JP6652060B2 - 状態判定装置および状態判定方法 - Google Patents
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Description
(付記1)
構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記構造物表面の変位の2次元空間分布を算出する変位算出部と、
前記2次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する異常判定部と、を有する、状態判定装置。
(付記2)
前記2次元空間分布から前記2次元空間分布の2次元微分空間分布を算出する微分変位算出部を有し、
前記異常判定部は、前記2次元微分空間分布と、予め備えられた微分変位の微分空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記1記載の状態判定装置。
(付記3)
前記異常判定部は、前記2次元空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記1または2記載の状態判定装置。
(付記4)
前記異常判定部は、前記2次元微分空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記2または3記載の状態判定装置。
(付記5)
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記1から4の内の1項記載の状態判定装置。
(付記6)
前記異常判定部は、前記構造物表面の変位の微分変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記2から5の内の1項記載の状態判定装置。
(付記7)
前記異常判定部の判定結果に基づいて、前記欠陥の場所と種類を示す異常マップを作成する異常マップ作成部を有する、付記1から6の内の1項記載の状態判定装置。
(付記8)
前記欠陥の種類は、ひび割れ、剥離、内部空洞を含む、付記1から7の内の1項記載の状態判定装置。
(付記9)
前記予め備えられた変位の空間分布と前記予め備えられた微分変位の微分空間分布は、前記ひび割れ、前記剥離、前記内部空洞の情報に基づく、付記8記載の状態判定装置。
(付記10)
前記構造物表面の変位は、前記時系列画像の前記荷重印加前の画像と前記荷重印加後の画像との差である、付記1から9の内の1項記載の状態判定装置。
(付記11)
前記2次元空間分布は、前記変位のX−Y平面におけるX方向の変位の分布、前記変位のX−Y平面におけるY方向の変位の分布を含む、付記1から10の内の1項記載の状態判定装置。
(付記12)
構造物表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記構造物表面の変位の2次元空間分布を算出し、
前記2次元空間分布と、予め備えられた変位の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、状態判定方法。
(付記13)
前記2次元空間分布から前記2次元空間分布の2次元微分空間分布を算出し、
前記2次元微分空間分布と、予め備えられた微分変位の微分空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記12記載の状態判定方法。
(付記14)
前記2次元空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記12または13記載の状態判定方法。
(付記15)
前記2次元微分空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記13または14記載の状態判定方法。
(付記16)
前記構造物表面の変位の変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記12から15の内の1項記載の状態判定方法。
(付記17)
前記構造物表面の変位の微分変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、付記13から16の内の1項記載の状態判定方法。
(付記18)
前記判定結果に基づいて、前記欠陥の場所と種類を示す異常マップを作成する、付記12から17の内の1項記載の状態判定方法。
(付記19)
前記欠陥の種類は、ひび割れ、剥離、内部空洞を含む、付記12から18の内の1項記載の状態判定方法。
(付記20)
前記予め備えられた変位の空間分布と前記予め備えられた微分変位の微分空間分布は、前記ひび割れ、前記剥離、前記内部空洞の情報に基づく、付記19記載の状態判定方法。
(付記21)
前記構造物表面の変位は、前記時系列画像の前記荷重印加前の画像と前記荷重印加後の画像との差である、付記12から20の内の1項記載の状態判定方法。
(付記22)
前記2次元空間分布は、前記変位のX−Y平面におけるX方向の変位の分布、前記変位のX−Y平面におけるY方向の変位の分布を含む、付記12から21の内の1項記載の状態判定方法。
2 撮像装置
3 変位算出部
4 微分変位算出部
5 異常判定部
6 2次元空間分布情報解析部
7 時間変化情報解析部
8 異常マップ作成部
9 構造物
10 状態判定装置
11 変位算出部
12 異常判定部
Claims (7)
- 構造物の表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記構造物の表面の、変位及び微分変位の少なくとも一方である変位特徴の空間分布を算出する算出手段と、
算出された前記空間分布と、予め作成された、構造物の中における欠陥の深さが異なる複数の場合における変位特徴の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥と当該欠陥の位置、又は、位置及び深さとを特定する異常判定手段と、を有する、状態判定装置。 - 前記異常判定手段は、前記空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、請求項1記載の状態判定装置。
- 前記異常判定手段は、前記構造物の表面の前記変位特徴の変位量と、予め備えられた閾値との比較に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、請求項1又は2記載の状態判定装置。
- 前記異常判定手段は、前記構造物に加重を単位時間与えた場合の前記変位特徴の周波数解析を行い、当該周波数解析の結果に基づいて前記欠陥を特定する、請求項1から3の内の1項記載の状態判定装置。
- 構造物の表面の荷重印加前後の時系列画像から、前記構造物の表面の、変位及び微分変位の少なくとも一方である変位特徴の空間分布を算出し、
算出された前記空間分布と、予め作成された、構造物の中における欠陥の深さが異なる複数の場合における変位特徴の空間分布との比較に基づいて、前記構造物の欠陥と当該欠陥の位置、又は、位置及び深さとを特定する、状態判定方法。 - 前記空間分布の時間変化に基づいて、前記構造物の欠陥を特定する、請求項5記載の状態判定方法。
- 前記構造物に加重を単位時間与えた場合の前記変位特徴の周波数解析を行い、当該周波数解析の結果に基づいて前記欠陥を特定する、請求項5又は6記載の状態判定方法。
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