JP6490241B1 - レーザ光のビームプロファイル測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、レーザ光の二次元光強度分布を測定するビームプロファイル測定装置であって、レーザ光が入射する入射面と前記レーザ光が出射する出射面とを有する、板状またはブロック状の蛍光発生素子と、前記蛍光発生素子内で発生し前記出射面から出射する蛍光を、前記レーザ光から分離する光分離素子と、前記蛍光を受けるイメージ素子と、を含み、前記板状またはブロック状の蛍光発生素子は、当該蛍光発生素子の前記入射面に形成された第1の膜を含み、当該第1の膜は前記レーザ光の波長λ1を透過し前記蛍光の波長λ2を反射する反射率の波長特性を持つ。
1、21 蛍光板
2、22 支持体
1a、21a レーザ光の入射面
1b、21b 蛍光板と支持体との界面
S1 第1の膜
S2 第2の膜
S3 第3の膜
12、32 レーザ光
13、33 蛍光
3 45度プリズム
4 対物レンズ
5 減光フィルタ
6 バンドパスフィルタ
7 結像レンズ
8 イメージセンサ
1100 透明なブロック
1101 蛍光体
1102 界面
1103 レーザ光
1104 蛍光
1105 フィルタ
1106 カメラ
Claims (7)
- レーザ光の二次元プロファイルを測定するレーザ光のビームプロファイル測定装置であって、
レーザ光が入射する入射面と前記レーザ光が出射する出射面とを有する、板状またはブロック状の蛍光発生素子と、
前記蛍光発生素子内で発生し前記出射面から出射する蛍光を、前記レーザ光から分離する光分離素子と、
前記蛍光を受けるイメージ素子と、
を含み、
前記板状またはブロック状の蛍光発生素子は、当該蛍光発生素子の前記入射面に形成された第1の膜を含み、当該第1の膜は前記レーザ光の波長λ1を透過し前記蛍光の波長λ2を反射する反射率の波長特性を持ち、かつλ1<λ2なる関係を満たす、
レーザ光のビームプロファイル測定装置。 - 前記蛍光の波長λ2における前記第1の膜の反射率が70%以上である、請求項1に記載のレーザ光のビームプロファイル測定装置。
- 前記蛍光の波長λ2における前記第1の膜の反射率が90%以上である、請求項1に記載のレーザ光のビームプロファイル測定装置。
- 前記光分離素子は第2の膜を含み、当該第2の膜は前記蛍光の波長λ2を透過し前記レーザ光の波長λ1を反射する反射率の波長特性を持つ、請求項1に記載のレーザ光のビームプロファイル測定装置。
- 前記第1の膜はさらに、前記レーザ光の波長λ1及び前記蛍光の波長λ2の間のある波長λ0を反射する反射率の波長特性を持ち、前記第2の膜はさらに、前記波長λ0を反射する反射率の波長特性を持つ、請求項4に記載のレーザ光のビームプロファイル測定装置。
- 前記光分離素子は第3の膜を含み、当該第3の膜は前記蛍光の波長λ2を反射し前記レーザ光の波長λ1を透過する反射率の波長特性を持つ、請求項1に記載のレーザ光のビームプロファイル測定装置。
- 前記第1の膜はさらに、前記レーザ光の波長λ1及び前記蛍光の波長λ2の間のある波長λ0を反射する反射率の波長特性を持ち、前記第3の膜はさらに、前記波長λ0を透過する反射率の波長特性を持つ、請求項6に記載のレーザ光のビームプロファイル測定装置。
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