JP6719050B2 - Electronic component mounting system - Google Patents

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本発明は、半田が印刷された基板に電子部品を実装する電子部品実装システムに関するものである。 The present invention relates to an electronic component mounting system for mounting an electronic component on a board on which solder is printed.

半田が印刷された基板に電子部品を実装する電子部品実装システムとして、印刷装置や電子部品実装装置などの複数の部品実装用装置を備えたものが知られている。印刷装置としては、半田が供給されたスクリーンマスクの下面に基板をセットした状態で、スキージをスクリーンマスク上で摺動させるスキージング動作を実行することで、基板の電極に半田を印刷するものが知られている。電子部品実装装置は、実装ヘッドによって半田印刷後の基板に電子部品を実装する。電子部品が実装された基板は、リフロー装置によってリフローされる。これにより、基板と電子部品が半田接合される。 2. Description of the Related Art As an electronic component mounting system for mounting an electronic component on a board on which solder is printed, there is known an electronic component mounting system including a plurality of component mounting devices such as a printing device and an electronic component mounting device. As a printing device, there is one that prints solder on the electrodes of the substrate by performing a squeegee operation of sliding the squeegee on the screen mask with the substrate set on the lower surface of the screen mask to which the solder has been supplied. Are known. The electronic component mounting apparatus mounts the electronic component on the board after solder printing by the mounting head. The board on which the electronic component is mounted is reflowed by the reflow device. As a result, the board and the electronic component are soldered.

スクリーンマスク上に供給された半田は、空気に曝されることで徐々に乾燥する。乾燥が一定以上進行した半田を介して基板に電子部品を実装すると、基板に対する電子部品の接合が不十分となって実装不良が発生するおそれがある。そこで従来、半田の使用を許容できる時間を設定し、その時間内に半田印刷後の基板がリフロー装置によってリフローされないことが判明した場合には当該基板に対する作業を中止させる運用がなされている(特許文献1を参照)。特許文献1に示す例では、基板に半田を印刷してからの経過時間と、実装用装置(例えば電子部品実装装置)での作業に要すると推定される時間の和を求め、その和が半田の印刷から溶融までの経過時間として許容される許容時間を越えることが判明した場合に、基板に対する作業を中止するようにしている。 The solder supplied onto the screen mask is gradually dried by being exposed to air. When the electronic component is mounted on the substrate through the solder that has been dried more than a certain amount, the electronic component may not be sufficiently joined to the substrate, resulting in a mounting failure. Therefore, conventionally, an operation is performed in which the time for which the use of solder is allowed is set, and when it is found that the board after solder printing is not reflowed by the reflow device within that time (Patent Reference 1). In the example shown in Patent Document 1, the sum of the elapsed time after printing the solder on the substrate and the time estimated to be required for work in a mounting apparatus (for example, an electronic component mounting apparatus) is obtained, and the sum is the solder. When it is found that the allowable time as the elapsed time from printing to melting is exceeded, the work on the substrate is stopped.

特許第5292163号公報Patent No. 5292163

しかしながら、従来技術では、基板に半田を印刷してからの経過時間を計測していることに起因して次のような課題があった。すなわち、半田はスクリーンマスクに供給されて空気に曝された時点から乾燥が進行する。また、スクリーンマスクに供給された半田の乾燥の進行度は、スキージによる作用を受けてスクリーンマスク上を移動している状態と、スクリーンマスク上で静止している状態とで異なる。しかしながら、従来技術では、乾燥の進行度がスクリーンマスク上における半田の状態に応じて異なる点を考慮していない。したがって、基板上の半田が実際には使用できない状態まで乾燥しているにも関わらず、基板がリフロー装置を含む後工程に送られ、結果的に不良基板が製造されるという事態が生じていた。このように、従来技術では半田の管理の面で改良の余地があった。 However, the conventional technique has the following problems due to the fact that the elapsed time after printing the solder on the substrate is measured. That is, the solder progresses from the time when the solder is supplied to the screen mask and exposed to the air. Further, the degree of progress of the drying of the solder supplied to the screen mask differs depending on whether the solder is being moved on the screen mask by the action of the squeegee and is still on the screen mask. However, the prior art does not consider that the progress of drying differs depending on the state of the solder on the screen mask. Therefore, although the solder on the substrate is dried to a state where it cannot be actually used, the substrate is sent to a post process including a reflow device, and as a result, a defective substrate is manufactured. .. As described above, the conventional technology has room for improvement in terms of solder management.

そこで本発明は、そこで本発明は、半田をより正確に管理して不良基板の発生を防止することができる電子部品実装システムを提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has an object to provide an electronic component mounting system capable of more accurately managing solder and preventing the generation of a defective substrate.

本発明の電子部品実装システムは、ペースト状の半田が供給されたスクリーンマスクに対してスキージを摺動させることで基板に前記半田を印刷する印刷装置と、前記印刷装置によって前記半田が印刷された基板に電子部品を実装するための作業を行う実装用装置とを備える電子部品実装システムであって、前記スクリーンマスクに供給された半田の使用を許容できる許容時間を記憶する記憶部と、前記半田が前記スクリーンマスク上に供給されてから前記基板に印刷されるまでの時間と、前記印刷装置によって前記半田が前記基板に印刷されてからの時間を計測する時間計測部と、前記時間計測部によって計測された時間に基づいて、前記基板に印刷された前記半田が前記許容時間を超えたか否かを判定する判定部と、前記判定部によって前記基板に印刷された前記半田が前記許容時間を超えたと判定された場合に作業者に報知する報知部とを備え、前記半田が前記スクリーンマスク上に供給されてから前記基板に印刷されるまでの時間は、前記半田が前記スキージにより前記スクリーンマスク上を移動している時間と、前記半田が前記スクリーンマスク上を移動していない時間の合計時間である。 In the electronic component mounting system of the present invention, a printing device that prints the solder on a substrate by sliding a squeegee on a screen mask to which paste solder is supplied, and the solder is printed by the printing device. An electronic component mounting system including a mounting device that performs a work for mounting an electronic component on a substrate, wherein a storage unit that stores a permissible time during which use of the solder supplied to the screen mask can be permitted, and the solder By the time from the time when the solder is printed on the substrate by the printing device until the time it is printed on the substrate after being supplied on the screen mask, and by the time measuring unit. Based on the measured time, a determination unit that determines whether the solder printed on the board exceeds the allowable time, and the solder printed on the substrate by the determination unit exceeds the allowable time. And a notification unit for notifying the operator when it is determined that the solder is on the screen mask by the squeegee until the solder is supplied on the screen mask and printed on the substrate. And the time during which the solder does not move on the screen mask.

本発明によれば、半田をより正確に管理して不良基板の発生を防止することができる。 According to the present invention, it is possible to manage solder more accurately and prevent the generation of defective boards.

本発明の実施の形態1,2における電子部品実装システムの全体構成を模式的に示す図The figure which shows typically the whole structure of the electronic component mounting system in Embodiments 1 and 2 of this invention. 本発明の実施の形態1,2における印刷装置の斜視図A perspective view of a printing apparatus according to Embodiments 1 and 2 of the present invention 本発明の実施の形態1,2における印刷装置の側面図Side view of the printing device according to the first and second embodiments of the present invention 本発明の実施の形態1,2における印刷装置の部分斜視図Partial perspective views of the printing apparatus according to Embodiments 1 and 2 of the present invention. 本発明の実施の形態1,2における印刷装置の部分平面図Partial plan view of the printing device according to Embodiments 1 and 2 of the present invention (a)(b)本発明の実施の形態1,2における印刷装置が行う印刷動作の説明図(A) (b) Explanatory drawing of the printing operation which the printing device in Embodiments 1 and 2 of this invention performs. (a)(b)本発明の実施の形態1,2における印刷装置が行う印刷動作の説明図(A) (b) Explanatory drawing of the printing operation which the printing device in Embodiments 1 and 2 of this invention performs. (a)(b)本発明の実施の形態1,2における印刷装置が行う印刷動作の説明図(A) (b) Explanatory drawing of the printing operation which the printing device in Embodiments 1 and 2 of this invention performs. 本発明の実施の形態1,2における印刷検査装置の平面図The top view of the printing inspection apparatus in Embodiments 1 and 2 of this invention. 本発明の実施の形態1,2における電子部品搭載装置の平面図The top view of the electronic component mounting apparatus in Embodiments 1 and 2 of this invention. 本発明の実施の形態1,2における電子部品搭載装置の側面図Side view of an electronic component mounting apparatus according to Embodiments 1 and 2 of the present invention 本発明の実施の形態1における電子部品実装システムの制御系の一部の構成を示すブロック図1 is a block diagram showing the configuration of part of a control system of an electronic component mounting system according to a first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態1における半田の使用を許容できる時間(許容時間)の説明図Explanatory drawing of the time (allowable time) in which the use of solder is allowed in Embodiment 1 of the present invention (a)(b)本発明の実施の形態1,2における時間計測部によって計測される時間の計測間隔の説明図(A) (b) Explanatory drawing of the measurement interval of the time measured by the time measurement part in Embodiment 1 and 2 of this invention. 本発明の実施の形態1における半田の管理方法のフローチャートFlowchart of solder management method according to Embodiment 1 of the present invention 本発明の実施の形態2における電子部品実装システムの制御系の一部の構成を示すブロック図Block diagram showing a part of the configuration of the control system of the electronic component mounting system in Embodiment 2 of the present invention (a)(b)本発明の実施の形態2における半田の使用を許容できる時間(許容時間)の説明図(A) (b) Explanatory drawing of the time (allowable time) which can use the solder in Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態2における半田の管理方法のフローチャートFlowchart of solder management method according to Embodiment 2 of the present invention 本発明の実施の形態2における半田の管理方法のフローチャートFlowchart of solder management method according to Embodiment 2 of the present invention

(実施の形態1)
まず図1を参照して、本発明の実施の形態1における電子部品実装システムの全体構成を説明する。電子部品実装システム1は、基板に電子部品が実装された実装基板を製造する機能を有し、上流側から順に基板供給装置M1、印刷装置M2、印刷検査装置M3、複数の電子部品搭載装置M4,M5,M6、リフロー装置M7及び基板回収装置M8を配置した実装ライン1aを含んで構成される。これらの装置は、LAN等の通信ネットワーク2を介して上位システム3に接続されている。以後、基板の搬送方向をX軸方向、X軸方向と水平面内で直交する方向をY軸方向、XY平面に対して直交する方向をZ軸方向と定義する。
(Embodiment 1)
First, with reference to FIG. 1, an overall configuration of an electronic component mounting system according to a first exemplary embodiment of the present invention will be described. The electronic component mounting system 1 has a function of manufacturing a mounting substrate in which electronic components are mounted on a substrate, and a substrate supply device M1, a printing device M2, a print inspection device M3, and a plurality of electronic component mounting devices M4 in order from the upstream side. , M5, M6, a reflow device M7, and a substrate collecting device M8 are arranged in the mounting line 1a. These devices are connected to the host system 3 via a communication network 2 such as a LAN. Hereinafter, the substrate transport direction is defined as the X-axis direction, the direction orthogonal to the X-axis direction in the horizontal plane is defined as the Y-axis direction, and the direction orthogonal to the XY plane is defined as the Z-axis direction.

基板供給装置M1は、作業対象となる基板を印刷装置M2に供給する。印刷装置M2は、基板に形成された電極にクリーム状の半田ペースト(以下、「半田」と略記する)を印刷する。印刷検査装置M3は、基板に印刷された半田の状態を検査する。電子部品搭載装置M4,M5,M6は、半田が印刷された基板に電子部品を搭載する。リフロー装置M7は半田を溶融させるための溶融ゾーンを有しており、電子部品が搭載された基板を所定の加熱プロファイルに従ってリフローすることで、半田を溶融させて基板と電子部品を半田接合させる。これにより実装基板が製造される。基板回収装置M8は、リフロー後の基板を回収する。印刷検査装置M3、電子部品搭載装置M4〜M6は、印刷装置M2によって半田が印刷された基板に電子部品を実装するための作業を行う実装用装置の一例である。 The substrate supply device M1 supplies the substrate to be worked to the printing device M2. The printing device M2 prints a cream-like solder paste (hereinafter abbreviated as “solder”) on the electrodes formed on the substrate. The print inspection device M3 inspects the state of the solder printed on the board. The electronic component mounting apparatuses M4, M5 and M6 mount electronic components on a board on which solder is printed. The reflow device M7 has a melting zone for melting the solder, and reflows the board on which the electronic component is mounted in accordance with a predetermined heating profile, thereby melting the solder and solder-bonding the board and the electronic component. As a result, the mounting board is manufactured. The substrate collecting device M8 collects the substrate after the reflow. The print inspection device M3 and the electronic component mounting devices M4 to M6 are examples of mounting devices that perform work for mounting electronic components on a board on which solder is printed by the printing device M2.

図2〜図8を参照して、印刷装置M2について説明する。図2及び図3において、印刷装置M2は、基台11上に基板保持移動機構12を備えており、基板保持移動機構12の上方にはスクリーンマスク13が設けられている。図4及び図5において、基板保持移動機構12のX軸方向における上流側には、基板供給装置M1から供給された基板4を受け取って基板保持移動機構12に搬送する搬入コンベア14が設けられている。基板保持移動機構12のX軸方向における下流側には、基板保持移動機構12から半田Pが印刷された基板4を受け取って印刷検査装置M3に搬出する搬出コンベア15が設けられている。 The printing apparatus M2 will be described with reference to FIGS. 2 and 3, the printing apparatus M2 includes a substrate holding and moving mechanism 12 on the base 11, and a screen mask 13 is provided above the substrate holding and moving mechanism 12. 4 and 5, a carry-in conveyor 14 that receives the substrate 4 supplied from the substrate supply device M1 and conveys the substrate 4 to the substrate holding and moving mechanism 12 is provided on the upstream side of the substrate holding and moving mechanism 12 in the X-axis direction. There is. On the downstream side of the substrate holding/moving mechanism 12 in the X-axis direction, a carry-out conveyor 15 that receives the substrate 4 on which the solder P is printed from the substrate holding/moving mechanism 12 and carries it out to the print inspection device M3 is provided.

図3及び図4において、基板保持移動機構12は、基板保持部21と、移動テーブル部22を含んで構成される。基板保持部21は位置決めコンベア31、下受け部32及び一対のクランパ33を備えている。位置決めコンベア31は搬入コンベア14から受け取った基板4を所定のクランプ位置に位置決めする。下受け部32はクランプ位置に位置決めされた基板4を下方から支持する。一対のクランパ33は基板4を両側からクランプして保持する。 3 and 4, the substrate holding/moving mechanism 12 includes a substrate holding unit 21 and a moving table unit 22. The substrate holding unit 21 includes a positioning conveyor 31, a lower receiving unit 32, and a pair of clampers 33. The positioning conveyor 31 positions the substrate 4 received from the carry-in conveyor 14 at a predetermined clamp position. The lower receiving portion 32 supports the substrate 4 positioned at the clamp position from below. The pair of clampers 33 clamp and hold the substrate 4 from both sides.

移動テーブル部22は複数のテーブル機構が多段積みされたXYθテーブル機構22a(図12)を含み、基板保持部21をX軸方向、Y軸方向、Z軸方向に移動させる。これにより、基板4はスクリーンマスク13の下面に接触し、印刷作業位置に位置決めされる。 The moving table unit 22 includes an XYθ table mechanism 22a (FIG. 12) in which a plurality of table mechanisms are stacked in multiple stages, and moves the substrate holding unit 21 in the X axis direction, the Y axis direction, and the Z axis direction. As a result, the substrate 4 contacts the lower surface of the screen mask 13 and is positioned at the printing work position.

図2及び図5において、スクリーンマスク13はXY平面に広がった矩形平板形状の金属部材によって構成され、その外周は枠部材13Wによって支持されている。スクリーンマスク13の中央の矩形エリアは、その下面が基板4と接触する基板接触エリアRとなっており、この基板接触エリアRには、基板4に形成された電極4d(図2)の配置に対応して複数の開口部13hが設けられている。 2 and 5, the screen mask 13 is composed of a rectangular flat plate-shaped metal member spread in the XY plane, and the outer periphery thereof is supported by the frame member 13W. The rectangular area at the center of the screen mask 13 is a substrate contact area R whose lower surface contacts the substrate 4. In this substrate contact area R, the electrodes 4d (FIG. 2) formed on the substrate 4 are arranged. Correspondingly, a plurality of openings 13h are provided.

図3において、スクリーンマスク13の下方領域にはカメラ16がX軸方向、Y軸方向に移動自在に設けられている。カメラ16は、撮像視野を上方に向けた上方撮像部16aと、撮像視野を下方に向けた下方撮像部16bを備えている。カメラ16は、ボール螺子機構をアクチュエータとするカメラ移動機構16kに駆動されることで、XY面内で移動する。上方撮像部16aは、スクリーンマスク13に設けられた一対のマスク側マーク13m(図5)を撮像する。下方撮像部16bは、基板4に設けられた1対の基板側マーク4m(図4)と、基板4の一角に設けられたバーコードラベル4b(図5)を撮像する。 In FIG. 3, a camera 16 is provided below the screen mask 13 so as to be movable in the X-axis direction and the Y-axis direction. The camera 16 includes an upper imaging section 16a having an imaging field of view directed upward and a lower imaging section 16b having an imaging field of view directed downward. The camera 16 moves in the XY plane by being driven by the camera moving mechanism 16k having a ball screw mechanism as an actuator. The upper imaging unit 16a images the pair of mask-side marks 13m (FIG. 5) provided on the screen mask 13. The lower imaging unit 16b images the pair of board-side marks 4m (FIG. 4) provided on the board 4 and the barcode label 4b (FIG. 5) provided at one corner of the board 4.

図2及び図3において、スクリーンマスク13の上方領域には印刷ヘッド17がY軸方向に移動自在に設けられている。印刷ヘッド17は、移動ベース41と、2つのスキージ42と、2つのスキージ昇降シリンダ43を含んで構成される。移動ベース41はX軸方向に延びた部材であり、ボール螺子機構をアクチュエータとする印刷ヘッド移動機構17kに駆動されることで、Y軸方向に移動する。個々のスキージ42は移動ベース41に対してY方向に並んで対向配設されており、移動ベース41のY軸方向への移動によって一体となってY軸方向に移動する。2個のスキージ42はそれぞれX軸方向に延びた「へら」状の部材であり、互いに下方に広がる姿勢で斜め下方に延びている。個々のスキージ42が対向する面は、半田Pの掻き寄せ面42aとなっている。 In FIGS. 2 and 3, a print head 17 is provided above the screen mask 13 so as to be movable in the Y-axis direction. The print head 17 includes a moving base 41, two squeegees 42, and two squeegee lifting cylinders 43. The moving base 41 is a member extending in the X-axis direction, and is moved in the Y-axis direction by being driven by the print head moving mechanism 17k having a ball screw mechanism as an actuator. The individual squeegees 42 are arranged to face the moving base 41 side by side in the Y direction, and move integrally in the Y axis direction by the movement of the moving base 41 in the Y axis direction. Each of the two squeegees 42 is a "spatular" member extending in the X-axis direction, and extends obliquely downward in a posture in which they spread downward. The surfaces of the individual squeegees 42 facing each other are the scraping surfaces 42a of the solder P.

スキージ昇降シリンダ43は、個々のスキージ42に対応して移動ベース41に対してY軸方向に並んで設けられている。2つのスキージ昇降シリンダ43は個別に作動して、スキージ42を移動ベース41に対して独立して昇降させる。個々のスキージ昇降シリンダ43は、対応するスキージ42の下端がスクリーンマスク13の上面から所定距離だけ離間した待機高さ位置(図3)と、下端がスクリーンマスク13に当接する当接高さ位置(図8(a))との間で昇降させる。 The squeegee lifting cylinders 43 are provided side by side in the Y-axis direction with respect to the moving base 41 so as to correspond to the individual squeegees 42. The two squeegee lifting cylinders 43 operate individually to lift and lower the squeegee 42 independently of the moving base 41. Each squeegee lifting cylinder 43 has a standby height position (FIG. 3) in which the lower end of the corresponding squeegee 42 is separated from the upper surface of the screen mask 13 by a predetermined distance, and an abutting height position in which the lower end contacts the screen mask 13 ( 8(a)) is moved up and down.

図3において、移動ベース41には、スキージ42の長手方向であるX軸方向に沿って移動自在なシリンジ44が設けられている。シリンジ44は、半田Pを真空状態で密封する容器44aと、半田Pが吐出される吐出口をスクリーンマスク13に向けた吐出部44bを備えている。シリンジ44は、シリンジ駆動機構45(図12)の駆動により、吐出部44bを介して容器44aに収納されている半田Pをスクリーンマスク13に供給する。シリンジ44は、半田Pをスクリーンマスク13に供給する半田供給部となっている。また、容器44aは、スクリーンマスク13に供給される前の半田Pを収納する半田収納部となっている。半田供給部はシリンジ44に限定されず、種々のものを採用してもよい。 In FIG. 3, a movable base 41 is provided with a syringe 44 that is movable along the X-axis direction that is the longitudinal direction of the squeegee 42. The syringe 44 includes a container 44a that seals the solder P in a vacuum state, and a discharge portion 44b that directs the discharge port for discharging the solder P toward the screen mask 13. The syringe 44 supplies the solder P accommodated in the container 44a to the screen mask 13 via the ejection portion 44b by the drive of the syringe drive mechanism 45 (FIG. 12). The syringe 44 is a solder supply unit that supplies the solder P to the screen mask 13. Further, the container 44a is a solder storage portion that stores the solder P before being supplied to the screen mask 13. The solder supply unit is not limited to the syringe 44, and various types may be adopted.

容器44aには、バーコードラベル46が付されている。バーコードラベル46には、容器44aを識別するための識別情報が記録されている。バーコードラベル46は、印刷装置M2や上位システム3と通信可能に接続されたバーコードリーダ47(図1)によって読み取られる。バーコードリーダ47は通信部を備えており、読み取ったバーコードラベル46を印刷装置M2に送信する。 A barcode label 46 is attached to the container 44a. Identification information for identifying the container 44a is recorded on the barcode label 46. The barcode label 46 is read by a barcode reader 47 (FIG. 1) communicatively connected to the printing apparatus M2 and the host system 3. The barcode reader 47 includes a communication unit and transmits the read barcode label 46 to the printing device M2.

図3において、印刷装置M2の筐体48の上面にはシグナルタワー49が筐体48に対して倒伏姿勢若しくは起立姿勢となるように回動自在に設けられている。シグナルタワー49は、印刷装置M2で異常が発生した場合等に点滅し、作業者OP(図2)に報知する。 In FIG. 3, a signal tower 49 is rotatably provided on the upper surface of the casing 48 of the printing apparatus M2 so as to be in a lying posture or a standing posture with respect to the casing 48. The signal tower 49 blinks when an abnormality occurs in the printing apparatus M2, and notifies the operator OP (FIG. 2).

次に、印刷装置M2における動作を説明する。以下の動作は、印刷装置M2に備えられた制御部90(図12)が各種機構を制御することによってなされる。まず図6(a)に示すように、基板保持部21は、搬入コンベア14から受け取った基板4を位置決めコンベア31によって所定のクランプ位置に位置決めし、下受け部32により下方から支持したうえで、クランパ33によってクランプする(矢印a)。次いで図6(b)に示すように、移動テーブル部22は基板保持部21を移動させ、基板4をスクリーンマスク13の基板接触エリアRの下方に位置させる(矢印b)。 Next, the operation of the printing device M2 will be described. The following operation is performed by the control unit 90 (FIG. 12) provided in the printing apparatus M2 controlling various mechanisms. First, as shown in FIG. 6A, the substrate holding unit 21 positions the substrate 4 received from the carry-in conveyor 14 at a predetermined clamp position by the positioning conveyor 31 and supports it from below by the lower receiving unit 32. The clamper 33 clamps (arrow a). Next, as shown in FIG. 6B, the moving table unit 22 moves the substrate holding unit 21 to position the substrate 4 below the substrate contact area R of the screen mask 13 (arrow b).

次いで図7(a)に示すように、上方撮像部16aは基板接触エリアR内に設けられた一対のマスク側マーク13m(図5)を下方から撮像する。また、下方撮像部16bは基板保持部21に保持された基板4の一対の基板側マーク4m(図4)を撮像する。次いで図7(b)に示すように、基板保持移動機構12は、マスク側マーク13mと基板側マーク4mが平面視において一致するように基板4を移動させたうえで上昇させ、基板接触エリアRに基板4を接触させる(矢印c)。これにより、各電極4dは対応する開口部13hと合致してスクリーンマスク13の上面側に露出する。 Next, as shown in FIG. 7A, the upper imaging section 16a images the pair of mask-side marks 13m (FIG. 5) provided in the substrate contact area R from below. The lower imaging unit 16b also images the pair of substrate-side marks 4m (FIG. 4) of the substrate 4 held by the substrate holding unit 21. Next, as shown in FIG. 7B, the substrate holding/moving mechanism 12 moves the substrate 4 so that the mask-side mark 13m and the substrate-side mark 4m coincide with each other in plan view, and then raises them so that the substrate contact area R The substrate 4 is contacted with (arrow c). As a result, each electrode 4d matches the corresponding opening 13h and is exposed on the upper surface side of the screen mask 13.

基板4が基板接触エリアRに接触した状態では、個々のクランパ33は基板接触エリアRを外れたエリアでスクリーンマスク13の下面に接触する。図5に示すように、半田Pは、基板接触エリアRを外れた一方のクランパ33の上方に対応するスクリーンマスク13上のエリアに供給される(図5)。 When the substrate 4 is in contact with the substrate contact area R, each clamper 33 contacts the lower surface of the screen mask 13 in an area outside the substrate contact area R. As shown in FIG. 5, the solder P is supplied to the area on the screen mask 13 corresponding to the upper side of the one clamper 33 outside the substrate contact area R (FIG. 5).

次いで、スキージ42によるスキージング動作が実行される。すなわち図8(a)に示すように、一方のスキージ42は、クランパ33の上方において当接高さ位置に下降することで、下端をスクリーンマスク13に当接させる。次いで図8(b)に示すように、移動ベース41はY軸方向に移動することで、一方のスキージ42をスクリーンマスク13上で摺動させる(矢印d)。スキージ42によって掻き寄せられる半田Pはスクリーンマスク13上でローリングし、開口部13hを通過するときにその開口部13h内に充填される。スキージ42が摺動している間、半田Pにはストレスがかかって粘度が低下した状態となる。一方のクランパ33から他方のクランパ33の上方まで移動したスキージ42は、待機高さ位置まで上昇する。 Then, the squeegee operation by the squeegee 42 is executed. That is, as shown in FIG. 8A, one of the squeegees 42 descends to the contact height position above the clamper 33 to bring the lower end into contact with the screen mask 13. Next, as shown in FIG. 8B, the moving base 41 moves in the Y-axis direction to slide one squeegee 42 on the screen mask 13 (arrow d). The solder P scraped by the squeegee 42 rolls on the screen mask 13 and is filled in the opening 13h when passing through the opening 13h. While the squeegee 42 is sliding, stress is applied to the solder P and the viscosity is lowered. The squeegee 42 that has moved from one clamper 33 to above the other clamper 33 rises to the standby height position.

半田Pを充填後、基板保持移動機構12は基板保持部21を下降させて版離れを行う。これにより、基板4の電極4d上には、スクリーンマスク13の厚さに対応した半田Pの層である半田部Pa(図9)が形成される。次いで、基板保持移動機構12はクランパ33を開いて基板4の保持を解除し、位置決めコンベア31を作動させて搬出コンベア15に受け渡す。搬出コンベア15は受け取った基板4を下流の印刷検査装置M3へ搬出する。これにより、印刷装置M2における作業が終了する。その後、印刷装置M2には新たな基板4が搬入されるが、その基板4に対しては他方のスキージ42が摺動することで半田Pが印刷される。このように、本実施の形態1における印刷装置M2は、ペースト状の半田Pが供給されたスクリーンマスク13に対してスキージ42を摺動させることで基板4に半田Pを印刷する。 After filling the solder P, the substrate holding/moving mechanism 12 lowers the substrate holding portion 21 to separate the plate. As a result, the solder portion Pa (FIG. 9) which is a layer of the solder P corresponding to the thickness of the screen mask 13 is formed on the electrode 4d of the substrate 4. Next, the substrate holding/moving mechanism 12 opens the clamper 33 to release the holding of the substrate 4, operates the positioning conveyor 31, and transfers the substrate 4 to the carry-out conveyor 15. The carry-out conveyor 15 carries out the received substrate 4 to the print inspection device M3 located downstream. As a result, the work of the printing apparatus M2 is completed. Then, the new board 4 is carried into the printing apparatus M2, and the solder P is printed on the board 4 by sliding the other squeegee 42. In this way, the printing apparatus M2 in the first embodiment prints the solder P on the substrate 4 by sliding the squeegee 42 on the screen mask 13 to which the paste-like solder P is supplied.

次に図9を参照して、印刷検査装置M3の構成について説明する。基台51の上面には、印刷装置M2及び電子部品搭載装置M4と連結された基板搬送機構52が設けられている。基板搬送機構52は、印刷装置M2から搬出された半田印刷後の基板4を搬送して所定の検査位置に位置決めする。基板搬送機構52の上方には、Y軸方向に伸びたY軸ビーム53と、X軸方向に伸びたX軸ビーム54より成るカメラ移動機構によって水平移動する検査用カメラ55が設けられている。カメラ移動機構を作動させることにより、検査用カメラ55は検査位置に位置決めされた基板4の上方に移動して半田部Paを撮像する。 Next, the configuration of the print inspection device M3 will be described with reference to FIG. On the upper surface of the base 51, a substrate transfer mechanism 52 connected to the printing device M2 and the electronic component mounting device M4 is provided. The board carrying mechanism 52 carries the board 4 after solder printing carried out from the printing apparatus M2 and positions it at a predetermined inspection position. An inspection camera 55 that is horizontally moved by a camera moving mechanism including a Y-axis beam 53 extending in the Y-axis direction and an X-axis beam 54 extending in the X-axis direction is provided above the substrate transfer mechanism 52. By operating the camera moving mechanism, the inspection camera 55 moves above the substrate 4 positioned at the inspection position and images the solder portion Pa.

半田部Paの撮像データは印刷検査装置M3に備えられた検査処理部104(図16)によって認識処理されることで、基板4に印刷された半田Pの印刷状態の各種検査が実行される。検査処理部104が実行する検査項目としては、例えば、半田部Paの印刷量が十分であるか否かの検査が挙げられる。なお、印刷検査装置M3が有する機能を印刷装置M2に組み入れ、印刷装置M2で検査を行ってもよい。 The image pickup data of the solder portion Pa is subjected to recognition processing by the inspection processing unit 104 (FIG. 16) provided in the print inspection apparatus M3, so that various inspections of the printing state of the solder P printed on the substrate 4 are executed. Examples of the inspection items executed by the inspection processing unit 104 include inspection of whether or not the printing amount of the solder portion Pa is sufficient. The function of the print inspection device M3 may be incorporated into the print device M2 and the print device M2 may perform the inspection.

次に図10及び図11を参照して、電子部品搭載装置M4〜M6について説明する。基台60の中央部には、X軸方向に延びた一対の搬送コンベアを備えた基板搬送機構61が設けられている。基板搬送機構61は、基板4を搬送して所定の実装作業位置に位置決めする。基板搬送機構61の両側には、部品供給部62がそれぞれ配置されている。部品供給部62には、台車63に装着された複数のテープフィーダ64が配置されている。テープフィーダ64は、電子部品5を保持したキャリアテープ65をピッチ送りすることによって、後述する搭載ヘッド69による部品取出位置まで電子部品5を供給する。キャリアテープ65は、台車63に回転自在に保持された供給リール66に巻回収納されている。 Next, the electronic component mounting apparatuses M4 to M6 will be described with reference to FIGS. A substrate transfer mechanism 61 including a pair of transfer conveyors extending in the X-axis direction is provided at the center of the base 60. The board transfer mechanism 61 transfers the board 4 and positions it at a predetermined mounting work position. The component supply units 62 are arranged on both sides of the board transfer mechanism 61, respectively. In the component supply unit 62, a plurality of tape feeders 64 mounted on the carriage 63 are arranged. The tape feeder 64 feeds the electronic component 5 to the component take-out position by the mounting head 69 described later by feeding the carrier tape 65 holding the electronic component 5 by pitch. The carrier tape 65 is wound and accommodated on a supply reel 66 which is rotatably held by a carriage 63.

基台60のX軸方向における一端部にはY軸ビーム67が設けられており、Y軸ビーム67にはX軸ビーム68がY軸方向に移動自在に架設されている。X軸ビーム68には搭載ヘッド69がX軸方向に移動自在に装着されている。搭載ヘッド69は、Y軸ビーム67、X軸ビーム68の駆動によってXY面内で移動する。 A Y-axis beam 67 is provided at one end of the base 60 in the X-axis direction, and an X-axis beam 68 is installed on the Y-axis beam 67 so as to be movable in the Y-axis direction. A mounting head 69 is mounted on the X-axis beam 68 so as to be movable in the X-axis direction. The mounting head 69 moves in the XY plane by driving the Y-axis beam 67 and the X-axis beam 68.

搭載ヘッド69には、電子部品5を吸着して保持可能な複数の吸着ノズル70が装着されている。吸着ノズル70は部品取り出し位置に供給された電子部品5を取り出し、基板4に搭載する。 A plurality of suction nozzles 70 capable of sucking and holding the electronic component 5 are mounted on the mounting head 69. The suction nozzle 70 takes out the electronic component 5 supplied to the component taking-out position and mounts it on the substrate 4.

図10において、搭載ヘッド69は撮像視野を下方に向けた基板認識カメラ71を備えている。基板認識カメラ71は、実装作業位置に位置決めされた基板4の基板側マーク4mやバーコードラベル4bを撮像する。基板搬送機構61とテープフィーダ64の間には、撮像視野を上方に向けた部品認識カメラ72が設けられている。部品認識カメラ72は、その上方を移動する搭載ヘッド69により保持された電子部品5を下方から撮像する。図11では、Y軸ビーム67とX軸ビーム68と基板認識カメラ71等の図示を省略している。 In FIG. 10, the mounting head 69 includes a board recognition camera 71 whose imaging field of view is directed downward. The board recognition camera 71 images the board side mark 4m and the bar code label 4b of the board 4 positioned at the mounting work position. A component recognition camera 72 having an imaging field of view directed upward is provided between the substrate transport mechanism 61 and the tape feeder 64. The component recognition camera 72 captures an image of the electronic component 5 held by the mounting head 69 that moves above the component recognition camera 72 from below. In FIG. 11, the Y-axis beam 67, the X-axis beam 68, the substrate recognition camera 71, and the like are omitted.

図11において、電子部品搭載装置M4〜M6の筐体73の上面にはシグナルタワー74が筐体73に対して倒伏姿勢若しくは起立姿勢となるように回動自在に設けられている。シグナルタワー74は、電子部品搭載装置M4〜M6で異常が発生した場合等に点滅することで、作業者OPに報知する。 In FIG. 11, a signal tower 74 is rotatably provided on the upper surface of the casing 73 of the electronic component mounting apparatuses M4 to M6 so as to be in a lying posture or a standing posture with respect to the casing 73. The signal tower 74 notifies the operator OP by blinking when an abnormality occurs in the electronic component mounting apparatuses M4 to M6.

次に、電子部品搭載装置M4〜M6における動作について説明する。以下に説明する動作は、電子部品搭載装置M4〜M6が備える制御部110(図16)が各種機構を制御することによってなされる。まず、基板搬送機構61は、上流側の装置から受け取った基板4を搬送して実装作業位置に位置決めする。次いで、基板認識カメラ71は、基板4の基板側マーク4mを撮像する。次いで、搭載ヘッド69は、テープフィーダ64によって供給された電子部品5を取り出し、部品認識カメラ72の上方を経由して基板4の所望の実装点の上方へ移動する。このとき、部品認識カメラ72は、吸着ノズル70に保持された電子部品5を撮像する。次いで、搭載ヘッド69は、基板4の基板認識カメラ71と部品認識カメラ72による撮像を介して取得した撮像データに基づき、XY平面における位置とθ方向の補正がなされたうえで、電子部品5を基板4に搭載する。 Next, the operation of the electronic component mounting apparatuses M4 to M6 will be described. The operation described below is performed by the control unit 110 (FIG. 16) included in the electronic component mounting apparatuses M4 to M6 controlling various mechanisms. First, the substrate transfer mechanism 61 transfers the substrate 4 received from the upstream device and positions it at the mounting work position. Next, the board recognition camera 71 images the board-side mark 4m of the board 4. Next, the mounting head 69 takes out the electronic component 5 supplied by the tape feeder 64, and moves it above the component recognition camera 72 to above the desired mounting point on the substrate 4. At this time, the component recognition camera 72 images the electronic component 5 held by the suction nozzle 70. Next, the mounting head 69 corrects the position in the XY plane and the θ direction based on the imaging data acquired through the imaging by the substrate recognition camera 71 and the component recognition camera 72 of the substrate 4, and then the electronic component 5 is mounted. It is mounted on the substrate 4.

次に図12を参照して、制御系の構成を説明する。本実施の形態1では、上位システム3と印刷装置M2に限定して説明する。上位システム3は、通信部80、記憶部81、半田管理部82を含んで構成される。通信部80は印刷装置M2の通信部91と信号の送受信を行う。 Next, the configuration of the control system will be described with reference to FIG. In the first embodiment, the description will be limited to the host system 3 and the printing apparatus M2. The host system 3 includes a communication unit 80, a storage unit 81, and a solder management unit 82. The communication unit 80 transmits/receives signals to/from the communication unit 91 of the printing apparatus M2.

記憶部81は、基板4に半田Pを印刷するために必要な印刷作業データ81a、基板4に印刷された半田P(電極4dに形成された半田部Pa)の状態を検査するために必要な検査作業データ81b、基板4に電子部品5を搭載するために必要な搭載作業データ81cに加え、許容時間データ81d等を記憶する。 The storage unit 81 is necessary for inspecting the print work data 81a necessary for printing the solder P on the substrate 4 and the state of the solder P (the solder portion Pa formed on the electrode 4d) printed on the substrate 4. In addition to the inspection work data 81b and the mounting work data 81c required to mount the electronic component 5 on the board 4, the allowable time data 81d and the like are stored.

許容時間データ81dは、印刷装置M2においてスクリーンマスク13に供給された半田Pの使用を許容することができる時間(以後、「許容時間T1」と称する)を規定したデータである。すなわち、半田Pはチキソ性を有しており、空気に曝されることで徐々に乾燥する。なお、「乾燥する」とは、半田Pの硬度が高くなることと同義である。スクリーンマスク13上の半田Pが一定以上乾燥すると、開口部13hへの充填性が悪化して印刷不良の要因となる。また、半田Pが印刷された基板4は、印刷装置M2を搬出された後に複数の実装用装置にて所定の作業を受けるが、その間も基板4上の半田P(半田部Pa)は空気に曝され続けるので乾燥が進行する。基板4に印刷された半田Pが一定以上乾燥すると、電子部品5の電極が半田Pになじまず、基板4と電子部品5の接合強度が不十分となって不良基板が発生する。なお、半田Pは、スクリーンマスク13に供給されてから、基板4に印刷された状態でリフロー装置M7において溶融される前までの間に乾燥が進行する。そこで、スクリーンマスク13上に供給された半田Pを対象として、基板4に印刷されるまで空気に晒されることを許容できる時間を許容時間T1として設定し、許容時間T1を超えた場合は半田Pを基板4に印刷しないようにしている。 The allowable time data 81d is data defining a time (hereinafter referred to as "allowable time T1") in which the use of the solder P supplied to the screen mask 13 in the printing apparatus M2 is allowed. That is, the solder P has thixotropy and is gradually dried by being exposed to air. In addition, "drying" is synonymous with increasing the hardness of the solder P. If the solder P on the screen mask 13 dries to a certain extent or more, the filling property into the opening 13h deteriorates, which causes printing failure. The substrate 4 on which the solder P is printed is subjected to a predetermined work by a plurality of mounting devices after being discharged from the printing device M2, and the solder P (solder portion Pa) on the substrate 4 is also exposed to air during that time. As the exposure continues, the drying progresses. When the solder P printed on the substrate 4 dries for a certain amount or more, the electrodes of the electronic component 5 do not adapt to the solder P, the bonding strength between the substrate 4 and the electronic component 5 becomes insufficient, and a defective substrate occurs. The solder P is dried before being supplied to the screen mask 13 and before being melted in the reflow device M7 while being printed on the substrate 4. Therefore, for the solder P supplied on the screen mask 13, the time allowed to be exposed to the air until it is printed on the substrate 4 is set as the allowable time T1, and when the allowable time T1 is exceeded, the solder P is set. Are not printed on the substrate 4.

図13を参照して、許容時間T1を決定する一例について説明する。許容時間データ81dには、実装基板を製造する目的のために、半田Pがスクリーンマスク13に供給されてから、基板4に印刷された状態でリフロー装置M7にて溶融されるまでの間に、半田Pが空気に晒されることを許容できる許容時間T2が含まれている。なお、許容時間T2は個別に記憶部81に記憶されていてもよい。また、記憶部81には、印刷検査装置M3で基板4が所定の作業を受けて隣接する下流側装置に搬送されるまでに要すると推定される推定時間taと、個々の電子部品搭載装置M4〜M6で基板4が所定の作業を受けて隣接する下流側装置に搬送されるまでに要すると推定される推定時間tb,tc,tdが記憶されている。したがって、印刷装置M2で設定可能な許容時間T1の最大値は、許容時間T2から推定時間ta,tb,tc,tdを減算することで求められる(許容時間T1の最大値=T2−(ta+tb+tc+td))。許容時間T1は最大値の範囲内で決定される。なお、許容時間T1の算出は上記に限定されず、様々な考えに基づいて行ってよい。このように、記憶部81は、スクリーンマスク13に供給された半田Pの許容時間T1を記憶する。 An example of determining the allowable time T1 will be described with reference to FIG. In the allowable time data 81d, for the purpose of manufacturing the mounting board, the solder P is supplied to the screen mask 13 and is printed on the board 4 until it is melted by the reflow device M7. An allowable time T2 that allows the solder P to be exposed to the air is included. The allowable time T2 may be individually stored in the storage unit 81. Further, in the storage unit 81, an estimated time ta estimated to be required until the substrate 4 is subjected to a predetermined work in the print inspection device M3 and conveyed to the adjacent downstream side device, and the individual electronic component mounting device M4. Stored are the estimated times tb, tc, and td estimated to be required for the substrate 4 to undergo a predetermined work in M6 to be transported to the adjacent downstream side device. Therefore, the maximum value of the permissible time T1 that can be set by the printing device M2 is obtained by subtracting the estimated times ta, tb, tc, and td from the permissible time T2 (the maximum value of the permissible time T1=T2-(ta+tb+tc+td)). ). The allowable time T1 is determined within the maximum value range. The calculation of the allowable time T1 is not limited to the above, and may be calculated based on various ideas. In this way, the storage unit 81 stores the allowable time T1 of the solder P supplied to the screen mask 13.

半田管理部82は、スクリーンマスク13上に供給された半田Pを管理するものであり、内部処理機能として時間計測部83、判定部84を有する。時間計測部83は、半田Pがスクリーンマスク13に供給されている間の時間を計測する。計測開始のタイミングは、例えば、シリンジ44から半田Pを供給してシリンジ駆動機構45の作動が停止したときでもよい。時間計測部83による計測間隔は、スクリーンマスク13上における半田Pの状態に応じて異なる。すなわち、半田Pは与えられるストレスによって硬度が変化し、スキージ42の摺動により移動している間の半田Pの乾燥の進行度は、スクリーンマスク13上で滞留している間の進行度よりも遅い。そこで図14(a),(b)に示すように、時間計測部83は、半田移動時における計測間隔saを、半田未移動時における計測間隔sbよりも大きくして時間を計測するようにしている。 The solder management unit 82 manages the solder P supplied on the screen mask 13, and has a time measurement unit 83 and a determination unit 84 as internal processing functions. The time measuring unit 83 measures the time during which the solder P is being supplied to the screen mask 13. The measurement start timing may be, for example, when the solder P is supplied from the syringe 44 and the operation of the syringe drive mechanism 45 is stopped. The measurement interval by the time measuring unit 83 varies depending on the state of the solder P on the screen mask 13. That is, the hardness of the solder P changes according to the applied stress, and the progress of drying the solder P while the squeegee 42 slides is greater than the progress of the solder P while staying on the screen mask 13. slow. Therefore, as shown in FIGS. 14A and 14B, the time measuring unit 83 measures the time by making the measurement interval sa when the solder is moved larger than the measurement interval sb when the solder is not moved. There is.

すなわち、時間計測部83は、半田Pがスキージ42によりスクリーンマスク13上を移動している時間の計測間隔saを、半田Pがスクリーンマスク13上を移動していない時間の計測間隔sbよりも大きくなるように重み付けをして時間を計測する。なお、半田Pがスキージ42によって移動している間における乾燥の進行度はゼロに近い。そのため、時間計測部83は、重み付けによって半田Pがスキージ42によりスクリーンマスク13上を移動している間の時間を計測しないようにしてもよい。 That is, the time measuring unit 83 sets the measurement interval sa during which the solder P is moving on the screen mask 13 by the squeegee 42 to be larger than the measurement interval sb during which the solder P is not moving on the screen mask 13. The time is measured by weighting so that The degree of progress of drying while the solder P is being moved by the squeegee 42 is close to zero. Therefore, the time measuring unit 83 may not measure the time while the solder P is moving on the screen mask 13 by the squeegee 42 by weighting.

判定部84は、時間計測部83によって計測される時間(計測時間)と許容時間T1とを比較し、計測時間が許容時間T1を超えたか否かを判定する。判定部84により計測時間が許容時間T1を超えたと判定されたとき、上位システム3は通信部80を介して印刷装置M2に信号を送信する。すなわち判定部84は、時間計測部83によって計測された時間に基づいて、スクリーンマスク13に供給された半田Pが許容時間T1を超えたか否かを判定する。 The determination unit 84 compares the time measured by the time measurement unit 83 (measurement time) with the allowable time T1, and determines whether the measured time exceeds the allowable time T1. When the determination unit 84 determines that the measurement time exceeds the allowable time T1, the host system 3 transmits a signal to the printing apparatus M2 via the communication unit 80. That is, the determination unit 84 determines whether or not the solder P supplied to the screen mask 13 has exceeded the allowable time T1 based on the time measured by the time measurement unit 83.

印刷装置M2が備える制御部90は、通信部91、記憶部92、機構駆動部93、認識処理部94、作業禁止部95、報知部96を含んで構成される。記憶部92は、上位システム3から受信した印刷作業データ81aや許容時間データ81d等を記憶する。機構駆動部93は制御部90によって制御されて、搬入コンベア14等の各種機構を駆動する。これにより、半田Pが供給されたスクリーンマスク13上でスキージ42を摺動させ、スクリーンマスク13の下面に位置決めされた基板4に半田Pを印刷する作業が実行される。 The control unit 90 included in the printing apparatus M2 includes a communication unit 91, a storage unit 92, a mechanism driving unit 93, a recognition processing unit 94, a work prohibition unit 95, and a notification unit 96. The storage unit 92 stores the print work data 81a, the permissible time data 81d, and the like received from the host system 3. The mechanism drive unit 93 is controlled by the control unit 90 to drive various mechanisms such as the carry-in conveyor 14. As a result, the work of sliding the squeegee 42 on the screen mask 13 to which the solder P is supplied and printing the solder P on the substrate 4 positioned on the lower surface of the screen mask 13 is executed.

認識処理部94は、カメラ16によって撮像された基板側マーク4m及びマスク側マーク13mの撮像データを認識処理することで、スクリーンマスク13と基板4の位置ずれ量を求める。基板保持移動機構12は、求められた位置ずれ量に基づいて基板4を移動させ、スクリーンマスク13の下面に位置決めする。また、認識処理部94はカメラ16によって撮像されたバーコードラベル4bの撮像データを認識処理することで、基板4の識別情報を認識する。これにより、印刷装置M2に搬入された基板4が特定される。 The recognition processing unit 94 obtains the amount of positional deviation between the screen mask 13 and the substrate 4 by performing recognition processing on the imaged data of the board side mark 4m and the mask side mark 13m taken by the camera 16. The substrate holding/moving mechanism 12 moves the substrate 4 based on the obtained positional displacement amount and positions it on the lower surface of the screen mask 13. Further, the recognition processing unit 94 recognizes the identification information of the substrate 4 by recognizing the imaged data of the barcode label 4b imaged by the camera 16. As a result, the board 4 carried into the printing apparatus M2 is specified.

作業禁止部95は、時間計測部83による計測時間が許容時間T1を超えたと判定部84によって判定されたとき、上位システム3から信号を受信することで、印刷装置M2での作業を禁止させる。より具体的には、作業禁止部95は機構駆動部93に作業禁止を指令し、当該指令を受けた機構駆動部93は各種機構の駆動を停止する。すなわち作業禁止部95は、判定部84によってスクリーンマスク13に供給された半田Pが許容時間T1を超えたと判定された場合に、基板4に半田Pを印刷するための作業を禁止させる。 When the determination unit 84 determines that the time measured by the time measurement unit 83 exceeds the allowable time T1, the work prohibition unit 95 receives a signal from the higher-level system 3 to prohibit the work on the printing apparatus M2. More specifically, the work prohibition unit 95 instructs the mechanism drive unit 93 to prohibit work, and the mechanism drive unit 93 that has received the command stops driving of various mechanisms. That is, the work inhibiting unit 95 inhibits the work for printing the solder P on the substrate 4 when the determining unit 84 determines that the solder P supplied to the screen mask 13 exceeds the allowable time T1.

報知部96は、判定部84による計測時間が許容時間T1を超えたと判定されたとき、上位システム3から信号を受信することで、シグナルタワー49を点灯させる。これにより、作業者OPは印刷装置M2で異常が発生したことに気付くことができる。すなわち報知部96は、判定部84によってスクリーンマスク13に供給された半田Pが許容時間T1を超えたと判定された場合に作業者に報知する。なお、報知部96は、作業禁止部95によって印刷装置M2での作業が禁止されたときに、シグナルタワー49を点灯させるようにしてもよい。 When the notification unit 96 determines that the measurement time by the determination unit 84 exceeds the allowable time T1, the notification unit 96 receives the signal from the host system 3 to turn on the signal tower 49. As a result, the operator OP can notice that an abnormality has occurred in the printing apparatus M2. That is, the notification unit 96 notifies the operator when the determination unit 84 determines that the solder P supplied to the screen mask 13 has exceeded the allowable time T1. The notification unit 96 may light the signal tower 49 when the work prohibiting unit 95 prohibits the work on the printing apparatus M2.

本実施の形態1における電子部品実装システム1は以上のように構成される。次に図15のフローチャートを参照して、半田Pの管理方法について説明する。まず、時間計測部83は計測時間をクリア、すなわちゼロにする(ST1:計測時間クリア工程)。次いで、シリンジ44はスクリーンマスク13に半田Pを供給する(ST2:半田供給工程)。次いで、時間計測部83は半田Pがスクリーンマスク13上で滞留している状態に対応した計測間隔、すなわち図14(b)に示す半田未移動に対応した計測間隔で時間の計測を開始する(ST3:半田未移動時間計測工程)。 The electronic component mounting system 1 according to the first embodiment is configured as described above. Next, a method of managing the solder P will be described with reference to the flowchart of FIG. First, the time measuring unit 83 clears the measurement time, that is, sets it to zero (ST1: measurement time clearing step). Next, the syringe 44 supplies the solder P to the screen mask 13 (ST2: solder supply step). Next, the time measuring unit 83 starts measuring time at a measurement interval corresponding to a state in which the solder P stays on the screen mask 13, that is, a measurement interval corresponding to unmoved solder shown in FIG. 14B. ST3: Solder non-transfer time measuring step).

次いで、判定部84は時間計測部83によって計測される時間が許容時間T1を超えたか否かを判定する(ST4:第1の許容時間超過判定工程)。許容時間T1を超えていないと判定された場合((ST4)で示す「No」)、時間計測部83はスキージ42の摺動が開始されたか否かを判断する(ST5:摺動開始有無判断工程)。「スキージ42の摺動が開始された」とは、スクリーンマスク13上の半田Pがスキージ42によって掻き寄せられることで移動を開始することを意味する。スキージ42の摺動が開始されていないと判断された場合((ST5)で示す「No」)は(ST4)に戻る。 Next, the determination unit 84 determines whether or not the time measured by the time measurement unit 83 exceeds the allowable time T1 (ST4: first allowable time excess determination step). When it is determined that the allowable time T1 is not exceeded (“No” shown in (ST4)), the time measuring unit 83 determines whether or not the squeegee 42 has started sliding (ST5: slide start presence/absence determination). Process). “The sliding of the squeegee 42 has started” means that the solder P on the screen mask 13 is scraped by the squeegee 42 to start moving. When it is determined that the squeegee 42 has not started sliding (“No” shown in (ST5)), the process returns to (ST4).

その一方で、スキージ42の摺動が開始されたと判断された場合((ST5)で示す「Yes」)、時間計測部83は半田未移動時間の計測間隔に対応した時間の計測を停止する(ST6:半田未移動時間計測停止工程)。そして、時間計測部83は図14(a)で示す半田移動に対応した計測間隔で計測を開始する(ST7:半田移動時間計測開始工程)。(ST6)と(ST7)は、時間計測部83による時間の計測間隔を切り換える計測間隔切り換え工程を構成する。 On the other hand, when it is determined that the sliding of the squeegee 42 has started (“Yes” shown in (ST5)), the time measuring unit 83 stops measuring the time corresponding to the solder non-moving time measurement interval ( ST6: Solder non-moving time measurement stopping step). Then, the time measuring unit 83 starts measurement at a measurement interval corresponding to the solder movement shown in FIG. 14A (ST7: solder movement time measurement starting step). (ST6) and (ST7) constitute a measurement interval switching step of switching the time measurement interval by the time measuring unit 83.

次いで判定部84は、時間計測部83により計測された時間、すなわち半田未移動時間に対応した計測間隔で計測された時間と、半田移動時間に対応した計測間隔で計測された時間の合計時間が許容時間T1を超えたか否かを判定する(ST8:第2の許容時間判定工程)。 Next, the determination unit 84 determines the total time of the time measured by the time measurement unit 83, that is, the time measured at the measurement interval corresponding to the solder non-moving time and the time measured at the measurement interval corresponding to the solder moving time. It is determined whether the allowable time T1 has been exceeded (ST8: second allowable time determining step).

許容時間T1を超えていないと判定された場合((ST8)で示す「No」)、時間計測部83はスキージ42の摺動が終了したか否かを判断する(ST9:摺動終了有無判断工程)。ここでの判断は、例えば、移動ベース41の駆動源である印刷ヘッド移動機構17kの駆動の停止の有無でなされる。スキージ42の摺動が終了していないと判断された場合((ST9)で示す「No」)、(ST8)に戻る。その一方で、スキージ42の摺動が終了したと判断された場合(ST9で示す「Yes」)、時間計測部83は半田移動時間に対応した計測間隔での時間の計測を停止する(ST10:半田移動時間計測停止工程)。次いで(ST3)に戻り、時間計測部83は半田未移動に対応した計測間隔で時間の計測を開始する。その後の(ST4)では、判定部84は、これまでに計測された計測時間、すなわち半田未移動時間と半田移動時間のそれぞれに対応した計測間隔で計測された時間の合計時間に基づいて許容時間T1を超えたか否かを判定する。 When it is determined that the allowable time T1 is not exceeded (“No” shown in (ST8)), the time measuring unit 83 determines whether or not the sliding of the squeegee 42 is completed (ST9: determination of completion of sliding). Process). The determination here is made, for example, based on whether or not the drive of the print head moving mechanism 17k, which is the drive source of the moving base 41, is stopped. When it is determined that the sliding of the squeegee 42 is not completed (“No” shown in (ST9)), the process returns to (ST8). On the other hand, when it is determined that the squeegee 42 has finished sliding (“Yes” in ST9), the time measuring unit 83 stops measuring the time at the measurement interval corresponding to the solder movement time (ST10: Solder transfer time measurement stop process). Next, returning to (ST3), the time measuring unit 83 starts measuring time at a measurement interval corresponding to the unmoved solder. In (ST4) thereafter, the determination unit 84 determines the allowable time based on the total measurement time measured up to now, that is, the total time measured at the measurement intervals corresponding to the solder non-moving time and the solder moving time, respectively. It is determined whether T1 is exceeded.

また、(ST4)又は(ST8)において、時間計測部83により計測された計測時間が許容時間T1を超えたと判定された場合((ST4)又は(ST8)で示す「Yes」)、上位システム3は印刷装置M2に信号を送信し、作業禁止部95は印刷装置M2での作業を禁止させる(ST11:作業禁止工程)。次いで、報知部96はシグナルタワー49を点灯させて作業者OPに報知する(ST12:報知工程)。 Further, in (ST4) or (ST8), when it is determined that the measurement time measured by the time measuring unit 83 exceeds the allowable time T1 (“Yes” shown in (ST4) or (ST8)), the higher system 3 Transmits a signal to the printing apparatus M2, and the work prohibition unit 95 prohibits the work on the printing apparatus M2 (ST11: work prohibition step). Next, the notification unit 96 lights the signal tower 49 to notify the operator OP (ST12: notification step).

次いで、作業禁止部95は、作業禁止を解除するための禁止解除作業が完了したか否かを判断する(ST13:禁止解除作業完了判断工程)。すなわち、報知を受けた作業者OPは、禁止解除作業の一つであるスクリーンマスク13上の半田Pを除去する作業を行う。また、シリンジ44の容器44aに貯留された半田Pが一定量以下である場合、作業者OPは新規の容器44aに交換する作業を行う。このとき、作業者OPはバーコードリーダ47の読み取り面を容器44aに付されているバーコードラベル46に相対させる。これにより、バーコードリーダ47はバーコードラベル46を読み取り、印刷装置M2に送信する。印刷装置M2の制御部90は、送信されたバーコードラベル46に基づいて、新たに交換された容器44aの識別情報を認識する。バーコードリーダ47と制御部90は、識別情報を認識する認識部を構成する。 Next, the work prohibition unit 95 determines whether the prohibition cancellation work for canceling the work prohibition is completed (ST13: prohibition cancellation work completion determination step). That is, the operator OP who received the notification performs the work of removing the solder P on the screen mask 13 which is one of the prohibition releasing works. Further, when the amount of the solder P stored in the container 44a of the syringe 44 is less than or equal to a certain amount, the worker OP performs a work of replacing the solder P with a new container 44a. At this time, the operator OP makes the reading surface of the barcode reader 47 face the barcode label 46 attached to the container 44a. As a result, the barcode reader 47 reads the barcode label 46 and sends it to the printing device M2. The control unit 90 of the printing device M2 recognizes the identification information of the newly replaced container 44a based on the transmitted barcode label 46. The barcode reader 47 and the control unit 90 form a recognition unit that recognizes identification information.

作業禁止部95は、識別情報が認識されたことを受けて禁止解除作業が完了したと判断し((ST13)で示す「Yes」)、印刷装置M2での作業の禁止を解除する。すなわち、作業禁止部95は、認識部によって識別情報が認識されるまで作業を禁止させる。なお、容器44aに貯留された半田Pの量が十分なことから容器44aの交換作業が必要無い場合、作業者OPは許容時間T1を過ぎたスクリーンマスク13上の半田Pを除去した後、操作入力部としてのタッチパネル(図示省略)を介して禁止解除作業が完了した旨の入力を行う。(ST13)で禁止解除作業が完了したと判断された場合は、(ST1)に戻る。 The work prohibition unit 95 determines that the prohibition cancellation work is completed in response to the recognition of the identification information (“Yes” in (ST13)), and cancels the prohibition of the work on the printing apparatus M2. That is, the work prohibition unit 95 prohibits the work until the identification information is recognized by the recognition unit. When the amount of the solder P stored in the container 44a is sufficient and the container 44a does not need to be replaced, the operator OP removes the solder P on the screen mask 13 after the allowable time T1 and then performs the operation. An input indicating that the prohibition cancellation work has been completed is input via a touch panel (not shown) as an input unit. When it is determined in (ST13) that the prohibition cancellation work is completed, the process returns to (ST1).

以上説明したように、本実施の形態1における印刷装置M2によれば、半田Pがスキージ42によりスクリーンマスク13上を移動している時間の計測間隔を、半田Pがスクリーンマスク13上を移動していない時間の計測間隔よりも大きくなるように重み付けをして時間を計測するので、半田Pをより正確に管理して不良基板の発生を未然に防止することができる。本実施の形態1において、半田管理部82を備えた上位システム3と印刷装置M2は、半田管理システムを構成する。 As described above, according to the printing apparatus M2 in the first embodiment, the solder P moves on the screen mask 13 at the measurement interval of the time during which the solder P moves on the screen mask 13 by the squeegee 42. Since the time is measured by weighting it so as to be larger than the measurement interval of the unused time, it is possible to more accurately manage the solder P and prevent the occurrence of a defective substrate. In the first embodiment, the host system 3 including the solder management section 82 and the printing apparatus M2 constitute a solder management system.

本実施の形態1における印刷装置M2及び半田管理システムはこれまで説明した構成に限定されず、発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜設計変更することができる。例えば、時間計測部83による計測時間が許容時間T2を超えたか否かを判定部84によって判定し、計測時間が許容時間T2を超えたと判定された場合に作業禁止部95によって作業を禁止するようにしてもよい。また、半田管理部82を印刷装置M2に組み入れてもよく、作業禁止部95、報知部96を上位システム3に組み入れてもよい。さらに、バーコードリーダ47は読み取ったバーコードラベル46を上位システム3に送信してもよい。 The printing apparatus M2 and the solder management system according to the first embodiment are not limited to the configurations described so far, and can be appropriately modified in design without departing from the spirit of the invention. For example, the determining unit 84 determines whether or not the time measured by the time measuring unit 83 exceeds the allowable time T2, and when the measured time exceeds the allowable time T2, the work prohibiting unit 95 prohibits the work. You may Further, the solder management unit 82 may be incorporated in the printing apparatus M2, and the work prohibition unit 95 and the notification unit 96 may be incorporated in the host system 3. Further, the barcode reader 47 may send the read barcode label 46 to the host system 3.

(実施の形態2)
次に、本発明の実施の形態2を説明する。本実施の形態2では、印刷検査装置M3や電子部品搭載装置M4〜M6等の実装用装置を搬送される基板4に印刷された半田P(電極4dに形成された半田部Pa)も管理する点で、本実施の形態1と相違する。まずは図16を参照して、制御系の構成について説明する。なお、本実施の形態1で説明した構成と同じものについては、その説明を省略する。
(Embodiment 2)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the second embodiment, the solder P (solder portion Pa formed on the electrode 4d) printed on the substrate 4 conveyed by the mounting device such as the print inspection device M3 and the electronic component mounting devices M4 to M6 is also managed. This point is different from the first embodiment. First, the configuration of the control system will be described with reference to FIG. The description of the same components as those described in the first embodiment will be omitted.

図16において、上位システム3Aが備える半田管理部82Aは、時間計測部83A、判定部84A、推定時間算出部85を含んで構成される。時間計測部83Aは、半田Pがスクリーンマスク13上に供給されてから基板4に印刷されるまでの時間と、印刷装置M2によって半田Pが基板4に印刷されてからの時間を計測する。半田Pがスクリーンマスク13上に供給されてから基板4に印刷されるまでの時間は、本実施の形態1で説明したとおり、時間計測部83Aによって、半田移動時間と半田未移動時間のそれぞれに対応する計測間隔に基づいて計測される。すなわち、半田Pがスクリーンマスク13上に供給されてから基板4に印刷されるまでの時間は、半田Pがスキージ42によりスクリーンマスク13上を移動している時間と、半田Pがスクリーンマスク13上を移動していない時間の合計時間である。また、時間計測部83Aは、半田Pがスキージ42によりスクリーンマスク13上を移動している時間の計測間隔を、半田Pがスクリーンマスク13上を移動していない時間の計測間隔よりも小さくなるように重み付けをして時間を計測する。 In FIG. 16, the solder management unit 82A included in the upper system 3A includes a time measuring unit 83A, a determination unit 84A, and an estimated time calculation unit 85. The time measuring unit 83A measures the time from when the solder P is supplied onto the screen mask 13 to when it is printed on the substrate 4 and the time after the solder P is printed on the substrate 4 by the printing device M2. As described in the first embodiment, the time from when the solder P is supplied onto the screen mask 13 to when it is printed on the substrate 4 is set to the solder moving time and the solder non-moving time by the time measuring unit 83A. It is measured based on the corresponding measurement interval. That is, the time from when the solder P is supplied onto the screen mask 13 to when it is printed on the substrate 4 is the time during which the solder P is moving on the screen mask 13 by the squeegee 42 and the time when the solder P is above the screen mask 13. Is the total time of not moving. Further, the time measuring unit 83A makes the measurement interval of the time during which the solder P is moving on the screen mask 13 by the squeegee 42 smaller than the measurement interval during which the solder P is not moving over the screen mask 13. Is weighted and time is measured.

半田Pが基板4に印刷されてからの計測開始タイミングは、例えば、基板4への半田Pの印刷のためにスキージ42の摺動が終了した時点を設定してもよい。時間計測部83Aによる時間の計測は個々の基板4ごとに行われ、半田Pの管理が不要となる位置、すなわち基板4がリフロー装置M7の溶融ゾーンに搬入されたとき、若しくは後述する判定部84Aによって基板4上の半田Pが許容時間T2を超えたと判定された時点で終了する。 The measurement start timing after the solder P is printed on the substrate 4 may be set, for example, when the sliding of the squeegee 42 for printing the solder P on the substrate 4 is completed. The time measurement by the time measurement unit 83A is performed for each individual substrate 4, and the position where the management of the solder P is not required, that is, when the substrate 4 is carried into the melting zone of the reflow device M7, or the determination unit 84A described later is performed. The process ends when it is determined that the solder P on the board 4 has exceeded the allowable time T2.

判定部84Aは、時間計測部83によって計測された時間に基づいて、基板4に印刷された半田Pが許容時間T2を超えたか否かを判定する。許容時間T2とは、前述のとおり、半田Pがスクリーンマスク13に供給されてから、基板4に印刷された状態でリフロー装置M7にて溶融されるまでの間に、半田Pが空気中に晒されることを許容できる時間である。 The determination unit 84A determines whether or not the solder P printed on the substrate 4 has exceeded the allowable time T2, based on the time measured by the time measurement unit 83. As described above, the allowable time T2 means that the solder P is exposed to the air between the time when the solder P is supplied to the screen mask 13 and the time when the solder P is printed on the substrate 4 and melted by the reflow device M7. It is a time that can be allowed to be given.

判定部84Aによる具体的な判定方法を2つ例示する。一つめの例は、時間計測部83Aによって計測される時間が、許容時間T2を超えたか否かを判定する方法である。例えば、基板4が電子部品搭載装置M4に搬入された時点で、時間計測部83Aによって計測される計測時間teが許容時間T2を超えるような場合には、当該基板4に印刷された半田Pは使用できない状態となっている。したがって、その基板4は電子部品5が搭載されても不良基板として破棄されることを免れない。そこで、半田Pがスクリーンマスク13に供給されてからの時間(経過時間)を計測し、基板4が実装用装置を搬送される所定の時点で許容時間T2を超えたならば、当該半田Pが印刷された基板4に対する作業を禁止させることで、電子部品5の無駄を防止するようにしている。すなわち一つめの例では、判定部84Aは、半田Pがスクリーンマスク13上に供給されてから基板4に印刷されるまでの時間と、半田Pが基板4に印刷されてからの時間(経過時間)の合計時間が許容時間T2を超えたか否かを判定する。 Two specific determination methods by the determination unit 84A will be illustrated. The first example is a method of determining whether or not the time measured by the time measuring unit 83A exceeds the allowable time T2. For example, when the measurement time te measured by the time measurement unit 83A exceeds the allowable time T2 when the board 4 is loaded into the electronic component mounting apparatus M4, the solder P printed on the board 4 is It cannot be used. Therefore, the board 4 is inevitably discarded as a defective board even when the electronic component 5 is mounted. Therefore, the time (elapsed time) after the solder P is supplied to the screen mask 13 is measured, and if the allowable time T2 is exceeded at a predetermined time when the board 4 is transported to the mounting apparatus, the solder P is By prohibiting the work on the printed board 4, waste of the electronic component 5 is prevented. That is, in the first example, the determination unit 84A determines that the time from the supply of the solder P onto the screen mask 13 to the printing on the substrate 4 and the time from the printing of the solder P on the substrate 4 (elapsed time). It is determined whether or not the total time of () exceeds the allowable time T2.

2つめの例は、基板4が実装用装置を搬送される所定の時点からリフロー装置M7でリフローされるまでに要すると推定される推定時間を加味する方法である。図17を参照して、基板4が電子部品搭載装置M4に搬入された時点を例に挙げて説明する。図17(a)は、半田Pがスクリーンマスク13に供給されてから基板4に印刷された状態で電子部品搭載装置M4に搬入されるまでの計測時間teと、電子部品搭載装置M4に基板4が搬入されてからリフロー装置M7にてリフローされるまでの間に要すると推定される推定時間tb,tc,tdの合計時間が、許容時間T2の範囲内である場合を示している。通常、基板4は印刷された半田Pが許容時間T2内に溶融されるように複数の実装用装置を搬送される。 The second example is a method in which the estimated time estimated to be required for the substrate 4 to be reflowed by the reflow device M7 from a predetermined time when the substrate 4 is transported by the mounting device is taken into consideration. With reference to FIG. 17, description will be given by taking as an example the time when the substrate 4 is loaded into the electronic component mounting apparatus M4. FIG. 17A shows a measurement time te from when the solder P is supplied to the screen mask 13 to when the solder P is printed on the board 4 and is carried into the electronic component mounting apparatus M4, and the board 4 in the electronic component mounting apparatus M4. It shows a case where the total time of the estimated times tb, tc, and td estimated to be required from the time when the product is carried in to the time when it is reflowed by the reflow device M7 is within the allowable time T2. Normally, the board 4 is transported through a plurality of mounting devices so that the printed solder P is melted within the allowable time T2.

推定時間算出部85は、基板4が電子部品搭載装置M4に搬入された所定の時点からリフロー装置M7にてリフローされるまでに要すると推定される推定時間を算出する。図17(a)に示す例では、基板4が電子部品搭載装置M4に搬入されてからリフロー装置M7にてリフローされるまでに要すると推定される推定時間は、電子部品搭載装置M4〜M6での推定時間tb,tc,tdを合計することで求められる。すなわち推定時間算出部85は、半田Pが印刷された基板4が実装用装置を搬送される所定の時点から、半田Pの管理が不要となる位置(ここではリフロー装置M7の溶融ゾーン)に至るまでに要すると推定される推定時間を算出する。 The estimated time calculation unit 85 calculates an estimated time estimated to be required from the predetermined time when the board 4 is loaded into the electronic component mounting apparatus M4 until the reflow is performed by the reflow apparatus M7. In the example shown in FIG. 17A, the estimated time required from the time the substrate 4 is loaded into the electronic component mounting apparatus M4 to the time it is reflowed by the reflow apparatus M7 is estimated by the electronic component mounting apparatuses M4 to M6. Is calculated by summing the estimated times tb, tc, and td. That is, the estimated time calculation unit 85 reaches a position (here, the melting zone of the reflow device M7) where the management of the solder P is unnecessary from a predetermined time when the substrate 4 on which the solder P is printed is conveyed to the mounting device. Calculate the estimated time required to complete.

図17(b)では、計測時間teと、電子部品搭載装置M4に基板4が搬入されてからリフロー装置M7にてリフローされるまでの間に要すると推定される推定時間tb,tc,tdの合計時間が、許容時間T2を超える場合を示している。この場合、基板4上の半田Pは、スクリーンマスク13に供給されてから溶融されるまでに要する時間が許容時間T2を超える。したがって、電子部品搭載装置M4〜M6において当該半田Pが印刷された基板4に作業を実行しても、電子部品5の無駄を招くだけである。したがって、判定部84Aは、半田Pがスクリーンマスク13上に供給されてから基板4に印刷されるまでの時間と、半田Pが基板に印刷されてから実装用装置を搬送される所定の時点までの時間と、所定の時点から半田Pの管理が不要となる位置(ここではリフロー装置M7における溶融ゾーン)に至るまでに要すると推定される推定時間の合計時間が許容時間T2を超えたか否かを判定するようにしている。そして、合計時間が許容時間T2を超えると判定されたならば、実装用装置での基板4に対する作業を禁止させる。これにより、不良基板の発生を早期の段階で予見できるとともに、電子部品5の無駄を防止することができる。 In FIG. 17B, the measured time te and the estimated times tb, tc, and td estimated to be required from the time the substrate 4 is loaded into the electronic component mounting apparatus M4 to the time it is reflowed by the reflow apparatus M7. The case where the total time exceeds the allowable time T2 is shown. In this case, the time required for the solder P on the substrate 4 to be melted after being supplied to the screen mask 13 exceeds the allowable time T2. Therefore, even if the work is performed on the board 4 on which the solder P is printed in the electronic component mounting apparatuses M4 to M6, the electronic component 5 is simply wasted. Therefore, the determination unit 84A determines the time from when the solder P is supplied onto the screen mask 13 to when it is printed on the substrate 4 and until a predetermined time when the solder P is printed on the substrate and is transported to the mounting apparatus. And the total estimated time required to reach the position where the management of the solder P becomes unnecessary (here, the melting zone in the reflow device M7) from the predetermined time exceeds the allowable time T2. Is decided. If it is determined that the total time exceeds the allowable time T2, the work on the board 4 in the mounting apparatus is prohibited. This makes it possible to predict the occurrence of a defective substrate at an early stage and prevent waste of the electronic component 5.

印刷検査装置M3が備える制御部100は、通信部101、記憶部102、機構駆動部103、検査処理部104、作業禁止部105、報知部106を含んで構成される。記憶部102は、上位システム3から受信した検査作業データ81bや許容時間データ81d等を記憶する。機構駆動部103は、制御部100によって制御されて、カメラ駆動機構を駆動することで、基板4の上方に検査用カメラ55を移動させる。 The control unit 100 included in the print inspection device M3 includes a communication unit 101, a storage unit 102, a mechanism driving unit 103, an inspection processing unit 104, a work prohibition unit 105, and an informing unit 106. The storage unit 102 stores the inspection work data 81b, the allowable time data 81d, and the like received from the host system 3. The mechanism drive unit 103 is controlled by the control unit 100 and drives the camera drive mechanism to move the inspection camera 55 above the substrate 4.

検査処理部104は、検査用カメラ55による撮像を介して取得した撮像データを認識処理し、半田部Paを認識する。そして、検査処理部104は、認識処理結果に基づいて半田部Paの状態を検査する。作業禁止部105は、基板4に印刷された半田Pの経過時間が許容時間T2を超えたと判定された場合、上位システム3から信号を受信することで、印刷検査装置M3での作業を禁止させる。 The inspection processing unit 104 recognizes the image data acquired through the image pickup by the inspection camera 55 and recognizes the solder portion Pa. Then, the inspection processing unit 104 inspects the state of the solder portion Pa based on the recognition processing result. When it is determined that the elapsed time of the solder P printed on the board 4 exceeds the allowable time T2, the work prohibition unit 105 receives a signal from the higher-level system 3 to prohibit work in the print inspection device M3. ..

報知部106は、検査処理部104によって半田部Paの状態が不良と判定されたならば、印刷検査装置M3に備えられたシグナルタワー107(図1)を制御して点灯させ、作業者OPに報知する。また、報知部106は、判定部84Aによって基板4に印刷された半田Pが許容時間T2を超えたと判定された場合に上位システム3から信号を受信することで、シグナルタワー107を制御して点灯させ、作業者に報知する。 If the inspection processing unit 104 determines that the state of the solder portion Pa is defective, the notification unit 106 controls and lights up the signal tower 107 (FIG. 1) provided in the print inspection apparatus M3, so that the operator OP can operate. Notify me. Further, the notification unit 106 receives a signal from the higher-level system 3 when the determination unit 84A determines that the solder P printed on the substrate 4 has exceeded the allowable time T2, thereby controlling the signal tower 107 and lighting it. And notify the operator.

電子部品搭載装置M4〜M6が備える制御部110は、通信部111、記憶部112、機構駆動部113、認識処理部114、作業禁止部115、報知部116を含んで構成される。記憶部112は、上位システム3から受信した搭載作業データ81cや許容時間データ81d等を記憶する。機構駆動部113は、制御部110によって制御されて、Y軸ビーム67等の各種機構を駆動する。これにより、基板4に電子部品5を搭載する作業が実行される。 The control unit 110 included in the electronic component mounting apparatuses M4 to M6 includes a communication unit 111, a storage unit 112, a mechanism driving unit 113, a recognition processing unit 114, a work prohibition unit 115, and a notification unit 116. The storage unit 112 stores the mounting work data 81c, the allowable time data 81d, and the like received from the host system 3. The mechanism drive unit 113 is controlled by the control unit 110 and drives various mechanisms such as the Y-axis beam 67. As a result, the work of mounting the electronic component 5 on the substrate 4 is executed.

認識処理部114は、基板認識カメラ71によって取得した撮像データや、部品認識カメラ72によって取得した撮像データを認識処理することで、基板4や電子部品5の位置ずれを求める。電子部品5の搭載位置は、この位置ずれ量に基づいて補正される。 The recognition processing unit 114 performs a recognition process on the imaged data acquired by the board recognition camera 71 and the imaged data acquired by the component recognition camera 72 to obtain the positional deviation of the board 4 and the electronic component 5. The mounting position of the electronic component 5 is corrected based on this amount of positional deviation.

作業禁止部115は、基板4に印刷された半田Pの経過時間が許容時間T2を超えたと判定された場合、上位システム3から信号を受信することで、当該基板4が搬入された電子部品搭載装置M4〜M6での作業を禁止させる。より具体的には、作業禁止部115は機構駆動部113に作業禁止を指令し、当該指令を受けた機構駆動部113は各種機構の駆動を停止する。すなわち作業禁止部115は、判定部84Aによって基板4に印刷された半田Pが許容時間T2を超えたと判定された場合に、実装用装置に対して許容時間T2を超えた半田Pが印刷された基板に電子部品5を実装するための作業を禁止させる。印刷検査装置M3の作業禁止部105も同様である。 When it is determined that the elapsed time of the solder P printed on the board 4 exceeds the allowable time T2, the work prohibition unit 115 receives a signal from the host system 3 to mount the electronic component on which the board 4 is loaded. Work on the devices M4 to M6 is prohibited. More specifically, the work prohibition unit 115 commands the mechanism drive unit 113 to prohibit work, and the mechanism drive unit 113 that has received the command stops driving of various mechanisms. That is, when the determination unit 84A determines that the solder P printed on the substrate 4 exceeds the allowable time T2, the work prohibition unit 115 prints the solder P that exceeds the allowable time T2 on the mounting apparatus. Work for mounting the electronic component 5 on the board is prohibited. The same applies to the work prohibition unit 105 of the print inspection device M3.

報知部116は、判定部84Aによって基板4に印刷された半田Pが許容時間T2を超えたと判定された場合に上位システム3から信号を受信することで、シグナルタワー74を制御して点灯させ、作業者に報知する。すなわち、報知部116は、判定部84Aによって基板4に印刷された半田Pが許容時間T2を超えたと判定された場合に作業者に報知する。印刷検査装置M3の報知部106も同様である。 When the determination unit 84A determines that the solder P printed on the substrate 4 has exceeded the allowable time T2, the notification unit 116 receives a signal from the higher-level system 3 to control and light the signal tower 74, Notify the operator. That is, the notification unit 116 notifies the operator when the determination unit 84A determines that the solder P printed on the substrate 4 has exceeded the allowable time T2. The notification unit 106 of the print inspection device M3 is also the same.

次に図18を参照して、本実施の形態2における半田Pの管理方法を説明する。ここでは、実装用装置として電子部品搭載装置M4〜M6を例に挙げ、さらに判定部84Aは一つめの判定方法で判定を行う場合を説明する。まず、基板搬送機構61は基板4を装置内に搬入する(ST21:基板搬入工程)。次いで、基板認識カメラ71は搬入された基板4のバーコードラベル4bを撮像する(ST22:撮像工程)。次いで、認識処理部114はバーコードラベル4bを認識処理し、基板4の識別情報を認識する(ST23:識別情報認識工程)。認識された識別情報は上位システム3Aに送られる。次いで、判定部84Aは、識別情報に対応する基板4に印刷された半田Pを対象として、時間計測部83Aによって計測されている計測時間を読み出す(ST24:計測時間読み出し工程)。ここで読み出される計測時間は、半田Pがスクリーンマスク13に供給されてから、基板4に印刷された状態で電子部品搭載装置M4に搬入された所定の時点までの経過時間である。 Next, a method of managing the solder P according to the second embodiment will be described with reference to FIG. Here, the case where the electronic component mounting apparatuses M4 to M6 are taken as an example of the mounting apparatus and the determination unit 84A makes a determination by the first determination method will be described. First, the substrate transfer mechanism 61 loads the substrate 4 into the apparatus (ST21: substrate loading step). Next, the board recognition camera 71 takes an image of the barcode label 4b of the board 4 that has been carried in (ST22: imaging step). Next, the recognition processing unit 114 performs recognition processing on the barcode label 4b and recognizes the identification information of the substrate 4 (ST23: identification information recognition step). The recognized identification information is sent to the upper system 3A. Next, the determination unit 84A reads out the measurement time measured by the time measurement unit 83A for the solder P printed on the substrate 4 corresponding to the identification information (ST24: measurement time reading step). The measurement time read out here is the elapsed time from the time the solder P is supplied to the screen mask 13 to the time when the solder P is loaded on the electronic component mounting apparatus M4 in a state of being printed on the substrate 4.

次いで判定部84Aは、読み出された計測時間が許容時間T2を超えたか否かを判定する(ST25:許容時間超過判定工程)。許容時間T2を超えていないと判定された場合((ST25)で示す「No」)、半田管理部82Aは電子部品搭載装置M4で所定の作業が完了したか否かを判断する(ST26:作業完了判断工程)。作業が完了したと判断されたならば((ST26)で示す「Yes」)、基板搬送機構61は基板4を下流の電子部品搭載装置M5へ搬出する(ST27:基板搬出工程)。また、作業が完了していないと判断されたならば((ST26)で示す「No」)、(ST25)に戻る。 Next, the determination unit 84A determines whether or not the read measurement time exceeds the allowable time T2 (ST25: allowable time excess determination step). When it is determined that the allowable time T2 is not exceeded (“No” shown in (ST25)), the solder management unit 82A determines whether or not a predetermined work is completed in the electronic component mounting device M4 (ST26: work). Completion judgment process). When it is determined that the work is completed (“Yes” in (ST26)), the board transport mechanism 61 carries out the board 4 to the downstream electronic component mounting apparatus M5 (ST27: board carry-out step). If it is determined that the work is not completed (“No” shown in (ST26)), the process returns to (ST25).

(ST25)で許容時間T2を超過したと判定された場合((ST25)で示す「Yes」)、作業禁止部115は電子部品搭載装置M4での基板4に対する作業を禁止させる(ST28:作業禁止工程)。このとき、作業禁止となった基板4が搬入されている電子部品搭載装置M4よりも上流に配置された印刷検査装置M3に後続の基板4が搬入されている場合、作業禁止部105によってその基板4に対する作業を禁止させるようにしてもよい。すなわち、複数の実装用装置のうち一の実装用装置に搬入された基板4上の半田Pが許容時間T2を超えたと判定部84Aによって判定された場合に、作業禁止部はその基板4が搬入されている実装用装置よりも上流に配置された実装用装置における作業を禁止させる。これにより、不良基板が連続して発生する事態を防止することができる。 When it is determined in (ST25) that the allowable time T2 has been exceeded (“Yes” in (ST25)), the work prohibition unit 115 prohibits the work on the board 4 in the electronic component mounting apparatus M4 (ST28: Work prohibition). Process). At this time, when the succeeding substrate 4 is carried in the print inspection device M3 arranged upstream of the electronic component mounting device M4 in which the prohibited work substrate 4 is carried in, the work prohibiting unit 105 causes the substrate 4 to be carried in. The work for 4 may be prohibited. That is, when the determining unit 84A determines that the solder P on the board 4 carried into one mounting apparatus out of the plurality of mounting apparatuses exceeds the allowable time T2, the work prohibiting section carries the board 4 into the mounting apparatus. The work in the mounting device arranged upstream of the existing mounting device is prohibited. As a result, it is possible to prevent a situation where defective substrates are continuously generated.

次いで報知部116はシグナルタワー74を制御して点灯させ、作業者OPに報知する(ST29:報知工程)。次いで、作業禁止部115は禁止解除作業がなされたか否かを判定する(ST30:禁止解除作業判断工程)。すなわち、作業者OPは、作業禁止の対象となった基板4を実装用装置から取り出す。基板4を取り出した後、作業者OPはタッチパネル等の操作入力部(図示省略)を介して禁止解除作業が完了した旨の入力を行う。禁止解除作業がなされたと判定されたならば(ST30で示す「Yes」)、(ST11)に戻る。 Next, the notification unit 116 controls and lights the signal tower 74 to notify the operator OP (ST29: notification step). Next, the work prohibition unit 115 determines whether the prohibition release work has been performed (ST30: prohibition release work determination step). That is, the operator OP takes out the substrate 4 for which the work is prohibited from the mounting apparatus. After taking out the substrate 4, the operator OP inputs through the operation input unit (not shown) such as a touch panel that the prohibition cancellation work is completed. If it is determined that the prohibition release work has been performed (“Yes” in ST30), the process returns to (ST11).

次に図19を参照して、判定部84Aが2つめの判定方法により判定を行う場合の半田Pの管理方法を説明する。なお、図18で示す工程と同一の工程に関しては、その説明を省略する。本例では、(ST34)の計測時間読み出し工程の次に以下の工程が加わる。すなわち、推定時間算出部85は、基板4が電子部品搭載装置M4に搬入された所定の時点からリフロー装置M7の溶融ゾーンに搬入されるまでの間に要すると推定される推定時間を算出する(ST35:推定時間算出工程)。次いで、判定部84Aは、半田Pがスクリーンマスク13に供給されてからの経過時間(時間計測部83Aによって計測された計測時間)と推定時間の合計時間が、許容時間T2を超えたか否かを判定する(ST36:許容時間超過判定工程)。 Next, with reference to FIG. 19, a method of managing the solder P when the determination unit 84A makes a determination by the second determination method will be described. Note that description of steps that are the same as the steps shown in FIG. 18 is omitted. In this example, the following steps are added after the measurement time reading step of (ST34). That is, the estimated time calculation unit 85 calculates the estimated time estimated to be required from the predetermined time when the board 4 is carried into the electronic component mounting apparatus M4 to the time when the board 4 is carried into the melting zone of the reflow apparatus M7 ( ST35: Estimated time calculation step). Next, the determination unit 84A determines whether the total time of the elapsed time (measurement time measured by the time measurement unit 83A) after the solder P is supplied to the screen mask 13 and the estimated time exceeds the allowable time T2. Judgment (ST36: allowable time excess judgment process).

以上説明したように、本実施の形態2によれば、個々の実装用装置を搬送される基板4上の半田Pをより正確に管理して不良基板の発生を防止することができる。本実施の形態2における電子部品実装システムはこれまで説明した構成に限定されず、発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜設計変更することができる。例えば、半田管理部82Aを印刷装置M2、電子部品搭載装置M4〜M6に組み入れてもよく、作業禁止部105,115、報知部106,116を上位システム3に組み入れてもよい。 As described above, according to the second embodiment, it is possible to more accurately manage the solder P on the substrate 4 to which each mounting device is conveyed and prevent the occurrence of a defective substrate. The electronic component mounting system according to the second embodiment is not limited to the configuration described so far and can be appropriately modified in design without departing from the spirit of the invention. For example, the solder management unit 82A may be incorporated into the printing device M2 and the electronic component mounting devices M4 to M6, and the work prohibition units 105 and 115 and the notification units 106 and 116 may be incorporated into the host system 3.

本発明によれば、半田Pをより正確に管理して不良基板の発生を防止することができ、電子部品実装分野において有用である。 According to the present invention, the solder P can be controlled more accurately and the generation of a defective substrate can be prevented, which is useful in the field of electronic component mounting.

3 上位システム
4 基板
5 電子部品
13 スクリーンマスク
42 スキージ
81 記憶部
83A 時間計測部
84A 判定部
85 推定時間算出部
100,110 制御部
105,115 作業禁止部
106,116 報知部
M2 印刷装置
M3 印刷検査装置
M4,M5,M6 電子部品搭載装置
OP 作業者
P 半田
T2 許容時間
3 Upper system 4 Substrate 5 Electronic component 13 Screen mask 42 Squeegee 81 Storage section 83A Time measuring section 84A Judgment section 85 Estimated time calculation section 100,110 Control section 105,115 Work prohibition section 106,116 Notification section M2 Printing device M3 Printing inspection Device M4, M5, M6 Electronic component mounting device OP Worker P Solder T2 Allowable time

Claims (6)

ペースト状の半田が供給されたスクリーンマスクに対してスキージを摺動させることで基板に前記半田を印刷する印刷装置と、前記印刷装置によって前記半田が印刷された基板に電子部品を実装するための作業を行う実装用装置とを備える電子部品実装システムであって、
前記スクリーンマスクに供給された半田の使用を許容できる許容時間を記憶する記憶部と、
前記半田が前記スクリーンマスク上に供給されてから前記基板に印刷されるまでの時間と、前記印刷装置によって前記半田が前記基板に印刷されてからの時間を計測する時間計測部と、
前記時間計測部によって計測された時間に基づいて、前記基板に印刷された前記半田が前記許容時間を超えたか否かを判定する判定部と、
前記判定部によって前記基板に印刷された前記半田が前記許容時間を超えたと判定された場合に作業者に報知する報知部とを備え、
前記半田が前記スクリーンマスク上に供給されてから前記基板に印刷されるまでの時間は、前記半田が前記スキージにより前記スクリーンマスク上を移動している時間と、前記半田が前記スクリーンマスク上を移動していない時間の合計時間である電子部品実装システム。
A printing device that prints the solder on a substrate by sliding a squeegee against a screen mask supplied with paste-like solder, and for mounting an electronic component on the substrate on which the solder is printed by the printing device. An electronic component mounting system comprising a mounting device for performing work,
A storage unit that stores an allowable time that allows the use of the solder supplied to the screen mask.
A time from when the solder is supplied onto the screen mask until it is printed on the substrate, and a time measuring unit that measures the time after the solder is printed on the substrate by the printing device,
Based on the time measured by the time measuring unit, a determination unit that determines whether the solder printed on the substrate exceeds the allowable time,
An informing unit for informing a worker when the solder printed on the substrate by the determining unit is determined to have exceeded the allowable time,
The time from when the solder is supplied onto the screen mask to when it is printed on the substrate is the time during which the solder is moving on the screen mask by the squeegee and the time when the solder is moving on the screen mask. Electronic component mounting system that is the total time of not doing.
前記時間計測部は、前記半田が前記スキージにより前記スクリーンマスク上を移動している時間の計測間隔を、前記半田が前記スクリーンマスク上を移動していない時間の計測間隔よりも大きくなるようにして時間を計測する請求項1に記載の電子部品実装システム。 Wherein the time measurement unit, a measurement interval of time during which the solder is moved on the screen mask by the squeegee, the solder is in the size Kunar so than measurement interval of time not moving on the screen mask The electronic component mounting system according to claim 1, wherein the electronic component mounting system measures time. 前記判定部は、前記半田が前記スクリーンマスク上に供給されてから前記基板に印刷されるまでの時間と、前記半田が前記基板に印刷されてからの時間の合計時間が前記許容時間を超えたか否かを判定する請求項1又は2に記載の電子部品実装システム。 The determination unit determines whether the total time from the time when the solder is supplied onto the screen mask to the time when the solder is printed on the substrate and the time after the solder is printed on the substrate exceeds the allowable time. The electronic component mounting system according to claim 1, wherein it is determined whether or not the electronic component mounting system is determined. 前記半田が印刷された前記基板が前記実装用装置を搬送される所定の時点から前記半田の管理が不要となる位置に至るまでに要すると推定される推定時間を算出する推定時間算出部をさらに備え、
前記判定部は、前記半田が前記スクリーンマスク上に供給されてから前記基板に印刷されるまでの時間と、前記半田が前記基板に印刷されてから前記実装用装置を搬送される所定の時点までの時間と、前記所定の時点から半田Pの管理が不要となる位置に至るまでに要すると推定される推定時間の合計時間が前記許容時間を超えたか否かを判定する請求項1又は2に記載の電子部品実装システム。
An estimated time calculating unit for calculating an estimated time estimated to be required from a predetermined time when the board on which the solder is printed is conveyed through the mounting apparatus to a position where the management of the solder becomes unnecessary is further provided. Prepare,
The determination unit determines the time from when the solder is supplied onto the screen mask to the time when the solder is printed on the substrate, and the predetermined time when the solder is printed on the substrate and when the mounting apparatus is transported. And the total time of the estimated time estimated to be required from the predetermined time point to the position where the management of the solder P is not required exceeds the allowable time. Electronic component mounting system described.
前記判定部によって前記基板に印刷された前記半田が前記許容時間を超えたと判定された場合に、前記実装用装置に対して前記許容時間を超えた前記半田が印刷された前記基板に前記電子部品を実装するための作業を禁止させる作業禁止部をさらに備えた請求項1乃至4の何れかに記載の電子部品実装システム。 When it is determined by the determination unit that the solder printed on the substrate has exceeded the allowable time, the electronic component on the substrate on which the solder that has exceeded the allowable time is printed on the mounting apparatus is printed. 5. The electronic component mounting system according to claim 1, further comprising a work prohibition unit that prohibits a work for mounting the. 複数の前記実装用装置のうち一の実装用装置に搬入された前記基板上の前記半田が前記許容時間を超えたと前記判定部によって判定された場合に、前記作業禁止部はその実装用装置よりも上流に配置された前記実装用装置における作業を禁止させる請求項5に記載の電子部品実装システム。 When it is determined by the determination unit that the solder on the board carried into one mounting device of the plurality of mounting devices exceeds the allowable time, the work prohibition unit is more than the mounting device. 6. The electronic component mounting system according to claim 5, wherein work in the mounting device disposed upstream is prohibited.
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