JP6783619B2 - 磁気共鳴イメージング装置及び画像解析方法 - Google Patents
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Description
まず、図1を参照して、本発明に係る磁気共鳴イメージング装置(以下、MRI装置1という)の全体構成について説明する。
画像処理部80には、間引き計測パターン設定部81、計測データ取得部82、相互利用可能データ設定部83、再構成処理部84、画像出力部85、及び画像解析処理部86等が含まれる。上述したように画像処理部80は、好適にはMRI装置1の中央処理装置(CPU)8によるプログラム処理で実現される。
(1)の初期画像参照型、(2)の自己・相互参照型についての具体的な手法は後述する。
操作者により「繰り返し再構成」モードが設定され(ステップS401)、「初期画像参照型」が選択され(ステップS402)、1計測目の間引き計測パターンが設定されると(ステップS403)、中央処理装置(CPU)8は1計測目の計測を実施する(ステップS404)。計測後、中央処理装置(CPU)8はその計測データに基づき繰り返し再構成処理を実施し(ステップS405)、初期画像(基準画像)を取得する(ステップS406)。
操作者により「繰り返し再構成モード」が設定され(ステップS501)、「自己・相互参照型」が選択されると(ステップS502)、中央処理装置(CPU)8は1〜N番目までの各計測についてそれぞれ異なる間引き計測パターンを設定し(ステップS503、ステップS504)、設定された間引き計測パターンで1〜N番目の計測を実施する(ステップS505)。中央処理装置(CPU)8は、各計測のデータを合成しない状態で画像を繰り返し再構成し、1〜N番目の計測についての画像を取得する(ステップS506〜ステップS507)。
Interface)である操作画面70の一例を示す。操作画面70は表示装置20に表示される。図19に示す操作画面70は、患者情報表示領域701、撮像パラメータ設定入力領域702、703、撮像時間表示領域704、撮像コントロール領域705等が設けられる。
Reconstruction Mode;Type A「初期画像参照型」、Type B「自己・相互参照型」等)の選択、間引きの割合(Reduce factor)の設定を受け付ける。操作画面70では、パラメータ入力補助図形702a、702bとパラメータの数値入力等とを組み合わせて各種パラメータの設定・変更を可能とする。
2・・・・・・・・・静磁場発生系
3・・・・・・・・・傾斜磁場発生系
4・・・・・・・・・シーケンサ
5・・・・・・・・・送信系
6・・・・・・・・・受信系
7・・・・・・・・・信号処理系
8・・・・・・・・・中央処理装置(CPU)
9・・・・・・・・・傾斜磁場コイル
10・・・・・・・・傾斜磁場電源
11・・・・・・・・高周波発振器
12・・・・・・・・変調器
13・・・・・・・・高周波増幅器
14a・・・・・・・送信コイル(送信側高周波コイル)
14b・・・・・・・受信コイル(受信側高周波コイル)
15・・・・・・・・信号増幅器
16・・・・・・・・直交位相検波器
17・・・・・・・・A/D変換器
18・・・・・・・・記憶装置
19・・・・・・・・外部記憶装置
20・・・・・・・・表示装置
21・・・・・・・・ポインティングデバイス(トラックボール、マウス)
22・・・・・・・・キーボード
23・・・・・・・・操作部
30・・・・・・・・被検体
80・・・・・・・・画像処理部
81・・・・・・・・間引き計測パターン設定部
82・・・・・・・・計測データ取得部
83・・・・・・・・相互利用可能データ設定部
84・・・・・・・・再構成処理部
85・・・・・・・・画像出力部
86・・・・・・・・画像解析処理部
100・・・・・・・撮像部
201〜204、213〜216・・・計測データ(k空間)
205〜208、217〜220・・・相互利用可能データを合成した計測データ
209〜212、221〜224・・・計測データ205〜208、217〜220を再構成した画像
301〜303・・・再構成情報
401〜404・・・合成後計測データ
405〜408・・・合成後計測データ401〜404を再構成した画像
601・・・・・・・処理過程パラメータの変化を示すグラフ
602・・・・・・・終了判定処理結果の変化を示すグラフ
70・・・・・・・・操作画面
802・・・・・・・1番目の計測の計測データ
803・・・・・・・2番目以降の計測データ
804、805・・・相互利用可能なデータ領域を合成した計測データ
51、58・・・・・必要最小限のデータ領域
52、57・・・・・相互利用可能なデータ領域の限界値
807・・・・・・・1番目の計測の計測データ
808・・・・・・・2番目以降の計測データ
809、810・・・相互利用可能なデータ領域を合成した計測データ
811・・・・・・・計測データ
811a〜811c・・・計測データ811の所定帯域を0詰めした計測データ
812、812a〜812c・・・計測データ811、811a〜811bの再構成画像
813・・・・・・・合成後計測データ
813a〜813c・・・低域から所定帯域を削った計測データ
814、814a〜814c・・・合成前差分画像(左側)と合成後差分画像(右側)
815・・・・・・・k空間の削り率とコントラスト変化との関係を示すグラフ
816・・・・・・・差分情報の合成前後での比の変化を示すグラフ
817、817a〜817c・・・信号値の変化を示すグラフ
901・・・・・・・画像(頭部MRA)
902・・・・・・・画像901の血管及び能実質の信号値を示すグラフ
903・・・・・・・グラフ902に対応するk空間のグラフ
Claims (10)
- 被検体を収容する空間に均一な静磁場を発生させる静磁場発生部と、前記静磁場へ重畳して傾斜磁場を発生させる傾斜磁場発生部と、前記被検体へ照射する高周波磁場を発生する高周波コイルと、前記被検体から発生するNMR信号を計測データとして検出する検出部とを備えた撮像部と、
前記撮像部により複数回の計測をそれぞれ異なる間引き計測パターンで実施し複数の計測データを取得する計測データ取得部と、
前記計測データ取得部により取得した複数の計測データについて繰り返し再構成処理を実施し各画像を再構成する再構成処理部と、
前記再構成処理部により再構成された複数の画像を用いて解析処理を実行する画像解析処理部と、
前記複数回の計測について間引き計測パターンを設定する間引き計測パターン設定部と、を備え、
前記間引き計測パターン設定部は、本計測に先立ち行われる前計測により得た計測データに基づいて各計測の適切な間引き計測パターンを決定することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 被検体を収容する空間に均一な静磁場を発生させる静磁場発生部と、前記静磁場へ重畳して傾斜磁場を発生させる傾斜磁場発生部と、前記被検体へ照射する高周波磁場を発生する高周波コイルと、前記被検体から発生するNMR信号を計測データとして検出する検出部とを備えた撮像部と、
前記撮像部により複数回の計測をそれぞれ異なる間引き計測パターンで実施し複数の計測データを取得する計測データ取得部と、
前記計測データ取得部により取得した複数の計測データについて繰り返し再構成処理を実施し各画像を再構成する再構成処理部と、
前記再構成処理部により再構成された複数の画像を用いて解析処理を実行する画像解析処理部と、
前記複数回の計測について間引き計測パターンを設定する間引き計測パターン設定部と、を備え、
前記間引き計測パターン設定部は、前記再構成処理部により再構成された1つの画像を解析することにより他の計測の間引き計測パターンを決定することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 被検体を収容する空間に均一な静磁場を発生させる静磁場発生部と、前記静磁場へ重畳して傾斜磁場を発生させる傾斜磁場発生部と、前記被検体へ照射する高周波磁場を発生する高周波コイルと、前記被検体から発生するNMR信号を計測データとして検出する検出部とを備えた撮像部と、
前記撮像部により複数回の計測をそれぞれ異なる間引き計測パターンで実施し複数の計測データを取得する計測データ取得部と、
前記計測データ取得部により取得した複数の計測データについて繰り返し再構成処理を実施し各画像を再構成する再構成処理部と、
前記再構成処理部により再構成された複数の画像を用いて解析処理を実行する画像解析処理部と、を備え、
前記再構成処理部は、先に実施した繰り返し再構成処理により得た情報に基づき、後に実施する繰り返し再構成処理の条件を決定することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 被検体を収容する空間に均一な静磁場を発生させる静磁場発生部と、前記静磁場へ重畳して傾斜磁場を発生させる傾斜磁場発生部と、前記被検体へ照射する高周波磁場を発生する高周波コイルと、前記被検体から発生するNMR信号を計測データとして検出する検出部とを備えた撮像部と、
前記撮像部により複数回の計測をそれぞれ異なる間引き計測パターンで実施し複数の計測データを取得する計測データ取得部と、
前記計測データ取得部により取得した複数の計測データについて繰り返し再構成処理を実施し各画像を再構成する再構成処理部と、
前記再構成処理部により再構成された複数の画像を用いて解析処理を実行する画像解析処理部と、を備え、
前記間引き計測パターンは空間方向だけでなく時間方向の間引きを含むことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 前記複数回の計測について間引き計測パターンを設定する間引き計測パターン設定部を備えることを特徴とする請求項3または4に記載の磁気共鳴イメージング装置。
- 前記計測データ取得部により取得した複数の計測データの相互利用可能なデータ領域を設定する相互利用可能データ設定部を備え、
前記再構成処理部は、前記複数の計測データの前記相互利用可能なデータ領域については相互にデータを利用して各画像を再構成することを特徴とする請求項3または4に記載の磁気共鳴イメージング装置。 - 磁気共鳴イメージング装置の撮像部により複数回の計測をそれぞれ異なる間引き計測パターンで実施し、複数の計測データを取得するステップと、
前記複数の計測データについて繰り返し再構成処理により各画像を再構成するステップと、
再構成された複数の画像を用いて解析処理を実行するステップと、
前記複数回の計測について間引き計測パターンを設定するステップと、を含み、
前記間引き計測パターン設定するステップは、本計測に先立ち行われる前計測により得た計測データに基づいて各計測の適切な間引き計測パターンを決定することを特徴とする画像解析方法。 - 磁気共鳴イメージング装置の撮像部により複数回の計測をそれぞれ異なる間引き計測パターンで実施し、複数の計測データを取得するステップと、
前記複数の計測データについて繰り返し再構成処理により各画像を再構成するステップと、
再構成された複数の画像を用いて解析処理を実行するステップと、
前記複数回の計測について間引き計測パターンを設定するステップと、を含み、
前記間引き計測パターンを設定するステップは、前記各画像を再構成するステップにより再構成された1つの画像を解析することにより他の計測の間引き計測パターンを決定することを特徴とする画像解析方法。 - 磁気共鳴イメージング装置の撮像部により複数回の計測をそれぞれ異なる間引き計測パターンで実施し、複数の計測データを取得するステップと、
前記複数の計測データについて繰り返し再構成処理により各画像を再構成するステップと、
再構成された複数の画像を用いて解析処理を実行するステップと、を含み、
前記各画像を再構成するステップは、先に実施した繰り返し再構成処理により得た情報に基づき、後に実施する繰り返し再構成処理の条件を決定することを特徴とする画像解析方法。 - 磁気共鳴イメージング装置の撮像部により複数回の計測をそれぞれ異なる間引き計測パターンで実施し、複数の計測データを取得するステップと、
前記複数の計測データについて繰り返し再構成処理により各画像を再構成するステップと、
再構成された複数の画像を用いて解析処理を実行するステップと、を含み、
前記間引き計測パターンは空間方向だけでなく時間方向の間引きを含むことを特徴とする画像解析方法。
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JP2016205644A JP6783619B2 (ja) | 2016-10-20 | 2016-10-20 | 磁気共鳴イメージング装置及び画像解析方法 |
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