JP6789168B2 - Transparent conductive film and touch panel using it - Google Patents

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本発明は、第2の硬化樹脂層と、透明樹脂フィルムと、第1の硬化樹脂層と、透明導電層とをこの順に有する透明導電性フィルム及びそれを用いたタッチパネルに関する。 The present invention relates to a transparent conductive film having a second cured resin layer, a transparent resin film, a first cured resin layer, and a transparent conductive layer in this order, and a touch panel using the same.

従来、透明導電性部材としてはガラス上に酸化インジウム薄膜を形成した、いわゆる導電性ガラスがよく知られている。しかしながら、導電性ガラスは基材がガラスであるために可撓性、加工性に劣り、用途によっては適用が困難な場合がある。そのため近年では可撓性、加工性に加えて、耐衝撃性に優れ、軽量であることなどの利点から、ポリエチレンテレフタレートをはじめとするプラスチックフィルム基材を用いる透明導電性フィルムが普及している。 Conventionally, so-called conductive glass in which an indium oxide thin film is formed on glass is well known as a transparent conductive member. However, since the base material of conductive glass is glass, it is inferior in flexibility and processability, and it may be difficult to apply it depending on the application. Therefore, in recent years, transparent conductive films using a plastic film base material such as polyethylene terephthalate have become widespread because of their advantages such as excellent impact resistance and light weight in addition to flexibility and workability.

しかし、液晶表示素子の上に透明なタッチパネルを搭載したディスプレイがモバイルサイズから中型〜大型サイズへと普及していくなかで、液晶表示素子の特性の高度化のみならず、タッチパネル用透明導電性フィルムの光学特性の向上に対する要求も高まっており、特に従来のポリエチレンテレフタレートを用いる透明導電性フィルムは厚さにもよるが数千nmという位相差を有するために、偏光板の下では使用できない場合がある。 However, as displays with a transparent touch panel mounted on the liquid crystal display element have become widespread from mobile size to medium to large size, not only the characteristics of the liquid crystal display element have become more sophisticated, but also the transparent conductive film for the touch panel. There is also an increasing demand for improvement of the optical characteristics of the film, and in particular, the transparent conductive film using conventional polyethylene terephthalate has a phase difference of several thousand nm depending on the thickness, so that it may not be used under a polarizing plate. is there.

そこで、位相差をコントロールした透明導電性フィルム用の基材として、例えば、シクロオレフィン系樹脂フィルム、ポリカーボネート系樹脂フィルム等が提案されている(例えば、特許文献1)。しかしながら、シクロオレフィン系樹脂フィルムのような基材は柔らかく、基材両面に硬化樹脂層(ハードコート層)を形成してロールtoロール製法で搬送することが提案されている(例えば、特許文献2)。 Therefore, as a base material for a transparent conductive film in which the phase difference is controlled, for example, a cycloolefin-based resin film, a polycarbonate-based resin film, and the like have been proposed (for example, Patent Document 1). However, a base material such as a cycloolefin resin film is soft, and it has been proposed to form a cured resin layer (hard coat layer) on both sides of the base material and carry it by a roll-to-roll method (for example, Patent Document 2). ).

一方、プラスチックフィルム基材上にITO(インジウム・スズ複合酸化物)膜等の透明導電層をロールtoロール製法で成膜する場合、基材の耐熱性による制約があるため、高い温度でスパッタ成膜を行うことができない。そのため、成膜直後のITOはアモルファス膜(成膜温度によっては、一部が結晶化している場合もある)となっている。このようなアモルファスのITO膜は黄ばみが強く透明性に劣り、抵抗変化が大きい等の問題がある。そのため、一般的には、アモルファスのITO膜を成膜した後、大気中の酸素雰囲気下でロールtoロール製法にて加熱処理することにより、アモルファスITO膜を結晶性ITO膜へ転化させることが行われている(結晶化アニール処理)。 On the other hand, when a transparent conductive layer such as an ITO (indium tin oxide composite oxide) film is formed on a plastic film base material by a roll-to-roll method, it is sputtered at a high temperature due to restrictions due to the heat resistance of the base material. The membrane cannot be made. Therefore, the ITO immediately after the film formation is an amorphous film (a part of the ITO film may be crystallized depending on the film formation temperature). Such an amorphous ITO film has problems such as strong yellowing, poor transparency, and a large change in resistance. Therefore, in general, it is possible to convert an amorphous ITO film into a crystalline ITO film by forming an amorphous ITO film and then heat-treating it in an oxygen atmosphere in the atmosphere by a roll-to-roll manufacturing method. (Crystallization and annealing treatment).

特開2010−162746号公報JP-A-2010-162746 特開2016−081733号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-081733

しかしながら、透明導電層を成膜後すぐに結晶化アニール処理を行う場合(前者)もあるが、製造上等の都合により、成膜後すぐに結晶化アニール処理せずに、ロール状態で使用時まで保管した後、必要時に結晶化アニール処理を行う場合(後者)もある。本発明者らの検討によると、前者の場合(即ち、アモルファス膜を結晶化アニール処理する場合)、特に問題が生じなかったものの、後者の場合(即ち、保管により、一部が自然に結晶化された透明導電層を結晶化アニール処理する場合)、透明導電層にクラックが生じることが判明した。特に、線膨張係数が高い基材に比較的柔らかい硬化樹脂層を形成している場合、前記のようなクラックの問題が生じることが判明した。しかしながら、基材両面に同じ硬さの硬化樹脂層を設けて硬度を高めるだけでは、成膜工程や結晶化アニール工程等のロールtoロール搬送工程において、付加される熱や搬送張力によって、フィルムが割れやすくなる場合があることが判明した。 However, there are cases where the transparent conductive layer is crystallized and annealed immediately after the film is formed (the former), but due to manufacturing reasons, the transparent conductive layer is not subjected to the crystallization annealing immediately after the film formation and is used in a roll state. In some cases, after storing until, crystallization annealing treatment is performed when necessary (the latter). According to the studies by the present inventors, in the former case (that is, when the amorphous film is crystallized and annealed), no particular problem occurs, but in the latter case (that is, a part of the amorphous film is naturally crystallized by storage). When the transparent conductive layer was crystallized and annealed), it was found that cracks were generated in the transparent conductive layer. In particular, it has been found that when a relatively soft cured resin layer is formed on a substrate having a high coefficient of linear expansion, the above-mentioned crack problem occurs. However, if only a cured resin layer having the same hardness is provided on both sides of the base material to increase the hardness, the film will be formed due to the heat and transfer tension applied in the roll-to-roll transfer process such as the film forming process and the crystallization annealing process. It turned out that it may be easily cracked.

そこで、本発明の目的は、線膨張係数が高い基材を用いた場合であっても、かつ、透明導電層を成膜後すぐに結晶化アニール処理しないで保管後に結晶化アニール処理する場合であっても、透明導電層にクラックが発生しないとともに、ロールtoロール搬送工程での透明樹脂フィルムの破断を抑制できる透明導電性フィルム及びこれを用いたタッチパネルを提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is a case where a substrate having a high linear expansion coefficient is used, and the transparent conductive layer is subjected to crystallization annealing after storage without crystallization annealing immediately after film formation. Even if there is, it is an object of the present invention to provide a transparent conductive film capable of suppressing cracking in the transparent conductive layer and suppressing breakage of the transparent resin film in the roll-to-roll transfer step, and a touch panel using the transparent conductive film.

本発明者らは、まず、クラック発生防止の課題を解決すべく鋭意検討した結果、一部が自然に結晶化された透明導電層は、アモルファス膜に比べて柔軟性に乏しく、結晶化アニール処理時に基材等の熱膨張に追随していくことができず、透明導電層にクラックが生じるのではないかと考えた。つまり、アモルファス膜の透明導電層であれば、結晶化アニール処理時の基材や硬化樹脂層の熱変形に対して、追随していくことができるのに対して、一部結晶化された透明導電層は硬く、基材や硬化樹脂層の熱変形に追随していくことができず、透明導電層の表面にクラックが発生し易くなってしまうのではないかと考えた。そこで、透明樹脂フィルムの線膨張係数が高い基材を用いたとしても、さらに、透明導電層が一部結晶化されていたとしても、熱変形を抑制する硬い第1の硬化樹脂層を、無機粒子を所定量含有させることにより構成することで、クラック発生防止の課題を解決できることを見出した。 As a result of diligent studies to solve the problem of preventing cracks, the present inventors first, as a result, the transparent conductive layer partially crystallized naturally has less flexibility than the amorphous film, and is subjected to crystallization annealing treatment. At times, it was not possible to keep up with the thermal expansion of the base material, and I thought that cracks might occur in the transparent conductive layer. In other words, the transparent conductive layer of the amorphous film can follow the thermal deformation of the base material and the cured resin layer during the crystallization annealing treatment, whereas it is partially crystallized and transparent. It was thought that the conductive layer was hard and could not follow the thermal deformation of the base material and the cured resin layer, and cracks were likely to occur on the surface of the transparent conductive layer. Therefore, even if a base material having a high coefficient of linear expansion of the transparent resin film is used, and even if the transparent conductive layer is partially crystallized, the hard first cured resin layer that suppresses thermal deformation is made inorganic. It has been found that the problem of preventing the occurrence of cracks can be solved by the composition by containing a predetermined amount of particles.

さらに、本発明者らは、クラック発生防止の課題を解決しつつも、フィルム破断抑制の課題を解決すべく鋭意検討した結果、透明樹脂フィルムの両面に形成された各硬化樹脂層に対して、両面ともに同じ硬度とするだけでは、前記課題を両立するには不十分であると考えた。そこで、各硬化樹脂層を片面ずつ、硬度をバランス良く調整することで、前記課題を両立できるのではないかと考えた。即ち、透明導電層を形成する面側の硬化樹脂層(第1の硬化樹脂層)に対して、無機粒子を所定量含有させ、柔軟性とは相反する特性である高硬度化を行い、他方の硬化樹脂層(第2の硬化樹脂層)とは別にコントロールすることで、クラックの発生を防止できると考えた。一方で、第2の硬化樹脂層に対しては、高硬度化とは相反する特性である柔軟性を付与することで、曲げ耐性を向上して、成膜プロセス等の搬送工程での透明樹脂フィルムの破断を防止できると考えた。このように各硬化樹脂層を片面ずつ、硬度をバランス良く調整することで、上記目的を両立しながら達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。 Furthermore, as a result of diligent studies to solve the problem of suppressing film breakage while solving the problem of preventing cracks, the present inventors have applied to each cured resin layer formed on both sides of the transparent resin film. It was considered that it is not enough to achieve both of the above problems if the hardness is the same on both sides. Therefore, it was thought that the above problems could be achieved by adjusting the hardness of each cured resin layer on one side in a well-balanced manner. That is, the cured resin layer (first cured resin layer) on the surface side on which the transparent conductive layer is formed contains a predetermined amount of inorganic particles to increase the hardness, which is a characteristic contrary to the flexibility, while increasing the hardness. It was considered that the occurrence of cracks could be prevented by controlling separately from the cured resin layer (second cured resin layer). On the other hand, the second cured resin layer is provided with flexibility, which is a characteristic contrary to the increase in hardness, to improve bending resistance and to be a transparent resin in a transport process such as a film forming process. We thought that it would be possible to prevent the film from breaking. By adjusting the hardness of each cured resin layer on one side in a well-balanced manner in this way, it has been found that the above object can be achieved while achieving both, and the present invention has been completed.

即ち、本発明は、第2の硬化樹脂層と、透明樹脂フィルムと、第1の硬化樹脂層と、透明導電層とをこの順に有する透明導電性フィルムであって、前記透明樹脂フィルムは、線膨張係数が5.0×10-5cm/cm・℃以上であり、前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.27GPa以上であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa未満であり、前記第1の硬化樹脂層は、無機粒子を10〜70重量%含有する透明導電性フィルムであることを特徴とする。なお、本発明における各種の物性値は、特に断りのない限り実施例等において採用する方法により測定される値である。 That is, the present invention is a transparent conductive film having a second cured resin layer, a transparent resin film, a first cured resin layer, and a transparent conductive layer in this order, and the transparent resin film is a wire. The expansion coefficient is 5.0 × 10 -5 cm / cm · ° C. or more, the hardness of the first cured resin layer by the indentation test is 0.27 GPa or more, and the indentation test of the second cured resin layer is performed. The hardness of the first cured resin layer is less than 0.29 GPa, and the first cured resin layer is a transparent conductive film containing 10 to 70% by weight of inorganic particles. The various physical property values in the present invention are values measured by the method adopted in Examples and the like unless otherwise specified.

これにより、線膨張係数が高い基材を用いた場合であっても、かつ、透明導電層を成膜後すぐに結晶化アニール処理しないで保管後に結晶化アニール処理する場合であっても、透明導電層にクラックが発生しないとともに、ロールtoロール搬送工程での透明樹脂フィルムの破断を抑制できる。 As a result, even when a base material having a high coefficient of linear expansion is used, and even when the transparent conductive layer is not crystallized and annealed immediately after film formation but is stored and then crystallized and annealed, it is transparent. Cracks do not occur in the conductive layer, and breakage of the transparent resin film in the roll-to-roll transfer process can be suppressed.

本発明における第1の硬化樹脂層の屈折率は、1.45〜1.50であることが好ましい。 The refractive index of the first cured resin layer in the present invention is preferably 1.45 to 1.50.

本発明では、第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa以上であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa未満であることが好ましい。これにより、各硬化樹脂層が前記範囲の硬度を有することによって、バランスが調整できるため、透明導電層の成膜時のライン走行性を改善できるとともに、アニール工程や後工程でのハンドリング性を改善でき、加工搬送が容易となり作業効率を向上できる。また、クラック発生防止の課題とフィルム破断抑制の課題とを両立して達成する上で、有利である。 In the present invention, it is preferable that the hardness of the first cured resin layer in the indentation test is 0.29 GPa or more, and the hardness of the second cured resin layer in the indentation test is less than 0.29 GPa. As a result, since each cured resin layer has the hardness in the above range, the balance can be adjusted, so that the line running performance at the time of film formation of the transparent conductive layer can be improved, and the handleability in the annealing step and the post-process is improved. This makes processing and transportation easier, and work efficiency can be improved. In addition, it is advantageous in achieving both the problem of preventing crack generation and the problem of suppressing film breakage.

本発明では、第1の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量が、50nm以下であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量が、50nmより大きいことが好ましい。これにより、第1の硬化樹脂層をより硬く形成することができ、透明樹脂フィルムの熱膨張等に起因する熱変形を防止しつつ搬送できるため、クラック発生防止の課題とフィルム破断抑制の課題とを両立して達成する上で、より有利である。 In the present invention, it is preferable that the amount of plastic deformation by the indentation test of the first cured resin layer is 50 nm or less, and the amount of plastic deformation by the indentation test of the second cured resin layer is larger than 50 nm. As a result, the first cured resin layer can be formed harder, and the transparent resin film can be conveyed while being prevented from being thermally deformed due to thermal expansion or the like. Therefore, there are problems of preventing cracks and suppressing film breakage. It is more advantageous to achieve both.

本発明では、第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度から、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度を引いた値が、0GPaより大きく1.0GPa以下であることが好ましい。このような硬度差を有することで、上記作用効果を両立して実現する上でより有利となる。 In the present invention, the value obtained by subtracting the hardness of the second cured resin layer by the indentation test from the hardness of the first cured resin layer in the indentation test is preferably greater than 0 GPa and 1.0 GPa or less. Having such a hardness difference is more advantageous in realizing both the above-mentioned effects and effects.

本発明では、第1の硬化樹脂層と前記透明導電層との間に1層以上の光学調整層をさらに備えることが好ましい。光学調整層により、屈折率を制御できるため、透明導電層をパターン化した場合には、パターン形成部とパターン開口部との反射率差を低減することができ、透明導電層パターンが見えにくく、タッチパネル等の表示装置において視認性を良好にすることができる。 In the present invention, it is preferable to further provide one or more optical adjustment layers between the first cured resin layer and the transparent conductive layer. Since the refractive index can be controlled by the optical adjustment layer, when the transparent conductive layer is patterned, the difference in reflectance between the pattern forming portion and the pattern opening can be reduced, and the transparent conductive layer pattern is difficult to see. Visibility can be improved in a display device such as a touch panel.

本発明における透明樹脂フィルムは、シクロオレフィン系樹脂フィルム又はポリカーボネート系樹脂フィルムであることが好ましい。シクロオレフィン系樹脂フィルム又はポリカーボネート系樹脂フィルムは、一般的に、低位相差の基材であるため、偏光板の下であっても用いることができ、透明導電性フィルムとしての用途を大幅に広げることができる。 The transparent resin film in the present invention is preferably a cycloolefin resin film or a polycarbonate resin film. Since the cycloolefin-based resin film or the polycarbonate-based resin film is generally a base material having a low retardation, it can be used even under a polarizing plate, and its use as a transparent conductive film is greatly expanded. Can be done.

本発明における無機粒子は、シリカ粒子であることが好ましい。シリカ粒子とすることにより、透明性が高く樹脂へ均一に分散できること、かつ、第1の硬化樹脂層をより硬く形成することができ、透明樹脂フィルムの熱膨張等に起因する熱変形を防止できるため、クラック発生防止の課題とフィルム破断抑制の課題とを両立して達成する上で、より有利である。 The inorganic particles in the present invention are preferably silica particles. By using silica particles, the transparency is high and the resin can be uniformly dispersed, and the first cured resin layer can be formed harder, so that thermal deformation due to thermal expansion of the transparent resin film can be prevented. Therefore, it is more advantageous to achieve both the problem of preventing crack generation and the problem of suppressing film breakage.

本発明の透明導電性フィルムは、インナータッチパネルに用いられることが好ましい。本発明の透明導電性フィルムを、液晶表示素子の偏光板の下に重ねるインナータッチパネルに用いることで、液晶表示素子の偏光板の上に重ねるアウタータイプのものに比べて、光学特性の影響が少なく、透明導電層のパターン見栄えの上でより有利である。 The transparent conductive film of the present invention is preferably used for an inner touch panel. By using the transparent conductive film of the present invention for the inner touch panel that is laminated under the polarizing plate of the liquid crystal display element, the influence of the optical characteristics is less than that of the outer type that is laminated on the polarizing plate of the liquid crystal display element. , It is more advantageous in terms of the pattern appearance of the transparent conductive layer.

本発明のタッチパネルは、前記透明導電性フィルムを含むことが好ましい。前記透明導電性フィルムを用いることによって、線膨張係数が高い基材を用いた場合であっても、かつ、透明導電層を成膜後すぐに結晶化アニール処理しないで保管後に結晶化アニール処理する場合であっても、透明導電層にクラックが発生することを防止することができ、タッチパネルの品質を向上させることができる。また、透明導電層の成膜時のライン走行性を改善できるとともに、ロールtoロール搬送工程での透明樹脂フィルムの破断を抑制できるため、アニール工程や後工程でのハンドリング性を改善でき、加工搬送が容易となり作業効率を向上できる。 The touch panel of the present invention preferably contains the transparent conductive film. By using the transparent conductive film, even when a substrate having a high linear expansion coefficient is used, the transparent conductive layer is crystallized and annealed after storage without being crystallized and annealed immediately after film formation. Even in this case, it is possible to prevent cracks from occurring in the transparent conductive layer, and it is possible to improve the quality of the touch panel. In addition, the line running performance at the time of film formation of the transparent conductive layer can be improved, and the breakage of the transparent resin film in the roll-to-roll transfer process can be suppressed, so that the handleability in the annealing process and the post-process can be improved, and the processing transfer can be performed. Is easy and work efficiency can be improved.

本発明の一実施形態に係る透明導電性フィルムの模式的断面図である。It is a schematic sectional view of the transparent conductive film which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係る透明導電性フィルムの模式的断面図である。It is a schematic sectional view of the transparent conductive film which concerns on other embodiment of this invention. 180°折り曲げ試験の手順を説明するための模式的側面図である。It is a schematic side view for demonstrating the procedure of a 180 ° bending test. 比較例1でクラック確認試験後のレーザー顕微鏡(×50倍)の写真である。It is a photograph of a laser microscope (× 50 times) after a crack confirmation test in Comparative Example 1. 比較例1でクラック確認試験後の非接触3次元表面計測の写真である。It is a photograph of the non-contact three-dimensional surface measurement after the crack confirmation test in Comparative Example 1. 実施例1でクラック確認試験後のレーザー顕微鏡(×50倍)の写真である。It is a photograph of a laser microscope (× 50 times) after a crack confirmation test in Example 1.

本発明の透明導電性フィルムの実施形態について、図面を参照しながら以下に説明する。ただし、図の一部又は全部において、説明に不要な部分は省略し、また説明を容易にするために拡大または縮小等して図示した部分がある。上下等の位置関係を示す用語は、単に説明を容易にするために用いられており、本発明の構成を限定する意図は一切ない。 An embodiment of the transparent conductive film of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, in some or all of the figures, parts unnecessary for explanation are omitted, and some parts are enlarged or reduced for ease of explanation. The terms indicating the positional relationship such as top and bottom are used merely for the sake of facilitation of explanation, and there is no intention of limiting the configuration of the present invention.

<透明導電性フィルム>
本発明の一実施形態について、図面を参照しながら以下に説明する。図1は、本発明の透明導電性フィルムの一実施形態を模式的に示す断面図である。透明導電性フィルム10は、第2の硬化樹脂層2´と、透明樹脂フィルム1と、第1の硬化樹脂層2と、透明導電層3とをこの順に有する。なお、第1の硬化樹脂層2は、透明樹脂フィルム1の第1主面S1側に形成され、第2の硬化樹脂層2´は、透明樹脂フィルム1の第1主面S1と反対側の第2主面S2側に形成されている。即ち、透明樹脂フィルム1の両面に、第1の硬化樹脂層2及び第2の硬化樹脂層2´が形成されている。第1の硬化樹脂層2及び第2の硬化樹脂層2´は、アンチブロッキング層やハードコート層として機能するものを含む。図1には図示していないが、必要に応じて、第2の硬化樹脂層2´の透明樹脂フィルム1側の面とは反対側にも、1層又は2層以上の透明導電層を設けることができる。
<Transparent conductive film>
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing an embodiment of the transparent conductive film of the present invention. The transparent conductive film 10 has a second cured resin layer 2', a transparent resin film 1, a first cured resin layer 2, and a transparent conductive layer 3 in this order. The first cured resin layer 2 is formed on the first main surface S1 side of the transparent resin film 1, and the second cured resin layer 2'is on the side opposite to the first main surface S1 of the transparent resin film 1. It is formed on the second main surface S2 side. That is, the first cured resin layer 2 and the second cured resin layer 2'are formed on both sides of the transparent resin film 1. The first cured resin layer 2 and the second cured resin layer 2'include those that function as an anti-blocking layer and a hard coat layer. Although not shown in FIG. 1, one layer or two or more transparent conductive layers are provided on the side of the second cured resin layer 2 ′ opposite to the surface on the transparent resin film 1 side, if necessary. be able to.

図2に示す透明導電性フィルム11では、図1で示す透明導電性フィルム10の層構成に加え、第1の硬化樹脂層2と透明導電層3との間に1層の光学調整層4がさらに設けられている。1層の光学調整層4は、2層以上の光学調整層4とすることもできる。図2には図示していないが、必要に応じて、第2の硬化樹脂層2´の透明樹脂フィルム1側の面とは反対側に、1層又は2層以上の光学調整層を設けることができる。なお、前記光学調整層上に透明導電層をさらに設けることができる。 In the transparent conductive film 11 shown in FIG. 2, in addition to the layer structure of the transparent conductive film 10 shown in FIG. 1, one optical adjusting layer 4 is provided between the first cured resin layer 2 and the transparent conductive layer 3. It is also provided. The one-layer optical adjustment layer 4 may be two or more optical adjustment layers 4. Although not shown in FIG. 2, if necessary, one layer or two or more optical adjustment layers are provided on the side of the second cured resin layer 2 ′ opposite to the surface on the transparent resin film 1 side. Can be done. A transparent conductive layer can be further provided on the optical adjustment layer.

図1〜2には図示していないが、ロールtoロール搬送を容易にする観点から、保護フィルムの一方の面側に粘着剤層を有するキャリアフィルムを、粘着剤層を介して、透明導電性フィルム10,11を積層することができる。この場合、透明導電性フィルム10,11の第2の硬化樹脂層2´が形成されている面側を粘着剤層と貼りあわせて、透明導電性フィルム積層体を形成することができる。 Although not shown in FIGS. 1 and 2, a carrier film having an adhesive layer on one surface side of the protective film is transparently conductive via the adhesive layer from the viewpoint of facilitating roll-to-roll transfer. The films 10 and 11 can be laminated. In this case, the surface side of the transparent conductive films 10 and 11 on which the second cured resin layer 2'is formed can be bonded to the pressure-sensitive adhesive layer to form a transparent conductive film laminate.

(透明樹脂フィルム)
透明樹脂フィルムとしては、透明導電性フィルムの基材として用いられるものを使用できる。透明樹脂フィルムの線膨張係数が5.0×10−5cm/cm・℃以上のときに、当該樹脂フィルム上に形成された透明導電膜に前記クラックが生じやすくなる傾向があり、本発明の効果が顕著に認められるようになる。透明樹脂フィルムの線膨張係数が大きくなりすぎると、前記クラックを抑制するには前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が高くなりすぎて透明導電性フィルムの柔軟性が損なわれることから、透明樹脂フィルムの線膨張係数は1.0×10−4cm/cm・℃以下であることが好ましい。透明樹脂フィルムの線膨張係数は、6.0×10−5cm/cm・℃〜9.0×10−5cm/cm・℃であることが好ましい。
(Transparent resin film)
As the transparent resin film, one used as a base material of the transparent conductive film can be used. When the coefficient of linear expansion of the transparent resin film is 5.0 × 10 −5 cm / cm · ° C. or higher, the transparent conductive film formed on the resin film tends to have cracks, and the present invention has a tendency to cause the cracks. The effect will be noticeable. If the linear expansion coefficient of the transparent resin film becomes too large, the hardness of the first cured resin layer in the indentation test becomes too high to suppress the cracks, and the flexibility of the transparent conductive film is impaired. The linear expansion coefficient of the transparent resin film is preferably 1.0 × 10 -4 cm / cm · ° C. or less. The coefficient of linear expansion of the transparent resin film is preferably 6.0 × 10 −5 cm / cm · ° C. to 9.0 × 10 −5 cm / cm · ° C.

透明樹脂フィルムの引張り破断強度は、特に制限されないものの、両面に硬化樹脂層を必要とする観点から、100MPa以下が好ましく、95MPa以下がより好ましく、90MPa以下が更に好ましく、85MPa以下が特に好ましい。引張り破断強度の下限値は、特に制限されないものの、ロールtoロール製法による搬送を可能にする観点から、10MPa以上が好ましく、30MPa以上がより好ましい。 The tensile breaking strength of the transparent resin film is not particularly limited, but from the viewpoint of requiring a cured resin layer on both sides, 100 MPa or less is preferable, 95 MPa or less is more preferable, 90 MPa or less is further preferable, and 85 MPa or less is particularly preferable. Although the lower limit of the tensile breaking strength is not particularly limited, it is preferably 10 MPa or more, more preferably 30 MPa or more, from the viewpoint of enabling transportation by the roll-to-roll manufacturing method.

透明樹脂フィルムとしては、透明性を有する各種のプラスチックフィルムが用いられる。例えば、透明樹脂フィルムとして、ポリエステル系樹脂フィルム、シクロオレフィン系樹脂フィルム、ポリカーボネート系樹脂フィルム、アセテート系樹脂フィルム、ポリエーテルスルホン系樹脂フィルム、ポリアミド系樹脂フィルム、ポリイミド系樹脂フィルム、ポリオレフィン系樹脂フィルム、(メタ)アクリル系樹脂フィルム、ポリ塩化ビニル系樹脂フィルム、ポリ塩化ビニリデン系樹脂フィルム、ポリスチレン系樹脂フィルム、ポリビニルアルコール系樹脂フィルム、ポリアリレート系樹脂フィルム、ポリフェニレンサルファイド系樹脂フィルム等が挙げられる。線膨張係数、引張り破断強度、高透明性及び低吸水性の観点から、これらの中で好ましいのは、シクロオレフィン系樹脂フィルム、又は、ポリカーボネート系樹脂フィルムである。また、偏光板の下で使用する観点から、これらの中で特に好ましいのは、シクロオレフィン系樹脂フィルムである。 As the transparent resin film, various transparent plastic films are used. For example, as the transparent resin film, polyester resin film, cycloolefin resin film, polycarbonate resin film, acetate resin film, polyether sulfone resin film, polyamide resin film, polyimide resin film, polyolefin resin film, etc. Examples thereof include (meth) acrylic resin film, polyvinyl chloride resin film, polyvinylidene chloride resin film, polystyrene resin film, polyvinyl alcohol resin film, polyarylate resin film, polyphenylene sulfide resin film and the like. From the viewpoints of linear expansion coefficient, tensile breaking strength, high transparency and low water absorption, cycloolefin-based resin films or polycarbonate-based resin films are preferable. Further, from the viewpoint of using under a polarizing plate, a cycloolefin-based resin film is particularly preferable.

シクロオレフィン系樹脂フィルムは、シクロオレフィン系樹脂により形成されており、線膨張係数が高く、高透明性、低位相差、低吸水性等の特性を有するが、引張り破断強度が低く、ロールtoロールのような搬送工程中に割れやすく、傷付き易いという特性も有する。シクロオレフィン系樹脂フィルムの採用により透明導電性フィルムの光学特性の制御が可能となる。 The cycloolefin-based resin film is formed of a cycloolefin-based resin and has properties such as high linear expansion coefficient, high transparency, low phase difference, and low water absorption, but has low tensile breaking strength and is roll-to-roll. It also has the property of being easily cracked and easily damaged during such a transport process. By adopting a cycloolefin-based resin film, it is possible to control the optical characteristics of the transparent conductive film.

シクロオレフィン系樹脂フィルムを形成するシクロオレフィン系樹脂としては、環状オレフィン(シクロオレフィン)からなるモノマーのユニットを有する樹脂であれば特に限定されるものではない。シクロオレフィン系樹脂フィルムに用いられるシクロオレフィン系樹脂としては、シクロオレフィンポリマー(COP)又はシクロオレフィンコポリマー(COC)のいずれであってもよい。シクロオレフィンコポリマーとは、環状オレフィンとエチレン等のオレフィンとの共重合体である非結晶性の環状オレフィン系樹脂のことをいう。 The cycloolefin-based resin that forms the cycloolefin-based resin film is not particularly limited as long as it is a resin having a monomer unit composed of a cyclic olefin (cycloolefin). The cycloolefin-based resin used for the cycloolefin-based resin film may be either a cycloolefin polymer (COP) or a cycloolefin copolymer (COC). The cycloolefin copolymer refers to a non-crystalline cyclic olefin resin which is a copolymer of a cyclic olefin and an olefin such as ethylene.

上記環状オレフィンとしては、多環式の環状オレフィンと単環式の環状オレフィンとが存在している。かかる多環式の環状オレフィンとしては、ノルボルネン、メチルノルボルネン、ジメチルノルボルネン、エチルノルボルネン、エチリデンノルボルネン、ブチルノルボルネン、ジシクロペンタジエン、ジヒドロジシクロペンタジエン、メチルジシクロペンタジエン、ジメチルジシクロペンタジエン、テトラシクロドデセン、メチルテトラシクロドデセン、ジメチルシクロテトラドデセン、トリシクロペンタジエン、テトラシクロペンタジエンなどが挙げられる。また、単環式の環状オレフィンとしては、シクロブテン、シクロペンテン、シクロオクテン、シクロオクタジエン、シクロオクタトリエン、シクロドデカトリエンなどが挙げられる。 As the cyclic olefin, there are a polycyclic cyclic olefin and a monocyclic cyclic olefin. Examples of such polycyclic cyclic olefins include norbornene, methylnorbornene, dimethylnorbornene, ethylnorbornene, etilidennorbornene, butylnorbornene, dicyclopentadiene, dihydrodicyclopentadiene, methyldicyclopentadiene, dimethyldicyclopentadiene, and tetracyclododecene. , Methyltetracyclododecene, dimethylcyclotetradodecene, tricyclopentadiene, tetracyclopentadiene and the like. Examples of the monocyclic cyclic olefin include cyclobutene, cyclopentene, cyclooctene, cyclooctadiene, cyclooctadiene, cyclododecatriene and the like.

上記シクロオレフィン系樹脂からなる光学フィルムは市販品としても入手可能であり、例えば、ポリプラスチック社製のTopas、JSR社製のアートン、日本ゼオン社製のZEONOR、ZEONEX、三井化学社製のアペル等が挙げられる。 The optical film made of the above cycloolefin resin is also available as a commercial product. For example, Topas manufactured by Polyplastics, Arton manufactured by JSR, ZEONOR, ZEONEX manufactured by Zeon Corporation, Appel manufactured by Mitsui Chemicals, etc. Can be mentioned.

ポリカーボネート系樹脂は、線膨張係数が高く、低位相差等の特性を有する。ポリカーボネート系樹脂は、特に限定されないが、例えば、脂肪族ポリカーボネート、芳香族ポリカーボネート、脂肪族−芳香族ポリカーボネートなどが挙げられる。具体的には、例えば、ビスフェノール類を用いたポリカーボネート(PC)としてビスフェノールAポリカーボネート、分岐ビスフェノールAポリカーボネート、発砲ポリカーボネート、コポリカーボネート、ブロックコポリカーボネート、ポリエステルカーボネート、ポリホスホネートカーボネート、ジエチレングリコールビスアリルカーボネート(CR−39)などが挙げられる。ポリカーボネート系樹脂には、ビスフェノールAポリカーボネートブレンド、ポリエステルブレンド、ABSブレンド、ポリオレフィンブレンド、スチレン―無水マレイン酸共重合体ブレンドのような他成分とブレンドしたものも含まれる。ポリカーボネート樹脂の市販品としては、恵和社製「オプコン」、帝人社製「パンライト」、三菱ガス化学製「ユーピロン(紫外線吸収剤含有ポリカーボネート)」等が挙げられる。 Polycarbonate-based resins have a high coefficient of linear expansion and properties such as low phase difference. The polycarbonate-based resin is not particularly limited, and examples thereof include aliphatic polycarbonate, aromatic polycarbonate, and aliphatic-aromatic polycarbonate. Specifically, for example, as polycarbonate (PC) using bisphenols, bisphenol A polycarbonate, branched bisphenol A polycarbonate, foamed polycarbonate, copolycarbonate, blockcopolycarbonate, polyester carbonate, polyphosphonate carbonate, diethylene glycol bisallyl carbonate (CR- 39) and the like. Polycarbonate-based resins also include those blended with other components such as bisphenol A polycarbonate blends, polyester blends, ABS blends, polyolefin blends, and styrene-maleic anhydride copolymer blends. Examples of commercially available polycarbonate resin products include "Opcon" manufactured by Ewa Co., Ltd., "Panlite" manufactured by Teijin Co., Ltd., and "Iupilon (polycarbonate containing an ultraviolet absorber)" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company.

透明樹脂フィルムには、表面に予めスパッタリング、コロナ放電、火炎、紫外線照射、電子線照射、化成、酸化などのエッチング処理や下塗り処理を施して、透明樹脂フィルム上に形成される硬化樹脂層や透明導電層等との密着性を向上させるようにしてもよい。また、硬化樹脂層や透明導電層を形成する前に、必要に応じて溶剤洗浄や超音波洗浄などにより、透明樹脂フィルム表面を除塵、清浄化してもよい。 The surface of the transparent resin film is subjected to etching treatment such as sputtering, corona discharge, flame, ultraviolet irradiation, electron beam irradiation, chemical conversion, oxidation, etc., and undercoating treatment in advance, and the cured resin layer or transparent formed on the transparent resin film. The adhesion with the conductive layer or the like may be improved. Further, before forming the cured resin layer or the transparent conductive layer, the surface of the transparent resin film may be dust-removed and cleaned by solvent cleaning, ultrasonic cleaning, or the like, if necessary.

透明樹脂フィルムの厚みは、20〜150μmの範囲内であることが好ましく、25〜100μmの範囲内であることがより好ましく、30〜80μmの範囲内であることが更に好ましい。透明樹脂フィルムの厚みが上記範囲の下限未満であると、透明樹脂フィルムの機械的強度が不足し、フィルム基材をロール状にして透明導電層を連続的に形成する操作が困難になる場合がある。一方、厚みが上記範囲の上限を超えると、透明導電層の耐擦傷性やタッチパネル用としての打点特性の向上が図れない場合がある。 The thickness of the transparent resin film is preferably in the range of 20 to 150 μm, more preferably in the range of 25 to 100 μm, and further preferably in the range of 30 to 80 μm. If the thickness of the transparent resin film is less than the lower limit of the above range, the mechanical strength of the transparent resin film may be insufficient, and it may be difficult to roll the film base material to continuously form the transparent conductive layer. is there. On the other hand, if the thickness exceeds the upper limit of the above range, it may not be possible to improve the scratch resistance of the transparent conductive layer and the spotting characteristics for a touch panel.

透明樹脂フィルムの屈折率は、透明性を確保する観点から、1.45以上であることが好ましく、1.45〜1.70であることがより好ましく、1.50〜1.65であることがさらに好ましく、1.52〜1.60であることが特に好ましい。 The refractive index of the transparent resin film is preferably 1.45 or more, more preferably 1.45 to 1.70, and more preferably 1.50 to 1.65 from the viewpoint of ensuring transparency. Is more preferable, and 1.52 to 1.60 is particularly preferable.

(硬化樹脂層)
硬化樹脂層は、透明樹脂フィルムの一方面側に設けられた第1の硬化樹脂層と、他方の面側に設けられた第2の硬化樹脂層とを含む。透明樹脂フィルムは、透明導電層の形成や透明導電層のパターン化または電子機器への搭載などの各工程で傷が入りやすいので、上記のように、透明樹脂フィルムの両面に第1の硬化樹脂層と第2の硬化樹脂層とを形成する。
(Curing resin layer)
The cured resin layer includes a first cured resin layer provided on one surface side of the transparent resin film and a second cured resin layer provided on the other surface side. Since the transparent resin film is easily scratched in each process such as forming the transparent conductive layer, patterning the transparent conductive layer, or mounting the transparent resin film on an electronic device, as described above, the first cured resin is formed on both sides of the transparent resin film. A layer and a second cured resin layer are formed.

本発明では、前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.27GPa以上であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa未満である。第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度は、第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度よりも大きいことが好ましい。クラック発生防止とフィルム破断抑制とを両立して達成する観点から、第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa以上であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa未満であることが好ましい。第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度の下限は、第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度よりも大きければ好ましく、クラック発生防止の観点から、0.20GPa以上であることが好ましく、0.27GPa以上であることが好ましく、0.29GPa以上であることがより好ましく、0.31GPa以上であることが更に好ましい。第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度の上限は、特に制限がないものの、ロールtoロール搬送でのフィルム破断防止の観点から、1.0GPa以下であることが好ましく、0.8GPa以下であることがより好ましく、0.7GPa以下であることが更に好ましい。 In the present invention, the hardness of the first cured resin layer in the indentation test is 0.27 GPa or more, and the hardness of the second cured resin layer in the indentation test is less than 0.29 GPa. The hardness of the first cured resin layer by the indentation test is preferably larger than the hardness of the second cured resin layer by the indentation test. From the viewpoint of achieving both crack generation prevention and film fracture suppression, the hardness of the first cured resin layer in the indentation test is 0.29 GPa or more, and the hardness of the second cured resin layer in the indentation test is 0.29 GPa or more. , Preferably less than 0.29 GPa. The lower limit of the hardness by the indentation test of the first cured resin layer is preferably larger than the hardness by the indentation test of the second cured resin layer, and is preferably 0.20 GPa or more from the viewpoint of preventing cracks from occurring. It is preferably .27 GPa or more, more preferably 0.29 GPa or more, and further preferably 0.31 GPa or more. Although the upper limit of the hardness of the first cured resin layer by the indentation test is not particularly limited, it is preferably 1.0 GPa or less, preferably 0.8 GPa or less, from the viewpoint of preventing film breakage in roll-to-roll transfer. More preferably, it is more preferably 0.7 GPa or less.

一方、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度の上限は、特に制限がないものの、ロールtoロール搬送でのフィルム破断防止の観点から、0.40GPa以下であることが好ましく、0.30GPa以下であることがより好ましく、0.29GPa未満であることが更に好ましく、0.285GPa以下であることが特に好ましい。第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度の下限は、特に制限がないものの、ロールtoロール搬送でのフィルム傷付き防止の観点から、0.10GPa以上であることが好ましく、0.15GPa以上であることがより好ましい。 On the other hand, the upper limit of the hardness of the second cured resin layer in the indentation test is not particularly limited, but is preferably 0.40 GPa or less, preferably 0.30 GPa or less, from the viewpoint of preventing film breakage during roll-to-roll transfer. It is more preferably less than or equal to, more preferably less than 0.29 GPa, and particularly preferably 0.285 GPa or less. Although the lower limit of the hardness of the second cured resin layer by the indentation test is not particularly limited, it is preferably 0.10 GPa or more, preferably 0.15 GPa or more, from the viewpoint of preventing film damage during roll-to-roll transfer. More preferably.

また、クラック発生防止とフィルム破断抑制とを両立する観点から、前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度から、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度を引いた値(硬度の差=第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度−第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度)が、0GPaより大きく1.0GPa以下であることが好ましく、0.01GPa以上0.5GPa以下がより好ましく、0.02GPa以上0.4GPa以下が更に好ましい。 Further, from the viewpoint of both preventing crack generation and suppressing film breakage, a value obtained by subtracting the hardness of the second cured resin layer from the indentation test of the first cured resin layer (difference in hardness). = Hardness by indentation test of first cured resin layer-Hardness by indentation test of second cured resin layer) is preferably greater than 0 GPa and 1.0 GPa or less, more preferably 0.01 GPa or more and 0.5 GPa or less. It is preferable, and more preferably 0.02 GPa or more and 0.4 GPa or less.

第1の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量が、50nm以下であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量が、50nmより大きいことが好ましい。第1の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量の上限は、特に制限がないものの、クラック発生防止及びロールtoロール搬送での傷防止の観点の観点から、50nm以下であることが好ましく、45nm以下であることがより好ましく、40nm以下であることが更に好ましい。第1の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量の下限は、特に制限がないものの、ロールtoロール搬送でのフィルム破断防止及びクラック発生防止を両立する観点から、さらにクラック発生防止の観点から、1nm以上であることが好ましく、5nm以上であることがより好ましく、10nm以上であることが更に好ましい。 It is preferable that the amount of plastic deformation of the first cured resin layer by the indentation test is 50 nm or less, and the amount of plastic deformation of the second cured resin layer by the indentation test is larger than 50 nm. Although the upper limit of the amount of plastic deformation by the indentation test of the first cured resin layer is not particularly limited, it is preferably 50 nm or less from the viewpoint of preventing cracks and scratches in roll-to-roll transport, preferably 45 nm. It is more preferably less than or equal to 40 nm or less. Although the lower limit of the amount of plastic deformation by the indentation test of the first cured resin layer is not particularly limited, from the viewpoint of both preventing film breakage and crack generation during roll-to-roll transfer, and further from the viewpoint of crack generation prevention. It is preferably 1 nm or more, more preferably 5 nm or more, and even more preferably 10 nm or more.

一方、第2の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量の下限は、特に制限がないものの、ロールtoロール搬送でのフィルム破断防止の観点から、40nm以上であることが好ましく、45nmより大きいことがより好ましく、50nmより大きいことが更に好ましく、52nm以上であることが特に好ましい。第2の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量の上限は、特に制限がないものの、フィルム破断防止及びフィルム傷付き防止を両立する観点から、150nm以下であることが好ましく、100nm以下であることがより好ましい。 On the other hand, the lower limit of the amount of plastic deformation by the indentation test of the second cured resin layer is not particularly limited, but is preferably 40 nm or more, and is larger than 45 nm from the viewpoint of preventing film breakage during roll-to-roll transfer. Is more preferable, it is more preferably larger than 50 nm, and particularly preferably 52 nm or more. Although the upper limit of the amount of plastic deformation by the indentation test of the second cured resin layer is not particularly limited, it is preferably 150 nm or less, preferably 100 nm or less, from the viewpoint of both preventing film breakage and film scratching. Is more preferable.

また、クラック発生防止とフィルム破断抑制とを両立する観点から、前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量から、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量を引いた値(塑性変形量の差=第1の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量−第2の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量)が、−100nm〜0nmであることが好ましく、−50nm〜−5nmがより好ましく、−40nm〜−10nmが更に好ましい。 Further, from the viewpoint of both preventing crack generation and suppressing film breakage, a value obtained by subtracting the amount of plastic deformation obtained by the pushing test of the second cured resin layer from the amount of plastic deformation obtained by the pushing test of the first cured resin layer. (Difference in amount of plastic deformation = amount of plastic deformation by pushing test of the first cured resin layer-amount of plastic deformation by pushing test of the second cured resin layer) is preferably -100 nm to 0 nm, preferably -50 nm to 0 nm. −5 nm is more preferable, and −40 nm to −10 nm is further preferable.

第1の硬化樹脂層の屈折率は、インナータッチパネルに用いる観点から、1.45〜1.50であることが好ましく、1.47〜1.50であることがより好ましく、1.49〜1.50であることが更に好ましい。第2の硬化樹脂層の屈折率はインナータッチパネルに用いる観点から、1.40〜1.60であることが好ましく、1.45〜1.55であることがより好ましく、1.50〜1.53であることが更に好ましい。 The refractive index of the first cured resin layer is preferably 1.45 to 1.50, more preferably 1.47 to 1.50, and 1.49 to 1 from the viewpoint of being used for the inner touch panel. It is more preferably .50. The refractive index of the second cured resin layer is preferably 1.40 to 1.60, more preferably 1.45 to 1.55, and 1.50 to 1.50 from the viewpoint of being used for the inner touch panel. It is more preferably 53.

第1の硬化樹脂層及び第2の硬化樹脂層の厚みは、それぞれ独立して0.5μm〜5μmであれば好ましく、0.7μm〜3μmがより好ましく、0.8μm〜2μmが更に好ましい。各硬化樹脂層の厚みは、それぞれ同じであっても、異なっていても良いが、作業効率の観点から、同じであることが好ましい。各硬化樹脂層の厚みを上記範囲とすることにより、硬化樹脂層の耐擦傷性と耐割れ性とを好適にバランスさせることができる。硬化樹脂層が薄すぎると、ハードコート層としての機能を発揮し得なくなり、耐擦傷性及び耐割れ性を得ることができない。一方、硬化樹脂層が厚すぎると、硬化樹脂層全体としての柔軟性が低下して、十分な耐割れ性が得られなくなる。 The thicknesses of the first cured resin layer and the second cured resin layer are preferably 0.5 μm to 5 μm, more preferably 0.7 μm to 3 μm, and even more preferably 0.8 μm to 2 μm, respectively. The thickness of each cured resin layer may be the same or different, but is preferably the same from the viewpoint of work efficiency. By setting the thickness of each cured resin layer within the above range, the scratch resistance and crack resistance of the cured resin layer can be suitably balanced. If the cured resin layer is too thin, it cannot function as a hard coat layer, and scratch resistance and crack resistance cannot be obtained. On the other hand, if the cured resin layer is too thick, the flexibility of the cured resin layer as a whole is lowered, and sufficient crack resistance cannot be obtained.

(樹脂組成物)
硬化樹脂層は、樹脂組成物を硬化させることにより得られる層である。ここで、硬化樹脂層は、例えば、分子内に重合性官能基を3個以上有し、重量平均分子量が200以上1000以下である成分Aと、分子内における単位分子量当たりの重合性官能基の数が成分Aより少なく、かつ重量平均分子量が1000より大きく100000以下である成分Bとを含む樹脂組成物が硬化された層とすることができる。硬化樹脂層では、重量平均分子量が200以上1000以下である成分Aに由来する構造がハードセグメントとして作用することで耐擦傷性やクラック防止に寄与し、同時に、重量平均分子量が1000より大きく100000以下である成分Bに由来する構造がソフトセグメントとして作用することで耐割れ性に寄与することができる。
(Resin composition)
The cured resin layer is a layer obtained by curing the resin composition. Here, the cured resin layer is, for example, a component A having three or more polymerizable functional groups in the molecule and having a weight average molecular weight of 200 or more and 1000 or less, and a polymerizable functional group per unit molecular weight in the molecule. A layer in which a resin composition containing a component B having a smaller number than the component A and a weight average molecular weight of more than 1000 and not more than 100,000 can be cured. In the cured resin layer, the structure derived from the component A having a weight average molecular weight of 200 or more and 1000 or less acts as a hard segment, thereby contributing to scratch resistance and crack prevention, and at the same time, the weight average molecular weight is larger than 1000 and 100,000 or less. The structure derived from the component B acting as a soft segment can contribute to crack resistance.

各硬化樹脂層を形成する樹脂組成物としては、上記特定成分A及びBを含むものが好ましく、硬化樹脂層形成後の皮膜として十分な強度を持ち、透明性のあるものを特に制限なく使用できる。硬化樹脂層を形成する樹脂組成物は、硬度を高めてフィルムの傷付きを防止する観点及び透明導電層のクラック防止の観点からは、成分Aの固形分の量を増やせばよい。こうすることでモノマー反応点を増やすことができ、硬化樹脂層の硬度を十分に高めることができる。第2の硬化樹脂層の組成物との関係で、第1の硬化樹脂層の組成は、第2の硬化樹脂層よりも成分Aを多くすることが好ましい。 As the resin composition for forming each cured resin layer, one containing the above-mentioned specific components A and B is preferable, and a transparent one having sufficient strength as a film after forming the cured resin layer can be used without particular limitation. .. The resin composition forming the cured resin layer may have an increased amount of solid content of component A from the viewpoint of increasing hardness to prevent damage to the film and preventing cracks in the transparent conductive layer. By doing so, the monomer reaction points can be increased, and the hardness of the cured resin layer can be sufficiently increased. In relation to the composition of the second cured resin layer, the composition of the first cured resin layer preferably contains more component A than the second cured resin layer.

第2の硬化樹脂層を形成する樹脂組成物は、柔軟性を付与してフィルム破断を防止する観点から、成分Bの固形分の量は、成分Aの固形分の量よりも多いことが好ましい。第2の硬化樹脂層を形成する樹脂組成物は、成分Aの固形分及び成分Bの固形分の合計量に対し、成分Bの固形分の量は、70重量%〜90重量%であることが好ましく、75重量%〜85重量%であることがより好ましく、成分Aの固形分の量は、10重量%〜30重量%であることが好ましく、15重量%〜25重量%であることがより好ましい。第2の硬化樹脂層を形成する樹脂組成物中の成分A及び成分Bの量を上記範囲とすることにより、適度な柔軟性を付与することができ、ロールtoロール製法による搬送工程中でのフィルム破断を防止することができる。 From the viewpoint of imparting flexibility and preventing film breakage in the resin composition forming the second cured resin layer, the solid content of the component B is preferably larger than the solid content of the component A. .. In the resin composition forming the second cured resin layer, the amount of the solid content of the component B is 70% by weight to 90% by weight with respect to the total amount of the solid content of the component A and the solid content of the component B. Is more preferable, and is more preferably 75% by weight to 85% by weight, and the solid content of the component A is preferably 10% by weight to 30% by weight, and preferably 15% by weight to 25% by weight. More preferred. By setting the amounts of the component A and the component B in the resin composition forming the second cured resin layer within the above ranges, appropriate flexibility can be imparted, and in the transport process by the roll-to-roll manufacturing method. It is possible to prevent the film from breaking.

樹脂組成物に用いる樹脂としては、熱硬化型樹脂、熱可塑型樹脂、紫外線硬化型樹脂、電子線硬化型樹脂、二液混合型樹脂などがあげられるが、これらのなかでも紫外線照射による硬化処理にて、簡単な加工操作にて効率よく各硬化樹脂層を形成することができる紫外線硬化型樹脂が好適である。 Examples of the resin used in the resin composition include thermosetting resins, thermoplastic resins, ultraviolet curable resins, electron beam curable resins, and two-component mixed resins. Among these, curing treatment by ultraviolet irradiation Therefore, an ultraviolet curable resin that can efficiently form each cured resin layer by a simple processing operation is preferable.

紫外線硬化型樹脂としては、ポリエステル系、アクリル系、ウレタン系、アミド系、シリコーン系、エポキシ系等の各種のものがあげられ、紫外線硬化型のモノマー、オリゴマー、ポリマー等が含まれる。好ましく用いられる紫外線硬化型樹脂は、例えばアクリロイル基等の紫外線重合性官能基を有するもの、なかでも当該重合性官能基を分子内に2個以上、特に2〜6個有するアクリル系のモノマーやオリゴマーレベルの成分、及びポリマーレベルの成分を成分A及び成分Bとして含むものがあげられる。また、紫外線硬化型樹脂には、紫外線重合開始剤が配合されている。このような多官能の高分子量成分及び多官能の低分子量成分により樹脂組成物の硬化後には三次元架橋構造が形成されるとともに、多官能低分子量成分が架橋構造の架橋の起点となって主として硬度に寄与し、これより単位分子量当たりの重合性官能基数の少ない多官能高分子量成分がソフトセグメントとして主に柔軟性に寄与する。 Examples of the ultraviolet curable resin include various types such as polyester type, acrylic type, urethane type, amide type, silicone type, and epoxy type, and include ultraviolet curable type monomers, oligomers, polymers, and the like. The ultraviolet curable resin preferably used is one having an ultraviolet polymerizable functional group such as an acryloyl group, and among them, an acrylic monomer or oligomer having two or more, particularly 2 to 6 such polymerizable functional groups in the molecule. Examples thereof include those containing a level component and a polymer level component as component A and component B. Further, the ultraviolet curable resin contains an ultraviolet polymerization initiator. A three-dimensional crosslinked structure is formed after the resin composition is cured by such a polyfunctional high molecular weight component and a polyfunctional low molecular weight component, and the polyfunctional low molecular weight component mainly serves as a starting point for cross-linking of the crosslinked structure. The polyfunctional high molecular weight component, which contributes to hardness and has a smaller number of polymerizable functional groups per unit molecular weight, mainly contributes to flexibility as a soft segment.

本実施形態において、紫外線硬化型樹脂としてはウレタン(メタ)アクリレートを好適に用いることができる。 In the present embodiment, urethane (meth) acrylate can be preferably used as the ultraviolet curable resin.

前記ウレタン(メタ)アクリレートとしては、(メタ)アクリル酸、(メタ)アクリル酸エステル、ポリオール、ジイソシアネートを構成成分として含有するものが用いられる。例えば、(メタ)アクリル酸、(メタ)アクリル酸エステルの少なくとも一方のモノマーと、ポリオールとを用いて、水酸基を1個以上有するヒドロキシ(メタ)アクリレートを作製し、これをジイソシアネートと反応させることによりウレタン(メタ)アクリレートを製造することができる。ウレタン(メタ)アクリレートは、一種類を単独で使用でもよく、二種類以上を併用してもよい。 As the urethane (meth) acrylate, those containing (meth) acrylic acid, (meth) acrylic acid ester, polyol, and diisocyanate as constituent components are used. For example, by using at least one monomer of (meth) acrylic acid and (meth) acrylic acid ester and a polyol, a hydroxy (meth) acrylate having one or more hydroxyl groups is prepared, and this is reacted with diisocyanate. Urethane (meth) acrylate can be produced. One type of urethane (meth) acrylate may be used alone, or two or more types may be used in combination.

(メタ)アクリル酸エステルとしては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、イソプロピル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート等の(メタ)アルキルアクリレート;シクロヘキシル(メタ)アクリレート等のシクロアルキル(メタ)アクリレート等が挙げられる。 Examples of the (meth) acrylic acid ester include (meth) alkyl acrylates such as methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate and butyl (meth) acrylate; and cyclocyclo (meth) acrylate and the like. Alkyl (meth) acrylate and the like can be mentioned.

ポリオールは、水酸基を少なくとも2つ有する化合物であり、例えば、エチレングリコール、1,3−プロピレングリコール、1,2−プロピレングリコール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、ネオペンチルグリコール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、1,9−ノナンジオール、1,10−デカンジオール、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオール、3−メチル−1,5−ペンタンジオール、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールエステル、トリシクロデカンジメチロール、1,4−シクロヘキサンジオール、スピログリコール、トリシクロデカンジメチロール、水添ビスフェノールA、エチレンオキサイド付加ビスフェノールA、プロピレンオキサイド付加ビスフェノールA、トリメチロールエタン、トリメチロールプロパン、グリセリン、3−メチルペンタン−1,3,5−トリオール、ペンタエリスリトール、ジペンタエリスリトール、トリペンタエリスリトール、グルコース類、ポリプロピレングリコール、ポリブチレングリコール、1,2−ブチレンオキシドとエチレンオキシドとの共重合体およびプロピレンオキシドとエチレンオキシドとの共重合体からなる群から選ばれる少なくとも1種のジオール、脂肪族または環式ポリエーテルポリオール、ポリエステルポリオール、ポリカーボネートポリオール、ポリカプロラクトンポリオール等が挙げられる。 The polyol is a compound having at least two hydroxyl groups, for example, ethylene glycol, 1,3-propylene glycol, 1,2-propylene glycol, diethylene glycol, dipropylene glycol, neopentyl glycol, 1,3-butanediol, 1 , 4-Butandiol, 1,6-hexanediol, 1,9-Nonanediol, 1,10-decanediol, 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediol, 3-methyl-1,5- Pentandiol, hydroxypivalate neopentyl glycol ester, tricyclodecanedimethylol, 1,4-cyclohexanediol, spiroglycol, tricyclodecanedimethylol, hydrogenated bisphenol A, ethylene oxide-added bisphenol A, propylene oxide-added bisphenol A, Trimethylol ethane, trimethylol propane, glycerin, 3-methylpentane-1,3,5-triol, pentaerythritol, dipentaerythritol, tripentaerythritol, glucoses, polypropylene glycol, polybutylene glycol, 1,2-butylene oxide At least one diol selected from the group consisting of a copolymer of ethylene oxide and a copolymer of propylene oxide and ethylene oxide, an aliphatic or cyclic polyether polyol, a polyester polyol, a polycarbonate polyol, a polycaprolactone polyol, and the like. Be done.

ジイソシアネートとしては、例えば、芳香族、脂肪族又は脂環族の各種のジイソシアネート類を使用することができ、例えば、テトラメチレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、2,4−トリレンジイソシアネート、4,4−ジフェニルジイソシアネート、1,5−ナフタレンジイソシアネート、3,3−ジメチル−4,4−ジフェニルジイソシアネート、キシレンジイソシアネート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート、4,4−ジフェニルメタンジイソシアネート等、さらにはこれらの水添物等が挙げられる。 As the diisocyanate, for example, various aromatic, aliphatic or alicyclic diisocyanates can be used, and for example, tetramethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, 2,4-tolylene diisocyanate, 4, 4-diphenyl diisocyanis, 1,5-naphthalenediis diisis, 3,3-dimethyl-4,4-diphenyl diisocyanis, xylene diisocyanis, trimethylhexamethylene diisocyanate, 4,4-diphenylmethane diisocyanate, etc. Can be mentioned.

樹脂組成物中のウレタン(メタ)アクリレートの配合割合は、特に制限されない。各硬化樹脂層の柔軟性、各硬化樹脂層の硬度、透明樹脂フィルムに対する密着性等の観点から、ウレタン(メタ)アクリレートの配合割合は、樹脂組成物の合計重量に対し、例えば、10〜90重量%の範囲であり、好ましくは、20〜80重量%の範囲である。 The blending ratio of urethane (meth) acrylate in the resin composition is not particularly limited. From the viewpoints of the flexibility of each cured resin layer, the hardness of each cured resin layer, the adhesion to the transparent resin film, etc., the blending ratio of the urethane (meth) acrylate is, for example, 10 to 90 with respect to the total weight of the resin composition. It is in the range of% by weight, preferably in the range of 20 to 80% by weight.

硬化樹脂層を形成する樹脂組成物に用いられる硬化型樹脂として、上記各成分に加えて反応性希釈剤を有していてもよい。反応性希釈剤としては、比較的低粘度である1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ヘキサンジオール(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート等の2官能以上のモノマーおよびオリゴマー並びに単官能モノマー、例えばN−ビニルピロリドン、エチルアクリレート、プロピルアクリレート等のアクリル酸エステル類、エチルメタクリレート、プロピルメタクリレート、イソプロピルメタクリレート、ブチルメタクリレート、ヘキシルメタクリレート、イソオクチルメタクリレート、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、シクロヘキシルメタクリレート、ノニルフェニルメタクリレート等のメタクリル酸エステル類、テトラヒドロフルフリルメタクリレート、そのカプロラクトン変成物などの誘導体、スチレン、q−メチルスチレン、アクリル酸等、またはそれらの混合物などを使用することができる。 As the curable resin used in the resin composition for forming the curable resin layer, a reactive diluent may be provided in addition to each of the above components. Reactive diluents include 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, tripropylene glycol di (meth) acrylate, diethylene glycol di (meth) acrylate, hexanediol (meth) acrylate, and pentaerythritol, which have relatively low viscosity. Bifunctional or higher functional monomers and oligomers such as tri (meth) acrylate, trimethylolpropan tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, and monofunctional monomers such as N-vinyl. Acrylate esters such as pyrrolidone, ethyl acrylate and propyl acrylate, methacrylic acid esters such as ethyl methacrylate, propyl methacrylate, isopropyl methacrylate, butyl methacrylate, hexyl methacrylate, isooctyl methacrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, cyclohexyl methacrylate and nonylphenyl methacrylate. Kind, derivatives such as tetrahydrofurfuryl methacrylate and caprolactone variants thereof, styrene, q-methylstyrene, acrylic acid and the like, or mixtures thereof and the like can be used.

樹脂組成物には、前記材料に加えて、可塑剤、界面活性剤、酸化防止剤、紫外線吸収剤、レベリング剤、チクソトロピー剤、帯電防止剤、光重合開始剤等の常用の添加剤を用いることができる。チクソトロピー剤を用いると、硬化樹脂層が粒子を含む場合に、微細凹凸形状表面における突出粒子の形成に有利である。チクソトロピー剤としては、0.1μm以下のシリカ、マイカ等があげられる。これら添加剤の含有量は、通常、紫外線硬化型樹脂100重量部に対して、15重量部以下程度、好ましくは0.01〜15重量部、とするのが好適である。 In addition to the above-mentioned materials, the resin composition shall contain commonly used additives such as plasticizers, surfactants, antioxidants, ultraviolet absorbers, leveling agents, thixotropy agents, antistatic agents, and photopolymerization initiators. Can be done. The use of thixotropy is advantageous for the formation of protruding particles on the finely uneven surface when the cured resin layer contains particles. Examples of the thixotropy agent include silica and mica having a thickness of 0.1 μm or less. The content of these additives is usually preferably about 15 parts by weight or less, preferably 0.01 to 15 parts by weight, based on 100 parts by weight of the ultraviolet curable resin.

(粒子)
各硬化樹脂層は独立して粒子を含んでいてもよい。第1の硬化樹脂層は、クラック発生防止及び高硬度化付与の観点から、無機粒子を含有する。
(particle)
Each cured resin layer may independently contain particles. The first cured resin layer contains inorganic particles from the viewpoint of preventing crack generation and imparting high hardness.

第1の硬化樹脂層に含まれる無機粒子としては、各種金属酸化物、ガラスなどの透明性を有する無機粒子を制限なく使用することができる。例えば、無機粒子としては、酸化ケイ素(シリカ粒子)粒子、中空ナノシリカ粒子、酸化チタン粒子、酸化アルミニウム粒子、酸化亜鉛粒子、酸化錫粒子、酸化ジルコニウム粒子、酸化カルシウム粒子等の無機酸化物粒子があげられ、1種を単独で用いても良く、2種以上を併用しても良い。第1の硬化樹脂層に含まれる無機粒子は、硬度を付与しクラックの発生を防止する観点から、シリカ粒子が好ましい。なお、無機粒子は、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、ポリウレタン、アクリル系樹脂、アクリル−スチレン共重合体、ベンゾグアナミン、メラミン、ポリカーボネート等の各種ポリマーからなる架橋又は未架橋の有機粒子やシリコーン系粒子などと併用して用いることもできる。 As the inorganic particles contained in the first cured resin layer, transparent inorganic particles such as various metal oxides and glass can be used without limitation. For example, examples of the inorganic particles include inorganic oxide particles such as silicon oxide (silica particles) particles, hollow nanosilica particles, titanium oxide particles, aluminum oxide particles, zinc oxide particles, tin oxide particles, zirconium oxide particles, and calcium oxide particles. Therefore, one type may be used alone, or two or more types may be used in combination. The inorganic particles contained in the first cured resin layer are preferably silica particles from the viewpoint of imparting hardness and preventing the occurrence of cracks. Inorganic particles are used in combination with crosslinked or uncrosslinked organic particles or silicone-based particles made of various polymers such as polymethylmethacrylate, polystyrene, polyurethane, acrylic resin, acrylic-styrene copolymer, benzoguanamine, melamine, and polycarbonate. Can also be used.

無機粒子の平均粒径は、透明性の観点から、5〜100nmが好ましく、10〜50nmがより好ましく、20〜40nmが更に好ましい。本明細書で、「平均粒径」とは、体積基準による粒度分布の平均粒径(D50)であり、粒子を水中に分散させた溶液を、光回折/散乱法によって測定することで求められる。 The average particle size of the inorganic particles is preferably 5 to 100 nm, more preferably 10 to 50 nm, and even more preferably 20 to 40 nm from the viewpoint of transparency. In the present specification, the "average particle size" is the average particle size (D 50 ) of the particle size distribution based on the volume, and is obtained by measuring a solution in which the particles are dispersed in water by a light diffraction / scattering method. Be done.

第1の硬化樹脂層中の無機粒子の含有量は、クラックの発生を防止する観点及びフィルムの破断を抑制する観点から、硬化後の第1の硬化樹脂層中に占める割合が、10〜70重量%であり、15〜60重量%であることが好ましく、20〜55重量%であることがより好ましい。第1の硬化樹脂層中の無機粒子の含有量が、10重量%未満であると、硬度不足により耐クラック性が不足し、70重量%を超えると、柔軟性が不足し、フィルムの破断が生じる場合がある。また、第1の硬化樹脂層に含まれる無機粒子は、第2の硬化樹脂層中の粒子の含有量よりも多いことが好ましい。なお、このような無機粒子を含有する樹脂組成物は、市販品として入手することができる。例えば、JSR(株)製のKZ6518,KZ6506,KZ6519,Z7503等が挙げられる。 The content of the inorganic particles in the first cured resin layer is 10 to 70 in the first cured resin layer after curing from the viewpoint of preventing the occurrence of cracks and suppressing the breakage of the film. It is by weight%, preferably 15 to 60% by weight, and more preferably 20 to 55% by weight. If the content of the inorganic particles in the first cured resin layer is less than 10% by weight, the crack resistance is insufficient due to insufficient hardness, and if it exceeds 70% by weight, the flexibility is insufficient and the film breaks. May occur. Further, the amount of inorganic particles contained in the first cured resin layer is preferably larger than the content of the particles in the second cured resin layer. A resin composition containing such inorganic particles can be obtained as a commercially available product. For example, KZ6518, KZ6506, KZ6519, Z7503 manufactured by JSR Corporation and the like can be mentioned.

第2の硬化樹脂層に含まれる粒子は、前述のような第1の硬化樹脂層に含まれる粒子と同じ粒子とすることもできるが、異なる粒子であっても良い。第2の硬化樹脂層に含まれる粒子は、耐ブロッキング性及び柔軟性付与の観点から、前述のような有機粒子が好ましく、具体的には屈折率の観点から、アクリル系樹脂粒子が好ましい。 The particles contained in the second cured resin layer may be the same particles as the particles contained in the first cured resin layer as described above, but may be different particles. The particles contained in the second cured resin layer are preferably organic particles as described above from the viewpoint of blocking resistance and imparting flexibility, and specifically, acrylic resin particles are preferable from the viewpoint of refractive index.

(コーティング組成物)
硬化樹脂層を形成するのに用いられるコーティング組成物は、上記の樹脂、粒子、及び溶媒を含む。
(Coating composition)
The coating composition used to form the cured resin layer comprises the above resins, particles, and solvent.

コーティング組成物は、上記の樹脂及び粒子を、必要に応じて溶媒、添加剤、触媒等と混合することにより調製することができる。コーティング組成物中の溶媒は、特に限定されるものではなく、用いる樹脂や塗装の下地となる部分の材質及び組成物の塗装方法などを考慮して適時選択される。溶媒の具体例としては、例えば、トルエン、キシレンなどの芳香族系溶媒;メチルエチルケトン、アセトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン系溶媒;ジエチルエーテル、イソプロピルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、アニソール、フェネトールなどのエーテル系溶媒;酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸イソプロピル、エチレングリコールジアセテートなどのエステル系溶媒;ジメチルホルムアミド、ジエチルホルムアミド、N−メチルピロリドンなどのアミド系溶媒;メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブなどのセロソルブ系溶媒;メタノール、エタノール、プロパノールなどのアルコール系溶媒;ジクロロメタン、クロロホルムなどのハロゲン系溶媒;などが挙げられる。これらの溶媒を単独で使用してもよく、また2種以上を併用して使用してもよい。これらの溶媒のうち、エステル系溶媒、エーテル系溶媒、アルコール系溶媒及びケトン系溶媒が好ましく使用される。 The coating composition can be prepared by mixing the above resin and particles with a solvent, an additive, a catalyst and the like, if necessary. The solvent in the coating composition is not particularly limited, and is timely selected in consideration of the resin to be used, the material of the portion to be the base for coating, the coating method of the composition, and the like. Specific examples of the solvent include aromatic solvents such as toluene and xylene; ketone solvents such as methyl ethyl ketone, acetone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone; diethyl ether, isopropyl ether, tetrahydrofuran, dioxane, ethylene glycol dimethyl ether and ethylene glycol. Ether solvents such as diethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, propylene glycol monomethyl ether, anisole, phenetol; ester solvents such as ethyl acetate, butyl acetate, isopropyl acetate, ethylene glycol diacetate; dimethylformamide, diethylformamide, N -Amid solvents such as methylpyrrolidone; cellosolve solvents such as methyl cellosolve, ethyl cellosolve and butyl cellosolve; alcohol solvents such as methanol, ethanol and propanol; halogen solvents such as dichloromethane and chloroform; and the like. These solvents may be used alone, or two or more of them may be used in combination. Of these solvents, ester solvents, ether solvents, alcohol solvents and ketone solvents are preferably used.

コーティング組成物において、粒子は溶液中に分散されていることが好ましい。溶液中に粒子を分散させる方法としては、樹脂組成物溶液に粒子を添加して混合する方法や、予め溶媒中に分散させた粒子を樹脂組成物溶液に添加する方法等、各種公知の方法を採用することができる。 In the coating composition, the particles are preferably dispersed in the solution. As a method of dispersing the particles in the solution, various known methods such as a method of adding the particles to the resin composition solution and mixing them, a method of adding the particles previously dispersed in the solvent to the resin composition solution, and the like are used. Can be adopted.

コーティング組成物の固形分濃度は、1重量%〜70重量%が好ましく、2重量%〜50重量%がより好ましく、5重量%〜40重量%が最も好ましい。固形分濃度が低くなりすぎると、塗布後の乾燥工程で硬化樹脂層表面の隆起のばらつきが大きくなり、ヘイズが上昇する場合がある。一方、固形分濃度が大きくなりすぎると、含有成分が凝集しやすくなり、その結果、凝集部分が顕在化して透明導電性フィルムの外観を損ねる場合がある。 The solid content concentration of the coating composition is preferably 1% by weight to 70% by weight, more preferably 2% by weight to 50% by weight, and most preferably 5% by weight to 40% by weight. If the solid content concentration is too low, the unevenness of the ridges on the surface of the cured resin layer becomes large in the drying step after coating, and the haze may increase. On the other hand, if the solid content concentration becomes too large, the contained components tend to aggregate, and as a result, the aggregated portion may become apparent and the appearance of the transparent conductive film may be impaired.

(塗布及び硬化)
各硬化樹脂層は、透明樹脂フィルム上に、上記のコーティング組成物を塗布することにより形成することができる。なお、コーティング組成物は、透明樹脂フィルム上に直接行ってもよく、透明樹脂フィルム上に形成されたアンダーコート層等の上に行うこともできる。
(Applying and curing)
Each cured resin layer can be formed by applying the above coating composition on a transparent resin film. The coating composition may be applied directly on the transparent resin film, or may be applied on an undercoat layer or the like formed on the transparent resin film.

各硬化樹脂層は、コーティング組成物を透明樹脂フィルム上に塗布し、コーティング組成物が溶剤を含む場合には、溶剤の乾燥を行い、熱、活性エネルギー線またはその両方のいずれかの適用により硬化させることにより得られる。熱は空気循環式オーブンやIRヒーターなど公知の手段を用いることができるがこれらの方法に限定されない。活性エネルギー線の例としては紫外線、電子線、ガンマ線などがあるが特に限定されない。 Each cured resin layer is cured by applying a coating composition on a transparent resin film, drying the solvent if the coating composition contains a solvent, and applying heat, active energy rays, or both. Obtained by letting. Known means such as an air circulation oven and an IR heater can be used for heat, but the heat is not limited to these methods. Examples of active energy rays include ultraviolet rays, electron beams, gamma rays, etc., but are not particularly limited.

コーティング組成物の塗布方法は、コーティング組成物及び塗装工程の状況に応じて適時選択することができ、例えばディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ローラーコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法、ダイコート法やエクストルージョンコート法などにより塗布することができる。 The coating method of the coating composition can be selected in a timely manner according to the situation of the coating composition and the coating process. For example, a dip coating method, an air knife coating method, a curtain coating method, a roller coating method, a wire bar coating method, and a gravure It can be applied by a coating method, a die coating method, an extrusion coating method, or the like.

コーティング組成物を塗布後、塗膜を硬化させることによって、硬化樹脂層を形成することができる。樹脂組成物が光硬化性である場合は、必要に応じた波長の光を発する光源を用いて光を照射することによって、硬化させることができる。照射する光として、例えば、露光量150mJ/cm以上の光、好ましくは150mJ/cm〜1000mJ/cmの光を用いることができる。またこの照射光の波長は特に限定されるものではないが、例えば380nm以下の波長を有する照射光などを用いることができる。なお、光硬化処理の際に加熱を行ってもよい。 A cured resin layer can be formed by curing the coating film after applying the coating composition. When the resin composition is photocurable, it can be cured by irradiating it with light using a light source that emits light having a wavelength as required. As the light to be irradiated, for example, light having an exposure amount of 150 mJ / cm 2 or more, preferably light having an exposure amount of 150 mJ / cm 2 to 1000 mJ / cm 2 can be used. The wavelength of the irradiation light is not particularly limited, but for example, irradiation light having a wavelength of 380 nm or less can be used. It should be noted that heating may be performed during the photocuring treatment.

(光学調整層)
第1の硬化樹脂層と透明導電層との間に、透明導電層の密着性や反射特性の制御等を目的として光学調整層を設けることができる。光学調整層は、透明導電層が形成されているパターン形成部と透明導電層が除去されたパターン開口部との光学厚み差を調整することによって、両者間の反射率差を低減し、パターンが視認され難くすることを目的として設けることができる。
(Optical adjustment layer)
An optical adjustment layer can be provided between the first cured resin layer and the transparent conductive layer for the purpose of controlling the adhesion and reflection characteristics of the transparent conductive layer. The optical adjustment layer reduces the difference in reflectance between the pattern forming portion where the transparent conductive layer is formed and the pattern opening where the transparent conductive layer is removed by adjusting the difference in reflectance, and the pattern is formed. It can be provided for the purpose of making it difficult to see.

光学調整層は1層でもよく、2層あるいはそれ以上設けてもよい。光学調整層は、無機物、有機物、あるいは無機物と有機物との混合物により形成される。光学調整層を形成する材料としては、NaF(1.3)、NaAlF(1.35)、LiF(1.36)、MgF(1.38)、CaF(1.4)、BaF(1.3)、BaF(1.3)、SiO(1.46)、LaF(1.55)、CeF(1.63)、Al(1.63)、TiO、Ta、ZrO、ZnO、ZnS、SiO(xは1.5以上2未満)などの無機物〔( )内の数値は屈折率を示す〕や、屈折率が1.4〜1.6程度のアクリル樹脂、ウレタン樹脂、メラミン樹脂、アルキド樹脂、シロキサン系ポリマーなどの有機物が挙げられる。特に、有機物として、メラミン樹脂とアルキド樹脂と有機シラン縮合物の混合物からなる熱硬化型樹脂を使用することが好ましい。光学調整層は、上記の材料を用いて、グラビアコート法やバーコート法などの塗工法、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法などにより形成できる。 The optical adjustment layer may be one layer, two layers or more. The optical adjustment layer is formed of an inorganic substance, an organic substance, or a mixture of an inorganic substance and an organic substance. Materials for forming the optical adjustment layer include NaF (1.3), Na 3 AlF 6 (1.35), LiF (1.36), MgF 2 (1.38), CaF 2 (1.4), and the like. BaF 2 (1.3), BaF 2 (1.3), SiO 2 (1.46), LaF 3 (1.55), CeF (1.63), Al 2 O 3 (1.63), TIO 2 , Ta 2 O 5 , ZrO 2 , ZnO, ZnS, SiO x (x is 1.5 or more and less than 2) and other inorganic substances [values in parentheses indicate refractive index] and refractive index is 1.4 to 1.4 to Examples thereof include organic substances such as acrylic resin, urethane resin, melamine resin, alkyd resin, and siloxane-based polymer of about 1.6. In particular, as the organic substance, it is preferable to use a thermosetting resin composed of a mixture of a melamine resin, an alkyd resin and an organic silane condensate. The optical adjustment layer can be formed by a coating method such as a gravure coating method or a bar coating method, a vacuum vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, or the like using the above materials.

光学調整層の厚みは、10nm〜200nmであることが好ましく、20nm〜150nmであることがより好ましく、20nm〜130nmであることがさらに好ましい。光学調整層の厚みが過度に小さいと連続被膜となりにくい。また、光学調整層の厚みが過度に大きいと、透明導電性フィルムの透明性が低下したり、光学調整層にクラックが生じ易くなったりする傾向がある。 The thickness of the optical adjustment layer is preferably 10 nm to 200 nm, more preferably 20 nm to 150 nm, and even more preferably 20 nm to 130 nm. If the thickness of the optical adjustment layer is excessively small, it is difficult to form a continuous film. Further, if the thickness of the optical adjustment layer is excessively large, the transparency of the transparent conductive film tends to decrease, and cracks tend to easily occur in the optical adjustment layer.

光学調整層は、平均粒径が1nm〜500nmのナノ微粒子を有していてもよい。光学調整層中のナノ微粒子の含有量は0.1重量%〜90重量%であることが好ましい。光学調整層に用いられるナノ微粒子の平均粒径は、上述のように1nm〜500nmの範囲であることが好ましく、5nm〜300nmであることがより好ましい。また、光学調整層中のナノ微粒子の含有量は10重量%〜80重量%であることがより好ましく、20重量%〜70重量%であることがさらに好ましい。光学調整層中にナノ微粒子を含有することによって、光学調整層自体の屈折率の調整を容易に行うことができる。 The optical adjusting layer may have nanoparticles having an average particle size of 1 nm to 500 nm. The content of the nanoparticles in the optical adjustment layer is preferably 0.1% by weight to 90% by weight. The average particle size of the nanoparticles used in the optical adjustment layer is preferably in the range of 1 nm to 500 nm as described above, and more preferably 5 nm to 300 nm. Further, the content of the nanoparticles in the optical adjustment layer is more preferably 10% by weight to 80% by weight, further preferably 20% by weight to 70% by weight. By containing the nanoparticles in the optical adjustment layer, the refractive index of the optical adjustment layer itself can be easily adjusted.

ナノ微粒子を形成する無機酸化物としては、例えば、酸化ケイ素(シリカ)、中空ナノシリカ、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化錫、酸化ジルコニウム等の微粒子があげられる。これらの中でも、酸化ケイ素(シリカ)、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化錫、酸化ジルコニウムの微粒子が好ましい。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。 Examples of the inorganic oxide forming the nanoparticles include fine particles such as silicon oxide (silica), hollow nanosilica, titanium oxide, aluminum oxide, zinc oxide, tin oxide, and zirconium oxide. Among these, fine particles of silicon oxide (silica), titanium oxide, aluminum oxide, zinc oxide, tin oxide, and zirconium oxide are preferable. One of these may be used alone, or two or more thereof may be used in combination.

(透明導電層)
透明導電層は、透明樹脂フィルムの一方の面側に設けられた第1の硬化樹脂層上に設けることができる。また、透明導電層は、光学調整層を介して設けることもできる。透明導電層は、少なくとも1層の透明導電層が形成されたものであり、2層以上の透明導電層を有していてもよい。透明導電層は、金属の導電性酸化物を主成分とする薄膜、または主金属と1種以上の不純物金属を含有する複合金属酸化物を主成分とする薄膜である。これらの導電性薄膜は、透明でありかつ導電性を有するものであれば、その構成材料は特に限定されず、Sc,Y,Si,Zr,Hf,V,Nb,Ta,Cr,Mo,W,Mn,Tc,Re,Fe,Ru,Os,Co,Rh,Ir,Ni,Pd,Pt,Cu,Ag,Au,Zn,Cd,Al,Mg,Ga,Ti,Ge,In,Sn,Pb,As,Sb,Bi,Se,Te,Iからなる群より選択される1種の金属を主成分とする金属酸化物が好適に用いられる。透明導電層の透明性や導電性の観点からは、主金属元素はIn,Zn,Snのいずれかであることが好ましく、インジウム系複合酸化物が最も好ましい。透明導電層が、主金属と不純物金属を含有する複合金属酸化物である場合、不純物金属としても、上記群より選択される1種以上の金属が好適に用いられる。なお、透明導電層の屈折率は、通常、1.95〜2.05程度である。
(Transparent conductive layer)
The transparent conductive layer can be provided on the first cured resin layer provided on one surface side of the transparent resin film. Further, the transparent conductive layer may be provided via the optical adjustment layer. The transparent conductive layer is one in which at least one transparent conductive layer is formed, and may have two or more transparent conductive layers. The transparent conductive layer is a thin film containing a conductive oxide of a metal as a main component, or a thin film containing a composite metal oxide containing a main metal and one or more impurity metals as a main component. As long as these conductive thin films are transparent and have conductivity, their constituent materials are not particularly limited, and Sc, Y, Si, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo, W. , Mn, Tc, Re, Fe, Ru, Os, Co, Rh, Ir, Ni, Pd, Pt, Cu, Ag, Au, Zn, Cd, Al, Mg, Ga, Ti, Ge, In, Sn, Pb , As, Sb, Bi, Se, Te, and I. A metal oxide containing one kind of metal as a main component selected from the group is preferably used. From the viewpoint of transparency and conductivity of the transparent conductive layer, the main metal element is preferably any of In, Zn, and Sn, and the indium-based composite oxide is most preferable. When the transparent conductive layer is a composite metal oxide containing a main metal and an impurity metal, one or more metals selected from the above group are preferably used as the impurity metal. The refractive index of the transparent conductive layer is usually about 1.95 to 2.05.

透明導電層を低抵抗化する観点においては、複合金属酸化物における不純物金属は、主金属よりも価電子数の多いものが好適に用いられる。このような複合金属酸化物としては、インジウム・スズ複合酸化物(ITO)、アンチモンドープ酸化スズ(ATO)、アルミドープ酸化亜鉛(AZO)、ガリウムドープ酸化亜鉛(GZO)、インジウムドープ酸化亜鉛(IZO)等が挙げられる。中でも低抵抗かつ高透明性の透明導電層を形成する観点において、インジウム・スズ複合酸化物が最も好適に用いられる。このようなインジウム・スズ複合酸化物は、可視光領域(380nm〜780nm)で透過率が高く、且つ単位面積当りの表面抵抗値が低いという特徴を有している。 From the viewpoint of lowering the resistance of the transparent conductive layer, the impurity metal in the composite metal oxide preferably has a larger number of valence electrons than the main metal. Examples of such composite metal oxides include indium-tin composite oxide (ITO), antimony-doped tin oxide (ATO), aluminum-doped zinc oxide (AZO), gallium-doped zinc oxide (GZO), and indium-doped zinc oxide (IZO). ) Etc. can be mentioned. Among them, indium-tin composite oxide is most preferably used from the viewpoint of forming a transparent conductive layer having low resistance and high transparency. Such an indium-tin composite oxide has a feature that the transmittance is high in the visible light region (380 nm to 780 nm) and the surface resistance value per unit area is low.

透明導電層として、インジウム・スズ複合酸化物を用いる場合、SnOの量が、InとSnOとを加えた重さに対し、0.5重量%〜15重量%であることが好ましく、1〜10重量%であることがより好ましく、2〜6重量%であることがさらに好ましい。SnOの量が少なすぎると、ITO膜の耐久性に劣る場合がある。また、SnOの量が多すぎると、結晶化に要する時間が長くなる傾向がある。 When an indium-tin composite oxide is used as the transparent conductive layer, the amount of SnO 2 may be 0.5% by weight to 15% by weight based on the weight of In 2 O 3 and SnO 2 added. It is preferably 1 to 10% by weight, more preferably 2 to 6% by weight. If the amount of SnO 2 is too small, the durability of the ITO film may be inferior. Further, if the amount of SnO 2 is too large, the time required for crystallization tends to be long.

透明導電層は結晶質であってもよく、非晶質であってもよい。例えば、基材として透明樹脂フィルムが用いられ、透明導電層としてスパッタリング法によってITO膜が形成される場合、基材の耐熱性による制約があるため、高い温度でスパッタ成膜を行うことができない。そのため、成膜直後の透明導電層は非晶質膜(成膜温度によっては、一部が結晶化している場合もある)となっている場合が多い。このような非晶質の透明導電層は結晶質のもの比して透過率が低く、加湿熱試験後の抵抗変化が大きい等の問題を生じる場合がある。かかる観点からは、一旦非晶質の透明導電層を形成した後、大気中の酸素存在下で加熱することにより、結晶膜へ転換させてもよい(結晶化アニール処理)。透明導電層を結晶化することにより、透明性が向上し、低抵抗化が図られ、加湿熱信頼性が向上するなどの利点がもたらされる。 The transparent conductive layer may be crystalline or amorphous. For example, when a transparent resin film is used as a base material and an ITO film is formed as a transparent conductive layer by a sputtering method, sputter film formation cannot be performed at a high temperature due to restrictions due to the heat resistance of the base material. Therefore, the transparent conductive layer immediately after film formation is often an amorphous film (a part of which may be crystallized depending on the film formation temperature). Such an amorphous transparent conductive layer has a lower transmittance than a crystalline one, and may cause problems such as a large change in resistance after a humidification heat test. From this point of view, an amorphous transparent conductive layer may be formed once and then converted into a crystal film by heating in the presence of oxygen in the atmosphere (crystallization annealing treatment). By crystallizing the transparent conductive layer, the transparency is improved, the resistance is lowered, and the humidification heat reliability is improved.

透明導電層を成膜後すぐに結晶化アニール処理をしない場合(即ち、保管後に結晶化アニール処理する場合)、時間の経過とともに、保管条件(温度、湿度等)等が影響して、アモルファス膜の一部が自然に結晶化していくことがある。アモルファス膜の一部が自然に結晶化している状態は、後述の実施例で記載の通り、アモルファス膜の透明導電層を50℃条件下で5日間加熱することで模倣することができる。このような一部が自然に結晶化した透明導電層を用いて、結晶化アニール処理する場合、透明導電層の表面にクラックが生じることが多い。無機粒子を所定量含有させた第1の硬化樹脂層を用いることで、結晶化アニール処理時等に負荷される熱に起因する前記のようなクラックの発生を抑制することができる。 When the transparent conductive layer is not crystallized and annealed immediately after film formation (that is, when it is crystallized and annealed after storage), the amorphous film is affected by storage conditions (temperature, humidity, etc.) over time. Some of them may crystallize naturally. The state in which a part of the amorphous film is naturally crystallized can be imitated by heating the transparent conductive layer of the amorphous film under the condition of 50 ° C. for 5 days as described in Examples described later. When the crystallization annealing treatment is performed using a transparent conductive layer in which a part of the transparent conductive layer is naturally crystallized, cracks often occur on the surface of the transparent conductive layer. By using the first cured resin layer containing a predetermined amount of inorganic particles, it is possible to suppress the generation of cracks as described above due to the heat applied during the crystallization annealing treatment or the like.

透明導電層の表面抵抗値は、好ましくは400Ω/□以下であり、より好ましくは350Ω/□以下であり、さらに好ましくは300Ω/□以下である。このような表面抵抗値の小さい透明導電性フィルムは、例えば、スパッタリング法又は真空蒸着法により、インジウム・スズ系複合酸化物の非晶質層を硬化樹脂層上に形成した後、80℃〜200℃で30〜90分間程度加熱処理して、非晶質の透明導電層を結晶質に変化させることにより得られる(結晶化アニール処理)。この転化させる手段は、特に限定されないが空気循環式オーブンやIRヒーターなどが用いられる。 The surface resistance value of the transparent conductive layer is preferably 400 Ω / □ or less, more preferably 350 Ω / □ or less, and further preferably 300 Ω / □ or less. In such a transparent conductive film having a small surface resistance value, for example, an amorphous layer of an indium tin oxide-based composite oxide is formed on a cured resin layer by a sputtering method or a vacuum vapor deposition method, and then the temperature is 80 ° C. to 200 ° C. It is obtained by heat-treating at ° C. for about 30 to 90 minutes to change the amorphous transparent conductive layer into crystalline material (crystallization annealing treatment). The means for converting is not particularly limited, but an air circulation oven, an IR heater, or the like is used.

「結晶質」の定義については、透明樹脂フィルム上に透明導電層が形成された透明導電性フィルムを、20℃、濃度5重量%の塩酸に15分間浸漬した後、水洗・乾燥し、15mm間の端子間抵抗をテスタにて測定を行い、端子間抵抗が10kΩを超えない場合、ITO膜の結晶質への転化が完了したものとする。 Regarding the definition of "crystalline", a transparent conductive film having a transparent conductive layer formed on a transparent resin film is immersed in hydrochloric acid at 20 ° C. and a concentration of 5% by weight for 15 minutes, then washed with water and dried for 15 mm. The resistance between terminals is measured with a tester, and if the resistance between terminals does not exceed 10 kΩ, it is assumed that the conversion of the ITO film to crystalline material is completed.

透明導電層の厚みは、特に制限されないが、その表面抵抗を1×10Ω/□以下の良好な導電性を有する連続被膜とするには、厚みを10nm以上とするのが好ましい。膜厚が、厚くなりすぎると透明性の低下などをきたすため、15〜35nmであることが好ましく、より好ましくは20〜30nmの範囲内である。透明導電層の厚みが15nm未満であると膜表面の電気抵抗が高くなり、かつ連続被膜になり難くなる。また、透明導電層の厚みが35nmを超えると透明性の低下などをきたす場合がある。 The thickness of the transparent conductive layer is not particularly limited, but in order to form a continuous coating having a surface resistance of 1 × 10 3 Ω / □ or less and having good conductivity, the thickness is preferably 10 nm or more. If the film thickness becomes too thick, the transparency will decrease. Therefore, the film thickness is preferably 15 to 35 nm, more preferably 20 to 30 nm. If the thickness of the transparent conductive layer is less than 15 nm, the electrical resistance of the film surface becomes high and it becomes difficult to form a continuous film. Further, if the thickness of the transparent conductive layer exceeds 35 nm, the transparency may be lowered.

透明導電層の形成方法は、特に限定されず、従来公知の方法を採用することができる。具体的には、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等のドライプロセスを例示できる。また、必要とする膜厚に応じて適宜の方法を採用することもできる。 The method for forming the transparent conductive layer is not particularly limited, and a conventionally known method can be adopted. Specifically, for example, a dry process such as a vacuum deposition method, a sputtering method, or an ion plating method can be exemplified. Further, an appropriate method can be adopted depending on the required film thickness.

例えば、透明導電層をスパッタリング法により形成する場合、透明樹脂フィルムの温度は、80〜180℃であることが好ましい。成膜温度によっては、アモルファス膜の一部が結晶化する場合もある。なお、本明細書において、「透明樹脂フィルムの温度」とは、スパッタ成膜時の透明樹脂フィルムの下地の設定温度である。例えば、ロールスパッタ装置により連続的にスパッタ成膜を行う場合の透明樹脂フィルムの温度とは、スパッタ成膜が行われるキャンロールの温度である。また、枚葉式(バッチ式)でスパッタ成膜を行う場合の基材温度とは、基材を載置するための基板ホルダーの温度である。 For example, when the transparent conductive layer is formed by a sputtering method, the temperature of the transparent resin film is preferably 80 to 180 ° C. Depending on the film formation temperature, a part of the amorphous film may crystallize. In the present specification, the "temperature of the transparent resin film" is the set temperature of the base of the transparent resin film at the time of sputter film formation. For example, the temperature of the transparent resin film when the sputtering film is continuously formed by the roll sputtering apparatus is the temperature of the can roll in which the sputtering film formation is performed. Further, the substrate temperature in the case of performing sputter film formation by the single-wafer type (batch type) is the temperature of the substrate holder on which the substrate is placed.

また、透明導電層は、エッチング等によりパターン化してもよい。例えば、静電容量方式のタッチパネルやマトリックス式の抵抗膜方式のタッチパネルに用いられる透明導電性フィルムにおいては、透明導電層がストライプ状にパターン化されることが好ましい。なお、エッチングにより透明導電層をパターン化する場合、先に透明導電層の結晶化を行うと、エッチングによるパターン化が困難となる場合がある。そのため、透明導電層のアニール処理は、透明導電層をパターン化した後に行うことが好ましい。 Further, the transparent conductive layer may be patterned by etching or the like. For example, in a transparent conductive film used for a capacitance type touch panel or a matrix type resistance film type touch panel, it is preferable that the transparent conductive layer is patterned in a stripe shape. When the transparent conductive layer is patterned by etching, if the transparent conductive layer is crystallized first, it may be difficult to pattern the transparent conductive layer by etching. Therefore, the annealing treatment of the transparent conductive layer is preferably performed after the transparent conductive layer is patterned.

<透明導電性フィルム>
本実施形態の透明導電性フィルムは、長尺状の透明導電性フィルムがロール状に巻回された透明導電性フィルム巻回体とすることができる。長尺状の透明導電性フィルムの巻回体は、長尺状の透明樹脂フィルムのロール状巻回体を用い、前述の硬化樹脂層、光学調整層、透明導電層等の付加的な層を、いずれもロールtoロール製法により形成することによって形成し得る。このような巻回体の形成にあたっては、透明導電性フィルムの表面に、滑り性や耐ブロッキング性を考慮して、弱粘着層を備える保護フィルム(セパレータ)を貼り合わせた上で、ロール状に巻回してもよい。
<Transparent conductive film>
The transparent conductive film of the present embodiment can be a transparent conductive film wound body in which a long transparent conductive film is wound in a roll shape. As the winding body of the long transparent conductive film, a roll-shaped winding body of the long transparent resin film is used, and additional layers such as the above-mentioned cured resin layer, optical adjustment layer, and transparent conductive layer are added. , Both can be formed by forming by a roll-to-roll method. In forming such a wound body, a protective film (separator) having a weak adhesive layer is attached to the surface of the transparent conductive film in consideration of slipperiness and blocking resistance, and then rolled into a roll shape. It may be wound.

<タッチパネル>
本発明の透明導電性フィルムは、例えば、静電容量方式、抵抗膜方式などのタッチパネルに好適に適用できる。
<Touch panel>
The transparent conductive film of the present invention can be suitably applied to a touch panel of, for example, a capacitance type or a resistance film type.

タッチパネルとしては、低屈折率の層を有する透明導電性フィルムであっても用いることができる観点から、「インナータッチパネル方式」のタッチパネルが好ましい。インナータッチパネルの場合、比較的低い屈折率を有する第1の硬化樹脂層等を用いた場合であっても(例えば、第1の硬化樹脂層の屈折率=1.45〜1.50のような場合であっても)、視認性に対しては大きな影響を与えず、問題なく用いることができる。なお、タッチパネルの構成又は種類には特に制限されず、いわゆる「F/Fタイプ」のタッチパネル、いわゆる「F/Gタイプ」のタッチパネル、いわゆる「F/F/Pタイプ」のタッチパネル等にも使用することができる。 As the touch panel, an "inner touch panel type" touch panel is preferable from the viewpoint that even a transparent conductive film having a low refractive index layer can be used. In the case of the inner touch panel, even when a first cured resin layer or the like having a relatively low refractive index is used (for example, the refractive index of the first cured resin layer = 1.45 to 1.50). Even in some cases), it does not have a large effect on visibility and can be used without problems. The configuration or type of the touch panel is not particularly limited, and it is also used for a so-called "F / F type" touch panel, a so-called "F / G type" touch panel, a so-called "F / F / P type" touch panel, and the like. be able to.

「インナータッチパネル方式」とは、LCDモジュールの上部の偏光板、位相差板を、タッチパネルの上部に配置する方式のことである。つまり、入力装置として抵抗膜方式のタッチパネルを搭載したPDA(携帯情報端末)等では、通常は、LCDモジュールの上に、抵抗膜方式のタッチパネルを載せる構成となっているため、上部電極と、下部電極との間には、空気層が存在し、この空気層に関する反射による透過率の低下が、高輝度化、低消費電力化等の障害になっているので、これを解決する方法として、「インナータッチパネル方式」が提案されている。 The "inner touch panel method" is a method in which the polarizing plate and the retardation plate on the upper part of the LCD module are arranged on the upper part of the touch panel. That is, in a PDA (Personal Digital Assistant) or the like equipped with a resistive touch panel as an input device, a resistive touch panel is usually mounted on an LCD module, so that an upper electrode and a lower portion are mounted. An air layer exists between the electrodes, and the decrease in transmittance due to reflection on this air layer is an obstacle to high brightness, low power consumption, etc., and as a method for solving this, " "Inner touch panel method" has been proposed.

インナータッチパネル方式に適用した使用態様の一例としては以下の通りである。2枚の透明導電性フィルムからなるタッチパネルと、LCDモジュールとが両面粘着シートを介して貼着されており、前記LCDモジュールの他方の面(タッチパネルに対して反対側の面)には、LCDモジュールに用いられている偏光板があり、さらに、偏光板の下面側の面(LCDモジュールに対して反対側の面)には枠状の両面粘着テープを介してバックライトが貼着されている。一方、タッチパネルの上面又は表面側の面(LCDモジュールに対して反対側の面)には、位相差板、偏光板がこの順で設けられている。 An example of the usage mode applied to the inner touch panel method is as follows. A touch panel made of two transparent conductive films and an LCD module are attached via a double-sided adhesive sheet, and the LCD module is attached to the other surface (the surface opposite to the touch panel) of the LCD module. Further, a backlight is attached to the lower surface side surface (the surface opposite to the LCD module) of the polarizing plate via a frame-shaped double-sided adhesive tape. On the other hand, a retardation plate and a polarizing plate are provided in this order on the upper surface or the surface side surface (the surface opposite to the LCD module) of the touch panel.

タッチパネルの形成に際しては、透明導電性フィルムの一方または両方の主面に透明な粘着剤層を介して、ガラスや高分子フィルム等の他の基材等を貼り合わせることができる。例えば、透明導電性フィルムの透明導電層が形成されていない側の面に透明な粘着剤層を介して透明基体が貼り合わせられた積層体を形成してもよい。透明基体は、1枚の基体フィルムからなっていてもよく、2枚以上の基体フィルムの積層体(例えば透明な粘着剤層を介して積層したもの)であってもよい。また、透明導電性フィルムに貼り合わせる透明基体の外表面にハードコート層を設けることもできる。 When forming the touch panel, another base material such as glass or a polymer film can be attached to one or both main surfaces of the transparent conductive film via a transparent adhesive layer. For example, a laminate in which a transparent substrate is bonded to a surface of a transparent conductive film on the side where the transparent conductive layer is not formed may be formed via a transparent adhesive layer. The transparent substrate may consist of one substrate film, or may be a laminate of two or more substrate films (for example, one laminated via a transparent adhesive layer). Further, a hard coat layer can be provided on the outer surface of the transparent substrate to be attached to the transparent conductive film.

透明導電性フィルムと基材との貼り合わせに用いられる粘着剤層としては、透明性を有するものであれば特に制限なく使用できる。具体的には、例えば、アクリル系ポリマー、シリコーン系ポリマー、ポリエステル、ポリウレタン、ポリアミド、ポリビニルエーテル、酢酸ビニル/塩化ビニルコポリマー、変性ポリオレフィン、エポキシ系、フッ素系、天然ゴム、合成ゴム等のゴム系などのポリマーをベースポリマーとするものを適宜に選択して用いることができる。特に、光学的透明性に優れ、適度な濡れ性、凝集性及び接着性等の粘着特性を示し、耐候性や耐熱性等にも優れるという点からは、アクリル系粘着剤が好ましく用いられる。 The pressure-sensitive adhesive layer used for bonding the transparent conductive film and the base material is not particularly limited as long as it has transparency. Specifically, for example, acrylic polymers, silicone polymers, polyesters, polyurethanes, polyamides, polyvinyl ethers, vinyl acetate / vinyl chloride copolymers, modified polyolefins, epoxys, fluorines, natural rubbers, synthetic rubbers and other rubbers, etc. A polymer based on the above polymer can be appropriately selected and used. In particular, an acrylic pressure-sensitive adhesive is preferably used because it has excellent optical transparency, exhibits adhesive properties such as appropriate wettability, cohesiveness, and adhesiveness, and is also excellent in weather resistance, heat resistance, and the like.

上記の本発明にかかる透明導電性フィルムを、タッチパネルの形成に用いた場合、タッチパネル形成時のハンドリング性に優れる。そのため、透明性及び視認性に優れたタッチパネルを生産性高く製造することが可能である。 When the transparent conductive film according to the present invention is used for forming a touch panel, it is excellent in handleability when forming a touch panel. Therefore, it is possible to manufacture a touch panel having excellent transparency and visibility with high productivity.

<画像表示装置>
本実施形態の透明導電性フィルムは画像表示装置に組み込むことができる。画像表示装置は、画像表示素子及び上述のタッチパネルを有する。画像表示素子は、一般的に画像表示セルの視認側にカラーフィルタを備え、視認側と反対側に偏光板を備える。画像表示装置としては、特に限定されず、液晶表示装置(LCDモジュール)の他、ブラウン管、プラズマディスプレイ、ELディスプレイ等が例示される。なお、LCDモジュールの表示面は、トリアセチルセルロース(TAC)やガラスが素材とされていてもよい。また、表示装置には偏光板が備えられていてもよい。従って、表示装置の表示面(両面粘着シートが貼着される面)は、通常、ガラス板、TACフィルムの表面である。
<Image display device>
The transparent conductive film of the present embodiment can be incorporated into an image display device. The image display device includes an image display element and the touch panel described above. The image display element generally includes a color filter on the visual side of the image display cell and a polarizing plate on the side opposite to the visual side. The image display device is not particularly limited, and examples thereof include a cathode ray tube, a plasma display, an EL display, and the like, in addition to a liquid crystal display device (LCD module). The display surface of the LCD module may be made of triacetyl cellulose (TAC) or glass. Further, the display device may be provided with a polarizing plate. Therefore, the display surface of the display device (the surface to which the double-sided adhesive sheet is attached) is usually the surface of a glass plate or a TAC film.

以下、本発明に関して実施例を用いて詳細に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限定されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples, but the present invention is not limited to the following examples as long as the gist of the present invention is not exceeded.

(1)押し込み試験(硬度、塑性変形量)
以下の条件で押し込み試験を行い、第1の硬化樹脂層及び第2の硬化樹脂層の硬度[GPa]、塑性変形量[nm]を測定した。なお、試料は、下記のようにして作製した透明導電性フィルムを10wt%塩酸に5min浸漬し、透明導電層をエッチング処理した上で測定した。
(1) Push-in test (hardness, amount of plastic deformation)
A indentation test was carried out under the following conditions, and the hardness [GPa] and the amount of plastic deformation [nm] of the first cured resin layer and the second cured resin layer were measured. The sample was measured after the transparent conductive film prepared as described below was immersed in 10 wt% hydrochloric acid for 5 min, and the transparent conductive layer was etched.

装置:Hysitron Inc.製ナノインデンター
使用圧子:Berkovich(三角錐型)
測定方法:単一押し込み測定
測定温度:25℃
押し込み深さ設定:200nm
押込み速度:10nm/sec
測定雰囲気:空気中
試料サイズ:1cm×1cm
(測定方法)
上記の装置を使用し、室温(25℃)で1時間保持後、バーコビッチ型ダイヤモンド製圧子を試料中心部分の表面から深さ200nmまで垂直に押し込んで、第1の硬化樹脂層及び第2の硬化樹脂層の硬度[GPa]、塑性変形量[nm]を測定した。解析ソフト「Triboscan Ver.9.2.12.0」を用いて、圧子を押し込んだときの得られた変位、荷重と理論的に算出された圧痕面積から、表面の押し込み深さ(塑性変形量)及び硬度を求めた。ここで、押し込み深さは、圧子の荷重が0になっても、変形した試料表面が初期状態に戻らない(弾性回復しない)度合い、すなわち負荷過程における試料の塑性変形量を示す指標である。測定した結果を表1に示す。なお、硬度の差及び塑性変形量の差の算出式を以下に示す。
Equipment: Hysiron Inc. Nano indenter used Indenter: Berkovich (triangular pyramid type)
Measurement method: Single push measurement Measurement temperature: 25 ° C
Push-in depth setting: 200 nm
Pushing speed: 10 nm / sec
Measurement atmosphere: In air Sample size: 1 cm x 1 cm
(Measuring method)
Using the above device, after holding at room temperature (25 ° C.) for 1 hour, the Berkovich diamond indenter was pushed vertically from the surface of the sample center to a depth of 200 nm to cure the first cured resin layer and the second cured resin layer. The hardness [GPa] and the amount of plastic deformation [nm] of the resin layer were measured. Using the analysis software "Triboscan Ver. 9.2.12.0", the surface indentation depth (plastic deformation amount) is obtained from the displacement and load obtained when the indenter is indented and the theoretically calculated indentation area. ) And hardness were determined. Here, the indentation depth is an index indicating the degree to which the deformed sample surface does not return to the initial state (elastic recovery does not occur) even when the indenter load becomes 0, that is, the amount of plastic deformation of the sample in the loading process. The measurement results are shown in Table 1. The formulas for calculating the difference in hardness and the difference in the amount of plastic deformation are shown below.

硬度の差=第1の硬化樹脂層の硬度−第2の硬化樹脂層の硬度
塑性変形量の差=第1の硬化樹脂層の塑性変形量−第2の硬化樹脂層の塑性変形量
(2)クラック確認試験
下記のようにして作製した成膜直後の透明導電性フィルム(初期抵抗値340Ω/□)を50℃条件下で5日間加熱し、アモルファス膜の一部を結晶化させた(抵抗値130Ω/□)。さらに、130℃で90分間加熱(結晶化アニール処理)して完全に結晶化させたサンプル(抵抗値100Ω/□)を形状解析レーザ顕微鏡(キーエンス、VK-X200、形状解析アプリケーション「VK-H1XA」、視野1μm×1μm)にてクラック観察を行った。測定した結果を図4〜6及び表1に示す。クラックが生じた場合を「〇」、クラックが発生しなかった場合を「×」として評価した。
Difference in hardness = Hardness of the first cured resin layer-Hardness of the second cured resin layer Difference in the amount of plastic deformation = Amount of plastic deformation of the first cured resin layer-Amount of plastic deformation of the second cured resin layer (2) ) Crack confirmation test The transparent conductive film (initial resistance value 340Ω / □) immediately after film formation prepared as described below was heated under 50 ° C. conditions for 5 days to crystallize a part of the amorphous film (resistance). Value 130Ω / □). Furthermore, a sample (resistance value 100Ω / □) completely crystallized by heating at 130 ° C. for 90 minutes (crystallization annealing treatment) is subjected to a shape analysis laser microscope (KEYENCE, VK-X200, shape analysis application "VK-H1XA". , Crack observation was performed in a field of view of 1 μm × 1 μm). The measurement results are shown in FIGS. 4 to 6 and Table 1. The case where a crack occurred was evaluated as "◯", and the case where no crack did not occur was evaluated as "x".

(3)耐擦傷性の評価
スチールウール(φ25mm)を100gで荷重をかけながら、作成した第1の硬化樹脂層表面を10cmの長さで10回摺動させた後、第1の硬化樹脂層表面の状態を目視観察でキズ付き具合を評価した。傷が生じなかった場合を「〇」、全面に薄い傷が確認できた場合を「△」、全面に著しい傷が確認できた場合を「×」として評価した。測定した結果を表1に示す。
(3) Evaluation of scratch resistance The surface of the prepared first cured resin layer was slid 10 times with a length of 10 cm while applying a load of 100 g of steel wool (φ25 mm), and then the first cured resin layer was formed. The condition of the surface was visually observed to evaluate the degree of scratches. No scratches were evaluated as "○", thin scratches on the entire surface were evaluated as "Δ", and significant scratches on the entire surface were evaluated as "x". The measurement results are shown in Table 1.

(4)厚みの測定
厚みは、1μm以上の厚みを有するものに関しては、マイクロゲージ式厚み計(ミツトヨ社製)にて測定を行った。また、1μm未満の厚みを有するものに関しては、瞬間マルチ測光システム(大塚電子社製 MCPD2000)を用い、干渉スペクトルの波形を基礎に算出した。
(4) Measurement of thickness The thickness was measured with a microgauge type thickness gauge (manufactured by Mitutoyo Co., Ltd.) for those having a thickness of 1 μm or more. For those having a thickness of less than 1 μm, the calculation was made based on the waveform of the interference spectrum using an instantaneous multi-photometric system (MCPD2000 manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.).

(5)線膨張係数
ASTM E831に準じて、25℃〜150℃の測定条件にて、熱機械分析により測定した。
(5) Linear expansion coefficient According to ASTM E831, the measurement was performed by thermomechanical analysis under the measurement conditions of 25 ° C. to 150 ° C.

(6)表面抵抗値の測定
JIS K7194に準じて、4端子法により測定した。
(6) Measurement of surface resistance value Measured by the 4-terminal method according to JIS K7194.

(7)重量平均分子量の測定
調製した樹脂組成物溶液中の成分の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)にて測定を行った。GPCの測定条件は、下記のとおりである。
(7) Measurement of Weight Average Molecular Weight The weight average molecular weight of the components in the prepared resin composition solution was measured by gel permeation chromatography (GPC). The measurement conditions of GPC are as follows.

測定機器:東ソー製の商品名HLC−8120
GPCカラム:東ソー製の商品名G4000HXL+商品名G2000HXL+商品名G1000HXL(各7.8mmφ×30cm、計90cm)
カラム温度:40℃
溶離液:テトラヒドロフラン
流速:0.8ml/分
入り口圧:6.6MPa
標準試料:ポリスチレン
Measuring equipment: Tosoh's trade name HLC-8120
GPC column: Tosoh's product name G4000H XL + product name G2000H XL + product name G1000H XL (7.8 mmφ x 30 cm each, 90 cm in total)
Column temperature: 40 ° C
Eluent: tetrahydrofuran Flow velocity: 0.8 ml / min Inlet pressure: 6.6 MPa
Standard sample: polystyrene

(8)180°折り曲げ試験
試料は、下記のようにして作製した透明導電性フィルムを10wt%塩酸に5min浸漬し、透明導電層をエッチング処理した上で測定した。即ち、第1の硬化樹脂層及び第2の硬化樹脂層を形成したCOPフィルムを幅50mm×長さ100mmのサンプルを切り出した。次に、第1の硬化樹脂層を内側になるようにして、図3に示すように、このサンプルSを2つ折りにし、端部同士を市販の粘着テープで貼り合わせ、これを基台Bに載置した。2つ折りにより得られる幅50mm×長さ50mmの面に、底面が直径50mmの円形のおもりW(500g)10秒間静置し、その際にフィルムの破断が生じるか否かを確認した。フィルムの破断が生じなかった場合を「〇」、フィルムの破断が生じるも両端が分列しない場合を「△」、破断が生じ両端が分列した場合を「×」として評価した。測定した結果を表1に示す。
(8) 180 ° Bending Test The sample was measured after immersing a transparent conductive film prepared as described below in 10 wt% hydrochloric acid for 5 min and etching the transparent conductive layer. That is, a sample having a width of 50 mm and a length of 100 mm was cut out from the COP film on which the first cured resin layer and the second cured resin layer were formed. Next, with the first cured resin layer on the inside, as shown in FIG. 3, this sample S is folded in half, the ends are bonded to each other with a commercially available adhesive tape, and this is used as a base B. It was placed. A circular weight W (500 g) having a bottom surface of 50 mm in diameter was allowed to stand on a surface having a width of 50 mm and a length of 50 mm obtained by folding in half for 10 seconds, and it was confirmed whether or not the film was broken at that time. The case where the film was not broken was evaluated as "◯", the case where the film was broken but both ends were not separated was evaluated as "Δ", and the case where the film was broken and both ends were separated was evaluated as "x". The measurement results are shown in Table 1.

(9)ロールtoロールでの搬送性
後述の通り透明導電性フィルムを作製した際に、実際のロールtoロール製法での搬送性を評価した。即ち、後述の通り、ロールtoロール製法にて透明導電層を成膜した際に、透明導電性フィルムの破断が生じることなく搬送できた場合は「○」を、破断が生じ搬送できなかった場合は「×」として評価した。評価した結果を表1に示す。
(9) Transportability by roll-to-roll When a transparent conductive film was produced as described later, the transportability by an actual roll-to-roll manufacturing method was evaluated. That is, as described later, when the transparent conductive layer is formed by the roll-to-roll method, if the transparent conductive film can be conveyed without breaking, "○" is displayed, and if the transparent conductive film is broken and cannot be conveyed. Was evaluated as "x". The evaluation results are shown in Table 1.

(10)屈折率
各層の屈折率は、アタゴ社製のアッベ屈折率計を用い、各種測定面に対して測定光(ナトリウムD線)を入射させるようにして、該屈折計に示される規定の測定方法により測定を行った。測定波長400nmでの屈折率を、本明細書での屈折率とした。
(10) Refractive index The refractive index of each layer is specified by using an Abbe refractometer manufactured by Atago Co., Ltd. so that measurement light (sodium D line) is incident on various measurement surfaces. The measurement was performed by the measuring method. The refractive index at the measurement wavelength of 400 nm was defined as the refractive index in the present specification.

(11)引張り破断強度の評価
透明樹脂フィルム基材を幅10mm×長さ130mmに切断した後、引張試験機として「オートグラフ−1kNG」(島津製作所株式会社製)を用い、試験サンプルに対し、引張速度300mm/min、チャック間距離50mm、室温(23℃)で引張試験を行い、応力−歪み曲線を求めた。透明樹脂フィルム基材が破断したときの応力を求めて引張り破断強度とした。
(11) Evaluation of Tensile Breaking Strength After cutting the transparent resin film base material to a width of 10 mm and a length of 130 mm, "Autograph-1kNG" (manufactured by Shimadzu Corporation) was used as a tensile tester to test samples. A tensile test was performed at a tensile speed of 300 mm / min, a distance between chucks of 50 mm, and room temperature (23 ° C.) to obtain a stress-strain curve. The stress when the transparent resin film base material was broken was calculated and used as the tensile breaking strength.

<実施例1>
(第2の硬化樹脂層の形成)
第2の硬化樹脂層の形成材料として、DIC(株)製、商品名「ユニディックELS−888」を80重量部と、DIC(株)製、商品名「ユニディックRS28−605」を20重量部とを混合した樹脂組成物溶液を調製した。調製した樹脂組成物溶液をゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)にて重量平均分子量を確認したところ、樹脂組成物溶液には全樹脂成分に対して、重量平均分子量が200以上1000以下である成分Aが20重量%、重量平均分子量が10000〜10万の成分Bが80重量%含まれていた。
<Example 1>
(Formation of second cured resin layer)
As a material for forming the second cured resin layer, 80 parts by weight of DIC Corporation's product name "Unidic ELS-888" and 20 parts by weight of DIC Corporation's product name "Unidic RS28-605" A resin composition solution was prepared by mixing the parts. When the weight average molecular weight of the prepared resin composition solution was confirmed by gel permeation chromatography (GPC), the weight average molecular weight of the prepared resin composition solution was 200 or more and 1000 or less with respect to all the resin components. 20% by weight and 80% by weight of component B having a weight average molecular weight of 1000 to 100,000 was contained.

調製した樹脂組成物溶液を、基材フィルムとして厚み40μmのノルボルネン系樹脂フィルム(日本ゼオン(株)製、商品名「ゼオノアフィルム」、以下、「COPフィルム」という。線膨張係数:7.0×10−5cm/cm・℃、引張り破断強度=76MPa、屈折率=1.53)の一方の面に塗布し、80℃で、1分間乾燥したのち、直ちにオゾンタイプ高圧水銀灯(UV強度180mW/cm、積算光量:230mJ/cm)で紫外線照射を行い、厚み1.0μmの第2の硬化樹脂層(屈折率=1.51)を形成した。 The prepared resin composition solution is used as a base film for a norbornene-based resin film having a thickness of 40 μm (manufactured by Nippon Zeon Corporation, trade name “Zeonoa film”, hereinafter referred to as “COP film”. Linear expansion coefficient: 7.0 × Apply to one surface of 10-5 cm / cm · ° C, tensile breaking strength = 76 MPa, refractive index = 1.53), dry at 80 ° C for 1 minute, and immediately ozone type high pressure mercury lamp (UV intensity 180 mW / A second cured resin layer (refractive index = 1.51) having a thickness of 1.0 μm was formed by irradiating with ultraviolet rays at cm 2 and integrated light amount: 230 mJ / cm 2 ).

(第1の硬化樹脂層の形成)
COPフィルムの前記第2の硬化樹脂層を形成した面とは他方の面に紫外線硬化性を有する樹脂組成物(JSR(株)製、「KZ6518」、平均粒子径20nmのSiO粒子を20重量%含有する)を塗布し、80℃で1分間乾燥したのち、直ちにオゾンタイプ高圧水銀灯(UV強度160mW/cm、積算光量:230mJ/cm)で紫外線照射を行い、厚み1.0μmの第1の硬化樹脂層を形成した。第1の硬化樹脂層の屈折率は、1.50であった。
(Formation of first cured resin layer)
A resin composition having ultraviolet curability (manufactured by JSR Corporation, "KZ6518", 20 wt by weight of SiO 2 particles having an average particle diameter of 20 nm is formed on the surface of the COP film on which the second cured resin layer is formed. %) Is applied, dried at 80 ° C. for 1 minute, and then immediately irradiated with ultraviolet rays with an ozone type high-pressure mercury lamp (UV intensity 160 mW / cm 2 , integrated light intensity: 230 mJ / cm 2 ) to a thickness of 1.0 μm. The cured resin layer of 1 was formed. The refractive index of the first cured resin layer was 1.50.

(透明導電層の成膜)
前記両面に硬化樹脂層が形成されたCOPフィルムを、巻き取り式スパッタ装置に投入し、酸化インジウムと酸化スズとを90:10重量比で含有する焼結体ターゲットを装着して、第1の硬化樹脂層の表面に、厚みが25nmの非晶質のインジウム・スズ酸化物からなる透明導電層(屈折率=2.00)を反応性スパッタリングにより成膜した。得られた透明導電性フィルムは、透明導電層の表面抵抗値が340Ω/□であった。
(Film formation of transparent conductive layer)
The COP film having the cured resin layers formed on both sides was put into a take-up sputtering apparatus, and a sintered body target containing indium oxide and tin oxide in a 90:10 weight ratio was attached to the first. A transparent conductive layer (refractive index = 2.00) made of amorphous indium tin oxide having a thickness of 25 nm was formed on the surface of the cured resin layer by reactive sputtering. In the obtained transparent conductive film, the surface resistance value of the transparent conductive layer was 340 Ω / □.

(透明導電層の結晶化アニール)
その後、上記インジウム・スズ酸化物の非晶質層が形成されたCOPフィルムを、ロールtoロール方式で空気循環式オーブンに投入し、130℃で90分間の加熱処理を行い、透明導電層を非晶質から結晶質に転化させ、透明導電層の表面抵抗値が100Ω/□の透明導電性フィルムを作製した。
(Crystallization annealing of transparent conductive layer)
Then, the COP film on which the amorphous layer of indium tin oxide was formed was put into an air circulation oven by a roll-to-roll method, and heat-treated at 130 ° C. for 90 minutes to remove the transparent conductive layer. A transparent conductive film having a surface resistance value of 100 Ω / □ was prepared by converting from crystalline material to crystalline material.

<実施例2>
実施例1において、第1の硬化樹脂層の樹脂組成物として、表1に記載の樹脂組成物(JSR(株)製、「KZ6506」、平均粒子径20nmのSiO粒子を40重量%含有する)を用いたこと以外は、実施例1と同様に透明導電性フィルムを作製した。なお、第1の硬化樹脂層の屈折率は、1.495であった。
<Example 2>
In Example 1, as the resin composition of the first cured resin layer, 40% by weight of the resin composition shown in Table 1 (“KZ6506” manufactured by JSR Corporation, SiO 2 particles having an average particle diameter of 20 nm is contained. ) Was used, and a transparent conductive film was produced in the same manner as in Example 1. The refractive index of the first cured resin layer was 1.495.

<実施例3>
実施例1において、第1の硬化樹脂層の樹脂組成物として、表1に記載の樹脂組成物(JSR(株)製、「KZ6519」、平均粒子径20nmのSiO粒子を60重量%含有する)を用いたこと以外は、実施例1と同様に透明導電性フィルムを作製した。なお、第1の硬化樹脂層の屈折率は、1.49であった。
<Example 3>
In Example 1, as the resin composition of the first cured resin layer, 60% by weight of the resin composition shown in Table 1 (“KZ6519” manufactured by JSR Corporation, SiO 2 particles having an average particle diameter of 20 nm is contained. ) Was used, and a transparent conductive film was produced in the same manner as in Example 1. The refractive index of the first cured resin layer was 1.49.

<比較例1>
実施例1において、第1の硬化樹脂層の樹脂組成物として、表1に記載の樹脂組成物(JSR(株)製、「KZ6524」、SiO粒子を含有しない)を用いたこと以外は、実施例1と同様に透明導電性フィルムを作製した。なお、第1の硬化樹脂層の屈折率は、1.52であった。
<Comparative example 1>
In Example 1, except that the resin composition shown in Table 1 (manufactured by JSR Corporation, “KZ6524”, which does not contain SiO 2 particles) was used as the resin composition of the first cured resin layer. A transparent conductive film was produced in the same manner as in Example 1. The refractive index of the first cured resin layer was 1.52.
..

<比較例2>
実施例1において、第1の硬化樹脂層の樹脂組成物として、表1に記載の樹脂組成物(JSR(株)製、「Z7503」、平均粒子径20nmのSiO粒子を75重量%含有する)を用いたこと以外は、実施例1と同様に透明導電性フィルムを作製した。なお、第1の硬化樹脂層の屈折率は、1.49であった。
<Comparative example 2>
In Example 1, as the resin composition of the first cured resin layer, 75% by weight of the resin composition shown in Table 1 (“Z7503” manufactured by JSR Corporation, SiO 2 particles having an average particle diameter of 20 nm is contained. ) Was used, and a transparent conductive film was produced in the same manner as in Example 1. The refractive index of the first cured resin layer was 1.49.

(結果及び考察)
まず、透明樹脂フィルム基材と線膨張係数との関係について、検討した。その結果、各基材での線膨張係数は、シクロオレフィン系樹脂フィルム(COPフィルム)が7.0×10-5cm/cm・℃、ポリカーボネート系樹脂フィルム(PCフィルム)が6.6×10-5cm/cm・℃、ポリエステル系樹脂フィルム(PETフィルム)が2.0×10-5cm/cm・℃であった。PETフィルムのような線膨張係数が低い基材を用いた場合には、熱膨張によるクラック発生への影響が少ない。さらに、PETフィルムのような引張り破断強度が高く硬い基材を用いた場合(PETフィルムの引張り破断強度=217MPa)には、基材の両面に硬化樹脂層を形成する必要がない場合が多い。
(Results and discussion)
First, the relationship between the transparent resin film base material and the coefficient of linear expansion was examined. As a result, the linear expansion coefficient of each base material was 7.0 × 10 -5 cm / cm · ° C. for the cycloolefin resin film (COP film) and 6.6 × 10 for the polycarbonate resin film (PC film). The temperature was -5 cm / cm · ° C, and the polyester resin film (PET film) was 2.0 × 10 -5 cm / cm · ° C. When a base material having a low coefficient of linear expansion such as PET film is used, the influence on crack generation due to thermal expansion is small. Further, when a hard substrate having a high tensile breaking strength such as a PET film is used (the tensile breaking strength of the PET film = 217 MPa), it is often not necessary to form a cured resin layer on both sides of the substrate.

一方、COPフィルム、PCフィルムのような線膨張係数が高く熱膨張しやすい基材を用いた場合に、クラックが発生しやすい。本発明では特に、COPフィルム、PCフィルムのような線膨張係数が高い基材を用いた場合であっても、無機粒子を10〜70重量%含有させ、ある程度の硬さを有する第1の硬化樹脂層を形成することで、熱変形を防止し、クラック発生を防止できると考えられる。さらに、COPフィルム、PCフィルムのような引張り破断強度が低く柔らかい基材を用いた場合に(COPフィルムの引張り破断強度=76MPa、PCフィルムの引張り破断強度=98MPa)、基材の両面に硬化樹脂層を形成する必要があるため、無機粒子を含有させること等により各硬化樹脂層の硬度や柔軟性を調整することは、本発明では有用であると考えられる。 On the other hand, when a base material having a high coefficient of linear expansion and easy thermal expansion such as a COP film or a PC film is used, cracks are likely to occur. In the present invention, in particular, even when a substrate having a high coefficient of linear expansion such as a COP film or a PC film is used, the first curing which contains 10 to 70% by weight of inorganic particles and has a certain degree of hardness. It is considered that the formation of the resin layer can prevent thermal deformation and prevent the occurrence of cracks. Further, when a soft substrate having a low tensile breaking strength such as a COP film or a PC film is used (the tensile breaking strength of the COP film = 76 MPa, the tensile breaking strength of the PC film = 98 MPa), the cured resin is applied to both sides of the substrate. Since it is necessary to form a layer, it is considered useful in the present invention to adjust the hardness and flexibility of each cured resin layer by containing inorganic particles or the like.

次に、得られた評価結果を表1に示す。実施例1〜3のように、無機粒子の含有量が第1の硬化樹脂層中に20〜60重量%であると、COPフィルムのような線膨張係数が高い基材を用いた場合であって、かつ、50℃で5日間加熱保管した後(即ち、アモルファス膜の一部が結晶化したITO膜を用いて)結晶化アニール処理した場合であっても、第1の硬化樹脂層をある程度硬くすることができ、熱変形を防止できるため、ITO膜の表面にクラックを発生させることを防ぐことができた。さらに、無機粒子を所定量含有することにより、第1の硬化樹脂層上での耐擦傷性の評価においても傷が生じず、良好な結果が得られた。 Next, the obtained evaluation results are shown in Table 1. When the content of the inorganic particles in the first cured resin layer is 20 to 60% by weight as in Examples 1 to 3, it is a case where a base material having a high coefficient of linear expansion such as a COP film is used. Even when the first cured resin layer is subjected to crystallization annealing after being heated and stored at 50 ° C. for 5 days (that is, using an ITO film in which a part of the amorphous film is crystallized), the first cured resin layer is to some extent. Since it can be made hard and can prevent thermal deformation, it is possible to prevent cracks from being generated on the surface of the ITO film. Furthermore, by containing a predetermined amount of the inorganic particles, no scratches were generated in the evaluation of the scratch resistance on the first cured resin layer, and good results were obtained.

さらに、実施例1〜3について、無機粒子の含有量が第1の硬化樹脂層中に20〜60重量%であると、180°折り曲げ試験において○又は△の比較的良好な結果が得られた。また、実機で使用した際も透明導電性フィルムの破断を生じることなくロールtoロール製法にて搬送できた。無機粒子の含有量が第1の硬化樹脂層中に20〜60重量%とすることによって、第1の硬化樹脂層の硬度をある程度大きくすることができ、柔軟性を有する第2の硬化樹脂層によりフィルム破断を防止できるとともに、高硬化性を有する第1の硬化樹脂層によりクラックの発生を防止できると考えられる。これにより、クラック発生防止の課題とフィルム破断抑制の課題とを両立して達成することができる。 Further, in Examples 1 to 3, when the content of the inorganic particles in the first cured resin layer was 20 to 60% by weight, relatively good results of ◯ or Δ were obtained in the 180 ° bending test. .. In addition, even when used in an actual machine, the transparent conductive film could be conveyed by the roll-to-roll manufacturing method without breaking. By setting the content of the inorganic particles in the first cured resin layer to 20 to 60% by weight, the hardness of the first cured resin layer can be increased to some extent, and the second cured resin layer has flexibility. It is considered that the film can be prevented from breaking due to the above, and the occurrence of cracks can be prevented by the first cured resin layer having high curability. As a result, it is possible to achieve both the problem of preventing crack generation and the problem of suppressing film breakage.

一方、比較例1のように、無機粒子を含有しない場合、180°折り曲げ試験において破断を起こさず、ロールtoロール搬送できたものの、50℃で5日間加熱保管した後(即ち、アモルファス膜の一部が結晶化したITO膜を用いて)結晶化アニール処理した場合は、ITO膜の表面にクラックが発生した。さらに、第1の硬化樹脂層の耐擦傷性の評価においても傷が生じ、良好な結果が得られなかった。 On the other hand, when inorganic particles were not contained as in Comparative Example 1, the film could be transported roll-to-roll without breaking in the 180 ° bending test, but after being heated and stored at 50 ° C. for 5 days (that is, one of the amorphous films). When the crystallization annealing treatment was performed (using an ITO film in which the part was crystallized), cracks were generated on the surface of the ITO film. Further, in the evaluation of the scratch resistance of the first cured resin layer, scratches were also generated, and good results could not be obtained.

一方、比較例2のように、無機粒子の含有量が第1の硬化樹脂層中に75重量%と多い場合、比較例1とは逆の傾向が見られた。つまり、ITO膜の表面にクラックが発生しなかったものの、180°折り曲げ試験において破断を起こし、ロールtoロール搬送できなかった。なお、実機試験での破断発生原因としては、加熱ロール通過後にフィルムシワが発生し、フィルムに局所的な屈曲が発生し、破断が発生すると推測される。 On the other hand, when the content of the inorganic particles in the first cured resin layer was as high as 75% by weight as in Comparative Example 2, the tendency opposite to that in Comparative Example 1 was observed. That is, although cracks did not occur on the surface of the ITO film, the surface of the ITO film was broken in the 180 ° bending test, and roll-to-roll transfer was not possible. It is presumed that the cause of the breakage in the actual machine test is that the film wrinkles occur after passing through the heating roll, the film is locally bent, and the breakage occurs.

クラック発生時の写真を図4〜5に示す。図4は、比較例1でクラック確認試験後のレーザー顕微鏡(×50倍)の写真である。ITO膜の表面にクラックが生じていることが視覚的に確認できた。また、図5は、比較例1でクラック確認試験後の光学顕微鏡の写真である。さらに、図示はしていないが、クラックは、結晶化アニール処理時に付加される熱によって、基材や第1の硬化樹脂層が熱膨張するのに対して、透明導電層は熱膨張しにくく、この熱膨張の相違を起因として形成されていることが分かった。一方、図6は、実施例1でのクラック確認試験後のレーザー顕微鏡(×50倍)の写真であり、クラックの発生が抑制できていることが視覚的に確認できた。 The photographs at the time of crack occurrence are shown in FIGS. 4 to 5. FIG. 4 is a photograph of a laser microscope (× 50 times) after the crack confirmation test in Comparative Example 1. It was visually confirmed that cracks were generated on the surface of the ITO film. Further, FIG. 5 is a photograph of an optical microscope after the crack confirmation test in Comparative Example 1. Further, although not shown, in the cracks, the base material and the first cured resin layer thermally expand due to the heat applied during the crystallization annealing treatment, whereas the transparent conductive layer does not easily expand thermally. It was found that it was formed due to this difference in thermal expansion. On the other hand, FIG. 6 is a photograph of a laser microscope (× 50 times) after the crack confirmation test in Example 1, and it was visually confirmed that the occurrence of cracks could be suppressed.

1 透明樹脂フィルム
2 第1の硬化樹脂層
2´ 第2の硬化樹脂層
3 透明導電層
4 光学調整層
10、11 透明導電性フィルム
1 Transparent resin film 2 First cured resin layer 2'Second cured resin layer 3 Transparent conductive layer 4 Optical adjustment layer 10, 11 Transparent conductive film

Claims (10)

第2の硬化樹脂層と、透明樹脂フィルムと、第1の硬化樹脂層と、透明導電層とをこの順に有する透明導電性フィルムであって、
前記透明樹脂フィルムは、線膨張係数が5.0×10-5cm/cm・℃以上であり、
前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.27GPa以上であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa未満であり、
前記第1の硬化樹脂層は、無機粒子を10〜70重量%含有する透明導電性フィルム。
A transparent conductive film having a second cured resin layer, a transparent resin film, a first cured resin layer, and a transparent conductive layer in this order.
The transparent resin film has a coefficient of linear expansion of 5.0 × 10 -5 cm / cm · ° C. or higher.
The hardness of the first cured resin layer in the indentation test is 0.27 GPa or more, and the hardness of the second cured resin layer in the indentation test is less than 0.29 GPa.
The first cured resin layer is a transparent conductive film containing 10 to 70% by weight of inorganic particles.
前記第1の硬化樹脂層の屈折率は、1.45〜1.50である請求項1に記載の透明導電性フィルム。 The transparent conductive film according to claim 1, wherein the refractive index of the first cured resin layer is 1.45 to 1.50. 前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa以上であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度が、0.29GPa未満である請求項1または2に記載の透明導電性フィルム。 The transparency according to claim 1 or 2, wherein the hardness of the first cured resin layer by the indentation test is 0.29 GPa or more, and the hardness of the second cured resin layer by the indentation test is less than 0.29 GPa. Conductive film. 前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量が、50nm以下であり、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による塑性変形量が、50nmより大きい請求項1〜3のいずれか1項に記載の透明導電性フィルム。 Any one of claims 1 to 3, wherein the amount of plastic deformation of the first cured resin layer by the indentation test is 50 nm or less, and the amount of plastic deformation of the second cured resin layer in the indentation test is larger than 50 nm. The transparent conductive film according to. 前記第1の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度から、前記第2の硬化樹脂層の押し込み試験による硬度を引いた値が、0GPaより大きく1.0GPa以下である請求項1〜4のいずれか1項に記載の透明導電性フィルム。 Any one of claims 1 to 4, wherein the value obtained by subtracting the hardness of the second cured resin layer from the indentation test of the first cured resin layer from the hardness of the first cured resin layer in the indentation test is greater than 0 GPa and 1.0 GPa or less. The transparent conductive film according to the item. 前記第1の硬化樹脂層と前記透明導電層との間に1層以上の光学調整層をさらに備える請求項1〜5のいずれか1項に記載の透明導電性フィルム。 The transparent conductive film according to any one of claims 1 to 5, further comprising one or more optical adjustment layers between the first cured resin layer and the transparent conductive layer. 前記透明樹脂フィルムは、シクロオレフィン系樹脂フィルム又はポリカーボネート系樹脂フィルムである請求項1〜6のいずれか1項に記載の透明導電性フィルム。 The transparent conductive film according to any one of claims 1 to 6, wherein the transparent resin film is a cycloolefin resin film or a polycarbonate resin film. 前記無機粒子は、シリカ粒子である請求項1〜7のいずれか1項に記載の透明導電性フィルム。 The transparent conductive film according to any one of claims 1 to 7, wherein the inorganic particles are silica particles. インナータッチパネルに用いられる請求項1〜8のいずれか1項に記載の透明導電性フィルム。 The transparent conductive film according to any one of claims 1 to 8, which is used for an inner touch panel. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の透明導電性フィルムを含むタッチパネル。


A touch panel including the transparent conductive film according to any one of claims 1 to 9.


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