JP6826399B2 - レーザ測量装置の自動整準方法及びレーザ測量装置 - Google Patents
レーザ測量装置の自動整準方法及びレーザ測量装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6826399B2 JP6826399B2 JP2016175229A JP2016175229A JP6826399B2 JP 6826399 B2 JP6826399 B2 JP 6826399B2 JP 2016175229 A JP2016175229 A JP 2016175229A JP 2016175229 A JP2016175229 A JP 2016175229A JP 6826399 B2 JP6826399 B2 JP 6826399B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- leveling
- tilt sensor
- laser
- tilt
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 54
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 40
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 21
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Description
また、本発明に係るレーザ測量装置の自動整準方法において、前記第2のチルトセンサは前記第1のチルトセンサよりも精度が高く、前記第2整準工程は前記第1整準工程よりも狭い角度範囲の整準を行ってもよい。
また、本発明に係るレーザ測量装置において、前記第2のチルトセンサは前記第1のチルトセンサよりも精度が高く、前記整準制御部は、前記第2のチルトセンサに基づく前記整準部による整準を、前記第1のチルトセンサに基づく前記整準部による整準よりも狭い角度範囲としてもよい。
2 光波距離測定機構
3 レーザ回転照射機構
13 水平チルトセンサ(第1のチルトセンサ)
16 望遠鏡部
17 温度センサ
18 制御部(整準制御部)
22 レーザ照射部
23、24 一軸チルトセンサ(第2のチルトセンサ)
Claims (8)
- 少なくとも測距を行う光波距離測定機構と、レーザ光線を回転照射して基準面を形成するレーザ回転照射機構と、姿勢を調整する整準部と、を一体に備えるレーザ測量装置の自動整準方法であって、
前記光波距離測定機構に設けられた第1のチルトセンサに基づき、前記整準部により整準を行う第1整準工程と、
前記レーザ回転照射機構に設けられた第2のチルトセンサに基づき、前記整準部により整準を行う第2整準工程と、
前記第1のチルトセンサ又は前記第2のチルトセンサの測定値が所定の測定範囲外である場合、前記整準部を、事前に設定されたニュートラル位置とした後、当該ニュートラル位置を原点として水平方向のうちの1又は複数の予め定めた方向にて傾きを変化させて有効な測定範囲を探すサーチ工程と、
を備えるレーザ測量装置の自動整準方法。 - 前記整準部のニュートラル位置は、前記レーザ測量装置の鉛直軸が地球の重力方向と略一致する状態としたときの前記整準部の状態である請求項1に記載のレーザ測量装置の自動整準方法。
- 前記第2のチルトセンサは前記第1のチルトセンサよりも精度が高く、前記第2整準工程は前記第1整準工程よりも狭い角度範囲の整準を行う請求項1又は2に記載のレーザ測量装置の自動整準方法。
- 前記第1整準工程の後、前記第2整準工程を行う請求項1から3のいずれか一項に記載のレーザ測量装置の自動整準方法。
- 少なくとも測距を行う光波距離測定機構と、レーザ光線を回転照射して基準面を形成するレーザ回転照射機構とを一体に備えるレーザ測量装置であって、
前記光波距離測定機構に設けられ、傾斜を検出する第1のチルトセンサと、
前記レーザ回転照射機構に設けられ、傾斜を検出する第2のチルトセンサと、
装置全体の傾きを調整可能な整準部と、
前記第1のチルトセンサに基づく前記整準部による整準を行い、且つ前記第2のチルトセンサに基づく前記整準部による整準を行う整準制御部と、を備え、
前記整準制御部は、前記第1のチルトセンサ又は前記第2のチルトセンサの測定値が所定の測定範囲外である場合、前記整準部を、事前に設定されたニュートラル位置とした後、当該ニュートラル位置を原点として水平方向のうちの1又は複数の予め定めた方向にて傾きを変化させて、有効な測定範囲を探すサーチ制御を実行するレーザ測量装置。 - 前記整準部のニュートラル位置は、前記レーザ測量装置の鉛直軸が地球の重力方向と略一致する状態としたときの前記整準部の状態である請求項5に記載のレーザ測量装置。
- 前記第2のチルトセンサは前記第1のチルトセンサよりも精度が高く、
前記整準制御部は、前記第2のチルトセンサに基づく前記整準部による整準を、前記第1のチルトセンサに基づく前記整準部による整準よりも狭い角度範囲とする請求項5又は6に記載のレーザ測量装置。 - 前記整準制御部は、前記第1のチルトセンサに基づく整準の後、前記第2のチルトセンサに基づく整準を行う請求項5から7のいずれか一項に記載のレーザ測量装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016175229A JP6826399B2 (ja) | 2016-09-08 | 2016-09-08 | レーザ測量装置の自動整準方法及びレーザ測量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016175229A JP6826399B2 (ja) | 2016-09-08 | 2016-09-08 | レーザ測量装置の自動整準方法及びレーザ測量装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018040703A JP2018040703A (ja) | 2018-03-15 |
JP6826399B2 true JP6826399B2 (ja) | 2021-02-03 |
Family
ID=61625673
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016175229A Active JP6826399B2 (ja) | 2016-09-08 | 2016-09-08 | レーザ測量装置の自動整準方法及びレーザ測量装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6826399B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113406653B (zh) * | 2021-06-15 | 2024-01-26 | 安徽理工大学 | 一种矿用本安型激光测距装置 |
CN115876102B (zh) * | 2023-02-07 | 2023-05-12 | 山东省鲁南地质工程勘察院(山东省地质矿产勘查开发局第二地质大队) | 一种利用无人机测量树木高度装置及其测量方法 |
-
2016
- 2016-09-08 JP JP2016175229A patent/JP6826399B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018040703A (ja) | 2018-03-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7715998B2 (en) | Surveying instrument | |
CN105424011B (zh) | 测量装置以及测量装置的设置方法 | |
US10823558B2 (en) | Surveying instrument | |
US11150087B2 (en) | Angle and distance measuring method, trajectory diagram drawing method, and laser ranging system | |
JP3582918B2 (ja) | レーザ測量機 | |
US5852493A (en) | Self-aligning laser transmitter having a dual slope grade mechanism | |
US7841094B2 (en) | Optical instrument with angle indicator and method for operating the same | |
JP6630515B2 (ja) | 位置誘導装置、位置誘導方法、プログラム | |
US8881412B2 (en) | Survey setting point indicating device and surveying system | |
JP6753962B2 (ja) | レーザー受信機に入射する受信ビームと回転レーザービームとを比較するための方法 | |
WO2008052590A1 (en) | Grade indicating device and method | |
EP3136049A1 (en) | Total station | |
JP6753961B2 (ja) | レーザー受信機に入射する受信ビームと回転レーザービームを比較するための方法 | |
JP6826399B2 (ja) | レーザ測量装置の自動整準方法及びレーザ測量装置 | |
JP6864653B2 (ja) | 鉛直測定システム及び基準点のトレース方法 | |
JP7344060B2 (ja) | 3次元測量装置、3次元測量方法および3次元測量プログラム | |
JP6826400B2 (ja) | 測量装置及び傾斜角検出方法 | |
US6043874A (en) | System and method for calibrating a laser transmitter | |
EP3159656A1 (en) | Measuring device with a leveling unit and two tilt angle sensors | |
JP2023050332A (ja) | 測量システム | |
JP6999759B2 (ja) | レーザ測量装置 | |
JP6794175B2 (ja) | レーザ測量装置の製造方法 | |
JP7311342B2 (ja) | 3次元測量装置、3次元測量方法および3次元測量プログラム | |
JP7287824B2 (ja) | 測量装置 | |
JP2591178Y2 (ja) | ガイド光を備えたレーザ光出射装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190801 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200729 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200915 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201112 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210105 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210115 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6826399 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |