JP6709177B2 - 薄鋼板のパルスmag溶接方法 - Google Patents
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Description
自動車用薄鋼板の足回り部材の溶接は、ガスシールドアーク溶接用ソリッドワイヤを用いて継手部の品質特性の面からスパッタの発生量を低減させて部材への付着を少なくする目的と、高速度での溶接性確保の面からシールドガスとしてArガスを主成分とし、これにCO2ガスを混合、さらにはO2ガスを混合したガスを用いたパルスMAG溶接方法が近年増加している。パルスMAG溶接方法は、平均電流を低くして溶接できることから薄鋼板の溶接では耐溶け落ち性も向上できるとともに、高速度の溶接条件で施工できるので生産性が高く、品質の良好な溶接継手部が得られる。
電流値より低電流としたベース電流を周期的に流す溶接方法である。これによりピーク電流期間では一定に送給されている溶接用ワイヤを電磁ピンチ力などの作用で溶滴状態に溶融させ、ベース電流期間中にこの溶滴を溶融池に安定的に移行させるので、高速溶接時に溶滴が溶融池と短絡することなくスムーズに溶融池へ移行させることができる。
電流、ピーク時間、アーク電圧の積からなる溶融エネルギーに対応したワイヤ送給量毎の溶滴生成量にする。すなわち、1回のパルスピーク電流時に1個の溶滴を生成させ、ベース電流期間に溶滴を溶融池に規則的に移行させる1パルス−1ドロップ移行となるパルス条件とするにより、溶滴はスムーズに溶融池に移行してスパッタ発生量が低減される。このため溶接電源は、溶接用ワイヤの送給速度に対応してパルスの周波数を数十Hz〜300Hz程度まで変化させることが可能となっている。
(特許文献1)に、薄板高張力鋼板をワイヤ成分、シールドガス組成およびパルス付与条件を限定して溶接し、溶接金属の機械的性質を良好にすることができるとともにスパッタの発生量が少なく溶接作業性に優れる技術が開示されている。しかし、特許文献1に開示の技術においても、アークが安定して、ビード形状が良好な溶接金属を得ることができない。さらに、スラグ生成量が多くなり塗料を塗装後にスラグとともに塗料が剥がれるという問題があった。
公報(特許文献3)および特開2009−166066号公報(特許文献4)には、パルスMAG溶接用ソリッドワイヤの開示がある。しかし、特許文献2〜特許文献4に記載の溶接用ソリッドワイヤを用いたパルスMAG溶接においても、スラグ生成量が多く塗装後にスラグとともに塗料が剥がれるという問題があった。
接用フラックス入りワイヤにシリコン酸化物、クロム酸化物およびニッケル酸化物の少なくとも1種を含有させて薄鋼板の溶接をし、ビード表面に酸化皮膜層を形成して塗料塗装後の剥離を防止した技術の開示がある。しかし、特許文献5に開示されているビード表面の酸化皮膜層は、自動車の車体構造部材に適用した場合、季節の変化、寒冷地および温暖地など自動車の使用環境の温度差による溶接金属と酸化皮膜層との熱膨張の差によって酸化皮膜層が塗料とともに剥がれるという問題がある。
mである薄鋼板の重ね継手部やT継手部を溶接するに際してビード表面に残存するスラグがなく、アークが安定してスパッタ発生量が少なく、ビード形状が良好で溶接欠陥がないなど、高能率に高品質な溶接部が得られる薄鋼板のパルスMAG溶接方法を提供することを目的とする。
ワイヤ全質量に対する質量%で、C:0.005〜0.08%、Si:0.20〜0.50%、Mn:1.00〜1.60%、Sb:0.02〜0.20%、Cu:0.08〜0.45%を含有し、P:0.02%以下、S:0.02%以下であり、残部はFeおよび不可避不純物よりなるソリッドワイヤを用いて、パルスピーク電流(Ip):440〜600A、パルスベース電流(Ib):30〜80Aとし、前記パルスピーク電流(Ip)とパルスピーク時間(Tp)が下記式(1)を満足するパルスを付加して溶接することを特徴とする薄鋼板のパルスMAG溶接方法。
415≦Ip(A)×Tp(msec)≦780・・・・・(1)
40%以下をさらに含有することも特徴とする薄鋼板のパルスMAG溶接方法にある。
ね継手部やT継手部を溶接するに際してビード表面に残存するスラグがなく、アークが安定してスパッタ発生量が少なく、ビード形状が良好で溶接欠陥がないなど、高能率に高品質な溶接部が得られる。
まず、ワイヤ成分組成について説明する。なお、各成分の含有率は、ワイヤ全質量に対する質量%で表すものとし、その質量%に関する記載を単に%と記載する。
Cは、アークを安定させて溶滴を細粒化する作用がある。Cが0.005%未満では、溶滴の細粒化が困難となってアークが不安定でスパッタ発生量が多くなる。一方、Cが0.08%を超えると、スパッタ発生量が多くなるばかりでなく、溶接金属の耐割れ性が劣化する。したがって、Cは0.005〜0.08%とする。
Siは、溶融金属の表面張力を調整してビード形状を良好にする作用がある。Siが0.20%未満では、上記効果が得られず、ビード形状が不良となる。一方、Siが0.50%を超えると、溶融金属の表面張力が過度に上昇するため凸ビードとなりやすい。また、アークが不安定でスパッタ発生量、スラグ生成量が多くなる。したがって、Siは0.20〜0.50%とする。
Mnは、脱酸元素として重要な元素である。Mnが1.00%未満では、特に高速度の溶接条件でピットが発生しやすくなる。一方、Mnが1.60%を超えると、スパッタ発生量およびスラグ生成量が多くなる。したがって、Mnは1.00〜1.60%とする。
Sbは、溶接時に生成した少量のスラグを溶融プール表面に浮上させてクレータ部まで運ぶことによってビード表面に残存するスラグを無くす効果がある。Sbが0.02%未満であると、生成したスラグを溶融プール表面に浮上させてクレータ部まで運ぶ効果が少なくなりスラグがビード表面に残存する。一方、Sbが0.20%を超えると、溶接金属の耐割れ性が劣化する。したがって、Sbは0.02〜0.20%とする。
Cuは、鋼中に不可避的不純物として0.02%程度含有されるが、本発明のCuは主としてワイヤ表面に施した銅めっきをいう。通常、銅めっきはワイヤ送給性と通電性を安定化するのに極めて重要な表面処理方法である。銅めっき厚が薄いと溶接中のチップ磨耗が激しくなり、溶接中にワイヤ送給性と通電性が劣化し、その結果、アークが不安定になる。Cuが0.08%未満であると、必要なワイヤ送給性と通電性が得られずアークが不安定となる。一方、Cuが0.45%を超えると、溶接金属の耐割れ性が劣化する。したがって、Cuは0.08〜0.45%とする。なお、ワイヤ表面の銅めっき厚さは0.2〜1.0μmであることが耐チップ磨耗性および通電性から好ましい。
Pは不純物であり、Pの増加により溶接金属の割れを引き起こすので0.02%以下とする。好ましくは0.015%以下である。
[S:0.02%以下]
Sは不純物であり、Sの増加により溶接金属の割れを引き起こすので0.02%以下とする。好ましくは0.015%以下である。
NiおよびMoは、Sbの生成スラグの溶融プールへ浮上させる作用を助長する。すなわち、NiおよびMoは、溶融プールを小さくし、生成した少量のスラグをアーク点近傍の溶融プール上に凝集させてクレータ部まで移動する作用を有する。NiおよびMoの1種または2種の合計が0.40%を超えると、溶接金属の耐割れ性が劣化する。したがって、NiおよびMoの1種または2種の合計は0.40%以下とする。なお、前記効果を得るためのNiおよびMoの1種または2種の合計は0.05%以上である。
パルスピーク電流(Ip)が440A未満では、電磁ピンチ効果による溶滴の生成と離脱がスムーズに行われなくなり、不均一な凸ビードとなる。また、アークが不安定でスパッタ発生量が多くなる。一方、パルスピーク電流(Ip)が600Aを超えると、アーク力によりスパッタ発生量が多くなる。したがって、パルスピーク電流(Ip)は440〜600Aとする。
パルスベース電流(Ib)は、ベース期間でアークを保持できる電流値が必要となる。パルスベース電流(Ib)が30A未満では、アークが不安定となりスパッタ発生量が多く、ビード形状が劣化する。一方、パルスベース電流(Ib)が80Aを超えると、溶滴の離脱が速やかに行われず、アークが不安定でスパッタ発生量が多くなる。したがって、パルスベース電流(Ib)は30〜80Aとする。
下記式(1)で示すパルス電流(Ip)とパルスピーク時間(Tp)の積(Ip×Tp
)で得られる値を限定することによって、ピーク時間の短い領域でアーク電圧が高い場合においても、溶滴の短絡がピーク時及びベース時に適度に生じて良好なビード形状が得られる。パルスピーク電流(Ip)とパルスピーク時間(Tp)の積(Ip×Tp)が415未満では、ピーク電流期間で溶滴を形成するためのエネルギーが不足し十分な溶滴の形成ができず、凸ビードとなる。一方、パルスピーク電流(Ip)とパルスピーク時間(Tp)の積が780を超えると、過度に成長した溶滴が短絡しやすくなり再点弧時のアーク力で溶融地が吹き飛ばされることからアークが不安定でスパッタ発生量が多くなる。したがって、Ip×Tpは、下記式(1)で示される範囲とする。
415≦Ip(A)×Tp(msec)≦780 ・・・・(1)
まず、原料鋼を真空溶解し、鍛造、圧延、伸線、焼鈍そして銅めっきした後、1.2m
mのワイヤ径まで伸線してスプールに巻き取った試作ワイヤの化学成分を表1に示す。
の端部と下板2の表面との間を、表3および表4に示すパルスMAG溶接条件で溶接長400mmを溶接した。ワイヤの狙い位置は重ね継手のコーナー部とし、溶接トーチ2の角度θは60°とした。溶接試験は、ビード表面のスラグ残存の有無(クレータ部のスラグ
は除く)、アークの安定性、スパッタ発生量、ビード形状および溶接欠陥の有無を目視
で評価した。それらの結果を表4にまとめて示す。
る。
ッタ発生量が多かった。また、NiとMoの合計が多いので、クレータ割れが生じた。
試験No.10は、ワイヤ記号W10のCが多いので、スパッタ発生量が多く、クレータ割れが発生した。また、パルスピーク電流Ipとピーク時間Tpの積Ip×Tpが低いので、凸ビードとなった。
。また、パルスピーク電流Ipとピーク時間Tpの積Ip×Tpが高いので、アークが不安定でスパッタ発生量が多かった。試験No.12は、ワイヤ記号W12のSiが多いので、ビード表面にスラグが残存し、アークが不安定でスパッタ発生量多く、凸ビードとなった。また、Cu多いので、クレータ割れが発生した。試験No.13は、ワイヤ記号W13のMnが少ないので、ピットが生じた。また、パルスピーク電流(Ip)が低いので、アークが不安定でスパッタ発生量が多く、凸ビードとなった。
ヤ記号W16のSbが多いので、クレータ割れが発生した。また、パルスベース電流(
Ib)が高いので、アークが不安定でスパッタ発生量が多かった。
また、パルスピーク電流(Ip)が高いので、スパッタ発生量が多かった。試験No.1
8は、ワイヤ記号W6が本発明で規定した各成分範囲内であるが、パルスピーク電流I
pとピーク時間Tpの積Ip×Tpが低いので、凸ビードとなった。試験No.19は、
ワイヤ記号W7が本発明で規定した各成分範囲内であるが、パルスピーク電流Ipとピ
ーク時間Tpの積Ip×Tpが高いので、アークが不安定でスパッタ発生量が多かった。
2 下板
3 溶接トーチ
θ トーチ角度
特許出願人 日鐡住金溶接工業株式会社
代理人 弁理士 椎 名 彊
Claims (2)
- 板厚1.2〜6mmである薄鋼板のパルスMAG溶接方法において、
ワイヤ全質量に対する質量%で、
C:0.005〜0.08%、
Si:0.20〜0.50%、
Mn:1.00〜1.60%、
Sb:0.02〜0.20%
Cu:0.08〜0.45%を含有し、
P:0.02%以下、
S:0.02%以下であり、
残部はFeおよび不可避不純物よりなるソリッドワイヤを用いて、
パルスピーク電流(Ip):440〜600A、
パルスベース電流(Ib):30〜80Aとし、
前記パルスピーク電流(Ip)とパルスピーク時間(Tp)が下記式(1)を満足するパルスを付加して溶接することを特徴とする薄鋼板のパルスMAG溶接方法。
415≦Ip(A)×Tp(msec)≦780・・・・・(1) - ワイヤ全質量に対する質量%で、NiおよびMoの1種または2種の合計:0.40%以下をさらに含有することを特徴とする請求項1に記載の薄鋼板のパルスMAG溶接方法。
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