JP6519292B2 - メモリ制御装置、半導体記憶装置およびメモリ制御方法 - Google Patents
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Description
(付記1)
メモリのウェアレベリング制御を行うメモリ制御装置であって、
前記メモリをアクセスする論理アドレスを、物理アドレスに変換するアドレス変換器と、
前記物理アドレスの複数のビットをそれぞれアップダウンカウントするカウンタ群と、
前記カウンタ群の出力に基づいて、アドレス変換を変更するか否かを判定するアドレス変換変更判定部と、を有する、
ことを特徴とするメモリ制御装置。
さらに、
前記アドレス変換変更判定部からの出力に基づいて、前記メモリの内容をスワップするスワッパを有する、
ことを特徴とする付記1に記載のメモリ制御装置。
前記カウンタ群は、
前記物理アドレスの複数のビットに対応した複数のカウンタを含み、
それぞれの前記カウンタは、対応する前記ビットが第1の値ならばカウントダウンし、第2の値ならばカウントアップする、
ことを特徴とする付記1または付記2に記載のメモリ制御装置。
前記アドレス変換変更判定部は、
前記複数のカウンタによる複数のカウント値に基づいて、前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更するか否かを判定する、
ことを特徴とする付記3に記載のメモリ制御装置。
前記複数のカウント値は、
それぞれ符号付きの整数とされ、
前記アドレス変換変更判定部は、
前記複数のカウント値のうち少なくとも1つのカウント値の絶対値が閾値を超えたとき、前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更する、
ことを特徴とする付記4に記載のメモリ制御装置。
前記アドレス変換器は、
前記論理アドレスとアドレス変換マスクの排他的論理和演算の結果を前記物理アドレスとし、
前記アドレス変換マスクを変更することにより、前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更する、
ことを特徴とする付記1乃至付記5のいずれか1項に記載のメモリ制御装置。
前記アドレス変換器は、
前記複数のカウント値のうち少なくとも1つのカウント値の絶対値が閾値を超えて前記アドレス変換変更判定部がアドレス変換を変更すると判定したとき、前記閾値を超えた少なくとも1つのカウント値を出力するカウンタに対応した前記アドレス変換マスクのビットを反転して、前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更する、
ことを特徴とする付記6に記載のメモリ制御装置。
前記アドレス変換マスクのビットを反転するとき、反転前の物理アドレスと反転後の物理アドレスのデータをスワップする、
ことを特徴とする付記7に記載のメモリ制御装置。
付記1乃至付記8のいずれか1項に記載のメモリ制御装置と、
前記メモリ制御装置により、ウェアレベリング制御が行われる前記メモリと、を有する、
ことを特徴とする半導体記憶装置。
メモリをアクセスする論理アドレスを物理アドレスに変換し、
前記物理アドレスの複数のビットをそれぞれアップダウンカウントして複数のカウント値を算出し、
算出された前記複数のカウント値に基づいて、アドレス変換を変更するか否かを判定する、
ことを特徴とするメモリ制御方法。
アドレス変換を変更すると判定したとき、前記メモリの内容をスワップする、
ことを特徴とする付記10に記載のメモリ制御方法。
前記複数のカウント値を算出するのは、
前記物理アドレスの複数のビットに対して、それぞれの前記ビットが第1の値ならばカウントダウンし、第2の値ならばカウントアップして算出する、
ことを特徴とする付記10または付記11に記載のメモリ制御方法。
前記複数のカウント値は、
それぞれ符号付きの整数とされ、
前記アドレス変換を変更するか否かを判定するのは、
前記複数のカウント値のうち少なくとも1つのカウント値の絶対値が閾値を超えたとき、前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更する、
ことを特徴とする付記12に記載のメモリ制御方法。
前記論理アドレスを前記物理アドレスに変換するのは、
前記論理アドレスとアドレス変換マスクの排他的論理和演算の結果を前記物理アドレスとし、
前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更するのは、
前記アドレス変換マスクを変更することにより行う、
ことを特徴とする付記10乃至付記13のいずれか1項に記載のメモリ制御方法。
前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更するのは、
前記複数のカウント値のうち少なくとも1つのカウント値の絶対値が閾値を超えてアドレス変換を変更すると判定したとき、前記閾値を超えた少なくとも1つのカウント値を出力するカウンタに対応した前記アドレス変換マスクのビットを反転して行う、
ことを特徴とする付記14に記載のメモリ制御方法。
2 メモリ(不揮発性メモリ)
3 CPU
10 半導体記憶装置
11 カウンタ群
12 アドレス変換変更判定部
13 アドレス変換器
14 スワッパ
111〜11N カウンタ
130 アドレス変換マスク
131〜13N XORゲート
Claims (8)
- メモリのウェアレベリング制御を行うメモリ制御装置であって、
前記メモリをアクセスする論理アドレスを、物理アドレスに変換するアドレス変換器と、
前記物理アドレスの複数のビットに対応した複数のカウンタを含み、それぞれの前記カウンタは、対応する前記ビットが第1の値ならばカウントダウンし、第2の値ならばカウントアップする、カウンタ群と、
前記カウンタ群の出力に基づいて、前記アドレス変換器における前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更するか否かを判定するアドレス変換変更判定部と、を有する、
ことを特徴とするメモリ制御装置。 - さらに、
前記アドレス変換変更判定部からの出力に基づいて、前記メモリの内容をスワップするスワッパを有する、
ことを特徴とする請求項1に記載のメモリ制御装置。 - 前記アドレス変換変更判定部は、
前記複数のカウンタによる複数のカウント値に基づいて、前記アドレス変換器における前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更するか否かを判定する、
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のメモリ制御装置。 - 前記複数のカウント値は、
それぞれ符号付きの整数とされ、
前記アドレス変換変更判定部は、
前記複数のカウント値のうち少なくとも1つのカウント値の絶対値が閾値を超えたとき、前記アドレス変換器における前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更する、
ことを特徴とする請求項3に記載のメモリ制御装置。 - 前記アドレス変換器は、
前記論理アドレスとアドレス変換マスクの排他的論理和演算の結果を前記物理アドレスとし、
前記アドレス変換マスクを変更することにより、前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更する、
ことを特徴とする請求項3または請求項4に記載のメモリ制御装置。 - 前記アドレス変換器は、
前記複数のカウント値のうち少なくとも1つのカウント値の絶対値が閾値を超えて前記アドレス変換変更判定部がアドレス変換を変更すると判定したとき、前記閾値を超えた少なくとも1つのカウント値を出力するカウンタに対応した前記アドレス変換マスクのビットを反転して、前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更する、
ことを特徴とする請求項5に記載のメモリ制御装置。 - 請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載のメモリ制御装置と、
前記メモリ制御装置により、ウェアレベリング制御が行われる前記メモリと、を有する、
ことを特徴とする半導体記憶装置。 - メモリのウェアレベリング制御を行うメモリ制御装置が、
前記メモリをアクセスする論理アドレスを物理アドレスに変換し、
前記物理アドレスの複数のビットに対応した複数のカウンタが、それぞれ、対応する前記ビットが第1の値ならばカウントダウンし、第2の値ならばカウントアップして、複数のカウント値を算出し、
算出された前記複数のカウント値に基づいて、アドレス変換における前記論理アドレスと前記物理アドレスの対応関係を変更するか否かを判定する、処理を行う、
ことを特徴とするメモリ制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015085146A JP6519292B2 (ja) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | メモリ制御装置、半導体記憶装置およびメモリ制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015085146A JP6519292B2 (ja) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | メモリ制御装置、半導体記憶装置およびメモリ制御方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2016206789A JP2016206789A (ja) | 2016-12-08 |
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ID=57489795
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2015085146A Active JP6519292B2 (ja) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | メモリ制御装置、半導体記憶装置およびメモリ制御方法 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP6519292B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6650860B2 (ja) | 2016-10-21 | 2020-02-19 | 株式会社ミツトヨ | 測定器に外部機器を接続するための接続ユニットとこの接続ユニットを用いた測定器オプションシステム |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH022431A (ja) * | 1988-06-14 | 1990-01-08 | Nec Corp | マイクロプロセッサ |
JPH0573433A (ja) * | 1991-09-12 | 1993-03-26 | Hitachi Ltd | 記憶装置 |
JPH09293386A (ja) * | 1996-04-30 | 1997-11-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 記憶装置 |
JP2006065550A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Canon Inc | インクジェット記録装置の不揮発性メモリ書き込み制御方法 |
JP2008287803A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御装置、および半導体記憶装置のアドレス制御方法 |
US20140189284A1 (en) * | 2011-12-23 | 2014-07-03 | Nevin Hyuseinova | Sub-block based wear leveling |
JP6213040B2 (ja) * | 2013-08-19 | 2017-10-18 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置および半導体記憶装置の制御方法 |
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