TWI632782B - 使用無線測試信號測試射頻無線信號收發器之系統及方法 - Google Patents

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Abstract

一種用於促進一射頻(RF)信號收發器受測裝置(DUT)進行無線測試之系統及方法。使用位於包含該受測裝置(DUT)的一屏蔽外殼內的多重天線，從該受測裝置(DUT)輻射出的射頻(RF)測試信號所產生的多重無線射頻(RF)測試信號可經捕捉，且使彼等之個別信號相位根據一或多種信號特徵受到控制，該一或多種信號特徵包括彼等之個別信號功率位準、彼等被接收時之個別信號相位、與所接收信號之一組合的一信號功率位準。該經捕捉之無線射頻(RF)測試信號的相位控制可針對位於該屏蔽外殼內的任何經測試之受測裝置(DUT)個別進行，藉此提供該屏蔽外殼內無關於該受測裝置(DUT)之置放的多路徑信號環境補償，並藉此於該受測裝置(DUT)的無線測試中模擬一有線測試信號路徑。

Description

使用無線測試信號測試射頻無線信號收發器之系統及方法
本發明係關於測試射頻(RF)無線信號收發器，且特別係關於測試該等裝置而無需使用載送RF測試信號之RF信號纜線。
相關申請案
本申請案為2013年3月15日所提出申請之美國專利申請第13/839,162號之部分延續案，標題為「使用無線測試信號測試射頻無線信號收發器之系統及方法(System and Method for Testing Radio Frequency Wireless Signal Transceivers Using Wireless Test Signals)」，以及本申請案為2013年3月15日所提出申請之美國專利申請第13/839,583號之部分延續案，標題為「使用無線測試信號測試射頻無線信號收發器之系統及方法(System and Method for Testing Radio Frequency Wireless Signal Transceivers Using Wireless Test Signals)」，該二申請案之全部公開內容引用併入本申請以供參照。
許多現今的電子裝置使用無線技術作為連接及通訊這兩種目的。因為無線裝置發送以及接收電磁能量，且因為二或複數個無線裝置可能因其信號頻率及功率頻譜密度而干擾彼此的運作，這些裝置及其無線技術必須遵循各種無線技術標準規格。
當設計該等裝置時，工程師必須額外留意以確保該等裝置符合或優於其包含之無線技術指定遵守基於標準規格之每一者。再者，當這些裝置未來大量製造時，其會接受測試以確保製造瑕疵不會導致不適當的運作，包括其是否遵循該包含之無線技術基於標準之規格。
為了在這些裝置製造及組裝後對其進行測試，目前的無線裝置測試系統(「測試器」)利用一子系統來分析接收自各裝置之信號。該等子系統通常至少包括一向量信號產生器(VSG)，其用於提供待傳輸至該裝置之來源信號，以及一向量信號分析器(VSA)，其用於分析由該裝置所產生之信號。由VSG產生的信號以及由VSA執行的分析通常係可程式設計的，如此可使用不同頻率範圍、頻寬以及信號調變特性之各信號來測試各種裝置是否遵循各種無線技術標準。
受測裝置(DUT)之校準及效能檢定測試通常係使用導電信號路徑(諸如纜線)來進行，而非使用DUT與測試器藉以經由電磁輻射通信的無線信號路徑。據此，於測試器與DUT之間信號係經由該導電信號路徑載送，而非透過周遭的空間向外輻射。使用該等導電信號路徑有助於確保量測之可重複性及一致性，並且排除信號載送(傳輸及接收)中需要考量DUT之定位與定向。
對於一多輸入多輸出(MIMO)DUT，該受測裝置(DUT)之各輸入/輸出必須提供一某種型式的信號路徑。舉例而言，對於意欲使用三個天線操作的MIMO裝置，必須提供用於測試之三個導電信號路徑，例如，纜線及連接。
但是，由於需要實體地連接及拆接該受測裝置(DUT)及測試 器之間的纜線，所以使用導電信號路徑顯著地影響各DUT所需的測試時間。而且，對於一MIMO DUT，在開始測試及終止測試時皆需要進行多次的連接及拆接動作。而且，由於在測試期間被載送的信號不是經由周遭的空間輻射(該信號通常採用的方式)，並且在該等測試期間未使用該受測裝置(DUT)之天線總成，所以該等測試未模擬真實世界的操作，並且該測試結果未反映任何屬於天線的效能特性。
作為替代方案，可使用經由電磁輻射而非經由纜線傳導所載送之測試信號進行測試。該方式具有不需要連接及拆接測試纜線的優點，從而縮短相關於連接及拆接之測試時間。但是，由於源自於其他地方及散佈於周遭空間的電磁信號，所以有輻射信號及接收器天線存在的「頻道」(即，藉以輻射及接收測試信號的周遭空間)原本就易受到信號干擾及錯誤。該受測裝置(DUT)天線會接收該等信號以及可能因信號反射而包含來自各干擾信號源的多路徑信號。據此，與使用個別的導電信號路徑(例如，用於各天線連接的纜線)相比較，該「頻道」之「條件」通常不佳。
一種防止或至少顯著地減小來自該等外來信號之干擾的方法為使用一屏蔽外殼來隔離該受測裝置(DUT)及測試器的輻射信號介面。但是，該等外殼典型地無法產生可相比的測量準確度及可重複性。此特別會發生在外殼小於最小無回波室。此外，該等外殼傾向於對該受測裝置(DUT)之定位與定向敏感，並且亦對該等外殼內產生的多路徑信號之建設性干擾及破壞性干擾敏感。
據此，希望具有用於測試無線信號收發器(特別地為無線MIMO信號收發器)之系統及方法，其中可使用輻射電磁測試信號，藉此模 擬真實世界系統操作並且避免連接及拆接測試纜線所需的測試時間，同時藉由避免歸因於外部產生之信號及多路徑信號效應所致的干擾信號而維持測試可重複性及準確度。
根據本申請發明，其提供一種用於促進一射頻(RF)信號收發 器受測裝置(DUT)進行無線測試之系統及方法。使用位於包含該受測裝置(DUT)的一屏蔽外殼內的多重天線，從該受測裝置(DUT)輻射出的射頻(RF)測試信號所產生的多重無線射頻(RF)測試信號可經捕捉，且使彼等之個別信號相位根據一或多種信號特徵受到控制，該一或多種信號特徵包括彼等之個別信號功率位準、彼等被接收時之個別信號相位、與所接收信號之一組合的一信號功率位準。該經捕捉之無線射頻(RF)測試信號的相位控制可針對位於該屏蔽外殼內的任何經測試之受測裝置(DUT)個別進行，藉此提供該屏蔽外殼內無關於該受測裝置(DUT)之置放的多路徑信號環境補償，並藉此於該受測裝置(DUT)的無線測試中模擬一有線測試信號路徑。
根據本申請發明的一實施例，一種促進一射頻(RF)信號收發器受測裝置(DUT)進行無線測試的系統包括：一結構，其界定內部區域與外部區域並且經組態用以允許置放一受測裝置(DUT)於該內部區域內並實質上隔離源自該外部區域之電磁輻射；至少部分地安置於該內部區域內的複數個天線，以接收與該受測裝置(DUT)所輻射出的一公共射頻(RF)測試信號相關的至少一複數個無線射頻(RF)測試信號；以及射頻(RF)信號控制電路，其連接到該複數個天線並藉由下列方式響應該 至少一複數個無線射頻(RF)測試信號：根據一或多個相位控制信號，控制至少一部份該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號的個別相位，以提供至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以及測量與結合該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以提供該一或多個相位控制信號與相關於該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號之一組合的一射頻(RF)輸出信號。
根據本申請發明的另一實施例，一種促進一射頻(RF)信號收發器受測裝置(DUT)進行無線測試的方法包括：提供一結構，該結構界定內部區域與外部區域並且經組態用以允許置放一受測裝置(DUT)於該內部區域內並實質上隔離源自該外部區域之電磁輻射；提供至少部分地安置於該內部區域內的複數個天線，以接收與該受測裝置(DUT)所輻射出的一公共射頻(RF)測試信號相關的至少一複數個無線射頻(RF)測試信號；以及藉由下列方式響應該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號：根據一或多個相位控制信號，控制至少一部份該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號的個別相位，以提供至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以及測量與結合該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以提供該一或多個相位控制信號與相關於該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號之一組合的一射頻(RF)輸出信號。
10‧‧‧控制器
11a,11b‧‧‧有線信號介面
20‧‧‧對角矩陣
20a‧‧‧矩陣
22‧‧‧對角
24a,24b‧‧‧交叉-耦合係數
100‧‧‧測試器
100a‧‧‧測試器
102‧‧‧天線
102a,102b,102n‧‧‧測試器天線
102aa,102ab,102am,102ba,102bm‧‧‧天線元件
103a‧‧‧射頻(RF)測試信號
103ai‧‧‧主入射信號分量
103aa,103ab,103am,103bb,103ba‧‧‧信號
103br,103cr‧‧‧反射信號分量
104‧‧‧導電信號連接器
104a,104b,104n‧‧‧測試器連接器
105a,105b,105n‧‧‧測試信號
106‧‧‧射頻(RF)同軸纜線
106a,106b,106n‧‧‧測試纜線
107‧‧‧測試連接
107a‧‧‧頻道
110,110a,110b,110n‧‧‧信號源
111,111a,111b,111n‧‧‧射頻(RF)測試信號
130,130a,130b‧‧‧射頻(RF)信號控制電路
131aa,131ab,131am‧‧‧射頻(RF)測試信號
132‧‧‧信號大小控制電路
133‧‧‧測試信號
135a,135b,135m‧‧‧射頻(RF)測試信號
136,136a,136b,136m‧‧‧相位控制電路
137,138‧‧‧控制電路
139a,139b,139m‧‧‧控制信號
150‧‧‧射頻(RF)信號控制電路
152‧‧‧電路
152a,152b‧‧‧相位控制元件
155a‧‧‧回饋信號
155b‧‧‧信號
200,200a‧‧‧受測裝置(DUT)
201a,201aa‧‧‧回體資料
202,202a,202b,202n‧‧‧天線
203‧‧‧輻射電磁信號/信號
203a‧‧‧受測裝置(DUT)信號
203b,203c‧‧‧信號分量
203br,203cr‧‧‧反射信號分量
203ai‧‧‧主入射信號分量
203i‧‧‧入射信號分量
203r‧‧‧反射信號分量
204‧‧‧導電信號連接器
204a,204b,204n‧‧‧受測裝置(DUT)連接器
207ap,207bp‧‧‧相位控制信號
210,210a,210b,210n‧‧‧射頻(RF)信號接收器
211‧‧‧傳達測試信號
211a,211b,211n‧‧‧射頻(RF)測試信號
300,300b‧‧‧屏蔽外殼
301‧‧‧內部
301a,301b‧‧‧內部區域
301d‧‧‧端面
302,304,306‧‧‧內部表面
320‧‧‧射頻(RF)吸收劑材料
232,232a,232b‧‧‧控制信號增益級
234‧‧‧信號結合電路
235‧‧‧複合測試信號
235a,235b‧‧‧天線陣列
236a,236b,236c,236d,236e,236g,236h,236i,236j,236k,236l,236m,236n,236o,236p‧‧‧相位控制電路
237a,237b,237n‧‧‧相位-受控測試信號
242‧‧‧控制系統
242b‧‧‧控制電路
242aa,242ab,242an,243aa,243ab,243an‧‧‧功率測量信號
242ca,242cb,242cn‧‧‧相位偵測器
242d‧‧‧控制電路
243a,243b,243n‧‧‧功率測量信號
243ba,243bb,243bn‧‧‧相位控制信號
243ca,243cb,243cn‧‧‧相位資料
243da,243dn,243db‧‧‧相位控制信號
244‧‧‧替代下游控制系統
244a‧‧‧功率測量電路
244b‧‧‧控制電路
245a,245b,245n,245ba,245bb,245bn‧‧‧相位控制信號
410,420,430,440‧‧‧流程
411,412,413,414,415,416,417,418,421,422,423,424,425,426,427,431,432,433,434,435,441,442,443,444,445,446,447,448,449,450,451‧‧‧步驟
510‧‧‧擴大部分
511‧‧‧頻率頻帶
521‧‧‧上部分布圖
522,523‧‧‧響應分布圖
h11,h22,hnn‧‧‧頻道
h11,h12,h22,h21,h1n,h2n,hn1,hn2‧‧‧頻道
圖1描繪無線信號收發器的典型操作及可能的測試環境。
圖2描繪使用導電測試信號路徑之無線信號收發器測試環境。
圖3描繪使用導電信號路徑之MIMO無線信號收發器測試環境及該等測試環境之頻道模型。
圖4描繪使用輻射電磁信號之MIMO無線信號收發器測試環境及該等測試環境之頻道模型。
圖5描繪一依據例示性實施例之測試環境，於該測試環境中可使用輻射電磁測試信號測試MIMO DUT。
圖6描繪一測試環境，於此在屏蔽外殼內使用輻射電磁測試信號測試DUT。
圖7及圖8描繪測試環境之例示性實施例，於此於減小多路徑信號效應之屏蔽外殼內使用輻射電磁測試信號測試無線DUT。
圖9描繪於圖7及圖8之測試環境中使用之依據例示性實施例之屏蔽外殼之實體表示。
圖10描繪根據例示性實施例的一測試環境，其中可使用輻射電磁測試信號測試一受測裝置(DUT)。
圖11描繪根據例示性實施例的另一測試環境，其中可使用輻射電磁測試信號測試一受測裝置(DUT)。
圖12描繪使用圖11之該測試環境下，用於測試一受測裝置(DUT)的一例示性演算法。
圖13描繪根據例示性實施例另一測試環境，其中可使用輻射電磁測試信號測試一受測裝置(DUT)。
圖14描繪使用圖13之該測試環境下，用於測試一受測裝置(DUT)的一例示性演算法。
圖15描繪根據例示性實施例另一測試環境，其中可使用輻射電磁測試信號測試一受測裝置(DUT)。
圖16描繪使用圖15之該測試環境下，用於測試一受測裝置(DUT)的一例示性演算法。
圖17描繪根據例示性實施例由一受測裝置(DUT)於補償前傳送之在一經定義頻率範圍內之一測試信號。
圖18描繪根據例示性實施例於補償前與補償後圖17中的該掃瞄測試信號，以及圖10、11、13與15中之該測試環境的例示性相位位移值。
圖19描繪進行如圖18中所描述之補償的一例示性演算法。
圖20描繪根據例示性實施例用於測試使用多重測試信號相位位移進行補償之一無線受測裝置(DUT)的另一測試環境。
圖21描繪根據附加例示性實施例圖20中具有用於補償的附加測試信號增益調整的該測試環境。
下列係本發明之例示性實施例於參照附圖下的詳細說明。此 等說明意欲為說明性的而非限制本發明之範疇。該等實施例係以足夠細節予以說明使得本領域具通常知識者得以實施本發明，但應理解，可在不脫離本發明之精神及範疇的情況下，可以某些改變來實施其他實施例。
在本揭示各處，如無相反於本文的明確指示，可理解所描述 之各別電路元件在數目上可為單一的或是複數的。舉例而言，「電路」及「電路系統」一詞可包括一單一個元件或複數個元件，其可為主動的及/或被動的，且連接的或耦合的在一起(舉例而言，如同一或複數個積體電路晶片)來提供描述的功能。另外，「信號」可參照一或複數個電流、一或複數個電壓或資料信號。在圖式之中，類似的或相關的元件會有類似的或相關的字母、數字或文數字標誌符。再者，雖然已經討論使用離散電子電路系統(較佳地以一或複數個積體電路晶片的形式)的情況下實施本發明，惟取決於欲處理的信號頻率或資料率，可另外地使用一或複數個經適當編程的處理器實施該等電路系統之任一部分的功能。再者，於圖形圖解各種實施例之功能區塊圖的情況，該功能區塊不必然地標示硬體電路系統之間的區塊。
請參考圖1，一無線信號收發器之典型操作環境及理想測試 環境(至少就真實世界操作而論)具有無線通信之測試器100及受測裝置(DUT)200。典型地，亦將使用某種形式之測試控制器10(例如，個人電腦)，以經由有線信號介面11a、11b來與測試器100及受測裝置(DUT)200交換測試命令及資料。測試器100及受測裝置(DUT)200各具有一個(對於MIMO裝置，有多個)各自天線102、202，藉由導電信號連接器104、204(例如，同軸纜線連接，其許多類型係於本領域中所習知的)連接測試器100及受測裝置(DUT)200。測試信號(訊源及回應)係於測試器100與受測裝置(DUT)200之間經由天線102、202無線地載送。舉例而言，於受測裝置(DUT)200之傳輸(TX)測試期間，DUT天線202會輻射電磁信號203。取決於天線發射場型之方向性，此信號203會朝向許多的方向輻射，導致測試器天線102接收到 入射信號分量203i及反射信號分量203r。如上文所述，這些反射信號分量203r，通常為多路徑信號效應以及源自其他地方之電磁信號(圖中未繪示)的產物，導致建設性干擾及破壞性信號干擾，因而妨礙可靠的及可重複的信號接收及測試結果。
請參考圖2，為避免該等不可靠測試結果，使用導電信號路 徑(諸如RF同軸纜線106)來連接測試器100及受測裝置(DUT)200之天線連接器104、204，以在測試器100與受測裝置(DUT)200之間提供一致的、可靠及可重複之導電信號路徑來載送測試信號。如上文所述，但是，在測試之前與之後連接及拆接纜線106所需的時間會延長整體的測試時間。
請參考圖3，當測試MIMO受測裝置(DUT)200a的時候，用 於連接及拆接測試纜線之額外測試時間甚至變得更長。在該等情況中，需要多個測試纜線106來連接相對應之測試器104及受測裝置(DUT)204連接器，使得能夠載送來自測試器100a之RF信號源110(例如，VSG)的RF測試信號，以由受測裝置(DUT)200a內之RF信號接收器210予以接收。舉例而言，在典型測試環境中，用於測試MIMO裝置之測試器將具有一或多個VSG110a、110b、…、110n，用以提供相對應之一或多個RF測試信號111a、111b、…、111n(例如，具有可變信號功率、封包內容及資料速率之封包資料信號)。經由各自測試器連接器104a、104b、…、104n及DUT連接器204a、204b、…、204n連接之該等相對應之測試纜線106a、106b、…、106n載送這些信號，以便將接收的RF測試信號211a、211b、…、211n提供予在受測裝置(DUT)200a內之相對應之RF信號接收器210a、210b、…、210n。據此，連接及拆接這些測試纜線106所需之額外測試時間可增加n倍，此n倍對應 於測試纜線106之數目。
如上文所述，使用連接測試器100a及受測裝置(DUT)200a 之測試纜線確實具有提供一致、可靠及可重複測試連接之優點。如熟悉該技藝者所習知，該些測試連接107可模擬為一信號頻道H，其特徵在於一對角矩陣20，其中該對角矩陣元素22係對應於針對該個別信號頻道特性(例如，該個別測試纜線106的信號路徑傳導性或損耗)之直接-耦合係數h11，h22，…，hnn(hij，其中i=j)。
請參考圖4，依據一或多項例示性實施例，由測試器100a 與受測裝置(DUT)200a之間對應於無線信號介面106a之無線頻道107a取代導電(或有線的)頻道107(圖3)。如上文所述，測試器100a及受測裝置(DUT)200a經由各自天線102、202陣列傳達測試信號111、211。此類型測試環境中，不使用一對角矩陣20代表該信號頻道107a，而使用具有一或多個非零交叉-耦合係數24a、24b(hij，其中i≠j)除去該對角22的一矩陣20a來代表該信號頻道107a。本領域中習此項技術者將易於明白，此係歸因於頻道107a中有多個可用的無線信號路徑。舉例而言，不同於纜線信號環境，於此理想上各DUT連接器204僅接收來自其相對應之測試器連接器104的信號。 在此無線頻道107a中，第一DUT天線202a接收由所有測試器天線102a、102b、…、102n輻射之測試信號，例如，對應於頻道矩陣H係數h11、h12、…、及h1n。
依據習知的原理，頻道矩陣H之係數h對應於頻道107a之 特性，該特性影響RF測試信號之傳輸及接收。這些係數h聯合地界定頻道條件數k(H)，其為H矩陣之範數與H之反矩陣之範數的乘積，如以下方程 式所表示：k(H)=||H||*||H-1||
影響這些係數的因素會改變頻道條件數，從而也會影響測量的誤差。舉例而言，在條件不佳之頻道中，小誤差可在測試結果中造成大誤差。在頻道數低的情況中，該頻道中的小誤差可在接收(RX)天線產生小測量誤差。但是，在頻道數高的情況中，該頻道中的小誤差可在接收天線產生大測量誤差。此頻道條件數k(H)亦對實體DUT在其測試環境(例如，屏蔽外殼)內之定位與定向及其各種天線204之定向敏感。據此，即使沒有源自其他地方或經由反射再入射接收天線204的外來干擾信號，可重複精確測試結果的可能性仍然很低。
請參考圖5，依據一或多項例示性實施例，測試器100a與受測裝置(DUT)200a之間的測試信號介面可為無線。受測裝置(DUT)200a被安置在屏蔽外殼300之內部301內。該等屏蔽外殼300可實作為金屬外殼，例如，其建構或至少效力方面類似於法拉第籠(Faraday cage)。此使受測裝置(DUT)200a隔離於源自於外殼300之外部區域302的輻射信號。依據例示性實施例，外殼300之幾何形狀使得其作用為一封閉式波導。
在別處，例如，在外殼300之內部表面302內或在其對面上安置多個(n)天線陣列102a、102b、…、102n，該天線陣列之各者輻射源自於測試器100a內之測試信號源110a、110b、…、110n的多個相位受控RF測試信號103a、103b、…、103n(於下文中更詳細論述)。各天線陣列包含多 個(M)天線元件。舉例而言，第一天線陣列102a包含m個天線元件102aa、102ab、…、102am。由各自RF信號控制電路130a提供的各自相位受控RF測試信號131aa、131ab、…、131am驅動這些天線元件102aa、102ab、…、102am之各者。
如第一RF信號控制電路130a之實例中所描述，藉由信號大 小(signal magnitude)控制電路132增加(例如，放大)或減小(例如，衰減)來自第一RF測試信號源110a之RF測試信號111a的大小。藉由信號複製電路134(例如，信號除法器)複製經大小控制的測試信號133。藉由各自相位控制電路136a、136b、…、136m相位控制(例如，移位)經大小控制與複製的RF測試信號135a、135b、…、135m之各自信號，以產生大小及相位受控信號131aa、131ab、…、131am來驅動天線陣列102a之天線元件102aa、102ab、…、102am。
藉由相對應之RF信號控制電路130b、…、130m以類似方 式驅動其餘天線陣列102b、…、102n及其各自天線元件。此產生相對應數目之複合輻射信號103a、103b、…、103n，依據頻道矩陣H，藉由受測裝置(DUT)200a之天線202a、202b、…、202n予以載送及接收，如上文所述。 受測裝置(DUT)200a處理其相對應之接收測試信號211a、211b、…、211m並且提供指示這些經接收信號之特性(例如，大小、相對相位等)的一或多個回饋信號201。這些回饋信號201a被提供至RF信號控制電路130內的控制電路138。此控制電路138提供用於大小控制電路132及相位控制電路136的控制信號137、139a、139b、…、139m。據此，提供一閉路控制路徑，從而增益及相位控制來自測試器100a之輻射信號，使受測裝置(DUT)200a能 接收該信號。(替代地，可包含此控制電路130作為測試器100a之部件)。
依據習知的頻道最佳化技術，控制電路138使用來自受測裝 置(DUT)200a的回饋資料201a，以類似於最小化頻道條件數k(H)的方式改變輻射信號之大小及相位，達成最佳頻道條件並且產生如各DUT天線202處測得之具有約相等大小之經接收信號。此將建置一通信頻道，透過此通信頻道，輻射信號產生的測試結果實質上匹敵使用導電信號路徑(例如，RF信號纜線)產生的測試結果。
在相繼的傳輸及頻道條件回饋事件後，藉由RF信號控制電 路130之控制電路138的此操作將改變各天線陣列102a、102b、…、102n之信號大小及相位，以反覆達成最佳化的頻道條件數k(H)。一旦已達成該等最佳化的頻道條件數k(H)，可保留相對應之大小及相位設定，並且測試器100a及受測裝置(DUT)200a可繼續進行之後的測試序列，如同在纜線測試環境進行一樣。
實務上，將一參考DUT安置在屏蔽外殼300內的一測試夾 具，用於在透過上文所述之反覆程序最佳化頻道條件中使用。之後，可相繼測試相同設計之進一步DUT，而不需要在所有例項中執行頻道最佳化，此係因為外殼300之控制的頻道環境中遇到的路徑損失應妥善在正常測試容限內。
仍參考圖5，舉例而言，模型化最初傳輸，以產生頻道條件 數13.8db，並且h11及h22係數的大小分別為-28db及-28.5db。頻道H之大小矩陣將表示為如下：
反覆調整大小及相位後，如上文所述，頻道條件數k(H)減小至2.27db，並且h11及h22係數的大小分別為-0.12db及-0.18db，而產生如下頻道大小矩陣：
這些結果可茲匹敵於使用纜線測試環境的結果，從而指示此無線測試環境可提供可茲相匹敵的準確度。剔除連接及拆接纜線信號路徑的時間，以及將大小及相位調整的縮短時間列入因素，整體接收信號測試時間顯著地縮短。
請參考圖6，可更佳瞭解多路徑信號效應對頻道條件的影響。如上文所述，一旦將受測裝置(DUT)200a安置在外殼300之內部301內，受測裝置(DUT)200a會於傳輸測試期間自各天線202a輻射電磁信號203a。此信號203a包含外向且遠離測試器100a之天線102a輻射的分量203b、203c。但是，這些信號分量203b、203c反射離開外殼300之內部表面304、306，並且作為反射信號分量203br、203cr入射，而根據多路徑信號條件來與主入射信號分量203ai進行建設性或破壞性的組合。如上文所述，取決於干擾之建設性及破壞性本質，對於用在適當校準及效能檢定中測試結果將 通常傾向於不可靠且不準確。
請參考圖7，依據一例示性實施例，RF吸收劑材料320a、 320b安置在反射表面304、306處。結果，反射信號分量203br、203cr顯著衰減，從而對主入射信號分量203ai產生較少的建設性或破壞性干擾。
可包含額外RF信號控制電路150以在天線陣列102a與測試 器100a之間使用，該天線陣列102a係安裝在外殼300a之內部301內或內部表面302之上。(替代地，可包含此額外控制電路150作為測試器100a之部件)。入射至天線元件102aa、102ab、…、102am的輻射信號產生經接收的信號103aa、103ab、…、103am，其中由相位控制電路152控制(例如，移位)各自信號相位，該相位控制電路152係依據控制系統156提供的一或多個相位控制信號157a、157b、…、157m控制相位控制元件152a、152b、…、152m。 於信號組合器154中將所得相位受控信號153組合，以便將接收的信號155a提供測試器100a且將一回饋信號155b提供控制系統156。控制系統156，其為閉路控制網路之一部份，處理此回饋信號155b，以便視需要調整複合接收信號103aa、103ab、…、103am之各自相位來最小化相關於外殼300a內部區域301之表觀信號路徑損失。在外殼300a內變更受測裝置(DUT)200a之定位與定向情況中，此閉路控制網路亦允許系統重新組態由這些天線102a及相位控制電路152啟用之相位式陣列。結果，使用此回饋迴路最小化路徑損失後，可達成在外殼300a內使用輻射信號環境準確且可重複地載送DUT信號203a至測試器100a。
請參考圖8，可針對DUT接收信號測試達成產生準確且可 重複測試結果的類似控制及改進。在此情況中，藉由信號組合器/分離器154 複製由測試器100a提供的測試信號111a，並且若需要，在由天線元件102aa、102ab、…、102am輻射之前，由相位控制電路152調整複製的測試信號153之各自相位。如同前述情況中，反射信號分量103br、103cr顯著衰減，從而對主入射信號分量103ai製造較少的建設性或破壞性干擾。來自受測裝置(DUT)200a的一或多個回饋信號203a提供用於控制複製的測試信號153之相位所需的資訊給控制系統156，以最小化相關於外殼300a內部301的表觀信號路徑損失，從而建立一致且可重複信號路徑損失的條件。
請參考圖9，依據一或多項例示性實施例，可實質上如所示 實作屏蔽外殼300b。如上文所述，DUT可定位在外殼300b之內部301之一端面301d、其為內部區域301b之對面，該內部區域301b包含或面對測試器天線陣列102a、102b、…、102n所在之內部表面302(圖5)。位於其間為一內部區域301a，其係由RF吸收劑材料320環繞所構成之波導腔室。
如上所述與下述細節，根據本發明系統與方法的例示性實施 例可實現無線受測裝置(DUT)的無纜線測試同時進行多路徑效果補償與最佳化信號路徑損耗控制。多重天線，以及天線陣列，配合控制系統可用於調整提供給該天線元件之該測試信號的該相位，該方式模仿(emulate)普遍與一傳導信號路徑環境相關之該穩定與可重複之信號路徑損耗環境，同時使用一屏蔽外殼內的一輻射信號環境。同時該用於調整該移相器的所需時間屬於該整體所有測試時間的一部份，此調整時間顯著小於用於連接與拆卸測試纜線所需時間，以及可提供包括該天線元件的真實世界測試的附加利益。
更者，如上所述與下述進一步細節，本發明例示性實施例提 供使用具有一寬頻帶寬度之信號(例如電機電子工程學(IEEE)標準802.11ac中所述的160兆赫(MHz)寬信號)之無線受測裝置(DUT)的無纜線測試，同時可達成與使用傳導信號路徑(例如測試纜線)測試等量的測試準確性與測量可重複性。藉由調整提供給該天線元件的該測試信號之相位，該屏蔽測試外殼內所接收的該寬頻帶信號可產生一實質平坦的信號響應。一旦驅動該個別天線元件之個別測試信號相位被調整以產生此一平坦信號響應環境，使用該寬頻帶信號的該測試可直接進行無需經過進一步調整，如同於有纜線的測試環境中進行一般。雖然該屏蔽外殼內的該受測裝置(DUT)之位置可影響該頻道響應的平坦性，此位置敏感性介於信號標準(例如，IEEE 802.11ac)中所述的該測量允許誤差以內。
更甚者，根據例示性實施例，該同一屏蔽外殼內的多重受測 裝置(DUT)可同時進行此無纜線測試。藉由適當控制與調整驅動該多重天線元件之測試信號的相位與大小，可使用一屏蔽外殼內的一輻射測試信號環境以模仿傳導信號路徑的低串音干擾信號環境。一旦驅動該天線元件的該測試信號之相位與增益(或衰減)根據該例示性實施例被調整後，該多重受測裝置(DUT)之天線所接收的信號將與使用纜線信號路徑所接收的信號等量。例如，此可藉由最大化該頻道矩陣的直接-耦合係數同時最小化該頻道矩陣的交叉-耦合係數(例如，產生該直接-與交叉-耦合係數之間至少10分貝的差值)達成。
參考圖10，根據例示性實施例，一受測裝置(DUT)200a係 位於該屏蔽外殼300內用於傳送信號測試。經由該受測裝置(DUT)之天線202a所傳送的測試信號203a，係由多重天線元件102a，102b，…，102n接 收。所產生之接收信號105a、105b、…、105n的個別信號相位，係由個別相位控制電路236a，236b，…，236n控制與調整。
根據一些例示性實施例，所產生之相位受控測試信號237a、 237b、…、237n被送達到一控制系統242(進一步詳述於以下)與信號結合電路234。該控制系統242提供相位控制信號243a、243b、…、243n給相位控制電路236a、236b、…、236n。該結合(例如，加總)之相位受控測試信號237a、237b、…、237n產生用於下游分析例如，VSA(圖未示)的一複合測試信號235。
根據其他實施例，相位受控測試信號237a、237b、…、237n 係於信號結合器234中結合以產生複合測試信號235。該複合測試信號235被送達到一替代控制系統244(進一步詳述於以下)，其隨後提供相位控制信號245a、245b、…、245n給相位控制電路236a、236b、…、236n。
參考圖11，根據一例示性實施例，線上控制系統242包括 用於測量相位受控測試信號237a、237b、…、237n的個別功率位準之功率測量電路242aa、242ab、…、242an。所產生之指示個別測試信號功率位準之功率測量信號243aa、243ab、…、243an，係提供給控制電路242b(例如為數位信號處理器(DSP)形式)，其隨後提供適當相位控制信號243ba、243bb、…、243bn給相位控制電路236a、236b、…、236n。
參考圖12，根據一例示性實施例，圖11中該測試環境的操 作方式410可如顯示進行。第一，於步驟411中初始化該移相器236a、236b、…、236n，例如設定所有相位位移值為一相同參考相位值或個別參考相位值。接著，於步驟412中測量相位受控信號237a、237b、…、237n的 功率位準。接著，於步驟413中加總該測量功率值，於步驟414中比較該累計測量信號功率與一先前累計測量信號功率。於步驟415中，若該目前累計測量功率高於該先前累計測量功率，則儲存該目前相位位移值與累計測量功率，而後，於步驟416中比較該些儲存值與該期望準則(例如，一最大化累計測量功率)。於步驟417中，若滿足此準則，則停止調整該測試信號相位。若否，則繼續調整該測試信號相位。
同樣地，在步驟414中，若該目前累計測量功率不高於該先 前累計測量功率，則繼續調整該測試信號。因此，於步驟418中，移相器236a、236b、…、236n係根據例如一基因演算法(GA)或一粒子群聚演算法(PSA)調整，以給予接收測試信號105a、105b、…、105n另一個相位位移值的組合或排列。該步驟後，重複功率的測量412、加總413與比較414，直到滿足該期望準則。
參考圖13，根據另一例示性實施例，該替代下游控制系統 244(圖10)其包括功率測量電路244a(例如，一VSA)與控制電路244b(例如，一數位信號處理器(一DSP))。複合信號235的功率位準係由功率測量電路244a測量，以提供功率測量資料245a給控制電路244b。隨後，控制電路244b提供適當相位控制信號245ba、245bb、…、245bn給移相器236a、236b、…、236n。
參考圖14，如圖之13中該測試環境的操作方式420可如顯 示進行。第一，於步驟421中，藉由預先設定一或多個個別相位位移值以初始化移相器236a、236b、…、236n。接著，於步驟422中，測量複合信號235的功率位準，而後於步驟423中，比較該目前測量功率與一先前測量功 率位準。於步驟424中，若該目前測量功率位準高於該先前測量功率位準，則儲存該目前相位位移值與測量功率，並於步驟425中用於決定是否已滿足該期望準則(例如，一最大化測量功率位準)。於步驟426中，若滿足該期望準則，則停止調整相位。若不滿足該期望準則，則繼續調整相位。
同樣地，若該目前測量功率不高於該先前測量功率，則繼續 調整相位。因此，移相器236a、236b、…、236n係據一最佳化演算法(例如，一GA或PSA)調整，以給予接收測試信號105a、105b、…、105n另一組相位位移值。
參考圖15，根據另一個例示性實施例，該線上(in-line)系統 242(圖10)包括相位偵測電路242ca、242cb、…、242cn與控制電路242d(例如，一DSP)。相位偵測器242ca、242cb、…、242cn可偵測相位受控信號237a、237b、…、237n的個別信號相位，並提供對應的相位資料243ca、243cb、…、243cn給控制電路242d。根據此資料，控制電路242d提供適當相位控制信號243da、243db、…、243dn給移相器236a、236b、…、236n。
參考圖16，如圖15中之該測試環境的操作方式430可如顯 示進行。第一，於步驟431中，藉由給予一或多個個別相位位移值初始化移相器236a、236b…、236n。接著，於步驟432中，測量相位受控信號237a、237b、…237n的個別相位(例如，相對於一相同或參考信號相位)。
接著，根據該測量之測試信號相位，於步驟433中根據最佳 化相位位移值，配置移相器236a、236b…、236n的相位調整。該步驟後，於步驟434中，測量複合信號235的功率位準，以確認達到該期望複合信號功率位準，而後於步驟435中停止相位調整。
參考圖17，從恆定功率之受測裝置(DUT)200a的寬頻帶天 線202a輻射發出之例示性接收信號203，於屏蔽外殼300內(例如，圖6)具有介於700到6000MHz頻率範圍的良好響應，其實質如該圖所示。可清楚理解到，基於屏蔽外殼300內富有多路徑信號環境，其功率分布圖並不平坦。以根據IEEE標準802.11ac進行通訊的封包資料信號為例，特別重點為介於5000到5160MHz之間的160MHz的寬頻率頻帶。如圖所示，在此頻率頻帶511之內(如信號203分布圖的擴大部份510所示)，該接收信號顯示出大約25分貝(dB)的功率變異。根據例示性實施例，使用如上述之測試環境，並使用多重移相器控制用於驅動該多重天線元件的測試信號相位，本分布圖可經由補償以使該重點頻率頻帶511呈現實質平坦。
參考圖18，根據一例示性實施例，此目標可藉由使用多重(例 如，16)天線元件102與對應的移相器236來達成。例如，藉由使用一最佳化演算法(進一步詳述於以下)，並僅使用0、90、180與270度的正交相位調整，如此則可能達成一最佳化平坦響應條件523。如示，於補償前，響應分布圖522在本例示性測試信號的160MHz頻帶寬度511之間有高於5分貝的變異。更者，即使該天線陣列已在頻率中點5080MHz達成功率位準的最佳化，如該上部分布圖521所示，接收信號之變異仍為大約5分貝。但是當多重相位調整器236a、236b、…、236p經過適當調整時，即使限制僅使用正交相位調整，還是可能可以達成變異不高於0.5分貝的響應分布圖523。
參考圖19，於圖18中所示的該補償可藉由使用所示流程440 加以達成。第一，於步驟441中，定義該期望信號頻帶寬度內的多個頻率數值，而後於步驟442中，定義用於移相器的一組初始相位位移值。於步 驟443中，使用此定義相位值設定該移相器，並於步驟444中，測量每一頻率之功率。接著，於步驟445中，運算多對定義頻率的測量功率之差值，並於步驟446中，加總用於評估一函數F，其等於定義最大功率差值與運算功率加總差值之間的差值。
若該目前運算函數F目前大於一先前運算函數F舊有，則於步 驟448中保留該移相器值，與並於步驟449中決定是否滿足一期望條件(例如，達成一最大化運算函數F)。若滿足，則於步驟450停止相位調整。若不滿足該期望準則，則繼續調整相位。同樣地，若該目前運算函數F目前不大於一先前運算函數F舊有，則繼續調整相位。於步驟451中，藉由定義移相器值的另一組值繼續調整該些相位，並重複調整相位的步驟443、測量功率步驟444、運算功率差值步驟445與評估該運算函數F步驟446。重複本流程直到於步驟449中滿足該條件。
參考圖20，根據例示性實施例，當進行多重無線受測裝置 (DUT)的無纜線測試時，於屏蔽外殼300內使用交叉-耦合信號的情況下，可達成類似補償。(為了本實例之目的，使用二天線陣列235a、235b進行二受測裝置(DUT)200a、200b的測試。然而，可清楚了解在此亦可使用其他數量的受測裝置與天線陣列。更者，應可清楚了解在此所描述的分別的「受測裝置(DUT)」200a、200b可為一單一MIMO受測裝置(DUT)200內的個別接受器。)如上所述，信號源(例如，VSG)110可提供測試信號111，並以信號分配器234進行複製以提供測試信號235的複本，其用於藉由多重移相器231進行相位位移以驅動該天線陣列235的該天線元件102。該些天線陣列235a、235b提供輻射信號分量103aa、103ab、103ba、103bb，其對應於該頻 道矩陣H(例如，如上所述)的直接-耦合與交叉-耦合係數。該些信號分量103aa、103ab、103ba、103bb被受測裝置(DUT)200a、200b的天線202a、202b接收。接收信號資料201a、201b係由受測裝置(DUT)200a、200b提供給控制系統206(例如，一DSP)，其隨後提供適當相位控制信號207ap、207bp給移相器236aa、…、236am、236ba，…、236bm，以用於控制由天線陣列235a、235b的天線元件102aa、…、102am、102ba、…102bm輻射發出的信號之相位。
藉由反覆調整該輻射信號的相位，如上所述，可最大化該直 接-耦合頻道矩陣H係數103aa、103ba並最小化該交叉-耦合係數103ab、103bb(例如，藉由使最終的該交叉-耦合係數理想地變成低於該直接-耦合係數至少10分貝)。
參考圖21，根據另一例示性實施例，控制系統206可進一 步經配置以提供增益控制信號207ag、207bg，以控制經複製的該測試信號111a、111b的大小，以供傳送到該受測裝置(DUT)200a、200b。控制信號增益級(例如，變異增益擴大器或信號衰減器)232a、232b可控制該些信號大小。其可利於進一步最佳化該頻道矩陣H之直接-耦合係數103aa、103ba與交叉-耦合係數103ab、103bb的該相對大小。例如，可標準化直接-耦合係數103aa、103ba的該大小，同時仍可保留足夠的交叉-耦合係數103ab、103bb衰減(例如，10分貝或更高)。
本發明結構與操作方法的各種其他修改或變更，在不脫離本發明之精神及範疇的情況下，對本領域具通常知識者而言係顯而易見的。儘管已藉由特定較佳實施例說明本發明，應理解本發明如所申請的不應不 當地受限於該較佳實施例。吾人意欲以下列的申請專利範圍界定本發明的範疇以及該申請專利範圍內之結構與方法從而涵蓋該等結構與方法之等效者。

Claims (18)

  1. 一種包含用於促進一射頻(RF)信號收發器受測裝置(DUT)進行無線測試之一系統的設備，其包括：一結構，其界定內部區域與外部區域並且經組態用以允許置放一受測裝置(DUT)於該內部區域內並實質上隔離源自該外部區域之電磁輻射；至少部分地安置於該內部區域內的複數個天線，用以接收與該受測裝置(DUT)所輻射出的一公共射頻(RF)測試信號相關的至少一複數個無線射頻(RF)測試信號，且用以傳送另外的複數個無線射頻(RF)測試信號至該受測裝置(DUT)，其中，所接收和所傳送的射頻(RF)測試信號是透過該複數個天線中的相同的天線來接收和傳送的；以及射頻(RF)信號控制電路，其連接到該複數個天線並藉由下列方式響應該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號：根據一或多個相位控制信號，控制至少一部份該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號的個別相位，以提供至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，測量與結合該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以提供該一或多個相位控制信號與相關於該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號之一組合的一射頻(RF)輸出信號，以及重複該控制以及該測量與結合，直到以下所列的其中至少一者到達最大信號功率：該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號的累計功率，及該射頻(RF)輸出信號； 其中，該射頻(RF)信號控制電路透過導電信號路徑來提供該射頻(RF)輸出信號，用以讓一測試器直接從該導電信號路徑接收信號，且該內部區域包含在該受測裝置(DUT)和該測試器之間的只有空中(OTA)收發的信號環境。
  2. 如請求項1所述之設備，其中該射頻(RF)信號控制電路包含：相位控制電路，其連接到該複數個天線，並藉由提供該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以響應該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號與該一或多個相位控制信號；控制信號電路，其連接到該相位控制電路，並藉由提供該一或多個相位控制信號，以響應該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號；以及結合電路，其連接到該相位控制電路與該控制信號電路中的至少一個，並藉由提供該射頻(RF)輸出信號，以響應該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號。
  3. 如請求項2所述之設備，其中該控制信號電路包含功率偵測電路。
  4. 如請求項2所述之設備，其中該控制信號電路包含：功率測量電路，其藉由提供指示該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號之各者的個別功率位準的複數個功率信號，以響應該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號；以及處理電路，其連接到該功率測量電路，並藉由提供該一或多個相位控制信號，以響應該複數個功率信號。
  5. 如請求項2所述之設備，其中該控制信號電路包含相位偵測電路。
  6. 如請求項2所述之設備，其中該控制信號電路包含： 相位測量電路，其藉由提供指示該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號之各者的個別信號相位的複數個相位信號，以響應該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號；以及處理電路，其連接到該相位測量電路，並藉由提供該一或多個相位控制信號，以響應該複數個相位信號。
  7. 如請求項1所述之設備，其中該射頻(RF)信號控制電路包含：相位控制電路，其連接到該複數個天線，並藉由提供該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以響應該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號與該一或多個相位控制信號；結合電路，其連接到該相位控制電路，並藉由提供該射頻(RF)輸出信號，以響應該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號；以及控制信號電路，其連接到該結合電路與該相位控制電路，並藉由提供該一或多個相位控制信號以響應該射頻(RF)輸出信號。
  8. 如請求項7所述之設備，其中該控制信號電路包含功率偵測電路。
  9. 如請求項7所述之設備，其中該控制信號電路包含：功率測量電路，其藉由提供指示該射頻(RF)輸出信號之一功率位準的一功率信號以響應該射頻(RF)輸出信號；以及處理電路，其連接到該功率測量電路並藉由提供該一或多個相位控制信號以響應該功率信號。
  10. 一種促進一射頻(RF)信號收發器受測裝置(DUT)進行無線測試之方法，其包括：提供一結構，該結構界定內部區域與外部區域並且經組態用以允許置 放一受測裝置(DUT)於該內部區域內並實質上隔離源自該外部區域之電磁輻射；提供至少部分地安置於該內部區域內的複數個天線，用以接收與該受測裝置(DUT)所輻射出的一公共射頻(RF)測試信號相關的至少一複數個無線射頻(RF)測試信號，且用以傳送另外的複數個無線射頻(RF)測試信號至該受測裝置(DUT)，其中，所接收和所傳送的射頻(RF)測試信號是透過該複數個天線中的相同的天線來接收和傳送的；以及藉由下列方式響應該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號：根據一或多個相位控制信號，控制至少一部份該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號的個別相位，以提供至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，測量與結合該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以提供該一或多個相位控制信號與相關於該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號之一組合的一射頻(RF)輸出信號，以及重複該控制以及該測量與結合，直到以下所列的其中至少一者到達最大信號功率：該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號的累計功率，及該射頻(RF)輸出信號；其中，該射頻(RF)輸出信號是透過導電信號路徑來提供，用以讓一測試器直接從該導電信號路徑接收信號，且該內部區域包含在該受測裝置(DUT)和該測試器之間的只有空中(OTA)收發的信號環境。
  11. 如請求項10所述之方法，其中： 該控制包含藉由提供該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號以響應該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號與該一或多個相位控制信號；以及該測量與結合包含：測量該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號以提供該一或多個相位控制信號，以及結合該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號以提供該射頻(RF)輸出信號。
  12. 如請求項11所述之方法，其中該測量該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號包含偵測該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號的至少一功率。
  13. 如請求項11所述之方法，其中該測量該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號包含：偵測該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號的至少一功率，以提供指示該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號之各者的個別功率位準的複數個功率信號；以及處理該複數個功率信號以提供該一或多個相位控制信號。
  14. 如請求項11所述之方法，其中該測量該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號包含偵測該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號的至少一相位。
  15. 如請求項11所述之方法，其中該測量該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號包含：偵測該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號的至少一相位，以提供 指示該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號之各者的個別信號相位的複數個相位信號；以及處理該複數個相位信號以提供該一或多個相位控制信號。
  16. 如請求項10所述之方法，其中：該控制包含藉由提供該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號，以響應該至少一複數個無線射頻(RF)測試信號與該一或多個相位控制信號；以及該測量與結合包含：結合該至少一複數個相位受控射頻(RF)測試信號以提供該射頻(RF)輸出信號，以及測量該射頻(RF)輸出信號以提供該一或多個相位控制信號。
  17. 如請求項16所述之方法，其中該測量該射頻(RF)輸出信號以提供該一或多個相位控制信號包含偵測該射頻(RF)輸出信號之一功率。
  18. 如請求項16所述之方法，其中該測量該射頻(RF)輸出信號以提供該一或多個相位控制信號包含：偵測該射頻(RF)輸出信號之一功率以提供指示該射頻(RF)輸出信號之一功率位準的一功率信號；以及處理該功率信號以提供該一或多個相位控制信號。
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