JP2016527752A - 無線試験信号を使用して無線周波数無線信号トランシーバを試験するシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2013年3月15日付けで出願された、「System and Method for Testing Radio Frequency Wireless Signal Transceivers Using Wireless Test Signals」と題する米国特許出願第13/839,162号の一部継続出願であり、2013年3月15日付けで出願された、「System and Method for Testing Radio Frequency Wireless Signal Transceivers Using Wireless Test Signals」と題する米国特許出願第13/839,583号の一部継続出願であり、これらの両方の出願の内容は、参照によって本明細書に組み込まれる。
本発明は、無線周波数(RF)無線信号トランシーバの試験に関し、特に、RF試験信号の伝達のためのRF信号ケーブルを必要とせずに、このような装置を試験することに関する。
内部領域及び外部領域を画定し、内部領域の中にDUTも配置することができ、更に、外部領域から生じる電磁放射から実質的に隔離される構造体と、
内部領域の中に少なくとも部分的に配置され、DUTから放射された共通RF試験信号に関係する少なくとも一群の複数の無線RF試験信号を受信する複数のアンテナと、
複数のアンテナに連結されるRF信号制御回路と、
を備え、
少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を供給するために、1つ以上の位相制御信号に従って、少なくとも一群の複数の無線RF試験信号の少なくとも一部分のそれぞれの位相を制御すること、及び
1つ以上の位相制御信号、及び、少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の組み合わせに関係するRF出力信号を供給するために、少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定し、組み合わせることによって、
少なくとも一群の複数の無線RF試験信号に対して対応する。
内部領域及び外部領域を画定し、内部領域の中にDUTも配置でき、更に外部領域から生じる電磁放射から実質的に隔離される構造体を準備することと、
内部領域の中に少なくとも部分的に配置され、DUTから放射された共通RF試験信号に関係する少なくとも一群の複数の無線RF試験信号を受信する複数のアンテナを準備することと、
一群の複数の無線RF試験信号に対して、
少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を供給するために、1つ以上の位相制御信号に従って、少なくとも一群の複数の無線RF試験信号の少なくとも一部分のそれぞれの位相を制御すること、及び
1つ以上の位相制御信号、及び、少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の組み合わせに関係しているRF出力信号を供給するために、少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定し、組み合わせることによって、応答すること、
を含む。
k(H)=||H||*||H−1||
Claims (18)
- 無線周波数(RF)信号トランシーバ被試験デバイス(DUT)の無線試験を容易に行うシステムを含む装置であって、
内部領域及び外部領域を画定し、前記内部領域の中に前記DUTを配置することができ、更に前記外部領域から生じる電磁放射から実質的に隔離される構造体と、
前記内部領域の中に少なくとも部分的に配置され、前記DUTから放射された共通のRF試験信号に関係する少なくとも一群の複数の無線RF試験信号を受信する複数のアンテナと、
前記複数のアンテナに連結されるRF信号制御回路と、
を備え、
前記RF信号制御回路は、1つ以上の位相制御信号に従って、少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を供給するために、前記少なくとも一群の複数の無線RF試験信号の少なくとも一部分のそれぞれの位相を制御すること、及び
前記1つ以上の位相制御信号、及び、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の組み合わせに関係するRF出力信号を供給するために、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定し、組み合わせることによって、
前記少なくとも一群の複数の無線RF試験信号に対して、応答する、
装置。 - 前記RF信号制御回路は、
前記複数のアンテナに連結され、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を供給することによって前記少なくとも一群の複数の無線RF試験信号及び前記1つ以上の位相制御信号に応答する位相制御回路と、
前記位相制御回路に連結され、前記1つ以上の位相制御信号を供給することによって前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号に応答する制御信号回路と、
前記位相制御回路及び前記制御信号回路のうち少なくとも一方に連結され、前記RF出力信号を供給することによって前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号に応答する合成回路と、
を備える請求項1記載の装置。 - 前記制御信号回路がパワー検出回路を備える、請求項2に記載の装置。
- 前記制御信号回路が、
前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の1つずつのそれぞれのパワーレベルを表す複数のパワー信号を供給することによって、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号に応答するパワー測定回路と、
前記パワー測定回路に連結され、前記1つ以上の位相制御信号を供給することによって前記複数のパワー信号に応答する処理回路と、
を備える、請求項2に記載の装置。 - 前記制御信号回路が位相検出回路を備える、請求項2に記載の装置。
- 前記制御信号回路が、
前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の1つずつのそれぞれの信号位相を表す複数の位相信号を供給することによって、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号に応答する位相測定回路と、
前記位相測定回路に連結され、前記1つ以上の位相制御信号を供給することによって前記複数の位相信号に応答する処理回路と、
を備える、請求項2に記載の装置。 - 前記RF信号制御回路が、
前記複数のアンテナに連結され、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を供給することによって、前記少なくとも一群の複数の無線RF試験信号及び前記1つ以上の位相制御信号に応答する位相制御回路と、
前記位相制御回路に連結され、前記RF出力信号を供給することによって前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号に応答する合成回路と、
前記合成回路及び前記位相制御回路に連結され、前記1つ以上の位相制御信号を供給することによって前記RF出力信号に応答する制御信号回路と、
を備える、請求項1に記載の装置。 - 前記制御信号回路がパワー検出回路を備える、請求項7に記載の装置。
- 前記制御信号回路が、
前記RF出力信号のパワーレベルを表すパワー信号を供給することによって前記RF出力信号に応答するパワー測定回路と、
前記パワー測定回路に連結され、前記1つ以上の位相制御信号を供給することによって前記パワー信号に応答する処理回路と、
を備える、請求項7に記載の装置。 - 無線周波数(RF)信号トランシーバ被試験デバイス(DUT)の無線試験を容易に行う方法であって、
内部領域及び外部領域を画定し、前記内部領域の中に前記DUTを配置でき、更に前記外部領域から生じる電磁放射から実質的に隔離される構造体を準備することと、
前記内部領域の中に少なくとも部分的に配置され、前記DUTから放射された共通のRF試験信号に関係する少なくとも一群の複数の無線RF試験信号を受信する複数のアンテナを準備することと、
前記少なくとも一群の複数の無線RF試験信号に対して、
1つ以上の位相制御信号に従って、少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を供給するために、前記少なくとも一群の複数の無線RF試験信号の少なくとも一部分のそれぞれの位相を制御すること、及び
前記1つ以上の位相制御信号、及び前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の組み合わせに関係するRF出力信号を供給するために、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定し、組み合わせることによって、
応答することと、
を含む、方法。 - 前記制御することが、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を供給することによって、前記少なくとも一群の複数の無線RF試験信号及び前記1つ以上の位相制御信号に応答することを含み、
前記測定し、組み合わせることが、
前記1つ以上の位相制御信号を供給するために前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定することと、
前記RF出力信号を供給するために前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を組み合わせることと、
を含む、請求項10に記載の方法。 - 前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定することが、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の少なくとも1つのパワーを検出することを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定することが、
前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の1つずつのそれぞれのパワーレベルを表す複数のパワー信号を供給するために、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の少なくとも1つのパワーを検出することと、
前記1つ以上の位相制御信号を供給するために、前記複数のパワー信号を処理することと、
を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定することが、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の少なくとも1つの位相を検出することを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を測定することが、
前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の1つずつのそれぞれの信号位相を表す複数の位相信号を供給するために、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号の少なくとも1つの位相を検出することと、
前記1つ以上の位相制御信号を供給するために前記複数の位相信号を処理することと、
を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記制御することが、前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を供給することによって前記少なくとも一群の複数の無線RF試験信号及び前記1つ以上の位相制御信号に応答することを含み、
前記測定し、組み合わせることは、
前記RF出力信号を供給するために前記少なくとも一群の複数の位相制御されたRF試験信号を組み合わせることと、
前記1つ以上の位相制御信号を供給するために前記RF出力信号を測定することと、
を含む、請求項10に記載の方法。 - 前記1つ以上の位相制御信号を供給するために前記RF出力信号を測定することが、前記RF出力信号のパワーを検出することを備える、請求項16に記載の方法。
- 前記1つ以上の位相制御信号を供給するために前記RF出力信号を測定することが、
前記RF出力信号のパワーレベルを表すパワー信号を供給するために前記RF出力信号のパワーを検出することと、
前記1つ以上の位相制御信号を供給するために前記パワー信号を処理することと、
を含む、請求項16に記載の方法。
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