JP6597428B2 - 分光器及びこれに用いられる0次光減衰機構 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係る分光器1の構成例を示した概略断面図である。分光器1は、光源2からの光を分光するためのモノクロメータであり、光源2からの光は集光レンズ3により集光されて分光器1内に入射する。この分光器1は、分光光度計の他、膜厚計などの各種分析装置に適用することができる。
図2は、入射部4の構成例を示した概略断面図である。図2では、説明を簡略化するために第1反射鏡5が省略されている。また、光源2から分光器1に光を導くための光学系が、光ファイバ10により構成されている。ただし、このような構成に限らず、例えば光ファイバ10が省略されることにより、集光レンズ3により集光された光が入射スリット41から直接入射するような構成であってもよい。
(1)本実施形態では、図2に破線で示すように、回折格子6から入射スリット41の近傍に反射した0次光が、反射部材43により回折格子6とは異なる方向に向けて反射される。これにより、0次光が再び回折格子6に入射しにくく、0次光が迷光の原因となるのを防止することができるため、より効果的に迷光を低減することができる。
図3は、入射部4の変形例を示した概略断面図である。この図3の例では、減衰部材44の構成のみが図2の例とは異なり、他の構成については図2の例と同様であるため、同様の構成については図に同一符号を付して詳細な説明を省略する。
図3の例では、図2の例における作用効果に加えて、反射部材43により回折格子6とは異なる方向に向けて反射される0次光が、トラップ空間445で繰り返し反射することにより減衰される。そのため、0次光が再び回折格子6に入射するのをさらに効果的に防止することができる。
以上の実施形態では、反射部材43が入射部4の本体42とは別部材として構成されている場合について説明した。しかし、このような構成に限らず、反射部材43が本体42と一体的に形成された構成であってもよい。この場合、反射部材43の小孔431が、入射スリット41を構成していてもよい。また、減衰部材44(低反射率部材441又はトラップ部444)についても、本体42とは別部材として構成されるものに限らず、本体42と一体的に形成された構成であってもよい。
2 光源
3 集光レンズ
4 入射部
5 反射鏡
6 回折格子
7 反射鏡
8 出射部
9 ハウジング
10 光ファイバ
41 入射スリット
42 本体
43 反射部材
44 減衰部材
61 格子面
62 回転軸
81 出射スリット
421 凹部
431 小孔
432 反射面
441 低反射率部材
442 低反射率面
443 開口
444 トラップ部
445 トラップ空間
446 開口
L1 法線
L2 法線
Claims (6)
- 光源からの光を入射位置から入射させる入射部と、
前記入射位置から入射する光を回折させて分光する回折格子と、
前記入射位置の近傍に設けられ、前記回折格子からの反射光である0次光を当該回折格子とは異なる方向に向けて反射させる反射部材とを備え、
前記回折格子において0次光が前記入射位置の近傍に向けて反射され、
前記反射部材には、前記入射位置に対向する小孔が形成されており、
前記反射部材における前記小孔の周縁部に、0次光を反射させるための反射面が形成されていることを特徴とする分光器。 - 前記反射部材により反射される0次光を減衰させる減衰部材をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の分光器。
- 前記減衰部材は、前記反射部材により反射される0次光の光路上に設けられ、当該0次光を減衰させながら反射させる低反射率部材を含むことを特徴とする請求項2に記載の分光器。
- 前記減衰部材は、前記反射部材により反射される0次光を繰り返し反射させることにより減衰させるトラップ空間が形成されたトラップ部を含むことを特徴とする請求項2又は3に記載の分光器。
- 前記トラップ部は、前記反射部材の前記回折格子側を覆うように設けられており、
前記トラップ部における前記反射部材の前記小孔に対向する位置には、開口が形成されていることを特徴とする請求項4に記載の分光器。 - 入射位置から入射する光が回折格子で分光される際に生じる0次光を減衰させるための0次光減衰機構であって、
前記入射位置の近傍に設けられ、前記回折格子からの反射光である0次光を当該回折格子とは異なる方向に向けて反射させる反射部材と、
前記反射部材により反射される0次光を減衰させる減衰部材とを備え、
前記回折格子において0次光が前記入射位置の近傍に向けて反射され、
前記反射部材には、前記入射位置に対向する小孔が形成されており、
前記反射部材における前記小孔の周縁部に、0次光を反射させるための反射面が形成されていることを特徴とする0次光減衰機構。
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JP2016053556A JP6597428B2 (ja) | 2016-03-17 | 2016-03-17 | 分光器及びこれに用いられる0次光減衰機構 |
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WO2021215034A1 (ja) * | 2020-04-23 | 2021-10-28 | 株式会社島津製作所 | 分光測定装置 |
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2016
- 2016-03-17 JP JP2016053556A patent/JP6597428B2/ja active Active
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