JP6545957B2 - Method of manufacturing crystal element - Google Patents

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本発明は、移動通信機器等の電子機器で用いられる水晶デバイスに実装されている水晶素子の製造方法に関する。   The present invention relates to a method of manufacturing a quartz crystal element mounted on a quartz crystal device used in an electronic device such as a mobile communication device.

水晶デバイスは、例えば、基板と蓋体とが接合され、基板と蓋体とで形成されている空間内に、基板上面に実装されている水晶片が気密封止された構造となっている。水晶片は、例えば、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術により、互いに直交しているX軸とY軸とZ軸とからなる結晶軸を有している水晶ウエハを用いて、水晶ウエハの所定の位置に、主面の所定の一辺側で固定された状態の水晶片部を形成した後、この水晶片部に所定の金属パターンを形成し、水晶片部の所定の一辺側を折り取り、または、切断し、個片化して、水晶素子を形成している。   The quartz crystal device has, for example, a structure in which a substrate and a lid are joined, and a crystal piece mounted on the upper surface of the substrate is hermetically sealed in a space formed by the substrate and the lid. The quartz crystal piece is placed at a predetermined position on a quartz wafer by using, for example, a quartz wafer having crystal axes consisting of X axis, Y axis and Z axis orthogonal to each other by photolithography technology and etching technology. Forming a quartz crystal piece in a fixed state on a predetermined side of the main surface, forming a predetermined metal pattern on the quartz crystal piece, and cutting off or cutting a predetermined side of the quartz crystal piece And singulated to form a quartz crystal element.

このような水晶素子は、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術によって、水晶ウエハの所定の位置に所定の部分が固定された状態で水晶片部が形成された後、再び、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術によって、水晶片部の所定の位置に所定の金属パターンが形成された後、水晶片部の一部が折り取り、または、切断されることで形成されている。従って、水晶素子の製造方法では、ほとんどの工程で、水晶ウエハの状態で作業が行われている(例えば、特許文献1参照)。   Such a quartz crystal element is again formed by a photolithographic technique and an etching technique after a quartz piece portion is formed with a predetermined portion fixed at a predetermined position of a quartz wafer by a photolithographic technique and an etching technique. After a predetermined metal pattern is formed at a predetermined position of the quartz crystal piece, a part of the quartz crystal piece is formed by folding or cutting. Therefore, in the method of manufacturing a quartz crystal element, work is performed in the state of a quartz crystal wafer in most steps (see, for example, Patent Document 1).

また、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術を用いて水晶片部に所定の金属パターンを形成する場合には、まず、水晶片部が形成されている水晶ウエハの表面上に金属膜を被着させ、その後、この金属膜上に感光性レジストを塗布する。次に、感光性レジストに所定のパターンで紫外光を照射させ、感光性レジストを所定のパターンで変質させ、現像する。その後、感光性レジストが残っていない部分の金属膜を剥離液に浸漬させて剥離させ、所定の金属パターンを形成している(例えば、特許文献2参照)。   When a predetermined metal pattern is formed on the quartz crystal piece by photolithography and etching, first, a metal film is deposited on the surface of the quartz wafer on which the quartz crystal piece is formed, and then A photosensitive resist is applied on the metal film. Next, the photosensitive resist is irradiated with ultraviolet light in a predetermined pattern, and the photosensitive resist is denatured in a predetermined pattern and developed. Thereafter, the metal film in the portion where the photosensitive resist is not left is dipped in a peeling solution and peeled to form a predetermined metal pattern (see, for example, Patent Document 2).

特開2014−11647号公報JP, 2014-11647, A 特開2013−243452号公報JP, 2013-243452, A

従来の水晶素子の製造方法では、ほとんどの工程において、水晶ウエハの状態で作業が行われており、各工程時に水晶ウエハの端部が装置や水晶ウエハを支持するための搬送治具等に接触してしまい、接触した部分、具体的には、水晶ウエハの端部からひび割れが生じ、その結果、水晶片部が形成される水晶ウエハの中心部付近にまで、ひび割れが到達し、水晶ウエハが変形してしまう虞がある。従って、従来の水晶素子の製造方法では、水晶ウエハの中心部まで、ひび割れが到達している場合には、水晶ウエハが変形し水晶ウエハの平面度が確保されないまま、水晶片部に所定の金属パターンを形成することとなる。このため、従来の水晶素子の製造方法において、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術によって所定の金属パターンを形成する場合には、所定のパターンと異なる箇所に紫外光が照射され、所定のパターンと異なる金属パターンが水晶片部に形成され、等価直列抵抗値が高くなり、生産性が低下する虞がある。   In the conventional method for manufacturing a quartz crystal element, work is performed in the state of a quartz wafer in most steps, and the end of the quartz wafer is in contact with a device or a transport jig for supporting the quartz wafer in each step. Cracks occur from the contact portion, specifically, the end of the quartz wafer, and as a result, the cracks reach near the center of the quartz wafer where the quartz piece is formed, and the quartz wafer There is a risk of deformation. Therefore, in the conventional method for manufacturing a quartz crystal element, when the crack reaches the central portion of the quartz wafer, the quartz wafer is deformed and the predetermined metal is not formed on the quartz piece while the flatness of the quartz wafer is not ensured. It will form a pattern. For this reason, in the case where a predetermined metal pattern is formed by photolithography technology and etching technology in the conventional method of manufacturing a quartz crystal element, ultraviolet light is irradiated to a portion different from the predetermined pattern, and a metal pattern different from the predetermined pattern Is formed in the crystal piece portion, the equivalent series resistance value is increased, and the productivity may be reduced.

また、蒸着技術またはスパッタリング技術を用いて所定の金属パターンを形成する場合には、ひび割れにより水晶ウエハが変形し水晶ウエハの平面度が確保されないまま所定の金属パターンを形成しようとすると、所定のパターンに被着させるための治具に載置することが困難となる。このため、従来の水晶素子の製造方法において、水晶片部に所定の金属パターンを被着させることが困難となり、生産性が低下する虞がある。例えば、部分的に細く、所定の金属パターンと異なる金属パターンが形成されると、等価直列抵抗値が高くなり、生産性が低下してしまう。   Further, when forming a predetermined metal pattern using vapor deposition technology or sputtering technology, if it is attempted to form a predetermined metal pattern while the quartz wafer is deformed due to the crack and the flatness of the quartz wafer is not ensured, It becomes difficult to put on the jig for making it adhere. For this reason, in the conventional method of manufacturing a quartz crystal element, it becomes difficult to deposit a predetermined metal pattern on the quartz crystal piece, which may lower the productivity. For example, when a metal pattern which is partially thin and different from the predetermined metal pattern is formed, the equivalent series resistance value is increased, and the productivity is reduced.

本発明では、水晶ウエハの端部に応力が加わりひび割れが生じた場合、ひび割れが水晶片部の形成される水晶ウエハの中心部まで到達することを軽減させることで、所定の位置に所定の金属パターンを形成し、生産性を向上させた水晶素子の製造方法を提供することを目的とする。   In the present invention, when stress is applied to the end of the quartz wafer and a crack is generated, the crack is prevented from reaching the center of the quartz wafer on which the quartz piece portion is formed, whereby the predetermined metal is placed at the predetermined position. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a quartz crystal element in which a pattern is formed and productivity is improved.

前述した課題を解決するために、本発明に係る水晶素子の製造方法は、互いに直交しているX軸とY軸とZ軸とからなる結晶軸を有した平板状の水晶ウエハを形成する水晶ウエハ形成工程と、晶ウエハの外縁部に、前記水晶ウエハの外縁に沿って、少なくとも二行以上または二列以上あって、千鳥配列となるように、複数の凹部を設け、緩和部を形成する緩和部形成工程と、水晶ウエハの所定の位置に、略直方体形状に形成しつつ主面の所定の一辺側で固定している水晶片部を形成する水晶片部形成工程と、励振電極部、引出部および配線部となる金属パターンを水晶片部の所定の位置に形成する金属パターン形成工程と、水晶ウエハに形成されている水晶片部の所定の一辺側を折り取り、または、切断することで、水晶片を個片化する個片化工程と、を備え、緩和部形成工程において、平面透視した際に、緩和部の上面に設けられた凹部の底面と緩和部の下面に設けられた凹部の底面とが重ならない位置になるように設けられ、緩和部形成工程において、水晶ウエハを平面視して、凹部の開口部が、略半円形状となっており、半円の直線部の中心が水晶ウエハの外縁側に位置している。
In order to solve the problems described above, a method of manufacturing a quartz crystal element according to the present invention is to form a quartz crystal wafer having a plate-like crystal wafer having crystal axes consisting of X axis, Y axis and Z axis orthogonal to each other. In the wafer forming step, a plurality of recessed portions are provided in the outer edge portion of the crystal wafer along the outer edge of the crystal wafer so that there are at least two rows or two rows and a staggered arrangement to form relaxation portions. A relaxation portion forming step, a crystal piece portion forming step of forming a crystal piece portion fixed on a predetermined side of the main surface while forming a substantially rectangular parallelepiped shape at a predetermined position of a crystal wafer, an excitation electrode portion, Metal pattern forming step of forming a metal pattern to be a lead-out portion and a wiring portion at a predetermined position of the quartz crystal piece, and breaking or cutting a predetermined side of the quartz crystal piece formed on the quartz wafer And individual pieces that separate the quartz pieces And in the relief portion forming step, the bottom surface of the recess provided on the upper surface of the relief portion and the bottom surface of the recess provided on the lower surface of the relief portion do not overlap when seen through a plane In the relaxation portion forming step, the opening of the concave portion has a substantially semicircular shape in plan view of the crystal wafer, and the center of the straight portion of the semicircle is located on the outer edge side of the crystal wafer .

本発明に係る水晶素子の製造方法では、緩和部形成工程において、水晶ウエハの外周縁に沿って、千鳥配列状に複数の凹部からなる緩和部を形成し、平面透視した際に、前記緩
和部の上面に設けられた凹部の底面と緩和部の下面に設けられた前記凹部の底面とが重ならない位置になるように設けられ、緩和部形成工程において、水晶ウエハを平面視して、凹部の開口部が、略半円形状となっており、半円の直線部の中心が水晶ウエハの外縁側に位置していることによって、水晶ウエハの端部に応力が加わり水晶ウエハにひび割れが生じた場合であっても、凹部の開口部において応力を分散することで応力を緩和することができ、水晶片部が形成される水晶ウエハの中心部付近までひび割れが到達することを低減させることが可能となる。従って、本発明に係る水晶素子の製造方法では、ひび割れが原因で生じる水晶ウエハの歪みを軽減することができる。このため、本発明に係る水晶素子の製造方法では、水晶ウエハに形成される水晶片部の所定の位置に所定の金属パターンを形成することが可能となり、生産性を向上させることができる。
In the method of manufacturing a quartz crystal element according to the present invention, in the relaxation portion forming step, the relaxation portions formed of a plurality of concave portions are formed in a zigzag array along the outer peripheral edge of the quartz wafer. The bottom surface of the concave portion provided on the upper surface of the recess and the bottom surface of the concave portion provided on the lower surface of the relaxation portion are provided so as not to overlap with each other. The opening portion has a substantially semicircular shape, and the center of the straight portion of the semicircle is located on the outer edge side of the quartz wafer , whereby stress is applied to the end of the quartz wafer and the quartz wafer is cracked. Even in this case, the stress can be relaxed by dispersing the stress at the opening of the recess , and the crack can be reduced to reach near the center of the quartz wafer on which the quartz piece is formed. It becomes. Therefore, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the present invention, it is possible to reduce distortion of a quartz crystal wafer caused by a crack. For this reason, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the present invention, it is possible to form a predetermined metal pattern at a predetermined position of a quartz-crystal piece formed on a quartz-crystal wafer, thereby improving productivity.

(a)は、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法で製造された水晶素子の平面図であり、(b)は、図1(a)のA−A断面における断面図である。(A) is a top view of the quartz crystal element manufactured by the manufacturing method of the quartz crystal element concerning a first embodiment, and (b) is a sectional view in the AA section of Drawing 1 (a). 第一実施形態に係る水晶素子の製造方法を示したフローチャート図である。It is the flowchart which showed the manufacturing method of the crystal element which concerns on 1st embodiment. 第一実施形態に係る水晶素子の製造方法における緩和部形成工程後の水晶ウエハの状態を示す平面図である。It is a top view which shows the state of the quartz wafer after the relaxation part formation process in the manufacturing method of the quartz crystal element which concerns on 1st embodiment. 図3のB部の部分拡大図である。It is the elements on larger scale of the B section of FIG. 第一実施形態の変形例1に係る水晶素子の製造方法における緩和部形成工程後の水晶ウエハの状態を示す平面図である。It is a top view which shows the state of the quartz wafer after the relaxation part formation process in the manufacturing method of the quartz crystal element which concerns on the modification 1 of 1st embodiment. 図6のC部における部分拡大図である。It is the elements on larger scale in the C section of FIG. 第一実施形態の変形例2に係る水晶素子の製造方法における緩和部形成工程後の水晶への状態を示す平面図である。It is a top view which shows the state to the quartz crystal after the relaxation part formation process in the manufacturing method of the quartz crystal element which concerns on the modification 2 of 1st embodiment. 図7のD部における部分断面図である。It is a fragmentary sectional view in the D section of FIG. 第二実施形態に係る水晶素子の製造方法で製造された水晶素子の斜視図である。It is a perspective view of the crystal element manufactured by the manufacturing method of the crystal element concerning a second embodiment. 図9のE部における部分拡大図である。It is the elements on larger scale in the E section of FIG. 図10のF−F断面における断面図である。It is sectional drawing in the FF cross section of FIG. 図10のG−G断面における断面図である。It is sectional drawing in the GG cross section of FIG.

(第一実施形態)
第一実施形態に係る水晶素子の製造方法で製造される水晶素子100は、安定した機械振動を得ることができ、電子機器等の基準信号を発信するために用いられる。このような水晶素子100は、図1に示したように、水晶片110と、この水晶片110の所定の部分に形成されている金属パターン120と、から構成されている。
First Embodiment
The crystal element 100 manufactured by the method for manufacturing a crystal element according to the first embodiment can obtain stable mechanical vibration, and is used to transmit a reference signal of an electronic device or the like. As shown in FIG. 1, such a quartz crystal element 100 is composed of a quartz crystal piece 110 and a metal pattern 120 formed on a predetermined portion of the quartz crystal piece 110.

水晶片110には、安定した機械振動をする圧電材料が用いられ、例えば、水晶部材が用いられる。また、水晶片110は、互いに直交しているX軸とY軸とZ軸とからなる結晶軸を有しており、例えば、略直方体形状となっている。水晶片110の主面は、X軸およびZ軸に平行となっている面を、X軸を中心にX軸の負の方向を見て反時計回りに回転させた面と平行となっている。具体的には、水晶片110の主面は、X軸およびZ軸に平行となっている面を、X軸を中心にX軸の負の方向を見て反時計回りに約37°回転させた面と平行となっている。水晶片110の側面の一部には、Z軸に平行なm面111が形成されている。このm面111と水晶片110の主面となす角度は、X軸およびZ軸に平行となっている面を、X軸を中心に回転させたときの角度と、90°と、を合わせた角度となっており、例えば、上述したように37°回転させている場合には、約123°となる。このような水晶片110は、水晶ウエハの状態で、主面の一辺側で水晶ウエハの一部に固定するように、複数個同時に形成される。   For the quartz crystal piece 110, a piezoelectric material that causes stable mechanical vibration is used, and for example, a quartz crystal member is used. In addition, the crystal piece 110 has a crystal axis formed of an X axis, a Y axis, and a Z axis which are orthogonal to each other, and has, for example, a substantially rectangular parallelepiped shape. The main surface of the crystal piece 110 is parallel to a plane obtained by rotating the plane parallel to the X axis and the Z axis in the counterclockwise direction by looking at the negative direction of the X axis around the X axis . Specifically, the main surface of the crystal piece 110 rotates a plane parallel to the X axis and the Z axis by about 37 ° counterclockwise as viewed in the negative direction of the X axis about the X axis. Parallel to the plane. An m-plane 111 parallel to the Z-axis is formed on part of the side surface of the crystal piece 110. The angle formed between the m-plane 111 and the main surface of the crystal piece 110 is the angle obtained by rotating the plane parallel to the X-axis and the Z-axis about the X-axis and 90 °. The angle is, for example, about 123 ° when rotated 37 ° as described above. A plurality of such crystal pieces 110 are simultaneously formed so as to be fixed to a part of the crystal wafer on one side of the main surface in the state of the crystal wafer.

金属パターン120は、水晶片110に電圧を印加するためのものであり、水晶片110の所定の部分に形成される。金属パターン120は、例えば、励振電極部121、引出部122、および、配線部123から構成されている。金属パターン120は、例えば、第一金属層および第二金属層から構成されている。第一金属層は、水晶片110上に直接設けられており、水晶片110との密着強度の高い金属材料が用いられる。例えば、第一金属層は、クロム、ニクロム、チタンまたはニッケルが用いられる。第二金属層は、金属材料の中で比較的、電気抵抗率が低い金属材料が用いられ、例えば、金、銀、アルミニウム、金を主とした合金、または、銀を主とした合金が用いられる。このような金属パターン120は、蒸着技術、スパッタリング技術、または、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術によって、水晶片110の所定の位置に設けられる。   The metal pattern 120 is for applying a voltage to the crystal piece 110, and is formed on a predetermined portion of the crystal piece 110. The metal pattern 120 includes, for example, an excitation electrode portion 121, a lead-out portion 122, and a wiring portion 123. The metal pattern 120 is composed of, for example, a first metal layer and a second metal layer. The first metal layer is provided directly on the quartz piece 110, and a metal material having high adhesion strength to the quartz piece 110 is used. For example, chromium, nichrome, titanium or nickel is used for the first metal layer. Among the metal materials, a metal material having a relatively low electric resistivity is used as the second metal layer. For example, gold, silver, aluminum, an alloy mainly composed of gold, or an alloy mainly composed of silver is used. Be Such a metal pattern 120 is provided at a predetermined position of the quartz piece 110 by a vapor deposition technique, a sputtering technique, or a photolithography technique and an etching technique.

励振電極部121は、電圧を印加することで水晶片110の一部を振動させるためのものである。励振電極部121は、水晶片110の主面に水晶片110の一部を挟むように、一対で設けられている。励振電極部121に電圧が印加されると、水晶片110の励振電極部121で挟まれている部分は、逆圧電効果および圧電効果によって所定の周波数で振動を開始する。   The excitation electrode portion 121 is for vibrating a part of the crystal piece 110 by applying a voltage. The excitation electrode portions 121 are provided in a pair so as to sandwich a part of the quartz piece 110 on the main surface of the quartz piece 110. When a voltage is applied to the excitation electrode portion 121, the portion sandwiched by the excitation electrode portion 121 of the quartz piece 110 starts to vibrate at a predetermined frequency by the inverse piezoelectric effect and the piezoelectric effect.

引出部122は、水晶素子100の外部から電圧を印加するためのものである。水晶片110は、平面視して、水晶片110の所定の一辺に沿って二つ並んで設けられている。   The lead portion 122 is for applying a voltage from the outside of the crystal element 100. Two quartz crystal pieces 110 are provided side by side along a predetermined side of the quartz crystal piece 110 in plan view.

配線部123は、励振電極部121と引出部122とを電気的に接続するためのものであり、水晶片110の表面に設けられている。従って、配線部123は、一端が励振電極部121に接続されており、他端が引出部122に接続されている。   The wiring portion 123 is for electrically connecting the excitation electrode portion 121 and the lead-out portion 122, and is provided on the surface of the crystal piece 110. Accordingly, one end of the wiring portion 123 is connected to the excitation electrode portion 121, and the other end is connected to the lead portion 122.

従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法で製造される水晶素子100は、引出部122から電圧が印加されると、配線部123を介して励振電極部121に電圧が印加され、励振電極部121に挟まれている水晶片110の一部が所定の周波数が振動する構成となっている。   Therefore, in the crystal element 100 manufactured by the method for manufacturing a crystal element according to the first embodiment, when a voltage is applied from the lead-out portion 122, a voltage is applied to the excitation electrode portion 121 via the wiring portion 123 to excite A portion of the crystal piece 110 sandwiched between the electrode portions 121 is configured to vibrate at a predetermined frequency.

次に、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法について説明する。第一実施形態に係る水晶素子の製造方法は、図2〜図4に示したように、水晶ウエハ形成工程、緩和部形成工程、水晶片部形成工程、金属パターン形成工程および個片化工程、から構成されている。   Next, a method of manufacturing the crystal element according to the first embodiment will be described. In the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, as shown in FIGS. 2 to 4, a quartz wafer forming step, a relaxation portion forming step, a quartz crystal piece forming step, a metal pattern forming step and a singulation step It consists of

なお、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、緩和部形成工程および水晶片部形成工程をそれぞれ別々に行っている場合について説明しているが、緩和部形成工程および水晶片部形成工程を同時に行っても構わない。また、金属パターン形成工程において、励振電極部121、引出部122および配線部123を同時に形成している場合について説明しているが、それぞれ別々の方法で別々に形成しても構わない。   In the manufacturing method of the crystal element according to the first embodiment, although the case where the relaxation portion forming step and the crystal piece portion forming step are separately performed is described, the relaxation portion forming step and the crystal piece portion forming step are described. You may do at the same time. Moreover, although the case where the excitation electrode part 121, the lead-out part 122, and the wiring part 123 are simultaneously formed in a metal pattern formation process is demonstrated, you may form separately by each different method.

(水晶ウエハ形成工程)
水晶ウエハ形成工程は、互いに直交しているX軸とY軸とZ軸とからなる結晶軸を有した平板状の水晶ウエハ130(図3参照)を形成する工程である。水晶ウエハ形成工程では、互いに直交しているX軸とY軸とZ軸とからなる結晶軸を有した人工水晶体が用いられる。水晶ウエハ形成工程で形成される水晶ウエハ130の主面は、例えば、X軸およびZ軸に平行となっている面を、X軸を中心に、X軸の負の方向を見て反時計回りに所定の角度、例えば、約37°回転させた面と平行となっている。また、水晶ウエハ形成工程で形成される水晶ウエハ130は、人工水晶体から所定のカットアングルで切断された後、上下方向の厚みが所定の厚みとなるまで両主面が研磨される。
(Quarter wafer forming process)
The crystal wafer forming step is a step of forming a flat plate-shaped crystal wafer 130 (see FIG. 3) having crystal axes consisting of X axis, Y axis and Z axis orthogonal to each other. In the quartz wafer forming step, an artificial crystalline lens having crystal axes composed of X axis, Y axis and Z axis orthogonal to each other is used. The main surface of the quartz wafer 130 formed in the quartz wafer forming step is, for example, counterclockwise as viewed in the negative direction of the X axis with respect to the X axis and a plane parallel to the X axis and the Z axis. Parallel to the plane rotated by about 37 °, for example. Further, the crystal wafer 130 formed in the crystal wafer forming step is cut from the artificial crystal at a predetermined cut angle, and then both main surfaces are polished until the thickness in the vertical direction becomes a predetermined thickness.

ここで、水晶ウエハ130は、例えば、略矩形形状の平板状となっており、平面視したときの寸法が、所定の一辺の寸法が約10mm〜約102mmであり、所定の一辺に接続している所定の他の一辺の寸法が約10mm〜約102mmとなっている。このとき、水晶ウエハ130の上下方向の厚みは、約0.02mm〜3.0mmとなっている。なお、水晶ウエハ130が略矩形形状の平板状となっている場合について説明しているが、円型形状または楕円形状の平板状となっていてもよく、円型形状の場合の平面視したときの大きさは、直径が約10mm〜約102mmとなっている。   Here, the quartz crystal wafer 130 is, for example, a flat plate having a substantially rectangular shape, and the dimension of a predetermined side is about 10 mm to about 102 mm in plan view, and the quartz wafer 130 is connected to the predetermined side The dimensions of the other predetermined side are about 10 mm to about 102 mm. At this time, the thickness in the vertical direction of the crystal wafer 130 is about 0.02 mm to 3.0 mm. Although the case where the crystal wafer 130 is a flat plate having a substantially rectangular shape is described, it may be a flat plate having a circular shape or an elliptical shape, and when viewed in a plan view in the case of a circular shape. The diameter is about 10 mm to about 102 mm.

(緩和部形成工程)
緩和部形成工程は、図3および図4に示したように、水晶ウエハ130の外縁部に、水晶ウエハ130の外縁に沿って、少なくとも二行以上または二列以上あって、千鳥配列となるように、複数の貫通穴141(141a、141b)を設け、緩和部140を形成する工程である。なお、ここで、貫通穴141を設け緩和部140を形成している場合について説明しているが、貫通穴141でなく凹部を設けてもよい。
(Relief formation process)
In the relaxation portion formation step, as shown in FIGS. 3 and 4, there are at least two rows or two rows along the outer edge of the quartz wafer 130 at the outer edge of the quartz wafer 130 so as to form a staggered arrangement. Is a step of forming a plurality of through holes 141 (141a, 141b) to form the relief portion 140. In addition, although the case where the through hole 141 is provided and the relieving part 140 is formed here, not the through hole 141 but a concave part may be provided.

緩和部140は、複数の貫通穴141が水晶ウエハ130の外縁に沿って環状に設けられることで、水晶ウエハ130の外縁部に形成される。緩和部140に設けられている貫通穴141は、例えば、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術によって設けられている。具体的には、まず、水晶ウエハ130の両主面上に、耐食金属膜を被着させ、この耐食金属膜上に感光性レジストを塗布し、所定のパターンで露光、現像する。その後、感光性レジストが除去されている部分の耐食金属膜を除去し、水晶ウエハ130の一部分を露出させ、所定のエッチング溶液に浸漬させ、水晶ウエハ130の露出している部分をエッチングする。最後に、水晶ウエハ130の両主面上に残留している耐食金属膜および感光性レジストを除去する。緩和部形成工程では、このようにして、複数の貫通穴141を設け、水晶ウエハ130に緩和部140を形成している。   The relief portion 140 is formed at the outer edge portion of the crystal wafer 130 by providing a plurality of through holes 141 annularly along the outer edge of the crystal wafer 130. The through holes 141 provided in the relaxing portion 140 are provided by, for example, a photolithographic technique and an etching technique. Specifically, first, a corrosion resistant metal film is deposited on both main surfaces of the quartz wafer 130, a photosensitive resist is coated on the corrosion resistant metal film, and exposure and development are performed in a predetermined pattern. Thereafter, the corrosion resistant metal film in the portion from which the photosensitive resist is removed is removed to expose a portion of the quartz wafer 130, and the portion is dipped in a predetermined etching solution to etch the exposed portion of the quartz wafer 130. Finally, the corrosion resistant metal film and the photosensitive resist remaining on both main surfaces of the quartz wafer 130 are removed. In the relaxation portion formation step, the plurality of through holes 141 are provided in this manner, and the relaxation portion 140 is formed in the crystal wafer 130.

緩和部140には、前述したように、水晶ウエハ130の外縁に沿って複数の貫通穴141が環状に設けられている。従って、水晶ウエハ130の外縁部で部分的に応力が加わり、応力集中によるひび割れが水晶ウエハ130の内側へ進行した場合であっても、貫通穴141にまでひび割れが到達したときに応力集中を緩和させることができる。この結果、緩和部140に設けられている貫通穴141により、応力集中によるひび割れの進行を阻止することが可能となる。   As described above, in the relaxing portion 140, a plurality of through holes 141 are annularly provided along the outer edge of the quartz wafer 130. Therefore, stress is partially applied at the outer edge portion of the quartz wafer 130, and even if the crack due to stress concentration progresses to the inside of the quartz wafer 130, the stress concentration is relieved when the crack reaches the through hole 141 It can be done. As a result, it is possible to prevent the progress of the crack due to the stress concentration by the through hole 141 provided in the relaxing portion 140.

緩和部140に設けられている貫通穴141は、図3に示したように、水晶ウエハ130の外縁に沿って環状に設けられている。従って、応力集中によるひび割れが水晶ウエハ130の外縁のどの部分で生じた場合であっても、前述しように、応力集中によるひび割れの進行を貫通穴141により阻止することができるので、複数あるうちの貫通穴141のうちいずれかでひび割れの進行を阻止することが可能となる。この結果、応力集中によるひび割れの進行が、水晶ウエハ130の外縁から緩和部140を超えて緩和部140の内側へ達することを低減させることができる。   The through holes 141 provided in the relief portion 140 are annularly provided along the outer edge of the quartz wafer 130 as shown in FIG. Therefore, even if cracks due to stress concentration occur in any part of the outer edge of the quartz wafer 130, as described above, the progress of cracks due to stress concentration can be prevented by the through holes 141, so It is possible to prevent the progress of the crack in any of the through holes 141. As a result, it is possible to reduce the progress of the crack due to the stress concentration from reaching from the outer edge of the quartz wafer 130 to the inside of the relief portion 140 beyond the relief portion 140.

緩和部140に設けられている貫通穴141は、千鳥配列となるように設けられている。ここで、千鳥配列とは、二行または二列以上のものが互い違いに配置されている状態のことをいう。従って、緩和部140に設けられている貫通穴141は、少なくとも二行または二列以上となっており、貫通穴141は行または列ごとに互い違いとなるように配置されている。このような構成にすることで、応力集中によるひび割れの進行は一般的に直線状に進行するので、外縁側の貫通穴141が設けられていない部分をひび割れが進行しても、内縁側に設けられている貫通穴141にひび割れが到達させる可能性を高くすることができる。従って、水晶ウエハ130の外縁に部分的に応力が加わり、応力集中によるひび割れが生じた場合、複数あるうちの貫通穴141のいずれかでひび割れの進行を阻止する可能性が高くなり、水晶ウエハ130の外縁から緩和部140を超えて緩和部140の内側へ達することを低減させることができる。   The through holes 141 provided in the relaxing portion 140 are provided in a staggered arrangement. Here, the staggered arrangement refers to a state in which two rows or two or more columns are alternately arranged. Therefore, the through holes 141 provided in the relaxing portion 140 have at least two rows or two columns, and the through holes 141 are arranged alternately in each row or column. With such a configuration, the progress of cracking due to stress concentration generally proceeds in a straight line, and therefore the portion where the through hole 141 on the outer edge side is not provided is provided on the inner edge side even if the crack proceeds. It is possible to increase the possibility of the crack reaching the through hole 141 being formed. Therefore, when stress is partially applied to the outer edge of the quartz wafer 130 and a crack occurs due to stress concentration, the possibility of preventing the progress of the crack in any of the plurality of through holes 141 is high, and the quartz wafer 130 And the inner edge of the relief portion 140 beyond the relief portion 140 can be reduced.

ここで、貫通穴141は、例えば、水晶ウエハ130の外縁に沿って二行または二列に設けられている。このとき、貫通穴141は、水晶ウエハ130の外縁側と内縁側に、水晶ウエハ130の外縁に沿って環状に設けられていることとなる。ここで、この外縁側に設けられている貫通穴141を第一貫通穴141aとし、この第一貫通穴141aを含む緩和部140を第一緩和部140aとし、第一貫通穴141aより水晶ウエハ130の内側に位置している環状の貫通穴141を第二貫通穴141bとし、この第二貫通穴141bを含む緩和部140を第二緩和部140bとする。   Here, the through holes 141 are provided, for example, in two rows or two columns along the outer edge of the quartz wafer 130. At this time, the through holes 141 are annularly provided along the outer edge of the quartz wafer 130 on the outer edge side and the inner edge side of the quartz wafer 130. Here, the through hole 141 provided on the outer edge side is referred to as a first through hole 141a, and the relaxation portion 140 including the first through hole 141a is referred to as a first relaxation portion 140a. The annular through hole 141 located inside of the second through hole 141 b is referred to as a second through hole 141 b, and the relaxation portion 140 including the second through hole 141 b is referred to as a second relaxation portion 140 b.

つまり、緩和部140が第一緩和部140aおよび第二緩和部140bからなる場合、水晶ウエハ130を平面視すると、緩和部140は、第一緩和部140aが水晶ウエハ130の外縁に沿って外縁部に位置し、第二緩和部140bが第一緩和部140aの内側に沿って位置するように、水晶ウエハ130の外縁部に形成されている。   That is, in the case where the relaxation unit 140 includes the first relaxation unit 140 a and the second relaxation unit 140 b, when the quartz wafer 130 is viewed in plan, the relaxation unit 140 has an outer edge along the outer edge of the quartz wafer 130. And the second relief portion 140b is formed at the outer edge of the quartz wafer 130 so as to be located along the inside of the first relief portion 140a.

ここで、隣接する第一貫通穴141aの開口部の端部間の距離を、第一貫通穴間距離S11とし、第二貫通穴141bの開口部の端部間の距離を、第二貫通穴口距離H12とすると、第一貫通穴間距離S11は、第二貫通穴口距離H12より短くなっている。このような構成にすることで、水晶ウエハ130の外縁から内側に向かって仮想直線上には、第一貫通穴141aまたは第二貫通穴141bを配置させることが可能となる。このような構成にすることで、応力集中によるひび割れの進行は一般的に直線状に進行するので、第一緩和部140aの第一貫通穴141aが設けられていない部分をひび割れが進行しても、ひび割れが第二緩和部140bの第二貫通穴141bに到達することとなる。従って、水晶ウエハ130の外縁に部分的に応力が加わり、応力集中によるひび割れが生じた場合、第一貫通穴141aまたは第二貫通穴141bでひび割れの進行を阻止する可能性がより高くなり、水晶ウエハ130の外縁から緩和部140を超えて緩和部140の内側へ達することをより低減させることができる。   Here, the distance between the ends of the openings of the adjacent first through holes 141a is taken as the first through hole distance S11, and the distance between the ends of the openings of the second through holes 141b is taken as the second through hole Assuming that the distance H12, the first through hole distance S11 is shorter than the second through hole distance H12. With such a configuration, it is possible to arrange the first through holes 141a or the second through holes 141b on a virtual straight line from the outer edge of the quartz wafer 130 toward the inside. With such a configuration, the progress of the crack due to stress concentration generally proceeds in a straight line, so even if the crack progresses in the portion where the first through hole 141a of the first relaxation portion 140a is not provided The crack reaches the second through hole 141b of the second relief portion 140b. Therefore, if stress is partially applied to the outer edge of the quartz wafer 130 and a crack occurs due to stress concentration, there is a higher possibility of preventing the progress of the crack in the first through hole 141a or the second through hole 141b. It can be further reduced from the outer edge of the wafer 130 to reach the inside of the relief portion 140 beyond the relief portion 140.

緩和部140に設けられている貫通穴141は、開口部が、略直方体形状となっており、その四隅が丸みを帯びた形状となっている。このように、丸みを帯びた四隅とすることで、開口部の端部に応力が集中することを低減させている。従って、このように貫通穴141の開口部の端部を、丸みを帯びた形状にすることで、開口部の端部に応力が集中し、開口部の端部からひび割れが生じることを低減させることができる。   In the through hole 141 provided in the relief portion 140, the opening has a substantially rectangular parallelepiped shape, and the four corners are rounded. As described above, the rounded four corners reduce stress concentration at the end of the opening. Therefore, by forming the end of the opening of the through hole 141 in a rounded shape in this way, stress is concentrated at the end of the opening, and the occurrence of cracks from the end of the opening is reduced. be able to.

(水晶片部形成工程)
水晶片部形成工程は、水晶ウエハ130の所定の位置に、略直方体形状に形成しつつ主面の所定の一辺側で固定している水晶片部を形成する工程である。ここで、水晶片部とは、水晶片110となる部分のことであり、以下の説明および図面では、水晶片部を水晶片と同じ符号を付して説明する。水晶片部110は、例えば、平面視して、略矩形形状となっており、所定の一辺の両端部において水晶ウエハ130と連結されている。
(Quartz piece formation process)
The quartz crystal piece forming step is a step of forming a quartz crystal piece which is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape and fixed on a predetermined side of the main surface at a predetermined position of the quartz crystal wafer 130. Here, the crystal piece portion is a portion to be the crystal piece 110, and in the following description and drawings, the crystal piece portion is described with the same reference numeral as the crystal piece. For example, the quartz crystal piece portion 110 has a substantially rectangular shape in plan view, and is connected to the quartz crystal wafer 130 at both end portions of a predetermined side.

水晶片部形成工程では、例えば、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術により、水晶片形成用貫通穴(図示せず)が設けられ、水晶片部110の所定の一辺側で水晶ウエハ130に固定された状態となっている水晶片部110を形成している。水晶片部形成工程では、具体的には、まず、水晶ウエハ130の両主面上に、耐食金属膜を被着させ、この耐食金属膜上に感光性レジストを塗布し、所定のパターンで露光、現像する。その後、感光性レジストが除去されている部分の耐食金属膜を除去し、水晶ウエハ130の一部分、具体的には、水晶片部形成用貫通穴となる部分をエッチングする。最後に、水晶ウエハ130の両主面上に残留している耐食金属膜および感光性レジストを除去する。   In the crystal piece formation step, a state in which a crystal piece formation through hole (not shown) is provided by, for example, photolithography technology and etching technology, and is fixed to the crystal wafer 130 on a predetermined side of the crystal piece 110 The crystal piece 110 is formed. Specifically, in the quartz crystal piece forming step, first, a corrosion resistant metal film is deposited on both main surfaces of the quartz wafer 130, a photosensitive resist is coated on the corrosion resistant metal film, and exposure is performed in a predetermined pattern. ,develop. Thereafter, the corrosion resistant metal film of the portion from which the photosensitive resist is removed is removed, and a portion of the quartz wafer 130, specifically, a portion to be a through hole for forming a quartz piece portion is etched. Finally, the corrosion resistant metal film and the photosensitive resist remaining on both main surfaces of the quartz wafer 130 are removed.

(金属パターン形成工程)
金属パターン形成工程は、励振電極部121、引出部122および配線部123となる金属パターン120を水晶片部110の所定の位置に形成する工程である。金属パターン形成工程では、例えば、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術を用いて、所定の金属パターン120が形成される。具体的には、水晶片部110が形成されている水晶ウエハ130の両主面にパターン用金属膜が被着され、このパターン用金属膜上に感光性レジストが塗付され、露光、現像される。その後、露出しているパターン用金属膜を除去し、水晶ウエハ130に残留している感光性レジストを除去する。
(Metal pattern formation process)
The metal pattern formation step is a step of forming the metal pattern 120 to be the excitation electrode portion 121, the lead-out portion 122, and the wiring portion 123 at a predetermined position of the crystal piece portion 110. In the metal pattern formation step, a predetermined metal pattern 120 is formed using, for example, a photolithography technique and an etching technique. Specifically, a metal film for pattern is deposited on both main surfaces of the quartz wafer 130 on which the quartz crystal piece 110 is formed, and a photosensitive resist is coated on the metal film for pattern, exposed and developed. Ru. Thereafter, the exposed pattern metal film is removed, and the photosensitive resist remaining on the quartz wafer 130 is removed.

(個片化工程)
個片化工程は、水晶ウエハ130に形成されている水晶片部の所定の一辺側を折り取り、または、切断することで、水晶片110を個片化する工程である。個片化工程前の水晶ウエハ130は、励振電極部121、引出部122および配線部123からなる金属パターン120が形成されている水晶片部110が、水晶片部110の主面の所定の一辺側で固定されている。個片化工程では、水晶片部110ごとに個片化されて、水晶素子100が形成される。
(Dividing process)
The singulation step is a step for singulating the quartz crystal piece 110 by breaking or cutting a predetermined one side of the quartz crystal piece portion formed on the quartz crystal wafer 130. The quartz crystal wafer 130 before the singulation step has a quartz piece 110 on which the metal pattern 120 including the excitation electrode 121, the lead-out 122 and the wiring 123 is formed is a predetermined side of the main surface of the quartz piece 110. It is fixed by the side. In the singulation step, the quartz crystal pieces 100 are singulated to form the quartz crystal element 100.

第一実施形態に係る水晶素子の製造方法は、互いに直交しているX軸とY軸とZ軸とからなる結晶軸を有した平板状の水晶ウエハ130を形成する水晶ウエハ形成工程と、水晶ウエハ130の外縁に沿って、少なくとも二行以上または二列以上あって、千鳥配列となるように、複数の貫通穴141を設け、緩和部140を形成する緩和部形成工程と、水晶ウエハ130の所定の位置に、略直方体形状に形成しつつ主面の所定の一辺側で固定している水晶片部110を形成する水晶片部形成工程と、励振電極部121、引出部122および配線部123となる金属パターン120を水晶片部110の所定の位置に形成する金属パターン形成工程と、水晶ウエハ130に形成されている水晶片部110の所定の一辺側を折り取り、または、切断することで、水晶片110を個片化する個片化工程と、を備えている。   In a method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, a quartz wafer forming step of forming a flat quartz wafer 130 having a crystal axis consisting of an X axis, a Y axis, and a Z axis orthogonal to each other; A relaxation portion forming step of providing a plurality of through holes 141 so as to form a relaxation portion 140 so that there are at least two rows or two rows and a staggered arrangement along the outer edge of the wafer 130; A crystal piece forming step of forming a crystal piece 110 fixed at a predetermined side of the main surface while forming a substantially rectangular parallelepiped shape at a predetermined position, an excitation electrode 121, a lead-out 122, and a wiring 123 And forming a metal pattern 120 at a predetermined position on the quartz-crystal piece 110, and breaking or cutting a predetermined side of the quartz-crystal piece 110 formed on the quartz-crystal wafer 130. It is provided with a singulation step of singulating quartz piece 110.

つまり、上記の構成とすることで、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、水晶ウエハ130を形成後に緩和部形成工程において、水晶ウエハ130の外縁に沿って千鳥配列状の貫通穴141が設けられている緩和部140を形成している。従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、水晶ウエハ130の外縁に部分的に応力が加わり、応力集中によるひび割れが外縁から内側に向かって生じた場合、緩和部140に設けられている貫通穴141によって応力集中を緩和することができ、ひび割れの進行を阻止することが可能となる。このため、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、ひび割れが原因で生じる水晶ウエハ130の変形を軽減することができ、水晶ウエハ130に形成される水晶片部110の所定の位置に所定の金属パターン120を形成することが可能となり、生産性を向上させることができる。   That is, with the above configuration, in the manufacturing method of the quartz crystal element according to the first embodiment, the through holes 141 in a zigzag arrangement along the outer edge of the quartz wafer 130 in the relaxation portion forming step after the quartz wafer 130 is formed. Form a relief portion 140 in which is provided. Therefore, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, when stress is partially applied to the outer edge of the quartz wafer 130 and a crack due to stress concentration is generated inward from the outer edge, Through the through holes 141, it is possible to relieve stress concentration and to prevent the progress of the crack. For this reason, in the method of manufacturing the quartz crystal element according to the first embodiment, the deformation of the quartz crystal wafer 130 caused by the crack can be reduced, and the predetermined position of the quartz crystal piece 110 formed on the quartz crystal wafer 130 can be determined. The metal pattern 120 can be formed to improve productivity.

また、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、緩和部形成工程において形成される緩和部140に設けられている貫通穴141が、千鳥配列となるように設けられている。従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、互い違いになるように配置されている貫通穴141を水晶ウエハ130の外縁に沿って水晶ウエハ130の外縁部に設けることで、水晶ウエハ130の外縁のどの場所からひび割れが生じた場合であっても、ひび割れを貫通穴141で止める可能性を高めることができ、水晶ウエハ130の内側へひび割れの進行が達することを低減させることが可能となる。この結果、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、ひび割れが原因で生じる水晶ウエハ130の変形を軽減することができ、水晶ウエハ130に形成される水晶片部110の所定の位置に所定の金属パターン120を形成することが可能となり、生産性を向上させることができる。   Further, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, the through holes 141 provided in the relieving part 140 formed in the relieving part forming step are provided in a staggered arrangement. Therefore, in the manufacturing method of the crystal element according to the first embodiment, the crystal wafer 130 is provided by providing the through holes 141 arranged to be alternately arranged along the outer edge of the crystal wafer 130 in the outer edge portion of the crystal wafer 130. It is possible to increase the possibility that the crack can be stopped by the through hole 141 and to reduce the progress of the crack progressing to the inside of the crystal wafer 130, regardless of the location of the crack from the outer edge of the Become. As a result, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, it is possible to reduce the deformation of the quartz wafer 130 caused by the cracks. It becomes possible to form a predetermined metal pattern 120 at a predetermined position of the formed quartz-crystal piece 110, and productivity can be improved.

また、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法は、緩和部形成工程において、水晶ウエハ130を平面視して、緩和部140が、貫通穴141の開口部が水晶ウエハ130の外縁側に設けられた第一緩和部140aと、第一緩和部140aより内側に設けられた第二緩和部140bとで構成されており、第一緩和部140aに設けられた貫通穴141(第一貫通穴141a)の開口部において、隣接する開口部の端部間の距離(第一貫通穴間距離S11)が、第二緩和部140bに設けられた貫通穴141(第二貫通穴141b)の開口部の端部間の距離(第二貫通穴口距離H12)より、短くなっている。   In the method of manufacturing the quartz crystal element according to the first embodiment, the quartz crystal wafer 130 is planarly viewed in the relaxation portion forming step, and the relaxation portion 140 has the opening of the through hole 141 on the outer edge side of the quartz crystal wafer 130. Through hole 141 (a first through hole 141a) formed in the first relief portion 140a. The first relief portion 140a and the second relief portion 140b are provided on the inner side of the first relief portion 140a. Of the openings of the through holes 141 (the second through holes 141 b) provided in the second relaxation portion 140 b, in the openings of b), the distance between the ends of the adjacent openings (the first through hole distance S11). It is shorter than the distance between the end portions (second through hole distance H12).

従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、隣接する第一貫通穴141aの開口部の端部間の距離(第一貫通穴間距離S11)は、第二貫通穴141bの開口部の端部間の距離(第二貫通穴口距離H12)より短くすることで、緩和部形成工程後の水晶ウエハ130を平面視したとき、水晶ウエハ130の外縁から内側に向かって仮想直線上には、第一貫通穴141aまたは第二貫通穴141bを配置させることができる。このため、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、水晶ウエハ130の外縁に部分的に応力が加わり、応力集中によるひび割れが外縁から内側へ進行する場合、第一緩和部140aの第一貫通穴141aが設けられていない部分をひび割れが進行しても、ひび割れを第二緩和部140bの第二貫通穴141bに到達させる可能性を高くすることができる。従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、第一貫通穴141aまたは第二貫通穴141bでひび割れの進行を阻止する可能性をより高くすることができ、この結果、水晶ウエハ130の外縁から緩和部140を超えて緩和部140の内側へ達することをより低減させることが可能となり、ひび割れが原因で生じる水晶ウエハ130の変形を軽減することができ、水晶ウエハ130に形成される水晶片部110の所定の位置に所定の金属パターン120を形成することが可能となり、生産性を向上させることが可能となる。   Therefore, in the method for manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, the distance between the end portions of the openings of the adjacent first through holes 141a (first inter through hole distance S11) is the opening of the second through hole 141b. When the crystal wafer 130 after the relaxation portion formation step is viewed in plan from the outer edge of the crystal wafer 130, the distance from the outer edge of the crystal wafer 130 to the virtual straight line The first through hole 141a or the second through hole 141b can be disposed. For this reason, in the method of manufacturing the quartz crystal element according to the first embodiment, when stress is partially applied to the outer edge of the quartz wafer 130 and a crack due to stress concentration progresses inward from the outer edge, the first relaxation portion 140a Even if the crack progresses in a portion where the through hole 141a is not provided, the possibility of causing the crack to reach the second through hole 141b of the second relaxing portion 140b can be increased. Therefore, in the manufacturing method of the crystal element according to the first embodiment, the possibility of preventing the progress of the crack in the first through hole 141a or the second through hole 141b can be further increased. It is possible to further reduce reaching from the outer edge to the inside of the relaxing portion 140 beyond the relaxing portion 140, and it is possible to reduce the deformation of the quartz wafer 130 caused by the crack, and the quartz formed on the quartz wafer 130 It becomes possible to form the predetermined metal pattern 120 at the predetermined position of the piece portion 110, and it becomes possible to improve the productivity.

また、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法は、緩和部形成工程において、貫通穴141の開口部の端部が丸みを帯びている。このようにすることで、貫通穴141に加わる応力を分散させることできるので、貫通穴141を起点とした水晶ウエハ130のひび割れによる水晶ウエハ130の変形を低減させることができる。   In the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, the end of the opening of the through hole 141 is rounded in the relaxation portion forming step. By doing this, it is possible to disperse the stress applied to the through hole 141, so it is possible to reduce the deformation of the crystal wafer 130 due to the crack of the crystal wafer 130 starting from the through hole 141.

従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法は、開口部の端部に応力が集中することを低減させている。このため、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、貫通穴141の開口部の端部を、丸みを帯びた形状にすることで、開口部の端部に応力集中を緩和し、開口部の端部からひび割れが生じることを低減させることができる。この結果、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法では、ひび割れが原因で生じる水晶ウエハ130の変形を軽減することができ、水晶ウエハ130に形成される水晶片部110の所定の位置に所定の金属パターン120を形成することが可能となり、生産性を向上させることができる。   Therefore, the method of manufacturing the crystal element according to the first embodiment reduces the concentration of stress at the end of the opening. For this reason, in the method for manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, the end of the opening of the through hole 141 is rounded, thereby relieving stress concentration on the end of the opening and opening the opening. It is possible to reduce the occurrence of cracks from the end of the part. As a result, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, it is possible to reduce the deformation of the quartz wafer 130 caused by the cracks. It becomes possible to form a predetermined metal pattern 120 at a predetermined position of the formed quartz-crystal piece 110, and productivity can be improved.

なお、第一の実施形態では、緩和部140に貫通穴141が設けられている場合について説明しているが、例えば、凹部であってもよい。このように緩和部140に凹部を設けることで、緩和部140の変形をしやすくすることができ、緩和部140に貫通穴141を設けた場合と同様の効果を奏することができる。   In the first embodiment, although the case where the through hole 141 is provided in the relieving portion 140 is described, for example, a recess may be used. By providing the recess in the relief portion 140 in this manner, the relief portion 140 can be easily deformed, and the same effect as in the case where the through hole 141 is provided in the relief portion 140 can be obtained.

(変形例1)
変形例1は、図5および図6に示すように緩和部240に設けられている貫通穴241の形状が、第一実施形態と異なる。変形例1では、第一実施形態と同様に、緩和部240は第一緩和部240aおよび第二緩和部240bからなっており、第一緩和部240aが水晶ウエハ230の外縁に沿って水晶ウエハ230の外縁部に配置されており、第二緩和部240bが第一緩和部240aの内側に配置されている。また、緩和部240に設けられている貫通穴241は、第一緩和部240aに設けられている貫通穴241(第一貫通穴241a)と第二緩和部240bに設けられている貫通穴241(第二貫通穴241b)とで千鳥配列となるように配置されている。このとき、隣接する第一貫通穴241aの端部間の距離(第一貫通穴間距離S21)が、第二貫通穴241bの端部間の距離(第二貫通穴口距離H22)より短くなっている。
(Modification 1)
The first modification is different from the first embodiment in the shape of the through hole 241 provided in the relief portion 240 as shown in FIGS. 5 and 6. In the first modification, as in the first embodiment, the relaxation portion 240 includes the first relaxation portion 240 a and the second relaxation portion 240 b, and the first relaxation portion 240 a extends along the outer edge of the quartz wafer 230. And the second relief portion 240b is located inside the first relief portion 240a. In addition, the through holes 241 provided in the relieving portion 240 are the through holes 241 (first through holes 241 a) provided in the first relieving portion 240 a and the through holes 241 (in the second relieving portion 240 b). The second through holes 241 b) are arranged in a staggered arrangement. At this time, the distance between the ends of the first through holes 241a adjacent to each other (first inter-hole distance S21) is shorter than the distance between the ends of the second through holes 241b (second through hole distance H22). There is.

変形例1の緩和部240に設けられている貫通穴241は、図5および図6に示したように、開口部が、略半円形状となっている。このとき、半円の中心は水晶ウエハ230の外縁側に位置している。よって、貫通穴241の開口部に着目すると、開口部の弧の部分が水晶ウエハ230の内側に位置していることとなる。このような構成にすることで、水晶ウエハ230の内側に部分的に応力が加わり、応力集中によるひび割れが進行している場合、開口部が直線となっている場合と比較して、応力集中をより緩和させることができ、貫通穴241によってひび割れの進行を阻止することが可能となる。   As shown in FIGS. 5 and 6, in the through hole 241 provided in the relaxing portion 240 of the first modification, the opening has a substantially semicircular shape. At this time, the center of the semicircle is located on the outer edge side of the quartz wafer 230. Therefore, focusing on the opening of the through hole 241, the arc part of the opening is located inside the quartz wafer 230. With such a configuration, when stress is partially applied to the inside of the quartz wafer 230 and a crack due to stress concentration is in progress, stress concentration is reduced compared to when the opening is linear. It is possible to further alleviate and through holes 241 can prevent the progress of cracks.

なお、ここで、貫通穴241の開口部が半円形状の場合について説明しているが、半楕円形状であってもよい。半楕円形状の場合も、開口部が直線の場合と比較して、貫通穴241での応力を分散させることができる。この結果、水晶ウエハ230の緩和部240より内側の部分から応力が加わった場合であっても、貫通穴241で応力を緩和することができ、水晶ウエハ230の強度を高めることができる。   Here, although the case where the opening of the through hole 241 is semicircular is described, it may be semielliptical. Also in the case of the semi-elliptical shape, the stress at the through hole 241 can be dispersed as compared with the case where the opening is straight. As a result, even when stress is applied from a portion on the inner side than the relaxation portion 240 of the quartz wafer 230, the stress can be relieved by the through holes 241, and the strength of the quartz wafer 230 can be enhanced.

第一実施形態に係る水晶素子の製造方法の変形例1では、貫通穴241を、中心が水晶ウエハ230の外縁側に位置するように、略半円形状(略半楕円形状)とすることで、応力集中によるひび割れが水晶ウエハ230の内側から外縁に向かって進行している場合であっても、貫通穴241により応力集中をより緩和させつつ、水晶ウエハ230の強度を高めることができる。従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法の変形例1では、各工程時に水晶ウエハ230がひび割れが原因による破損を低減させることができ、生産性を向上させることが可能となる。   In Modification 1 of the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, the through hole 241 has a substantially semicircular shape (substantially semielliptical shape) such that the center is located on the outer edge side of the quartz wafer 230. Even when a crack due to stress concentration progresses from the inside to the outer edge of the quartz wafer 230, the strength of the quartz wafer 230 can be increased while the stress concentration is further alleviated by the through holes 241. Therefore, in the modification 1 of the manufacturing method of the crystal element according to the first embodiment, it is possible to reduce the breakage of the crystal wafer 230 caused by the crack during each process, and to improve the productivity.

(変形例2)
変形例2は、図7および図8に示すように、緩和部340に設けられている貫通穴341の形状が、第一実施形態と異なる。変形例2では、第一実施形態と同様に、緩和部340は、第一緩和部340aおよび第二緩和ウ340bからなっており、第一緩和部340aが水晶ウエハ330の外縁に沿って水晶ウエハ330の外縁部に配置されており、第二緩和部340bが第一緩和部340aの内側に沿って配置されている。また、緩和部340に設けられている貫通穴341は、第一緩和部340aに設けられている貫通穴341(第一貫通穴341a)と第二緩和部340bに設けられている貫通穴341(第二貫通穴341b)とで、千鳥配列となるように配置されている。このとき、隣接する第一貫通穴341aの端部間の距離(第一貫通穴距離S31)が、第二貫通穴341bの端部間の距離(第二貫通穴口距離H32)より短くなっている。
(Modification 2)
As shown in FIGS. 7 and 8, the second modification differs from the first embodiment in the shape of the through hole 341 provided in the relief portion 340. In the second modification, as in the first embodiment, the relaxation portion 340 includes a first relaxation portion 340 a and a second relaxation portion 340 b, and the first relaxation portion 340 a is a quartz wafer along the outer edge of the quartz wafer 330. The second relieving portion 340b is disposed along the inside of the first relieving portion 340a. In addition, the through holes 341 provided in the relieving portion 340 are the through holes 341 (first through holes 341a) provided in the first relieving portion 340a and the through holes 341 (in the second relieving portion 340b). The second through holes 341b) are arranged in a staggered arrangement. At this time, the distance between the ends of the first through holes 341a adjacent to each other (first through hole distance S31) is shorter than the distance between the ends of the second through holes 341b (second through hole distance H32) .

変形例2の緩和部340に設けられている貫通穴341は、図8および図9に示したように、開口部が円弧形状となっている。このとき、円弧形状の円の中心が水晶ウエハ430の外縁側に位置している。このような構成にすることで、応力集中によるひび割れが外縁から内側へ向かう向きに進行している場合であっても、応力集中によるひび割れが内側から外縁へ向かう向きに進行している場合であっても、緩和部340に設けられている貫通穴341により応力集中をより緩和することができる。また、貫通穴341の開口部を円弧形状にすることで、開口部を円形形状にした場合と比較して、緩和部340の距離、具体的には、水晶ウエハ330の外縁から緩和部340の内側の部分までの距離を短くすることができる。従って、緩和部340の効果を保ちつつ、水晶ウエハ330の緩和部340の部分を小さくすることが可能となり、緩和部340より内側の水晶ウエハ330の面積を大きくすることができる。この結果、緩和部340より内側の水晶ウエハ330の内側に水晶片部110をより多く設けることが可能となり、生産性を向上させることが可能となる。   As shown in FIGS. 8 and 9, in the through hole 341 provided in the relief portion 340 of the second modification, the opening has an arc shape. At this time, the center of the arc-shaped circle is located on the outer edge side of the quartz wafer 430. With such a configuration, even if the stress concentration is progressing toward the inside from the outer edge, the stress concentration is likely to progress when the stress is directed from the inside to the outer edge. However, the stress concentration can be further alleviated by the through holes 341 provided in the relief portion 340. Further, by forming the opening of the through hole 341 in an arc shape, the distance from the relaxing portion 340, specifically, from the outer edge of the quartz wafer 330 to that of the relaxing portion 340, as compared to the case where the opening is circular. The distance to the inner part can be shortened. Therefore, the portion of the relaxation portion 340 of the crystal wafer 330 can be reduced while maintaining the effect of the relaxation portion 340, and the area of the crystal wafer 330 inside the relaxation portion 340 can be increased. As a result, it is possible to provide more quartz crystal pieces 110 inside the quartz crystal wafer 330 on the inner side than the relaxation portion 340, and it is possible to improve the productivity.

第一実施形態に係る水晶素子の製造方法の変形例2では、貫通穴341を、中心が水晶ウエハ330の外縁側に位置している円の円弧形状とすることで、水晶ウエハ330の内側および外縁からの応力を、貫通穴341で緩和することができ、水晶ウエハ330の強度を高めることができる。従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法の変形例2では、水晶ウエハ330の強度を高めることができるので、各工程時に水晶ウエハ330が破損することを低減させることができ、生産性を向上させることができる。   In the second modification of the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, the through hole 341 has an arc shape of a circle whose center is located on the outer edge side of the quartz wafer 330, Stress from the outer edge can be relieved by the through holes 341, and the strength of the quartz wafer 330 can be increased. Therefore, in the modification 2 of the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, since the strength of the quartz wafer 330 can be increased, breakage of the quartz wafer 330 during each process can be reduced, and the productivity Can be improved.

また、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法の変形例2では、貫通穴342を、中心が水晶ウエハ330の外縁側に位置している円の円弧形状とすることで、貫通穴341が円形形状の場合と比較して、緩和部340の部分の面積を小さくすることが可能となる。従って、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法の変形例2では、水晶ウエハ330の緩和部340の部分を小さくすることが可能となり、緩和部340より内側の水晶ウエハ330の面積を大きくすることができる。この結果、第一実施形態に係る水晶素子の製造方法の変形例2では、緩和部340より内側の水晶ウエハ330の内側に水晶片部110をより多く設けることが可能となり、生産性を向上させることが可能となる。   In the second modification of the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, the through hole 342 has a circular arc shape with a center located on the outer edge side of the quartz wafer 330. As compared with the case of the circular shape, the area of the portion of the relaxing portion 340 can be reduced. Therefore, in the modification 2 of the method of manufacturing the quartz crystal element according to the first embodiment, the portion of the relaxation portion 340 of the quartz wafer 330 can be made smaller, and the area of the quartz wafer 330 inside the relaxation portion 340 is increased. be able to. As a result, in the modification 2 of the method of manufacturing a quartz crystal element according to the first embodiment, it is possible to provide more quartz crystal pieces 110 inside the quartz wafer 330 inside the relaxation part 340, thereby improving productivity. It becomes possible.

(第二実施形態)
第二実施形態に係る水晶素子の製造方法は、図9〜図12に示したように、緩和部形成工程で形成される緩和部440に凹部441が設けられており、緩和部440が第一緩和部440a、第二緩和部440b、第三緩和部440cおよび第四緩和部440dから構成されている点で第一実施形態と異なる。
Second Embodiment
In the method of manufacturing the crystal element according to the second embodiment, as shown in FIG. 9 to FIG. 12, the recess 441 is provided in the relief portion 440 formed in the relief portion forming step, and the relief portion 440 is the first. The present embodiment is different from the first embodiment in that it is composed of a relaxation unit 440a, a second relaxation unit 440b, a third relaxation unit 440c and a fourth relaxation unit 440d.

緩和部形成工程で形成される緩和部440は、第一緩和部440a、第二緩和部440b、第三緩和部440cおよび第四緩和部440dからなっている。緩和部440は、水晶ウエハ430の外縁に沿って水晶ウエハ430の外縁部に第一緩和部440aが配置されており、この第一緩和部440aの内側に沿って第二緩和部440bが配置され、第二緩和部440bの内側に沿って第三緩和部440cが配置され、第三緩和部440cの内側に沿って第四緩和部440dが配置されている。   The relieving part 440 formed in the relieving part forming step includes a first relieving part 440a, a second relieving part 440b, a third relieving part 440c, and a fourth relieving part 440d. In the relaxation portion 440, a first relaxation portion 440a is disposed at the outer edge of the quartz wafer 430 along the outer edge of the quartz wafer 430, and a second relaxation portion 440b is disposed along the inside of the first relaxation portion 440a. The third relief portion 440c is disposed along the inside of the second relief portion 440b, and the fourth relief portion 440d is disposed along the inside of the third relief portion 440c.

第一緩和部440aは、水晶ウエハ430の外縁に沿って水晶ウエハ430の外縁部に配置されている。また、第一緩和部440aには、複数の凹部441が設けられている。ここで、この第一緩和部440aに設けられている凹部441を第一凹部441aとする。第一凹部441aは、水晶ウエハ430の外縁に沿って環状に配置されており、水晶ウエハ430の上面と水晶ウエハ430の下面とに交互となるように設けられている。つまり、第一凹部441aは、隣接する第一凹部441aが反対側を向く水晶ウエハ430の主面に設けられている。このとき、水晶ウエハ430を平面透視すると、隣接する第一凹部441aは重なっていない。   The first relaxation portion 440 a is disposed at the outer edge of the quartz wafer 430 along the outer edge of the quartz wafer 430. Further, the first relief portion 440a is provided with a plurality of recesses 441. Here, the recess 441 provided in the first relief portion 440a is referred to as a first recess 441a. The first recess 441 a is annularly disposed along the outer edge of the quartz wafer 430, and is alternately provided on the upper surface of the quartz wafer 430 and the lower surface of the quartz wafer 430. That is, the first recess 441a is provided on the main surface of the quartz-crystal wafer 430 with the adjacent first recess 441a facing the opposite side. At this time, when seen through the crystal wafer 430, the adjacent first concave portions 441a do not overlap.

第二緩和部440bは、第一緩和部440aの内側に沿って環状に配置されている。第二緩和部440bには、複数の凹部441が設けられている。ここで、第二緩和部440bに設けられている凹部441を第二凹部441bとする。第二凹部441bは、第一凹部441aと千鳥配列となるように、第一凹部441aの内側に環状に配置されている。また、第二凹部441bは、水晶ウエハ430の上面と水晶ウエハ430の下面とに交互となるように設けられている。つまり、第二凹部441bは、隣接する第二凹部441bが反対側を向く水晶ウエハ430の主面に設けられている。このとき、水晶ウエハ430を平面視すると、隣接する第二凹部441bは重なっていない。また、第二凹部441bは、第一緩和部440aに設けられている第一凹部441aとも重なっていない。   The second relief portion 440b is annularly disposed along the inside of the first relief portion 440a. The second relief portion 440b is provided with a plurality of recesses 441. Here, the recess 441 provided in the second relief portion 440b is referred to as a second recess 441b. The second concave portions 441 b are annularly arranged inside the first concave portions 441 a so as to form a staggered arrangement with the first concave portions 441 a. In addition, the second concave portions 441 b are provided alternately on the upper surface of the quartz wafer 430 and the lower surface of the quartz wafer 430. That is, the second recess 441 b is provided on the main surface of the quartz-crystal wafer 430 with the adjacent second recess 441 b facing the opposite side. At this time, when the crystal wafer 430 is viewed in plan, the adjacent second concave portions 441 b do not overlap. In addition, the second recess 441 b does not overlap with the first recess 441 a provided in the first relief portion 440 a.

第三緩和部440cは、第二緩和部440bの内側に沿って環状に配置されている。第三緩和部440cには、複数の凹部441が設けられている。ここで、第三緩和部440cに設けられている凹部441を第三凹部441cとする。第三凹部441cは、第二凹部441bと千鳥配列となるように、第二凹部441bの内側に環状に配置されている。また、第三凹部441cは、水晶ウエハ430の上面と水晶ウエハ430の下面とに交互となるように設けられている。つまり、第三凹部441cは、隣接する第三凹部441cが反対側を向く水晶ウエハ430の主面に設けられている。このとき、水晶ウエハ430を平面視すると、隣接する第三凹部441cは重なっていない。また、第三凹部441cは、第二緩和部440bに設けられている第二凹部441bとも重なっていない。   The third relief portion 440c is annularly disposed along the inside of the second relief portion 440b. The third relief portion 440 c is provided with a plurality of recesses 441. Here, the recess 441 provided in the third relief portion 440c is referred to as a third recess 441c. The third recesses 441 c are annularly disposed inside the second recesses 441 b so as to form a staggered arrangement with the second recesses 441 b. In addition, the third concave portions 441 c are provided alternately on the upper surface of the quartz-crystal wafer 430 and the lower surface of the quartz-crystal wafer 430. That is, the third recess 441 c is provided on the main surface of the quartz-crystal wafer 430 with the adjacent third recess 441 c facing the opposite side. At this time, when the crystal wafer 430 is viewed in plan, the adjacent third concave portions 441 c do not overlap. In addition, the third concave portion 441c does not overlap with the second concave portion 441b provided in the second relief portion 440b.

第四緩和部440dは、第三緩和部440cの内側に沿って環状に配置されている。また、第四緩和部440dには、複数の凹部441が設けられている。ここで、第四緩和部440dに設けられている凹部441を第四凹部441dとする。第四凹部441dは、第三凹部441cと千鳥配列となるように、第三凹部441cの内側に環状に配列されている。また、第四凹部441dは、水晶ウエハ430の上面と水晶ウエハ430の下面とに交互となるように設けられている。つまり、第四凹部441dは、隣接する第四凹部441dが反対側を向く水晶ウエハ430の主面に設けられている。このとき、水晶ウエハ430を平面視すると、隣接する第四凹部441dは重なっていない。また、第四凹部441dは、第三緩和部440cに設けられている第三凹部441cとも重なっていない。   The fourth relief portion 440d is annularly disposed along the inside of the third relief portion 440c. In addition, the fourth relief portion 440d is provided with a plurality of recesses 441. Here, the concave portion 441 provided in the fourth relief portion 440d is referred to as a fourth concave portion 441d. The fourth concave portion 441 d is annularly arranged inside the third concave portion 441 c so as to form a staggered arrangement with the third concave portion 441 c. In addition, the fourth concave portions 441 d are provided alternately on the upper surface of the quartz wafer 430 and the lower surface of the quartz wafer 430. That is, the fourth recess 441 d is provided on the main surface of the quartz-crystal wafer 430 with the adjacent fourth recess 441 d facing the opposite side. At this time, when the crystal wafer 430 is viewed in plan, the adjacent fourth concave portions 441 d do not overlap. In addition, the fourth concave portion 441 d does not overlap with the third concave portion 441 c provided in the third relief portion 440 c.

それぞれの緩和部440において、隣接する貫通穴441の端部間の距離は全て同じとなっており、具体的には、隣接する第一凹部441aの端部間の距離(第一凹部間距離S41)、隣接する第三凹部441cの端部間の距離(第三凹部間距離S43)、隣接する第二凹部441bの端間の距離(第二凹部間距離S42)、および、隣接する第四凹部441dの端部間の距離(第四凹部間距離S44)が同じとなっている。また、それぞれの緩和部440において、貫通穴441の開口部の形状は同じとなっている。従って、第一凹部441aの開口部の端部間の距離(第一凹部口距離H41)、第二凹部441bの開口部の端部間の距離(第二凹部口距離H42)、第三凹部441cの開口部の端部間の距離(第三凹部口距離H43)、および、第四凹部441dの開口部の端部間の距離(第四凹部口距離H44)は、同じとなっている。このとき、隣接する凹部441の端部間の距離が、隣接する緩和部440aの凹部441の開口部の端部間の距離より短くなっている。   The distance between the ends of the adjacent through holes 441 is the same in all the relaxation portions 440. Specifically, the distance between the ends of the adjacent first concave portions 441a (the distance between the first concave portions S41) ), The distance between the ends of the adjacent third recesses 441c (the distance between the third recesses S43), the distance between the ends of the adjacent second recesses 441b (the distance between the second recesses S42), and the adjacent fourth recess The distance between the end portions of the 441 d (the distance S44 between the concave portions) is the same. Further, in each relief portion 440, the shape of the opening of the through hole 441 is the same. Therefore, the distance between the ends of the opening of the first recess 441a (first recess opening distance H41), the distance between the ends of the opening of the second recess 441b (second recess opening H42), the third recess 441c The distance between the ends of the openings (third recess opening distance H43) and the distance between the ends of the openings of the fourth recess 441d (fourth recess opening distance H44) are the same. At this time, the distance between the ends of the adjacent concave portions 441 is shorter than the distance between the ends of the openings of the concave portions 441 of the adjacent relief portions 440a.

従って、第二実施形態では、第一凹部間距離S41は第二凹部口距離H42より短くなっており、第二凹部間距離S42は第三凹部口距離H43より短くなっており、第三凹部間距離S43は第四凹部口距離H44より短くなっている。このような構成にすることで、水晶ウエハ430の外縁から内側に向かう仮想直線上には、第一凹部441a、第二凹部441b、第三凹部441cおよび第四凹部441dのいずれかを配置させることが可能となる。応力集中によるひび割れは一般的に直線状に進行するので、水晶ウエハ430の外縁に部分的に応力が加わり、応力集中によるひび割れが外縁から内側に向かって進行する場合、第一凹部441a、第二凹部441b、第三凹部441cおよび第四凹部441dのいずれかにひび割れを到達させることができ、応力集中を緩和させることが可能となる。よって、応力集中によるひび割れが外縁から内側に向かって進行している場合、緩和部440の凹部441のいずれかによって応力集中を緩和させることができ、ひび割れの進行が緩和部440より内側に達することを低減させることが可能となる。   Therefore, in the second embodiment, the first inter-recess distance S41 is shorter than the second inter-opening distance H42, and the second inter-recess distance S42 is shorter than the third-recess opening distance H43. The distance S43 is shorter than the fourth recess opening distance H44. With such a configuration, any one of the first recess 441 a, the second recess 441 b, the third recess 441 c, and the fourth recess 441 d may be disposed on an imaginary straight line extending inward from the outer edge of the quartz wafer 430. Is possible. Since stress concentration cracks generally proceed in a straight line, when the stress is partially applied to the outer edge of the quartz wafer 430 and stress concentration cracks progress inward from the outer edge, the first recess 441a, the second The crack can be made to reach any of the recess 441b, the third recess 441c, and the fourth recess 441d, and the stress concentration can be alleviated. Therefore, when a crack due to stress concentration is progressing inward from the outer edge, the stress concentration can be relaxed by any of the concave portions 441 of the relief portion 440, and the progress of the crack reaches inside the relief portion 440. It is possible to reduce the

第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、緩和部形成工程において、凹部441が水晶ウエハ430の上面および水晶ウエハ430の下面に形成されている。従って、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、緩和部形成工程において貫通穴を設けて緩和部を形成する場合と比較して、水晶ウエハ430の強度を高めることができる。このため、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、各工程時に水晶ウエハ330が破損することを低減させることができ、生産性を向上させることができる。   In the method of manufacturing a quartz crystal element according to the second embodiment, the recess 441 is formed on the upper surface of the quartz wafer 430 and the lower surface of the quartz wafer 430 in the relaxation portion forming step. Therefore, in the method for manufacturing a quartz crystal element according to the second embodiment, the strength of the quartz-crystal wafer 430 can be increased as compared to the case where the through holes are provided to form the relaxed portions in the relaxed portion forming step. For this reason, in the method of manufacturing a crystal element according to the second embodiment, breakage of the crystal wafer 330 in each process can be reduced, and productivity can be improved.

また、凹部441を水晶ウエハ430の上面および下面に設けることで、水晶ウエハ430の上面の端部から応力が加わった場合であっても、水晶ウエハ430の下面の端部から応力が加わった場合であっても、凹部441で応力を緩和することを可能としている。   Further, by providing the concave portions 441 on the upper and lower surfaces of the quartz wafer 430, even if stress is applied from the end of the upper surface of the quartz wafer 430, stress is applied from the end of the lower surface of the quartz wafer 430 Even in this case, it is possible to relieve the stress in the recess 441.

また、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、緩和部形成工程において、水晶ウエハ430を平面透視したとき、水晶ウエハ430の上面に設けられている凹部441が、水晶ウエハ430の下面に設けられている凹部441と重なっていない。従って、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、緩和部形成工程において貫通穴を設けて緩和部を形成する場合と比較して、水晶ウエハ430の強度を高めることができる。このため、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、各工程時に水晶ウエハ330が破損することを低減させることができ、生産性を向上させることができる。   Further, in the method of manufacturing the quartz crystal element according to the second embodiment, when the quartz wafer 430 is seen through the plane in the relaxation portion forming step, the concave portion 441 provided on the upper surface of the quartz wafer 430 is formed on the lower surface of the quartz wafer 430. It does not overlap with the recess 441 provided. Therefore, in the method for manufacturing a quartz crystal element according to the second embodiment, the strength of the quartz-crystal wafer 430 can be increased as compared to the case where the through holes are provided to form the relaxed portions in the relaxed portion forming step. For this reason, in the method of manufacturing a crystal element according to the second embodiment, breakage of the crystal wafer 330 in each process can be reduced, and productivity can be improved.

また、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、緩和部形成工程において、緩和部440が、第一緩和部440a、第二緩和部440b、第三緩和部440cおよび第四緩和部440dからなり、第一緩和部440a、第二緩和部440b、第三緩和部440cおよび第四緩和部440dが、水晶ウエハ430の外縁から水晶ウエハ430の内側に向かって順に配置されており、第一緩和部440a、第二緩和部440b、第三緩和部440cおよび第四緩和部440dに設けられている凹部441が、水晶ウエハ430の上面と水晶ウエハ430の下面とに交互になるように設けられている。   In the method of manufacturing a quartz crystal element according to the second embodiment, in the relaxation portion forming step, the relaxation portion 440 includes the first relaxation portion 440a, the second relaxation portion 440b, the third relaxation portion 440c, and the fourth relaxation portion 440d. The first relaxation portion 440a, the second relaxation portion 440b, the third relaxation portion 440c, and the fourth relaxation portion 440d are disposed in order from the outer edge of the quartz wafer 430 toward the inside of the quartz wafer 430. Recesses 441 provided in the portion 440 a, the second relaxation portion 440 b, the third relaxation portion 440 c and the fourth relaxation portion 440 d are alternately provided on the upper surface of the quartz wafer 430 and the lower surface of the quartz wafer 430. There is.

従って、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、水晶ウエハ430の外縁に部分的に応力が加わり、応力集中によるひび割れが外縁から内側に向かう向きに進行する場合、第一凹部441a、第二凹部441b、第三凹部441cおよび第四凹部441dのいずれかの内壁面まで伝搬させることができ、応力を緩和させることができる。このため、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、応力集中によるひび割れが水晶ウエハ430の外縁から緩和部440を超えて内側へ進行することを低減させることができる。この結果、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、ひび割れが原因で生じる水晶ウエハ430の変形を軽減することができ、水晶ウエハ430に形成される水晶片部410の所定の位置に所定の金属パターン420を形成することが可能となり、生産性を向上させることができる。   Therefore, in the method of manufacturing the quartz crystal element according to the second embodiment, when stress is partially applied to the outer edge of the quartz wafer 430 and a crack due to stress concentration progresses inward from the outer edge, the first recess 441a, It can be made to propagate to the inner wall surface of any one of the second recess 441b, the third recess 441c, and the fourth recess 441d, and the stress can be relieved. For this reason, in the method of manufacturing the quartz crystal element according to the second embodiment, it is possible to reduce the progress of the crack due to the stress concentration from the outer edge of the quartz wafer 430 beyond the relaxation portion 440 to the inside. As a result, in the method of manufacturing the quartz crystal element according to the second embodiment, the deformation of the quartz wafer 430 caused by the crack can be reduced, and a predetermined position of the quartz piece portion 410 formed on the quartz wafer 430 can be determined. The metal pattern 420 can be formed, and the productivity can be improved.

また、第二実施形態では、水晶ウエハ430の上面と水晶ウエハ430の下面とに交互になるように凹部441を設けているので、水晶ウエハ430の強度を保ちつつ、水晶ウエハ430の上面側の端部からの応力であっても、水晶ウエハ430の下面側の端部からの応力であっても、緩和部440で応力を緩和することが可能となる。従って、第二実施形態に係る水晶素子の製造方法では、水晶ウエハ430の外縁から応力が加わった場合、ヒビ割れが進行することを低減させることが可能となり、生産性を向上させることができる。   Further, in the second embodiment, since the concave portions 441 are provided alternately on the upper surface of the quartz wafer 430 and the lower surface of the quartz wafer 430, the strength of the quartz wafer 430 is maintained. Even if the stress is from the end or the stress from the end on the lower surface side of the quartz wafer 430, the stress can be relieved by the relief portion 440. Therefore, in the method of manufacturing a quartz crystal element according to the second embodiment, when stress is applied from the outer edge of the quartz wafer 430, it is possible to reduce the progress of cracking and improve productivity.

なお、ここで、水晶素子の水晶片が略直方体形状の場合について説明しているが、水晶ウエハの状態で複数の水晶片となる部分を同時に形成する場合であれば、水晶片の形状は特に問わず、例えば、水晶片が音叉型であってもよい。   Here, although the case where the quartz crystal piece of the quartz crystal element has a substantially rectangular parallelepiped shape is described, the shape of the quartz crystal piece is particularly the one if the portions to be a plurality of quartz crystal pieces are simultaneously formed in the quartz wafer state. Regardless, for example, the crystal piece may be a tuning fork type.

また、水晶ウエハ形成工程において、水晶ウエハの主面がX軸およびZ軸に平行となっている面を、X軸を中心に、X軸の負の方向を見て反時計回りに所定の角度回転させた面と平行になっている場合について説明しているが、カットアングルは特に指定せず、例えば、X軸およびY軸に平行となっている面であってもよい。   Further, in the quartz wafer forming process, a predetermined angle in a counterclockwise direction with the main surface of the quartz wafer being parallel to the X axis and the Z axis, with the X axis as the center and the negative direction of the X axis Although the case of being parallel to the rotated surface is described, the cut angle is not particularly specified, and for example, the plane may be parallel to the X axis and the Y axis.

緩和部形成工程において、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術を用いて、凹部または貫通穴を設けている場合について説明しているが、所定の形状に形成することができれば、例えば、ドライエッチング技術を用いてもよいし、サンドブラスト等により研削を行ってもよい。   Although the case where the recess or the through hole is provided by using the photolithography technique and the etching technique in the relaxation portion forming step is described, if it can be formed into a predetermined shape, for example, the dry etching technique is used. Also, grinding may be performed by sand blasting or the like.

水晶片部形成工程において、フォトリソグラウフィー技術およびエッチング技術を用いて、水晶片部形成用貫通穴を形成している場合について説明しているが、所定の形状に形成することができれば、例えば、ドライエッチング技術を用いても良いし、サンドブラスト等により研削を行ってもよい。   In the crystal piece formation step, the case where the crystal piece formation through hole is formed using the photolithographic technique and the etching technique is described, but if it can be formed into a predetermined shape, for example, A dry etching technique may be used, or grinding may be performed by sand blasting or the like.

緩和形成工程および水晶片部形成工程をそれぞれ独立に行った場合について説明しているが、例えば、緩和部形成工程および水晶片部形成工程を同時に行ってもよい。このようにすることで、生産時間の短縮を行うことができ、生産性を向上させることができる。   Although the case where the relaxation forming step and the crystal piece forming step are independently performed is described, for example, the relaxation portion forming step and the crystal piece forming step may be performed simultaneously. By doing this, the production time can be shortened and productivity can be improved.

金属パターン形成工程において、フォトリソグラフィー技術およびエッチング技術を用いて、所定の金属パターンを形成している場合について説明しているが、例えば、蒸着技術またはエッチング技術を用いて、所定のパターンの金属を被着させることで所定のパターンの金属パターンを形成してもよい。   In the metal pattern formation step, the case where a predetermined metal pattern is formed using a photolithography technique and an etching technique is described. For example, a metal having a predetermined pattern is formed using a deposition technique or an etching technique. The metal pattern of a predetermined pattern may be formed by depositing.

金属パターン形成工程において、励振電極部、引出部および配線部となる金属パターンを同時に形成している場合について説明しているが、励振電極部、引出部、配線部、それぞれ独立に形成してもよいし、いずれか二つを選んで同時に形成しもよい。また、それぞれ、別々の方法で、形成してもよい。   In the metal pattern forming step, the case where the excitation electrode portion, the lead portion, and the metal pattern to be the wiring portion are simultaneously formed is described, but the excitation electrode portion, the lead portion, and the wiring portion may be formed independently. It is good, or it may be formed simultaneously by selecting any two. Alternatively, they may be formed in different ways.

100・・・水晶素子
110・・・水晶片(水晶片部)
120・・・金属パターン
121・・・励振電極部
122・・・引出部
123・・・配線部
130、230、330、430・・・水晶ウエハ
140、240、340、440・・・緩和部
141、241、341・・・貫通穴
441・・・凹部
100 ... crystal element 110 ... crystal piece (crystal piece)
120: Metal pattern 121: Excitation electrode portion 122: Lead portion 123: Wiring portion 130, 230, 330, 430 ... Crystal wafer 140, 240, 340, 440 ... Relaxation portion 141 , 241, 341 ... through hole 441 ... recess

Claims (5)

互いに直交しているX軸とY軸とZ軸とからなる結晶軸を有した平板状の水晶ウエハを形成する水晶ウエハ形成工程と、
前記水晶ウエハの外縁部に、前記水晶ウエハの外縁に沿って、少なくとも二行以上または二列以上あって、千鳥配列となるように、複数の凹部を設け、緩和部を形成する緩和部形成工程と、
前記水晶ウエハの所定の位置に、略直方体形状に形成しつつ主面の所定の一辺側で固定している水晶片部を形成する水晶片部形成工程と、
励振電極部、引出部および配線部となる金属パターンを前記水晶片部の所定の位置に形成する金属パターン形成工程と、
前記水晶ウエハに形成されている前記水晶片部の所定の一辺側を折り取り、または、切断することで、水晶片を個片化する個片化工程と、を備え、
前記緩和部形成工程において、平面透視した際に、前記緩和部の上面に設けられた前記凹部の底面と前記緩和部の下面に設けられた前記凹部の底面とが重ならない位置になるように設けられ
前記緩和部形成工程において、
前記水晶ウエハを平面視して、前記凹部の開口部が、略半円形状となっており、半円の直線部の中心が前記水晶ウエハの外縁側に位置している水晶素子の製造方法。
A quartz wafer forming step of forming a flat quartz wafer having a crystal axis consisting of an X axis, a Y axis and a Z axis which are orthogonal to each other;
A relaxation portion forming step of providing a plurality of concave portions in an outer edge portion of the quartz wafer along the outer edge of the quartz wafer so as to form at least two rows or two columns and in a staggered arrangement to form relaxing portions. When,
A crystal piece forming step of forming a crystal piece fixed at a predetermined side of the main surface at a predetermined position of the crystal wafer while forming a substantially rectangular parallelepiped shape;
A metal pattern forming step of forming a metal pattern to be an excitation electrode portion, a lead-out portion and a wiring portion at a predetermined position of the crystal piece portion;
And Separating the quartz crystal piece into pieces by breaking or cutting a predetermined side of the quartz crystal piece part formed on the quartz crystal wafer.
In the relief portion forming step, the bottom surface of the recess provided on the top surface of the relief portion and the bottom surface of the recess provided on the bottom surface of the relief portion do not overlap when viewed through a plane. It is,
In the relaxation portion forming step,
A method of manufacturing a quartz crystal element , wherein the opening of the concave portion has a substantially semicircular shape in plan view of the crystal wafer, and the center of the straight portion of the semicircle is located on the outer edge side of the crystal wafer .
互いに直交しているX軸とY軸とZ軸とからなる結晶軸を有した平板状の水晶ウエハを形成する水晶ウエハ形成工程と、
前記水晶ウエハの外縁部に、前記水晶ウエハの外縁に沿って、少なくとも二行以上または二列以上あって、千鳥配列となるように、複数の凹部を設け、緩和部を形成する緩和部形成工程と、
前記水晶ウエハの所定の位置に、略直方体形状に形成しつつ主面の所定の一辺側で固定している水晶片部を形成する水晶片部形成工程と、
励振電極部、引出部および配線部となる金属パターンを前記水晶片部の所定の位置に形成する金属パターン形成工程と、
前記水晶ウエハに形成されている前記水晶片部の所定の一辺側を折り取り、または、切断することで、水晶片を個片化する個片化工程と、を備え、
前記緩和部形成工程において、平面透視した際に、前記緩和部の上面に設けられた前記凹部の底面と前記緩和部の下面に設けられた前記凹部の底面とが重ならない位置になるように設けられ、
前記緩和部形成工程において、
前記水晶ウエハを平面視して、前記凹部の開口部が、円弧形状となっており、円弧の円の中心が前記水晶ウエハの外縁側に位置している水晶素子の製造方法。
A quartz wafer forming step of forming a flat quartz wafer having a crystal axis consisting of an X axis, a Y axis and a Z axis which are orthogonal to each other;
A relaxation portion forming step of providing a plurality of concave portions in an outer edge portion of the quartz wafer along the outer edge of the quartz wafer so as to form at least two rows or two columns and in a staggered arrangement to form relaxing portions. When,
A crystal piece forming step of forming a crystal piece fixed at a predetermined side of the main surface at a predetermined position of the crystal wafer while forming a substantially rectangular parallelepiped shape;
A metal pattern forming step of forming a metal pattern to be an excitation electrode portion, a lead-out portion and a wiring portion at a predetermined position of the crystal piece portion;
And Separating the quartz crystal piece into pieces by breaking or cutting a predetermined side of the quartz crystal piece part formed on the quartz crystal wafer.
In the relief portion forming step, the bottom surface of the recess provided on the top surface of the relief portion and the bottom surface of the recess provided on the bottom surface of the relief portion do not overlap when viewed through a plane. And
In the relaxation portion forming step,
A method of manufacturing a quartz crystal element , wherein the opening of the concave portion has an arc shape in plan view of the crystal wafer, and the center of the circle of the arc is located on the outer edge side of the crystal wafer .
請求項1または請求項2に記載の水晶素子の製造方法であって、A method of manufacturing a quartz crystal element according to claim 1 or 2,
前記緩和部形成工程において、In the relaxation portion forming step,
前記水晶ウエハを平面視して、In plan view of the crystal wafer,
前記緩和部が、前記凹部の開口部が前記水晶ウエハの外縁側に設けられた第一緩和部と、前記第一緩和部より内側に設けられた第二緩和部とで構成されており、The relief portion is constituted by a first relief portion in which the opening of the recess is provided on the outer edge side of the crystal wafer, and a second relief portion provided inside the first relief portion.
前記第一緩和部に設けられた前記凹部の開口部において、In the opening of the recess provided in the first relief portion,
隣接する開口部の端部間の距離が、前記第二緩和部に設けられた前記凹部の開口部の端部間の距離より、短くなっている水晶素子の製造方法。The manufacturing method of the crystal element whose distance between the edge parts of an adjacent opening is shorter than the distance between the edge parts of the opening of the said recessed part provided in the said 2nd relaxation part.
請求項1乃至請求項3に記載の水晶素子の製造方法であって、A method of manufacturing a crystal element according to any one of claims 1 to 3, wherein
前記緩和部形成工程において、In the relaxation portion forming step,
前記凹部の開口部の端部が丸みを帯びている水晶素子の製造方法。The manufacturing method of the crystal element in which the edge part of the opening part of the said recessed part is rounded.
請求項1乃至請求項4に記載の水晶素子の製造方法であって、A method of manufacturing a quartz crystal element according to any one of claims 1 to 4, wherein
前記緩和部形成工程において、In the relaxation portion forming step,
前記凹部が前記水晶ウエハの上面および前記水晶ウエハの下面に形成されている水晶素子の製造方法。A manufacturing method of a crystal element in which the crevice is formed in the upper surface of the crystal wafer, and the undersurface of the crystal wafer.
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