JP6602246B2 - 半導体装置、管理システムおよび特定方法 - Google Patents
半導体装置、管理システムおよび特定方法 Download PDFInfo
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Description
前記複数の半導体装置の各々において、前記複数の半導体装置のうちの自己の半導体装置以外の他の半導体装置の各々とは異なる周波数のクロック信号を自己のクロック信号として生成させ、自己の半導体装置の異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に前記自己のクロック信号の周波数で共通の出力線に接続されたスイッチング素子をオンオフさせ、自己の半導体装置に異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか他方の場合に前記スイッチング素子をオフ状態とし、前記出力線に生じる信号波形に基づいて異常を検出した半導体装置を特定する、というものである。
図1は、本発明の実施形態に係る管理システム100の構成を示すブロック図である。管理システム100は、通信線5を介して直列接続(多段接続)された複数の電池監視IC(Integrated Circuit)20a、20b、20c、20dと、入力端が電池監視IC20a、20b、20c、20dにそれぞれ接続され、出力端が共通の出力線40に接続されたフォトカプラ30a、30b、30c、30dと、出力線40に接続された制御装置50を含んで構成されている。
図6は、本発明の第2の実施形態に係る管理システム101の構成を示すブロック図である。第2の実施形態に係る管理システム101は、上記した第1の実施形態に係る管理システム100を構成するフォトカプラ30a〜30dおよび出力線40を有しない。
11 電池セル
20a〜20d 電池監視IC
30a〜30d フォトカプラ
40 出力線
50 制御装置
100 101 管理システム
201 電圧測定部
202 異常検出部
203 制御部
204 クロック生成部
205 出力部
206 トランジスタ
210a〜210d 論理和演算回路
Claims (15)
- 各々が自己の異常を検出する機能を備えた複数の半導体装置を含む管理システムであって、
前記複数の半導体装置の各々は、
前記複数の半導体装置のうちの自己の半導体装置以外の他の半導体装置の各々とは異なる周波数のクロック信号を自己のクロック信号として生成するクロック生成部と、
自己の半導体装置の異常を検出する異常検出部と、
共通の出力線に接続され、自己の異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に前記自己のクロック信号を前記出力線に伝達し、自己の異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか他方の場合に前記自己のクロック信号の前記出力線への伝達を停止するスイッチング素子を含む出力部と、
を含む管理システム。 - 前記出力部は、前記自己のクロック信号の周波数に応じて前記スイッチング素子をオンオフすることで、前記自己のクロック信号を前記出力線に伝達する
請求項1に記載の管理システム。 - 前記複数の半導体装置の各々の前記スイッチング素子は、絶縁素子を介して前記出力線に接続されている
請求項1または請求項2に記載の管理システム。 - 前記出力線に生ずる信号波形に基づいて、前記複数の半導体装置のうち異常を検出した半導体装置を特定する制御装置を更に含む
請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の管理システム。 - 各々が自己の異常を検出する機能を備え、隣接する他の半導体装置と通信可能に接続された複数の半導体装置を含む管理システムであって、
前記複数の半導体装置の各々は、
前記複数の半導体装置のうちの自己の半導体装置以外の他の半導体装置の各々とは異なる周波数のクロック信号を自己のクロック信号として生成するクロック生成部と、
自己の半導体装置の異常を検出する異常検出部と、
自己の異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に前記自己のクロック信号と隣接する上位側の半導体装置から供給された通信信号とを論理演算した信号を自己の通信信号として下位側の半導体装置に供給し、自己の異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか他方の場合に隣接する上位側の半導体装置から供給された通信信号を自己の通信信号として隣接する下位側の半導体装置に供給する出力部と、
を含む管理システム。 - 前記複数の半導体装置の各々の前記出力部は、自己の異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に前記自己のクロック信号および隣接する上位側の半導体装置から供給された通信信号を論理和演算した信号を自己の通信信号として下位側の半導体装置に供給する
請求項5に記載の管理システム。 - 前記複数の半導体装置のうち最下位の半導体装置の出力部から出力された通信信号に基づいて、前記複数の半導体装置のうち異常を検出した半導体装置を特定する制御装置を更に含む
請求項5または請求項6に記載の管理システム。 - 前記複数の半導体装置の各々は、電池セルのセル電圧を測定する電圧測定部を更に含み、
前記複数の半導体装置の各々の前記異常検出部は、自己の半導体装置の異常に加え、自己の電圧測定部によって測定されたセル電圧に基づいて前記電池セルの異常を検出する
請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の管理システム。 - 前記複数の半導体装置の各々の前記クロック生成部は、基本クロック信号を、前記複数の半導体装置のうちの自己の半導体装置以外の他の半導体装置の各々とは異なる分周比で分周した信号を自己のクロック信号として生成する
請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の管理システム。 - 前記複数の半導体装置の各々は、前記複数の半導体装置のうちの自己の半導体装置以外の他の半導体装置に対する自己の接続位置に応じた自己のアドレスを生成するアドレス生成部を含み、
前記複数の半導体装置の各々の前記クロック生成部は、前記基本クロック信号を、前記自己のアドレスに応じて定められる分周比で分周した信号を自己のクロック信号として生成する
請求項9に記載の管理システム。 - 請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の管理システムに含まれる前記複数の半導体装置のうちの1つの半導体装置。
- 他の半導体装置と通信可能に接続された場合の自己の接続位置に応じて自己のアドレスを生成するアドレス生成部と、
基本クロック信号を、前記自己のアドレスに応じて定められる分周比で分周した信号を自己のクロック信号として生成するクロック生成部と、
内部回路の異常を検出する異常検出部と、
前記異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に前記自己のクロック信号を出力線に伝達し、前記異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか他方の場合に前記出力線への前記自己のクロック信号の伝達を停止するスイッチング素子を含む出力部と、
を含む半導体装置。 - 他の半導体装置と通信可能に接続された場合の自己の接続位置に応じて自己のアドレスを生成するアドレス生成部と、
基本クロック信号を、前記自己のアドレスに応じて定められる分周比で分周した信号を自己のクロック信号として生成するクロック生成部と、
内部回路の異常を検出する異常検出部と、
前記異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に前記自己のクロック信号と外部から供給された通信信号とを論理演算した信号を自己の通信信号として出力し、前記異常検出部によって異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか他方の場合に外部から供給された通信信号を自己の通信信号として出力する出力部と、
を含む半導体装置。 - 各々が自己の異常を検出する機能を有する複数の半導体装置を含む管理システムにおいて異常を検出した半導体装置を特定する特定方法であって、
前記複数の半導体装置の各々において、前記複数の半導体装置のうちの自己の半導体装置以外の他の半導体装置の各々とは異なる周波数のクロック信号を自己のクロック信号として生成させ、自己の半導体装置の異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に前記自己のクロック信号の周波数で共通の出力線に接続されたスイッチング素子をオンオフさせ、自己の半導体装置に異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか他方の場合に前記スイッチング素子をオフ状態とし、
前記出力線に生じる信号波形に基づいて異常を検出した半導体装置を特定する
特定方法。 - 各々が自己の異常を検出する機能を備え、隣接する他の半導体装置と通信可能に接続された複数の半導体装置を含む管理システムにおいて異常を検出した半導体装置を特定する特定方法であって、
前記複数の半導体装置の各々において、前記複数の半導体装置のうちの自己の半導体装置以外の他の半導体装置の各々とは異なる周波数のクロック信号を自己のクロック信号として生成させ、自己の半導体装置に異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか一方の場合に前記自己のクロック信号と隣接する上位側の半導体装置から供給された通信信号とを論理演算した信号を自己の通信信号として下位側の半導体装置に供給させ、自己の半導体装置に異常が検出された場合および異常が検出されない場合のいずれか他方の場合に隣接する上位側の半導体装置から供給された通信信号を自己の通信信号として隣接する下位側の半導体装置に供給させ、
前記複数の半導体装置のうち最下位の半導体装置から供給された通信信号に基づいて異常を検出した半導体装置を特定する
特定方法。
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