JP2017041106A - 画像処理装置、表示装置および電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】画像表示の際の臨場感を向上させることが可能な画像処理装置、表示装置および電子機器を提供する。
【解決手段】画像処理装置１２は、ユーザによる表示部１０への接触における接触位置や応力値の分布、応力勾配などの接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部１２１を備えている。この画像処理部１２１では、立体感強調処理部１２１Ａが幾何変換処理により立体感を強調し、コントラスト強調処理部１２１Ｃがコントラストおよび彩度を強調する処理を行う。
【選択図】図１

Description

本開示は、画像信号に対して画像処理を行う画像処理装置、ならびに、そのような画像処理装置を備えた表示装置および電子機器に関する。

従来、各種の表示装置、および、そのような表示装置に適用される画像処理装置が提案されている（例えば、特許文献１）。

米国特許出願公開第２００３／０２０７９４６号明細書

ところで、表示装置では一般に、画像表示の際の臨場感を向上させることが求められている。したがって、そのような画像表示の際の臨場感を向上させる手法の提案が望まれる。

本開示はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、画像表示の際の臨場感を向上させることが可能な画像処理装置、表示装置および電子機器を提供することにある。

本開示の画像処理装置は、ユーザによる表示部への接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部を備えたものである。この画像処理部は、上記画像処理として、上記接触態様に連動した画像信号の強調処理を行う。

本開示の表示装置は、表示部と、ユーザによる表示部への接触態様を検知する検知部と、この検知部による接触態様の検知結果に基づいて画像信号に対する画像処理を行う上記本開示の画像処理部とを備えたものである。

本開示の電子機器は、上記本開示の表示装置を備えたものである。

本開示の画像処理装置、表示装置および電子機器では、ユーザによる表示部への接触態様に連動した画像信号の強調処理がなされることにより、画像強調が直感的に把握できるようになる。

本開示の画像処理装置、表示装置および電子機器によれば、ユーザによる表示部への接触態様に連動した画像信号の強調処理を行うようにしたので、画像強調が直感的に把握できるようになる。よって、画像表示の際の臨場感を向上させることが可能となる。

なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれの効果であってもよい。

本開示の一実施の形態に係る表示装置の概略構成例を表すブロック図である。 図１に示した解析部の詳細構成例を表すブロック図である。 図２における応力分布の一例を表す模式図である。 図２における極大値分布の一例を表す模式図である。 図２における低周波成分分布の一例を表す模式図である。 図２における接触強度の一例を表す模式図である。 図２における応力勾配の算出手法の一例を表す模式図である。 図２における応力勾配の算出手法の他の例を表す模式図である。 図２における応力勾配の算出手法の更に他の例を表す模式図である。 図２における接触態様の種別の判定手法の一例を表す模式図である。 図１における立体感の強調処理の一例を表す模式図である。 図１における輝度コントラストの強調処理の一例を表す模式図である。 図１における彩度コントラストの強調処理の一例を表す模式図である。 変形例１に係る画像処理部の概略構成例を表すブロック図である。 変形例２に係る画像処理部の概略構成例を表すブロック図である。 変形例３に係る画像処理部の概略構成例を表すブロック図である。 適用例に係る電子機器の概略構成例を表すブロック図である。

以下、本開示の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．実施の形態（立体感，コントラストの強調処理および精細度補正を行う場合の例）
２．変形例
変形例１（立体感，コントラストの強調処理を行う場合の例）
変形例２（立体感の強調処理および精細度補正を行う場合の例）
変形例３（立体感の強調処理を行う場合の例）
３．適用例（実施の形態，変形例１〜３に係る表示装置等の電子機器への適用例）
４．その他の変形例

＜１．実施の形態＞
［全体構成例］
図１は、本開示の一実施の形態に係る表示装置（表示装置１）の概略構成例（全体構成例）を、ブロック図で表したものである。この表示装置１は、図１に示したように、表示部（可撓性表示部）１０、応力センサ１１および画像処理装置１２を備えている。なお、画像処理装置１２は、本開示における「画像処理装置」の一具体例に対応している。

（表示部１０）
表示部１０は、後述する画像処理装置１２内の画像処理部１２１から供給される画像信号Ｓｇout（Ｓｇ３）に基づいて画像を表示する部分である。また、この例では表示部１０は、可撓性を有する可撓性表示部（フレキシブルディスプレイ）となっている。このような表示部１０は、例えば、有機ＥＬ（Electro Luminescence）素子（有機電界発光素子）等の自発光素子や液晶素子などの表示素子を用いた複数の画素を有している。なお、この表示部１０は、本開示における「表示部」の一具体例に対応している。

（応力センサ１１）
応力センサ１１は、表示部１０において発生する応力を検知するセンサであり、各種方式のものを用いることが可能である。このようにして応力センサ１１により検知された応力Ｄｓは、後述する画像処理装置１２内の解析部１２２へ供給されるようになっている。なお、この応力センサ１１は、本開示における「応力センサ」の一具体例に対応している。

（画像処理装置１２）
画像処理装置１２は、図１に示したように、外部から入力される画像信号（入力画像信号）Ｓｇinに基づいて所定の画像処理を行うことにより、前述した画像信号（出力画像信号）Ｓｇoutを生成する装置である。画像処理装置１２は、この例では、画像信号Ｓｇinに基づいて実際に画像処理を行う部分である画像処理部１２１と、応力センサ１１において検知された応力Ｄｓに基づいて所定の解析処理を行う部分である解析部１２２とを有している。

ここで、画像処理部１２１は、本開示における「画像処理部」の一具体例に対応している。また、解析部１２２は、本開示における「解析部」の一具体例に対応し、この解析部１２２および前述した応力センサ１１が、本開示における「検知部（ユーザによる表示部への接触態様を検知する部分）」の一具体例に対応している。

画像処理部１２１は、図１に示したように、この例では、立体感強調処理部１２１Ａ、精細度補正部１２１Ｂおよびコントラスト強調処理部１２１Ｃを有している。この画像処理部１２１は、詳細は後述するが、表示装置１のユーザによる表示部１０への接触態様の検知結果に基づいて、画像信号Ｓｇinに対する画像処理を行うものである。具体的には、画像処理部１２１は、そのような画像処理として、ユーザによる表示部１０への接触態様に連動した、画像信号Ｓｇinの強調処理を行う。そして、画像処理部１２１は、ユーザによる接触に起因して表示部１０で発生する応力の検知結果（この例では、応力センサ１１により検知された応力Ｄｓ）を利用して、そのような強調処理を行うようになっている。

立体感強調処理部１２１Ａは、入力された画像信号Ｓｇinに対して所定の立体感強調処理を行うことにより、そのような立体感強調処理後の画像信号Ｓｇ１を生成して出力するものである。この立体感強調処理とは、詳細は後述するが、画像信号Ｓｇinにより表現される画像（映像）における立体感を、ユーザによる表示部１０への接触態様に連動して強調する処理である。

精細度補正部１２１Ｂは、入力された画像信号Ｓｇ１に対して所定の精細度補正処理を行うことにより、そのような精細度補正処理後の画像信号Ｓｇ２を生成して出力するものである。この精細度補正処理とは、詳細は後述するが、上記した立体感強調処理に伴う画像の解像度低下（画像信号Ｓｇ１により表現される画像において生じる解像度低下）を補正する処理である。

コントラスト強調処理部１２１Ｃは、入力された画像信号Ｓｇ２に対して所定のコントラスト強調処理を行うことにより、そのようなコントラスト強調処理後の画像信号Ｓｇ３（Ｓｇout）を生成して出力するものである。このコントラスト強調処理とは、詳細は後述するが、輝度コントラストおよび彩度コントラストのうちの少なくとも一方（この例では、輝度コントラストおよび彩度コントラストの双方）を、ユーザによる表示部１０への接触態様に連動して強調する処理である。

なお、画像処理部１２１におけるこれらの各画像処理の詳細については、後述する（図９〜図１１）。

解析部１２２は、応力センサ１１により検知された応力Ｄｓに基づき、ユーザによる表示部１０への接触態様の検知結果Ｄｃを解析する部分である。そのような接触態様の検知結果Ｄｃ（解析結果）は、画像処理部１２１（立体感強調処理部１２１Ａ、精細度補正部１２１Ｂおよびコントラスト強調処理部１２１Ｃの各々）へ出力されるようになっている。

［解析部１２２の詳細構成例］
図２は、この解析部１２２の詳細構成例を、ブロック図で表したものである。図２に示したように、この例では解析部１２２は、応力分布生成部１２２Ａ、極大値算出部１２２Ｂ、低周波成分分布生成部１２２Ｃ、接触位置検出部１２２Ｄ、接触強度判定部１２２Ｅ、応力勾配算出部１２２Ｆおよび種別判定部１２２Ｇを有している。

応力分布生成部１２２Ａは、応力センサ１１により検知された応力Ｄｓに基づいて、表示部１０における応力分布Ｄ０（表示面内における２次元的な応力値の分布）を生成するものである。なお、図２中に示したように、このときの応力センサ１１により検知された応力Ｄｓは、例えば、表示面内における複数ライン（この例ではｎ（２以上の整数）ライン）ごとの１次元的な応力検知結果のデータ（Ｄｓ１，Ｄｓ２，…，Ｄｓｎ）により構成されている。

極大値算出部１２２Ｂは、応力分布生成部１２２Ａにより生成された応力分布Ｄ０に基づいて、その応力分布Ｄ０における極大値の座標Ｍｐおよび極大値の大きさＭｓをそれぞれ求める（算出する）ものである。

低周波成分分布生成部１２２Ｃは、応力分布生成部１２２Ａにより生成された応力分布Ｄ０に基づいて、表示部１０（表示面内）における応力の低周波成分分布ＤＬを求める（生成する）ものである。

接触位置検出部１２２Ｄは、極大値算出部１２２Ｂにより求められた極大値の座標Ｍｐに基づいて、表示部１０（表示面内）におけるユーザの接触位置Ｐｃを求める（検出する）ものである。

接触強度判定部１２２Ｅは、極大値算出部１２２Ｂにより求められた極大値の大きさＭｓに基づいて、表示部１０（表示面）に対するユーザの接触強度Ｄｃ２を求める（判定する）ものである。なお、図２中に示したように、この例では接触強度Ｄｃ２は、前述した接触態様の検知結果Ｄｃの１つとなっている。

応力勾配算出部１２２Ｆは、極大値算出部１２２Ｂにより求められた極大値の座標Ｍｐと、低周波成分分布生成部１２２Ｃにより生成された応力の低周波成分分布ＤＬとに基づいて、表示部１０（表示面内）における応力勾配Ｇｓを求める（算出する）ものである。

種別判定部１２２Ｇは、接触位置検出部１２２Ｄにより検出されたユーザの接触位置Ｐｃと、応力勾配算出部１２２Ｆにより求められた応力勾配Ｇｓとに基づいて、ユーザによる表示部１０（表示面）に対する接触態様の種別Ｄｃ１を求める（判定する）ものである。なお、図２中に示したように、この例では接触態様の種別Ｄｃ１は、前述した接触態様の検知結果Ｄｃの１つとなっている。

このようにして解析部１２２では、応力センサ１１により検知された応力Ｄｓに基づいて応力分布Ｄ０を生成すると共に、生成された応力分布Ｄ０に基づき、前述した接触態様の検知結果Ｄｃとしての接触態様の種別Ｄｃ１および接触強度Ｄｃ２をそれぞれ解析して取得し、画像処理部１２１へ出力するようになっている。なお、解析部１２２内における上記した各処理の詳細については、後述する（図３〜図８）。

［動作］
（Ａ．基本動作）
この表示装置１では、図１に示したように、画像処理装置１２において、外部から入力された画像信号Ｓｇinに基づいて所定の画像処理が行われることで、画像信号Ｓｇoutが生成される。この際に画像処理装置１２では、応力センサ１１により検知された応力Ｄｓを利用して、そのような画像処理を行う。具体的には、画像処理装置１２内の解析部１２２では、応力センサ１１において検知された応力Ｄｓに基づいて所定の解析処理を行うと共に、画像処理装置１２内の画像処理部１２１では、その解析処理の結果（解析結果）を利用して、画像信号Ｓｇinに基づく画像処理を行う。そして表示部１０では、画像処理装置１２から供給される画像信号Ｓｇoutに基づいて、画像表示が行われる。

（Ｂ．詳細動作）
続いて、図１，図２に加えて図３〜図１１を参照して、表示装置１における詳細動作例について説明する。

（Ｂ−１．解析処理動作）
最初に、図１，図２に加えて図３〜図８を参照して、上記した解析部１２２における解析処理動作について、詳細に説明する。

この解析部１２２では、まず、例えば図３に模式的に示したように、応力分布生成部１２２Ａが、応力センサ１１により検知された応力Ｄｓに基づいて、表示部１０における応力分布Ｄ０（表示面内における２次元的な応力値の分布）を生成する。具体的には、この例では、応力センサ１１により検知された応力Ｄｓが、表示面内における複数ラインごとの１次元的な応力検知結果のデータ（Ｄｓ１，Ｄｓ２，…，Ｄｓｎ）により構成されているため、これらのデータに対して画像補間処理を行うことで、２次元的な応力分布Ｄ０を生成する。なお、このときの画像補間処理としては、線形補間および非線形補間のいずれの処理であってもよい。

次いで、例えば図４に模式的に示したように、極大値算出部１２２Ｂが、この応力分布Ｄ０における極大値の座標Ｍｐおよび極大値の大きさＭｓをそれぞれ求める。なお、この図４の例では、応力分布Ｄ０における極大値が、異なる２つの位置で生じている。このとき、極大値算出部１２２Ｂは、例えば、入力された応力分布Ｄ０のデータ（画像）と、この応力分布Ｄ０に対するＬＰＦ（Low Pass Filter：ローパスフィルタ）処理後のデータとの差分処理を行うと共に、その後、所定の閾値判定処理および最大値フィルタ処理を行うことで、極大値の座標Ｍｐおよび極大値の大きさＭｓをそれぞれ求める。

一方、例えば図５に模式的に示したように、低周波成分分布生成部１２２Ｃは、応力分布Ｄ０に基づいて、表示部１０（表示面内）における応力の低周波成分分布ＤＬを求める。具体的には、低周波成分分布生成部１２２Ｃは、例えば、応力分布Ｄ０に対するＬＰＦ処理後のデータを用いて、低周波成分分布ＤＬを生成する。このとき、上記したように、極大値算出部１２２Ｂにおいて使用されるＬＰＦ処理後のデータを用いるようにしてもよい。なお、ここで言う「低周波成分」は、例えば、応力センサ１１の配置間隔と、その応力センサ１１によって検出された波形（検出波形）における波長の大きさとを考慮すると、一例として、以下のように設定される。すなわち、例えば、応力センサ１１の配置間隔が５ｍｍである場合、上記検出波形において、その配置間隔の数倍程度（例えば５倍）以下である波長成分（例えば２５ｍｍ以下の波長成分）が、「低周波成分」として設定される。なお、このような設定は、例えば、上記した極大値を示す場合のユーザの指の接触長と、応力センサ１１の配置間隔とに基づいて決定される。すなわち、指の接触長を十分カバーするような応力センサ１１の本数分の長さによって、決定するようにすればよい。

続いて、接触位置検出部１２２Ｄは、極大値算出部１２２Ｂにより求められた極大値の座標Ｍｐに基づいて、表示部１０（表示面内）におけるユーザの接触位置Ｐｃを求める。具体的には、接触位置検出部１２２Ｄは、例えば、極大値の座標Ｍｐを、ユーザの手における親指位置と推定することで、そのような接触位置Ｐｃを検出する。

一方、例えば図６に模式的に示したように、接触強度判定部１２２Ｅは、極大値算出部１２２Ｂにより求められた極大値の大きさＭｓに基づいて、表示部１０（表示面）に対するユーザの接触強度Ｄｃ２を求める。このとき、接触強度判定部１２２Ｅは、例えば、所定のルックアップテーブル（ＬＵＴ）または換算式などを用いて、そのような接触強度Ｄｃ２を判定する。なお、この図６に示した例では、後述する凹変形状態および凸変形状態の各々について（接触態様の種別Ｄｃ１ごとに）、接触強度Ｄｃ２の強度レベルが「０」〜「３」の４段階で規定されている。

他方、例えば図７Ａに模式的に示したように、応力勾配算出部１２２Ｆは、極大値算出部１２２Ｂにより求められた極大値の座標Ｍｐと、低周波成分分布生成部１２２Ｃにより生成された応力の低周波成分分布ＤＬとに基づいて、表示部１０（表示面内）における応力勾配Ｇｓを求める。具体的には、この図７Ａの例では、応力勾配算出部１２２Ｆは、２つの極大値の座標Ｍｐ同士を結ぶ水平方向の直線（一点鎖線で図示）を基準として、水平方向に延在する２つの勾配算出ラインＬｈ１，Ｌｈ２と、垂直方向に延在する１つの勾配算出ラインＬｖとの各々に沿って、応力勾配Ｇｓを算出している。

なお、このとき、例えば図７Ｂまたは図７Ｃに模式的に示した手法を用いて、応力勾配Ｇｓが算出されるようにしてもよい。具体的には、図７Ｂの例では、応力勾配算出部１２２Ｆは、２つの極大値の座標Ｍｐ同士を結ぶ垂直方向の直線（一点鎖線で図示）を基準として、垂直方向に延在する２つの勾配算出ラインＬｖ１，Ｌｖ２と、水平方向に延在する１つの勾配算出ラインＬｈとの各々に沿って、応力勾配Ｇｓを算出している。また、図７Ｃの例では、応力勾配算出部１２２Ｆは、２つの極大値の座標Ｍｐ同士を結ぶ斜め方向の直線（一点鎖線で図示）を基準として、斜め方向に延在する３つの勾配算出ラインＬｄ１，Ｌｄ２，Ｌｄ３の各々に沿って、応力勾配Ｇｓを算出している。

そして、例えば図８（Ａ）〜図８（Ｄ）に模式的に示したように、種別判定部１２２Ｇは、接触位置検出部１２２Ｄにより検出されたユーザの接触位置Ｐｃと、応力勾配算出部１２２Ｆにより求められた応力勾配Ｇｓとに基づいて、ユーザによる表示部１０（表示面）に対する接触態様の種別Ｄｃ１を求める。なお、この例では、そのような接触態様の種別Ｄｃ１として、右変形状態（右接触状態：図８（Ａ）参照）と、左変形状態（左接触状態：図８（Ｂ）参照）と、凹変形状態（左右接触状態１：図８（Ｃ）参照）と、凸変形状態（左右接触状態２：図８（Ｄ）参照）との４種類が規定されている。このようにして接触態様の種別Ｄｃ１が判定できるのは、例えば図８（Ａ）〜図８（Ｂ）中の矢印で示したように、接触位置Ｐｃおよび応力勾配Ｇｓの各情報を利用すれば、ユーザによる接触態様（接触状態，変形状態）の種別が類推可能であるからである。

（Ｂ−２．画像処理動作）
続いて、図１に加えて図９〜図１１を参照して、前述した画像処理部１２１における画像処理動作について、詳細に説明する。

この画像処理部１２１では、まず、例えば図９に模式的に示したように、立体感強調処理部１２１Ａは、入力された画像信号Ｓｇinに対して立体感強調処理を行うことにより、立体感強調処理後の画像信号Ｓｇ１を生成する。この立体感強調処理とは、前述したように、画像信号Ｓｇinにより表現される画像（映像）における立体感を、ユーザによる表示部１０への接触態様に連動して強調する処理のことである。具体的には、例えば画像信号Ｓｇinが２次元（２Ｄ）信号である場合、例えば、幾何変換処理（射影変換処理，円筒変換処理等）や、運動視差を付加する処理（接触態様に連動して運動視差を制御する処理）などを行うことで、そのような立体感強調処理を行う。また、例えば画像信号Ｓｇinが３次元（３Ｄ）信号である場合、例えば、各視点間の視差量を変換する処理（視差量変換処理）を行うことで、上記した立体感強調処理を行う。

ここで、図９に示した例では、上記した各処理例のうち、円筒変換処理を利用した立体感強調処理を行っている。具体的には、接触態様の種別Ｄｃ１が前述した凹変形状態あるいは凸変形状態であると判定された場合、図９（Ａ）に示した画像信号Ｓｇin（全面の単色画像）に対し、接触態様の種別Ｄｃ１に応じて実際の曲率よりも大きくなるように円筒変換処理を行うことで、立体感強調処理を行う。これにより、例えば図９（Ｂ），図９（Ｄ）に示したように、凹変形状態および凸変形状態のいずれの場合とも、そのようは立体感強調処理後の画像信号Ｓｇ１が生成される。なお、この例では、図９（Ｂ），図９（Ｄ）のいずれの場合とも、元の画像の周囲には、黒色領域が挿入配置されている。そして、このようにして生成された画像信号Ｓｇ１に基づく画像表示が表示部１０においてなされると、例えば図９（Ｃ），図９（Ｅ）に示したように、凹変形状態および凸変形状態のいずれの場合とも、それらに連動して立体感（奥行感）が強調されることになる。

次いで、精細度補正部１２１Ｂが、そのようにして生成された画像信号Ｓｇ１に対して精細度補正処理を行うことにより、精細度補正処理後の画像信号Ｓｇ２を生成する。この精細度補正処理とは、前述したように、上記した立体感強調処理に伴う画像の解像度低下（画像信号Ｓｇ１により表現される画像において生じる解像度低下）を補正する処理のことである。具体的には、精細度補正部１２１Ｂは、例えば、上記した幾何変換処理や、運動視差を付加する処理、視差量変換処理等によって、画像が拡大・縮小された（引き延ばされた）ことに伴う、周辺領域等の解像度（精細度）の低下が抑制されるように、画像処理を行う。つまり、この精細度補正処理は、立体感強調処理に付随した画像処理であると言える。なお、このような精細度補正処理は、例えば、線形補間または非線形補間を用いた画像補間処理によって行われる。

続いて、コントラスト強調処理部１２１Ｃは、そのようにして生成された画像信号Ｓｇ２に対してコントラスト強調処理を行うことにより、コントラスト強調処理後の画像信号Ｓｇ３（Ｓｇout）を生成する。ここで、この例ではコントラスト強調処理として、前述したように、輝度コントラストおよび彩度コントラストをそれぞれ、ユーザによる表示部１０への接触態様に連動して強調するようにしている。

すなわち、例えば図１０に模式的に示したように、コントラスト強調処理部１２１Ｃは、いわゆる輝度の突き上げ処理（輝度を増加させる処理）を行うことで、輝度コントラストの強調処理を行う。具体的には、例えば、画像信号Ｓｇ２，Ｓｇ３同士の階調レベルの関係を示す特性線Ｇ０（直線）を、突き上げ処理後の特性線（曲線）に変換することで、そのような輝度コントラストの強調処理を行う（図１０中の実線の矢印参照）。あるいは、表示部１０において輝度のダイナミックレンジの最大値を上げることができる場合（有機ＥＬ素子等の自発光素子が表示素子として用いられている場合等）には、以下のようにしてもよい。すなわち、例えば、特性線Ｇ０よりも傾斜比率が大きい特性線Ｇ２（直線）に変換することで、輝度コントラストの強調処理を行うようにしてもよい（図１０中の一点鎖線の矢印参照）。なお、このような輝度コントラストの強調処理は、例えば、表示画面内の注目画素領域（画面中央部等）などの部分的な画素領域に対して適用されたり、あるいは、表示画面内の全領域に対して適用される。

また、例えば図１１に模式的に示したように、コントラスト強調処理部１２１Ｃは、いわゆる彩度の突き上げ処理（彩度を増加させる処理）を行うことで、彩度コントラストの強調処理を行う。具体的には、例えば図１１に示したように、表示部１０における物理的な色域Ｇ４内において、画像信号Ｓｇ２により表現される画像の彩度を増加させ、画像の見かけの色域を広げることで、そのような彩度コントラストの強調処理を行う（図１１中の矢印参照）。なお、このような彩度コントラストの強調処理も、例えば、表示画面内の注目画素領域（画面中央部等）などの部分的な画素領域に対して適用されたり、あるいは、表示画面内の全領域に対して適用される。

［作用・効果］
このようにして本実施の形態では、ユーザによる表示部１０への接触態様に連動した画像信号の強調処理がなされることで、ユーザにとって、画像強調が直感的に把握できるようになる。つまり、ユーザの動作（接触態様）に合致した、迫力および臨場感（没入感）のある映像を提供できるようになる。

具体的には、検知された接触態様（応力の方向）に対し、従来とは逆方向の画像処理である強調処理がなされることで、そのような接触態様に合致させて臨場感等の向上が図られる。なお、これに対して従来の手法では、例えば、検知された変形による画像がユーザにとって見易くなるように補正する（変形による影響を低減する）画像処理であることから、本実施の形態とは逆に、臨場感等は低下してしまうことになる。

以上のように本実施の形態では、ユーザによる表示部１０への接触態様に連動した画像信号の強調処理を行うようにしたので、ユーザにとって、画像強調が直感的に把握できるようになる。よって、画像表示の際の臨場感（没入感）を向上させることが可能となる。

また、応力センサ１１により検知された応力Ｄｓを利用してそのような画像処理（強調処理）を行うようにしたので、例えば表示部１０の変形状態を検知して利用する場合とは異なり、以下の効果を得ることも可能となる。すなわち、例えば、表示部１０の変形を伴わなかったり、表示部１０の変形量が微小であるような（例えば表示部１０の変形が制限されている場合など）接触態様の場合であっても、上記した画像処理を実行することが可能となる。

更に、上記したように、検知された応力Ｄｓを利用してユーザの接触態様を強調する画像処理を行うことで、ユーザへの視覚フィードバックを生じさせることができ、例えば、接触による表示部１０への過度の変形（曲げ過ぎ状態の発生）を抑制することも可能となる。

＜２．変形例＞
続いて、上記実施の形態の変形例（変形例１〜３）について説明する。なお、実施の形態における構成要素と同一のものには同一の符号を付し、適宜説明を省略する。

実施の形態における表示装置１（画像処理装置１２）では、画像処理部１２１内に、立体感強調処理部１２１Ａ、精細度補正部１２１Ｂおよびコントラスト強調処理部１２１Ｃの３つがいずれも設けられている場合について説明した。換言すると、画像処理部１２１では、前述した立体感強調処理、解像度低下の補正処理およびコントラスト強調処理がそれぞれ行われるようになっている。しかしながら、この実施の形態の例には限られず、表示装置１（画像処理装置１２）において画像処理部１２１の代わりに、例えば以下の変形例１〜３に係る画像処理部（画像処理部１２１−１〜１２１−３）を設けるようにしてもよい。

（変形例１）
具体的には、例えば図１２Ａに示した変形例１に係る画像処理部（画像処理部１２１−１）では、画像処理部１２１−１内に、立体感強調処理部１２１Ａおよびコントラスト強調処理部１２１Ｃの２つが設けられている。つまり、この画像処理部１２１−１内には、画像処理部１２１とは異なり、精細度補正部１２１Ｂが設けられていない。したがって、画像処理部１２１−１では、まず、立体感強調処理部１２１Ａにおいて、画像信号Ｓｇinに対して前述した立体感強調処理を行うことで、画像信号Ｓｇ１を生成して出力する。そして、コントラスト強調処理部１２１Ｃにおいて、この画像信号Ｓｇ１に対して前述したコントラスト強調処理を行うことで、画像信号Ｓｇoutとしての画像信号Ｓｇ３を生成して出力するようになっている。

（変形例２）
また、例えば図１２Ｂに示した変形例２に係る画像処理部（画像処理部１２１−２）では、画像処理部１２１−２内に、立体感強調処理部１２１Ａおよび精細度補正部１２１Ｂの２つが設けられている。つまり、この画像処理部１２１−２内には、画像処理部１２１とは異なり、コントラスト強調処理部１２１Ｃが設けられていない。したがって、画像処理部１２１−２では、まず、立体感強調処理部１２１Ａにおいて、画像信号Ｓｇinに対して前述した立体感強調処理を行うことで、画像信号Ｓｇ１を生成して出力する。そして、精細度補正部１２１Ｂにおいて、この画像信号Ｓｇ１に対して前述した解像度低下の補正処理を行うことで、画像信号Ｓｇoutとしての画像信号Ｓｇ２を生成して出力するようになっている。

（変形例３）
更に、例えば図１２Ｃに示した変形例３に係る画像処理部（画像処理部１２１−３）では、画像処理部１２１−３内に、立体感強調処理部１２１Ａの１つのみが設けられている。つまり、この画像処理部１２１−３内には、画像処理部１２１とは異なり、精細度補正部１２１Ｂおよびコントラスト強調処理部１２１Ｃが設けられていない。したがって、画像処理部１２１−３では、立体感強調処理部１２１Ａにおいて、画像信号Ｓｇinに対して前述した立体感強調処理を行うことで、画像信号Ｓｇoutとしての画像信号Ｓｇ１を生成して出力するようになっている。

これらの変形例１〜３においても、実施の形態と同様に、ユーザによる表示部１０への接触態様に連動した画像信号の強調処理（少なくとも上記した立体感強調処理）を行うようにしたので、画像表示の際の臨場感（没入感）を向上させることが可能となる。

＜３．適用例＞
続いて、上記した実施の形態および変形例１〜３に係る画像処理部１２１，１２１−１〜１２１−３を有する画像処理装置（表示装置）の、電子機器への適用例について説明する。

図１３は、本適用例に係る電子機器（電子機器９）の概略構成例を、ブロック図で表したものである。この電子機器９は、画像処理部１２１，１２１−１〜１２１−３のいずれか１つを有する表示装置１と、電子機器９本体における各種機能を発揮させる機能部９０とを備えている。

このような電子機器９としては、例えば、各種モバイル機器（例えば、電子ブック，ノート型ＰＣ（Personal computer），ダブレット，携帯型ゲーム機器，携帯型オーディオプレーヤ，携帯型動画プレーヤ，携帯電話，ウェアラブル端末など）等が挙げられる。また、電子機器９としては、そのようなモバイル機器だけでなく、例えば、ＴＶ装置（テレビ受像機），照明機器，電子看板（Digital Signage），カーナビゲーションシステム等も挙げられる。

＜４．その他の変形例＞
以上、実施の形態、変形例および適用例を挙げて本開示の技術を説明したが、本技術はこれらの実施の形態等に限定されず、種々の変形が可能である。

例えば、上記実施の形態等では、表示装置および電子機器の構成例を具体的に挙げて説明したが、それらの構成例には限られない。具体的には、例えば、それらの一部分の構成を他の構成に代えたり、あるいは他の構成を更に加えたりするようにしてもよい。また、各構成の形状や配置、個数等についても、上記実施の形態等で挙げたものには限られず、他の形状や配置、個数等としてもよい。

具体的には、例えば、上記実施の形態等では、表示部が可撓性表示部である（可撓性を有している）場合を例に挙げて説明したが、これには限られず、表示部が非可撓性表示部である（可撓性を有していない）ようにしてもよい。

また、ユーザによる表示部への接触態様としては、上記実施の形態等で説明したような複数点での接触態様（例えば両手を用いた場合等）だけでなく、例えば、１点のみでの接触態様（例えば片手のみを用いた場合等）の場合でも、本技術を適用することが可能である。ここで、そのような１点のみでの接触態様の場合でも、例えば、電子機器９として上記したノート型ＰＣに適用した場合のように、表示部１０が筺体に保持されている場合等には、実施の形態等で説明した応力勾配が生じることから、前述した解析処理を適用することが可能である。一方、表示部１０が筺体に保持されていない場合等には、上記した１点のみでの接触態様の場合に、実施の形態等で説明した応力勾配は生じないことから、応力勾配を利用せずに前述した解析処理を行うことになる。また、この接触態様としては、実施の形態等で説明したような応力検知以外の、他の検知態様（例えば、表示部の変形状態の検知など）を利用するようにしてもよい。

更に、上記実施の形態等では、画像処理装置（画像処理部）内で実行される強調処理として、前述した立体感強調処理が少なくとも含まれている場合を例に挙げて説明したが、これには限られず、例えば、そのような強調処理として立体感強調処理が含まれていないようにしてもよい。すなわち、そのような強調処理として、例えば、前述した立体感強調処理およびコントラスト強調処理（前述した輝度コントラストおよび彩度コントラストのうちの少なくとも一方の強調処理）のうちの少なくとも一方が含まれているようにしてもよい。また、更には、これらの強調処理には限られず、他の強調処理を画像処理装置（画像処理部）内で実行するようにしてもよい。

加えて、解析部における解析処理としても、上記実施の形態等で説明した手法には限られず、他の手法を用いて解析処理を行うようにしてもよい。また、実施の形態等では、この解析部が画像処理装置内に設けられている場合を例に挙げて説明したが、これには限られず、例えば、解析部が画像処理装置の外部（他の装置内）に設けられているようにしてもよい。

更に、これまでに説明した各種の例を、任意の組み合わせで適用させるようにしてもよい。

なお、本明細書中に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものではなく、また、他の効果があってもよい。

また、本技術は以下のような構成を取ることも可能である。
（１）
ユーザによる表示部への接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部を備え、
前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
画像処理装置。
（２）
前記強調処理が、前記画像信号により表現される画像における立体感、輝度コントラストおよび彩度コントラストのうちの少なくとも１つを、前記接触態様に連動して強調する処理である
上記（１）に記載の画像処理装置。
（３）
前記強調処理として、前記立体感を強調する処理を少なくとも含んでおり、
前記画像処理部は、前記立体感を強調する処理に伴う前記画像の解像度低下を補正する処理を、更に実行する
上記（２）に記載の画像処理装置。
（４）
前記画像処理部は、前記表示部への接触に起因して前記表示部で発生する応力の検知結果を利用して、前記強調処理を行う
上記（１）ないし（３）のいずれかに記載の画像処理装置。
（５）
応力センサにより検知された応力に基づき、前記接触態様の検知結果を解析して前記画像処理部へ出力する解析部を更に備えた
上記（４）に記載の画像処理装置。
（６）
前記解析部は、
前記応力センサにより検知された応力に基づいて、前記表示部での応力分布を生成すると共に、
生成された前記応力分布に基づき、前記接触態様の検知結果としての、前記接触態様の種別および接触強度をそれぞれ解析して、前記画像処理部へ出力する
上記（５）に記載の画像処理装置。
（７）
前記解析部は、
前記応力分布に基づいて、前記表示部における前記ユーザの接触位置と、前記接触強度と、前記表示部における応力勾配とをそれぞれ求めると共に、
前記接触位置および前記応力勾配に基づいて、前記接触態様の種別を求める
上記（６）に記載の画像処理装置。
（８）
前記解析部は、
前記応力分布に基づいて、前記応力分布における極大値の座標および極大値の大きさと、前記表示部における応力の低周波成分分布とをそれぞれ求めると共に、
前記極大値の座標に基づいて前記接触位置を求め、
前記極大値の大きさに基づいて前記接触強度を求め、
前記極大値の座標と前記応力の低周波成分分布とに基づいて、前記応力勾配を求める
上記（７）に記載の画像処理装置。
（９）
表示部と、
ユーザによる前記表示部への接触態様を検知する検知部と、
前記検知部による前記接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部と
を備え、
前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
表示装置。
（１０）
前記画像処理部は、前記表示部への接触に起因して前記表示部で発生する応力の検知結果を利用して、前記強調処理を行う
上記（９）に記載の表示装置。
（１１）
前記検知部は、
前記表示部で発生する応力を検知する応力センサと、
前記応力センサにより検知された応力に基づき、前記接触態様の検知結果を解析して前記画像処理部へ出力する解析部と
を有する
上記（１０）に記載の表示装置。
（１２）
前記表示部は、可撓性を有する
上記（９）ないし（１１）のいずれかに記載の表示装置。
（１３）
表示装置を備え、
前記表示装置は、
表示部と、
ユーザによる前記表示部への接触態様を検知する検知部と、
前記検知部による前記接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部と
を有し、
前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
電子機器。

１…表示装置、１０…表示部（可撓性表示部）、１１…応力センサ、１２…画像処理装置、１２１，１２１−１，１２１−２，１２１−３…画像処理部、１２１Ａ…立体感強調処理部、１２１Ｂ…精細度補正部、１２１Ｃ…コントラスト強調処理部、１２２…解析部、１２２Ａ…応力分布生成部、１２２Ｂ…極大値算出部、１２２Ｃ…低周波成分分布生成部、１２２Ｄ…接触位置検出部、１２２Ｅ…接触強度判定部、１２２Ｆ…応力勾配算出部、１２２Ｇ…種別判定部、９…電子機器、９０…機能部、Ｓｇin，Ｓｇ１，Ｓｇ２，Ｓｇ３（Ｓｇout）…画像信号、Ｄｓ…応力、Ｄｃ…接触態様の検知結果、Ｄｃ１…接触態様の種別、Ｄｃ２…接触強度、Ｄ０…応力分布、Ｄ１…極大値分布、Ｍｓ…極大値の大きさ、Ｍｐ…極大値の座標、ＤＬ…低周波成分分布、Ｐｃ…接触位置、Ｇｓ…応力勾配、Ｌｖ，Ｌｖ１，Ｌｖ２，Ｌｈ，Ｌｈ１，Ｌｈ２，Ｌｄ１，Ｌｄ２，Ｌｄ３…勾配算出ライン。

Claims (13)

1. ユーザによる表示部への接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部を備え、
   前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
   画像処理装置。
2. 前記強調処理が、前記画像信号により表現される画像における立体感、輝度コントラストおよび彩度コントラストのうちの少なくとも１つを、前記接触態様に連動して強調する処理である
   請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記強調処理として、前記立体感を強調する処理を少なくとも含んでおり、
   前記画像処理部は、前記立体感を強調する処理に伴う前記画像の解像度低下を補正する処理を、更に実行する
   請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記画像処理部は、前記表示部への接触に起因して前記表示部で発生する応力の検知結果を利用して、前記強調処理を行う
   請求項１に記載の画像処理装置。
5. 応力センサにより検知された応力に基づき、前記接触態様の検知結果を解析して前記画像処理部へ出力する解析部を更に備えた
   請求項４に記載の画像処理装置。
6. 前記解析部は、
   前記応力センサにより検知された応力に基づいて、前記表示部での応力分布を生成すると共に、
   生成された前記応力分布に基づき、前記接触態様の検知結果としての、前記接触態様の種別および接触強度をそれぞれ解析して、前記画像処理部へ出力する
   請求項５に記載の画像処理装置。
7. 前記解析部は、
   前記応力分布に基づいて、前記表示部における前記ユーザの接触位置と、前記接触強度と、前記表示部における応力勾配とをそれぞれ求めると共に、
   前記接触位置および前記応力勾配に基づいて、前記接触態様の種別を求める
   請求項６に記載の画像処理装置。
8. 前記解析部は、
   前記応力分布に基づいて、前記応力分布における極大値の座標および極大値の大きさと、前記表示部における応力の低周波成分分布とをそれぞれ求めると共に、
   前記極大値の座標に基づいて前記接触位置を求め、
   前記極大値の大きさに基づいて前記接触強度を求め、
   前記極大値の座標と前記応力の低周波成分分布とに基づいて、前記応力勾配を求める
   請求項７に記載の画像処理装置。
9. 表示部と、
   ユーザによる前記表示部への接触態様を検知する検知部と、
   前記検知部による前記接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部と
   を備え、
   前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
   表示装置。
10. 前記画像処理部は、前記表示部への接触に起因して前記表示部で発生する応力の検知結果を利用して、前記強調処理を行う
    請求項９に記載の表示装置。
11. 前記検知部は、
    前記表示部で発生する応力を検知する応力センサと、
    前記応力センサにより検知された応力に基づき、前記接触態様の検知結果を解析して前記画像処理部へ出力する解析部と
    を有する
    請求項１０に記載の表示装置。
12. 前記表示部は、可撓性を有する
    請求項９に記載の表示装置。
13. 表示装置を備え、
    前記表示装置は、
    表示部と、
    ユーザによる前記表示部への接触態様を検知する検知部と、
    前記検知部による前記接触態様の検知結果に基づいて、画像信号に対する画像処理を行う画像処理部と
    を有し、
    前記画像処理部は、前記画像処理として、前記接触態様に連動した前記画像信号の強調処理を行う
    電子機器。

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