JP6805546B2 - Thermosetting resin composition, cured product, substrate for mounting optical semiconductor element and its manufacturing method, optical semiconductor device, and printed wiring board - Google Patents

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本発明は、熱硬化性樹脂組成物、該熱硬化性樹脂組成物を用いた光半導体素子搭載用基板及びその製造方法、並びに、光半導体装置に関する。 The present invention relates to a thermosetting resin composition, a substrate for mounting an optical semiconductor device using the thermosetting resin composition, a method for manufacturing the same, and an optical semiconductor device.

熱硬化性樹脂はその特有な架橋構造に由来する優れた各種特性を示すため、広い用途に使用されている。用途の一つとして、近年、LED(Light Emitting Diode:発光ダイオード)等の光半導体素子と蛍光体とを組み合わせた光半導体装置は、高エネルギー効率及び長寿命等の利点から、屋外用ディスプレイ、携帯液晶バックライト、車載用途等の様々な用途に適用され、その需要が拡大している。 Thermosetting resins are used in a wide range of applications because they exhibit various excellent properties derived from their unique crosslinked structure. As one of the applications, in recent years, an optical semiconductor device combining an optical semiconductor element such as an LED (Light Emitting Diode) and a phosphor has been used for outdoor displays and portable devices because of its advantages such as high energy efficiency and long life. It is applied to various applications such as liquid crystal backlights and in-vehicle applications, and its demand is expanding.

光半導体装置の一種として、表面実装型光半導体装置が挙げられる。表面実装型光半導体装置の中には、光半導体素子及び当該光半導体素子を囲うように設けられたリフレクター(反射部)を有するものがある。特許文献1には、ビニル基及びアリル基のいずれか一方と、水素原子が、直接ケイ素原子に結合してなる構造を有するシリコーン樹脂を用いた光半導体素子収納用実装パッケージ用樹脂組成物が開示されている。 As a kind of optical semiconductor device, a surface mount type optical semiconductor device can be mentioned. Some surface-mounted optical semiconductor devices have an optical semiconductor element and a reflector (reflecting unit) provided so as to surround the optical semiconductor element. Patent Document 1 discloses a resin composition for a mounting package for storing an optical semiconductor device, which uses a silicone resin having a structure in which either a vinyl group or an allyl group and a hydrogen atom are directly bonded to a silicon atom. Has been done.

特開2009−21394号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-21394

光反射用熱硬化性樹脂組成物を用いた光半導体素子搭載用部材は、小型化が進みつつある。しかし、小型化に伴って壁面や底部を薄厚化した場合、光半導体素子からの発光が一部透過し、反射率が低減してしまうことがあった。 Members for mounting optical semiconductor devices using a thermosetting resin composition for light reflection are becoming smaller and smaller. However, when the wall surface and the bottom portion are made thinner as the size is reduced, the light emitted from the optical semiconductor element may be partially transmitted and the reflectance may be reduced.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、薄厚でも十分な反射率を備える硬化物を形成することができる熱硬化性樹脂組成物、該熱硬化性樹脂組成物を用いた光半導体素子搭載用部材及びこれを用いた光半導体装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and is a thermosetting resin composition capable of forming a cured product having sufficient reflectance even if it is thin, and a photosemiconductor using the thermosetting resin composition. It is an object of the present invention to provide a member for mounting an element and an optical semiconductor device using the member.

本発明は、ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂、アルケニル基含有シリコーン樹脂及び中空粒子を含む熱硬化性樹脂組成物に関する。 The present invention relates to a thermosetting resin composition containing a hydrosilyl group-containing silicone resin, an alkenyl group-containing silicone resin, and hollow particles.

前記中空粒子の空隙部の屈折率は1.0〜1.1であってもよい。また、前記中空粒子が粒径0.1〜100μmの粒子を含んでいてもよい。そして、前記中空粒子の含有量が、熱硬化性樹脂合計100質量部に対して10〜80質量部であってもよい。前記中空粒子の外殻は、珪酸ソーダガラス、アルミ珪酸ガラス、硼珪酸ソーダガラス、シラス、架橋スチレン系樹脂、架橋アクリル系樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種の材質であってもよい。 The refractive index of the voids of the hollow particles may be 1.0 to 1.1. Further, the hollow particles may contain particles having a particle size of 0.1 to 100 μm. The content of the hollow particles may be 10 to 80 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total thermosetting resin. The outer shell of the hollow particles may be at least one material selected from the group consisting of soda glass silicate, glass aluminum silicate, sodium borosilicate glass, silas, crosslinked styrene resin, and crosslinked acrylic resin.

前記熱硬化性樹脂組成物は、さらに酸化チタン、酸化亜鉛、アルミナ、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化アンチモン、酸化ジルコニウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも一種の顔料を含んでいてもよい。 The thermosetting resin composition further contains at least one pigment selected from the group consisting of titanium oxide, zinc oxide, alumina, aluminum oxide, magnesium oxide, antimony oxide, zirconium oxide, aluminum hydroxide and magnesium hydroxide. You may.

前記熱硬化性樹脂組成物は、タブレット状であってもよい。 The thermosetting resin composition may be in the form of tablets.

本発明はまた、上記熱硬化性樹脂組成物から形成される硬化物に関する。別の側面において、本発明は、上述の熱硬化性樹脂組成物から形成された成形体を有する光半導体素子搭載用基板に関する。当該光半導体素子搭載用基板は、底面及び壁面から構成される凹部を有し、当該凹部の底面が光半導体素子の搭載部であり、凹部の壁面の少なくとも一部が上述の熱硬化性樹脂組成物から形成された成形体である。また、本発明の光半導体素子搭載用基板は、基板と、当該基板上に設けられた第1の接続端子及び第2の接続端子とを備え、第1の接続端子と第2の接続端子との間に、上述の熱硬化性樹脂組成物から形成された成形体を有していてもよい。 The present invention also relates to a cured product formed from the thermosetting resin composition. In another aspect, the present invention relates to a substrate for mounting an optical semiconductor device having a molded body formed from the above-mentioned thermosetting resin composition. The substrate for mounting an optical semiconductor element has a recess composed of a bottom surface and a wall surface, the bottom surface of the recess is a mounting portion for the optical semiconductor element, and at least a part of the wall surface of the recess has the above-mentioned thermosetting resin composition. It is a molded body formed from an object. Further, the substrate for mounting an optical semiconductor element of the present invention includes a substrate, a first connection terminal and a second connection terminal provided on the substrate, and includes a first connection terminal and a second connection terminal. May have a molded product formed from the above-mentioned thermosetting resin composition between the two.

本発明はまた、底面及び壁面から構成される凹部を有する光半導体素子搭載用基板の製造方法に関する。本発明に係る製造方法は、凹部の壁面の少なくとも一部を、上述の熱硬化性樹脂組成物を用いてトランスファー成形又はコンプレッション成形して形成する工程を備える。 The present invention also relates to a method for manufacturing a substrate for mounting an optical semiconductor device having a recess composed of a bottom surface and a wall surface. The manufacturing method according to the present invention includes a step of forming at least a part of the wall surface of the recess by transfer molding or compression molding using the above-mentioned thermosetting resin composition.

さらに別の側面において、本発明は、上記光半導体素子搭載用基板と、当該光半導体素子搭載用基板に搭載された光半導体素子とを備える、光半導体装置に関する。 In yet another aspect, the present invention relates to an optical semiconductor device including the optical semiconductor element mounting substrate and the optical semiconductor element mounted on the optical semiconductor element mounting substrate.

さらに別の側面においては、本発明は、上述の熱硬化性樹脂組成物の硬化物を備える、光学部材用プリント配線板に関する。また、本発明は、該光学部材用プリント配線板と、光半導体素子と、該光半導体素子を封止するための封止樹脂と、を備える、光半導体装置に関する。 In yet another aspect, the present invention relates to a printed wiring board for an optical member, which comprises a cured product of the thermosetting resin composition described above. The present invention also relates to an optical semiconductor device including a printed wiring board for an optical member, an optical semiconductor element, and a sealing resin for sealing the optical semiconductor element.

本発明によれば、薄厚でも十分な反射率を備える硬化物を形成することができる熱硬化性樹脂組成物、該熱硬化性樹脂組成物を用いた光半導体素子搭載用基板及びその製造方法、光半導体装置、並びにプリント配線板を提供することができる。 According to the present invention, a thermosetting resin composition capable of forming a cured product having sufficient reflectance even if it is thin, a substrate for mounting an optical semiconductor device using the thermosetting resin composition, and a method for producing the same. An optical semiconductor device and a printed wiring board can be provided.

光半導体素子搭載用基板の一実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows one Embodiment of the substrate for mounting an optical semiconductor element. 光半導体素子搭載用基板を製造する工程の一実施形態を示す概略図である。It is the schematic which shows one Embodiment of the process of manufacturing the substrate for mounting an optical semiconductor element. 光半導体素子搭載用基板に光半導体素子を搭載した状態の一実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows one Embodiment in the state which the optical semiconductor element is mounted on the substrate for mounting the optical semiconductor element. 光半導体装置の一実施形態を示す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows one Embodiment of an optical semiconductor device. 光半導体装置の他の実施形態を示す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the other embodiment of an optical semiconductor device. 光半導体装置の他の実施形態を示す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the other embodiment of an optical semiconductor device. 銅張積層板の一実施形態を示す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows one Embodiment of a copper-clad laminate. 銅張積層板を用いて作製された光半導体装置の一例を示す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows an example of the optical semiconductor device manufactured using the copper-clad laminate. 光半導体装置の他の実施形態を示す模式断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows the other embodiment of an optical semiconductor device.

以下、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail. However, the present invention is not limited to the following embodiments.

なお、本明細書において端点による数値範囲の使用には、その範囲内に含まれる任意の数(例えば、0.5〜5には、0.5、1.5、2、2.75、3、3.80、4、5等が含まれる)及びその範囲内の任意の範囲が含まれる。 In addition, in the use of the numerical range by the end point in this specification, an arbitrary number included in the range (for example, 0.5, 1.5, 2, 2.75, 3 for 0.5 to 5) 3.80, 4, 5, etc. are included) and any range within that range is included.

[熱硬化性樹脂組成物]
本実施形態の熱硬化性樹脂組成物は、ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂、アルケニル基含有シリコーン樹脂及び中空粒子を含有する。以下、本実施形態の熱硬化性樹脂組成物に含有される各成分について説明する。
[Thermosetting resin composition]
The thermosetting resin composition of the present embodiment contains a hydrosilyl group-containing silicone resin, an alkenyl group-containing silicone resin, and hollow particles. Hereinafter, each component contained in the thermosetting resin composition of the present embodiment will be described.

(ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂)
ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂は、水素原子が直接ケイ素原子に結合した基(Si−H)であるヒドロシリル基を有するシリコーン樹脂であれば特に限定されない。
(Hydrosilyl group-containing silicone resin)
The hydrosilyl group-containing silicone resin is not particularly limited as long as it is a silicone resin having a hydrosilyl group, which is a group (Si—H) in which a hydrogen atom is directly bonded to a silicon atom.

ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂は、ヒドロシリル基を有する構造単位として、例えば、HSiO3/2で表される単位、HSiO2/2で表される単位又はHSiO1/2で表される単位を有することができる。 The hydrosilyl group-containing silicone resin may have, for example, a unit represented by HSiO 3/2 , a unit represented by HSiO 2/2 , or a unit represented by HSiO 1/2 as a structural unit having a hydrosilyl group. it can.

ヒドロシリル基を有する構造単位は、例えば、メチルメトキシジシラン、ジメトキシジシラン、メトキシトリシラン、エチルメトキシジシラン、ジメチルエトキシシラン、プロピルジエトキシシラン、プロピルエトキシジシラン、n−ブチルジメトキシシラン、フェニルジメトキシシラン、フェニルメトキシジシラン、トリエトキシシラン等のアルコキシハイドロキシシラン;メチルジクロロシラン、n−プロピルジクロロシラン、イソプロピルジクロロシラン(1,1−ジクロロ−2−メチル−1−シラプロパン)、n−ブチルジクロロシラン、n−ペンチルジクロロシラン、シクロペンチルジクロロシラン、シクロヘキシルジクロロシラン等のアルキルジクロロシランなどを用いてシリコーン樹脂中に導入することができる。 Structural units having a hydrosilyl group include, for example, methylmethoxydisilane, dimethoxydisilane, methoxytrisilane, ethylmethoxydisilane, dimethylethoxysilane, propyldiethoxysilane, propylethoxydisilane, n-butyldimethoxysilane, phenyldimethoxysilane, and phenylmethoxy. Alkoxyhydroxysilanes such as disilane and triethoxysilane; methyldichlorosilane, n-propyldichlorosilane, isopropyldichlorosilane (1,1-dichloro-2-methyl-1-silapropane), n-butyldichlorosilane, n-pentyldi Alkyldichlorosilane such as chlorosilane, cyclopentyldichlorosilane, and cyclohexyldichlorosilane can be used for introduction into the silicone resin.

ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂は、水素原子以外の基がケイ素原子に結合している構造、すなわち、ヒドロシリル基以外の構造単位を有していてもよい。ヒドロシリル基以外の構造単位としては、例えば、炭素数1〜12の有機基がケイ素原子に結合している構造単位が挙げられ、合成容易性の観点から、炭素数1〜8の有機基がケイ素原子に結合している構造単位であってもよい。該有機基は、合成容易性の観点から炭化水素基であることが好ましく、炭化水素基としては、例えば、アルキル基、シクロアルキル基、アラルキル基及びアリール基が挙げられる。アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基及びプロピル基が挙げられる。シクロアルキル基としては、例えば、シクロペンチル基及びシクロヘキシル基が挙げられる。アラルキル基としては、例えば、ベンジル基が挙げられる。アリール基としては、例えば、フェニル基、トリル基及びキシリル基が挙げられる。これらの基は、水素原子が部分的に塩素原子、フッ素原子等で置換されたハロゲン化炭化水素基であってもよい。シリコーン樹脂の合成の容易さ及び硬度を更に向上させる観点から、有機基としては、アリール基が好ましく、フェニル基がより好ましい。 The hydrosilyl group-containing silicone resin may have a structure in which a group other than a hydrogen atom is bonded to a silicon atom, that is, a structural unit other than the hydrosilyl group. Examples of the structural unit other than the hydrosilyl group include a structural unit in which an organic group having 1 to 12 carbon atoms is bonded to a silicon atom. From the viewpoint of easiness of synthesis, the organic group having 1 to 8 carbon atoms is silicon. It may be a structural unit bonded to an atom. The organic group is preferably a hydrocarbon group from the viewpoint of easiness of synthesis, and examples of the hydrocarbon group include an alkyl group, a cycloalkyl group, an aralkyl group and an aryl group. Examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group and a propyl group. Examples of the cycloalkyl group include a cyclopentyl group and a cyclohexyl group. Examples of the aralkyl group include a benzyl group. Examples of the aryl group include a phenyl group, a tolyl group and a xsilyl group. These groups may be halogenated hydrocarbon groups in which hydrogen atoms are partially substituted with chlorine atoms, fluorine atoms, or the like. As the organic group, an aryl group is preferable, and a phenyl group is more preferable, from the viewpoint of further improving the ease of synthesis and hardness of the silicone resin.

ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂は、ヒドロシリル基以外の構造単位として、RSiO3/2で表される単位を有していてもよく、RSiO3/2で表される単位と、RSiO2/2で表される単位、RSiO1/2で表される単位及びSiO4/2で表される単位から選ばれる少なくとも1種の単位とを有していてもよい。 The hydrosilyl group-containing silicone resin may have a unit represented by R 1 SiO 3/2 as a structural unit other than the hydrosilyl group, and a unit represented by R 1 SiO 3/2 and R 2 SiO. It may have at least one unit selected from a unit represented by 2/2 , a unit represented by R 3 SiO 1/2 , and a unit represented by SiO 4/2 .

、R及びRは、それぞれ独立に1価の有機基を示し、入手容易性の観点から、炭素数1〜12の炭化水素基であることが好ましい。炭化水素基としては、上述した炭化水素基と同じものが例示される。ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂の合成の容易さの点から、R、R及びRは、それぞれ独立にアルキル基又はアリール基であることが好ましく、メチル基又はフェニル基であることがより好ましい。 R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group, and are preferably hydrocarbon groups having 1 to 12 carbon atoms from the viewpoint of availability. Examples of the hydrocarbon group include the same hydrocarbon groups as described above. From the viewpoint of easiness of synthesizing the hydrosilyl group-containing silicone resin, R 1 , R 2 and R 3 are preferably alkyl groups or aryl groups independently, and more preferably methyl groups or phenyl groups, respectively.

ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂の重量平均分子量は特に限定されないが、熱硬化性樹脂組成物の成形性を向上する観点から、200以上であると好ましく、1000以上であるとより好ましく、2000以上であると更に好ましい。一方、ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂の重量平均分子量は、硬化物の硬さをより向上する観点から、15000以下であると好ましく、10000以下であるとより好ましく、7000以下であると更に好ましい。すなわち、ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂の重量平均分子量は、200〜15000であってもよく、1000〜10000であってもよく、2000〜7000であってもよい。 The weight average molecular weight of the hydrosilyl group-containing silicone resin is not particularly limited, but from the viewpoint of improving the moldability of the thermosetting resin composition, it is preferably 200 or more, more preferably 1000 or more, and more preferably 2000 or more. More preferred. On the other hand, the weight average molecular weight of the hydrosilyl group-containing silicone resin is preferably 15,000 or less, more preferably 10,000 or less, and further preferably 7,000 or less, from the viewpoint of further improving the hardness of the cured product. That is, the weight average molecular weight of the hydrosilyl group-containing silicone resin may be 200 to 15000, 1000 to 10000, or 2000 to 7000.

本明細書における重量平均分子量Mwは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法(GPC)により標準ポリスチレンによる検量線を用いて下記条件で測定することで得られる。
(GPC条件)
ポンプ:L−6200型(株式会社日立製作所製、商品名)
カラム:TSKgel―G5000HXL及びTSKgel−G2000HXL(東ソー株式会社製、商品名)
検出器:L−3300RI型(株式会社日立製作所製、商品名)
溶離液:テトラヒドロフラン
測定温度:30℃
流量:1.0mL/分
The weight average molecular weight Mw in the present specification is obtained by measuring under the following conditions using a calibration curve using standard polystyrene by gel permeation chromatography (GPC).
(GPC condition)
Pump: L-6200 type (manufactured by Hitachi, Ltd., product name)
Columns: TSKgel-G5000HXL and TSKgel-G2000HXL (manufactured by Tosoh Corporation, trade name)
Detector: L-3300RI type (manufactured by Hitachi, Ltd., product name)
Eluent: Tetrahydrofuran Measurement temperature: 30 ° C
Flow rate: 1.0 mL / min

熱硬化性樹脂組成物中のヒドロシリル基含有シリコーン樹脂の含有量は特に限定されないが、熱硬化性樹脂組成物の成形性を向上する観点から、樹脂組成物全体に対して0.01〜40質量%であることが好ましく、0.1〜35質量%であることがより好ましく、1.0〜30質量%であることが更に好ましい。 The content of the hydrosilyl group-containing silicone resin in the thermosetting resin composition is not particularly limited, but from the viewpoint of improving the moldability of the thermosetting resin composition, 0.01 to 40 mass with respect to the entire resin composition. %, More preferably 0.1 to 35% by mass, and even more preferably 1.0 to 30% by mass.

(アルケニル基含有シリコーン樹脂)
本実施形態の熱硬化性樹脂組成物は、アルケニル基含有シリコーン樹脂を含有する。該アルケニル基は、上述したヒドロシリル基含有シリコーン樹脂が有するヒドロシリル基と、好ましくは硬化触媒の存在下、付加反応することで熱硬化性樹脂組成物の硬化物を形成することができる。
(Silicone resin containing alkenyl group)
The thermosetting resin composition of the present embodiment contains an alkenyl group-containing silicone resin. The alkenyl group can form a cured product of a thermosetting resin composition by addition reaction with the hydrosilyl group contained in the above-mentioned hydrosilyl group-containing silicone resin, preferably in the presence of a curing catalyst.

アルケニル基含有シリコーン樹脂は特に限定されないが、アルケニル基当量が50〜1000g/molであることが好ましい。アルケニル基当量とは、アルケニル基1molを得るのに必要なアルケニル基含有シリコーン樹脂の重量を表す。
アルケニル基当量が上記範囲内であれば、硬化後の樹脂の構造は架橋密度の高いものとなる。
The alkenyl group-containing silicone resin is not particularly limited, but the alkenyl group equivalent is preferably 50 to 1000 g / mol. The alkenyl group equivalent represents the weight of the alkenyl group-containing silicone resin required to obtain 1 mol of the alkenyl group.
When the alkenyl group equivalent is within the above range, the structure of the cured resin has a high crosslink density.

光半導体装置の成形を連続的に行った場合に、成形体の硬度が低いために成形体に割れ又はクラックが生じることがある。すなわち、機械による成形体の運搬においては制御が困難なため、運搬時に発生する衝撃に成形体が耐え切れなくなってしまうことがある。特に、成形体が光半導体装置のリフレクターである場合、複雑な形状を有するため一部に圧力が集中し易くなり、割れ又はクラックが生じる可能性は高くなる。上記のアルケニル基含有シリコーン樹脂を用いると、ヒドロシリル化反応可能な部分が多くなり、形成される硬化物の架橋密度が高い。そのため、硬度の高い成形体を得ることが可能になる。硬度の高い成形体は割れ又はクラックの発生を低減させ、光半導体装置の生産性を向上させることが可能である。 When the optical semiconductor device is continuously molded, the molded body may be cracked or cracked due to the low hardness of the molded body. That is, since it is difficult to control the transportation of the molded product by a machine, the molded product may not be able to withstand the impact generated during the transportation. In particular, when the molded body is a reflector of an optical semiconductor device, since it has a complicated shape, pressure tends to be concentrated on a part thereof, and the possibility of cracking or cracking increases. When the above-mentioned alkenyl group-containing silicone resin is used, the portion capable of hydrosilylation reaction increases, and the crosslink density of the formed cured product is high. Therefore, it is possible to obtain a molded product having high hardness. The molded product having high hardness can reduce the occurrence of cracks or cracks and improve the productivity of the optical semiconductor device.

硬化物の架橋密度及び硬度をより向上させるために、アルケニル基含有シリコーン樹脂のアルケニル基当量は、50〜500g/molであることがより好ましく、50〜300g/molであることが更に好ましい。シリコーン樹脂のアルケニル基当量は、ヨウ素価を測定し、下記式に従って計算できる。
Y=MI2×100/X
In order to further improve the crosslink density and hardness of the cured product, the alkenyl group equivalent of the alkenyl group-containing silicone resin is more preferably 50 to 500 g / mol, and even more preferably 50 to 300 g / mol. The alkenyl group equivalent of the silicone resin can be calculated according to the following formula by measuring the iodine value.
Y = MI2 x 100 / X

式中、Xは、ヨウ素価を示し、Yは、アルケニル基当量を示し、MI2はヨウ素分子の分子量を示す。ヨウ素価は、JIS K 0070:1992に記載の方法に従って、不飽和結合にヨウ素を付加させ、過剰のヨウ素をチオ硫酸ナトリウム溶液で滴定することで算出できる。 In the formula, X indicates the iodine value, Y indicates the alkenyl group equivalent, and MI2 indicates the molecular weight of the iodine molecule. The iodine value can be calculated by adding iodine to an unsaturated bond and titrating excess iodine with a sodium thiosulfate solution according to the method described in JIS K 0070: 1992.

シリコーン樹脂中に存在するアルケニル基は、必ずしもケイ素原子と直接結合していなくともよい。アルケニル基としては、例えば、ビニル基、アリル基、1−ブテニル基、2−ブテニル基及び2−ペンテニル基が挙げられる。アルケニル基は、耐熱性及び耐光性の観点から、ビニル基であることが好ましい。 The alkenyl group present in the silicone resin does not necessarily have to be directly bonded to the silicon atom. Examples of the alkenyl group include a vinyl group, an allyl group, a 1-butenyl group, a 2-butenyl group and a 2-pentenyl group. The alkenyl group is preferably a vinyl group from the viewpoint of heat resistance and light resistance.

アルケニル基は、例えば、アルケニル基を有するシラン化合物を用いてシリコーン樹脂中に導入することができる。アルケニル基を有するシラン化合物としては、例えば、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリス(2−メトキシエトキシ)シラン、メチルビニルジメトキシシラン、アリルトリメトキシシラン、アリルトリエトキシシラン、メチルアリルジメトキシシラン等のアルケニルアルコキシシランなどが挙げられる。 The alkenyl group can be introduced into the silicone resin by using, for example, a silane compound having an alkenyl group. Examples of the silane compound having an alkenyl group include vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltris (2-methoxyethoxy) silane, methylvinyldimethoxysilane, allyltrimethoxysilane, allyltriethoxysilane, methylallyldimethoxysilane and the like. Alkenyl alkoxysilane and the like.

アルケニル基含有シリコーン樹脂は、シロキサン骨格としてはしご型構造を有していることが好ましい。はしご型構造とは、隣接する構成単位が2個以上の原子を介して連結している構造を指す。はしご型構造を有するシリコーン樹脂を用いることで、熱硬化性樹脂組成物の硬化後の架橋密度が更に上がり、強靱な硬化物をより形成し易くなる。 The alkenyl group-containing silicone resin preferably has a ladder-type structure as a siloxane skeleton. The ladder-type structure refers to a structure in which adjacent structural units are connected via two or more atoms. By using a silicone resin having a ladder-type structure, the crosslink density of the thermosetting resin composition after curing is further increased, and it becomes easier to form a tough cured product.

はしご型構造を有するシリコーン樹脂としては、例えば下記式(I)に示すような構造単位を持つ化合物が挙げられる。式中、R11はそれぞれ独立にアルケニル基を示す。なお、下記式(I)は上記構成単位及び構成単位を連結する2つの酸素原子を有していると解され、はしご型構造を有するシリコーン樹脂は(R11SiO3/2で表される構造を有していてもよい。

Figure 0006805546
Examples of the silicone resin having a ladder-type structure include compounds having a structural unit as shown in the following formula (I). In the formula, each R 11 independently represents an alkenyl group. The following formula (I) is understood to have the above-mentioned structural unit and two oxygen atoms connecting the structural units, and the silicone resin having a ladder-type structure is represented by (R 11 SiO 3/2 ) 2. It may have a structure like this.
Figure 0006805546

はしご型構造を有するシリコーン樹脂は、式(I)に示す構造を連続して有することが好ましく、その場合、シリコーン樹脂は、例えば、下記式(I’)に示す構造を有することができる。なお、下記式(I’)は、構成単位を3組、それらを連結する2つの酸素原子を2組、及び更に右に隣接する構成単位(図示せず)を連結する2つの酸素原子を1組有していると解される。

Figure 0006805546
The silicone resin having a ladder-type structure preferably has a continuous structure represented by the formula (I), and in that case, the silicone resin can have, for example, a structure represented by the following formula (I'). In the following formula (I'), three sets of constituent units, two sets of two oxygen atoms connecting them, and two oxygen atoms connecting two adjacent structural units (not shown) on the right side are 1 set. It is understood that it has a set.
Figure 0006805546

シリコーン樹脂が式(I)に示す構造を連続して有する場合、式(I)に示す構造の繰り返し単位数は特に限定されないが、硬化後の架橋密度をより向上させる観点から、3〜5000であることが好ましく、5〜3000であることがより好ましく、10〜2000であることが更に好ましい。 When the silicone resin has the structure represented by the formula (I) continuously, the number of repeating units of the structure represented by the formula (I) is not particularly limited, but from the viewpoint of further improving the crosslink density after curing, it is 3 to 5000. It is preferably 5 to 3000, more preferably 10 to 2000.

アルケニル基含有シリコーン樹脂は、アルケニル基以外の基を有していてもよい。アルケニル基以外の基を有する構造単位としては、例えば、RSiO3/2又はRSiO2/2で表される構造単位が挙げられる。すなわち、アルケニル基含有シリコーン樹脂は、式(I)で表される構造((R11SiO3/2)及びRSiO3/2又はRSiO2/2で表される構造を有していてもよい。R及びRは、それぞれ独立に1価の有機基を示し、入手容易性の点からは炭素数1〜12の炭化水素基であることが好ましい。炭化水素基としては、前述のR、R及びRと同じものが例示される。 The alkenyl group-containing silicone resin may have a group other than the alkenyl group. Examples of the structural unit having a group other than the alkenyl group include a structural unit represented by R 4 SiO 3/2 or R 5 SiO 2/2 . That is, the alkenyl group-containing silicone resin has a structure represented by the formula (I) ((R 11 SiO 3/2 ) 2 ) and a structure represented by R 4 SiO 3/2 or R 5 SiO 2/2. You may be doing it. R 4 and R 5 each independently represent a monovalent organic group, and are preferably hydrocarbon groups having 1 to 12 carbon atoms from the viewpoint of availability. Examples of the hydrocarbon group include the same hydrocarbon groups as those of R 1 , R 2 and R 3 described above.

アルケニル基含有シリコーン樹脂は、ケイ素に直接結合した有機基の全量を基準として、アルケニル基を75モル%以上有することが好ましく、85モル%以上有することがより好ましく、95モル%以上有することが更に好ましい。このようなアルケニル基含有シリコーン樹脂を含むことにより、硬化後の樹脂の架橋密度を更に高め、熱硬化性樹脂組成物の硬化物が硬くて割れ難くなり、連続成形の際の自動搬送性により一層優れるものとなる。架橋密度を高める観点からは、アルケニル基含有シリコーン樹脂中に存在するアルケニル基の量の上限値は、多いほど好ましく、100モル%であってもよい。アルケニル基の量は、シリコーン樹脂のH−NMRを測定することにより算出することができる。 The alkenyl group-containing silicone resin preferably has 75 mol% or more of alkenyl groups, more preferably 85 mol% or more, and further preferably 95 mol% or more, based on the total amount of organic groups directly bonded to silicon. preferable. By containing such an alkenyl group-containing silicone resin, the crosslink density of the resin after curing is further increased, the cured product of the thermosetting resin composition becomes hard and hard to crack, and the automatic transportability during continuous molding further increases. It will be excellent. From the viewpoint of increasing the crosslink density, the upper limit of the amount of alkenyl groups present in the alkenyl group-containing silicone resin is preferably as large as 100 mol%. The amount of alkenyl groups can be calculated by measuring 1 H-NMR of the silicone resin.

アルケニル基含有シリコーン樹脂は、ケイ素に直接結合した元素の全量を基準として、アルケニル基を22モル%以上有することが好ましく、23モル%以上有することがより好ましく、24モル%以上有することが更に好ましい。このようなアルケニル基含有シリコーン樹脂を含むことにより、熱硬化性樹脂組成物の硬化物が硬くて割れ難くなり、連続成形の際の自動搬送性により一層優れるものとなる。アルケニル基含有シリコーン樹脂中に存在するアルケニル基の量の上限値は、特に制限されないが、30モル%であってもよい。アルケニル基の量は、シリコーン樹脂のH−NMRを測定することにより算出することができる。 The alkenyl group-containing silicone resin preferably has 22 mol% or more of alkenyl groups, more preferably 23 mol% or more, and further preferably 24 mol% or more, based on the total amount of elements directly bonded to silicon. .. By including such an alkenyl group-containing silicone resin, the cured product of the thermosetting resin composition becomes hard and hard to crack, and the automatic transportability during continuous molding becomes more excellent. The upper limit of the amount of the alkenyl group present in the alkenyl group-containing silicone resin is not particularly limited, but may be 30 mol%. The amount of alkenyl groups can be calculated by measuring 1 H-NMR of the silicone resin.

アルケニル基含有シリコーン樹脂の重量平均分子量は特に限定されないが、熱硬化性樹脂組成物の成形性を向上する観点から、200以上であると好ましく、800以上であるとより好ましく、1200以上であると更に好ましい。アルケニル基含有シリコーン樹脂の重量平均分子量は、硬化物の硬さを更に向上する観点から、10000以下であると好ましく、8000以下であるとより好ましく、7000以下であると更に好ましい。すなわち、アルケニル基含有シリコーン樹脂の重量平均分子量は、200〜10000であってもよく、800〜8000であってもよく、1200〜7000であってもよい。 The weight average molecular weight of the alkenyl group-containing silicone resin is not particularly limited, but is preferably 200 or more, more preferably 800 or more, and more preferably 1200 or more, from the viewpoint of improving the moldability of the thermosetting resin composition. More preferred. The weight average molecular weight of the alkenyl group-containing silicone resin is preferably 10,000 or less, more preferably 8,000 or less, still more preferably 7,000 or less, from the viewpoint of further improving the hardness of the cured product. That is, the weight average molecular weight of the alkenyl group-containing silicone resin may be 200 to 10000, 800 to 8000, or 1200 to 7000.

熱硬化性樹脂組成物中の本実施形態に係るアルケニル基含有シリコーン樹脂の含有量は特に限定されない。本実施形態に係るアルケニル基含有シリコーン樹脂は、例えば、シリコーン樹脂の総量100質量部に対して0.001〜70質量部であることが好ましく、0.01〜65質量部であることがより好ましく、0.1〜60質量部であることが更に好ましい。また、本実施形態に係るアルケニル基含有シリコーン樹脂は、樹脂組成物全量を基準として0.0005〜35質量%であることが好ましく、0.008〜30質量%であることがより好ましく、0.01〜20質量%であることが更に好ましい。この範囲であれば、熱硬化性樹脂組成物は成形性により優れる。 The content of the alkenyl group-containing silicone resin according to the present embodiment in the thermosetting resin composition is not particularly limited. The alkenyl group-containing silicone resin according to the present embodiment is, for example, preferably 0.001 to 70 parts by mass, more preferably 0.01 to 65 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total amount of the silicone resin. , 0.1 to 60 parts by mass is more preferable. Further, the alkenyl group-containing silicone resin according to the present embodiment is preferably 0.0005 to 35% by mass, more preferably 0.008 to 30% by mass, based on the total amount of the resin composition. It is more preferably 01 to 20% by mass. Within this range, the thermosetting resin composition is more excellent in moldability.

アルケニル基含有シリコーン樹脂は、取り扱い性をより向上するために有機溶剤に希釈して用いてもよい。該有機溶剤としては、特に制限されないが、例えば、エタノール、プロパノール、ブタノール、メチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、プロピレングリコールモノメチルエーテル等のアルコール系溶剤;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤;テトラヒドロフラン等のエーテル系溶剤;トルエン、キシレン、メシチレン等の芳香族系溶剤などが挙げられる。アルケニル基含有シリコーン樹脂の溶解性の観点から、有機溶剤は、アルコール系溶剤、ケトン系溶剤又は窒素原子含有溶剤であってもよい。 The alkenyl group-containing silicone resin may be diluted with an organic solvent and used in order to further improve the handleability. The organic solvent is not particularly limited, and is, for example, an alcohol solvent such as ethanol, propanol, butanol, methyl cellosolve, butyl cellosolve, and propylene glycol monomethyl ether; a ketone solvent such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; tetrahydrofuran. Etc. Ether-based solvents; Examples thereof include aromatic solvents such as toluene, xylene, and mesityrene. From the viewpoint of the solubility of the alkenyl group-containing silicone resin, the organic solvent may be an alcohol solvent, a ketone solvent or a nitrogen atom-containing solvent.

シリコーン樹脂中のアルケニル基含有シリコーン樹脂とヒドロシリル基含有シリコーン樹脂との混合比率は特に限定されないが、強度及び耐熱性を更に高める観点から、ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂中のSiH基の数(Y)の、アルケニル基含有シリコーン樹脂成分中のアルケニル基の数(X)に対する比(Y/X、モル比)が、0.3≦Y/X≦3であることが好ましく、0.5≦Y/X≦2であることがより好ましく、0.7≦Y/X≦1.5であることが更に好ましい。 The mixing ratio of the alkenyl group-containing silicone resin and the hydrosilyl group-containing silicone resin in the silicone resin is not particularly limited, but from the viewpoint of further enhancing the strength and heat resistance, the number of SiH groups (Y) in the hydrosilyl group-containing silicone resin is increased. , The ratio (Y / X, molar ratio) to the number (X) of alkenyl groups in the alkenyl group-containing silicone resin component is preferably 0.3 ≦ Y / X ≦ 3, and 0.5 ≦ Y / X. It is more preferably ≦ 2, and even more preferably 0.7 ≦ Y / X ≦ 1.5.

本実施形態に係るシリコーン樹脂は、本発明の奏する効果を阻害しない範囲で、上述したヒドロシリル基含有シリコーン樹脂及びアルケニル基含有シリコーン樹脂と共に、他のシリコーン樹脂を含むことができる。 The silicone resin according to the present embodiment may contain other silicone resins in addition to the above-mentioned hydrosilyl group-containing silicone resin and alkenyl group-containing silicone resin, as long as the effects of the present invention are not impaired.

(シリコーン樹脂(X))
本実施形態にかかる樹脂組成物は、シリコーン樹脂(X)を含有することが好ましい。シリコーン樹脂(X)は、25℃で固体状のシリコーン樹脂である。本明細書において、25℃で固体状とは、軟化点が25℃を超えるものをいう。シリコーン樹脂の軟化点は、例えば、測定装置として、TMA−120型(セイコーインスツル株式会社製、製品名)を用い、測定モードをPenetration(針入モード)とし、昇温速度が10℃/分、荷重が98.1mN(10gf)の条件で測定することができる。シリコーン樹脂(X)を含有することで、樹脂組成物は、タブレット形状とした場合の硬度が高くなり、取扱性に優れるものとなる。
(Silicone resin (X))
The resin composition according to this embodiment preferably contains a silicone resin (X). The silicone resin (X) is a solid silicone resin at 25 ° C. In the present specification, the solid state at 25 ° C. means a softening point exceeding 25 ° C. For the softening point of the silicone resin, for example, TMA-120 type (manufactured by Seiko Instruments Co., Ltd., product name) is used as a measuring device, the measuring mode is Penetration (needle insertion mode), and the temperature rise rate is 10 ° C./min. , The load can be measured under the condition of 98.1 mN (10 gf). By containing the silicone resin (X), the resin composition has a high hardness when formed into a tablet shape, and is excellent in handleability.

シリコーン樹脂(X)の軟化点は、25℃超であれば特に限定されないが、25℃超180℃以下であることが好ましく、26℃以上150℃以下であることがより好ましい。
この範囲であれば、トランスファー成形に用いる際の取扱いがより容易となる傾向にある。
The softening point of the silicone resin (X) is not particularly limited as long as it exceeds 25 ° C., but is preferably more than 25 ° C. and 180 ° C. or lower, and more preferably 26 ° C. or higher and 150 ° C. or lower.
Within this range, handling tends to be easier when used for transfer molding.

シリコーン樹脂(X)としては、炭素数1〜12の有機基がケイ素原子に結合しているシリコーン樹脂が好ましく、炭素数1〜8の有機基がケイ素原子に結合しているシリコーン樹脂がより好ましい。該有機基は、炭化水素基であることが好ましく、炭化水素基としては、例えば、アルキル基、シクロアルキル基、アラルキル基及びアリール基が挙げられる。アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基及びプロピル基が挙げられる。シクロアルキル基としては、例えば、シクロペンチル基及びシクロヘキシル基が挙げられる。アラルキル基としては、例えば、ベンジル基が挙げられる。アリール基としては、例えば、フェニル基、トリル基及びキシリル基が挙げられる。これらの基は、水素原子が部分的に塩素原子、フッ素原子等で置換されたハロゲン化炭化水素基であってもよい。シリコーン樹脂の合成の容易さ及び25℃で固体状となり易い観点から、有機基としては、アリール基が好ましく、フェニル基がより好ましい。 As the silicone resin (X), a silicone resin in which an organic group having 1 to 12 carbon atoms is bonded to a silicon atom is preferable, and a silicone resin in which an organic group having 1 to 8 carbon atoms is bonded to a silicon atom is more preferable. .. The organic group is preferably a hydrocarbon group, and examples of the hydrocarbon group include an alkyl group, a cycloalkyl group, an aralkyl group and an aryl group. Examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group and a propyl group. Examples of the cycloalkyl group include a cyclopentyl group and a cyclohexyl group. Examples of the aralkyl group include a benzyl group. Examples of the aryl group include a phenyl group, a tolyl group and a xsilyl group. These groups may be halogenated hydrocarbon groups in which hydrogen atoms are partially substituted with chlorine atoms, fluorine atoms, or the like. As the organic group, an aryl group is preferable, and a phenyl group is more preferable, from the viewpoint of easy synthesis of the silicone resin and easy solidification at 25 ° C.

トランスファー成形性を向上させる観点から、シリコーン樹脂(X)は熱硬化性のシリコーン樹脂であってもよい。熱硬化性のシリコーン樹脂としては、例えば、付加反応が可能な基を有するケイ素化合物が挙げられる。 From the viewpoint of improving the transfer moldability, the silicone resin (X) may be a thermosetting silicone resin. Examples of the thermosetting silicone resin include silicon compounds having a group capable of an addition reaction.

付加反応が可能な基としては、例えば、アルケニル基、アルキニル基、カルボニル基、チオール基、エポキシ基、アミノ基、スルフィド基及びケイ素原子に結合した水素原子(Si−H)が挙げられる。これらの基の中でも、アルケニル基及び/又はケイ素原子に結合した水素原子を有するケイ素化合物であること、すなわち、ヒドロシリル化が可能な基を有するケイ素化合物が好ましい。 Examples of the group capable of the addition reaction include an alkenyl group, an alkynyl group, a carbonyl group, a thiol group, an epoxy group, an amino group, a sulfide group and a hydrogen atom (Si—H) bonded to a silicon atom. Among these groups, a silicon compound having an alkenyl group and / or a hydrogen atom bonded to a silicon atom, that is, a silicon compound having a group capable of hydrosilylation is preferable.

シリコーン樹脂(X)は、RSiO3/2で表される単位を有しているとよく、RSiO3/2で表される単位と、RSiO2/2で表される単位、RSiO1/2で表される単位及びSiO4/2で表される単位から選ばれる少なくとも1種の単位とを有していてもよい。 Silicone resin (X) may as having a unit represented by R 1 SiO 3/2, and unit represented by R 1 SiO 3/2, units represented by R 2 SiO 2/2 , R 3 It may have at least one unit selected from the unit represented by SiO 1/2 and the unit represented by SiO 4/2 .

、R及びR3は、それぞれ独立に1価の有機基を表し、炭素数1〜12の炭化水素基であることが好ましい。炭化水素基としては、上述した基と同じものが例示される。 R 1 , R 2 and R 3 each independently represent a monovalent organic group, and are preferably hydrocarbon groups having 1 to 12 carbon atoms. Examples of the hydrocarbon group include the same groups as those described above.

シリコーン樹脂の合成の容易さの点から、R、R及びRは、それぞれ独立にアルキル基又はアリール基であることが好ましく、メチル基又はフェニル基であることがより好ましい。 From the viewpoint of easiness of synthesizing the silicone resin, R 1 , R 2 and R 3 are preferably an alkyl group or an aryl group, respectively, and more preferably a methyl group or a phenyl group.

シリコーン樹脂の軟化点をより高くする観点から、アリール基又はシクロアルキル基を有するシリコーン樹脂が好ましく、工業的な原料の入手性の観点から、フェニル基を有するシリコーン樹脂が好ましい。 From the viewpoint of increasing the softening point of the silicone resin, a silicone resin having an aryl group or a cycloalkyl group is preferable, and from the viewpoint of availability of industrial raw materials, a silicone resin having a phenyl group is preferable.

本実施形態に係るシリコーン樹脂(X)は、ケイ素原子に結合しているアリール基又はシクロアルキル基の割合が、ケイ素原子に結合している炭化水素基の全量を基準として20モル%以上であるシリコーン樹脂であってもよい。 In the silicone resin (X) according to the present embodiment, the proportion of aryl groups or cycloalkyl groups bonded to the silicon atom is 20 mol% or more based on the total amount of the hydrocarbon groups bonded to the silicon atom. It may be a silicone resin.

シリコーン樹脂中に存在するアリール基又はシクロアルキル基の含有割合は、シリコーン樹脂のH−NMRスペクトルを測定することで算出することができる。具体的には、ケイ素原子に結合しているアリール基又はシクロアルキル基に由来するシグナル面積と、ケイ素原子に結合している直鎖状のアルキル基に由来するシグナル面積との比から算出することができる。 The content ratio of the aryl group or the cycloalkyl group present in the silicone resin can be calculated by measuring the 1 H-NMR spectrum of the silicone resin. Specifically, it is calculated from the ratio of the signal area derived from the aryl group or cycloalkyl group bonded to the silicon atom to the signal area derived from the linear alkyl group bonded to the silicon atom. Can be done.

シリコーン樹脂(X)におけるアリール基又はシクロアルキル基の含有割合は、20モル%以上であることが好ましく、30モル%以上であることがより好ましく、50モル%以上であることが更に好ましい。アリール基又はシクロアルキル基の含有割合を20モル%以上とすることで、形状が変形し難いシリコーン樹脂タブレットを得易くなる。 The content ratio of the aryl group or the cycloalkyl group in the silicone resin (X) is preferably 20 mol% or more, more preferably 30 mol% or more, and further preferably 50 mol% or more. By setting the content ratio of the aryl group or the cycloalkyl group to 20 mol% or more, it becomes easy to obtain a silicone resin tablet whose shape is hardly deformed.

本実施形態に係るシリコーン樹脂(X)は、下記のDD/MAS法を用いて測定された固体29Si−NMRスペクトルにおいて、含ケイ素結合単位Q、T及びDを以下の通り規定したとき、Q及びTに由来するシグナル面積と、Dに由来するシグナル面積との比Q+T:Dが1:0〜1:0.5であるシリコーン樹脂であってもよい。 The silicone resin (X) according to the present embodiment is Q when the silicon-containing bond units Q, T and D are defined as follows in the solid 29 Si-NMR spectrum measured by the following DD / MAS method. A silicone resin having a ratio Q + T: D of the signal area derived from T and the signal area derived from D of 1: 0 to 1: 0.5 may be used.

すなわち、Qは、1個のケイ素原子に結合した酸素原子が4個である含ケイ素結合単位を表し、Tは、1個のケイ素原子に結合した酸素原子が3個及び水素原子又は1価の有機基が1個である含ケイ素結合単位を表し、Dは、1個のケイ素原子に結合した酸素原子が2個及び水素原子又は1価の有機基が2個である含ケイ素結合単位を表す。なお、式中のRはそれぞれ独立に1価の有機基を表す。 That is, Q represents a silicon-containing bond unit in which four oxygen atoms are bonded to one silicon atom, and T represents three oxygen atoms bonded to one silicon atom and a hydrogen atom or a monovalent atom. It represents a silicon-containing bond unit having one organic group, and D represents a silicon-containing bond unit having two oxygen atoms bonded to one silicon atom and two hydrogen atoms or monovalent organic groups. .. In addition, R in the formula independently represents a monovalent organic group.

Q、T及びDにおける「酸素原子」とは、主として2個のケイ素原子間を結合する酸素原子であるが、例えばケイ素原子に結合した水酸基が有する酸素原子である場合も考えられる。また、「有機基」とは、ケイ素原子に結合する原子が炭素原子である1価の有機基であり、例えば炭素数が1〜10の有機基が挙げられる。該有機基としては、例えば、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、シクロアルキル基、アリール基、アラルキル基及びN−アリール置換アミノアルキル基が挙げられる。 The "oxygen atom" in Q, T and D is mainly an oxygen atom that bonds between two silicon atoms, but for example, it may be an oxygen atom possessed by a hydroxyl group bonded to a silicon atom. The "organic group" is a monovalent organic group in which the atom bonded to the silicon atom is a carbon atom, and examples thereof include an organic group having 1 to 10 carbon atoms. Examples of the organic group include an alkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, a cycloalkyl group, an aryl group, an aralkyl group and an N-aryl substituted aminoalkyl group.

上記シグナル面積比は、Q+T:Dが1:0〜1:0.5であればよいが、さらに硬度の高いシリコーン樹脂タブレットを得る観点から、Q+T:Dを1:0〜1:0.3としてもよく、1:0〜1:0.2としてもよく、1:0〜1:0.1としてもよい。シグナル面積比を1:0.5以下とすることにより、自動搬送性に優れるタブレットを得易くなる。 The signal area ratio may be Q + T: D from 1: 0 to 1: 0.5, but from the viewpoint of obtaining a silicone resin tablet having a higher hardness, Q + T: D is set to 1: 0 to 1: 0.3. It may be set to 1: 0 to 1: 0.2, or 1: 0 to 1: 0.1. By setting the signal area ratio to 1: 0.5 or less, it becomes easy to obtain a tablet having excellent automatic transportability.

シグナル面積比を確認するための固体29Si−NMRの測定手法は特に限定されず、例えば、CP/MAS法とDD/MAS法が挙げられるが、本実施形態においては定量性の点からDD/MAS法を採用している。 The solid 29 Si-NMR measurement method for confirming the signal area ratio is not particularly limited, and examples thereof include the CP / MAS method and the DD / MAS method. In the present embodiment, the DD / MAS method is used from the viewpoint of quantitativeness. The MAS method is adopted.

ところで、Roychen Josephらは、Macromolecules、1996、29、p.1305−1312において、固体29Si−NMRを用いて、コロイダルシリカとポリメタクリル酸メチルとのコンポジットの構造解析を報告している。また、荒又らは、BUNSEKI KAGAKU、1998、47、pp.971−978において、固体29Si−NMRを用いて、シリコーンゴム中のシリカ−シロキサン界面分析を報告している。固体29Si−NMRスペクトルの測定に当たっては、これらの報告を適宜参照することができる。 By the way, Roychen Joseph et al., Macromolecules, 1996, 29, p. In 1305-1321, a structural analysis of a composite of colloidal silica and polymethyl methacrylate is reported using solid 29 Si-NMR. In addition, Aramata et al., BUNSEKI KAGAKU, 1998, 47, pp. 971-978 reports silica-siloxane interface analysis in silicone rubber using solid 29 Si-NMR. These reports can be referred to as appropriate in the measurement of the solid 29 Si-NMR spectrum.

固体29Si−NMRスペクトルにおける含ケイ素結合単位Q、T及びDの化学シフトは、Q単位:−90〜−120ppm、T単位:−45〜−80ppm、D単位:0〜−40ppmの範囲にそれぞれ観察されるため、含ケイ素結合単位Q、T及びDのシグナルを分離し、各単位に由来するシグナル面積を計算することが可能である。なお、スペクトル解析に際しては、解析精度向上の点から、Window関数として指数関数を採用し、なおかつLine Broadening係数を0〜50Hzの範囲に設定することができる。 The chemical shift of the silicon-containing bond units Q, T and D in the solid 29 Si-NMR spectrum is in the range of Q unit: -90 to -120 ppm, T unit: 45 to -80 ppm, D unit: 0 to -40 ppm, respectively. Since it is observed, it is possible to separate the signals of the silicon-containing bond units Q, T and D and calculate the signal area derived from each unit. In the spectrum analysis, an exponential function can be adopted as the window function and the Line Browding coefficient can be set in the range of 0 to 50 Hz from the viewpoint of improving the analysis accuracy.

シグナル面積は、一般的なスペクトル解析ソフト(例えば、ブルカー社製のNMRソフトウェア「TopSpin」(登録商標)等)を用いて算出することができる。 The signal area can be calculated using general spectrum analysis software (for example, NMR software "TopSpin" (registered trademark) manufactured by Bruker Co., Ltd.).

シリコーン樹脂(X)の数平均分子量(Mn)は、トランスファー成形時の流動性の観点から3000未満が好ましく、2000未満がより好ましく、1500未満が更に好ましい。シリコーン樹脂(X)のMnは、700以上であってもよい。 The number average molecular weight (Mn) of the silicone resin (X) is preferably less than 3000, more preferably less than 2000, and even more preferably less than 1500, from the viewpoint of fluidity during transfer molding. The Mn of the silicone resin (X) may be 700 or more.

数平均分子量(Mn)は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法に従って標準ポリスチレンによる検量線を用いて測定した値を指す。具体的には、GPC測定装置としてポンプ(株式会社日立製作所製L−6200型)、カラム(TSKgel−G5000HXL及びTSKgel−G2000HXL、いずれも東ソー株式会社製、製品名)、検出器(株式会社日立製作所製L−3300RI型)を使用し、溶離液としてテトラヒドロフランを使用し、温度30℃、流量1.0mL/分の条件で、Mnを測定することができる。 The number average molecular weight (Mn) refers to a value measured using a calibration curve with standard polystyrene according to a gel permeation chromatography (GPC) method. Specifically, as a GPC measuring device, a pump (L-6200 type manufactured by Hitachi, Ltd.), a column (TSKgel-G5000HXL and TSKgel-G2000HXL, all manufactured by Tosoh Corporation, product name), a detector (Hitachi, Ltd.) Mn can be measured under the conditions of a temperature of 30 ° C. and a flow rate of 1.0 mL / min, using tetrahydrofuran (L-3300RI type) as an eluent.

(硬化触媒)
反応性の観点から、本実施形態の樹脂組成物中にはシリコーン樹脂のヒドロシリル化反応を促進する硬化触媒を含有することが好ましい。硬化触媒としては、例えば、カルステッド触媒;白金の単体;担体(アルミナ、シリカ、カーボンブラック等)に固体白金を担持させたもの;塩化白金酸;塩化白金酸とアルコール、アルデヒド、ケトン等との錯体;白金−オレフィン錯体;白金−ビニルシロキサン錯体;白金−ホスフィン錯体;白金−ホスファイト錯体及びジカルボニルジクロロ白金が挙げられる。これらの硬化触媒は単独で使用してもよく、2種以上併用してもよい。
(Curing catalyst)
From the viewpoint of reactivity, it is preferable that the resin composition of the present embodiment contains a curing catalyst that promotes the hydrosilylation reaction of the silicone resin. Examples of the curing catalyst include a calstead catalyst; a simple platinum substance; a carrier (alumina, silica, carbon black, etc.) on which solid platinum is supported; platinum chloride acid; a complex of platinum chloride acid and alcohol, aldehyde, ketone, etc. Platinum-olefin complex; platinum-vinylsiloxane complex; platinum-phosphine complex; platinum-phosphite complex and dicarbonyldichloroplatinum. These curing catalysts may be used alone or in combination of two or more.

白金−オレフィン錯体としては、例えば、Pt(CH=CH(PPh及びPt(CH=CHClが挙げられる。白金−ビニルシロキサン錯体としては、例えば、白金−2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン錯体及び白金−1,3−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体が挙げられる。白金−ホスフィン錯体としては、例えば、白金−(PPh及び白金−(PBuが挙げられる。白金−ホスファイト錯体としては、例えば、白金−[P(OPh)及び白金−[P(OBu)が挙げられる。式中、Buはブチル基を、Phはフェニル基をそれぞれ表す。 Examples of the platinum-olefin complex include Pt (CH 2 = CH 2 ) 2 (PPh 3 ) 2 and Pt (CH 2 = CH 2 ) 2 Cl 2 . Examples of the platinum-vinylsiloxane complex include platinum-2,4,6,8-tetramethyl-2,4,6,8-tetravinylcyclotetrasiloxane complex and platinum-1,3-divinyltetramethyldisiloxane complex. Can be mentioned. Examples of the platinum-phosphine complex include platinum- (PPh 3 ) 4 and platinum- (PBu 3 ) 4 . Examples of the platinum-phosphite complex include platinum- [P (OPh) 3 ] 4 and platinum- [P (OBu) 3 ] 4 . In the formula, Bu represents a butyl group and Ph represents a phenyl group.

これらの硬化触媒の中でも、触媒活性の点から、塩化白金酸、白金−オレフィン錯体又は白金−ビニルシロキサン錯体が好ましい。 Among these curing catalysts, chloroplatinic acid, platinum-olefin complex or platinum-vinylsiloxane complex is preferable from the viewpoint of catalytic activity.

熱硬化性樹脂組成物中に含まれる硬化触媒の量は特に限定されないが、熱硬化性樹脂組成物の硬化性をより向上する観点から、シリコーン樹脂の総量100質量部に対して、0.005〜0.5質量部が好ましく、0.01〜0.3質量部がより好ましく、0.01〜0.2質量部が更に好ましい。また、樹脂組成物全体に対する硬化触媒の量は、硬化性をより向上する観点から、金属重量換算で0.01〜3ppmであると好ましく、0.05〜2.5ppmであるとより好ましく、0.08〜2.2ppmであると更に好ましい。 The amount of the curing catalyst contained in the thermosetting resin composition is not particularly limited, but from the viewpoint of further improving the curability of the thermosetting resin composition, 0.005 with respect to 100 parts by mass of the total amount of the silicone resin. ~ 0.5 parts by mass is preferable, 0.01 to 0.3 parts by mass is more preferable, and 0.01 to 0.2 parts by mass is further preferable. The amount of the curing catalyst with respect to the entire resin composition is preferably 0.01 to 3 ppm, more preferably 0.05 to 2.5 ppm, and 0, from the viewpoint of further improving the curability. It is more preferably .08 to 2.2 ppm.

(顔料)
本実施形態にかかる熱硬化性樹脂組成物には、その硬化物に用途に応じた色を付加するために、顔料を含有していても良い。本実施形態に係る顔料は、作製される熱硬化性樹脂組成物の硬化物の使用目的に応じて選択することができる。顔料としては、例えば、白色顔料、黒色顔料、赤色顔料、黄色顔料、橙色顔料、紫(菫)色顔料、青色顔料及び緑色顔料が挙げられる。顔料は、アゾ顔料、レーキ顔料又は蛍光顔料であってもよい。なお、本明細書では「顔料」とは、熱硬化性樹脂組成物の硬化物に色を付加するために用いられるものであればよく、粒子の大きさ、溶媒への溶解性等は特に限定されない。
(Pigment)
The thermosetting resin composition according to the present embodiment may contain a pigment in order to add a color to the cured product according to the intended use. The pigment according to the present embodiment can be selected according to the purpose of use of the cured product of the thermosetting resin composition to be produced. Examples of the pigment include white pigment, black pigment, red pigment, yellow pigment, orange pigment, purple (菫) color pigment, blue pigment and green pigment. The pigment may be an azo pigment, a lake pigment or a fluorescent pigment. In the present specification, the "pigment" may be any one used to add color to the cured product of the thermosetting resin composition, and the particle size, solubility in a solvent, etc. are particularly limited. Not done.

黒色顔料としては、例えば、カーボンブラックが挙げられる。赤色顔料としては、例えば、鉛丹、酸化鉄赤、キナクリドン、ジケトピロロピロール、アントラキノン、ペリレン、ペリノン及びインジゴイドが挙げられる。黄色顔料としては、例えば、黄鉛及び亜鉛黄が挙げられる。青色顔料としては、例えば、ウルトラマリン青、プロシア青(フェロシアン化鉄カリ)、フタロシアニンブルー、アントラキノン及びインジゴイドが挙げられる。橙色顔料としては、例えば、ジケトピロロピロール、ペリレン、アントラキノン、ペリノン、キナクリドン及びインジゴイドが挙げられる。紫(菫)色顔料としては、例えば、ジオキサジン、キナクリドン、ペリレン、インジゴイド、アントラキノン及びキサンテンが挙げられる。緑色顔料としては、例えば、フタロシアニン、アゾメチン及びペリレンが挙げられる。これらの顔料は、単独で使用しても、2種以上を併用してもよい。 Examples of the black pigment include carbon black. Examples of the red pigment include lead tan, iron oxide red, quinacridone, diketopyrrolopyrrole, anthraquinone, perylene, perinone and indigoid. Examples of yellow pigments include chrome yellow and zinc chromate. Examples of the blue pigment include ultramarine blue, procyanide blue (ferrocyanide potassium), phthalocyanine blue, anthraquinone and indigoid. Examples of the orange pigment include diketopyrrolopyrrole, perylene, anthraquinone, perinone, quinacridone and indigoid. Examples of the purple (violet) pigment include dioxazine, quinacridone, perylene, indigoid, anthraquinone and xanthene. Examples of the green pigment include phthalocyanine, azomethine and perylene. These pigments may be used alone or in combination of two or more.

熱硬化性樹脂組成物に光反射特性が求められる場合、顔料として白色顔料を用いることが好ましい。熱硬化性樹脂組成物が白色顔料を含むことにより、熱硬化性樹脂組成物の硬化物は優れた反射率を有することとなり、光半導体素子搭載用基板に備えられる光反射用材料として用いた場合に、高輝度の光半導体装置を得ることができる。 When the thermosetting resin composition is required to have light reflection characteristics, it is preferable to use a white pigment as the pigment. Since the thermosetting resin composition contains a white pigment, the cured product of the thermosetting resin composition has excellent reflectance, and when used as a light reflecting material provided on a substrate for mounting an optical semiconductor device. In addition, a high-brightness optical semiconductor device can be obtained.

白色顔料としては、例えば、酸化チタン、酸化亜鉛、アルミナ、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化アンチモン、酸化ジルコニウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム等が挙げられ、より良好な光反射性を得る観点からは、酸化チタン、アルミナ及び酸化亜鉛が好ましい。これらは、単独で使用しても、2種以上を併用してもよい。後述する中空粒子と併用することも好ましい。 Examples of the white pigment include titanium oxide, zinc oxide, alumina, aluminum oxide, magnesium oxide, antimony oxide, zirconium oxide, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide and the like, and from the viewpoint of obtaining better light reflectivity. , Titanium oxide, alumina and zinc oxide are preferred. These may be used alone or in combination of two or more. It is also preferable to use it in combination with hollow particles described later.

白色顔料の屈折率は特に限定されないが、1.6〜3.0であることが好ましく、1.8〜3.0であることがより好ましく、2.0〜3.0であることが更に好ましい。屈折率が1.6〜3.0の範囲にある白色顔料としては、屈折率2.5〜2.7の酸化チタン、屈折率1.9〜2.0の酸化亜鉛、屈折率1.6〜1.8のアルミナ、屈折率1.7の酸化マグネシウム、屈折率2.4の酸化ジルコニウム、屈折率1.6の水酸化アルミニウム、屈折率1.6の水酸化マグネシウムが挙げられる。これらの中でも、屈折率のより高い酸化チタンを含むことが好ましい。白色顔料は、光反射用熱硬化性樹脂組成物中に含有される熱硬化性樹脂の屈折率よりも大きい屈折率を有するものを用いることで、樹脂組成物の硬化物の光反射率を高くすることができる。なお、本明細書における屈折率は、波長540nmの光で測定した値である。 The refractive index of the white pigment is not particularly limited, but is preferably 1.6 to 3.0, more preferably 1.8 to 3.0, and further preferably 2.0 to 3.0. preferable. White pigments having a refractive index in the range of 1.6 to 3.0 include titanium oxide having a refractive index of 2.5 to 2.7, zinc oxide having a refractive index of 1.9 to 2.0, and a refractive index of 1.6. Examples thereof include alumina having a refractive index of ~ 1.8, magnesium oxide having a refractive index of 1.7, zirconium oxide having a refractive index of 2.4, aluminum hydroxide having a refractive index of 1.6, and magnesium hydroxide having a refractive index of 1.6. Among these, it is preferable to contain titanium oxide having a higher refractive index. By using a white pigment having a refractive index larger than that of the thermosetting resin contained in the thermosetting resin composition for light reflection, the light reflectance of the cured product of the resin composition is increased. can do. The refractive index in the present specification is a value measured with light having a wavelength of 540 nm.

上記酸化チタンは、酸化チタン(TiO)としての含有量が80〜97重量%に調整された微小粒子系の酸化チタンをベースに、特定の表面処理剤で表面処理されたものであることが好ましい。酸化チタンの表面処理剤としては、例えば、シリカ、アルミナ、ジルコニア等の金属酸化物;シランカップリング剤、チタンカップリング剤、有機酸、ポリオール、シリコーン等の有機物が挙げられる。シリカ、アルミナ及びジルコニアから選ばれた少なくとも一種、又はシリカ、アルミナ、ジルコニア及び有機物から選ばれた少なくとも一種で表面処理された酸化チタンが好ましい。熱硬化性樹脂との密着性を向上させる観点から、エポキシシラン等のシランカップリング剤を用いてさらに表面を有機処理してもよい。酸化チタンの結晶型としては、屈折率2.7のルチル型、屈折率2.5のアナターゼ型及び屈折率2.6のブルッカイト型がある。酸化チタンの結晶型は特に限定されないが、屈折率及び光吸収特性の観点からルチル型が好ましい。 The titanium oxide may be surface-treated with a specific surface treatment agent based on fine particle-based titanium oxide whose content as titanium oxide (TiO 2 ) is adjusted to 80 to 97% by weight. preferable. Examples of the surface treatment agent for titanium oxide include metal oxides such as silica, alumina and zirconia; and organic substances such as silane coupling agents, titanium coupling agents, organic acids, polyols and silicones. Titanium oxide surface-treated with at least one selected from silica, alumina and zirconia, or at least one selected from silica, alumina, zirconia and organic substances is preferable. From the viewpoint of improving the adhesion to the thermosetting resin, the surface may be further organically treated with a silane coupling agent such as epoxysilane. As the crystal type of titanium oxide, there are a rutile type having a refractive index of 2.7, an anatase type having a refractive index of 2.5, and a brookite type having a refractive index of 2.6. The crystal type of titanium oxide is not particularly limited, but the rutile type is preferable from the viewpoint of refractive index and light absorption characteristics.

酸化チタンは、市販品を入手して使用することができる。ルチル型酸化チタンとして、例えば、堺化学工業社製の商品名:D−918、FTR−700、石原産業社製の商品名:タイペークCR−50、CR−50−2、CR−60、CR−60−2、CR−63、CR−80、CR−90、CR−90−2、CR−93、CR−95、CR−97、テイカ社製の商品名:JR−403、JR−805、JR−806、JR−701、JR−800、冨士チタン工業社製の商品名:TR−600、TR−700、TR−750、TR−840、TR−900が挙げられる。ここで、酸化チタンは、原料となる天然物を、公知の硫酸法又は塩酸法で製造して得られる。硫酸法又は塩酸法のそれぞれから得られる酸化チタンは、屈折率が同等であるにもかかわらず、製造時に処理液から混入する元素の違いにより、酸化チタンの色、すなわち反射スペクトル特性が異なるものが得られる。通常、塩酸法から得られる酸化チタンは波長460〜800nmの光反射率が高く、硫酸法から得られる酸化チタンは波長460〜800nmの光反射率が前者に劣る。特に本発明の光半導体装置に光反射用熱硬化性樹脂組成物を使用する際、光反射用熱硬化性樹脂組成物に含まれる酸化チタンは波長460〜800nmの光反射率が高い塩酸法で製造されるものを用いることが好ましい。 Titanium oxide can be used by obtaining a commercially available product. As rutile type titanium oxide, for example, trade names manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd .: D-918, FTR-700, trade names manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd .: Typake CR-50, CR-50-2, CR-60, CR- 60-2, CR-63, CR-80, CR-90, CR-90-2, CR-93, CR-95, CR-97, Trade names manufactured by Teika: JR-403, JR-805, JR -806, JR-701, JR-800, trade names manufactured by Fuji Titanium Industry Co., Ltd .: TR-600, TR-700, TR-750, TR-840, TR-900. Here, titanium oxide is obtained by producing a natural product as a raw material by a known sulfuric acid method or hydrochloric acid method. Titanium oxide obtained from each of the sulfuric acid method and the hydrochloric acid method has the same refractive index, but the color of titanium oxide, that is, the reflection spectrum characteristics, differs depending on the elements mixed in from the treatment liquid during production. can get. Generally, titanium oxide obtained by the hydrochloric acid method has a high light reflectance at a wavelength of 460 to 800 nm, and titanium oxide obtained by the sulfuric acid method has a light reflectance at a wavelength of 460 to 800 nm inferior to the former. In particular, when the thermosetting resin composition for light reflection is used in the optical semiconductor device of the present invention, the titanium oxide contained in the thermosetting resin composition for light reflection is a hydrochloric acid method having a wavelength of 460 to 800 nm and high light reflectance. It is preferable to use the one produced.

白色顔料の中心粒径は、光反射用熱硬化性樹脂組成物中における分散性の観点から、0.1〜20μmであることが好ましく、0.1〜10μmであることがより好ましく、0.1〜5μmであることが更に好ましい。白色顔料の中心粒子径を上記の範囲内とすることにより、表面反射率の高い成形品を与える光反射用熱硬化性樹脂組成物を得ることができる。 The central particle size of the white pigment is preferably 0.1 to 20 μm, more preferably 0.1 to 10 μm, from the viewpoint of dispersibility in the thermosetting resin composition for light reflection. It is more preferably 1 to 5 μm. By setting the central particle size of the white pigment within the above range, it is possible to obtain a thermosetting resin composition for light reflection that gives a molded product having high surface reflectance.

白色顔料の配合量は、熱硬化性樹脂100質量部に対して70〜400質量部であることが好ましく、90質量部以上であることがより好ましく、130質量部以上であることが更に好ましく、130〜380質量部であることが特に好ましい。また、光反射用熱硬化性樹脂組成物をトランスファー成形用として使用する場合には、熱硬化性樹脂100質量部に対して、70〜400質量部であることが好ましく、基板コーティング用として使用する場合には、130〜400質量部であることが好ましい。無機酸化物の配合量を調整することで、樹脂組成物の硬化物の光反射率を調整することができる。無機酸化物の配合量が70質量部未満では、光反射用熱硬化性樹脂組成物から形成される硬化物の光漏れ特性が十分に得られ難い傾向があり、400質量部を超えると光反射用熱硬化性樹脂組
成物の成型性が低下する傾向がある。
The blending amount of the white pigment is preferably 70 to 400 parts by mass, more preferably 90 parts by mass or more, and further preferably 130 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass of the thermosetting resin. It is particularly preferably 130 to 380 parts by mass. When the thermosetting resin composition for light reflection is used for transfer molding, it is preferably 70 to 400 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the thermosetting resin, and is used for substrate coating. In some cases, it is preferably 130 to 400 parts by mass. By adjusting the blending amount of the inorganic oxide, the light reflectance of the cured product of the resin composition can be adjusted. If the blending amount of the inorganic oxide is less than 70 parts by mass, it tends to be difficult to sufficiently obtain the light leakage characteristics of the cured product formed from the thermosetting resin composition for light reflection, and if it exceeds 400 parts by mass, the light reflection tends to be difficult. The moldability of the thermosetting resin composition for use tends to decrease.

(中空粒子)
本実施形態にかかる熱硬化性樹脂組成物は中空粒子を含む。中空粒子は、内部に空隙部を有する粒子であり、外殻を構成する物質は特に限定されない。中空粒子は、入射光を表面及び内壁で屈折及び反射するため、白色顔料として有用である。中空粒子としては、無機中空粒子、有機中空粒子等が挙げられる。無機中空粒子としては、無機ガラス、シリカ等の金属酸化物;炭酸カルシウム、炭酸バリウム、珪酸カルシウム、炭酸ニッケル等の金属塩などを好適に用いることができ、具体的には、例えば、珪酸ソーダガラス、アルミ珪酸ガラス、硼珪酸ソーダガラス、シラスの粒子等が挙げられる。有機中空粒子としては、ポリスチレン系樹脂、ポリ(メタ)アクリレート系樹脂及びこれらの架橋体を好適に用いることができる。耐熱性及び耐圧強度が高く、熱処理や樹脂組成物調整工程での粒子の破壊をより抑制する観点から、中空粒子の外殻は、珪酸ソーダガラス、アルミ珪酸ガラス、硼珪酸ソーダガラス、シラス、架橋スチレン系樹脂、架橋アクリル系樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種の材質から構成されることが好ましい。
(Hollow particles)
The thermosetting resin composition according to this embodiment contains hollow particles. The hollow particles are particles having voids inside, and the substance constituting the outer shell is not particularly limited. Hollow particles are useful as white pigments because they refract and reflect incident light on the surface and inner walls. Examples of the hollow particles include inorganic hollow particles and organic hollow particles. As the inorganic hollow particles, metal oxides such as inorganic glass and silica; metal salts such as calcium carbonate, barium carbonate, calcium silicate and nickel carbonate can be preferably used. Specifically, for example, soda glass silicate. , Aluminum silicate glass, borosilicate soda glass, silas particles and the like. As the organic hollow particles, polystyrene-based resin, poly (meth) acrylate-based resin, and crosslinked products thereof can be preferably used. The outer shell of the hollow particles is made of sodium silicate glass, aluminum silicate glass, sodium borosilicate glass, silas, and crosslinked from the viewpoint of having high heat resistance and pressure resistance and further suppressing the destruction of particles in the heat treatment and resin composition adjusting process. It is preferably composed of at least one material selected from the group consisting of styrene resin and crosslinked acrylic resin.

中空粒子の粒径は限定されないが、0.1〜100μmの範囲の粒子を含有することが好ましく、0.1〜50μmであることがより好ましく、0.1〜30μmであることがさらに好ましい。中空粒子の粒径が0.1μm以上であれば分散性がより良好となり、100μm以下であれば成形体の薄型化がより行いやすくなり、さらに必要に応じて添加される他の充填剤に対する分散性がより良好になる。中空粒子の粒径は、粒度分布を測定することで確認できる。 The particle size of the hollow particles is not limited, but preferably contains particles in the range of 0.1 to 100 μm, more preferably 0.1 to 50 μm, and even more preferably 0.1 to 30 μm. When the particle size of the hollow particles is 0.1 μm or more, the dispersibility is better, and when the particle size is 100 μm or less, the compact is easier to be thinned, and further dispersed in other fillers added as needed. The sex becomes better. The particle size of the hollow particles can be confirmed by measuring the particle size distribution.

中空粒子の配合量は、熱硬化性樹脂100質量部に対して10〜80質量部となる割合であることが好ましく、10〜70質量部であることがより好ましく、10〜60質量部であることがさらに好ましい。10〜80質量部であれば、光反射率がより良好となり、硬化物の曲げ強度や硬度をより高めることができる。 The blending amount of the hollow particles is preferably 10 to 80 parts by mass, more preferably 10 to 70 parts by mass, and 10 to 60 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the thermosetting resin. Is even more preferable. If it is 10 to 80 parts by mass, the light reflectance becomes better, and the bending strength and hardness of the cured product can be further increased.

中空粒子の空隙部は屈折率が1.0〜1.1であることが好ましい。屈折率が上記範囲であれば、中空粒子外殻を透過した光が中空粒子内部でより屈折又は反射されるため、光反射率をより高めることができる。このような媒質としては、通常、空気が好ましいが、窒素やアルゴンなどの不活性ガスであってもよく、これらの混合気体であっても良い。 The voids of the hollow particles preferably have a refractive index of 1.0 to 1.1. When the refractive index is in the above range, the light transmitted through the outer shell of the hollow particle is more refracted or reflected inside the hollow particle, so that the light reflectance can be further increased. As such a medium, air is usually preferable, but an inert gas such as nitrogen or argon may be used, or a mixed gas thereof may be used.

(屈折率の測定方法)
本実施形態に係る屈折率は、温度25℃におけるd線(587.562nm、He)の光に対する値を示すものである。屈折率は、臨界角法、プリズムカップリング法、ベッケ法、vブロック法等の原理に従い、種々の屈折計を用いて測定することができる。測定装置としては、分光計、アッベ屈折計、プルリッヒ屈折計、エリプソメーターが挙げられる。屈折率の測定方法は、測定対象物の性状(固体、液体等)に合わせて選択することができる。また、測定対象物が固体である場合には、その形状が薄膜、バルク又は粉体により屈折率の測定方法を選択することができる。例えば、測定対象物が固体の場合、測定対象物を公知の方法で薄膜化してアッベ屈折計又はエリプソメーターを用いて測定することができる。無機酸化物等の白色顔料の屈折率は、白色顔料を構成する成分の形状(バルクや薄膜)における測定値を適用してもよい。白色顔料が粉体である場合には、ベッケ法が用いられる。本明細書において、熱硬化性樹脂の屈折率は、Vブロック法(測定装置:KPR、カルニュー光学製)により、白色顔料の屈折率は、ベッケ法(標準溶液と比較する方法)により測定したものである。なお、中空粒子については、空気や不活性ガスによって空隙部が満たされているため、空隙部の屈折率として、空気又は不活性ガスの屈折率に相当する「1.0〜1.1」の数値を適用することができる。
(Measurement method of refractive index)
The refractive index according to the present embodiment indicates a value of the d-line (587.562 nm, He) with respect to light at a temperature of 25 ° C. The refractive index can be measured using various refractometers according to principles such as the critical angle method, the prism coupling method, the Becke method, and the v-block method. Examples of the measuring device include a spectrometer, an Abbe refractometer, a Prurich refractometer, and an ellipsometer. The method for measuring the refractive index can be selected according to the properties (solid, liquid, etc.) of the object to be measured. When the object to be measured is a solid, the method for measuring the refractive index can be selected depending on the shape of the thin film, bulk or powder. For example, when the object to be measured is a solid, the object to be measured can be thinned by a known method and measured using an Abbe refractometer or an ellipsometer. For the refractive index of a white pigment such as an inorganic oxide, a measured value in the shape (bulk or thin film) of a component constituting the white pigment may be applied. When the white pigment is a powder, the Becke method is used. In the present specification, the refractive index of the thermosetting resin is measured by the V-block method (measuring device: KPR, manufactured by Carneux Optics), and the refractive index of the white pigment is measured by the Becke method (method of comparing with a standard solution). Is. Since the voids of the hollow particles are filled with air or an inert gas, the refractive index of the voids is "1.0 to 1.1", which corresponds to the refractive index of air or an inert gas. Numerical values can be applied.

(その他の成分)
熱硬化性樹脂組成物は、上述した成分以外に、無機充填剤、カップリング剤、硬化遅延剤、シリコーン樹脂以外の熱硬化性樹脂、酸化防止剤、離型剤、分散剤、イオン捕捉剤等の各種添加剤を更に含有することができる。
(Other ingredients)
In addition to the above-mentioned components, the thermosetting resin composition includes an inorganic filler, a coupling agent, a curing retarder, a thermosetting resin other than a silicone resin, an antioxidant, a mold release agent, a dispersant, an ion trapping agent, and the like. Various additives can be further contained.

線膨張率を低減させる等の観点から、熱硬化性樹脂組成物は無機充填材を含有することが好ましい。無機充填剤としては、例えば、シリカ、酸化アンチモン、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、硫酸バリウム、炭酸マグネシウム、炭酸バリウム等が挙げられる。 From the viewpoint of reducing the coefficient of linear expansion and the like, the thermosetting resin composition preferably contains an inorganic filler. Examples of the inorganic filler include silica, antimony oxide, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, barium sulfate, magnesium carbonate, barium carbonate and the like.

なお、本明細書では、顔料及び無機充填剤の両方の効果を奏する物質については、原則として顔料に帰属するものとする。ただし、熱硬化性樹脂組成物が顔料及び無機充填剤の両方の効果を奏する物質を2種類以上含有する場合、当該物質のうち1種類を無機充填剤に帰属するものとする。無機充填剤に帰属する物質は、酸化チタン、酸化亜鉛、アルミナ、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化アンチモン、酸化ジルコニウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウムを除く物質が優先される。 In addition, in this specification, a substance exhibiting the effects of both a pigment and an inorganic filler shall be attributed to the pigment in principle. However, when the thermosetting resin composition contains two or more kinds of substances having the effects of both a pigment and an inorganic filler, one of the substances shall belong to the inorganic filler. As the substance belonging to the inorganic filler, substances other than titanium oxide, zinc oxide, alumina, aluminum oxide, magnesium oxide, antimony oxide, zirconium oxide, aluminum hydroxide, and magnesium hydroxide are prioritized.

無機充填剤の粒径は、顔料とのパッキング効率を向上させる観点から、0.1〜100μmの範囲の粒子を含むことが好ましく、0.4〜80μmの範囲の粒子を含むことがより好ましく、0.5〜75μmの粒子を含むことが更に好ましい。熱硬化性樹脂組成物における無機充填剤の含有量は、成形性をより向上する観点から、熱硬化性樹脂組成物の硬化後に固形分となる成分全量を基準として、4〜85質量%の範囲であることが好ましく、10〜80質量%であることがより好ましく、20〜80質量%であることが更に好ましい。 The particle size of the inorganic filler preferably contains particles in the range of 0.1 to 100 μm, and more preferably particles in the range of 0.4 to 80 μm, from the viewpoint of improving the packing efficiency with the pigment. It is more preferable to contain particles of 0.5 to 75 μm. The content of the inorganic filler in the thermosetting resin composition is in the range of 4 to 85% by mass based on the total amount of the solid content after curing of the thermosetting resin composition from the viewpoint of further improving the moldability. It is preferably 10 to 80% by mass, more preferably 20 to 80% by mass.

硬化物の強度及び硬度をより向上する観点から、熱硬化性樹脂組成物に含まれる中空粒子、無機充填剤及び顔料の合計量は、樹脂組成物全量を基準として6〜98質量%であることが好ましく、15〜95質量%であることがより好ましく、30〜90質量%であることが更に好ましい。 From the viewpoint of further improving the strength and hardness of the cured product, the total amount of the hollow particles, the inorganic filler and the pigment contained in the thermosetting resin composition shall be 6 to 98% by mass based on the total amount of the resin composition. Is more preferable, and it is more preferably 15 to 95% by mass, and even more preferably 30 to 90% by mass.

熱硬化性樹脂組成物には、必要に応じてカップリング剤が添加されていてもよい。カップリング剤を含有させることで、シリコーン樹脂と、顔料、無機充填剤等の無機成分との界面接着性を向上させることができる。カップリング剤としては、例えば、シランカップリング剤、チタネート系カップリング剤等が挙げられる。シランカップリング剤としては、一般にエポキシシラン系、アミノシラン系、カチオニックシラン系、ビニルシラン系、アクリルシラン系、メルカプトシラン系等の公知の化合物を用いることができる。カップリング剤は、上記シランカップリング剤の複合系であってもよい。カップリング剤の使用量は、硬化性を向上させる観点から、熱硬化性樹脂組成物全量を基準として0.01〜5質量%とすることが好ましい。顔料又は無機充填剤が予め上記カップリング剤で処理されていてもよい。 A coupling agent may be added to the thermosetting resin composition, if necessary. By containing a coupling agent, the interfacial adhesiveness between the silicone resin and an inorganic component such as a pigment or an inorganic filler can be improved. Examples of the coupling agent include a silane coupling agent, a titanate-based coupling agent, and the like. As the silane coupling agent, known compounds such as epoxysilane-based, aminosilane-based, cationicsilane-based, vinylsilane-based, acrylicsilane-based, and mercaptosilane-based can be generally used. The coupling agent may be a composite system of the above silane coupling agents. From the viewpoint of improving the curability, the amount of the coupling agent used is preferably 0.01 to 5% by mass based on the total amount of the thermosetting resin composition. The pigment or inorganic filler may be previously treated with the coupling agent.

熱硬化性樹脂組成物には、保存安定性の改良、反応性の調整等の観点から、硬化遅延剤を添加してもよい。硬化遅延剤としては、例えば、脂肪族不飽和結合を含有する化合物、有機リン化合物、有機イオウ化合物、窒素含有化合物、スズ系化合物及び有機過酸化物が挙げられる。 A curing retarder may be added to the thermosetting resin composition from the viewpoint of improving storage stability, adjusting reactivity, and the like. Examples of the curing retarder include compounds containing an aliphatic unsaturated bond, organic phosphorus compounds, organic sulfur compounds, nitrogen-containing compounds, tin compounds and organic peroxides.

脂肪族不飽和結合を含有する化合物として、プロパルギルアルコール類、エン−イン化合物類、マレイン酸エステル類等が例示される。有機リン化合物としては、トリオルガノフォスフィン類、ジオルガノフォスフィン類、オルガノフォスフォン類、トリオルガノフォスファイト類等が例示される。有機イオウ化合物としては、オルガノメルカプタン類、ジオルガノスルフィド類、硫化水素、ベンゾチアゾール、ベンゾチアゾールジサルファイド等が例示される。窒素含有化合物としては、アンモニア、1〜3級アルキルアミン類、アリールアミン類、尿素、ヒドラジン等が例示される。スズ系化合物としては、ハロゲン化第一スズ2水和物、カルボン酸第一スズ等が例示される。有機過酸化物としては、ジ−t−ブチルペルオキシド、ジクミルペルオキシド、ベンゾイルペルオキシド、過安息香酸t−ブチル等が例示される。 Examples of the compound containing an aliphatic unsaturated bond include propargyl alcohols, ene-in compounds, maleic acid esters and the like. Examples of the organic phosphorus compound include triorganophosphins, diorganophosphins, organophosphons, triorganophosphites and the like. Examples of the organic sulfur compound include organomercaptans, diorganosulfides, hydrogen sulfide, benzothiazole, benzothiazole disulfide and the like. Examples of the nitrogen-containing compound include ammonia, 1st to 3rd grade alkylamines, arylamines, urea, hydrazine and the like. Examples of tin compounds include stannous halogenated dihydrate and stannous carboxylic acid. Examples of the organic peroxide include di-t-butyl peroxide, dicumyl peroxide, benzoyl peroxide, and t-butyl perbenzoate.

これらの硬化遅延剤のうち、遅延活性が良好で、無色、又は、淡黄色のような比較的着色していないものが好ましい。硬化遅延剤は、単独で用いても、2種以上を併用してもよい。 Among these curing retardants, those having good retarding activity and being colorless or relatively uncolored such as pale yellow are preferable. The curing retarder may be used alone or in combination of two or more.

硬化遅延剤の添加量は、使用する硬化触媒1molに対し、0.1〜100molの範囲が好ましく、1〜50molの範囲がより好ましい。 The amount of the curing retarder added is preferably in the range of 0.1 to 100 mol, more preferably in the range of 1 to 50 mol, with respect to 1 mol of the curing catalyst used.

熱硬化性樹脂組成物には、特性を改質する目的で、シリコーン樹脂以外の熱硬化性樹脂を特性に悪影響を及ぼさない範囲で添加することが可能である。熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、シアネート樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ウレタン樹脂等が例示されるが、これに限定されるものではない。これらのうち、金属部品との接着性等に優れる点から、エポキシ樹脂が好ましい。上記熱硬化性樹脂としては、無色、又は、淡黄色のような比較的着色していないものが好ましい。 For the purpose of modifying the properties, a thermosetting resin other than the silicone resin can be added to the thermosetting resin composition within a range that does not adversely affect the properties. Examples of the thermosetting resin include, but are not limited to, epoxy resin, acrylic resin, cyanate resin, phenol resin, polyimide resin, polyamide-imide resin, and urethane resin. Of these, epoxy resins are preferable because they are excellent in adhesiveness to metal parts. The thermosetting resin is preferably colorless or relatively uncolored such as pale yellow.

エポキシ樹脂としては、特に限定されないが、例えば、ヘキサフルオロビスフェノールA型ジグリシジルエーテル、水素化ビスフェノールA型ジグリシジルエーテル、ビスフェノールAジグリシジルエーテル、2,2’−ビス(4−グリシジルオキシシクロヘキシル)プロパン、3,4−エポキシシクロヘキシルメチル−3,4−エポキシシクロヘキサンカーボキシレート、ビニルシクロヘキセンジオキサイド、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)−5,5−スピロ−(3,4−エポキシシクロヘキサン)−1,3−ジオキサン、ビス(3,4−エポキシシクロヘキシル)アジペート、1,2−シクロプロパンジカルボン酸ビスグリシジルエステル、トリグリシジルイソシアヌレート、モノアリルジグリシジルイソシアヌレート及びジアリルモノグリシジルイソシアヌレートが挙げられる。耐熱性及び耐紫外線性の観点から、脂環式エポキシ樹脂が好ましく、同様の観点からトリグリシジルイソシアヌレートがより好ましい。 The epoxy resin is not particularly limited, but for example, hexafluorobisphenol A type diglycidyl ether, hydride bisphenol A type diglycidyl ether, bisphenol A diglycidyl ether, 2,2'-bis (4-glycidyloxycyclohexyl) propane. , 3,4-Epoxy Cyclohexylmethyl-3,4-Epoxy Cyclohexane Carboxylate, Vinyl Cyclohexendioxide, 2- (3,4-Epoxy Cyclohexyl) -5,5-Spiro- (3,4-Epoxy Cyclohexane)- Examples thereof include 1,3-dioxane, bis (3,4-epoxycyclohexyl) adipate, 1,2-cyclopropanedicarboxylic acid bisglycidyl ester, triglycidyl isocyanurate, monoallyl diglycidyl isocyanurate and diallyl monoglycidyl isocyanurate. From the viewpoint of heat resistance and ultraviolet resistance, an alicyclic epoxy resin is preferable, and from the same viewpoint, triglycidyl isocyanurate is more preferable.

エポキシ樹脂を用いる場合、エポキシ樹脂の硬化剤を更に含有することが好ましい。耐熱変色性の観点から、硬化剤は酸無水物系硬化剤が好ましく、酸無水物系硬化剤としては、例えば、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、水素化メチルナジック酸無水物、トリメリット酸無水物、ピロメリット酸無水物、脂肪族酸(シクロヘキサンジカルボン酸、シクロヘキサントリカルボン酸等)の無水物等が挙げられる。これらのエポキシ樹脂又は硬化剤は、それぞれ単独で用いても、複数のものを組み合わせて用いてもよい。 When an epoxy resin is used, it is preferable to further contain an epoxy resin curing agent. From the viewpoint of heat-resistant discoloration, an acid anhydride-based curing agent is preferable as the curing agent, and examples of the acid anhydride-based curing agent include hexahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, and methyl hydride. Examples thereof include naphthic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, and anhydrides of aliphatic acids (cyclohexanedicarboxylic acid, cyclohexanetricarboxylic acid, etc.). These epoxy resins or curing agents may be used alone or in combination of two or more.

(熱硬化性樹脂組成物の特性)
本実施形態の熱硬化性樹脂組成物を光反射材料として用いる場合、硬化後の光反射率が、波長440〜700nmのいずれかにおいて80%以上となることが好ましい。光反射率が80%以上であれば、光半導体装置の輝度をより向上できる。また、青色発光ダイオードを用いた光半導体装置に好適とする観点から、硬化後の波長460nmにおける光反射率が、80%以上となることが好ましく、90%以上となることがより好ましい。
(Characteristics of thermosetting resin composition)
When the thermosetting resin composition of the present embodiment is used as a light-reflecting material, the light reflectance after curing is preferably 80% or more at any of wavelengths of 440 to 700 nm. When the light reflectance is 80% or more, the brightness of the optical semiconductor device can be further improved. Further, from the viewpoint of being suitable for an optical semiconductor device using a blue light emitting diode, the light reflectance at a wavelength of 460 nm after curing is preferably 80% or more, and more preferably 90% or more.

熱硬化性樹脂組成物を光反射材料として用いる場合、耐熱着色性を良好にする観点から、硬化物の光反射率は、150℃の環境下に1000時間晒す耐熱性試験後、波長440〜700nmのいずれかにおいて80%以上であることが好ましい。また、青色発光ダイオードを用いた光半導体装置に好適とする観点から、上述の耐熱性試験後の測定時に、波長460nmにおける光反射率が85%以上となることがより好ましく、90%以上となることが更に好ましい。このような熱硬化性樹脂組成物の光反射特性は、樹脂組成物を構成する各種成分の配合量を適切に調整することによって実現することができ、より具体的には、例えば、無色の熱硬化樹脂成分と高屈折率の白色顔料とを高充填することで達成できる。なお、本明細書において、特筆しない限り、光反射率は、厚み0.3mmの硬化物を作製し、積分球型分光光度計を用いて測定した値である。 When the thermosetting resin composition is used as a light-reflecting material, the light reflectance of the cured product is 440 to 700 nm after a heat resistance test in which it is exposed to an environment of 150 ° C. for 1000 hours from the viewpoint of improving heat-resistant coloring. It is preferable that it is 80% or more in any of the above. Further, from the viewpoint of being suitable for an optical semiconductor device using a blue light emitting diode, the light reflectance at a wavelength of 460 nm is more preferably 85% or more, and more preferably 90% or more at the time of measurement after the above-mentioned heat resistance test. Is even more preferable. The light reflection characteristics of such a thermosetting resin composition can be realized by appropriately adjusting the blending amounts of various components constituting the resin composition, and more specifically, for example, colorless heat. This can be achieved by highly filling the cured resin component and the white pigment having a high refractive index. In the present specification, unless otherwise specified, the light reflectance is a value measured by preparing a cured product having a thickness of 0.3 mm and using an integrating sphere spectrophotometer.

本実施形態の熱硬化性樹脂組成物は、硬化後のタイプDデュロメータ硬さが40以上であることが好ましく、50以上であることがより好ましく、55以上であることが更に好ましい。硬さが40以上であれば成形体の強靭性がより良好となる。硬さの上限値は特に限定されないが、100程度とすることができる。なお、タイプDデュロメータ硬さは、JIS K 6253−3:2012に記載された方法に準じて測定でき、温度180℃、圧力14MPa、硬化時間300秒の条件でトランスファー成形した後の厚み3mmの成形体の硬さを測定したものである。 The thermosetting resin composition of the present embodiment preferably has a cured Type D durometer hardness of 40 or more, more preferably 50 or more, and even more preferably 55 or more. When the hardness is 40 or more, the toughness of the molded product becomes better. The upper limit of the hardness is not particularly limited, but can be about 100. The hardness of the type D durometer can be measured according to the method described in JIS K 6253-: 2012, and the thickness is 3 mm after transfer molding under the conditions of a temperature of 180 ° C., a pressure of 14 MPa, and a curing time of 300 seconds. It is a measurement of body hardness.

割れ又はクラックを低減する観点から、本実施形態の熱硬化性樹脂組成物は、硬化後の破断強度が15以上であることが好ましく、20以上であることがより好ましく、25以上であることが更に好ましい。破断強度は、JIS K 7171:2008に準じて、温度180℃、圧力14MPa、硬化時間300秒の条件でトランスファー成形した後の厚み4mmの試験片の三点曲げ破断試験を室温で行ったときの値である。 From the viewpoint of reducing cracks or cracks, the thermosetting resin composition of the present embodiment preferably has a breaking strength of 15 or more, more preferably 20 or more, and more preferably 25 or more. More preferred. The breaking strength is the same as when a three-point bending breaking test of a test piece with a thickness of 4 mm was performed at room temperature after transfer molding under the conditions of a temperature of 180 ° C., a pressure of 14 MPa, and a curing time of 300 seconds according to JIS K 7171: 2008. The value.

[熱硬化性樹脂組成物の製造方法]
本実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物の製造方法は特に限定されないが、例えば、以下のような混練工程及び粉砕工程を備えていてもよい。
[Manufacturing method of thermosetting resin composition]
The method for producing the thermosetting resin composition according to the present embodiment is not particularly limited, but may include, for example, the following kneading step and pulverizing step.

(混練工程)
熱硬化性樹脂組成物は、先に例示した各種成分を均一に分散混合することによって調製することができ、混合手段、混合条件等は特に制限されない。調製方法としては、例えば、ミキシングロール、押出機、ニーダー、ロール、エクストルーダー、らいかい機、自転と公転を組み合わせた攪拌混合機等の装置を用いて各種成分を混練する方法が挙げられる。混練形式についても特に限定されないが、作業が容易な観点から溶融混練とすることが好ましく、工程の簡略化の観点から、混練は15〜30℃で実施されることが好ましい。加熱を要する際は、例えば、30〜100℃の温度範囲であってもよい。溶融混練の温度が30℃以上であると、各種成分をより十分に溶融混練することが可能であり、分散性がより向上する傾向がある。一方、溶融混練を100℃以下で実施すると、樹脂組成物の高分子量化をより抑制でき、基板等の成形品を成形する前に樹脂組成物が硬化してしまうことをより抑制できる。混錬時間は5〜40分間であってもよく、10〜30分間であってもよい。溶融混練の時間が5分間以上であると、基板等の成形時に金型から樹脂が染み出すことをより抑制でき、40分間以内であると、樹脂組成物の高分子化を制御し易く、成形前に樹脂組成物が硬化することをより抑制できる。
(Kneading process)
The thermosetting resin composition can be prepared by uniformly dispersing and mixing various components exemplified above, and the mixing means, mixing conditions and the like are not particularly limited. Examples of the preparation method include a method of kneading various components using an apparatus such as a mixing roll, an extruder, a kneader, a roll, an extruder, a rake machine, and a stirring mixer that combines rotation and revolution. The kneading type is also not particularly limited, but melt kneading is preferable from the viewpoint of easy work, and kneading is preferably carried out at 15 to 30 ° C. from the viewpoint of simplifying the process. When heating is required, it may be in the temperature range of, for example, 30 to 100 ° C. When the temperature of melt-kneading is 30 ° C. or higher, various components can be melt-kneaded more sufficiently, and the dispersibility tends to be further improved. On the other hand, when melt-kneading is carried out at 100 ° C. or lower, it is possible to further suppress the increase in molecular weight of the resin composition and further suppress the curing of the resin composition before molding a molded product such as a substrate. The kneading time may be 5 to 40 minutes or 10 to 30 minutes. When the melt-kneading time is 5 minutes or more, it is possible to further suppress the resin from seeping out from the mold when molding the substrate or the like, and when it is 40 minutes or less, it is easy to control the polymerization of the resin composition and the molding is performed. It is possible to further suppress the curing of the resin composition before.

混練工程では、まず、ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂及びアルケニル基含有シリコーン樹脂を予め混合する予備混合を行い、その後、他の成分を加えて、上記の混合を行ってもよい。予備混合を行うことで得られる熱硬化性樹脂組成物は、貯蔵安定性が向上し、成形時の成形性により優れるものとなる。予備混合の際に用いるヒドロシリル基含有シリコーン樹脂及びアルケニル基含有シリコーン樹脂は、熱硬化性樹脂組成物に用いるうちの一部分であってもよく、全量であってもよい。 In the kneading step, first, the hydrosilyl group-containing silicone resin and the alkenyl group-containing silicone resin may be premixed in advance, and then other components may be added to carry out the above mixing. The thermosetting resin composition obtained by premixing has improved storage stability and is more excellent in moldability during molding. The hydrosilyl group-containing silicone resin and the alkenyl group-containing silicone resin used in the premixing may be a part or the whole amount used in the thermosetting resin composition.

混練工程を行った熱硬化性樹脂組成物は後述の乾式粉砕を行えるような状態とすることが好ましい。そのため、必要に応じて熱硬化性樹脂組成物を冷却する工程を行ってもよい。 The thermosetting resin composition that has undergone the kneading step is preferably in a state where it can be subjected to the dry pulverization described later. Therefore, a step of cooling the thermosetting resin composition may be performed if necessary.

(粉砕工程)
粉砕工程では、例えば、熱硬化性樹脂組成物を乾式粉砕する。乾式粉砕は、例えば、高速攪拌ミル、ヘンシェルミキサ、パワーミル、ジェットミル、ロールグラニュレータ等の粉砕装置を用いて行うことができる。これらの粉砕装置は、目的の粉末粒径により使い分けることができる。
(Crushing process)
In the pulverization step, for example, the thermosetting resin composition is dry pulverized. Dry pulverization can be performed using, for example, a pulverizer such as a high-speed stirring mill, a Henschel mixer, a power mill, a jet mill, or a roll granulator. These pulverizers can be used properly according to the target powder particle size.

本実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物は、タブレット状に加工されていることが好ましい。本明細書におけるタブレット状とは、一定した形状を保持し、例えば、30分程度放置した場合に経時的な形状の変化が実質的にない固体状であることを意味する。タブレット状に加工されていることで、取扱い性がより向上し、当該熱硬化性樹脂組成物を用いたトランスファー成形、コンプレッション成形等の効率を高めることが可能となる。本実施形態に係るタブレットの形状は、特に限定されず、円柱状、角柱状、円盤状、球状等の形状を含むが、取扱性の観点から円柱状が好ましい。 The thermosetting resin composition according to this embodiment is preferably processed into a tablet shape. The tablet shape in the present specification means a solid state that retains a constant shape and has substantially no change in shape over time when left for about 30 minutes, for example. By being processed into a tablet shape, the handleability is further improved, and the efficiency of transfer molding, compression molding, etc. using the thermosetting resin composition can be improved. The shape of the tablet according to the present embodiment is not particularly limited and includes shapes such as columnar, prismatic, disk-shaped, and spherical, but columnar is preferable from the viewpoint of handleability.

タブレット成形条件は特に限定されないが、例えば、室温で、0.5〜60MPa、1〜15秒間程度の条件において加圧成形することでタブレット状熱硬化性樹脂組成物を得ることができる。なお、上記タブレット成形のための加圧成形は、後述するトランスファー成形又はコンプレッション成形とは明確に異なる工程である。 The tablet molding conditions are not particularly limited, but for example, a tablet-like thermosetting resin composition can be obtained by pressure molding at room temperature at 0.5 to 60 MPa for about 1 to 15 seconds. The pressure molding for tablet molding is a process that is clearly different from the transfer molding or compression molding described later.

本実施形態に係るタブレット状熱硬化性樹脂組成物は、タイプAデュロメータ硬さが50以上であることが好ましく、55以上であることがより好ましく、60以上であることが更に好ましい。硬さが50以上であればタブレットが変形しづらく、ハンドリング性がより良好となる。タブレット状熱硬化性樹脂組成物の硬さは硬いほどよいため、タイプAデュロメータ硬さの上限値は特に限定されないが、100程度とすることができる。なお、タイプAデュロメータ硬さは、タブレット状熱硬化性樹脂組成物を25℃で3分静置した後に測定した値であることが好ましい。 The tablet-like thermosetting resin composition according to the present embodiment preferably has a type A durometer hardness of 50 or more, more preferably 55 or more, and even more preferably 60 or more. If the hardness is 50 or more, the tablet is less likely to be deformed and the handleability is improved. Since the hardness of the tablet-like thermosetting resin composition is better, the upper limit of the type A durometer hardness is not particularly limited, but can be about 100. The type A durometer hardness is preferably a value measured after allowing the tablet-like thermosetting resin composition to stand at 25 ° C. for 3 minutes.

タイプAデュロメータ硬さは、JIS K 6253−3:2012に記載された方法に準じて測定することができる。本明細書においては、タイプAデュロメータの針をタブレット状熱硬化性樹脂組成物に押しあて、1分後の値を読み取って得られる値をタイプAデュロメータ硬さと定義する。 Type A durometer hardness can be measured according to the method described in JIS K 6253-: 2012. In the present specification, the value obtained by pressing the needle of the type A durometer against the tablet-like thermosetting resin composition and reading the value after 1 minute is defined as the type A durometer hardness.

表面タック性を低減させる観点から、タブレット状熱硬化性樹脂組成物の表面を充填剤で被覆してもよい。被覆に用いる無機充填剤は特に限定されないが、例えば、熱硬化性樹脂組成物に含有することのできる無機充填剤と同様のものが挙げられる。 From the viewpoint of reducing the surface tackiness, the surface of the tablet-like thermosetting resin composition may be coated with a filler. The inorganic filler used for the coating is not particularly limited, and examples thereof include the same inorganic fillers that can be contained in the thermosetting resin composition.

充填剤を被着体に被覆する方法については、タブレット状熱硬化性樹脂組成物と接触しうる方法であれば、特に制限は無い。例えば、容器又は袋に充填剤を入れ、機械を用いて振動によりタブレット状熱硬化性樹脂組成物に充填剤を被覆する方法及び手動でふり掛ける方法が挙げられる。 The method of coating the adherend with the filler is not particularly limited as long as it can come into contact with the tablet-like thermosetting resin composition. For example, a method of putting a filler in a container or a bag and coating the tablet-shaped thermosetting resin composition with the filler by vibration using a machine and a method of manually sprinkling the filler can be mentioned.

本実施形態の熱硬化性樹脂組成物は、高い耐熱性を必要とする電気絶縁材料、光半導体封止材料、接着材料、塗料材料並びにトランスファー成形又はコンプレッション成形用エポキシ樹脂成形材料等様々な用途において有用である。特に、本実施形態の熱硬化性樹脂組成物は、トランスファー成形用の材料として有用である。なお、本実施形態の熱硬化性樹脂組成物は、光反射用途に用いる場合白色であることが好ましい。 The thermosetting resin composition of the present embodiment is used in various applications such as an electrically insulating material, an optical semiconductor encapsulating material, an adhesive material, a coating material, and an epoxy resin molding material for transfer molding or compression molding, which require high heat resistance. It is useful. In particular, the thermosetting resin composition of the present embodiment is useful as a material for transfer molding. The thermosetting resin composition of the present embodiment is preferably white when used for light reflection applications.

[硬化物]
本実施形態の硬化物は、上述の熱硬化性樹脂組成物を熱硬化させることで形成することができる。熱硬化の条件は特に限定はないが、例えば、温度170〜200℃で、60〜300秒間加熱することにより硬化できる。熱硬化は後述の成形法に含まれる工程の一部として行ってもよい。
[Cured product]
The cured product of the present embodiment can be formed by heat-curing the above-mentioned thermosetting resin composition. The conditions for thermosetting are not particularly limited, but for example, it can be cured by heating at a temperature of 170 to 200 ° C. for 60 to 300 seconds. Thermosetting may be performed as a part of the steps included in the molding method described later.

[光半導体素子搭載用基板]
本実施形態に係る光半導体素子搭載用基板は、底面及び壁面から構成される凹部を有する。凹部の底面が光半導体素子搭載部(光半導体素子搭載領域)であり、凹部の壁面、すなわち凹部の内周側面の少なくとも一部が本実施形態の熱硬化性樹脂組成物から形成された成形体からなるものである。
[Substrate for mounting optical semiconductor devices]
The substrate for mounting an optical semiconductor element according to this embodiment has a recess formed by a bottom surface and a wall surface. The bottom surface of the recess is the optical semiconductor device mounting portion (optical semiconductor device mounting region), and the wall surface of the recess, that is, at least a part of the inner peripheral side surface of the recess is a molded product formed from the thermosetting resin composition of the present embodiment. It consists of.

図1は、光半導体素子搭載用基板の一実施形態を示す斜視図である。光半導体素子搭載用基板110は、Ni/Agめっき104が形成された金属配線105(第1の接続端子及び第2の接続端子)と、金属配線105(第1の接続端子及び第2の接続端子)間に設けられた絶縁性樹脂成形体103’と、リフレクター103とを備え、Ni/Agめっき104が形成された金属配線105及び絶縁性樹脂成形体103’とリフレクター103とから形成された光半導体素子搭載領域(凹部)200を有している。この凹部200の底面は、Ni/Agめっき104が形成された金属配線105及び絶縁性樹脂成形体103’から構成され、凹部200の壁面はリフレクター103から構成される。リフレクター103及び絶縁性樹脂成形体103’が、本実施形態の熱硬化性樹脂組成物を用いて形成された成形体である。 FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a substrate for mounting an optical semiconductor element. The substrate 110 for mounting an optical semiconductor element has a metal wiring 105 (first connection terminal and second connection terminal) formed with Ni / Ag plating 104 and a metal wiring 105 (first connection terminal and second connection). The metal wiring 105 provided with the insulating resin molded body 103'provided between the terminals) and the reflector 103 on which the Ni / Ag plating 104 was formed, and the insulating resin molded body 103' and the reflector 103 were formed. It has an optical semiconductor element mounting region (recess) 200. The bottom surface of the recess 200 is composed of a metal wiring 105 on which Ni / Ag plating 104 is formed and an insulating resin molded body 103', and the wall surface of the recess 200 is composed of a reflector 103. The reflector 103 and the insulating resin molded body 103'are molded bodies formed by using the thermosetting resin composition of the present embodiment.

光半導体素子搭載用基板の製造方法は特に限定されないが、例えば、熱硬化性樹脂組成物を用いたトランスファー成形又はコンプレッション成形により製造することができる。図2は、光半導体素子搭載用基板を製造する工程の一実施形態を示す概略図である。光半導体素子搭載用基板は、例えば、金属箔から打ち抜き、エッチング等の公知の方法により金属配線105を形成し、電気めっきによりNi/Agめっき104を施す工程(図2の(a))、次いで、該金属配線105を所定形状の金型151に配置し、金型151の樹脂注入口150から熱硬化性樹脂組成物を注入し、所定の条件でトランスファー成形又はコンプレッション成形する工程(図2の(b))、そして、金型151を外す工程(図2の(c))を経て製造することができる。 The method for manufacturing the substrate for mounting the optical semiconductor element is not particularly limited, and for example, it can be manufactured by transfer molding or compression molding using a thermosetting resin composition. FIG. 2 is a schematic view showing an embodiment of a process of manufacturing a substrate for mounting an optical semiconductor element. In the substrate for mounting an optical semiconductor element, for example, a step of forming a metal wiring 105 by a known method such as punching from a metal foil and etching, and applying Ni / Ag plating 104 by electroplating ((a) in FIG. 2), and then A step of arranging the metal wiring 105 in a mold 151 having a predetermined shape, injecting a thermosetting resin composition from a resin injection port 150 of the mold 151, and performing transfer molding or compression molding under predetermined conditions (FIG. 2). It can be manufactured through the steps (b)) and the step of removing the mold 151 ((c) of FIG. 2).

このようにして、光半導体素子搭載用基板には、熱硬化性樹脂組成物の硬化物からなるリフレクター103に周囲を囲まれてなる光半導体素子搭載領域(凹部)200が形成される。また、凹部200の底面は、第1の接続端子となる金属配線105及び第2の接続端子となる金属配線105と、これらの間に設けられ熱硬化性樹脂組成物の硬化物からなる絶縁性樹脂成形体103’とから構成される。例えば、上記リフレクターをトランスファー成形で形成する場合、成形条件としては、成形温度120〜200℃、成形圧力0.5〜25MPaで、60〜600秒間、アフターキュア温度120℃〜180℃で1〜3時間とすることが好ましい。十分な硬化を行う観点からは、金型温度は150〜190℃がより好ましく、成形圧力は12〜20MPaがより好ましい。また、上記リフレクターをコンプレッション成形で形成する場合、十分な硬化を行う観点からは、成形温度は120〜200℃、成形時間30〜600秒、特に成形温度130〜160℃で成形時間120〜300秒で行うことが好ましい。 In this way, the optical semiconductor device mounting region (recess) 200 is formed on the optical semiconductor device mounting substrate so as to be surrounded by a reflector 103 made of a cured product of the thermosetting resin composition. Further, the bottom surface of the recess 200 has an insulating property composed of a metal wiring 105 as a first connection terminal, a metal wiring 105 as a second connection terminal, and a cured product of a thermosetting resin composition provided between them. It is composed of a resin molded body 103'. For example, when the reflector is formed by transfer molding, the molding conditions are a molding temperature of 120 to 200 ° C., a molding pressure of 0.5 to 25 MPa for 60 to 600 seconds, and an aftercure temperature of 120 ° C. to 180 ° C. for 1 to 3 It is preferably time. From the viewpoint of sufficient curing, the mold temperature is more preferably 150 to 190 ° C., and the molding pressure is more preferably 12 to 20 MPa. When the reflector is formed by compression molding, the molding temperature is 120 to 200 ° C. and the molding time is 30 to 600 seconds, particularly, the molding temperature is 130 to 160 ° C. and the molding time is 120 to 300 seconds from the viewpoint of sufficient curing. It is preferable to carry out with.

リフレクター103の色は限定されず、用いる顔料の種類によって適宜決定できるが、光反射率を更に高める観点からは白色であることが好ましい。 The color of the reflector 103 is not limited and can be appropriately determined depending on the type of pigment used, but it is preferably white from the viewpoint of further increasing the light reflectance.

[光半導体装置]
本実施形態に係る光半導体装置は、上記光半導体素子搭載用基板と、当該光半導体素子搭載用基板に搭載された光半導体素子とを有する。より具体的な例として、上記光半導体素子搭載用基板と、光半導体素子搭載用基板の凹部内に設けられた光半導体素子と、凹部を充填して光半導体素子を封止する封止樹脂部とを備える光半導体装置が挙げられる。
[Optical semiconductor device]
The optical semiconductor device according to the present embodiment includes the optical semiconductor element mounting substrate and the optical semiconductor element mounted on the optical semiconductor element mounting substrate. As a more specific example, the substrate for mounting the optical semiconductor element, the optical semiconductor element provided in the recess of the substrate for mounting the optical semiconductor element, and the sealing resin portion that fills the recess and seals the optical semiconductor element. An optical semiconductor device including the above can be mentioned.

図3は、光半導体素子搭載用基板110に光半導体素子100を搭載した状態の一実施形態を示す斜視図である。図3に示すように、光半導体素子100は、光半導体素子搭載用基板110の光半導体素子搭載領域(凹部)200の所定位置に搭載され、金属配線105とボンディングワイヤ102により電気的に接続される。図4及び図5は、光半導体装置の一実施形態を示す模式断面図である。図4及び図5に示すように、光半導体装置は、光半導体素子搭載用基板110と、光半導体素子搭載用基板110の凹部200内の所定位置に設けられた光半導体素子100と、凹部200を充填して光半導体素子を封止する蛍光体106を含む透明封止樹脂101からなる封止樹脂部とを備えており、光半導体素子100とNi/Agめっき104が形成された金属配線105とがボンディングワイヤ102又ははんだバンプ107により電気的に接続されている。 FIG. 3 is a perspective view showing an embodiment in which the optical semiconductor element 100 is mounted on the optical semiconductor element mounting substrate 110. As shown in FIG. 3, the optical semiconductor element 100 is mounted at a predetermined position in the optical semiconductor element mounting region (recess) 200 of the optical semiconductor element mounting substrate 110, and is electrically connected to the metal wiring 105 by the bonding wire 102. To. 4 and 5 are schematic cross-sectional views showing an embodiment of an optical semiconductor device. As shown in FIGS. 4 and 5, the optical semiconductor device includes an optical semiconductor element mounting substrate 110, an optical semiconductor element 100 provided at a predetermined position in the recess 200 of the optical semiconductor element mounting substrate 110, and the recess 200. The metal wiring 105 in which the optical semiconductor element 100 and the Ni / Ag plating 104 are formed is provided with a sealing resin portion made of a transparent sealing resin 101 containing a phosphor 106 that fills and seals the optical semiconductor element. Are electrically connected by a bonding wire 102 or a solder bump 107.

図6もまた、光半導体装置の一実施形態を示す模式断面図である。図6に示す光半導体装置では、リフレクター303が形成されたリード304上の所定位置にダイボンド材306を介してLED素子300が配置され、LED素子300とリード304とがボンディングワイヤ301により電気的に接続され、蛍光体305を含む透明封止樹脂302によりLED素子300が封止されている。 FIG. 6 is also a schematic cross-sectional view showing an embodiment of an optical semiconductor device. In the optical semiconductor device shown in FIG. 6, the LED element 300 is arranged at a predetermined position on the lead 304 on which the reflector 303 is formed via the die bonding material 306, and the LED element 300 and the lead 304 are electrically connected by the bonding wire 301. The LED element 300 is connected and the LED element 300 is sealed by the transparent sealing resin 302 containing the phosphor 305.

図5及び図6では光半導体素子が1つ設けられた光半導体装置の実施形態を示したが、凹部内に光半導体素子が2つ以上設けられていてもよい。 Although FIGS. 5 and 6 show an embodiment of an optical semiconductor device provided with one optical semiconductor element, two or more optical semiconductor elements may be provided in the recess.

以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明はこれに制限されるものではない。例えば、本実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物から形成された成形体は光反射樹脂層として用いることができる。この実施形態として、銅張積層板、光半導体素子搭載用基板及び光半導体素子について説明する。 Although preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited thereto. For example, a molded product formed from the thermosetting resin composition according to the present embodiment can be used as a light-reflecting resin layer. As this embodiment, a copper-clad laminate, a substrate for mounting an optical semiconductor element, and an optical semiconductor element will be described.

本実施形態に係る銅張積層板は、上述した熱硬化性樹脂組成物を用いて形成された樹脂層と、該樹脂層上に積層された銅箔と、を備える。 The copper-clad laminate according to the present embodiment includes a resin layer formed by using the thermosetting resin composition described above, and a copper foil laminated on the resin layer.

図7は、銅張積層板の好適な一実施形態を示す模式断面図である。図7に示すように、銅張積層板400は、基材401と、該基材401上に積層された樹脂層402と、該樹脂層402上に積層された銅箔403と、を備えている。ここで、樹脂層402は、上述した本実施形態の熱硬化性樹脂組成物を用いて形成されている。基材401としては、銅張積層板に用いられる基材を特に制限なく用いることができるが、例えば、エポキシ樹脂積層板等の樹脂積層板及び光半導体素子搭載用基板が挙げられる。 FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a preferred embodiment of the copper-clad laminate. As shown in FIG. 7, the copper-clad laminate 400 includes a base material 401, a resin layer 402 laminated on the base material 401, and a copper foil 403 laminated on the resin layer 402. There is. Here, the resin layer 402 is formed by using the thermosetting resin composition of the present embodiment described above. As the base material 401, the base material used for the copper-clad laminate can be used without particular limitation, and examples thereof include a resin laminate such as an epoxy resin laminate and a substrate for mounting an optical semiconductor element.

銅張積層板400は、例えば、本実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物を基材401表面に形成し、銅箔403を重ね、加熱加圧硬化して樹脂層402を形成することにより作製することができる。基材401表面への形成方法は限定されず、例えば直接塗布する方法、本実施形態に係る熱硬化性樹脂組成物を含む樹脂付き銅箔をプレス又はラミネートにより積層する方法等が挙げられる。加熱加圧の条件としては、特に限定されないが、例えば、130〜180℃、0.5〜4MPa、30〜600分間の条件が好ましい。 The copper-clad laminate 400 is produced, for example, by forming the thermosetting resin composition according to the present embodiment on the surface of the base material 401, stacking copper foils 403, and heat-pressurizing and curing to form the resin layer 402. can do. The method of forming on the surface of the base material 401 is not limited, and examples thereof include a method of directly applying, a method of laminating a copper foil with a resin containing the thermosetting resin composition according to the present embodiment by pressing or laminating. The conditions for heating and pressurizing are not particularly limited, but for example, conditions of 130 to 180 ° C., 0.5 to 4 MPa, and 30 to 600 minutes are preferable.

上記銅張積層板を使用し、光半導体素子実装用等の光学部材用プリント配線板を作製することができる。なお、図7に示した銅張積層板400は、基材401の片面に樹脂層402及び銅箔403を積層したものであるが、銅張積層板は、基材401の両面に樹脂層402及び銅箔403をそれぞれ積層したものであってもよい。 Using the copper-clad laminate, it is possible to manufacture a printed wiring board for an optical member such as for mounting an optical semiconductor element. The copper-clad laminate 400 shown in FIG. 7 has a resin layer 402 and a copper foil 403 laminated on one side of the base material 401, whereas the copper-clad laminate has resin layers 402 on both sides of the base material 401. And copper foil 403 may be laminated respectively.

図8は、銅張積層板を用いて作製された光半導体装置の一例を示す模式断面図である。図8に示すように、光半導体装置500は、光半導体素子410と、該光半導体素子410が封止されるように設けられた封止樹脂404とを備える表面実装型光半導体装置である。光半導体装置500において、光半導体素子410は、接着層408を介して銅箔403に接着されており、ボンディングワイヤ409により銅箔403と電気的に接続されている。 FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing an example of an optical semiconductor device manufactured by using a copper-clad laminate. As shown in FIG. 8, the optical semiconductor device 500 is a surface-mounted optical semiconductor device including an optical semiconductor element 410 and a sealing resin 404 provided so as to seal the optical semiconductor element 410. In the optical semiconductor device 500, the optical semiconductor element 410 is adhered to the copper foil 403 via the adhesive layer 408, and is electrically connected to the copper foil 403 by the bonding wire 409.

さらに、光半導体素子搭載用基板の他の実施形態として、上述した熱硬化性樹脂組成物を用いて、基材上の複数の導体部材(接続端子)間に形成された樹脂層を備える光半導体素子搭載用基板が挙げられる。また、光半導体装置の他の実施形態は、上記の光半導体素子搭載用基板に光半導体素子を搭載してなるものである。 Further, as another embodiment of the substrate for mounting an optical semiconductor element, an optical semiconductor including a resin layer formed between a plurality of conductor members (connection terminals) on a substrate by using the thermosetting resin composition described above. Examples include a substrate for mounting an element. Further, another embodiment of the optical semiconductor device is such that the optical semiconductor element is mounted on the above-mentioned substrate for mounting the optical semiconductor element.

図9は、光半導体装置の好適な一実施形態を示す模式断面図である。図9に示すように、光半導体装置600は、基材601と、該該基材601の表面に形成された複数の導体部材602と、複数の導体部材(接続端子)602間に形成された樹脂層603と、を備える光半導体素子搭載用基板に、光半導体素子610が搭載され、該光半導体素子610が封止されるように透明な封止樹脂604が設けられた、表面実装型光半導体装置である。光半導体装置600において、光半導体素子610は、接着層608を介して導体部材602に接着されており、ボンディングワイヤ609により導体部材602と電気的に接続されている。樹脂層603は、上述した熱硬化性樹脂組成物を用いて形成されている。 FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing a preferred embodiment of the optical semiconductor device. As shown in FIG. 9, the optical semiconductor device 600 is formed between the base material 601 and a plurality of conductor members 602 formed on the surface of the base material 601 and a plurality of conductor members (connection terminals) 602. A surface-mounted optical device in which an optical semiconductor element 610 is mounted on a substrate for mounting an optical semiconductor element including a resin layer 603, and a transparent sealing resin 604 is provided so that the optical semiconductor element 610 is sealed. It is a semiconductor device. In the optical semiconductor device 600, the optical semiconductor element 610 is adhered to the conductor member 602 via the adhesive layer 608, and is electrically connected to the conductor member 602 by the bonding wire 609. The resin layer 603 is formed by using the thermosetting resin composition described above.

基材601としては、光半導体素子搭載用基板に用いられる基材を特に制限なく用いることができるが、例えば、エポキシ樹脂積層板等の樹脂積層板が挙げられる。導体部材602は、接続端子として機能するものであり、例えば、銅箔をフォトエッチングする方法等、公知の方法により形成することができる。光半導体素子搭載用基板は、熱硬化性樹脂組成物を基材601上の複数の導体部材602間にトランスファー成形し、加熱硬化して上記熱硬化性樹脂組成物からなる樹脂層603を形成することにより作製することができる。トランスファー成形された熱硬化性樹脂組成物からなる層を加熱硬化する際の加熱条件としては、特に限定されないが、例えば、130〜200℃、30〜600分間の条件で加熱を行うことが好ましい。 As the base material 601, the base material used for the substrate for mounting the optical semiconductor element can be used without particular limitation, and examples thereof include a resin laminated board such as an epoxy resin laminated board. The conductor member 602 functions as a connection terminal, and can be formed by a known method such as a method of photo-etching a copper foil. In the substrate for mounting an optical semiconductor element, a thermosetting resin composition is transfer-molded between a plurality of conductor members 602 on the base material 601 and heat-cured to form a resin layer 603 composed of the thermosetting resin composition. It can be produced by. The heating conditions for heat-curing the layer made of the transfer-molded thermosetting resin composition are not particularly limited, but for example, it is preferable to heat the layer at 130 to 200 ° C. for 30 to 600 minutes.

その後、導体部材602表面に余分に付着した樹脂成分は、バフ研磨等により除去し、導体部材602からなる回路を露出させ、光半導体素子搭載用基板とする。また、樹脂層603と導体部材602との密着性を確保するために、導体部材602に対して酸化還元処理、CZ処理(メック株式会社製)等の粗化処理を行なってもよい。 After that, the resin component excessively adhered to the surface of the conductor member 602 is removed by buffing or the like to expose the circuit composed of the conductor member 602 to form a substrate for mounting an optical semiconductor element. Further, in order to ensure the adhesion between the resin layer 603 and the conductor member 602, the conductor member 602 may be subjected to a roughening treatment such as a redox treatment and a CZ treatment (manufactured by MEC Co., Ltd.).

以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記形態に制限されるものではない。本発明は、その要旨を逸脱しない範囲で、上記実施形態とは異なる種々の態様で実施することができる。 Although preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments. The present invention can be implemented in various aspects different from the above embodiments without departing from the gist thereof.

以下、実施例及び比較例を示して本発明を具体的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to the following Examples.

なお、上記合成例、実施例及び比較例における各特性の測定方法は下記のとおりである。
(重量平均分子量(Mw)の測定)
シリコーン樹脂のMwは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法(GPC)により標準ポリスチレンによる検量線を用いて下記条件で測定した。
(GPC条件)
ポンプ:L−6200型(株式会社日立製作所製、商品名)
カラム:TSKgel―G5000HXL及びTSKgel−G2000HXL(東ソー株式会社製、商品名)
検出器:L−3300RI型(株式会社日立製作所製、商品名)
溶離液:テトラヒドロフラン
測定温度:30℃
流量:1.0mL/分とした。
The measurement method of each characteristic in the above synthesis example, example and comparative example is as follows.
(Measurement of weight average molecular weight (Mw))
The Mw of the silicone resin was measured by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions using a calibration curve using standard polystyrene.
(GPC condition)
Pump: L-6200 type (manufactured by Hitachi, Ltd., product name)
Columns: TSKgel-G5000HXL and TSKgel-G2000HXL (manufactured by Tosoh Corporation, trade name)
Detector: L-3300RI type (manufactured by Hitachi, Ltd., product name)
Eluent: Tetrahydrofuran Measurement temperature: 30 ° C
Flow rate: 1.0 mL / min.

(アルケニル基含有量の測定)
「FT−NMR AV400M」(ブルカー・バイオスピン株式会社製、商品名)を用いて、シリコーン樹脂のH−NMR測定を行い、シリコーン樹脂中のアルケニル基及びアルキル基の含有量を測定した。測定条件は、シリコーン樹脂を0.5質量%含むように調整した重クロロホルム溶液を用い、積算回数(NS)を32とした。
(Measurement of alkenyl group content)
Using "FT-NMR AV400M" (manufactured by Bruker Biospin Co., Ltd., trade name), 1 H-NMR measurement of the silicone resin was performed, and the contents of alkenyl groups and alkyl groups in the silicone resin were measured. As the measurement conditions, a deuterated chloroform solution adjusted to contain 0.5% by mass of a silicone resin was used, and the number of integrations (NS) was 32.

(アルケニル基当量の測定)
JIS K 0070:1992に従い、ヨウ素価を測定した。測定されたヨウ素価及び(1)にて測定した重量平均分子量からアルケニル基当量を算出した。
(Measurement of alkenyl group equivalent)
Iodine value was measured according to JIS K 0070: 1992. The alkenyl group equivalent was calculated from the measured iodine value and the weight average molecular weight measured in (1).

<シリコーン樹脂の合成>
以下の手順に従い、アルケニル基含有シリコーン樹脂、ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂及びメチルフェニルシリコーン樹脂を得た。
(合成例1)
フェニルトリクロロシラン100g、両末端ジメチルクロロシラン−ポリジメチルシロキサン53g及びメチルビニルジクロロシラン8.5gをトルエン200gに溶解した溶液を、発熱しないようにゆっくり水1000g中に滴下し加水分解した。次いで、還流条件で60分攪拌した後、有機層を水酸化カリウムで中和し、共沸脱水後、トルエン等の溶剤を留去し、無色液状のアルケニル基含有シリコーン樹脂を得た。Mwは3685であり、アルケニル基当量1585g/molであった。
<Synthesis of silicone resin>
An alkenyl group-containing silicone resin, a hydrosilyl group-containing silicone resin, and a methylphenyl silicone resin were obtained according to the following procedure.
(Synthesis Example 1)
A solution prepared by dissolving 100 g of phenyltrichlorosilane, 53 g of both-terminal dimethylchlorosilane-polydimethylsiloxane and 8.5 g of methylvinyldichlorosilane in 200 g of toluene was slowly added dropwise to 1000 g of water so as not to generate heat and hydrolyzed. Then, after stirring under reflux conditions for 60 minutes, the organic layer was neutralized with potassium hydroxide, azeotropically dehydrated, and then a solvent such as toluene was distilled off to obtain a colorless liquid alkenyl group-containing silicone resin. The Mw was 3685 and the alkenyl group equivalent was 1585 g / mol.

(合成例2)
ビニルトリメトキシシラン425g、メチルトリエトキシシラン1.2g、イソプロピルアルコール120g、トルエン240g、濃塩酸1.18g及び蒸留水31.4gを1000mlフラスコに加えて、170℃で時間にわたって還流しながら攪拌した。次にトルエンを減圧留去し、無色透明のアルケニル基含有シリコーン樹脂を得た。得られた樹脂は50%のアセトン溶液として保存した。Mwは4000であり、アルケニル基当量は85であった。
(Synthesis Example 2)
425 g of vinyltrimethoxysilane, 1.2 g of methyltriethoxysilane, 120 g of isopropyl alcohol, 240 g of toluene, 1.18 g of concentrated hydrochloric acid and 31.4 g of distilled water were added to a 1000 ml flask, and the mixture was stirred at 170 ° C. over time while refluxing. Next, toluene was distilled off under reduced pressure to obtain a colorless and transparent alkenyl group-containing silicone resin. The obtained resin was stored as a 50% acetone solution. The Mw was 4000 and the alkenyl group equivalent was 85.

(合成例3)
フェニルトリクロロシラン100g、両末端ジメチルクロロシラン−ポリジメチルシロキサン53g及びメチルジクロロシラン6.9gをトルエンに溶解した溶液を、発熱しないようにゆっくり水1000g中に滴下し加水分解した。次いで、還流条件で60分攪拌した後、有機層を水酸化カリウムで中和し、共沸脱水後、トルエン等の溶剤を留去し、無色透明のヒドロシリル基含有シリコーン樹脂を得た。Mwは3865であった。
(Synthesis Example 3)
A solution prepared by dissolving 100 g of phenyltrichlorosilane, 53 g of both-terminal dimethylchlorosilane-polydimethylsiloxane and 6.9 g of methyldichlorosilane in toluene was slowly added dropwise to 1000 g of water so as not to generate heat and hydrolyzed. Then, after stirring under reflux conditions for 60 minutes, the organic layer was neutralized with potassium hydroxide, azeotropically dehydrated, and then a solvent such as toluene was distilled off to obtain a colorless and transparent hydrosilyl group-containing silicone resin. Mw was 3865.

(合成例4)
メチルトリエトキシシラン89.2g、フェニルトリエトキシシラン99g、イソプロピルアルコール23.6g、トルエン23.6g、濃塩酸0.28g及び蒸留水36gを500mLフラスコに加えて、110℃で3時間にわたって還流しながら攪拌した。次に、トルエンを減圧留去することにより無色固形のメチルフェニルシリコーン樹脂を得た。次いでトリエトキシハイドロシラン23gを加えて、170℃で3時間にわたって加熱反応しアルコキシシランを縮合して得られたシリコーン樹脂の軟化点は89℃であり、Mwは2600であり、ケイ素原子に結合しているアリール基の割合は34%であった。
<光反射用熱硬化性樹脂組成物の調整>
表1及び表2に示す配合割合に従って、各成分を配合し、らいかい機によって室温で十分に混練分散することによって粉末状の熱硬化性白色樹脂組成物を得た。
<熱硬化物の成型>
実施例1〜6、比較例1〜2で得られた熱硬化性樹脂組成物を、金型温度180℃、圧力14MPa、硬化時間300秒の条件でトランスファー成型し、厚さ3mm、厚さ0,6mm、厚さ0.3mmの三種類の試験片を作製した。
(Synthesis Example 4)
89.2 g of methyltriethoxysilane, 99 g of phenyltriethoxysilane, 23.6 g of isopropyl alcohol, 23.6 g of toluene, 0.28 g of concentrated hydrochloric acid and 36 g of distilled water were added to a 500 mL flask, and the mixture was refluxed at 110 ° C. for 3 hours. Stirred. Next, toluene was distilled off under reduced pressure to obtain a colorless solid methylphenyl silicone resin. Next, 23 g of triethoxyhydrosilane was added and heated at 170 ° C. for 3 hours to condense the alkoxysilane. The softening point of the silicone resin was 89 ° C., Mw was 2600, and it was bonded to the silicon atom. The proportion of aryl groups was 34%.
<Adjustment of thermosetting resin composition for light reflection>
Each component was blended according to the blending ratios shown in Tables 1 and 2, and the mixture was sufficiently kneaded and dispersed at room temperature with a raker to obtain a powdery thermosetting white resin composition.
<Molding of thermosetting material>
The thermosetting resin compositions obtained in Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 2 were transfer-molded under the conditions of a mold temperature of 180 ° C., a pressure of 14 MPa, and a curing time of 300 seconds, to have a thickness of 3 mm and a thickness of 0. , 6 mm, and 0.3 mm thick test pieces were prepared.

<初期反射率の測定>
上記で得られた熱硬化物の試験片を用い、積分球型分光硬度計CM600d(コニタミノルタ株式会社製)を用いて、波長460nmにおける光反射率を測定した。また、厚み3.0mmの試験片で測定した初期反射率(R)に対する厚み0.3mmの試験片で測定した初期反射率(R)の差((R−R)/R)を算出した。

Figure 0006805546
Figure 0006805546
<Measurement of initial reflectance>
Using the test piece of the thermosetting product obtained above, the light reflectance at a wavelength of 460 nm was measured using an integrating sphere spectroscopic hardness tester CM600d (manufactured by Konita Minolta Co., Ltd.). Further, the difference ((R 2- R 1 ) / R 1 ) of the initial reflectance (R 2 ) measured with the test piece having a thickness of 0.3 mm with respect to the initial reflectance (R 1 ) measured with the test piece having a thickness of 3.0 mm. ) Was calculated.
Figure 0006805546
Figure 0006805546

なお、表1及び表2中、*1〜9の詳細は以下のとおりである。
*1:アルケニル基含有シリコーン樹脂(合成例1)
*2:アルケニル基含有シリコーン樹脂(合成例2)
*3:ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂(モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社製、商品名:TSF484)
*4:ヒドロシリル基含有熱硬化性シリコーン樹脂(合成例3)
*5:メチルフェニルシリコーン樹脂(合成例4、シリコーン樹脂(X))
*6:トリメトキシビニルシラン(信越化学株式会社製、商品名:KBM−1003)
*7:白金(0)−2,4,6,8−テトラメチル−2,4,6,8−テトラビニルシクロテトラシロキサン錯体(和光純薬工業株式会社製、白金1.7質量%)
*8:溶融シリカ(デンカ株式会社製、商品名:FB−950、中心粒径26μm)
*9:溶融シリカ(デンカ株式会社製、商品名:S440−4、中心粒径6μm)
*10:溶融シリカ(株式会社アドマテックス製、商品名:SO−25R、中心粒径1μm)
*11:酸化チタン(石原産業株式会社製、商品名:CR63、中心粒径0.2μm)
*12:酸化亜鉛(株式会社アドマッテクス製、商品名AO−802)
*13:中空粒子(住友スリーエム社製、商品名:S60−HS、中心粒径27μm、空隙部の屈折率1.0〜1.1)
*14:中空粒子(住友スリーエム社製、商品名:iM30K、中心粒径15μm、空隙部の屈折率1.0〜1.1)
The details of * 1 to 9 in Tables 1 and 2 are as follows.
* 1: Silicone resin containing an alkenyl group (Synthesis Example 1)
* 2: Silicone resin containing an alkenyl group (Synthesis Example 2)
* 3: Silicone resin containing hydrosilyl group (manufactured by Momentive Performance Materials Japan, trade name: TSF484)
* 4: Thermosetting silicone resin containing hydrosilyl group (Synthesis Example 3)
* 5: Methylphenyl silicone resin (Synthesis Example 4, Silicone Resin (X))
* 6: Trimethoxyvinylsilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., product name: KBM-1003)
* 7: Platinum (0) -2,4,6,8-tetramethyl-2,4,6,8-tetravinylcyclotetrasiloxane complex (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., platinum 1.7% by mass)
* 8: Fused silica (manufactured by Denka Co., Ltd., trade name: FB-950, center particle size 26 μm)
* 9: Fused silica (manufactured by Denka Co., Ltd., trade name: S440-4, center particle size 6 μm)
* 10: Fused silica (manufactured by Admatex Co., Ltd., trade name: SO-25R, center particle size 1 μm)
* 11: Titanium oxide (manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd., trade name: CR63, center particle size 0.2 μm)
* 12: Zinc oxide (manufactured by Admatex Co., Ltd., trade name AO-802)
* 13: Hollow particles (manufactured by Sumitomo 3M Ltd., trade name: S60-HS, center particle size 27 μm, refractive index of voids 1.0 to 1.1)
* 14: Hollow particles (manufactured by Sumitomo 3M Ltd., trade name: iM30K, center particle size 15 μm, refractive index of voids 1.0 to 1.1)

表1及び表2に示すとおり、厚さ3mmから厚さ0.3mmへ成形体を薄型化した際の反射率の低減について、中空粒子を含有しない比較例1及び2よりも実施例1〜6のほうが高度に抑制できていることが確認できた。 As shown in Tables 1 and 2, the reduction of reflectance when the molded product is thinned from a thickness of 3 mm to a thickness of 0.3 mm is compared with Examples 1 to 6 as compared with Comparative Examples 1 and 2 containing no hollow particles. It was confirmed that was more highly suppressed.

本発明によれば、薄厚でも十分な反射率を備える硬化物を形成することができる熱硬化性樹脂組成物、該熱硬化性樹脂組成物を用いた光半導体素子搭載用基板及びその製造方法、並びに、光半導体装置を提供することができる。 According to the present invention, a thermosetting resin composition capable of forming a cured product having sufficient reflectance even if it is thin, a substrate for mounting an optical semiconductor device using the thermosetting resin composition, and a method for producing the same. In addition, an optical semiconductor device can be provided.

100…光半導体素子、101…透明封止樹脂、102…ボンディングワイヤ、103…リフレクター、103’…絶縁性樹脂成形体、104…Ni/Agめっき、105…金属配線、106…蛍光体、107…はんだバンプ、110…光半導体素子搭載用基板、150…樹脂注入口、151…金型、200…光半導体素子搭載領域、300…LED素子、301…ボンディングワイヤ、302…透明封止樹脂、303…リフレクター、304…リード、305…蛍光体、306…ダイボンド材、400…銅張積層板、401…基材、402…樹脂層、403…銅箔、404…封止樹脂、408…接着層、409…ボンディングワイヤ、410…光半導体素子、500,600…光半導体装置、601…基材、602…導体部材、603…樹脂層、604…封止樹脂、608…接着層、609…ボンディングワイヤ、610…光半導体素子。 100 ... Optical semiconductor device, 101 ... Transparent sealing resin, 102 ... Bonding wire, 103 ... Reflector, 103'... Insulating resin molded body, 104 ... Ni / Ag plating, 105 ... Metal wiring, 106 ... Fluorescent material, 107 ... Solder bump, 110 ... Optical semiconductor device mounting substrate, 150 ... Resin injection port, 151 ... Mold, 200 ... Optical semiconductor device mounting area, 300 ... LED element, 301 ... Bonding wire, 302 ... Transparent sealing resin, 303 ... Reflector, 304 ... lead, 305 ... phosphor, 306 ... die bonding material, 400 ... copper-clad laminate, 401 ... base material, 402 ... resin layer, 403 ... copper foil, 404 ... sealing resin, 408 ... adhesive layer, 409 ... Bonding wire, 410 ... Optical semiconductor device, 500, 600 ... Optical semiconductor device, 601 ... Base material, 602 ... Conductor member, 603 ... Resin layer, 604 ... Sealing resin, 608 ... Adhesive layer, 609 ... Bonding wire, 610 … Optical semiconductor device.

Claims (11)

ヒドロシリル基含有シリコーン樹脂、アルケニル基含有シリコーン樹脂及び空隙部の屈折率が1.0〜1.1である中空粒子を含み、
前記中空粒子の外殻が、珪酸ソーダガラスであり、
前記中空粒子の含有量が、熱硬化性樹脂合計100質量部に対して10〜80質量部である、熱硬化性樹脂組成物。
Hydrosilyl group-containing silicone resin, an alkenyl group-containing silicone resin and void portions refractive index of seeing containing hollow particles is 1.0 to 1.1,
The outer shell of the hollow particles is soda glass silicate.
A thermosetting resin composition in which the content of the hollow particles is 10 to 80 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total thermosetting resin.
前記中空粒子が粒径0.1〜100μmの粒子を含む請求項1に記載の熱硬化性樹脂組成物。 The thermosetting resin composition according to claim 1, wherein the hollow particles contain particles having a particle size of 0.1 to 100 μm. さらに酸化チタン、酸化亜鉛、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化アンチモン、酸化ジルコニウム、水酸化アルミニウム、及び水酸化マグネシウムからなる群より選ばれる少なくとも一種の顔料を含む、請求項1又は2に記載の熱硬化性樹脂組成物。 Further titanium oxide, zinc oxide, oxidation aluminum, magnesium oxide, antimony oxide, zirconium oxide, aluminum hydroxide, and at least one pigment selected from the group consisting of magnesium hydroxide, heat according to claim 1 or 2 Curable resin composition. タブレット状である、請求項1〜のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物。 The thermosetting resin composition according to any one of claims 1 to 3 , which is in the form of a tablet. 請求項1〜のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物から形成される、硬化物。 A cured product formed from the thermosetting resin composition according to any one of claims 1 to 4 . 底面及び壁面から構成される凹部を有し、当該凹部の前記底面が光半導体素子の搭載部であり、前記凹部の前記壁面の少なくとも一部に請求項1〜のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物から形成された成形体を有する、光半導体素子搭載用基板。 The method according to any one of claims 1 to 4 , which has a recess composed of a bottom surface and a wall surface, wherein the bottom surface of the recess is a mounting portion for an optical semiconductor element, and at least a part of the wall surface of the recess has a recess. A substrate for mounting an optical semiconductor device, which has a molded body formed from a thermosetting resin composition. 基板と、当該基板上に設けられた第1の接続端子及び第2の接続端子とを備え、
前記第1の接続端子と前記第2の接続端子との間に、請求項1〜のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物から形成された成形体を有する、光半導体素子搭載用基板。
A board and a first connection terminal and a second connection terminal provided on the board are provided.
Mounted on an optical semiconductor device having a molded body formed from the thermosetting resin composition according to any one of claims 1 to 4 between the first connection terminal and the second connection terminal. Board for.
底面及び壁面から構成される凹部を有する光半導体素子搭載用基板の製造方法であって、前記凹部の前記壁面の少なくとも一部を、請求項1〜のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物を用いてトランスファー成形又はコンプレッション成形して形成する工程を備える、光半導体素子搭載用基板の製造方法。 The thermosetting according to any one of claims 1 to 4 , which is a method for manufacturing a substrate for mounting an optical semiconductor device having a recess composed of a bottom surface and a wall surface, wherein at least a part of the wall surface of the recess is heat-curable. A method for manufacturing a substrate for mounting an optical semiconductor device, comprising a step of forming by transfer molding or compression molding using a resin composition. 請求項又はに記載の光半導体素子搭載用基板と、当該光半導体素子搭載用基板に搭載された光半導体素子と、を備える、光半導体装置。 An optical semiconductor device including the optical semiconductor element mounting substrate according to claim 6 or 7, and the optical semiconductor element mounted on the optical semiconductor element mounting substrate. 請求項1〜のいずれか一項に記載の熱硬化性樹脂組成物の硬化物を備える、光学部材用プリント配線板。 A printed wiring board for an optical member, comprising a cured product of the thermosetting resin composition according to any one of claims 1 to 4 . 請求項10に記載の光学部材用プリント配線板と、光半導体素子と、該光半導体素子を封止するための封止樹脂と、を備える、光半導体装置。 An optical semiconductor device comprising the printed wiring board for an optical member according to claim 10 , an optical semiconductor element, and a sealing resin for sealing the optical semiconductor element.
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