JP6776087B2 - Manufacturing method of metal-clad laminate and manufacturing method of circuit board - Google Patents

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本発明は、電子製品に使用されるフレキシブル回路基板(FPC)などの回路基板に用いられる金属張積層板の製造方法、及び回路基板の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a metal-clad laminate used for a circuit board such as a flexible circuit board (FPC) used for an electronic product, and a method for manufacturing a circuit board.

FPCは、可撓性を有し、3次元配線への可能性を有するため、コンピュータ及びその周辺機器、スマートフォンに代表される通信機器などの電子製品等に幅広く適用されている。FPCは、金属層と絶縁樹脂層とが積層された構造を有する金属張積層板の金属層を回路加工することによって製造される。 Since FPC has flexibility and potential for three-dimensional wiring, it is widely applied to electronic products such as computers and their peripheral devices, communication devices represented by smartphones, and the like. The FPC is manufactured by circuit processing a metal layer of a metal-clad laminate having a structure in which a metal layer and an insulating resin layer are laminated.

電子機器の小型化に伴い、FPCの薄型化、高密度化、多機能化が進展している。しかし、FPCの原料となる金属張積層板を薄型化すると、その剛性が低下するため、FPCの製造プロセスにおいて、ハンドリング性が低下したり、折り曲げによる配線層の破断、損傷、剥離などの不具合が発生しやすくなっている。これらの不具合は、FPCを使用する電子製品の歩留まりや信頼性を低下させるため、その対策が求められている。 With the miniaturization of electronic devices, FPCs are becoming thinner, denser, and more multifunctional. However, when the metal-clad laminate, which is the raw material of FPC, is made thinner, its rigidity is lowered, so that the handling property is lowered in the manufacturing process of FPC, and defects such as breakage, damage, and peeling of the wiring layer due to bending occur. It is easy to occur. Since these defects reduce the yield and reliability of electronic products that use FPC, countermeasures are required.

金属張積層板の剛性低下を補うため、金属張積層板にPETフィルム等のキャリアを接着剤で貼り合わせ、FPCを加工後にキャリアを剥離する方法が行われている。しかし、この方法では、キャリアや接着剤の使用により、金属張積層板の耐熱性や、寸法安定性が損なわれるといった問題がある。そこで、キャリアとして金属製シートを用い、その上に絶縁樹脂層としてのポリイミド層及び金属層を順次積層形成し、該金属層を回路加工した後、金属製シートを剥離する回路基板の製造方法が提案されている(例えば、特許文献1)。特許文献1の技術では、キャリアとして金属製シートを用いるため、FPCの加工プロセスにおいて、キャリアを介して金属層に形成されたアライメントマークを識別することが困難になるおそれがある。 In order to compensate for the decrease in rigidity of the metal-clad laminate, a method is used in which a carrier such as a PET film is attached to the metal-clad laminate with an adhesive, and the carrier is peeled off after processing the FPC. However, this method has a problem that the heat resistance and dimensional stability of the metal-clad laminate are impaired by the use of a carrier or an adhesive. Therefore, a method for manufacturing a circuit board in which a metal sheet is used as a carrier, a polyimide layer as an insulating resin layer and a metal layer are sequentially laminated and formed, the metal layer is circuit-processed, and then the metal sheet is peeled off is used. It has been proposed (for example, Patent Document 1). In the technique of Patent Document 1, since a metal sheet is used as a carrier, it may be difficult to identify the alignment mark formed on the metal layer via the carrier in the processing process of FPC.

なお、金属張積層板のポリイミド層上に、ポリアミド酸溶液を塗布してイミド化することによって新しくポリイミド層を形成し、ポリイミドフィルムとして剥離する方法が提案されている(例えば、特許文献2)。ただし、特許文献2は、製品としてのポリイミドフィルムの製造のために金属張積層板を支持体として利用しているに過ぎず、回路基板の原料としての金属張積層板を製造する技術ではない。 A method has been proposed in which a new polyimide layer is formed by applying a polyamic acid solution on the polyimide layer of a metal-clad laminate to imidize it, and the polyimide layer is peeled off as a polyimide film (for example, Patent Document 2). However, Patent Document 2 merely uses a metal-clad laminate as a support for producing a polyimide film as a product, and is not a technique for producing a metal-clad laminate as a raw material for a circuit board.

特許第5276950号公報(図1、図2など)Japanese Patent No. 5276950 (Fig. 1, Fig. 2, etc.) 特許第4260530号公報(請求項1など)Japanese Patent No. 4260530 (Claim 1 and the like)

本発明は、FPC等の回路基板の薄型化に対応するため、金属張積層板の絶縁樹脂層を薄層化しても、十分な剛性を確保し、ハンドリング性を維持できる金属張積層板の製造方法及び回路基板の製造方法を提供することを目的とする。 In the present invention, in order to cope with the thinning of a circuit board such as an FPC, even if the insulating resin layer of the metal-clad laminate is thinned, sufficient rigidity can be ensured and the handleability can be maintained. It is an object of the present invention to provide a method and a method for manufacturing a circuit board.

本発明者らは、鋭意検討を重ねた結果、金属張積層板の絶縁樹脂層側に、キャスティング法によって剥離可能なポリイミド層を形成し、これを支持体とすることによって、上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成した。 As a result of diligent studies, the present inventors have been able to solve the above problems by forming a removable polyimide layer by a casting method on the insulating resin layer side of the metal-clad laminate and using this as a support. The present invention was completed.

すなわち、本発明の金属張積層板の製造方法は、金属層と絶縁樹脂層とが積層された第1の積層板と、該第1の積層板の前記絶縁樹脂層に剥離可能に積層された支持体と、を備えた金属張積層板を製造する方法である。
本発明の金属張積層板の製造方法は、前記第1の積層板を準備する工程と、
前記第1の積層板の前記絶縁樹脂層の表面に樹脂溶液を塗布することによって前記支持体を形成する工程と、
を含み、
前記支持体がポリイミドによって構成されるとともに、前記樹脂溶液が、ポリイミド溶液又はポリアミド酸溶液であることを特徴とする。
That is, in the method for producing a metal-clad laminate of the present invention, the first laminate in which the metal layer and the insulating resin layer are laminated and the insulating resin layer of the first laminate are detachably laminated. It is a method of manufacturing a metal-clad laminate provided with a support.
The method for manufacturing a metal-clad laminate of the present invention includes a step of preparing the first laminate and a step of preparing the first laminate.
A step of forming the support by applying a resin solution to the surface of the insulating resin layer of the first laminated plate, and
Including
The support is made of polyimide, and the resin solution is a polyimide solution or a polyamic acid solution.

本発明の金属張積層板の製造方法において、前記支持体を形成する工程では、前記ポリアミド酸溶液を塗布した後、熱処理を行ってポリアミド酸をイミド化してもよい。 In the step of forming the support in the method for producing a metal-clad laminate of the present invention, the polyamic acid solution may be applied and then heat-treated to imidize the polyamic acid.

本発明の金属張積層板の製造方法は、前記絶縁樹脂層が、樹脂成分としてポリイミドからなるポリイミド層であってもよい。 In the method for producing a metal-clad laminate of the present invention, the insulating resin layer may be a polyimide layer made of polyimide as a resin component.

本発明の金属張積層板の製造方法は、前記絶縁樹脂層の厚みが、1〜20μmの範囲内であってもよい。 In the method for producing a metal-clad laminate of the present invention, the thickness of the insulating resin layer may be in the range of 1 to 20 μm.

本発明の回路基板の製造方法は、上記金属張積層板の製造方法により製造された前記金属張積層板における前記金属層を、回路加工して配線層を形成する工程を含む。 The method for manufacturing a circuit board of the present invention includes a step of circuit-processing the metal layer in the metal-clad laminate manufactured by the method for manufacturing a metal-clad laminate to form a wiring layer.

本発明の回路基板の製造方法は、前記配線層を覆うカバーレイフィルム層を形成する工程をさらに含んでいてもよい。 The method for manufacturing a circuit board of the present invention may further include a step of forming a coverlay film layer covering the wiring layer.

本発明の回路基板の製造方法は、前記支持体を分離する工程をさらに含んでいてもよい。 The method for manufacturing a circuit board of the present invention may further include a step of separating the support.

本発明の金属張積層板の製造方法は、剥離可能なポリイミドの支持体をキャスティング法によって形成することによって、金属張積層板の剛性を確保できるため、絶縁樹脂層を極力薄層化することができる。つまり、支持体を設けることによって、第1の積層板の状態に比べて剛性が高くなり、FPCの製造プロセスにおいて、折り曲げによる配線層の破断、損傷、剥離などの不具合の発生を防止できる。従って、薄型の金属張積層板を使用してFPCを作製する際のハンドリング性が向上し、例えばロール・トゥ・ロール方式で薄型のFPCを効率的に製造することができる。 In the method for manufacturing a metal-clad laminate of the present invention, the rigidity of the metal-clad laminate can be ensured by forming a removable polyimide support by a casting method, so that the insulating resin layer can be made as thin as possible. it can. That is, by providing the support, the rigidity is increased as compared with the state of the first laminated plate, and it is possible to prevent the occurrence of defects such as breakage, damage, and peeling of the wiring layer due to bending in the FPC manufacturing process. Therefore, the handleability when manufacturing the FPC using the thin metal-clad laminate is improved, and the thin FPC can be efficiently manufactured, for example, by the roll-to-roll method.

また、本発明の金属張積層板の製造方法及び回路基板の製造方法によれば、支持体をポリイミドによって形成することにより、支持体の線熱膨張係数の制御が容易になるとともに、接着剤が不要になるため、金属張積層板の耐熱性や、寸法安定性が損なわれることがない。また、金属製の支持体を使用する場合と異なり、支持体を介しての視認性が確保される。従って、金属張積層板を使用してFPCを製造する過程で、金属層に設けられるアライメントマークの認識が容易になり、FPC自体及びFPCを使用する電子製品の歩留まりと信頼性を向上させることができる。 Further, according to the method for manufacturing a metal-clad laminate and the method for manufacturing a circuit board of the present invention, by forming the support from polyimide, it becomes easy to control the coefficient of linear thermal expansion of the support and the adhesive can be used. Since it is no longer necessary, the heat resistance and dimensional stability of the metal-clad laminate are not impaired. Further, unlike the case where a metal support is used, visibility is ensured through the support. Therefore, in the process of manufacturing the FPC using the metal-clad laminate, the alignment mark provided on the metal layer can be easily recognized, and the yield and reliability of the FPC itself and the electronic product using the FPC can be improved. it can.

本発明の一実施の形態の金属張積層板の製造方法の工程図である。It is a process drawing of the manufacturing method of the metal-clad laminated board of one Embodiment of this invention. 金属張積層板を構成する絶縁樹脂層の一構成例を示す模式的断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows one structural example of the insulating resin layer which constitutes a metal-clad laminate. 金属張積層板を構成する絶縁樹脂層の別の構成例を示す模式的断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows another structural example of the insulating resin layer which constitutes a metal-clad laminate. 金属張積層板を構成する絶縁樹脂層のさらに別の構成例を示す模式的断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows still another structural example of the insulating resin layer which constitutes a metal-clad laminate. 本発明の一実施の形態の回路基板の製造方法の工程図である。It is a process drawing of the manufacturing method of the circuit board of one Embodiment of this invention.

以下、適宜図面を参照しながら、本発明の実施の形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings as appropriate.

[金属張積層板の製造方法]
図1は、本発明の一実施の形態に係る金属張積層板の製造方法の工程図である。本実施の形態で製造される金属張積層板20は、図1(a)、(b)に示すように、金属層101と絶縁樹脂層102とが積層された第1の積層板10と、該第1の積層板10の絶縁樹脂層102に剥離可能に積層された支持体103と、を備えている。そして、本実施の形態の金属張積層板20の製造方法は、下記の工程(I)及び、工程(II)を含むことができる。
[Manufacturing method of metal-clad laminate]
FIG. 1 is a process diagram of a method for manufacturing a metal-clad laminate according to an embodiment of the present invention. As shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b), the metal-clad laminate 20 manufactured in the present embodiment includes a first laminate 10 in which a metal layer 101 and an insulating resin layer 102 are laminated, and a first laminate 10. A support 103 that is detachably laminated on the insulating resin layer 102 of the first laminated plate 10 is provided. The method for manufacturing the metal-clad laminate 20 of the present embodiment can include the following steps (I) and (II).

<工程(I)>
工程(I)は、第1の積層板10を準備する工程である。図1(a)に示すように、第1の積層板10は、金属層101と絶縁樹脂層102とが積層されてなるものである。
<Process (I)>
The step (I) is a step of preparing the first laminated board 10. As shown in FIG. 1A, the first laminated plate 10 is formed by laminating a metal layer 101 and an insulating resin layer 102.

(金属層)
金属層101は、接着性の観点からは金属箔を用いることが好ましい。金属箔の金属として、例えば、銅、アルミニウム、ステンレス、鉄、銀、パラジウム、ニッケル、クロム、モリブデン、タングステン、ジルコニウム、金、コバルト、チタン、タンタル、亜鉛、鉛、錫、シリコン、ビスマス、インジウム又はこれらの合金などから選択される金属を挙げることができる。導電性の点で特に好ましいものは銅又は銅合金の金属箔である。なお、金属張積層板20を連続的に生産する場合には、金属箔として、所定の厚さのものがロール状に巻き取られた長尺状の金属箔が用いられる。
(Metal layer)
It is preferable to use a metal foil for the metal layer 101 from the viewpoint of adhesiveness. Metal foil metals include, for example, copper, aluminum, stainless steel, iron, silver, palladium, nickel, chromium, molybdenum, tungsten, zirconium, gold, cobalt, titanium, tantalum, zinc, lead, tin, silicon, bismuth, indium or Examples thereof include metals selected from these alloys and the like. Particularly preferred in terms of conductivity is a copper or copper alloy metal foil. When the metal-clad laminate 20 is continuously produced, a long metal foil obtained by winding a metal foil having a predetermined thickness into a roll shape is used as the metal foil.

また、金属層101の絶縁樹脂層102と直接接する面の表面粗さは、Rzで0.1〜7μmであることが好ましい。この範囲であれば、絶縁樹脂層102との接着力がより良好となるためである。さらには、Rzが0.3〜3.0μmであれば、好適な接着力と高密度配線形成時に求められる良好なエッチング性との両立を図ることができるため、より好ましい。ここで、Rzは、JIS B 0601(1994)に規定される十点平均粗さを示す。 Further, the surface roughness of the surface of the metal layer 101 in direct contact with the insulating resin layer 102 is preferably 0.1 to 7 μm in Rz. This is because the adhesive strength with the insulating resin layer 102 becomes better within this range. Further, when Rz is 0.3 to 3.0 μm, it is more preferable because it is possible to achieve both a suitable adhesive force and a good etching property required at the time of forming a high-density wiring. Here, Rz indicates the ten-point average roughness defined in JIS B 0601 (1994).

(絶縁樹脂層)
絶縁樹脂層102は、樹脂成分がポリイミドからなるポリイミド層であることが好ましい。この場合、ポリイミド層は、単層構造であってもよいし、複数のポリイミド層が積層された多層構造であってもよい。絶縁樹脂層102を多層構造とする場合は、熱可塑性ポリイミド層と、非熱可塑性ポリイミド層を含む多層構造であってもよい。ここで、「熱可塑性ポリイミド」とは、一般にガラス転移温度(Tg)が明確に確認できるポリイミドのことであるが、本発明では、動的粘弾性測定装置(DMA)を用いて測定した、30℃における貯蔵弾性率が1.0×10Pa以上であり、320℃における貯蔵弾性率が3.0×10Pa未満であるポリイミドをいう。また、「非熱可塑性ポリイミド」とは、一般に加熱しても軟化、接着性を示さないポリイミドのことであるが、本発明では、DMAを用いて測定した、30℃における貯蔵弾性率が1.0×10Pa以上であり、320℃における貯蔵弾性率が3.0×10Pa以上であるポリイミドをいう。
(Insulating resin layer)
The insulating resin layer 102 is preferably a polyimide layer in which the resin component is polyimide. In this case, the polyimide layer may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which a plurality of polyimide layers are laminated. When the insulating resin layer 102 has a multilayer structure, it may have a multilayer structure including a thermoplastic polyimide layer and a non-thermoplastic polyimide layer. Here, the "thermoplastic polyimide" is generally a polyimide in which the glass transition temperature (Tg) can be clearly confirmed, but in the present invention, it is measured using a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA), 30 A polyimide having a storage elastic modulus at ° C. of 1.0 × 10 9 Pa or more and a storage elastic modulus at 320 ° C. of less than 3.0 × 10 8 Pa. The "non-thermoplastic polyimide" is a polyimide that generally does not soften or show adhesiveness even when heated. In the present invention, the storage elastic modulus at 30 ° C. measured by DMA is 1. A polyimide having a storage elastic modulus of 3.0 × 10 8 Pa or more at 320 ° C. and 0 × 10 9 Pa or more.

図2A〜図2Cは、絶縁樹脂層102の好ましい構成例を示している。まず、図2Aに示す例では、絶縁樹脂層102は、金属層101に接する側から、接着性を有する熱可塑性ポリイミド層102Aと、ベース樹脂層としての非熱可塑性ポリイミド層102Bと、接着性を有する熱可塑性ポリイミド層102Cとが、この順で積層された多層構造を有している。ここで、絶縁樹脂層102の熱可塑性ポリイミド層102Cにおける表面S1は、支持体103が積層される側の表面である。 2A to 2C show a preferable configuration example of the insulating resin layer 102. First, in the example shown in FIG. 2A, the insulating resin layer 102 has adhesiveness to the thermoplastic polyimide layer 102A having adhesiveness and the non-thermoplastic polyimide layer 102B as the base resin layer from the side in contact with the metal layer 101. The thermoplastic polyimide layer 102C to have has a multilayer structure in which the thermoplastic polyimide layers 102C are laminated in this order. Here, the surface S1 of the thermoplastic polyimide layer 102C of the insulating resin layer 102 is the surface on the side on which the support 103 is laminated.

次に、図2Bに示す例では、絶縁樹脂層102は、金属層101に接する側から、熱可塑性ポリイミド層102Aと、ベース樹脂層としての非熱可塑性ポリイミド層102Bとが、この順で積層された多層構造を有している。ここで、絶縁樹脂層102の非熱可塑性ポリイミド層102Bにおける表面S1は、支持体103が積層される側の表面である。 Next, in the example shown in FIG. 2B, in the insulating resin layer 102, the thermoplastic polyimide layer 102A and the non-thermoplastic polyimide layer 102B as the base resin layer are laminated in this order from the side in contact with the metal layer 101. It has a multi-layer structure. Here, the surface S1 of the insulating resin layer 102 in the non-thermoplastic polyimide layer 102B is the surface on the side on which the support 103 is laminated.

次に、図2Cに示す例では、絶縁樹脂層102が単層で形成されている。絶縁樹脂層102が単層の場合、樹脂成分が非可塑性ポリイミドからなることが好ましい。ここで、絶縁樹脂層102における表面S1は、支持体103が積層される側の表面である。 Next, in the example shown in FIG. 2C, the insulating resin layer 102 is formed of a single layer. When the insulating resin layer 102 is a single layer, it is preferable that the resin component is made of non-plastic polyimide. Here, the surface S1 of the insulating resin layer 102 is the surface on the side on which the support 103 is laminated.

図2A〜図2Cに挙げた例において、絶縁樹脂層102を構成するポリイミド層は、いずれも、金属層101となる金属箔上に樹脂溶液を塗布するキャスティング法により形成することが好ましい。また、図2A〜図2Bに挙げた例では、非熱可塑性ポリイミド層102Bの線熱膨張係数を20×10−6(1/K)以下、好ましくは1×10−6〜17×10−6(1/K)の範囲とするのがよい。図2Cの絶縁樹脂層102についても同様である。 In the examples shown in FIGS. 2A to 2C, it is preferable that all the polyimide layers constituting the insulating resin layer 102 are formed by a casting method in which a resin solution is applied onto the metal foil to be the metal layer 101. Further, in the examples shown in FIGS. 2A to 2B, the coefficient of linear thermal expansion of the non-thermoplastic polyimide layer 102B is 20 × 10 -6 (1 / K) or less, preferably 1 × 10 -6 to 17 × 10 -6. The range is preferably (1 / K). The same applies to the insulating resin layer 102 of FIG. 2C.

絶縁樹脂層102の厚みは、金属張積層板20を加工して得られるFPC等の回路基板の薄型化を実現する観点から、例えば、1〜20μmの範囲内が好ましく、2〜12μmの範囲内がより好ましい。絶縁樹脂層102の厚みが1μm未満では、電気的絶縁性などの機能が損なわれるおそれがある。絶縁樹脂層102の厚みが20μmを超えると、FPC等の回路基板の薄型化が困難になる。 The thickness of the insulating resin layer 102 is preferably in the range of, for example, 1 to 20 μm, preferably in the range of 2 to 12 μm, from the viewpoint of realizing thinning of the circuit board such as FPC obtained by processing the metal-clad laminate 20. Is more preferable. If the thickness of the insulating resin layer 102 is less than 1 μm, functions such as electrical insulation may be impaired. If the thickness of the insulating resin layer 102 exceeds 20 μm, it becomes difficult to reduce the thickness of a circuit board such as an FPC.

絶縁樹脂層102の全体の線熱膨張係数は、金属層101の線熱膨張係数に出来るだけ近似していることが好ましい。絶縁樹脂層102の全体の線熱膨張係数を金属層101の線熱膨張係数に近づけることによって、FPCの加工プロセスにおける反りの発生などを抑制できる。このような観点から、金属張積層板20において、絶縁樹脂層102の全体の線熱膨張係数E1と、金属層101の線熱膨張係数E2とが、例えば0.7×E1≦E2≦1.1×E1の関係になるように、絶縁樹脂層102を形成することが好ましい。 The overall coefficient of linear thermal expansion of the insulating resin layer 102 is preferably as close as possible to the coefficient of linear thermal expansion of the metal layer 101. By making the overall coefficient of linear thermal expansion of the insulating resin layer 102 close to the coefficient of linear thermal expansion of the metal layer 101, it is possible to suppress the occurrence of warpage in the processing process of the FPC. From this point of view, in the metal-clad laminate 20, the coefficient of linear thermal expansion E1 of the entire insulating resin layer 102 and the coefficient of linear thermal expansion E2 of the metal layer 101 are, for example, 0.7 × E1 ≦ E2 ≦ 1. It is preferable to form the insulating resin layer 102 so as to have a relationship of 1 × E1.

また、例えば、金属層101が銅箔によって構成される場合、絶縁樹脂層102の全体の線熱膨張係数は、単層であるか、多層であるかにかかわらず、好ましくは15×10−6〜30×10−6(1/K)の範囲であり、より好ましくは、18×10−6〜25×10−6(1/K)の範囲である。絶縁樹脂層102の全体の線熱膨張係数が上記範囲外である場合、工程(I)(第1の積層板10を得る工程)において、第1の積層板10の幅方向端部の反りが大きくなり、安定生産に支障が生じ易くなる。また、後の工程(II)で第1の積層板10と支持体103とを積層した後においても、幅方向端部の反りが内側に折れ込み易くなり、安定生産に支障が生じてしまうおそれがある。また、絶縁樹脂層を熱可塑性ポリイミドと非熱可塑性ポリイミドを含む多層構造とする場合、熱可塑性ポリイミドの線膨張係数は40×10−6(1/K)以上とするのが好ましく、非熱可塑性ポリイミドの線膨張係数は20×10−6(1/K)以下とするのが好ましい。 Further, for example, when the metal layer 101 is made of copper foil, the coefficient of linear thermal expansion of the entire insulating resin layer 102 is preferably 15 × 10-6 regardless of whether it is a single layer or a multi-layer. It is in the range of ~ 30 × 10 -6 (1 / K), more preferably in the range of 18 × 10 -6 to 25 × 10 -6 (1 / K). When the overall coefficient of linear thermal expansion of the insulating resin layer 102 is out of the above range, in step (I) (step of obtaining the first laminated plate 10), the warp of the widthwise end portion of the first laminated plate 10 is caused. It becomes large and tends to hinder stable production. Further, even after the first laminated plate 10 and the support 103 are laminated in the subsequent step (II), the warp of the end portion in the width direction is likely to be folded inward, which may hinder stable production. There is. When the insulating resin layer has a multilayer structure including a thermoplastic polyimide and a non-thermoplastic polyimide, the linear expansion coefficient of the thermoplastic polyimide is preferably 40 × 10 -6 (1 / K) or more, and the non-thermoplastic. The linear expansion coefficient of polyimide is preferably 20 × 10 -6 (1 / K) or less.

絶縁樹脂層102の全体の貯蔵弾性率は、金属張積層板20の剛性を確保し、FPCの加工プロセスにおいて、折り曲げによる配線層の破断、損傷、剥離などの不具合の発生を防止する観点から、例えば、3.0×10〜12.0×10Paの範囲内が好ましく、4.0×10〜9.0×10Paの範囲内がより好ましい。 The overall storage elastic modulus of the insulating resin layer 102 is from the viewpoint of ensuring the rigidity of the metal-clad laminate 20 and preventing the occurrence of defects such as breakage, damage, and peeling of the wiring layer due to bending in the processing process of FPC. For example, the range of 3.0 × 10 9 to 12.0 × 10 9 Pa is preferable, and the range of 4.0 × 10 9 to 9.0 × 10 9 Pa is more preferable.

(フィラー)
絶縁樹脂層102は、単層であるか、多層であるかにかかわらず、フィラーを含有してもよい。例えば、図2Aに例示した構造では、支持体103が積層される側の最外層(表面S1を有する層)に位置する熱可塑性ポリイミド層102Cを構成するポリイミドに、フィラー105を0.5〜10重量%の範囲内で含有することが好ましく、さらには2〜6重量%の範囲内で含有することがより好適である。この場合、熱可塑性ポリイミド層102Cにおけるフィラー105の含有量が0.5重量%に満たないと、FPCとしたときに、絶縁樹脂層が装置の平滑面と密着し搬送が困難になるといった問題が発生することがある。一方、フィラー105の含有量が10重量%を超えると表面の凹凸が大きくなり外観的に平滑性が損なわれたり、支持体103との積層境界での密着力が強固となり、支持体103を分離する際に、分離が不能になったり、剥離できたとしても分離時に回路基板が引き伸ばされ反りが発生し易くなる。なお、フィラー105は、絶縁樹脂層102の全体に分布していてもよい。例えば、図2Aに例示した構造では、熱可塑性ポリイミド層102Aや、非熱可塑性ポリイミド層102Bもフィラー105を含有していてもよい。また、図示は省略するが、図2B、図2Cに例示した絶縁樹脂層102にも、フィラー105を含有させることができる。
(Filler)
The insulating resin layer 102 may contain a filler regardless of whether it is a single layer or a multi-layer. For example, in the structure illustrated in FIG. 2A, 0.5 to 10 fillers 105 are added to the polyimide constituting the thermoplastic polyimide layer 102C located on the outermost layer (layer having the surface S1) on the side where the support 103 is laminated. It is preferably contained in the range of% by weight, and more preferably in the range of 2 to 6% by weight. In this case, if the content of the filler 105 in the thermoplastic polyimide layer 102C is less than 0.5% by weight, there is a problem that the insulating resin layer adheres to the smooth surface of the apparatus and it becomes difficult to transport the FPC. May occur. On the other hand, if the content of the filler 105 exceeds 10% by weight, the unevenness of the surface becomes large and the smoothness is impaired in appearance, or the adhesion at the lamination boundary with the support 103 becomes strong, and the support 103 is separated. At that time, even if the separation becomes impossible or the separation is possible, the circuit board is stretched at the time of separation and warpage is likely to occur. The filler 105 may be distributed throughout the insulating resin layer 102. For example, in the structure illustrated in FIG. 2A, the thermoplastic polyimide layer 102A and the non-thermoplastic polyimide layer 102B may also contain the filler 105. Although not shown, the insulating resin layer 102 illustrated in FIGS. 2B and 2C can also contain the filler 105.

フィラー105の材質としては、シリカ、アルミナ、窒化アルミニウム等が挙げられるが、これらの中でもシリカが好ましい。フィラー105の形状としては、樹脂中への分散の均一性の観点から破砕状ではなく、球状であることが好ましい。さらには、フィラー105の平均粒子径が0.5〜10μmであることがより好ましい。なお、球状とは、真球又は実質的に角のない丸味のある粒子状態であるものをいい、破砕状とは、破砕粒子が有する角のある任意の形状をもつ粒子状態であるものをいい、電子顕微鏡又は他の顕微鏡により確認することができる。 Examples of the material of the filler 105 include silica, alumina, and aluminum nitride, and among these, silica is preferable. The shape of the filler 105 is preferably spherical rather than crushed from the viewpoint of uniformity of dispersion in the resin. Furthermore, it is more preferable that the average particle size of the filler 105 is 0.5 to 10 μm. The spherical shape means a true sphere or a rounded particle state having substantially no corners, and the crushed shape means a particle state having an arbitrary shape with corners possessed by the crushed particles. , Can be confirmed with an electron microscope or other microscope.

フィラー105は、例えば絶縁樹脂層102をキャスティング法によって形成する場合、予め、ポリイミド溶液又はポリアミド酸溶液中に混合しておき、キャスティングを行うことによって絶縁樹脂層102中(又は、その一部分のポリイミド層)に含有させることができる。 For example, when the insulating resin layer 102 is formed by the casting method, the filler 105 is mixed in a polyimide solution or a polyamic acid solution in advance, and casting is performed in the insulating resin layer 102 (or a part of the polyimide layer thereof). ) Can be contained.

<工程(II)>
工程(II)は、上記構成を有する第1の積層板10の絶縁樹脂層102の表面S1に樹脂溶液を塗布することによって、図1(b)に示すように、支持体103を形成する工程である。つまり、工程(II)では、支持体103をキャスティング法により形成する。
工程(II)において、支持体103はポリイミドによって構成されるため、樹脂溶液としては、ポリイミド溶液又はポリアミド酸溶液を用いる。すなわち、工程(II)では、第1の積層板10の絶縁樹脂層102の表面S1に、ポリアミド酸溶液を塗布した後、熱処理を行ってイミド化して支持体103を形成してもよいし、あるいは、第1の積層板10の絶縁樹脂層102の表面S1に、予めイミド化したポリイミドを溶媒に溶解させた溶液の形態で塗布し、乾燥させることによって支持体103を形成してもよい。支持体103の形成に使用する原料の酸無水物及びジアミノ化合物としては、特に限定されるものではないが、後述するように、絶縁樹脂層102を形成するためのポリイミドの原料の酸無水物及びジアミノ化合物と同様のものを用いることができる。また、支持体103の形成に使用する溶媒、乾燥やイミド化のための熱処理温度、熱処理の方法、樹脂溶液の濃度、絶縁樹脂層102への塗布方法なども、絶縁樹脂層102を形成する場合と同様に行うことができる。
<Process (II)>
The step (II) is a step of forming the support 103 as shown in FIG. 1 (b) by applying the resin solution to the surface S1 of the insulating resin layer 102 of the first laminated plate 10 having the above structure. Is. That is, in the step (II), the support 103 is formed by the casting method.
Since the support 103 is composed of polyimide in the step (II), a polyimide solution or a polyamic acid solution is used as the resin solution. That is, in the step (II), the surface S1 of the insulating resin layer 102 of the first laminated plate 10 may be coated with a polyamic acid solution and then heat-treated to be imidized to form the support 103. Alternatively, the support 103 may be formed by applying the surface S1 of the insulating resin layer 102 of the first laminated plate 10 in the form of a solution in which a pre-imidized polyimide is dissolved in a solvent and drying the mixture. The raw material acid anhydride and diamino compound used for forming the support 103 are not particularly limited, but as will be described later, the raw material acid anhydride and the polyimide raw material for forming the insulating resin layer 102 and The same as the diamino compound can be used. Further, when the insulating resin layer 102 is formed, the solvent used for forming the support 103, the heat treatment temperature for drying and imidization, the heat treatment method, the concentration of the resin solution, the coating method on the insulating resin layer 102, and the like are also used. Can be done in the same way as.

工程(II)で形成される支持体103は、金属張積層板20に厚みを付与するとともに、その剛性を高める作用を有するものである。金属張積層板20は、支持体103を有することによって、支持体103を有しない状態(第1の積層板10の状態)に比べ、より優れた機械性質を備えている。そのため、金属張積層板20は、例えば、露光、現像、エッチング、メッキ加工などのウェットプロセス加工、ベーキング、高速プレスなどの高温域の加工を含むFPCの加工プロセスにおいて、折り曲げによる配線層の破断、損傷、剥離などの不具合の発生を防止できる。 The support 103 formed in the step (II) has an effect of imparting thickness to the metal-clad laminate 20 and increasing its rigidity. By having the support 103, the metal-clad laminate 20 has more excellent mechanical properties than the state without the support 103 (the state of the first laminate 10). Therefore, the metal-clad laminate 20 is subjected to breakage of the wiring layer due to bending in the FPC processing process including wet process processing such as exposure, development, etching, and plating processing, and processing in a high temperature region such as baking and high-speed pressing. It is possible to prevent the occurrence of problems such as damage and peeling.

支持体103の厚みは、金属張積層板20の剛性を高め、FPCの加工プロセスにおいて、折り曲げによる配線層の破断、損傷、剥離などの不具合の発生を防止する観点から、例えば、5〜50μmの範囲内が好ましく、10〜25μmの範囲内がより好ましい。支持体103の厚みが5μm未満では、金属張積層板20に十分な剛性と支持性を付与することが困難になり、厚みが50μmを超えると、支持体103に使用するポリイミド材料が多くなり、コストアップにつながる。 The thickness of the support 103 is, for example, 5 to 50 μm from the viewpoint of increasing the rigidity of the metal-clad laminate 20 and preventing the occurrence of defects such as breakage, damage, and peeling of the wiring layer due to bending in the FPC processing process. The range is preferably within the range, and more preferably within the range of 10 to 25 μm. If the thickness of the support 103 is less than 5 μm, it becomes difficult to impart sufficient rigidity and supportability to the metal-clad laminate 20, and if the thickness exceeds 50 μm, the polyimide material used for the support 103 increases. It leads to cost increase.

また、同様の観点から、金属張積層板20において、絶縁樹脂層102と支持体103の合計の厚みは、例えば、10〜60μmの範囲内が好ましく、20〜30μmの範囲内がより好ましい。つまり、上述した絶縁樹脂層102の厚みとの関係で、絶縁樹脂層102を比較的に薄く(例えば1〜5μmの厚みに)形成する場合は、それを補完するように、相対的に支持体103を厚く(例えば25〜50μmの厚みに)形成することが好ましい。逆に、絶縁樹脂層102を比較的厚く(例えば15〜20μmの厚みに)形成する場合は、相対的に支持体103を薄く(例えば5〜10μmの厚みに)形成することができる。 From the same viewpoint, in the metal-clad laminate 20, the total thickness of the insulating resin layer 102 and the support 103 is preferably in the range of 10 to 60 μm, more preferably in the range of 20 to 30 μm. That is, when the insulating resin layer 102 is formed to be relatively thin (for example, to a thickness of 1 to 5 μm) in relation to the thickness of the insulating resin layer 102 described above, a relatively support is provided so as to complement it. It is preferable to form 103 thickly (for example, to a thickness of 25 to 50 μm). On the contrary, when the insulating resin layer 102 is formed to be relatively thick (for example, to a thickness of 15 to 20 μm), the support 103 can be formed to be relatively thin (for example, to a thickness of 5 to 10 μm).

本実施の形態では、支持体103をポリイミドによって形成することにより、FPCの製造工程での熱処理における耐熱性が確保できるとともに、支持体103の線熱膨張係数を、絶縁樹脂層102の全体の線熱膨張係数に近似させるように制御することが容易になるので、FPCの加工プロセスにおける反りの発生などを確実に抑制できる。このような観点から、金属張積層板20において、絶縁樹脂層102の全体の線熱膨張係数E1と、支持体103の線熱膨張係数E3とが、例えば0.9×E1≦E3≦1.1×E1の関係になるように、絶縁樹脂層102及び支持体103を形成することが好ましい。また、同様の観点から金属張積層板20において、金属層101の線熱膨張係数E2と、支持体103の線熱膨張係数E3とが、例えば0.7×E3≦E2≦1.1×E3の関係になるように、絶縁樹脂層102を形成することが好ましい。 In the present embodiment, by forming the support 103 from polyimide, heat resistance in heat treatment in the manufacturing process of FPC can be ensured, and the coefficient of linear thermal expansion of the support 103 is set to the entire line of the insulating resin layer 102. Since it becomes easy to control so as to approximate the coefficient of thermal expansion, it is possible to surely suppress the occurrence of warpage in the processing process of FPC. From this point of view, in the metal-clad laminate 20, the coefficient of linear thermal expansion E1 of the entire insulating resin layer 102 and the coefficient of linear thermal expansion E3 of the support 103 are, for example, 0.9 × E1 ≦ E3 ≦ 1. It is preferable to form the insulating resin layer 102 and the support 103 so as to have a relationship of 1 × E1. From the same viewpoint, in the metal-clad laminate 20, the coefficient of linear thermal expansion E2 of the metal layer 101 and the coefficient of linear thermal expansion E3 of the support 103 are, for example, 0.7 × E3 ≦ E2 ≦ 1.1 × E3. It is preferable to form the insulating resin layer 102 so as to have the above relationship.

(ポリイミド)
次に、絶縁樹脂層102及び支持体103を形成するためのポリイミドについて説明する。ポリイミドは、前駆体であるポリアミド酸をイミド化してなるものであり、特定の酸無水物とジアミノ化合物とを反応させて製造されるので、酸無水物とジアミノ化合物を説明することにより、ポリイミドの具体例が理解される。なお、本発明でポリイミドという場合、ポリイミドの他、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリエステルイミド、ポリシロキサンイミド、ポリベンズイミダゾールイミドなど、分子構造中にイミド基を有するポリマーからなる樹脂を意味する。
(Polyimide)
Next, the polyimide for forming the insulating resin layer 102 and the support 103 will be described. Polyimide is obtained by imidizing a polyamic acid which is a precursor, and is produced by reacting a specific acid anhydride with a diamino compound. Therefore, by explaining the acid anhydride and the diamino compound, the polyimide can be prepared. Specific examples are understood. The term polyimide in the present invention means a resin composed of a polymer having an imide group in its molecular structure, such as polyamideimide, polyetherimide, polyesterimide, polysiloxaneimide, and polybenzimidazolimide, in addition to polyimide.

ポリイミドの原料となるジアミノ化合物としては、芳香族ジアミノ化合物、脂肪族ジアミノ化合物などを使用できるが、例えば、NH−Ar1−NHで表される芳香族ジアミノ化合物が好適なものとして挙げられる。ここで、Ar1は下記式で表される基から選択されるものであり、アミノ基の置換位置は任意であるが、p,p’位が好ましい。Ar1は置換基を有することもできるが、好ましくは有しないか、有する場合にはその置換基は炭素数1〜6の低級アルキルまたは低級アルコキシ基であるのがよい。これらの芳香族ジアミノ化合物は1種のみを使用してもよく、また2種以上を併用してもよい。 The diamino compound which is a polyimide material, the aromatic diamino compound, such as can be used aliphatic diamino compounds, e.g., aromatic diamino compound represented by NH 2 -Ar1-NH 2 can be mentioned as suitable. Here, Ar1 is selected from the groups represented by the following formulas, and the substitution position of the amino group is arbitrary, but the p and p'positions are preferable. Ar1 may have a substituent, but preferably does not, or if it does, the substituent is a lower alkyl or lower alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms. Only one of these aromatic diamino compounds may be used, or two or more thereof may be used in combination.

Figure 0006776087
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ジアミノ化合物と反応させるテトラカルボン酸化合物としては、芳香族テトラカルボン酸およびその酸無水物、エステル化物、ハロゲン化物などが挙げられるが、芳香族テトラカルボン酸化合物が好適であり、ポリアミド酸の合成の容易さの点で、その酸無水物が好ましい。芳香族テトラカルボン酸化合物としては、特に限定されるものでははいが、例えば、O(CO)Ar2(CO)Oで表される化合物が好適なものとして挙げられる。ここで、Ar2は、下記式で表される4価の芳香族基であることが好ましく、酸無水物基[(CO)O]の置換位置は任意であるが、対称の位置が好ましい。Ar2は、置換基を有することもできるが、好ましくは有しないか、有する場合にはその置換基は炭素数1〜6の低級アルキル基であるのがよい。 Examples of the tetracarboxylic acid compound to be reacted with the diamino compound include aromatic tetracarboxylic acid and its acid anhydride, esterified product, and halide, but aromatic tetracarboxylic acid compound is preferable, and polyamic acid is synthesized. The acid anhydride is preferred in terms of ease. The aromatic tetracarboxylic acid compound is not particularly limited, but for example, a compound represented by O (CO) 2 Ar2 (CO) 2 O is preferable. Here, Ar @ 2 is preferably a tetravalent aromatic group represented by the following formula, although the substitution position of an acid anhydride group [(CO) 2 O] is optional, the position of symmetry is preferred. Ar2 may have a substituent, but preferably does not have it, or if it does, the substituent is preferably a lower alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.

Figure 0006776087
Figure 0006776087

絶縁樹脂層102は、図2Aに例示するように、熱可塑性ポリイミド層102A,102Cと非熱可塑性ポリイミド層102Bを含む多層構造であり得るので、熱可塑性ポリイミド、非熱可塑性ポリイミドのそれぞれに使用される酸無水物とジアミノ化合物の好ましい例について説明する。なお、支持体103の形成に熱可塑性ポリイミド又は非熱可塑性ポリイミドを使用する場合についても同様である。 As illustrated in FIG. 2A, the insulating resin layer 102 can have a multilayer structure including the thermoplastic polyimide layers 102A and 102C and the non-thermoplastic polyimide layer 102B, and is therefore used for each of the thermoplastic polyimide and the non-thermoplastic polyimide. Preferred examples of the acid anhydride and the diamino compound will be described. The same applies to the case where a thermoplastic polyimide or a non-thermoplastic polyimide is used for forming the support 103.

熱可塑性ポリイミド:
ポリイミドが熱可塑性ポリイミドである場合、特に限定されるものではないが、ジアミノ成分として、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル(DAPE)を50モル%以上含有するジアミノ化合物を用い、これと酸無水物と反応させて得られたものが好ましい。DAPEを50モル%以上含有するものとすることで、熱可塑性ポリイミド層102Cと支持体103との間の剥離性が向上し、分離時に回路基板が引き伸ばされ反りが発生するリスクが抑えられる。DAPEのより好ましい含有量は70〜100モル%の範囲である。
Thermoplastic polyimide:
When the polyimide is a thermoplastic polyimide, a diamino compound containing 50 mol% or more of 4,4'-diaminodiphenyl ether (DAPE) is used as a diamino component, and this and an acid anhydride are used. Those obtained by reaction are preferable. By containing 50 mol% or more of DAPE, the peelability between the thermoplastic polyimide layer 102C and the support 103 is improved, and the risk of the circuit board being stretched and warped at the time of separation is suppressed. A more preferred content of DAPE is in the range of 70-100 mol%.

ポリイミドが熱可塑性ポリイミドである場合、特に限定されるものではないが、酸無水物成分として、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物(BTDA)を50モル%以上含有する酸無水物を用い、これとジアミノ化合物と反応させて得られたものが好ましい。BTDAを50モル%以上含有するものとすることで、熱可塑性ポリイミド層102Cと支持体103との間の剥離性が向上し、分離時に回路基板が引き伸ばされ反りが発生するリスクが抑えられる。BTDAのより好ましい含有量は70〜100モル%の範囲である。また、好ましい芳香族テトラカルボン酸化合物のうちBTDA以外のものとしては、例えば、ビフェニルテトラカルボン酸無水物(BPDA)、ピロメリット酸無水物(PMDA)、3,3’,4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物(DSDA)、および4,4’−オキシジフタル酸無水物(ODPA)又はこれらの組合せであるのがよい。これらのテトラカルボン酸化合物は1種のみを使用してもよく、また2種以上を併用してもよい。 When the polyimide is a thermoplastic polyimide, it is not particularly limited, but contains 50 mol% or more of 3,3', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride (BTDA) as an acid anhydride component. It is preferable that the acid anhydride is obtained by reacting it with a diamino compound. By containing 50 mol% or more of BTDA, the peelability between the thermoplastic polyimide layer 102C and the support 103 is improved, and the risk of the circuit board being stretched and warped at the time of separation is suppressed. A more preferred content of BTDA is in the range of 70-100 mol%. In addition, among preferable aromatic tetracarboxylic acid compounds, those other than BTDA include, for example, biphenyltetracarboxylic acid anhydride (BPDA), pyromellitic acid anhydride (PMDA), 3,3', 4,4'-diphenyl. It is preferably sulfonetetracarboxylic dianhydride (DSDA) and 4,4′-oxydiphthalic anhydride (ODPA) or a combination thereof. Only one kind of these tetracarboxylic acid compounds may be used, or two or more kinds may be used in combination.

非熱可塑性ポリイミド:
ポリイミドが非熱可塑性ポリイミドである場合、特に限定されるものではないが、ジアミノ化合物として、上記した熱可塑性ポリイミドの場合と同様に、NH−Ar1−NHで表される芳香族ジアミノ化合物と、テトラカルボン酸化合物と反応させて得られたものが好ましい。ただし、非熱可塑性ポリイミド層102Bの線熱膨張係数を20×10−6(1/K)以下、好ましくは1×10−6〜17×10−6(1/K)の範囲とするのがよく、この条件を達成する上で好適な芳香族ジアミノ化合物を選択することが好ましい。例えば、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジメチルビフェニル(m-TB)を50モル%以上含有するジアミノ化合物をテトラカルボン酸化合物と反応させて得られたものが好適なものとして挙げられ、さらには70モル%以上含有するジアミノ化合物を選択することがより好ましい。
Non-thermoplastic polyimide:
When the polyimide is a non-thermoplastic polyimide, the diamino compound is not particularly limited, but as the diamino compound, the aromatic diamino compound represented by NH 2- Ar1-NH 2 is used as in the case of the above-mentioned thermoplastic polyimide. , The one obtained by reacting with a tetracarboxylic acid compound is preferable. However, the coefficient of linear thermal expansion of the non-thermoplastic polyimide layer 102B should be in the range of 20 × 10-6 (1 / K) or less, preferably 1 × 10-6 to 17 × 10-6 (1 / K). It is often preferable to select a suitable aromatic diamino compound in order to achieve this condition. For example, a compound obtained by reacting a diamino compound containing 50 mol% or more of 4,4'-diamino-2,2'-dimethylbiphenyl (m-TB) with a tetracarboxylic acid compound is preferable. Further, it is more preferable to select a diamino compound containing 70 mol% or more.

ポリイミドが非熱可塑性ポリイミドである場合、特に限定されるものではないが、テトラカルボン酸化合物としては、上記した熱可塑性ポリイミドの場合と同様の化合物を使用することができる。線熱膨張係数を20×10−6(1/K)以下、好ましくは1×10−6〜17×10−6(1/K)の範囲とするために、より好ましい芳香族テトラカルボン酸化合物は、ビフェニルテトラカルボン酸無水物(BPDA)、ピロメリット酸無水物(PMDA)又はこれらの組合せである。 When the polyimide is a non-thermoplastic polyimide, the tetracarboxylic acid compound is not particularly limited, but the same compound as in the case of the above-mentioned thermoplastic polyimide can be used. A more preferable aromatic tetracarboxylic dian compound in order to have a linear thermal expansion coefficient of 20 × 10-6 (1 / K) or less, preferably in the range of 1 × 10-6 to 17 × 10-6 (1 / K). Is biphenyltetracarboxylic dianhydride (BPDA), pyromellitic dianhydride (PMDA) or a combination thereof.

上記熱可塑性ポリイミド及び非熱可塑性ポリイミドにおいて、酸無水物及びジアミノ化合物の種類や、2種以上の酸無水物及びジアミノ化合物を適用する場合のそれぞれのモル比を選定することにより、線熱膨張係数、貯蔵弾性率、ガラス転移温度等を制御することができる。本実施の形態では、絶縁樹脂層102と支持体103の材質をいずれもキャスティング法で形成されたポリイミドにすることによって、支持体103のポリイミド分子の配向性を絶縁樹脂層102のポリイミド分子の配向性に近づけることが可能になるとともに、各層の線熱膨張係数や貯蔵弾性率、層間の接着性や剥離強度などの制御が容易になる。かかる観点から、絶縁樹脂層102と支持体103の形成に使用する酸無水物とジアミノ化合物として、同種のものを用いることも好ましい。
なお、上記熱可塑性ポリイミド及び非熱可塑性ポリイミドにおいて、ポリイミドの構造単位を複数有する場合は、ブロックとして存在しても、ランダムに存在していてもよいが、ランダムに存在することが好ましい。
In the above thermoplastic polyimide and non-thermoplastic polyimide, the linear thermal expansion coefficient is selected by selecting the types of acid anhydride and diamino compound and the molar ratio of each when two or more kinds of acid anhydride and diamino compound are applied. , Storage elasticity, glass transition temperature, etc. can be controlled. In the present embodiment, the material of the insulating resin layer 102 and the support 103 is made of polyimide formed by the casting method, so that the orientation of the polyimide molecules of the support 103 is changed to the orientation of the polyimide molecules of the insulating resin layer 102. It becomes possible to approach the properties, and it becomes easy to control the linear thermal expansion coefficient and storage elasticity of each layer, the adhesiveness between layers, and the peel strength. From this point of view, it is also preferable to use the same type of acid anhydride and diamino compound used for forming the insulating resin layer 102 and the support 103.
In the above-mentioned thermoplastic polyimide and non-thermoplastic polyimide, when a plurality of structural units of polyimide are present, they may exist as blocks or randomly, but they preferably exist randomly.

絶縁樹脂層102及び支持体103を構成するポリイミドは、例えば溶媒中で、上記のジアミノ化合物およびテトラカルボン酸二無水物をほぼ等モルの割合で混合し、反応温度0〜200℃の範囲で、好ましくは0〜100℃の範囲で反応させて、ポリアミド酸の樹脂溶液を得て、さらに、これをイミド化することにより得ることができる。溶媒としては、N−メチルピロリドン(NMP)、ジメチルホルムアミド(DMF)、ジメチルアセトアミド(DMAc)、ジメチルスルフォキサイド(DMSO)、硫酸ジメチル、スルフォラン、ブチロラクトン、クレゾール、フェノール、ハロゲン化フェノール、シクロヘキサノン、ジオキサン、テトラヒドロフラン、ジグライム、トリグライムなどが挙げられる。 For the polyimide constituting the insulating resin layer 102 and the support 103, for example, the above diamino compound and tetracarboxylic dianhydride are mixed in a solvent at a ratio of approximately equal moles, and the reaction temperature is in the range of 0 to 200 ° C. It can be obtained by preferably reacting in the range of 0 to 100 ° C. to obtain a resin solution of polyamic acid, which is further imidized. As the solvent, N-methylpyrrolidone (NMP), dimethylformamide (DMF), dimethylacetamide (DMAc), dimethyl sulfoxide (DMSO), dimethyl sulfate, sulfolane, butyrolactone, cresol, phenol, halogenated phenol, cyclohexanone, Examples thereof include dioxane, tetrahydrofuran, jiglime and triglime.

通常、ポリアミド酸の合成は、金属層101となる金属箔への塗布前に、反応容器等の中で行われる。例えば、工程(I)では、ポリアミド酸の樹脂溶液を金属層101上に塗布乾燥してポリアミド酸層を形成し、続く熱処理によってポリアミド酸層をイミド化することでポリイミド層を得ることができる。重畳的に、すでに形成されているポリアミド酸層上あるいはポリイミド層上に塗布を繰り返してもよい。あるいは、工程(I)では、金属層101となる金属箔の表面に、予めイミド化したポリイミドを溶媒に溶解させた溶液の形態で塗布し、乾燥させることによって絶縁樹脂層102を形成してもよい。
同様に、工程(II)では、ポリアミド酸の樹脂溶液を絶縁樹脂層102の表面S1上に塗布乾燥してポリアミド酸層を形成し、続く熱処理によってポリアミド酸層をイミド化することでポリイミド層を得ることができる。重畳的に、すでに形成されているポリアミド酸層上あるいはポリイミド層上に塗布を繰り返してもよい。あるいは、工程(II)では、絶縁樹脂層102の表面S1に、予めイミド化したポリイミドを溶媒に溶解させた溶液の形態で塗布し、乾燥させることによって支持体103を形成してもよい。
Usually, the polyamic acid is synthesized in a reaction vessel or the like before being applied to the metal foil to be the metal layer 101. For example, in step (I), a polyimide layer can be obtained by applying a resin solution of polyamic acid on the metal layer 101 and drying to form a polyamic acid layer, and then imidizing the polyamic acid layer by heat treatment. Overlapping, the coating may be repeated on the already formed polyamic acid layer or on the polyimide layer. Alternatively, in step (I), the insulating resin layer 102 may be formed by applying the pre-imidized polyimide in the form of a solution dissolved in a solvent to the surface of the metal foil to be the metal layer 101 and drying the mixture. Good.
Similarly, in step (II), a resin solution of polyamic acid is applied and dried on the surface S1 of the insulating resin layer 102 to form a polyamic acid layer, and the polyimide layer is imidized by a subsequent heat treatment to form a polyimide layer. Obtainable. Overlapping, the coating may be repeated on the already formed polyamic acid layer or on the polyimide layer. Alternatively, in step (II), the support 103 may be formed by applying the surface S1 of the insulating resin layer 102 in the form of a solution in which a pre-imidized polyimide is dissolved in a solvent and drying the mixture.

絶縁樹脂層102又は支持体103が多層構造である場合、工程(I)においては金属層101となる金属箔上に、工程(II)においては絶縁樹脂層102の表面S1上に、逐次的に複数のポリアミド酸の樹脂層を形成した後に一括してイミド化し、絶縁樹脂層102又は支持体103とする方法が好ましいが、これに限定されるものではない。すなわち、金属層101となる金属箔又は絶縁樹脂層102に対し、多層ダイ等により複数のポリアミド酸の樹脂層を一括して塗布し、これを乾燥した後に一括して熱処理によるイミド化を行うことで複数のポリイミド層を形成してもよいし、あるいは、複数のポリアミド酸の樹脂層を逐次的に塗布した後に一括して乾燥、イミド化を行ってもよい。また、複数のポリアミド酸の樹脂溶液の塗布乾燥からイミド化までを逐次的に行うことで1層ずつポリイミド層を形成してもよい。複数のポリイミド層を形成するに当たって、これらの各処理は任意に組み合わせることができる。 When the insulating resin layer 102 or the support 103 has a multi-layer structure, in the step (I), it is sequentially placed on the metal foil that becomes the metal layer 101, and in the step (II), it is sequentially placed on the surface S1 of the insulating resin layer 102. A method of forming a plurality of polyamic acid resin layers and then collectively imidizing them to form an insulating resin layer 102 or a support 103 is preferable, but the method is not limited thereto. That is, a plurality of polyamic acid resin layers are collectively applied to the metal foil or insulating resin layer 102 to be the metal layer 101 by a multilayer die or the like, dried, and then imidized by heat treatment. A plurality of polyimide layers may be formed in the above, or a plurality of resin layers of polyamic acid may be sequentially applied and then dried and imidized all at once. Further, the polyimide layer may be formed one by one by sequentially applying and drying a plurality of polyamic acid resin solutions to imidization. In forming the plurality of polyimide layers, each of these treatments can be arbitrarily combined.

ポリイミド溶液又はポリアミド酸溶液を、金属層101となる金属箔上又は絶縁樹脂層102の表面S1上に、塗布する方法としては特に制限されず、例えばコンマ、ダイ、ナイフ、リップ等のコーターにて塗布することが可能である。多層のポリイミド層の形成に際しては、ポリイミド溶液(又はポリアミド酸溶液)を基材に塗布、乾燥する操作を繰り返す方法が好ましい。 The method of applying the polyimide solution or the polyamic acid solution on the metal foil to be the metal layer 101 or on the surface S1 of the insulating resin layer 102 is not particularly limited, and for example, a coater such as a comma, a die, a knife, or a lip is used. It is possible to apply. When forming the multilayer polyimide layer, a method of repeatedly applying a polyimide solution (or a polyamic acid solution) to the substrate and drying the substrate is preferable.

乾燥および加熱イミド化処理の方法としては、例えばバッチ処理方式、連続処理方式などの任意の方法を選択可能である。バッチ処理方式は、ポリアミド酸の樹脂溶液を長尺状の金属箔に塗布した後、イミド化していない状態でその積層体をロール状に巻き取り、所定の温度に設定可能な熱風乾燥炉の中に一定時間静置し、最終的に200℃以上の高温にて熱処理することでイミド化を完了させる方法である。連続処理方式は、ポリアミド酸の樹脂溶液を長尺状の金属箔に塗布した後、乾燥炉内を連続移動させて所定の熱処理時間を確保させた上で、最終的に200℃以上の高温にて熱処理を行う方法である。これらは、生産性や歩留り等の観点からいずれの方法を選択してもよいが、金属層101の酸化を防ぐことを目的として、200℃以上の高温における熱処理は減圧環境下、還元性気体雰囲気下あるいは還元性気体雰囲気下かつ減圧環境下にて行うことが好ましい。なお、乾燥およびイミド化処理工程における加熱によってポリアミド酸樹脂の溶媒が除去され、イミド化されるわけであるが、この際、高温で急激に熱処理を行うと樹脂表面にスキン層が生成して溶媒が蒸発しづらくなったり、発砲が生じたりするため、低温から段階的に高温まで上昇させながら熱処理を行うことが好ましい。また、加熱イミド化工程においては最終的に300〜400℃の温度で熱処理することが好ましい。 As a method for drying and heat imidization treatment, any method such as a batch treatment method or a continuous treatment method can be selected. In the batch processing method, a resin solution of polyamic acid is applied to a long metal foil, and then the laminate is wound into a roll in a non-imidized state in a hot air drying furnace that can be set to a predetermined temperature. This is a method of completing imidization by allowing the resin to stand for a certain period of time and finally heat-treating at a high temperature of 200 ° C. or higher. In the continuous treatment method, after applying a resin solution of polyamic acid to a long metal foil, it is continuously moved in a drying furnace to secure a predetermined heat treatment time, and finally the temperature is raised to 200 ° C. or higher. This is a method of performing heat treatment. Any method may be selected from the viewpoints of productivity, yield, etc., but for the purpose of preventing oxidation of the metal layer 101, heat treatment at a high temperature of 200 ° C. or higher is performed in a reducing gas atmosphere under a reduced pressure environment. It is preferable to carry out under or under a reducing gas atmosphere and a reduced pressure environment. The solvent of the polyamic acid resin is removed and imidized by heating in the drying and imidization treatment steps. At this time, if a rapid heat treatment is performed at a high temperature, a skin layer is formed on the resin surface and the solvent is formed. Is difficult to evaporate and foaming occurs. Therefore, it is preferable to perform the heat treatment while gradually raising the temperature from a low temperature to a high temperature. Further, in the heating imidization step, it is preferable to finally heat-treat at a temperature of 300 to 400 ° C.

金属層101となる金属箔又は絶縁樹脂層102の表面S1上に塗布するポリアミド酸の樹脂溶液の濃度は、ポリマーであるポリアミド酸の重合度にもよるが、5〜30重量%が好ましく、さらに好ましくは10〜20重量%である。ポリマー濃度が5重量%以上であれば1回の塗布で十分な膜厚が得られ、30重量%以下であれば当該樹脂溶液の粘度が高くなり過ぎず、均一かつ平滑に塗布することができるためである。 The concentration of the polyamic acid resin solution applied on the surface S1 of the metal foil or the insulating resin layer 102 to be the metal layer 101 is preferably 5 to 30% by weight, although it depends on the degree of polymerization of the polyamic acid as a polymer. It is preferably 10 to 20% by weight. If the polymer concentration is 5% by weight or more, a sufficient film thickness can be obtained by one application, and if it is 30% by weight or less, the viscosity of the resin solution does not become too high, and the resin solution can be applied uniformly and smoothly. Because.

以上のようにして得られる金属張積層板20は、機械力によって、金属張積層板20を構成する第1の積層板10を支持体103から引き離すことができる。金属張積層板20を第1の積層板10と支持体103とに分離するために必要な剥離強度(引き剥がし強度)は、例えば1〜50N/mの範囲内であることが好ましく、5〜30N/mの範囲内であることがより好ましく、5〜20N/mの範囲内であることがさらに好ましい。剥離強度が1N/mに満たないと、FPC製造プロセスにおける機械的な外力により絶縁樹脂層102と支持体103との積層境界での剥離が生じ易くなる。剥離強度が50N/mを上回ると、第1の積層板10と支持体103とへの分離が不能になったり、剥離できたとしても分離時に第1の積層板10が引き伸ばされ反りが発生し易くなる。第1の積層板10の絶縁樹脂層102と支持体103との接着強度・剥離強度は、絶縁樹脂層102と支持体103を構成するそれぞれのポリイミドの原料モノマーの種類や比率、熱処理条件などによって制御できる。なお、絶縁樹脂層102と支持体103の分離は、後述するように、回路加工後に行うことが好ましい。 In the metal-clad laminate 20 obtained as described above, the first laminate 10 constituting the metal-clad laminate 20 can be separated from the support 103 by mechanical force. The peel strength (peeling strength) required to separate the metal-clad laminate 20 into the first laminate 10 and the support 103 is preferably in the range of, for example, 1 to 50 N / m, and is preferably 5 to 5. It is more preferably in the range of 30 N / m, and further preferably in the range of 5 to 20 N / m. If the peel strength is less than 1 N / m, peeling at the lamination boundary between the insulating resin layer 102 and the support 103 is likely to occur due to a mechanical external force in the FPC manufacturing process. If the peel strength exceeds 50 N / m, the first laminated plate 10 and the support 103 cannot be separated from each other, or even if the peeling is possible, the first laminated plate 10 is stretched and warped at the time of separation. It will be easier. The adhesive strength / peel strength between the insulating resin layer 102 and the support 103 of the first laminated plate 10 depends on the type and ratio of the raw material monomers of the respective polyimides constituting the insulating resin layer 102 and the support 103, the heat treatment conditions, and the like. Can be controlled. It is preferable that the insulating resin layer 102 and the support 103 are separated after the circuit is processed, as will be described later.

[回路基板の製造方法]
図3は、本発明の一実施の形態に係る回路基板の製造方法の工程図である。そして、本実施の形態の金属張積層板20の製造方法は、少なくとも、下記の工程(I)〜(III)を含み、さらに、任意の工程として、工程(IV)、工程(V)を含むことができる。従って、本実施の形態で製造される回路基板は、図3(b)〜(d)のいずれかに示す態様であってもよい。すなわち、図3(b)に示すように、支持体103と絶縁樹脂層102が積層され、該絶縁樹脂層102の上に、金属層101が回路加工された配線層101Aを含む状態の回路基板30でもよい。また、図3(c)に示すように、回路基板30の配線層101Aを覆うカバーレイフィルム層104をさらに備えた状態の回路基板40でもよい。また、図3(d)に示すように、回路基板40から支持体103が分離した状態の回路基板50でもよい。
[Manufacturing method of circuit board]
FIG. 3 is a process diagram of a method for manufacturing a circuit board according to an embodiment of the present invention. The method for manufacturing the metal-clad laminate 20 of the present embodiment includes at least the following steps (I) to (III), and further includes steps (IV) and steps (V) as arbitrary steps. be able to. Therefore, the circuit board manufactured in this embodiment may have the embodiment shown in any of FIGS. 3 (b) to 3 (d). That is, as shown in FIG. 3B, a circuit board in which a support 103 and an insulating resin layer 102 are laminated, and a wiring layer 101A in which a metal layer 101 is circuit-processed is included on the insulating resin layer 102. It may be 30. Further, as shown in FIG. 3C, the circuit board 40 may be further provided with the coverlay film layer 104 covering the wiring layer 101A of the circuit board 30. Further, as shown in FIG. 3D, the circuit board 50 may be in a state where the support 103 is separated from the circuit board 40.

<工程(I)、(II)>
本実施の形態の回路基板の製造方法において、工程(I)及び工程(II)は、上記「金属張積層板の製造方法」における工程(I)及び工程(II)と同じであるため、説明を省略する(図1も援用される)。
<Process (I), (II)>
In the method for manufacturing the circuit board of the present embodiment, the steps (I) and (II) are the same as the steps (I) and (II) in the above-mentioned "method for manufacturing the metal-clad laminate". (Fig. 1 is also used).

<工程(III)>
本工程は、図3(a)、図3(b)に示したように、工程(II)で得られた金属張積層板20の金属層101を回路加工して配線層101Aを形成することにより、回路基板30を作製する工程である。金属層101の回路加工は、常法によって行うことが可能であり、特に制限はない。例えば、金属層101のパターニングには、公知のフォトリソグラフィー技術とエッチングを組み合わせる手法や、ナノインプリント技術などを採用することができる。
<Process (III)>
In this step, as shown in FIGS. 3A and 3B, the metal layer 101 of the metal-clad laminate 20 obtained in the step (II) is circuit-processed to form the wiring layer 101A. This is a step of manufacturing the circuit board 30. The circuit processing of the metal layer 101 can be performed by a conventional method, and is not particularly limited. For example, for patterning the metal layer 101, a method of combining known photolithography technology and etching, a nanoimprint technology, or the like can be adopted.

<工程(IV)>
本工程は、図3(b)、図3(c)に示したように、工程(III)で得られた回路基板30の配線層101Aを覆うカバーレイフィルム層104を形成することにより、回路基板40を作製する工程である。カバーレイフィルム層104の形成は、常法によって行うことが可能であり、特に制限はない。例えば、配線層101Aのパターンに応じて所定形状に加工された、例えばエポキシ樹脂やポリイミド樹脂などの熱硬化性樹脂のフィルムを用い、熱圧着法によって配線層101Aを覆うように積層することによって、カバーレイフィルム層104を形成できる。熱圧着は、公知の熱プレス法によって行うことができる。本実施の形態では、支持体103を有する状態でカバーレイフィルム層104の形成を行う。支持体103を備えた状態で、カバーレイフィルム層104となるフィルムを熱圧着することにより、絶縁樹脂層102の熱収縮を抑制し、絶縁樹脂層102に形成された配線層101Aの寸法変化を抑制して、配線層101Aの寸法精度を維持することができる。
<Process (IV)>
In this step, as shown in FIGS. 3 (b) and 3 (c), a circuit is formed by forming a coverlay film layer 104 that covers the wiring layer 101A of the circuit board 30 obtained in the step (III). This is a step of manufacturing the substrate 40. The coverlay film layer 104 can be formed by a conventional method, and is not particularly limited. For example, by using a film of a thermosetting resin such as an epoxy resin or a polyimide resin processed into a predetermined shape according to the pattern of the wiring layer 101A and laminating it so as to cover the wiring layer 101A by a thermocompression bonding method. The coverlay film layer 104 can be formed. Thermocompression bonding can be performed by a known thermocompression pressing method. In the present embodiment, the coverlay film layer 104 is formed with the support 103. By thermocompression bonding the film to be the coverlay film layer 104 with the support 103 provided, the thermal shrinkage of the insulating resin layer 102 is suppressed, and the dimensional change of the wiring layer 101A formed on the insulating resin layer 102 is changed. It can be suppressed and the dimensional accuracy of the wiring layer 101A can be maintained.

以上のようにして得られる回路基板40は、機械力によって、回路基板40を構成する絶縁樹脂層102と支持体103とを分離することができる。回路基板40から支持体103を剥離するために必要な剥離強度(引き剥がし強度)は、例えば1〜50N/mの範囲内であることが好ましく、5〜30N/mの範囲内であることがより好ましく、5〜20N/mの範囲内であることがさらに好ましい。剥離強度が1N/mに満たないと、FPC製造プロセスにおける機械的な外力により絶縁樹脂層102と支持体103との積層境界での剥離が生じ易くなる。剥離強度が50N/mを上回ると、絶縁樹脂層102と支持体103との分離が不能になったり、剥離できたとしても分離時に、回路基板50が引き伸ばされ反りが発生し易くなる。なお、絶縁樹脂層102と支持体103の分離は、次の工程(V)で行うことができる。 In the circuit board 40 obtained as described above, the insulating resin layer 102 and the support 103 constituting the circuit board 40 can be separated by mechanical force. The peel strength (peeling strength) required for peeling the support 103 from the circuit board 40 is preferably in the range of 1 to 50 N / m, and preferably in the range of 5 to 30 N / m. More preferably, it is in the range of 5 to 20 N / m. If the peel strength is less than 1 N / m, peeling at the lamination boundary between the insulating resin layer 102 and the support 103 is likely to occur due to a mechanical external force in the FPC manufacturing process. If the peel strength exceeds 50 N / m, the insulating resin layer 102 and the support 103 cannot be separated from each other, or even if the peel strength can be peeled off, the circuit board 50 is stretched and warped easily. The insulating resin layer 102 and the support 103 can be separated in the next step (V).

<工程(V)>
本工程は、工程(IV)で得られた回路基板40から、支持体103を分離して回路基板50を形成する工程である。この場合、絶縁樹脂層102の表面S1と支持体103の表面S2との間で分離される。つまり、表面S1,S2は剥離面である。
図3(c)、図3(d)に示したように、支持体103と絶縁樹脂層102とを分離することにより、絶縁樹脂層102、配線層101Aおよびカバーレイフィルム層104を備えた回路基板50を作製することができる。このように、支持体103を備えた状態で回路加工を行い、回路加工後に支持体103を分離することによって、回路基板50が特に長尺のものである場合に、配線層101Aの寸法精度を維持する効果が大きくなる。従って、少なくとも支持体103と絶縁樹脂層102を剥離して回路基板50を作製する工程以前の各工程は、いずれもロール・トウ・ロール方式で行うことが好ましい。なお、支持体103を剥離しても、前の工程(IV)でカバーレイフィルム層104が形成されているため、回路基板50の剛性が確保されており、折り曲げによる配線層の破断、損傷、剥離などの不具合の発生を防止できる。
<Process (V)>
This step is a step of separating the support 103 from the circuit board 40 obtained in the step (IV) to form the circuit board 50. In this case, the surface S1 of the insulating resin layer 102 and the surface S2 of the support 103 are separated from each other. That is, the surfaces S1 and S2 are peeled surfaces.
As shown in FIGS. 3C and 3D, a circuit including the insulating resin layer 102, the wiring layer 101A, and the coverlay film layer 104 by separating the support 103 and the insulating resin layer 102. The substrate 50 can be manufactured. In this way, the circuit processing is performed with the support 103 provided, and the support 103 is separated after the circuit processing to improve the dimensional accuracy of the wiring layer 101A when the circuit board 50 is particularly long. The effect of maintaining is increased. Therefore, it is preferable that at least each step before the step of peeling the support 103 and the insulating resin layer 102 to produce the circuit board 50 is performed by the roll-to-roll method. Even if the support 103 is peeled off, the coverlay film layer 104 is formed in the previous step (IV), so that the rigidity of the circuit board 50 is ensured, and the wiring layer is broken or damaged due to bending. It is possible to prevent the occurrence of problems such as peeling.

なお、以上の説明では、本発明方法の特徴的工程のみを説明した。すなわち、回路基板30,40,50を製造する際に、通常行われる上記以外の工程、例えば前工程でのスルーホール加工や、後工程の端子めっき、外形加工などの工程は、常法に従い行うことができるので説明を省略した。また、回路基板30,40,50は、上記した以外の任意の層(例えば、絶縁樹脂層102と配線層101Aの密着力を確保するために、ニッケル、コバルト、クロム、モリブデン、もしくはケイ素等を主成分とする金属又はこれらの合金の極薄層、あるいは熱可塑性の樹脂層など)を有していてもよい。 In the above description, only the characteristic steps of the method of the present invention have been described. That is, when manufacturing the circuit boards 30, 40, 50, steps other than the above, such as through-hole processing in the pre-process, terminal plating in the post-process, and outer shape processing, are performed according to a conventional method. The explanation is omitted because it can be done. Further, the circuit boards 30, 40, 50 are made of nickel, cobalt, chromium, molybdenum, silicon, or the like in order to secure the adhesion between the insulating resin layer 102 and the wiring layer 101A. It may have a metal as a main component, an ultrathin layer of an alloy thereof, a thermoplastic resin layer, or the like).

以上、詳述したように、本実施の形態の金属張積層板の製造方法及び回路基板の製造方法によれば、第1の積層板10の絶縁樹脂層102側に、剥離可能なポリイミドの支持体103をキャスティング法によって形成することによって、金属張積層板20の剛性を確保できるため、絶縁樹脂層102を極力薄層化することができる。つまり、支持体103を設けることによって、第1の積層板10の状態に比べて剛性が高くなり、FPCの製造プロセスにおいて、折り曲げによる配線層101Aの破断、損傷、剥離などの不具合の発生を防止できる。従って、金属張積層板20を使用してFPCを作製する際のハンドリング性が向上し、例えばロール・トゥ・ロール方式で薄層型のFPCを効率的に製造することができる。 As described in detail above, according to the method for manufacturing the metal-clad laminate and the method for manufacturing the circuit board of the present embodiment, the removable polyimide is supported on the insulating resin layer 102 side of the first laminate 10. By forming the body 103 by the casting method, the rigidity of the metal-clad laminate 20 can be ensured, so that the insulating resin layer 102 can be made as thin as possible. That is, by providing the support 103, the rigidity becomes higher than that of the first laminated plate 10, and it is possible to prevent the occurrence of defects such as breakage, damage, and peeling of the wiring layer 101A due to bending in the FPC manufacturing process. it can. Therefore, the handleability when manufacturing the FPC using the metal-clad laminate 20 is improved, and for example, a thin-layer FPC can be efficiently manufactured by a roll-to-roll method.

また、本実施の形態の金属張積層板の製造方法及び回路基板の製造方法によれば、支持体103をポリイミドによって形成することによって、支持体103の線熱膨張係数の制御が容易になるとともに、接着剤が不要になるため、金属張積層板20の耐熱性や、寸法安定性が損なわれることがない。また、金属製の支持体を使用する場合と異なり、支持体103を介しての視認性が確保される。特に、絶縁樹脂層102と支持体103の材質をいずれもポリイミドで形成するとともに、絶縁樹脂層102と支持体103をいずれもキャスティング法で形成する場合は、支持体103のポリイミド分子の配向性を絶縁樹脂層102のポリイミド分子の配向性に近づけることができる。従って、支持体103を介しての視認性が十分に確保され、金属張積層板20を使用してFPCを製造する過程で、金属層101に設けられるアライメントマークの認識が容易になり、FPC自体及びFPCを使用する電子製品の歩留まりと信頼性を向上させることができる。 Further, according to the method for manufacturing the metal-clad laminate and the method for manufacturing the circuit board of the present embodiment, the linear thermal expansion coefficient of the support 103 can be easily controlled by forming the support 103 from polyimide. Since no adhesive is required, the heat resistance and dimensional stability of the metal-clad laminate 20 are not impaired. Further, unlike the case where a metal support is used, visibility is ensured through the support 103. In particular, when the insulating resin layer 102 and the support 103 are both made of polyimide and the insulating resin layer 102 and the support 103 are both formed by the casting method, the orientation of the polyimide molecules of the support 103 is determined. The orientation of the polyimide molecule of the insulating resin layer 102 can be approached. Therefore, sufficient visibility is ensured via the support 103, and in the process of manufacturing the FPC using the metal-clad laminate 20, the alignment mark provided on the metal layer 101 can be easily recognized, and the FPC itself. And the yield and reliability of electronic products using FPC can be improved.

次に、本発明を実施例によって具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例によって何ら限定されるものではない。なお、本発明の実施例において特にことわりない限り、各種測定、評価は下記によるものである。また、本実施例に用いた略号は上記されているとおりである。 Next, the present invention will be specifically described with reference to Examples, but the present invention is not limited to these Examples. Unless otherwise specified in the examples of the present invention, various measurements and evaluations are as follows. The abbreviations used in this example are as described above.

[線熱膨張係数の測定]
線熱膨張係数の測定は、サーモメカニカルアナライザー(セイコーインスツルメンツ株式会社製)を用いて255℃まで20℃/分の速度で昇温し、その温度で10分間保持した後、更に5℃/分の一定速度で冷却した。冷却時の240℃から100℃までの平均熱膨張係数(線熱膨張係数)を算出した。
[Measurement of coefficient of linear thermal expansion]
To measure the coefficient of linear thermal expansion, use a thermomechanical analyzer (manufactured by Seiko Instruments Inc.) to raise the temperature to 255 ° C at a rate of 20 ° C / min, hold at that temperature for 10 minutes, and then further 5 ° C / min. Cooled at a constant rate. The average coefficient of thermal expansion (linear thermal expansion coefficient) from 240 ° C. to 100 ° C. during cooling was calculated.

(合成例1)
窒素置換した反応容器に、308.00gのN,N−ジメチルアセトアミドを入れ、さらに2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン27.14g(0.066モル)を容器中で撹拌しながら溶解させた。次に、14.86g(0.068モル)のピロメリット酸二無水物を加えた。その後、3時間撹拌を続け、溶液粘度2,850mPa・sのポリアミド酸の樹脂溶液a(以下、熱可塑性ポリイミド前駆体aともいう)を調製した。
(Synthesis Example 1)
In a nitrogen-substituted reaction vessel, 308.00 g of N, N-dimethylacetamide was placed, and 27.14 g (0.066 mol) of 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane was added in the vessel. It was dissolved while stirring with. Next, 14.86 g (0.068 mol) of pyromellitic dianhydride was added. Then, stirring was continued for 3 hours to prepare a resin solution a of a polyamic acid having a solution viscosity of 2,850 mPa · s (hereinafter, also referred to as a thermoplastic polyimide precursor a).

(合成例2)
窒素置換した反応容器に、297.50gのN,N−ジメチルアセトアミドを入れた。この反応容器に4,4’−ジアミノ−2,2’ジメチルビフェニル25.27g(0.119モル)を容器中で撹拌しながら溶解させた。次に、6.87g(0.023モル)の3,3’−4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物および20.36g(0.093モル)のピロメリット酸二無水物を加えた。その後、3時間撹拌を続け、溶液粘度21,000mPa・sのポリアミド酸の樹脂溶液b(以下、非熱可塑性ポリイミド前駆体bともいう)を調製した。
(Synthesis Example 2)
297.50 g of N, N-dimethylacetamide was placed in a nitrogen-substituted reaction vessel. In this reaction vessel, 25.27 g (0.119 mol) of 4,4'-diamino-2,2'dimethylbiphenyl was dissolved with stirring in the vessel. Next, 6.87 g (0.023 mol) of 3,3'-4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride and 20.36 g (0.093 mol) of pyromellitic dianhydride were added. .. Then, stirring was continued for 3 hours to prepare a resin solution b of polyamic acid having a solution viscosity of 21,000 mPa · s (hereinafter, also referred to as non-thermoplastic polyimide precursor b).

[実施例1]
<片面フレキシブル銅張積層板の調製>
長尺状の圧延銅箔(厚み12μm)の片面に合成例1で調製した熱可塑性ポリイミド前駆体aを均一に塗布した後、130℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。次に、この塗布面側に合成例2で調製した非熱可塑性ポリイミド前駆体bを均一に塗布し、130℃で加熱乾燥し溶媒を除去した。次に、この塗布面側に合成例1で調製した熱可塑性ポリイミド前駆体aを均一に塗布し、130℃で乾燥後、約10分かけて380℃まで加熱硬化させることで、銅箔と絶縁樹脂層としてのポリイミド層a1(厚み12μm)から構成される銅張積層板A1を調製した。このときのポリイミド層a1の線熱膨張係数は23ppm/Kであった。なお、熱可塑性ポリイミド前駆体aの硬化後の厚みは1μmであった。
[Example 1]
<Preparation of single-sided flexible copper-clad laminate>
The thermoplastic polyimide precursor a prepared in Synthesis Example 1 was uniformly applied to one side of a long rolled copper foil (thickness 12 μm), and then heated and dried at 130 ° C. to remove the solvent. Next, the non-thermoplastic polyimide precursor b prepared in Synthesis Example 2 was uniformly coated on the coated surface side, and dried by heating at 130 ° C. to remove the solvent. Next, the thermoplastic polyimide precursor a prepared in Synthesis Example 1 is uniformly coated on the coated surface side, dried at 130 ° C., and then heat-cured to 380 ° C. over about 10 minutes to insulate the copper foil. A copper-clad laminate A1 composed of a polyimide layer a1 (thickness 12 μm) as a resin layer was prepared. The coefficient of linear thermal expansion of the polyimide layer a1 at this time was 23 ppm / K. The thickness of the thermoplastic polyimide precursor a after curing was 1 μm.

<支持基材の形成>
銅張積層板A1の絶縁樹脂層側の表面に、合成例2にて調製した非熱可塑性ポリイミド前駆体bを均一に塗布し、130℃で乾燥後、約10分かけて380℃まで加熱硬化させることで、支持基材としてのポリイミド層b1(厚み25μm)を有する銅張積層板B1を調製した。このときのポリイミド層b1の線熱膨張係数は23ppm/Kであった。
<Formation of supporting base material>
The non-thermoplastic polyimide precursor b prepared in Synthesis Example 2 is uniformly applied to the surface of the copper-clad laminate A1 on the insulating resin layer side, dried at 130 ° C., and then heat-cured to 380 ° C. over about 10 minutes. By doing so, a copper-clad laminate B1 having a polyimide layer b1 (thickness 25 μm) as a supporting base material was prepared. The coefficient of linear thermal expansion of the polyimide layer b1 at this time was 23 ppm / K.

<回路配線基板の調製>
支持基材付き銅張積層体B1の銅箔をエッチング加工して、50μmピッチの回路配線基板A1を調製した。
<Preparation of circuit wiring board>
The copper foil of the copper-clad laminate B1 with a supporting base material was etched to prepare a circuit wiring board A1 having a pitch of 50 μm.

支持基材付き回路配線基板A1の配線側の面に、カバーレイフィルム(ニッカン工業社製、商品名:ニカフレックス、ベースフィルム厚み25μm、接着剤層厚み25μm)を装着し、160℃、1時間の加熱プレスでカバーレイフィルムを積層した回路配線基板B1を調製した。回路配線基板B1の支持基材を剥離して、回路配線基板C1を調製した。 A coverlay film (manufactured by Nikkan Kogyo Co., Ltd., trade name: Nikaflex, base film thickness 25 μm, adhesive layer thickness 25 μm) was attached to the wiring side surface of the circuit wiring board A1 with a support base material, and the temperature was 160 ° C. for 1 hour. The circuit wiring board B1 in which the coverlay film was laminated was prepared by the heating press of. The support base material of the circuit wiring board B1 was peeled off to prepare the circuit wiring board C1.

以上、本発明の実施の形態を例示の目的で詳細に説明したが、本発明は上記実施の形態に制約されることはない。例えば、上記実施の形態では、カバーレイフィルム層104を設けた後の回路基板40から支持体103を分離する態様を示したが、回路基板30の段階で、支持体103を分離する態様も本発明の範囲に含まれる。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail for the purpose of illustration, the present invention is not limited to the above embodiments. For example, in the above embodiment, the mode in which the support 103 is separated from the circuit board 40 after the coverlay film layer 104 is provided is shown, but the mode in which the support 103 is separated at the stage of the circuit board 30 is also present. It is included in the scope of the invention.

10…第1の積層板、20…金属張積層板、30,40,50…回路基板、101…金属層、101A…配線層、102…絶縁樹脂層、102A…熱可塑性ポリイミド層、102B…非熱可塑性ポリイミド層、102C…熱可塑性ポリイミド層、103…支持体、104…カバーレイフィルム層、105…フィラー、S1,S2…表面


10 ... 1st laminate, 20 ... Metal-clad laminate, 30, 40, 50 ... Circuit board, 101 ... Metal layer, 101A ... Wiring layer, 102 ... Insulating resin layer, 102A ... Thermoplastic polyimide layer, 102B ... Non Thermoplastic polyimide layer, 102C ... Thermoplastic polyimide layer, 103 ... Support, 104 ... Coverlay film layer, 105 ... Filler, S1, S2 ... Surface


Claims (6)

金属層と絶縁樹脂層とが積層された第1の積層板と、該第1の積層板の前記絶縁樹脂層に剥離可能に積層された支持体と、を備えた金属張積層板を製造する工程、及び、
製造された前記金属張積層板における前記金属層を、回路加工して配線層を形成する工程、
を含む回路基板の製造方法であって、
前記金属張積層板を製造する工程は、
前記第1の積層板を準備する工程と、
前記第1の積層板の前記絶縁樹脂層の表面に樹脂溶液を塗布することによって前記支持体を形成する工程と、
を含み、
前記支持体がポリイミドによって構成されるとともに、前記樹脂溶液が、ポリイミド溶液又はポリアミド酸溶液であることを特徴とする回路基板の製造方法
A metal-clad laminate comprising a first laminate in which a metal layer and an insulating resin layer are laminated, and a support detachably laminated on the insulating resin layer of the first laminate is manufactured. Process and
A step of forming a wiring layer by circuit processing the metal layer in the manufactured metal-clad laminate.
It is a manufacturing method of a circuit board including
The process of manufacturing the metal-clad laminate is
The step of preparing the first laminated board and
A step of forming the support by applying a resin solution to the surface of the insulating resin layer of the first laminated plate, and
Including
A method for producing a circuit board, wherein the support is made of polyimide and the resin solution is a polyimide solution or a polyamic acid solution.
前記支持体を形成する工程では、前記ポリアミド酸溶液を塗布した後、熱処理を行ってポリアミド酸をイミド化する請求項1に記載の回路基板の製造方法The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein in the step of forming the support, the polyamic acid solution is applied and then heat-treated to imidize the polyamic acid. 前記絶縁樹脂層が、樹脂成分としてポリイミドからなるポリイミド層である請求項1又は2に記載の回路基板の製造方法The method for manufacturing a circuit board according to claim 1 or 2, wherein the insulating resin layer is a polyimide layer made of polyimide as a resin component. 前記絶縁樹脂層の厚みが、1〜20μmの範囲内である請求項1から3のいずれか1項に記載の回路基板の製造方法The method for manufacturing a circuit board according to any one of claims 1 to 3, wherein the thickness of the insulating resin layer is in the range of 1 to 20 μm. 前記配線層を覆うカバーレイフィルム層を形成する工程をさらに含む請求項に記載の回路基板の製造方法。 The method for manufacturing a circuit board according to claim 1 , further comprising a step of forming a coverlay film layer covering the wiring layer. 前記支持体を分離する工程をさらに含む請求項1又は5に記載の回路基板の製造方法。 The method for manufacturing a circuit board according to claim 1 or 5 , further comprising a step of separating the support.
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