JP6804621B1 - 半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置 - Google Patents

半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6804621B1
JP6804621B1 JP2019199775A JP2019199775A JP6804621B1 JP 6804621 B1 JP6804621 B1 JP 6804621B1 JP 2019199775 A JP2019199775 A JP 2019199775A JP 2019199775 A JP2019199775 A JP 2019199775A JP 6804621 B1 JP6804621 B1 JP 6804621B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
peripheral
opening
reaction
disk
center
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019199775A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021034709A (ja
Inventor
チョウ,チェホ
イ,ジェジュン
ハン,ミョンピル
Original Assignee
ミラエボ カンパニー リミテッド
ミラエボ カンパニー リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ミラエボ カンパニー リミテッド, ミラエボ カンパニー リミテッド filed Critical ミラエボ カンパニー リミテッド
Application granted granted Critical
Publication of JP6804621B1 publication Critical patent/JP6804621B1/ja
Publication of JP2021034709A publication Critical patent/JP2021034709A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D45/00Separating dispersed particles from gases or vapours by gravity, inertia, or centrifugal forces
    • B01D45/04Separating dispersed particles from gases or vapours by gravity, inertia, or centrifugal forces by utilising inertia
    • B01D45/06Separating dispersed particles from gases or vapours by gravity, inertia, or centrifugal forces by utilising inertia by reversal of direction of flow
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4412Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D45/00Separating dispersed particles from gases or vapours by gravity, inertia, or centrifugal forces
    • B01D45/04Separating dispersed particles from gases or vapours by gravity, inertia, or centrifugal forces by utilising inertia
    • B01D45/08Separating dispersed particles from gases or vapours by gravity, inertia, or centrifugal forces by utilising inertia by impingement against baffle separators
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D46/00Filters or filtering processes specially modified for separating dispersed particles from gases or vapours
    • B01D46/56Filters or filtering processes specially modified for separating dispersed particles from gases or vapours with multiple filtering elements, characterised by their mutual disposition
    • B01D46/58Filters or filtering processes specially modified for separating dispersed particles from gases or vapours with multiple filtering elements, characterised by their mutual disposition connected in parallel
    • B01D46/60Filters or filtering processes specially modified for separating dispersed particles from gases or vapours with multiple filtering elements, characterised by their mutual disposition connected in parallel arranged concentrically or coaxially
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D2258/00Sources of waste gases
    • B01D2258/02Other waste gases
    • B01D2258/0216Other waste gases from CVD treatment or semi-conductor manufacturing
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D46/00Filters or filtering processes specially modified for separating dispersed particles from gases or vapours
    • B01D46/10Particle separators, e.g. dust precipitators, using filter plates, sheets or pads having plane surfaces
    • B01D46/106Ring-shaped filtering elements

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

【課題】 半導体製造工程中における1次反応副産物捕集装置と真空ポンプとの間に設置され、前工程の1次反応物捕集装置から排出された排気ガス中に含まれている未捕集の反応副産物を再度除去するように、多様な形態を有する捕集ディスクの上下位置を組み合わせて垂直配列された形で設置し、流入した排気ガスの流路方向及び移動速度の調節によって各捕集ディスクから高効率で反応副産物を捕集する反応副産物捕集装置を提供する。【解決手段】 本発明は、ガス流入口を有する上板、及び内部へ延びるように突出したガス排出口と締結口を有する下板が設けられ、流入した排気ガスを収容の後に排出する円筒管状のハウジングと、前記ハウジングの内部に垂直配列された形で設置され、流入した排気ガス中から反応副産物を捕集する流路方向転換式ディスク捕集塔とから構成される、半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置を提供する。【選択図】 図3

Description

本発明は、半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置に係り、より詳細には、半導体を製造するプロセスチャンバから排出された排気ガス中に含まれている反応副産物(反応副生成物)を捕集する反応物捕集装置の後段に設置され、1次に反応副産物が除去された排気ガス中に残っている微量の未捕集反応副産物を、排気ガスの流路方向転換を介して多段階の捕集過程を経て除去する2次反応副産物捕集装置に関する。
一般に、半導体製造工程は、大きく前工程(ファブリケーション(Fabrication)工程)と後工程(アセンブリ(Assembly)工程)からなる。
前記前工程とは、各種のプロセスチャンバ内でウエハー上に薄膜を蒸着し、蒸着された薄膜を選択的にエッチングする過程を繰り返し行うことにより、特定のパターンを加工する半導体チップを製造する工程をいう。
また、前記後工程とは、前記前工程でウエハー上に製造されたチップを個別に切断して分離した後、リードフレームと結合して完成品に組み立てるパッケージ(package)工程をいう。
より具体的には、前記前工程は、ウエハー上に薄膜を蒸着したり、ウエハー上に蒸着された薄膜をエッチングしたりする工程を指し、プロセスチャンバ内に工程に応じて選択的にSiH(シラン)、アルシン、塩化ホウ素、水素、WF(六フッ化タングステン)、TiCl(四塩化チタン)、NH(アンモニア)などの反応ガスの少なくとも1種が注入されて高温で薄膜蒸着工程を行う。この際、プロセスチャンバ内には、各種の発火性ガスや、腐食性異物及び有毒成分を含有した有害ガスなどが多量に発生する。
このような有害ガスを浄化して放出するために、半導体製造設備には、プロセスチャンバを真空状態にする真空ポンプと、真空ポンプの後段に設置され、プロセスチャンバから排出される排気ガスを浄化して大気に放出するスクラバー(Scrubber)とが備えられる。
ただし、スクラバーは、単にガス状の反応副産物のみを浄化して処理するので、反応副産物がプロセスチャンバの外部へ排出された後に固形化すると、排気ラインに固着して排気圧力を上昇させたり、真空ポンプに流入してポンプの故障を起こしたり、プロセスチャンバに有害ガスが逆流してウエハーを汚染させたりするなどの様々な問題点が生じる。
このため、半導体製造設備は、プロセスチャンバと真空ポンプとの間に反応副産物捕集装置を設置し、プロセスチャンバから排出される排気ガスを凝集させるように構成される。
このような反応副産物捕集装置は、プロセスチャンバ及び真空ポンプとポンピングラインで連結され、プロセスチャンバから反応の後に排出された排気ガス中に含まれている粒子状反応副産物を凝集して捕集する。
しかし、顧客社の工程変化及び反応ガス量の増加趨勢により、上述したように反応副産物捕集装置のみでは完全な反応副産物の除去が難しいため、排出される排気ガス中に未捕集の粒子状反応副産物が残っていることがあり、これにより真空ポンプに損傷を与えるおそれがあるという問題点がある。
韓国登録特許第10−0717837号公報(2007年5月7日) 韓国登録特許第10−0862684号公報(2008年10月2日) 韓国登録特許第10−1447629号公報(2014年9月29日) 韓国登録特許第10−1806480号公報(2017年12月1日)
本発明は、かかる問題点を解決するためのもので、その目的は、半導体製造工程中における1次反応副産物捕集装置と真空ポンプとの間に設置され、前工程の1次反応物捕集装置から排出された排気ガス中に含まれている未捕集の反応副産物を再度除去するように、多様な形態を有する捕集ディスクの上下位置を組み合わせて垂直配列された形で設置し、流入した排気ガスの流路方向及び移動速度の調節によって各捕集ディスクから高効率で反応副産物を捕集する反応副産物捕集装置を提供することにある。
上記の目的を達成し且つ従来の欠点を除去する課題を解決するための本発明は、半導体プロセスのプロセスチャンバから排出された排気ガス中の反応副産物を捕集する1次反応副産物捕集装置を経た排気ガス中に含まれている未捕集の反応副産物を再度捕集して真空ポンプに供給する反応副産物捕集装置において、
ガス流入口を有する上板、及び内部へ延びるように突出したガス排出口と締結口を有する下板が設けられ、流入した排気ガスを収容の後に排出する円筒管状のハウジングと、前記ハウジングの内部に垂直配列された形で設置され、流入した排気ガスから反応副産物を捕集する流路方向転換式ディスク捕集塔とから構成され、
前記流路方向転換式ディスク捕集塔は、互いに異なる外形を有する周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクをそれぞれ少なくとも一つずつ備えて上下に組み合わせて配列し、これらを貫通して上下に一定間隔で離間させて一体化させる間隔維持締結棒、及び一定間隔で離間して一体化された各捕集ディスクをハウジングの下板の上面から離隔させてガス排出口の上方側に位置するように設置する支持部をさらに備えて構成されたことを特徴とする、半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置を提供する。
好適な実施形態において、前記流路方向転換式ディスク捕集塔の上下間の配置構造は、上段から周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク、周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク、周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク、周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクの順に垂直配列することにより、排気ガスが下部に流下してハウジングの中央と外郭を交互に流れながら、初期には下部で反応副産物の捕集が行われ、次第に上部で反応副産物の捕集が行われるように構成されてもよい。
好適な実施形態において、前記周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスクは、面状体の中央部に設けられたメッシュ部と、面状体の周辺に沿って円形配列された複数の開口部と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部とから構成され、前記メッシュ部と開口部との間の面状体には、間隔維持締結棒が貫通するように複数の締結ホールが円形配列されて設けられ、前記隣接する開口部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部が貫通する支持部ホールが設けられてもよい。
好適な実施形態において、前記周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスクは、面状体の中央部に設けられた開口部と、面状体の周辺に沿って円周方向に設けられた2つのメッシュ部と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部とから構成され、前記開口部とメッシュ部との間の面状体には、間隔維持締結棒が貫通するように複数の締結ホールが円形配列されて設けられ、前記隣接するメッシュ部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部が貫通する支持部ホールが設けられてもよい。
好適な実施形態において、前記周辺閉塞−中心開口型捕集ディスクは、面状体の中央部に設けられた開口部と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部とから構成され、前記開口部が設けられていない面状体には、開口部の円形の周りに沿って間隔維持締結棒が貫通するように複数の締結ホールが円形配列されて設けられ、前記開口部が設けられていない面状体には、少なくとも2箇所に支持部が貫通する支持部ホールが設けられてもよい。
好適な実施形態において、前記周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクは、面状体の周辺に沿って円形配列された複数の開口部と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部とから構成され、前記開口部が設けられていない中央部の面状体の周縁には、間隔維持締結棒が貫通するように複数の締結ホールが円形配列されて設けられ、前記隣接する開口部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部が貫通する支持部ホールが設けられてもよい。
好適な実施形態において、前記間隔維持締結棒は、一つの棒状をし、周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクの面状体の同一位置に設けられた各締結ホール間を垂直に貫通した後、締結ホールとの接触部を溶接して固定構成するが、反応副産物の成長サイズ(<5mm)を考慮したサイズの離隔間隔で離隔させてもよい。
好適な実施形態において、前記支持部は、棒状の外部管と、その中に挿入されたねじ山付き棒状ボルトとから構成され、前記外部管は周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクの面状体の同一位置に設けられた支持部ホールを貫通して締結部間の接触部位が溶接固定されて一体化され、ボルトの下端はハウジングの下板の上面に少なくとも2つ設けられた締結口に挿入されて螺合によって固定され、上端は周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスクの支持部ホールを貫通してナットで締結されることにより、上端の位置が固定されてもよい。
上述した特徴を有する本発明に係る反応副産物捕集装置は、半導体製造工程中における1次反応副産物捕集装置と真空ポンプとの間に設置され、前工程の1次反応物捕集装置から排出された排気ガス中に含まれている未捕集の反応副産物を再び除去するように、多様な形態を有する捕集ディスクの上下位置を組み合わせて配列した流路方向転換式ディスク捕集塔をハウジングの内部に垂直配列された形で設置した反応副産物捕集装置を備え、流入した排気ガスの流路方向及び移動速度を調節することにより、流入した排気ガスが、多段に垂直配列された捕集ディスクを順次経て、排気ガスの方向が交互に転換されながら形成される長い移動経路、及び水平方向と開口による主な流れとメッシュによる補助流れとの移動速度の差により発生する渦流により各捕集ディスクで十分な反応副産物捕集時間と衝突回数が増加し、排気ガス中に含まれている未捕集の反応副産物を高効率で除去することができるという効果を持つ。
また、メッシュ型を備えた捕集ディスクを序盤部に位置させ、ガス流入口を介してハウジングの内部に流入した初期排気ガスが、流路方向転換式ディスク捕集塔の上段部で先に捕集されず、下部に位置した閉塞構造を持つ捕集ディスクへ流れて先に捕集された後、上段部へ流れて順次捕集されるようにすることにより、捕集面積を高効率で使用することができという効果を持つ。
また、流路方向転換式ディスク捕集塔を構成する各捕集ディスク間を上下に一定間隔で離間させることにより、反応副産物の成長サイズ(<5mm)を考慮して、スムーズかつ高効率で継続的な反応副産物の捕集が可能であるという効果を持つ。
上述したように、本発明は、さまざまな効果を持つ有用な発明であって、産業上その利用が大きく期待される発明である。
本発明の一実施形態に係る反応副産物捕集装置の斜視図である。 本発明の一実施形態に係る反応副産物捕集装置の断面図である。 本発明の一実施形態に係る流路方向転換式ディスク捕集塔の全体構成図である。 本発明の一実施形態に係る周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスクの構成図である。 本発明の他の実施形態に係る周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスクの構成図である。 本発明の別の実施形態に係る周辺閉塞−中心開口型捕集ディスクの構成図である。 本発明の別の実施形態に係る周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクの構成図である。 本発明に係る反応副産物捕集装置が設置された位置を示す全体構成図である。 本発明の一実施形態に係る反応副産物捕集装置の排気ガスの流れを示す図である。
以下、本発明の実施形態の構成及びその作用を添付図面に基づいて詳細に説明する。また、本発明を説明するにあたり、関連した公知の機能または構成についての具体的な説明が本発明の要旨を不明瞭にするおそれがあると判断された場合は、その詳細な説明を省略する。
図1は本発明の一実施形態に係る反応副産物捕集装置の斜視図、図2は本発明の一実施形態に係る反応副産物捕集装置の断面図、図3は本発明の一実施形態に係る流路方向転換式ディスク捕集塔の全体構成図、図4は本発明の一実施形態に係る周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスクの構成図、図5は本発明の他の実施形態に係る周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスクの構成図、図6は本発明の別の実施形態に係る周辺閉塞−中心開口型捕集ディスクの構成図、図7は本発明の別の実施形態に係る周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクの構成図、図8は本発明に係る反応副産物捕集装置が設置された位置を示す全体構成図である。
図示の如く、本発明に係る反応副産物捕集装置の構成は、大きく、本体をなすハウジング1と、前記ハウジング1の内部に垂直配列された形で設置され、流入した排気ガスから反応副産物を捕集する流路方向転換式ディスク捕集塔2とで構成される。
ハウジング1は、円筒管状をし、上部にはガス流入口11を有する上板12が設けられ、下部にはハウジング1の内部へ延びて突出したガス排出口13を有するため反応副産物の除去された排気ガスを排出する下板14が設けられ、流入した排気ガスを収容の後に排出するように構成される。
前記上板12に設けられたガス流入口は、上方に突出した形状を有し、ハウジング1の内部の下方には突出しないように形成され、ハウジングの内部に流入した排気ガスが流路方向転換式ディスク捕集塔2及びハウジング1の内壁の方向にまんべんなく供給されるように構成される。
前記下板14に設けられたガス排出口13は、外方に突出するだけでなく、ハウジング1の内部に突出して高さが延びた形状を持つように構成される。このように構成した理由は、ハウジング1の下板14と高さが延びたガス排出口13の周辺に渦流を形成して、流路方向転換式ディスク捕集塔2における反応捕集物の捕集量を増大させるとともに、捕集された反応捕集物が直接真空ポンプへ流出することを防止または減少させるためである。
また、下板14は、上面に少なくとも2つの締結口15が突設され、その内部の溝に形成されたねじ山に、流路方向転換式ディスク捕集塔2の荷重を支持する支持部26の下端が螺合して締結される。このような締結によって、流路方向転換式ディスク捕集塔2が垂直配列された形でガス排出口の上端から一定間隔で離隔した状態で設置される。
流路方向転換式ディスク捕集塔2は、大きく、互いに異なる外形を有する周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23、及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24をそれぞれ少なくとも一つずつ備え、これらを貫通して上下に一定間隔で離間させて一体化させる間隔維持締結棒25、及び一定間隔で離間して一体化された各捕集ディスクをハウジングの下板の上面から離隔させてガス排出口の上方側に位置するように設置する支持部26をさらに備えて構成することにより、流入した排気ガスが下部に流下してハウジングの中央と外郭を交互に流れるようにして、再度、排気ガスから反応副産物を捕集するように構成される。
前記流路方向転換式ディスク捕集塔2は、本発明の図示された一実施形態に係る上下間の配置構造が、上段から周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22、周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23、周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23、周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24の順に垂直配列された状態となるように設置した。このような構成によって、最終的に排出される排気ガスが、下板から上方に突出したガス排出口の上端を介して直接排出されず、下板の底面からガス排出口の周りに沿って上端へ上昇した後に流入するようになる。
前述した実施形態のような設置構成によって、流入した排気ガスが流下してハウジングの中央と外郭を交互に流れながら、排気ガス中に含まれている未捕集の反応副産物が捕集され、その後、ガス排出口を介して、その下端に連結された真空ポンプへ流入するようになる。
前述したように流路方向転換式ディスク捕集塔2を構成する様々な形状を持つ捕集ディスクの形状に応じて上下の位置を定めた理由は、一つ目は、排気ガスの流れを中央と外郭を交互に(ジグザグ状に)流れるように誘導するためであり、二つ目は、排気ガス流路の延長及び衝突回数を増加させて捕集効率を増加させるためであり、三つ目は、メッシュ状の部分を有する捕集ディスクを序盤部に位置させ、ガス流入口を介してハウジングの内部に流入された初期排気ガスが流路方向転換式ディスク捕集塔の上段部で先に捕集されず、下部に位置した閉塞構造を持つ捕集ディスクへ流れて先に捕集された後、上段部へ流れて順次捕集されるようにすることにより、捕集面積を高効率で使用するためであり、四つ目は、上下に一定間隔で捕集ディスク同士を離間させることにより、反応副産物の成長サイズ(<5mm)を考慮してスムーズかつ高効率で継続的な反応副産物の捕集が行われるようにするためである。
ただし、図示された一実施形態に係る設置構造と個数は、本発明を限定するものではなく、ハウジングの大きさに応じて変形実施し得るのはもとよりである。
以下、具体的に周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23、周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24、間隔維持締結棒25、及び支持部26の構成について説明する。
周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21は、面状体の中央部に形成されたメッシュ部211と、面状体の周辺に沿って円形配列された複数の開口部212と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部213とから構成される。
前記メッシュ部は、一実施形態として円形に形成される。メッシュ部は、流入した排気ガスと接触して反応副産物を凝集して捕集する。この時、閉塞構造の面状に構成せず、メッシュ形状に構成した理由は、垂直構造で一定間隔で離隔して多段配列された流路方向転換式ディスク捕集塔の序盤部に周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21を位置させ、ガス流入口を介してハウジングの内部に流入した初期排気ガスが、上段部で先に多く捕集されず、下部に位置した閉塞構造を持つ周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24へ流れて先に捕集された後、上段部へ流れて順次捕集されるようにするためである。
前記メッシュ部211は、四角形または円形形状の個別開口が複数配列された形状を有する。このような構造によって、排気ガスの垂直方向移動の際に負荷が生じて補助流れの役割を果たす。
前記開口部212は、円形に形成されたメッシュ部の周りに沿って複数設けられ、流入した排気ガスの下部垂直方向の移動のための主流通路となる。
前記ガイド縁部213は、周縁に沿って上方に突出し、流入した排気ガスの流れが外側方向であるハウジングの内壁の方向に流出することを可能な限り防ぐ一種の漏れ遮断壁の役割を果たしながら、排気ガスを内側へと誘導して捕集効率を増大させる役割も果たす。このようなガイド縁部のため、上部から流入した排気ガスが開口部へ流れることができる。
前記メッシュ部と開口部との間の面状体には、間隔維持及び一体と溶接のための間隔維持締結棒25が貫通するように、複数の締結ホール214が円形配列されて設けられる。この締結ホール214には、図示された一実施形態のように複数の間隔維持締結棒が挿入される。図示された一実施形態では、間隔維持締結棒が4つ設置されるが、このような設置個数は本発明を限定するものではない。
締結ホール214とこれを貫通した間隔維持締結棒25の周面との間は溶接固定され、上下に位置した捕集ディスクを一定間隔で離隔させる。これにより、上下の捕集ディスク同士の間に形成される空間部は、流入した排気ガスの水平方向の移動のための主流通路となる。
前記隣接する開口部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部26が貫通する支持部ホール215が設けられる。支持部ホールと支持部との接触部は溶接されて固定される。周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21の支持部ホールを貫通した最上段の支持部26にはナットが締結されることにより、上端の位置を固定する。
周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22は、面状体の中央部に設けられた開口部221と、面状体の周辺に沿って円周方向に形成された2つのメッシュ部222と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部223とから構成される。
前記開口部221は、円形ホール構造で構成され、流入した排気ガスの下部垂直方向の移動のための主流通路となる。
前記メッシュ部222は、流入した排気ガスと接触して反応副産物を凝集して捕集する。この時、閉塞構造の面状に構成せず、メッシュ状に構成した理由は、垂直構造で一定間隔で離間して多段配列された流路方向転換式ディスク捕集塔の序盤部に周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22を位置させ、ガス流入口を介してハウジングの内部に流入した初期排気ガスが上段部で先に多く捕集されず、下部に位置した閉塞構造を持つ周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24へ流れて先に捕集された後、上段部へ流れて順次捕集されるようにするためである。
前記メッシュ部222は、四角形または円形形状の個別開口が複数配列された形状を有する。このような構造により、排気ガスの垂直方向の移動時に負荷が生じて補助流れの役割を果たす。
前記ガイド縁部223は、周縁に沿って上方に突出し、流入した排気ガスの流れが外側(水平)方向であるハウジングの内壁の方向に流出することを可能な限り防ぐ一種の漏れ遮断壁の役割を果たしながら、排気ガスを内側へと誘導して捕集効率を増大させる役割も果たす。このようなガイド縁部のため、上部に流入した排気ガスがメッシュ部へ流れることができる。
前記開口部とメッシュ部との間の面状体には、間隔維持及び一体と溶接のための間隔維持締結棒25が貫通するように、複数の締結ホール224が円形配列されて設けられる。この締結ホール224には、図示された一実施形態のように複数の間隔維持締結棒が挿入される。図示された実施形態では、間隔維持締結棒が4つ設置されるが、このような設置個数は本発明を限定するものではない。
締結ホールとこれを貫通した間隔維持締結棒25の周面との間は溶接固定され、上下に位置した捕集ディスクを一定間隔で離間させる。これにより、上下の捕集ディスク同士の間に形成される空間部は、流入した排気ガスの水平方向の移動のための主流通路となる。
また、前記隣接するメッシュ部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部26が貫通する支持部ホール225が設けられる。支持部ホールと支持部との接触部は溶接されて固定される。
周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23は、面状体の中央部に設けられた開口部231と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部232とから構成される。
前記開口部231は、円形ホール構造からなり、流入した排気ガスの下部垂直方向の移動のための主流通路となる。
前記開口部が設けられていない面状体は、流入した排気ガスと接触して反応捕集物が形成される主な構成をなす。すなわち、閉塞構造の面状に構成することにより、垂直構造で一定間隔で離間して多段配列された流路方向転換式ディスク捕集塔の終盤部に周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23を位置させ、ガス流入口を介してハウジング内部に流入した初期排気ガスが上段部ではなく下部で先に捕集された後、上段部に位置した周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22及び周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21で順次捕集されるようにするためである。
前記ガイド縁部232は、周縁に沿って上方に突出し、流入した排気ガスの流れが外側方向であるハウジングの内壁方向に流出することを可能な限り防ぐ一種の漏れ遮断壁の役割を果たしながら、排気ガスを内側へと誘導して捕集効率を増大させる役割も果たす。このようなガイド縁部のため、上部から流入した排気ガスが開口部へ流れることができる。
また、開口部が設けられていない面状体には、開口部の円形の周りに沿って間隔維持及び一体と溶接のための間隔維持締結棒25が貫通するように、複数の締結ホール233が円形配列されて形成される。この締結ホールには、図示された一実施形態のように、複数の間隔維持締結棒が挿入される。図示された一実施形態では、間隔維持締結棒が4つ設置されるが、この設置個数は本発明を限定するものではない。
締結ホールとこれを貫通した間隔維持締結棒25の周面との間は溶接固定され、上下に位置した捕集ディスクを一定間隔で離間させる。これにより、上下の捕集ディスク同士の間に形成される空間部は、流入した排気ガスの水平方向の移動のための主流通路となる。
また、前記開口部が設けられていない面状体には、少なくとも2箇所に、支持部26が貫通する支持部ホール234が設けられる。支持部ホールと支持部との接触部は溶接されて固定される。
周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24は、面状体の周辺に沿って円形配列された複数の開口部241と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部242とから構成される。
前記開口部241は、円形に形成された中央面状体の周りに沿って複数設けられ、流入した排気ガスの下部垂直方向の移動のための主流通路となる。
前記開口部241が設けられていない中央部の面状体は、流入した排気ガスと接触して、反応捕集物が形成される主な構成をなす。すなわち、閉塞構造の面状に構成することにより、垂直構造で一定間隔で離間して多段配列された流路方向転換式ディスク捕集塔の終盤部に周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24を位置させ、ガス流入口を介してハウジングの内部に流入した初期排気ガスが、上段部ではなく下部で先に捕集された後、上段部に位置した周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22及び周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21で順次捕集されるようにするためである。
前記ガイド縁部242は、周縁に沿って上方に突出し、流入した排気ガスの流れが外側方向であるハウジングの内壁の方向に流出することを可能な限り防ぐ一種の漏れ遮断壁の役割を果たすとともに、排気ガスを内側へと誘導して捕集効率を増大させる役割も果たす。このようなガイド縁部のため、上部から流入した排気ガスが開口部へ流れることができる。
前記開口部が設けられていない中央部の面状体の周縁には、間隔維持及び一体と溶接のための間隔維持締結棒25が貫通するように、複数の締結ホール243が円形配列されて設けられる。この締結ホールには、図示された一実施形態のように複数の間隔維持締結棒が挿入される。図示された一実施形態では、間隔維持締結棒が4つ設置されるが、このような設置個数は本発明を限定するものではない。
締結ホールとこれを貫通した間隔維持締結棒25の周面との間は溶接固定され、上下に位置した捕集ディスクを一定間隔で離間させる。これにより、上下の捕集ディスク同士の間に形成される空間部は、流入した排気ガスの水平方向の移動のための主流通路となる。
また、前記隣接する開口部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部26が貫通する支持部ホール244が設けられる。支持部ホールと支持部との接触部は溶接されて固定される。
間隔維持締結棒25は、流路方向転換式ディスク捕集塔に流入した排気ガスから反応副産物を凝集して捕集の際に、反応副産物の成長サイズ(<5mm)を考慮し、上下に配置される周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24同士を一定間隔で離隔させる。
このような離隔間隔により、流入した排気ガスは、スムーズかつ高効率かつ継続的に反応副産物が成長しながら捕集される。
一つの棒状に構成された間隔維持締結棒25は、周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24の面状体の同一位置に設けられた各締結ホールを垂直に貫通し、締結ホールとの接触部が溶接されて上下間の位置を固定する。
支持部26は、棒状の外部管261と、その中に挿入されたねじ山付き棒状ボルト262とから構成される。
外部管は、周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24の面状体の同一位置に設けられた支持部ホールを貫通し、締結部間の接触部位が溶接固定されて一体化される。その後、外部管の内部にボルトが挿入されてハウジングの下板に結合されることにより位置が固定される。
前記棒状の外部管とその中に挿入されたねじ山の長さは、間隔維持締結棒25より長い。その理由は、間隔維持締結棒25が周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24間の位置離隔のためのサイズに形成されるが、間隔維持締結棒25は、一体化された流路方向転換式ディスク捕集塔の荷重を支持しながらハウジングの下板の上面から離隔させ、最下段に位置した周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24をガス排出口の上部側に位置させる構成であるからである。
前記支持部26のボルトの下端は、ハウジングの下板14の上面に少なくとも2つ設けられた締結口15に挿入されて螺合によって固定される。
また、前記支持部26のボルトの上端は、周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21の支持部ホールを貫通してナット263で締結されて上端の位置が固定される。
前述したように構成された本発明に係る反応副産物捕集装置Aは、半導体プロセスにおける半導体製造工程中にプロセスチャンバBから排出された排気ガス中の反応副産物を捕集する1次反応副産物捕集装置Cと真空ポンプDとの間に設置され、2次に反応副産物を捕集する装置である。
上述のように構成され、真空ポンプDの後段に設置されたスクラバーEに再度反応副産物の除去された排気ガスを供給する。
特に、本発明に係る反応副産物捕集装置Aは、真空ポンプの上段に設置されるようにコンパクトな構造で構成され、真空ポンプの故障を防止するために、1次反応物捕集装置から排出された排気ガス中に含まれている未捕集の反応副産物を再び除去する。
前記反応副産物捕集装置Aは、特にTiN−ALD、CVD工程を行うプロセスチャンバで工程ガスとして使用するTiCl(四塩化チタン)やNH(アンモニア)などのガスが薄膜蒸着工程の実行後に排出された排気ガス成分中に含まれている有毒ガス中の粒子状物質を1次反応物捕集装置で反応副産物として凝集させて捕集した後、排出させた排気ガス中に含まれている未反応または未捕集の反応副産物を再度捕集して、最終的に真空ポンプへ供給するように構成される。
図9は本発明の一実施形態に係る反応副産物捕集装置の排気ガスの流れを示す図である。
図示の如く、反応副産物捕集装置に流入した排気ガスの流れは、ハウジング1の上板12に設けられたガス流入口11を介して、前工程で1次反応副産物を捕集する反応副産物捕集装置から排出された排気ガスがハウジング1の内部に流入した後、流路方向転換式ディスク捕集塔2を構成する周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、 周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22、周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23、周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23、周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24の順に下降し、間隔維持締結棒25によって離隔している上下空間部を介して流入した排気ガスの主流が開口部を介して下部に流下しながらハウジングの中央と外郭を交互に流れるようにして反応副産物を捕集する。
この時、上段に位置した周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21及び周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22にはメッシュ部が備えられ、下段に位置した周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク23、周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク24には閉塞構造の面状部が備えられることにより、初期には接触面積の広い下段で反応副産物の捕集が行われ、次第に上段へと流れて反応副産物の捕集が行われる。
また、ガイド縁部によって、流入した排気ガスの流れが外側方向であるハウジングの内壁の方向へ流出することをできる限り防ぐ。
一方、流路方向転換式ディスク捕集塔2は、大きく互いに異なる外形を有する周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク21及び周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク22に形成されたメッシュ部を介して、排気ガスの流れが下部方向の補助流れを成しながら排気ガスを捕集するが、このようなメッシュ部による減速流れは、排気ガスの主流れと出会いながら移動速度の差により渦流が発生し、排気ガスの停滞が起こってより多くの反応生成物が捕集される。
本発明は、上述した特定の好適な実施形態に限定されず、特許請求の範囲に記載される本発明の要旨を逸脱することなく、当該発明の属する技術分野における通常の知識を有する者であれば、誰でも様々な変形実施が可能なのはもとより、それらの変更も特許請求の範囲に記載された範囲内に属する。
1 ハウジング
2 流路方向転換式ディスク捕集塔
11 ガス流入口
12 上板
13 ガス排出口
14 下板
15 締結口
21 周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク
22 周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク
23 周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク
24 周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク
25 間隔維持締結棒
26 支持部
211、222 メッシュ部
212、221、231、241 開口部
213、223、232、242 ガイド縁部
214、224、233、243 締結ホール
215、225、234、244 支持部ホール
261 外部管
262 ボルト
263 ナット
A 反応副産物捕集装置
B プロセスチャンバ
C 1次反応副産物捕集装置
D 真空ポンプ
E スクラバー

Claims (8)

  1. 半導体プロセスのプロセスチャンバから排出された排気ガス中の反応副産物を捕集する1次反応の副産物捕集装置を経た排気ガス中に含まれている未捕集の反応副産物を再度捕集して真空ポンプに供給する反応副産物捕集装置において、
    ガス流入口を有する上板、及び内部へ延びるように突出したガス排出口と締結口を有する下板が設けられ、流入した排気ガスを収容の後に排出する円筒管状のハウジングと、前記ハウジングの内部に垂直配列された形で設置され、流入した排気ガスから反応副産物を捕集する流路方向転換式ディスク捕集塔とから構成され、
    前記流路方向転換式ディスク捕集塔は、互いに異なる外形を有する周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク、周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク及び周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクをそれぞれ少なくとも一つずつ備えて上下に組み合わせて配列し、これらを貫通して上下に一定間隔で離間させて一体化させる間隔維持締結棒、及び一定間隔で離間して一体化された各捕集ディスクを前記ハウジングの前記下板の上面から離隔させて前記ガス排出口の上部側に位置するように設置する支持部をさらに備えて構成される、半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置。
  2. 前記流路方向転換式ディスク捕集塔の上下間の配置構造は、上段から前記周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、前記周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク、前記周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、前記周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク、前記周辺開口−中心閉塞型捕集ディスク、前記周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク、前記周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクの順に垂直配列することにより、排気ガスが下部に流下して前記ハウジングの中央と外郭を交互に流れながら、初期には下部で反応副産物の捕集が行われ、次第に上部で反応副産物の捕集が行われるように構成される、請求項1に記載の半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置。
  3. 前記周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスクは、面状体の中央部に設けられたメッシュ部と、面状体の周辺に沿って円形配列された複数の開口部と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部とから構成され、前記メッシュ部と前記開口部との間の面状体には、間隔維持締結棒が貫通するように複数の締結ホールが円形配列されて設けられ、隣接する前記開口部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部が貫通する支持部ホールが設けられる、請求項1または2に記載の半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置。
  4. 前記周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスクは、面状体の中央部に設けられた開口部と、面状体の周辺に沿って円周方向に設けられた2つのメッシュ部と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部とから構成され、前記開口部と前記メッシュ部との間の面状体には、間隔維持締結棒が貫通するように複数の締結ホールが円形配列されて設けられ、隣接する前記メッシュ部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部が貫通する支持部ホールが設けられる、請求項1または2に記載の半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置。
  5. 前記周辺閉塞−中心開口型捕集ディスクは、面状体の中央部に設けられた開口部と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部とから構成され、前記開口部が設けられていない面状体には、前記開口部の円形の周りに沿って間隔維持締結棒が貫通するように複数の締結ホールが円形配列されて設けられ、前記開口部が設けられていない面状体には、少なくとも2箇所に支持部が貫通する支持部ホールが設けられる、請求項1または2に記載の半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置。
  6. 前記周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクは、面状体の周辺に沿って円形配列された複数の開口部と、周縁に沿って垂直に上方に突出したガイド縁部とから構成され、前記開口部が設けられていない中央部の面状体の周縁には、間隔維持締結棒が貫通するように複数の締結ホールが円形配列されて設けられ、隣接する前記開口部同士の間の面状体の少なくとも2箇所には、支持部が貫通する支持部ホールが設けられる、請求項1または2に記載の半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置。
  7. 前記間隔維持締結棒は、一つの棒状をし、前記周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、前記周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク、前記周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク及び前記周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクの面状体の同一位置に設けられた各締結ホール間を垂直に貫通した後、前記締結ホールとの接触部を溶接して固定構成し、反応副産物の成長サイズ(<5mm)を考慮したサイズの離隔間隔で離隔させる、請求項1に記載の半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置。
  8. 前記支持部は、棒状の外部管と、その中に挿入されたねじ山付き棒状ボルトとから構成され、前記外部管は前記周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスク、前記周辺メッシュ−中心開口型捕集ディスク、前記周辺閉塞−中心開口型捕集ディスク、及び前記周辺開口−中心閉塞型捕集ディスクの面状体の同一位置に設けられた支持部ホールを貫通して締結部間の接触部位が溶接固定されて一体化され、ボルトの下端は前記ハウジングの前記下板の上面に少なくとも2つ設けられた締結口に挿入されて螺合によって固定され、上端は前記周辺開口−中心メッシュ型捕集ディスクの支持部ホールを貫通してナットで締結されることにより、上端の位置が固定される、請求項1に記載の半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置。
JP2019199775A 2019-08-21 2019-11-01 半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置 Active JP6804621B1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190102355A KR102209205B1 (ko) 2019-08-21 2019-08-21 반도체 공정용 유로방향 전환식 반응부산물 포집장치
KR10-2019-0102355 2019-08-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP6804621B1 true JP6804621B1 (ja) 2020-12-23
JP2021034709A JP2021034709A (ja) 2021-03-01

Family

ID=73836036

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019199775A Active JP6804621B1 (ja) 2019-08-21 2019-11-01 半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11173439B2 (ja)
JP (1) JP6804621B1 (ja)
KR (1) KR102209205B1 (ja)
CN (1) CN112403108B (ja)
TW (1) TWI735075B (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102508977B1 (ko) * 2021-06-24 2023-03-14 주식회사 미래보 에칭 공정 시 발생하는 반응부산물 포집장치
KR102416322B1 (ko) 2021-12-13 2022-07-05 주식회사 미래보 사용된 내부포집타워의 자가 재생 기능을 가지는 반응부산물 포집장치
KR20230130785A (ko) * 2022-03-04 2023-09-12 주식회사 미래보 가스 흐름 유도를 통해 포집가용 영역 확장이 가능한 반응부산물 포집장치
KR102439402B1 (ko) * 2022-03-29 2022-09-02 주식회사 미래보 포집 가용 영역이 확장된 반응부산물 포집장치

Family Cites Families (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2732033A (en) * 1956-01-24 Separator
US512681A (en) * 1894-01-16 Oil-extractor
US1653203A (en) * 1926-12-06 1927-12-20 Charles D Connally Water trap for air-brake equipment
US1857348A (en) * 1928-05-14 1932-05-10 Bokenkroger William Filter for gaseous substances
US3693457A (en) * 1971-02-24 1972-09-26 Battelle Development Corp Source test cascade impactor
US3983743A (en) * 1973-09-19 1976-10-05 Sierra Instruments, Inc. Apparatus and method for the analysis of a particle-laden gas
US4189937A (en) * 1974-04-25 1980-02-26 Nelson Philip A Bounceless high pressure drop cascade impactor and a method for determining particle size distribution of an aerosol
US4387603A (en) * 1979-06-25 1983-06-14 Nelson Philip A Bounceless high pressure drop cascade impactor and a method for determining particle size distribution of an aerosol
US4488887A (en) * 1983-10-17 1984-12-18 R. J. Reynolds Tobacco Company Cold trap
US4904621A (en) * 1987-07-16 1990-02-27 Texas Instruments Incorporated Remote plasma generation process using a two-stage showerhead
US5041146A (en) * 1988-08-04 1991-08-20 Simmerlein Erlbacher E W Filter apparatus
US5384044A (en) * 1993-09-07 1995-01-24 Techniweave, Inc. Fluid separation devices and methods of making same
JP3540064B2 (ja) * 1995-09-04 2004-07-07 株式会社アルバック ドライ真空ポンプ前段用のトラップ
US6156107A (en) * 1996-11-13 2000-12-05 Tokyo Electron Limited Trap apparatus
US5972215A (en) * 1997-09-03 1999-10-26 Kammel; Refaat A. Continuous particle separation and removal cleaning system
JP2000045073A (ja) * 1998-07-29 2000-02-15 Kokusai Electric Co Ltd 排気トラップ及び処理装置
JP2000256856A (ja) * 1999-03-11 2000-09-19 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理装置用真空排気システム及び減圧cvd装置及び減圧cvd装置用真空排気システム及びトラップ装置
JP3529676B2 (ja) * 1999-09-16 2004-05-24 株式会社東芝 半導体製造装置および半導体装置の製造方法
US6447158B1 (en) * 2000-08-29 2002-09-10 Frank E. Farkas Apertured-disk mixer
JP4166005B2 (ja) * 2001-08-10 2008-10-15 株式会社荏原製作所 トラップ装置および方法
US6576045B2 (en) * 2001-09-10 2003-06-10 Fleetguard, Inc. Multi-stage diesel particulate collector system with combined processes of inertial impaction, virtual impaction, and filtration
KR100558562B1 (ko) * 2005-02-01 2006-03-13 삼성전자주식회사 반도체 설비용 부산물 포집장치
KR100575847B1 (ko) * 2005-04-29 2006-05-03 이앙구 반도체 및 평판디스플레이 설비의 부산물 포집방법
KR100564272B1 (ko) * 2005-05-27 2006-03-29 이승룡 반도체 부산물 트랩장치
US20060276049A1 (en) * 2005-06-06 2006-12-07 Bailey Christopher M High efficiency trap for deposition process
KR100621660B1 (ko) * 2005-07-01 2006-09-11 주식회사 뉴프로텍 반도체 부산물 트랩장치
KR100698379B1 (ko) * 2005-09-30 2007-03-23 주식회사 뉴프로텍 반도체 제작 시스템의 반응부산물 포집장치
US20070107595A1 (en) * 2005-11-14 2007-05-17 Myung-Soo Na Method and apparatus for collecting chemical compounds from semiconductor processing
EP2013897A4 (en) * 2006-05-04 2012-07-25 Milaebo Co Ltd SIDE PRODUCT COLLECTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE
KR100717837B1 (ko) 2006-11-21 2007-05-14 주식회사 이노시스템 반도체 공정의 반응부산물 포집장치
JP5135856B2 (ja) * 2007-03-31 2013-02-06 東京エレクトロン株式会社 トラップ装置、排気系及びこれを用いた処理システム
KR100834492B1 (ko) * 2007-08-21 2008-06-02 주식회사 엠아이 반도체 반응 부산물 트랩장치
KR100930320B1 (ko) * 2007-11-27 2009-12-08 주식회사 미래보 반도체 공정에서의 잔류 케미칼 및 부산물 포집장치
KR100862684B1 (ko) 2008-02-19 2008-10-10 (주)화인 반도체공정의 부산물 포집장치
EP2318563A1 (en) * 2008-08-19 2011-05-11 Oerlikon Solar AG, Trübbach Trap
JP5728341B2 (ja) * 2011-09-13 2015-06-03 東京エレクトロン株式会社 排気トラップ
US9138671B2 (en) * 2012-08-30 2015-09-22 Cummins Filtration Ip, Inc. Inertial gas-liquid separator and porous collection substrate for use in inertial gas-liquid separator
JP2014073486A (ja) * 2012-09-14 2014-04-24 Sumitomo Electric Ind Ltd 濾過装置、それに使用するフィルタおよびそのフィルタエレメント
WO2014138638A1 (en) * 2013-03-07 2014-09-12 M-I L.L.C. Demister for capturing moist fine particulates
JP6289859B2 (ja) * 2013-10-21 2018-03-07 東京エレクトロン株式会社 トラップ装置及び基板処理装置
KR101447629B1 (ko) 2014-01-10 2014-10-08 (주) 엠엠티케이 반도체 부산물 포집차단수단을 구비한 반도체 부산물 포집장치
WO2015122696A1 (ko) * 2014-02-14 2015-08-20 한국생산기술연구원 배기가스 처리를 위한 파우더 발생장치
US9919253B2 (en) * 2015-02-08 2018-03-20 Po-Hui CHEN Filter assembly for a fluid filter
KR101806480B1 (ko) 2016-03-28 2018-01-10 주식회사 미래보 반도체 제조 공정 중 발생하는 부산물 포집장치
GB2555557A (en) * 2016-05-10 2018-05-09 Continental automotive systems inc Oil separator for reducing residue deposits
JP6729285B2 (ja) * 2016-10-19 2020-07-22 トヨタ紡織株式会社 オイルミストセパレータ
KR101840332B1 (ko) * 2017-01-17 2018-05-04 주식회사 미래보 반도체 공정 부산물 포집장치
KR102036273B1 (ko) * 2017-12-27 2019-10-24 주식회사 미래보 반도체 공정 부산물 포집장치
KR102154196B1 (ko) * 2018-11-27 2020-09-09 주식회사 미래보 반도체 공정의 반응부산물 포집장치
US11054174B2 (en) * 2019-01-09 2021-07-06 Milaebo Co., Ltd. Semiconductor process by-product collecting device
KR102188604B1 (ko) * 2019-04-02 2020-12-09 주식회사 미래보 반도체 공정의 반응부산물 포집장치
KR102226528B1 (ko) * 2019-08-08 2021-03-11 주식회사 미래보 반도체 공정의 반응부산물 포집장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR102209205B1 (ko) 2021-02-01
CN112403108A (zh) 2021-02-26
US11173439B2 (en) 2021-11-16
CN112403108B (zh) 2022-04-05
TWI735075B (zh) 2021-08-01
JP2021034709A (ja) 2021-03-01
US20210053002A1 (en) 2021-02-25
TW202121555A (zh) 2021-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6804621B1 (ja) 半導体プロセス用流路方向転換式反応副産物捕集装置
JP6804620B1 (ja) 半導体プロセスの反応副産物捕集装置
US10801107B2 (en) Apparatus for collecting by-product in semiconductor process
KR100676927B1 (ko) 반도체 장치의 부산물 포집장치
KR102508977B1 (ko) 에칭 공정 시 발생하는 반응부산물 포집장치
KR101840332B1 (ko) 반도체 공정 부산물 포집장치
US20200217559A1 (en) Semiconductor process by-product collecting device
KR100647725B1 (ko) 반도체 장치의 부산물 포집장치
JP7200305B2 (ja) 半導体工程用反応副産物多重捕集装置
KR101865337B1 (ko) 반도체 공정 부산물 포집장치
KR102416322B1 (ko) 사용된 내부포집타워의 자가 재생 기능을 가지는 반응부산물 포집장치
KR102225012B1 (ko) 메탈울을 이용한 반도체 공정의 반응부산물 포집장치
KR20180041521A (ko) 반응 부산물 압축 트랩 장치
US11872516B2 (en) Apparatus for trapping of reaction by-product with extended available collection area
KR102596727B1 (ko) 반도체 제조 부산물 포집장치
KR20230130785A (ko) 가스 흐름 유도를 통해 포집가용 영역 확장이 가능한 반응부산물 포집장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191101

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201117

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201202

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6804621

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250