JP6503132B1 - 画像を利用した点検方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】点検対象部位の変状を正確に把握することができる、画像を利用した点検方法を提供する。【解決手段】本発明にかかる、画像を利用した点検方法では、光源からの距離に対応する投影面積が既知の光点を、撮像手段が配置される撮影位置から点検対象部位に投影する。そして、前記点検対象部位の前記光点を含む画像における前記光点の画素数と、前記画像が撮影された条件における許容錯乱円の画素数との比較により、前記点検対象部位の画像の焦点のずれ率を求め、前記ずれ率が所定の許容範囲となる画像に基づき前記点検対象部位の変状の有無を判定する。【選択図】図1

Description

本発明は、点検対象となる構造物の点検対象部位の写真を用いて、点検対象部位におけるひび割れ、剥離、鋼材の曲がり、点錆、損傷等の変状を把握するための、画像を利用した点検方法に関するものである。
建築物の高所や放射線濃度の高い場所など、人が簡単に近づくことのできない場所に存在する物の状態を点検するために、画像を利用した様々な手法が提案されている。例えば、特開2001−280960公報には、RC床版と離れた位置にデジタルカメラ及びスケール投光器を設け、RC床版のひび割れ等の欠陥部をスケール投光器からのリングスケール投影光と共にデジタルカメラにより撮影し、この撮影画像をパソコンの表示画面に表示させると共に、リングスケールを参照してRC床版のひび割れの長さ、幅、分布等の欠陥部の定量をすることが提案されている。
また、特開平1−242905公報には、視覚装置の光軸と平行でかつ所定の間隔を有する光軸を具えた投光器でビームを投光し、その投光点および被写体を視覚装置で同時に撮影するとともに、視覚装置の光軸に直交する平面上に座標線図の像を重畳し、座標線図の像における投光点および被写体の像の相互関係から被写体の寸法を求めることが提案されている。
特開2001−280960公報 特開平1−242905公報
コンクリートのひび割れ、はくり、鋼材のひびわれ、点錆及び損傷等、点検対象部位の状態を画像により把握する場合、その画像は、被写体を正しく表現していることが、すなわち、被写体を直接肉眼で目視した場合との差異が無いものであることが必要となる。例えば、肉眼で抽出可能なひびわれを、撮影された画像から同様に抽出できなければ、その画像は被写体を正しく表現したものとはならない。
なお、被写体を正しく表現するためには、画像の明るさやコントラスト等の光学的パラメータを調整することも考えられるが、これら光学的パラメータには冗長性があり、ソフトウェア等による画像処理を施したとしても、焦点が合っていない場合は、1mm以下の微細なひびわれ等は画像に正しく表現されず、その有無を確認することは難しかった。
ところが、画像を利用した従来の点検方法は、ひび割れ等の変状が画像に正しく表現されていることを前提とするものであったため、画像の焦点が合っていない場合には、ひび割れ、剥離、鋼材の曲がり、点錆等の変状を正確に把握することが難しかった。
そこで、本発明は、点検対象部位の変状を正確に把握することができる、画像を利用した点検方法を提供することを目的とする。
本発明にかかる画像を利用した点検方法では、光源からの距離に対応する投影面積が既知の光点を、撮像手段が配置される撮影位置から点検対象部位に投影する。そして、前記点検対象部位の前記光点を含む画像における前記光点の画素数と、前記画像が撮影された条件における許容錯乱円の画素数との比較により、前記点検対象部位の画像の焦点のずれ率を求め、前記ずれ率が所定の許容範囲となる画像に基づき前記点検対象部位の変状の有無を判定する。
なお、本発明において、許容錯乱円とは、撮影時の各撮影条件の下で、人の目により焦点が合っていると感じる範囲である焦点深度の境界地点に、撮影中心線を中心として描かれる円を意味する。
「焦点が合っている状態」とは、被写体の画像がカメラの焦点距離にあり、画像素子に写しこまれている状態のことであるが、図2に示すように、人の目の解像能力で焦点が合ったと感じる状態には、ある程度の幅があり、被写体側におけるその幅の範囲は「被写界深度」と呼ばれている。そして、画像素子側における被写界深度の範囲が焦点深度である。
本発明によれば、点検対象部位の画像に含まれる、光源からの距離に対応する投影面積が既知の光点の画素数と、画像が撮影された条件における許容錯乱円の画素数との比較により焦点のずれ率を求めることで、点検対象部位の画像の焦点が合っているかどうかを客観的に判断することができる。そして、客観的に焦点が合っていると判断された画像に基づき点検対象部位の変状の有無を判定するため、点検対象部位の変状を正確に把握することが可能となる。
本発明に係る画像を利用した点検方法の実施形態の概略図である。 画像の撮影原理を模式的に示す図である。
図1を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。
図1に示す実施形態では、建築物1の高所に存在する点検対象部位2の画像を飛行体3に搭載させた撮像手段4により取得し、その画像に基づき点検対象部位2の点検を行う場合が想定されている。
飛行体3は、点検対象部位2に対する距離を計測する測距センサと姿勢を検出するジャイロセンサを有する姿勢制御装置5を搭載している。そして、点検対象部位2から所定の距離で水平姿勢を保ちながらのホバリングが可能なものとなっている。
この実施形態では、飛行体3として、ドローンと称される公知の小型プロペラ機が採用されているが、上記の飛行性能を有するものであれば、その他の機器を採用してもよい。
撮像手段4は、飛行体3の上部に設けられた装置機器を搭載するための部分に固定されている。この実施形態では、撮像手段4として、公知の高解像度カメラが採用されているが、機種や仕様に制限はなく、点検対象部位2の材質や状態、撮像環境などに応じて、適切なものを選定すればよい。
撮像手段4の側方には、投光手段6が配置されている。この実施形態では、投光手段6として、公知の極小レーザ装置が採用され、光ビーム7が撮像手段4の撮像方向と平行する向きで、光点が撮影範囲の中心にできる限り近い位置に投影される状態で配置されている。なお、投光手段6は、投影される光点が点検対象部位2に対し色や明るさにより区別できるものであれば、使用環境などに応じて、最適なものを採用することができる。
撮像手段4を使用して得られる点検対象部位2の画像には、投光手段6から発せられた光ビーム7の光点が含まれるため、その光点を利用することにより、画像の焦点のずれ率を求めることができる。一例として、撮像手段4の仕様が以下の場合において焦点精度を求める手順を説明する。
<撮像素子>
APS−Cサイズ(23.5mm×15.6mm)、2430万画素
<レンズ焦点距離>
50mm
<許容錯乱円用の定数>
1300
なお、許容錯乱円用の定数とは、撮像素子の対角線において許容される焦点の大きさである。
まず、点検対象部位2を撮影する前に、投光手段6の投影面までの距離に対応する光点の投影面積を測定しておく。この例では、投光手段6からの投影面までの距離を、撮影位置P1から点検対象部位2までの撮影距離Lとしたときの投影面における光点の投影面積が1mmとなる場合を想定する。
上記仕様において、許容錯乱円の半径(mm)は、以下の通り求めることができる。
√(23.5+15.6)/1300=0.0217
そして、この半径に基づき、許容錯乱円の画素数を、以下の通り求めることができる。
(π×0.0217)×24300000/(23.5×15.6)=98.1
この許容錯乱円の画素数に対する、撮影された画像に含まれる光点の画素数の比が焦点のずれ率であり、ずれ率が1よりも大きくなる場合は、被写体の画像が焦点深度から外れていることになる。すなわち、焦点がずれていることになる。
例えば、撮影された画像に含まれる光点の画素数が20であれば、焦点のずれ率は20/98.1=0.203(20.3%)となる。すなわち、焦点が合っている状態であることを意味する。
上記実施形態は、人が簡単に近づくことのできない建築物の高所を点検する場合を想定し、飛行体を利用して画像を取得するものとなっているが、点検場所や画像を取得する手法に制限はない。例えば、歩道脇に設けられた壁面など、人が簡単に近づくことのできる建築物を、画像手段を三脚に固定して撮影することにより取得した画像を利用する場合にも、本発明を適用することができる。
1 建築物
2 点検対象部位
3 飛行体
4 撮像手段
5 姿勢制御装置
6 投光手段
7 光ビーム
P1 撮像位置
L 撮影位置から点検対象部位までの距離

Claims (1)

  1. 光源からの距離に対応する投影面積が既知の光点を、撮像手段が配置される撮影位置から点検対象部位に投影し、前記点検対象部位の前記光点を含む画像における前記光点の画素数と、前記画像が撮影された条件における許容錯乱円の画素数との比較により、前記点検対象部位の画像の焦点のずれ率を求め、前記ずれ率が所定の許容範囲となる画像に基づき前記点検対象部位の変状の有無を判定することを特徴とする画像を利用した点検方法。

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JP2001166202A (ja) * 1999-12-10 2001-06-22 Katsura Oputo System:Kk 焦点検出方法及び焦点検出装置
JP3600230B2 (ja) * 2003-02-21 2004-12-15 株式会社ファースト 建築および土木構造物計測・解析システム
JP2012027263A (ja) * 2010-07-23 2012-02-09 Sony Corp 撮像装置、その制御方法およびプログラム
KR101309028B1 (ko) * 2010-12-29 2013-10-04 계명대학교 산학협력단 레이저 스캔 촛점을 이용한 거리 측정장치.
WO2015137635A1 (en) * 2014-03-13 2015-09-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Image pickup apparatus and method for generating image having depth information

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