JP4781945B2 - Substrate processing method and component mounting system - Google Patents
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本発明は、表面実装機等の処理装置を備えた部品実装システムにおいて、いわゆる多面取り基板の処理を合理的に行うための方法及び部品実装システムに関するものである。 The present invention relates to a method and a component mounting system for rationally processing a so-called multi-sided board in a component mounting system including a processing device such as a surface mounting machine.
従来から、回路パターンが形成された基板(PWB)を搬送しながら、まず塗布装置において基板のはんだ、導電ペースト等の塗布液を被実装位置に塗布し、次いで表面実装機(以下、単に実装機という)によりその塗布位置に順次部品を搭載して基板(PWB)を生産するようにした部品実装システムが知られている。 Conventionally, while transporting a substrate (PWB) on which a circuit pattern is formed, a coating liquid such as a solder or a conductive paste of a substrate is first applied to a mounting position in a coating apparatus, and then a surface mounting machine (hereinafter simply referred to as a mounting machine). Therefore, there is known a component mounting system in which components are sequentially mounted at the application position to produce a substrate (PWB).
また、この種の部品実装システムにおいて、同一回路が形成された複数のエリアを含むいわゆる多面取り基板を生産する場合に、例えば、重度の欠陥をもつエリアについては当該エリアに事前にマーク(バッドマークという)を形成しておき、実装機でこのバッドマークを認識することにより当該エリアの実装処理を省略することも行われている(例えば特許文献1)。この特許文献1では、バッドマークの認識が、実装機に設けられる移動可能なカメラを順次バッドマークの座標位置に移動させながらその有無を認識することにより行われている。 Further, in this type of component mounting system, when producing a so-called multi-sided board including a plurality of areas where the same circuit is formed, for example, an area having a severe defect is marked in advance in the area (bad mark). In other words, the mounting process of the area is omitted by recognizing the bad mark by the mounting machine (for example, Patent Document 1). In Patent Document 1, bad marks are recognized by recognizing the presence or absence of a movable camera provided in a mounting machine while sequentially moving the camera to the coordinate position of the bad mark.
なお、特許文献2には、当該システムの構成装置同士を通信手段により接続し、上流側の装置で特定した不良エリアに関する情報を下流側の装置に送信する技術が開示されている。
上記特許文献1に示されているような手法では、多面取り基板の各エリアのバッドマーク座標位置にカメラを移動させる必要があるため、例えば実装機において、多数のエリアを含む多面取り基板に対して部品を実装しようとすると、各エリアのバッドマークを含む多数のマーク座標位置にカメラを移動させることが求められる結果、タクトタイムを短縮することが難しくなるという問題が生じている。 In the technique as shown in the above-mentioned Patent Document 1, since it is necessary to move the camera to the bad mark coordinate position of each area of the multi-sided board, for example, in a mounting machine, for a multi-sided board including many areas When mounting components, it is required to move the camera to a large number of mark coordinate positions including bad marks in each area. As a result, there is a problem that it is difficult to shorten the tact time.
また、上記特許文献2に示された手法は、システムの構成装置間に通信手段を有しない場合には適用できない。 Further, the technique disclosed in Patent Document 2 cannot be applied when there is no communication means between the constituent devices of the system.
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであって、システムの構成装置同士が通信手段等で接続されていない部品実装システムにおいても、多面取り基板を生産する際のタクトタイムを効果的に短縮することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and even in a component mounting system in which system components are not connected to each other by communication means or the like, the tact time when producing a multi-chip board is effective. The purpose is to shorten.
上記課題を解決するために、本発明の基板処理方法は、基板に塗布液を塗布する塗布装置と前記塗布液が塗布された前記基板に部品を実装する表面実装機とを備えた部品実装システムを用いて、互いに独立する回路が形成された複数のエリアをもつ多面取り基板に対して部品の実装を行う方法であって、前記多面取り基板の各エリアのうち基板処理が不要な不良エリアを前記塗布装置において調べるとともに、当該塗布装置により、前記塗布液を用いて前記不良エリアの位置を示す情報を前記多面取り基板のエリア占有領域外の所定領域に集約した状態で記録しておき、前記表面実装機において前記所定領域に記録された前記情報を一括的に撮像、認識することにより、当該情報に基づき、前記不良エリア以外のエリアに対して部品を実装するようにしたものである(請求項1)。
In order to solve the above problems, a substrate processing method of the present invention, the component mounting system comprising a surface mounting apparatus for mounting components on the substrate on which the coating liquid and the coating apparatus for applying a coating liquid to the substrate is coated Is used to mount a component on a multi-sided board having a plurality of areas in which circuits that are independent of each other are formed, and among the areas of the multi-sided board, defective areas that do not require board processing are removed. wherein together determine the coating device, by the coating device, may be recorded in a state where the information indicating the position of the defective area by using the coating liquid was concentrated in a predetermined area outside the area occupied region of the multi-substrate, the collectively imaging the information recorded in the predetermined area in the surface mounter, the Rukoto be recognized, based on the information, to mount components relative to the area other than the defective area Is obtained by way (claim 1).
このように基板(多面取り基板)の不良エリアを表面実装機への搬入前に事前に特定しておくようにすれば、表面実装機において不良エリアを特定する手間(時間)が省け、その分、部品の実装処理を速やかに進めることが可能となる。また、通常は、塗布装置のタクトタイムは表面実装機よりも短くなるため、上記のように塗布装置の作業負担を増やすことにより合理的に表面実装機の作業負担を軽減することが可能となる。さらに、塗布装置に常備されている塗布液を基板に塗布することで不良エリアの位置を示す情報を基板に記録することによって、塗布装置に特別な記録機構を別途設ける必要がないので、該塗布装置が複雑になるのを防ぐことができる。
Thus defective area of the substrate (gang substrate) as previously specified in advance before loading to the surface mounting machine, trouble of specifying a defective area in the surface mounting machine (time) eliminates, correspondingly Thus, it is possible to promptly proceed with the component mounting process. In addition, since the tact time of the coating apparatus is usually shorter than that of the surface mounter, it is possible to rationally reduce the work load of the surface mounter by increasing the work load of the coating apparatus as described above. . Further, by recording information indicating the position of the defective area on the substrate by applying a coating solution that is normally provided in the coating device to the substrate, there is no need to provide a special recording mechanism in the coating device. It is possible to prevent the device from becoming complicated.
この方法においては、所定領域内に、多面取り基板の各エリアに対応した配列でマーキング位置と所定の基準位置とを設定し、不良エリアに対応するマーキング位置と基準位置とに、塗布液によるマーキングを施すようにするのが好ましい(請求項2)。これにより、表面実装機において不良エリアに関する情報の読取を正確に行うことができる。
In this method, a predetermined area, sets a marking location and the predetermined reference position in the sequence corresponding to each area of the multi-surface substrate, the marking position and the reference position corresponding to the defective area, by coating solution It is preferable to carry out marking (Claim 2 ). Thereby, the information regarding the defective area can be accurately read in the surface mounter.
一方、本発明に係る部品実装システムは、互いに独立する回路が形成された複数のエリアをもつ多面取り基板を被処理基板として当該多面取り基板に塗布液を塗布する塗布装置およびその塗布後の基板に部品を実装する表面実装機を少なくとも備えた部品実装システムであって、前記塗布装置が、前記多面取り基板に対して相対的に移動可能な基板撮像用のカメラと、このカメラにより撮像した基板の画像データに基づいて前記複数のエリアのうち実装処理が不要な不良エリアを特定する特定手段と、この特定手段により特定された不良エリアの位置を示す情報を基板のエリア占有領域外の所定領域に集約した状態で記録するマーキング手段とを備える一方、前記表面実装機が、前記マーキング手段により前記多面取り基板に記録された前記情報を一括的に撮像する基板撮像用のカメラと、このカメラにより撮像された前記情報に基づき不良エリア以外のエリアに対して部品の実装処理を施すべく部品の実装動作を制御する制御手段とを備えているものである(請求項3)。
On the other hand, the component mounting system according to the present invention includes a coating apparatus that applies a coating solution to a multi-sided substrate, using a multi-sided substrate having a plurality of areas in which circuits that are independent from each other are formed, and the substrate after the application. A component mounting system including at least a surface mounter for mounting components on the substrate, wherein the coating device is movable relative to the multi-sided substrate, and a substrate imaged by the camera Identification means for identifying a defective area that does not require mounting processing among the plurality of areas based on the image data, and information indicating the position of the defective area identified by the identification means is a predetermined area outside the area occupation area of the substrate while and a marking means for recording while aggregated, wherein the surface mounting machine, which is recorded in the multi-substrate by the marking means A camera for board imaging for collectively imaging the distribution, and control means for controlling the component mounting operation to apply the process of mounting components to an area other than the defective area based on the information captured by the camera (Claim 3 ).
この部品実装システムによると、塗布装置に設けられたカメラにより基板(多面取り基板)が撮像され、その画像データに基づき不良エリアが特定される。そして、この不良エリアの位置を示す情報が塗布装置のマーキング手段により基板のエリア占有領域外の所定領域に集約した状態で記録される。一方、表面実装機の基板撮像用のカメラで基板の記録情報を一括的に撮像し、この撮像された記録情報に基づき部品の実装動作が制御手段により制御される。そのため、部品実装システムにおいて、請求項1及び2に係る基板処理方法が具現化される。
According to this component mounting system, a substrate (multiple substrate) is imaged by a camera provided in the coating apparatus, and a defective area is specified based on the image data. Then, information indicating the position of the defective area is recorded in a state of being collected in a predetermined area outside the area occupation area of the substrate by the marking unit of the coating apparatus. On the other hand, substrate recording information is collectively imaged by a substrate imaging camera of the surface mounter, and the component mounting operation is controlled by the control means based on the imaged recording information. Therefore, in the component mounting system, the substrate processing method according to claims 1 and 2 is embodied.
本発明の請求項1及び2に係る基板処理方法、および請求項3に係る部品実装システムによると、表面実装機等の処理装置において処理不要な不良エリアを特定する手間(時間)が省け、その分、多面取り基板を生産する際の上記処理装置のタクトタイムを効果的に短縮することができる。 According to the substrate processing method according to claims 1 and 2 of the present invention and the component mounting system according to claim 3, it is possible to save time (time) for identifying a defective area that does not need to be processed in a processing apparatus such as a surface mounter. Thus, the tact time of the processing apparatus when producing a multi-sided substrate can be effectively shortened.
本発明の好ましい実施の形態について図面を用いて説明する。 A preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は、本発明に係る部品実装システム(本発明に係る部品の基板処理方法が適用される部品実装システム)である実装ラインを概略的に示している。このラインは、その上流側からローダ1、ディスペンサ(塗布装置、処理装置)2、第1表面実装機(処理装置)3、第2表面実装機(処理装置)4、第3表面実装機(処理装置)5、リフロー炉6およびアンローダ7が直列に並んだ構成となっている。そして、ローダ1からプリント基板(以下、単に基板という)を順次繰り出しながら各種塗布液の塗布、部品の実装(搭載)および塗布液硬化の各処理を順次基板に施してアンローダ7に取り出すように構成されている。 FIG. 1 schematically shows a mounting line which is a component mounting system according to the present invention (a component mounting system to which the substrate processing method for components according to the present invention is applied). This line includes a loader 1, a dispenser (coating apparatus, processing apparatus) 2, a first surface mounting machine (processing apparatus) 3, a second surface mounting machine (processing apparatus) 4, a third surface mounting machine (processing) from the upstream side. Apparatus) 5, a reflow furnace 6 and an unloader 7 are arranged in series. Then, while sequentially feeding out a printed board (hereinafter simply referred to as a board) from the loader 1, various coating liquid coating, component mounting (mounting), and coating liquid curing processes are sequentially performed on the board and taken out to the unloader 7. Has been.
各装置1〜7は、制御装置1A〜7Aを備えた自律型の装置であって、各装置1〜7が各自の制御装置1A〜7Aにより個別に駆動制御されるようになっている。 Each of the devices 1 to 7 is an autonomous device provided with the control devices 1A to 7A, and each of the devices 1 to 7 is individually controlled by the control devices 1A to 7A.
図2および図3は、ディスペンサ2を概略的に示しており、図2はカバーを取外した状態の平面図で、図3は同正面図でそれぞれディスペンサ2を示している。 2 and 3 schematically show the dispenser 2, FIG. 2 is a plan view with the cover removed, and FIG. 3 shows the dispenser 2 in the same front view.
これらの図に示すように、ディスペンサ2の基台11上には一対のコンベア12が配置されており、これらコンベア12上を基板Pが搬送されて所定の作業位置で停止され、図外のプッシュアップピン、基板クランプ装置等の基板保持手段により位置決めされるようになっている。なお、以下の説明では、コンベア12による基板Pの搬送方向をX軸方向、水平面上でX軸と直交する方向をY軸方向、X軸およびY軸に直交する方向をZ軸方向として説明を進めることにする。
As shown in these drawings, a pair of
前記一対のコンベア12は、モータを駆動源とする間隔調整機構に連結されており、前記モータの作動により一方側のコンベア12、具体的には装置後側(図2では上側)に位置するコンベア12が前側のコンベア12に対して接離し、これによって両コンベア12の間隔が基板Pのサイズに応じて調整されるようになっている。
The pair of
コンベア12の上方には、接着剤やクリームはんだ等の各種塗布液を基板P上に塗布するためのディスペンスヘッドを搭載したヘッドユニット14が装備され、このヘッドユニット14がX軸方向およびY軸方向に移動可能に支持されている。
Above the
すなわち、上記基台11上には、Y軸方向に延びる一対の固定レール15と、Y軸サーボモータ17により回転駆動されるボールねじ軸16とが配設され、上記固定レール15上にヘッド支持部材18が配置されて、このヘッド支持部材18に設けられたナット部分19が上記ボールねじ軸16に螺合している。また、上記ヘッド支持部材18には、X軸方向に延びるガイド部材20と、X軸サーボモータ22により駆動されるボールねじ軸21とが配設され、上記ガイド部材20にヘッドユニット14が移動可能に保持され、このヘッドユニット14に設けられたナット部分23が上記ボールねじ軸21に螺合している。そして、Y軸サーボモータ17の作動によりボールねじ軸16が回転して上記ヘッド支持部材18がY軸方向に移動する一方で、X軸サーボモータ22の作動によりボールねじ軸21が回転して、ヘッドユニット14がヘッド支持部材18に対してX軸方向に移動するようになっている。
That is, a pair of
ヘッドユニット14には、塗布液を基板P上に塗布するための2つのディスペンスヘッド25A,25B(以下、ヘッド25A,25Bと略す)が搭載されるとともに、基板認識カメラ28(図6参照)が搭載されている。
The
各ヘッド25A,25Bは、互いにX軸方向に並んだ状態でヘッドユニット14に搭載されている。そして、ヘッドユニット14のフレームに対しZ方向(上下方向)の移動およびR軸(鉛直軸)回りの回転が可能とされ、Z軸サーボモータ26、およびR軸サーボモータ27によりそれぞれ駆動されるようになっている。
The
各ヘッド25A,25Bは、塗布液を収容したシリンジ34と、このシリンジ34に収容された塗布液を塗布するためのノズル30とをそれぞれ備えており、図外のエア圧供給手段により前記シリンジ34内にエア圧が供給されることにより、そのエア圧に応じた量の塗布液がノズル30先端に押し出されつつ基板P上に塗布されるように構成されている。
Each of the
シリンジ34は、例えば半透明な軸状のカートリッジ容器で、ヘッド25A,25Bに設けられる筒状の装着部32(図3に示す)に差し込まれ、この状態で図外のクランプ手段によりクランプされることによりヘッド25A,25Bに対して着脱可能に装着されている。
The
基板認識カメラ28については、詳しく図示していないが、例えばCCDエリアカメラからなり、基板Pに付される各種マーク、例えば位置認識用のフィデューシャルマークや基板Pを識別(特定)するための識別マーク、あるいはエリア毎のバッドマークを撮像すべくヘッドユニット14に対して下向き、つまり撮像方向が下向きになる状態で固定されている。
The
以上の構成により、ディスペンサ2では、基台11上に搬入される基板Pを所定の作業位置に固定し、この状態でヘッドユニット14を駆動することにより基板Pに塗布液を塗布した後、基板Pを装置外へ搬出するようになっている。なお、詳しい塗布動作等については後に詳述する。
With the above configuration, in the dispenser 2, the substrate P carried on the
図4および図5は、第1表面実装機3を概略的に示しており、図4はカバーを取外した状態の平面図で、図5は同正面図でそれぞれ第1表面実装機3を示している。 4 and 5 schematically show the first surface mounter 3, wherein FIG. 4 is a plan view with the cover removed, and FIG. 5 shows the first surface mounter 3 in the same front view. ing.
同図に示すように第1表面実装機3の基台51上には、X軸方向に延びるコンベア52が配置され、基板Pがこのコンベア52に搬送されて所定の実装作業位置(図示の位置)で停止されるようになっている。実装作業位置には、図示を省略するが基板Pの位置決め機構が設けられており、基板Pがコンベア52に沿って搬入されると、この位置決め機構が作動して基板Pを前記実装作業位置に位置決め固定するように構成されている。
As shown in the figure, a
コンベア52の両側には、部品供給部54が配置されており、IC、トランジスタ、コンデンサ等の小片状のチップ部品を供給可能な多数列のテープフィーダ54aがこれら部品供給部54に配置されている。
また、上記基台51の上方には、部品装着用のヘッドユニット56が装備されている。このヘッドユニット56は、部品供給部54と実装作業位置の基板Pとにわたって移動可能とされ、X軸方向およびY軸方向に移動することができるようになっている。
Above the
すなわち、基台51上には、Y軸方向の固定レール57と、Y軸サーボモータ59により回転駆動されるボールねじ軸58とが配設され、上記固定レール57上にヘッドユニット56の支持部材61が配置され、この支持部材61に設けられたナット部分62がボールねじ軸58に螺合している。また、上記支持部材61には、X軸方向のガイド部材63と、X軸サーボモータ65により駆動されるボールねじ軸64とが配設され、上記ガイド部材63にヘッドユニット56が移動可能に保持され、このヘッドユニット56に設けられたナット部分(図示せず)がボールねじ軸64に螺合している。そして、Y軸サーボモータ59の作動により上記支持部材61がY軸方向に移動するとともに、X軸サーボモータ65の作動によりヘッドユニット56が支持部材61に対してX軸方向に移動するようになっている。
That is, a fixed
ヘッドユニット56には部品装着用の複数の実装用ヘッド66が搭載されており、当実施形態では6本の実装用ヘッド66がX軸方向に等間隔で一列に並んだ状態で搭載されている。各実装用ヘッド66は、ヘッドユニット56のフレームに対してZ軸方向の移動及びR軸(ノズル中心軸)回りの回転が可能とされ、図外の昇降駆動機構および回転駆動機構により駆動されるようになっている。また、各実装用ヘッド66には、その先端(下端)にノズル66aが装着されており、図外の負圧供給手段からノズル66a先端に負圧が供給されることにより部品を吸着保持するようになっている。
A plurality of mounting
ヘッドユニット56には、さらに基板認識用カメラ67が搭載されている。この基板認識用カメラ67は、照明装置を備えたCCDカメラ等から構成されており、ヘッドユニット56の移動に伴い実装作業位置に位置決めされた基板P上の各種マークを撮像するようになっている。
A
また、基台51上には、部品認識用カメラ68が配設されている。この部品認識用カメラ68も基板認識用カメラ67と同様に、照明装置を備えたCCDカメラ等から構成されており、ヘッドユニット56の各実装用ヘッド66に吸着された部品をその下側から撮像するようになっている。
A
以上のような構成により、この第1表面実装機3では、ヘッドユニット56が部品供給部54と実装作業位置に位置決めされた基板Pとの間を移動しながら、各実装用ヘッド66により部品供給部54から部品を吸着し、この吸着部品を基板P上に搬送して実装するようになっている。なお、詳しい実装動作については後述することにする。
With the configuration as described above, in the first surface mounter 3, the component unit is supplied by each mounting
以上は、第1表面実装機3の構成であるが、第2表面実装機4および第3表面実装機5もこの第1表面実装機3とほぼ同様に構成されている。
The above is the configuration of the first surface mounter 3, but the
一方、リフロー炉6については図示を省略するが、例えば、基板搬送用のコンベアおよび熱風機等を有しており、部品実装後の基板Pに対して熱処理を施すことによりはんだ等の塗布液を硬化させて部品を基板P上に固定するように構成されている。 On the other hand, although illustration is omitted about the reflow furnace 6, for example, it has a conveyer for board transportation, a hot air blower, and the like. It is configured to be cured and to fix the component on the substrate P.
次に、ディスペンサ2および表面実装機3〜5の制御系について図6を用いて説明する。 Next, the control system of the dispenser 2 and the surface mounters 3 to 5 will be described with reference to FIG.
この図はディスペンサ2および表面実装機3〜5の各制御装置2A〜5Aの機能構成のうち本発明に関連する機能構成部分だけをブロック図で示している。なお、各制御装置2A〜5Aの機能構成は基本的に共通しており、従って、以下の説明では重複した説明を避けるために同一図面を用いて両者の機能構成を説明するものとし、特に区別する必要がある場合には、表面実装機3〜5の機能構成にダッシュ( ′)を付した符号を用いることにより区別することとする。
This figure shows only the functional components related to the present invention among the functional components of the
同図に示す各制御装置2A〜5Aは、論理演算を実行する周知のCPU、そのCPUを制御する種々のプログラムなどを予め記憶するROM、塗布動作中に種々のデータを一時的に記憶するRAM、各種データやソフトを記憶するHDD等から構成されており、その機能構成として、主制御手段71、プログラム記憶手段72、各種データ記憶手段73、画像処理手段74およびアクチュエータ制御手段75を含んでいる。
Each of the
主制御手段71は、プログラム記憶手段72に記憶されているプログラムに従って一連の作業(塗布作業、あるいは部品の実装作業)を進めるべく各装置の駆動を統括的に制御するとともに、その作業に伴う各種演算処理を行うものである。 The main control means 71 comprehensively controls the drive of each device so as to proceed with a series of work (coating work or parts mounting work) in accordance with the program stored in the program storage means 72, and various types of work accompanying the work. Performs arithmetic processing.
なお、ディスペンサ2の主制御手段71は、基板認識カメラ28の画像データに基づいて多面取り基板に形成されるバッドマークの有無や、当該マークが形成されるエリア(不良エリア)等を認識(特定)するものであり、当実施形態では、この主制御手段71が本発明に係る「特定手段」として機能する。
The main control means 71 of the dispenser 2 recognizes (specifies) the presence or absence of a bad mark formed on the multi-sided substrate, the area where the mark is formed (defective area), etc. based on the image data of the
プログラム記憶手段72は、上記の通り塗布作業、あるいは実装作業に関する各種プログラムを記憶するものである。 The program storage means 72 stores various programs relating to the application work or the mounting work as described above.
各種データ記憶手段73は、ディスペンサ2や表面実装機3〜5での作業に必要な各種データを記憶するものである。例えば、ディスペンサ2の各種データ記憶手段73には、基板関連データ(基板の種類、塗布液の塗布位置データ、塗布エリアデータ、基板に形成される各種マークの座標位置データ、同形状データ等)が記憶される一方、表面実装機3〜5の各種データ記憶手段73′には、部品関連データ(部品の種類、形状、寸法等のデータ)および基板関連データ(基板の種類、部品の搭載位置データ、搭載エリアデータ、基板に形成される各種マークの座標位置データ、同形状データ等)が記憶されている。 The various data storage means 73 stores various data necessary for work with the dispenser 2 and the surface mounters 3 to 5. For example, the various data storage means 73 of the dispenser 2 includes substrate-related data (substrate type, coating position coating data, coating area data, coordinate position data of various marks formed on the substrate, shape data, etc.). On the other hand, in the various data storage means 73 ′ of the surface mounters 3 to 5, component related data (component type, shape, dimensions, etc.) and board related data (board type, component mounting position data) Mounting area data, coordinate position data of various marks formed on the substrate, shape data, etc.) are stored.
画像処理手段74は、各カメラから出力される画像データに所定の画像処理を施すもので、主制御手段71は、この画像データに基づいて対象物である基板に形成されるフィデューシャルマークや識別マーク、バッドマーク等の認識、およびその認識に基づく各種の判別および演算等を行う。 The image processing means 74 performs predetermined image processing on the image data output from each camera, and the main control means 71 performs fiducial marks formed on the target substrate based on this image data. Recognition of identification marks, bad marks, etc., and various determinations and calculations based on the recognition are performed.
アクチュエータ制御手段75は、コンベア12、ヘッドユニット14および各ヘッド25A,25B等を駆動するサーボモータ等のアクチュエータを駆動制御するものである。
The actuator control means 75 drives and controls actuators such as servo motors that drive the
特に、ディスペンサ2のアクチュエータ制御手段75は、被処理基板Pが多面取り基板である場合に、主制御手段71での不良エリアの認識結果に基づいて、基板Pのエリア占有領域外(いわゆる、捨て基板)の所定領域aに上記認識結果を集約した情報を記録(塗布)すべく各モータのアクチュエータを駆動制御するものであり、当実施形態では、このアクチュエータ制御手段75が本発明に係る「マーキング手段」として機能する。 In particular, when the substrate to be processed P is a multi-planar substrate, the actuator control means 75 of the dispenser 2 is based on the result of recognition of the defective area by the main control means 71 (so-called discarding). In this embodiment, the actuator control means 75 controls the “marking” according to the present invention to record (apply) the information obtained by collecting the recognition results in a predetermined area a of the substrate). Functions as a means.
ここで、アクチュエータ制御手段75による情報記録方法の概要について多面取り基板の構成と共に説明することにする。 Here, the outline of the information recording method by the actuator control means 75 will be described together with the configuration of the multi-sided substrate.
図7は、いわゆる多面取り基板Pの一例を概略的に示している。 FIG. 7 schematically shows an example of a so-called multi-sided substrate P.
多面取り基板Pは、例えば同一回路が形成された複数のエリア(図示の例では12個のエリアE1〜E12)を含むもので、一枚の基板として塗布液の塗布処理および部品の実装処理を施した後、各エリアE1〜E12をそれぞれ切り離して個別に使用される構造となっている。この基板Pには、その位置を認識するための一対のフィデューシャルマークM1(FIDマークM1という)が形成され、また、各エリアE1〜E12には、ディスペンサ2および表面実装機3〜5による実装精度を高めるためのフィデューシャルマークM2(FIDマークM2という)が個別に形成されている。さらに、回路に損傷がある等、実装処理を行えない重度の欠陥がある不良エリアについては、表面実装機3〜5において当該不良エリアを判別して実装処理を省略するためのバッドマークM3が各エリアの特定の位置に形成される。なお、このバッドマークM3は、エリアE1〜E12のうち欠陥がある不良エリアについてのみ形成されるものであり、同図では、エリアE6,E8およびE9にバッドマークM3が形成されたものを一例として示している。 The multi-sided board P includes, for example, a plurality of areas (12 areas E1 to E12 in the illustrated example) in which the same circuit is formed, and the coating liquid coating process and the component mounting process are performed as a single board. After the application, each of the areas E1 to E12 is separated and used individually. A pair of fiducial marks M1 (referred to as FID marks M1) for recognizing the position is formed on the substrate P, and the areas E1 to E12 are formed by the dispenser 2 and the surface mounters 3 to 5. Fiducial marks M2 (referred to as FID marks M2) for increasing the mounting accuracy are individually formed. Further, for a defective area having a serious defect that cannot be mounted, such as a circuit being damaged, a bad mark M3 for identifying the defective area and omitting the mounting process in each of the surface mounters 3 to 5 is provided. It is formed at a specific position in the area. The bad mark M3 is formed only in defective areas having defects in the areas E1 to E12. In the figure, the bad marks M3 are formed in the areas E6, E8, and E9 as an example. Show.
そして、このディスペンサ2では、後に詳述するように、基板認識カメラ28で撮像した画像を画像処理手段74において処理し、主制御手段71でバッドマークM3が形成されたエリアを認識(特定)する。そして、主制御部71において認識されたエリア(不良エリア)の認識結果情報を基板Pのエリア占有領域外の所定領域aに記録する。
In the dispenser 2, as will be described in detail later, the image picked up by the
図8は、図7中の領域a部分を拡大して示したものである。 FIG. 8 is an enlarged view of the area a in FIG.
すなわち、この実施形態では、所定領域a内に、多面取り基板Pの各エリアE1〜E12に略相似形で対応したマトリクス配列でマーキング位置を設定し、不良エリアE6,E8,E9に対応するマーキング位置に、塗布液によるマークM11をそれぞれ施すことにより、不良エリアE6,E8,E9の認識結果情報を基板P上に集約して記録している。また、所定領域a内には、ディスペンサ2および表面実装機3〜5によるマークM11の認識(確認)精度を高めるための基準マークM12が同じく塗布液の塗布により形成されている。このような不良エリアの認識結果情報が記録された領域aは、表面実装機3〜5の各基板認識カメラで一括して認識可能な程度の大きさとなっている。 That is, in this embodiment, marking positions are set in a predetermined region a in a matrix arrangement corresponding to the areas E1 to E12 of the multi-sided substrate P in a substantially similar shape, and markings corresponding to the defective areas E6, E8, and E9. The recognition result information of the defective areas E6, E8, and E9 is collectively recorded on the substrate P by applying the mark M11 with the coating liquid to the position. Further, in the predetermined area a, a reference mark M12 for enhancing the recognition (confirmation) accuracy of the mark M11 by the dispenser 2 and the surface mounters 3 to 5 is also formed by applying the coating liquid. The area a in which such defective area recognition result information is recorded is large enough to be recognized by the board recognition cameras of the surface mounters 3 to 5 collectively.
次に、制御装置2Aによるディスペンサ2の塗布動作制御、および制御装置3A〜5Aによる表面実装機3〜5の実装動作制御についてフローチャートを用いて説明する。なお、以下の説明では多面取り基板Pを処理するものとしてそれぞれ説明する。 Next, application | coating operation | movement control of the dispenser 2 by 2A of control apparatuses, and mounting operation control of the surface mounting machines 3-5 by 3 A-5A of control apparatuses are demonstrated using a flowchart. In the following description, the multi-planar substrate P is described as being processed.
図9は、制御装置2Aによるディスペンサ2の塗布動作制御をフローチャートで示している。このディスペンサ2において生産が開始されると、まず、プログラム記憶手段72に格納されている生産プログラムから被処理基板P(塗布処理の対象となる基板P)に対応するプログラムを選択するとともに基板関連データを参照して塗布処理の準備、すなわち段取りを開始する。例えば基板Pのサイズデータに基づき、コンベア12の間隔調整用のモータを作動させ、これによりコンベア12の間隔を調整する。その後、コンベア12を駆動して基板Pをローダ1から基台11上に搬入して所定の作業位置で固定する(ステップS1)。
FIG. 9 is a flowchart showing the application operation control of the dispenser 2 by the
次いで、ヘッドユニット14を塗布作業領域外の所定のホームポジションから基板P上方に移動させ、基板Pの各マークM1,M3の座標位置を基板認識カメラ28により順次撮像して画像処理手段74で画像処理することにより、主制御手段71でFIDマークM1およびバッドマークM3の認識を行う(ステップS2)。
Next, the
そして、主制御手段71でのバッドマークM3の認識結果、具体的には各エリアE1〜E12におけるバッドマークM3有無の認識結果に基づき、アクチュエータ制御手段75により各モータのアクチュエータを駆動制御して基板P上の所定領域aに上記認識結果情報の記録、すなわち塗布液によるマークM11および基準マークM12の塗布を行う(ステップS3)。なお、この実施形態では、バッドマークM3が有るエリアE6,E8,E9が本発明に係る不良エリアに相当し、上記バッドマーク有無の認識結果情報が本発明に係る不良エリアの位置を示す情報に相当する。 Based on the recognition result of the bad mark M3 by the main control means 71, specifically, the recognition result of the presence or absence of the bad mark M3 in each of the areas E1 to E12, the actuator control means 75 drives and controls the actuator of each motor. The recognition result information is recorded on the predetermined area a on P, that is, the mark M11 and the reference mark M12 are applied by the application liquid (step S3). In this embodiment, the areas E6, E8, E9 having the bad mark M3 correspond to the defective area according to the present invention, and the recognition result information on the presence / absence of the bad mark is information indicating the position of the defective area according to the present invention. Equivalent to.
次いで、基板P上の領域aを基板認識カメラ28により撮像し画像処理手段74で画像処理することにより、主制御手段71において、全エリアE1〜E12に対するバッドマーク有無を領域a内の上記認識結果情報を基に認識し、この認識結果とステップS2で最初に取得した各エリアのバッドマーク有無の認識結果とが一致することを確認する(ステップS4)。
Next, the region a on the substrate P is imaged by the
次いで、ヘッドユニット14を移動させつつ各ヘッド25A,25Bを基板P上の各塗布位置に移動させ、所定量の塗布液を対応する各塗布位置に塗布する(ステップS5)。この際、ステップS2におけるバッドマークM3の認識結果に基づき、バッドマークM3が認識されていないエリアに対してのみ塗布作業を行うようにしてもよい。これは、バッドマークM3が認識されたエリアについては部品の実装が行われないため塗布作業の必要がないためである。
Next, the
そして、基板Pの全ての塗布位置に対して塗布液の塗布が完了すると、基台11上の基板Pの固定状態を解除するとともにコンベア12を駆動し、これにより基板Pをディスペンサ2から搬出することによって一連の基板Pに対する塗布処理を終了する(ステップS6)。
Then, when the application of the application liquid is completed for all application positions on the substrate P, the fixed state of the substrate P on the
なお、上記ステップS5の塗布処理後に以下のような塗布検査を行ってもよい。 In addition, you may perform the following application | coating inspections after the application | coating process of said step S5.
すなわち、基板P上の各塗布位置を対象として画像認識による塗布検査を実施する。具体的には、ヘッドユニット14を駆動し、基板PのエリアE1〜E12毎に基板認識カメラ28を順次各塗布位置に移動させながら当該各塗布位置を撮像する。この際、ステップS2におけるバッドマークM3の認識結果に基づき、バッドマークM3が認識されていないエリアに属する塗布位置のみ撮像を行う。
That is, a coating inspection by image recognition is performed for each coating position on the substrate P. Specifically, the
こうしてバッドマークM3が認識されたエリア以外の各エリアに属する塗布位置の撮像が終了すると、その画像データに基づき、主制御手段71によりエリアE1〜E12毎に塗布状態の検査を行い、主制御手段71での検査結果情報を、基板Pの領域aに追加記録、すなわち塗布不良があるエリアに対応するマーキング位置に、塗布液によるマークM11の塗布を行う。この場合、塗布不良エリアが本発明に係る不良エリアに相当し、上記検査結果情報が本発明に係る不良エリアの位置を示す情報に相当する。 When imaging of the application position belonging to each area other than the area where the bad mark M3 is recognized in this way, the application state is inspected for each of the areas E1 to E12 by the main control means 71 based on the image data, and the main control means. The inspection result information at 71 is additionally recorded in the area a of the substrate P, that is, the mark M11 is applied by the coating liquid at the marking position corresponding to the area where there is a coating defect. In this case, the defective application area corresponds to the defective area according to the present invention, and the inspection result information corresponds to information indicating the position of the defective area according to the present invention.
図10は、制御装置3Aによる第1表面実装機3の実装動作制御をフローチャートで示している。この第1表面実装機3において生産が開始されると、コンベア52を駆動し、ディスペンサ2により塗布処理が施された基板Pを装置内に搬入するとともに上記実装作業位置に位置決めする。そして、ヘッドユニット56を駆動し、基板認識用カメラ67により基板P上のFIDマークM1,M2上を撮像、認識することにより、基板Pの位置ずれを求めるとともにその補正データを主制御手段71′により演算する(ステップS21,S22)。なお、この際、バッドマークM3の撮像、認識は行わない。
FIG. 10 is a flowchart showing the mounting operation control of the first surface mounter 3 by the
FIDマークM1,M2の認識が終了すると、ヘッドユニット56を駆動し、基板認識用カメラ67により基板P上の領域aに記録(塗布)されたバッドマーク認識結果情報を一括して撮像することにより、主制御手段71′で当該基板Pに関するバッドマークM3の有無を認識する(ステップS23)。そして、この認識結果に基づいて以下のステップS24〜ステップS28の処理に従って部品の実装処理を実行する。すなわち、基板Pの各エリアE1〜E12のうちバッドマークM3が認識されていないエリア(有効エリアという)についてのみ部品を搭載すべく主制御手段71′によりヘッドユニット56等を駆動制御する。
When the recognition of the FID marks M1 and M2 is completed, the
まず、ヘッドユニット56を部品供給部54に移動させて各実装用ヘッド66により部品の取り出しを行わせる(ステップS24)。具体的には、ヘッドユニット56を部品供給部54の上方に移動させ、部品を吸着すべき所定の実装用ヘッド66を昇降させることによりテープフィーダ54aから部品を吸着した状態でピックアップさせる。この際、可能な場合には、複数の実装用ヘッド66により同時に部品吸着を行わせる。
First, the
全ての実装用ヘッド66による部品の吸着が完了すると、ヘッドユニット56を部品認識用カメラ68の上方に移動させて各実装用ヘッド66による吸着部品の撮像を行い、その撮像結果に基づき各部品の吸着状態を認識する(ステップS25)。
When the suction of the components by all the mounting heads 66 is completed, the
そして、ヘッドユニット56を基板P上に移動させて最初の部品搭載位置の上方に配置した後、実装用ヘッド66を昇降させることにより吸着部品を基板P上に実装する(ステップS26)。こうして最初の部品を実装したら、次の搭載位置にヘッドユニット56を移動させることにより各吸着部品を順次基板P上に実装する。この際、ステップS25での認識結果に基づいてヘッドユニット56の目標移動位置を補正することにより各搭載位置に対して部品を正確に実装する。
Then, after moving the
こうして各実装用ヘッド66による吸着部品の実装が終わると、全部品の搭載が完了したか、つまり有効エリアに対して全ての部品を実装したか否かを判断する(ステップS27)。ここでNOと判断した場合には、ステップS24にリターンし、ヘッドユニット56を部品供給部54に移動させて部品吸着、部品認識、部品実装の各処理を繰り返し実行する。
When the mounting of the suction parts by the mounting heads 66 is completed in this way, it is determined whether or not all the parts have been mounted, that is, whether or not all the parts have been mounted in the effective area (step S27). If NO is determined here, the process returns to step S24, the
これに対して、ステップS27でYESと判断した場合には、コンベア52を駆動して基板Pを装置外に搬出し(ステップS28)、これにより基板Pに対する一連の実装処理を終了する。
In contrast, if YES is determined in step S27, the
以上は、制御装置3Aによる第1表面実装機3の実装動作制御の例であるが、制御装置4A,5Aによる第2表面実装機4および第3表面実装機5の実装動作制御も同様にして行われる。
The above is an example of the mounting operation control of the first surface mounter 3 by the
以上説明したように、この部品実装システムでは、多面取り基板Pを搬送しながら、まずディスペンサ2において基板Pに塗布液を塗布する塗布処理を施した後、その下流側に配置される表面実装機3〜5により部品の実装処理を施すが、上記の通り、この部品実装システムでは、基板PのバッドマークM3の有無をディスペンサ2において事前に画像認識しておき、その結果情報を基板Pの所定領域aに集約して記録することにより、表面実装機3〜5では全エリアE1〜E12について基板認識用カメラ67によるバッドマークM3有無の撮像、認識を行わず、基板P上の所定領域aに集約して記録された情報を基板認識用カメラ67で一括的に読み取ることによって実装作業を進め得るようにしているので、表面実装機3〜5においてバッドマークM3の認識処理を短縮でき、その分、各表面実装機3〜5のタクトタイムを短縮することができる。
As described above, in this component mounting system, the surface mounter is disposed on the downstream side of the dispenser 2 after first applying the coating process to the substrate P while conveying the multi-sided board P. In this component mounting system, the dispenser 2 recognizes the presence or absence of the bad mark M3 on the substrate P in advance, and as a result, the information on the result is determined on the substrate P. By collecting and recording in the area a, the surface mounters 3 to 5 do not capture and recognize the presence or absence of the bad mark M3 by the
以下、上記効果をより具体的に説明する。図11は、本発明に係る部品実装システムのタクトタイムと従来の部品実装システムのタクトタイムとの比較図である。すなわち、図11に示すように、この部品実装システム(実施例)では、ディスペンサ2において、基板PのバッドマークM3の有無を画像認識した後、その認識結果情報を基板P上に集約して記録するとともに、その記録情報の有効性を確認すべく該記録情報を試験的に認識するようにしたので、ディスペンサ2の作業時間T1は従来の部品実装システム(比較例)におけるディスペンサの作業時間T2に比べて長くなるものの、実施例の部品実装システムでは、表面実装機3〜5において基板P上に記録された情報を一括的に読み取ることによって実装作業を行うようにしているので、各表面実装機3〜5の作業時間T3は比較例の部品実装システムにおける各表面実装機の作業時間T4に比べて大幅に短くなっている。従って、部品実装システムの一連の作業に要するトータル時間を短縮することができるのである。 Hereinafter, the above effect will be described more specifically. FIG. 11 is a comparison diagram of the tact time of the component mounting system according to the present invention and the tact time of the conventional component mounting system. That is, as shown in FIG. 11, in this component mounting system (example), after the dispenser 2 recognizes the presence or absence of the bad mark M3 on the board P, the recognition result information is collected and recorded on the board P. In addition, since the recorded information is experimentally recognized to confirm the validity of the recorded information, the working time T1 of the dispenser 2 is equal to the working time T2 of the dispenser in the conventional component mounting system (comparative example). In the component mounting system according to the embodiment, the mounting operation is performed by collectively reading the information recorded on the substrate P in the surface mounting machines 3 to 5 in each of the surface mounting machines. The work time T3 of 3 to 5 is significantly shorter than the work time T4 of each surface mounter in the component mounting system of the comparative example. Therefore, the total time required for a series of operations of the component mounting system can be shortened.
特に、部品供給部54と基板Pとの間を何度も往復しながら多数の部品を基板P上に実装する表面実装機3〜5のタクトタイムに比べると、基板Pに塗布液の塗布処理を施すディスペンサ2のタクトタイムは通常短くなるため、上記のようにバッドマークM3の画像認識処理をディスペンサ2に負担させて表面実装機3〜5の作業負担を軽減することにより合理的に各表面実装機3〜5のタクトタイムを短縮することができる。そしてその結果、各装置2〜6のタクトタイムを良好にバランスさせることが可能となり、部品実装システムとしてのスループットを向上させることが可能となる。
In particular, compared to the tact time of the surface mounters 3 to 5 that mount a large number of components on the substrate P while reciprocating between the
また、ディスペンサ2に常備されている塗布液を基板Pに塗布することで不良エリアの位置を示す情報を基板Pに記録するため、ディスペンサ2に特別な記録機構を別途設ける必要がなく、ディスペンサ2が複雑になるのを防ぐことができる。 Further, since the information indicating the position of the defective area is recorded on the substrate P by applying the coating liquid that is always provided in the dispenser 2 to the substrate P, it is not necessary to provide the dispenser 2 with a special recording mechanism. Can be prevented from becoming complicated.
なお、以上説明した部品実装システムは、本発明に係る部品実装システム(本発明に係る基板処理方法が適用される部品実装システム)の好ましい実施形態の一例であって、その具体的な構成、例えば各ディスペンサ2や表面実装機3〜5の具体的な構成等は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。 The component mounting system described above is an example of a preferred embodiment of the component mounting system according to the present invention (the component mounting system to which the substrate processing method according to the present invention is applied), and its specific configuration, for example, Specific configurations and the like of each dispenser 2 and surface mounters 3 to 5 can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention.
例えば、上記実施形態では、本発明の部品実装システムに含まれる「処理装置」をディスペンサ2の下流側に設置される表面実装機3〜5に適用した例について示したが、これに限らず、ディスペンサ2と表面実装機3との間に検査装置が設けられている部品実装システムにおいては、「処理装置」を該検査装置にも適用することができる。また、部品実装システムが、不良エリアの位置情報を基板に記録するマーキング装置を別途備える場合には、「処理装置」をディスペンサ2にも適用可能である。 For example, in the above-described embodiment, the “processing device” included in the component mounting system of the present invention has been shown as applied to the surface mounters 3 to 5 installed on the downstream side of the dispenser 2, but not limited thereto, In a component mounting system in which an inspection device is provided between the dispenser 2 and the surface mounter 3, the “processing device” can be applied to the inspection device. Further, when the component mounting system is additionally provided with a marking device that records the position information of the defective area on the substrate, the “processing device” can also be applied to the dispenser 2.
また、実施形態のディスペンサ2では、所定領域a内に、多面取り基板Pの各エリアE1〜E12に略相似形で対応したマトリクス配列でマーキング位置を設定し、不良エリアE6,E8,E9に対応するマーキング位置に、塗布液によるマークM11をそれぞれ施すことにより、不良エリアE6,E8,E9の認識結果情報を基板P上に集約して記録したが、これに限らず、図12および図13に示すように、基板Pの各エリアE1〜E12のエリア番号(1〜12)を一義的に特定可能なマーキング位置を設定し、不良エリアに対応するマーキング位置に、塗布液によるマークM11を施すようにしてもよい。すなわち、図12に示すように、各不良エリアのエリア番号を、左上を「1」とする例えば5×5の行列中に表すようにしてもよいし、図13に示すように、各エリア番号を2進数で表し、各々を縦方向(横方向でもよい)に列挙するようにしてもよい。 Further, in the dispenser 2 of the embodiment, marking positions are set in a matrix arrangement corresponding to the areas E1 to E12 of the multi-sided substrate P in a substantially similar shape within the predetermined area a to correspond to the defective areas E6, E8, and E9. The recognition result information of the defective areas E6, E8, E9 is collected and recorded on the substrate P by applying the mark M11 with the coating liquid to the marking positions to be performed, but the present invention is not limited to this. As shown, a marking position that can uniquely identify the area numbers (1 to 12) of the areas E1 to E12 of the substrate P is set, and the mark M11 by the coating liquid is applied to the marking position corresponding to the defective area. It may be. That is, as shown in FIG. 12, the area number of each defective area may be represented in, for example, a 5 × 5 matrix with the upper left being “1”, or as shown in FIG. May be represented by binary numbers, and each may be listed in the vertical direction (or in the horizontal direction).
また、実施形態のディスペンサ2では、その塗布動作制御において基板Pを基台11上へ搬入、固定した後、直ちにバッドマークM3の認識およびその認識結果情報の基板Pへの記録を行うようにしているが(図9のステップS2,S3)、基板Pの各エリアE1〜E12への塗布処理が終了した直後にこれらの動作を実施するようにしてもよい。具体的には、基板Pを搬入、固定した後、FIDマークM1だけを画像認識してから塗布動作を実行し、塗布終了後、バッドマークM3の認識およびその認識結果情報の記録を行うようにする。要は、ディスペンサ2の具体的な構成および塗布動作との関係で、タクトタイム的にみて有利なタイミングでバッドマークM3の認識を行うようにすればよい。
Further, in the dispenser 2 of the embodiment, after the substrate P is carried on the
1 ローダ
2 ディスペンサ(塗布装置、処理装置)
3 第1表面実装機(処理装置)
4 第2表面実装機(処理装置)
5 第3表面実装機(処理装置)
6 リフロー炉
7 アンローダ
1 Loader 2 Dispenser (coating device, processing device)
3 First surface mounter (processing equipment)
4 Second surface mounter (processing equipment)
5 Third surface mounter (processing equipment)
6 Reflow furnace 7 Unloader
Claims (3)
前記多面取り基板の各エリアのうち基板処理が不要な不良エリアを前記塗布装置において調べるとともに、当該塗布装置により、前記塗布液を用いて前記不良エリアの位置を示す情報を前記多面取り基板のエリア占有領域外の所定領域に集約した状態で記録しておき、前記表面実装機において前記所定領域に記録された前記情報を一括的に撮像、認識することにより、当該情報に基づき、前記不良エリア以外のエリアに対して部品を実装することを特徴とする基板処理方法。 Using component mounting system comprising a surface mounter which the coating liquid and the coating apparatus for applying a coating liquid to the substrate for mounting components on the substrate that has been coated, a plurality of areas which a circuit is formed which independently of one another A method of mounting a component on a multi-sided board having
Together examine in the coating apparatus a substrate processing unnecessary defective area among the areas of the multi-substrate, by the application device, information indicating a position of the defective area by using the coating liquid of the multi-substrate area record in a state of aggregated into a predetermined area outside the occupied area, the surface mounter collectively imaging the information recorded in the predetermined area in, by Rukoto be recognized, based on the information, the defective area A substrate processing method comprising mounting a component in an area other than the above.
前記塗布装置は、前記多面取り基板に対して相対的に移動可能な基板撮像用のカメラと、このカメラにより撮像した基板の画像データに基づいて前記複数のエリアのうち実装処理が不要な不良エリアを特定する特定手段と、この特定手段により特定された不良エリアの位置を示す情報を基板のエリア占有領域外の所定領域に集約した状態で記録するマーキング手段とを備える一方、
前記表面実装機は、前記マーキング手段により前記多面取り基板に記録された前記情報を一括的に撮像する基板撮像用のカメラと、このカメラにより撮像された前記情報に基づき不良エリア以外のエリアに対して部品の実装処理を施すべく部品の実装動作を制御する制御手段とを備えていることを特徴とする部品実装システム。
At least a coating apparatus that applies a coating solution to a multi-sided substrate having a plurality of areas in which circuits independent from each other are formed as a substrate to be processed, and a surface mounter that mounts components on the substrate after the coating is provided. Component mounting system,
The coating apparatus includes a substrate imaging camera that is movable relative to the multi-sided substrate, and a defective area that does not require a mounting process among the plurality of areas based on image data of the substrate imaged by the camera. A marking means for recording the information indicating the position of the defective area identified by the identification means in a state of being collected in a predetermined area outside the area occupation area of the substrate,
The surface mounting apparatus includes a camera for board imaging for collectively imaging the information recorded on the multi-substrate by the marking means, to areas other than the defective area based on the information captured by the camera And a control means for controlling a component mounting operation so as to perform component mounting processing.
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