JP6582366B2 - Resin composition, adhesive film, cured product, multilayer printed wiring board, semiconductor device, and resin composition for insulating layer - Google Patents

Resin composition, adhesive film, cured product, multilayer printed wiring board, semiconductor device, and resin composition for insulating layer Download PDF

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Description

本発明は、樹脂組成物に関する。   The present invention relates to a resin composition.

多層プリント配線板は各種電子機器・電子部品に広く使用されている。多層プリント配線板の製造技術としては、回路導体を備えた内層回路基板上に絶縁層と導体層を交互に積み重ねるビルドアップ方式による製造方法が知られている。   Multilayer printed wiring boards are widely used in various electronic devices and electronic parts. As a manufacturing technique of a multilayer printed wiring board, a manufacturing method based on a build-up method in which insulating layers and conductor layers are alternately stacked on an inner circuit board provided with circuit conductors is known.

ビルドアップ方式による製造方法は、一般に、下記手順で実施される。はじめに内層回路基板上に樹脂組成物層を設け、該樹脂組成物層を硬化させて絶縁層を形成する。次いで、絶縁層表面を膨潤液で膨潤させた後に酸化剤で粗化して、絶縁層表面に微小凹凸を形成する。その後、セミアディティブ法等の公知の方法に従って所定の配線パターンを有する導体層を絶縁層表面に形成する。   The manufacturing method by the build-up method is generally performed according to the following procedure. First, a resin composition layer is provided on an inner layer circuit board, and the resin composition layer is cured to form an insulating layer. Next, the surface of the insulating layer is swollen with a swelling liquid and then roughened with an oxidizing agent to form minute irregularities on the surface of the insulating layer. Thereafter, a conductor layer having a predetermined wiring pattern is formed on the surface of the insulating layer according to a known method such as a semi-additive method.

近年、多層プリント配線板を製造するに際して、絶縁層と導体層との熱膨張の差に起因する層間剥離や配線断裂を防止するために、層間絶縁材料には低線熱膨張率化が求められており、絶縁層の形成に使用する樹脂組成物にフィラーを高充填することにより低線熱膨張率化することが知られている(例えば、特許文献1、特許文献2)。   In recent years, when manufacturing multilayer printed wiring boards, interlayer insulation materials are required to have a low coefficient of thermal expansion in order to prevent delamination and wiring rupture due to differences in thermal expansion between the insulating layer and the conductor layer. In addition, it is known that the linear thermal expansion coefficient is reduced by highly filling a resin composition used for forming an insulating layer (for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).

特開2005−38821号公報JP 2005-38821 A 特開2006−4854号公報JP 2006-4854 A

本発明者らは、従来のフィラーによる検討を進めたところ、充填量が増えるにつれて、溶融粘度や表面粗度が上昇してしまい、微細配線の形成が困難となりやすいという問題を見出した。
本発明の課題は、低線熱膨張率、低粗度でありながらピール強度が高い硬化物、更には優れたラミネート性を有するシート状積層材料をもたらす樹脂組成物を提供することである。
The inventors of the present invention have studied the conventional filler, and found that the melt viscosity and the surface roughness increase as the filling amount increases, and it is difficult to form fine wiring.
An object of the present invention is to provide a cured product having a low linear thermal expansion coefficient and a low roughness and a high peel strength, and further a resin composition that provides a sheet-like laminated material having excellent laminating properties.

本発明者らは、上記課題に鑑みて鋭意検討を重ねたところ、(A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーを含む樹脂組成物を用いることにより、上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成するに至った。   The inventors of the present invention have made extensive studies in view of the above problems. As a result, (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. is 300 ppb. The present inventors have found that the above problems can be solved by using a resin composition containing a filler at / ° C. or less, and have completed the present invention.

すなわち、本発明は以下の内容を含む。
〔1〕 (A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーを含む、樹脂組成物。
〔2〕 樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーを5〜80体積%含む、〔1〕記載の樹脂組成物。
〔3〕 (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーの平均粒径が0.01〜10μmである、〔1〕又は〔2〕記載の樹脂組成物。
〔4〕 (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーの比重が1〜7g/cmである、〔1〕〜〔3〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔5〕 (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが球状無機フィラー又は破砕状無機フィラーである、〔1〕〜〔4〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔6〕 (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが、ガラスフィラー及びリン酸ジルコニウム系フィラーから選択される1種以上である、〔1〕〜〔5〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔7〕 (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが、チタンドープ型ガラスフィラーである、〔1〕〜〔6〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔8〕 (B)硬化剤が活性エステル系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤から選択される1種以上である、〔1〕〜〔7〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔9〕 (A)エポキシ樹脂が、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、又はそれらの2種以上の混合物であり、
(B)硬化剤が、活性エステル系硬化剤であり、
(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが、チタンドープ型ガラスフィラーである、〔1〕〜〔8〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔10〕 該樹脂組成物の硬化物の25℃から150℃までの平均線熱膨張率が20ppm以下であり、
該樹脂組成物の硬化物における、粗化処理後の硬化物表面のRaが400nm以下であり、かつ
該樹脂組成物の硬化物を形成し、該硬化物の粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成し、該硬化物表面と該導体層とのメッキピール強度が0.4kgf/cm以上である、〔1〕〜〔9〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔11〕 多層プリント配線板の絶縁層用である、〔1〕〜〔10〕のいずれか記載の樹脂組成物。
〔12〕 〔1〕〜〔11〕のいずれかに記載の樹脂組成物を含む接着フィルム。
〔13〕 該接着フィルムの樹脂組成物層の100℃における溶融粘度が35000poise以下である、〔12〕記載の接着フィルム。
〔14〕 〔1〕〜〔11〕のいずれか記載の樹脂組成物の硬化物。
〔15〕 25℃から150℃までの平均線熱膨張率が20ppm以下である、〔14〕記載の硬化物。
〔16〕 粗化処理後の硬化物表面のRaが400nm以下である、〔14〕又は〔15〕記載の硬化物。
〔17〕 硬化物の粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成したとき、該硬化物表面と該導体層とのメッキピール強度が0.4kgf/cm以上である、〔14〕〜〔16〕のいずれか記載の硬化物。
〔18〕 〔14〕〜〔17〕のいずれか記載の硬化物を有する多層プリント配線板。
〔19〕 〔18〕記載の多層プリント配線板を用いることを特徴とする半導体装置。
〔20〕 (A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーを含む多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物であって、
該(A)エポキシ樹脂が、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、又はそれらの2種以上の混合物であり、
該(B)硬化剤が、活性エステル系硬化剤であり、
該(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが、チタンドープ型ガラスフィラーであり、
該樹脂組成物の硬化物の25℃から150℃までの平均線熱膨張率が20ppm以下であり、
該樹脂組成物の硬化物における、粗化処理後の硬化物表面のRaが400nm以下であり、かつ
該樹脂組成物の硬化物を形成し、該硬化物の粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成し、該硬化物表面と該導体層とのメッキピール強度が0.4kgf/cm以上である、多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) a filler having an average coefficient of linear thermal expansion between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less.
[2] When the non-volatile component in the resin composition is 100% by volume, (C) 5-80% by volume of filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less is included. [1] The resin composition according to [1].
[3] (C) The average particle diameter of the filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less is 0.01 to 10 μm, [1] or [2] Resin composition.
[4] (C) Any one of [1] to [3], wherein the specific linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. has a specific gravity of 1 to 7 g / cm 3 of 300 ppb / ° C. or less. The resin composition as described.
[5] (C) Any of [1] to [4], wherein the filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. is 300 ppb / ° C. or less is a spherical inorganic filler or a crushed inorganic filler. The resin composition as described.
[6] (C) The filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less is at least one selected from glass fillers and zirconium phosphate fillers. ] The resin composition in any one of [5].
[7] (C) The filler according to any one of [1] to [6], wherein the filler having an average linear thermal expansion coefficient between 300 ° C. and 150 ° C. is 300 ppb / ° C. or less is a titanium-doped glass filler. Resin composition.
[8] Any of [1] to [7], wherein (B) the curing agent is at least one selected from an active ester curing agent, a cyanate ester curing agent, a phenol curing agent, and a naphthol curing agent. The resin composition as described.
[9] (A) The epoxy resin is a bisphenol A type epoxy resin, a biphenyl aralkyl type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin, or a mixture of two or more thereof.
(B) The curing agent is an active ester curing agent,
(C) The resin composition according to any one of [1] to [8], wherein the filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. is 300 ppb / ° C. or less is a titanium-doped glass filler. .
[10] The average linear thermal expansion coefficient from 25 ° C. to 150 ° C. of the cured product of the resin composition is 20 ppm or less,
In the cured product of the resin composition, Ra on the surface of the cured product after the roughening treatment is 400 nm or less, and a cured product of the resin composition is formed, on the surface of the cured product after the roughening treatment of the cured product. The resin composition according to any one of [1] to [9], wherein a conductor layer is formed by plating, and a plating peel strength between the surface of the cured product and the conductor layer is 0.4 kgf / cm or more.
[11] The resin composition according to any one of [1] to [10], which is for an insulating layer of a multilayer printed wiring board.
[12] An adhesive film comprising the resin composition according to any one of [1] to [11].
[13] The adhesive film according to [12], wherein the resin composition layer of the adhesive film has a melt viscosity at 100 ° C. of 35000 poise or less.
[14] A cured product of the resin composition according to any one of [1] to [11].
[15] The cured product according to [14], wherein an average linear thermal expansion coefficient from 25 ° C. to 150 ° C. is 20 ppm or less.
[16] The cured product according to [14] or [15], wherein Ra on the surface of the cured product after the roughening treatment is 400 nm or less.
[17] When a conductor layer is formed by plating on the cured product surface after the roughening treatment of the cured product, the plating peel strength between the cured product surface and the conductor layer is 0.4 kgf / cm or more. [14] Hardened | cured material in any one of-[16].
[18] A multilayer printed wiring board having the cured product according to any one of [14] to [17].
[19] A semiconductor device using the multilayer printed wiring board according to [18].
[20] (A) epoxy resin, (B) curing agent, (C) for an insulating layer of a multilayer printed wiring board containing a filler having an average coefficient of linear thermal expansion between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less A resin composition comprising:
The (A) epoxy resin is a bisphenol A type epoxy resin, a biphenyl aralkyl type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin, or a mixture of two or more thereof.
The (B) curing agent is an active ester curing agent,
(C) The filler whose average linear thermal expansion coefficient between 30 degreeC and 150 degreeC is 300 ppb / degrees C or less is a titanium dope type glass filler,
The average linear thermal expansion coefficient from 25 ° C. to 150 ° C. of the cured product of the resin composition is 20 ppm or less,
In the cured product of the resin composition, Ra on the surface of the cured product after the roughening treatment is 400 nm or less, and a cured product of the resin composition is formed, on the surface of the cured product after the roughening treatment of the cured product. A resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein a conductor layer is formed by plating, and a plating peel strength between the surface of the cured product and the conductor layer is 0.4 kgf / cm or more.

本発明によれば、低熱膨張率、低粗度でありながらピール強度が高い硬化物、更には優れたラミネート性を有するシート状積層材料をもたらす樹脂組成物を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the resin composition which provides the cured | curing material with high peel strength while having a low thermal expansion coefficient and low roughness, and also the sheet-like laminated material which has the outstanding laminating property can be provided.

本発明の樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーを含む。   The resin composition of the present invention includes (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (C) a filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less.

<(A)エポキシ樹脂>
本発明で使用される「エポキシ樹脂」としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノールエポキシ樹脂、ナフトールノボラックエポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert−ブチル−カテコール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン4官能型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂及びトリメチロール型エポキシ樹脂等が挙げられる。なかでも、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、及びそれらの2種以上の混合物が好ましい。エポキシ樹脂は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。
<(A) Epoxy resin>
Examples of the “epoxy resin” used in the present invention include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, and trisphenol epoxy resin. Naphthol novolac epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthalene tetrafunctional type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, Glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy Fatty, linear aliphatic epoxy resins, epoxy resins having a butadiene structure, alicyclic epoxy resins, heterocyclic epoxy resins, spiro ring-containing epoxy resins, cyclohexane dimethanol type epoxy resins, naphthylene ether type epoxy resins, and trimethylol Type epoxy resin and the like. Of these, bisphenol A type epoxy resins, biphenyl aralkyl type epoxy resins, naphthol type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, naphthylene ether type epoxy resins, and mixtures of two or more thereof are preferred. An epoxy resin may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

エポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。エポキシ樹脂の不揮発成分を100質量%とした場合に、少なくとも50質量%以上は1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂であるのが好ましい。   The epoxy resin preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the nonvolatile component of the epoxy resin is 100% by mass, at least 50% by mass or more is preferably an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule.

また、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下、「液状エポキシ樹脂」という。)と、温度20℃で固形状のエポキシ樹脂(以下、「固形状エポキシ樹脂」という。)とを含むことが好ましい。エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固形状エポキシ樹脂とを併用することで、優れた可撓性を有する樹脂組成物が得られる。また、樹脂組成物を硬化して形成される絶縁層の破断強度も向上する。   Further, it preferably contains an epoxy resin that is liquid at a temperature of 20 ° C. (hereinafter referred to as “liquid epoxy resin”) and an epoxy resin that is a solid at a temperature of 20 ° C. (hereinafter referred to as “solid epoxy resin”). . By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination as an epoxy resin, a resin composition having excellent flexibility can be obtained. Moreover, the breaking strength of the insulating layer formed by curing the resin composition is also improved.

液状エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、又はナフタレン型エポキシ樹脂が好ましく、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、又はナフタレン型エポキシ樹脂がより好ましい。液状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC(株)製の「HP4032」、「HP4032D」、「EXA4032SS」、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、三菱化学(株)製の「jER828EL」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、「jER807」(ビスフェノールF型エポキシ樹脂)、「jER152」(フェノールノボラック型エポキシ樹脂)、新日鐵化学(株)製の「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品)等が挙げられる。液状エポキシ樹脂としては、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品)が特に好ましい。液状エポキシ樹脂は、1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。   As the liquid epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, or naphthalene type epoxy resin are preferable, and bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, or naphthalene type epoxy resin are preferable. More preferred. Specific examples of the liquid epoxy resin include “HP4032”, “HP4032D”, “EXA4032SS”, “HP4032SS” (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, and “jER828EL” (bisphenol A) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. Type epoxy resin), "jER807" (bisphenol F type epoxy resin), "jER152" (phenol novolac type epoxy resin), "ZX1059" (bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy) manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. Resin mixture). As the liquid epoxy resin, “HP4032SS” (naphthalene type epoxy resin) and “ZX1059” (mixed product of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin) are particularly preferable. A liquid epoxy resin may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

固形状エポキシ樹脂としては、4官能ナフタレン型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノールエポキシ樹脂、ナフトールノボラックエポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、又はナフチレンエーテル型エポキシ樹脂が好ましく、4官能ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、又はナフチレンエーテル型エポキシ樹脂がより好ましく、ビフェニル型エポキシ樹脂がさらに好ましい。固形状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC(株)製の「HP−4700」、「HP−4710」(4官能ナフタレン型エポキシ樹脂)、「N−690」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂)、「N−695」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂)、「HP−7200」、「HP7200H」、「HP7200K−65I」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂)、「EXA7311」、「EXA7311−G3」、「EXA7311−G4」、「HP6000」(ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂)、日本化薬(株)製の「EPPN−502H」(トリスフェノールエポキシ樹脂)、「NC7000L」(ナフトールノボラックエポキシ樹脂)、「NC3000H」、「NC3000」、「NC3000L」、「NC3100」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、新日鐵化学(株)製の「ESN475V」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂)、「ESN485」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂)、三菱化学(株)製の「YX4000H」、「YL6121」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、「YX4000HK」(ビキシレノール型エポキシ樹脂)等が挙げられる。特に、日本化薬(株)製の「YX4000HK」(ビキシレノール型エポキシ樹脂)、「NC3000L」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、DIC(株)製の「HP7200H」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂)が好ましい。固形状エポキシ樹脂は、1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。   Examples of solid epoxy resins include tetrafunctional naphthalene type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, trisphenol epoxy resins, naphthol novolac epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, and naphthylene ether type epoxy resins. A tetrafunctional naphthalene type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, or a naphthylene ether type epoxy resin is more preferable, and a biphenyl type epoxy resin is more preferable. Specific examples of the solid epoxy resin include “HP-4700”, “HP-4710” (tetrafunctional naphthalene type epoxy resin), “N-690” (cresol novolac type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, “ N-695 "(cresol novolac type epoxy resin)," HP-7200 "," HP7200H "," HP7200K-65I "(dicyclopentadiene type epoxy resin)," EXA7311 "," EXA7311-G3 "," EXA7311-G4 " ", HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin), "EPPN-502H" (trisphenol epoxy resin), "NC7000L" (naphthol novolak epoxy resin), "NC3000H", "NC3000" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. ”,“ NC3000L ”,“ NC310 ” (Biphenyl type epoxy resin), “ESN475V” (naphthol novolak type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd., “ESN485” (naphthol novolak type epoxy resin), “YX4000H” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, “YL6121” (biphenyl type epoxy resin), “YX4000HK” (bixylenol type epoxy resin), and the like. In particular, “YX4000HK” (bixylenol type epoxy resin), “NC3000L” (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., and “HP7200H” (dicyclopentadiene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation are preferable. . A solid epoxy resin may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固形状エポキシ樹脂とを併用する場合、それらの量比(液状エポキシ樹脂:固形状エポキシ樹脂)は、質量比で、1:0.1〜1:4の範囲が好ましい。液状エポキシ樹脂と固形状エポキシ樹脂との量比をかかる範囲とすることにより、i)接着フィルムの形態で使用する場合に適度な粘着性がもたらされる、ii)接着フィルムの形態で使用する場合に十分な可撓性が得られ、取り扱い性が向上する、並びにiii)十分な破断強度を有する絶縁層を得ることができるなどの効果が得られる。上記i)〜iii)の効果の観点から、液状エポキシ樹脂と固形状エポキシ樹脂の量比(液状エポキシ樹脂:固形状エポキシ樹脂)は、質量比で、1:0.3〜1:3.5の範囲がより好ましく、1:0.6〜1:3の範囲がさらに好ましく、1:0.8〜1:2.5の範囲が特に好ましい。   When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as an epoxy resin, the quantitative ratio thereof (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is in a mass ratio of 1: 0.1 to 1: 4. preferable. By setting the amount ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin in such a range, i) suitable adhesiveness is obtained when used in the form of an adhesive film, and ii) when used in the form of an adhesive film. Sufficient flexibility is obtained, handling properties are improved, and iii) an insulating layer having sufficient breaking strength can be obtained. From the viewpoint of the effects i) to iii) above, the quantitative ratio of liquid epoxy resin to solid epoxy resin (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is 1: 0.3 to 1: 3.5 in terms of mass ratio. Is more preferable, the range of 1: 0.6 to 1: 3 is more preferable, and the range of 1: 0.8 to 1: 2.5 is particularly preferable.

樹脂組成物中のエポキシ樹脂の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、20質量%〜50質量%が好ましく、25質量%〜45質量%がより好ましく、30質量%〜40質量%がさらに好ましい。   The content of the epoxy resin in the resin composition is preferably 20% by mass to 50% by mass, more preferably 25% by mass to 45% by mass, and more preferably 30% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. % To 40% by mass is more preferable.

エポキシ樹脂のエポキシ当量は、好ましくは50〜3000、より好ましくは80〜2000、さらに好ましくは110〜1000である。この範囲となることで、硬化物の架橋密度が十分となり表面粗度の低い絶縁層をもたらす。なお、エポキシ当量は、JIS K7236に従って測定することができ、1当量のエポキシ基を含む樹脂の質量である。   The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 to 3000, more preferably 80 to 2000, and still more preferably 110 to 1000. By being in this range, the crosslink density of the cured product is sufficient and an insulating layer having a low surface roughness is obtained. The epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236, and is the mass of a resin containing 1 equivalent of an epoxy group.

<(B)硬化剤>
硬化剤としては、エポキシ樹脂を硬化する機能を有する限り特に限定されないが、例えば、活性エステル系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤等が挙げられる。なかでも、活性エステル系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤から選択される1種以上を使用することが好ましく、活性エステル系硬化剤がより好ましい。硬化剤は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。
<(B) Curing agent>
The curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing an epoxy resin. For example, an active ester curing agent, a cyanate ester curing agent, a phenol curing agent, a naphthol curing agent, a benzoxazine curing agent, etc. Can be mentioned. Especially, it is preferable to use 1 or more types selected from an active ester hardener, a cyanate ester hardener, a phenol hardener, and a naphthol hardener, and an active ester hardener is more preferable. A hardening | curing agent may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

活性エステル系硬化剤としては、特に制限はないが、一般にフェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N−ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましく用いられる。当該活性エステル系硬化剤は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル系硬化剤が好ましく、カルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル系硬化剤がより好ましい。カルボン酸化合物としては、例えば安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。フェノール化合物又はナフトール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、カテコール、α−ナフトール、β−ナフトール、1,5−ジヒドロキシナフタレン、1,6−ジヒドロキシナフタレン、2,6−ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエニルジフェノール、フェノールノボラック等が挙げられる。   Although there is no restriction | limiting in particular as an active ester type hardening | curing agent, Generally ester groups with high reaction activity, such as phenol ester, thiophenol ester, N-hydroxyamine ester, ester of heterocyclic hydroxy compound, are in 1 molecule. A compound having two or more in the above is preferably used. The active ester curing agent is preferably obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and / or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucin, Benzenetriol, dicyclopentadienyl diphenol, phenol novolac and the like.

具体的には、ジシクロペンタジエン型ジフェノール縮合構造を含む活性エステル化合物、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物が好ましく、なかでもジシクロペンタジエン型ジフェノール縮合構造を含む活性エステル化合物がより好ましい。   Specifically, an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol condensation structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing a phenol novolac acetylated product, and an active ester compound containing a phenol novolak benzoylated product are preferred. Of these, an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol condensation structure is more preferable.

ジシクロペンタジエン型ジフェノール縮合構造を含む活性エステル硬化剤としては、より具体的には下式(1)で表される化合物が挙げられる。   More specifically, the active ester curing agent containing a dicyclopentadiene-type diphenol condensation structure includes a compound represented by the following formula (1).

Figure 0006582366
Figure 0006582366

式(1)中、2個あるRは、互いに独立にフェニル基又はナフチル基である。kは0又は1を表す。nは繰り返し単位の平均で0.05〜2.5である。   In formula (1), two R's are each independently a phenyl group or a naphthyl group. k represents 0 or 1; n is 0.05 to 2.5 on the average of the repeating units.

誘電正接を低下させ、耐熱性を向上させるという観点から、Rはナフチル基であることが好ましい。kは0であることが好ましい。また、nは0.25〜1.5であることが好ましい。   From the viewpoint of reducing the dielectric loss tangent and improving the heat resistance, R is preferably a naphthyl group. k is preferably 0. N is preferably 0.25 to 1.5.

活性エステル系硬化剤の市販品としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール縮合構造を含む活性エステル化合物として、「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「HPC−8000−65T」(DIC(株)製)、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物として「EXB9416−70BK」(DIC(株)製)、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物として「DC808」(三菱化学(株)製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物として「YLH1026」(三菱化学(株)製)などが挙げられる。   As a commercial product of an active ester curing agent, as an active ester compound having a dicyclopentadiene type diphenol condensation structure, “EXB9451”, “EXB9460”, “EXB9460S”, “HPC-8000-65T” (DIC Corporation) Manufactured product), "EXB9416-70BK" (manufactured by DIC Corporation) as an active ester compound containing a naphthalene structure, "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, Examples of the active ester compound containing a benzoylated compound include “YLH1026” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).

シアネートエステル系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート(オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート))、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル系硬化剤の好ましい具体例としては、ロンザジャパン(株)製の「PT30」及び「PT60」(いずれもフェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)等が挙げられる。   Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate)), 4,4′-methylene bis (2,6-dimethylphenyl cyanate), 4, 4'-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5- Bifunctional cyanate resins such as dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, and bis (4-cyanatephenyl) ether; Phenol novolac and Polyfunctional cyanate resin derived from resol novolac, these cyanate resins and partially triazine of prepolymer. Preferable specific examples of the cyanate ester curing agent include “PT30” and “PT60” (both phenol novolac polyfunctional cyanate ester resins) and “BA230” (part of bisphenol A dicyanate or And a prepolymer which is all triazine-modified into a trimer).

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤としては、耐熱性の観点から、ノボラック構造を有するフェノール系硬化剤、又はノボラック構造を有するナフトール系硬化剤が好ましい。また、導体層(回路配線)との密着性の観点から、含窒素フェノール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤がより好ましい。なかでも、耐熱性、及び導体層との密着性(剥離強度)の観点から、トリアジン骨格含有フェノールノボラック樹脂を硬化剤として用いることが好ましい。   As the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoint of heat resistance. Moreover, from a viewpoint of adhesiveness with a conductor layer (circuit wiring), a nitrogen-containing phenol type hardening | curing agent is preferable and a triazine frame | skeleton containing phenol type hardening | curing agent is more preferable. Especially, it is preferable to use a triazine skeleton containing phenol novolak resin as a hardening | curing agent from a viewpoint of heat resistance and adhesiveness (peeling strength) with a conductor layer.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤の具体例としては、例えば、明和化成(株)製の「MEH−7700」、「MEH−7810」、「MEH−7851」、日本化薬(株)製の「NHN」、「CBN」、「GPH」、東都化成(株)製の「SN170」、「SN180」、「SN190」、「SN475」、「SN485」、「SN495」、「SN375」、「SN395」、DIC(株)製の「LA7052」、「LA7054」、「LA3018」等が挙げられる。   Specific examples of the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent include, for example, “MEH-7700”, “MEH-7810”, “MEH-7785” manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and Nippon Kayaku Co., Ltd. “NHN”, “CBN”, “GPH”, “SN170”, “SN180”, “SN190”, “SN475”, “SN485”, “SN495”, “SN375”, “SN395” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. "LA7052", "LA7054", "LA3018", etc. manufactured by DIC Corporation.

ベンゾオキサジン系硬化剤の具体例としては、昭和高分子(株)製の「HFB2006M」、四国化成工業(株)製の「P−d」、「F−a」が挙げられる。   Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include “HFB2006M” manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., “Pd” and “Fa” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.

樹脂組成物中の硬化剤の量は、エポキシ樹脂を硬化できる限り特に限定されないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、例えば15〜50質量%、好ましくは20〜45質量%、より好ましくは25〜40質量%である。   The amount of the curing agent in the resin composition is not particularly limited as long as the epoxy resin can be cured, but when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, for example, 15 to 50% by mass, preferably 20 to 45% by mass. %, More preferably 25 to 40% by mass.

<(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラー>
フィラーの30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率の測定方法としては、例えば、レーザー干渉計により試料の伸びを検出する熱膨張計やX線回折法など既知の方法により測定することができる。
「30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラー」としては、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下の無機フィラーが好ましく、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下の球状無機フィラー、破砕状無機フィラーがより好ましく、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下の球状無機フィラーがさらに好ましい。具体例として、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下である、ガラスフィラー、リン酸ジルコニウム系フィラー、コーディエライト系フィラー、シリコン酸化物系フィラー、タングステン酸ジルコニウム系フィラー、及びマンガン窒化物系フィラー等が挙げられる。なかでも、硬化物を低粗度とできる点や接着フィルムの溶融粘度を低下させることができる点からガラスフィラー及びリン酸ジルコニウム系フィラーから選択される1種以上を用いることが好ましい。ガラスフィラーとしては、チタンドープ型ガラスフィラーが好ましく、チタンドープ型球状ガラスフィラーがより好ましい。
<(C) Filler whose average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. is 300 ppb / ° C. or less>
As a method for measuring the average coefficient of linear thermal expansion between 30 ° C. and 150 ° C. of the filler, for example, it is measured by a known method such as a thermal dilatometer or X-ray diffraction method for detecting the elongation of the sample by a laser interferometer be able to.
“Filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less” is an inorganic filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less. Spherical inorganic fillers and crushed inorganic fillers having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less are more preferable, and average linear thermal expansion between 30 ° C. and 150 ° C. A spherical inorganic filler having a rate of 300 ppb / ° C. or less is more preferable. As specific examples, glass fillers, zirconium phosphate fillers, cordierite fillers, silicon oxide fillers, tungstic acids whose average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. is 300 ppb / ° C. or less. Zirconium type filler, manganese nitride type filler, etc. are mentioned. Especially, it is preferable to use 1 or more types selected from a glass filler and a zirconium-phosphate type filler from the point which can make hardened | cured material low roughness and can reduce the melt viscosity of an adhesive film. As the glass filler, a titanium-doped glass filler is preferable, and a titanium-doped spherical glass filler is more preferable.

上記チタンドープ型ガラスフィラーとしては、例えば、TiO−SiOガラスのガラス形成原料であるTiClとSiClを、それぞれガス化させた後に混合させ、酸水素火炎中で加熱加水分解(火炎加水分解)させることで得られるTiO−SiOガラス微粒子がある。かかるチタンドープ型ガラスフィラーとしては、国際公開第2010/134449号に記載されている方法によって製造することができ、市販品の例としては、旭硝子(株)製の「AZフィラー」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):0.2ppm/℃のチタンドープ型球状ガラスフィラー)が挙げられる。上記リン酸ジルコニウム系フィラーの市販品の例としては、共立マテリアル(株)製の「ZWP」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):−0.3ppm/℃)が挙げられる。上記破砕状ガラスフィラーの市販品の例としては、日本電気硝子(株)製の「DL7400」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):−1.1ppm/℃)が挙げられる。 As the titanium-doped glass filler, for example, TiCl 4 and SiCl 4 which are glass forming raw materials of TiO 2 —SiO 2 glass are gasified and mixed, and then heated and hydrolyzed (flame hydrolysis) in an oxyhydrogen flame. TiO 2 —SiO 2 glass fine particles obtained by decomposition). Such a titanium-doped glass filler can be produced by the method described in International Publication No. 2010/134449. Examples of commercially available products include “AZ filler” (linear thermal expansion) manufactured by Asahi Glass Co., Ltd. Rate (average value of 30 to 150 ° C.): 0.2 ppm / ° C. titanium-doped spherical glass filler). As an example of the commercial item of the said zirconium phosphate type filler, Kyoritsu Material Co., Ltd. "ZWP" (Linear thermal expansion coefficient (average value of 30-150 degreeC): -0.3 ppm / degreeC) is mentioned. As an example of a commercial product of the crushed glass filler, “DL7400” (linear thermal expansion coefficient (average value of 30 to 150 ° C.): −1.1 ppm / ° C.) manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd. can be mentioned.

(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーの平均粒径は、硬化物を低粗度とし微細配線形成を可能とする点や樹脂組成物の流動性を高めてラミネート性を向上させる観点から、0.01μm〜10μmの範囲が好ましく、0.05μm〜8μmの範囲がより好ましく、0.1μm〜5μmの範囲がさらに好ましく、0.2μm〜3μmの範囲がさらに一層好ましい。該フィラーの平均粒径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折散乱式粒度分布測定装置により、該フィラーの粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、該フィラーを超音波により水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折散乱式粒度分布測定装置としては、(株)堀場製作所製LA−500等を使用することができる。   (C) The average particle diameter of the filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less is that the cured product has a low roughness and fine wiring can be formed. From the viewpoint of improving the laminating property by improving the fluidity of the film, the range of 0.01 μm to 10 μm is preferable, the range of 0.05 μm to 8 μm is more preferable, the range of 0.1 μm to 5 μm is further preferable, and the range of 0.2 μm to The range of 3 μm is even more preferable. The average particle diameter of the filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the filler can be prepared on a volume basis with a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus, and the median diameter can be measured as the average particle diameter. A measurement sample in which the filler is dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, LA-500 manufactured by Horiba, Ltd. or the like can be used.

(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーの比重は、ワニスの分離防止、フィルム内の組成均一性の観点から、1g/cm〜7g/cmの範囲が好ましく、1g/cm〜5g/cmの範囲がより好ましく、1.5g/cm〜3g/cmの範囲がさらに好ましい。 (C) The specific gravity of the filler whose average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. is 300 ppb / ° C. or less is 1 g / cm 3 to 7 g from the viewpoint of preventing separation of varnish and uniformity of composition in the film. / range cm 3 are preferred, more preferably in the range of 1 g / cm 3 to 5 g / cm 3, a range of 1.5 g / cm 3 to 3 g / cm 3 is more preferred.

(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーの含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、硬化物の低熱膨張化の観点から、5体積%以上が好ましく、10体積%以上がより好ましく、15体積%以上が更に好ましい。また、樹脂組成物の流動性の観点から、80体積%以下が好ましく、70体積%以下がより好ましく、65体積%以下が更に好ましい。   (C) The content of filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less is low thermal expansion of the cured product when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by volume. From the viewpoint of conversion, it is preferably 5% by volume or more, more preferably 10% by volume or more, and further preferably 15% by volume or more. Further, from the viewpoint of the fluidity of the resin composition, it is preferably 80% by volume or less, more preferably 70% by volume or less, and still more preferably 65% by volume or less.

本発明の樹脂組成物においては、本発明の効果が発揮される範囲で、必要に応じて(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーとともにそれ以外のフィラーを含んでいてもよい。   In the resin composition of the present invention, within the range in which the effect of the present invention is exhibited, (C) an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. is 300 ppb / ° C. or less as necessary. Other fillers may be included.

30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラー以外のフィラーとしては、例えば、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃超の、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、及びジルコン酸カルシウム等が挙げられる。これらの中でも無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ等のシリカが特に好適である。またシリカとしては球状シリカが好ましい。フィラーは1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。市販されている球状溶融シリカとして、(株)アドマテックス製「SOC2」(30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率:0.5ppm/℃)、「SOC1」(30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率:0.5ppm/℃)が挙げられる。   Examples of fillers other than fillers having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less include, for example, an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. exceeding 300 ppb / ° C. Silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, titanate Examples include calcium, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, and calcium zirconate. Among these, silica such as amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica is particularly suitable. Moreover, spherical silica is preferable as the silica. A filler may be used individually by 1 type and may be used in combination of 2 or more type. As commercially available spherical fused silica, “SOC2” manufactured by Admatechs Co., Ltd. (average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C .: 0.5 ppm / ° C.), “SOC1” (30 ° C. to 150 ° C.) The average coefficient of linear thermal expansion up to 0 ° C .: 0.5 ppm / ° C.).

(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーと、該フィラー以外のフィラーの体積比は、例えば、100:0〜10:90であり、100:0〜20:80が好ましく、100:0〜30:70がより好ましい。   (C) The volume ratio of the filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less and the filler other than the filler is, for example, 100: 0 to 10:90, 100 : 0 to 20:80 is preferable, and 100: 0 to 30:70 is more preferable.

本発明の樹脂組成物中における、全フィラーの含有量(30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーとそれ以外のフィラーとの合計含有量)は、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、硬化物の低熱膨張化という観点から、40体積%以上であることが好ましく、50体積%以上であることがより好ましい。また、樹脂組成物のラミネート時の流動性という観点から、80体積%以下が好ましく、70体積%以下がより好ましく、65体積%以下が更に好ましい。   In the resin composition of the present invention, the content of all fillers (the total content of fillers having an average linear thermal expansion coefficient of 300 ppb / ° C. or less between 30 ° C. and 150 ° C. and other fillers) is as follows: When the non-volatile component in the resin composition is 100% by volume, it is preferably 40% by volume or more, and more preferably 50% by volume or more from the viewpoint of low thermal expansion of the cured product. Further, from the viewpoint of fluidity at the time of laminating the resin composition, it is preferably 80% by volume or less, more preferably 70% by volume or less, and still more preferably 65% by volume or less.

上記フィラーは、耐湿性、分散性を向上させるため、シランカップリング剤(エポキシシラン系カップリング剤、アミノシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤等)、チタネート系カップリング剤、シラザン化合物等の表面処理剤で表面処理してあるものが好ましい。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。   In order to improve moisture resistance and dispersibility, the above fillers are silane coupling agents (epoxysilane coupling agents, aminosilane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, etc.), titanate coupling agents, silazane compounds, etc. Those having been surface-treated with the above surface treatment agent are preferred. You may use these 1 type or in combination of 2 or more types.

エポキシシラン系カップリング剤としては、例えば、グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、グリシジルブチルトリメトキシシラン、(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等が挙げられ、アミノシラン系カップリング剤としては、例えば、アミノプロピルメトキシシラン、アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)アミノプロピルトリメトキシシラン等が挙げられ、メルカプトシラン系カップリング剤としては、例えば、メルカプトプロピルトリメトキシシラン、メルカプトプロピルトリエトキシシラン等が挙げられる。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。市販のカップリング剤としては、例えば、信越化学工業(株)製「KBM403」(3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBM803」(3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBE903」(3−アミノプロピルトリエトキシシラン)、信越化学工業(株)製「KBM573」(N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン)等が挙げられる。   Examples of the epoxysilane coupling agent include glycidoxypropyltrimethoxysilane, glycidoxypropyltriethoxysilane, glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, glycidylbutyltrimethoxysilane, and (3,4-epoxycyclohexyl). Examples of aminosilane coupling agents include aminopropylmethoxysilane, aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, and N- (2-aminoethyl). Examples thereof include aminopropyltrimethoxysilane, and examples of the mercaptosilane coupling agent include mercaptopropyltrimethoxysilane and mercaptopropyltriethoxysilane. You may use these 1 type or in combination of 2 or more types. Examples of commercially available coupling agents include “KBM403” (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and “KBM803” (3-mercaptopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. ), “KBE903” (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM573” (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and the like.

本発明の樹脂組成物には、さらに以下のその他の成分、例えば、熱可塑性樹脂、硬化促進剤及び難燃剤等の添加剤を含めることができる。   The resin composition of the present invention may further contain the following other components, for example, additives such as thermoplastic resins, curing accelerators and flame retardants.

−熱可塑性樹脂−
熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、及びポリスルホン樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。
-Thermoplastic resin-
Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyethersulfone resin, and polysulfone resin. A thermoplastic resin may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は8,000〜70,000の範囲が好ましく、10,000〜60,000の範囲がより好ましく、20,000〜60,000の範囲がさらに好ましい。熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法で測定される。具体的には、熱可塑性樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。   The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the thermoplastic resin is preferably in the range of 8,000 to 70,000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and still more preferably in the range of 20,000 to 60,000. The weight average molecular weight in terms of polystyrene of the thermoplastic resin is measured by a gel permeation chromatography (GPC) method. Specifically, the polystyrene-reduced weight average molecular weight of the thermoplastic resin is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K- manufactured by Showa Denko KK as a column. 804L / K-804L can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase, and can be calculated using a standard polystyrene calibration curve.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、及びトリメチルシクロヘキサン骨格からなる群から選択される1種以上の骨格を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。フェノキシ樹脂の末端は、フェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。フェノキシ樹脂は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。フェノキシ樹脂の具体例としては、三菱化学(株)製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂)、「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂)、及び「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂)が挙げられ、その他にも、東都化成(株)製の「FX280」及び「FX293」、三菱化学(株)製の「YL7553」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」及び「YL7482」等が挙げられる。   Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenolacetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantane skeleton, terpene Examples thereof include phenoxy resins having a skeleton and one or more skeletons selected from the group consisting of a trimethylcyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. A phenoxy resin may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together. Specific examples of the phenoxy resin include “1256” and “4250” (both bisphenol A skeleton-containing phenoxy resin), “YX8100” (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin), and “YX6954” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation). In addition, “FX280” and “FX293” manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., “YL7553”, “YL6794”, “YL7213” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, YL7290 "," YL7482 ", etc. are mentioned.

ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、電気化学工業(株)製の電化ブチラール4000−2、5000−A、6000−C、6000−EP、積水化学工業(株)製のエスレックBHシリーズ、BXシリーズ、KSシリーズ、BLシリーズ、BMシリーズ等が挙げられる。   Specific examples of the polyvinyl acetal resin include: Electric Butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd. KS series, BL series, BM series, etc. are mentioned.

ポリイミド樹脂の具体例としては、新日本理化(株)製の「リカコートSN20」及び「リカコートPN20」が挙げられる。ポリイミド樹脂の具体例としてはまた、2官能性ヒドロキシル基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を反応させて得られる線状ポリイミド(特開2006−37083号公報記載のもの)、ポリシロキサン骨格含有ポリイミド(特開2002−12667号公報及び特開2000−319386号公報等に記載のもの)等の変性ポリイミドが挙げられる。   Specific examples of the polyimide resin include “Rika Coat SN20” and “Rika Coat PN20” manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd. Specific examples of the polyimide resin include linear polyimide obtained by reacting a bifunctional hydroxyl group-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride (described in JP-A-2006-37083), a polysiloxane skeleton. Examples thereof include modified polyimides such as containing polyimide (described in JP-A No. 2002-12667 and JP-A No. 2000-319386).

ポリアミドイミド樹脂の具体例としては、東洋紡績(株)製の「バイロマックスHR11NN」及び「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。ポリアミドイミド樹脂の具体例としてはまた、日立化成工業(株)製のポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド「KS9100」、「KS9300」等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。   Specific examples of the polyamide-imide resin include “Bilomax HR11NN” and “Bilomax HR16NN” manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of the polyamideimide resin also include modified polyamideimides such as polysiloxane skeleton-containing polyamideimides “KS9100” and “KS9300” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

ポリエーテルスルホン樹脂の具体例としては、住友化学(株)製の「PES5003P」等が挙げられる。   Specific examples of the polyethersulfone resin include “PES5003P” manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.

ポリスルホン樹脂の具体例としては、ソルベイアドバンストポリマーズ(株)製のポリスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。   Specific examples of the polysulfone resin include polysulfone “P1700” and “P3500” manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.

樹脂組成物中の熱可塑性樹脂の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、0.1質量%〜20質量%であることが好ましく、0.5質量%〜10質量%であることがより好ましい。熱可塑性樹脂の含有量を斯かる範囲とすることにより、樹脂組成物の粘度が適度となり、厚みやバルク性状の均一な樹脂組成物を形成することができる。   The content of the thermoplastic resin in the resin composition is preferably 0.1% by mass to 20% by mass, and 0.5% by mass to 10% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. More preferably, it is mass%. By setting the content of the thermoplastic resin within such a range, the viscosity of the resin composition becomes appropriate, and a uniform resin composition having a thickness and a bulk property can be formed.

−硬化促進剤−
硬化促進剤としては、例えば、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、金属系硬化促進剤等が挙げられ、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤が好ましい。
-Curing accelerator-
Examples of the curing accelerator include phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, and the like. A hardening accelerator and a metal type hardening accelerator are preferable.

リン系硬化促進剤としては、例えば、トリフェニルホスフィン、ホスホニウムボレート化合物、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、n−ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩、(4−メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、ブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネート等が挙げられ、トリフェニルホスフィン、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩が好ましい。   Examples of phosphorus curing accelerators include triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenylphosphonium thiocyanate. , Tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate and the like, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.

アミン系硬化促進剤としては、例えば、トリエチルアミン、トリブチルアミンなどのトリアルキルアミン、4−ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−ウンデセン等が挙げられ、4−ジメチルアミノピリジン、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−ウンデセンが好ましい。   Examples of the amine curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) phenol, 1,8-diazabicyclo [ 5.4.0] -undecene and the like, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo [5.4.0] -undecene are preferable.

イミダゾール系硬化促進剤としては、例えば、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、2−メチルイミダゾリン、2−フェニルイミダゾリン等のイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられ、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾールが好ましい。   Examples of the imidazole curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl- 2 Phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-ethyl-4′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino- 6- [2′-Methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl- 4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl Examples include imidazole compounds such as -3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, and 2-phenylimidazoline, and adducts of imidazole compounds and epoxy resins, such as 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2- Phenylimidazole is preferred.

グアニジン系硬化促進剤としては、例えば、ジシアンジアミド、1−メチルグアニジン、1−エチルグアニジン、1−シクロヘキシルグアニジン、1−フェニルグアニジン、1−(o−トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、7−メチル−1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、1−メチルビグアニド、1−エチルビグアニド、1−n−ブチルビグアニド、1−n−オクタデシルビグアニド、1,1−ジメチルビグアニド、1,1−ジエチルビグアニド、1−シクロヘキシルビグアニド、1−アリルビグアニド、1−フェニルビグアニド、1−(o−トリル)ビグアニド等が挙げられ、ジシアンジアミド、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エンが好ましい。   Examples of the guanidine curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, trimethylguanidine, Tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] dec-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] Deca-5-ene, 1-methyl biguanide, 1-ethyl biguanide, 1-n-butyl biguanide, 1-n-octadecyl biguanide, 1,1-dimethyl biguanide, 1,1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1 -Allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, 1- ( - tolyl) biguanide, and the like, dicyandiamide, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] dec-5-ene are preferred.

金属系硬化促進剤としては、特に限定されるものではないが、例えば、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体などが挙げられる。有機金属塩としては、例えば、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛などが挙げられる。これらは1種又は2種以上組み合わせて使用してもよい。金属系硬化促進剤としては、有機コバルト錯体を用いることが好ましく、特に、コバルト(III)アセチルアセトナートを用いるのが好ましい。   Although it does not specifically limit as a metal type hardening accelerator, For example, the organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, tin, is mentioned. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Organic zinc complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate. These may be used alone or in combination of two or more. As the metal-based curing accelerator, an organic cobalt complex is preferably used, and in particular, cobalt (III) acetylacetonate is preferably used.

硬化促進剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。硬化促進剤の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、0.01質量%〜3質量%の範囲で使用することが好ましい。   A hardening accelerator may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more type. As for content of a hardening accelerator, when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass%, it is preferable to use in 0.01 mass%-3 mass%.

−難燃剤−
難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。難燃剤は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。難燃剤の含有量は特に限定はされないが、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、0.5質量%〜10質量%が好ましく、1質量%〜9質量%がより好ましく、1.5質量%〜8質量%がさらに好ましい。
-Flame retardant-
Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. A flame retardant may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together. Although content of a flame retardant is not specifically limited, When the non-volatile component in a resin composition is 100 mass%, 0.5 mass%-10 mass% are preferable, 1 mass%-9 mass% are more preferable, 1.5 mass%-8 mass% are further more preferable.

本発明の樹脂組成物は、上記成分を適宜混合し、また、必要に応じて三本ロール、ボールミル、ビーズミル、サンドミル等の混練手段、あるいはスーパーミキサー、プラネタリーミキサー等の撹拌手段により混練または撹拌することにより、樹脂ワニスとして製造することができる。   The resin composition of the present invention is appropriately mixed with the above components and, if necessary, kneaded or stirred by a kneading means such as a triple roll, ball mill, bead mill or sand mill, or a stirring means such as a super mixer or a planetary mixer. By doing so, it can be produced as a resin varnish.

本発明の樹脂組成物の用途は、特に限定されないが、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料、回路基板(積層板用途、多層プリント配線板用途等)、ソルダーレジスト、アンダーフィル材、ダイボンディング材、半導体封止材、穴埋め樹脂、部品埋め込み樹脂等、樹脂組成物が必要とされる用途の広範囲に使用できる。なかでも、本発明の樹脂組成物は、多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物として好適に使用することができ、メッキにより導体層を形成するための樹脂組成物(メッキにより導体層を形成する多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物)や多層プリント配線板のビルドアップ層形成用樹脂組成物としてより好適に使用することができる。本発明の樹脂組成物は、ワニス状態で回路基板に塗布して絶縁層を形成することもできるし、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料の形態で用いることもできる。   The use of the resin composition of the present invention is not particularly limited, but sheet-like laminated materials such as adhesive films and prepregs, circuit boards (for laminated boards, multilayer printed wiring boards, etc.), solder resists, underfill materials, die bonding It can be used in a wide range of applications where a resin composition is required, such as materials, semiconductor sealing materials, hole-filling resins, and component-filling resins. Among them, the resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board, and is a resin composition for forming a conductor layer by plating (a conductor layer is formed by plating). The resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board) or a resin composition for forming a buildup layer of a multilayer printed wiring board can be used more suitably. The resin composition of the present invention can be applied to a circuit board in a varnish state to form an insulating layer, or can be used in the form of a sheet-like laminated material such as an adhesive film or a prepreg.

<シート状積層材料>
(接着フィルム)
接着フィルムは、支持体上に樹脂組成物層が形成されたものである。該接着フィルムは、当業者に公知の方法、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーターなどを用いて、支持体に塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等により有機溶剤を乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。
<Sheet laminated material>
(Adhesive film)
The adhesive film is obtained by forming a resin composition layer on a support. The adhesive film is a method known to those skilled in the art, for example, preparing a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, and applying the resin varnish to a support using a die coater or the like, further heating, Or it can manufacture by drying an organic solvent by hot air spraying etc. and forming a resin composition layer.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド系溶媒等を挙げることができる。有機溶剤は2種以上を組みわせて用いてもよい。   Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, and carbitols such as cellosolve and butyl carbitol. And aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. Two or more organic solvents may be used in combination.

乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層における有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。ワニス中の有機溶剤量、有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30〜60質量%の有機溶剤を含むワニスを50〜150℃で3〜10分間程度乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。この樹脂組成物層は、Bステージフィルムと呼ばれることもあり、完全に硬化しておらず、硬化がさらに進行され得るものである。   The drying conditions are not particularly limited, but drying is performed so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Depending on the amount of organic solvent in the varnish and the boiling point of the organic solvent, for example, a resin composition layer is formed by drying a varnish containing 30 to 60% by mass of an organic solvent at 50 to 150 ° C. for about 3 to 10 minutes. can do. This resin composition layer is sometimes referred to as a B-stage film, and is not completely cured, so that the curing can further proceed.

この樹脂組成物層の100℃における溶融粘度は、ラミネート性や埋め込み性が良好な接着フィルムを得る観点から、35000poise以下であることが好ましく、20000poise以下であることがより好ましく、15000poise以下であることがさらに好ましく、10000poise以下であることがさらにより好ましく、絶縁層表面の凹凸差を抑制し、微細配線形成性を向上させるという観点から8000poise以下、7000poise以下、6000poise以下、又は5000poise以下であることが特に好ましい。また、ラミネート時の浸みだし防止の観点から、500poise以上が好ましく、1000poise以上がより好ましく、1500poise以上が更に好ましい。樹脂組成物層をラミネートする際は、通常100℃付近で行うことになるため、100℃における溶融粘度値により、接着フィルムのラミネート性を評価することが可能である。   The melt viscosity at 100 ° C. of this resin composition layer is preferably 35000 poise or less, more preferably 20000 poise or less, and more preferably 15000 poise or less from the viewpoint of obtaining an adhesive film having good laminating properties and embedding properties. Is more preferably 10000 poise or less, and further preferably 8000 poise or less, 7000 poise or less, 6000 poise or less, or 5000 poise or less from the viewpoint of suppressing unevenness on the surface of the insulating layer and improving fine wiring formability. Particularly preferred. Further, from the viewpoint of preventing bleeding at the time of lamination, 500 poise or more is preferable, 1000 poise or more is more preferable, and 1500 poise or more is more preferable. Since laminating the resin composition layer is usually performed at around 100 ° C., the laminating property of the adhesive film can be evaluated by the melt viscosity value at 100 ° C.

本発明の樹脂組成物層の100℃における溶融粘度は、動的粘弾性法により測定することができる。具体的には、樹脂量1g、直径18mmのパラレルプレートを使用し、開始温度60℃から200℃まで、昇温速度5℃/分、測定温度間隔2.5℃、振動1Hz/degの測定条件にて動的粘弾性測定を行うことにより、樹脂組成物層の100℃における溶融粘度を測定することができる。そのような動的粘弾性測定装置としては、例えば、(株)ユー・ビー・エム製型式Rheosol−G3000が挙げられる。   The melt viscosity at 100 ° C. of the resin composition layer of the present invention can be measured by a dynamic viscoelastic method. Specifically, a parallel plate having a resin amount of 1 g and a diameter of 18 mm is used, and the measurement conditions are a start temperature of 60 ° C. to 200 ° C., a temperature increase rate of 5 ° C./min, a measurement temperature interval of 2.5 ° C., and vibration of 1 Hz / deg By measuring the dynamic viscoelasticity at, the melt viscosity at 100 ° C. of the resin composition layer can be measured. Examples of such a dynamic viscoelasticity measuring apparatus include model Rhesol-G3000 manufactured by UBM Co., Ltd.

接着フィルムにおいて形成される樹脂組成物層の厚さは、導体層の厚さ以上とするのが好ましい。回路基板が有する導体層の厚さは通常5〜70μmの範囲であるので、樹脂組成物層は10〜100μmの厚さを有するのが好ましい。薄膜化の観点から、15〜80μmがより好ましく、20〜50μmが更に好ましい。   The thickness of the resin composition layer formed in the adhesive film is preferably equal to or greater than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the resin composition layer preferably has a thickness of 10 to 100 μm. From the viewpoint of thinning, 15 to 80 μm is more preferable, and 20 to 50 μm is still more preferable.

支持体としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィンのフィルム、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルのフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルムなどの各種プラスチックフィルムが挙げられる。また離型紙や銅箔、アルミニウム箔等の金属箔などを使用してもよい。中でも、汎用性の点から、プラスチックフィルムが好ましく、ポリエチレンテレフタレートフィルムがより好ましい。支持体及び後述する保護フィルムには、マッド処理、コロナ処理等の表面処理が施してあってもよい。また、シリコーン樹脂系離型剤、アルキッド樹脂系離型剤、フッ素樹脂系離型剤等の離型剤で離型処理が施してあってもよい。   Examples of the support include polyolefin films such as polyethylene, polypropylene, and polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyester films such as polyethylene naphthalate, polycarbonate films, and polyimide films. Various plastic films are listed. Moreover, you may use release foil, metal foil, such as copper foil and aluminum foil. Among these, from the viewpoint of versatility, a plastic film is preferable, and a polyethylene terephthalate film is more preferable. The support and a protective film described later may be subjected to surface treatment such as mud treatment or corona treatment. The release treatment may be performed with a release agent such as a silicone resin release agent, an alkyd resin release agent, or a fluororesin release agent.

支持体の厚さは特に限定されないが、取扱性が向上するという点で10μm以上が好ましく、20μm以上がより好ましく、30μm以上が更に好ましい。また、コストパフォーマンス向上や支持体上から穴あけを行う場合に効率的な穴あけを行うことができるという観点から、150μm以下が好ましく、100μm以下がより好ましく、50μm以下が更に好ましい。   The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably 10 μm or more, more preferably 20 μm or more, and even more preferably 30 μm or more in terms of improved handling properties. Further, from the viewpoint of improving cost performance and enabling efficient drilling when drilling from the support, it is preferably 150 μm or less, more preferably 100 μm or less, and even more preferably 50 μm or less.

樹脂組成物層の支持体が密着している面の反対側の面には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。この場合、接着フィルムは、支持体と、該支持体の上に形成された樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の上に形成された保護フィルムとを含む。保護フィルムの厚さは、特に限定されるものではないが、例えば、1〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。接着フィルムは、ロール状に巻きとって貯蔵することもできる。   A protective film according to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer opposite to the surface to which the support is in close contact. In this case, the adhesive film includes a support, a resin composition layer formed on the support, and a protective film formed on the resin composition layer. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, it is 1-40 micrometers. By laminating the protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches. The adhesive film can also be stored in a roll.

(プリプレグ)
プリプレグは、本発明の樹脂組成物をシート状補強基材にホットメルト法又はソルベント法により含浸させ、加熱して半硬化させることにより製造することができる。すなわち、本発明の樹脂組成物がシート状補強基材に含浸した状態となるプリプレグとすることができる。シート状補強基材としては、例えば、ガラスクロスやアラミド繊維等のプリプレグ用繊維として常用されている繊維からなるものを用いることができる。そして支持体上にプリプレグが形成されたものが好適である。
(Prepreg)
The prepreg can be produced by impregnating the resin composition of the present invention into a sheet-like reinforcing base material by a hot melt method or a solvent method, and heating and semi-curing it. That is, it can be set as the prepreg which will be in the state which impregnated the sheet-like reinforcement base material with the resin composition of this invention. As a sheet-like reinforcement base material, what consists of a fiber currently used as prepreg fibers, such as glass cloth and an aramid fiber, can be used, for example. And what formed the prepreg on the support body is suitable.

ホットメルト法は、樹脂組成物を有機溶剤に溶解することなく、支持体上に一旦コーティングし、それをシート状補強基材にラミネートする、あるいはダイコーターによりシート状補強基材に直接塗工するなどして、プリプレグを製造する方法である。またソルベント法は、接着フィルムと同様にして樹脂を有機溶剤に溶解して樹脂ワニスを調製し、このワニスにシート状補強基材を浸漬し、樹脂ワニスをシート状補強基材に含浸させ、その後乾燥させる方法である。また、接着フィルムをシート状補強基材の両面から加熱、加圧条件下、連続的に熱ラミネートすることで調製することもできる。支持体や保護フィルム等
も接着フィルムと同様に用いることができる。
In the hot melt method, the resin composition is once coated on a support without being dissolved in an organic solvent, and then laminated on a sheet-like reinforcing substrate, or directly applied to a sheet-like reinforcing substrate by a die coater. Thus, a prepreg is manufactured. In the solvent method, a resin varnish is prepared by dissolving a resin in an organic solvent in the same manner as the adhesive film, and a sheet-like reinforcing base material is immersed in the varnish, and then the resin-like varnish is impregnated into the sheet-like reinforcing base material. It is a method of drying. Alternatively, the adhesive film can be prepared by continuously laminating the adhesive film from both sides of the sheet-like reinforcing substrate under heating and pressure conditions. A support, a protective film, and the like can be used in the same manner as the adhesive film.

<シート状積層材料を用いた多層プリント配線板>
次に、上記のようにして製造したシート状積層材料を用いて多層プリント配線板を製造する方法の一例を説明する。
<Multilayer printed wiring board using sheet-like laminated material>
Next, an example of a method for producing a multilayer printed wiring board using the sheet-like laminated material produced as described above will be described.

まず、シート状積層材料を、真空ラミネーターを用いて回路基板の片面又は両面にラミネート(積層)する。回路基板に用いられる基板としては、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が挙げられる。なお、ここで回路基板とは、上記のような基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成されたものをいう。また導体層と絶縁層とを交互に積層してなる多層プリント配線板において、該多層プリント配線板の最外層の片面又は両面がパターン加工された導体層(回路)となっているものも、ここでいう回路基板に含まれる。なお導体層表面には、黒化処理、銅エッチング等により予め粗化処理が施されていてもよい。   First, a sheet-like laminated material is laminated (laminated) on one side or both sides of a circuit board using a vacuum laminator. Examples of the substrate used for the circuit substrate include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, and the like. In addition, a circuit board means here that the conductor layer (circuit) patterned was formed in the one or both surfaces of the above boards. Also, in a multilayer printed wiring board in which conductor layers and insulating layers are alternately laminated, one of the outermost layers of the multilayer printed wiring board is a conductor layer (circuit) in which one or both sides are patterned. It is included in the circuit board. The surface of the conductor layer may be previously roughened by blackening, copper etching, or the like.

シート状積層材料が保護フィルムを有している場合には、該保護フィルムを除去した後、必要に応じてシート状積層材料及び回路基板をプレヒートし、シート状積層材料を加圧及び加熱しながら回路基板にラミネートする。好適な一実施形態では、真空ラミネート法により減圧下で、シート状積層材料を、回路基板にラミネートする。ラミネートの条件は、特に限定されるものではないが、例えば、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70〜140℃、圧着圧力(ラミネート圧力)を好ましくは1〜11kgf/cm(9.8×10〜107.9×10N/m)とし、圧着時間(ラミネート時間)を好ましくは5〜180秒間とし、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートするのが好ましい。また、ラミネートの方法は、バッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。真空ラミネートは、市販の真空ラミネーターを使用して行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン(株)製バキュームアップリケーター、(株)名機製作所製真空加圧式ラミネーター、(株)日立インダストリイズ製ロール式ドライコータ、日立エーアイーシー(株)製真空ラミネーター等を挙げることができる。 When the sheet-like laminated material has a protective film, after removing the protective film, the sheet-like laminated material and the circuit board are preheated as necessary, while pressing and heating the sheet-like laminated material. Laminate to circuit board. In a preferred embodiment, the sheet-like laminated material is laminated to a circuit board under reduced pressure by a vacuum laminating method. Lamination conditions are not particularly limited. For example, the pressure bonding temperature (laminating temperature) is preferably 70 to 140 ° C., and the pressure bonding pressure (laminating pressure) is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107.9 × 10 4 N / m 2 ), the pressure bonding time (laminating time) is preferably 5 to 180 seconds, and the lamination is preferably performed under reduced pressure with an air pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less. The laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll. The vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum applicator manufactured by Nichigo-Morton Co., Ltd., a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., a roll dry coater manufactured by Hitachi Industries, Ltd., and Hitachi AIC Co., Ltd. ) Made vacuum laminator and the like.

シート状積層材料を回路基板にラミネートした後、室温付近に冷却してから、支持体を剥離する場合は剥離し、樹脂組成物を熱硬化して硬化物を形成する。これにより、回路基板上に絶縁層を形成することができる。熱硬化の条件は、樹脂組成物中の樹脂成分の種類、含有量などに応じて適宜選択すればよいが、好ましくは150℃〜220℃で20〜180分間、より好ましくは160℃〜210℃で30〜120分間の範囲で選択される。絶縁層を形成した後、硬化前に支持体を剥離しなかった場合は、必要によりここで剥離することもできる。   After laminating the sheet-like laminated material on the circuit board, it is cooled to around room temperature and then peeled off when the support is peeled off, and the resin composition is thermoset to form a cured product. Thereby, an insulating layer can be formed on the circuit board. The thermosetting conditions may be appropriately selected according to the type and content of the resin component in the resin composition, but preferably 150 ° C. to 220 ° C. for 20 to 180 minutes, more preferably 160 ° C. to 210 ° C. In the range of 30 to 120 minutes. After forming the insulating layer, if the support is not peeled off before curing, it can be peeled off if necessary.

また、シート状積層材料を、真空プレス機を用いて回路基板の片面又は両面に積層することもできる。減圧下、加熱及び加圧を行う積層工程は、一般の真空ホットプレス機を用いて行うことが可能である。例えば、加熱されたSUS板等の金属板を支持体層側からプレスすることにより行うことができる。プレス条件は、減圧度を通常1×10−2MPa以下、好ましくは1×10−3MPa以下の減圧下とする。加熱及び加圧は、1段階で行うこともできるが、樹脂のしみだしを制御する観点から2段階以上に条件を分けて行うのが好ましい。例えば、1段階目のプレスを、温度が70〜150℃、圧力が1〜15kgf/cmの範囲で行い、2段階目のプレスを、温度が150〜200℃、圧力が1〜40kgf/cmの範囲で行うのが好ましい。各段階の時間は30〜120分で行うのが好ましい。このように樹脂組成物層を熱硬化することにより回路基板上に絶縁層を形成することができる。市販されている真空ホットプレス機としては、例えば、MNPC−V−750−5−200((株)名機製作所製)、VH1−1603(北川精機(株)製)等が挙げられる。 Moreover, a sheet-like laminated material can also be laminated | stacked on the single side | surface or both surfaces of a circuit board using a vacuum press machine. The lamination process for heating and pressurizing under reduced pressure can be performed using a general vacuum hot press machine. For example, it can be performed by pressing a metal plate such as a heated SUS plate from the support layer side. The pressing condition is that the degree of vacuum is usually 1 × 10 −2 MPa or less, preferably 1 × 10 −3 MPa or less. Although heating and pressurization can be carried out in one stage, it is preferable to carry out the conditions separately in two or more stages from the viewpoint of controlling the bleeding of the resin. For example, the first stage press is performed at a temperature of 70 to 150 ° C. and the pressure is within a range of 1 to 15 kgf / cm 2. The second stage press is performed at a temperature of 150 to 200 ° C. and a pressure of 1 to 40 kgf / cm 2. It is preferable to carry out in the range of 2 . The time for each stage is preferably 30 to 120 minutes. Thus, an insulating layer can be formed on a circuit board by thermosetting the resin composition layer. Examples of commercially available vacuum hot press machines include MNPC-V-750-5-200 (manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd.), VH1-1603 (manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.), and the like.

本発明の樹脂組成物では、その硬化物の25℃から150℃までの平均線熱膨張率は20ppm以下であることが好ましく、17ppm以下であることが好ましく、14ppm以下であることが更に好ましい。下限値に制限はないが、一般的に4ppm以上となる。線熱膨張率は、(株)リガク製熱機械分析装置(Thermo Plus TMA8310)を使用して、引張加重法で熱機械分析を行うことで測定することができる。   In the resin composition of the present invention, the average linear thermal expansion coefficient from 25 ° C. to 150 ° C. of the cured product is preferably 20 ppm or less, preferably 17 ppm or less, and more preferably 14 ppm or less. Although there is no restriction | limiting in a lower limit, generally it will be 4 ppm or more. The linear thermal expansion coefficient can be measured by performing thermomechanical analysis by a tensile load method using a thermomechanical analyzer manufactured by Rigaku Corporation (Thermo Plus TMA8310).

また、本発明のシート状積層材料を回路基板にラミネートし、熱硬化により硬化物を作成したときに、回路上の硬化物表面と、回路上以外の表面との凹凸差(アンジュレーション)は、3μm以下であることが好ましい。この凹凸差は非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて測定することができる。   Moreover, when the sheet-like laminated material of the present invention is laminated on a circuit board and a cured product is created by thermosetting, the unevenness difference (undulation) between the cured product surface on the circuit and the surface other than on the circuit is: It is preferable that it is 3 micrometers or less. This unevenness difference can be measured by using a non-contact type surface roughness meter (WYKO NT3300 manufactured by Becoins Instruments).

次いで、回路基板上に形成された絶縁層に穴あけ加工を行ってビアホール、スルーホールを形成する。穴あけ加工は、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等の公知の方法により、また必要によりこれらの方法を組み合わせて行うことができる。中でも、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーによる穴あけ加工が最も一般的な方法である。また、シート状積層材料を回路基板に積層し、樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成し、回路基板上に形成された絶縁層に支持体上から穴あけ加工してビアホールを形成することで多層プリント配線板を製造することが好ましく、穴あけ加工後に支持体を剥離することが好ましい。このように、支持体上から穴あけ加工してビアホールを形成することにより、スミアの発生を抑制することができる。また、多層プリント配線板の薄型化に対応するため、ビアホールのトップ径(直径)は15〜70μmが好ましく、20〜65μmがより好ましく、25〜60μmが更に好ましい。   Next, a hole is formed in the insulating layer formed on the circuit board to form a via hole and a through hole. The drilling can be performed by a known method such as drilling, laser, or plasma, or by combining these methods as necessary. Among these, drilling with a laser such as a carbon dioxide laser or a YAG laser is the most common method. Also, a sheet-like laminated material is laminated on a circuit board, the resin composition layer is thermally cured to form an insulating layer, and a via hole is formed by drilling the insulating layer formed on the circuit board from above the support. Thus, it is preferable to produce a multilayer printed wiring board, and it is preferable to peel the support after drilling. Thus, by forming a via hole by drilling from the support, it is possible to suppress the occurrence of smear. Further, in order to cope with the thinning of the multilayer printed wiring board, the top diameter (diameter) of the via hole is preferably 15 to 70 μm, more preferably 20 to 65 μm, and still more preferably 25 to 60 μm.

次いで、絶縁層表面の粗化処理を行う。乾式の粗化処理としてはプラズマ処理等が挙げられ、湿式の粗化処理としては膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理及び中和液による中和処理をこの順に行う方法が挙げられる。乾式、湿式のいずれの粗化処理を採用してもよいが、湿式の粗化処理の方が、絶縁層表面に凸凹のアンカーを形成しながら、ビアホール内のスミアを除去することができる点で好ましい。膨潤液による膨潤処理は、絶縁層を50〜80℃で5〜20分間(好ましくは55〜70℃で8〜15分間)、膨潤液に浸漬させることで行われる。膨潤液としてはアルカリ溶液、界面活性剤溶液等が挙げられ、好ましくはアルカリ溶液である。該アルカリ溶液としては、例えば、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液等が挙げられる。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP(Swelling Dip Securiganth P)、スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU(Swelling Dip Securiganth SBU)等を挙げることができる。酸化剤による粗化処理は、絶縁層を60〜80℃で10〜30分間(好ましくは70〜80℃で15〜25分間)、酸化剤溶液に浸漬させることで行われる。酸化剤としては、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等を挙げることができる。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5〜10重量%とするのが好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のコンセントレート・コンパクト CP、ドージングソリューション セキュリガンスP等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。中和液による中和処理は、絶縁層を30〜50℃で3〜10分間(好ましくは35〜45℃で3〜8分間)、中和液に浸漬させることで行われる。中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、アトテックジャパン(株)製のリダクションソリューシン・セキュリガントPが挙げられる。   Next, the surface of the insulating layer is roughened. Examples of the dry roughening treatment include plasma treatment, and examples of the wet roughening treatment include a method in which a swelling treatment with a swelling liquid, a roughening treatment with an oxidizing agent, and a neutralization treatment with a neutralizing solution are performed in this order. Either dry or wet roughening treatment may be adopted, but wet roughening treatment can remove smear in the via hole while forming uneven anchors on the insulating layer surface. preferable. The swelling treatment with the swelling liquid is performed by immersing the insulating layer in the swelling liquid at 50 to 80 ° C. for 5 to 20 minutes (preferably at 55 to 70 ° C. for 8 to 15 minutes). Examples of the swelling liquid include an alkaline solution and a surfactant solution, and an alkaline solution is preferable. Examples of the alkaline solution include sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution. Examples of commercially available swelling liquids include Swelling Dip Securigans P (Swelling Dip Securigans SBU) and Swelling Dip Securigans SBU manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. be able to. The roughening treatment with an oxidizing agent is performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution at 60 to 80 ° C. for 10 to 30 minutes (preferably at 70 to 80 ° C. for 15 to 25 minutes). Examples of the oxidizing agent include alkaline permanganate solution in which potassium permanganate and sodium permanganate are dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide, dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, nitric acid and the like. it can. The concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5 to 10% by weight. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as Concentrate Compact CP and Dosing Solution Securigans P manufactured by Atotech Japan. The neutralization treatment with the neutralizing solution is performed by immersing the insulating layer in the neutralizing solution at 30 to 50 ° C. for 3 to 10 minutes (preferably at 35 to 45 ° C. for 3 to 8 minutes). As the neutralizing solution, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercially available product, Reduction Solution / Secligant P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. may be mentioned.

本発明の硬化物の粗化処理後の硬化物表面のRa(算術平均粗さ)は、微細配線形成を可能とする点から、400nm以下であることが好ましく、300nm以下であることがさらに好ましく、200nm以下であることがさらにより好ましく、100nm以下であることが特に好ましい。下限値に制限はないが、一般的に20nm以上となる。硬化物表面の算術平均粗さ(Ra値)は、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。非接触型表面粗さ計の具体例としては、ビーコインスツルメンツ社製の「WYKO NT3300」が挙げられる。   The Ra (arithmetic mean roughness) of the cured product surface after the roughening treatment of the cured product of the present invention is preferably 400 nm or less, more preferably 300 nm or less from the viewpoint of enabling fine wiring formation. More preferably, it is 200 nm or less, and particularly preferably 100 nm or less. The lower limit is not limited, but is generally 20 nm or more. The arithmetic average roughness (Ra value) of the cured product surface can be measured using a non-contact type surface roughness meter. As a specific example of the non-contact type surface roughness meter, “WYKO NT3300” manufactured by Becoins Instruments is cited.

次いで、乾式メッキ又は湿式メッキにより絶縁層上に導体層を形成する。乾式メッキとしては、蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング等の公知の方法を使用することができる。湿式メッキとしては、無電解メッキと電解メッキとを組み合わせて導体層を形成する方法、導体層とは逆パターンのメッキレジストを形成し、無電解メッキのみで導体層を形成する方法、等が挙げられる。その後のパターン形成の方法として、例えば、当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディティブ法などを用いることができる。そして、上述の一連の工程を複数回繰り返すことで、ビルドアップ層を多段に積層した多層プリント配線板を製造することができる。   Next, a conductor layer is formed on the insulating layer by dry plating or wet plating. As the dry plating, a known method such as vapor deposition, sputtering, or ion plating can be used. Examples of wet plating include a method in which a conductive layer is formed by combining electroless plating and electrolytic plating, a method in which a plating resist having a pattern opposite to that of the conductive layer is formed, and a conductive layer is formed only by electroless plating. It is done. As a subsequent pattern formation method, for example, a subtractive method or a semi-additive method known to those skilled in the art can be used. And the multilayer printed wiring board which laminated | stacked the buildup layer in multiple stages can be manufactured by repeating the above-mentioned series of processes several times.

本発明の樹脂組成物を硬化した硬化物のメッキ導体層の引き剥がし強さは、0.4kgf/cm以上であることが好ましく、0.5kgf/cm以上であることがより好ましい。上限値に制限はないが、一般的に1.0kgf/cm以下となる。メッキ導体層の引き剥がし強さは、粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成し、該硬化物表面と該導体層とのメッキピール強度を測定する。引っ張り試験機としては、例えば、(株)TSE製の「AC−50C−SL」等が挙げられる。   The peel strength of the plated conductor layer of the cured product obtained by curing the resin composition of the present invention is preferably 0.4 kgf / cm or more, and more preferably 0.5 kgf / cm or more. Although there is no restriction | limiting in an upper limit, Generally it will be 1.0 kgf / cm or less. As for the peel strength of the plated conductor layer, a conductor layer is formed on the cured product surface after the roughening treatment by plating, and the plating peel strength between the cured product surface and the conductor layer is measured. Examples of the tensile tester include “AC-50C-SL” manufactured by TSE Corporation.

<半導体装置>
本発明の多層プリント配線板を用いることで半導体装置を製造することができる。本発明の多層プリント配線板の導通箇所に、半導体チップを実装することにより半導体装置を製造することができる。「導通箇所」とは、「多層プリント配線板における電気信号を伝える箇所」であって、その場所は表面であっても、埋め込まれた箇所であってもいずれでも構わない。また、半導体チップは半導体を材料とする電気回路素子であれば特に限定されない。
<Semiconductor device>
A semiconductor device can be manufactured by using the multilayer printed wiring board of the present invention. A semiconductor device can be manufactured by mounting a semiconductor chip in a conductive portion of the multilayer printed wiring board of the present invention. The “conduction location” is a “location where an electrical signal is transmitted in a multilayer printed wiring board”, and the location may be a surface or an embedded location. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

本発明の半導体装置を製造する際の半導体チップの実装方法は、半導体チップが有効に機能しさえすれば、特に限定されないが、具体的には、ワイヤボンディング実装方法、フリップチップ実装方法、バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法、異方性導電フィルム(ACF)による実装方法、非導電性フィルム(NCF)による実装方法、などが挙げられる。   The semiconductor chip mounting method for manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, and no bumps. Examples include a mounting method using a build-up layer (BBUL), a mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), and a mounting method using a non-conductive film (NCF).

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下の記載において、「部」及び「%」は、別途明示のない限り、それぞれ「質量部」及び「質量%」を意味する。   EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. In the following description, “parts” and “%” mean “parts by mass” and “% by mass”, respectively, unless otherwise specified.

<測定方法・評価方法>
まず各種測定方法・評価方法について説明する。
<Measurement method / Evaluation method>
First, various measurement methods and evaluation methods will be described.

<線熱膨張係数の評価>
実施例及び比較例で得られた接着フィルムを190℃で90分間加熱して樹脂組成物層を熱硬化させた。その硬化物を、幅約5mm、長さ約15mmの試験片に切断し、(株)リガク製熱機械分析装置(Thermo Plus TMA8310)を使用して、引張加重法で熱機械分析を行った。試験片を前記装置に装着後、荷重1g、昇温速度5℃/分の測定条件にて連続して2回測定した。2回目の測定においてガラス転移温度と、25℃から150℃までの平均線熱膨張率を算出した。
<Evaluation of linear thermal expansion coefficient>
The adhesive films obtained in Examples and Comparative Examples were heated at 190 ° C. for 90 minutes to heat cure the resin composition layer. The cured product was cut into a test piece having a width of about 5 mm and a length of about 15 mm, and thermomechanical analysis was performed by a tensile load method using a thermomechanical analyzer manufactured by Rigaku Corporation (Thermo Plus TMA8310). After mounting the test piece on the apparatus, the test piece was measured twice continuously under the measurement conditions of a load of 1 g and a heating rate of 5 ° C./min. In the second measurement, the glass transition temperature and the average linear thermal expansion coefficient from 25 ° C. to 150 ° C. were calculated.

<算術平均粗さ(Ra値)及びピール強度測定用サンプルの調製>
(1)内層回路基板の下地処理
内層回路を形成したガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔の厚さ18μm、基板厚み0.3mm、松下電工(株)製R5715ES)の両面をメック(株)製CZ8100にて1μmエッチングして銅表面の粗化処理を行った。
<Preparation of Sample for Measuring Average Roughness (Ra Value) and Peel Strength>
(1) Underlayer treatment of inner layer circuit board Both sides of a glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.3 mm, Matsushita Electric Works R5715ES) on which an inner layer circuit is formed The copper surface was roughened by etching 1 μm with CZ8100 manufactured by MEC.

(2)接着フィルムのラミネート
実施例及び比較例で作成した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP−500(名機(株)製)を用いて、内層回路基板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaで圧着することにより行った。
(2) Lamination of adhesive film The adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples were laminated on both surfaces of the inner circuit board using a batch type vacuum pressure laminator MVLP-500 (manufactured by Meiki Co., Ltd.). Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressure bonding for 30 seconds at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa.

(3)樹脂組成物の硬化
ラミネートされた接着フィルムを100℃、30分、さらに180℃、30分の硬化条件で樹脂組成物を硬化して絶縁層を形成した。その後PETフィルムを剥離した。
(3) Curing of Resin Composition The laminated adhesive film was cured at 100 ° C. for 30 minutes and further at 180 ° C. for 30 minutes to form an insulating layer. Thereafter, the PET film was peeled off.

(4)粗化処理
絶縁層を形成した内層回路基板を、膨潤液である、アトテックジャパン(株)製のジエチレングリコールモノブチルエーテル含有のスエリングディップ・セキュリガントPに60℃で10分間浸漬し、次に粗化液として、アトテックジャパン(株)製のコンセントレート・コンパクトP(KMnO:60g/L、NaOH:40g/Lの水溶液)に80℃で20分間浸漬、最後に中和液として、アトテックジャパン(株)製のリダクションソリューシン・セキュリガントPに40℃で5分間浸漬した。80℃で30分乾燥後、この粗化処理後の絶縁層表面について、算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)の測定を行った。
(4) Roughening treatment The inner layer circuit board on which the insulating layer has been formed is immersed in a swelling liquid, diethylene glycol monobutyl ether-containing swelling dip securigant P, which is a swelling liquid, at 60 ° C. for 10 minutes, and then As a roughening solution, it is immersed in an Atotech Japan Co., Ltd. Concentrate Compact P (KMnO 4 : 60 g / L, NaOH: 40 g / L aqueous solution) at 80 ° C. for 20 minutes, and finally as a neutralizing solution, Atotech Japan It was immersed for 5 minutes at 40 ° C. in Reduction Solucine Securigant P manufactured by Co., Ltd. After drying at 80 ° C. for 30 minutes, arithmetic surface roughness (Ra value) and root mean square roughness (Rq value) were measured on the surface of the insulating layer after the roughening treatment.

(5)セミアディティブ工法によるメッキ
絶縁層表面に回路を形成するために、内層回路基板を、PdClを含む無電解メッキ用溶液に40℃で5分間浸漬し、次に無電解銅メッキ液に25℃で20分間浸漬した。150℃にて30分間加熱してアニール処理を行った後に、エッチングレジストを形成し、エッチングによるパターン形成の後に、硫酸銅電解メッキを行い、25μmの厚さで導体層を形成した。次に、アニール処理を180℃にて30分間行った。この回路基板についてメッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定を行った。
(5) Plating by semi-additive method In order to form a circuit on the surface of the insulating layer, the inner layer circuit board is immersed in an electroless plating solution containing PdCl 2 at 40 ° C. for 5 minutes, and then in an electroless copper plating solution. It was immersed for 20 minutes at 25 ° C. After annealing at 150 ° C. for 30 minutes, an etching resist was formed. After pattern formation by etching, copper sulfate electrolytic plating was performed to form a conductor layer with a thickness of 25 μm. Next, annealing treatment was performed at 180 ° C. for 30 minutes. The circuit board was measured for peel strength (peel strength) of the plated conductor layer.

<粗化処理後の算術平均粗さ(Ra値)の測定>
非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして得られる数値によりRa値を求めた。そして、10点の平均値を求めることにより測定値とした。
<Measurement of arithmetic average roughness (Ra value) after roughening>
Using a non-contact type surface roughness meter (Veeco Instruments Inc. WYKO NT3300), VS I mode, was determined Ra values numerically obtained the measurement range by 50-fold the lens as 121μm × 92μm. And it was set as the measured value by calculating | requiring the average value of 10 points | pieces.

<メッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定>
回路基板の導体層に、幅10mm、長さ100mmの切込みをいれ、この一端を剥がしてつかみ具((株)ティー・エス・イー、オートコム型試験機 AC−50CSL)で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重(kgf/cm)を測定した。
<Measurement of peel strength (peel strength) of plated conductor layer>
Make a notch with a width of 10 mm and a length of 100 mm in the conductor layer of the circuit board, peel off one end, and hold it with a gripping tool (TSE Corp., Autocom type testing machine AC-50CSL). The load (kgf / cm) when 35 mm was peeled off in the vertical direction at a speed of 50 mm / min was measured.

<溶融粘度測定>
実施例及び比較例で作製した接着フィルムにおける樹脂組成物層の100℃の溶融粘度を測定した。(株)ユー・ビー・エム製型式Rheosol−G3000を使用して、樹脂量は1g、直径18mmのパラレルプレートを使用し、開始温度60℃から200℃まで、昇温速度5℃/分、測定温度間隔2.5℃、振動1Hz/degの測定条件にて溶融粘度を測定した。
<Melt viscosity measurement>
The melt viscosity at 100 ° C. of the resin composition layers in the adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples was measured. Using UBM Model Rheosol-G3000, using a parallel plate with a resin amount of 1 g and a diameter of 18 mm, starting temperature from 60 ° C. to 200 ° C., heating rate of 5 ° C./min, measurement The melt viscosity was measured under the measurement conditions of a temperature interval of 2.5 ° C. and a vibration of 1 Hz / deg.

<ラミネート性試験>
実施例及び比較例で作製した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP−500(名機(株)製)を用いて、導体厚35μmでL(ライン:配線幅)/S(スペース:間隔幅)=160/160μmの櫛歯状の導体パターン上にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaでプレスすることにより行った。ラミネートされた接着フィルムからPETフィルムを剥離し、100℃、30分、さらに180℃、30分の硬化条件で樹脂組成物を硬化して、絶縁層を形成した。絶縁層における導体上とそれ以外の部分の凹凸差(Rt:最大のpeak−to−valley)の値は非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIモード、10倍レンズにより測定範囲を1.2mm×0.91mmとして得られる数値により求めた。なお、ラミネート後に導体上とそれ以外の部分の凹凸差が3.0μm以下の場合を○、ラミネート後に導体上とそれ以外の部分の凹凸差が3.0μmより大きい場合を×と評価した。
<Lamination test>
The adhesive films produced in the examples and comparative examples were prepared using a batch-type vacuum pressure laminator MVLP-500 (manufactured by Meiki Co., Ltd.) with a conductor thickness of 35 μm and L (line: wiring width) / S (space: spacing). Lamination was performed on a comb-like conductor pattern having a width of 160/160 μm. Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressing at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. The PET film was peeled off from the laminated adhesive film, and the resin composition was cured under curing conditions of 100 ° C. for 30 minutes and further at 180 ° C. for 30 minutes to form an insulating layer. Unevenness difference of the conductor and on the other portions of the insulating layer: the value of (Rt largest peak-to-valley) is using a non-contact type surface roughness meter (Veeco Instruments Inc. WYKO NT3300), VS I M o And a numerical value obtained by setting the measurement range to 1.2 mm × 0.91 mm with a 10 × lens. The case where the unevenness difference between the conductor and the other part after lamination was 3.0 μm or less after lamination was evaluated as “◯”, and the case where the unevenness difference between the conductor and the other part after lamination was larger than 3.0 μm was evaluated as ×.

[実施例1]
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828US」)5部と、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(エポキシ当量291、日本化薬(株)製「NC3000H」)8部、ナフトール型エポキシ樹脂(エポキシ当量332、新日鉄住金化学(株)製「ESN−475V」)8部、フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX6954BH30」(重量平均分子量38000)をMEKとシクロヘキサノンの質量比が1:1の混合溶媒に溶解した不揮発分30質量%の樹脂溶液)8部とを、MEK8部、シクロヘキサノン8部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、活性エステル系硬化剤(活性基当量223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液、DIC(株)製「HPC8000−65T」)26部、硬化促進剤として1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール(四国化成工業(株)製「1B2PZ」)1部、球状シリカ(アドマテックス(株)製「SOC1」(ヘキサメチルジシラザン処理付、平均粒子径0.25μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製、「KBM573」)で表面処理したもの84部、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下の球状ガラスフィラー(旭硝子(株)製「AZフィラー」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):0.2ppm/℃のチタンドープ型球状ガラスフィラー、平均粒径0.2μm、比重2.2g/m)をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製「KBM573」)で表面処理したもの)36部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、ポリエチレンテレフタレート(厚さ38μm、以下「PET」と略称する。)上に、乾燥後の樹脂組成物の厚みが40μmとなるようにダイコーターにて塗布し、80〜120℃(平均100℃)で6分間乾燥した(残留溶媒量約2質量%)。次いで樹脂組成物層の表面に厚さ15μmのポリプロピレンフィルムを貼り合わせながらロール状に巻き取った。ロール状の接着フィルムを幅507mmにスリットし、これより507mm×336mmサイズのシート状の接着フィルムを得た。
[Example 1]
5 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 190, “jER828US” manufactured by Japan Epoxy Resins Co., Ltd.) and 8 parts biphenyl aralkyl type epoxy resin (epoxy equivalent 291; “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 8 parts of naphthol type epoxy resin (epoxy equivalent 332, “ESN-475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), phenoxy resin (“YX6954BH30” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) (weight average molecular weight 38000) mass of MEK and cyclohexanone 8 parts of a resin solution having a non-volatile content of 30% by mass dissolved in a mixed solvent with a ratio of 1: 1) was dissolved in 8 parts of MEK and 8 parts of cyclohexanone with stirring. Thereto, 26 parts of an active ester-based curing agent (active group equivalent 223, 65 mass% nonvolatile component toluene solution, “HPC8000-65T” manufactured by DIC Corporation), 1-benzyl-2-phenylimidazole ( Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. "1B2PZ") 1 part, spherical silica (Admatex Co., Ltd. "SOC1" (with hexamethyldisilazane treatment, average particle size 0.25μm, specific gravity 2.2g / m 3 )) Of which was surface-treated with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM573”), and the average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. was 300 ppb / Spherical glass filler at a temperature of ℃ or lower ("AZ filler" manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) 36 parts of a glass filler having an average particle size of 0.2 μm and a specific gravity of 2.2 g / m 3 ) treated with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)) The mixture was mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, it was coated on a polyethylene terephthalate (thickness 38 μm, hereinafter abbreviated as “PET”) with a die coater so that the thickness of the resin composition after drying was 40 μm, and the temperature was 80 to 120 ° C. (average 100 ) For 6 minutes (residual solvent amount of about 2% by mass). Subsequently, it wound up in roll shape, bonding a 15-micrometer-thick polypropylene film on the surface of a resin composition layer. The roll-like adhesive film was slit to a width of 507 mm, and a sheet-like adhesive film having a size of 507 mm × 336 mm was obtained therefrom.

[実施例2]
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828US」)5部と、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(エポキシ当量291、日本化薬(株)製「NC3000H」)8部、ナフトール型エポキシ樹脂(エポキシ当量332、新日鉄住金化学(株)製「ESN−475V」)8部、フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX6954BH30」(重量平均分子量38000)をMEKとシクロヘキサノンの質量比が1:1の混合溶媒に溶解した不揮発分30質量%の樹脂溶液)8部とを、MEK10部、シクロヘキサノン10部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、活性エステル系硬化剤(活性基当量223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液、DIC(株)製「HPC8000−65T」)26部、硬化促進剤として1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール(四国化成工業(株)製「1B2PZ」)1部、球状シリカ(アドマテックス(株)製「SOC1」(ヘキサメチルジシラザン処理付、平均粒子径0.25μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製、「KBM573」)で表面処理したもの84部、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のリン酸ジルコニウム系フィラー(共立マテリアル(株)製「ZWP」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):−0.3ppm/℃、平均粒径2.3μm、破砕状、比重3.8g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製、「KBM573」)で表面処理したもの62部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
[Example 2]
5 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 190, “jER828US” manufactured by Japan Epoxy Resins Co., Ltd.) and 8 parts biphenyl aralkyl type epoxy resin (epoxy equivalent 291; “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 8 parts of naphthol type epoxy resin (epoxy equivalent 332, “ESN-475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), phenoxy resin (“YX6954BH30” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) (weight average molecular weight 38000) mass of MEK and cyclohexanone 8 parts of a resin solution having a nonvolatile content of 30% by mass dissolved in a mixed solvent having a ratio of 1: 1) was dissolved in 10 parts of MEK and 10 parts of cyclohexanone with stirring. Thereto, 26 parts of an active ester-based curing agent (active group equivalent 223, 65 mass% nonvolatile component toluene solution, “HPC8000-65T” manufactured by DIC Corporation), 1-benzyl-2-phenylimidazole ( Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. "1B2PZ") 1 part, spherical silica (Admatex Co., Ltd. "SOC1" (with hexamethyldisilazane treatment, average particle size 0.25μm, specific gravity 2.2g / m 3 )) Of which was surface-treated with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM573”), and the average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. was 300 ppb / Zirconium phosphate filler (Kyoritsu Material Co., Ltd. “ZWP” (linear thermal expansion coefficient (average value of 30-150 ° C.)): −0.3 ppm / ° C., average Particle size 2.3 μm, crushed, specific gravity 3.8 g / m 3 )) surface treated with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 62 parts The mixture was mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

[実施例3]
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828US」)5部と、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(エポキシ当量291、日本化薬(株)製「NC3000H」)8部、ナフトール型エポキシ樹脂(エポキシ当量332、新日鉄住金化学(株)製「ESN−475V」)8部、フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX6954BH30」(重量平均分子量38000)をMEKとシクロヘキサノンの質量比が1:1の混合溶媒に溶解した不揮発分30質量%の樹脂溶液)8部とを、MEK10部、シクロヘキサノン10部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、活性エステル系硬化剤(活性基当量223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液、DIC(株)製「HPC8000−65T」)26部、硬化促進剤として1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール(四国化成工業(株)製「1B2PZ」)1部、球状シリカ(アドマテックス(株)製「SOC1」(ヘキサメチルジシラザン処理付、平均粒子径0.25μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製、「KBM573」)で表面処理したもの84部、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下の破砕状ガラスフィラー(日本電気硝子(株)製「DL7400」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):−1.1ppm/℃、平均粒径4.8μm、比重2.5g/m)をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製、「KBM573」)で表面処理したもの)41部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
[Example 3]
5 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 190, “jER828US” manufactured by Japan Epoxy Resins Co., Ltd.) and 8 parts biphenyl aralkyl type epoxy resin (epoxy equivalent 291; “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 8 parts of naphthol type epoxy resin (epoxy equivalent 332, “ESN-475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), phenoxy resin (“YX6954BH30” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) (weight average molecular weight 38000) mass of MEK and cyclohexanone 8 parts of a resin solution having a nonvolatile content of 30% by mass dissolved in a mixed solvent having a ratio of 1: 1) was dissolved in 10 parts of MEK and 10 parts of cyclohexanone with stirring. Thereto, 26 parts of an active ester-based curing agent (active group equivalent 223, 65 mass% nonvolatile component toluene solution, “HPC8000-65T” manufactured by DIC Corporation), 1-benzyl-2-phenylimidazole ( Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. "1B2PZ") 1 part, spherical silica (Admatex Co., Ltd. "SOC1" (with hexamethyldisilazane treatment, average particle size 0.25μm, specific gravity 2.2g / m 3 )) Of which was surface-treated with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM573”), and the average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. was 300 ppb / Crushed glass filler (° C or less “DL7400” (linear thermal expansion coefficient (average value of 30 to 150 ° C.): −1.1 ppm / ° C., average particle size) 4.8 μm, specific gravity 2.5 g / m 3 ) was mixed with 41 parts of N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM573”), and 41 parts were mixed. A resin varnish was prepared by uniformly dispersing with a mixer. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

[実施例4]
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828US」)10部と、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(エポキシ当量291、日本化薬(株)製「NC3000H」)18部、ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量144、DIC(株)製「EXA4032SS」)3部、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂(エポキシ当量162、DIC(株)製「HP−4700」)5部、フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX6954BH30」(重量平均分子量38000)をメチルエチルケトン(以下「MEK」と略称する。)とシクロヘキサノンの質量比が1:1の混合溶媒に溶解した不揮発分30質量%の樹脂溶液)18部とを、MEK12部、シクロヘキサノン12部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、ナフトールアラルキル系硬化剤(フェノール性水酸基当量215、新日鐵住金化学(株)製「SN485」)9部、フェノールノボラック系硬化剤(フェノール性水酸基当量120、DIC(株)製「LA7052」の固形分60%のMEK溶液)15部、硬化促進剤として4−ジメチルアミノピリジン0.2部、球状シリカ(アドマテックス(株)製「SOC1」(ヘキサメチルジシラザン処理付、平均粒子径0.25μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製、「KBM573」)で表面処理したもの119部、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下の球状ガラスフィラー(旭硝子(株)製「AZフィラー」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):0.2ppm/℃のチタンドープ型球状ガラスフィラー、平均粒径0.2μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製「KBM573」)で表面処理したもの51部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
[Example 4]
10 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 190, “jER828US” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) and 18 parts of biphenyl aralkyl type epoxy resin (epoxy equivalent 291; “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 3 parts of naphthalene type epoxy resin (epoxy equivalent 144, “EXA4032SS” manufactured by DIC Corporation), 5 parts of naphthalene type tetrafunctional epoxy resin (epoxy equivalent 162, “HP-4700” manufactured by DIC Corporation), phenoxy resin (Japan) Epoxy resin "YX6954BH30" (weight average molecular weight 38000) resin solution having a nonvolatile content of 30% by mass dissolved in a mixed solvent of methyl ethyl ketone (hereinafter abbreviated as "MEK") and cyclohexanone in a mass ratio of 1: 1. ) 18 parts, MEK 12 parts, cyclohe It was dissolved by heating with stirring Sanon 12 parts. There, 9 parts of naphthol aralkyl-based curing agent (phenolic hydroxyl group equivalent 215, “SN485” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), phenol novolac-based curing agent (phenolic hydroxyl group equivalent 120, manufactured by DIC Corporation “LA7052” 15 parts of MEK solution with a solid content of 60%), 0.2 part of 4-dimethylaminopyridine as a curing accelerator, spherical silica ("SOC1" manufactured by Admatechs Co., Ltd., with hexamethyldisilazane treatment, average particle size) 0.25 μm, specific gravity 2.2 g / m 3 )) surface-treated with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM573”) 119 parts, 30 ° C. to 150 ° C. Spherical glass filler having an average linear thermal expansion coefficient of up to 300 ppb / ° C. (“AZ filler” manufactured by Asahi Glass Co., Ltd. (linear thermal expansion coefficient (3 0-150 ° C. average value): 0.2 ppm / ° C. titanium-doped spherical glass filler, average particle size 0.2 μm, specific gravity 2.2 g / m 3 )) with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane A resin varnish was prepared by mixing 51 parts of the surface treated with (KBM573 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and uniformly dispersing with a high-speed rotary mixer. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

[実施例5]
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828US」)6部と、ナフトール型エポキシ樹脂(エポキシ当量332、新日鉄住金化学(株)製「ESN−475V」)16部、ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量144、DIC(株)製「EXA4032SS」)9部、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂(エポキシ当量266、DIC(株)製「EXA7311」)6部、フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX6954BH30」(重量平均分子量38000)をMEKとシクロヘキサノンの質量比が1:1の混合溶媒に溶解した不揮発分30質量%の樹脂溶液)5部とを、MEK15部、シクロヘキサノン15部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(シアネート当量235、不揮発成分75質量%のMEK溶液、ロンザジャパン(株)「BA230S75」)20部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(シアネート当量124、不揮発成分80質量%のMEK溶液、ロンザジャパン(株)製「PT30」)8部、活性エステル系硬化剤(活性基当量223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液、DIC(株)製「HPC8000−65T」)12部、硬化促進剤として4−ジメチルアミノピリジン0.02部、コバルト(III)アセチルアセトナート(東京化成(株)製)の1質量%のMEK溶液4部、球状シリカ(アドマテックス(株)製「SOC1」(ヘキサメチルジシラザン処理付、平均粒子径0.25μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製、「KBM573」で表面処理したもの)140部、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下の球状ガラスフィラー(旭硝子(株)製「AZフィラー」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):0.2ppm/℃のチタンドープ型球状ガラスフィラー、平均粒径0.2μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製「KBM573」)で表面処理したもの60部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
[Example 5]
6 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 190, “jER828US” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) and 16 parts of naphthol type epoxy resin (epoxy equivalent 332, “ESN-475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) , 9 parts of naphthalene type epoxy resin (epoxy equivalent 144, “EXA4032SS” manufactured by DIC Corporation), 6 parts of naphthylene ether type epoxy resin (epoxy equivalent 266, “EXA7311” manufactured by DIC Corporation), phenoxy resin (Japan Epoxy) Resin Co., Ltd. “YX6954BH30” (weight average molecular weight 38000) (resin solution having a nonvolatile content of 30% by mass in a mixed solvent having a mass ratio of MEK and cyclohexanone of 1: 1) 5 parts, MEK 15 parts, cyclohexanone 15 The mixture was heated and dissolved with stirring. There, 20 parts of a prepolymer of bisphenol A dicyanate (cyanate equivalent 235, MEK solution with 75% by mass of nonvolatile components, Lonza Japan Co., Ltd. “BA230S75”), phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin (cyanate equivalent 124, nonvolatile components) 80 parts by mass of MEK solution, 8 parts of Lonza Japan Co., Ltd. “PT30”, active ester curing agent (active group equivalent 223, non-volatile component 65% by mass of toluene solution, DIC Corporation “HPC8000-65T” ) 12 parts, 0.02 part of 4-dimethylaminopyridine as a curing accelerator, 4 parts of a 1% by weight MEK solution of cobalt (III) acetylacetonate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), spherical silica (Admatex Co., Ltd.) "SOC1" (with hexamethyldisilazane treatment, average particle size 0. 5 [mu] m, a specific gravity 2.2 g / m 3)) of N- phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., subjected to a surface treatment with "KBM573") 140 parts, from 30 ° C. to 0.99 ° C. Spherical glass filler having an average linear thermal expansion coefficient of 300 ppb / ° C. or less (“AZ filler” manufactured by Asahi Glass Co., Ltd. (linear thermal expansion coefficient (average value of 30 to 150 ° C.): 0.2 ppm / ° C. titanium dope) Type spherical glass filler, average particle size 0.2 μm, specific gravity 2.2 g / m 3 )) surface-treated with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 60 The parts were mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

[実施例6]
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828US」)5部と、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(エポキシ当量291、日本化薬(株)製「NC3000H」)8部、ナフトール型エポキシ樹脂(エポキシ当量332、新日鉄住金化学(株)製「ESN−475V」)8部、フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX6954BH30」(重量平均分子量38000)をMEKとシクロヘキサノンの質量比が1:1の混合溶媒に溶解した不揮発分30質量%の樹脂溶液)8部とを、MEK8部、シクロヘキサノン8部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、活性エステル系硬化剤(活性基当量223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液、DIC(株)製「HPC8000−65T」)26部、硬化促進剤として1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール(四国化成工業(株)製「1B2PZ」)1部、30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下の球状ガラスフィラー(旭硝子(株)製「AZフィラー」(線熱膨張率(30−150℃の平均値):0.2ppm/℃のチタンドープ型球状ガラスフィラー、平均粒径0.2μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製「KBM573」)で表面処理したもの105部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
[Example 6]
5 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 190, “jER828US” manufactured by Japan Epoxy Resins Co., Ltd.) and 8 parts biphenyl aralkyl type epoxy resin (epoxy equivalent 291; “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 8 parts of naphthol type epoxy resin (epoxy equivalent 332, “ESN-475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), phenoxy resin (“YX6954BH30” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) (weight average molecular weight 38000) mass of MEK and cyclohexanone 8 parts of a resin solution having a non-volatile content of 30% by mass dissolved in a mixed solvent with a ratio of 1: 1) was dissolved in 8 parts of MEK and 8 parts of cyclohexanone with stirring. Thereto, 26 parts of an active ester-based curing agent (active group equivalent 223, 65 mass% nonvolatile component toluene solution, “HPC8000-65T” manufactured by DIC Corporation), 1-benzyl-2-phenylimidazole ( 1 part of Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. “1B2PZ”), spherical glass filler having an average linear thermal expansion coefficient between 300 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less (“AZ filler” manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) Coefficient of thermal expansion (average value of 30-150 ° C.): 0.2 ppm / ° C. titanium-doped spherical glass filler, average particle size of 0.2 μm, specific gravity of 2.2 g / m 3 )) 105 parts of a surface treated with propyltrimethoxysilane (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) were mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

[比較例1]
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、ジャパンエポキシレジン(株)製「jER828US」)5部と、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(エポキシ当量291、日本化薬(株)製「NC3000H」)8部、ナフトール型エポキシ樹脂(エポキシ当量332、新日鉄住金化学(株)製「ESN−475V」)8部、フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「YX6954BH30」(重量平均分子量38000)をMEKとシクロヘキサノンの質量比が1:1の混合溶媒に溶解した不揮発分30質量%の樹脂溶液)8部とをMEK12部、シクロヘキサノン12部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、活性エステル系硬化剤(活性基当量223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液、DIC(株)製「HPC8000−65T」)26部、硬化促進剤として1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール(四国化成工業(株)製「1B2PZ」)1部、球状シリカ(アドマテックス(株)製「SOC1」(ヘキサメチルジシラザン処理付、平均粒子径0.25μm、比重2.2g/m))をN−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(信越化学(株)製、「KBM573」で表面処理したもの150部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
[Comparative Example 1]
5 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 190, “jER828US” manufactured by Japan Epoxy Resins Co., Ltd.) and 8 parts biphenyl aralkyl type epoxy resin (epoxy equivalent 291; “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 8 parts of naphthol type epoxy resin (epoxy equivalent 332, “ESN-475V” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), phenoxy resin (“YX6954BH30” manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.) (weight average molecular weight 38000) mass of MEK and cyclohexanone 8 parts of a resin solution having a nonvolatile content of 30% by mass dissolved in a mixed solvent with a ratio of 1: 1) was dissolved in 12 parts of MEK and 12 parts of cyclohexanone with stirring. Thereto, 26 parts of an active ester-based curing agent (active group equivalent 223, 65 mass% nonvolatile component toluene solution, “HPC8000-65T” manufactured by DIC Corporation), 1-benzyl-2-phenylimidazole ( Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. "1B2PZ") 1 part, spherical silica (Admatex Co., Ltd. "SOC1" (with hexamethyldisilazane treatment, average particle size 0.25μm, specific gravity 2.2g / m 3 )) Was mixed with N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., “KBM573”, 150 parts) and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

Figure 0006582366
Figure 0006582366

この結果から明らかなように、本発明の樹脂組成物は、低線熱膨張率、低粗度でありながらピール強度が高い硬化物、更には優れたラミネート性を有するシート状積層材料をもたらす樹脂組成物を提供できる。   As is apparent from the results, the resin composition of the present invention is a resin that provides a cured product having a low linear thermal expansion coefficient, a low roughness and a high peel strength, and a sheet-like laminated material having excellent laminating properties. A composition can be provided.

Claims (20)

(A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーを含む樹脂組成物であって
(C)成分の平均粒径が0.1〜5μmであり、
シート状補強基材を含まずに硬化させることで得られる該樹脂組成物の硬化物の25℃から150℃までの平均線熱膨張率が20ppm以下である、樹脂組成物(但し、窒化ホウ素を含む樹脂組成物を除く。)。
(A) an epoxy resin, (B) a curing agent, a (C) including a resin composition linear thermal expansion coefficient of the average of 300 ppb / ° C. or less of the filler of between 30 ° C. to 0.99 ° C.,
(C) the average particle size of component Ri 0.1~5μm der,
The average linear thermal expansion coefficient of from 25 ° C. of the cured product of the resin composition obtained by curing without the sheet-like reinforcing substrate to 0.99 ° C. is Ru der less 20 ppm, the resin composition (however, boron nitride Except the resin composition containing).
樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーを5〜80体積%含む、請求項1記載の樹脂組成物。   When the non-volatile component in the resin composition is 100% by volume, (C) 5 to 80% by volume of a filler having an average linear thermal expansion coefficient between 30 ° C. and 150 ° C. of 300 ppb / ° C. or less is included. 1. The resin composition according to 1. (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーの平均粒径が0.2〜3μmである、請求項1又は2記載の樹脂組成物。   (C) The resin composition of Claim 1 or 2 whose average particle diameter of the average linear thermal expansion coefficient between 30 degreeC and 150 degreeC is 300-3 ppb / degrees C or less is 0.2-3 micrometers. (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーの比重が1〜7g/cmである、請求項1〜3のいずれか1項記載の樹脂組成物。 (C) Resin of any one of Claims 1-3 whose specific gravity of the average linear thermal expansion coefficient between 30 to 150 degreeC is 300 ppb / degrees C or less, and whose specific gravity is 1-7 g / cm < 3 >. Composition. (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが球状無機フィラー又は破砕状無機フィラーである、請求項1〜4のいずれか1項記載の樹脂組成物。   (C) Resin of any one of Claims 1-4 whose filler whose average coefficient of linear thermal expansion between 30 degreeC and 150 degreeC is 300 ppb / degrees C or less is a spherical inorganic filler or a crushed inorganic filler. Composition. (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが、ガラスフィラー及びリン酸ジルコニウム系フィラーから選択される1種以上である、請求項1〜5のいずれか1項記載の樹脂組成物。   (C) The filler whose average linear thermal expansion coefficient between 30 degreeC and 150 degreeC is 300 ppb / degrees C or less is 1 or more types selected from a glass filler and a zirconium phosphate type filler. The resin composition of any one of these. (C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが、チタンドープ型ガラスフィラーである、請求項1〜6のいずれか1項記載の樹脂組成物。   (C) Resin composition of any one of Claims 1-6 whose filler whose average linear thermal expansion coefficient between 30 degreeC and 150 degreeC is 300 ppb / degrees C or less is a titanium dope type glass filler. . (B)硬化剤が活性エステル系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤から選択される1種以上である、請求項1〜7のいずれか1項記載の樹脂組成物。   (B) The resin according to any one of claims 1 to 7, wherein the curing agent is at least one selected from an active ester curing agent, a cyanate ester curing agent, a phenol curing agent, and a naphthol curing agent. Composition. (A)エポキシ樹脂が、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、又はそれらの2種以上の混合物であり、
(B)硬化剤が、活性エステル系硬化剤であり、
(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが、チタンドープ型ガラスフィラーである、請求項1〜8のいずれか1項記載の樹脂組成物。
(A) The epoxy resin is a bisphenol A type epoxy resin, a biphenyl aralkyl type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin, or a mixture of two or more thereof.
(B) The curing agent is an active ester curing agent,
(C) The resin composition of any one of Claims 1-8 whose filler whose average linear thermal expansion coefficient between 30 degreeC and 150 degreeC is 300 ppb / degrees C or less is a titanium dope type glass filler. .
樹脂組成物の硬化物における、粗化処理後の硬化物表面のRaが400nm以下であり、かつ
該樹脂組成物の硬化物を形成し、該硬化物の粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成し、該硬化物表面と該導体層とのメッキピール強度が0.4kgf/cm以上である、請求項1〜9のいずれか1項記載の樹脂組成物。
In the cured product of the resin composition, Ra on the surface of the cured product after the roughening treatment is 400 nm or less, and a cured product of the resin composition is formed, on the surface of the cured product after the roughening treatment of the cured product. The resin composition according to any one of claims 1 to 9, wherein a conductor layer is formed by plating, and a plating peel strength between the cured product surface and the conductor layer is 0.4 kgf / cm or more.
多層プリント配線板の絶縁層用である、請求項1〜10のいずれか1項記載の樹脂組成物。   The resin composition according to any one of claims 1 to 10, which is used for an insulating layer of a multilayer printed wiring board. 請求項1〜11のいずれか1項記載の樹脂組成物を含む接着フィルム。   The adhesive film containing the resin composition of any one of Claims 1-11. 該接着フィルムの樹脂組成物層の100℃における溶融粘度が35000poise以下である、請求項12記載の接着フィルム。   The adhesive film of Claim 12 whose melt viscosity in 100 degreeC of the resin composition layer of this adhesive film is 35000 poise or less. 請求項1〜11のいずれか1項記載の樹脂組成物を含む硬化物。 Hardened | cured material containing the resin composition of any one of Claims 1-11. 25℃から150℃までの平均線熱膨張率が17ppm以下である、請求項14記載の硬化物。 The hardened | cured material of Claim 14 whose average linear thermal expansion coefficient from 25 degreeC to 150 degreeC is 17 ppm or less. 粗化処理後の硬化物表面のRaが400nm以下である、請求項14又は15記載の硬化物。   The hardened | cured material of Claim 14 or 15 whose Ra of the hardened | cured material surface after a roughening process is 400 nm or less. 硬化物の粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成したとき、該硬化物表面と該導体層とのメッキピール強度が0.4kgf/cm以上である、請求項14〜16のいずれか1項記載の硬化物。   The plating peel strength between the cured product surface and the conductor layer is 0.4 kgf / cm or more when a conductor layer is formed by plating on the cured product surface after the roughening treatment of the cured product. Hardened | cured material of any one of Claims. 請求項14〜17のいずれか1項記載の硬化物を有する多層プリント配線板。   The multilayer printed wiring board which has a hardened | cured material of any one of Claims 14-17. 請求項18記載の多層プリント配線板を用いることを特徴とする半導体装置。   A semiconductor device using the multilayer printed wiring board according to claim 18. (A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーを含む多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物であって、
該(A)エポキシ樹脂が、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、又はそれらの2種以上の混合物であり、
該(B)硬化剤が、活性エステル系硬化剤であり、
該(C)30℃から150℃までの間の平均の線熱膨張率が300ppb/℃以下のフィラーが、チタンドープ型ガラスフィラーであり、
該樹脂組成物の硬化物の25℃から150℃までの平均線熱膨張率が20ppm以下であり、
該樹脂組成物の硬化物における、粗化処理後の硬化物表面のRaが400nm以下であり、かつ
該樹脂組成物の硬化物を形成し、該硬化物の粗化処理後の硬化物表面にメッキにより導体層を形成し、該硬化物表面と該導体層とのメッキピール強度が0.4kgf/cm以上である、多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物。
(A) Epoxy resin, (B) curing agent, (C) Resin composition for insulating layer of multilayer printed wiring board containing filler having an average linear thermal expansion coefficient of 30 ppb / ° C. or less between 30 ° C. and 150 ° C. Because
The (A) epoxy resin is a bisphenol A type epoxy resin, a biphenyl aralkyl type epoxy resin, a naphthol type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a naphthylene ether type epoxy resin, or a mixture of two or more thereof.
The (B) curing agent is an active ester curing agent,
(C) The filler whose average linear thermal expansion coefficient between 30 degreeC and 150 degreeC is 300 ppb / degrees C or less is a titanium dope type glass filler,
The average linear thermal expansion coefficient from 25 ° C. to 150 ° C. of the cured product of the resin composition is 20 ppm or less,
In the cured product of the resin composition, Ra on the surface of the cured product after the roughening treatment is 400 nm or less, and a cured product of the resin composition is formed, on the surface of the cured product after the roughening treatment of the cured product. A resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board, wherein a conductor layer is formed by plating, and a plating peel strength between the surface of the cured product and the conductor layer is 0.4 kgf / cm or more.
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