JP6582314B2 - 3次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 - Google Patents
3次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6582314B2 JP6582314B2 JP2016544270A JP2016544270A JP6582314B2 JP 6582314 B2 JP6582314 B2 JP 6582314B2 JP 2016544270 A JP2016544270 A JP 2016544270A JP 2016544270 A JP2016544270 A JP 2016544270A JP 6582314 B2 JP6582314 B2 JP 6582314B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- electron microscope
- membrane protein
- transmission electron
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 71
- 238000010276 construction Methods 0.000 title claims description 56
- 108010052285 Membrane Proteins Proteins 0.000 claims description 202
- 102000018697 Membrane Proteins Human genes 0.000 claims description 190
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 118
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 107
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 86
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 claims description 84
- 150000002632 lipids Chemical class 0.000 claims description 79
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 74
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 134
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 28
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 18
- 238000012916 structural analysis Methods 0.000 description 14
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 11
- 230000006870 function Effects 0.000 description 10
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000011161 development Methods 0.000 description 5
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 5
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 5
- 102000010637 Aquaporins Human genes 0.000 description 4
- 238000002050 diffraction method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000002003 electron diffraction Methods 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 239000000693 micelle Substances 0.000 description 3
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 3
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 3
- 238000011160 research Methods 0.000 description 3
- 238000003696 structure analysis method Methods 0.000 description 3
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 3
- 102000012002 Aquaporin 4 Human genes 0.000 description 2
- 108010036280 Aquaporin 4 Proteins 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000007876 drug discovery Methods 0.000 description 2
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 2
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 2
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000003381 solubilizing effect Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 108091006146 Channels Proteins 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102000004310 Ion Channels Human genes 0.000 description 1
- 108090000862 Ion Channels Proteins 0.000 description 1
- 239000000232 Lipid Bilayer Substances 0.000 description 1
- 238000003917 TEM image Methods 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 229920001222 biopolymer Polymers 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 210000004556 brain Anatomy 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 239000007853 buffer solution Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010445 mica Substances 0.000 description 1
- 229910052618 mica group Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000007928 solubilization Effects 0.000 description 1
- 238000005063 solubilization Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V20/00—Scenes; Scene-specific elements
- G06V20/60—Type of objects
- G06V20/64—Three-dimensional objects
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V20/00—Scenes; Scene-specific elements
- G06V20/60—Type of objects
- G06V20/69—Microscopic objects, e.g. biological cells or cellular parts
-
- G—PHYSICS
- G16—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR SPECIFIC APPLICATION FIELDS
- G16B—BIOINFORMATICS, i.e. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR GENETIC OR PROTEIN-RELATED DATA PROCESSING IN COMPUTATIONAL MOLECULAR BIOLOGY
- G16B15/00—ICT specially adapted for analysing two-dimensional or three-dimensional molecular structures, e.g. structural or functional relations or structure alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/22—Optical, image processing or photographic arrangements associated with the tube
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/22—Optical, image processing or photographic arrangements associated with the tube
- H01J37/222—Image processing arrangements associated with the tube
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/261—Details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/26—Electron or ion microscopes
- H01J2237/2611—Stereoscopic measurements and/or imaging
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/295—Electron or ion diffraction tubes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Biotechnology (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
膜タンパク質の3次元像を構築する3次元像構築方法であって、
脂質膜内に存在する前記膜タンパク質を含む試料に、前記脂質膜の膜面の垂線に対して傾いた方向から電子線を入射して撮影された、前記試料の第1透過電子顕微鏡像を取得する工程と、
前記試料に、前記脂質膜の膜面に対して垂直に前記電子線を入射して撮影された、前記試料の第2透過電子顕微鏡像を取得する工程と、
前記第1透過電子顕微鏡像の前記膜タンパク質の向きを、前記第2透過電子顕微鏡像において対応する前記膜タンパク質の前記脂質膜に垂直な軸に対する回転角から特定する工程と、
前記第1透過電子顕微鏡像から前記膜タンパク質の粒子像を取り出し、取り出した前記粒子像を、前記膜タンパク質の向きを特定する工程で特定された前記膜タンパク質の向きで分類し、分類された前記粒子像を平均化して、前記膜タンパク質の3次元像を構築する工程と、
を含み、
前記第1透過電子顕微鏡像の撮影の後に、前記第2透過電子顕微鏡像の撮影が行われ、
前記第2透過電子顕微鏡像を撮影するときのデフォーカス量は、前記第1透過電子顕微鏡像を撮影するときのデフォーカス量よりも大きい。
前記試料に、前記脂質膜の膜面の垂線に対して前記第1透過電子顕微鏡像の撮影のときとは異なる角度で傾いた方向から前記電子線を入射して撮影された、前記試料の第3透過電子顕微鏡像を取得する工程と、
前記第2透過電子顕微鏡像に基づいて、前記第3透過電子顕微鏡像の前記膜タンパク質の向きを特定する工程と、
を含み、
前記膜タンパク質の3次元像を構築する工程では、特定された前記膜タンパク質の向きの情報に基づいて、前記第1透過電子顕微鏡像および前記第3透過電子顕微鏡像から前記膜タンパク質の3次元像を構築してもよい。
前記第2透過電子顕微鏡像を撮影するときの前記試料に対する前記電子線のドーズ量は、前記第1透過電子顕微鏡像を撮影するときの前記試料に対する前記電子線のドーズ量よりも多くてもよい。
膜タンパク質の3次元像を構築する画像処理装置であって、
脂質膜内に存在する前記膜タンパク質を含む試料に、前記脂質膜の膜面の垂線に対して傾いた方向から電子線を入射して撮影された、前記試料の第1透過電子顕微鏡像を取得する第1像取得部と、
前記試料に、前記脂質膜の膜面に対して垂直に前記電子線を入射して撮影された、前記試料の第2透過電子顕微鏡像を取得する第2像取得部と、
前記第1透過電子顕微鏡像の前記膜タンパク質の向きを、前記第2透過電子顕微鏡像において対応する前記膜タンパク質の前記脂質膜に垂直な軸に対する回転角から特定する向き特定部と、
前記第1透過電子顕微鏡像から前記膜タンパク質の粒子像を取り出し、取り出した前記粒子像を、前記膜タンパク質の向きを特定する工程で特定された前記膜タンパク質の向きで分類し、分類された前記粒子像を平均化して、前記膜タンパク質の3次元像を構築する3次元像構築部と、
を含み、
前記第2透過電子顕微鏡像は、前記第1透過電子顕微鏡像の撮影の後に撮影されたものであり、
前記第2透過電子顕微鏡像は、前記第1透過電子顕微鏡像を撮影するときのデフォーカス量よりも大きいデフォーカス量で撮影されたものである。
前記試料に、前記脂質膜の膜面の垂線に対して前記第1透過電子顕微鏡像の撮影のときとは異なる角度で傾いた方向から前記電子線を入射して撮影された、前記試料の第3透過電子顕微鏡像を取得する第3像取得部を含み、
前記向き特定部は、前記第2透過電子顕微鏡像に基づいて、前記第3透過電子顕微鏡像の前記膜タンパク質の向きを特定し、
前記3次元像構築部は、特定された前記膜タンパク質の向きの情報に基づいて、前記第1透過電子顕微鏡像および前記第3透過電子顕微鏡像から前記膜タンパク質の3次元像を構築してもよい。
本発明に係る画像処理装置を含む。
1.1. 試料
まず、構造解析(3次元像構築)の対象となる試料について説明する。図1は、構造解析の対象となる試料2を模式的に示す斜視図である。図2は、試料2を模式的に示す平面図である。なお、図2では、便宜上、脂質膜3の図示を省略している。
次に、第1実施形態に係る画像処理装置を含む電子顕微鏡1000について図面を参照しながら説明する。図3は、第1実施形態に係る画像処理装置100を含む電子顕微鏡1000の構成を模式的に示す図である。
次に、第1実施形態に係る画像処理装置100を含む電子顕微鏡1000を用いた、膜タンパク質4の3次元像を構築する方法について、図面を参照しながら説明する。図5は、第1実施形態に係る3次元像構築方法の一例を示すフローチャートである。
2.1. 画像処理装置および電子顕微鏡
次に、第2実施形態に係る画像処理装置を含む電子顕微鏡について図面を参照しながら説明する。図11は、第2実施形態に係る画像処理装置200を含む電子顕微鏡2000の構成を模式的に示す図である。以下、第2実施形態に係る画像処理装置および電子顕微鏡において、第1実施形態に係る画像処理装置100および電子顕微鏡本体10の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
次に、第2実施形態に係る画像処理装置200を含む電子顕微鏡2000を用いた、膜タンパク質4の3次元像を構築する方法について、図面を参照しながら説明する。図12は、第2実施形態に係る3次元像構築方法の一例を示すフローチャートである。図12に示すフローチャートにおいて、図5に示すフローチャートの同様のステップについては、同じ符号を付して詳細な説明は省略する。
Claims (6)
- 膜タンパク質の3次元像を構築する3次元像構築方法であって、
脂質膜内に存在する前記膜タンパク質を含む試料に、前記脂質膜の膜面の垂線に対して傾いた方向から電子線を入射して撮影された、前記試料の第1透過電子顕微鏡像を取得する工程と、
前記試料に、前記脂質膜の膜面に対して垂直に前記電子線を入射して撮影された、前記試料の第2透過電子顕微鏡像を取得する工程と、
前記第1透過電子顕微鏡像の前記膜タンパク質の向きを、前記第2透過電子顕微鏡像において対応する前記膜タンパク質の前記脂質膜に垂直な軸に対する回転角から特定する工程と、
前記第1透過電子顕微鏡像から前記膜タンパク質の粒子像を取り出し、取り出した前記粒子像を、前記膜タンパク質の向きを特定する工程で特定された前記膜タンパク質の向きで分類し、分類された前記粒子像を平均化して、前記膜タンパク質の3次元像を構築する工程と、
を含み、
前記第1透過電子顕微鏡像の撮影の後に、前記第2透過電子顕微鏡像の撮影が行われ、
前記第2透過電子顕微鏡像を撮影するときのデフォーカス量は、前記第1透過電子顕微鏡像を撮影するときのデフォーカス量よりも大きい、3次元像構築方法。 - 請求項1において、
前記試料に、前記脂質膜の膜面の垂線に対して前記第1透過電子顕微鏡像の撮影のときとは異なる角度で傾いた方向から前記電子線を入射して撮影された、前記試料の第3透過電子顕微鏡像を取得する工程と、
前記第2透過電子顕微鏡像に基づいて、前記第3透過電子顕微鏡像の前記膜タンパク質の向きを特定する工程と、
を含み、
前記膜タンパク質の3次元像を構築する工程では、特定された前記膜タンパク質の向きの情報に基づいて、前記第1透過電子顕微鏡像および前記第3透過電子顕微鏡像から前記膜タンパク質の3次元像を構築する、3次元像構築方法。 - 請求項1または2のいずれか1項において、
前記第2透過電子顕微鏡像を撮影するときの前記試料に対する前記電子線のドーズ量は、前記第1透過電子顕微鏡像を撮影するときの前記試料に対する前記電子線のドーズ量よりも多い、3次元像構築方法。 - 膜タンパク質の3次元像を構築する画像処理装置であって、
脂質膜内に存在する前記膜タンパク質を含む試料に、前記脂質膜の膜面の垂線に対して傾いた方向から電子線を入射して撮影された、前記試料の第1透過電子顕微鏡像を取得する第1像取得部と、
前記試料に、前記脂質膜の膜面に対して垂直に前記電子線を入射して撮影された、前記試料の第2透過電子顕微鏡像を取得する第2像取得部と、
前記第1透過電子顕微鏡像の前記膜タンパク質の向きを、前記第2透過電子顕微鏡像において対応する前記膜タンパク質の前記脂質膜に垂直な軸に対する回転角から特定する向き特定部と、
前記第1透過電子顕微鏡像から前記膜タンパク質の粒子像を取り出し、取り出した前記粒子像を、前記膜タンパク質の向きを特定する工程で特定された前記膜タンパク質の向きで分類し、分類された前記粒子像を平均化して、前記膜タンパク質の3次元像を構築する3次元像構築部と、
を含み、
前記第2透過電子顕微鏡像は、前記第1透過電子顕微鏡像の撮影の後に撮影されたものであり、
前記第2透過電子顕微鏡像は、前記第1透過電子顕微鏡像を撮影するときのデフォーカス量よりも大きいデフォーカス量で撮影されたものである、画像処理装置。 - 請求項4において、
前記試料に、前記脂質膜の膜面の垂線に対して前記第1透過電子顕微鏡像の撮影のときとは異なる角度で傾いた方向から前記電子線を入射して撮影された、前記試料の第3透過電子顕微鏡像を取得する第3像取得部を含み、
前記向き特定部は、前記第2透過電子顕微鏡像に基づいて、前記第3透過電子顕微鏡像の前記膜タンパク質の向きを特定し、
前記3次元像構築部は、特定された前記膜タンパク質の向きの情報に基づいて、前記第1透過電子顕微鏡像および前記第3透過電子顕微鏡像から前記膜タンパク質の3次元像を構築する、画像処理装置。 - 請求項4または5に記載の画像処理装置を含む、電子顕微鏡。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014169003 | 2014-08-22 | ||
JP2014169003 | 2014-08-22 | ||
PCT/JP2015/073604 WO2016027895A1 (ja) | 2014-08-22 | 2015-08-21 | 3次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2016027895A1 JPWO2016027895A1 (ja) | 2017-06-01 |
JP6582314B2 true JP6582314B2 (ja) | 2019-10-02 |
Family
ID=55350834
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016544270A Active JP6582314B2 (ja) | 2014-08-22 | 2015-08-21 | 3次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10541107B2 (ja) |
EP (1) | EP3185000B1 (ja) |
JP (1) | JP6582314B2 (ja) |
WO (1) | WO2016027895A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108181333B (zh) * | 2017-12-04 | 2020-04-21 | 南京腾元软磁有限公司 | 一种精制非晶态固体合金三维重构透射电镜样品的工艺方法及评价方法 |
CN110163953B (zh) * | 2019-03-11 | 2023-08-25 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 三维人脸重建方法、装置、存储介质和电子装置 |
JP2022534157A (ja) * | 2019-05-29 | 2022-07-28 | ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッド | 組織学的画像および術後腫瘍辺縁評価における腫瘍のコンピュータ支援レビュー |
JP7407664B2 (ja) * | 2020-07-02 | 2024-01-04 | 日本電子株式会社 | 試料作製方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000075868A2 (en) * | 1999-06-07 | 2000-12-14 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Methods and compositions for use in three-dimensional structural determination |
JP4171919B2 (ja) | 2005-08-02 | 2008-10-29 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 構造推定システム、構造推定方法およびプログラム |
WO2007114772A1 (en) | 2006-04-04 | 2007-10-11 | Sidec Technologies Ab | Extended electron tomography |
JP4893943B2 (ja) | 2006-10-31 | 2012-03-07 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 構造推定システム、構造推定方法およびプログラム |
US9207196B2 (en) * | 2010-11-17 | 2015-12-08 | Vanderbilt University | Transmission electron microscopy for imaging live cells |
JP5555653B2 (ja) | 2011-03-29 | 2014-07-23 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡および3次元像構築方法 |
-
2015
- 2015-08-21 US US15/505,462 patent/US10541107B2/en active Active
- 2015-08-21 EP EP15833770.9A patent/EP3185000B1/en active Active
- 2015-08-21 JP JP2016544270A patent/JP6582314B2/ja active Active
- 2015-08-21 WO PCT/JP2015/073604 patent/WO2016027895A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3185000A1 (en) | 2017-06-28 |
WO2016027895A1 (ja) | 2016-02-25 |
EP3185000B1 (en) | 2021-12-01 |
JPWO2016027895A1 (ja) | 2017-06-01 |
US20170278669A1 (en) | 2017-09-28 |
EP3185000A4 (en) | 2018-02-14 |
US10541107B2 (en) | 2020-01-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6262453B2 (ja) | 粒子光学装置での薄片の調製及び可視化方法 | |
JP6582314B2 (ja) | 3次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 | |
US9103769B2 (en) | Apparatus and methods for controlling electron microscope stages | |
US9147551B2 (en) | Method for electron tomography | |
EP2402977A1 (en) | Method of electron diffraction tomography | |
US7154092B2 (en) | Method of three-dimensional image reconstruction and transmission electron microscope | |
JP7373906B2 (ja) | 透過荷電粒子顕微鏡検査における革新的撮像方法 | |
US12072304B2 (en) | Systems and methods for performing serial electron diffraction nanocrystallography | |
JPWO2005114693A1 (ja) | 電子顕微方法およびそれを用いた電子顕微鏡 | |
JP2009152120A (ja) | 電子線トモグラフィ法及び電子線トモグラフィ装置 | |
TW201241425A (en) | Apparatus and methods for real-time three-dimensional SEM imaging and viewing of semiconductor wafers | |
US10937625B2 (en) | Method of imaging a sample using an electron microscope | |
Plitzko et al. | Cryo-electron tomography | |
Czarnocki-Cieciura et al. | Introduction to high-resolution cryo-electron microscopy | |
JP2020064780A (ja) | 荷電粒子ビーム装置、試料加工観察方法 | |
JP5555653B2 (ja) | 電子顕微鏡および3次元像構築方法 | |
JP5670234B2 (ja) | 電子顕微鏡及び三次元像構築方法 | |
JP2006331901A (ja) | 位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 | |
Karimi Nejadasl et al. | Non-rigid image registration to reduce beam-induced blurring of cryo-electron microscopy images | |
US9396906B2 (en) | Transmission electron microscope and method of displaying TEM images | |
JP7323574B2 (ja) | 荷電粒子線装置および画像取得方法 | |
JP2018181629A (ja) | 撮影方法および透過電子顕微鏡 | |
Mio et al. | Structural biology and electron microscopy | |
JP2004146192A (ja) | 透過電子顕微鏡による試料観察方法 | |
JP5492115B2 (ja) | 電子顕微鏡用針状試料の作製方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180222 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20180222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190723 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190813 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6582314 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |