JP6748688B2 - Photoelectric conversion device - Google Patents

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Description

本発明は、光電変換装置に関する。 The present invention relates to a photoelectric conversion device.

太陽光エネルギを電気エネルギに直接変換する太陽電池は、近年、特に、地球環境問題の観点から、次世代のエネルギ源としての期待が急激に高まっている。太陽電池には、化合物半導体または有機材料を用いたものなど様々な種類のものがあるが、現在、主流となっているのは、シリコン結晶を用いたものである。 In recent years, solar cells, which directly convert sunlight energy into electric energy, have been rapidly expected to be used as a next-generation energy source from the viewpoint of global environmental problems. There are various types of solar cells, such as those using compound semiconductors or organic materials, but the ones that are currently the mainstream are those using silicon crystals.

現在、最も多く製造および販売されている太陽電池は、太陽光が入射する側の面である受光面と、受光面の反対側である裏面とにそれぞれ電極が形成された構造のものである。 Currently, the most manufactured and sold solar cells have a structure in which electrodes are formed on a light receiving surface that is a surface on which sunlight is incident and a back surface that is an opposite side to the light receiving surface.

しかしながら、受光面に電極を形成した場合には、電極における太陽光の反射および吸収があることから、電極の面積分だけ入射する太陽光の量が減少する。そのため、裏面のみに電極を形成した太陽電池の開発が進められている(たとえば特許文献1参照)。 However, when an electrode is formed on the light receiving surface, sunlight is reflected and absorbed by the electrode, so that the amount of incident sunlight decreases by the area of the electrode. Therefore, development of a solar cell in which an electrode is formed only on the back surface is underway (see, for example, Patent Document 1).

図19に、特許文献1に記載の配線シート付き太陽電池の模式的な断面図を示す。図19に示される従来の配線シート付き太陽電池は、裏面電極型太陽電池セル100と、配線シート200と、裏面電極型太陽電池セル100と配線シート200との間の絶縁性樹脂300とを有している。 FIG. 19 shows a schematic cross-sectional view of the solar cell with a wiring sheet described in Patent Document 1. The conventional solar cell with a wiring sheet shown in FIG. 19 includes a back electrode type solar cell 100, a wiring sheet 200, and an insulating resin 300 between the back electrode type solar cell 100 and the wiring sheet 200. doing.

裏面電極型太陽電池セル100は、n型またはp型のいずれかの導電型を有する多結晶シリコンまたは単結晶シリコンなどからなる基板101と、基板101の裏面に設けられたn型不純物拡散領域102およびp型不純物拡散領域103と、n型不純物拡散領域102上に設けられたn型用銀電極111と、p型不純物拡散領域103上に設けられたp型用銀電極112とを有している。 The back electrode type solar cell 100 includes a substrate 101 made of polycrystalline silicon or single crystal silicon having either n-type or p-type conductivity, and an n-type impurity diffusion region 102 provided on the back surface of the substrate 101. And a p-type impurity diffusion region 103, an n-type silver electrode 111 provided on the n-type impurity diffusion region 102, and a p-type silver electrode 112 provided on the p-type impurity diffusion region 103. There is.

n型不純物拡散領域102は、n型不純物を含むガスを用いた気相拡散またはn型不純物を含むペーストを塗布した後に熱処理する塗布拡散などの方法により形成される(特許文献1の段落[0076])。また、p型不純物拡散領域103は、p型不純物を含むガスを用いた気相拡散またはp型不純物を含むペーストを塗布した後に熱処理する塗布拡散などの方法により形成される(特許文献1の段落[0076])。 The n-type impurity diffusion region 102 is formed by a method such as vapor-phase diffusion using a gas containing an n-type impurity or coating diffusion in which a paste containing an n-type impurity is applied and then heat-treated (see paragraph [0076] of Patent Document 1. ]). Further, the p-type impurity diffusion region 103 is formed by a method such as vapor-phase diffusion using a gas containing a p-type impurity or coating diffusion in which a paste containing a p-type impurity is applied and then heat treated (Patent Document 1 paragraph). [0076]).

配線シート200は、絶縁性基材201と、絶縁性基材201上に設けられたn型用銅配線202とp型用銅配線203とを有している。絶縁性基材201としては、たとえば、ポリエステル、ポリエチレンナフタレートまたはポリイミドなどが用いられる(特許文献1の段落[0090])。絶縁性樹脂300としては、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、またはエポキシ樹脂とアクリル樹脂との混合樹脂が用いられる(特許文献1の段落[0098])。 The wiring sheet 200 has an insulating base material 201, an n-type copper wiring 202 and a p-type copper wiring 203 provided on the insulating base material 201. As the insulating base material 201, for example, polyester, polyethylene naphthalate, polyimide, or the like is used (paragraph [0090] of Patent Document 1). An epoxy resin, an acrylic resin, or a mixed resin of an epoxy resin and an acrylic resin is used as the insulating resin 300 (paragraph [0098] of Patent Document 1).

図19に示される従来の配線シート付き太陽電池においては、n型用銀電極111の幅W5方向の端およびp型用銀電極112の幅W6方向の端が、それぞれ、n型用銅配線202の幅W7方向の端およびp型用銅配線203の幅W8方向の端からはみ出ないようにすることによって、n型用銀電極111およびp型用銀電極112の表面にかかる電界強度の急激な増加を抑制して、イオンマイグレーションに起因する特性の低下を安定して抑制することができるとされている(特許文献1の段落[0061])。 In the conventional solar cell with a wiring sheet shown in FIG. 19, an end of the n-type silver electrode 111 in the width W5 direction and an end of the p-type silver electrode 112 in the width W6 direction are respectively n-type copper wirings 202. Of the p-type copper wiring 203 and the end of the p-type copper wiring 203 in the width W8 direction so that the electric field strength applied to the surfaces of the n-type silver electrode 111 and the p-type silver electrode 112 is sharp. It is said that the increase can be suppressed and the deterioration of the characteristics due to ion migration can be stably suppressed (paragraph [0061] of Patent Document 1).

国際公開第2012/002270号International Publication No. 2012/002270

しかしながら、図19に示される従来の配線シート付き太陽電池の構造を、配線シートにヘテロ接合型バックコンタクトセルが電気的に接続された光電変換装置に適用した場合には、光電変換装置の特性が低下するという技術的課題があった。 However, when the structure of the conventional solar cell with a wiring sheet shown in FIG. 19 is applied to a photoelectric conversion device in which a heterojunction type back contact cell is electrically connected to the wiring sheet, the characteristics of the photoelectric conversion device are There was a technical problem of decreasing.

ここで開示された実施形態は、ヘテロ接合型バックコンタクトセルと、ヘテロ接合型バックコンタクトセルと電気的に接続されている配線シートとを備え、ヘテロ接合型バックコンタクトセルは、第1導電型または第2導電型の半導体基板と、半導体基板の一方の側に設けられた第1導電型非晶質半導体膜と第2導電型非晶質半導体膜と、第1導電型非晶質半導体膜上の第1電極と、第2導電型非晶質半導体膜上の第2電極とを備え、配線シートは、絶縁性基材と、絶縁性基材上の第1配線と第2配線とを備え、第1電極は、第1配線に電気的に接続され、第2電極は、第2配線に電気的に接続されており、第1電極の幅が第1配線の幅以上であること、および第2電極の幅が第2配線の幅以上であることの少なくとも一方の関係が満たされている光電変換装置である。 The embodiment disclosed herein includes a heterojunction back contact cell and a wiring sheet electrically connected to the heterojunction back contact cell, wherein the heterojunction back contact cell has a first conductivity type or On the second conductivity type semiconductor substrate, the first conductivity type amorphous semiconductor film and the second conductivity type amorphous semiconductor film provided on one side of the semiconductor substrate, and on the first conductivity type amorphous semiconductor film And a second electrode on the second conductivity type amorphous semiconductor film, and the wiring sheet includes an insulating base material, and the first wiring and the second wiring on the insulating base material. The first electrode is electrically connected to the first wiring, the second electrode is electrically connected to the second wiring, and the width of the first electrode is equal to or larger than the width of the first wiring, and The photoelectric conversion device satisfies at least one of the relationship that the width of the second electrode is equal to or larger than the width of the second wiring.

ここで開示された実施形態によれば、配線シートにヘテロ接合型バックコンタクトセルが電気的に接続された光電変換装置の特性を向上することができる。 According to the embodiments disclosed herein, it is possible to improve the characteristics of the photoelectric conversion device in which the heterojunction type back contact cell is electrically connected to the wiring sheet.

実施形態1の光電変換装置の模式的な断面図である。3 is a schematic cross-sectional view of the photoelectric conversion device of Embodiment 1. FIG. ヘテロ接合型バックコンタクトセルの裏面の模式的な平面図である。It is a typical top view of the back of a heterojunction type back contact cell. 配線シートの模式的な平面図である。It is a schematic plan view of a wiring sheet. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例の製造工程の一部について図解する模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the example of the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment. 実施形態1の光電変換装置の模式的な平面図である。3 is a schematic plan view of the photoelectric conversion device of Embodiment 1. FIG. 実施形態2の光電変換装置の模式的な断面図である。5 is a schematic cross-sectional view of the photoelectric conversion device of Embodiment 2. FIG. 実施形態3の光電変換装置の模式的な断面図である。7 is a schematic cross-sectional view of the photoelectric conversion device of Embodiment 3. FIG. (a)は実施形態4の光電変換装置の製造工程の一部を図解する模式的な断面図であり、(b)は実施形態4の光電変換装置の模式的な断面図である。(A) is a schematic sectional drawing which illustrates a part of manufacturing process of the photoelectric conversion device of Embodiment 4, and (b) is a schematic sectional view of the photoelectric conversion device of Embodiment 4. 特許文献1に記載の配線シート付き太陽電池の模式的な断面図である。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of a solar cell with a wiring sheet described in Patent Document 1.

以下、実施形態について説明する。なお、実施形態の説明に用いられる図面において、同一の参照符号は、同一部分または相当部分を表わすものとする。 Hereinafter, embodiments will be described. In the drawings used for describing the embodiments, the same reference numerals represent the same or corresponding parts.

[実施形態1]
<光電変換装置の構成>
図1に、実施形態1の光電変換装置の模式的な断面図を示す。実施形態1の光電変換装置は、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10と、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10と電気的に接続されている配線シート20とを備えている。
[Embodiment 1]
<Structure of photoelectric conversion device>
FIG. 1 shows a schematic cross-sectional view of the photoelectric conversion device according to the first embodiment. The photoelectric conversion device according to the first embodiment includes a heterojunction type back contact cell 10 and a wiring sheet 20 electrically connected to the heterojunction type back contact cell 10.

<ヘテロ接合型バックコンタクトセル>
ヘテロ接合型バックコンタクトセル10は、n型単結晶シリコン基板である半導体基板1と、半導体基板1の一方側の表面(裏面)上に隣り合うようにして半導体基板1の裏面に接して設けられた第1のi型非晶質半導体膜2と第2のi型非晶質半導体膜4とを備えている。実施形態1においては、第1のi型非晶質半導体膜2および第2のi型非晶質半導体膜4は、それぞれ、i型非晶質シリコン膜である。
<Heterojunction type back contact cell>
The heterojunction type back contact cell 10 is provided in contact with the back surface of the semiconductor substrate 1 so as to be adjacent to the semiconductor substrate 1 which is an n-type single crystal silicon substrate and on the front surface (back surface) on one side of the semiconductor substrate 1. The first i-type amorphous semiconductor film 2 and the second i-type amorphous semiconductor film 4 are provided. In the first embodiment, each of the first i-type amorphous semiconductor film 2 and the second i-type amorphous semiconductor film 4 is an i-type amorphous silicon film.

第1のi型非晶質半導体膜2上には、第1のi型非晶質半導体膜2に接する第1導電型非晶質半導体膜3が設けられている。また、第2のi型非晶質半導体膜4上には、第2のi型非晶質半導体膜4に接する第2導電型非晶質半導体膜5が設けられている。実施形態1において、第1導電型非晶質半導体膜3はp型非晶質シリコン膜であり、第2導電型非晶質半導体膜5はn型非晶質シリコン膜である。 A first conductivity type amorphous semiconductor film 3 in contact with the first i-type amorphous semiconductor film 2 is provided on the first i-type amorphous semiconductor film 2. A second conductivity type amorphous semiconductor film 5 is provided on the second i-type amorphous semiconductor film 4 so as to be in contact with the second i-type amorphous semiconductor film 4. In the first embodiment, the first conductivity type amorphous semiconductor film 3 is a p-type amorphous silicon film, and the second conductivity type amorphous semiconductor film 5 is an n-type amorphous silicon film.

第1導電型非晶質半導体膜3上には、第1導電型非晶質半導体膜3に接する第1電極11が設けられている。また、第2導電型非晶質半導体膜5上には、第2導電型非晶質半導体膜5に接する第2電極12が設けられている。 A first electrode 11 that is in contact with the first conductivity type amorphous semiconductor film 3 is provided on the first conductivity type amorphous semiconductor film 3. A second electrode 12 that is in contact with the second conductivity type amorphous semiconductor film 5 is provided on the second conductivity type amorphous semiconductor film 5.

そして、第2のi型非晶質半導体膜4と第2導電型非晶質半導体膜5との積層体の両端部は、それぞれ、第1のi型非晶質半導体膜2と第1導電型非晶質半導体膜3との積層体の端部を覆っている。そのため、第1導電型非晶質半導体膜3と第2導電型非晶質半導体膜5との間には第2のi型非晶質半導体膜4の端部が位置しており、第2のi型非晶質半導体膜4の両端部は、それぞれ、第1導電型非晶質半導体膜3および第2導電型非晶質半導体膜5の双方と接している。これにより、第1導電型非晶質半導体膜3と第2導電型非晶質半導体膜5とは第2のi型非晶質半導体膜4によって分離されている。 Then, both ends of the stacked body of the second i-type amorphous semiconductor film 4 and the second conductive type amorphous semiconductor film 5 are respectively connected to the first i-type amorphous semiconductor film 2 and the first conductive film. The end portion of the laminated body with the amorphous semiconductor film 3 is covered. Therefore, the end of the second i-type amorphous semiconductor film 4 is located between the first conductive type amorphous semiconductor film 3 and the second conductive type amorphous semiconductor film 5, and Both ends of the i-type amorphous semiconductor film 4 are in contact with both the first conductive type amorphous semiconductor film 3 and the second conductive type amorphous semiconductor film 5, respectively. As a result, the first conductivity type amorphous semiconductor film 3 and the second conductivity type amorphous semiconductor film 5 are separated by the second i-type amorphous semiconductor film 4.

図2に、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10の裏面の模式的な平面図を示す。図2に示すように、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10の半導体基板1の裏面には、帯状の第1電極11と、帯状の第2電極12とが、間隔を空けて、第1電極11および第2電極12のそれぞれの長手方向が同一の方向となるようにして、交互に配置されている。実施形態1において、第1電極11の幅(第1電極11の長手方向と直交する方向の長さ)はW1とされ、第2電極12の幅(第2電極12の長手方向と直交する方向の長さ)はW2とされている。 FIG. 2 shows a schematic plan view of the back surface of the heterojunction type back contact cell 10. As shown in FIG. 2, on the back surface of the semiconductor substrate 1 of the heterojunction type back contact cell 10, a strip-shaped first electrode 11 and a strip-shaped second electrode 12 are provided with a space therebetween. The second electrodes 12 are arranged alternately so that their longitudinal directions are the same. In the first embodiment, the width of the first electrode 11 (the length in the direction orthogonal to the longitudinal direction of the first electrode 11) is W1, and the width of the second electrode 12 (the direction orthogonal to the longitudinal direction of the second electrode 12). The length) is W2.

<配線シート>
図3に、配線シート20の模式的な平面図を示す。配線シート20は、絶縁性基材21と、絶縁性基材21上の第1配線22と第2配線23とを備えている。第1配線22および第2配線23も、それぞれ帯状に形成されており、絶縁性基材21上で互いに間隔を空けて、これらの配線の長手方向が同一の方向となるようにして、交互に配置されている。また、複数の第1配線22の一端および複数の第2配線23の一端は、それぞれ、帯状の集電用配線24に電気的に接続されている。集電用配線24は、第1配線22および第2配線23の長手方向と直交する方向に長手方向を有するように、絶縁性基材21上に配置されている。集電用配線24は、複数の第1配線22または複数の第2配線23から電流を集電する機能を有している。
<Wiring sheet>
FIG. 3 shows a schematic plan view of the wiring sheet 20. The wiring sheet 20 includes an insulating base material 21, first wirings 22 and second wirings 23 on the insulating base material 21. The first wirings 22 and the second wirings 23 are also formed in strips, respectively, and are spaced apart from each other on the insulating base material 21 so that the longitudinal directions of these wirings are the same, and are alternately arranged. It is arranged. Further, one ends of the plurality of first wirings 22 and one ends of the plurality of second wirings 23 are electrically connected to the band-shaped current collecting wirings 24, respectively. The current collecting wiring 24 is arranged on the insulating base material 21 so as to have a longitudinal direction in a direction orthogonal to the longitudinal directions of the first wiring 22 and the second wiring 23. The current collection wiring 24 has a function of collecting current from the plurality of first wirings 22 or the plurality of second wirings 23.

絶縁性基材21としては、絶縁性の基材を用いることができ、たとえば、ポリエステル、ポリエチレンナフタレートまたはポリイミドなどのフィルムを用いることができる。 As the insulating base material 21, an insulating base material can be used, and for example, a film of polyester, polyethylene naphthalate or polyimide can be used.

第1配線22、第2配線23および集電用配線24としては、導電性材料を用いることができ、たとえば、銅などを用いることができる。なお、第1配線22、第2配線23および集電用配線24は、それぞれ、たとえば、絶縁性基材21の表面の全面に金属膜などの導電膜を形成した後に、その一部をエッチングなどにより除去してパターニングすることによって形成することができる。 A conductive material can be used for the first wiring 22, the second wiring 23, and the current collecting wiring 24. For example, copper or the like can be used. Each of the first wiring 22, the second wiring 23, and the current collecting wiring 24 is formed by, for example, forming a conductive film such as a metal film on the entire surface of the insulating base material 21 and then partially etching the conductive film. Can be formed by removing and patterning.

実施形態1において、第1配線22の幅(第1配線22の長手方向と直交する方向の長さ)はW3とされ、第2配線23の幅(第2配線23の長手方向と直交する方向の長さ)はW4とされている。 In the first embodiment, the width of the first wiring 22 (the length in the direction orthogonal to the longitudinal direction of the first wiring 22) is W3, and the width of the second wiring 23 (the direction orthogonal to the longitudinal direction of the second wiring 23). The length) is W4.

<光電変換装置の製造方法>
以下、図4〜図15の模式的断面図を参照して、実施形態1の光電変換装置の製造方法の一例について説明する。まず、図4に示すように、半導体基板1の裏面の全面に第1のi型非晶質半導体膜2を形成する。第1のi型非晶質半導体膜2の形成方法は特に限定されないが、たとえばプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法を用いることができる。
<Method for manufacturing photoelectric conversion device>
Hereinafter, an example of a method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the first embodiment will be described with reference to the schematic cross-sectional views of FIGS. First, as shown in FIG. 4, the first i-type amorphous semiconductor film 2 is formed on the entire back surface of the semiconductor substrate 1. The method for forming the first i-type amorphous semiconductor film 2 is not particularly limited, but for example, a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) method can be used.

半導体基板1としては、n型単結晶シリコン基板を好適に用いることができるがn型単結晶シリコン基板に限定されず、たとえば従来から公知のn型半導体基板を適宜用いることができる。 As the semiconductor substrate 1, an n-type single crystal silicon substrate can be preferably used, but it is not limited to the n-type single crystal silicon substrate, and for example, a conventionally known n-type semiconductor substrate can be appropriately used.

第1のi型非晶質半導体膜2としては、i型非晶質シリコン膜を好適に用いることができるがi型非晶質シリコン膜に限定されず、たとえば従来から公知のi型非晶質半導体膜を用いることもできる。 An i-type amorphous silicon film can be preferably used as the first i-type amorphous semiconductor film 2, but the first i-type amorphous semiconductor film 2 is not limited to the i-type amorphous silicon film. A high quality semiconductor film can also be used.

なお、本明細書において「i型」とは、完全な真性の状態だけでなく、十分に低濃度(n型不純物濃度が1×1015個/cm3未満、かつp型不純物濃度が1×1015個/cm3未満)であればn型またはp型の不純物が混入された状態のものも含む意味である。 Note that in this specification, "i-type" means not only a completely genuine state but also a sufficiently low concentration (n-type impurity concentration is less than 1×10 15 pieces/cm 3 and p-type impurity concentration is 1×). (Less than 10 15 pieces/cm 3 ), it is meant to include a state in which n-type or p-type impurities are mixed.

また、本明細書において「非晶質シリコン」には、シリコン原子の未結合手(ダングリングボンド)が水素で終端されていない非晶質シリコンだけでなく、水素化非晶質シリコンなどのシリコン原子の未結合手が水素で終端されたものも含まれるものとする。 Further, in the present specification, “amorphous silicon” includes not only amorphous silicon in which dangling bonds of silicon atoms are not terminated with hydrogen, but also silicon such as hydrogenated amorphous silicon. Those in which dangling bonds of atoms are terminated by hydrogen are also included.

次に、図5に示すように、第1のi型非晶質半導体膜2上に第1導電型非晶質半導体膜3を形成する。第1導電型非晶質半導体膜3の形成方法は特に限定されないが、たとえばプラズマCVD法を用いることができる。 Next, as shown in FIG. 5, a first conductivity type amorphous semiconductor film 3 is formed on the first i-type amorphous semiconductor film 2. The method for forming the first conductivity type amorphous semiconductor film 3 is not particularly limited, but a plasma CVD method can be used, for example.

第1導電型非晶質半導体膜3としては、p型非晶質シリコン膜を好適に用いることができるがp型非晶質シリコン膜に限定されず、たとえば従来から公知のp型非晶質半導体膜を用いることもできる。 A p-type amorphous silicon film can be preferably used as the first conductivity type amorphous semiconductor film 3, but the first conductivity type amorphous semiconductor film 3 is not limited to the p-type amorphous silicon film. A semiconductor film can also be used.

なお、第1導電型非晶質半導体膜3に含まれるp型不純物としては、たとえばボロンを用いることができる。また、本明細書において、「p型」とは、p型不純物濃度が1×1015個/cm3以上の状態を意味する。 As the p-type impurity contained in the first conductivity type amorphous semiconductor film 3, for example, boron can be used. Further, in the present specification, “p-type” means a state in which the p-type impurity concentration is 1×10 15 /cm 3 or more.

次に、図6に示すように、第1導電型非晶質半導体膜3上に、第1のi型非晶質半導体膜2と第1導電型非晶質半導体膜3との積層体を厚さ方向にエッチングする箇所に開口部を有するフォトレジスト等のエッチングマスク31を形成する。 Next, as shown in FIG. 6, a stacked body of the first i-type amorphous semiconductor film 2 and the first conductivity-type amorphous semiconductor film 3 is formed on the first conductivity-type amorphous semiconductor film 3. An etching mask 31 such as a photoresist having an opening is formed in a portion to be etched in the thickness direction.

次に、図7に示すように、エッチングマスク31をマスクとして、第1のi型非晶質半導体膜2と第1導電型非晶質半導体膜3との積層体の一部を厚さ方向にエッチングする。これにより、半導体基板1の裏面の一部を露出させる。その後、図8に示すように、エッチングマスク31をすべて除去する。 Next, as shown in FIG. 7, with the etching mask 31 used as a mask, a part of the stacked body of the first i-type amorphous semiconductor film 2 and the first conductivity type amorphous semiconductor film 3 is formed in the thickness direction. To etch. Thereby, a part of the back surface of the semiconductor substrate 1 is exposed. After that, as shown in FIG. 8, the etching mask 31 is entirely removed.

次に、図9に示すように、半導体基板1および第1のi型非晶質半導体膜2と第1導電型非晶質半導体膜3との積層体を覆うようにして第2のi型非晶質半導体膜4を形成する。第2のi型非晶質半導体膜4の形成方法は特に限定されないが、たとえばプラズマCVD法を用いることができる。 Next, as shown in FIG. 9, the second i-type is formed so as to cover the semiconductor substrate 1 and the stacked body of the first i-type amorphous semiconductor film 2 and the first conductivity type amorphous semiconductor film 3. The amorphous semiconductor film 4 is formed. The method for forming the second i-type amorphous semiconductor film 4 is not particularly limited, but a plasma CVD method can be used, for example.

第2のi型非晶質半導体膜4としては、i型非晶質シリコン膜を好適に用いることができるがi型非晶質シリコン膜に限定されず、たとえば従来から公知のi型非晶質半導体膜を用いることもできる。 An i-type amorphous silicon film can be preferably used as the second i-type amorphous semiconductor film 4, but the second i-type amorphous semiconductor film 4 is not limited to the i-type amorphous silicon film. A high quality semiconductor film can also be used.

次に、図10に示すように、第2のi型非晶質半導体膜4上に第2導電型非晶質半導体膜5を形成する。第2導電型非晶質半導体膜5の形成方法は特に限定されないが、たとえばプラズマCVD法を用いることができる。 Next, as shown in FIG. 10, the second conductivity type amorphous semiconductor film 5 is formed on the second i-type amorphous semiconductor film 4. The method of forming the second conductivity type amorphous semiconductor film 5 is not particularly limited, but a plasma CVD method can be used, for example.

第2導電型非晶質半導体膜5としては、n型非晶質シリコン膜を好適に用いることができるがn型非晶質シリコン膜に限定されず、たとえば従来から公知のn型非晶質半導体膜を用いることもできる。 An n-type amorphous silicon film can be preferably used as the second conductivity type amorphous semiconductor film 5, but the second conductivity type amorphous semiconductor film 5 is not limited to the n-type amorphous silicon film. A semiconductor film can also be used.

なお、第2導電型非晶質半導体膜5を構成するn型非晶質シリコン膜に含まれるn型不純物としては、たとえばリンを用いることができる。また、本明細書において、「n型」とは、n型不純物濃度が1×1015個/cm3以上の状態を意味する。 As the n-type impurity contained in the n-type amorphous silicon film forming the second conductivity type amorphous semiconductor film 5, for example, phosphorus can be used. Further, in the present specification, “n-type” means a state where the n-type impurity concentration is 1×10 15 /cm 3 or more.

次に、図11に示すように、半導体基板1の裏面上の第2のi型非晶質半導体膜4と第2導電型非晶質半導体膜5との積層体を残す部分にのみフォトレジスト等のエッチングマスク32を形成する。 Next, as shown in FIG. 11, photoresist is applied only to the portion of the back surface of the semiconductor substrate 1 where the stacked body of the second i-type amorphous semiconductor film 4 and the second conductive type amorphous semiconductor film 5 is left. Etching mask 32 is formed.

次に、エッチングマスク32をマスクとして、第2のi型非晶質半導体膜4と第2導電型非晶質半導体膜5との積層体の一部を厚さ方向にウエットエッチングすることによって、図12に示すように、第1導電型非晶質半導体膜3の一部を露出させる。その後、エッチングマスク32を完全に除去する。 Next, by using the etching mask 32 as a mask, a part of the stacked body of the second i-type amorphous semiconductor film 4 and the second conductive type amorphous semiconductor film 5 is wet-etched in the thickness direction, As shown in FIG. 12, a part of the first conductivity type amorphous semiconductor film 3 is exposed. After that, the etching mask 32 is completely removed.

次に、図13に示すように、第1導電型非晶質半導体膜3に接するように第1電極11を形成し、第2導電型非晶質半導体膜5に接するように第2電極12を形成する。第1電極11および第2電極12の形成方法も特に限定されないが、たとえば蒸着法などを用いることができる。以上により、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10が完成する。 Next, as shown in FIG. 13, the first electrode 11 is formed so as to be in contact with the first conductivity type amorphous semiconductor film 3, and the second electrode 12 is formed so as to be contact with the second conductivity type amorphous semiconductor film 5. To form. The method for forming the first electrode 11 and the second electrode 12 is also not particularly limited, but, for example, a vapor deposition method or the like can be used. As described above, the heterojunction type back contact cell 10 is completed.

次に、配線シート20の表面上に絶縁性接着剤(図示せず)を塗布した後に、図14に示すように、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10と配線シート20とを重ね合わせる。このとき、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10の第1電極11が配線シート20の第1配線22に直接接するとともに、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10の第2電極12が配線シート20の第2配線23に直接接するように、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10と配線シート20とが重ね合わせられる。これにより、第1電極11と第1配線22とが電気的に接続されるとともに、第2電極12と第2配線23とが電気的に接続される。また、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10と配線シート20とは、絶縁性接着剤を硬化させることによって固定され、機械的に接続される。 Next, after applying an insulating adhesive (not shown) on the surface of the wiring sheet 20, as shown in FIG. 14, the heterojunction type back contact cell 10 and the wiring sheet 20 are superposed. At this time, the first electrode 11 of the heterojunction type back contact cell 10 is in direct contact with the first wiring 22 of the wiring sheet 20, and the second electrode 12 of the heterojunction type back contact cell 10 is the second wiring 23 of the wiring sheet 20. The heterojunction type back contact cell 10 and the wiring sheet 20 are superposed so as to be in direct contact with. As a result, the first electrode 11 and the first wiring 22 are electrically connected, and the second electrode 12 and the second wiring 23 are electrically connected. The heterojunction type back contact cell 10 and the wiring sheet 20 are fixed by curing an insulating adhesive and are mechanically connected.

図15に、実施形態1の光電変換装置を受光面側から見たときの模式的な平面図を示す。ここで、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10は、配線シート20上に複数設置されているが、配線シート20上に設置されるヘテロ接合型バックコンタクトセル10の個数は特に限定されず、たとえば1個であってもよい。 FIG. 15 is a schematic plan view of the photoelectric conversion device according to the first embodiment as viewed from the light receiving surface side. Here, a plurality of heterojunction type back contact cells 10 are installed on the wiring sheet 20, but the number of the heterojunction type back contact cells 10 installed on the wiring sheet 20 is not particularly limited, and for example, one. May be

<作用効果>
図1に示すように、実施形態1の光電変換装置においては、第1電極11の幅W1と第1配線22の幅W3とがW1≧W3の関係を満たしているとともに、第2電極12の幅W2と第2配線23の幅W4とがW2≧W4の関係を満たしている。これは、本発明者が、配線シート20にヘテロ接合型バックコンタクトセル10が電気的に接続された光電変換装置の特性を向上することについて鋭意検討した結果、見い出したものである。
<Effect>
As shown in FIG. 1, in the photoelectric conversion device of the first embodiment, the width W1 of the first electrode 11 and the width W3 of the first wiring 22 satisfy the relationship of W1≧W3, and The width W2 and the width W4 of the second wiring 23 satisfy the relationship of W2≧W4. This is what the present inventor has found as a result of extensive studies on improving the characteristics of the photoelectric conversion device in which the heterojunction type back contact cell 10 is electrically connected to the wiring sheet 20.

すなわち、従来においては、上述のように、図19に示される従来の配線シート付き太陽電池のように電極の幅方向の端が配線の幅方向の端からはみ出ないようにして、電極の表面にかかる電界強度の急激な増加を抑制し、イオンマイグレーションに起因する特性の低下を安定して抑制していた。 That is, in the related art, as described above, as in the conventional solar cell with a wiring sheet shown in FIG. 19, the end in the width direction of the electrode is prevented from protruding from the end in the width direction of the wiring, and The rapid increase in the electric field strength is suppressed, and the deterioration of the characteristics caused by the ion migration is stably suppressed.

しかしながら、実施形態1の光電変換装置において、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10に光が入射することにより発生した電流は、配線シート20の第1配線22および第2配線23から外部に取り出される。このとき、実施形態1の光電変換装置の特性を向上させるために、配線シート20によって複数のヘテロ接合型バックコンタクトセル10を直列に接続することが好ましいが、第1配線22の幅W3および第2配線23の幅W4との間に大きな差がある場合には、光電変換装置全体の電流量は、狭い幅の配線から取り出される、より少ない電流量となる。 However, in the photoelectric conversion device of the first embodiment, the current generated by the incidence of light on the heterojunction back contact cell 10 is taken out from the first wiring 22 and the second wiring 23 of the wiring sheet 20 to the outside. At this time, in order to improve the characteristics of the photoelectric conversion device of the first embodiment, it is preferable to connect a plurality of heterojunction type back contact cells 10 in series by the wiring sheet 20, but the width W3 of the first wiring 22 and the When there is a large difference from the width W4 of the two wirings 23, the current amount of the entire photoelectric conversion device is a smaller current amount taken out from the wiring of the narrow width.

そのため、光電変換装置全体の電流量を大きくする観点からは、配線シート20の第1配線22の幅W3と第2配線23の幅W4との間には大きな差がない方が好ましいが、第1配線22の幅W3および第2配線23の幅W4は、それぞれ、絶縁性基材21の表面の面積の大きさに応じた所定の幅に特定される。 Therefore, from the viewpoint of increasing the current amount of the entire photoelectric conversion device, it is preferable that there is no large difference between the width W3 of the first wiring 22 and the width W4 of the second wiring 23 of the wiring sheet 20. The width W3 of the first wiring 22 and the width W4 of the second wiring 23 are each specified to be a predetermined width according to the size of the area of the surface of the insulating base material 21.

このような状況において、実施形態1の光電変換装置においては、第1電極11の幅W1と第1配線22の幅W3とがW1≧W3の関係を満たし、かつ第2電極12の幅W2と第2配線23の幅W4とがW2≧W4の関係を満たす構成とされている。そのため、配線シート20の第1配線22の幅W3および第2配線23の幅W4がそれぞれどのような広さであっても、配線の幅よりも電極の幅の方が広くなるため、電極と配線との間の十分な接触面積を担保することができる。これにより、実施形態1においては、配線シート20にヘテロ接合型バックコンタクトセル10が電気的に接続された光電変換装置の特性を向上することができる。また、光電変換装置の特性をさらに向上する観点からは、W1>W3およびW2>W4のいずれか一方の関係が満たされていることが好ましく、W1>W3およびW2>W4の両方の関係が満たされていることがより好ましい。 In such a situation, in the photoelectric conversion device of the first embodiment, the width W1 of the first electrode 11 and the width W3 of the first wiring 22 satisfy the relationship of W1≧W3, and the width W2 of the second electrode 12 is the same. The width W4 of the second wiring 23 is configured to satisfy the relationship of W2≧W4. Therefore, no matter how wide the width W3 of the first wiring 22 and the width W4 of the second wiring 23 of the wiring sheet 20 are, the width of the electrode becomes wider than the width of the wiring, and A sufficient contact area with the wiring can be secured. Thereby, in the first embodiment, the characteristics of the photoelectric conversion device in which the heterojunction type back contact cell 10 is electrically connected to the wiring sheet 20 can be improved. From the viewpoint of further improving the characteristics of the photoelectric conversion device, it is preferable that either one of W1>W3 and W2>W4 is satisfied, and both of W1>W3 and W2>W4 are satisfied. Is more preferable.

特に、図1に示すように、第1電極11の幅W1方向の両端部11aがそれぞれ第1配線22の幅W3方向の端部22aからはみ出している場合には、第1電極11と第1配線22との間のより広い接触面積を担保することができることから、光電変換装置の特性をさらに向上することができる傾向にある。 In particular, as shown in FIG. 1, when both end portions 11a of the first electrode 11 in the width W1 direction extend from the end portions 22a of the first wiring 22 in the width W3 direction, respectively, the first electrode 11 and the first electrode 11 Since a wider contact area with the wiring 22 can be secured, the characteristics of the photoelectric conversion device tend to be further improved.

また、第2電極12の幅W2方向の両端部12aがそれぞれ第2配線23の幅W4方向の端部23aからはみ出している場合にも、第2電極12と第2配線23との間のより広い接触面積を担保することができることから、光電変換装置の特性をさらに向上することができる傾向にある。 In addition, even when both ends 12a of the second electrode 12 in the width W2 direction are respectively protruded from the end 23a of the second wiring 23 in the width W4 direction, the twisting between the second electrode 12 and the second wiring 23 is increased. Since a wide contact area can be secured, the characteristics of the photoelectric conversion device tend to be further improved.

また、第1配線22の全面が第1電極11と電気的に接続されている場合にも、第1電極11と第1配線22との間のより広い接触面積を担保することができることから、光電変換装置の特性をさらに向上することができる傾向にある。 Further, even when the entire surface of the first wiring 22 is electrically connected to the first electrode 11, it is possible to secure a wider contact area between the first electrode 11 and the first wiring 22, The characteristics of the photoelectric conversion device tend to be further improved.

さらに、第2配線23の全面が第2電極12と電気的に接続されている場合にも、第2電極12と第2配線23との間のより広い接触面積を担保することができることから、光電変換装置の特性をさらに向上することができる傾向にある。 Further, even when the entire surface of the second wiring 23 is electrically connected to the second electrode 12, a wider contact area between the second electrode 12 and the second wiring 23 can be secured, The characteristics of the photoelectric conversion device tend to be further improved.

[実施形態2]
図16に、実施形態2の光電変換装置の模式的な断面図を示す。実施形態2の光電変換装置は、第1電極11と第1配線22とが導電性接着材41を介して電気的に接続されているとともに、第2電極12と第2配線23とが導電性接着材41を介して電気的に接続されていることを特徴としている。
[Embodiment 2]
FIG. 16 shows a schematic cross-sectional view of the photoelectric conversion device of the second embodiment. In the photoelectric conversion device of the second embodiment, the first electrode 11 and the first wiring 22 are electrically connected via the conductive adhesive material 41, and the second electrode 12 and the second wiring 23 are conductive. It is characterized in that they are electrically connected via an adhesive material 41.

導電性接着材41は、導電性を有しており、電極と配線とを接着できる材料を用いることができ、たとえば半田などを用いることができる。 The conductive adhesive 41 has conductivity and can be made of a material that can bond the electrode and the wiring, for example, solder or the like can be used.

実施形態2における上記以外の説明は実施形態1と同様であるため、その説明については繰り返さない。 The description of the second embodiment other than the above is the same as that of the first embodiment, and thus the description thereof will not be repeated.

[実施形態3]
図17に、実施形態3の光電変換装置の模式的な断面図を示す。実施形態3の光電変換装置は、第1電極11の幅W1と第1配線22の幅W3とがW1≧W3の関係を満たしているが、第2電極12の幅W2と第2配線23の幅W4とはW2≧W4の関係を満たしていないことを特徴としている。
[Third Embodiment]
FIG. 17 shows a schematic cross-sectional view of the photoelectric conversion device according to the third embodiment. In the photoelectric conversion device of the third embodiment, the width W1 of the first electrode 11 and the width W3 of the first wiring 22 satisfy the relationship of W1≧W3, but the width W2 of the second electrode 12 and the width of the second wiring 23 are The width W4 is characterized by not satisfying the relationship of W2≧W4.

この場合でも、第1電極11と第1配線22との間の十分な接触面積を担保することができるため、配線シート20にヘテロ接合型バックコンタクトセル10が電気的に接続された光電変換装置の特性を向上することができる。 Even in this case, since a sufficient contact area between the first electrode 11 and the first wiring 22 can be secured, the photoelectric conversion device in which the heterojunction type back contact cell 10 is electrically connected to the wiring sheet 20. The characteristics of can be improved.

実施形態3における上記以外の説明は実施形態1および2と同様であるため、その説明については繰り返さない。 The description of Embodiment 3 other than the above is the same as that of Embodiments 1 and 2, and therefore the description thereof will not be repeated.

[実施形態4]
図18(a)に実施形態4の光電変換装置の製造工程の一部を図解する模式的な断面図を示し、図18(b)に実施形態4の光電変換装置の模式的な断面図を示す。
[Embodiment 4]
18A is a schematic cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the photoelectric conversion device of the fourth embodiment, and FIG. 18B is a schematic cross-sectional view of the photoelectric conversion device of the fourth embodiment. Show.

実施形態4の光電変換装置は、第1電極11と第1配線22との接合および第2電極12と第2配線23との接合に上述の絶縁性接着剤および導電性接着材41を用いることなく、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10と配線シート20との位置合わせを行った後、たとえば図18(a)に示すような真空ラミネートによって、ヘテロ接合型バックコンタクトセル10と配線シート20とを密着させて、第1電極11と第1配線22との電気的な接続および第2電極12と第2配線23との電気的な接続を行うことを特徴としている。これにより、実施形態1の光電変換装置と同様に、図18(b)に示す第1電極11の幅W1と第1配線22の幅W3とがW1≧W3の関係を満たし、かつ第2電極12の幅W2と第2配線23の幅W4とがW2≧W4の関係を満たす実施形態4の光電変換装置が得られる。 The photoelectric conversion device according to the fourth embodiment uses the above-described insulating adhesive and conductive adhesive 41 for joining the first electrode 11 and the first wiring 22 and joining the second electrode 12 and the second wiring 23. Instead, after the heterojunction type back contact cell 10 and the wiring sheet 20 are aligned, the heterojunction type back contact cell 10 and the wiring sheet 20 are adhered to each other by vacuum lamination as shown in FIG. 18(a), for example. The first electrode 11 and the first wiring 22 are electrically connected to each other, and the second electrode 12 and the second wiring 23 are electrically connected to each other. Thereby, similarly to the photoelectric conversion device of the first embodiment, the width W1 of the first electrode 11 and the width W3 of the first wiring 22 shown in FIG. 18B satisfy the relationship of W1≧W3, and the second electrode The photoelectric conversion device according to the fourth embodiment can be obtained in which the width W2 of 12 and the width W4 of the second wiring 23 satisfy the relationship of W2≧W4.

実施形態4における上記以外の説明は実施形態1〜3と同様であるため、その説明については繰り返さない。 The description of Embodiment 4 other than the above is the same as that of Embodiments 1 to 3, and therefore the description thereof will not be repeated.

[付記]
(1)ここで開示された実施形態は、ヘテロ接合型バックコンタクトセルと、ヘテロ接合型バックコンタクトセルと電気的に接続されている配線シートとを備え、ヘテロ接合型バックコンタクトセルは、第1導電型または第2導電型の半導体基板と、半導体基板の一方の側に設けられた第1導電型非晶質半導体膜と、第2導電型非晶質半導体膜と、第1導電型非晶質半導体膜上の第1電極と、第2導電型非晶質半導体膜上の第2電極とを備え、配線シートは、絶縁性基材と、絶縁性基材上の第1配線と、第2配線とを備え、第1電極は第1配線に電気的に接続され、第2電極は第2配線に電気的に接続されており、第1電極の幅が第1配線の幅以上であることおよび第2電極の幅が第2配線の幅以上であることの少なくとも一方の関係が満たされている光電変換装置である。実施形態の光電変換装置においては、第1電極の幅が第1配線の幅以上であることおよび第2電極の幅が第2配線の幅以上であることの少なくとも一方の関係が満たされているため、電極と配線との間の十分な接触面積を担保することができ、光電変換装置の特性を向上することができる。
[Appendix]
(1) The embodiment disclosed herein includes a heterojunction type back contact cell and a wiring sheet electrically connected to the heterojunction type back contact cell, and the heterojunction type back contact cell is the first A semiconductor substrate of conductivity type or second conductivity type, a first conductivity type amorphous semiconductor film provided on one side of the semiconductor substrate, a second conductivity type amorphous semiconductor film, and a first conductivity type amorphous A first electrode on the high quality semiconductor film and a second electrode on the second conductivity type amorphous semiconductor film, and the wiring sheet includes an insulating base material, first wiring on the insulating base material, and Two wirings, the first electrode is electrically connected to the first wiring, the second electrode is electrically connected to the second wiring, and the width of the first electrode is not less than the width of the first wiring. And the width of the second electrode is equal to or more than the width of the second wiring, the photoelectric conversion device is satisfied. In the photoelectric conversion device of the embodiment, at least one of the relationship that the width of the first electrode is not less than the width of the first wiring and the width of the second electrode is not less than the width of the second wiring is satisfied. Therefore, a sufficient contact area between the electrode and the wiring can be secured, and the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(2)ここで開示された実施形態において、第1配線および第2配線は、それぞれ、帯状であることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (2) In the embodiment disclosed herein, each of the first wiring and the second wiring is preferably strip-shaped. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(3)ここで開示された実施形態において、第1電極および第2電極は、それぞれ、帯状であることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (3) In the embodiment disclosed herein, each of the first electrode and the second electrode is preferably band-shaped. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(4)ここで開示された実施形態において、第1電極の幅方向の両端部がそれぞれ、第1配線の幅方向の端部からはみ出していることが好ましい。この場合には、第1電極と第1配線との間のより広い接触面積を担保することができることから、光電変換装置の特性をさらに向上することができる傾向にある。 (4) In the embodiment disclosed herein, it is preferable that both ends of the first electrode in the width direction protrude from the ends of the first wiring in the width direction. In this case, a wider contact area between the first electrode and the first wiring can be secured, so that the characteristics of the photoelectric conversion device tend to be further improved.

(5)ここで開示された実施形態において、第2電極の幅方向の両端部がそれぞれ、第2配線の幅方向の端部からはみ出していることが好ましい。この場合には、第2電極と第2配線との間のより広い接触面積を担保することができることから、光電変換装置の特性をさらに向上することができる傾向にある。 (5) In the embodiment disclosed herein, it is preferable that both ends of the second electrode in the width direction protrude from the ends of the second wiring in the width direction. In this case, a wider contact area between the second electrode and the second wiring can be secured, so that the characteristics of the photoelectric conversion device tend to be further improved.

(6)ここで開示された実施形態において、第1配線の全面が、第1電極と電気的に接続されていることが好ましい。この場合にも、第1電極と第1配線との間のより広い接触面積を担保することができることから、光電変換装置の特性をさらに向上することができる傾向にある。 (6) In the embodiment disclosed herein, it is preferable that the entire surface of the first wiring is electrically connected to the first electrode. Also in this case, a wider contact area between the first electrode and the first wiring can be ensured, so that the characteristics of the photoelectric conversion device tend to be further improved.

(7)ここで開示された実施形態において、第2配線の全面が、第2電極と電気的に接続されていることが好ましい。この場合にも、第2電極と第2配線との間のより広い接触面積を担保することができることから、光電変換装置の特性をさらに向上することができる傾向にある。 (7) In the embodiment disclosed herein, it is preferable that the entire surface of the second wiring is electrically connected to the second electrode. Also in this case, a wider contact area between the second electrode and the second wiring can be secured, so that the characteristics of the photoelectric conversion device tend to be further improved.

(8)ここで開示された実施形態において、第1電極と第1配線との電気的な接続は、第1電極と第1配線との直接接触、および第1電極と第1配線との間の導電性接着材の少なくとも一方により行われていることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (8) In the embodiment disclosed herein, the electrical connection between the first electrode and the first wiring is performed by direct contact between the first electrode and the first wiring, and between the first electrode and the first wiring. It is preferable to use at least one of the conductive adhesives. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(9)ここで開示された実施形態において、第2電極と第2配線との電気的な接続は、第2電極と第2配線との直接接触、および第2電極と第2配線との間の導電性接着材の少なくとも一方により行われていることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (9) In the embodiment disclosed herein, the electrical connection between the second electrode and the second wiring is performed by direct contact between the second electrode and the second wiring, and between the second electrode and the second wiring. It is preferable to use at least one of the conductive adhesives. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(10)ここで開示された実施形態において、半導体基板は、n型結晶シリコンを含むことが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (10) In the embodiment disclosed herein, the semiconductor substrate preferably contains n-type crystalline silicon. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(11)ここで開示された実施形態は、半導体基板と第1導電型非晶質半導体膜との間の第1のi型非晶質半導体膜と、半導体基板と第2導電型非晶質半導体膜との間の第2のi型非晶質半導体膜とをさらに含むことが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (11) In the embodiment disclosed herein, the first i-type amorphous semiconductor film between the semiconductor substrate and the first conductivity type amorphous semiconductor film, the semiconductor substrate and the second conductivity type amorphous film. It is preferable to further include a second i-type amorphous semiconductor film between the semiconductor film and the second i-type amorphous semiconductor film. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(12)ここで開示された実施形態において、第1のi型非晶質半導体膜は、i型非晶質シリコンを含むことが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (12) In the embodiment disclosed herein, the first i-type amorphous semiconductor film preferably contains i-type amorphous silicon. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(13)ここで開示された実施形態において、第2のi型非晶質半導体膜は、i型非晶質シリコンを含むことが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (13) In the embodiment disclosed herein, the second i-type amorphous semiconductor film preferably contains i-type amorphous silicon. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(14)ここで開示された実施形態において、半導体基板と第1のi型非晶質半導体膜とが接していることが好ましい。 (14) In the embodiment disclosed herein, it is preferable that the semiconductor substrate and the first i-type amorphous semiconductor film are in contact with each other.

(15)ここで開示された実施形態において、半導体基板と第2のi型非晶質半導体膜とが接していることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (15) In the embodiment disclosed herein, it is preferable that the semiconductor substrate and the second i-type amorphous semiconductor film are in contact with each other. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(16)ここで開示された実施形態において、第1のi型非晶質半導体膜と第1導電型非晶質半導体膜とが接していることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (16) In the embodiment disclosed herein, it is preferable that the first i-type amorphous semiconductor film and the first conductivity type amorphous semiconductor film are in contact with each other. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(17)ここで開示された実施形態において、第2のi型非晶質半導体膜と第2導電型非晶質半導体膜とが接していることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (17) In the embodiment disclosed herein, it is preferable that the second i-type amorphous semiconductor film and the second conductivity type amorphous semiconductor film are in contact with each other. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(18)ここで開示された実施形態において、第1導電型非晶質半導体膜と第2導電型非晶質半導体膜との間に第2のi型非晶質半導体膜の端部が位置していることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (18) In the embodiment disclosed herein, the end portion of the second i-type amorphous semiconductor film is located between the first conductive type amorphous semiconductor film and the second conductive type amorphous semiconductor film. Preferably. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(19)ここで開示された実施形態において、第2のi型非晶質半導体膜の端部が、第1導電型非晶質半導体膜および第2導電型非晶質半導体膜のそれぞれと接していることが好ましい。この場合にも、光電変換装置の特性を向上することができる。 (19) In the embodiment disclosed herein, the end of the second i-type amorphous semiconductor film is in contact with each of the first-conductivity-type amorphous semiconductor film and the second-conductivity-type amorphous semiconductor film. Preferably. Also in this case, the characteristics of the photoelectric conversion device can be improved.

(20)ここで開示された実施形態は、第1電極および第2電極を備えたヘテロ接合型バックコンタクトセルを作製する工程と、第1配線および第2配線を備えた配線シートを準備する工程と、ヘテロ接合型バックコンタクトセルの第1電極と配線シートの第1配線とを電気的に接続する工程と、ヘテロ接合型バックコンタクトセルの第2電極と配線シートの第2配線とを電気的に接続する工程と、を含み、ヘテロ接合型バックコンタクトセルは、第1導電型または第2導電型の半導体基板と、半導体基板の一方の側に設けられた、第1導電型非晶質半導体膜と、第2導電型非晶質半導体膜と、第1電極は、第1導電型非晶質半導体膜上に設けられ、第2電極は、第2導電型非晶質半導体膜上に設けられており、配線シートは、絶縁性基材を備え、第1配線および第2配線は絶縁性基材上に設けられており、第1電極の幅が第1配線の幅以上であること、および第2電極の幅が第2配線の幅以上であることの少なくとも一方の関係が満たされている光電変換装置の製造方法である。実施形態の光電変換装置の製造方法においては、第1電極の幅が第1配線の幅以上であることおよび第2電極の幅が第2配線の幅以上であることの少なくとも一方の関係が満たされているため、電極と配線との間の十分な接触面積を担保することができ、特性が向上した光電変換装置を作製することができる。 (20) In the embodiment disclosed herein, a step of preparing a heterojunction type back contact cell having a first electrode and a second electrode, and a step of preparing a wiring sheet having a first wiring and a second wiring. Electrically connecting the first electrode of the heterojunction type back contact cell and the first wiring of the wiring sheet, and electrically connecting the second electrode of the heterojunction type back contact cell and the second wiring of the wiring sheet. The heterojunction type back contact cell includes a semiconductor substrate of the first conductivity type or the second conductivity type, and a first conductivity type amorphous semiconductor provided on one side of the semiconductor substrate. The film, the second conductive type amorphous semiconductor film, and the first electrode are provided on the first conductive type amorphous semiconductor film, and the second electrode is provided on the second conductive type amorphous semiconductor film. The wiring sheet includes an insulating base material, the first wiring and the second wiring are provided on the insulating base material, and the width of the first electrode is equal to or larger than the width of the first wiring, And the width of the second electrode is equal to or larger than the width of the second wiring. In the method for manufacturing the photoelectric conversion device of the embodiment, at least one of the relationship that the width of the first electrode is not less than the width of the first wiring and the width of the second electrode is not less than the width of the second wiring is satisfied. Therefore, a sufficient contact area between the electrode and the wiring can be secured, and a photoelectric conversion device with improved characteristics can be manufactured.

(21)ここで開示された実施形態において、ヘテロ接合型バックコンタクトセルを作製する工程は、第1導電型または第2導電型の半導体基板の一方の側に第1導電型非晶質半導体膜を形成する工程と、第1導電型非晶質半導体膜の一部を厚さ方向に除去することによって半導体基板の一部を露出させる工程と、半導体基板および第1導電型非晶質半導体膜上に第2導電型非晶質半導体膜を形成する工程と、第1導電型非晶質半導体膜上に第1電極を形成する工程と、第2導電型非晶質半導体膜上に第2電極を形成する工程とを含むことが好ましい。この場合にも、特性が向上した光電変換装置を作製することができる。 (21) In the embodiment disclosed herein, the step of manufacturing the heterojunction type back contact cell is performed by forming the first conductivity type amorphous semiconductor film on one side of the semiconductor substrate of the first conductivity type or the second conductivity type. A step of forming a part of the semiconductor substrate by removing a part of the first conductivity type amorphous semiconductor film in the thickness direction, a semiconductor substrate and a first conductivity type amorphous semiconductor film Forming a second conductive type amorphous semiconductor film thereon, forming a first electrode on the first conductive type amorphous semiconductor film, and forming a second electrode on the second conductive type amorphous semiconductor film. And a step of forming an electrode. Also in this case, a photoelectric conversion device having improved characteristics can be manufactured.

(22)ここで開示された実施形態において、第1導電型非晶質半導体膜を形成する工程は、半導体基板の一方の側に第1のi型非晶質半導体膜を形成する工程と、第1のi型非晶質半導体膜上に第1導電型非晶質半導体膜を形成する工程とを含み、第2導電型非晶質半導体膜を形成する工程は、半導体基板および第1導電型非晶質半導体膜上に第2のi型非晶質半導体膜を形成する工程と、第2のi型非晶質半導体膜上に第2導電型非晶質半導体膜を形成する工程とを含むことが好ましい。この場合にも、特性が向上した光電変換装置を作製することができる。 (22) In the embodiment disclosed herein, the step of forming the first conductivity type amorphous semiconductor film includes the step of forming the first i-type amorphous semiconductor film on one side of the semiconductor substrate, A step of forming a first conductive type amorphous semiconductor film on the first i-type amorphous semiconductor film, and a step of forming the second conductive type amorphous semiconductor film includes: Forming a second i-type amorphous semiconductor film on the second i-type amorphous semiconductor film, and forming a second conductive type amorphous semiconductor film on the second i-type amorphous semiconductor film It is preferable to include. Also in this case, a photoelectric conversion device with improved characteristics can be manufactured.

(23)ここで開示された実施形態において、第1電極と第1配線との電気的な接続は第1電極と第1配線との直接接触、および第1電極と第1配線との間の導電性接着材による接着の少なくとも一方により行われることが好ましい。この場合にも、特性が向上した光電変換装置を作製することができる。 (23) In the embodiment disclosed herein, electrical connection between the first electrode and the first wiring is performed by direct contact between the first electrode and the first wiring, and between the first electrode and the first wiring. It is preferable that the bonding is performed by at least one of bonding with a conductive adhesive. Also in this case, a photoelectric conversion device with improved characteristics can be manufactured.

(24)ここで開示された実施形態において、第2電極と第2配線との電気的な接続は第2電極と第2配線との直接接触、および第2電極と第2配線との間の導電性接着材による接着の少なくとも一方により行われることが好ましい。この場合にも、特性が向上した光電変換装置を作製することができる。 (24) In the embodiment disclosed herein, electrical connection between the second electrode and the second wiring is performed by direct contact between the second electrode and the second wiring, and between the second electrode and the second wiring. It is preferable that the bonding is performed by at least one of bonding with a conductive adhesive. Also in this case, a photoelectric conversion device with improved characteristics can be manufactured.

以上のように本発明の実施形態について説明を行なったが、上述の各実施形態の構成を適宜組み合わせることも当初から予定している。 Although the embodiments of the present invention have been described above, it is also planned from the beginning to appropriately combine the configurations of the above-described embodiments.

今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 The embodiments disclosed this time are to be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description but by the claims, and is intended to include meanings equivalent to the claims and all modifications within the scope.

ここで開示された実施形態の光電変換装置および光電変換装置の製造方法は、ヘテロ接合型バックコンタクトセルを配線シートで電気的に接続した光電変換モジュールおよび光電変換モジュールの製造方法に好適に利用することができる。 The photoelectric conversion device and the method for manufacturing the photoelectric conversion device according to the embodiments disclosed herein are preferably used for a photoelectric conversion module in which heterojunction back contact cells are electrically connected by a wiring sheet and a method for manufacturing the photoelectric conversion module. be able to.

1 半導体基板、2 第1のi型非晶質半導体膜、3 第1導電型非晶質半導体膜、4 第2のi型非晶質半導体膜、5 第2導電型非晶質半導体膜、10 ヘテロ接合型バックコンタクトセル、11 第1電極、11a 端部、12 第2電極、12a 端部、20 配線シート、21 絶縁性基材、22 第1配線、22a 端部、23 第2配線、23a 端部、24 集電用配線、31,32 エッチングマスク、100 裏面電極型太陽電池セル、101 基板、102 n型不純物拡散領域、103 p型不純物拡散領域、111 n型用銀電極、112 p型用銀電極、200 配線シート、201 絶縁性基材、202 n型用銅配線、203 p型用銅配線、300 絶縁性樹脂。 1 semiconductor substrate, 2 1st i-type amorphous semiconductor film, 3 1st conductivity type amorphous semiconductor film, 4 2nd i-type amorphous semiconductor film, 5 2nd conductivity type amorphous semiconductor film, 10 heterojunction type back contact cell, 11 first electrode, 11a end portion, 12 second electrode, 12a end portion, 20 wiring sheet, 21 insulating base material, 22 first wiring, 22a end portion, 23 second wiring, 23a edge part, 24 current collection wiring, 31, 32 etching mask, 100 back electrode type solar cell, 101 substrate, 102 n type impurity diffusion region, 103 p type impurity diffusion region, 111 n type silver electrode, 112 p Mold silver electrode, 200 wiring sheet, 201 insulating base material, 202 n-type copper wiring, 203 p-type copper wiring, 300 insulating resin.

Claims (3)

ヘテロ接合型バックコンタクトセルと、
前記ヘテロ接合型バックコンタクトセルと電気的に接続されている配線シートと、を備え、
前記ヘテロ接合型バックコンタクトセルは、
第1導電型または第2導電型の半導体基板と、
前記半導体基板の一方の側に設けられた、第1導電型非晶質半導体膜と、第2導電型非晶質半導体膜と、
前記第1導電型非晶質半導体膜上の第1電極と、
前記第2導電型非晶質半導体膜上の第2電極と、を備え、
前記配線シートは、
絶縁性基材と、
前記絶縁性基材上の第1配線と、第2配線と、を備え、
前記第1電極は、前記第1配線に電気的に接続され、
前記第2電極は、前記第2配線に電気的に接続されており、
前記第1電極の幅が前記第1配線の幅以上であること、および前記第2電極の幅が前記第2配線の幅以上であることの少なくとも一方の関係が満たされており、
前記第1配線および前記第2配線は、それぞれ、帯状であって、
前記第1電極および前記第2電極は、それぞれ、帯状である、光電変換装置。
A heterojunction type back contact cell,
A wiring sheet electrically connected to the heterojunction type back contact cell,
The heterojunction type back contact cell,
A semiconductor substrate of a first conductivity type or a second conductivity type;
A first conductivity type amorphous semiconductor film and a second conductivity type amorphous semiconductor film, which are provided on one side of the semiconductor substrate;
A first electrode on the first conductive type amorphous semiconductor film;
A second electrode on the second conductive type amorphous semiconductor film,
The wiring sheet is
An insulating base material,
A first wiring on the insulating base material, and a second wiring,
The first electrode is electrically connected to the first wiring,
The second electrode is electrically connected to the second wiring,
At least one of the relationship that the width of the first electrode is greater than or equal to the width of the first wiring and the width of the second electrode is greater than or equal to the width of the second wiring is satisfied.
The first wiring and the second wiring each have a strip shape,
The said 1st electrode and the said 2nd electrode are each a photoelectric conversion apparatus which is strip|belt-shaped.
前記第1電極の幅方向の両端部がそれぞれ、前記第1配線の幅方向の端部からはみ出している、請求項1に記載の光電変換装置。 2. The photoelectric conversion device according to claim 1, wherein both ends of the first electrode in the width direction protrude from the ends of the first wiring in the width direction. 前記第2電極の幅方向の両端部がそれぞれ、前記第2配線の幅方向の端部からはみ出している、請求項1または請求項2に記載の光電変換装置。 The photoelectric conversion device according to claim 1 or 2, wherein both ends of the second electrode in the width direction respectively protrude from the ends of the second wiring in the width direction.
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