JP6541275B2 - 電子回路用ギャップを伴う新規イメージングセンサを持つスキャンイメージングシステム - Google Patents

電子回路用ギャップを伴う新規イメージングセンサを持つスキャンイメージングシステム Download PDF

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Description

本発明はサンプルイメージングの分野に関し、デジタル病理学の分野に有利に当てはまる。
特に、本発明はピクセルの2Dアレイを有するイメージングセンサ、サンプルの斜め断面をイメージングするためのスキャンイメージングシステム、及びデジタルスキャン顕微鏡におけるイメージングセンサの使用に関する。
デジタルスキャン顕微鏡は通常、顕微鏡スライドに置かれる組織サンプルなどのサンプルのデジタル画像を作成する。これは典型的には顕微鏡スライド全体にわたってサンプルをスキャンし、異なる画像スパンを一緒にまとめることによって、及び/又は異なる波長で測定される画像を重ね合わせることによってなされる。図1はこうした顕微鏡スライドの断面100を概略的にあらわす。ガラススライド101、カバースリップ102、及び例えば生物組織層のようなサンプル104を固定して密封するためのマウント剤103が含まれる。例えば、WO2001/084209から、デジタルスキャン顕微鏡はラインスキャンカメラ若しくはリニアアレイセンサとしても知られる2Dラインセンサを有することができることが知られている。こうしたセンサはたった1ライン、言い換えれば1行の検出ピクセルのみを有する。例えば2Dアレイセンサのような他のタイプのセンサと比較して、1Dラインセンサはより良好な連続機械的スキャン動作、より少ない縫い目問題を提供することができ、いわゆる時間遅延積分(TDI)ラインセンサの使用を可能にすることができることも知られている。
さらに、現在のイメージングセンサ設計は、感光性部品すなわちフォトダイオードから成る、またピクセル自体に埋め込まれる複数の電荷電圧変換器(CVC)のような非感光性部品も有する、光活性ピクセルを提供し、これは低フィルファクタにつながる。これは、ピクセルが典型的にCVCのための3つのトランジスタ(ローリングシャッタ)若しくは4つのトランジスタ(グローバルシャッタ)を持ち、アドレシング及び読み出しのために垂直及び水平金属ラインの両方が必要であることを意味する。しかしながら、このようなピクセルの非感光性部品はピクセルのフィルファクタを削減し、これは低照度中に特に害を及ぼす。結果として生じる従来のセンサにおけるピクセルの微光感度は、典型的にはマイクロレンズを適用することによって克服される。このようなマイクロレンズは付随損失が最小化されるようにイメージングセンサのピクセル上へより少ない光量を効果的にフォーカスしようとする。加えて、現在利用可能なイメージングセンサは、限られた数の読み出し電子機器しか所与のピクセルサイズの限られた空間内に設けられることができないので、関心領域(ROI)の読み出し速度が比較的遅い。
本発明の発明者らは、とりわけデジタル病理学においてしばしば適用される、イメージングセンサが光路に対して傾斜するときにマイクロレンズの使用が特に適していないことを認識した。さらに、本発明の発明者らは、傾斜センサでのサンプルのスキャン及びイメージングがZ方向のオーバーサンプリングにつながるので、イメージングセンサの特定エリアのみが画像キャプチャのために使用される必要があることを発見した。発明者らは、傾斜構成で使用されるときに、感光性領域として必要でないセンサの位置/領域にピクセルの読み出し電子機器を再配置する有利な方法を発見した。従って、本発明はセンサのピクセルライン間の特有の非感光性ギャップを提案する。従って、ピクセルのフィルファクタの顕著な増加が本発明によって実現可能である。これはイメージングセンサの微光感度の増加をもたらし、従って改良された画質が実現され得る。さらに、本発明のイメージングセンサは、イメージングセンサの非感光性エリアである1つ若しくは複数のギャップ内に全部でより多くの回路がセンサ上に位置付けられることができるので、高速読み出しを容易にし、結果として高速イメージングセンサにつながる。
本発明の目的は改良されたイメージングセンサを有するスキャンイメージングシステムを提供することとみなされ得る。
本発明の目的は独立請求項の主題によって解決される。本発明のさらなる実施形態と利点は従属請求項に組み込まれる。
記載の実施形態は改良されたイメージングセンサを伴うスキャンイメージングシステム及びスキャンイメージングシステムの使用に同様に関連する。
本発明の一実施形態例によれば、Z方向に沿って光軸を持ち、直交XY座標系にピクセルの2Dアレイを有するイメージングセンサを有する、スキャンイメージングシステムが提供され、Z方向はY方向に垂直である。イメージングセンサのピクセルの2Dアレイは複数のピクセルを有する第1のピクセルラインを有する。第1のピクセルラインは上記XY座標系のY方向に沿ってのびる。さらに、第2のピクセルラインがイメージングセンサによって含まれ、この第2のラインは複数のピクセルを有する。第2のピクセルラインもY方向に沿ってのびる。ピクセルの2Dアレイは第1及び第2のピクセルライン間に第1の非感光性ギャップをさらに有する。第1のピクセルラインの一部の若しくは全ピクセルの、及び/又は第2のピクセルラインの一部の若しくは全ピクセルの読み出し電子機器が第1の非感光性ギャップに位置する。さらに、イメージセンサの各ピクセルはフォトダイオードを含み、イメージングセンサは各フォトダイオードを読み出し、アドレスするように構成されるX方向に沿った読み出しラインを有し、イメージングセンサは回転軸としてY軸まわりに傾斜される。
言い換えれば、第1及び第2のピクセルラインが、センサの論理回路及び結合回路で充填される非感光性ギャップによって分離される、新規のイメージセンサ構成若しくは設計を伴うスキャンイメージングシステムが提示される。例えば、一部の若しくは全ピクセルの電荷電圧変換器(CVC)は、センサの光活性領域にCVCを位置付けるのではなく、非感光性領域であるギャップに位置付けられ得る。本発明にかかるこうしたCVCフリーのピクセル構成は従来のピクセル601と対照的に、図6における例示的なピクセル例600から推測され得る。本発明のイメージングセンサはピクセル例600として示されるタイプのピクセルを有してもよく、又は完全にそのようなタイプのピクセルのみから構成されてもよい。いずれの場合も、本発明のイメージングセンサはY方向に沿って、ピクセルライン間に1つ以上のギャップを有し、例えばCVCなどの読み出し電子機器をピクセルラインから離して上記非感光性ギャップの中へ動かすことを可能にする。
勿論、本発明のイメージングセンサは大きな複数のピクセルラインを持ってもよく、必要であればそれらはピクセルラインのブロックを構築するように接触して隣接して位置付けられることもでき、また大きな複数のギャップを持ってもよい。ギャップは典型的には少なくとも2つのピクセルラインを分離するか、又はピクセルラインの2ブロックを分離する。図4はピクセルラインの数ブロックと間に非感光性ギャップを伴う実施形態を示す。上述の第1及び第2のピクセルラインはその場合異なるブロックの一部になり得る。こうしたブロックは時間遅延積分(TDI)の既知の技術を実行するために制御モジュールによって使用され制御され得る。
この新規のイメージングセンサによって実現される同じサイズと分解能の従来の二次元センサに勝る本発明のイメージングセンサの改良は少なくとも2つの要素から成る。第1に、本発明のイメージングセンサはセンサの感光性エリアにおけるピクセルの光活性部分の最大化を可能にし、これはフィルファクタの最大化に対応する。これはマイクロレンズ無しに非常に感光性のセンサを可能にし、イメージングセンサが傾斜する構成において有利に応用される。マイクロレンズを回避することは、マイクロレンズの傾斜がマイクロレンズを通る光伝搬に関して最適ではないため、傾斜したセンサを光路に置くために重要である。第2に、イメージングセンサの1若しくは複数のギャップは、より多くの回路がギャップ内でイメージングセンサ上にあることができるので、高速読み出しを可能にする。ピクセルのCVCがそこに置かれることができるだけでなく、読み出し速度を増加する他の追加部品も置かれることができる。これは高速センサを、従って高速画像生成を可能にする。従って本発明は、Y方向にセンサの幅全体に広がり、X方向に少なくとも1ピクセル幅に広がり得る、非感光性空間を利用する。これらの空間、すなわちギャップは、感光性ライン、例えば第1及び第2のピクセルラインの間にある。
以降の様々な説明から明らかとなり、それらで解明される通り、第1及び第2のピクセルラインはTDIブロックの、すなわちY方向に沿って隣接する若しくは隣接して位置するピクセルのラインのブロックの、一部であり得、この構成においてかかるTDIブロックはフォトダイオードを有さないギャップによって分離される。これらのギャップはセンサのピクセルのCVC、論理回路及び/又は結合回路を統合するために使用される。本発明の文脈において、ピクセルの2Dアレイという語は感光性ピクセルで完全にカバーされる面と理解されてはならないことが留意されるべきである。なおさら本発明のピクセルの2Dアレイは、図4に示す実施形態例と一致して、感光性ピクセルラインを提供し、感光性ピクセルの上記読み出し電子機器を統合するために使用される領域、すなわち非感光性ギャップを有する。これは以降本発明の異なる実施形態から明らかとなり、それらにより解明される。
さらに、本発明のイメージングセンサは勿論、全てY方向に沿ってのびる第3、第4、第5及びさらにそれ以上のピクセルラインを有してもよく、これらのピクセルライン間に第2、第3、第4及びさらにそれ以上の非感光性ギャップも有してもよい。さらに、複数のピクセルラインは、X及びY方向に沿って広がる連続面を構築し、図3及び4に示す通りピクセルブロックを構成するように、隣接して位置付けられ得る。傾斜した構成において、上記非感光性エリア、すなわちギャップは、イメージングエリア間にギャップを設けることによって画質を低下させることなくイメージングのために必要とされなくてもよい。従って、本発明はイメージングセンサが例えばスキャンイメージングシステムにおいて傾斜構成で適用されるときに特に有利である。
本発明の別の実施形態例によれば、イメージングセンサの傾斜角度は好適には約60°の範囲である。
ここで傾斜角度とはX方向とZ方向の間の角度を意味する。スキャンイメージングシステムはサンプルの斜め断面を画像化し得る。本発明の別の実施形態例によれば、個々のピクセルにおいて読み出しラインはフォトダイオードより上に隆起している。
読み出しラインはイメージングセンサのチップ上の金属ライン若しくはワイヤとして構成されることができ、それらはフォトダイオードより上に隆起され得る。実際には、イメージングセンサ上で、フォトダイオードは最下部であり、全ての電子機器及び接続ラインが隆起され得る。従って、本明細書に記載の傾斜センサ構成と同様に、光が上から直接来ない場合、隆起部がフォトダイオード上に影を落とすので、キャプチャされる光の量を削減し、従って画質を低下させる。本発明のこの実施形態例のセンサでは、従来のイメージセンサのピクセルと比較してより少ない読み出しラインがピクセルにおいて必要になるため、垂直読み出しラインのみを持つことが可能である。こうした垂直読み出しラインはY方向に実質的に垂直なX方向に沿ってはしる。X軸に平行な読み出しラインのみが本発明によって提供され得るので、センサのY軸まわりの回転によって光軸に対してセンサを傾けるときに不都合がない。これは光がセンサ上にセンサのY軸に垂直に、ただしX軸と例えば60°の角度で、落ちることを意味する。これは例えば図3から容易に推測され得る。読み出しラインは本明細書に記載のこの実施形態においてセンサのX軸と平行にはしるので、これらの読み出しラインは影を落とさず、従って画質を低下させず、このことはピクセル601を用いる従来技術のセンサに勝る重要な利点である。図6に示す従来の2Dセンサのピクセル601において使用される通り水平及び垂直読み出しライン605‐608両方を伴う場合、これは可能でなく、常に傾斜構成においてフォトダイオード上に影があり得る。結果として、本明細書の前記本発明の実施形態例は、光感受性と画質をさらに増す。本発明の別の実施形態例によれば、イメージングセンサはセルフフォーカシングセンサである。セルフフォーカシングを実行するようにイメージングセンサを制御する制御モジュールが設けられ得る。これは例えばフォーカシングマップのような他のフォーカシング手段の必要性を回避し得る。
本発明の別の実施形態例によれば、第1の非感光性ギャップはセンサのピクセルの少なくとも1幅の幅を持つ。ピクセル幅は参照符号420で図4に示される。イメージングセンサが複数の非感光性ギャップを持つ場合(例えば図3参照)、全ギャップは上記センサのピクセルの少なくとも1幅の幅を持ち得る。多くの用途において、ピクセルのフォトダイオードの読み出し電子機器の統合のために十分な空間を提供するためにより大きな幅が有用であり得る。例えば、ピクセル幅の4倍、5倍、若しくは6倍がギャップの適切な幅であり得る。この文脈において幅はピクセルの2アレイのXY座標系のX方向に沿って定義されることが留意されるべきである。本発明の実施形態例によれば、ピクセルラインの感光性ブロック、すなわちTDIブロックの幅と比較してセンサのギャップの最適化された幅が提供され、後ほど詳細に説明される。
本発明の別の実施形態例によれば、以下の構成要素の少なくとも1つが第1の若しくは追加の非感光性ギャップに位置付けられる。第1及び第2のピクセルラインの少なくとも一方のピクセルの電流電圧変換器、イメージングセンサの論理回路及びイメージングセンサの結合回路は本発明のイメージングセンサの感光性ギャップ内に位置付けられ得る。本発明の別の実施形態例によれば、複数の電荷電圧変換器がイメージングセンサの各フォトダイオードと関連し、各電荷電圧変換器はイメージングセンサの第1の非感光性ギャップの中、又はイメージングセンサの追加の非感光性ギャップの中に位置付けられる。
例えば図6から推測され得る通り、本発明のピクセル設計はフォトダイオードから成るピクセルを提供する。従来技術のピクセル601と対照的に、本発明のピクセルのフォトダイオードに接続される電荷電圧変換器はピクセル自体の一部でなく、イメージングセンサのギャップのうちの1つにいくらか離れて位置する。この文脈において、本発明のイメージングセンサのピクセルの読み出しラインは典型的にはフォトダイオードより上に隆起していることが留意されるべきである。実際には、イメージングセンサにおいて、フォトダイオードは最下部であり、図6の図示の読み出しライン603及び604は隆起している。従って、本発明のイメージセンサのピクセル600はフォトダイオード602から成るという用語が本明細書で使用される。本発明の文脈において、こうした追加の非感光性ギャップはY方向に沿ってピクセルの2Dアレイの全幅を覆って及び/又は平行に設けられ得ることが留意されるべきである。従って、別の実施形態例によれば、第1の非感光性ギャップはY方向に沿ってのびる。本発明の別の実施形態例によれば、イメージングセンサは各々がピクセルの2Dアレイの全幅にわたってY方向に沿ってのびる複数の非感光性ギャップを有する。
本発明の別の実施形態例によれば、センサの各ピクセルは2つだけ読み出しラインを有する。2つの読み出しラインはとりわけ図3に定義される通りX軸に平行若しくは実質的に平行であり得る。
本発明の別の実施形態例によれば、第1のピクセルラインはY方向に沿ってのびる複数の隣接ピクセルラインから成る第1のブロックの一部である。さらに、第2のピクセルラインはY方向に沿ってのびる複数の隣接ピクセルラインから成る第2のブロックの一部である。さらに、第1及び第2のブロックはY方向に沿ってのびる非感光性ギャップによって互いに分離される。
一実施形態例において、イメージングセンサはX方向に128のこうしたブロックを有する。勿論、複数の隣接ピクセルラインのより多い若しくは少ないブロックも当業者によって適用されることができる。
特に、こうしたピクセルラインブロックは時間遅延積分(TDI)ブロックとして使用されることができる。TDIブロックはラインがY方向に沿ってのび、列がX方向に沿ってのびるピクセルの2Dアレイとみなされ得る。TDIアクションは列に沿って起こる。このTDIアクションは、センサに対するオブジェクトの動きと同期して電荷が列に沿って移動される、従来のCCD方式TDIであることができる。代替的に、デジタルドメインにおけるTDIが使用されてもよく、ここではピクセル電荷が最初にデジタル数へ変換され、そしてセンサに対するオブジェクトの動きと同期してデジタルドメインへ移動される。このデジタルTDIはイメージセンサ自体の上で、又はFPGAなどの計算ユニットにおいて若しくはコンピュータにおいて"オフチップ"で起こり得る。両方のTDIの態様が本発明の一部である。本発明のかかる実施形態に従ってTDIを使用するより詳細な実施例は図4との関連で説明される。
本発明の別の実施形態例によれば、TDIの原理と一致する、例えば前述の2つのTDI手順と一致する、イメージングセンサを制御するように構成される制御モジュールが提供される。本発明の別の実施形態例によれば、第1及び第2のブロックに加えて、センサはY方向に沿ってのびる複数の隣接ピクセルラインの追加ブロックも有する。各ブロックはn個の隣接ピクセルラインから成り、nは整数であり、以下の関係:2≦n≦8、特にn=4が当てはまる。
本発明の別の実施形態例によれば、ピクセルライン間若しくはブロック間のイメージングセンサの各非感光性ギャップはセンサのピクセルの少なくともm幅の幅を持ち、mは整数である。さらに、以下の関係:8≦m≦20、特にm=13が当てはまる。
本発明の発明者らはピクセルから読み出し電子機器を外すこととのトレードオフがあることを発見した。読み出し電子機器をピクセルの感光性部分からあまりに遠くに動かすことは、長いラインにおけるノイズとカップリングに起因する画質の低下につながり得る。しかしながら、読み出し電子機器をピクセル内に持つことはピクセルの感光性部分のサイズ、すなわちフィルファクタの低減につながり、画質の低下にもつながる。ここに開示される範囲は、センサを傾斜三次元及び/又はオートフォーカスセンサとして使用するときの、フィルファクタ、ピクセルの感光性エリアと読み出し電子機器との間の距離、及び深さ分解能の間での最適条件である。特に、4ラインのTDIピクセルとTDIブロック間の13ピクセル幅ギャップを用いることが、前述のトレードオフを考慮して最適な組み合わせを提供することがわかった。しかしながら、この実施形態例に従って、1つのTDIブロックの行の数は2から8の間で異なってもよく、上記TDIブロック間のギャップの幅は8から20ピクセルの間で異なってもよい。
本発明の別の実施形態例によれば、イメージングセンサはマイクロレンズを有さない。マイクロレンズを回避することは、例えばスキャンイメージシステム若しくはデジタルスキャン顕微鏡の光路において傾斜したセンサを置くために重要である。読み出し電子機器、センサの論理回路及び結合回路を、ピクセルの光活性ライン間のギャップへ動かすことは、低照度中に複雑でエラーを起こしやすいマイクロレンズが必要ないように、フィルファクタを増加若しくは最大化する。
本発明の別の実施形態例によれば、イメージングセンサの各非感光性ギャップはセンサのピクセルの少なくとも1幅の幅を持つ。
本発明の別の実施形態例によれば、スキャンイメージングシステムはサンプルをイメージングするためのデジタルスキャン顕微鏡である。
本発明の別の実施形態例によれば、前述及び後述の実施形態のいずれかにかかるイメージングセンサの使用が提示され、イメージングセンサは病理学サンプルの画像を生成するために使用される。
感光性ピクセルライン間のギャップを有するイメージングセンサを提供することが本発明の要旨とみなされ、このギャップは感光性でなく、ピクセルの読み出し電子機器を有する。さらに、傾斜経路において使用される従来の二次元イメージセンサと同じ面積をカバーする、単一ダイ上の複数のTDIラインセンサから基本的に構成される、新規のイメージングセンサ設計が提示される。一実施形態において、センサは単一ダイ上の複数のTDIラインセンサの組み合わせを有する。TDIラインセンサはセンサの論理回路と結合回路で充填されるギャップによって分離されることを特徴とする。本明細書で説明される原理は、とりわけフォトダイオードに関連付けられるCVCのような、電子回路のために上記ギャップを持つセルフフォーカシングセンサにおいて特に適用され得る。
本発明のこれらの及び他の特徴は以降に記載の実施形態から明らかとなり、それらを参照して解明される。
本発明の実施形態例は以下の図面において記載される。
顕微鏡スライドの断面を概略的に示す。 本発明の一実施形態にかかるスキャン顕微鏡を概略的に示す。 本発明の一実施形態例にかかるオブジェクト空間におけるイメージングセンサの投影を示す。 本発明の一実施形態例にかかるTDI原理を用いるイメージングセンサを概略的に示す。 本発明の一実施形態例にかかるイメージングセンサを伴うセットアップを概略的に示す。 本発明の一実施形態例のイメージセンサのピクセルと従来技術のピクセルとの比較を概略的に示す。
以下、別の例示的な、本発明の限定しない実施形態が、以下の表において徹底的に詳細に記載されるイメージングセンサを用いて提供される。その中で、ギャップは"ギャップ領域"として記載され、前述の通り13ピクセル幅ギャップである"ピクセルピッチ"と名付けられる。以下の表から見られる通り、ピクセルはY方向に5.56マイクロメートル長及びX方向に6.42マイクロメートルである通り、矩形である。
Figure 0006541275
本発明の別の実施形態例によれば、スキャン顕微鏡200が図2内に示される。このスキャンイメージングシステムは、ガラススライド201及びカバースリット202の間に置かれることができる、図示されないサンプル、例えば組織層をイメージングするために構成される。本発明のセンサと本発明のイメージングシステムは特に完璧に平坦及び/又はボリュメトリックでないサンプルの高速画像収集を可能にする。特に、デジタル病理学のためのデジタルスライドスキャナが本発明を利用し得る。イメージング経路Pは1つ以上のレンズ203、204及び205を有し得る顕微鏡対物レンズ206、組織サンプルから非散乱反射光をブロックするためのアパーチャ207、チューブレンズ208及び本発明にかかるイメージングセンサ209を有し得る。イメージングセンサ209は本明細書でピクセルのマトリクスともよばれ得るピクセルの2Dアレイを有する。例えば、センサはCMOSイメージングセンサであるが他の種類のセンサも本発明とともに使用されることができる。図2から見られる通り、イメージングセンサ209は顕微鏡対物レンズの光軸oに対して傾斜している。イメージングセンサ209は本明細書で説明される通りセルフフォーカシングイメージングセンサであり得る。システム200はスキャナの作動プロセスを、特にサンプルをイメージングするためのスキャンプロセスを制御するための制御モジュールをさらに有する。制御モジュールは典型的には例えばFPGA(フィールドプログラマブルゲートアレイ)若しくはDCP(デジタル信号プロセッサ)などのプロセッサを有する。光軸Oは以下図3において定義される軸Z309に平行であり得ることが留意されるべきである。
図3はイメージングセンサ311の投影300を示す。さらに、イメージングセンサ311はセルフフォーカシングイメージングセンサであり得る。図3は軸308で示されるY方向に沿ってはしる複数の平行ピクセルラインをそれぞれ有する複数のTDIブロック304、310をイメージングセンサ311が有することを示す。TDIブロック304及び310は非感光性ギャップ305cによって分離され、その中に上記ブロックの少なくとも一方のピクセルの読み出し電子機器が位置付けられる。必要であれば、TDIブロック304及び310両方の読み出し電子機器がギャップ305cに位置付けられ得る。しかしながら、ブロック310のピクセルの読み出し電子機器が非感光性ギャップ305cに位置付けられ、ブロック304のピクセルの読み出し電子機器が非感光性ギャップ305aに位置付けられることも可能である。一見、電荷電圧変換器並びに/或いは論理回路及び/又は結合回路を有さないピクセルのラインとしてTDIブロック304及び310を設けることが可能である。後者の構成要素は、適切な微光感度とともにフィルファクタの最大化が実現されるように、完全にイメージングセンサ311の上記非感光性ギャップによって含まれる。TDIブロック304及び310は概略的に図示されるに過ぎないので、複数の隣接ピクセルラインはここでは詳細に描かれないことが留意されるべきである。TDIブロックを構成するこうした個々のピクセルラインは以下図4から推測され得る。ギャップ305a、305b、及び305cも図3内に概略的に描かれるに過ぎない。301はガラススライドをあらわし、302はカバースリップをあらわし、組織サンプルは303で示される。さらに、スキャン方向が矢印305で描かれ、スキャン方向306がセンサ311のピクセルの2Dアレイを定義するY方向308に実質的に垂直であることが容易に推測され得る。X方向307も図3に示される。
図3のイメージングセンサは同じサイズ及び分解能の従来の2Dセンサと比べて2つの改良点を持つ。センサの感光性エリアにおけるピクセルの光活性部分の最大化が提供されるので、フィルファクタが最大化される。これはマイクロレンズ無しで高感度センサを可能にする。マイクロレンズを回避することは、例えばスキャンイメージング顕微鏡の光路において傾斜したセンサを置くために重要である。さらにギャップ305a、305b、及び305cは、より多くの回路がギャップにおいてセンサ上にあることができ、高速センサを可能にするので、高速読み出しを可能にする。
図4は本発明の実施形態例にかかるイメージングセンサ400を概略的に示す。イメージングセンサはピクセルの2Dアレイ421を有する。ピクセルの2Dアレイは複数のピクセル、例えばピクセル415、416、417を有する第1のピクセルライン410を有する。図4から推測され得る通り、第1のピクセルライン410はアレイの左端からアレイの右端へY方向422に沿ってのび、従ってこれはアレイの幅全体に広がる。Y方向はX方向423に垂直である。ピクセルの2Dアレイは複数のピクセルを有する第2のピクセルライン411をさらに有し、ピクセル418及び419が参照符号で例示的に示される。また第2のライン411もY方向422に沿ってのびる。さらに、第1及び第2のピクセルラインの間に第1の非感光性ギャップ402が設けられる。図4から推測され得る通り、このギャップもY方向に沿ってのびる。さらに、第1のラインのピクセルの、及び/又は第2のピクセルラインのピクセルの、読み出し電子機器412及び413が第1の非感光性ギャップ402内に位置付けられる。図4のピクセル407〜411は図6に示すタイプのピクセル600であり得る。とりわけ、本明細書に記載のイメージングセンサの全実施形態は図6に601と示されるタイプのピクセルから成り得る。勿論例えばFPGAのような構成要素がセンサによって含まれ得る。
第1の非感光性ギャップ402はセンサのピクセルの少なくとも1幅420の幅を持つ。この実施形態において、ギャップ幅はセンサの1ピクセルの幅420のおよそ5倍である。第2の非感光性ギャップ403もかかる幅を持つ。さらに、図4から推測され得る通り、複数の隣接ピクセルライン407〜410の第1のブロック405がイメージングセンサ400によって含まれる。この第1のブロック405はTDIブロックとして本発明に従って制御され得る。第1の非感光性ギャップ402は、ピクセルライン410若しくはライン411の電流電圧変換器などの読み出し電子機器412、413を有し、イメージングセンサ400の論理回路及び/又はイメージングセンサ400の結合回路も有し得る。第2の非感光性ギャップ403も、第2のTDIブロック404及び第3のTDIブロック406のピクセルのこうした読み出し電子機器414を有する。前記されている通り、イメージングセンサ400は、TDIブロックの読み出し電子機器が図示のX方向423に沿って当該TDIブロックより下若しくは上の隣接ギャップ内に完全に設けられるようにも提供され得る。図6の文脈で与えられる説明から明らかとなり、それとともに解明される通り、それにより、完全にフォトダイオードから構成されるが、それ自体は読み出し電子機器を有さないので、それらが隣接ギャップへ動かされるような、TDIブロックを提供することが可能である。別の実施形態例においてセンサは128のピクセルラインのかかるブロック404、405及び406を持ち、127若しくは128のギャップを持つ。
TDIブロックはライン/行がY方向に沿ってのび、列がX方向に沿ってのびるピクセルの2Dアレイとみなされ得る。TDIアクションは列に沿って起こる。このTDIアクションは、センサに対するオブジェクトの動きと同期して列に沿って電荷が移動される、従来のCCD方式TDIであり得る。代替的に、デジタルドメインにおいてTDIが実行されることができ、ここではピクセル電荷が最初にデジタル数に変換され、そしてセンサに対するオブジェクトの動きと同期してデジタルドメインにおいて移動される。この'デジタル'TDIはイメージセンサ自体の上で、又はFPGA若しくはコンピュータなどの計算ユニットにおいて'オフチップ'で起こり得る。本発明のシステムは所望のTDI手順が起こるようにイメージングセンサの読み出しを制御する制御モジュールも有し得る。
かかる実施形態に従ってTDIを使用するより詳細な実施例が図4の文脈において説明される。図4において、4つのTDIステージ(例えば407、408、409、410)の3つのブロック404、405及び406がピクセルマトリクスにおいて指定される。TDIブロックは、機能的TDIユニットとして機能する全ピクセルマトリクスのサブアレイであることを意図されることに留意されたい。当業者はTDIセンサがかかる実施形態に従ってどのように動作し得るかを明確に導き出すだろう。一部の実施形態が本明細書において限定ではない実施例として記載される。それらは全て2つの主要なイメージングセンサタイプ、すなわちCCD及びCMOSイメージンセンサの両方に適用可能である。CCDイメージセンサの場合、TDIアクションは典型的にはアナログドメインにおいて、あるピクセルセットから別のピクセルセットへ電荷をコピーすることによって実行される。CMOSイメージセンサの場合、TDIアクションは典型的にはデジタルドメインにおいて、あるピクセルセットのデジタル値を別のピクセルのセットのデジタル値へ加えることによって実行される。しかしながら、デジタル及びアナログTDIは両方ともCCD及びCMOSのいずれかに適用されることができる。
以下TDIアクションがピクセル値移動として記載され、これはアナログTDIが利用される場合はアナログ電荷移動として、デジタルTDIが利用される場合はピクセル値移動として理解されるものとする。
図4の実施例に戻り、ピクセル値が移動される間、センサはさらに顕微鏡スライドに対してスキャン位置へ動かされる。図4の実施例においてTDIアクションは上向きに作用し、センサに対するサンプルの平行移動も上向きになされると仮定される。ピクセルライン若しくはステージ410(ステージは好適にはピクセルのフルラインを含む)は各露出についてピクセル値0で開始し、ステージ407からのピクセル値は各露出後にブロック405において最終画像を構成する。フルTDIサイクル中にサンプルの画像の単一ラインをたどるとき、当業者に既知であるプロセスは以下の通りである:時間t=0における露出中、サンプルの画像はイメージングセンサによってキャプチャされる。t=1における次の露出において、サンプルはステージ410上にt=0において投影されるサンプルの画像の部分がステージ409上に投影されるように平行移動される。t=0及びt=1の露出間でステージ410におけるピクセルの値がステージ409へコピーされる。t=1での露出中、ステージ409上の露出から得られるピクセル値が、t=0でステージ410における露出から得られた既に存在する値へ追加される。ステージ409における値はここでt=0におけるステージ410の露出及びt=1におけるステージ409の露出から得られるピクセル値の合計となる。t=1及びt=2の露出間でステージ409におけるピクセルの値がステージ408へコピーされる。t=2での露出中、ステージ408上の露出から得られるピクセル値が、t=0でのステージ410における露出プラスt=1でのステージ409における露出から得られる既に存在する値へ追加される。ステージ408における値はここでt=0におけるステージ410の露出とt=1におけるステージ409の露出、及びt=2におけるステージ408の露出から得られるピクセル値の合計となる。t=2及びt=3の露出間で、ステージ408におけるピクセルの値がステージ407へコピーされる。t=3での露出中、ステージ407上の露出から得られるピクセル値が、t=0でのステージ410における露出プラスt=1でのステージ409及びt=2でのステージ408における露出から得られる既に存在する値へ追加される。ステージ407における値はここでt=0におけるステージ410の露出とt=1におけるステージ409の露出、及びt=2におけるステージ408の露出及びt=3におけるステージ407の露出から得られるピクセル値の合計となる。サンプルの画像は同じ方向に、及びTDIアクションと同じ速度で、センサ上を平行移動されるので、この実施例では4つの等しい露出がサンプル上の同じエリアについてなされている。これはサンプルの平行移動を減速させることなく、及び追加のモーションブラーを導入することなく、4倍長い露出時間に相当する。上記はブロック404及び406又は本発明のイメージングセンサの任意の追加ブロックなど、任意の他のブロックにも同様に適用される。
かかる実施形態においてTDIブロックの4つのステージは同じフォーカスで同じエリアの画像をキャプチャすることが可能であり得ることが留意される。
従って、各TDIブロックのステージはおよそ同じ距離だけサンプルから分離されるようになり得る。
例えば上記第1の詳述した実施例を再度参照することにより、4つのステージが各ブロックのために使用され得る。従って、TDIブロックの各々はピクセルサイズと同じサイズを持つピッチで相互に隣り合って位置付けられるピクセルの4つのラインによって構成され得る。ここでピッチは2つの隣接ピクセルの中心間の距離をあらわし得ることが留意される。本発明の各実施形態における各TDIブロックはピッチよりも大きい非感光性ギャップ距離によって間隔をあけられ得る。ギャップ距離はセンサの深さポジショニングのZ分解能を決定する。各TDIブロックの個々のピクセルを近付けながら、比較的大きなギャップを持つことが有利であり得る。このように、各TDIステージの個々のステージが近くなるので、多過ぎるピクセルを使用することなく比較的大きなZ範囲が得られる。結果としてそれらは同様の深さで収集し、従って1つ以上のステージのデフォーカスに起因する画像ソフト化を軽減する。
本発明の別の実施形態例によれば、図5は非感光性ギャップ506によって分離される第1のピクセルライン508と第2のピクセルライン509を有するイメージングセンサ501を伴うセットアップ500を示す。第1のTDIブロック502、第2のTDIブロック503、第3のTDIブロック505及び128番目のTDIブロック504はそれぞれピクセルの4つのラインを有する。ピクセルラインはここで図5に示すものよりかなり長いので、ピクセルラインについて中断516が示される。前記されている通り、ピクセルラインは数千ピクセル、例えば4000若しくはそれ以上のピクセルから成り得る。
図5はイメージングセンサ上に位置付けられる、従ってイメージングセンサの一部である2つのTDIエンジン510、513も示す。かかるTDIエンジンは既知の及び本明細書で述べるTDI手順のいずれかを実行するように構成される。このように、TDIはチップ上でなされる。TDI手順がチップ外で、例えば外部コンピュータによって実行される他の実施形態も本発明によって含まれる。8の入力及び出力タップ511及び514はデータバスへセンサを接続するための標準ピンである。オプションとして、より高帯域幅がユーザによって望まれる場合、24の入力及び出力タップ512、515が使用されることができる。
本発明の別の実施形態例によれば、図6はフォトダイオード602から成るピクセル600を示す。さらに、垂直読み出しライン603及び604が図6に示されるが、これらはフォトダイオード602より上に隆起している。それと対照的に、4つの読み出しライン605、606、607及び608を有する従来技術のピクセル601が図6の左側に示される。従来技術のピクセル601は水平及び垂直読み出しラインを要する。さらに、感光性エリア609はピクセルの面の一部に過ぎないが、面の大部分が複数のCVCのような読み出し電子機器610の使用のために必要であることがピクセル601から推測され得る。従来のピクセル601において、ピクセル電子機器は典型的にはピクセル自体の中に埋め込まれ、これは低フィルファクタにつながる。これはピクセルがCVCのための3つのトランジスタ(ローリングシャッタ)若しくは4つのトランジスタ(グローバルシャッタ)を持ち、アドレシングと読み出しのための垂直及び水平金属ライン両方が必要であることを意味する。これらの素子は全てピクセルの光活性エリア609から空間を奪い、本発明において使用されるピクセル600と比較してピクセル601の低フィルファクタにつながる。
このように、本発明にかかる新たなセンサピクセルレイアウトが提供される。そしてTDIブロック(ここでは示されない)間のギャップ領域は全ての読み出し電子機器、例えばフォトダイオードの電荷を比例電圧へ変換するCVCを含むことができる。これはピクセル600自体が読み出し及びアドレシングのために垂直金属ライン603及び604のみを持つことを意味する。そのため垂直金属ラインしか光活性エリアを損なわず、高フィルファクタにつながる。垂直ラインしかないという事実は、本発明のイメージングセンサの傾斜が、例えば図2のイメージングシステムにおいて、水平、すなわちY軸まわりの回転に沿っており、これは金属ラインがフォトダイオード上に影を落とさないことを意味するので、さらなる利点である。図6の所望の複数のピクセル600が本発明のピクセルラインを構成するために使用され得る。例えば、複数のピクセル600は図4におけるセンサ400若しくは図3におけるセンサのピクセルのブロック404、405及び406を構築するために使用され得る。
開示の実施形態への他の変更は、図面、開示及び添付の請求項の考察から、請求される発明を実施する上で当業者によって理解されもたらされることができる。請求項において"有する"という語は他の要素若しくはステップを除外せず、不定冠詞"a"若しくは"an"は複数を除外しない。単一のプロセッサ若しくは他のユニットは請求項に列挙される複数のアイテム若しくはステップの機能を満たし得る。特定の手段が相互に異なる従属請求項に列挙されるという単なる事実はこれら手段の組み合わせが有利に使用されることができないことを示さない。請求項における任意の参照符号は請求項の範囲を限定するものと解釈されてはならない。

Claims (11)

  1. 直交XY座標系においてピクセルの2Dアレイを有するイメージングセンサであって、
    複数のピクセルを有する第1のピクセルラインであって、Y方向に沿ってのび、隣接ピクセルラインの第1のブロックの一部である、第1のピクセルラインと、
    複数のピクセルを有する第2のピクセルラインであって、前記Y方向に沿ってのび、隣接ピクセルラインの第2のブロックの一部である、第2のピクセルラインと、
    前記Y方向に沿ってのびる、前記第1及び第2のピクセルライン間の第1の非感光性ギャップとを有し、
    前記第1のピクセルラインのピクセル及び前記第2のピクセルラインのピクセルの読み出し電子機器が前記第1の非感光性ギャップに位置し、
    前記イメージングセンサの各ピクセルがフォトダイオードを含み、
    前記イメージングセンサが、各フォトダイオードを読み出し、アドレスするように構成されるX方向に沿った読み出しラインを有する、イメージングセンサ。
  2. 以下の構成要素:
    前記第1及び第2のピクセルラインの少なくとも一方のピクセルの電流電圧変換器、
    前記イメージングセンサの論理回路、並びに
    前記イメージングセンサの結合回路、
    のうち少なくとも1つが、前記第1の非感光性ギャップ若しくは追加の非感光性ギャップに位置する、請求項1に記載のイメージングセンサ。
  3. 複数の電荷電圧変換器が前記イメージングセンサの各フォトダイオードと関連し、
    各電荷電圧変換器が前記イメージングセンサの前記第1の非感光性ギャップ若しくは追加の非感光性ギャップに位置する、請求項1又は2に記載のイメージングセンサ。
  4. 前記センサの各ピクセルが、前記フォトダイオード、並びに前記X方向に沿った1及び第2の読み出しラインからなる、請求項1乃至3の一項に記載のイメージングセンサ。
  5. 前記第1のピクセルラインがY方向に沿ってのびる複数の隣接ピクセルラインから成る第1のブロックの一部であり、
    前記第2のピクセルラインがY方向に沿ってのびる複数の隣接ピクセルラインから成る第2のブロックの一部であり、
    前記第1及び第2のブロックがY方向に沿ってのびる非感光性ギャップによって相互に分離される、請求項1乃至4の一項に記載のイメージングセンサ。
  6. 前記イメージングセンサが追加ブロックを有し、
    隣接ブロックがY方向に沿ってのびる非感光性ギャップによって相互に分離され、
    各ブロックがn個の隣接ピクセルラインから成り、nは整数であり、
    2≦n≦8、特にn=4である、請求項5に記載のイメージングセンサ。
  7. 前記イメージングセンサの各非感光性ギャップが、前記センサの1ピクセルの少なくともm幅の幅を持ち、mは整数であり、
    8≦m≦20、特にm=13である、請求項5又は6に記載のイメージングセンサ。
  8. 個々のピクセルにおいて前記読み出しラインが前記フォトダイオードより上に隆起している、請求項1乃至7の一項に記載のイメージングセンサ。
  9. 前記イメージングセンサがマイクロレンズを有さない、請求項1乃至8の一項に記載のイメージングセンサ。
  10. 前記非感光性ギャップの各々が前記センサの1ピクセルの少なくとも1幅の幅を持つ、請求項1乃至9の一項に記載のイメージングセンサ。
  11. 前記第1及び第2のブロックが、それぞれTDIブロックである、請求項1乃至10の一項に記載のイメージングセンサ。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018195659A1 (en) * 2017-04-24 2018-11-01 Dixon A E Scanning microscope for 3d imaging using msia
CN108521825B (zh) * 2017-04-26 2022-03-29 深圳市柔宇科技股份有限公司 控制方法、控制装置和光学检测设备
ES2928577T3 (es) * 2017-09-29 2022-11-21 Leica Biosystems Imaging Inc Barrido en Z fijo bidimensional y tridimensional
CN108594418B (zh) * 2018-03-29 2021-02-05 暨南大学 一种基于阵列单像素探测器的光场显微成像系统及其方法
WO2019232211A1 (en) * 2018-05-31 2019-12-05 Raytheon Company Programmable digital tdi eo/ir scanning focal plane array with multiple selectable tdi sub-banks

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2735632B1 (fr) 1995-06-14 1997-07-11 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de numerisation pour detecteurs photosensibles et procede de lecture d'une matrice de detecteurs photoniques
US5646427A (en) * 1995-08-23 1997-07-08 Dalsa, Inc. Integrated circuit defect tolerant architecture
JPH09247388A (ja) * 1996-03-11 1997-09-19 Fuji Xerox Co Ltd 画像読取装置
JP4497577B2 (ja) * 1999-04-05 2010-07-07 キヤノン株式会社 マルチビーム光走査装置
JP2001024948A (ja) * 1999-07-08 2001-01-26 Canon Inc 固体撮像装置及びそれを用いた撮像システム
FI111759B (fi) * 2000-03-14 2003-09-15 Planmed Oy Anturijärjestelmä ja menetelmä digitaalisessa röntgenkuvantamisessa
JP4721380B2 (ja) 2000-04-14 2011-07-13 キヤノン株式会社 固体撮像装置および撮像システム
US6711283B1 (en) * 2000-05-03 2004-03-23 Aperio Technologies, Inc. Fully automatic rapid microscope slide scanner
DE10127284A1 (de) * 2001-06-05 2002-12-12 Zeiss Carl Jena Gmbh Autofokussiereinrichtung für ein optisches Gerät
GB2383487B (en) 2001-12-18 2006-09-27 Fairfield Imaging Ltd Method and apparatus for acquiring digital microscope images
US6831688B2 (en) * 2002-04-08 2004-12-14 Recon/Optical, Inc. Multispectral or hyperspectral imaging system and method for tactical reconnaissance
US7130115B2 (en) 2002-09-23 2006-10-31 Dhetrix, Inc. Multi-mode scanning imaging system
JP2010135464A (ja) 2008-12-03 2010-06-17 Konica Minolta Business Technologies Inc 固体撮像素子及び撮像装置
JP2010212288A (ja) 2009-03-06 2010-09-24 Renesas Electronics Corp 撮像装置
US10353190B2 (en) * 2009-12-30 2019-07-16 Koninklijke Philips N.V. Sensor for microscopy
FR2959902B1 (fr) * 2010-05-04 2013-08-23 E2V Semiconductors Capteur d'image lineaire a defilement et sommation analogique et numerique et procede correspondant
EP2715321A4 (en) * 2011-05-25 2014-10-29 Huron Technologies Internat Inc 3D DISEASE GLEITSCANNER
EP2758825B1 (en) * 2011-09-21 2016-05-18 Huron Technologies International Inc. Slide scanner with a tilted image plane

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