれば、SiC粉末の昇華結晶化過程において、不純物の含有量が大幅に低減されるため、SiC原料中の不純物含有量がSiC粉末よりも大幅に低減され、さらに、これにより製造されるSiC原料を用いてSiC結晶を成長させるときに、SiC結晶の品質を有意的に向上させる。
また、本発明の実施例によれば、SiC原料は、SiC粉末の高温昇華により得られるものであって、緻密に結晶化して密度が3.2グラム/立方センチに近いSiC多結晶ブロックである。従来の物理的気相移送成長法を用いたSiC結晶成長に使用されるSiC粉末に比べて、SiC多結晶ブロックが緻密に結晶化し、SiC粒界間の相互作用が強い。該SiC原料を用いてSiC結晶を成長させる過程においては、SiC多結晶ブロックの表面は成長過程が続くのに伴って黒鉛化されるが、SiC多結晶ブロックの表面の黒鉛間に強い相互作用が存在するため、昇華により生じた気相物質によって結晶成長界面に運ばれにくく、それによりSiC結晶成長過程におけるミクロ黒鉛被覆物の発生が回避される。
さらに、本発明の実施例によれば、SiC粉末結晶化の坩堝にスペーサが設置されるため、最後に形成されるSiC原料が中空構造となる。該構造を有するSiC原料を用いてSiC結晶を成長させる場合、SiC原料が中空構造であるため、SiC原料の中央部位にはSiC原料の昇華で得られた気相物質の移送の妨げや消費がなく、気相物質を結晶成長面に直接輸送でき、それによりSiC原料の利用率を顕著に向上させる。且つ、SiC原料の中央部位にはSiC原料の昇華で得られた気相物質の移送の妨げや消費がないため、SiC結晶の成長速度が生産過程にわたってほぼ変化しないので、収率を向上させる。
本発明の実施例によれば、SiC結晶成長用SiC原料の製造装置を提供する。
図3はSiC原料の製造装置の部分断面図である。
図3に示すように、該製造装置は、
第1黒鉛坩堝2と、
その側壁と所定距離離れたスペーサ9が底部から上に設置される第2黒鉛坩堝7と、
内部に相対的高温領域と相対的低温領域を有する加熱装置12とを備え、
具体的には、スペーサ9は、第1端が黒鉛坩堝7の底部に接続されて第2端が第2坩堝7の開口部へ伸びている延在する中実柱状体、たとえば、円柱体、四角柱形、三角柱形、多角柱形等であるが、本発明は、これに限定されない。
たとえば、スペーサ9は中空柱状体であってもよい。柱状体以外、黒鉛坩堝7の中央に接近する位置にSiC原料を形成することを防止できる限り、スペーサ9は円錐台形、円錐体形などの他の任意の形状であってもよい。
スペーサ9の第1端が物理的又は化学的方式によって黒鉛坩堝7の底部に接続され、又はスペーサ9と黒鉛坩堝7が一体形成されて黒鉛坩堝7内の底部に固定される。
スペーサ9の外壁と黒鉛坩堝7の内壁とが所定間隔離れており、好ましくは、スペーサ9が黒鉛坩堝7の中心位置に位置する。
スペーサ9の黒鉛坩堝7の底部からの上方の高さは、少なくとも結晶化対象となるSiC原料の高さより高い。
加熱装置12では、SiC原料8を製造する時に、第2黒鉛坩堝7は、SiC粉末3が充填された第1黒鉛坩堝2に反転して取り付けられ、且つ第1黒鉛坩堝2は加熱装置12内の相対的高温領域に位置し、第2黒鉛坩堝7は相対的低温領域に位置する。
具体的には、加熱装置12は、加熱炉を含むが、これに限定されない。加熱装置12内の温度場が制御可能であるため、加熱装置12に相対的高温領域と相対的低温領域が存在し、
SiC原料を製造する際に、黒鉛坩堝7を黒鉛坩堝2に反転して取り付け、黒鉛坩堝7と黒鉛坩堝2の開口部を対向させる。ネジ式シール、係止リング式のシール、係止スリーブ式シールなどの方式によって、黒鉛坩堝2と7をシールすることができる。
対向して設置された黒鉛坩堝2と黒鉛坩堝7を加熱炉にセットして、機械ポンプで加熱炉を排気し内部を真空状態にし、該真空状態とは加熱炉内の圧力が10−1Pa未満であることを意味する。
具体的には、その内部圧力を10Pa未満にするまで加熱炉を排気した後、不活性ガスアルゴンガスを導入しその内部圧力を50000Paにし、15分間維持し、15分間後、その内部圧力を1Pa未満にするまで加熱炉を排気し、加熱炉内の温度を1000℃に上昇し、1000℃を維持したまま加熱炉を60分間連続的に排気し、60分間後、加熱炉内に50000Paのアルゴンガスを導入し、60分間維持した後、その内部圧力を10−1Pa未満にするまで加熱炉を排気する。
その内部温度がたとえば、2200℃となるように、加熱炉を加熱する。
加熱炉内に、温度場を設置することにより、相対的高温領域と相対的低温領域が存在し、通常、相対的高温領域の温度が2000〜2500℃の範囲にあり、相対的低温領域の温度が1900〜2400℃の範囲にある。
黒鉛坩堝2を相対的高温領域、黒鉛坩堝7を相対的低温領域にセットして、黒鉛坩堝2中のSiC粉末を高温作用下で昇華させ、温度勾配に起因する作用の下で相対的低温領域に位置する黒鉛坩堝7内に移送して結晶化させ、結晶化されたSiC原料を得る。
SiC粉末結晶化の坩堝にセパレータが設置されているため、最後に形成されるSiC原料が中空構造である。該構造を有するSiC原料を用いてSiC結晶を成長させる場合、SiC原料が中空構造であるため、SiC原料の中央部位にはSiC原料の昇華で得られた気相物質の移送の妨げや消費がなく、気相物質を結晶成長面に直接輸送でき、それによりSiC原料の利用率を有意的に向上させる。且つ、SiC原料の中央部位にはSiC原料の昇華で得られた気相物質の移送の妨げや消費がないため、SiC結晶の成長速度が成長過程にわたってほぼ変化しないので、収率を向上させる。
なお、以上の具体的な実施形態は本発明の好適な実施形態に過ぎず、当業者にとって、請求項の趣旨と範囲を逸脱しない限り、各種の形式と詳細の変化を行うことができ、これらの変化も本発明の保護範囲内である。
1.黒鉛蓋、2.第1黒鉛坩堝、3.SiC粉末、4.接着剤、5.SiC種結晶、6.SiC結晶、7.第2黒鉛坩堝、8.SiC原料、9.スペーサ、10.誘導加熱コイル、11.断熱材、12.加熱装置。

Claims (15)

  1. SiC結晶成長用SiC原料の製造方法であって、
    SiC粉末を第1黒鉛坩堝に入れ、前記第1黒鉛坩堝に対し第2黒鉛坩堝を反転して取り付けるステップと、
    前記第1黒鉛坩堝が加熱装置内の相対的高温領域に位置し、前記第2黒鉛坩堝が前記加熱装置内の相対的低温領域に位置するように、取り付けられた前記第1及び第2の2つの黒鉛坩堝を前記加熱装置にセットし、前記加熱装置を真空引きし且つ前記加熱装置内の温度を所定温度まで上昇させ、前記SiC粉末を昇華させ且つ相対的低温領域に位置する前記第2黒鉛坩堝に移送して結晶化させ、結晶化されたSiC原料を得るステップと、
    前記第2黒鉛坩堝の側壁から所定距離離れたスペーサを、前記第2黒鉛坩堝の底部から上に向けて設けるステップと、含み、
    前記スペーサは、前記第1黒鉛坩堝で昇華させたSiC粉末が前記第2黒鉛坩堝の中部位置にて結晶化することを阻止し、最後に形成されるSiC原料を中空構造にするための部材である、
    ことを特徴とするSiC結晶成長用SiC原料の製造方法。
  2. 前記スペーサは前記第2黒鉛坩堝内の中心位置に位置することを特徴とする請求項に記載の製造方法。
  3. 前記スペーサは黒鉛を含むことを特徴とする請求項1に記載の製造方法。
  4. 前記スペーサは中実又は中空構造であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の製造方法。
  5. 前記スペーサの前記第2黒鉛坩堝における第2黒鉛坩堝の底部から上に向けての高さを、少なくとも結晶化対象となるSiC原料の高さ以上に設定することを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の製造方法。
  6. 前記第1黒鉛坩堝に対し第2黒鉛坩堝を反転して取り付けることは、
    ネジ式シール、係止リング式のシール、係止スリーブ式シールのうちの少なくとも1種を含むシール方式によって、前記第2黒鉛坩堝を前記第1黒鉛坩堝に反転して取り付けるステップを含むことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の製造方法。
  7. 前記加熱装置を真空引きすることは、
    前記加熱装置を排気しその内部圧力を10Pa未満にした後、所定圧力の不活性ガスを導入し第1所定期間維持するステップと、
    前記第1所定期間後、その内部圧力を1Pa未満にするまで前記加熱装置を排気するステップと、
    前記加熱装置内の温度を前記所定温度の半分である第1温度に上昇し、前記第1温度を維持して前記加熱装置を第2所定期間連続的に排気するステップと、
    前記第2所定期間後、前記加熱装置内に前記所定圧力の不活性ガスを導入し第3所定期間維持した後、その内部圧力を10−1Pa未満にするまで前記加熱装置を排気するステップとを含むことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の製造方法。
  8. 前記加熱装置内の温度を所定温度まで上昇することは、
    誘導加熱又は抵抗加熱によって前記加熱装置内の温度を所定温度まで上昇するステップを含むことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の製造方法。
  9. 前記加熱装置内の温度勾配を5℃/cm〜100℃/cmとして設定し、昇華させた前記SiC粉末を前記温度勾配に起因する作用の下で前記第2黒鉛坩堝に移送して結晶化させるステップをさらに含むことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の製造方法。
  10. 前記温度勾配の範囲が10℃/cm〜50℃/cmであることを特徴とする請求項に記載の製造方法。
  11. SiC結晶成長用SiC原料の製造装置であって、
    第1黒鉛坩堝と、
    その側壁と所定距離離れたスペーサがその底部から上に向けて設けられた第2黒鉛坩堝と、
    内部に相対的高温領域と相対的低温領域を有する加熱装置とを備え、
    前記SiC原料を製造する際に、前記第2黒鉛坩堝は、SiC粉末が充填された前記第1黒鉛坩堝に反転して取り付けられ、且つ前記第1黒鉛坩堝は前記加熱装置内の前記相対的高温領域に位置し、前記第2黒鉛坩堝は前記加熱装置内の前記相対的低温領域に位置し、
    前記スペーサは、前記第1黒鉛坩堝で昇華させたSiC粉末が前記第2黒鉛坩堝の中部位置にて結晶化することを阻止し、最後に形成されるSiC原料を中空構造にするための部材である、
    ことを特徴とするSiC結晶成長用SiC原料の製造装置。
  12. 前記スペーサは前記第2黒鉛坩堝内の中心位置に位置することを特徴とする請求項11に記載の製造装置。
  13. 前記スペーサは黒鉛を含むことを特徴とする請求項11又は請求項12に記載の製造装置。
  14. 前記スペーサは中実又は中空構造であることを特徴とする請求項11乃至請求項13のいずれか一項に記載の製造装置。
  15. 前記スペーサの前記第2黒鉛坩堝における第2黒鉛坩堝の底部から上に向けての高さは、少なくとも結晶化対象となるSiC原料の高さ以上にすることを特徴とする請求項11乃至請求項14のいずれか一項に記載の製造装置。
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CN112877771B (zh) * 2021-01-04 2024-07-26 山西烁科晶体有限公司 一种单晶生长的坩埚和方法
CN113622029B (zh) * 2021-08-12 2022-11-29 山东天岳先进科技股份有限公司 具有多晶块的坩埚组件及其制备方法和由其制得的碳化硅单晶

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CN100595144C (zh) * 2008-06-04 2010-03-24 山东大学 用于半导体单晶生长的高纯碳化硅粉的人工合成方法
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