JP6597981B2 - 表面検査装置の異常判定方法とその表面検査装置 - Google Patents
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Description
図1の表面検査装置は、連続して走行する金属帯1の表面に投光器2から光を照射し、該金属帯表面から反射した光を受光器3で受光し、その受光強度(輝度)から得られる画像を解析することによって金属帯表面の表面欠陥等の検査を行う設備であり、該受光器3で撮像した画像は、画像処理装置4にて二値化・ラベリング処理し、欠陥判定装置5で表面欠陥等の有無と欠陥の種別を判定する構成となっている。なお、投光器2の出力制御は、投光器制御装置7および投光器電源装置8にてなされる。
図1に示すように、金属帯が水平方向に搬送されているとき、1つの光源(投光器2)から金属帯表面に照射され、該金属帯表面から種々の方向に反射された光のうち、正反射された光を受光する受光器3Aを有する正反射光学系(投光角=受光角)と、金属帯表面から乱反射された光を受光する受光器3Bを有する乱反射光学系(投光角≠受光角)と2つ光学系を有する表面検査装置を考える。
例えば、図7に示したように、金属帯の表面粗さが小さく、鏡面状態に近い場合には、金属帯表面から正反射される光の強度は、乱反射される光の強度と比較し、突出して高くなる、すなわち、(正反射される光の受光強度/乱反射される光の受光強度)は大きな値を示すが、金属帯の表面粗さが粗い場合には、金属帯表面に照射された光が乱反射される比率が高まるため、(正反射される光の受光強度/乱反射される光の受光強度)は小さな値を示す。
2:投光器
3:受光器
3A:正反射される光を受光する受光器
3B:乱反射される光を受光する受光器
4:画像処理装置
5:欠陥判定装置
6:表面検査機器異常判定装置
7:投光器制御装置
8:投光器電源装置
Claims (4)
- 連続的に走行する金属帯の表面に光を照射する1つの投光器と、上記照射した光が金属帯表面から反射した光を異なる受光角で受光する複数の受光器で金属帯表面を検査する表面検査装置の異常判定方法において、
上記投光器の出力と上記複数の受光器で受光した反射光の受光強度との関係、ならびに、上記複数の受光器間の受光強度比を監視することによって、金属帯表面の検査と並行して、表面検査装置の異常の有無を判定することを特徴とする表面検査装置の異常判定方法。 - 上記複数の受光器は、正反射した反射光を受光する1つの受光器と、乱反射した反射光を受光する1以上の受光器からなることを特徴とする請求項1に記載の表面検査装置の異常判定方法。
- 金属帯の表面状態に応じて、異常判定の閾値を変えることを特徴とする請求項1または2に記載の表面検査装置の異常判定方法。
- 連続的に走行する金属帯の表面に光を照射する1つの投光器と、上記照射した光が金属帯表面から反射した光を異なる受光角で受光する複数の受光器で受光・撮像して金属帯表面を検査する表面検査装置において、
上記受光器で撮像した画像を二値化・ラベリングする画像処理装置と、
上記画像処理装置の結果に基づいて金属帯表面の欠陥有無を判定する欠陥判定装置と、
上記投光器の出力を制御する投光器制御装置および投光器電源装置と、
上記画像処理装置および投光器制御装置からの信号に基づいて、上記投光器の出力と複数の受光器の受光強度との関係、ならびに、上記各受光器間の受光強度比を監視する機器・光学系異常判定装置とを有することにより、
金属帯表面の検査と並行して、表面検査装置の異常の有無を判定することを特徴とする表面検査装置。
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