JP6500180B2 - 画像処理装置、表示装置および電子機器 - Google Patents
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Description
1.実施の形態(立体感,コントラストの強調処理および精細度補正を行う場合の例)
2.変形例
変形例1(立体感,コントラストの強調処理を行う場合の例)
変形例2(立体感の強調処理および精細度補正を行う場合の例)
変形例3(立体感の強調処理を行う場合の例)
3.適用例(実施の形態,変形例1〜3に係る表示装置等の電子機器への適用例)
4.その他の変形例
[全体構成例]
図1は、本開示の一実施の形態に係る表示装置(表示装置1)の概略構成例(全体構成例)を、ブロック図で表したものである。この表示装置1は、図1に示したように、表示部(可撓性表示部)10、応力センサ11および画像処理装置12を備えている。なお、画像処理装置12は、本開示における「画像処理装置」の一具体例に対応している。
表示部10は、後述する画像処理装置12内の画像処理部121から供給される画像信号Sgout(Sg3)に基づいて画像を表示する部分である。また、この例では表示部10は、可撓性を有する可撓性表示部(フレキシブルディスプレイ)となっている。このような表示部10は、例えば、有機EL(Electro Luminescence)素子(有機電界発光素子)等の自発光素子や液晶素子などの表示素子を用いた複数の画素を有している。なお、この表示部10は、本開示における「表示部」の一具体例に対応している。
応力センサ11は、表示部10において発生する応力を検知するセンサであり、各種方式のものを用いることが可能である。このようにして応力センサ11により検知された応力Dsは、後述する画像処理装置12内の解析部122へ供給されるようになっている。なお、この応力センサ11は、本開示における「応力センサ」の一具体例に対応している。
画像処理装置12は、図1に示したように、外部から入力される画像信号(入力画像信号)Sginに基づいて所定の画像処理を行うことにより、前述した画像信号(出力画像信号)Sgoutを生成する装置である。画像処理装置12は、この例では、画像信号Sginに基づいて実際に画像処理を行う部分である画像処理部121と、応力センサ11において検知された応力Dsに基づいて所定の解析処理を行う部分である解析部122とを有している。
図2は、この解析部122の詳細構成例を、ブロック図で表したものである。図2に示したように、この例では解析部122は、応力分布生成部122A、極大値算出部122B、低周波成分分布生成部122C、接触位置検出部122D、接触強度判定部122E、応力勾配算出部122Fおよび種別判定部122Gを有している。
(A.基本動作)
この表示装置1では、図1に示したように、画像処理装置12において、外部から入力された画像信号Sginに基づいて所定の画像処理が行われることで、画像信号Sgoutが生成される。この際に画像処理装置12では、応力センサ11により検知された応力Dsを利用して、そのような画像処理を行う。具体的には、画像処理装置12内の解析部122では、応力センサ11において検知された応力Dsに基づいて所定の解析処理を行うと共に、画像処理装置12内の画像処理部121では、その解析処理の結果(解析結果)を利用して、画像信号Sginに基づく画像処理を行う。そして表示部10では、画像処理装置12から供給される画像信号Sgoutに基づいて、画像表示が行われる。
続いて、図1,図2に加えて図3〜図11を参照して、表示装置1における詳細動作例について説明する。
最初に、図1,図2に加えて図3〜図8を参照して、上記した解析部122における解析処理動作について、詳細に説明する。
続いて、図1に加えて図9〜図11を参照して、前述した画像処理部121における画像処理動作について、詳細に説明する。
このようにして本実施の形態では、ユーザによる表示部10への接触態様に連動した画像信号の強調処理がなされることで、ユーザにとって、画像強調が直感的に把握できるようになる。つまり、ユーザの動作(接触態様)に合致した、迫力および臨場感(没入感)のある映像を提供できるようになる。
続いて、上記実施の形態の変形例(変形例1〜3)について説明する。なお、実施の形態における構成要素と同一のものには同一の符号を付し、適宜説明を省略する。
具体的には、例えば図12Aに示した変形例1に係る画像処理部(画像処理部121−1)では、画像処理部121−1内に、立体感強調処理部121Aおよびコントラスト強調処理部121Cの2つが設けられている。つまり、この画像処理部121−1内には、画像処理部121とは異なり、精細度補正部121Bが設けられていない。したがって、画像処理部121−1では、まず、立体感強調処理部121Aにおいて、画像信号Sginに対して前述した立体感強調処理を行うことで、画像信号Sg1を生成して出力する。そして、コントラスト強調処理部121Cにおいて、この画像信号Sg1に対して前述したコントラスト強調処理を行うことで、画像信号Sgoutとしての画像信号Sg3を生成して出力するようになっている。
また、例えば図12Bに示した変形例2に係る画像処理部(画像処理部121−2)では、画像処理部121−2内に、立体感強調処理部121Aおよび精細度補正部121Bの2つが設けられている。つまり、この画像処理部121−2内には、画像処理部121とは異なり、コントラスト強調処理部121Cが設けられていない。したがって、画像処理部121−2では、まず、立体感強調処理部121Aにおいて、画像信号Sginに対して前述した立体感強調処理を行うことで、画像信号Sg1を生成して出力する。そして、精細度補正部121Bにおいて、この画像信号Sg1に対して前述した解像度低下の補正処理を行うことで、画像信号Sgoutとしての画像信号Sg2を生成して出力するようになっている。
更に、例えば図12Cに示した変形例3に係る画像処理部(画像処理部121−3)では、画像処理部121−3内に、立体感強調処理部121Aの1つのみが設けられている。つまり、この画像処理部121−3内には、画像処理部121とは異なり、精細度補正部121Bおよびコントラスト強調処理部121Cが設けられていない。したがって、画像処理部121−3では、立体感強調処理部121Aにおいて、画像信号Sginに対して前述した立体感強調処理を行うことで、画像信号Sgoutとしての画像信号Sg1を生成して出力するようになっている。
続いて、上記した実施の形態および変形例1〜3に係る画像処理部121,121−1〜121−3を有する画像処理装置(表示装置)の、電子機器への適用例について説明する。
以上、実施の形態、変形例および適用例を挙げて本開示の技術を説明したが、本技術はこれらの実施の形態等に限定されず、種々の変形が可能である。
(1)
ユーザによる表示部への接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部を備え、
前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
画像処理装置。
(2)
前記強調処理が、前記画像信号により表現される画像における立体感、輝度コントラストおよび彩度コントラストのうちの少なくとも1つを、前記接触態様に連動して強調する処理である
上記(1)に記載の画像処理装置。
(3)
前記強調処理として、前記立体感を強調する処理を少なくとも含んでおり、
前記画像処理部は、前記立体感を強調する処理に伴う前記画像の解像度低下を補正する処理を、更に実行する
上記(2)に記載の画像処理装置。
(4)
前記画像処理部は、前記表示部への接触に起因して前記表示部で発生する応力の検知結果を利用して、前記強調処理を行う
上記(1)ないし(3)のいずれかに記載の画像処理装置。
(5)
応力センサにより検知された応力に基づき、前記接触態様の検知結果を解析して前記画像処理部へ出力する解析部を更に備えた
上記(4)に記載の画像処理装置。
(6)
前記解析部は、
前記応力センサにより検知された応力に基づいて、前記表示部での応力分布を生成すると共に、
生成された前記応力分布に基づき、前記接触態様の検知結果としての、前記接触態様の種別および接触強度をそれぞれ解析して、前記画像処理部へ出力する
上記(5)に記載の画像処理装置。
(7)
前記解析部は、
前記応力分布に基づいて、前記表示部における前記ユーザの接触位置と、前記接触強度と、前記表示部における応力勾配とをそれぞれ求めると共に、
前記接触位置および前記応力勾配に基づいて、前記接触態様の種別を求める
上記(6)に記載の画像処理装置。
(8)
前記解析部は、
前記応力分布に基づいて、前記応力分布における極大値の座標および極大値の大きさと、前記表示部における応力の低周波成分分布とをそれぞれ求めると共に、
前記極大値の座標に基づいて前記接触位置を求め、
前記極大値の大きさに基づいて前記接触強度を求め、
前記極大値の座標と前記応力の低周波成分分布とに基づいて、前記応力勾配を求める
上記(7)に記載の画像処理装置。
(9)
表示部と、
ユーザによる前記表示部への接触態様を検知する検知部と、
前記検知部による前記接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部と
を備え、
前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
表示装置。
(10)
前記画像処理部は、前記表示部への接触に起因して前記表示部で発生する応力の検知結果を利用して、前記強調処理を行う
上記(9)に記載の表示装置。
(11)
前記検知部は、
前記表示部で発生する応力を検知する応力センサと、
前記応力センサにより検知された応力に基づき、前記接触態様の検知結果を解析して前記画像処理部へ出力する解析部と
を有する
上記(10)に記載の表示装置。
(12)
前記表示部は、可撓性を有する
上記(9)ないし(11)のいずれかに記載の表示装置。
(13)
表示装置を備え、
前記表示装置は、
表示部と、
ユーザによる前記表示部への接触態様を検知する検知部と、
前記検知部による前記接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部と
を有し、
前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
電子機器。
Claims (11)
- ユーザによる表示部への接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う画像処理部を備え、
前記強調処理が、前記画像信号により表現される画像における立体感、輝度コントラストおよび彩度コントラストのうちの少なくとも前記立体感を、前記接触態様に連動して強調する処理であり、
前記画像処理部は、前記立体感を強調する処理に伴う前記画像の解像度低下を補正する処理を、更に実行する
画像処理装置。 - 前記画像処理部は、前記表示部への接触に起因して前記表示部で発生する応力の検知結果を利用して、前記強調処理を行う
請求項1に記載の画像処理装置。 - 応力センサにより検知された応力に基づき、前記接触態様の検知結果を解析して前記画像処理部へ出力する解析部を更に備えた
請求項2に記載の画像処理装置。 - 前記解析部は、
前記応力センサにより検知された応力に基づいて、前記表示部での応力分布を生成すると共に、
生成された前記応力分布に基づき、前記接触態様の検知結果としての、前記接触態様の種別および接触強度をそれぞれ解析して、前記画像処理部へ出力する
請求項3に記載の画像処理装置。 - 前記解析部は、
前記応力分布に基づいて、前記表示部における前記ユーザの接触位置と、前記接触強度と、前記表示部における応力勾配とをそれぞれ求めると共に、
前記接触位置および前記応力勾配に基づいて、前記接触態様の種別を求める
請求項4に記載の画像処理装置。 - 前記解析部は、
前記応力分布に基づいて、前記応力分布における極大値の座標および極大値の大きさと、前記表示部における応力の低周波成分分布とをそれぞれ求めると共に、
前記極大値の座標に基づいて前記接触位置を求め、
前記極大値の大きさに基づいて前記接触強度を求め、
前記極大値の座標と前記応力の低周波成分分布とに基づいて、前記応力勾配を求める
請求項5に記載の画像処理装置。 - 表示部と、
ユーザによる前記表示部への接触態様を検知する検知部と、
前記検知部による前記接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う画像処理部と
を備え、
前記強調処理が、前記画像信号により表現される画像における立体感、輝度コントラストおよび彩度コントラストのうちの少なくとも前記立体感を、前記接触態様に連動して強調する処理であり、
前記画像処理部は、前記立体感を強調する処理に伴う前記画像の解像度低下を補正する処理を、更に実行する
表示装置。 - 前記画像処理部は、前記表示部への接触に起因して前記表示部で発生する応力の検知結果を利用して、前記強調処理を行う
請求項7に記載の表示装置。 - 前記検知部は、
前記表示部で発生する応力を検知する応力センサと、
前記応力センサにより検知された応力に基づき、前記接触態様の検知結果を解析して前記画像処理部へ出力する解析部と
を有する
請求項8に記載の表示装置。 - 前記表示部は、可撓性を有する
請求項7ないし請求項9のいずれか1項に記載の表示装置。 - 表示装置を備え、
前記表示装置は、
表示部と、
ユーザによる前記表示部への接触態様を検知する検知部と、
前記検知部による前記接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う画像処理部と
を有し、
前記強調処理が、前記画像信号により表現される画像における立体感、輝度コントラストおよび彩度コントラストのうちの少なくとも前記立体感を、前記接触態様に連動して強調する処理であり、
前記画像処理部は、前記立体感を強調する処理に伴う前記画像の解像度低下を補正する処理を、更に実行する
電子機器。
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