JP6678845B1 - 電源装置及び寿命診断方法 - Google Patents

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Abstract

電源装置(1)は、スイッチ(11)と、コンデンサ(10)と、抵抗(13)と、スイッチ(12)と、コンデンサ(10)の電圧値を検出する電圧値検知部(161)と、スイッチ(11)とスイッチ(12)とを制御するスイッチ制御部(162)と、コンデンサ(10)の寿命を診断する寿命診断部(164)と、を備える。スイッチ制御部(162)は、第1の時刻にスイッチ(11)をオフし、第2の時刻にスイッチ(12)をオンする。電圧値検知部(161)は、第1の時刻から第2の時刻までの間におけるコンデンサ(10)の第1の電圧値と、第3の時刻におけるコンデンサ(10)の第2の電圧値とを検出する。寿命診断部(164)は、第1の電圧値と第2の電圧値とに基づいてコンデンサ(10)の寿命を診断する。

Description

本発明は、電源装置及び寿命診断方法に関する。
電源装置には、電圧の平滑化のために寿命部品であるコンデンサが使用されている。コンデンサの劣化が進むにつれて、コンデンサの容量が低下するので電源装置が正常に動作しなくなる可能性が高くなる。そのため、コンデンサの寿命を診断する技術が必要とされている。
特許文献1及び2には、コンデンサへの電力供給を停止したのちにコンデンサと並列接続された抵抗によりコンデンサに蓄積された電荷を放電させ、放電開始からコンデンサの電圧値が予め定められた電圧値に到達するまでに要した時間に基づいてコンデンサの寿命を診断する技術が開示されている。
特開平06−165523号公報 国際公開第2008/016050号
特許文献1においては、コンデンサとパワートランジスタモジュールとが常に並列接続されているため、コンデンサに蓄積された電荷がパワートランジスタモジュールでも放電されるので、放電開始時におけるコンデンサの電圧が安定しないという問題がある。
特許文献2においては、コンデンサと抵抗とが常に並列接続されているため、コンデンサへの電力供給を断つと即座に放電が開始されるので、放電開始時におけるコンデンサの電圧がリップル成分により安定しないという問題がある。
したがって、特許文献1及び2のいずれにおいても、放電開始時におけるコンデンサの電圧が安定しないため、放電時間も安定せず、寿命診断の精度が悪くなるという問題がある。
さらに、特許文献1及び2のいずれにおいても、コンデンサの電圧値が予め定められた電圧値に到達するまでに要した時間に基づいてコンデンサの寿命を診断するので、リップル成分、ノイズ等により電圧値が変動すると当該時間も変動し、寿命診断の精度が悪くなるという問題がある。
上記の事情に鑑み、本発明の目的は、コンデンサの寿命を精度良く診断できる電源装置等を提供することにある。
上記の目的を達成するため、本発明に係る電源装置は、
第1の線と、
前記第1の線より低電位の第2の線と、
一端が前記第1の線に接続された第1のスイッチと、
一端が前記第1のスイッチに接続され他端が前記第2の線に接続されたコンデンサと、
前記コンデンサに並列に接続された抵抗と、
前記抵抗に直列に接続された第2のスイッチと、
前記コンデンサの両端間の電圧値を検出する電圧値検出手段と、
前記第1のスイッチと前記第2のスイッチとを制御するスイッチ制御手段と、
前記コンデンサの寿命を診断する寿命診断手段と、
を備え、
前記スイッチ制御手段は、前記第1のスイッチがオン状態かつ前記第2のスイッチがオフ状態であるときに第1の時刻に達すると前記第1のスイッチをオフし、前記第1の時刻から第1の経過時間が経過した第2の時刻に前記第2のスイッチをオンし、
前記電圧値検出手段は、前記第1の時刻から前記第2の時刻までの間における前記コンデンサの第1の電圧値と、前記第2の時刻から第2の経過時間が経過した第3の時刻における前記コンデンサの第2の電圧値とを検出し、
前記寿命診断手段は、前記第1の電圧値と前記第2の電圧値とに基づいて前記コンデンサの寿命を診断する。
本発明によれば、第1のスイッチをオフしてから第1の経過時間の経過後に第2のスイッチをオンすることにより、放電開始時におけるコンデンサの両端間の電圧が安定する。したがって、本発明によれば、精度良くコンデンサの寿命を診断できる。
本発明の実施の形態に係る電源装置の構成を示す図 本発明の実施の形態に係るコンデンサの寿命特性の一例を示す図 本発明の実施の形態における、スイッチのオン・オフとコンデンサの電圧値との関係の一例を示す図 本発明の実施の形態に係る電源装置による寿命診断の動作の一例を示すフローチャート 本発明の実施の形態の変形例2に係る電源装置の構成を示す図
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態に係る電源装置を説明する。各図面においては、同一又は同等の部分に同一の符号を付す。
また、以下の説明では、「コンデンサの両端間の電圧」「コンデンサの両端間の電圧値」などのことを単に「コンデンサの電圧」「コンデンサの電圧値」とも表現する。また、「コンデンサの寿命の診断」とは、コンデンサの劣化がどの程度進んでいるかを判定すること、コンデンサをあとどの程度まで使用可能であるかを判定すること、コンデンサの劣化が交換すべき程度にまで進んでいるか否かを判定することなど、コンデンサの劣化に関する判定をすることを広く含むものである。
(実施の形態)
図1を参照しながら、実施の形態に係る電源装置1を説明する。電源装置1は、自身に設けられているコンデンサの寿命を診断し、診断結果を報知することができる電源装置である。電源装置1は、コンデンサ10とスイッチ11とスイッチ12と抵抗13とコンデンサ10aとスイッチ11aとスイッチ12aと抵抗13aとダイオード14とトランス15と制御部16と記憶部17と線L1と線L2を備える。電源装置1は、直流電力により負荷2を駆動する。電源装置1は、報知装置3を制御してコンデンサ10及びコンデンサ10aの寿命についての診断結果を報知する。電源装置1は、本発明に係る電源装置の一例である。また、線L1は本発明に係る第1の線の一例であり、線L2は本発明に係る第2の線の一例である。
図1に示す電源装置1において、トランス15を基準として左側が一次側であり、右側が二次側である。図1では、一次側についての記載を省略している。以下の説明でも、一次側についての説明は省略する。図1に示すトランス15の左上及び右下に記載されている黒丸は、トランス15の巻線の極性を示す。トランス15の巻線の極性と、ダイオード14の配置とからわかるとおり、電源装置1はフライバック方式による電源装置である。
コンデンサ10、スイッチ11、スイッチ12及び抵抗13のセット(以下、コンデンサ10等のセットという)と、コンデンサ10a、スイッチ11a、スイッチ12a及び抵抗13aのセット(以下、コンデンサ10a等のセットという)とは、ほぼ同様の構成である。ただし、各素子の特性は同一でなくてもよい。
詳細は後述するが、コンデンサ10の寿命を診断するためには、スイッチ11をオフする必要がある。スイッチ11がオフ状態のときにも電源装置1を正常に動作させるために、コンデンサ10a等のセットが設けられている。スイッチ11aをオンすることにより、スイッチ11がオフ状態のときにも電源装置1を正常に動作させることができる。つまり、コンデンサ10a等のセットは、コンデンサ10等のセットを二重化するために設けられている。なお、上記を踏まえて、図1では、スイッチ11がオフ状態となっているのにあわせてスイッチ11aがオン状態となっている。
次に、電源装置1の各構成を説明する。ただし、上述のとおり、コンデンサ10a等のセットの各構成は、コンデンサ10等のセットの各構成と同様であるため、コンデンサ10等のセットの各構成についてのみ説明し、コンデンサ10a等のセットの各構成については説明を省略する。
コンデンサ10は、一端がスイッチ11に接続され他端が線L2に接続されている。コンデンサ10は、トランス15及びダイオード14を介して供給される電力を平滑化する。コンデンサ10は、例えばアルミ電解コンデンサである。コンデンサ10は、例えば図2に示すような寿命特性を有する。コンデンサの寿命特性とは、コンデンサの劣化とコンデンサの容量との関係性のことである。一般的に、コンデンサの使用時間が長くなるとコンデンサの劣化が進み、コンデンサの容量が低下する。図2に示すA,B,Cのそれぞれは、コンデンサ10の残り寿命が半分となった点、コンデンサ10の残り寿命が少なくなり電源装置1の交換が推奨される点、コンデンサ10の寿命が尽きて電源装置1の正常動作が困難となっている点を示す。コンデンサ10は、本発明に係るコンデンサの一例である。
再び図1を参照する。スイッチ11は、一端が線L1に接続され他端がコンデンサ10に接続されている。スイッチ11は、後述の制御部16のスイッチ制御部162の制御によりオン・オフする。スイッチ11がオフすることにより、コンデンサ10は線L1から電気的に切り離される。スイッチ11は、リレー、トランジスタなどの、制御によりオン・オフするスイッチング素子である。スイッチ11は、本発明に係る第1のスイッチの一例である。
スイッチ12は、抵抗13に直列に接続されている。スイッチ12は、スイッチ11と同様、スイッチ制御部162の制御によりオン・オフする。スイッチ12がオンすることにより、コンデンサ10に蓄積された電荷を抵抗13によって放電することができる。スイッチ12はスイッチ11と同様、リレー、トランジスタなどの、制御によりオン・オフするスイッチング素子である。スイッチ12は、本発明に係る第2のスイッチの一例である。
抵抗13は、コンデンサ10と並列に接続されている。抵抗13は、スイッチ12がオンするのに応じて、コンデンサ10に蓄積された電荷を放電する。抵抗13は、本発明に係る抵抗の一例である。
ダイオード14は、トランス15から流れる電流を整流する。ダイオード14による整流により、線L1の電位は線L2の電位以上となる。
トランス15は、一次側から供給される電力を変圧して二次側に供給する。電源装置1はフライバック方式による電源装置であるため、トランス15は、一次側のスイッチがオン状態のとき電力を蓄積し、オフ状態のとき二次側に電力を供給する。
制御部16は、電源装置1を統括制御する。制御部16は、ハードウェア構成として、例えばマイクロコントローラを備える。当該マイクロコントローラのCPU(Central Processing Unit:中央演算装置)が、ROM(Read Only Memory)に格納された制御プログラムを実行することにより、制御部16の各機能が実現される。あるいは、制御部16は、ASIC(Application Specific Integrated Circuit:特定用途向け集積回路)、FPGA(Field Programmable Gate Array)等による制御回路を備えてもよい。この場合、当該制御回路により制御部16の各機能が実現される。
制御部16は、機能的構成として、電圧値検出部161とスイッチ制御部162と容量算出部163と寿命診断部164と報知制御部165とを備える。制御部16は、1時間ごと、8時間ごとなどの一定時間ごとに、コンデンサ10あるいはコンデンサ10aの寿命を診断するために、これらの各機能部を制御する。
電圧値検出部161は、コンデンサ10及びコンデンサ10aの電圧値を検出する。電圧値検出部161は、例えばマイクロコントローラに設けられたA/D(Analog to Digital)コンバータにより実現される。電圧値検出部161により検出された電圧値は、後述の容量算出部163による、コンデンサ10の容量の算出に使用される。電圧値検出部161は、本発明に係る電圧値検出手段の一例である。
スイッチ制御部162は、スイッチ11、スイッチ12、スイッチ11a及びスイッチ12aのオン・オフの切り替えを制御する。スイッチ制御部162は、本発明に係るスイッチ制御手段の一例である。
以下、スイッチ11によるスイッチ制御の一例を示す。制御部16がコンデンサ10及びコンデンサ10aのいずれについても寿命を診断しないとき、スイッチ制御部162は、スイッチ11及びスイッチ11aをオンし、スイッチ12及びスイッチ12aをオフする。これにより、コンデンサ10及びコンデンサ10aの双方で平滑化をすることができ、かつ抵抗13及び抵抗13aによる不要な放電を防ぐことができる。
図3を参照しながら、制御部16がコンデンサ10の寿命を診断するときのスイッチ制御部162によるスイッチ制御を説明する。図3には、スイッチ11及びスイッチ12のオン・オフの変化と、それに対応するコンデンサ10の電圧値の変化とが示されている。なお、寿命診断の開始前には、上記のとおり、スイッチ11及びスイッチ11aがオン状態であり、スイッチ12及びスイッチ12aがオフ状態であるものとする。また、このとき、図3に示すように、線L1に生じているリップル成分の影響によりコンデンサ10の電圧がやや不安定となっている。
まず、スイッチ制御部162は、時刻t1にスイッチ11をオフする。このとき、線L1に生じているリップル成分の影響がなくなり、コンデンサ10に蓄積された電荷が負荷2により放電されることもないので、コンデンサ10の電圧が安定する。このとき、スイッチ12はまだオフ状態であるため、抵抗13による放電は行われない。また、後述の時刻t2までに、電圧値検出部161により電圧値V1が検出される。時刻t1は、本発明に係る第1の時刻の一例であり、電圧値V1は、本発明に係る第1の電圧値の一例である。
次に、スイッチ制御部162は、時刻t1から経過時間T1が経過した時刻t2に、スイッチ12をオンする。すると、抵抗13による放電が開始され、コンデンサ10の電圧が徐々に低下する。経過時間T1は、本発明に係る第1の経過時間の一例であり、時刻t2は、本発明に係る第2の時刻の一例である。
次に、スイッチ制御部162は、時刻t2から経過時間T2が経過した時刻t3に、スイッチ12をオフする。すると、抵抗13による放電が停止され、コンデンサ10の電圧が安定する。後述の時刻t4までに、電圧値検出部161により電圧値V2が検出され、容量算出部163によりコンデンサ10の容量が算出され、寿命診断部164によりコンデンサ10の寿命が診断される。経過時間T2は、本発明に係る第2の経過時間の一例であり、時刻t3は、本発明に係る第3の時刻の一例であり、電圧値V2は、本発明に係る第2の電圧値の一例である。
そして、スイッチ制御部162は、時刻t3から経過時間T3が経過した時刻t4に、スイッチ11をオンする。すると、線L1から電力の供給を受けて、コンデンサ10に電荷が蓄積され、コンデンサ10の電圧が上昇する。経過時間T3は、本発明に係る第3の経過時間の一例であり、時刻t4は、本発明に係る第4の時刻の一例である。
制御部16がコンデンサ10aの寿命を診断するときのスイッチ制御部162によるスイッチ制御については、コンデンサ10の寿命を診断するときと全く同様であるため、説明を省略する。
図1及び図3を参照しながら、容量算出部163を説明する。容量算出部163は、上述した電圧値V1、電圧値V2及び経過時間T2と、抵抗13の抵抗値とに基づいて、コンデンサ10の容量を算出する。容量算出部163は、コンデンサ10aの容量も同様に算出する。容量算出部163は、本発明に係る容量算出手段の一例である。
以下ではコンデンサ10の容量の算出のみについて説明する。電圧値V1は、抵抗13による放電が行われる前のコンデンサ10の電圧値である。電圧値V2は、抵抗13による放電が行われた後のコンデンサ10の電圧値である。経過時間T2は、抵抗13による放電が行われた時間である。コンデンサ10の容量は、以下の式(1)に基づいて求めることができる。ただし、Cはコンデンサ10の容量、Rは抵抗13の抵抗値、lnは自然対数を底とする対数関数である。
C=T2/(R×ln(V1/V2)) (1)
なお、詳細は後述するが、抵抗13の抵抗値を示す情報が記憶部17に保存されている。容量算出部163は、記憶部17に保存されている、抵抗13の抵抗値を示す情報を参照し、式(1)に基づいてコンデンサ10の容量を算出する。
寿命診断部164は、容量算出部163により算出されたコンデンサ10の容量と、図2に示すようなコンデンサ10の寿命特性とに基づいて、コンデンサ10の寿命を診断する。寿命診断部164は、コンデンサ10aの寿命も同様に診断する。寿命診断部164は、本発明に係る寿命診断手段の一例である。
詳細は後述するが、コンデンサ10の寿命特性を示す情報が記憶部17に保存されている。寿命診断部164は、記憶部17に保存されている、コンデンサ10の寿命特性を示す情報を参照して、コンデンサ10の寿命を診断する。
なお、コンデンサ10の寿命特性を示す情報に代えて、図2に示すB点におけるコンデンサ10の容量を示す情報が記憶部17に保存されるものであってもよい。この場合、寿命診断部164は、当該容量と、容量算出部163により算出されたコンデンサ10の容量との大小を比較して、電源装置1の交換が推奨される程度までにコンデンサ10の劣化が進んでいるか否かを判定することにより、コンデンサ10の寿命を診断する。この場合、記憶部17に保存されている情報が示す容量は、寿命診断における閾値となる。この場合も、当該閾値はコンデンサ10の寿命特性に基づいて得られる値であるため、寿命診断部164は、コンデンサ10の寿命特性に基づいてコンデンサ10の寿命を診断する、といえる。
再び図1を参照する。報知制御部165は、報知装置3を制御して、寿命診断部164による診断結果をユーザに報知する。報知装置3の詳細は後述する。ただし、報知制御部165は、診断結果を報知する必要がない場合には、何ら報知をしなくともよい。例えば、電源装置1の交換が推奨されるときのみ診断結果を報知する場合、コンデンサ10の寿命が十分に残っているときには、報知制御部165は診断結果を報知しなくてもよい。
記憶部17は、抵抗13の抵抗値を示す情報と、抵抗13aの抵抗値を示す情報と、コンデンサ10の寿命特性を示す情報と、コンデンサ10aの寿命特性を示す情報とを保存する。ただし、上述したとおり、記憶部17は、コンデンサ10の寿命特性を示す情報及びコンデンサ10aの寿命特性を示す情報に代えて、コンデンサ10及びコンデンサ10aにおける上述の閾値を保存してもよい。
次に、負荷2及び報知装置3を説明する。負荷2は、電源装置1が供給する直流電力により駆動される負荷であり、例えば直流モータである。負荷2の一端は電源装置1の線L1に接続され、負荷2の他端は電源装置1の線L2に接続されている。負荷2は、本発明に係る負荷の一例である。
報知装置3は、コンデンサ10及びコンデンサ10aの寿命についての診断結果をユーザに報知する。報知装置3は、例えば緑色、黄色及び赤色の光を発するランプである。報知装置3は、例えば制御部16の報知制御部165による制御に基づいて、コンデンサ10の寿命及びコンデンサ10aの寿命が十分に残っているときには緑色の光を発し、電源装置1を交換すべき程度にまでコンデンサ10又はコンデンサ10aの劣化が進んでいるときには黄色の光を発し、コンデンサ10又はコンデンサ10aの寿命が尽きているときには赤色の光を発する。
あるいは、報知装置3は、赤色の光のみを発するランプであってもよい。この場合、報知装置3は、例えば報知制御部165による制御に基づいて、電源装置1を交換すべき程度にまでコンデンサ10又はコンデンサ10aの劣化が進んでいるとき(コンデンサ10又はコンデンサ10aの寿命が尽きているときも含む)に赤色の光を発する。例えば、寿命診断部164による診断が閾値に基づいて行われるときには、このような報知態様となる。
また、報知装置3は、ランプのほか、ブザー音を鳴らすスピーカであってもよいし、診断結果を詳細に表示可能なディスプレイであってもよい。
次に、図4及び図3を参照しながら、電源装置1による寿命診断の動作の一例を説明する。図4に示す動作は、上述したとおり、例えば一定時間ごとに実行される。また、図4に示す動作の開始時には、上述したとおり、スイッチ11及びスイッチ11aはオン状態であり、スイッチ12及びスイッチ12aはオフ状態である。また、以下ではコンデンサ10の寿命診断の動作を説明する。コンデンサ10aの寿命診断は、コンデンサ10の場合と同様であるため説明を省略する。
電源装置1の制御部16のスイッチ制御部162は、スイッチ11をオフする(ステップS101)。この動作が実行された時刻が、図3における時刻t1である。スイッチ11がオフすることにより、コンデンサ10の電圧が安定する。
ステップS101の実行後、時刻がt2になるまでに、制御部16の電圧値検出部161は、コンデンサ10の電圧値V1を検出する(ステップS102)。ただし、ステップS101の直後にステップS102の動作を実行すると、コンデンサ10の電圧が安定する前にコンデンサ10の電圧値を検出することとなるため、好ましくない。
時刻t1から経過時間T1経過後、スイッチ制御部162は、スイッチ12をオンする(ステップS103)。この動作が実行された時刻が、図3における時刻t2である。スイッチ12がオンすることにより、抵抗13による放電が開始される。
ステップS103から経過時間T2経過後、スイッチ制御部162は、スイッチ12をオフする(ステップS104)。この動作が実行された時刻が、図3における時刻t3である。スイッチ12がオフすることにより、抵抗13による放電が終了し、コンデンサ10の電圧が安定する。
ステップS104の実行後、時刻がt4になるまでに、制御部16の電圧値検出部161は、コンデンサ10の電圧値V2を検出する(ステップS105)。
ステップS104から経過時間T3経過後、スイッチ制御部162は、スイッチ11をオンする(ステップS106)。この動作が実行された時刻が、図3における時刻t4である。スイッチ11がオンすることにより、線L1からコンデンサ10に電荷が蓄積され、コンデンサ10の電圧が上昇する。
制御部16の容量算出部163は、ステップS102にて検出された電圧値V1と、ステップS105にて検出された電圧値V2と、経過時間T2と、記憶部17に保存された抵抗13の抵抗値を示す情報とに基づいて、コンデンサ10の容量を算出する(ステップS107)。
制御部16の寿命診断部164は、ステップS107にて算出されたコンデンサ10の容量と、記憶部17に保存されたコンデンサ10の寿命特性を示す情報とに基づいて、コンデンサ10の寿命を診断する(ステップS108)。
制御部16の報知制御部165は、報知装置3を制御して、ステップS108で得られた診断結果をユーザに報知する(ステップS109)。そして制御部16は、寿命診断の動作を終了する。
なお、ステップS106の動作は、ステップS107からステップS109のいずれかの動作の後に実行されてもよい。
以上、実施の形態に係る電源装置1を説明した。電源装置1によれば、時刻t1にスイッチ11をオフし、経過時間T1経過後の時刻t2にスイッチ12をオンするので、時刻t1からt2までにおけるコンデンサ10の電圧を安定させることができる。つまり、電源装置1によれば、放電開始時におけるコンデンサ10の両端間の電圧が安定する。
また、電源装置1によれば、時刻t3にスイッチ12をオフして放電を終了し、経過時間T3経過後の時刻t4にスイッチ11をオンするので、時刻t3からt4までにおけるコンデンサ10の電圧を安定させることができる。
また、電源装置1によれば、抵抗13による放電が行われる時間である経過時間T2は、コンデンサの電圧値とは無関係の時間であり、かつ放電の前後におけるコンデンサ10が安定する。
したがって、電源装置1によれば、精度良くコンデンサ10の電圧値を検出できるので、検出したコンデンサ10の電圧値に基づいて精度良くコンデンサ10の寿命を診断できる。また、コンデンサ10aについても同様に、精度良く寿命を診断できる。
(変形例1)
実施の形態では、電圧値検出部161は、時刻t1から時刻t2までの間にコンデンサ10の電圧値V1を1回検出し、時刻t3から時刻t4までの間にコンデンサ10の電圧値V2を1回検出した。しかし、電圧値検出部161は、時刻t1から時刻t2までの間にコンデンサ10の電圧値V1を複数回検出し、時刻t3から時刻t4までの間にコンデンサ10の電圧値V2を複数回検出してもよい。そして容量算出部163は、複数回検出された電圧値V1の平均値と、複数回検出された電圧値V2の平均値とに基づいて、コンデンサ10の容量を算出してもよい。複数回検出された電圧値の平均値を使用することにより、ノイズの影響による寿命診断の精度の低下をさらに抑えることができ、精度良くコンデンサ10の寿命を診断できる。なお、電圧値V1と電圧値V2とのうち、一方のみを複数回検出するものであってもよい。
(変形例2)
実施の形態では、電源装置1は、コンデンサ10とコンデンサ10aとの双方について寿命を診断する。しかし、電源装置1は、1つのコンデンサ10についてのみ寿命を診断するものであってもよい。例えば図5に示すように、コンデンサ10a等のセットに代えて、線L1と線L2との間にスイッチ11bとコンデンサ10bとを直列に接続したものを電源装置1に設ける。そしてスイッチ制御部162は、コンデンサ10の寿命を診断するときのみスイッチ11bをオンし、それ以外のときにはスイッチ11bをオフする。このような構成により、コンデンサ10の寿命の診断を可能としつつ、回路構成を実施の形態1よりも簡素なものとすることができる。また、コンデンサ10の寿命を診断するときのみスイッチ11bがオンし、コンデンサ10bに電荷が蓄積されるので、コンデンサ10bがコンデンサ10よりも先に寿命が尽きる可能性はほとんどない。
(変形例3)
実施の形態では、容量算出部163によりコンデンサ10の容量を算出し、寿命診断部164は算出された容量に基づいてコンデンサ10の寿命を診断した。しかし、寿命診断部164は、容量算出部163によりコンデンサ10の容量を算出することなくコンデンサ10の寿命を診断することもできる。上述の式(1)において、経過時間T2及び抵抗13の抵抗値Rは既知である。そのため、容量Cは、電圧値V1と電圧値V2との比に基づいて決定される。したがって、コンデンサ10の寿命特性は、コンデンサ10の劣化とV1/V2との関係によっても表すことができる。コンデンサ10の劣化とV1/V2との関係によって表された寿命特性を示す情報を記憶部17に保存することにより、コンデンサ10の容量を算出することなくコンデンサ10の寿命を診断することができる。つまり、寿命診断部164は、必ずしもコンデンサ10の容量に基づかなくとも、電圧値V1と電圧値V2とに基づいてコンデンサ10の寿命を診断することができる。
(変形例4)
実施の形態では、時刻t3にスイッチ12をオフすることにより、安定したコンデンサ10の電圧値V2を検出した。しかし、スイッチ12をオフすることなく時刻t3にコンデンサ10の電圧値を検出し、この電圧値を電圧値V2としてもよい。この場合も、放電開始時におけるコンデンサ10の両端間の電圧は安定するので、精度よくコンデンサ10の寿命を診断できる。
本発明は、本発明の広義の精神と範囲を逸脱することなく、様々な実施の形態及び変形が可能とされるものである。また、上述した実施の形態は、本発明を説明するためのものであり、本発明の範囲を限定するものではない。つまり、本発明の範囲は、実施の形態ではなく、請求の範囲によって示される。そして、請求の範囲内及びそれと同等の発明の意義の範囲内で施される様々な変形が、本発明の範囲内とみなされる。
1 電源装置、2 負荷、3 報知装置、10,10a,10b コンデンサ、11,11a,11b,12,12a スイッチ、13,13a 抵抗、14 ダイオード、15 トランス、16 制御部、17 記憶部、161 電圧値検出部、162 スイッチ制御部、163 容量算出部、164 寿命診断部、165 報知制御部、L1,L2 線。

Claims (6)

  1. 第1の線と、
    前記第1の線より低電位の第2の線と、
    一端が前記第1の線に接続された第1のスイッチと、
    一端が前記第1のスイッチに接続され他端が前記第2の線に接続されたコンデンサと、
    前記コンデンサに並列に接続された抵抗と、
    前記抵抗に直列に接続された第2のスイッチと、
    前記コンデンサの両端間の電圧値を検出する電圧値検出手段と、
    前記第1のスイッチと前記第2のスイッチとを制御するスイッチ制御手段と、
    前記コンデンサの寿命を診断する寿命診断手段と、
    を備え、
    前記スイッチ制御手段は、前記第1のスイッチがオン状態かつ前記第2のスイッチがオフ状態であるときに第1の時刻に達すると前記第1のスイッチをオフし、前記第1の時刻から第1の経過時間が経過した第2の時刻に前記第2のスイッチをオンし、
    前記電圧値検出手段は、前記第1の時刻から前記第2の時刻までの間における前記コンデンサの第1の電圧値と、前記第2の時刻から第2の経過時間が経過した第3の時刻における前記コンデンサの第2の電圧値とを検出し、
    前記寿命診断手段は、前記第1の電圧値と前記第2の電圧値とに基づいて前記コンデンサの寿命を診断する、
    電源装置。
  2. 前記第1の電圧値と前記第2の電圧値と前記第2の経過時間と前記抵抗の抵抗値とに基づいて前記コンデンサの容量を算出する容量算出手段をさらに備え、
    前記寿命診断手段は、前記容量算出手段により算出された前記コンデンサの容量と前記コンデンサの寿命特性とに基づいて前記コンデンサの寿命を診断する、
    請求項1に記載の電源装置。
  3. 前記電圧値検出手段は、前記第1の時刻から前記第2の時刻までの間に前記第1の電圧値を複数回検出し、
    前記寿命診断手段は、複数回検出した前記第1の電圧値の平均値に基づいて前記コンデンサの寿命を診断する、
    請求項1又は2に記載の電源装置。
  4. 前記スイッチ制御手段はさらに、前記第3の時刻に前記第2のスイッチをオフし、前記第3の時刻から第3の経過時間が経過した第4の時刻に前記第1のスイッチをオンし、
    前記電圧値検出手段は、前記第3の時刻から前記第4の時刻までの間における前記コンデンサの電圧値を前記第2の電圧値として検出する、
    請求項1から3のいずれか1項に記載の電源装置。
  5. 前記電圧値検出手段は、前記第3の時刻から前記第4の時刻までの間に前記第2の電圧値を複数回検出し、
    前記寿命診断手段は、複数回検出した前記第2の電圧値の平均値に基づいて前記コンデンサの寿命を診断する、
    請求項4に記載の電源装置。
  6. 第1の線と、
    前記第1の線より低電位の第2の線と、
    一端が前記第1の線に接続された第1のスイッチと、
    一端が前記第1のスイッチに接続され他端が前記第2の線に接続されたコンデンサと、
    前記コンデンサに並列に接続された抵抗と、
    前記抵抗に直列に接続された第2のスイッチと、
    を備える電源装置の前記コンデンサの寿命を診断する寿命診断方法であって、
    前記第1のスイッチがオン状態かつ前記第2のスイッチがオフ状態であるときに第1の時刻に達すると前記第1のスイッチをオフし、
    前記第1の時刻から第1の経過時間が経過した第2の時刻に前記第2のスイッチをオンし、
    前記第1の時刻から前記第2の時刻までの間における前記コンデンサの電圧値と、前記第2の時刻から第2の経過時間が経過した第3の時刻における前記コンデンサの電圧値とに基づいて前記コンデンサの寿命を診断する、
    寿命診断方法。
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