JP6523201B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
撮像装置は、撮像素子と、撮像レンズと、撮像レンズの前面を横切る第1の気流を形成する第1の吹き出し口と、基板のはんだ付け面に向かう第2の気流を形成する第2の吹き出し口と、第1及び第2の吹き出し口に対して共通の吸い込み口を有する検査装置である。
<1.この発明を適用できるフローはんだ付け装置>
<2.一実施の形態>
<3.変形例>
なお、以下に説明する一実施の形態は、この発明の好適な具体例であり、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、この発明の範囲は、以下の説明において、特にこの発明を限定する旨の記載がない限り、これらの実施の形態に限定されないものとする。
図1は、この発明を適用できるフローはんだ付け装置のシステム全体の構成を示す。ワークWは、フラックス塗布装置(以下、フラクサと適宜称する)1に搬入される。図示しない部品挿入工程において、例えばチップ部品等が面実装されている基板上のスルーホールに対して挿入部品のリードが挿入される。この挿入部品が取り付けられた基板がワークWである。但し、ワークWは、プリント配線基板以外に、シリコンウェハー等も含む用語である。フラクサ1は、例えば必要な箇所にのみフラックスを塗布するスプレーフラクサである。
図4及び図5は、ワークWの具体例を示す。図4Aに示すワークWのA−A線断面図を図4Bに示す。このワークWの例では、線L1で囲んで示す部分が表面実装部品の実装領域であり、線L2で囲んで示す部分が挿入部品の実装領域である。例えばリフロー装置によって表面実装部品がはんだ付けされてから部品挿入工程で、挿入部品が基板24に取り付けられる。そして、フローはんだ付けによって、挿入部品のリードのはんだ付けがなされる。
図8のフローチャートは、この発明の一実施の形態の修正処理(修正工程)の流れの一例を示している。各ステップにおいて、下記の処理がなされる。
ステップST1:外観検査装置4に対して実装済みワークが投入される。
ステップST2:外観検査装置4による外観検査がなされる。
ステップST3:はんだ付けの不良の有無が調べられる。
ステップST4:ステップST3において、はんだ付けの不良が無いと判定されると、次工程に処理が移る。
ステップST6:不良位置情報を使用して修正装置5が不良箇所を修正する。
ステップST7:外観検査装置6によって最終的な不良の有無が判定される。不良が無いと判定されると、次工程に移る(ステップST4)。若し、不良かあると判定されると、当該ワークが外観検査装置4に再度投入され、上述した処理が繰り返される。
さらに、図8の処理と図9の処理とを組み合わせて、2回以上、修正しても不良が残るワークを廃棄するようにしても良い。
「撮像装置及びその周辺の構成」
この発明は、上述したフローはんだ付けシステムにおける外観検査装置に対して適用されるものである。図10は、一実施の形態の撮像装置の平面図、正面図及び一部断面図であり、図11は、撮像装置の斜視図であり、図12は、外観検査時の構成を示す正面図である。
図14を参照してこの発明の一実施の形態による検査装置の接続構成を説明する。撮像装置32により得られた撮像信号は、システム全体を制御するパーソナルコンピュータ51に対してアナログ方式又はデジタル方式のインターフェースを介して供給される。パーソナルコンピュータ51がxyステージ52を制御して撮像装置32のワークWに対する位置を制御する。例えばワークWを複数の領域に分割して領域毎にはんだ付けの良否が検査される。検査は、パーソナルコンピュータ51による画像処理によってなされる。得られた不良箇所の情報が次段の修正装置に対して有線又は無線で伝送される。
図15のフローチャートを参照してパーソナルコンピュータ51の制御によってなされる一実施の形態の動作について説明する。図示しないが、電源ON等の初期状態において、エア制御部53によって、レンズ前面及びワークのはんだ付け面に対して空気が吹きつけられ、エア吸い込み口43から空気が吸い込まれる。
ステップST11:ワークWが検査位置に搬入され、ワーク搬送部54によって検査位置に移動され、さらに、ワークWが固定される。
ステップST12:撮像装置32(図15ではカメラと表記する)が検査位置にxyステージによって移動される。
ステップST14:撮像した画像がパーソナルコンピュータ51へ転送される。
ステップST15:パーソナルコンピュータ51内のソフトウェア処理によって画像が分析され、はんだ付けの良否が検査される。
ステップST16:ステップST15で得られた情報が後段の修正装置へデータ転送される。
ステップST17:ワークWが搬出される。次の検査対象のワークがある場合には、ステップST11に制御が戻る。
以上、この発明の実施の形態について具体的に説明したが、上述の各実施の形態に限定されるものではなく、この発明の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。また、上述の実施の形態において挙げた構成、方法、工程、形状、材料及び数値などはあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる構成、方法、工程、形状、材料及び数値などを用いてもよい。また、上述の実施の形態の構成、方法、工程、形状、材料及び数値などは、この発明の主旨を逸脱しない限り、互いに組み合わせることが可能である。例えば撮像装置をxyステージによって移動させているが、ワークをxy方向に移動させてもよい。また、撮像装置をx及びy方向の一方の方向に移動させ、ワークをx及びy方向の他方の方向に移動させてもよい。さらに、撮像装置に照明装置又はフラッシュ装置を設けて撮像時の照度を確保するようにしてもよい。さらに、この発明は、フローはんだ付け装置の内部のモニタに撮像装置を使用する場合に対して適用するようにしてもよい。
3・・・はんだ付け装置
4,6・・・外観検査装置
5・・・修正装置
25,25a,25b,25c・・・挿入部品
32・・・撮像装置
34・・・レンズ
36a,36b,38a,38b・・・ガイドレール
41,42・・・エア吹き出し口
43・・・エア吸い込み口
51・・・パーソナルコンピュータ
Claims (3)
- 部品がはんだ付けされたワークのはんだ付け面を、撮像装置が撮像し、前記撮像装置の撮像信号からはんだ付け不良を検査し、前記はんだ付け不良の箇所を記憶する検査装置であって、
前記撮像装置は、撮像素子と、撮像レンズと、前記撮像レンズの前面を横切る第1の気流を形成する第1の吹き出し口と、基板のはんだ付け面に向かう第2の気流を形成する第2の吹き出し口と、前記第1及び第2の吹き出し口に対して共通の吸い込み口を有する検査装置。 - 前記ワークは、フローはんだ付けによって前記基板に部品がはんだ付けされたものである請求項1に記載の検査装置。
- 前記レンズ前面を横切る第1の気流に比して前記基板のはんだ付け面に向かう第2の気流の温度をより高く設定する請求項1または2に記載の検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016072758A JP6523201B2 (ja) | 2016-03-31 | 2016-03-31 | 検査装置 |
PCT/JP2017/013397 WO2017170931A1 (ja) | 2016-03-31 | 2017-03-30 | 撮像装置及び検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016072758A JP6523201B2 (ja) | 2016-03-31 | 2016-03-31 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017181447A JP2017181447A (ja) | 2017-10-05 |
JP6523201B2 true JP6523201B2 (ja) | 2019-05-29 |
Family
ID=59964753
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016072758A Active JP6523201B2 (ja) | 2016-03-31 | 2016-03-31 | 検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6523201B2 (ja) |
WO (1) | WO2017170931A1 (ja) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61193768A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-28 | Hitachi Ltd | 形状認識装置 |
JP2586709Y2 (ja) * | 1991-10-07 | 1998-12-09 | 三洋電機株式会社 | 電子部品の位置検出装置 |
JP3307777B2 (ja) * | 1994-07-07 | 2002-07-24 | 栄修 永田 | ハンダ付け方法および装置 |
JPH08166218A (ja) * | 1994-12-14 | 1996-06-25 | Omron Corp | 基板検査方法およびその装置 |
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US7138640B1 (en) * | 2002-10-17 | 2006-11-21 | Kla-Tencor Technologies, Corporation | Method and apparatus for protecting surfaces of optical components |
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-
2016
- 2016-03-31 JP JP2016072758A patent/JP6523201B2/ja active Active
-
2017
- 2017-03-30 WO PCT/JP2017/013397 patent/WO2017170931A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2017170931A1 (ja) | 2017-10-05 |
JP2017181447A (ja) | 2017-10-05 |
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|
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