JP6797671B2 - 計測装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 - Google Patents
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Description
本実施形態に係る第1の計測装置は、光を照射する照射部と、前記照射部が照射した光を受光する第1受光部と、前記光が散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、前記第1受光部の受光信号及び目標光量情報に基づいて、デジタル制御信号を出力する制御部と、前記デジタル制御信号をアナログ制御信号に変換し、前記照射部を駆動する駆動部に出力する変換部と、前記第1受光部の受光信号、前記第2受光部の受光信号、及び前記目標光量情報に基づいて、規格化光量信号を生成する規格化部とを備える。
本実施形態に係る計測装置の一態様では、前記規格化光量信号に基づいて、前記散乱体に関する情報を推定する推定部を更に備える。
本実施形態に係る計測装置の他の態様では、前記目標光量情報が示す目標光量を前記第1受光部の受光信号が示す第1受光量で除した値を、前記第2受光部の受光信号が示す第2受光量に乗じて、前記規格化光量信号を生成する。
本実施形態に係る第2の計測装置は、光を照射する照射部と、前記照射部が照射した光を受光する第1受光部と、前記光が散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、前記第1受光部の受光信号に基づいて、前記照射部が照射する光が目標光量となるように、前記照射部を制御する制御部と、前記第1受光部の受光信号、前記第2受光部の受光信号、及び前記目標光量を示す目標光量情報に基づいて、前記制御部における量子化に伴うノイズを低減した規格化光量信号を生成する規格化部とを備える。
本実施形態に係る計測方法は、光を照射する照射部と、前記照射部が照射した光を受光する第1受光部と、前記光が散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、を備える計測装置を用いた計測方法であって、前記第1受光部の受光信号及び目標光量情報に基づいて、デジタル制御信号を出力する制御工程と、前記デジタル制御信号をアナログ制御信号に変換し、前記照射部を駆動する駆動部に出力する変換工程と、前記第1受光部の受光信号、前記第2受光部の受光信号、及び前記目標光量情報に基づいて、規格化光量信号を生成する規格化工程とを含む。
本実施形態に係るコンピュータプログラムは、光を照射する照射部と、前記照射部が照射した光を受光する第1受光部と、前記光が散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、を備える計測装置に用いるコンピュータプログラムであって、前記第1受光部の受光信号及び目標光量情報に基づいて、デジタル制御信号を出力する制御工程と、前記デジタル制御信号をアナログ制御信号に変換し、前記照射部を駆動する駆動部に出力する変換工程と、前記第1受光部の受光信号、前記第2受光部の受光信号、及び前記目標光量情報に基づいて、規格化光量信号を生成する規格化工程とをコンピュータに実行させる。
本実施形態に係る記録媒体は、上述したコンピュータプログラムが記録されている。
先ず、図1を参照して、本実施例に係る計測装置の全体構成について説明する。図1は、実施例に係る計測装置の全体構成を示すブロック図である。
次に、図2から図4を参照して、DA変換器150で発生し得る量子化ノイズの発生原理について詳細に説明する。図2は、制御値Kcと制御電圧Voとの関係を示すグラフである。図3は、制御値Kc=Kc1の場合の制御電圧Voの経時変化の一例を示すグラフであり、図4は、制御値Kc=Kc2の場合の制御電圧Voの経時変化の一例を示すグラフである。
次に、図5を参照して、規格化部160による規格化処理によって得られる技術的効果について詳細に説明する。図5は、計測光量Kk及び規格化光量Ksを示すグラフである。
上記数式(1)では、規格化光量Ksを求める際に、計測光量Kkに対し、目標光量Ktとモニタ光量Kmとの比が乗算される。この結果、規格化光量Ksは、被検体200に関する情報を示す長周期の右肩上がりの信号となり、量子化ノイズの影響による矩形波は取り除かれる(図中の点線参照)。これにより、推定部170における推定精度を高めることが可能である。
115 LD駆動器
121 第1光量検出器
122 第2光量検出器
131 第1AD変換器
132 第2AD変換器
140 レーザ制御部
150 DA変換器
160 規格化部
170 推定部
Claims (7)
- 光を照射する照射部と、
前記照射部が照射した光を受光する第1受光部と、
前記光が散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、
前記第1受光部の受光信号及び目標光量情報に基づいて、デジタル制御信号を出力する制御部と、
前記デジタル制御信号をアナログ制御信号に変換し、前記照射部を駆動する駆動部に出力する変換部と、
前記第1受光部の受光信号、前記第2受光部の受光信号、及び前記目標光量情報に基づいて、規格化光量信号を生成する規格化部と
を備えることを特徴とする計測装置。 - 前記規格化光量信号に基づいて、前記散乱体に関する情報を推定する推定部を更に備えることを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記規格化部は、前記目標光量情報が示す目標光量を前記第1受光部の受光信号が示す第1受光量で除した値を、前記第2受光部の受光信号が示す第2受光量に乗じて、前記規格化光量信号を生成することを特徴とする請求項1又は2に記載の計測装置。
- 光を照射する照射部と、
前記照射部が照射した光を受光する第1受光部と、
前記光が散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、
前記第1受光部の受光信号に基づいて、前記照射部が照射する光が目標光量となるように、前記照射部を制御する制御部と、
前記第1受光部の受光信号、前記第2受光部の受光信号、及び前記目標光量を示す目標光量情報に基づいて、前記制御部における量子化に伴うノイズを低減した規格化光量信号を生成する規格化部と
を備えることを特徴とする計測装置。 - 光を照射する照射部と、前記照射部が照射した光を受光する第1受光部と、前記光が散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、を備える計測装置を用いた計測方法であって、
前記第1受光部の受光信号及び目標光量情報に基づいて、デジタル制御信号を出力する制御工程と、
前記デジタル制御信号をアナログ制御信号に変換し、前記照射部を駆動する駆動部に出力する変換工程と、
前記第1受光部の受光信号、前記第2受光部の受光信号、及び前記目標光量情報に基づいて、規格化光量信号を生成する規格化工程と
を含むことを特徴とする計測方法。 - 光を照射する照射部と、前記照射部が照射した光を受光する第1受光部と、前記光が散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、を備える計測装置に用いるコンピュータプログラムであって、
前記第1受光部の受光信号及び目標光量情報に基づいて、デジタル制御信号を出力する制御工程と、
前記デジタル制御信号をアナログ制御信号に変換し、前記照射部を駆動する駆動部に出力する変換工程と、
前記第1受光部の受光信号、前記第2受光部の受光信号、及び前記目標光量情報に基づいて、規格化光量信号を生成する規格化工程と
をコンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 請求項6に記載のコンピュータプログラムが記録されていることを特徴とする記録媒体。
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JP2016250844A JP6797671B2 (ja) | 2016-12-26 | 2016-12-26 | 計測装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 |
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JP2016250844A JP6797671B2 (ja) | 2016-12-26 | 2016-12-26 | 計測装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 |
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JP2018105675A JP2018105675A (ja) | 2018-07-05 |
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JP2016250844A Active JP6797671B2 (ja) | 2016-12-26 | 2016-12-26 | 計測装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 |
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