JP6584512B2 - シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム - Google Patents

シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP6584512B2
JP6584512B2 JP2017537146A JP2017537146A JP6584512B2 JP 6584512 B2 JP6584512 B2 JP 6584512B2 JP 2017537146 A JP2017537146 A JP 2017537146A JP 2017537146 A JP2017537146 A JP 2017537146A JP 6584512 B2 JP6584512 B2 JP 6584512B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
automation system
sensor
productivity
setting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017537146A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2017037901A1 (ja
Inventor
坂倉 隆史
隆史 坂倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of JPWO2017037901A1 publication Critical patent/JPWO2017037901A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6584512B2 publication Critical patent/JP6584512B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS], computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41885Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS], computer integrated manufacturing [CIM] characterised by modeling, simulation of the manufacturing system
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/408Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by data handling or data format, e.g. reading, buffering or conversion of data
    • G05B19/4083Adapting programme, configuration
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/36Nc in input of data, input key till input tape
    • G05B2219/36071Simulate on screen, if operation value out of limits, edit program
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Description

この発明は、オートメーションシステムのシミュレーション技術に関する。
近年、情報通信技術を導入して、生産活動の効率化を図ることが試みられている。
例えば、生産の実行を計画するMES(Manufacturing Execution System)と、設計情報の共有を可能とするPLM(Product Life cycle Management)とが導入されている。また、製品及び製造設備の検証を行うシミュレーション装置も導入されている。
製造設備の検証を行うシミュレーション装置は、幾つか製品化されたものがある。シミュレーション装置は、各種コントローラと各種コントローラによって制御される入出力装置との動作タイミングのような製造制御のシミュレーションを行う。
特許文献1には、仮想マシンを用いて工作プロセスをシミュレーションすることが記載されている。
特表2014−522529号公報
従来は、シミュレーション装置による検証を行った後に製造設備が敷設される。そして、敷設された製造設備において、シミュレーション装置による検証結果が妥当であることが確認されれば、シミュレーション装置の役割は一旦終わりになる。
その後、製品仕様の変更や、製造設備の機器の故障に伴い代替品を使用する場合に、改めてシミュレーション装置により検証が行われる。
半導体の製造を行うオートメーションシステムのように、高い精度が要求されるオートメーションシステムでは、製造制御のシミュレーションでは現れない温度及び振動のような要因が生産性に影響する。
この発明は、製造制御のシミュレーションでは現れない温度及び振動のような要因による影響を考慮したシミュレーションを可能とし、生産性を向上させることを目的とする。
この発明に係るシミュレーション装置は、
オートメーションシステムに設けられたセンサで検出されたセンサ値と、そのセンサ値が検出された際の前記オートメーションシステムでの生産性とから機械学習を行い、前記生産性が高くなるセンサ値を適切値として計算する適切値計算部と、
設定を順次変更しながら、前記オートメーションシステムの動作のシミュレーションを実行して、前記設定毎の前記センサ値の予測値を計算するシミュレーション部と、
前記シミュレーション部によって計算された予測値が、前記適切値計算部によって計算された適切値に近い値である場合の前記設定を特定する設定特定部と
を備える。
この発明では、オートメーションシステムに設けられたセンサで検出されたセンサ値から生産性が高くなるセンサ値を計算し、シミュレーションを実行して生産性が高くなるセンサ値に近い値が得られるオートメーションシステムの設定を特定する。これにより、オートメーションシステムの生産性を向上させることができる。
実施の形態1に係るシミュレーションシステム100の構成図。 オートメーションシステム20を構成するエッチング装置201の構成図。 実施の形態1に係るシミュレーション装置10の構成図。 実施の形態1に係るシミュレーション装置10の動作を示すフローチャート。 実施の形態1に係るシミュレーション装置10のハードウェア構成例を示す図。
実施の形態1.
***構成の説明***
図1は、実施の形態1に係るシミュレーションシステム100の構成図である。
シミュレーションシステム100は、シミュレーション装置10と、既に敷設され稼働しているオートメーションシステム20とを備える。シミュレーション装置10とオートメーションシステム20とは、ネットワーク30を介して接続されている。
ここでは、オートメーションシステム20は、高い精度が要求される製造設備である半導体工場のFAシステム(ファクトリーオートメーションシステム)である。オートメーションシステム20は、高い精度が要求されるため、製造設備の外界の要因、すなわち温度、振動、ダスト、EMI(Electro−Magnetic Interference)、ワークの物性等の製造制御には現れない要因が生産性に影響する。実施の形態1では、生産性は、歩留りのことを意味する。
なお、ここでは、オートメーションシステム20は、半導体工場のシステムであるとするが、製造設備の外界の要因が生産性に影響するシステムであれば、他のシステムであってもよい。
オートメーションシステム20は、R101のインゴット成長工程と、R102のウェハー切り出し工程と、R103のIC(Integrated Circuit)多層生成工程と、R104の露光工程と、R105のエッチング工程と、R106のフォトレジスト除去工程と、R107のドーピング及びフォトレジスト完全除去工程と、R108のアルミ配線等の層追加工程と、R109のボンディング工程と、R110のパッケージ封入工程とを実行して、半導体を製造する。なお、R104からR108の工程は、必要に応じて繰り返し実行される。
シミュレーション装置10は、オートメーションシステム20が実行するR101〜R110の各工程を模擬したS101〜S110の工程を実行して、オートメーションシステム20の動作を模擬する。
シミュレーション装置10は、オートメーションシステム20を構成するコントローラと、コントローラの制御プログラムと、フィールドバス及びセンサ及びアクチュエータのような各種デバイスとのオートメーションシステム20を構成する機器及びプログラムを仮想マシンにより忠実に再現する。そして、シミュレーション装置10は、仮想マシンにより、R101〜R110の各工程の挙動をS101〜S110として忠実に模擬する。シミュレーション装置10は、S101〜S110で発生した、コントローラによる機械語の実行と、各種デバイスの状態変化と等の全てのイベントを、ログ記憶装置40に記憶する。
シミュレーション装置10は、稼働中のオートメーションシステム20に設けられたセンサで検出されたセンサ値を示すセンサデータ51をオートメーションシステム20からネットワーク30を介して受信する。センサ値とは、温度、振動、ダスト、EMI、ワークの物性等の製造制御には現れない、製造設備の外界の情報を示す値である。また、シミュレーション装置10は、オートメーションシステム20での生産性を示す生産性データ52を、オートメーションシステム20からネットワーク30を介して受信する。
シミュレーション装置10は、センサデータ51が示すセンサ値と、生産性データ52が示す生産性とに基づき、シミュレーションを実行して、オートメーションシステム20の適切な設定を特定する。適切とは、オートメーションシステム20での生産性が高くなるという意味である。設定とは、オートメーションシステム20に与えられるパラメータの値と、オートメーションシステム20で使用されるロジックと、オートメーションシステム20を構成するデバイスの配置等である。
シミュレーション装置10は、特定した設定を示す設定データ53をオートメーションシステム20へ送信する。すると、設定データ53が示す設定がオートメーションシステム20に反映される。なお、デバイスの配置については、別途人手で反映される。
図2は、オートメーションシステム20を構成するエッチング装置201の構成図である。
エッチング装置201は、R105のエッチング工程を実行するための装置である。エッチング装置201は、制御信号が伝送される制御フィールドバス202に接続されたPLC203によって制御される。シミュレーション装置10は、図2に示す構成であれば、制御フィールドバス202及びPLC203の動作を模擬する。
エッチング装置201は、回転制御装置204によりワーク面205を回転させながら、霧状のエッチング液206をワーク面205に散布する。このとき、エッチング装置201は、エッチング液206を万遍なくワーク面205に散布するために、ポンプ207によりエッチング装置201の内部空間208の圧力を低下させる。
エッチング装置201は、エッチング液206をワーク面205に散布する際の内部空間208の圧力を圧力センサ209により検出する。そして、エッチング装置201は、検出された圧力を示す圧力データを定期的にセンサネットワーク210を介して出力する。出力された圧力データは、圧力をセンサ値として示すセンサデータ51として、ネットワーク30を介してシミュレーション装置10に送信される。
上述した通り、内部空間208の圧力は、ポンプ207により制御される。そのため、ポンプ207を制御するパラメータを変えることにより、内部空間208の圧力を制御することが可能である。
オートメーションシステム20を構成する他のデバイスも同様に、センサによって検出したセンサ値を示すデータを定期的に出力する。そして、出力されたデータは、センサデータ51として、ネットワーク30を介してシミュレーション装置10に送信される。ここでは、ウェハーに酸化膜を形成する加熱炉の温度と、クリーンルーム内のダスト及び温度及び湿度と等をセンサ値として示すセンサデータ51がシミュレーション装置10に送信される。
内部空間208の圧力がポンプ207のパラメータにより制御可能であることと同様に、他のデバイスから出力されたデータが示すセンサ値も設定により制御可能である。
シミュレーション装置10は、センサデータ51を受信するとともに、センサデータが示すセンサ値が検出された時点の生産性を示す生産性データ52を受信する。シミュレーション装置10は、機械学習により、生産性が高くなるセンサ値を適切値として計算する。そして、シミュレーション装置10は、シミュレーションを実行して、センサ値が適切値に近い値となる設定を特定する。
図2に示すエッチング装置201の場合であれば、シミュレーション装置10は、圧力が適切値に近い値になる、ポンプ207の制御に関するパラメータを特定する。
図3は、実施の形態1に係るシミュレーション装置10の構成図である。
シミュレーション装置10は、データ受信部11と、適切値計算部12と、シミュレーション部13と、設定特定部14と、データ送信部15と、目標判定部16とを備える。
データ受信部11は、オートメーションシステム20に設けられたセンサで検出されたセンサ値を示すセンサデータ51と、そのセンサ値が検出された際のオートメーションシステム20での生産性を示す生産性データ52とを、オートメーションシステム20から受信する。
データ受信部11は、オートメーションシステム20が稼働している間に、オートメーションシステム20から定期的に送信されるセンサデータ51と生産性データ52との組を順次受信して、記憶装置に蓄積する。この際、データ受信部11は、センサデータ51と生産性データ52との組に対応付けて、センサ値が検出された際のオートメーションシステム20の設定も記憶装置に蓄積する。
適切値計算部12は、データ受信部11によって順次受信され、記憶装置に蓄積されたセンサ値と生産性との複数の組から、機械学習を行い、生産性が高くなるセンサ値を適切値として計算する。
シミュレーション部13は、設定を順次変更しながら、オートメーションシステム20の動作のシミュレーションを実行して、設定毎のセンサ値の予測値を計算する。
設定特定部14は、シミュレーション部13によって計算された予測値が、適切値計算部12によって計算された適切値に近い値である場合の設定を特定する。
データ送信部15は、設定特定部14によって特定された設定を示す設定データ53をオートメーションシステム20へ送信する。これにより、設定データ53が示す設定がオートメーションシステム20に反映される。
目標判定部16は、データ送信部15によって設定データ53が送信されてから一定期間経過後に、データ受信部11によって受信された生産性データ52が示す生産性が、目標値よりも高いか否かを判定する。目標値は、オートメーションシステム20の種別等に応じてシミュレーションの実行者によって定められる値である。これにより、目標判定部16は、設定特定部14によって特定された設定を用いてオートメーションシステム20を動作させた場合におけるオートメーションシステム20での生産性が目標値よりも高くなったか否かを判定する。
適切値計算部12による適切値の計算方法を説明する。
ここでは、適切値計算部12は、多変量線形回帰を用いた機械学習を行う。適切値計算部12は、機械学習の手法として知られている他の手法を用いてもよい。
各受信タイミングに、n種類のセンサデータ51と、生産性データ52との組がデータ受信部11によって受信されるとする。したがって、受信されるセンサデータ51が示すセンサ値の集合xは、x:=(x,...,x)である。そして、適切値の集合θは、θ:=(θ,...,θ)である。ここでは、計算の便宜上、集合xに要素xを追加し、集合θに要素θを追加し、x:=(x,x,...,x)∈Rn+1、θ:=(θ,θ,...,θ)∈Rn+1、θ=1とする。ここで、Rは実数を表し、Rに上付き文字として示されたn+1は要素数を表す。
このとき、多変量線形回帰の予測式hθ(x)は数1のようになる。
Figure 0006584512
iを受信タイミングを表す変数とする。集合x(i)を受信タイミングiに受信されたセンサデータ51が示すセンサ値の集合とし、生産性y(i)を受信タイミングiに受信された生産性データ52が示す生産性とする。
このとき、多変量線形回帰における費用関数J(θ)は数2のようになる。
Figure 0006584512
数2において、mは受信タイミング数を表す。
そして、適切値計算部12は、数3に示すアルゴリズムにより適切値の集合θを計算する。
Figure 0006584512
数3において、“:=”は代入を表す。αは単調減少に係る係数である。
つまり、適切値計算部12は、適切値の集合θの全ての要素θの値が収束するまで、m個の新たなセンサ値と生産性と組からtmpを計算して、集合θを更新する処理を繰り返す。
但し、適切値計算部12は、各種類のセンサ値の重みを均等にするため、k=1,...,nの各センサ値xが、−1≦x≦1になるように調整する。なお、各センサ値xが上記範囲を大きく逸脱しなければ、上記範囲に必ずしも入っていなくてもよい。ここでは、一部のセンサ値xが−10≦x≦10に入っていればよいものとする。
費用関数J(θ)の値が時系列に単調減少していれば、費用関数J(θ)は正しく機能しているとみなすことができる。
なお、適切値の集合θの初期値は、任意に決定すればよい。適切値の集合θの初期値は、他のオートメーションシステムで適切値として計算された値としてもよい。
***動作の説明***
図4は、実施の形態1に係るシミュレーション装置10の動作を示すフローチャートである。
実施の形態1に係るシミュレーション装置10の動作は、実施の形態1に係るシミュレーション方法に相当する。また、実施の形態1に係るシミュレーション装置10の動作は、実施の形態1に係るシミュレーションプログラムの処理に相当する。
S1のデータ受信処理では、データ受信部11は、オートメーションシステム20が稼働している間に、オートメーションシステム20から定期的に送信されるセンサデータ51と生産性データ52との組を順次受信して、記憶装置に蓄積する。
S2の適切値計算処理では、適切値計算部12は、S1で記憶装置に蓄積されたセンサ値と生産性との複数の組から、機械学習を行い、生産性が高くなるセンサ値を適切値として計算する。
S3の設定決定処理では、シミュレーション部13は、シミュレーションに使用する設定を使用設定として決定する。この際、シミュレーション部13は、記憶装置に蓄積された、センサ値と設定との関係から、S2で計算された適切値に近いセンサ値が得られると推定される設定を使用設定として決定する。
S4のシミュレーション実行処理では、シミュレーション部13は、S3で決定された使用設定を用いて、オートメーションシステム20の動作のシミュレーションを実行して、設定毎のセンサ値の予測値を計算する。
S5の設定判定処理では、設定特定部14は、S4で計算された予測値が、S2で計算された適切値の前後基準範囲内の値であるか、つまり適切値に近い値であるか否かを判定する。
予測値が適切値に近い値でない場合には(S5でNO)、設定特定部14は、処理をS3に戻して、使用設定を変更させる。一方、予測値が適切値に近い値である場合には(S5でYES)、設定特定部14は、処理をS6に進める。
S6のデータ送信処理では、データ送信部15は、S5で予測値が適切値に近い値であると判定された場合における使用設定を示す設定データ53をオートメーションシステム20へ送信する。
S7の目標判定処理では、目標判定部16は、S6で設定データ53が送信されてから一定期間経過後に、データ受信部11によって受信された生産性データ52が示す生産性が、目標値よりも高いか否かを判定する。
生産性が目標値以下の場合には(S7でNO)、目標判定部16は、処理をS2に戻して、適切値を計算し直させる。一方、生産性が目標値よりも高い場合には(S7でYES)、目標判定部16は、処理を終了する。
S1ではセンサデータ51と生産性データ52との組が順次受信され、記憶装置に蓄積されている。そのため、S7で処理をS2に戻して適切値を計算し直させると、使用可能なセンサデータ51と生産性データ52との組が増えており、より正確な適切値が計算される。
しかし、単純にS7から処理をS2に戻しても、生産性が改善しない可能性もある。
そこで、S7から処理をS2に戻す際、オートメーションシステム20に設けられたセンサの位置を変更してもよい。これにより、オートメーションシステム20の異なる位置に設けられたセンサで検出されたセンサ値と、そのセンサ値が検出された際のオートメーションシステム20の生産性とから、適切値を計算し直させることができる。
また、S7から処理をS2に戻す際、シミュレーション部13が実行するシミュレーションロジックを変更してもよい。これにより、別のシミュレーションロジックにより、オートメーションシステム20の動作のシミュレーションを実行させて、設定毎のセンサ値の予測値を計算し直させることができる。
例えば、ログ記憶装置40に蓄積されたイベントのログを参照して、シミュレーションが適切であるか検証することが可能である。そして、検証した結果に基づき、シミュレーションロジックを変更することが可能である。また、設定を繰り返し変更して、設定毎のセンサ値を取得することにより、設定とセンサ値との関係をより的確に模擬するシミュレーションロジックを構築することが可能である。
***実施の形態1の効果***
以上のように、実施の形態1に係るシミュレーション装置10は、稼働中のオートメーションシステム20のセンサ値及び生産性から適切なセンサ値を機械学習して、オートメーションシステム20の設定を決定する。
これにより、徐々にオートメーションシステム20の生産性を高くすることができる。
図5は、実施の形態1に係るシミュレーション装置10のハードウェア構成例を示す図である。
シミュレーション装置10はコンピュータである。
シミュレーション装置10は、プロセッサ901、補助記憶装置902、メモリ903、通信装置904、入力インターフェース905、ディスプレイインターフェース906といったハードウェアを備える。
プロセッサ901は、信号線910を介して他のハードウェアと接続され、これら他のハードウェアを制御する。
入力インターフェース905は、ケーブル911により入力装置907に接続されている。
ディスプレイインターフェース906は、ケーブル912によりディスプレイ908に接続されている。
プロセッサ901は、プロセッシングを行うIC(Integrated Circuit)である。プロセッサ901は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、DSP(Digital Signal Processor)、GPU(Graphics Processing Unit)である。
補助記憶装置902は、例えば、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ、HDD(Hard Disk Drive)である。
メモリ903は、例えば、RAM(Random Access Memory)である。
通信装置904は、データを受信するレシーバー9041及びデータを送信するトランスミッター9042を含む。通信装置904は、例えば、通信チップ又はNIC(Network Interface Card)である。
入力インターフェース905は、入力装置907のケーブル911が接続されるポートである。入力インターフェース905は、例えば、USB(Universal Serial Bus)端子である。
ディスプレイインターフェース906は、ディスプレイ908のケーブル912が接続されるポートである。ディスプレイインターフェース906は、例えば、USB端子又はHDMI(登録商標)(High Definition Multimedia Interface)端子である。
入力装置907は、例えば、マウス、キーボード又はタッチパネルである。
ディスプレイ908は、例えば、LCD(Liquid Crystal Display)である。
補助記憶装置902には、上述したデータ受信部11と、適切値計算部12と、シミュレーション部13と、設定特定部14と、データ送信部15と、目標判定部16と(以下、データ受信部11と、適切値計算部12と、シミュレーション部13と、設定特定部14と、データ送信部15と、目標判定部16とをまとめて「部」と表記する)の機能を実現するプログラムが記憶されている。
このプログラムは、メモリ903にロードされ、プロセッサ901に読み込まれ、プロセッサ901によって実行される。
更に、補助記憶装置902には、OS(Operating System)も記憶されている。
そして、OSの少なくとも一部がメモリ903にロードされ、プロセッサ901はOSを実行しながら、「部」の機能を実現するプログラムを実行する。
図5では、1つのプロセッサ901が図示されているが、シミュレーション装置10が複数のプロセッサ901を備えていてもよい。そして、複数のプロセッサ901が「部」の機能を実現するプログラムを連携して実行してもよい。
また、「部」の処理の結果を示す情報やデータや信号値や変数値とが、メモリ903、補助記憶装置902、又は、プロセッサ901内のレジスタ又はキャッシュメモリにファイルとして記憶される。
また、「部」の機能を実現するプログラムは、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ブルーレイ(登録商標)ディスク、DVD等の記憶媒体に記憶される。
「部」を「サーキットリー」で提供してもよい。また、「部」を「回路」又は「工程」又は「手順」又は「処理」に読み替えてもよい。「回路」及び「サーキットリー」は、プロセッサ901だけでなく、ロジックIC又はGA(Gate Array)又はASIC(Application Specific Integrated Circuit)又はFPGA(Field−Programmable Gate Array)といった他の種類の処理回路をも包含する概念である。
また、データ受信部11は、レシーバー9041として実現されてもよいし、データ送信部15は、トランスミッター9042として実現されてもよい。
10 シミュレーション装置、11 データ受信部、12 適切値計算部、13 シミュレーション部、14 設定特定部、15 データ送信部、16 目標判定部、20 オートメーションシステム、30 ネットワーク、40 ログ記憶装置、51 センサデータ、52 生産性データ、53 設定データ。

Claims (4)

  1. オートメーションシステムが稼働している間に、前記オートメーションシステムから送信される前記オートメーションシステムに設けられたセンサで検出されたセンサ値と、そのセンサ値が検出された際の前記オートメーションシステムでの生産性を示す生産性データとの組を順次受信して、そのセンサ値が検出された際の、前記センサ値に影響を与える前記オートメーションシステムの設定と対応付けて記憶装置に蓄積するデータ受信部と、
    前記データ受信部によって受信され前記記憶装置に蓄積された前記センサ値と前記生産性データとの組から機械学習を行い、前記生産性が高くなるセンサ値を適切値として計算する適切値計算部と、
    設定を順次変更しながら、前記オートメーションシステムの動作のシミュレーションを実行して、前記記憶装置に蓄積された前記センサ値と前記センサ値に対応付られた前記設定とに基づき、前記オートメーションシステムを各設定にした場合の前記センサ値の予測値を計算するシミュレーション部と、
    前記シミュレーション部によって計算された予測値が、前記適切値計算部によって計算された適切値に近い値である場合の前記設定を特定する設定特定部と
    を備えるシミュレーション装置。
  2. 前記シミュレーション装置は、
    前記設定特定部によって特定された設定を用いて前記オートメーションシステムが動作した場合における前記オートメーションシステムでの生産性が目標値よりも高くなったか否かを判定する目標判定部を備え、
    前記適切値計算部は、前記生産性が前記目標値よりも高くならなかったと前記目標判定部が判定した場合、前回適切値を計算した後に蓄積された前記センサ値と前記生産性との組を用いて機械学習を行い、前記生産性が高くなるセンサ値を適切値として計算し直し、
    前記設定特定部は、前記予測値が、前記適切値計算部によって計算し直された適切値に近い値である場合の前記設定を特定する
    請求項1に記載のシミュレーション装置。
  3. 前記シミュレーション装置は、
    前記設定特定部によって特定された設定を用いて前記オートメーションシステムが動作した場合における前記オートメーションシステムでの生産性が目標値よりも高くなったか否かを判定する目標判定部を備え、
    前記適切値計算部は、前記生産性が前記目標値よりも高くならなかったと前記目標判定部が判定した場合、前記オートメーションシステムの異なる位置に設けられたセンサで検出されたセンサ値と、そのセンサ値が検出された際の前記オートメーションシステムでの生産性とから機械学習を行い、前記生産性が高くなるセンサ値を適切値として計算し直し、
    前記設定特定部は、前記予測値が、前記適切値計算部によって計算し直された適切値に近い値である場合の前記設定を特定する
    請求項1に記載のシミュレーション装置。
  4. オートメーションシステムが稼働している間に、前記オートメーションシステムから送信される前記オートメーションシステムに設けられたセンサで検出されたセンサ値と、そのセンサ値が検出された際の前記オートメーションシステムでの生産性を示す生産性データとの組を順次受信して、そのセンサ値が検出された際の、前記センサ値に影響を与える前記オートメーションシステムの設定と対応付けて記憶装置に蓄積するデータ受信処理と、
    前記データ受信処理によって受信され前記記憶装置に蓄積された前記センサ値と、前記生産性データとの組から機械学習を行い、前記生産性が高くなるセンサ値を適切値として計算する適切値計算処理と、
    設定を順次変更しながら、前記オートメーションシステムの動作のシミュレーションを実行して、前記記憶装置に蓄積された前記センサ値と前記センサ値に対応付られた前記設定とに基づき、前記オートメーションシステムを各設定にした場合の前記センサ値の予測値を計算するシミュレーション処理と、
    前記シミュレーション処理によって計算された予測値が、前記適切値計算処理によって計算された適切値に近い値である場合の前記設定を特定する設定特定処理と
    をコンピュータに実行させるシミュレーションプログラム。
JP2017537146A 2015-09-02 2015-09-02 シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム Active JP6584512B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2015/074998 WO2017037901A1 (ja) 2015-09-02 2015-09-02 シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2017037901A1 JPWO2017037901A1 (ja) 2017-11-16
JP6584512B2 true JP6584512B2 (ja) 2019-10-02

Family

ID=58186831

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017537146A Active JP6584512B2 (ja) 2015-09-02 2015-09-02 シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20180188718A1 (ja)
JP (1) JP6584512B2 (ja)
CN (1) CN107636543B (ja)
TW (1) TWI594093B (ja)
WO (1) WO2017037901A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112017003607T5 (de) * 2017-06-23 2019-05-02 Mitsubishi Electric Corporation Programmverifikationssystem, Steuervorrichtung und Programmverifikationsverfahren
CN113485157B (zh) * 2021-07-01 2023-04-07 杭州加速科技有限公司 晶圆仿真测试方法、装置及晶圆测试方法

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04319765A (ja) * 1991-04-19 1992-11-10 Matsushita Electron Corp 製造装置の自動レシピ設定装置
US6057929A (en) * 1997-07-21 2000-05-02 Aecx Corporation System and method for producing substantially identical drawing prints using dissimilar printing systems
JP2000091178A (ja) * 1998-09-11 2000-03-31 Sony Corp 生産管理方法
JP2000288877A (ja) * 1999-04-05 2000-10-17 Toshiba Corp データ間の因果関係導出システム及びデータベースに於ける因果関係導出方法
JP2003288388A (ja) * 2002-03-28 2003-10-10 Sharp Corp 作業支援システム、作業支援方法、作業支援処理プログラム及び作業支援プログラムを記録した記録媒体
US7302334B2 (en) * 2002-08-02 2007-11-27 General Electric Company Automatic mapping logic for a combustor in a gas turbine engine
US20050137751A1 (en) * 2003-12-05 2005-06-23 Cox Damon K. Auto-diagnostic method and apparatus
TWI267012B (en) * 2004-06-03 2006-11-21 Univ Nat Cheng Kung Quality prognostics system and method for manufacturing processes
US8676538B2 (en) * 2004-11-02 2014-03-18 Advanced Micro Devices, Inc. Adjusting weighting of a parameter relating to fault detection based on a detected fault
US8103429B2 (en) * 2006-12-19 2012-01-24 General Electric Company System and method for operating a compression-ignition engine
US7805639B2 (en) * 2007-08-16 2010-09-28 International Business Machines Corporation Tool to report the status and drill-down of an application in an automated manufacturing environment
EP2034468A1 (en) * 2007-09-05 2009-03-11 Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Method for assessing the performance of a motion simulator and performance indicator obtained with such method
TWI437395B (zh) * 2010-10-22 2014-05-11 Chan Li Machinery Co Ltd Optimized PID Control Method for Process Equipment System
CN102129241A (zh) * 2011-03-25 2011-07-20 湖北创通科技有限公司 发光二极管应用产品生产中的信息化集成模块系统
US8793004B2 (en) * 2011-06-15 2014-07-29 Caterpillar Inc. Virtual sensor system and method for generating output parameters
US20140020400A1 (en) * 2012-07-18 2014-01-23 Gianni Ceccherini System and method for auto-tuning a combustion system of a gas turbine
US20140143006A1 (en) * 2012-11-16 2014-05-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. Systems and Methods to Enhance Product Yield for Semiconductor Manufacturing
US9422869B2 (en) * 2013-03-13 2016-08-23 General Electric Company Systems and methods for gas turbine tuning and control
JP6063313B2 (ja) * 2013-03-22 2017-01-18 株式会社東芝 電子デバイスの製造支援システム、製造支援方法及び製造支援プログラム
CN105765461B (zh) * 2013-10-02 2018-01-05 Asml荷兰有限公司 用于获得与工业过程有关的诊断信息的方法和设备
WO2015090774A1 (en) * 2013-12-17 2015-06-25 Asml Netherlands B.V. Yield estimation and control
US20150184549A1 (en) * 2013-12-31 2015-07-02 General Electric Company Methods and systems for enhancing control of power plant generating units
US10079564B2 (en) * 2014-01-27 2018-09-18 General Electric Company System and method for a stoichiometric exhaust gas recirculation gas turbine system
US9808762B2 (en) * 2015-04-23 2017-11-07 Rockwell Automation Technologies, Inc. Predictive emissions monitor systems and methods

Also Published As

Publication number Publication date
CN107636543B (zh) 2019-03-12
TW201710810A (zh) 2017-03-16
US20180188718A1 (en) 2018-07-05
TWI594093B (zh) 2017-08-01
JPWO2017037901A1 (ja) 2017-11-16
CN107636543A (zh) 2018-01-26
WO2017037901A1 (ja) 2017-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101287169B1 (ko) 프로세스 제어를 위한 제품 관련 피드백
CN108572609B (zh) 控制装置、记录媒体以及控制系统
JP5292602B2 (ja) 高度プロセス制御システム及び高度プロセス制御方法
EP2738632B1 (en) Input output cloning for industrial automation
US8543370B2 (en) Multiple PLC simulation system
JP2017102617A (ja) 補正装置、補正装置の制御方法、情報処理プログラム、および記録媒体
JP2020173551A (ja) 故障予測装置、故障予測方法、コンピュータプログラム、計算モデルの学習方法および計算モデルの生成方法
JP6409557B2 (ja) 制御装置、コントローラ・システム、出力制御方法、およびプログラム
JP6584512B2 (ja) シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム
US20150248506A1 (en) Multiple programmable logic controller simulator
JP2020043270A (ja) 学習装置、推論装置及び学習済みモデル
JPWO2006100753A1 (ja) コスト情報管理システム、コスト情報管理方法およびコスト情報管理プログラム
TW202026788A (zh) 質量流控制器及控制器演算法
US10303812B2 (en) Topography prediction using system state information
CA2986396A1 (en) Calculation method for compressed air-flow rate, calculation device thereof, and storage medium
JP6290029B2 (ja) 生産制御支援装置、生産制御支援方法およびプログラム
Tantik et al. Industrie 4.0: Using cyber-physical systems for value-stream based production evaluation
JP2019522357A (ja) 半導体ダイのオフセット補償ばらつき
US10365557B2 (en) Compact OPC model generation using virtual data
JP2023077396A (ja) 異種インターネットオブシングスデバイス間での統合センサを使用した劣化または異常状態の検出
TWI798563B (zh) 智慧排程方法與智慧排程裝置
EP3874521A1 (en) A method and a system for synchronizing a first and a second simulation system
JP6576884B2 (ja) 制御アプリケーション生成支援装置、及び制御アプリケーション生成支援方法
US20170122843A1 (en) Stable manufacturing efficiency generating method and system and non-transitory computer readable storage medium
JP2017033040A (ja) Plcプログラムの最適化機能を備えた制御装置及び機械学習器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170406

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180626

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180821

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190314

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190806

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190903

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6584512

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250