JP6538974B2 - 円筒異方性熱伝導率を備える複合デバイス - Google Patents

円筒異方性熱伝導率を備える複合デバイス Download PDF

Info

Publication number
JP6538974B2
JP6538974B2 JP2018520156A JP2018520156A JP6538974B2 JP 6538974 B2 JP6538974 B2 JP 6538974B2 JP 2018520156 A JP2018520156 A JP 2018520156A JP 2018520156 A JP2018520156 A JP 2018520156A JP 6538974 B2 JP6538974 B2 JP 6538974B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base support
thermally conductive
thermal conductivity
heater
arcuate members
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018520156A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018533216A (ja
JP2018533216A5 (ja
Inventor
ザング、サンホン
プタシエンスキ、ケビン
スミス、ケビン、アール
Original Assignee
ワットロー・エレクトリック・マニュファクチャリング・カンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ワットロー・エレクトリック・マニュファクチャリング・カンパニー filed Critical ワットロー・エレクトリック・マニュファクチャリング・カンパニー
Publication of JP2018533216A publication Critical patent/JP2018533216A/ja
Publication of JP2018533216A5 publication Critical patent/JP2018533216A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6538974B2 publication Critical patent/JP6538974B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B1/00Details of electric heating devices
    • H05B1/02Automatic switching arrangements specially adapted to apparatus ; Control of heating devices
    • H05B1/0227Applications
    • H05B1/023Industrial applications
    • H05B1/0233Industrial applications for semiconductors manufacturing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67103Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67115Apparatus for thermal treatment mainly by radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67248Temperature monitoring
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/20Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater
    • H05B3/22Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible
    • H05B3/26Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible heating conductor mounted on insulating base
    • H05B3/267Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible heating conductor mounted on insulating base the insulating base being an organic material, e.g. plastic

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Resistance Heating (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

本開示は、熱損失及び/又は他の変動を補償するために、動作中に加熱ターゲットに正確な温度プロファイルを伝達することが可能なヒータシステムを含む装置に関する。この装置は、半導体処理を含むがこれに限定されず、様々な用途に使用することができる。
このセクションの記述は、単に本開示に関連する背景情報を提供するのみであり、先行技術を構成しない場合がある。
例えば、チャック又はサセプタが、基板(又はウェハ)を保持し、処理中に基板に均一な温度プロファイルを提供するために使用される。この支持アセンブリは、埋め込まれた電極を備える静電チャックと、接着層を介して静電チャックに接合されたヒータプレートとを含むとしてもよい。ヒータは、例えば、エッチングされた薄片(foil)ヒータとすることができるヒータプレートに固定される。
このヒータアセンブリは、接着層を介して冷却プレートに接合される。基板は、静電チャック上に配置され、電極は、電圧源に接続され、静電力が生成され、基板を定位置に保持する。高周波(RF)又はマイクロ波電源は、支持アセンブリを取り囲むプラズマリアクタチャンバ内で静電チャックに結合されてもよい。したがって、ヒータは、プラズマ強化膜堆積又はエッチングを含む様々なチャンバ内プラズマ半導体処理ステップ中に基板上の温度を維持するのに必要な熱を提供する。
基板の処理の全フェーズにおいて、静電チャックの温度プロファイルは、エッチングされる基板内の処理変動を低減するために、厳密に制御されるとともに、総処理時間が短縮される。基板上の温度均一性を改善するためのデバイス及び方法は、半導体処理の分野において、他の用途の中でも絶えず求められている。
概要
本開示のある形態において、プロセスチャンバ内で基板を支持し、基板の表面温度を調節する装置が提供される。この装置は、基板を支持するように適用される表面を含むベース支持部と、基板を加熱するためにベース支持部に近接して配置されたヒータとを備える。ベース支持部は、マトリックス内に埋め込まれた複数の熱伝導性弧状部材を含む複合材で作られる。複数の熱伝導性弧状部材のそれぞれは、同心状に配置され、半径方向に所定の間隔を定め、その結果、複合材は、ベース支持部の円筒座標系における半径(ρ)方向、周(φ)方向及び軸(z)方向に異方性熱伝導率を提供する。熱伝導部材は、周方向の熱伝導率が半径方向又は軸方向よりも高くなるように配置されてもよい。ある形態において、ヒータは層状ヒータである。
熱伝導性弧状部材は、連続するリングを定めてもよい。弧状部材は、また、ゾーン内に配置された対称的なセグメントを定めてもよい。弧状部材は、同じ又は異なる材料から製造されてもよく、類似の又は異なる長さを持つとしてもよい。弧状部材は、また、変化する幅を示すか、又は、変化するトレース形状を定めてもよく、及び/又は、例えば様々な形状のポリゴン又は不連続セグメントのような弧以外の形状で提供されてもよい。
本開示の別の態様によれば、マトリックスは、限定されないが、ポリイミド材であってもよい。このポリイミド材は、ポリ−オキシジフェニレン−ピロメリットイミド(poly-oxydiphenylene-pyromellitimide)材であってもよいが、これに限定されない。
本開示のさらに別の態様によれば、熱伝導性部材はグラファイトファイバーである。ベース支持部の約10重量%がグラファイトファイバーを含む場合、半径方向及び軸方向のある形態のベース支持部の熱伝導率は、少なくとも0.4W/mKである。ベース支持部の約88重量%がグラファイトファイバーを含む場合、半径方向及び軸方向のある形態のベース支持部の熱伝導率は、6.0W/mK未満である。
あるいは、周方向のある形態のベース支持部の熱伝導率は、ベース支持部の約8重量%がグラファイトファイバーを含む場合、少なくとも80W/mKである。ベース支持部の約80重量%がグラファイトファイバーを含む場合、周方向のある形態のベース支持部の熱伝導率は、900W/mK未満である。
本開示の別の形態では、ターゲット部分に熱を供給する装置が提供される。この装置は、マトリックス内に埋め込まれた少なくとも1つの熱伝導性弧状部材を含む複合材で作られたベース支持部を備え、複合材は、ベース支持部の円筒座標系における半径(ρ)方向、周(φ)方向及び軸(z)方向に異方性熱伝導率を提供する。望ましい場合に、装置は、同心状に配置され、半径方向に所定の間隔を定める複数の熱伝導性弧状部材をさらに備えるとしてもよい。これらの弧状部材は、上述したように、及び、本明細書でさらに図示及び説明されるように、連続したリング又は他の構成を定めてもよい。
本開示のさらに別の形態では、ターゲット部分に熱を提供する方法が提供される。この方法は、複合材でできたベース支持部を提供し、隣接する構成要素を介してベース支持部に熱を加えることを含む。複合材は、マトリックス内に埋め込まれた複数の熱伝導性弧状部材を含み、複数の熱伝導性弧状部材の各々は、同心状に配置され、半径方向に所定の間隔を定める。複合材は、ベース支持部の円筒座標系において、半径(ρ)方向、周(φ)方向及び軸(z)方向に異方性熱伝導率を提供する。
適用性のさらなる領域は、本明細書で提供される説明から明らかになるであろう。説明及び特定の実施例は、例示のみを目的としており、本開示の範囲を限定するものではないことを理解されたい。
本開示が十分に理解されることができるように、添付の図面を参照しながら、例として与えられた様々な形態が本明細書で説明される。
図1は、本開示の教示にしたがって構成された装置の側断面図である。
図2Aは、本発明の教示にしたがって構成され、マトリックス複合材内に埋め込まれた様々な形態の熱伝導性部材を示すベース支持部の平面図である。 図2Bは、本発明の教示にしたがって構成され、マトリックス複合材内に埋め込まれた様々な形態の熱伝導性部材を示すベース支持部の平面図である。 図2Cは、本発明の教示にしたがって構成され、マトリックス複合材内に埋め込まれた様々な形態の熱伝導性部材を示すベース支持部の平面図である。 図2Dは、本発明の教示にしたがって構成され、マトリックス複合材内に埋め込まれた様々な形態の熱伝導性部材を示すベース支持部の平面図である。
図3は、参照のために提供される円筒座標(p、φ、z)に関連する幾何学的空間のグラフ表示である。
図4は、本開示のある形態におけるグラファイトファイバー重量パーセントの関数としてプロットされた様々な方向におけるベース支持部によって示される熱伝導率を示す試験データのグラフである。
図5Aは、マトリックス材のみを含む支持基材について測定された熱プロファイルの平面図である。
図5Bは、本開示の教示にしたがって調整された複合支持基材の熱プロファイルの平面図である。
図6は、本開示の教示にしたがって、ターゲット部分に熱を提供する方法の概略図である。
本明細書で記載された図面は、説明目的のみのためのものであり、決して本開示の範囲を限定するものではない。
詳細な説明
以下の説明は、事実上単に例示的なものであり、本開示、用途、又は、使用を限定するものではない。例えば、本開示の以下の形態は、半導体処理で使用するためのチャック用の支持アセンブリ、場合によっては静電チャック用の支持アセンブリに関する。しかしながら、本明細書で提供される支持アセンブリ及びシステムは、様々な用途に使用することができ、半導体処理用途に限定されないことを理解されたい。図面を通じて、対応する参照符号は、同様の又は対応する部分及び特徴を示すことが理解されるべきである。
図1を参照すると、処理チャンバ内で基板10を支持し、基板10の表面温度を調節するための装置20が概ね提供される。装置20は、基板10を支持するために適用される表面24を含むベース支持体22と、基板10を加熱するためにベース支持部22に近接して配置されたヒータ26とを含む。このようなヒータ及びこれらの材料のさらなる説明は、米国特許第7,196,295号及び係属中の米国特許出願番号11/475,534及び13/599,648に記載されており、これらは本出願と同一出願人であり、その開示はそれらの全体が参照により本明細書に組み込まれる。
ある形態では、ヒータは、層状ヒータでもよい。本明細書で使用されるように、層状ヒータは、層状プロセスによって形成された少なくとも1つの層を含むヒータとして定められる。言い換えれば、本明細書で使用する「層状ヒータ」という用語は、少なくとも1つの機能層(例えば、ボンドコート層、誘電体層、抵抗加熱層、保護層、オーバーコート層など)を備えるヒータを含むと解釈されるべきであり、この層は、厚層、薄層、溶射、又は、ゾル−ゲルなどに関連するプロセスを使用して、基材又は別の層に材料を塗布又は蓄積することによって形成される。これらのプロセスは、「積層(layered)プロセス」、「積層(layering)プロセス」又は「積層ヒータプロセス」とも呼ばれる。これらのタイプの層状ヒータの主な違いは、層が形成される方法にある。例えば、厚膜ヒータ用の層は、典型的には、スクリーン印刷、デカール塗布、又は、フィルム印刷ヘッドなどのプロセスを使用して形成される。薄膜ヒータ用の層は、典型的には、イオンプレーティングのような堆積プロセス、スパッタリング、化学蒸着(CVD)、物理蒸着(PVD)などを用いて形成される。薄膜技術及び厚膜技術とは異なる他の一連の処理は、溶射処理として知られており、例えば、フレーム溶射、プラズマ溶射、ワイヤアーク溶射、及び、HVOF(High Velocity Oxygen Fuel)などを含むとしてもよい。
図2Aから図2Dを参照すると、ベース支持部22は、マトリックス材32内に埋め込まれた複数の熱伝導性弧状部材30を備える複合材28である。ある形態では、弧状部材30は、図示されるように連続的なリングを定める。代替の形態における弧状部材30は、図2B及び図2Cに示されるような、ゾーン内に配置された対称的なセグメントを定める。例えば、図2Bでは、弧状部材30は、不連続の同心の円弧として示されており、不連続の同心の円弧は、異なるヒータゾーンを定めるように配置され、さらにゾーン間のクロストーク(連続する同心のリング/セグメントの間の望ましくない電流の伝達)を低減する。図2Cにおいて、弧状部材30は、不連続の同心の円弧が半径方向に重なるように分布され、クロストークも低減する。これらの構成の各々は、熱伝導性弧状部材30が取ることができる異なる形態の単なる例示に過ぎず、本開示の範囲を限定するものとして解釈されるべきではない。さらに、熱伝導性弧状部材30は、本開示の代替形態における円弧形状に限定されない。他の幾何形状は、例として、楕円、B曲線(当技術分野ではベジエ曲線としても知られている)、線、スプライン、及びそれらの組み合わせを含むとしてもよい。したがって、本明細書に図示され説明された熱伝導性弧状部材30の形状としての幾何学的円弧は、本開示の範囲を限定するものと解釈されるべきではない。
さらに図2Bから図2Dを参照すると、熱伝導性弧状部材30は、同じ又は異なる材料で作られてもよく、ベース支持部22内で類似の又は異なる長さ30c,30dを持つとしてもよい。熱伝導性弧状部材30の各々は、また、変化する幅30a,30bを提示しってもよく、変化するトレース形状又は経路30e,30fを定めてもよい。熱伝導性部材のこれらの形/幾何形状は単なる例示であり、本開示の範囲を限定するものと解釈されるべきではないことを理解されたい。
ある形態では、熱伝導性弧状部材30は、グラファイトファイバーを含むが、本開示の範囲内に留まる限り、任意の熱伝導性材料を使用してもよい。このような材料は、例えば、導電性金属、導電性材料に被覆又は埋め込まれた非導電性材料を含むとしてもよく、例示的な形態では、一緒に織り合わされた又は接着された複数の繊維(フィラメント)又はより線(ストランド)を含むとしてもよい。これらの代替材料及びその形態は単なる例示であり、本開示の範囲を限定するものと解釈されるべきではない。
マトリックス材32は、ある形態において、ポリイミド材である。ポリイミド材は、限定されないが、ポリ−(4,4'−オキシジフェニレンピロメリトイミド)(poly-(4,4’-oxydiphenylene pyro-mellitimide))、又は、カプトン(登録商標)(DuPont USA)のようなポリ−オキシジフェニレン ピロ−メリットイミド(poly-oxydiphenylene pyro-mellitimide)材でもよい。ポリイミド材は単なる例示であり、本開示の範囲内にある他のマトリックス材、例えばアルミニウムを使用することができることを理解されたい。そのような材料は、例として、ポリマー材料又はセラミック材料を含むとしてもよい。
本開示の教示によれば、図2Aから図2Cに示すように、ある形態の弧状部材30は、同心に配置され、半径方向において所定の間隔(I)を定め、これにより、複合材28は、ベース支持部22の円筒座標系における半径(ρ)方向、周(φ)方向及び軸(z)方向の異方性熱伝導率を提供する。好ましくは、熱伝導性弧状部材(30)は、周(φ)方向の熱伝導率が半径(ρ)方向又は軸(z)方向よりも高くなるように配置されてもよい。さらに、間隔(I)は、ベース支持部22にわたって一定又は同じである必要はなく、その代わりに、間隔(I)のサイズ又はスペースは、本開示の他の形態にしたがって変化してもよい。
図3には、円筒座標系における半径(ρ)方向、周(φ)方向及び軸(z)方向が参照のために示されている。 円筒座標系は、選択された基準軸からの距離、選択された基準方向に対する軸からの方向、及び、軸と垂直な選択された基準面からの距離により、点xの位置を指定する3次元座標系を表す。円筒座標系の点xは、図示されるように座標(ρ,φ,z)によって識別することができ、ρは半径座標、φは角座標又は方位角、zは高さ、縦軸又は軸座標である。
ある形態では、ベース支持部22は、熱伝導性弧状部材20を所望の形状又は幾何学的形状に整列又は配置することによって準備され、マトリックス材36内に封入される。例えば、熱伝導性弧状部材30は、マトリックス材の少なくとも1つの層上に配置され、次に少なくとも1つの別の層が熱伝導性弧状部材30の上に配置され、複合材28を形成する。
本開示に関連する利点をより完全に説明するために、カプトン(登録商標)ブランドのポリイミドマトリックス材を用いて、同心状に配置された熱伝導性弧状部材30としてグラファイトファイバーを含むベース支持部22を使用し、以下の例が提供される。上述のように、異なるパターンに成形され、代替組成物のマトリックス材内に封入された他の熱伝導性部材の組み込み及び使用は、本開示の範囲内にあると考えられる。
ここで図4を参照すると、ベース支持部22によって周(φ)方向に提供される熱伝導率は、図2に示されるように、本開示のある形態における半径(ρ)方向又は軸(z)方向に提供される熱伝導率より大きい。より具体的には、ベース支持部22の約10重量%がグラファイトファイバーを含む場合、ベース支持部22の半径方向及び軸方向の熱伝導率は、少なくとも0.4W/mKである。ベース支持部22の約88重量%がグラファイトファイバーを含む場合、半径方向及び軸方向のベース支持部22の熱伝導率は、6.0W/mK未満である。あるいは、ベース支持部22の約8重量%がグラファイトファイバーを含む場合、周方向におけるベース支持部22の熱伝導率は、少なくとも80W/mKである。ベース支持部22の約90重量%がグラファイトファイバーを含む場合、ベース支持部の周方向の熱伝導率は、900W/mK未満である。これらの値は、本開示の原理を説明するための単なる例示であり、本開示の範囲を限定するものと解釈されるべきではないことを理解されたい。
図5Aに示すように、装置を約60℃のターゲット温度に加熱すると、カプトン(登録商標)材マトリックス(例えば、非熱伝導性部材)のみのベース支持部22を組み込んだ装置について測定された熱分布が示される。熱分布は、より暗い/赤色の領域によって示されるように、複数のホットスポット(H)を表す。
これに対して、図5Bでは、カプトン(登録商標)材マトリックスに埋め込まれた同心状に整列したグラファイトファイバー(すなわち、熱伝導性弧状部材30の一形態)の複合体を含む支持基材を組み込んだ装置に対する本開示によって提供される熱分布が示されている。熱伝導性部材によって提供される熱伝導率の増加は、図5Aの装置と比較して支持基材が比較的均一な温度を示すことを可能にする。
本開示にしたがって調整された複合材を含む支持基材は、円筒座標系において半径方向、周方向、及び軸(z)方向に異方性熱伝導率を示す。言い換えれば、マトリックス材への伝導性ファイバーの組み込みは、半径方向、周方向及び軸方向にそって異なる熱伝導率を提供する。支持基材は、ウエハ堆積/エッチングチャンバ内で使用されるようなヒータ装置において利用される場合に、半径方向又は軸方向にそって温度プロファイルに著しい影響を及ぼすことなく、周の温度均一性を著しく改善する。
本開示の別の形態では、熱をターゲット部分に供給する装置が提供される。この装置は、マトリックス32内に埋め込まれた少なくとも1つの熱伝導性弧状部材30を含む複合材28で作られたベース支持部22を含み、複合材28はベース支持部の半径方向、周方向及び軸方向に異方性熱伝導率を提供する。望ましくは、装置は、同心状に配置された、及び/又は、半径方向に所定の間隔を定める複数の熱伝導性弧状部材30をさらに備えるとしてもよい。これらの弧状部材20は、連続したリングを定めてもよい。
本開示のさらに別の形態では、ターゲット部分に熱を提供する方法100が提供される。図6を参照すると、この方法100は、105で、複合材製のベース支持部を提供し、110で、隣接する構成要素を介してベース支持部110に熱を加えることを含む。複合材は、マトリックス材内に埋め込まれた複数の熱伝導性部材を含み、複数の熱伝導性部材のそれぞれは、同心状に配置され、半径方向に所定の間隔を定める。複合材は、また、ベース支持部の半径方向、周方向、及び軸方向に異方性熱伝導率を提供してもよい。
本開示は、説明され例示された実施形態に限定されないことに留意されたい。多種多様な改変が記載されており、多くは当業者の知識の一部である。本開示および本出願の保護の範囲を逸脱することなく、これらの変更及びさらなる変更ならびに技術的均等物による任意の置換が、明細書及び図面に追加されてもよい。

Claims (16)

  1. 処理チャンバ内で基板を支持し、前記基板の表面温度を調節する装置であって、
    前記基板を支持するために適用される表面を含むベース支持部と、
    前記ベース支持部に近接して配置され、前記基板を加熱するためのヒータと、
    を具備し、
    前記ベース支持部は、マトリックス内に埋め込まれた複数の熱伝導性弧状部材を含む複合材で作られており、前記複数の熱伝導性弧状部材は、同心状に配置され、前記ベース支持部の周方向(φ)における熱伝導率が前記ベース支持部の半径方向(ρ)における熱伝導率及び軸方向(z)における熱伝導率よりも高くなるように、及び、前記ヒータからの熱が前記ベース支持部の前記周方向にそって均等に分布するように、半径方向の間隔で所定の間隔を定め、
    前記複数の熱伝導性弧状部材は、前記ヒータの電気回路から分離され、前記ヒータからの熱伝導によって加熱される、
    装置。
  2. 前記複数の熱伝導性弧状部材は、連続するリングを定める、請求項1の装置。
  3. 前記複数の熱伝導性弧状部材は、ゾーン内に配置された対称的なセグメントを定める、請求項1の装置。
  4. 前記複数の熱伝導性弧状部材は、異なる長さを定める、請求項1の装置。
  5. 前記複数の熱伝導性弧状部材は、異なる材料を定める、請求項1の装置。
  6. 前記複数の熱伝導性弧状部材のうちの少なくとも1つは、変化する幅を定める、請求項1の装置。
  7. 前記複数の熱伝導性弧状部材のうちの少なくとも1つは、変化するトレース形状を定める、請求項1の装置。
  8. 前記マトリックスは、ポリイミド材である、請求項1の装置。
  9. 前記ポリイミド材は、ポリ−オキシジフェニレン−ピロメリットイミド材である、請求項8の装置。
  10. 前記熱伝導性弧状部材は、グラファイトファイバーである、請求項1の装置。
  11. 前記半径方向及び前記軸方向の前記ベース支持部の前記熱伝導率は、前記ベース支持部の約10重量%が前記グラファイトファイバーを含む場合に、少なくとも0.4W/mKである、請求項10の装置。
  12. 前記半径方向及び前記軸方向の前記ベース支持部の前記熱伝導率は、前記ベース支持部の約88重量%が前記グラファイトファイバーを含む場合に、6.0W/mK未満である、請求項10の装置。
  13. 前記ベース支持部の約8重量%が前記グラファイトファイバーを含む場合、前記ベース支持部の前記周方向における熱伝導率は、少なくとも80W/mKである、請求項10の装置。
  14. 前記ベース支持部の約90重量%が前記グラファイトファイバーを含む場合、前記ベース支持部の前記周方向における熱伝導率は、900W/mK未満である、請求項10の装置。
  15. 前記ヒータは、層状ヒータである、請求項1の装置。
  16. ターゲット部分に熱を提供する方法であって、
    マトリックス内に埋め込まれた複数の熱伝導性弧状部材を含む複合材で作られているベース支持部を提供し、前記複数の熱伝導性弧状部材は、同心状に配置され、前記ベース支持部の半径方向(ρ)の間隔で所定の間隔を定める、ことと、
    隣接する構成要素を介して前記ベース支持部に熱を加えることと、
    を具備し、
    前記ベース支持部の周方向(φ)における熱伝導率は、前記ベース支持部の前記半径方向(ρ)における熱伝導率及び前記ベース支持部の軸方向(z)における熱伝導率よりも高く、前記ベース支持部へ加えられる前記熱は、前記ベース支持部の前記周方向にそって均等に分布し、
    前記複数の熱伝導性弧状部材は、ヒータの電気回路から分離され、前記ヒータからの熱伝導によって加熱される、
    方法。
JP2018520156A 2015-10-19 2016-10-12 円筒異方性熱伝導率を備える複合デバイス Active JP6538974B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/886,783 2015-10-19
US14/886,783 US10154542B2 (en) 2015-10-19 2015-10-19 Composite device with cylindrical anisotropic thermal conductivity
PCT/US2016/056547 WO2017069977A1 (en) 2015-10-19 2016-10-12 Composite device with cylindrical anisotropic thermal conductivity

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2018533216A JP2018533216A (ja) 2018-11-08
JP2018533216A5 JP2018533216A5 (ja) 2018-12-20
JP6538974B2 true JP6538974B2 (ja) 2019-07-03

Family

ID=57227091

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018520156A Active JP6538974B2 (ja) 2015-10-19 2016-10-12 円筒異方性熱伝導率を備える複合デバイス

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10154542B2 (ja)
EP (1) EP3365913B1 (ja)
JP (1) JP6538974B2 (ja)
KR (1) KR101975316B1 (ja)
CN (1) CN108701628B (ja)
TW (1) TWI654699B (ja)
WO (1) WO2017069977A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020040725A1 (en) * 2018-08-20 2020-02-27 Comet Ag Multi-stack cooling structure for radiofrequency component
US11515190B2 (en) 2019-08-27 2022-11-29 Watlow Electric Manufacturing Company Thermal diffuser for a semiconductor wafer holder
KR102144079B1 (ko) * 2020-04-03 2020-08-13 (주)유진기업 Psc구조물에 긴장재를 삽입하는 방법 및 이를 이용하여 제작된 psc구조물
DE102020123546A1 (de) 2020-09-09 2022-03-10 Aixtron Se CVD-Reaktor mit einer Kühlfläche mit bereichsweise vergrößerter Emissivität
CN112382589A (zh) * 2020-11-10 2021-02-19 泉芯集成电路制造(济南)有限公司 一种去除芯片表面氧化硅的装置及方法

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5536918A (en) 1991-08-16 1996-07-16 Tokyo Electron Sagami Kabushiki Kaisha Heat treatment apparatus utilizing flat heating elements for treating semiconductor wafers
US5302851A (en) * 1991-12-19 1994-04-12 International Business Machines Corporation Circuit assembly with polyimide insulator
US6410172B1 (en) 1999-11-23 2002-06-25 Advanced Ceramics Corporation Articles coated with aluminum nitride by chemical vapor deposition
WO2001078454A1 (fr) 2000-04-07 2001-10-18 Ibiden Co., Ltd. Dispositif chauffant ceramique
DE10196908T1 (de) 2000-11-16 2003-10-09 Mattson Tech Inc Vorrichtung und Verfahren für das ohmsche Heizen eines thermischen Bearbeitungssystems
WO2002089531A1 (en) 2001-04-30 2002-11-07 Lam Research, Corporation Method and apparatus for controlling the spatial temperature distribution across the surface of a workpiece support
US6529686B2 (en) 2001-06-06 2003-03-04 Fsi International, Inc. Heating member for combination heating and chilling apparatus, and methods
KR100443122B1 (ko) 2001-10-19 2004-08-04 삼성전자주식회사 반도체 소자 제조장치용 히터 어셈블리
US20030089457A1 (en) 2001-11-13 2003-05-15 Applied Materials, Inc. Apparatus for controlling a thermal conductivity profile for a pedestal in a semiconductor wafer processing chamber
JP2006517740A (ja) 2003-01-17 2006-07-27 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ ウェーハ加工装置及びその製造方法
WO2005008749A1 (ja) 2003-07-16 2005-01-27 Ibiden Co., Ltd. セラミック接合体、セラミック接合体の製造方法、セラミック温調器およびセラミック温調ユニット
US7196295B2 (en) 2003-11-21 2007-03-27 Watlow Electric Manufacturing Company Two-wire layered heater system
US7544251B2 (en) * 2004-10-07 2009-06-09 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for controlling temperature of a substrate
US20060096946A1 (en) 2004-11-10 2006-05-11 General Electric Company Encapsulated wafer processing device and process for making thereof
JP4749072B2 (ja) * 2005-07-26 2011-08-17 京セラ株式会社 ウェハ保持体
JP2007134088A (ja) 2005-11-08 2007-05-31 Shin Etsu Chem Co Ltd セラミックスヒーターおよびセラミックスヒーターの製造方法
US7901509B2 (en) 2006-09-19 2011-03-08 Momentive Performance Materials Inc. Heating apparatus with enhanced thermal uniformity and method for making thereof
US7723648B2 (en) 2006-09-25 2010-05-25 Tokyo Electron Limited Temperature controlled substrate holder with non-uniform insulation layer for a substrate processing system
US7425689B2 (en) * 2006-09-27 2008-09-16 Tokyo Electron Limited Inline physical shape profiling for predictive temperature correction during baking of wafers in a semiconductor photolithography process
JP5762798B2 (ja) 2011-03-31 2015-08-12 東京エレクトロン株式会社 天井電極板及び基板処理載置
JP6077301B2 (ja) * 2012-12-28 2017-02-08 日本特殊陶業株式会社 静電チャック
TWI609991B (zh) 2013-06-05 2018-01-01 維克儀器公司 具有熱一致性改善特色的晶圓舟盒
WO2015002326A1 (en) * 2013-07-05 2015-01-08 Nitto Denko Corporation Photocatalyst sheet
KR20180110213A (ko) * 2013-08-06 2018-10-08 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 국부적으로 가열되는 다-구역 기판 지지부
US20150292815A1 (en) * 2014-04-10 2015-10-15 Applied Materials, Inc. Susceptor with radiation source compensation
TWI734668B (zh) * 2014-06-23 2021-08-01 美商應用材料股份有限公司 在epi腔室中的基材熱控制
KR20160015510A (ko) * 2014-07-30 2016-02-15 삼성전자주식회사 정전척 어셈블리, 이를 구비하는 반도체 제조장치, 및 이를 이용한 플라즈마 처리방법
US9872341B2 (en) * 2014-11-26 2018-01-16 Applied Materials, Inc. Consolidated filter arrangement for devices in an RF environment

Also Published As

Publication number Publication date
KR20180071307A (ko) 2018-06-27
CN108701628B (zh) 2019-10-08
JP2018533216A (ja) 2018-11-08
TW201719792A (zh) 2017-06-01
CN108701628A (zh) 2018-10-23
KR101975316B1 (ko) 2019-05-07
TWI654699B (zh) 2019-03-21
WO2017069977A1 (en) 2017-04-27
US20170111958A1 (en) 2017-04-20
EP3365913A1 (en) 2018-08-29
EP3365913B1 (en) 2021-06-16
US10154542B2 (en) 2018-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6538974B2 (ja) 円筒異方性熱伝導率を備える複合デバイス
TWI575640B (zh) 用於半導體處理之具有二極體平面加熱器區域之加熱板
TWI688038B (zh) 局部加熱之多區域基材支撐座
US20160307787A1 (en) Ceramic heater and electrostatic chuck
KR20190109496A (ko) 웨이퍼 지지대
US20230340668A1 (en) Wafer holder
JP2019508862A (ja) 円筒状ヒータ
WO2018159687A1 (ja) ウエハ加熱装置
TW202123379A (zh) 用於半導體晶圓固持器之熱擴散器
US20230154768A1 (en) Multi-zone azimuthal heater
US20180298494A1 (en) Graphite susceptor
US20180096867A1 (en) Heating apparatus with controlled thermal contact
KR102141678B1 (ko) 가열식 기판 지지부
KR20170007685A (ko) 미세패턴을 구비한 발열체 및 그 제조방법
JP2010244864A (ja) 基板加熱構造体
JP7202326B2 (ja) セラミックヒータ
KR101618714B1 (ko) 미세패턴을 구비한 발열체
KR101663488B1 (ko) 미세패턴을 구비한 발열체 및 그 제조방법
JPWO2018230232A1 (ja) ウエハ加熱ヒータ及び半導体製造装置
US20230311258A1 (en) Electrostatic chuck
KR20170007684A (ko) 미세패턴을 구비한 발열체 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181018

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181018

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20181018

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20190214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190214

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190219

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190417

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190507

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190606

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6538974

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250