JP6749165B2

JP6749165B2 - 情報表示装置

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Publication number: JP6749165B2
Application number: JP2016139185A
Authority: JP
Inventors: 直之青田
Original assignee: Azbil Corp
Current assignee: Azbil Corp
Priority date: 2016-07-14
Filing date: 2016-07-14
Publication date: 2020-09-02
Anticipated expiration: 2036-07-14
Also published as: JP2018009887A

Description

本発明は、バルブやガスガバナなどの接触摺動部を有する装置の動作におけるスティックスリップを検出するスティックスリップ検出装置に用いられる情報表示装置に関する。

バルブやガスガバナの故障は、接触摺動部におけるスティックスリップの発生を検出することで、診断することが可能である。スティックスリップは、図１１にバルブ３００での例を示すように、弁軸３０１とグランドパッキン３０２との接触摺動部３０３の状態によって発生するものである。例えば、このスティックスリップは、接触摺動部３０３に異物が混入したときなどに発生する。従って、弁軸３０１の変位を検出し、検出した変位の状態を監視することでスティックスリップを検出できる（特許文献１参照）。

ここで、特許文献１に記載されたスティックスリップ検出について簡単に説明する。特許文献１では、弁軸３０１の変位を検出し、検出した変位より第１の状態量を算出し、また、検出した変位より第２の状態量を算出し、この算出した第１の状態量と第２の状態量との比と正常動作時の変位より得られる第１の状態量と第２の状態量との比とを比較することで、スティックスリップを検出するようにしている。この場合、例えば、第１の状態量として変位信号の１階差分の絶対値の平均を用い、第２の状態量として変位信号の１階差分値の２乗平均を用いる。また、第１の状態量と第２の状態量との比（Ｙ／Ｘ）をスティックスリップを表す状態量として求める。

また、特許文献１に記載された技術では、図１２に示すように、横軸を第１の状態量（変位信号の１階差分の絶対値の平均）Ｘを示す軸とし、縦軸を第２の状態量（変位信号の１階差分値の２乗平均）Ｙを示す軸とし、この縦軸と横軸とで示されるグラフ中に弁軸３０１の変位より求められた第１の状態量Ｘと第２の状態量Ｙとの対をプロットすることにより、特定期間内のスティックスリップの発生状況を可視化している。なお、図１２中、「＊」はスティックスリップが発生したときの値であり、「○」は正常な状態の値である。

特許第３２５４６２４号公報

しかしながら、特許文献１では、図１２に示したように、特定期間内の第１の状態量Ｘと第２の状態量Ｙとの対をまとめて表示することで、統計的に信頼できる判断を行い易くしているが、時間の経過に伴う状態変化は認識することができない。

図１３にＸ−Ｙ散布図での判断例を示す。この例では、ラインＩとしてＹ＝Ｘを示す線を、ラインIIとしてＹ＝１０Ｘの閾値を示す線を示している。ラインＩ付近に密集している点は正常なデータであり、ラインIIを超えるとスティックスリップ状態であると判断される。また、この例では、解析を実施する期間（この例では、１年）内において、スティックスリップを表す状態量の分布がどのように変化したかを見るために、グラフ中のデータに月ごとに色を付けて表示している。しかし、散布図では、データ量が多くなると点の重なりが多数発生し、経時変化を十分に捉えることは困難である。

スティックスリップの発生に伴い、バルブなどの開放点検を実施するか否かの判断を行う場合には、時間の経過に伴う状態変化も重要な手がかりになる。しかし、特許文献１に示されたスティックスリップの発生状況を可視化する方法では、上述した説明からも分かるように、時間の経過に伴う状態変化を認識することができない。このため、スティックスリップの発生状況の可視化方法について改善が求められている。

本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、バルブなどで発生するスティックスリップ現象について、スティックスリップの状態量の分布とスティックスリップの状態量の時間の経過に伴う変化との両方を容易に認識することが可能な情報表示装置を提供することにある。

このような目的を達成するために本発明は、接触摺動部（３０３）を有する可動部（３０１）の変位より時系列に求められた第１の状態量（Ｘ）および第２の状態量（Ｙ）を診断データとして蓄積する診断データ蓄積手段（１）と、診断データ蓄積手段（１）に蓄積されている時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）を取得する診断データ取得手段（２）と、診断データ取得手段（２）によって取得された時系列の診断データ毎にスティックスリップの状態量（Ａ＝Ｙ／Ｘ）を算出するスティックスリップ状態量算出手段（３）と、スティックスリップ状態量算出手段（３）によって算出されたスティックスリップの状態量（Ａ）を所定の期間区分毎にそのスティックスリップの状態量の大きさを区分けする状態量の区分（Ｄ₁〜Ｄｎ）に振り分け、このスティックスリップの状態量が振り分けられた状態量の区分毎にその状態量の区分におけるスティックスリップの状態量（Ａ）を代表する指標値をスティックスリップの指標値（Ｓ）として算出するスティックスリップ指標値算出手段（４）と、スティックスリップの状態量（Ａ）の大きさを示す軸を第１軸、この第１軸に直交する第２軸を時間軸として、状態量の区分毎に算出された所定の期間区分毎のスティックスリップの指標値（Ｓ）の大きさを色の変化として表したヒートマップを表示するヒートマップ表示手段（５）とを備えることを特徴とする。

この発明において、診断データ取得手段（２）は、診断データ蓄積手段（１）に蓄積されている時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）を取得し、スティックスリップ状態量算出手段（３）に送る。スティックスリップ状態量算出手段（３）は、診断データ取得手段（２）からの時系列の診断データ毎にスティックスリップの状態量（Ａ＝Ｙ／Ｘ）を算出し、スティックスリップ指標値算出手段（４）に送る。スティックスリップ指標値算出手段（４）は、スティックスリップ状態量算出手段（３）によって算出されたスティックスリップの状態量（Ａ）を所定の期間区分（例えば、１ヶ月）毎にそのスティックスリップの状態量の大きさを区分けする状態量の区分（Ｄ₁〜Ｄｎ）に振り分け、このスティックスリップの状態量が振り分けられた状態量の区分毎にその状態量の区分におけるスティックスリップの状態量（Ａ）を代表する指標値を算出する。例えば、スティックスリップの状態量（Ａ）を代表する指標値として、スティックスリップの状態量の頻度の割合を算出したり、重み和の割合を算出したりする。ヒートマップ表示手段（５）は、スティックスリップの状態量（Ａ）の大きさを示す軸を第１軸、第２軸を時間軸として、状態量の区分毎に算出された所定の期間区分毎のスティックスリップの指標値（Ｓ）の大きさを色の変化として表したヒートマップを表示する。これにより、バルブなどで発生するスティックスリップ現象について、スティックスリップの状態量の分布とスティックスリップの状態量の時間の経過に伴う変化との両方を容易に認識することが可能となる。

なお、上記説明では、一例として、発明の構成要素に対応する図面上の構成要素を、括弧を付した参照符号によって示している。この参照符号は、あくまでも参考として示したものであって、この参照符号によって本発明が限定されるものではない。

以上説明したことにより、本発明によれば、状態量の区分毎に算出された所定の期間区分毎のスティックスリップの指標値の大きさを色の変化として表したヒートマップを表示するようにしたので、バルブなどで発生するスティックスリップ現象について、スティックスリップの状態量の分布とスティックスリップの状態量の時間の経過に伴う変化との両方を容易に認識することが可能となる。

図１は、本発明の実施の形態１に係る情報表示装置の要部を示す図である。図２は、実施の形態１の情報表示装置のハードウェア構成の概略を示す図である。図３は、実施の形態１の情報表示装置における各部の機能について具体的に説明するためのフローチャートである。図４は、実施の形態１の情報表示装置において表示されるヒートマップ、このヒートマップにおける期間区分＃４における状態量の区分毎のスティックスリップの状態量Ａの頻度および頻度割合を例示する図である。図５は、実施の形態１の情報表示装置において表示されるヒートマップ、このヒートマップにおける期間区分＃７における状態量の区分毎のスティックスリップの状態量Ａの頻度および頻度割合を例示する図である。図６は、本発明の実施の形態２に係る情報表示装置の要部を示す図である。図７は、実施の形態２の情報表示装置における各部の機能について具体的に説明するためのフローチャートである。図８は、実施の形態２の情報表示装置で用いる重みｗを示す図である。図９は、実施の形態２の情報表示装置で用いる重みｗの他の例を示す図である。図１０は、実施の形態２の情報表示装置において表示されるヒートマップを例示する図である。図１１は、接触摺動部分を有する装置の一例としてバルブの構成を示す図である。図１２は、特許文献１に示されたスティックスリップの発生状況を可視化した例を示す図である。図１３は、Ｘ−Ｙ散布図でのスティックスリップの状態変化の判断例を示す図である。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。先ず、実施の形態の説明に入る前に、発明の概要について述べておく。

〔発明の概要〕
スティックスリップの発生を判断するためには、２種類の状態量Ｘ，Ｙの相違に着目することになるが、状態量Ｘと状態量Ｙの大小変化は相関があるため、Ｙ／Ｘのように比率を算出し、これをスティックスリップを表す状態量（スティックスリップの状態量）として時間軸上にグラフ化すれば、スティックスリップについて時間の経過に伴う状態変化を認識し易くできる。

この場合、分布状態を認識することが、オペレータにとっての判断材料であることも重要であることに着目する必要がある。そして、これらに基づき、特定期間（所定の期間区分（時間経過よりも短い単位時間））毎にＹ／Ｘの分布を取り、このＹ／Ｘの分布を時間軸上にヒートマップとして表示することに想到した。Ｙ／Ｘの比率であれば、判断の閾値などは経時変化する性質のものではないので、スティックスリップの状態量の分布とスティックスリップの状態量の時間の経過に伴う変化の認識を両立できることになる。

〔実施の形態１〕
図１に本発明の実施の形態１に係る情報表示装置１００の要部を示す。この情報表示装置１００は、スティックスリップ診断データ蓄積部１と、診断データ取得部２と、スティックスリップ状態量算出部３と、スティックスリップ指標値算出部４と、ヒートマップ表示部５とを備えている。

この情報表示装置１００のハードウェア構成の概略を図２に示す。同図において、１０１はＣＰＵ、１０２はＲＡＭ、１０３はＲＯＭ、１０４はハードディスクなどの記憶装置、１０５〜１０７はインターフェイス、１０８はディスプレイ、１０９はキーボード、１１０はマウスである。

ＣＰＵ１０１は、インターフェイス１０５〜１０７を介して与えられる各種入力情報を得て、ＲＡＭ１０２にアクセスしながら、ＲＯＭ１０３や記憶装置１０４に格納されたプログラムに従って動作する。

記憶装置１０４にはディスプレイ１０８に後述するヒートマップを表示させるためのプログラム（ヒートマップ表示プログラム）が格納されている。このヒートマップ表示プログラムは、例えばＣＤ−ＲＯＭなどの記録媒体に記録された状態で提供され、この記録媒体から読み出されて記憶装置１０４にインストールされている。

図１に示した構成は、このヒートマップ表示プログラムに従ってＣＰＵ１０１が実行する処理動作を説明するための機能ブロック図であり、スティックスリップ診断データ蓄積部１は記憶装置１０４内に構築され、診断データ取得部２、スティックスリップ状態量算出部３、スティックスリップ指標値算出部４およびヒートマップ表示部５はＣＰＵ１０１の処理機能として実現される。

この情報表示装置１００において、スティックスリップ診断データ蓄積部１には、図１１に示した接触摺動部３０３を有する弁軸３０１の変位より時系列に求められた第１の状態量Ｘおよび第２の状態量Ｙが診断データとして蓄積されている。この例では、第１の状態量Ｘを変位信号の１階差分の絶対値の平均とし、第２の状態量Ｙを変位信号の１階差分値の２乗平均とし、この第１の状態量Ｘと第２の状態量Ｙとがタイムスタンプｔｍと共に１つの診断データとして、スティックスリップ診断データ蓄積部１に蓄積されている。

診断データ取得部２は、スティックスリップ診断データ蓄積部１に蓄積されている時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）を取得し、スティックスリップ状態量算出部３に送る。スティックスリップ状態量算出部３は、診断データ取得部２からの時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）を入力とし、この入力された時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）毎にスティックスリップの状態量Ａ（Ａ＝Ｙ／Ｘ）を算出し、その算出したスティックスリップの状態量Ａをタイムスタンプｔｍと共にスティックスリップ指標値算出部４へ送る。

スティックスリップ指標値算出部４は、スティックスリップ状態量算出部３から送られてくるスティックスリップの状態量Ａを入力とし、この入力されたスティックスリップの状態量Ａを所定の期間区分毎にそのスティックスリップの状態量Ａの大きさを区分けする状態量の区分（後述するＤ₁〜Ｄｎ）に振り分け、このスティックスリップの状態量Ａが振り分けられた状態量の区分毎に、その状態量の区分におけるスティックスリップの状態量Ａを代表する指標値をスティックスリップの指標値Ｓとして算出する。スティックスリップ指標値算出部４は、この状態量の区分毎に算出した所定の期間区分毎のスティックスリップの指標値Ｓをヒートマップ表示部５へ送る。

ヒートマップ表示部５は、スティックスリップの状態量Ａの大きさを示す軸を第１軸（縦軸）、この第１軸に直交する第２軸（横軸）を時間軸として、状態量の区分毎に算出された所定の期間区分毎のスティックスリップの指標値Ｓの大きさを色の変化として表したヒートマップをディスプレイ１０８に表示する。

以下、図３に示すフローチャートを参照して、この情報表示装置１００における各部の機能について具体的に説明する。なお、この例では、上述においても説明したように、第１の状態量Ｘを変位信号の１階差分の絶対値の平均とし、第２の状態量Ｙを変位信号の１階差分値の２乗平均とする。また、スティックスリップの状態量を第１の状態量Ｘと第２の状態量との比（Ａ＝Ｙ／Ｘ）とする。また、所定の期間区分を１ヶ月とし、解析実施期間を１年とする。また、後述する区分Ｄ₁〜Ｄｎ（図４（ａ）参照）を状態量の区分とする。また、この状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎ毎に求めるスティックスリップの指標値Ｓを、その状態量の区分Ｄに振り分けられたスティックスリップの状態量Ａの頻度の割合とする。

この情報表示装置１００において、診断データ取得部２は、スティックスリップ診断データ蓄積部１に蓄積されている時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）を取得し（ステップＳ１０１）、スティックスリップ状態量算出部３に送る。スティックスリップ状態量算出部３は、診断データ取得部２から送られてくる時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）毎に、Ａ＝Ｙ／Ｘとしてスティックスリップの状態量Ａを算出し（ステップＳ１０２）、この算出したスティックスリップの状態量Ａをタイムスタンプｔｍと共にスティックスリップ指標値算出部４へ送る。

スティックスリップ指標値算出部４は、スティックスリップ状態量算出部３から１期間区分（１ヶ月）のスティックスリップの状態量Ａが送られてくると（ステップＳ１０３のＹＥＳ）、このスティックスリップの状態量Ａをそのスティックスリップの状態量Ａの大きさを区分けする状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎに振り分け（ステップＳ１０４）、このスティックスリップの状態量Ａが振り分けられた状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎ毎にその状態量の区分Ｄにおけるスティックスリップの状態量Ａの頻度の割合をスティックスリップの指標値Ｓとして求める（ステップＳ１０５）。

診断データ取得部２、スティックスリップ状態算出部３、スティックスリップ指標値算出部４は、上述したステップＳ１０１〜Ｓ１０５の処理を解析実施期間（１年）が終了するまで繰り返す。そして、解析実施期間（１年）が終了すると（ステップＳ１０６のＹＥＳ）、ヒートマップ表示部５は、縦軸をスティックスリップの状態量Ａの大きさを示す軸、横軸を時間軸として、状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎ毎に算出された所定の期間区分毎のスティックスリップの指標値Ｓの大きさを色の変化として表したヒートマップを表示する（ステップＳ１０７）。

図４（ａ）は、このようにして表示されたヒートマップの一例である。同図において、縦軸はスティックスリップの状態量Ａの大きさを示す軸であり、横軸は時間軸である。なお、縦軸は、対数目盛とされている。この図に示されるように、スティックスリップの状態量Ａの大きさを示す軸の目盛りを等間隔で区切った区分Ｄ₁〜Ｄｎを状態量の区分とし、この状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎ毎に算出された１期間区分（１ヶ月）毎のスティックスリップの指標値Ｓ（頻度割合）の大きさが色の変化として表示される。

このヒートマップでは、スティックスリップスリップ指標値Ｓの大きさが大きくなるほど、すなわちスティックスリップの状態量Ａの頻度の割合が大きくなるほど、その状態量の区分Ｄが濃い色で表示される。このヒートマップから、１期間区分（１ヶ月）毎に、スティックスリップを表す状態量Ａがどのような分布であるかということと、スティックスリップの状態量Ａの経時変化を同時に捉えることが可能となる。

参考として、図４（ａ）における期間区分＃４における状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎに振り分けられたスティックスリップの状態量Ａの頻度を図４（ｂ）に、この振り分けられたスティックスリップの状態量Ａの頻度の割合として算出されたスティックスリップスリップ指標値Ｓを図４（ｃ）に示す。また、別の例として、図４（ａ）における期間区分＃７（図５（ａ）に転記）における状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎに振り分けられたスティックスリップの状態量Ａの頻度を図５（ｂ）に、この振り分けられたスティックスリップの状態量Ａの頻度の割合として算出されたスティックスリップスリップ指標値Ｓを図５（ｃ）に示す。

〔実施の形態２〕
スティックスリップの状態量Ａ（Ａ＝Ｙ／Ｘ）は、一般的に値が小さい正常時の頻度が高く、大きな値の頻度は少ない。このため、単純にスティックスリップの状態量Ａの頻度をスティックスリップの指標値Ｓとしてヒートマップを作成した場合には、診断にはさほど寄与しない正常時の頻度が最大値となり、経時変化を捉えたいスティックスリップの状態量Ａの値が大きい異常時の頻度の変化を色の差として捉えにくい。そこで、実施の形態２では、値が小さい正常時のスティックスリップの状態量Ａの重みを小さくするようにして、値が大きく診断に有効なスティックスリップの状態量Ａの頻度の変化を色の差として捉え易くする。

図６に本発明の実施の形態２に係る情報表示装置２００の要部を示す。この情報表示装置２００では、重み付け部６を設け、スティックスリップ状態量算出部３によって算出されたスティックスリップの状態量Ａに重みｗを付加するようにしている。また、スティックスリップ指標値算出部４では、スティックスリップの状態量Ａが振り分けられた状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎ毎に、その状態量の区分におけるスティックスリップの状態量Ａに付加されている重みの和の割合をスティックスリップの指標値Ｓとして求めるようにしている。実施の形態２におけるスティックスリップ指標値算出部４を、実施の形態１におけるスティックスリップ指標値算出部４と区別するために、スティックスリップ指標値算出部４’とする。

図７に図３に対応するフローチャートを示す。この実施の形態２の情報表示装置２００において、診断データ取得部２は、スティックスリップ診断データ蓄積部１に蓄積されている時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）を取得し（ステップＳ２０１）、スティックスリップ状態量算出部３に送る。スティックスリップ状態量算出部３は、診断データ取得部２から送られてくる時系列の診断データ（Ｘ，Ｙ，ｔｍ）毎に、Ａ＝Ｙ／Ｘとしてスティックスリップの状態量Ａを算出し（ステップＳ２０２）、この算出したスティックスリップの状態量Ａを重み付け部６へ送る。

重み付け部６は、スティックスリップ状態量算出部３によって算出されたスティックスリップの状態量Ａに重みｗを付加する（ステップＳ２０３）。この例では、スティックスリップの状態量Ａの大きさに応じた重みｗとして、スティックスリップの状態量Ａの閾値Ａｔｈより小さい領域に対して線形に減少する重みｗを定めている（図８参照）。なお、図９に示すように、スティックスリップの状態量Ａの算出に用いられた第１の状態量Ｘの大きさに応じた重みを付加するようにしてもよい。

重み付け部６は、この重みｗを付加したスティックスリップの状態量Ａをタイムスタンプｔｍと共にスティックスリップ指標値算出部４’へ送る。スティックスリップ指標値算出部４’は、重み付け部６から１期間区分（１ヶ月）のスティックスリップの状態量Ａが送られてくると（ステップＳ２０４のＹＥＳ）、このスティックスリップの状態量Ａをそのスティックスリップの状態量Ａの大きさを区分けする状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎに振り分け（ステップＳ２０５）、このスティックスリップの状態量Ａが振り分けられた状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎ毎にその状態量の区分Ｄにおけるスティックスリップの状態量Ａに付加されている重みｗの和の割合をスティックスリップの指標値Ｓとして求める（ステップＳ２０６）。

診断データ取得部２、スティックスリップ状態算出部３、重み付け部６、スティックスリップ指標値算出部４’は、上述したステップＳ２０１〜Ｓ２０６の処理を解析実施期間（１年）が終了するまで繰り返す。そして、解析実施期間（１年）が終了すると（ステップＳ２０７のＹＥＳ）、ヒートマップ表示部５は、縦軸をスティックスリップの状態量Ａの大きさを示す軸、横軸を時間軸として、状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎ毎に算出された所定の期間区分毎のスティックスリップの指標値Ｓの大きさを色の変化として表したヒートマップを表示する（ステップＳ２０８）。

図１０は、このようにして表示されたヒートマップの一例である。同図において、縦軸はスティックスリップの状態量Ａの大きさを示す軸（対数目盛とされている軸）であり、横軸は時間軸である。また、図中、ラインIIIはスティックスリップの状態量Ａの大きさに対しての閾値を示す線である。この図に示されるように、スティックスリップの状態量Ａの大きさを示す軸の目盛りを等間隔で区切った区分Ｄ₁〜Ｄｎを状態量の区分とし、この状態量の区分Ｄ₁〜Ｄｎ毎に算出された１期間区分（１ヶ月）毎のスティックスリップの指標値（重み和の割合）Ｓの大きさが色の変化として表示される。

このヒートマップでは、スティックスリップスリップ指標値Ｓの大きさが大きくなるほど、すなわちスティックスリップの状態量Ａの重み和の割合が大きくなるほど、その状態量の区分Ｄが濃い色で表示される。スティックスリップの指標値Ｓを重み和の割合とすることにより、図４（ａ）に示したヒートマップと比較して、すなわちスティックスリップの指標値Ｓを頻度割合とする場合と比較して、閾値付近の分布の経時変化をより捉え易くなっていることが分かる。なお、実施の形態２において、スティックスリップの状態量Ａに対する重みｗを全て１とすると、スティックスリップの指標値Ｓはスティックスリップの状態量Ａの頻度割合となる。

〔実施の形態の拡張〕
以上、実施の形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明の技術思想の範囲内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。

１…スティックスリップ診断データ蓄積部、２…診断データ取得部、３…スティックスリップ状態量算出部、４（４’）…スティックスリップ指標値算出部、５…ヒートマップ表示部、６…重み付け部、１００，２００…情報表示装置、３００…バルブ、３０１…弁軸、３０２…グランドパッキン、３０３…摺動接触部。

Claims

接触摺動部を有する可動部の変位より時系列に求められた第１の状態量および第２の状態量を診断データとして蓄積する診断データ蓄積手段と、
前記診断データ蓄積手段に蓄積されている時系列の診断データを取得する診断データ取得手段と、
前記診断データ取得手段によって取得された時系列の診断データ毎にスティックスリップの状態量を算出するスティックスリップ状態量算出手段と、
前記スティックスリップ状態量算出手段によって算出されたスティックスリップの状態量を所定の期間区分毎にそのスティックスリップの状態量の大きさを区分けする状態量の区分に振り分け、このスティックスリップの状態量が振り分けられた状態量の区分毎にその状態量の区分におけるスティックスリップの状態量を代表する指標値をスティックスリップの指標値として算出するスティックスリップ指標値算出手段と、
前記スティックスリップの状態量の大きさを示す軸を第１軸、この第１軸に直交する第２軸を時間軸として、前記状態量の区分毎に算出された前記所定の期間区分毎の前記スティックスリップの指標値の大きさを色の変化として表したヒートマップを表示するヒートマップ表示手段と
を備え、
前記スティックスリップ指標値算出手段は、
前記状態量の区分に振り分けられたスティックスリップの状態量の頻度の割合を前記スティックスリップの指標値として算出することを特徴とする情報表示装置。
接触摺動部を有する可動部の変位より時系列に求められた第１の状態量および第２の状態量を診断データとして蓄積する診断データ蓄積手段と、
前記診断データ蓄積手段に蓄積されている時系列の診断データを取得する診断データ取得手段と、
前記診断データ取得手段によって取得された時系列の診断データ毎にスティックスリップの状態量を算出するスティックスリップ状態量算出手段と、
前記スティックスリップ状態量算出手段によって算出されたスティックスリップの状態量を所定の期間区分毎にそのスティックスリップの状態量の大きさを区分けする状態量の区分に振り分け、このスティックスリップの状態量が振り分けられた状態量の区分毎にその状態量の区分におけるスティックスリップの状態量を代表する指標値をスティックスリップの指標値として算出するスティックスリップ指標値算出手段と、
前記スティックスリップの状態量の大きさを示す軸を第１軸、この第１軸に直交する第２軸を時間軸として、前記状態量の区分毎に算出された前記所定の期間区分毎の前記スティックスリップの指標値の大きさを色の変化として表したヒートマップを表示するヒートマップ表示手段と、
前記スティックスリップ状態量算出手段によって算出されたスティックスリップの状態量に重みを付加する重み付け手段と
を備え、
前記スティックスリップ指標値算出手段は、
前記状態量の区分に振り分けられたスティックスリップの状態量に付加された重みの和の割合を前記スティックスリップの指標値として求める
ことを特徴とする情報表示装置。
請求項２に記載された情報表示装置において、
前記重み付け手段は、
前記スティックスリップの状態量にそのスティックスリップの状態量の大きさに応じた重みを付加する
ことを特徴とする情報表示装置。
請求項２に記載された情報表示装置において、
前記重み付け手段は、
前記スティックスリップの状態量にそのスティックスリップの状態量の算出に用いられた前記第１の状態量の大きさに応じた重みを付加する
ことを特徴とする情報表示装置。