JP6693437B2 - X線ct分解能評価装置 - Google Patents
X線ct分解能評価装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6693437B2 JP6693437B2 JP2017024041A JP2017024041A JP6693437B2 JP 6693437 B2 JP6693437 B2 JP 6693437B2 JP 2017024041 A JP2017024041 A JP 2017024041A JP 2017024041 A JP2017024041 A JP 2017024041A JP 6693437 B2 JP6693437 B2 JP 6693437B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rectangular block
- ray
- value
- resolution
- resolution evaluation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims description 33
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 claims description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
図1は、実施の形態1にかかるファントムの模式図である。なお、以下の説明では、説明を明確にするために、ファントムの上下方向、前後方向及び左右方向を規定するが、使用形態によって適宜、変更可能である。
まず、図2に示すように、ファントムのCTスキャンを行う(ステップS1)。
次に、得られたCT画像を出力する(ステップS2)。
次に、得られたCT画像より画像演算によってCT値プロファイルを得て、分解能評価指標を算出する(ステップS3)。
次に、空間分解能を判断する(ステップS4)。空間分解能の判断は、各ブロック及び位置決めピン13の径より、あらかじめ求められた連続的に変化する空間のサイズを、どこまで細かく識別可能か判断することである。
次に、異なるX線CT装置または条件で、同一ファントムのCTスキャンを行う(ステップS5)。
次に、得られたCTスキャンデータをもとに、空間分解能を算出する(ステップS6)。
最後に、得られた空間分解能の結果を比較し、CTスキャンの優劣を判定する(ステップS7)。
以下、各ステップの詳細を説明する。
まず、ファントム20のCTスキャンを行う。
X線CT装置16を用い、第1矩形ブロック11と第2矩形ブロック12とを、ベース14の上面に対し平行で、且つ第1矩形ブロックの延在方向に、CTスキャンを行う。ここで、位置決めピン13の中心から、第1矩形ブロック11と第2矩形ブロック12との接点までの範囲が、X線CT装置16による分解能評価範囲となる。
次に、演算処理手段は、図3で得られたCT画像に基づいて、画像演算によってCT値プロファイルを得て、分解能評価指標を算出する。演算処理手段としては、コンピュータや画像処理装置などを用いてもよく、例えば評価プログラムを実行する。
図4は、実施の形態1にかかる第1矩形ブロック及び第2矩形ブロックのCT値プロファイルのイメージを示すグラフである。
分子は、変動領域R1とR2におけるCT値の平均値であるCTmax1とCTmax2から、標準偏差σ1とσ2の半分の値であるσ1/2とσ2/2とをそれぞれ減算し、さらに、CTminをそれぞれ減算したものである。分子においてσ1/2とσ2/2とをそれぞれ減算した理由は、より正確な分解能評価指標を算出するためである。変動領域R1とR2におけるCT値の標準偏差が大きくなると、空間分解能が低下してしまう。そこで、CT値の変動を除外するために、CTmax1とCTmax2から標準偏差σ1、σ2の半分の値であるσ1/2、σ2/2をそれぞれ減算している。
さらに、第1矩形ブロック21と第2矩形ブロック22における分解能評価指標の算出結果を掛け合わせることにより、複数の材料における分解能評価指標を求めることができる。このように、変動領域のCT値と空気層のCT値とを考慮した分解能評価指標を算出する新たな数式を考案したことによって、より正確な空間分解能評価を行うことが可能となった。
次に、演算処理手段は、得られた分解能評価指標をグラフ化する。図5は、実施の形態1にかかる分解能評価指標のイメージを示すグラフである。横軸は、連続的に変化する空間のサイズを示し、任意に設定された各ブロックのサイズと位置決めピン13の径より事前に求められた値である。縦軸は、上述の式1によって求められた分解能評価指標を示す。
図5では、同一のファントムに対し異なる条件でCTスキャンを行い、データ41(条件A)及びデータ42(条件B)を得た。本実施の形態では、データ41とデータ42とでCTスキャンの条件は異なるが(条件A、条件B)、CTスキャンを行うX線CT装置は同一のものとする。ここでは、データ41の測定に用いたCTスキャンの条件の方が、データ42の測定に用いたCTスキャンの条件より、高い分解能を有する。その理由として、データ41の測定に用いた条件のCTスキャンは、データ41が評価指標の判断基準45に対し上に位置し、さらに、空間44より狭い空間43に対する分解能があるためである。
最後に、演算処理手段は、得られた空間分解能の結果を比較し、CTスキャンの優劣を判定する。以下の表1は、得られた空間分解能の結果の比較例である。X線CT装置を2台用意し、CTスキャンの条件はそれぞれ2種類用い(条件A、条件B)、ファントムは3種類準備し、測定を行ったものとする。ファントム1〜3は、それぞれ材料が異なっている。
図6は、実施の形態2にかかるファントムの模式図である。本実施の形態において、ファントム50は、第1矩形ブロック51と、第2矩形ブロック52と、複数の位置決めピン53と、ベース54と、X線CT装置56と、を備える。実施の形態1における凸部15を位置決めピン53で置き換えたものであり、他は実施の形態2と同様である。
11、21、51 第1矩形ブロック
12、22、52 第2矩形ブロック
13、53 位置決めピン
14、54 ベース
15 凸部
16、56 X線CT装置
Claims (3)
- ベースと、
前記ベースの上面設けられた位置決めピンと、
前記位置決めピンに接した状態で前記ベースの上面に載置される第1矩形ブロックと、
前記第1矩形ブロックとの空間が、当該第1矩形ブロックの延在方向で連続的に変化するように前記位置決めピンと前記第1矩形ブロックとに接した状態で前記ベースの上面に載置される第2矩形ブロックと、
前記第1矩形ブロックと前記第2矩形ブロックとを、前記ベースの上面に対し平行で、且つ前記第1矩形ブロックの延在方向にCTスキャンする、X線CT装置と、
を備える、X線CT分解能評価装置。 - 前記X線CT分解能評価装置は、演算処理手段を備え、
前記演算処理手段は、前記CTスキャンによって得られたCT画像に基づき、CT値プロファイルを得て、前記CT値プロファイルの結果及び以下の数1に基づき分解能評価指標を算出し、前記分解能評価指標に基づいて空間分解能を評価する、
請求項1に記載のX線CT分解能評価装置。
- CTmin=CTairの時、当該X線CT分解能評価装置は空間分解能を有する、請求項2に記載のX線CT分解能評価装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017024041A JP6693437B2 (ja) | 2017-02-13 | 2017-02-13 | X線ct分解能評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017024041A JP6693437B2 (ja) | 2017-02-13 | 2017-02-13 | X線ct分解能評価装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018130144A JP2018130144A (ja) | 2018-08-23 |
JP6693437B2 true JP6693437B2 (ja) | 2020-05-13 |
Family
ID=63249078
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017024041A Expired - Fee Related JP6693437B2 (ja) | 2017-02-13 | 2017-02-13 | X線ct分解能評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6693437B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109254020B (zh) * | 2018-11-21 | 2023-09-22 | 江苏省计量科学研究院 | 一种自带定位装置的显微ct图像空间分辨率模体 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06277199A (ja) * | 1993-03-26 | 1994-10-04 | Nippon Oil Co Ltd | 磁気共鳴画像化診断装置評価用ファントム |
US6231231B1 (en) * | 1999-06-24 | 2001-05-15 | General Electric Company | Modular interchangeable phantoms for multiple x-ray systems |
KR100592956B1 (ko) * | 2002-06-03 | 2006-06-23 | 삼성전자주식회사 | 방사선 영상 장치 및 초점 조정 방법 |
WO2004012209A1 (ja) * | 2002-07-30 | 2004-02-05 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | X線透過像測定装置における空間分解能評価素子 |
DE102006032607B4 (de) * | 2006-07-11 | 2011-08-25 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH, 73447 | Anordnung zur Erzeugung elektromagnetischer Strahlung und Verfahren zum Betreiben der Anordnung |
JP5004100B2 (ja) * | 2008-12-26 | 2012-08-22 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | X線分解能評価用ファントム |
-
2017
- 2017-02-13 JP JP2017024041A patent/JP6693437B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018130144A (ja) | 2018-08-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107843606B (zh) | X线检查装置及其控制方法、记录介质 | |
JP5103219B2 (ja) | パターン寸法計測方法 | |
US20120126116A1 (en) | Pattern shape selection method and pattern measuring device | |
US8451878B2 (en) | Surface profile inspection device | |
JP7064404B2 (ja) | 光学式変位計 | |
JP2020027053A (ja) | 光学式変位計 | |
JP5385703B2 (ja) | 検査装置、検査方法および検査プログラム | |
JP2005322423A (ja) | 電子顕微鏡装置およびそのシステム並びに電子顕微鏡装置およびそのシステムを用いた寸法計測方法 | |
KR20140142575A (ko) | 휨측정용 보정 블럭, 그를 이용한 휨 측정 장치 및 그 방법 | |
JP6693437B2 (ja) | X線ct分解能評価装置 | |
JP6286544B2 (ja) | パターン測定条件設定装置、及びパターン測定装置 | |
KR102154667B1 (ko) | 패턴 계측 장치, 및 컴퓨터 프로그램 | |
JP6521165B2 (ja) | X線検査の処理装置およびx線検査方法 | |
KR20140108597A (ko) | 반도체 계측 장치 및 컴퓨터 프로그램 | |
JP3824542B2 (ja) | 線幅検査方法とその装置 | |
JP6343508B2 (ja) | コントラスト・ブライトネス調整方法、及び荷電粒子線装置 | |
US10067029B2 (en) | Systems and methods for estimating modulation transfer function in an optical system | |
US11013482B2 (en) | Phase contrast X-ray imaging system | |
JP2013190361A (ja) | X線検査装置およびその制御方法 | |
GB2596009A (en) | Night vision device testing | |
Bračun et al. | A method for surface quality assessment of die-castings based on laser triangulation | |
JP2006208187A (ja) | 形状良否判定装置および形状良否判定方法 | |
JP2017053793A (ja) | 計測装置、および物品の製造方法 | |
JP6252178B2 (ja) | 形状測定装置、姿勢制御装置、構造物製造システム、及び、形状測定方法 | |
JP2020193880A (ja) | 三次元計測装置及び三次元計測方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190222 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200107 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200207 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200317 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200330 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6693437 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |