JP2007183231A - 渦電流探傷信号処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 検査対象物の探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータから教示された欠陥部及び非欠陥部のデータに基づいて、欠陥部と非欠陥部を識別する判別境界を算出するステップと、前記判別境界に直交する法線ベクトルに前記ベクトルデータを射影して、探傷位置ごとの振幅値に変換し、所定の閾値以上の領域を欠陥部とするステップとを備える、非破壊検査のための渦電流探傷信号処理方法。
【選択図】図3
Description
また、プローブを一定方向に走査した際のX振幅及びY振幅の変化をX−Y平面にプロットし、そのプロットを結んで波形を得る。以下、この波形をリサージュ波形という。
しかしながら、実際は、金属材質の変化や溶接部の存在などの原因により、単一のスカラー量のみから欠陥の有無を判定することは難しい。そのため、リサージュ波形のパターンから欠陥か否かを判定しているのが実状である。この欠陥のパターンは、あらかじめ準備した既知の長さ及び深さを有する人工欠陥(EDMスリット)をもった校正用試験片から得られるリサージュ波形を参考にして、それに類似したパターンのリサージュ波形を持つ部分を欠陥と判定する。一例として、文献「A.Dogandzic & P.Xiang、”A Statistical Model for Eddy−Current Signals from Generator Tubes”,Review of Quantitative Nondestructive Evaluation,Vol.23,p.605−612(2004)」では、欠陥部から得られる信号を統計モデルで表現し、その統計モデルに基づいて欠陥の有無を判定している。なお、本明細書において、人工欠陥とは、金属片に加工装置等を用いて人工的に作成した模擬亀裂であって、その長さ、深さ、幅が既知の欠陥をいう。
A.ドガンジック及びP.キング(A.Dogandzic & P.Xiang)共著、「定量的非破壊評価に関するレビュー誌(Review of Quantitative Nondestructive Evaluation; 論文タイトル:蒸気発生器から得られる渦電流信号の統計モデル(A Statistical Model for Eddy−Current Signals from Generator Tubes)」,Vol.23,2004年,p.605−612
このような不正確性を補正し元の欠陥形状を復元計測する方法として、デコンボルーション(Deconvolution)と呼ばれる方法がある。コンボルーション(Convolution;畳み込み積分)が欠陥形状に空間応答関数を掛け算処理した形で得られるのに対して、デコンボルーション処理は、微分処理に対応するような逆行列演算が必要である。したがって、デコンボルーションは一般的に、演算が難しいとされている。
[課題を解決するための手段及び発明の効果]
したがって、従来、リサージュ波形の定性的判断で行われていた欠陥の判定が客観的で定量的なものになり、欠陥の自動識別が可能になる利点がある。
さらに、検出性能の尺度となるSN比も定義できるので、異なる渦電流探傷プローブの検出性能の相互比較も可能になる。
また好ましくは、所定の閾値以下の前記振幅値をゼロにすることにより、欠陥部の信号のみを残した閾値フィルタリングをするステップを更に備える。したがって、欠陥部以外をゼロとおくことで視認性を良くする他、後述するデコンボリューション演算において不要なノイズの混入を防ぐという利点がある。
また好ましくは、所定の校正用試験片を探傷して得られるベクトルデータから、渦電流探傷プローブの空間応答関数を人工欠陥の長手方向およびこれに直交する二つの方向に依存した形で求めるステップと、前記空間応答関数を用いて、前記検査対象物の前記ベクトルデータのデコンボルーションをおこない、前記空間応答特性を補正した前記検査対象物の自然欠陥の形状復元データを得るステップとを更に備える。
したがって、元の欠陥形状を正確に復元することが可能であり、従来の探傷信号処理方法と比較して探傷の精度が上がり得る利点がある。
また好ましくは、前記空間応答関数を用いて、前記検査対象物の欠陥検出確率が所定の値以上になるように、前記プローブの前記検査対象物に対する走査ピッチを所定の値に設定する。したがって、検査時間の短縮に寄与できるほか、異なる特性の探傷プローブに関して、同等の検出確率になる探傷条件を設定できるなど検査手順の標準化にも役立てることができる利点がある。
また好ましくは、前記検査対象物及び前記校正用試験片を夫々探傷して得られる各前記ベクトルデータは夫々、探傷位置ごとのX振幅及びY振幅と前記探傷位置の近傍の探傷信号出力値であるX振幅及びY振幅とからなる。したがって、探傷位置のX振幅及びY振幅だけでなくその近傍のX振幅及びY振幅を使うことで、前記リサージュ波形のパターンと等価な情報とすることができ、従来の専門家による定性的判断結果により近い判断を自動的に行うことができるという利点がある。
本発明の他の渦電流探傷信号処理方法によれば、既知の長さ及び深さを有する人工欠陥を付与した校正用試験片を提供するステップと、前記校正用試験片の探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータから教示された欠陥部及び非欠陥部のデータに基づいて、欠陥部と非欠陥部を識別する判別境界を算出するステップと、前記検査対象物の探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータを得るステップと、前記判別境界に直交する法線ベクトルに前記検査対象物の前記ベクトルデータを射影して、探傷位置ごとの振幅値に変換し、この振幅値が所定の閾値以上の領域を欠陥部とするステップとを備える。
この方法の利点は、段落0010で述べた利点と大略同様である。
図1中、探傷装置1は、検査対象物である金属片4の組織内部の(例えば線状の)自然欠陥4aを非破壊で外部から計測するための装置である。渦電流探傷プローブ2及び情報処理装置3は夫々、同装置1に接続されている。
探傷プローブ2を金属片4の表面上で欠陥4aの長手方向に対して平行に走査4bして、探傷位置ごとの渦電流探傷信号出力値を計測する。ここで、渦電流探傷信号出力値のうち、プローブを構成するコイルのインダクタンスとレジスタンス(抵抗)に対応する量、またはそれらの位相回転したものに対応する量を夫々X振幅、Y振幅という。
また、同ディスプレイ3a上に、特定の位置について欠陥4aの長手方向に対して水平方向及び垂直方向にプローブ2を走査した際のX振幅とY振幅の軌跡をリサージュ波形3cとして表示する(図2にディスプレイ3aに表示されたCスコープ3b及びリサージュ波形3cの拡大図を示す)。
上述のようにCスコープ及びリサージュ波形を得た後、上記2次元空間ベクトルデータを、注目(探傷)位置の近傍の出力値からなるデータ(X振幅及びY振幅)と合わせて多次元空間のベクトルデータに変換する。X振幅及びY振幅は夫々、複素空間の信号と同じであるので、実部と虚部の信号とみることにより、Yre(x,y)、Yim(x,y)で表す。小文字の(x,y)は、検査対象物の空間座標位置である。
次ぎに、判別境界を求めるための線形識別関数を計算する。この線形識別関数に直交する法線ベクトルと上記多次元空間ベクトルとの内積をとることにより、多次元空間ベクトルを法線ベクトルに射影して、探傷位置ごとの振幅値に変換する。この振幅値はスカラー量であるから、Cスコープ画像を生成することができる。このようにして得られたCスコープ画像を利用して、所定の閾値以上の領域を欠陥部とすることにより、欠陥部の識別をすることができる。
すなわち、従来の典型的な探傷方法が、Cスコープ画像とリサージュ波形とから、探傷プローブごとに検査員の経験則に基づいて欠陥か否かを判定するのに対して、本発明に係る渦電流探傷信号処理方法は、線形識別関数を用いて欠陥を自動識別する点で相違する。
図4中、符号3dはCスコープ3b上の欠陥部ベクトルを示し、符号3eはCスコープ3b上の非欠陥部ベクトルを示す。
図5中、符号3fは欠陥部ベクトル3d(図4参照)に対応する欠陥部の代表的なリサージュ波形を示し、符号3gは非欠陥部ベクトル3e(図4参照)に対応する代表的なリサージュ波形を示す。なお、図5中のグラフの横軸は探傷プローブの出力のうちX振幅に対応する電圧値(V)であり、縦軸は探傷プローブの出力のうちY振幅に対応する電圧値(V)である。
本実施例では、y方向に−5〜+5点の合計11点のリサージュ波形を、各探傷位置で定義する。したがって、式1中のZは、22次元のベクトルを構成する。勿論、リサージュ波形をとる点の数は11点に限られない。すなわち、点の数は複数であればよく、自然欠陥の長さや深さ等の条件により適宜決定される。
まず、式1の計測信号Z(x,y)を次の二つのグループに分ける。
1)欠陥信号部 ωS : {Zs(x,y) | (x,y)∈欠陥部}
2)ノイズ信号部 ωN : {Zn(x,y) | (x,y)∈非欠陥部}
この二つのグループの平均値を
まず、検査対象物の探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータZを得る。
続いて、次式
g(Z)=0
を使用して判別境界を得る。すなわち、式3の関数gにより、多次元空間ベクトルである計測信号Zの次元を1次元減じ、判別境界を得る。例えば、計測信号Zが平面の場合は、判別境界は線として得ることができ、計測信号Zが3次元空間の場合は、判別境界は平面として得ることができる。
次ぎに、関数gのZに(x,y)位置での計測値Zm(x,y)を代入したときの関数値tを次式にて得る。
t=g(Zm(x,y))
このことは、判別境界に直交する法線ベクトルに多次元空間ベクトルである計測信号Zm(x,y)を射影して数値tを得ることと等価である。ここで、数値tは探傷位置ごとの振幅値を意味する。すべての走査位置(x,y)に対して、t=g(Zm(x,y))の最大値を求めることで、欠陥信号部の最大振幅値tmaxとその最大位置(xmax,ymax)、すなわち、最大欠陥深さの位置を求めることができる。また、この最大振幅値tmaxを基準にして所定の閾値(例えば、−12dB相当の閾値)を求め、それ以上の値を持つ部分を欠陥部として自動識別することができる。
もちろん、この信号の大きさは、中点の定義にも依存するので、
すなわち、検査対象物を探傷した渦電流探傷プローブにより、校正用試験片を探傷して得られる探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータから、式(3)における欠陥信号部のmSとΣSを求める。欠陥信号部のmSとΣSを用いて、線形識別関数を求める。そうすると、未知の検査対象物に対して、前記の方法を適用することが可能になる。
このような校正用試験片を使用する方法により、実際の検査対象物では明確な欠陥信号がみられない条件下においても、欠陥を明確に自動識別し得る利点がある。なお、校正用試験片は渦電流探傷では標準的に用いられているため、実施上の制約にはならない。
同図中、X振幅のCスコープ5aとY振幅のCスコープ5bは、検査対象物の金属片を渦電流探傷して結果である。なお、各Cスコープに付された目盛りの単位はcmであり、プローブの走査の空間位置を示す。
金属片は、溶接部と溶接部の近傍に溶接線平行に長さ10mm、深さ2mmの矩形の人工欠陥とを有する。X振幅Cスコープ5aの中央に見られる横長部分5c(Cスコープ5a中、特に濃い寒色で描かれている)が、人工欠陥に対応する。
しかし、金属片を水平方向に横切っている溶接部のノイズ信号に対応する横長部分5d(Cスコープ5a中、特に濃い暖色で描かれている)の影響で、欠陥を明確に識別できない。
なお、図7は囲み部分5eの拡大図であり、図8は囲み部分5fの拡大図である。
図9は、この線形識別関数の値をCスコープ6として表現したものである。Cスコープ6において、欠陥部がプラス領域6a(Cスコープ6中、暖色で表示される)を表し、非欠陥部がマイナス領域6b(Cスコープ6中、6a以外の寒色で表示された領域)を表す。
したがって、同図をみれば明らかなように、明確に欠陥部を識別することができる。
Cスコープ7中、欠陥部がプラス領域7a(Cスコープ7中、暖色で表示される)を表し、非欠陥部がマイナス領域7b(Cスコープ7中、7a以外の寒色で表示された領域)を表す。図10をみれば明らかなように、この閾値フィルタリング後のCスコープ7を使用することにより、上記溶接部のノイズ信号5dの影響を排除して、より一層明確に欠陥部の自動識別をすることが可能である。
なお、探傷信号処理をする際に、上述のように2次元空間ベクトルデータから多次元空間のベクトルデータに変換することなく、2次元空間ベクトルデータのみに基づいて処理してもよい。
渦電流計測信号は、プローブの大きさが有限であるため、空間的に広がった応答特性をもつ。したがって、以下の式5のように、欠陥信号W(x,y)が点応答関数(Point Spread Function、又はPSF(x,y))によって平滑化された形で観測される。式5は、畳み込み積分の形をしており、通常、コンボルーション(Convolution)と呼ばれる。なお、W(x,y)及びPSF(x,y)中のx、yは、プローブの空間位置を示す。
本発明に係る信号処理方法において、この等価PSF(x,y)とLSF(x,y)の関係は、次式で定義される。
図11中、符号8aは実測値(全振幅)のLSF(x,y)のCスコープ図を示す。符号8bは前記実測値のLSF(x,y)の広がり幅(Rx、Ry)をフィッティング(最適化)した後の式8から得られるCスコープ図を示す。なお、各Cスコープ8a,8bに付された目盛りの単位は、cmでプローブの空間位置に対応したものである。
上記フィッティングにより、広がり幅は、欠陥平行方向をxとして、
図12中、符号8cはLSF(x,y)欠陥平行方向分布を示し、符号8dはLSF(x,y)欠陥直交方向分布を示す(いずれの分布においても、実線のグラフが実測値を示し、破線のグラフがフィッティング値を示す。)。両分布8c、8dにおいて、欠陥平行及び直交方向の実測値とフィッティング値のプロファイルはよく一致しており、妥当なLSFが求まっていることがわかる。
従来の方法では、フィッティングしたLSFを等方近似してPSFを求めている。これに対して、本発明に係る方法では、異方性を取り入れることが可能であり、より正確な欠陥形状の復元ができる利点がある。
図14中、符号10aは実測Cスコープを表し、符号10bはデコンボリューション後(復元後)の欠陥Cスコープを表す。
図15中の符号11は、LSF(x,y)欠陥平行方向分布を示す。同図中、実線のグラフ11aが実測値を示し、破線のグラフ11bがフィッティング値を示す。なお、同分布中、横軸がプローブの走査位置(単位:mm)、すなわち欠陥長さに対応し、縦軸が全振幅の電圧値(V)である。
図14中の復元前のCスコープ10a及び復元後のCスコープ10bと、図15中の実測値(復元前)のグラフ11a及びフィッティング値(復元後)のグラフ11bとを参照すると、復元後の欠陥形状がより鋭くなっており、元の欠陥形状(長さ10mm、深さ2mmの線状欠陥)により近くなっていることがわかる。
図15中、フィッティング値のグラフ11bは横軸上の9−19に亘っており、復元後の長さは約10mmである。一方、実測値のグラフ11aは横軸上の8−20に亘っており、復元前(実測値)の長さは約12mmである。すなわち、実測値(復元前)のグラフ11aは欠陥の長さを過大評価している。したがって、本手法は、定量的にも非常に精度よく復元評価している。
微小欠陥を探傷する場合、空間的な走査ピッチを小さくするほど欠陥を見逃す検出確率を小さくできる。
しかしながら、過度に小さな走査ピッチでは、検査時間が長くかかり効率的ではない。さらに、プローブの大きさに依存した空間応答特性を考慮すると、過度に小さな走査ピッチは、検出確率の向上に寄与しない場合がある。従来技術として、実測したLSFを元に走査ピッチを決定する手法が提案されている(T.Ray,et.al,”Index size determination with varying coil diameters for improved automated eddy current inspections on aerospace engine components”,Review of Quantitative Nondestructive Evaluation,Vol.24,p.767−774(2005))。
図16中、符号12は第2の実施例で求めたLSF(x,y)のCスコープ図を示したものであり、符号13はY方向断面の分布(プロファイル)13aを示すためのグラフであり、符号14はX方向断面の分布(プロファイル)14aを示すためのグラフである。
グラフ13において、欠陥直交方向(Y方向)の走査ピッチとして、dyを設定すると、LSFのX座標中心位置x0の位置でのY方向断面プロファイルで、最大位置y0を中心にしてdy/2の点、すなわち、
この両者の比から、走査ピッチdyを決めた際の、欠陥のピーク検出確率を、
逆に、欠陥ピーク検出確率Pdを所定の値に決めると、式11と式9から
また、不必要に小さな走査ピッチになっていないことの確認や、大きさの異なるプローブを用いた探傷をおこなう場合においても同等の検出確率での走査ピッチを設定できるなど、探傷手順の標準化にも役立てることができる利点がある。
さらに、式8のLSF(x,y)が等価PSFの積分という解析関数で表現されているため、検査時の要求仕様として定義できる線状欠陥の長さに応じて、LSF(x,y)の形状を計算で求めることができる。したがって、実際に用いる際の柔軟性が増し得る利点がある。さらに、線状欠陥の長手方向に応じて異なる広がり幅を考慮できるため、より精度の良い走査ピッチの評価が可能になる利点がある。
2 渦電流探傷プローブ
3b Cスコープ
5a X振幅Cスコープ
5c 人工欠陥に対応する横長部分
6 Cスコープ
6a 欠陥部に対応するプラス領域
8a 実測値のLSF(x,y)のCスコープ
Claims (8)
- 検査対象物表面の金属組織内部の自然欠陥を非破壊で外部から計測するための渦電流探傷信号処理方法において、
前記検査対象物の探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータから教示された欠陥部及び非欠陥部のデータに基づいて、欠陥部と非欠陥部を識別する判別境界を算出するステップと、
前記判別境界に直交する法線ベクトルに前記ベクトルデータを射影して、探傷位置ごとの振幅値に変換し、この振幅値が所定の閾値以上の領域を欠陥部とするステップとを備えることを特徴とする、渦電流探傷信号処理方法。 - 前記判別境界は線形識別関数で決められる境界であることを特徴とする、請求項1に記載の渦電流探傷信号処理方法。
- 所定の閾値以下の前記振幅値をゼロにすることにより、欠陥部の信号のみを残した閾値フィルタリングをするステップを更に備えることを特徴とする、請求項1又は2に記載の渦電流探傷信号処理方法。
- 既知の長さ及び深さを有する人工欠陥を付与した校正用試験片を提供するステップと、
前記検査対象物を探傷した渦電流探傷プローブにより、前記校正用試験片を探傷して得られる探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータから、前記プローブの空間応答関数を前記人工欠陥の長手方向およびこれに直交する方向に依存した形で求めるステップと、
前記空間応答関数を用いて、前記検査対象物の前記ベクトルデータのデコンボルーションをおこない、前記プローブの空間応答特性を補正した前記検査対象物の自然欠陥の形状復元データを得るステップとを更に備えることを特徴とする、請求項1乃至3の何れか1項に記載の渦電流探傷信号処理方法。 - 前記空間応答関数を等価PSFの形で求めることを特徴とする、請求項4に記載の渦電流探傷信号処理方法。
- 前記空間応答関数を用いて、前記検査対象物の欠陥検出確率が所定の値以上になるように、前記プローブの前記検査対象物に対する走査ピッチを所定の値に設定することを特徴とする、請求項4又は5に記載の記載の渦電流探傷信号処理方法。
- 前記検査対象物及び前記校正用試験片を夫々探傷して得られる各前記多次元空間ベクトルデータは、探傷位置ごとのX振幅及びY振幅と前記探傷位置の近傍の探傷信号出力値であるX振幅及びY振幅とからなることを特徴とする、請求項4乃至6の何れか1項に記載の渦電流探傷信号処理方法。
- 検査対象物表面の金属組織内部の自然欠陥を非破壊で外部から計測するための渦電流探傷信号処理方法において、
既知の長さ及び深さを有する人工欠陥を付与した校正用試験片を提供するステップと、
前記校正用試験片の探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータから教示された欠陥部及び非欠陥部のデータに基づいて、欠陥部と非欠陥部を識別する判別境界を算出するステップと、
前記検査対象物の探傷位置ごとの渦電流探傷信号からなる多次元空間のベクトルデータを得るステップと、
前記判別境界に直交する法線ベクトルに前記検査対象物の前記ベクトルデータを射影して、探傷位置ごとの振幅値に変換し、この振幅値が所定の閾値以上の領域を欠陥部とするステップとを備えることを特徴とする、渦電流探傷信号処理方法。
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