JP6711404B2 - 回路装置、電子機器及びエラー検出方法 - Google Patents
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Description
図1は、本実施形態の回路装置の構成例である。回路装置100は、インターフェース110(第1のインターフェース)、前処理回路120(画像処理回路)、画像取得回路130(オンスクリーンディスプレイ回路)、インターフェース140(第2のインターフェース)、エラー検出回路150、CRC回路160、レジスター回路170、アイコン処理回路180(アイコン色拡張回路)、インターフェース190(第3のインターフェース)、メモリー195(記憶回路)を含む。回路装置100は、例えば集積回路装置(IC)である。
以下、エラー検出回路150が行うエラー検出処理について説明する。
図3は、関心領域におけるYCbCrの各チャンネルのヒストグラムである。また図4は、ヒストグラムに自己相関演算を行って得られた自己相関値である。
第2の演算手法では、相互相関演算を用いて視認性指標を求める。
形状指標は、解析画像(表示画像)の関心領域の形状が基準画像と一致しているか否かを示す指標である。以下、形状指標の演算手法について説明する。
図12は、表示画像の第4の例である。図12では、ダッシュボード画像DIMの上にアイコンICAを重ねた例を示す。アイコン画像の前景と背景は、分離して、ダッシュボード画像にアルファブレンドされる。上記の場合、アイコン画像の前景は部分的にブレンドされる一方、アイコン画像の背景は完全にブレンドされる。ここで、アイコン画像の前景は、アイコン画像のアイコン部分(図13のマスク画像MSBのビット「1」の画素(黒色の部分))である。アイコン画像の背景は、アイコン画像のアイコン以外の部分(図13のマスク画像MSBのビット「0」の画素(白色の部分))である。アイコン画像の背景では、アイコン画像が0、ダッシュボード画像DIMが1の割合でブレンドされる。アイコン画像の前景では、アイコン画像がα、ダッシュボード画像DIMが(1−α)の割合でブレンドされる。0<α<1である。割合αでブレンドされたアイコンが表示画像における前景となり、それ以外の領域が表示画像における背景となる。
以上の実施形態では、本発明のエラー検出手法を表示コントローラー(TCON: Timing CONtroller)に適用した場合を例に説明したが、本発明の適用対象はこれに限定されない。即ち、表示画像を処理又は転送する経路のいずれの段階においても本発明を適用可能である。
図17は、本実施形態の回路装置を含む電子機器の構成例である。電子機器300は、処理装置310(例えばMCU等)、回路装置320(TCON)、表示ドライバー330、表示パネル340、記憶装置350、操作装置360、通信装置370を含む。
130…画像取得回路、140…インターフェース、
150…エラー検出回路、160…CRC回路、170…レジスター回路、
180…アイコン処理回路、190…インターフェース、
195…メモリー、200…処理装置、300…電子機器、
310…処理装置、320…回路装置、330…表示ドライバー、
340…表示パネル、350…記憶装置、360…操作装置、
370…通信装置、
A1…関心領域、A2…アイコン(前景)、ECIB…エッジ画像、
MSB…マスク画像、RIA…基準画像、SRef…平均化画像
Claims (7)
- 表示画像を取得する画像取得回路と、
前記表示画像のエラー検出を行うエラー検出回路と、
を含み、
前記エラー検出回路は、
前記表示画像の画素値のヒストグラムを求め、前記ヒストグラムを用いた相関演算を行い、前記表示画像のうち所与の領域の画像である前景画像と、前記表示画像のうち前記前景画像の背景に相当する背景画像との間の非類似度合いを表す指標を前記相関演算の結果に基づいて求め、前記指標に基づいて前記エラー検出を行うことを特徴とする回路装置。 - 請求項1において、
前記エラー検出回路は、
色空間の構成成分の各成分の前記ヒストグラムを求め、前記各成分の前記ヒストグラムに対して自己相関演算を行い、自己相関のピークが生じる距離を前記各成分について求め、求めた距離のうち最大の距離に基づいて前記指標を求めることを特徴とする回路装置。 - 請求項1において、
前記エラー検出回路は、
前記表示画像から色空間の構成成分の各成分の第1のヒストグラムを前記ヒストグラムとして求め、前記前景画像に対応する基準画像から前記各成分の第2のヒストグラムを求め、前記各成分について前記第1のヒストグラムと前記第2のヒストグラムの相互相関演算を行い、相互相関のピークのピーク値に基づいて前記指標を求めることを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記エラー検出回路は、
前記表示画像の画素値と前記前景画像の基準となる基準画像の画素値、又は前記表示画像のエッジと前記基準画像のエッジに基づいて、前記表示画像のうち前記所与の領域の画像である前記前景画像と、前記基準画像との一致度合いを表す第2の指標を求め、前記指標及び前記第2の指標に基づいて前記エラー検出を行うことを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
前記画像取得回路は、第1の画像に対して前記所与の領域に第2の画像を重ねて前記表示画像を生成し、
前記背景画像は、前記表示画像のうち前記第1の画像に対応する画像であることを特徴とする回路装置。 - 請求項1乃至5のいずれかに記載された回路装置を含むことを特徴とする電子機器。
- 表示画像の画素値のヒストグラムを求め、
前記ヒストグラムを用いた相関演算を行い、
前記表示画像のうち所与の領域の画像である前景画像と、前記表示画像のうち前記前景画像の背景に相当する背景画像との間の非類似度合いを表す指標を前記相関演算の結果に基づいて求め、
前記指標に基づいて前記表示画像のエラー検出を行うことを特徴とするエラー検出方法。
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