JP6800385B2 - アンテナ装置、通信装置及び電磁波観測装置 - Google Patents

Description

この発明は、複数の反射鏡パネルを備えるアンテナ装置と、アンテナ装置を備える通信装置及び電磁波観測装置とに関するものである。

衛星搭載用のアンテナ装置として、複数の反射鏡パネルが並べられている反射鏡を有するアンテナ装置が用いられることがある。
反射鏡を有するアンテナ装置は、例えば、自重によって反射鏡の反射面に変形が生じている場合、アンテナ性能が劣化する。

アンテナ性能の劣化を低減できるアンテナ装置として、以下の特許文献１には、光学測定装置が、主反射鏡における反射面の変形を測定し、駆動制御部が、光学測定装置の測定結果に基づいて、主反射鏡の反射面を変形制御する反射面制御アンテナが開示されている。

特開平４−１３２４０３号公報

特許文献１に開示されている反射面制御アンテナは、駆動制御部が、光学測定装置の測定結果に基づいて、主反射鏡の反射面を変形制御している。したがって、アンテナ性能の劣化の低減は、変形制御の制御精度に依存しており、変形制御の制御精度は、光学測定装置の測定精度に依存している。
光学測定装置において、高精度な測定精度を実現するには、光学測定装置が、多数のプリズムを実装している必要がある。光学測定装置が、多数のプリズムを実装する場合、コスト高及び大型化を招いてしまう。
光学測定装置として、プリズムを実装していないレーザスキャナを用いる場合、大型化等を回避することができる。しかし、光学測定装置として、レーザスキャナを用いる場合、測定誤差が大きいため、駆動制御部における変形制御の制御精度が低くなり、アンテナ性能の劣化を低減できないことがあるという課題があった。

この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、プリズムを実装していないレーザスキャナを用いて、反射鏡パネルの反射面における点の位置座標を測定する場合でも、アンテナ性能の劣化を低減することができるアンテナ装置、通信装置及び電磁波観測装置を得ることを目的とする。

この発明に係るアンテナ装置は、電磁波を反射させる複数の反射鏡パネルと、複数の反射鏡パネルのそれぞれの反射面における複数の点の位置座標を測定する座標測定部と、座標測定部により測定された複数の点の位置座標の中から、測定誤差が許容範囲内の位置座標を選別する座標選別部と、座標選別部により選別された位置座標から、複数の反射鏡パネルのそれぞれを移動させる位置である移動位置を算出する移動位置算出部とを備え、複数の駆動装置が、移動位置算出部により算出されたそれぞれの移動位置に、複数の反射鏡パネルのそれぞれを移動させるようにしたものである。

この発明に係るアンテナ装置は、プリズムを実装していないレーザスキャナを用いて、反射鏡パネルの反射面における点の位置座標を測定する場合でも、アンテナ性能の劣化を低減することができる。

実施の形態１によるアンテナ装置２を備える通信装置を示す構成図である。 制御装置１４のハードウェアを示すハードウェア構成図である。 制御装置１４がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される場合のコンピュータのハードウェア構成図である。 制御装置１４がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される場合の処理手順を示すフローチャートである。 座標測定部１３が有する位置座標の測定誤差を示す説明図である。 反射鏡パネルの反射面である２次曲面と、座標測定部１３により位置座標が測定された点との距離を示す説明図である。 駆動装置２２−ｊによる反射鏡パネル１２−ｎの移動を示す説明図である。 座標測定部１３により測定された位置座標と、選別処理部１７により選別された位置座標とを示す説明図である。 移動位置算出部１８が、選別処理部１７により選別された位置座標を用いて、反射鏡パネル１２−ｎの移動位置を算出したときの移動後の反射鏡パネル１２−ｎの形状と、変形が生じていない状態であるときの反射鏡パネル１２−ｎの形状との誤差を示す説明図である。 実施の形態３によるアンテナ装置２を備える電磁波観測装置を示す構成図である。

以下、この発明をより詳細に説明するために、この発明を実施するための形態について、添付の図面に従って説明する。

実施の形態１．
図１は、実施の形態１によるアンテナ装置２を備える通信装置を示す構成図である。通信装置は、通信衛星又は地上局などに実装される。
図１において、通信部１は、アンテナ装置２の電磁波送受信部１１と接続されている。
通信部１は、送信信号を電磁波送受信部１１に送信し、また、電磁波送受信部１１から出力された受信信号を受信する。
アンテナ装置２は、通信部１と接続されている。
アンテナ装置２は、通信部１から送信された送信信号を電磁波として空間に放射する一方、空間を伝搬している電磁波を受信し、受信した電磁波を受信信号として通信部１に出力する。

電磁波送受信部１１は、通信部１により送信された送信信号を電磁波に変換し、電磁波を反射鏡１２に向けて放射する給電部を備えている。
また、電磁波送受信部１１は、反射鏡１２により反射された電磁波を受信し、受信した電磁波を受信信号に変換し、受信信号を通信部１に出力する。

反射鏡１２は、反射鏡パネル１２−１〜１２−４を備えている。
反射鏡パネル１２−１〜１２−４は、隙間なく並べられており、電磁波送受信部１１から放射された電磁波を図示せぬ通信対象の機器が存在する方向に反射させる。
また、反射鏡パネル１２−１〜１２−４は、図示せぬ通信対象の機器から放射された電磁波を電磁波送受信部１１が存在する方向に反射させる。
図１に示すアンテナ装置２では、反射鏡１２として、４つの反射鏡パネル１２−１〜１２−４が並べられている。しかし、反射鏡１２は、複数の反射鏡パネルを備えていればよく、４つの反射鏡パネル１２−１〜１２−４を備えるものに限るものではない。
図１に示すアンテナ装置２では、図面の簡単化のため、４つの反射鏡パネル１２−１〜１２−４が一列に並んでいるようには描かれているが、実際には、複数の反射鏡パネルがマトリックス状に配置されている。

座標測定部１３は、プリズムを実装していないレーザスキャナなどの光学測定装置によって実現される。
座標測定部１３は、離散的な角度間隔で光を反射鏡パネル１２−１〜１２−４に放射することで、反射鏡パネル１２−１〜１２−４のそれぞれの反射面における複数の点の位置座標を測定する。
座標測定部１３は、測定した複数の点の位置座標を示す座標データを制御装置１４に出力する。

図２は、制御装置１４のハードウェアを示すハードウェア構成図である。
制御装置１４は、座標選別部１５、移動位置算出部１８及び駆動制御部２１を備えている。
座標選別部１５は、例えば、図２に示す座標選別回路３１によって実現される。座標選別部１５は、距離算出部１６及び選別処理部１７を備えている。
座標選別部１５は、座標測定部１３から出力された座標データが示す複数の点の位置座標の中から、測定誤差が許容範囲内の位置座標を選別する。

距離算出部１６は、座標測定部１３により位置座標が測定された複数の点のうち、それぞれの反射鏡パネル１２−ｎ（ｎ＝１，２，３，４）の反射面における複数の点の中から、３つ以上の点をそれぞれ選択する。
距離算出部１６は、それぞれ選択した３つ以上の点が張る平面又は曲面と、それぞれの反射鏡パネル１２−ｎの反射面における複数の点との距離をそれぞれ算出する。
距離算出部１６は、算出したそれぞれの距離を選別処理部１７に出力する。
選別処理部１７は、それぞれの反射鏡パネル１２−ｎの反射面における複数の点の位置座標の中から、距離算出部１６により算出された距離が、測定誤差の許容範囲に対応する距離に関する閾値Ｔｈよりも小さい点の位置座標を選別する。距離に関する閾値Ｔｈは、例えば、選別処理部１７の内部メモリに格納されている。閾値Ｔｈは、外部から与えられるものであってもよい。
選別処理部１７は、選別した位置座標を移動位置算出部１８に出力する。

移動位置算出部１８は、例えば、図２に示す移動位置算出回路３２によって実現される。移動位置算出部１８は、第１の算出処理部１９及び第２の算出処理部２０を備えている。
移動位置算出部１８は、座標選別部１５により選別された位置座標から、反射鏡パネル１２−１〜１２−４のそれぞれを移動させる位置である移動位置を算出する。
移動位置算出部１８は、反射鏡パネル１２−１〜１２−４のそれぞれの移動位置を駆動制御部２１に出力する。

第１の算出処理部１９は、以下の関数を内部メモリに記憶している。内部メモリに記憶している関数は、外部から与えられるものであってもよい。
内部メモリに記憶している関数は、反射鏡パネル１２−ｎの移動量を示す移動パラメータと回転量を示す回転パラメータとを含む行列が与えられると、座標選別部１５により選別された反射鏡パネル１２−ｎの反射面における位置座標と、反射鏡パネル１２−ｎとの距離を出力する関数である。
第１の算出処理部１９は、行列に含まれている移動パラメータ及び回転パラメータのそれぞれを変えながら、関数から出力される距離の二乗和を繰り返し算出する。
第１の算出処理部１９は、繰り返し算出した複数の二乗和の中で、１番小さい二乗和を探索し、探索した二乗和に対応する移動パラメータ及び回転パラメータのそれぞれを含む行列を第２の算出処理部２０に出力する。

第２の算出処理部２０は、駆動装置２２−１〜２２−５の中で、反射鏡パネル１２−ｎを支持している駆動装置を特定する。
第２の算出処理部２０は、第１の算出処理部１９から出力された反射鏡パネル１２−ｎについての行列と、特定した駆動装置が反射鏡パネル１２−ｎを支持している位置とを乗算することで、反射鏡パネル１２−ｎの移動位置を算出する。
第２の算出処理部２０は、算出した反射鏡パネル１２−ｎの移動位置を駆動制御部２１に出力する。

駆動制御部２１は、例えば、図２に示す駆動制御回路３３によって実現される。
駆動制御部２１は、第２の算出処理部２０により算出された反射鏡パネル１２−１〜１２−４のそれぞれの移動位置に基づいて、駆動装置２２−１〜２２−５を駆動するための制御信号を生成する。
駆動装置２２−１〜２２−５は、反射鏡パネル１２−１〜１２−４のいずれかを支持しており、駆動制御部２１により生成された制御信号に従って、支持している反射鏡パネルを移動させる。
図１に示すアンテナ装置２では、駆動装置２２−１は、反射鏡パネル１２−１を支持しており、駆動装置２２−２は、反射鏡パネル１２−１，１２−２を支持しており、駆動装置２２−３は、反射鏡パネル１２−２，１２−３を支持している。
また、駆動装置２２−４は、反射鏡パネル１２−３，１２−４を支持しており、駆動装置２２−５は、反射鏡パネル１２−４を支持している。
図１に示すアンテナ装置２では、駆動装置２２−１〜２２−５のうち、駆動装置２２−２〜１２−４は、複数の反射鏡パネルを支持している。しかし、これは一例に過ぎず、駆動装置２２−１〜２２−５の全てが、１つの反射鏡パネルのみを支持しているものであってもよい。

図１では、制御装置１４の構成要素である座標選別部１５、移動位置算出部１８及び駆動制御部２１のそれぞれが、図２に示すような専用のハードウェアで実現されるものを想定している。即ち、制御装置１４が、座標選別回路３１、移動位置算出回路３２及び駆動制御回路３３で実現されるものを想定している。
ここで、座標選別回路３１、移動位置算出回路３２及び駆動制御回路３３のそれぞれは、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ−Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、又は、これらを組み合わせたものが該当する。

制御装置１４の構成要素は、専用のハードウェアで実現されるものに限るものではなく、制御装置１４がソフトウェア、ファームウェア、又は、ソフトウェアとファームウェアとの組み合わせで実現されるものであってもよい。
ソフトウェア又はファームウェアは、プログラムとして、コンピュータのメモリに格納される。コンピュータは、プログラムを実行するハードウェアを意味し、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、プロセッサ、あるいは、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）が該当する。
図３は、制御装置１４がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される場合のコンピュータのハードウェア構成図である。

制御装置１４がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される場合、座標選別部１５、移動位置算出部１８及び駆動制御部２１の処理手順をコンピュータに実行させるためのプログラムがメモリ４１に格納される。そして、コンピュータのプロセッサ４２がメモリ４１に格納されているプログラムを実行する。
図４は、制御装置１４がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される場合の処理手順を示すフローチャートである。
また、図２では、制御装置１４の構成要素のそれぞれが専用のハードウェアで実現される例を示し、図３では、制御装置１４がソフトウェア又はファームウェアなどで実現される例を示している。しかし、これは一例に過ぎず、制御装置１４における一部の構成要素が専用のハードウェアで実現され、残りの構成要素がソフトウェア又はファームウェアなどで実現されるものであってもよい。

次に、図１に示す通信装置について説明する。
通信部１は、送信信号として、例えば、高周波の変調信号を生成する。通信部１は、送信信号を電磁波送受信部１１に送信する。
電磁波送受信部１１は、通信部１から送信信号を受けると、送信信号を電磁波に変換し、電磁波を１２−１〜１２−４に向けて放射する。
反射鏡パネル１２−１〜１２−４は、電磁波送受信部１１から放射された電磁波を反射させる。
反射鏡パネル１２−１〜１２−４の理想的な位置及び向きは、アンテナ装置２が所望のアンテナ性能を満足するように、電磁界シミュレーションによって定められる。
しかしながら、実環境では、反射鏡パネル１２−１〜１２−４の自重、反射鏡パネル１２−１〜１２−４を支持している支持構造物の重さ、又は、風及び振動の影響によって、反射鏡パネル１２−１〜１２−４の反射面に変形が生じてしまうことがある。反射面に変形が生じることで、反射鏡パネル１２−１〜１２−４は、理想的な位置及び向きからずれてしまう。

座標測定部１３は、プリズムを実装していないレーザスキャナなどの光学測定装置によって実現されているため、図５に示すように、位置座標の測定誤差として、角度方向と距離方向のそれぞれに、ランダムな誤差を有している。
座標測定部１３による位置座標の測定点が、反射鏡パネルの端部付近である場合、座標測定部１３が有する測定誤差のうち、距離方向の誤差が非常に大きくなる。
図５は、座標測定部１３が有する位置座標の測定誤差を示す説明図である。
図５において、σ_{ａｎｇｌｅ}は、座標測定部１３における角度誤差分布の標準偏差であり、σ_ｒは、座標測定部１３における距離誤差分布の標準偏差である。
θは、反射鏡パネルの法線と、座標測定部１３により位置座標が測定された点と座標測定部１３とを結ぶ線分とのなす角である。

また、図１に示すアンテナ装置２は、図示せぬ副鏡及び電磁波送受信部１１を支える図示せぬ支持構造を有している。
したがって、座標測定部１３は、支持構造についての不要な点の位置座標を、反射鏡パネルの反射面についての位置座標として測定しまうことがある。

図１に示すアンテナ装置２は、座標測定部１３により測定された複数の点の位置座標のうち、測定誤差が大きな位置座標及び不要な位置座標を除外して、測定誤差が小さな位置座標のみを用いて、反射鏡パネル１２−１〜１２−４を駆動する。
図１に示すアンテナ装置２は、測定誤差が小さな位置座標のみを用いて、反射鏡パネル１２−１〜１２−４を駆動することで、アンテナ性能の劣化を低減することができる。
具体的には、以下の通りである。

座標測定部１３は、離散的な角度間隔で光を反射鏡パネル１２−１〜１２−４に放射することで、反射鏡パネル１２−１〜１２−４のそれぞれの反射面における複数の点の位置座標を測定する。
座標測定部１３は、測定した複数の点の位置座標を示す座標データを座標選別部１５に出力する。

座標選別部１５は、座標測定部１３から座標データを受けると、座標データが示す複数の点の位置座標の中から、測定誤差が許容範囲内の位置座標を選別する。
以下、座標選別部１５による位置座標の選別処理を具体的に説明する。
座標選別部１５が備える距離算出部１６及び選別処理部１７は、以下に示す処理を反射鏡パネル１２−ｎ（ｎ＝１，２，３，４）毎に実施する。
距離算出部１６は、座標測定部１３により位置座標が測定された複数の点のうち、反射鏡パネル１２−ｎの反射面における複数の点の中から、３つ以上の点を選択する（図４のステップＳＴ１）。距離算出部１６により選択される３つ以上の点は、未だ選択されていない点の組み合わせであり、例えば、ランダムに選択される。

次に、距離算出部１６は、反射鏡パネル１２−ｎの反射面として、選択した３つ以上の点が張る平面又は曲面を定める。
仮に、反射面が平面である場合、３つ以上の点をつなげることで得られる多角形によって平面を定めることができる。
反射面が平面である場合、平面を示す関数は、以下の式（１）のように表すことができる。
αｘ＋βｙ＋γｚ＋δ＝０ （１）
式（１）において、ｘ，ｙ，ｚは、平面の空間座標であり、α，β，γ，δは、パラメータである。
したがって、反射面が平面である場合、距離算出部１６が、３つ以上の点を選択して、３つ以上の点の位置座標を式（１）に代入すれば、パラメータα，β，γ，δを求めることができるため、距離算出部１６が、平面を定めることができる。

反射面が曲面である場合、曲面を示す関数ｆ（）は、以下の式（２）に示すように、曲面の空間座標（ｘ，ｙ，ｚ）とパラメータｐ_１〜ｐ_ｎとで表すことができる。
ｆ（ｘ，ｙ，ｚ，ｐ_１，ｐ_２，…，ｐ_ｎ） （２）
仮に、反射面が２次曲面である場合、２次曲面を定める自由度は、平行移動の３次元及び回転の３次元であるため、パラメータｐ_１〜ｐ_ｎとしては、平行移動についての３つの移動パラメータｐ_１〜ｐ_３と、回転についての３つの回転パラメータｐ_４〜ｐ_６とが想定される。
したがって、反射面が２次曲面である場合、距離算出部１６が、６つの点を選択して、６つの点の位置座標を式（２）に代入すれば、移動パラメータｐ_１〜ｐ_３及び回転パラメータｐ_４〜ｐ_６を求めることができるため、距離算出部１６が、２次曲面を定めることができる。
例えば、ｐ_１は、曲面の空間座標（ｘ，ｙ，ｚ）におけるｘ軸方向の移動量を示す移動パラメータ、ｐ_２は、ｙ軸方向の移動量を示す移動パラメータ、ｐ_３は、ｚ軸方向の移動量を示す移動パラメータである。
ｐ_４は、ｘ軸周りの回転量を示す回転パラメータ、ｐ_５は、ｙ軸周りの回転量を示す回転パラメータ、ｐ_６は、ｚ軸周りの回転量を示す回転パラメータである。

以下の説明では、反射鏡パネル１２−ｎの反射面が、図６に示すような２次曲面であるとする。また、反射鏡パネル１２−ｎの反射面について、座標測定部１３により位置座標が測定された点の数がＭ個であるとする。
図６は、反射鏡パネル１２−ｎの反射面である２次曲面と、座標測定部１３により位置座標が測定された点との距離を示す説明図である。
図６において、〇は、座標測定部１３により位置座標が測定された点である。
距離は、座標測定部１３により位置座標が測定された点から、反射鏡パネル１２−ｎの反射面に垂直におろした点とを結ぶ線分の距離である。
図６では、座標測定部１３により位置座標が測定された点の数がＭ＝１３個である例を示している。しかし、これは一例に過ぎず、移動パラメータｐ_１〜ｐ_３及び回転パラメータｐ_４〜ｐ_６を定めることができることが可能な数よりも多くの数であれば、座標測定部１３により位置座標が測定された点の数Ｍは、何個でもよい。
ここでは、Ｍ個の点の位置座標がＣ_ｍ＝（ｘ，ｙ，ｚ）であり、位置座標Ｃ_ｍが測定された点から、反射鏡パネルの反射面に垂直におろした点とを結ぶ線分の距離がＬ_ｍであるとする。ｍ＝１，２，・・・，Ｍである。

距離算出部１６は、定めた２次曲面と、座標データが示すＭ個の点との距離Ｌ_ｍをそれぞれ算出し、それぞれ算出した距離Ｌ_ｍを選別処理部１７に出力する（図４のステップＳＴ２）。
位置座標Ｃ_ｍが測定された点から、反射鏡パネル１２−ｎの反射面に垂直におろした点の位置座標は、距離算出部１６において、不明である。したがって、距離算出部１６が、距離Ｌ_ｍを算出するには、反射鏡パネル１２−ｎの反射面に垂直におろした点の位置座標を特定する必要がある。
反射鏡パネル１２−ｎの反射面に垂直におろした点の位置座標は、反射鏡パネル１２−ｎの反射面における複数の点の位置座標のうち、位置座標Ｃ_ｍとの距離が最小になる点の位置座標で近似することができる。また、反射鏡パネル１２−ｎの反射面における複数の点の位置座標は、曲面を示す関数ｆ（ｘ，ｙ，ｚ，ｐ_１，ｐ_２，…，ｐ_ｎ）から得ることができる。
したがって、距離算出部１６は、反射鏡パネル１２−ｎの反射面における複数の点の位置座標の中で、位置座標Ｃ_ｍとの距離が最小になる点の位置座標を探索し、探索した位置座標と位置座標Ｃ_ｍとの距離Ｌ_ｍを算出する。

選別処理部１７は、Ｍ点の位置座標Ｃ_ｍ（ｍ＝１，２，・・・，Ｍ）の中から、距離算出部１６により算出された距離Ｌ_ｍが閾値Ｔｈよりも小さい点の位置座標を選別する（図４のステップＳＴ３）。例えば、測定誤差の標準偏差が１ｍｍである場合、標準偏差の２倍である２ｍｍ程度の値が、閾値Ｔｈに設定される。
Ｍ＝１３であるとき、位置座標Ｃ_ｍ（ｍ＝１，２，・・・，１２）について点の距離Ｌ_ｍが、「０．８０、０．８０、０．２６、０．２４、０．１２、０．２２、０．７１、０．５８、０．４６、０．８１、０．７６、０．６６、０．７８」であり、閾値Ｔｈが０．５であるとする。この場合、距離Ｌ_ｍが閾値Ｔｈよりも小さい点の距離は、「０．２６、０．２４、０．１２、０．２２、０．４６」の５つである。

選別処理部１７は、３つ以上の点の距離算出部１６による選択回数ｓと設定回数Ｓｅｌとを比較する（図４のステップＳＴ４）。設定回数Ｓｅｌは、選別処理部１７の内部メモリに格納されている。設定回数Ｓｅｌは、外部から与えられるものであってもよい。
選別処理部１７は、選択回数ｓが設定回数Ｓｅｌ未満であれば（図４のステップＳＴ４：ＹＥＳの場合）、未だ選択していない３つ以上の点の組み合わせについての選択を距離算出部１６に指示する。
距離算出部１６は、選別処理部１７から選択指示を受けると、新たに３つ以上の点を選択し（図４のステップＳＴ１）、選択した３つ以上の点が張る平面又は曲面を定める。
距離算出部１６は、定めた平面又は曲面と、座標データが示すＭ個の点との距離Ｌ_ｍをそれぞれ算出し、それぞれ算出した距離Ｌ_ｍを選別処理部１７に出力する（図４のステップＳＴ２）。

選別処理部１７は、Ｍ点の位置座標Ｃ_ｍ（ｍ＝１，２，・・・，Ｍ）の中から、距離算出部１６により算出された距離Ｌ_ｍが閾値Ｔｈよりも小さい点の位置座標を選別する（図４のステップＳＴ３）。
Ｍ＝１３であるとき、位置座標Ｃ_ｍ（ｍ＝１，２，・・・，１２）について点の距離Ｌ_ｍが、「０．０２、０．６１、０．５２、０．５１、０．６４、０．３０、０．３８、０．４０、０．７８、０．５６、０．６９、０．７１、０．７８」であるとする。この場合、距離Ｌ_ｍが閾値Ｔｈよりも小さい点の距離は、「０．０２、０．３０、０．３８、０．４０」の４つである。

選別処理部１７は、選択回数ｓが設定回数Ｓｅｌに到達していれば（図４のステップＳＴ４：ＮＯの場合）、距離算出部１６により距離Ｌ_ｍが算出される毎に選別した位置座標の個数の中で、最も多い個数を特定する。
選別処理部１７は、距離算出部１６により距離Ｌ_ｍが算出される毎に選別した位置座標のうち、最も個数が多い位置座標Ｃ_ｉ（ｉ＝１，・・・，Ｉ：Ｉは１以上Ｍ以下の整数）を移動位置算出部１８に出力する（図４のステップＳＴ５）。最も個数が多い位置座標Ｃ_ｉは、距離算出部１６により距離Ｌ_ｍが算出される毎に選別された位置座標の中で、設定された移動パラメータｐ_１〜ｐ_３及び回転パラメータｐ_４〜ｐ_６が最も適正である。
選別処理部１７は、仮に、最も多い個数が５つであるとすれば、例えば、距離Ｌ_ｍが「０．２６、０．２４、０．１２、０．２２、０．４６」である５つの位置座標Ｃ_ｉ（ｉ＝１，・・・，５）を移動位置算出部１８に出力する。
ステップＳＴ１〜ＳＴ５の処理は、座標選別部１５によって、反射鏡パネル１２−１〜１２−４の全てについて位置座標Ｃ_ｉ（ｉ＝１，・・・，Ｉ）が選別されるまで繰り返し実施される。

移動位置算出部１８は、座標選別部１５により選別された位置座標から、反射鏡パネル１２−１〜１２−４のそれぞれを移動させる位置である移動位置を算出する。
以下、移動位置算出部１８による移動位置の算出処理を具体的に説明する。
移動位置算出部１８が備える第１の算出処理部１９及び第２の算出処理部２０は、以下に示す処理を反射鏡パネル１２−ｎ毎に実施する。
第１の算出処理部１９は、選別処理部１７により選別された反射鏡パネル１２−ｎについての位置座標Ｃ_ｉ（ｉ＝１，・・・，Ｉ）と、反射鏡パネル１２−ｎとのフィッティング計算を実行することで、反射鏡パネル１２−ｎの移動量を算出する（図４のステップＳＴ６）。
以下、第１の算出処理部１９によるフィッティング計算を具体的に説明する。

第１の算出処理部１９は、行列Ｋ_ｎが与えられると、座標選別部１５により選別された反射鏡パネル１２−ｎの反射面における位置座標Ｃ_ｉと、反射鏡パネル１２−ｎとの距離Ｌ_ｉを出力する関数ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）を用意している。
行列Ｋ_ｎは、以下の式（３）に示すように、反射鏡パネル１２−ｎの移動パラメータｐ_１〜ｐ_３及び回転パラメータｐ_４〜ｐ_６を含む行列である。行列Ｋ_ｎは、反射鏡パネル１２−ｎの平行移動量と回転量に関する行列である。

式（３）において、Δｘ＝ｐ_１、Δｙ＝ｐ_２、Δｚ＝ｐ_３、θ_ｘ＝ｐ_４、θ_ｙ＝ｐ_５、θ_ｚ＝ｐ_６である。

第１の算出処理部１９は、以下の式（４）に示すように、移動パラメータｐ_１〜ｐ_３及び回転パラメータｐ_４〜ｐ_６のそれぞれを変えながら、関数ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）の出力である距離の二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２を繰り返し算出する。

第１の算出処理部１９は、以下の式（５）に示すように、繰り返し算出した複数の二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２の中で、１番小さい二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２を探索する。

第１の算出処理部１９は、反射鏡パネル１２−ｎの移動量として、探索した二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２に対応する行列Ｋ_ｎを第２の算出処理部２０に出力する。
ステップＳＴ６の処理は、第１の算出処理部１９によって、反射鏡パネル１２−１〜１２−４の全てについての行列Ｋ_１〜Ｋ_４が得られるまで繰り返し実施される。

第２の算出処理部２０は、駆動装置２２−１〜２２−５の中で、反射鏡パネル１２−ｎを支持している駆動装置を特定する。
ここでは、説明の便宜上、反射鏡パネル１２−ｎを支持している駆動装置は、駆動装置２２−ｊであるとする。
図７は、駆動装置２２−ｊによる反射鏡パネル１２−ｎの移動を示す説明図である。
駆動装置２２−ｊが反射鏡パネル１２−ｎを支持している位置は、第２の算出処理部２０において、既知である。
駆動装置２２−ｊが反射鏡パネル１２−ｎを支持している位置は、以下の式（６）に示すように、ｐ_ｊベクトルで表されるものとする。明細書の文章中では、電子出願の関係上、「ｐ_ｊ」の文字の上に「→」の記号を付することができないため、ｐ_ｊベクトルのように表記している。

式（６）において、ｘ_０，ｙ_０，ｚ_０は、駆動装置２２−ｊが反射鏡パネル１２−ｎを支持している位置の座標であり、反射鏡パネル１２−ｎのローカル座標系での座標である。Ｔは、転置を示す記号である。

第２の算出処理部２０は、以下の式（７）に示すように、反射鏡パネル１２−ｎについての行列Ｋ_ｎとｐ_ｊベクトルを乗算することで、駆動装置２２−ｊが反射鏡パネル１２−ｎを移動させる位置である移動位置を算出する（ステップＳＴ７）。ｑ_ｊベクトルは、反射鏡パネル１２−ｎの移動位置を表している。

式（７）において、ｘ_１，ｙ_１，ｚ_１は、駆動装置２２−ｊによる反射鏡パネル１２−ｎの移動位置の座標であり、反射鏡パネル１２−ｎの移動後の座標系での座標である。
ステップＳＴ７の処理は、第２の算出処理部２０によって、駆動装置２２−１〜２２−５の全てについてのｑ_ｊベクトルが算出されるまで繰り返し実施される。

ここでは、第２の算出処理部２０は、駆動装置２２−ｊが反射鏡パネル１２−ｎを支持しているとして、駆動装置２２−ｊについてのｑ_ｊベクトルを算出している。
しかし、反射鏡１２は、複数の反射鏡パネルが隙間なく配置されているため、駆動装置２２−ｊが、隣接して配置されている複数の反射鏡パネルを支持していることがある。
例えば、駆動装置２２−２は、反射鏡パネル１２−１と反射鏡パネル１２−２の双方を支持しており、駆動装置２２−３は、反射鏡パネル１２−２と反射鏡パネル１２−３の双方を支持している。
また、駆動装置２２−４は、反射鏡パネル１２−３と反射鏡パネル１２−４の双方を支持している。

以下、駆動装置２２−ｊが、隣接して配置されている複数の反射鏡パネルを支持している場合のｑ_ｊベクトルの算出方法を説明する。
ここでは、一例として、駆動装置２２−２についてのｑ_２ベクトルの算出方法を説明する。
まず、第２の算出処理部２０は、反射鏡パネル１２−１についての行列Ｋ_１と、駆動装置２２−２が反射鏡パネル１２−１を支持している位置を示すｐ_２ベクトルとを乗算することで、ｑ_２ベクトル（１）を算出する。ｑ_２ベクトル（１）は、駆動装置２２−２によるによる反射鏡パネル１２−１の移動位置を表している。
次に、第２の算出処理部２０は、反射鏡パネル１２−２についての行列Ｋ_２とｐ_２ベクトルを乗算することで、ｑ_２ベクトル（２）を算出する。ｑ_２ベクトル（２）は、駆動装置２２−２によるによる反射鏡パネル１２−２の移動位置を表している。
第２の算出処理部２０は、駆動装置２２−２による反射鏡パネル１２−１，１２−２の移動位置として、ｑ_２ベクトル（１）が示す位置と、ｑ_２ベクトル（２）が示す位置との平均座標の位置を算出する。

駆動制御部２１は、駆動装置２２−ｊが反射鏡パネル１２−ｎを移動させた後の位置が、第２の算出処理部２０により算出された移動位置となるように、駆動装置２２−ｊを駆動するための制御信号を生成する（図４のステップＳＴ８）。
例えば、駆動装置２２−１を駆動するための制御信号は、駆動装置２２−１が反射鏡パネル１２−１を移動させた後の位置が、ｑ_１ベクトルが示す位置となる制御信号である。
また、駆動装置２２−２を駆動するための制御信号は、駆動装置２２−２が反射鏡パネル１２−１，１２−２を移動させた後の位置が、ｑ_２ベクトル（１）が示す位置とｑ_２ベクトル（２）が示す位置との平均座標の位置となる制御信号である。
駆動装置２２−１〜２２−５は、駆動制御部２１により生成された制御信号に従って、支持している反射鏡パネルを移動させる。

以下、アンテナ装置２が、測定誤差が小さな位置座標のみを用いて、反射鏡パネル１２−１〜１２−４を駆動することで、アンテナ性能の劣化を低減できるという効果について説明する。
ここでは、説明の簡単化のために、反射鏡パネル１２−ｎの反射面が、ｘｙ平面におけるｙ＝εｘ^２＋ζ（０＜ｘ＜５）の曲線で表されるものとする。
反射鏡パネル１２−ｎの反射面において、位置座標が測定される複数の点のｘ軸方向の間隔が０．０１ｍであり、座標測定部１３によって、０．０１ｍの間隔で２５１個の点の位置座標が測定されるものとする。
座標測定部１３によって、２５１個の点の位置座標が測定される際、２５１個の点に対して、ｙ軸方向に標準偏差が２ｍの正規分布で誤差が与えられるものとする。
また、座標測定部１３によって、２５１個の点の位置座標が測定される際、２５１個の点のうち、ランダムに選択された３０個の点に対して、ｘ軸方向に＋２ｍの誤差が与えられるものとする。
さらに、２５１個の点のうち、上記の３０個の点とは別に、ランダムに選択された３０個の点に対して、ｘ軸方向に−２ｍの誤差が与えられるものとする。
ここでは、誤差を判別し易くするために、実際の測定誤差よりも大きな誤差として、＋２ｍ又は−２ｍの誤差が与えられるものとしているが、実際の測定誤差に近い±１ｍｍ程度の誤差が与えられるものとしてもよい。

反射鏡パネル１２−ｎの反射面が、例えば、ｘｙ平面におけるｙ＝εｘ^２＋ζ（０＜ｘ＜５）の曲線で表される場合、座標測定部１３により測定された２５１個の点の位置座標の中から、２つの点の位置座標を選択すれば、パラメータε，ζを算出することができる。
例えば、選択した２つの点の位置座標が、（ｘ_３，ｙ_３）と（ｘ_４，ｙ_４）とであるとすれば、パラメータε，ζは、以下の式（８）〜（９）のように表される。

選別処理部１７が、２５１個の点の位置座標の中から、距離が小さい点の位置座標を選別する際に用いる閾値Ｔｈが、例えば、２．０ｍであるとして、コンピュータが、シミュレーションを実施すると、選別処理部１７による位置座標の選別結果は、図８のようになる。
図８は、座標測定部１３により測定された位置座標と、選別処理部１７により選別された位置座標とを示す説明図である。
図８において、△は、座標測定部１３により測定された２５１個の点の位置座標、〇は、選別処理部１７により選別された位置座標である。

図９は、移動位置算出部１８が、選別処理部１７により選別された位置座標を用いて、反射鏡パネル１２−ｎの移動位置を算出したときの移動後の反射鏡パネル１２−ｎの形状と、変形が生じていない状態であるときの反射鏡パネル１２−ｎの形状との誤差を示す説明図である。
図９において、「座標選別ありの反射鏡パネルの形状」は、移動位置算出部１８が、選別処理部１７により選別された位置座標を用いて、反射鏡パネル１２−ｎの移動位置を算出したときの移動後の反射鏡パネル１２−ｎの形状である。
「座標選別なしの反射鏡パネルの形状」は、移動位置算出部１８が、座標測定部１３により測定された全ての位置座標を用いて、反射鏡パネル１２−ｎの移動位置を算出したときの移動後の反射鏡パネル１２−ｎの形状である。
「真の反射鏡パネルの形状」は、変形が生じていない状態の反射鏡パネル１２−ｎの形状である。
座標選別なしの反射鏡パネルの形状と、真の反射鏡パネルの形状との誤差の平均は、約２ｍである。
座標選別ありの反射鏡パネルの形状と、真の反射鏡パネルの形状との誤差の平均は、約０．０２ｍであり、座標選別ありの場合の誤差は、選別なしの場合の誤差と比べて、１００分の１になっている。

以上の実施の形態１は、座標測定部１３により測定された複数の点の位置座標の中から、測定誤差が許容範囲内の位置座標を選別する座標選別部１５と、座標選別部１５により選別された位置座標から、複数の反射鏡パネル１２−１〜１２−４のそれぞれを移動させる位置である移動位置を算出する移動位置算出部１８とを備えるように、アンテナ装置２を構成した。したがって、アンテナ装置２は、プリズムを実装していないレーザスキャナを用いて、反射鏡パネル１２−１〜１２−４の反射面における点の位置座標を測定する場合でも、アンテナ性能の劣化を低減することができる。

実施の形態２．
実施の形態１のアンテナ装置２では、第１の算出処理部１９が、繰り返し算出した複数の二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２の中で、１番小さい二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２を探索するものを示している。
実施の形態２では、第１の算出処理部１９が、繰り返し算出した複数の二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２のそれぞれに、選別処理部１７により選別された反射鏡パネル１２−ｎの反射面における位置座標の測定誤差に基づく重み係数ｗ_ｉを乗算する。そして、第１の算出処理部１９が、重み係数ｗ_ｉを乗算した複数の二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２の中で、１番小さい二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２を探索するアンテナ装置２について説明する。

実施の形態２によるアンテナ装置２の構成は、図１に示すアンテナ装置２の構成と同じである。
まず、第１の算出処理部１９は、実施の形態１と同様に、移動パラメータｐ_１〜ｐ_３及び回転パラメータｐ_４〜ｐ_６を変えながら、関数ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）の出力である距離の二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２を繰り返し算出する。

次に、第１の算出処理部１９は、以下の式（１０）に示すように、座標測定部１３における角度誤差分布の標準偏差σ_{ａｎｇｌｅ}と距離誤差分布の標準偏差σ_ｒとに基づいて、反射鏡パネル１２−ｎの反射面における位置座標の測定誤差に基づく重み係数ｗ_ｉを決定する。図５には、角度誤差分布の標準偏差σ_{ａｎｇｌｅ}と、距離誤差分布の標準偏差σ_ｒと、座標測定部１３と、反射鏡パネル１２−ｎとの関係が示されている。

次に、第１の算出処理部１９は、繰り返し算出した複数の二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２のそれぞれに重み係数ｗ_ｉを乗算する。
第１の算出処理部１９は、以下の式（１１）に示すように、重み係数ｗ_ｉを乗算した複数の二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２の中で、１番小さい二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２を探索する。

第１の算出処理部１９は、探索した二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２に対応する行列Ｋ_ｎを第２の算出処理部２０に出力する。
第１の算出処理部１９による１番小さい二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２の探索処理は、反射鏡パネル１２−１〜１２−４の全てについての行列Ｋ_１〜Ｋ_４が得られるまで繰り返し実施される。
第２の算出処理部２０の処理内容は、実施の形態１と同様である。

第１の算出処理部１９が、距離の二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２を繰り返し算出する際、位置座標の測定誤差に基づく重み係数ｗ_ｉが一定である場合、駆動装置２２−ｊによる反射鏡パネル１２−ｎの移動位置が、測定誤差が大きな方向にずれてしまうことがある。
第１の算出処理部１９が、角度誤差分布の標準偏差σ_{ａｎｇｌｅ}と距離誤差分布の標準偏差σ_ｒとに基づいて、重み係数ｗ_ｉを決定することで、駆動装置２２−ｊによる反射鏡パネル１２−ｎの移動位置が、測定誤差が大きな方向にずれてしまうことを回避できる。

ここでは、第１の算出処理部１９が、角度誤差分布の標準偏差σ_{ａｎｇｌｅ}と距離誤差分布の標準偏差σ_ｒとに基づいて、重み係数ｗ_ｉを決定している。しかし、これは一例に過ぎず、例えば、第１の算出処理部１９が、光学測定装置である座標測定部１３から光を反射鏡パネル１２−ｎに照射したのち、反射鏡パネル１２−ｎに反射された光の強度に基づいて、重み係数ｗ_ｉを決定するようにしてもよい。
第１の算出処理部１９は、例えば、座標測定部１３から、選別処理部１７により選別された位置座標での光の反射強度Ｉ_ｉを取得する。
第１の算出処理部１９は、以下の式（１２）に示すように、反射強度Ｉ_ｉから重み係数ｗ_ｉを決定する。

以上の実施の形態２は、第１の算出処理部１９が、繰り返し算出した複数の二乗和Σ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２のそれぞれに、選別処理部１７により選別された位置座標の測定誤差に基づく重み係数ｗ_ｉを乗算する。そして、第１の算出処理部１９が、重み係数ｗ_ｉを乗算した複数の二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２の中で、１番小さい二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２を探索し、探索した二乗和Σｗ_ｉ｜ｈ_ｉ（Ｋ_ｎ）｜^２に対応する行列を前記第２の算出処理部２０に出力するように、アンテナ装置２を構成した。したがって、実施の形態２のアンテナ装置２は、実施の形態１のアンテナ装置２よりも更に、アンテナ性能の劣化を低減することができる。

実施の形態３．
実施の形態３では、アンテナ装置２を備える電磁波観測装置について説明する。
電磁波観測装置は、天体などから放射される電磁波を観測するために、電磁波を電気信号に変換し、電気信号を記録する装置である。

図１０は、実施の形態３によるアンテナ装置２を備える電磁波観測装置を示す構成図である。図１０において、図１と同一符号は同一又は相当部分を示すので説明を省略する。
電磁波受信部５１は、反射鏡１２により反射された電磁波を電気信号に変換し、電気信号を信号記録部５２に出力する。
信号記録部５２は、ハードディスクなどの記憶装置によって実現される。
信号記録部５２は、電磁波受信部５１から出力された電気信号を記録する。
信号記録部５２には、図示せぬ信号処理装置が接続されている。信号処理装置は、信号記録部５２により記録されている電気信号を解析して、天体の位置又は輝度などを検出する装置である。

図１０に示すアンテナ装置２は、受信アンテナとして使用され、送信アンテナとして使用されない点以外は、図１に示すアンテナ装置２と同様であるため、図１０に示すアンテナ装置２の具体的な動作の説明を省略する。

なお、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。

この発明は、複数の反射鏡パネルを備えるアンテナ装置に適している。
また、この発明は、アンテナ装置を備える通信装置及び電磁波観測装置に適している。

１ 通信部、２ アンテナ装置、１１ 電磁波送受信部、１２ 反射鏡、１２−１〜１２−４ 反射鏡パネル、１３ 座標測定部、１４ 制御装置、１５ 座標選別部、１６ 距離算出部、１７ 選別処理部、１８ 移動位置算出部、１９ 第１の算出処理部、２０ 第２の算出処理部、２１ 駆動制御部、２２−１〜２２−５ 駆動装置、３１ 座標選別回路、３２ 移動位置算出回路、３３ 駆動制御回路、４１ メモリ、４２ プロセッサ、５１ 電磁波受信部、５２ 信号記録部。

Claims (9)

1. 電磁波を反射させる複数の反射鏡パネルと、
   前記複数の反射鏡パネルのそれぞれの反射面における複数の点の位置座標を測定する座標測定部と、
   前記座標測定部により測定された複数の点の位置座標の中から、測定誤差が許容範囲内の位置座標を選別する座標選別部と、
   前記座標選別部により選別された位置座標から、前記複数の反射鏡パネルのそれぞれを移動させる位置である移動位置を算出する移動位置算出部と、
   前記移動位置算出部により算出されたそれぞれの移動位置に、前記複数の反射鏡パネルのそれぞれを移動させる複数の駆動装置と
   を備えたアンテナ装置。
2. 前記座標選別部は、
   前記座標測定部により位置座標が測定された複数の点のうち、それぞれの反射鏡パネルの反射面における複数の点の中から、３つ以上の点をそれぞれ選択し、それぞれ選択した３つ以上の点が張る平面又は曲面と、それぞれの反射鏡パネルの反射面における複数の点との距離をそれぞれ算出する距離算出部と、
   前記座標測定部により測定された複数の点の位置座標のうち、それぞれの反射鏡パネルの反射面における複数の点の位置座標の中から、前記距離算出部により算出された距離が、前記許容範囲に対応する距離に関する閾値よりも小さい点の位置座標をそれぞれ選別する選別処理部とを備えていることを特徴とする請求項１記載のアンテナ装置。
3. 前記移動位置算出部は、反射鏡パネルの移動量を示す移動パラメータと反射鏡パネルの回転量を示す回転パラメータとを含む行列が与えられると、前記座標選別部により位置座標が選別された点と反射鏡パネルとの距離を出力する関数を用いて、それぞれの反射鏡パネルの移動位置を算出することを特徴とする請求項１記載のアンテナ装置。
4. 前記移動位置算出部は、
   前記行列に含まれている移動パラメータ及び回転パラメータのそれぞれを変えながら、前記関数から出力される距離の二乗和を繰り返し算出し、繰り返し算出した複数の二乗和の中で、１番小さい二乗和を探索し、探索した二乗和に対応する移動パラメータ及び回転パラメータのそれぞれを含む行列を出力する第１の算出処理部と、
   前記第１の算出処理部から出力された行列を用いて、それぞれの反射鏡パネルの移動位置を算出する前記第２の算出処理部とを備えていることを特徴とする請求項３記載のアンテナ装置。
5. 前記第１の算出処理部は、繰り返し算出した複数の二乗和のそれぞれに、前記座標選別部により選別された位置座標の測定誤差に基づく重み係数を乗算し、前記重み係数を乗算した複数の二乗和の中で、１番小さい二乗和を探索し、探索した二乗和に対応する移動パラメータ及び回転パラメータのそれぞれを含む行列を前記第２の算出処理部に出力することを特徴とする請求項４記載のアンテナ装置。
6. 前記第１の算出処理部は、前記座標測定部における角度誤差分布の標準偏差と、前記座標測定部における距離誤差分布の標準偏差とに基づいて、前記重み係数を決定することを特徴とする請求項５記載のアンテナ装置。
7. 前記座標測定部は、前記複数の反射鏡パネルに光を照射することで、前記複数の反射鏡パネルのそれぞれの反射面における複数の点の位置座標を測定する光学測定装置であり、
   前記第１の算出処理部は、前記複数の反射鏡パネルのそれぞれの反射面における複数の点での前記光の反射強度に基づいて、前記重み係数を決定することを特徴とする請求項５記載のアンテナ装置。
8. 送信信号を送信し、受信信号を受信する通信部と、
   前記通信部と接続されているアンテナ装置とを備え、
   前記アンテナ装置は、
   電磁波を反射させる複数の反射鏡パネルと、
   前記複数の反射鏡パネルのそれぞれの反射面における複数の点の位置座標を測定する座標測定部と、
   前記座標測定部により測定された複数の点の位置座標の中から、測定誤差が許容範囲内の位置座標を選別する座標選別部と、
   前記座標選別部により選別された位置座標から、前記複数の反射鏡パネルのそれぞれを移動させる位置である移動位置を算出する移動位置算出部と、
   前記移動位置算出部により算出されたそれぞれの移動位置に、前記複数の反射鏡パネルのそれぞれを移動させる複数の駆動装置と、
   前記通信部から送信された送信信号を電磁波に変換し、当該電磁波を前記複数の反射鏡パネルに向けて放射する一方、前記複数の反射鏡パネルにより反射された電磁波を受信信号に変換し、当該受信信号を前記通信部に出力する電磁波送受信部と
   を備えていることを特徴とする通信装置。
9. 電気信号を記録する信号記録部と、
   前記信号記録部と接続されているアンテナ装置とを備え、
   前記アンテナ装置は、
   電磁波を反射させる複数の反射鏡パネルと、
   前記複数の反射鏡パネルのそれぞれの反射面における複数の点の位置座標を測定する座標測定部と、
   前記座標測定部により測定された複数の点の位置座標の中から、測定誤差が許容範囲内の位置座標を選別する座標選別部と、
   前記座標選別部により選別された位置座標から、前記複数の反射鏡パネルのそれぞれを移動させる位置である移動位置を算出する移動位置算出部と、
   前記移動位置算出部により算出されたそれぞれの移動位置に、前記複数の反射鏡パネルのそれぞれを移動させる複数の駆動装置と、
   前記複数の反射鏡パネルにより反射された電磁波を電気信号に変換し、当該電気信号を前記信号記録部に出力する電磁波受信部と
   を備えていることを特徴とする電磁波観測装置。

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