JP6530130B2 - 測定装置 - Google Patents

測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6530130B2
JP6530130B2 JP2018502453A JP2018502453A JP6530130B2 JP 6530130 B2 JP6530130 B2 JP 6530130B2 JP 2018502453 A JP2018502453 A JP 2018502453A JP 2018502453 A JP2018502453 A JP 2018502453A JP 6530130 B2 JP6530130 B2 JP 6530130B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support
pair
auxiliary member
fixed
distance meters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018502453A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2017149727A1 (ja
Inventor
将太 竹村
将太 竹村
相沢 健治
健治 相沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp filed Critical Toshiba Corp
Publication of JPWO2017149727A1 publication Critical patent/JPWO2017149727A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6530130B2 publication Critical patent/JP6530130B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/08Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/16Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring distance of clearance between spaced objects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明の実施形態は、測定対象の厚さを非接触で測定する測定装置に関する。
一対の距離計を対向して設けた枠状のフレームに測定対象を通過させる測定装置が知られている。このような測定装置は、予め測定しておいた一対の距離計の間の距離から、測定した各距離計から測定対象までの距離を差し引くことで、対象物の厚さを導出する。
この測定装置に用いられるフレームは、一対の距離計を固定する上枠及び下枠と、これら上枠及び下枠を接続する支柱と、を有する。支柱は、上枠及び下枠の一端又は両端に設けられる。
日本国特開2004−174010号公報
本発明が解決しようとする課題は、熱により支柱の長さが変動しても、高い精度で対象物の厚さを測定できる測定装置を提供することである。
実施形態によれば、測定装置は、基部、一対の距離計及び補助部材を有する。基部は、下枠、前記下枠と対向して設けられる上枠、並びに、前記下枠及び前記上枠を連結する支柱を有する。一対の距離計は、前記下枠及び前記上枠にそれぞれ設けられ、測定対象を通過可能な間隙を有して互いに対向して配置される。補助部材は、前記基部に設けられ、前記支柱と異なる線形膨張係数の材料で構成され、熱により前記一対の距離計の対向する方向に膨張する前記支柱の膨張量と同じ膨張量となる前記一対の距離計の対向する方向の長さを有する。前記支柱は、前記下枠に下端が固定される第1支柱と、前記上枠に上端が固定される第2支柱とを有する。前記補助部材は、前記第1支柱の側面及び前記第2支柱の側面の間に配置され、上端が前記第1支柱の上端に固定され、下端が前記第2支柱の下端に固定される。
図1は、第1の実施形態に係る測定装置の構成を示す説明図である。 図2は、第2の実施形態に係る測定装置の構成を示す説明図である。 図3は、第3の実施形態に係る測定装置の構成を示す説明図である。 図4は、第4の実施形態に係る測定装置の構成を示す説明図である。 図5は、第5の実施形態に係る測定装置の構成を示す説明図である。 図6は、第6の実施形態に係る測定装置の構成を示す説明図である。
(第1の実施形態)
以下、第1の実施形態に係る測定装置1について、図1を用いて説明する。
図1は、第1の実施形態に係る測定装置1の構成を示す説明図である。
測定装置1は、測定対象100が通過する枠状の基部11と、基部11に設けられ、互いに対向して配置される一対の距離計12と、基部11及び一方の距離計12の間に設けられた補助部材13と、一対の距離計12の間隙の距離を計測する校正装置14と、一対の距離計12及び校正装置14にそれぞれ信号線99を介して接続された制御部15と、を備えている。
ここで、測定対象100は、例えば、一方向に長い板状の金属板等である。測定対象100は、例えば、熱処理が行われた後に、測定装置1で厚さが測定される。
基部11は、下枠21と、下枠21の一の側面又は一対の側面に設けられた一又は一対の支柱22と、支柱22に設けられた上枠23と、を備えている。基部11は、正面視で方形枠状、又は、C字状に構成される。本実施形態においては、基部11は、一対の支柱22を有する方形枠状の構成を用いて以下説明する。
基部11は、例えば、下枠21の下面及び支柱22の下面が、設置面200に固定される。設置面200は、例えば、測定装置1が設置される工場等の床面等である。
下枠21は、方形板状に構成される。下枠21は、支柱22が設けられる一対の側面間の長さが、測定対象100の幅方向の長さよりも長く構成される。
支柱22は、方形の板状又は棒状に構成される。支柱22の一対の距離計12の対向する方向の長さは、一対の距離計12の間隙を測定対象100が通過可能であって、且つ、各距離計12と測定対象100が離間する長さに構成される。支柱22は、下端の側面に下枠21が固定され、上端の側面に上枠23が固定される。即ち、支柱22は、下枠21と上枠23とを連結している。
上枠23は、方形板状に構成される。上枠23は、例えば、下枠21と略同一形状に、下枠21と対向して構成される。上枠23は、その下面に補助部材13が固定される。
一対の距離計12は、互いに対向して配置される。一対の距離計12は、一方が下枠21の上面に、他方が補助部材13の下面に、それぞれ固定される。対向する一対の距離計12の間隙は、測定対象100を通過可能な長さに構成される。一対の距離計12は、通過する測定対象100までの距離をそれぞれ測定可能に構成される。一対の距離計12は、測定した情報を、信号線99を介して制御部15に送信する。
補助部材13は、例えば方形板状又はブロック状に構成される。補助部材13は、相対する主面の一方が上枠23の下面に固定され、当該主面の他方に距離計12が固定される。換言すると、一対の距離計12の他方は、一対の距離計12の一方と対向し、且つ、所定の距離だけ離間して、自身と上枠23との間に補助部材13を介して上枠23に固定される。
補助部材13は、支柱22の線形膨張係数と異なる線形膨張係数を有する材料、具体的には、支柱22の線形膨張係数よりも高い線形膨張係数を有する材料で構成される。また、補助部材13の一対の距離計12の対向する方向の長さは、熱により一対の距離計12の対向する方向に膨張する支柱22の膨張量と同じ膨張量となる長さを有する。ここで、一対の距離計12の対向する方向は、上下方向、即ち高さ方向である。
以下、支柱22及び補助部材13の材料及び長さについて具体的に説明する。図1に示すように、支柱22の上下方向の長さをL1とし、補助部材13の上下方向の長さをL2とする。支柱22の材料を線形膨張係数がM1の第1材料とし、補助部材13の材料を線形膨張係数M1よりも大きい線形膨張係数M2(M1<M2)の第2材料とする。このとき、補助部材13の長さL2は、L2=L1/(M2/M1)に構成される。
例えば、支柱22の材料を鉄材料とし、補助部材13をアルミニウム材料とした場合には、アルミニウム材料の線形膨張係数は鉄材料の線形膨張係数の約2倍であることから、補助部材13の上下方向の長さL2は、L2=L1/2に構成される。このような構成とすることで、支柱22及び補助部材13の熱による膨張量が略同一となる。
校正装置14は、一対の距離計12間の距離、換言すると、一対の距離計12の間隙の長さを測定可能に構成される。校正装置14は、測定した情報を、信号線99を介して制御部15に送信する。
制御部15は、校正装置14で測定された一対の距離計12間の距離及び一対の距離計12でそれぞれ測定された測定対象100までの距離の差から、測定対象100の厚さを導出可能に構成される。
次に、このように構成された測定装置1を用いた測定対象100の測定について説明する。
先ず、例えば熱処理により加熱された測定対象100を測定装置1により測定する場合において、測定対象100をコンベア等の搬送装置によって一対の距離計12間を通過させる。なお、測定対象100を通過させる位置は、各距離計12と測定対象100とが離間していれば、限定されない。
測定対象100が基部11を通過するとき、測定対象100の熱により、基部11及び補助部材13が加熱され、支柱22及び補助部材13が上下方向に膨張する。基部11は、下枠21及び支柱22が設置面200に固定されることから、支柱22は上方向に膨張する。また、補助部材13が固定された上枠23は支柱22に固定されていることから、補助部材13は上枠23に関して下方向に膨張する。
また、支柱22及び補助部材13は、異なる線形膨張係数を有するが、それぞれの長さが同じ膨張量となるL1、L2に設定されていることから、支柱22及び補助部材13は同じ膨張量でそれぞれ上下方向に膨張する。結果、補助部材13の膨張により、補助部材13に固定された距離計12が支柱22の膨張量と同一量だけ下方に移動し、一対の距離計12の間隙は、一定に保たれる。
一対の距離計12は、通過した測定対象100までの距離をそれぞれ測定し、測定した情報を制御部15に送信する。制御部15は、校正装置14で検出した一対の距離計12の間の距離と、受信した各距離計12から測定対象100までの距離の和との差から、測定対象100の厚さを導出する。なお、例えば、校正装置14は、測定対象100の測定前に、予め一対の距離計12の間の距離を測定し、制御部15に情報を送信する。これらの測定を、測定対象100の送り方向の一部又は全箇所で行い、測定対象100の厚さを測定する。
このように構成された第1の実施形態に係る測定装置1によれば、一対の距離計12の対向する方向において、支柱22及び補助部材13の熱による膨張量を同じとすることで、支柱22の膨張を距離計12が固定された補助部材13の膨張により相殺し、一対の距離計12の間隙を一定とすることができる。これらのことにより、測定装置1は、一対の距離計12により、測定対象100を、高い精度で測定することが可能となる。
上述したように、第1の実施形態に係る測定装置1によれば、熱により支柱22の長さが変動しても、高い精度で測定対象100の厚さを測定できる。
(第2の実施形態)
次に、第2の実施形態に係る測定装置1Aについて、図2を用いて説明する。
図2は、第2の実施形態に係る測定装置1Aの構成を示す説明図である。なお、第2の実施形態に係る測定装置1Aにおいて、上述した第1の実施形態に係る測定装置1と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
測定装置1Aは、測定対象100を通過させる枠状の基部11Aと、基部11Aに設けられ、互いに対向して配置される一対の距離計12と、校正装置14と、制御部15と、を備えている。
基部11Aは、下枠21と、下枠21の一の側面又は一対の側面に設けられた一又は一対の支柱22と、支柱22に設けられた補助部材13Aと、補助部材13Aに設けられた上枠23と、を備えている。基部11Aは、正面視で方形枠状、又は、C字状に構成される。本実施形態においては、基部11Aは、一対の支柱22を有する方形枠状の構成を用いて以下説明する。
補助部材13Aは、例えば板状に構成される。補助部材13Aは、上端が支柱22の上端と固定され、下端が上枠23と固定される。なお、補助部材13Aは、例えば、上端面が支柱22の上端面と、固定部31により固定され、上枠23と対向する主面の下端が上枠23の側面と固定される。固定部31は、例えば、板材及びボルト等による機械的に固定できる部材や、溶接部等の機械的に固定できる部材である。
補助部材13Aは、支柱22の線形膨張係数と異なる線形膨張係数を有する材料、具体的には、支柱22の線形膨張係数よりも高い線形膨張係数を有する材料で構成される。また、補助部材13Aの一対の距離計12の対向する方向の長さは、熱により一対の距離計12の対向する方向に膨張する支柱22の膨張量と同じ膨張量となる長さを有する。ここで、一対の距離計12の対向する方向は、上下方向、即ち高さ方向である。
以下、支柱22及び補助部材13Aの材料及び長さについて具体的に説明する。図2に示すように、支柱22の上下方向の長さをL1とし、補助部材13Aの上下方向の長さをL2とする。支柱22の材料を線形膨張係数がM1の第1材料とし、補助部材13の材料を線形膨張係数M1よりも大きい線形膨張係数M2(M1<M2)の第2材料とする。このとき、補助部材13の長さL2は、L2=L1/(M2/M1)に構成される。
例えば、支柱22の材料を鉄材料とし、補助部材13をアルミニウム材料とした場合には、アルミニウム材料の線形膨張係数は鉄材料の線形膨張係数の約2倍であることから、補助部材13Aの上下方向の長さL2は、L2=L1/2に構成される。このような構成とすることで、支柱22及び補助部材13Aの熱による膨張量が略同一となる。
上枠23は、方形板状に構成される。上枠23は、例えば、補助部材13Aの厚さだけ、下枠21よりも小さく構成される。
一対の距離計12は、互いに対向して配置される。一対の距離計12は、一方が下枠21の上面に、他方が上枠23に、それぞれ固定される。
このように構成された測定装置1Aは、上述した測定装置1と同様に、一対の距離計12の間の間隙を一定に保つことが可能となる。具体的には、測定対象100の熱により、基部11Aが加熱され、支柱22及び補助部材13Aが上下方向に膨張すると、基部11Aは、下枠21及び支柱22が設置面200に固定されることから、支柱22は上方向に膨張する。また、補助部材13Aは、支柱22に固定されることから、固定部31から下方向に膨張する。
また、支柱22及び補助部材13Aは、異なる線形膨張係数を有するが、それぞれの長さが同じ膨張量となるL1、L2に設定されていることから、支柱22及び補助部材13Aは同じ膨張量でそれぞれ上下方向に膨張する。結果、補助部材13Aの膨張により、補助部材13Aに固定された上枠23及び上枠23に固定された距離計12が支柱22の膨張量と同一量だけ下方に移動し、一対の距離計12の間隙は、一定に保たれる。
このように構成された第2の実施形態に係る測定装置1Aによれば、一対の距離計12の対向する方向において、支柱22及び補助部材13Aの熱による膨張量を同じとすることが可能となる。これにより、測定装置1Aは、支柱22の上方向の膨張を、距離計12が設けられた上枠23が固定された補助部材13Aの下方向の膨張により相殺し、一対の距離計12の間隙を一定とすることができる。これらのことにより、測定装置1Aは、一対の距離計12により、測定対象100を、高い精度で測定することが可能となる。
(第3の実施形態)
次に、第3の実施形態に係る測定装置1Bについて、図3を用いて説明する。
図3は、第3の実施形態に係る測定装置1Bの構成を示す説明図である。なお、第3の実施形態に係る測定装置1Bにおいて、上述した第1の実施形態に係る測定装置1及び第2の実施形態に係る測定装置1Aと同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
測定装置1Bは、測定対象100を通過させる枠状の基部11Bと、基部11Bに設けられ、互いに対向して配置される一対の距離計12と、校正装置14と、制御部15と、を備えている。
基部11Bは、下枠21と、下枠21の一の側面又は一対の側面に設けられた一又は一対の支柱22Bと、補助部材13Bに設けられた上枠23と、を備えている。基部11Bは、正面視で方形枠状、又は、C字状に構成される。本実施形態においては、基部11Bは、一対の支柱22Bを有する方形枠状の構成を用いて以下説明する。
支柱22Bは、下枠21に固定される第1支柱22aと、第1支柱22aに固定される補助部材13Bと、補助部材13Bに固定される第2支柱22bと、を備えている。支柱22Bの一対の距離計12の対向する方向の長さは、一対の距離計12の間隙を測定対象100が通過可能であって、且つ、各距離計12と測定対象100が離間する長さに構成される。
第1支柱22aは、方形の板状又は棒状に構成される。第1支柱22aは、下端の側面に下枠21の側面が固定され、上端に補助部材13Bが固定される。第1支柱22aは、例えば、設置面200に固定される。第2支柱22bは、方形の板状又は棒状に構成される。第2支柱22bは、上端の側面に上枠23の側面が固定され、下端に補助部材13Bが固定される。
補助部材13Bは、例えば板状に構成される。補助部材13Bは、上端が第1支柱22aの上端と固定され、下端が第2支柱22bの下端と固定される。なお、補助部材13Bは、例えば、上端面が第1支柱22aの上端面と、固定部31により固定され、下端面が第2支柱22bの下端面と、固定部31により固定される。
補助部材13Bは、第1支柱22a及び第2支柱22bの線形膨張係数と異なる線形膨張係数を有する材料、具体的には、第1支柱22a及び第2支柱22bの線形膨張係数よりも高い線形膨張係数を有する材料で構成される。また、補助部材13Bの一対の距離計12の対向する方向の長さは、熱により一対の距離計12の対向する方向に膨張する第1支柱22a及び第2支柱22bの膨張量と同じ膨張量となる長さを有する。ここで、一対の距離計12の対向する方向は、上下方向、即ち高さ方向である。
以下、第1支柱22a、第2支柱22b及び補助部材13Bの材料及び長さについて具体的に説明する。図3に示すように、第1支柱22aの上下方向の長さをL11とし、第2支柱22bの上下方向の長さをL21とし、補助部材13Bの上下方向の長さをL2とする。第1支柱22a及び第2支柱22bの材料を線形膨張係数がM1の第1材料とし、補助部材13Bの材料を線形膨張係数M1よりも大きい線形膨張係数M2(M1<M2)の第2材料とする。このとき、補助部材13Bの長さL2は、L2=(L11+L12)/(M2/M1)に構成される。
例えば、第1支柱22a及び第2支柱22bの材料を鉄材料とし、補助部材13Bをアルミニウム材料とした場合には、アルミニウム材料の線形膨張係数は鉄材料の線形膨張係数の約2倍であることから、補助部材13Bの上下方向の長さL2は、L2=(L11+L12)/2に構成される。例えば、L11及びL12を同一長さとすると、第1支柱22a、第2支柱22b及び補助部材13Bの上下方向の長さが略等しくなる。このような構成とすることで、第1支柱22a及び第2支柱22bの熱による膨張量の和と、補助部材13Bの熱による膨張量が略同一となる。
上枠23は、方形板状に構成される。上枠23は、例えば、下枠21と略同一形状に構成される。
一対の距離計12は、互いに対向して配置される。一対の距離計12は、一方が下枠21の上面に、他方が上枠23の下面に、それぞれ固定される。
このように構成された測定装置1Bは、上述した測定装置1、1Aと同様に、一対の距離計12の間の間隙を一定に保つことが可能となる。具体的には、測定対象100の熱により、基部11Bが加熱され、支柱22B上下方向に膨張すると、基部11Bは、下枠21及び第1支柱22aが設置面200に固定されることから、第1支柱22aは上方向に膨張する。補助部材13Bの上端は、第1支柱22aの上端に固定されることから、補助部材13Bは、第1支柱22aの上端から下方向に膨張する。また、第2支柱22bの下端は、補助部材13Bの下端に固定されていることから、第2支柱22bは、補助部材13Bの下端から上方向に膨張する。
また、第1支柱22a及び第2支柱22b、並びに、補助部材13Bは、異なる線形膨張係数を有するが、第1支柱22a及び第2支柱22bの長さの和、及び、補助部材13Bの長さが同じ膨張量となるL11、L12、L2に設定されている。このため、第1支柱22a及び第2支柱22b並びに補助部材13Aは同じ膨張量でそれぞれ上下方向に膨張する。結果、補助部材13Aの膨張により、補助部材13Aに固定された上枠23及び上枠23に固定された距離計12が、上方に膨張する第1支柱22a及び第2支柱22bの膨張量と同一量だけ下方に移動し、一対の距離計12の間隙は、一定に保たれる。
このように構成された第3の実施形態に係る測定装置1Bによれば、一対の距離計12の対向する方向において、第1支柱22a及び第2支柱22b並びに補助部材13Bの熱による膨張量を同じとすることが可能となる。これにより、測定装置1Bは、第1支柱22a及び第2支柱22bの上方向の膨張を、補助部材13Bの下方向の膨張により相殺し、一対の距離計12の間隙を一定とすることができる。これらのことにより、測定装置1Bは、一対の距離計12により、測定対象100を、高い精度で測定することが可能となる。
(第4の実施形態)
次に、第4の実施形態に係る測定装置1Cについて、図4を用いて説明する。
図1は、第1の実施形態に係る測定装置1の構成を示す説明図である。なお、第4の実施形態に係る測定装置1Cにおいて、上述した第1の実施形態に係る測定装置1と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
測定装置1Cは、測定対象100を通過させる枠状の基部11と、基部11に設けられ、互いに対向して配置される一対の距離計12と、基部11及び一方の距離計12の間に設けられた補助部材13Cと、一対の距離計12の間隙の距離を計測する校正装置14と、一対の距離計12及び校正装置14にそれぞれ信号線99を介して接続された制御部15と、を備えている。
下枠21は、その上面に補助部材13Cが固定される。
一対の距離計12は、互いに対向して配置される。一対の距離計12は、一方が補助部材13Cに、他方が上枠23の下面に、それぞれ固定される。
補助部材13Cは、例えば方形板状又はブロック状に構成される。補助部材13Cは、相対する主面の一方が下枠21の上面に固定され、当該主面の他方に距離計12が固定される。換言すると、一対の距離計12の一方は、一対の距離計12の他方と対向し、且つ、所定の距離だけ離間して、自身と下枠21との間に補助部材13Cを介して下枠21に固定される。
補助部材13Cは、支柱22の線形膨張係数と異なる線形膨張係数を有する材料、具体的には、支柱22の線形膨張係数よりも高い線形膨張係数を有する材料で構成される。また、補助部材13Cの一対の距離計12の対向する方向の長さは、熱により一対の距離計12の対向する方向に膨張する支柱22の膨張量と同じ膨張量となる長さを有する。ここで、一対の距離計12の対向する方向は、上下方向、即ち高さ方向である。
以下、支柱22及び補助部材13Cの材料及び長さについて具体的に説明する。図4に示すように、支柱22の上下方向の長さをL1とし、補助部材13Cの上下方向の長さをL2とする。支柱22の材料を線形膨張係数がM1の第1材料とし、補助部材13Cの材料を線形膨張係数M1よりも大きい線形膨張係数M2(M1<M2)の第2材料とする。このとき、補助部材13Cの長さL2は、L2=L1/(M2/M1)に構成される。
例えば、支柱22の材料を鉄材料とし、補助部材13Cをゴム材料とした場合には、ゴム材料の線形膨張係数は鉄材料の線形膨張係数の約10倍であることから、補助部材13Cの上下方向の長さL2は、L2=L1/10に構成される。このような構成とすることで、支柱22及び補助部材13Cの熱による膨張量が略同一となる。
このように構成された測定装置1Cによれば、上述した測定装置1と同様の効果を奏する。即ち、一対の距離計12の対向する方向において、支柱22及び補助部材13Cの熱による膨張量を同じとすることで、支柱22が上方へ膨張しても、補助部材13Cが上方へ同じ膨張量で膨張する。
このため、距離計12が設けられた上枠23が上方へ移動しても、対となる距離計12も、補助部材13Cによって上方へ移動する。このように、支柱22の上方向の膨張を、補助部材13Cの上方向の膨張により相殺し、一対の距離計12の間隙を一定とすることができる。また、測定装置1Cは、補助部材13Cにゴム部材を用いることで、補助部材13Cの厚さを薄くすることが可能となり、結果、測定装置1Cを小型とすることが可能となる。これらのことにより、測定装置1は、一対の距離計12により、測定対象100を、高い精度で測定することが可能となる。
(第5の実施形態)
次に、第5の実施形態に係る測定装置1Dについて、図5を用いて説明する。
図5は、第5の実施形態に係る測定装置1Dの構成を示す説明図である。なお、第5の実施形態に係る測定装置1Dにおいて、上述した第1の実施形態に係る測定装置1と同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
測定装置1Dは、測定対象100を通過させる枠状の基部11Dと、基部11Dに設けられ、互いに対向して配置される一対の距離計12と、一対の距離計12の間隙の距離を計測する校正装置14と、一対の距離計12及び校正装置14にそれぞれ信号線99を介して接続された制御部15と、を備えている。また、測定装置1Dは、上述した測定装置1と異なる構成として、補助部材13を有さない。
基部11Dは、下枠21と、下枠21の一対の側面に設けられた一対の支柱22と、支柱22に設けられた上枠23と、を備えている。基部11Dは、正面視で方形枠状に構成される。また、基部11Dは、少なくとも下枠21及び上枠23が同じ線形膨張係数を有する材料で、同じ形状に構成される。
基部11Dは、設置面200に配置される。基部11Dは、一方の支柱22の下面が設置面200に固定され、下枠21及び他方の支柱22が設置面200に支持される。具体的には、基部11Dは、下枠21及び他方の支柱22が、設置面200に固定されず、設置面200に対して、設置面200の面方向に移動可能に構成される。
例えば、基部11Dは、板部材及びボルト等の固定部32により一方の支柱22が固定される。また、例えば、基部11Dは、下枠21及び他方の支柱22がレールやキャスター等により、設置面200に対して移動可能に構成される。設置面200は、例えば、測定装置1が設置される工場等の床面等である。
一対の距離計12は、互いに対向して配置される。一対の距離計12は、一方が下枠21の上面に、他方が上枠23の下面に、それぞれ固定される。対向する一対の距離計12の間隙は、測定対象100を通過可能な長さに構成される。
次に、このように構成された測定装置1を用いた測定対象100の測定について説明する。
先ず、例えば熱処理により加熱された測定対象100を測定装置1により測定する場合において、測定対象100をコンベア等の搬送装置によって一対の距離計12間を通過させる。
このとき、測定対象100の熱により、基部11Dが加熱され、下枠21及び上枠23が下枠21及び上枠23の距離計12が固定される主面の面方向、換言すると、距離計12の対向する方向に直交する方向、さらに換言すれば横方向に膨張する。
基部11Dは、一方の支柱22が設置面200に固定され、下枠21及び他方の支柱22が設置面200に移動可能に支持されることから、下枠21及び上枠23は、図5に二点鎖線で示すように、横方向に膨張する。結果、他方の支柱22は、横方向の一方、即ち、一方の支柱22から離間する方向に膨張し、下枠21及び上枠23は、板状を維持する。
具体的に説明すると、仮に、一対の支柱22が設置面200に固定されているとすると、熱により膨張した下枠21及び上枠23は、一対の側面が一対の支柱22に固定されていることから、膨張した分だけ上下方向に歪む。この歪みによって、一対の距離計12の間の距離が大きくなるか、又は、小さくなる。
これに対し、本実施形態の基部11Dは、一方の支柱22を設置面200に固定部32を介して固定し、他方の支柱22及び下枠21を設置面200に固定しない構成である。これにより、下枠21及び上枠23が歪むことを防止し、また、下枠21及び上枠23は同じ線形膨張係数及び同一形状とすることで、同じ膨張量となることから、一対の距離計12は、横方向に同量だけ移動する。このため、通過する測定対象100の熱による歪みが防止され、且つ、距離計12は互いに対向した状態が維持される。
次に、一対の距離計12は、通過した測定対象100までの距離をそれぞれ測定し、測定した情報を制御部15に送信する。制御部15は、校正装置14で検出した一対の距離計12の間の距離と、受信した各距離計12から測定対象100までの距離の和との差から、測定対象100の厚さを導出する。なお、例えば、校正装置14は、測定対象100の測定前に、予め一対の距離計12の間の距離を測定し、制御部15に情報を送信する。これらの測定を、測定対象100の送り方向の一部又は全てに渡って行い、測定対象100の厚さを測定する。
このように構成された第5の実施形態に係る測定装置1Dによれば、一方の支柱22のみを設置面200に固定し、下枠21及び他方の支柱22を設置面200上に移動可能に支持される構成とすることで、熱による下枠21及び上枠23の歪みが発生することを防止できる。結果、熱により生じる歪みによって一対の距離計12の間隙が変化することを防止できる。これらのことにより、測定装置1Dは、一対の距離計12により、測定対象100を、高い精度で測定することが可能となる。
(第6の実施形態)
次に、第6の実施形態に係る測定装置1Eについて、図6を用いて説明する。
図6は、第6の実施形態に係る測定装置1Eの構成を示す説明図である。なお、第6の実施形態に係る測定装置1Eにおいて、上述した第1の実施形態に係る測定装置1及び第5の実施形態に係る測定装置1Dと同様の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
測定装置1Eは、測定対象100を通過させる枠状の基部11Dと、基部11Dに設けられ、互いに対向して配置される一対の距離計12と、基部11D及び一方の距離計12の間に設けられた補助部材13と、一対の距離計12の間隙の距離を計測する校正装置14と、一対の距離計12及び校正装置14にそれぞれ信号線99を介して接続された制御部15と、を備えている。
一対の距離計12は、互いに対向して配置される。一対の距離計12は、一方が下枠21の上面に、他方が補助部材13に、それぞれ固定される。対向する一対の距離計12の間隙は、測定対象100を通過可能な長さに構成される。
ここで、下枠21及び上枠23は、同じ線形膨張係数を有する材料により構成され、補助部材13は、支柱22の線形膨張係数よりも高い線形膨張係数を有する材料で構成される。
また、下枠21及び上枠23は、同じ形状に構成されるとともに、熱により一対の距離計12の対向する方向に膨張する膨張量が同じ膨張量となる長さを有する。
このように構成された第6の実施形態に係る測定装置1Eによれば、上述した第1の実施形態と同様に、支柱22の膨張を距離計12が固定された補助部材13の膨張により相殺することができるとともに、上述した第5の実施形態と同様に、熱による下枠21及び上枠23の歪みが発生することを防止できる。結果、測定装置1Eによれば、一対の距離計12の間隙が変化することを防止できる。これらのことにより、測定装置1Eは、一対の距離計12により、測定対象100を、高い精度で測定することが可能となる。
なお、測定装置は、上記各実施形態に記載された例に限定されない。
上述した例では、測定装置1Aは、下枠21と、下枠21の一の側面又は一対の側面に設けられた一又は一対の支柱22と、支柱22に設けられた補助部材13Aと、補助部材13Aに設けられた上枠23と、を備える構成を説明したがこれに限定されない。例えば、測定装置1Aは、上述した測定装置1D、1Eと同様に、一対の支柱22の一方を固定部32により設置面200に固定し、一対の支柱22の他方を、設置面200に対して移動可能とする構成であってもよい。このような構成とすることで、測定装置1Aは、上述した測定装置1Eと同様の効果を奏する。
同様に、測定装置1B、1Cは、一方の支柱22、22Bを固定部32により設置面200に固定し、下枠21及び他方の支柱22、22Bを、設置面200に対して移動可能に、設置面200上に支持する構成としてもよい。
また、上述した例では、各測定装置1乃至1Eは、それぞれ補助部材13、13A、13B、13Cのいずれかを有する構成を説明したがこれに限定されない。各測定装置1乃至1Eは、適宜組み合わせて用いることが可能である。即ち、測定装置は、複合的に各補助部材13、13A、13B、13Cを有する測定装置としてもよい。
また、上述した例では、各測定装置1乃至1Eは、支柱22及び補助部材13、13A、13B、13Cを例示的に金属材料又はゴム材料を用いる構成で説明したがこれに限定されない。支柱22及び補助部材13、13A、13B、13Cの材料は、熱による膨張量を相殺可能であれば、材料は適宜設定可能である。
また、上述した例では、測定装置1Bは、第1支柱22a及び第2支柱22bの材料を同一の線形膨張係数を有する第1材料とする構成を説明したがこれに限定されない。即ち、補助部材13Bの膨張量により第1支柱22a及び第2支柱22bの膨張量を相殺できる構成であれば、第1支柱22a及び第2支柱22bを異なる線形膨張係数とする構成であってもよい。
例えば、第1支柱22aを線膨張係数がM1の第1材料とし、第2支柱22bの材料を線形膨張係数がM3の第3材料とし、補助部材13Bの材料を線形膨張係数M1、M3よりも大きい線形膨張係数M2(M1<M2、M3<M2)の第2材料とする。このとき、補助部材13Bの長さL2を、L2=(L11・M1+L12・M3)/M2に構成すれば、第1支柱22a及び第2支柱22bのそれぞれの膨張量の和を補助部材13Bの膨張量で相殺できる。
以上述べた少なくともひとつの実施形態の測定装置によれば、熱により支柱の長さが変動しても、支柱の膨張量を補助部材の膨張量により相殺することで、対向して配置された一対の距離計の対向する距離を一定に保ち、高い精度で対象物の厚さを測定できる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
以下に、本願出願の当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1] 下枠、前記下枠と対向して設けられる上枠、並びに、前記下枠及び前記上枠を連結する支柱を有する基部と、
前記下枠及び前記上枠にそれぞれ設けられ、測定対象を通過可能な間隙を有して互いに対向して配置された一対の距離計と、
前記基部に設けられ、前記支柱と異なる線形膨張係数を有する材料で構成され、熱により前記一対の距離計の対向する方向に膨張する前記支柱の膨張量と同じ膨張量となる前記一対の距離計の対向する方向の長さを有する補助部材と、
を備える測定装置。
[2] 前記補助部材は、前記上枠及び前記上枠に設けられる前記距離計の間に固定されることを備える[1]に記載の測定装置。
[3] 前記補助部材は、上端が前記支柱の上端に固定され、下端が前記上枠に固定される[1]に記載の測定装置。
[4] 前記支柱は、前記下枠に下端が固定される第1支柱と、前記上枠に上端が固定される第2支柱とを有し、
前記補助部材は、前記第1支柱の側面及び前記第2支柱の側面の間に配置され、上端が前記第1支柱の上端に固定され、下端が前記第2支柱の下端に固定される[1]に記載の測定装置。
[5] 前記支柱は鉄材料で構成され、
前記補助部材は、ゴム材料で構成され、前記下枠及び前記下枠に設けられる前記距離計に固定される[1]に記載の測定装置。
[6] 前記基部は、前記支柱を一対有し、
前記支柱は、前記下枠の対向する側面にそれぞれが対向して配置され、前記支柱の一方は、前記基部を設置する設置面に固定され、前記支柱の他方は、前記設置面に対して移動可能に前記設置面上に支持される[1]に記載の測定装置。
[7] 下枠、前記下枠と対向して設けられる上枠、並びに、前記下枠の対向する側面及び前記上枠の対向する側面に両端がそれぞれ配置される一対の支柱を有し、前記一対の支柱の一方が設置面に固定され、前記一対の支柱の他方が前記設置面に対して移動可能に前記設置面上に支持される基部と、
前記下枠及び前記上枠にそれぞれ設けられ、測定対象を通過可能な間隙を有して互いに対向して配置された一対の距離計と、
を備える測定装置。

Claims (1)

  1. 下枠、前記下枠と対向して設けられる上枠、並びに、前記下枠及び前記上枠を連結する支柱を有する基部と、
    前記下枠及び前記上枠にそれぞれ設けられ、測定対象を通過可能な間隙を有して互いに対向して配置された一対の距離計と、
    前記基部に設けられ、前記支柱と異なる線形膨張係数を有する材料で構成され、熱により前記一対の距離計の対向する方向に膨張する前記支柱の膨張量と同じ膨張量となる前記一対の距離計の対向する方向の長さを有する補助部材と、
    を備え
    前記支柱は、前記下枠に下端が固定される第1支柱と、前記上枠に上端が固定される第2支柱とを有し、
    前記補助部材は、前記第1支柱の側面及び前記第2支柱の側面の間に配置され、上端が前記第1支柱の上端に固定され、下端が前記第2支柱の下端に固定される測定装置。
JP2018502453A 2016-03-03 2016-03-03 測定装置 Active JP6530130B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2016/056605 WO2017149727A1 (ja) 2016-03-03 2016-03-03 測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2017149727A1 JPWO2017149727A1 (ja) 2018-09-13
JP6530130B2 true JP6530130B2 (ja) 2019-06-12

Family

ID=59742655

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018502453A Active JP6530130B2 (ja) 2016-03-03 2016-03-03 測定装置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6530130B2 (ja)
KR (1) KR102054187B1 (ja)
CN (1) CN108351205B (ja)
WO (1) WO2017149727A1 (ja)

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56112604A (en) * 1980-02-12 1981-09-05 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Linear-scale type measuring apparatus
JPS5964511U (ja) * 1982-10-21 1984-04-28 日本電気株式会社 直線型スケ−ル
JPH01313705A (ja) * 1988-06-14 1989-12-19 Mitsubishi Electric Corp 厚み測定装置
JPH03252516A (ja) * 1990-03-02 1991-11-11 Mitsubishi Electric Corp 厚み測定装置
JPH1038551A (ja) * 1996-07-19 1998-02-13 Daido Steel Co Ltd 寸法測定方法および寸法測定装置
JP2002304785A (ja) * 2001-04-09 2002-10-18 Canon Inc 走査型プローブによる情報検出装置、及び該情報検出装置によって構成した表面観察装置
JP2004174010A (ja) 2002-11-28 2004-06-24 Sankosha:Kk トンネルフィニッシャー
JP2009180525A (ja) * 2008-01-29 2009-08-13 Mitsutoyo Corp 測定装置
DE102009044917A1 (de) * 2009-09-23 2011-04-07 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Längenmesseinrichtung
DE102011107771B4 (de) * 2011-04-15 2013-10-17 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zur Dickenmessung eines Messobjekts
JP2014048057A (ja) * 2012-08-29 2014-03-17 Aisin Seiki Co Ltd 板厚測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN108351205A (zh) 2018-07-31
CN108351205B (zh) 2020-12-01
KR102054187B1 (ko) 2019-12-10
WO2017149727A1 (ja) 2017-09-08
KR20180056703A (ko) 2018-05-29
JPWO2017149727A1 (ja) 2018-09-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Acikgoz et al. Sensing dynamic displacements in masonry rail bridges using 2D digital image correlation
US9335145B2 (en) Apparatus and method for measuring the thickness of a measurement object
EA201900207A1 (ru) Транспортное средство для измерения рельсового пути и способ регистрации геометрии рельсового пути
KR20140064999A (ko) 두께 계측 시스템 및 두께 계측 방법
JP2013545972A5 (ja)
JP6530130B2 (ja) 測定装置
EA201900307A1 (ru) Транспортное средство для измерения рельсового пути и способ измерения вертикального положения рельсового пути
KR102387317B1 (ko) 포지셔닝 유닛
Oh et al. Experimental analysis of curling behavior of continuously reinforced concrete pavement
TWI620914B (zh) Measuring device
Kume et al. Large-scale accelerator alignment using an inclinometer
KR101822830B1 (ko) 좌표 측정기용 베드
JP2014123778A5 (ja)
JP6401050B2 (ja) レール摩耗測定器
US20180266817A1 (en) Profile measuring machine
CN106444294B (zh) 一种掩膜版固定系统
RU2015156066A (ru) Способ и система для мониторинга изменений массы теплообменников парового котла
JP2016145823A5 (ja)
JP2021167804A (ja) 位置測定用の装置
CN104374292A (zh) 一种平尺下挠的校正方法
KR102311906B1 (ko) 리소그래피 장치 및 디바이스 제조 방법
KR101306464B1 (ko) 가진기 베어링의 높이 정렬장치
JP2009241194A (ja) ステージ装置
KR101250211B1 (ko) 구조물의 휨 측정 장치 및 이의 제어방법
JP2013181973A (ja) 開水路型水平変位計

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180530

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180530

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190416

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190515

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6530130

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150