JP6630135B2 - 異物判定装置 - Google Patents
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Description
次に、基材15上に異物があり、基材15の載置台16からの浮きはない場合について説明する。この場合、図7〜図9に示すように、基材15の上面より上側において、異物41が平行光Lの一部を遮光する。このため、受光パターンは、下から、遮光→受光→遮光→受光となる。
Hk=Wb×sinθ …(3)
また、基材15の上面から平行光Lの上端までの高さを異物検知ギャップGとする。異物検知ギャップGの範囲内で異物が検知される。基材15の厚さをtとすると、異物検知ギャップGは、下記の式(4)で表されるものである。
ここで、測定部26による基材15上の異物の検知は、シャトルユニット4の移動中に行われる。シャトルユニット4の平均移動速度をVとすると、移動する平行光Lにより個々の異物を検知し得る時間である検知時間Tkは、下記の式(5)で表される。
シャトルユニット4の移動中において、受光部32による受光量のサンプリングは、所定のサンプリング周期Tsで行われる。したがって、検知時間Tkにおけるサンプリング回数である検知回数Nは、下記の式(6)で表される。
ここで、ROUNDDOWN(X)は、Xの小数点以下を切り捨てる関数である。
2 シャトルベースユニット
3 フラットベッドユニット
4 シャトルユニット
5 警告灯
6 制御部
11 架台部
12 副走査駆動モータ
13A,13B 副走査駆動ガイド
15 基材
16 載置台
19 載置台昇降駆動部
22 ヘッドユニット
23A,23B 主走査駆動ガイド
24 主走査駆動モータ
25 異物除去ポンプ
26 測定部
29 インクジェットヘッド
31 投光部
32 受光部
33 投光部昇降モータ
34 投光部回動モータ
35 受光部昇降モータ
36 受光部回動モータ
L 平行光
Claims (4)
- 帯状の光を出射する投光部と、積載台に積載された基材を挟んで前記投光部に対向して配置され前記投光部が出射した光を受光する受光部とを有し、前記帯状の光がなす平面が基材の上面に対して斜めになっている測定部と、
前記受光部における受光パターンに基づき、基材の上面の高さを判定するとともに基材上の異物の有無、および基材の前記積載台からの浮きの有無を判定する判定部と
を備えることを特徴とする異物判定装置。 - 帯状の光を出射する投光部と、積載台の上面に積載された基材を挟んで前記投光部に対向して配置され前記投光部が出射した光を受光する受光部とを有し、前記帯状の光がなす平面が基材の上面に対して斜めになっているとともに、前記帯状の光の下端の高さ位置が前記積載台の上面の高さ位置と一致している測定部と、
前記受光部における受光パターンに基づき、基材の上面の高さを判定するとともに基材上の異物の有無、および基材の前記積載台からの浮きの有無を判定する判定部と
を備えることを特徴とする異物判定装置。 - 前記判定部は、前記受光部における受光パターンに基づき、基材上の異物のサイズ、および基材上の異物の数の少なくともいずれかをさらに判定することを特徴とする請求項1または2に記載の異物判定装置。
- 前記判定部は、前記帯状の光がなす平面と基材の上面とがなす角度を、基材の種類に応じて設定することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の異物判定装置。
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