JP6509146B2 - 検査装置および検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、検査装置および検査方法に関し、特に、メネジ部の表面を検査する検査装置および検査方法に関する。

従来より、対象物の左側斜め上方向と右側斜め上方向との２方向より当該対象物を照明し、対象物の光学像を検出し、その光学像を解析することによって対象物表面の凹凸形状を検出する装置が知られている（特許文献１）。

例えば、図２４に示すように、左右照明（Ａ、Ｂ）により撮像された画像では、左からの照明（Ａ）によりできた影の画像は、左側エッジが対象物の壁面に相当する。この逆で、右からの照明（Ｂ）による影の画像では右側エッジが壁面に相当する。

このことから、壁面の組み合わせを知ることにより、対象物の凹凸を推定することができる。さらに、照明角度と影の幅を計測することにより、壁の高さ（対象凹凸）を計測することも可能となる。

特公平７−３７８９１号公報

基板上に置かれた電子部品等の検査であれば、上記の特許文献１のように対象物を挟んで左右上方からの照明を配置することが可能であるが、口金メネジ部などのように円筒内部のさらに奥まった部分を検査するためには、照明配置が限定されて左右両側からの照明を行うことはできず、上記の特許文献１の技術をそのまま利用することができない。

本発明は、上記事情を鑑みて成されたものであり、本発明の目的は、検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面上の異物を検出することができる検査装置および検査方法を提供することにある。

上記目的を達成するために、本発明に係る検査装置は、検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面を検査する検査装置であって、前記メネジ部の表面を前記検査対象物の外部から撮像する撮像手段と、前記撮像手段を挟むように、前記メネジ部のネジ山稜線方向に並んで配置された複数の照明手段であって、前記メネジ部の表面に対して光を照射する複数の照明手段と、前記複数の照明手段の各々について、前記照明手段により光が照射されたときに前記撮像手段により撮像された撮像画像を取得する画像取得手段と、前記画像取得手段によって前記複数の照明手段の各々について取得された前記撮像画像が表す影の情報に基づいて、前記メネジ部の表面上の異物を検出する解析手段と、を含んで構成されている。

本発明に係る検査方法は、検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面を検査する検査装置における検査方法であって、撮像手段が、前記メネジ部の表面を前記検査対象物の外部から撮像し、前記撮像手段を挟むように、前記メネジ部のネジ山稜線方向に並んで配置された複数の照明手段が、前記メネジ部の表面に対して光を照射し、画像取得手段が、前記複数の照明手段の各々について、前記照明手段により光が照射されたときに前記撮像手段により撮像された撮像画像を取得し、解析手段が、前記画像取得手段によって前記複数の照明手段の各々について取得された前記撮像画像が表す影の情報に基づいて、前記メネジ部の表面上の異物を検出する。

本発明に係る検査装置及び検査方法によれば、メネジ部のネジ山稜線方向に並んで配置された複数の照明手段が、メネジ部の表面に対して光を照射し、撮像手段により撮像された撮像画像が表す影の情報に基づいて、メネジ部の表面上の異物を検出することにより、検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面上の異物を検出することができる。

本発明に係る解析手段は、前記画像取得手段によって前記複数の照明手段の各々について取得した撮像画像の各々に対して、前記ネジ山稜線方向のシェーディング補正を行い、前記シェーディング補正された撮像画像の各々が表す影の情報に基づいて、前記異物を検出するようにすることができる。

本発明に係る複数の照明手段は、前記メネジ部の表面に対して、異なる波長の光を同時に照射し、前記画像取得手段は、前記複数の照明手段により光が照射されたときに前記撮像手段により撮像された撮像画像から、前記複数の照明手段の各々について、前記照明手段の光の波長に関する撮像画像を取得することができる。

本発明に係る解析手段は、更に、前記画像取得手段によって取得された撮像画像に基づいて、前記メネジ部の表面の表面異常状態を検出するようにすることができる。

本発明に係る解析手段は、前記画像取得手段によって取得された撮像画像の各々における、前記メネジ部の表面の領域の部分領域を、長方形に展開した展開画像に各々変換し、前記展開画像の各々に対して、前記メネジ部のネジ山稜線方向に対応する横方向のシェーディング補正を行い、前記展開画像と、前記シェーディング補正された前記展開画像との差分画像が表す影の情報に基づいて、前記異物を検出するようにすることができる。

本発明に係る解析手段は、前記複数の照明手段のうちの何れか１つにより光が照射されたときの撮像画像にのみ現れる影の情報に基づいて、前記異物を検出するようにすることができる。

上記の検査対象物は、有底円筒体の底部に栽頭円錐状のシート面が形成され、前記シート面と接触するシート面を備えかつオネジが形成されたフレアナットを螺合するための前記メネジ部を円筒内に有するとともに、前記底部の前記シート面と反対側にホースを接続する接続部を有するブレーキホース用の口金である。
検査対象の検出すべき異常状態として、「ヒゲバリ」、「異物」が異物付着の一例であり、「変色」、「サビ」が表面異常状態の一例である。

本発明によれば、メネジ部のネジ山稜線方向に並んで配置された複数の照明手段が、メネジ部の表面に対して光を照射し、撮像手段により撮像された撮像画像が表す影の情報に基づいて、メネジ部の表面上の異物を検出することにより、検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面上の異物を検出することができる、という効果を奏する。

本実施の形態に係る検査装置および検査方法を説明するための図である。 本実施の形態に係るメネジ検査装置の一例を示す側面図である。 本実施の形態に係るメネジ検査装置の一例を示す上面図である。 本実施の形態に係るメネジ検査装置の解析部の一例を示す図である。 メネジ部を表す領域の上端を探索するためのモデル図形の一例を示す図である。 （Ａ）撮像画像の一例を示す図、及び（Ｂ）撮像画像における探索領域の一例を示す図である。 赤画像の探索領域と、青画像の探索領域とを合成した合成画像を生成する方法を説明するための図である。 合成画像に、モデルをフィッティングすることにより、メネジ部１２を表す領域の上端エッジを決定する方法を説明するための図である。 メネジ部を表す楕円の領域に沿って、縦方向に延びる１ピクセル幅の画像を各々切り出す方法を説明するための図である。 切り出した画像を横に並べた長方形の画像を示す図である。 縦方向に引き延ばして縦横比をそろえた展開画像を示す図である。 （Ａ）コントラスト強調処理を行った結果を示す図、及び（Ｂ）エッジ抽出を行った結果を示す図である。 （Ａ）エッジの強い部分のみを抽出した結果を示す図、及び（Ｂ）ハフ画像を示す図である。 傾き補正が行われた展開画像から得られる赤画像、青画像を示す図、及び（Ｂ）赤画像及び青画像を合成した赤青画像を示す図である。 横方向メジアン画像を示す図である。 （Ａ）横方向メジアン画像のＸ座標の中央５列分を切り出す方法を説明するための図、（Ｂ）切り出した画像の白黒を反転させた結果を示す図、及び（Ｃ）ネジ山抽出用画像を示す図である。 輝度ピークのＹ座標の各々から、ネジ山１巻目の開始位置を計算する方法を説明するための図である。 検出領域から、暗い画素を抽出する方法を説明するための図である。 （Ａ）赤画像のメジアン画像を示す図、及び（Ｂ）青画像のメジアン画像を示す図である。 （Ａ）差分赤画像を示す図、及び（Ｂ）差分青画像を示す図である。 差分赤画像から暗い画素を抽出する方法を説明するための図である。 差分赤画像における選出領域を示す図である。 解析部による検査処理ルーチンを示すフローチャートである。 （Ａ）従来技術における凸部にできる影を示す図、及び（Ｂ）凹部にできる影を示す図である。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態の一例を詳細に説明するが、まず、図１を参照して、本実施の形態に係る検査装置および検査方法の原理について説明する。

異物付着は、従来の面から盛り上がって発生する。これに対して左右２方向からの照明を行うことにより、異物による影が生じる。直接異物に照射された２方向からの光は、照射される角度によって異物上で重なりあってしまう場合があるが、異物による影の部分ではどちらか一方からの光のみが照射される。このように一方の光のみで照射された領域を検出することにより、立体的な異物付着を安定に検出することが可能となる。

本実施の形態では、ブレーキホース用の口金の円筒内のメネジ部を検査対象とする場合を例に説明する。

（メネジ検査装置の構成）
図２および図３を参照して、本実施の形態に係るメネジ検査装置１００について説明する。

図２、図３に示すように、メネジ検査装置１００は、赤照明用光源４０Ｒ、青照明用光源４０Ｂ、カメラ４２、および解析部５０を含んで構成されている。

解析部５０は、カメラ４２によって撮像された撮像画像に基づき、口金１０のメネジ部１２の表面上の異常の有無について画像解析する部位であり、たとえば、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）等を用いて構成されている。

検査対象となるブレーキホース用の口金１０は、有底円筒体の底部に栽頭円錐状のシート面１４が形成され、シート面１４と接触するシート面を備えかつオネジが形成されたフレアナットを螺合するためのメネジ部１２を円筒内に有するとともに、底部のシート面１４と反対側にホースを接続する接続部（図示省略）を有する。

赤照明用光源４０Ｒ及び青照明用光源４０Ｂは、メネジ部１２のネジ山稜線方向である横方向に並んで配置され、口金１０のメネジ部１２に対して上方右側と左側それぞれより、赤色の照明光及び青色の照明光を照射する。

カメラ４２は、赤照明用光源４０Ｒ及び青照明用光源４０Ｂに挟まれるように配置され、メネジ部１２の表面を口金１０の外部から撮像する。

本実施の形態に係るメネジ検査装置１００では、赤照明用光源４０Ｒ及び青照明用光源４０Ｂにより照明されたメネジ部１２の表面を、カメラ４２で撮像することにより、容易にメネジ部１２の表面上の表面異常状態、あるいはメネジ部１２に付着した異物を判別するための画像を取得することができる。さらに、本実施の形態に係るメネジ検査装置１００では、取得された画像に対して解析部５０に搭載された画像解析プログラム等を適用して、メネジ部１２の表面上の表面異常状態の有無、あるいは、付着している異物の有無について解析（判別）する。

図４に示すように、解析部５０は、画像取得部６０、照明制御部６２、領域探索部６４、展開画像生成部６６、傾き補正部６８、ネジ深さ算出部７０、第１異常抽出部７２、ネジ影消去処理部７４、及び第２異常抽出部７６を備えている。

照明制御部６２は、赤照明用光源４０Ｒ及び青照明用光源４０Ｂから赤色の照明光及び青色の照明光を同時に照射するように制御する。

画像取得部６０は、赤照明用光源４０Ｒ及び青照明用光源４０Ｂから赤色の照明光及び青色の照明光が同時に照射されているときに、カメラ４２により撮像された撮像画像を取得する。また、画像取得部６０は、カメラ４２により撮像された撮像画像から、赤色の輝度値を表す赤画像と、青色の輝度値を表す青画像とを取得する。

領域探索部６４は、以下に説明するように、撮像画像から、メネジ部１２を表す領域を探索する。

まず、図５に示すように、メネジ部１２を表す領域の上端を探索するためのモデル図形を作成しておく。

そして、図６（Ａ）に示すような撮像画像から、図６（Ｂ）に示すような上部領域を、探索領域として設定する。図７に示すように、赤画像の探索領域と、青画像の探索領域とを合成した合成画像を生成する。例えば、赤画像の輝度値と青画像の輝度値とを足して２で割ることにより合成した合成画像を生成する。

そして、図８に示すように、生成した合成画像に、モデルをフィッティングすることにより、メネジ部１２を表す領域の上端エッジを決定し、決定された上端エッジとモデル図形とに基づいて、メネジ部１２を表す領域を決定する。

展開画像生成部６６は、領域探索部６４により決定されたメネジ部１２を表す領域から、図９に示すように、メネジ部１２を表す楕円の領域に沿って、縦方向に延びる１ピクセル幅の画像を各々切り出し、図１０に示すように、切り出した画像を横に並べた長方形の画像を生成し、図１１に示すように、縦方向に引き延ばして縦横比をそろえた展開画像を生成する。そして、展開画像の赤画像と青画像とを合成した赤青画像も生成する。

傾き補正部６８は、展開画像の赤青画像に対して、図１２（Ａ）に示すように、コントラスト強調処理を行い、更に、Ｓｏｂｅｌフィルタを適用して、図１２（Ｂ）に示すように、エッジ抽出を行う。また、傾き補正部６８は、図１３（Ａ）に示すように、エッジ抽出結果から、エッジの強い部分のみを抽出し、図１３（Ｂ）に示すように、ハフ画像を生成する。

傾き補正部６８は、ハフ画像のピーク抽出でAngle配列を作り、補正角を算出する。具体的には、Angle配列から、Angleの最頻値を求め、その±1度の範囲外の値を取り除いて平均値を求め、それを補正角とする。Angleがダブルピークだと上記方法で±1度の範囲内に値が残らない場合があるので、そのときはハフ画像の垂直方向グレイ値投影のピークを補正角とする。

なお、Angle配列に値がない場合には、補正角の規定値を使用するようにすればよい。

そして、傾き補正部６８は、展開画像生成部６６によって生成された展開画像について、補正角を用いて傾き補正を行い、図１４（Ａ）に示すように、傾き補正が行われた展開画像から、赤画像、青画像を取得し、図１４（Ｂ）に示すように、赤画像及び青画像を合成した赤青画像を生成する。また、赤画像、青画像、及び赤青画像を合成して、表示用の疑似カラー画像を生成する。

ネジ深さ算出部７０は、傾き補正部６８によって生成された赤青画像から、図１５に示すような横方向メジアン画像を生成する。メジアンを計算する領域サイズは、例えば、横方向の長さを、画像幅の1/3とし、縦方向の長さを、1ピクセルとする。

ネジ深さ算出部７０は、横方向メジアン画像の中央部を切り出して、ネジ山抽出用画像を生成する。例えば、図１６（Ａ）に示すように、横方向メジアン画像のＸ座標の中央５列分を切り出し、図１６（Ｂ）に示すように、切り出した画像の白黒を反転させ、図１６（Ｃ）に示すように、フィルタ処理で左右を暗くすることにより、ネジ山抽出用画像を生成する。

ネジ深さ算出部７０は、ネジ山抽出用画像から、輝度ピークのＹ座標を各々抽出する。また、ネジ深さ算出部７０は、図１７に示すように抽出された輝度ピークのＹ座標の各々から、ネジ山１巻目の開始位置を計算する。

例えば、見つかった輝度ピークのＹ座標の各々について、当該Ｙ座標がネジ山2重線の上の線だと仮定して、
Y = a + np （nはできるだけ大きな整数）
から算出したaとnの組をネジ山1巻目開始位置の配列に保存する。ただし、aは、ネジの1巻目開始位置であり、nは、ネジの巻数であり、pは、予め定められたネジピッチである。

次に、見つかった輝度ピークのＹ座標の各々について、当該Ｙ座標がネジ山2重線の下の線だと仮定して、
Y = a + np + d （nはできるだけ大きな整数）
から算出したaとnの組をネジ山1巻目開始位置の配列に保存する。このとき、上記Ｙ座標がネジ山2重線の上の線だと仮定して得られたネジ山1巻目開始位置の配列の後ろに加える。ただし、dは、ネジ山2重線の分離幅である。

そして、ネジ山1巻目開始位置の配列からaの最頻値を求める。

また、ネジ山1巻目開始位置の平均値とネジの最大巻数を求める。例えば、aとnの配列から、 aの値がaの最頻値とネジピッチの1/10以上のずれがないaと、そのペアのnを抽出した配列を作成する。作成された配列からaの平均値を1巻目開始位置として計算し、nの最大値を最大巻数として計算する。

そして、得られた1巻目開始位置又は上端エッジと最大巻数の位置から、上端エッジ又は1巻目開始位置から最深ネジ山（最大巻数ネジ山）までの距離であるネジ深さを算出する。

第１異常抽出部７２は、ネジ深さ算出部７０によって算出されたネジ深さに基づいて、傾き補正部６８によって生成された赤青画像から、大きな異常領域を抽出する。

例えば、図１８に示すような検出領域から、閾値ThreBigより暗い画素を抽出し、抽出画素を、つながっている領域ごとに分け、暗い画素からなる領域を抽出する。ただし、検出領域幅を、所定幅DetHWidth×2＋１とする。

そして、抽出した領域のうち、以下の（１）〜（５）の条件をすべて満たすものを選出する。

条件(1)： 面積が閾値AreaMinHenshoku×2 以上であること。
条件(2)： 重心のY座標が、ネジ深さScrewDepth − 閾値ChamferWidth以下であること。
条件(3)： 重心のX座標が検出領域幅（半幅DetHWidth）に入っていること。
条件(4)： 画像上端に接していないこと。
条件(5)： 領域の高さがネジピッチの1/4以上であること。

選出された領域が1個以上あれば、選出された領域を大きな異常領域として抽出し、最大異常種別を「変色（大）」と判別する。また、選出された領域の各々の面積を計測し、最大領域の面積を最大異常面積とする。選出された領域がなければ、最大異常面積は0としておく。

ネジ影消去処理部７４は、傾き補正部６８によって生成された赤画像、及び青画像の各々に対して、ネジ山稜線方向である横方向のシェーディング補正を行い、シェーディング補正された画像を用いて、ネジの影による影響を消去した画像を生成する。

例えば、まず、傾き補正部６８によって生成された赤画像、及び青画像から、図１９（Ａ）、（Ｂ）に示すように、横方向のシェーディング補正を行ったメジアン画像を作る。メジアンを計算する領域サイズは、横方向を画像幅の1/3とし、縦方向を3ピクセルとする。

そして、傾き補正部６８によって生成された赤画像から、赤画像のメジアン画像を差し引いて、ネジの影による影響を消去した画像として、図２０（Ａ）に示すような差分赤画像を生成する。また、傾き補正部６８によって生成された青画像から、青画像のメジアン画像を差し引いて、図２０（Ｂ）に示すような差分青画像を生成する。なお、図２０（Ａ）、（Ｂ）に示す画像では、差分画像の輝度値に128を加えて表示している。

第２異常抽出部７６は、ネジ影消去処理部７４によって生成された差分赤画像及び差分青画像から、小さな異常領域を抽出する。

例えば、まず、図２１に示すように、差分赤画像、差分青画像をそれぞれしきい値処理し、閾値ThreSmallより暗い画素を、影、変色、又はサビを表す画素として抽出し、抽出画素を、つながっている領域ごとに分け、暗い画素からなる領域を抽出する。

そして、差分赤画像、差分青画像の各々について、抽出した領域のうち、以下の（１）〜（３）の条件をすべて満たすものを選出する。

条件(1)： 面積が閾値AreaMinButu 以上であること。
条件(2)： 重心のX座標が検出領域幅（半幅DetHWidth）に入っていること。
条件(3)： 画像上端に接していないこと。

選出された領域の各々について、図２２に示すように、傾き補正部６８によって生成された赤画像の当該領域の輝度値MinOrgR、及び青画像の当該領域の輝度値MinOrgBを算出すると共に、差分赤画像の当該領域の輝度値MinSubR、及び差分青画像の当該領域の輝度値MinSubBを算出する。

例えば、領域内にある画素をヒストグラム化し、輝度が低い側から数えて25%分の画素が含まれる輝度値を、MinOrgR、MinOrgB、MinSubR、MinSubBとする。

そして、算出された輝度値に基づいて、以下に示すように、異常種別を分類する。

まず、差分青画像で選出された領域の各々について、輝度値MinSubR−輝度値MinSubB ＞ 閾値DiffMinHigeRであり、かつ、輝度値MinSubB＋輝度値MinSubR ＞ 閾値BRMinHigeであるとき、当該領域を、異常領域として抽出し、異常種別「ヒゲバリ」と判別する。

また、差分赤画像で選出された領域の各々について、輝度値MinSubB−輝度値MinSubR ＞ 閾値DiffMinHigeBであり、かつ、輝度値MinSubB＋輝度値MinSubR ＞ 閾値BRMinHigeであるとき、当該領域を、異常領域として抽出し、異常種別「ヒゲバリ」と判別する。

上記により異常種別「ヒゲバリ」と判別されなかった選出領域の各々について、輝度値MinOrgB＜閾値BmaxSabiであるとき、当該領域を、異常領域として抽出し、異常種別「サビ」と判別する。

また、上記により異常種別「ヒゲバリ」及び「サビ」の何れとも判別されなかった選出領域の各々について、輝度値MinSubB＋輝度値MinSubR ＜ 閾値BRMaxIbutuであるとき、当該領域を、異常領域として抽出し、異常種別「異物」と判別し、輝度値MinOrgB＋輝度値MinOrgR ＜ 閾値BRMaxHenshokuであり、かつ、領域面積 ＞ 閾値AreaMinHenshokuであるとき、当該領域を、異常領域として抽出し、異常種別「変色」と判別する。

上記により、何れの異常種別とも判別されなかった選出領域は、異常候補から外す。

そして、ネジの1巻目より上での過検出を防ぐために、選出領域の重心のY座標が、閾値ScrewStartRow未満であれば、異常領域として抽出しないようにする。

また、異常領域として抽出された領域の面積が、第１異常抽出部７２で算出した最大異常面積よりも大きければ、それを最大異常面積とする。また、その異常の種別を最大異常種別とする。

（検査処理ルーチン）
次に、解析部５０による検査処理ルーチンについて、図２３を用いて説明する。

まず、ステップＳ１００では、解析部５０は、赤照明用光源４０Ｒ及び青照明用光源４０Ｂの各々から光を照射するように制御し、ステップＳ１０２で、口金１０のメネジ部１２をカメラ４２により撮像し、解析部５０は、画像を取得する。そして、ステップＳ１０４において、解析部５０は、撮像された画像における、メネジ部１２を表す領域を探索し、ステップＳ１０６において、解析部５０は、探索された領域から、展開画像を生成する

そして、ステップＳ１０８において、解析部５０は、生成された展開画像について、求めた補正角を用いて傾き補正を行い、傾き補正が行われた展開画像から、赤画像、青画像、赤青画像を取得する。ステップＳ１１０では、解析部５０は、上記ステップＳ１０８で得られた赤青画像から、ネジ深さを算出する。

そして、ステップＳ１１２では、解析部５０は、上記ステップＳ１１０で算出されたネジ深さに基づいて、上記ステップＳ１０８で得られた赤青画像から、大きな異常領域を抽出する。

ステップＳ１１４では、解析部５０は、上記ステップＳ１０８で得られた赤画像、及び青画像の各々に対して、ネジ山稜線方向である横方向のシェーディング補正を行い、メジアン画像を生成する。ステップＳ１１６では、解析部５０は、上記ステップＳ１０８で得られた赤画像、青画像から、上記ステップＳ１１４で生成された赤画像のメジアン画像、青画像のメジアン画像を差し引いて、ネジの影による影響を消去した差分赤画像、差分青画像を生成する。

そして、ステップＳ１１８において、解析部５０は、上記ステップＳ１１６で生成された差分赤画像及び差分青画像と、上記ステップＳ１０８で得られた赤画像及び青画像とに基づいて、小さな異常領域を抽出する。

上記の検査処理ルーチンを、上記図２に示すように、口金１０を所定角度回転させるたびに実行し、メネジ部１２の全領域に対して検査が行われると、解析部５０に接続されたディスプレイ等（図示省略）により、抽出された異常領域を、異常種別と共に表示する。

以上詳述したように、本実施の形態に係るメネジ検査装置によれば、メネジ部のネジ山稜線方向である横方向に並んで配置された赤照明用光源及び青照明用光源が、メネジ部の表面に対して光を照射し、カメラにより撮像された撮像画像が表す影の情報に基づいて、メネジ部の表面上の異物を検出することにより、検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面上の異物を検出することができる。

また、口金メネジ部の検査において、左右照明とその撮像画像での影を対象とした処理技術により、メネジ部分に発生する異物付着を、ネジ山の背景と区別して検出することができる。

また、赤照明用光源と青照明用光源とから同時に光を照射して、撮像画像を取得することにより、検査時間の短縮を図ることができる。

なお、上記の実施の形態では、本発明に係る検査装置および検査方法を、ブレーキホース用の口金の円筒内部に形成されたメネジ部の検査に用いる形態を例示して説明したが、これに限られず、他の種類の対象物の内部に形成されたメネジ部の検査に用いる形態としてもよい。

また、上記の実施の形態では、赤照明用光源と青照明用光源とから同時に光を照射して、撮像画像を取得する場合を例に説明したが、これに限定されるものではなく、赤照明用光源と青照明用光源とから異なるタイミングで光を照射して、撮像画像をそれぞれ取得するようにしてもよい。この場合には、複数の光源から照射される光の波長が同じであってもよい。例えば、複数の白色光源から、異なるタイミングで光を照射して、撮像画像をそれぞれ取得してもよい。

１０ 口金
１２ メネジ部
１４ シート面
４０Ｂ 青照明用光源
４０Ｒ 赤照明用光源
４２ カメラ
５０ 解析部
６０ 画像取得部
６２ 照明制御部
６４ 領域探索部
６６ 展開画像生成部
６８ 傾き補正部
７０ ネジ深さ算出部
７２ 異常抽出部
７４ ネジ影消去処理部
７６ 異常抽出部
１００ メネジ検査装置

Claims (6)

1. 検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面を検査する検査装置であって、
   前記メネジ部の表面を前記検査対象物の外部から撮像する撮像手段と、
   前記撮像手段を挟むように、前記メネジ部のネジ山稜線方向に並んで配置された複数の照明手段であって、前記メネジ部の表面に対して光を照射する複数の照明手段と、
   前記複数の照明手段の各々について、前記照明手段により光が照射されたときに前記撮像手段により撮像された撮像画像を取得する画像取得手段と、
   前記画像取得手段によって前記複数の照明手段の各々について取得された前記撮像画像が表す影の情報に基づいて、前記メネジ部の表面上の異物を検出する解析手段と、
   を含む検査装置。
2. 前記複数の照明手段は、前記メネジ部の表面に対して、異なる波長の光を同時に照射し、
   前記画像取得手段は、前記複数の照明手段により光が照射されたときに前記撮像手段により撮像された撮像画像から、前記複数の照明手段の各々について、前記照明手段の光の波長に関する撮像画像を取得する請求項１記載の検査装置。
3. 前記解析手段は、前記画像取得手段によって取得された撮像画像の各々における、前記メネジ部の表面の領域の部分領域を、長方形に展開した展開画像に各々変換し、
   前記展開画像の各々に対して、前記メネジ部のネジ山稜線方向に対応する横方向のシェーディング補正を行い、前記展開画像と、前記シェーディング補正された前記展開画像との差分画像が表す影の情報に基づいて、前記異物を検出する請求項１又は２記載の検査装置。
4. 前記解析手段は、前記複数の照明手段のうちの何れか１つにより光が照射されたときの撮像画像にのみ現れる影の情報に基づいて、前記異物を検出する請求項１〜請求項３の何れか１項記載の検査装置。
5. 前記検査対象物は、有底円筒体の底部に栽頭円錐状のシート面が形成され、前記シート面と接触するシート面を備えかつオネジが形成されたフレアナットを螺合するための前記メネジ部を円筒内に有するとともに、前記底部の前記シート面と反対側にホースを接続する接続部を有するブレーキホース用の口金である請求項１〜請求項４の何れか１項記載の検査装置。
6. 検査対象物の内面に設けられたメネジ部の表面を検査する検査装置における検査方法であって、
   撮像手段が、前記メネジ部の表面を前記検査対象物の外部から撮像し、
   前記撮像手段を挟むように、前記メネジ部のネジ山稜線方向に並んで配置された複数の照明手段が、前記メネジ部の表面に対して光を照射し、
   画像取得手段が、前記複数の照明手段の各々について、前記照明手段により光が照射されたときに前記撮像手段により撮像された撮像画像を取得し、
   解析手段が、前記画像取得手段によって前記複数の照明手段の各々について取得された前記撮像画像が表す影の情報に基づいて、前記メネジ部の表面上の異物を検出する
   検査方法。