JP6690162B2 - Key matrix circuit - Google Patents

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Description

本発明は、キーマトリクス回路に関する。   The present invention relates to a key matrix circuit.

近年普及している携帯電話、カーナビゲーションのような電子機器類等の操作キー(例えば、テンキー)には、一般的にキーマトリクス回路が用いられている。このようなキーマトリクス回路が用いられている機器類は、その機能の向上に伴い操作が複雑化してきており、従来のようなキーを単独で使用するだけでは機器類が有する複数の機能全てに対応することが困難になってきている。   A key matrix circuit is generally used for operation keys (for example, a numeric keypad) of electronic devices such as mobile phones and car navigations that have become widespread in recent years. The operation of devices using such a key matrix circuit has become complicated as the functions have improved, and it is possible to achieve all of the multiple functions that the devices have by just using the key alone as in the past. It has become difficult to respond.

このため、キーを単独で使用するだけではなく、複数のキーを同時押下するような使い方を加えることで、キーの数を増やさずにより多くの機能に対応したキー操作を可能にすることが望まれている。しかしながら、キーマトリクス回路では、3個以上のキーを同時押下すると、押下されていない他のキーが押下された場合と、区別がつかなくなることがあり、正確に検出ができないという問題があった。   For this reason, it is hoped that not only will keys be used alone, but multiple keys will be pressed at the same time to enable key operations that support more functions without increasing the number of keys. It is rare. However, in the key matrix circuit, when three or more keys are pressed at the same time, it may not be possible to distinguish from a case where another key that has not been pressed is pressed, and there is a problem that accurate detection cannot be performed.

そのような課題を解決するために、従来、例えば、特許文献1には、全てのキースイッチに、抵抗入りのキースイッチを使用することで、3個以上のキーが同時押下されても、正確に押下されているキーを検出することが可能な構成が記載されている。   In order to solve such a problem, conventionally, for example, in Patent Document 1, by using a key switch with resistance for all the key switches, even if three or more keys are pressed at the same time, There is described a configuration capable of detecting a key that has been pressed.

特開2009−32203号公報JP, 2009-32203, A

しかしながら、抵抗入りのキースイッチは、特殊な部品であるため高価であり、特許文献1に記載されている構成を採用すると、コストを低く抑えることが難しいという問題がある。一方で、通常のキースイッチに外付け抵抗を付加することで抵抗入りのキースイッチと同様の機能を実現するようにすれば安価に構成できる。このため、特許文献1に記載された抵抗入りのキースイッチを全て通常のキースイッチと外付け抵抗とを組み合わせた構成に置き換えれば、コストを低く抑えることが可能である。   However, the key switch with resistance is expensive because it is a special component, and if the configuration described in Patent Document 1 is adopted, it is difficult to keep the cost low. On the other hand, if an external resistor is added to a normal key switch to realize the same function as that of the key switch with resistance, the cost can be reduced. Therefore, if all the key switches with resistance described in Patent Document 1 are replaced with a configuration in which a normal key switch and an external resistor are combined, the cost can be kept low.

ところが、キーマトリクス回路が用いられる操作キー等には、広い実装スペースを占有することが許されない場合が多く、このため、通常のキースイッチと外付け抵抗とを組み合わせた構成にすれば、新たに必要となる外付け抵抗の実装スペースの確保について問題が発生する。   However, in many cases, it is not allowed to occupy a large mounting space for an operation key or the like that uses a key matrix circuit. Therefore, if a configuration in which a normal key switch and an external resistor are combined is newly added, There is a problem in securing the required mounting space for the external resistor.

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、3個以上のキースイッチが同時押下された場合でも、正確に押下されているキースイッチを検出することが可能なキーマトリクス回路を、低コスト化が可能である通常のキースイッチと外付け抵抗とを用いた構成で実現しつつ、実装スペースの増加を抑制することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and a key matrix circuit capable of accurately detecting a pressed key switch even when three or more key switches are simultaneously pressed, An object of the present invention is to suppress an increase in mounting space while realizing the structure using an ordinary key switch and an external resistor that can reduce cost.

上記した課題を解決するために本発明は以下の構成によって把握される。
(1)本発明のキーマトリクス回路は、キーマトリクス回路であって、第1のキースキャン出力信号線と、第2のキースキャン出力信号線と、プルアップ抵抗を介して電源電圧が印加された複数のキーリターン入力信号線と、前記第1のキースキャン信号線と各々の前記キーリターン信号線との間を電気的に接続する第1のキースイッチ群である複数のキースイッチと、前記第2のキースキャン信号線と各々の前記キーリターン信号線との間を電気的に接続する第2のキースイッチ群である複数のキースイッチと、前記第1のキースキャン信号線上には前記第1のキースキャン信号線に第1のキースイッチ群である複数のキースイッチがそれぞれ接続される複数の第1接続点と、前記第2のキースキャン信号線上には前記第2のキースキャン信号線に第2のキースイッチ群である複数のキースイッチがそれぞれ接続される複数の第2接続点と、を備え、隣り合う前記第1接続点間の位置をある第1位置とし、隣り合う前記第2接続点間の位置を第2位置としたときに、前記キースイッチを介し同じ前記キーリターン入力信号線に接続された前記第1位置または前記第2位置のいずれか一方の位置に信号制御抵抗が設けられ、かつ前記複数の第1位置に設けられた第1信号制御抵抗の抵抗値と前記複数の第2位置に設けられた第2信号制御抵抗の抵抗値とが異なる。
In order to solve the above problems, the present invention is understood by the following configurations.
(1) The key matrix circuit of the present invention is a key matrix circuit, in which a power supply voltage is applied via a first key scan output signal line, a second key scan output signal line, and a pull-up resistor. A plurality of key return input signal lines, a plurality of key switches that are a first key switch group that electrically connect the first key scan signal line and each of the key return signal lines, and A plurality of key switches, which is a second key switch group electrically connecting between two key scan signal lines and each of the key return signal lines, and the first key scan signal line on which the first key switches are connected. A plurality of first connection points to which a plurality of key switches, which are a first key switch group, are connected to the key scan signal line of the second key scan signal line, and the second key scan signal line on the second key scan signal line. A plurality of second connection points to which a plurality of key switches, which are a second key switch group, are respectively connected to the signal line, and a position between the adjacent first connection points is defined as a certain first position, When the position between the second connection points is set to the second position, the signal is controlled to either the first position or the second position connected to the same key return input signal line via the key switch. A resistance is provided, and the resistance values of the first signal control resistors provided at the plurality of first positions are different from the resistance values of the second signal control resistors provided at the plurality of second positions.

(2)上記(1)の構成に加え、第3のキースキャン出力信号線が配置され、前記第3のキースキャン信号線と各々の前記キーリターン信号線との間を電気的に接続する第3のキースイッチ群である複数のキースイッチと、前記第3のキースキャン信号線上には前記第3のキースキャン信号線に第3のキースイッチ群である複数のキースイッチがそれぞれ接続される複数の第3接続点と、を備え、隣り合う前記第3接続点間の位置を第3位置としたときに、前記第3位置には1つおきに第3信号制御抵抗が設けられ、かつ前記第3信号制御抵抗の抵抗値は、前記第1信号制御抵抗の抵抗値と前記第2信号制御抵抗の抵抗値とのいずれとも異なる。   (2) In addition to the configuration of (1) above, a third key scan output signal line is arranged and electrically connects between the third key scan signal line and each of the key return signal lines. A plurality of key switches, which is a third key switch group, and a plurality of key switches, which are a third key switch group and are connected to the third key scan signal line, respectively. And a third signal control resistor is provided at every other third position when the position between the adjacent third connection points is defined as a third position. The resistance value of the third signal control resistor is different from both the resistance value of the first signal control resistor and the resistance value of the second signal control resistor.

(3)上記(2)の構成に加え、第4のキースキャン出力信号線が配置され、前記第4のキースキャン信号線と各々の前記キーリターン信号線との間を電気的に接続する第4のキースイッチ群である複数のキースイッチと、前記第4のキースキャン信号線上には前記第4のキースキャン信号線に第4のキースイッチ群である複数のキースイッチがそれぞれ接続される複数の第4接続点と、を備え、隣り合う前記第4接続点間の位置を第4位置としたときに、前記キースイッチを介し同じ前記キーリターン入力信号線に接続された前記第3位置に信号制御抵抗が設けられていない場合に前記第4位置に信号制御抵抗が設けられ、かつ前記第4信号制御抵抗の抵抗値は、前記第1信号制御抵抗の抵抗値、前記第2信号制御抵抗の抵抗値及び前記第3抵抗の抵抗値とのいずれとも異なる。   (3) In addition to the configuration of (2) above, a fourth key scan output signal line is arranged and electrically connects between the fourth key scan signal line and each of the key return signal lines. A plurality of key switches that are a group of four key switches, and a plurality of key switches that are a group of a fourth key switch that are connected to the fourth key scan signal line on the fourth key scan signal line. And a fourth connection point of, and when the position between the adjacent fourth connection points is set to the fourth position, the third position is connected to the same key return input signal line via the key switch. When the signal control resistor is not provided, the signal control resistor is provided at the fourth position, and the resistance value of the fourth signal control resistor is the resistance value of the first signal control resistor and the second signal control resistor. Resistance value and Different than either of the resistance value of the resistor.

(4)上記(3)の構成において、前記第3のキースイッチ群及び前記第4のキースイッチ群のうち、同じキーリターン入力信号線に接続された2つのキースイッチと、前記同じキーリターン入力信号線に隣接しない別のキーリターン入力信号線に接続されたキースイッチであって前記2つのキースイッチが接続されるキースキャン出力信号線に接続されている一方と他方のキースイッチのうちの一方のキースイッチと、を経由する回り込みルート、及び、前記他方のキースイッチだけを経由する通常ルートにおいて、前記回り込みルートの全体での抵抗値と前記通常ルートの全体での抵抗値が異なる抵抗値となるように前記回り込みルート上及び前記通常ルート上に位置する前記第3信号制御抵抗及び前記第4信号制御抵抗の抵抗値が選択されている。 (4) In the configuration of (3) above, two key switches connected to the same key return input signal line in the third key switch group and the fourth key switch group and the same key return input. A key switch connected to another key return input signal line which is not adjacent to the signal line and is connected to a key scan output signal line to which the two key switches are connected, and one of the other key switch The key switch of, and a sneak route that passes through, and a normal route that passes only the other key switch, the resistance value of the entire sneak route and the resistance value of the entire normal route differ from each other. The resistance values of the third signal control resistor and the fourth signal control resistor located on the sneak route and the normal route are selected so that It has been.

本発明によれば、3個以上のキースイッチが同時押下された場合でも、正確に押下されているキースイッチを検出することが可能なキーマトリクス回路を、低コスト化が可能である通常のキースイッチと外付け抵抗とを用いた構成で実現しつつ、実装スペースの増加を抑制したキーマトリクス回路を提供することができる。   According to the present invention, even when three or more key switches are simultaneously pressed, a key matrix circuit capable of accurately detecting the pressed key switches is provided, and the cost can be reduced to a normal key matrix circuit. It is possible to provide a key matrix circuit that realizes a configuration using a switch and an external resistor while suppressing an increase in mounting space.

本発明の第1実施形態のキーマトリクス回路の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the key matrix circuit of 1st Embodiment of this invention. (a)は第1実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, and (b) is a diagram showing an equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, and (b) is a diagram showing an equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, and (b) is a diagram showing an equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, and (b) is a diagram showing an equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, and (b) is a diagram showing an equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, and (b) is a diagram showing an equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, and (b) is a diagram showing an equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a diagram for explaining the operation of the first embodiment, and (b) is a diagram showing an equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第1変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation | movement description of the 1st modification of 1st Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第1変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation | movement description of the 1st modification of 1st Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第1変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation | movement description of the 1st modification of 1st Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第1変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation | movement description of the 1st modification of 1st Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第1変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation | movement description of the 1st modification of 1st Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第1変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation | movement description of the 1st modification of 1st Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第1変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation | movement description of the 1st modification of 1st Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第1変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation | movement description of the 1st modification of 1st Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). 第1実施形態の第2変形例を示す図である。It is a figure which shows the 2nd modification of 1st Embodiment. 第1実施形態の第3変形例を示す図である。It is a figure which shows the 3rd modification of 1st Embodiment. 第1実施形態の第4変形例を示す図である。It is a figure which shows the 4th modification of 1st Embodiment. (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation of the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing the equivalent circuit of (a). (a)は第1実施形態の第3変形例を拡張した場合の問題点を説明する動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure of operation explanation explaining a problem at the time of expanding the 3rd modification of a 1st embodiment, and (b) is a figure showing an equivalent circuit of (a). (a)は第2実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation | movement of 2nd Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第2実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation | movement of 2nd Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a). (a)は第2実施形態の動作説明の図であり、(b)は(a)の等価回路を示した図である。(A) is a figure explaining operation | movement of 2nd Embodiment, (b) is a figure which showed the equivalent circuit of (a).

発明の実施の形態Embodiment of the invention

以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための形態(以下、本実施形態という)について詳細に説明する。なお、本実施形態の説明の全体を通して同じ要素には同じ番号を付している。   Hereinafter, a mode for carrying out the present invention (hereinafter referred to as the present embodiment) will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The same elements are denoted by the same numbers throughout the description of this embodiment.

(第1実施形態の構成)
図1に本実施形態のキーマトリクス回路10の構成が示されている。図1に示すように、本実施形態のキーマトリクス回路10は、キーマトリクス部11と、制御部12とにより構成される。
(Configuration of the first embodiment)
FIG. 1 shows the configuration of the key matrix circuit 10 of this embodiment. As shown in FIG. 1, the key matrix circuit 10 of the present embodiment includes a key matrix unit 11 and a control unit 12.

キーマトリクス部11は、2つのキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A、スキャンラインKS_B)を有する。
以下では、説明の簡略化のために、特に断りの無い限り、スキャンラインKS_Aを第1のキースキャン出力信号線と呼び、スキャンラインKS_Bを第2のキースキャン出力信号線と呼んで説明を行うが、スキャンラインKS_Bを第1のキースキャン出力信号線とした場合は、スキャンラインKS_Aが第2のキースキャン出力信号線である。
The key matrix unit 11 has two key scan output signal lines (scan line KS_A and scan line KS_B).
For simplicity of description, the scan line KS_A will be referred to as a first key scan output signal line, and the scan line KS_B will be referred to as a second key scan output signal line, unless otherwise specified. However, when the scan line KS_B is the first key scan output signal line, the scan line KS_A is the second key scan output signal line.

また、以降、このスキャンラインKS_A及びスキャンラインKS_Bを、それぞれ第1のキースキャン出力信号線及び第2のキースキャン出力信号線と呼ぶのに応じて、これらに関連する部分に関して、やはり「第1」、「第2」との名称で呼ぶ部分が出てくるが、この場合も、スキャンラインKS_Bを第1のキースキャン出力信号線とし、スキャンラインKS_Aを第2のキースキャン出力信号線と読み替える場合は、これらに関連する部分に関して付与される「第1」、「第2」の表現を入れ替えるように解釈されるべきものである。   Further, hereinafter, the scan line KS_A and the scan line KS_B will be referred to as a first key scan output signal line and a second key scan output signal line, respectively, and accordingly, the portions related to these will also be referred to as “first , "And" second ", the scan line KS_B is replaced with the first key scan output signal line and the scan line KS_A is replaced with the second key scan output signal line. The case should be construed to interchange the terms “first” and “second” given with respect to parts related to these.

図1に示されるように、キーマトリクス部11において、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)と第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)が配線されている。   As shown in FIG. 1, in the key matrix section 11, a first key scan output signal line (scan line KS_A) and a second key scan output signal line (scan line KS_B) are wired.

そして、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)と第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)に対して複数のキーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)が配線されている。   Then, for the first key scan output signal line (scan line KS_A) and the second key scan output signal line (scan line KS_B), a plurality of key return input signal lines (return lines KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) are wired.

さらに、キーマトリクス部11は、押下されることで第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)と各キーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)との間を電気的に接続するキースイッチ(A_SW1、A_SW2、A_SW3、A_SW4、A_SW5、A_SW6)を備えている。
なお、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)との間に電気的に接続されている、これらのキースイッチをまとめて呼ぶ場合には、第1のキースイッチ群と呼ぶことにする。
Further, the key matrix unit 11 has the first key scan output signal line (scan line KS_A) and the respective key return input signal lines (return lines KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) when pressed. It is provided with key switches (A_SW1, A_SW2, A_SW3, A_SW4, A_SW5, A_SW6) that electrically connect the two.
In addition, when collectively calling these key switches electrically connected to the first key scan output signal line (scan line KS_A), they are referred to as a first key switch group. .

具体的には、第1のキースイッチ群のそれぞれのキースイッチ(A_SW1、A_SW2、A_SW3、A_SW4、A_SW5、A_SW6)は、第1のキースイッチ群のそれぞれのキースイッチ(A_SW1、A_SW2、A_SW3、A_SW4、A_SW5、A_SW6)と、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)及びキーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)とを接続する配線Lによって電気的に接続されている。   Specifically, the respective key switches (A_SW1, A_SW2, A_SW3, A_SW4, A_SW5, A_SW6) of the first key switch group correspond to the respective key switches (A_SW1, A_SW2, A_SW3, A_SW4) of the first key switch group. , A_SW5, A_SW6) and a first key scan output signal line (scan line KS_A) and a key return input signal line (return lines KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) are electrically connected by a wiring L. It is connected to the.

そして、第1のキースイッチ群のキースイッチ(A_SW1、A_SW2、A_SW3、A_SW4、A_SW5、A_SW6)からの配線Lと第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)との接続点P同士の間にある複数の第1位置には、信号制御抵抗(RA1、RA2、RA3、RA4、RA5、RA6)が設けられている。   Then, between the connection point P between the wiring L from the key switch (A_SW1, A_SW2, A_SW3, A_SW4, A_SW5, A_SW6) of the first key switch group and the first key scan output signal line (scan line KS_A). Signal control resistors (RA1, RA2, RA3, RA4, RA5, RA6) are provided at the plurality of first positions in.

なお、この第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)上の第1位置に設けられる信号制御抵抗(RA1、RA2、RA3、RA4、RA5、RA6)のことを第1信号制御抵抗と呼ぶこととし、特に断らない限り、第1信号制御抵抗はいずれも同じ抵抗値であるものとして説明を進める。   The signal control resistors (RA1, RA2, RA3, RA4, RA5, RA6) provided at the first position on the first key scan output signal line (scan line KS_A) are referred to as first signal control resistors. Unless otherwise specified, the description will proceed assuming that the first signal control resistors have the same resistance value.

具体的には、キースイッチ(A_SW2)からの配線Lと第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)との接続点P同士の間にある第1位置には、第1信号制御抵抗(RA2)が設けられており、キースイッチ(A_SW3)からの配線Lと第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)との接続点P同士の間にある第1位置には、第1信号制御抵抗(RA3)が設けられており、順次、キースイッチ(A_SW4、A_SW5、A_SW6)についても、それぞれキースイッチ(A_SW3、A_SW4、A_SW5、A_SW6)からの配線Lと第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)との接続点P同士の間にある第1位置には、それぞれ第1信号制御抵抗(RA4、RA5、RA6)が設けられている。尚、第1信号制御抵抗RA1は、通常出力ポートKS_Aの起点に抵抗が設けられているため配置しなくともよい。   Specifically, at the first position between the connection points P between the wiring L from the key switch (A_SW2) and the first key scan output signal line (scan line KS_A), the first signal control resistor ( RA2) is provided, and the first signal is provided at the first position between the connection points P between the wiring L from the key switch (A_SW3) and the first key scan output signal line (scan line KS_A). A control resistor (RA3) is provided, and sequentially for the key switches (A_SW4, A_SW5, A_SW6), the wiring L from the key switches (A_SW3, A_SW4, A_SW5, A_SW6) and the first key scan output signal line are also provided. The first signal control resistors (RA4, RA5, RA6) are respectively provided at the first positions between the connection points P with the (scan line KS_A). It has been kicked. The first signal control resistor RA1 does not have to be arranged because the resistor is provided at the starting point of the normal output port KS_A.

また、キーマトリクス部11は、押下されることで第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)と各キーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)との間を電気的に接続するキースイッチ(B_SW1、B_SW2、B_SW3、B_SW4、B_SW5、B_SW6)を備えている。
なお、第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)との間に電気的に接続されている、これらのキースイッチをまとめて呼ぶ場合には、第2のキースイッチ群と呼ぶことにする。
Also, the key matrix unit 11 has a second key scan output signal line (scan line KS_B) and each key return input signal line (return lines KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) when pressed. Key switches (B_SW1, B_SW2, B_SW3, B_SW4, B_SW5, B_SW6) for electrically connecting the two are provided.
In addition, when collectively calling these key switches electrically connected to the second key scan output signal line (scan line KS_B), they are referred to as a second key switch group. .

具体的には、第2のキースイッチ群のそれぞれのキースイッチ(B_SW1、B_SW2、B_SW3、B_SW4、B_SW5、B_SW6)は、第2のキースイッチ群のそれぞれのキースイッチ(B_SW1、B_SW2、B_SW3、B_SW4、B_SW5、B_SW6)と、第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)及びキーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)とを接続する配線Lによって電気的に接続されている。   Specifically, the respective key switches (B_SW1, B_SW2, B_SW3, B_SW4, B_SW5, B_SW6) of the second key switch group are the respective key switches (B_SW1, B_SW2, B_SW3, B_SW4) of the second key switch group. , B_SW5, B_SW6) and a second key scan output signal line (scan line KS_B) and a key return input signal line (return lines KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) electrically by a wiring L. It is connected to the.

一方、本例では、第2のキースイッチ群のキースイッチ(B_SW1、B_SW2、B_SW3、B_SW4、B_SW5、B_SW6)からの配線Lと第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)との接続点P同士の間にある第2位置には、信号制御抵抗が設けられていない。   On the other hand, in this example, the connection point between the wiring L from the key switch (B_SW1, B_SW2, B_SW3, B_SW4, B_SW5, B_SW6) of the second key switch group and the second key scan output signal line (scan line KS_B). No signal control resistor is provided at the second position between Ps.

図1に示すように、各キーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)には、それぞれプルアップ抵抗(R1、R2、R3、R4、R5、R6)を介して電源電圧VDDが印加されている。   As shown in FIG. 1, pull-up resistors (R1, R2, R3, R4, R5, R6) are respectively connected to the respective key return input signal lines (return lines KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6). The power supply voltage VDD is applied.

(キーマトリクス回路の基本動作)
以下では、簡単に、上記構成において、どのようにしてキースイッチの押下状態(キースイッチがONの状態)、非押下状態(キースイッチがOFFの状態)が検出されるのかについて基本動作を説明する。
(Basic operation of key matrix circuit)
In the following, a basic operation will be briefly described with respect to how the pressed state (key switch ON state) and non-pressed state (key switch OFF state) of the key switch are detected in the above configuration. .

先ず、各キーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)には、それぞれプルアップ抵抗(R1、R2、R3、R4、R5、R6)を介して電源電圧VDDが常に印加されている。   First, each key return input signal line (return line KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) receives a power supply voltage VDD via a pull-up resistor (R1, R2, R3, R4, R5, R6). Always applied.

制御部12には、図示を省略した6個のA/D(Analog/Digital)入力ポートを有するマイコンが実装されており、その入力ポートに、それぞれの各キーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)が接続されている。
従って、いずれのキースイッチもOFFの場合、つまり、押下されていない場合には、それぞれの入力ポートでは、印加されている電源電圧VDDに応じた電圧値(電位差)、つまり、電圧値がHighの状態が検出される。
A microcomputer having six A / D (Analog / Digital) input ports (not shown) is mounted in the control unit 12, and each key return input signal line (return line KR1, return line KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) are connected.
Therefore, when all the key switches are OFF, that is, when the key switches are not pressed, the voltage value (potential difference) corresponding to the applied power supply voltage VDD, that is, the voltage value is High at each input port. The condition is detected.

一方、2つのキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A、スキャンラインKS_B)では、スキャンを行いたいキースキャン出力信号線の電圧値をLowとし、他方のキースキャン出力信号線の電圧値をHighとする。この動作は、一定の時間間隔で切り替えが行われている。   On the other hand, in the two key scan output signal lines (scan line KS_A and scan line KS_B), the voltage value of the key scan output signal line to be scanned is set to Low, and the voltage value of the other key scan output signal line is set to High. . This operation is switched at regular time intervals.

つまり、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)の電圧値がLowで第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)の電圧値がHighの状態が一定時間あり、このときにはスキャンを行っているキースキャン出力信号線は、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)である。   That is, the voltage value of the first key scan output signal line (scan line KS_A) is low and the voltage value of the second key scan output signal line (scan line KS_B) is high for a certain period of time. The performed key scan output signal line is the first key scan output signal line (scan line KS_A).

一定時間経過後、今度は、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)の電圧値がHighで第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)の電圧値がLowの状態とされ、このときにはスキャンを行っているキースキャン出力信号線は、第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)である。
このように、キースキャン出力信号線のスキャンは、ある時間間隔で交互に繰り返されている。
After a lapse of a fixed time, the voltage value of the first key scan output signal line (scan line KS_A) is High and the voltage value of the second key scan output signal line (Scan line KS_B) is Low. At this time, the key scan output signal line which is scanning is the second key scan output signal line (scan line KS_B).
In this way, the scan of the key scan output signal line is alternately repeated at a certain time interval.

ここで、スキャンを行っているキースキャン出力信号線が第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)である場合について以下で説明する。
この場合、A_SW1、A_SW2、A_SW3、A_SW4、A_SW5、A_SW6のいずれのキースイッチもOFF、つまり、押下されていない時には、やはり、それぞれの入力ポートでは、印加されている電源電圧VDDに応じた電圧値(電位差)、つまり、電圧値がHighの状態が検出されている。
Here, a case where the key scan output signal line which is performing the scan is the first key scan output signal line (scan line KS_A) will be described below.
In this case, any of the key switches A_SW1, A_SW2, A_SW3, A_SW4, A_SW5, and A_SW6 is OFF, that is, when not pressed, the voltage value corresponding to the applied power supply voltage VDD is still applied to each input port. (Potential difference), that is, a state in which the voltage value is High is detected.

一方、例えば、キースイッチA_SW2がON、つまり、押下されると、キースイッチA_SW2を介して、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)とリターンラインKR2のキーリターン入力信号線とは導通することになる。
このため、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)の電圧値Lowを受けてリターンラインKR2のキーリターン入力信号線の電圧値もLowとなる。
On the other hand, for example, when the key switch A_SW2 is turned on, that is, pressed, the first key scan output signal line (scan line KS_A) and the key return input signal line of the return line KR2 are electrically connected via the key switch A_SW2. Will be done.
Therefore, upon receiving the voltage value Low of the first key scan output signal line (scan line KS_A), the voltage value of the key return input signal line of the return line KR2 also becomes Low.

リターンラインKR2のキーリターン入力信号線には、A_SW2とB_SW2のキースイッチが接続されているが、スキャン中のキースキャン出力信号線は、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)であるので、これに対応したキースイッチはA_SW2である。   The key return input signal line of the return line KR2 is connected to the key switches of A_SW2 and B_SW2, and the key scan output signal line during scanning is the first key scan output signal line (scan line KS_A). Therefore, the key switch corresponding to this is A_SW2.

従って、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)をスキャンしている時に、リターンラインKR2のキーリターン入力信号線の電圧値(電位差)が変化すると、キースイッチA_SW2がON、つまり、押下されていることが検出される。
同様に、キースイッチA_SW1だけがON、つまり、押下されている場合も、基本的には上記キースイッチA_SW2の動作と同じ動作でキースイッチA_SW1が押下さられていることが検出されることになる。
Therefore, when the voltage value (potential difference) of the key return input signal line of the return line KR2 changes while scanning the first key scan output signal line (scan line KS_A), the key switch A_SW2 is turned on, that is, pressed. Is detected.
Similarly, when only the key switch A_SW1 is ON, that is, when it is pressed, it is basically detected that the key switch A_SW1 is pressed by the same operation as the operation of the key switch A_SW2. .

その他のキースイッチが押下されている場合も、基本的な動作、つまり、どのキースキャン出力信号線をスキャンしている時に、どのキーリターン入力信号線の電圧値(電位差)の変化が検出されるのかによって、どのキースイッチがON、つまり、押下されているのかが判断される。   Even when the other key switch is pressed, the basic operation, that is, the change in the voltage value (potential difference) of which key return input signal line is detected when scanning which key scan output signal line. Which key switch is ON, that is, the key switch is pressed.

(複数のキースイッチが同時押下された時の動作)
本発明の基本的な動作は、上記で説明した通りであり、以下では、同時に複数のキースイッチがON、つまり、押下される場合について説明する。
(Operation when multiple key switches are pressed simultaneously)
The basic operation of the present invention is as described above, and the case where a plurality of key switches are simultaneously turned on, that is, pressed, will be described below.

図2(a)は、図1と基本的に同じ回路図を示しているが、信号の流れを見やすくするために、キースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A、KS_B)とキーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)の部分だけを主に示し、制御部12及びプルアップ抵抗(R1、R2、R3、R4)などを省略して図示している。
なお、以降の図においても、図2(a)と同様に、制御部12及びプルアップ抵抗(R1、R2、R3、R4)などを省略して図示を行う。
2A shows a circuit diagram basically the same as FIG. 1, but in order to make the signal flow easy to see, the key scan output signal lines (scan lines KS_A, KS_B) and the key return input signal line ( The return line KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) is mainly shown, and the control unit 12 and pull-up resistors (R1, R2, R3, R4) are omitted.
It should be noted that, also in the subsequent drawings, the control unit 12, the pull-up resistors (R1, R2, R3, R4) and the like are omitted, as in FIG. 2A.

まず、隣接する4つのキースイッチA_SW1、A_SW2、B_SW1、B_SW2のうちの複数(3つ)のキースイッチが同時押下されている場合の動作について説明を行う。   First, the operation when a plurality (three) of the four adjacent key switches A_SW1, A_SW2, B_SW1, and B_SW2 are simultaneously pressed will be described.

最初に、図2(a)の斜めのハッチングが施されているキースイッチA_SW1、A_SW2、B_SW1が同時押下されている状況を想定して説明を進める。
なお、上記のキーマトリクス回路の基本動作では、電圧値が変化していく様子で説明したが、説明の簡略化のため、スキャン信号という表現を用いて、信号の流れとして説明を行う。
また、以降の図において、押下されているキースイッチについては斜めのハッチングを設け、そうでないキースイッチにはハッチングを設けないものとする。
First, a description will be given assuming a situation where the diagonally hatched key switches A_SW1, A_SW2, and B_SW1 in FIG. 2A are simultaneously pressed.
In the basic operation of the key matrix circuit described above, the voltage value changes. However, for simplicity of description, the expression "scan signal" is used to describe the signal flow.
Also, in the following figures, diagonally hatching is provided for key switches that are being pressed, and hatching is not provided for key switches that are not.

図2には図示していないが、スキャンラインKS_Aをスキャンする場合、つまり、スキャンラインKS_Aにスキャン信号が出力された場合には、そのスキャン信号の流れ(電圧の変化の流れ)は、キースイッチA_SW1とキースイッチA_SW2を、それぞれ経由してキーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2)に入力されることになる。   Although not shown in FIG. 2, when the scan line KS_A is scanned, that is, when a scan signal is output to the scan line KS_A, the flow of the scan signal (the flow of change in voltage) is the key switch. The signal is input to the key return input signal lines (return lines KR1 and KR2) via A_SW1 and the key switch A_SW2, respectively.

この場合には、スキャンラインKS_Aをスキャンしている時に、押下されているキースイッチA_SW1、A_SW2に対応したキーリターン入力信号線(リターンラインKR1、KR2)にスキャン信号が入力される(電圧値(電位差)の変化が検出される)ことになり、キースイッチA_SW1、A_SW2が押下されていると判定される。これは、正しい判定状態であるので何ら問題はない。   In this case, while scanning the scan line KS_A, the scan signal is input to the key return input signal lines (return lines KR1 and KR2) corresponding to the pressed key switches A_SW1 and A_SW2 (voltage value ( Change) is detected), and it is determined that the key switches A_SW1 and A_SW2 are pressed. This is a correct determination state, so there is no problem.

一方、図2(a)に示されるように、スキャンラインKS_Bをスキャンするために、スキャンラインKS_Bからスキャン信号を出力(スキャンラインKS_Bの電圧値Low)すると、キーリターン入力信号線のリターンラインKR2にスキャン信号が入力される経路は、B_SW2が1つだけ押下された場合と、A_SW1、A_SW2及びB_SW1の3つが同時に押下された場合の2通りが考えられる。以下それぞれの場合について詳述する。   On the other hand, as shown in FIG. 2A, when a scan signal is output from the scan line KS_B to scan the scan line KS_B (voltage value Low of the scan line KS_B), the return line KR2 of the key return input signal line is output. There are two possible routes for the scan signal to be input into the case where only one B_SW2 is pressed and when three of A_SW1, A_SW2 and B_SW1 are simultaneously pressed. Each case will be described in detail below.

まず、通常の1つのキースイッチが押下される場合でリターンラインKR2にスキャン信号が入力されるのは、図2(a)に示す実線の経路を経由する時、つまり、キースイッチB_SW2が押下されている場合である。
なお、1つのキースイッチを押下する場合の方が一般的であるため、以降では、この場合のスキャン信号の経路のことを通常ルートと呼ぶ。
First, when one normal key switch is pressed, the scan signal is input to the return line KR2 when it passes through the solid line path shown in FIG. 2A, that is, the key switch B_SW2 is pressed. That is the case.
Since it is more common to press one key switch, the path of the scan signal in this case will be referred to as a normal path hereinafter.

一方、図2(a)を見るとわかるとおり、この3つのキースイッチ(A_SW1、A_SW2、B_SW1)を同時押下した場合には、スキャン信号は、点線で示す経路を経由してリターンラインKR2に入力される。
なお、以降では、このような複数のキースイッチを経由するスキャン信号の経路のことを回り込みルートと呼ぶ。
On the other hand, as can be seen from FIG. 2A, when these three key switches (A_SW1, A_SW2, B_SW1) are simultaneously pressed, the scan signal is input to the return line KR2 via the route indicated by the dotted line. To be done.
Note that, hereinafter, the path of the scan signal that passes through such a plurality of key switches will be referred to as a sneak path.

今、実際に、押下されているのは、キースイッチ(A_SW1、A_SW2、B_SW1)であるが、キースイッチB_SW2は押下されているものと同じ回路となり、キースイッチA_SW1、A_SW2、B_SW1の同時押下なのか、B_SW2の1つだけの押下なのか判定ができない(検出不能)ことになる。   Actually, the key switches (A_SW1, A_SW2, B_SW1) are actually pressed, but the key switch B_SW2 has the same circuit as that being pressed, and the key switches A_SW1, A_SW2, and B_SW1 are not simultaneously pressed. Therefore, it cannot be determined (undetectable) whether or not only one of B_SW2 is pressed.

以下では、上記のような検出不能の可能性がある2つのルートが存在する時の本構成の動作について、さらに説明する。
図2(b)にスキャン信号の経路を直線的に示した等価回路を示しており、図2(b)でもプルアップ抵抗R1や制御部12等を省略して図示している。
なお、以降の図において(b)として示す図は、特に断らない限り同図(a)の等価回路を示す図である。
The operation of this configuration when there are two routes that may be undetectable as described above will be further described below.
FIG. 2B shows an equivalent circuit in which the path of the scan signal is linearly shown, and the pull-up resistor R1 and the control unit 12 are omitted in FIG. 2B as well.
Note that, in the following figures, the diagram shown as (b) is a diagram showing an equivalent circuit of the same diagram (a) unless otherwise specified.

図2(b)の左側は、通常ルートの場合の等価回路を示しており、一方、図2(b)の右側は、回り込みルートの等価回路を示している。
図2(b)に示す通り、本発明の構成では、通常ルートには信号制御抵抗が存在せず、一方、回り込みルートには、第1信号制御抵抗RA2が存在する。
従って、リターンラインKR2に入力されるスキャン信号は、通常ルートと回り込みルートとでは、この信号制御抵抗の有無の影響を受けるので異なる電圧値(電位差)として検出される。
The left side of FIG. 2B shows an equivalent circuit in the case of the normal route, while the right side of FIG. 2B shows an equivalent circuit of the detour route.
As shown in FIG. 2B, in the configuration of the present invention, the signal control resistor does not exist in the normal route, while the first signal control resistor RA2 exists in the detour route.
Therefore, the scan signal input to the return line KR2 is detected as a different voltage value (potential difference) in the normal route and the sneak route because it is affected by the presence or absence of the signal control resistor.

そして、このキースイッチA_SW1、A_SW2、B_SW1、B_SW2において、スキャンラインKS_Bをスキャンする時に、押下される可能性のあるキースイッチは、B_SW1とB_SW2であるので、この電圧値(電位差)の違いによって、どちらのキースイッチが押下されているのかが判断できるので検出不能を回避することができる。   The key switches A_SW1, A_SW2, B_SW1, and B_SW2 that can be pressed when scanning the scan line KS_B are B_SW1 and B_SW2. Therefore, depending on the difference in voltage value (potential difference), Since it is possible to determine which key switch is pressed, it is possible to avoid undetectability.

ここで、キースイッチA_SW1、A_SW2、B_SW1の同時押下が検出できる原理を図2に沿って説明する。まずキースイッチA_SW1の押下はKS_Aラインから出力されたLow信号が抵抗RA1とキースイッチA_SW1を経由しKR_1に入力され、KR_1は図示しない電源電圧VDDでプルアップされたプルアップ抵抗と抵抗RA1で分圧された電位となることによって検出される。またキースイッチA_SW2の押下はKS_Aラインから出力されたLow信号が抵抗RA2とキースイッチA_SW2を経由しKR_2に入力され、KR_2は図示しない電源電圧VDDでプルアップされたプルアップ抵抗と抵抗RA2で分圧された電位となることによって検出される。さらにキースイッチB_SW1の押下はKS_Bラインから出力されたLow信号がキースイッチB_SW1を経由しKR_2に入力され、KR_1はLowレベルになることにより検出される。尚、KS_AラインとKS_Bラインから出力されるLow信号は、出力タイミングを異ならせる。   Here, the principle by which simultaneous pressing of the key switches A_SW1, A_SW2, and B_SW1 can be detected will be described with reference to FIG. First, when the key switch A_SW1 is pressed, the Low signal output from the KS_A line is input to KR_1 via the resistor RA1 and the key switch A_SW1, and KR_1 is divided by the pull-up resistor and the resistor RA1 that are pulled up by the power supply voltage VDD (not shown). It is detected by the fact that it becomes a pressure potential. When the key switch A_SW2 is pressed, the Low signal output from the KS_A line is input to KR_2 via the resistor RA2 and the key switch A_SW2, and KR_2 is divided by a pull-up resistor and a resistor RA2 that are pulled up by a power supply voltage VDD (not shown). It is detected by the fact that it becomes a pressure potential. Further, the depression of the key switch B_SW1 is detected when the Low signal output from the KS_B line is input to the KR_2 via the key switch B_SW1 and the KR_1 becomes the Low level. The Low signals output from the KS_A line and the KS_B line have different output timings.

次に、図3(a)の斜めのハッチングが施されているキースイッチA_SW1、A_SW2、B_SW2が同時押下されている状況を想定した場合について見てみる。
ここでも、図示を省略しているが、スキャンラインKS_Aをスキャンする時には、先ほど説明したのと同様の結果が得られるので正しい判定状態であり、何ら問題はない。
一方、スキャンラインKS_Bをスキャンする場合には、図3(a)に示すように、やはり、キーリターン入力信号線(リターンラインKR1)に入力されるルートとして2つのルート、つまり、実線で示す通常ルートと点線で示す回り込みルートとが存在する。
Next, let us consider a case in which the diagonally hatched key switches A_SW1, A_SW2, and B_SW2 in FIG. 3A are simultaneously pressed.
Also here, although not shown, when scanning the scan line KS_A, the same result as that described above is obtained, so the determination state is correct, and there is no problem.
On the other hand, in the case of scanning the scan line KS_B, as shown in FIG. 3A, as the route to be input to the key return input signal line (return line KR1), two routes, that is, a normal line indicated by a solid line, are used. There are a route and a wraparound route indicated by a dotted line.

しかしながら、本発明の構成では、図3(b)に示すように、通常ルートの場合(図左側)には信号制御抵抗が存在せず、一方、回り込みルートの場合(図右側)には、第1信号制御抵抗RA2が存在する。
従って、キーリターン入力信号線(リターンラインKR1)に入力されるスキャン信号は、通常ルートと回り込みルートとでは、異なる電圧値(電位差)が検出されることになるので、この電圧値(電位差)によって、どちらのキースイッチが押下されているのかが判断でき、検出不能を回避することが可能である。
However, in the configuration of the present invention, as shown in FIG. 3B, in the case of the normal route (left side of the figure), there is no signal control resistance, while in the case of the detour route (right side of the figure), There is one signal control resistor RA2.
Therefore, since the scan signal input to the key return input signal line (return line KR1) has different voltage values (potential difference) detected between the normal route and the sneak route, this voltage value (potential difference) causes It is possible to determine which key switch is being pressed, and avoid undetectability.

次に、上記と同様に、隣接する4つのキースイッチA_SW1、A_SW2、B_SW1、B_SW2において、キースイッチB_SW1及びB_SW2が押下されるとともに、キースイッチA_SW1又はA_SW2のいずれか1つが押下される複数(3つ)のキースイッチが同時押下されている場合の動作について説明を行う。
この場合、先ほどとは逆に、スキャンラインKS_Bをスキャンする場合には、検出不能を起こすような回り込みルートが発生しないため、問題はスキャンラインKS_A側となる。
Next, similar to the above, among the four adjacent key switches A_SW1, A_SW2, B_SW1, B_SW2, the key switches B_SW1 and B_SW2 are pressed, and any one of the key switches A_SW1 or A_SW2 is pressed (3 The operation when two key switches are simultaneously pressed will be described.
In this case, conversely to the above, when scanning the scan line KS_B, a sneak route that causes undetectability does not occur, so the problem is on the scan line KS_A side.

図4は、キースイッチA_SW2、B_SW1、B_SW2を同時押下した場合を示しており、先ほどと同様に図4(a)で通常ルートと回り込みルートを示し、図4(b)で通常ルートと回り込みルートの等価回路を示している。
この場合、図4(b)を見るとわかるように、通常ルートでは、第1信号制御抵抗RA1だけが存在するに対して回り込みルートでは第1信号制御抵抗RA1及びRA2が存在するため、やはり、検出不能を回避することが可能である。
FIG. 4 shows the case where the key switches A_SW2, B_SW1, and B_SW2 are simultaneously pressed. As in the previous case, FIG. 4 (a) shows the normal route and the detour route, and FIG. 4 (b) the normal route and the detour route. The equivalent circuit of is shown.
In this case, as can be seen from FIG. 4B, only the first signal control resistor RA1 is present in the normal route, while the first signal control resistors RA1 and RA2 are present in the sneak route. It is possible to avoid undetectability.

同様に、図5に、キースイッチA_SW1、B_SW1、B_SW2を同時押下した場合を示しているが、この場合でも、通常ルートでは第1信号制御抵抗RA1及びRA2が存在するのに対し、回り込みルートでは、第1信号制御抵抗RA1だけとなるため、やはり、検出不能を回避することが可能である。   Similarly, FIG. 5 shows a case where the key switches A_SW1, B_SW1, and B_SW2 are simultaneously pressed, but even in this case, the first signal control resistors RA1 and RA2 are present in the normal route, whereas the sneak route is Since only the first signal control resistor RA1 is provided, it is possible to avoid undetectability.

なお、上記では、キースイッチA_SW1、A_SW2、B_SW1、B_SW2のうちの3つのキースイッチを同時押下する場合について示してきたが、キースイッチA_SW2、A_SW3、B_SW2、B_SW3の場合であっても、同様に通常ルートと回り込みルートで抵抗の状態が異なることになるため、検出不能を回避することが可能である。 Although the case where three key switches of the key switches A_SW1, A_SW2, B_SW1, and B_SW2 are simultaneously pressed has been described above, the same applies to the case of the key switches A_SW2, A_SW3, B_SW2, and B_SW3. Since the resistance state is different between the normal route and the sneak route, it is possible to avoid undetectability.

つまり、キースイッチA_SW2、A_SW3、B_SW2、B_SW3において、キースイッチA_SW2、A_SW3が押下されるとともに、キースイッチB_SW2、B_SW3のいずれか1つが押下される場合には、スキャンラインKS_Bをスキャンする場合に回り込みルートが発生するが、キースイッチB_SW2が押下されている場合は、通常ルート(キースイッチB_SW3だけを経由するルート)では、信号制御抵抗が存在しない一方、回り込みルートでは第1信号制御抵抗RA3が存在することになる。   That is, in the key switches A_SW2, A_SW3, B_SW2, and B_SW3, when the key switches A_SW2 and A_SW3 are pressed, and when any one of the key switches B_SW2 and B_SW3 is pressed, the scan line KS_B wraps around. Although a route occurs, when the key switch B_SW2 is pressed, the signal control resistor does not exist in the normal route (route that passes only the key switch B_SW3), while the first signal control resistor RA3 exists in the detour route. Will be done.

逆に、キースイッチB_SW3の方を押下し、キースイッチB_SW2を押下しない場合には、通常ルート(キースイッチB_SW2だけを経由するルート)では、信号制御抵抗が存在しない一方、回り込みルートでは第1信号制御抵抗RA3が存在することになる。   On the contrary, when the key switch B_SW3 is pressed and the key switch B_SW2 is not pressed, the signal control resistor does not exist in the normal route (route that passes only the key switch B_SW2), while the first signal is used in the sneak route. The control resistor RA3 will be present.

同様に、キースイッチA_SW2、A_SW3、B_SW2、B_SW3において、キースイッチB_SW2、B_SW3が押下されるとともに、キースイッチA_SW2、A_SW3のいずれか1つが押下される場合には、スキャンラインKS_Aをスキャンする場合に回り込みルートが発生するが、この場合も通常ルートと回り込みルートとでは、介在する第1信号制御抵抗の数が異なることになるので検出不能を回避することができる。   Similarly, in the key switches A_SW2, A_SW3, B_SW2, and B_SW3, when the key switches B_SW2 and B_SW3 are pressed, and when any one of the key switches A_SW2 and A_SW3 is pressed, the scan line KS_A is scanned. Although a sneak route is generated, in this case as well, the number of intervening first signal control resistors is different between the normal route and the sneak route, so that detection failure can be avoided.

具体的には、キースイッチB_SW2、B_SW3が押下されるとともに、キースイッチB_SW2を押下した場合には、通常ルート(キースイッチA_SW3だけを経由するルート)では、第1信号制御抵抗RA1、RA2、RA3が存在するのに対し、回り込みルートでは第1信号制御抵抗RA1、RA2だけが存在することになる。   Specifically, when the key switches B_SW2 and B_SW3 are pressed, and when the key switch B_SW2 is pressed, the first signal control resistors RA1, RA2, RA3 are taken in the normal route (route passing only the key switch A_SW3). However, only the first signal control resistors RA1 and RA2 are present in the loop route.

キースイッチB_SW2、B_SW3が押下されるとともに、キースイッチB_SW3を押下した場合には、通常ルート(キースイッチA_SW2だけを経由するルート)では第1信号制御抵抗RA1、RA2だけが存在するのに対し、回り込みルートでは第1信号制御抵抗RA1、RA2、RA3が存在することになる。   When the key switches B_SW2 and B_SW3 are pressed and the key switch B_SW3 is pressed, only the first signal control resistors RA1 and RA2 are present in the normal route (route passing only the key switch A_SW2). The first signal control resistors RA1, RA2, RA3 are present in the loop route.

さらに、上下2つの隣接する4つのキースイッチ間(例えば、キースイッチA_SW3、A_SW4、B_SW3、B_SW4の間や、キースイッチA_SW4、A_SW5、B_SW4、B_SW5の間など)でも同様のことが起こるので、検出不能を回避することが可能になっている。   Further, since a similar phenomenon occurs between four adjacent upper and lower key switches (for example, between the key switches A_SW3, A_SW4, B_SW3 and B_SW4 and between the key switches A_SW4, A_SW5, B_SW4 and B_SW5), detection is performed. It is possible to avoid the impossibility.

次に、離れた位置での3つのキースイッチの同時押下について見てみる。
図6及び図7はキースイッチA_SW1、A_SW3、B_SW1、B_SW3において、キースイッチA_SW1、A_SW3を押下するとともに、キースイッチB_SW1、B_SW3のどちらか一方を押下するスキャンラインKS_Bをスキャンするときに回り込みが発生する場合を示す図であるが、この場合でも通常ルートには、信号制御抵抗が存在せず、一方、回り込みルートでは第1信号制御抵抗RA2、RA3が存在し、検出不能を回避することが可能である。
Next, let's look at the simultaneous pressing of three key switches at remote positions.
6 and 7, in the key switches A_SW1, A_SW3, B_SW1, and B_SW3, wraparound occurs when the scan line KS_B that presses the key switches A_SW1 and A_SW3 and presses either one of the key switches B_SW1 and B_SW3 is scanned. It is a diagram showing a case where the signal control resistance does not exist in the normal route even in this case, while the first signal control resistances RA2 and RA3 exist in the sneak route, and it is possible to avoid undetectability. Is.

なお、より離れたキースイッチ、例えば、キースイッチA_SW1、A_SW4、B_SW1、B_SW4の間であったとしても、キースイッチA_SW1、A_SW4を押下するとともに、キースイッチB_SW1、B_SW4のどちらか一方を押下する場合には、上記と同様に回り込みが発生するスキャンラインKS_Bをスキャンするときの通常ルートには信号制御抵抗が存在せず、回り込みルートには第1信号制御抵抗が存在することになるので検出不能を回避することが可能であり、この状態は、さらに、離れたキースイッチ間(例えば、キースイッチA_SW1、A_SW5、B_SW1、B_SW5の間や、キースイッチA_SW1、A_SW6、B_SW1、B_SW6の間)でも同様であり、検出不能を回避することが可能になっている。   Note that even if the key switches are further apart, for example, between the key switches A_SW1, A_SW4, B_SW1, and B_SW4, when the key switches A_SW1 and A_SW4 are pressed, either one of the key switches B_SW1 and B_SW4 is pressed. In the same way as above, there is no signal control resistance in the normal route when scanning the scan line KS_B in which the sneak occurs, and the first signal control resistance exists in the sneak route, so undetectable. It is possible to avoid, and this state is the same between the key switches that are far apart (for example, between the key switches A_SW1, A_SW5, B_SW1, and B_SW5 and between the key switches A_SW1, A_SW6, B_SW1, and B_SW6). Yes, it is possible to avoid undetectable It has become.

一方、図8及び図9はキースイッチA_SW1、A_SW3、B_SW1、B_SW3において、キースイッチB_SW1、B_SW3を押下するとともに、キースイッチA_SW1、A_SW3のどちらか一方を押下するスキャンラインKS_Aをスキャンするときに回り込みが発生する場合を示す図であるが、この場合でも通常ルートと回り込みルートとでは存在する第1信号制御抵抗の数が異なることになるので、検出不能を回避することが可能である。   On the other hand, in FIGS. 8 and 9, in the key switches A_SW1, A_SW3, B_SW1, and B_SW3, when the key switches B_SW1 and B_SW3 are pressed, and when the scan line KS_A that presses either one of the key switches A_SW1 and A_SW3 is scanned, it wraps around. FIG. 6 is a diagram showing a case in which, however, in this case as well, the number of the first signal control resistors that exist in the normal route and the sneak route are different, and thus it is possible to avoid undetectability.

なお、より離れたキースイッチ、例えば、キースイッチA_SW1、A_SW4、B_SW1、B_SW4の間であったとしても、キースイッチB_SW1、B_SW4を押下するとともに、キースイッチA_SW1、A_SW4のどちらか一方を押下する場合には、上記と同様に回り込みが発生するスキャンラインKS_Aをスキャンするときの通常ルートと回り込みルートとでは、存在する第1信号制御抵抗の数が異なることになるので、検出不能を回避することが可能である。   In addition, even if the key switch is farther away, for example, between the key switches A_SW1, A_SW4, B_SW1, and B_SW4, when the key switches B_SW1 and B_SW4 are pressed, and either one of the key switches A_SW1 and A_SW4 is pressed. In the same manner as above, since the number of the first signal control resistors that exist in the normal route and the sneak route when scanning the scan line KS_A in which the sneak occurs is different, it is possible to avoid undetectability. It is possible.

図2から図9を参照して、第1のキースイッチ群のキースイッチ(A_SW1、A_SW2、A_SW3、A_SW4、A_SW5、A_SW6)からの配線Lと第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)との接続点Pの手前(出力ポート側)の第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)上の複数の第1位置に信号制御抵抗(RA1、RA2、RA3、RA4、RA5、RA6)を設けた場合について見てきた。   2 to 9, the wiring L from the key switches (A_SW1, A_SW2, A_SW3, A_SW4, A_SW5, A_SW6) of the first key switch group and the first key scan output signal line (scan line KS_A) Signal control resistors (RA1, RA2, RA3, RA4, RA5, RA6) at a plurality of first positions on the first key scan output signal line (scan line KS_A) before the connection point P (on the output port side). I've seen about the case.

しかしながら、第1実施形態のキースキャン出力信号線が、2つのキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A、スキャンラインKS_B)である場合では、信号制御抵抗の配置は、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)上の第1位置に限定されるものではない。   However, when the key scan output signal lines of the first embodiment are two key scan output signal lines (scan line KS_A and scan line KS_B), the arrangement of the signal control resistors is the first key scan output signal line. It is not limited to the first position on the (scan line KS_A).

上記の第1信号制御抵抗(RA1、RA2、RA3、RA4、RA5、RA6)のいずれかを省略(例えば、RA4、RA5、RA6)して、代わりに、図10に示すように、第2のキースイッチ群のキースイッチ(B_SW1、B_SW2、B_SW3、B_SW4、B_SW5、B_SW6)からの配線Lと第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)との接続点Pの手前(出力ポート側)の第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)上の複数の第2位置であって、同じキーリターン入力信号線(KR4、KR5、KR6)に対応した第1位置に第1信号制御抵抗が設けられていない第2位置、つまり、省略され存在しなくなった第1信号制御抵抗(RA4、RA5、RA6)に対応する第2位置に第1信号制御抵抗(RA1、RA2、RA3)と異なる抵抗値の第2信号制御抵抗(RB4、RB5、RB6)が設けられるようになっていれば良い。   Any one of the above-mentioned first signal control resistors (RA1, RA2, RA3, RA4, RA5, RA6) is omitted (for example, RA4, RA5, RA6), and instead, as shown in FIG. Before the connection point P (on the output port side) between the wiring L from the key switch (B_SW1, B_SW2, B_SW3, B_SW4, B_SW5, B_SW6) of the key switch group and the second key scan output signal line (scan line KS_B). A first signal control resistor is provided at a plurality of second positions on the second key scan output signal line (scan line KS_B) and at first positions corresponding to the same key return input signal lines (KR4, KR5, KR6). A first position is provided at a second position that is not provided, that is, a second position corresponding to the first signal control resistors (RA4, RA5, RA6) that are omitted and no longer exist. No. control resistor (RA1, RA2, RA3) and a second signal control resistor of different resistance value (RB4, RB5, RB6) it is sufficient so provided.

以下、具体的に、図10に示す信号制御抵抗の配置を変更した第1変形例について、検出不能を回避できることについて見ていくことにする。
まず、図10に示すように、先ほどの第1の信号制御抵抗RA4、RA5、RA6を省略し、その第1信号制御抵抗RA4、RA5、RA6の設けられていた第1位置に対応する同じキーリターン入力信号線(KR4、KR5、KR6)に対応した第2位置(第2のキースイッチ群のキースイッチ(B_SW4、B_SW5、B_SW6)からの配線Lと第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)との接続点Pの手前(出力ポート側)の位置)に信号制御抵抗RB4、RB5、RB6を設けた場合について見ていく。
なお、この第2のキースキャン出力信号線上に設けられる信号制御抵抗を第2信号制御抵抗と呼ぶこととする。
In the following, concretely, regarding the first modified example in which the arrangement of the signal control resistors shown in FIG.
First, as shown in FIG. 10, the first signal control resistors RA4, RA5, RA6 are omitted and the same key corresponding to the first position where the first signal control resistors RA4, RA5, RA6 are provided. The wiring L from the second position (key switch (B_SW4, B_SW5, B_SW6) of the second key switch group) corresponding to the return input signal line (KR4, KR5, KR6) and the second key scan output signal line (scan line) KS_B) will be described with respect to the case where the signal control resistors RB4, RB5, and RB6 are provided before (the position on the output port side) the connection point P with KS_B).
The signal control resistor provided on the second key scan output signal line will be referred to as a second signal control resistor.

図10から図13は、まず、上下2つの隣接する4つのキースイッチのうち3つのキースイッチを同時押下した場合を示すものであり、スキャンラインKS_Bをスキャンするときに回り込みルートが発生する場合を示している。   FIG. 10 to FIG. 13 show a case where three key switches out of four adjacent two key switches are pressed at the same time, and a case where a sneak route occurs when scanning the scan line KS_B will be described. Shows.

キースイッチA_SW1、A_SW2、A_SW3、B_SW1、B_SW2、B_SW3の部分については、先ほどまでと変わるところが無いので、そこから右側の場合について順次押下する上下2つの隣接する4つのキースイッチのグループをシフトさせていった場合を示している。   As for the key switches A_SW1, A_SW2, A_SW3, B_SW1, B_SW2, and B_SW3, there is no change so far. Therefore, in the case of the right side, the group of four adjacent upper and lower key switches is shifted. It shows the case.

図10から図13に示すように、いずれの場合においても通常ルートと回り込みルートとで抵抗の状態が異なることになり、検出不能を回避できることがわかる。
なお、さらに、上下2つの隣接する4つのキースイッチのグループを右側にシフトしても同様に通常ルートと回り込みルートとで抵抗の状態が異なる状態が続く。
As shown in FIG. 10 to FIG. 13, it can be seen that in any case, the resistance state is different between the normal route and the sneak route, and the undetectability can be avoided.
Further, even if a group of four adjacent upper and lower key switches is shifted to the right side, similarly, the state of resistance remains different between the normal route and the sneak route.

次に、図10から図13と同様の信号制御抵抗の配置において、上下2つの隣接する4つのキースイッチのうち3つのキースイッチを同時押下した場合にスキャンラインKS_Aをスキャンするときに回り込みルートが発生する場合を、図10から図13と同様に、上下2つの隣接する4つのキースイッチのグループをシフトさせていった場合について、図14から図17に示しているが、この場合でも通常ルートと回り込みルートとで抵抗の状態が異なることになり、検出不能を回避できることがわかる。
なお、さらに、上下2つの隣接する4つのキースイッチのグループを右側にシフトしても同様に通常ルートと回り込みルートとで抵抗の状態が異なる状態が続く。
Next, in the same arrangement of the signal control resistors as in FIG. 10 to FIG. 13, when the three key switches of the two adjacent upper and lower two key switches are simultaneously pressed, the sneak route is set when scanning the scan line KS_A. As in the case of FIG. 10 to FIG. 13, a case where the groups of four adjacent upper and lower key switches are shifted is shown in FIG. 14 to FIG. It can be seen that the undetectable state can be avoided because the resistance state is different between the wraparound route and the wraparound route.
Further, even if a group of four adjacent upper and lower key switches is shifted to the right side, similarly, the state of resistance remains different between the normal route and the sneak route.

また、図示は省略するが、図6から図9を参照して説明した離れた位置で3つのキースイッチの同時押下の場合でも通常ルートと回り込みルートとで抵抗の状態が異なることを確認しており、検出不能を回避できるようになっている。
さらに、図18(第2変形例)、図19(第3変形例)、図20(第4変形例)に示す信号制御抵抗(第1信号制御抵抗及び第2信号制御抵抗)の配置においても、同様に上下2つの隣接する4つのキースイッチのグループ内、並びに、離れた位置での3つのキースイッチの同時押下のどちらの場合においても通常ルートと回り込みルートとで抵抗の状態が異なることを確認しており、検出不能を回避できるようになっている。
Although illustration is omitted, it is confirmed that the resistance state is different between the normal route and the sneaking route even when the three key switches are simultaneously pressed at the separated positions described with reference to FIGS. 6 to 9. Therefore, it is possible to avoid undetectability.
Further, also in the arrangement of the signal control resistors (first signal control resistor and second signal control resistor) shown in FIG. 18 (second modification), FIG. 19 (third modification), and FIG. 20 (fourth modification). In the same way, in both the case where two key switches adjacent to each other are pressed vertically, and when the three key switches are simultaneously pressed at distant positions, the resistance state is different between the normal route and the sneak route. It has been confirmed and it is possible to avoid undetectability.

例えば、図19(第3変形例)の信号制御抵抗の配置の場合について、検出不能を回避することができることについて、念のため示しておく。
この図19に示す第3変形例の信号制御抵抗の配置は、第1のキースイッチ群のキースイッチ(A_SW1、A_SW2、A_SW3、A_SW4、A_SW5、A_SW6)からの配線Lと第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)との接続点Pの手前(出力ポート側)の第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)上の複数の第1位置は、第1信号制御抵抗(RA1、RA3、RA5)を有する第1位置と第1信号制御抵抗を有しない第1位置が交互に現れるようになっている。
For example, in the case of the arrangement of the signal control resistors in FIG. 19 (third modified example), it will be shown just in case that undetectability can be avoided.
The arrangement of the signal control resistors of the third modification shown in FIG. 19 is the wiring L from the key switches (A_SW1, A_SW2, A_SW3, A_SW4, A_SW5, A_SW6) of the first key switch group and the first key scan output. A plurality of first positions on the first key scan output signal line (scan line KS_A) before the connection point P with the signal line (scan line KS_A) (on the output port side) are connected to the first signal control resistor (RA1, The first position having RA3 and RA5) and the first position not having the first signal control resistor appear alternately.

そして、第2のキースイッチ群のキースイッチ(B_SW1、B_SW2、B_SW3、B_SW4、B_SW5、B_SW6)からの配線Lと第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)との接続点Pの手前(出力ポート側)の第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)上の複数の第2位置であって同じキーリターン入力信号線(KR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)に対応した第1位置に第1信号制御抵抗が設けられていない第2位置、つまり、キーリターン入力信号線(KR2、KR4、KR6)に対応する第2位置には、第1信号制御抵抗と異なる抵抗値の第2の信号制御抵抗(RB2、RB4、RB6)が設けられている。   Then, before the connection point P between the wiring L from the key switch (B_SW1, B_SW2, B_SW3, B_SW4, B_SW5, B_SW6) of the second key switch group and the second key scan output signal line (scan line KS_B) ( A plurality of second positions on the second key scan output signal line (scan line KS_B) of the output port side) and corresponding to the same key return input signal lines (KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6). At the second position where the first signal control resistor is not provided at the first position, that is, at the second position corresponding to the key return input signal line (KR2, KR4, KR6), a resistance value different from that of the first signal control resistor is provided. Second signal control resistors (RB2, RB4, RB6) are provided.

このような信号制御抵抗の配置である場合に、上下2つの隣接する4つのキースイッチのグループ内の3つのキースイッチの同時押下、及び、離れた3つのキースイッチの同時押下のあり得る基本的なパターンの全てについて、信号の経路を示す図及び等価回路図を示し、検出不能が回避できるようになっていることを以下に示す。   With such an arrangement of the signal control resistors, it is possible that the three key switches in the group of four adjacent two upper and lower key switches are simultaneously pressed, and three remote key switches are simultaneously pressed. For all of these patterns, a diagram showing a signal path and an equivalent circuit diagram are shown, and it is shown below that undetectability can be avoided.

図21から図26は、上下2つの隣接する4つのキースイッチのグループの場合において、スキャンラインKS_Bをスキャンするときに回り込みルートが発生する場合を示しており、左側のキースイッチ(A_SW1、B_SW1)側からそれ以上4つのキースイッチのグループを右側にシフトさせても、それまでに示すのと同じ状態の繰り返しとなる状態までの一連のパターンを示したものになっている。   21 to 26 show a case where a sneak route occurs when scanning the scan line KS_B in the case of a group of four adjacent upper and lower key switches, and the left side key switches (A_SW1, B_SW1) are shown. Even if the group of four key switches is further shifted to the right from the side, a series of patterns up to the state where the same state as that shown so far is repeated is shown.

同様に図27から図32は、スキャンラインKS_Aをスキャンするときに回り込みルートが発生する場合について、それ以上4つのキースイッチのグループを右側にシフトさせても、それまでに示すのと同じ状態の繰り返しとなる状態までの一連のパターンを示したものになっている。   Similarly, FIGS. 27 to 32 show the same state as that shown so far even if the group of four key switches is further shifted to the right in the case where the sneak route occurs when scanning the scan line KS_A. It shows a series of patterns up to a repeating state.

さらに、図33から図40は、離れた位置での3つのキースイッチの同時押下する場合を示しており、スキャンラインKS_Bをスキャンするときに回り込みルートが発生するキースイッチの一連のパターンを示したものになっており、図41から図48は、同様にスキャンラインKS_Aをスキャンするときに回り込みルートが発生するキースイッチの一連のパターンを示したものになっている。   Further, FIGS. 33 to 40 show a case where three key switches are simultaneously pressed at distant positions, and show a series of key switch patterns in which a sneak route occurs when scanning the scan line KS_B. 41 to 48 similarly show a series of patterns of key switches in which a sneak route occurs when the scan line KS_A is scanned.

これら図21から図48を見るとわかるように、第1信号制御抵抗(RA1、RA3、RA5)と第2信号制御抵抗(RB2、RB4、RB6)が異なる抵抗値とされているので基本的に通常ルートと回り込みルートとの抵抗値(合成抵抗)が異なることになり、検出不能を回避することができる。   As can be seen from FIGS. 21 to 48, since the first signal control resistors (RA1, RA3, RA5) and the second signal control resistors (RB2, RB4, RB6) have different resistance values, they are basically Since the resistance values (combined resistance) of the normal route and the sneaking route are different, it is possible to avoid undetectability.

なお、図37に示すような場合がまれにあるので、第1信号制御抵抗(RA1、RA3、RA5)の抵抗値BRを基準に第2信号制御抵抗(RB2、RB4、RB6)は1/2倍及び2倍の抵抗値((1/2)×BR、2×BR)を除く、第1信号制御抵抗と異なる抵抗値とすることが望ましい。   Since there are rare cases as shown in FIG. 37, the second signal control resistances (RB2, RB4, RB6) are ½ based on the resistance value BR of the first signal control resistances (RA1, RA3, RA5). It is preferable that the resistance value is different from the resistance value of the first signal control resistor except for the double and double resistance values ((1/2) × BR, 2 × BR).

(第2実施形態)
第1実施形態では、2つのキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A、スキャンラインKS_B)の場合について示してきたが、第2実施形態では、キースキャン出力信号線が4つの場合(スキャンラインKS_A、スキャンラインKS_B、スキャンラインKS_C、スキャンラインKS_D)に拡張する方法について説明する。
(Second embodiment)
In the first embodiment, the case of two key scan output signal lines (scan line KS_A, scan line KS_B) has been described, but in the second embodiment, there are four key scan output signal lines (scan line KS_A, A method of expanding the scan line KS_B, the scan line KS_C, and the scan line KS_D will be described.

例えば、詳細に示した図19の場合のスキャンラインKS_A、スキャンラインKS_Bをもう一セット増やすようにして図49のように、4つのキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A、スキャンラインKS_B、スキャンラインKS_C、スキャンラインKS_D)とした場合、図49に示すように、通常ルートと回り込みルートとで同じ抵抗値となる場合が生じるため、検出不能を起こすことになる。   For example, as shown in FIG. 49, the number of scan line KS_A and scan line KS_B in the case of FIG. When KS_C and scan line KS_D), as shown in FIG. 49, the normal route and the sneak route may have the same resistance value, which causes undetectability.

そこで、図50に示すように、追加した2つのキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C、スキャンラインKS_D)においては、信号制御抵抗をキースキャン出力信号線上ではなく、キースイッチとキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C、スキャンラインKS_D)及びキーリターン入力信号線(KR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)とを接続する配線に信号制御抵抗を挿入するように設ける。   Therefore, as shown in FIG. 50, in the added two key scan output signal lines (scan line KS_C and scan line KS_D), the signal control resistor is not located on the key scan output signal line but the key switch and the key scan output signal line. A signal control resistor is provided so as to be inserted in a wiring that connects the (scan line KS_C, scan line KS_D) and the key return input signal lines (KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6).

なお、キースイッチを基準とするとキースイッチとキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C、スキャンラインKS_D)及びキーリターン入力信号線(KR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)とを接続する配線は、キースイッチからキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C、スキャンラインKS_D)に向かう配線Lとキースイッチからキーリターン入力信号線(KR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)に向かう配線Lとがあるが、挿入される信号制御抵抗はどちらに向かう配線側に設けられても良い。   When the key switch is used as a reference, the wiring connecting the key switch and the key scan output signal line (scan line KS_C, scan line KS_D) and the key return input signal line (KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) is , A wiring L extending from the key switch to the key scan output signal line (scan line KS_C, scan line KS_D) and a wiring L extending from the key switch to the key return input signal line (KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6). However, the signal control resistor to be inserted may be provided on either side of the wiring.

具体的には、図50では、第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)の隣に配置されるように第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)を設け、押下されることで第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)と各キーリターン入力信号線(KR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)とを電気的に接続するキースイッチ(C_SW1、C_SW2、C_SW3、C_SW4、C_SW5、C_SW6)を設けるようにしている。
なお、第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)との間に電気接続されている、これらのキースイッチをまとめて呼ぶ場合には、第3のキースイッチ群と呼ぶことにする。
Specifically, in FIG. 50, the third key scan output signal line (scan line KS_C) is provided so as to be arranged next to the second key scan output signal line (scan line KS_B), and is pressed. Key switches (C_SW1, C_SW2, C_SW3) electrically connecting the third key scan output signal line (scan line KS_C) to each key return input signal line (KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6). (C_SW4, C_SW5, C_SW6) are provided.
In addition, when collectively calling these key switches electrically connected to the third key scan output signal line (scan line KS_C), they are referred to as a third key switch group.

但し、図50では、第2のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_B)の隣に配置されるように第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)を設けているが、第1のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_A)の隣に配置されるように第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)を設けるようにしても良い。   However, in FIG. 50, the third key scan output signal line (scan line KS_C) is provided so as to be arranged next to the second key scan output signal line (scan line KS_B). A third key scan output signal line (scan line KS_C) may be provided so as to be arranged next to the scan output signal line (scan line KS_A).

また、第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)の隣に配置されるように第4のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_D)を設け、押圧されることで第4のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_D)と各キーリターン入力信号線(KR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)とを電気的に接続するキースイッチ(D_SW1、D_SW2、D_SW3、D_SW4、D_SW5、D_SW6)を設けるようにしている。
なお、第4のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_D)との間に電気接続されている、これらのキースイッチをまとめて呼ぶ場合には、第4のキースイッチ群と呼ぶことにする。
Further, a fourth key scan output signal line (scan line KS_D) is provided so as to be arranged next to the third key scan output signal line (scan line KS_C), and the fourth key scan output is provided by being pressed. Key switches (D_SW1, D_SW2, D_SW3, D_SW4, D_SW5, D_SW6) for electrically connecting the signal line (scan line KS_D) and each key return input signal line (KR1, KR2, KR3, KR4, KR5, KR6) I am trying to provide it.
When collectively referred to as these key switches electrically connected to the fourth key scan output signal line (scan line KS_D), they are referred to as a fourth key switch group.

その上で、第3のキースイッチ群のキースイッチ(C_SW1、C_SW2、C_SW3、C_SW4、C_SW5、C_SW6)と第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)及びキーリターン入力信号線(KR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)とを接続する配線には、第3信号制御抵抗(RC1、RC3、RC5)が挿入されている配線と第3信号制御抵抗が挿入されていない配線とが交互に設けられているようになっている。   Then, the key switches (C_SW1, C_SW2, C_SW3, C_SW4, C_SW5, C_SW6) of the third key switch group, the third key scan output signal line (scan line KS_C) and the key return input signal line (KR1, KR2). , KR3, KR4, KR5, KR6), the wiring in which the third signal control resistances (RC1, RC3, RC5) are inserted and the wiring in which the third signal control resistance is not inserted alternate. It is designed to be installed in.

また、第3のキースイッチ群のキースイッチ(C_SW1、C_SW2、C_SW3、C_SW4、C_SW5、C_SW6)と第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)及びキーリターン入力信号線(KR1、KR2、KR3、KR4、KR5、KR6)とを接続する配線Lに第3信号制御抵抗が設けられていない配線で第3のキースイッチ群のキースイッチ(C_SW2、C_SW4、C_SW6)が接続されているキーリターン入力信号線(KR2、KR4、KR6)に対応した第4のキースイッチ群のキースイッチ(D_SW2、D_SW4、D_SW6)と第4のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_D)及びキーリターン入力信号線(KR2、KR4、KR6)とを接続する配線Lには、第4信号制御抵抗(RD2、RD4、RD6)が挿入された配線が設けられているようになっている。
このようにすることで、図50に示す通り、図49で示した検出不能を回避することが可能となる。
Also, the key switches (C_SW1, C_SW2, C_SW3, C_SW4, C_SW5, C_SW6) of the third key switch group, the third key scan output signal line (scan line KS_C), and the key return input signal line (KR1, KR2, KR3). , KR4, KR5, KR6), a key return input in which the key switch (C_SW2, C_SW4, C_SW6) of the third key switch group is connected by a wire in which the third signal control resistor is not provided in the wire L that connects The key switches (D_SW2, D_SW4, D_SW6) of the fourth key switch group corresponding to the signal lines (KR2, KR4, KR6), the fourth key scan output signal line (scan line KS_D), and the key return input signal line (KR2). , KR4, KR6), the fourth signal control Resistance (RD2, RD4, RD6) is inserted wiring is so provided.
By doing so, it becomes possible to avoid the undetectability shown in FIG. 49, as shown in FIG.

ところで、図50に示した信号制御抵抗の配置の場合、図51に示すような3つのキースイッチを同時押下する場合、通常ルートには第3の信号制御抵抗(RC1)が存在し、回り込みルートには第2の信号制御抵抗(RB2)が存在するが、これらの信号制御抵抗が同じ抵抗値を有する場合、検出不能が発生することになる。   By the way, in the case of the arrangement of the signal control resistors shown in FIG. 50, when three key switches as shown in FIG. 51 are simultaneously pressed, the third signal control resistor (RC1) exists in the normal route, and the sneak route There is a second signal control resistor (RB2) in, but if these signal control resistors have the same resistance value, undetectability will occur.

このような場合が発生することを回避するために、第3信号制御抵抗(RC1、RC3、RC5)は、第1信号制御抵抗(RA1、RA3、RA5)や第2信号制御抵抗(RB2、RB4、RB6)と異なる抵抗値のものとする。
同様に、第4信号制御抵抗(RD2、RD4、RD5)についても、第1信号制御抵抗(RA1、RA3、RA5)、第2信号制御抵抗(RB2、RB4、RB6)及び第3信号制御抵抗(RC1、RC3、RC5)と異なる抵抗値のものとする。
In order to prevent such a case from occurring, the third signal control resistors (RC1, RC3, RC5) are connected to the first signal control resistors (RA1, RA3, RA5) and the second signal control resistors (RB2, RB4). , RB6).
Similarly, regarding the fourth signal control resistors (RD2, RD4, RD5), the first signal control resistors (RA1, RA3, RA5), the second signal control resistors (RB2, RB4, RB6) and the third signal control resistors ( It has a resistance value different from RC1, RC3, RC5).

また、図52に示すように、第3のキースイッチ群(C_SW1、C_SW2、C_SW3、C_SW4、C_SW5、C_SW6)及び第4のキースイッチ群(D_SW1、D_SW2、D_SW3、D_SW4、D_SW5、D_SW6)のうち、同じキーリターン入力信号線(KR4)に接続された2つのキースイッチ(C_SW4、D_SW4)と、同じキーリターン入力信号線(KR4)に隣接しない別のキーリターン入力信号線(KR2)に接続されたキースイッチ(A_SW2、B_SW2、C_SW2、D_SW2)であって先の2つのキースイッチ(C_SW4、D_SW4)が接続されるキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C、スキャンラインKS_D)に接続されている一方と他方のキースイッチ(C_SW2、D_SW2)のうちの一方のキースイッチ(C_SW2)と、を経由する回り込みルート、及び、他方のキースイッチ(D_SW2)だけを経由する通常ルートにおいては、回り込みルート上に1つの第4信号制御抵抗(RD4)が存在し、通常ルートに1つの第4信号制御抵抗(RD2)が存在しているだけのため、回り込みルートの全体での抵抗と通常ルートの全体での抵抗とが同じ抵抗値となり、検出不能を起こすことになる。   Also, as shown in FIG. 52, among the third key switch group (C_SW1, C_SW2, C_SW3, C_SW4, C_SW5, C_SW6) and the fourth key switch group (D_SW1, D_SW2, D_SW3, D_SW4, D_SW5, D_SW6). , Two key switches (C_SW4, D_SW4) connected to the same key return input signal line (KR4) and another key return input signal line (KR2) not adjacent to the same key return input signal line (KR4) One of the key switches (A_SW2, B_SW2, C_SW2, D_SW2) connected to the key scan output signal line (scan line KS_C, scan line KS_D) to which the previous two key switches (C_SW4, D_SW4) are connected. And the other key switch (C_ One of the key switches (C_SW2) of W2 and D_SW2) and the normal route that passes only the other key switch (D_SW2), and one fourth signal control on the bypass route. Since the resistance (RD4) exists and only one fourth signal control resistance (RD2) exists in the normal route, the resistance of the entire sneak route and the resistance of the entire normal route have the same resistance value. Will result in undetectability.

なお、本例では、回り込みルートも通常ルートも1つの第4信号制御抵抗だけが存在する場合になっているが、例えば、C_SW3、D_SW3、D_SW5を同時押下した場合には、第3のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_C)をスキャンするときの回り込みルート(C_SW3→D_SW3→D_SW5を経由するルート)及び通常ルート(C_SW5)に、それぞれ1つの第3信号制御抵抗だけが存在する状態となり、検出不能を起こすことになる。   In this example, both the sneak route and the normal route have only one fourth signal control resistor. However, for example, when C_SW3, D_SW3, and D_SW5 are simultaneously pressed, the third key scan is performed. When the output signal line (scan line KS_C) is scanned, only one third signal control resistor is present in the sneak route (route through C_SW3 → D_SW3 → D_SW5) and the normal route (C_SW5), and detection is performed. It will cause the impossible.

このような特異な個所においては、回り込みルートの全体での抵抗と通常ルートの全体での抵抗値が異なる抵抗値となるように回り込みルート上及び通常ルート上に位置する第3信号制御抵抗及び第4信号制御抵抗の抵抗値を選択するようにすれば良い。   In such a peculiar place, the third signal control resistor and the third signal control resistor located on the sneak route and the normal route are set so that the resistance of the sneak route and the resistance value of the normal route are different from each other. The resistance value of the 4-signal control resistor may be selected.

以上のように、具体的に実施形態に基づいて説明してきた通り、外付け抵抗(信号制御抵抗)を上述のような配置とすることで、キースイッチの複数同時押下時の検出不能を回避できるとともに、必要とされる信号制御抵抗の数をキースイッチの数に対してほぼ半分の数に減らすことが可能である。
したがって、低コスト化が可能である通常のスイッチと外付け抵抗とを用いた構成でありながら、実装スペースの増加を大幅に抑制することができる。
また、検出不能を回避するために必要な信号制御抵抗の種類(抵抗値が異なる信号制御抵抗)も大幅に少なくて良いため、この点からも低コスト化が行い易い。
As described above in detail, based on the embodiment, by arranging the external resistors (signal control resistors) as described above, it is possible to avoid detection failure when a plurality of key switches are simultaneously pressed. At the same time, it is possible to reduce the number of required signal control resistors to almost half the number of key switches.
Therefore, it is possible to significantly suppress an increase in mounting space, while having a configuration using an ordinary switch and an external resistor, which enables cost reduction.
In addition, since the number of types of signal control resistors (signal control resistors having different resistance values) necessary for avoiding undetectability can be significantly reduced, cost reduction can be facilitated also from this point.

以上、本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されないことは言うまでもない。
例えば、図50に示した態様では、第3のキースイッチ群のうちのキースイッチC_SW1、C_SW3、C_SW5のところに第3信号制御抵抗(RC1、RC3、RC5)を設け、第4のキースイッチ群のうちのキースイッチD_SW2、D_SW4、D_SW6のところに第4信号制御抵抗(RD2、RD4、RD6)を設けるようにしているが、この関係は逆であっても良い。
The preferred embodiments of the present invention have been described above in detail, but it goes without saying that the technical scope of the present invention is not limited to the scope described in the above embodiments.
For example, in the mode shown in FIG. 50, a third signal control resistor (RC1, RC3, RC5) is provided at a key switch C_SW1, C_SW3, C_SW5 of the third key switch group, and a fourth key switch group is provided. Although the fourth signal control resistors (RD2, RD4, RD6) are provided at the key switches D_SW2, D_SW4, D_SW6 of the above, the relationship may be reversed.

つまり、第3のキースイッチ群のうちのキースイッチC_SW2、C_SW4、C_SW6のところに第3信号制御抵抗(RC2、RC4、RC6)を設け、第4のキースイッチ群のうちのキースイッチD_SW1、D_SW3、D_SW5のところに第4信号制御抵抗(RD1、RD3、RD5)を設けるようにしても良い。   That is, the third signal control resistors (RC2, RC4, RC6) are provided at the key switches C_SW2, C_SW4, C_SW6 of the third key switch group, and the key switches D_SW1, D_SW3 of the fourth key switch group are provided. , D_SW5, the fourth signal control resistors (RD1, RD3, RD5) may be provided.

さらに、上記第2実施形態では、キースキャン出力信号線を4つに拡張した場合について示したが、第4のキースキャン出力信号線(スキャンラインKS_D)を省略し、3つのスキャン出力信号線だけの状態としても良い。   Furthermore, in the second embodiment described above, the case where the number of key scan output signal lines is expanded to four has been described, but the fourth key scan output signal line (scan line KS_D) is omitted, and only three scan output signal lines are provided. It may be in the state of.

このように、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者には明らかであり、その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。   As described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it is obvious to those skilled in the art that various modifications and improvements can be made, and such modifications and improvements are added. It is clear from the description of the claims that the forms can be included in the technical scope of the present invention.

10…キーマトリクス回路、11…キーマトリクス部、12…制御部、KS_A,KS_B,KS_C,KS_D…スキャンライン(第1〜4のキースキャン出力信号線)、KR1〜KR6…リターンライン(キーリターン入力信号線)、A_SW1,A_SW2,A_SW3,A_SW4,A_SW5,A_SW6…キースイッチ(第1のキースイッチ群)、B_SW1,B_SW2,B_SW3,B_SW4,B_SW5,B_SW6…キースイッチ(第2のキースイッチ群)、C_SW1,C_SW2,C_SW3,C_SW4,C_SW5,C_SW6…キースイッチ(第3のキースイッチ群)、D_SW1,D_SW2,D_SW3,D_SW4,D_SW5,D_SW6…キースイッチ(第4のキースイッチ群)、RA1,RA2,RA3,RA4,RA5,RA6,RB2,RB3,RB4,RB5,RB6,RC1,RC3,RC5,RD2,RD4,RD5…信号制御抵抗(第1〜4信号制御抵抗)、P…接続点、L…配線(キースキャン信号線又はキーリターン信号線とスイッチとを接続する配線)   10 ... Key matrix circuit, 11 ... Key matrix section, 12 ... Control section, KS_A, KS_B, KS_C, KS_D ... Scan lines (first to fourth key scan output signal lines), KR1 to KR6 ... Return lines (key return input) Signal line), A_SW1, A_SW2, A_SW3, A_SW4, A_SW5, A_SW6 ... key switch (first key switch group), B_SW1, B_SW2, B_SW3, B_SW4, B_SW5, B_SW6 ... key switch (second key switch group), C_SW1, C_SW2, C_SW3, C_SW4, C_SW5, C_SW6 ... Key switch (third key switch group), D_SW1, D_SW2, D_SW3, D_SW4, D_SW5, D_SW6 ... Key switch (fourth key switch group), RA1, RA , RA3, RA4, RA5, RA6, RB2, RB3, RB4, RB5, RB6, RC1, RC3, RC5, RD2, RD4, RD5 ... Signal control resistors (first to fourth signal control resistors), P ... Connection point, L … Wiring (wiring that connects the key scan signal line or key return signal line to the switch)

Claims (4)

キーマトリクス回路であって、
第1のキースキャン出力信号線と、
第2のキースキャン出力信号線と、
プルアップ抵抗を介して電源電圧が印加された複数のキーリターン入力信号線と、
前記第1のキースキャン出力信号線と各々の前記キーリターン入力信号線との間を電気的に接続する第1のキースイッチ群である複数のキースイッチと、
前記第2のキースキャン出力信号線と各々の前記キーリターン入力信号線との間を電気的に接続する第2のキースイッチ群である複数のキースイッチと、
前記第1のキースキャン出力信号線上には前記第1のキースキャン出力信号線に第1のキースイッチ群である複数のキースイッチがそれぞれ接続される複数の第1接続点と、
前記第2のキースキャン出力信号線上には前記第2のキースキャン出力信号線に第2のキースイッチ群である複数のキースイッチがそれぞれ接続される複数の第2接続点と、を備え、
隣り合う前記第1接続点間の位置をある第1位置とし、隣り合う前記第2接続点間の位置を第2位置としたときに、前記キースイッチを介し同じ前記キーリターン入力信号線に接続された前記第1位置または前記第2位置のいずれか一方の位置に信号制御抵抗が設けられ、かつ前記複数の第1位置に設けられた第1信号制御抵抗の抵抗値と前記複数の第2位置に設けられた第2信号制御抵抗の抵抗値とが異なることを特徴とするキーマトリクス回路。
A key matrix circuit,
A first key scan output signal line,
A second key scan output signal line,
A plurality of key return input signal lines to which power supply voltage is applied via pull-up resistors,
A plurality of key switches, which is a first key switch group, electrically connecting the first key scan output signal line and each of the key return input signal lines;
A plurality of key switches which is a second key switch group for electrically connecting the second key scan output signal line and each of the key return input signal lines;
On the first key scan output signal line, a plurality of first connection points to which a plurality of key switches of a first key switch group are respectively connected to the first key scan output signal line;
The on the second key scan output signal lines and a plurality of second connection point in which a plurality of key switches are respectively connected a second key switch group on the second key scan output signal line,
When the position between the adjacent first connection points is a certain first position and the position between the adjacent second connection points is a second position, the same key return input signal line is connected via the key switch. A signal control resistor is provided at any one of the first position and the second position, and the resistance value of the first signal control resistors provided at the plurality of first positions and the plurality of second positions. A key matrix circuit, wherein a resistance value of a second signal control resistor provided at a position is different.
さらに、前記第1のキースキャン出力信号線、前記第2のキースキャン出力信号線に加え第3のキースキャン出力信号線が配置され、
前記第3のキースキャン出力信号線と各々の前記キーリターン入力信号線との間を電気的に接続する第3のキースイッチ群である複数のキースイッチと、
前記第3のキースキャン出力信号線上には前記第3のキースキャン出力信号線に第3のキースイッチ群である複数のキースイッチがそれぞれ接続される複数の第3接続点と、を備え、
記第3接続点と前記第3接続点から前記第3のキースイッチを介して配される配線が前記キーリターン入力信号線と接続する点との間の位置を第3位置としたときに、前記第3位置には1つおきに第3信号制御抵抗が設けられ、かつ前記第3信号制御抵抗の抵抗値は、前記第1信号制御抵抗の抵抗値と前記第2信号制御抵抗の抵抗値とのいずれとも異なることを特徴とする請求項1に記載のキーマトリクス回路。
Further, a third key scan output signal line is arranged in addition to the first key scan output signal line and the second key scan output signal line,
A plurality of key switches, which is a third key switch group, electrically connecting the third key scan output signal line and each of the key return input signal lines;
The on said third key scan output signal lines and a plurality of third connection point in which a plurality of key switches are respectively connected to a third key switch group on the third key scan output signal line,
When wiring from the previous SL third connection point and the third connection point is arranged through the third key switch has a third position the position between the points connecting with said key return input signal line , Every other third signal control resistor is provided at the third position, and the resistance value of the third signal control resistor is the resistance value of the first signal control resistor and the resistance value of the second signal control resistor. The key matrix circuit according to claim 1, wherein the key matrix circuit is different from any of the values.
さらに、前記第1のキースキャン出力信号線、前記第2のキースキャン出力信号線、前記第3のキースキャン出力信号線に加え第4のキースキャン出力信号線が配置され、
前記第4のキースキャン出力信号線と各々の前記キーリターン入力信号線との間を電気的に接続する第4のキースイッチ群である複数のキースイッチと、
前記第4のキースキャン出力信号線上には前記第4のキースキャン出力信号線に第4のキースイッチ群である複数のキースイッチがそれぞれ接続される複数の第4接続点と、を備え、
記第4接続点と前記第4接続点から前記第4のキースイッチを介して配される配線が前記キーリターン入力信号線と接続する点との間の位置を第4位置としたときに、前記キースイッチを介し同じ前記キーリターン入力信号線に接続された前記第3位置に前記第3信号制御抵抗が設けられていない場合に前記第4位置に第4信号制御抵抗が設けられ、かつ前記第4信号制御抵抗の抵抗値は、前記第1信号制御抵抗の抵抗値、前記第2信号制御抵抗の抵抗値及び前記第3抵抗の抵抗値とのいずれとも異なることを特徴とする請求項2に記載のキーマトリクス回路。
Further, a fourth key scan output signal line is arranged in addition to the first key scan output signal line, the second key scan output signal line, and the third key scan output signal line,
A plurality of key switches which is a fourth key switch group for electrically connecting the fourth key scan output signal line and each of the key return input signal lines;
The on said fourth key scan output signal lines and a plurality of fourth connection point in which a plurality of key switches are respectively connected to a fourth key switch group on the fourth key scan output signal line,
When wiring before Symbol the fourth connection point and the fourth connection point is disposed through the fourth key switch has a fourth position located between the points connecting with said key return input signal line A fourth signal control resistor is provided at the fourth position when the third signal control resistor is not provided at the third position connected to the same key return input signal line via the key switch, and The resistance value of the fourth signal control resistor is different from any of the resistance value of the first signal control resistor, the resistance value of the second signal control resistor, and the resistance value of the third resistor. 2. The key matrix circuit described in 2.
前記第3のキースイッチ群及び前記第4のキースイッチ群のうち、同じキーリターン入力信号線に接続された2つのキースイッチと、前記同じキーリターン入力信号線に隣接しない別のキーリターン入力信号線に接続されたキースイッチであって前記2つのキースイッチが接続されるキースキャン出力信号線に接続されている一方と他方のキースイッチのうちの一方のキースイッチと、を経由する回り込みルート、及び、前記他方のキースイッチだけを経由する通常ルートにおいて、前記回り込みルートの全体での抵抗値と前記通常ルートの全体での抵抗値が異なる抵抗値となるように前記回り込みルート上及び前記通常ルート上に位置する前記第3信号制御抵抗及び前記第4信号制御抵抗の抵抗値が選択されていることを特徴とする請求項3に記載のキーマトリクス回路。   Of the third key switch group and the fourth key switch group, two key switches connected to the same key return input signal line and another key return input signal not adjacent to the same key return input signal line A key switch connected to a line, and a wrap-around route via one of the key switches connected to the key scan output signal line to which the two key switches are connected and one of the other key switches, And, in the normal route passing only through the other key switch, on the sneak route and the normal route such that the resistance value of the entire sneak route and the resistance value of the entire normal route have different resistance values. The resistance values of the third signal control resistor and the fourth signal control resistor located above are selected. Key matrix circuit according to.
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