JP6488275B2 - 無線試験信号を用いて無線周波無線信号トランシーバを試験するためのシステム及び方法 - Google Patents
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Description
k(H)=||H||*||H−1||
Claims (18)
- 無線周波(RF)信号トランシーバ被試験デバイス(DUT)の無線試験を助けるシステムを含む装置であって、
外部領域から生じる電磁放射から内部領域を実質的に隔離した状態で前記内部領域及び前記外部領域を画定する構造体であって、前記内部領域は、
DUTを配置できるように構成される第1の内部位置、
前記第1の内部位置から離れた第2の内部位置、及び
前記第1の内部位置と前記第2の内部位置との間の画定容積の実質的に側方に配置される1つ以上のRF吸収材料
を含む、構造体と、
前記DUTに結合し、前記内部領域と前記外部領域との間で1つ以上の電気信号を伝達するための導電性信号経路と、
少なくとも部分的に前記第2の内部位置に配置され、複数の振幅及び位相制御RF試験信号を放射する複数のアンテナと、
前記導電性信号経路及び前記複数のアンテナに結合されたRF信号制御回路と
を含み、
前記RF信号制御回路は、前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号に関係して前記1つ以上の電気信号により伝達される前記DUTからの複数の信号データと、RF試験信号とに対し、
前記RF試験信号の振幅を前記複数の信号データに従って制御して振幅制御RF試験信号を与えること、
前記振幅制御RF試験信号を複製して複数の複製振幅制御RF試験信号を与えること、及び
前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えること
により応答する、装置。 - 前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相を反復的に制御することを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記第1の内部位置と前記第2の内部位置との間の前記画定容積が無線信号経路の少なくとも一部を画定し、
前記1つ以上のRF吸収材料が、前記放射される複数の振幅及び位相制御RF試験信号の前記画定容積内での反射を低減する、請求項1に記載の装置。 - 前記無線信号経路が、関連するRF信号経路損失を有し、
前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して、前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相を反復的に制御し、前記RF信号経路損失を減らすことを含む、請求項3に記載の装置。 - 前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相及び振幅を前記複数の信号データに従って制御して、前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相及び振幅を反復的に制御することを含む、請求項1に記載の装置。
- 前記第1の内部位置と前記第2の内部位置との間の前記画定容積が無線信号経路の少なくとも一部を画定し、
前記1つ以上のRF吸収材料が、前記放射される複数の振幅及び位相制御RF試験信号の前記画定容積内での反射を低減する、請求項1に記載の装置。 - 前記無線信号経路が、関連するRF信号経路損失を有し、
前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して、前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相及び振幅を反復的に制御し、前記RF信号経路損失を減らすことを含む、請求項6に記載の装置。 - 前記RF信号制御回路が、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相を制御することにより、前記複数の信号データに関係する第1の1つ以上の制御信号に応答するRF信号位相制御回路を含む、請求項1に記載の装置。
- 前記RF信号制御回路が、前記RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの振幅を制御することにより、前記複数の信号データに関係する第2の1つ以上の制御信号に応答するRF信号増幅回路を更に含む、請求項8に記載の装置。
- 無線周波(RF)多重入出力(MIMO)信号トランシーバ被試験デバイス(DUT)の無線試験を助ける方法であって、
外部領域から生じる電磁放射から内部領域を実質的に隔離した状態で前記内部領域及び前記外部領域を画定する構造体であって、前記内部領域は、
DUTを配置できるように構成される第1の内部位置、
前記第1の内部位置から離れた第2の内部位置、及び
前記第1の内部位置と前記第2の内部位置との間の画定容積の実質的に側方に配置される1つ以上のRF吸収材料
を含む構造体を設けるステップと、
前記DUTに結合し、前記内部領域と前記外部領域との間で1つ以上の電気信号を伝達するための導電性信号経路を設けるステップと、
少なくとも部分的に前記第2の内部位置に配置され、複数の振幅及び位相制御RF試験信号を放射する複数のアンテナを設けるステップと、
前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号に関係して前記1つ以上の電気信号により伝達される前記DUTからの複数の信号データと、RF試験信号とに対し、
前記RF試験信号の振幅を前記複数の信号データに従って制御して振幅制御RF試験信号を与えること、
前記振幅制御RF試験信号を複製して複数の複製振幅制御RF試験信号を与えること、及び
前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えること
により応答するステップと
を含む、方法。 - 前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して、前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相を反復的に制御することを含む、請求項10に記載の方法。
- 前記第1の内部位置と前記第2の内部位置との間の前記画定容積が無線信号経路の少なくとも一部を画定し、 前記1つ以上のRF吸収材料が、前記放射される複数の振幅及び位相制御RF試験信号の前記画定容積内での反射を低減する、請求項10に記載の方法。
- 前記無線信号経路が、関連するRF信号経路損失を有し、
前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して、前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相を反復的に制御し、前記RF信号経路損失を減らすことを含む、請求項12に記載の方法。 - 前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相及び振幅を前記複数の信号データに従って制御して前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相及び振幅を反復的に制御することを含む、請求項10に記載の方法。
- 前記第1の内部位置と前記第2の内部位置との間の前記画定容積が無線信号経路の少なくとも一部を画定し、
前記1つ以上のRF吸収材料が、前記放射される複数の振幅及び位相制御RF試験信号の前記画定容積内での反射を低減する、請求項10に記載の方法。 - 前記無線信号経路が、関連するRF信号経路損失を有し、
前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して、前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相及び振幅を反復的に制御し、前記RF信号経路損失を減らすことを含む、請求項15に記載の方法。 - 前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの位相を前記複数の信号データに従って制御して、前記複数の振幅及び位相制御RF試験信号を与えることが、前記複数の複製振幅制御RF試験信号の少なくとも一部の前記それぞれの位相を制御することにより、前記複数の信号データに関係する第1の1つ以上の制御信号に応答することを含む、請求項10に記載の方法。
- 前記RF試験信号の少なくとも一部のそれぞれの振幅を制御することにより、前記複数の信号データに関係する第2の1つ以上の制御信号に応答するステップを更に含む、請求項17に記載の方法。
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